FR 3090883 A1 20200626 FR 1873667 A 20181220 Description Titre de l'invention : Procédé de caractérisation du taux moyen de réticulation d'une couche d'encapsulation, présente dans un module photovoltaïque Domaine technique 100011 L'invention se rapporte à un procédé de caractérisation, non destructif, du taux moyen de réticulation d'une couche d'encapsulation, présente dans un module photovoltaïque. L'invention concerne plus particulièrement les modules photovoltaïques comportant des cellules photovoltaïques de type silicium. 100021 L'invention se rapporte également à un procédé de suivi de la qualité d'un module photovoltaïque. Technique antérieure [0003] Le procédé de fabrication d'un module photovoltaïque consiste, classiquement, à empiler, dans un premier temps, les différentes couches constitutives du module : [0004] -une plaque transparente en face avant du module ; la face avant étant celle exposée au rayonnement solaire incident lors de l'implantation des modules sur le terrain, -une première couche de matériau polymère transparent (premier film encapsulant), -un ensemble de cellules photovoltaïques interconnectées, -une deuxième couche de matériau polymère (deuxième film encapsulant), -une plaque en face arrière du module. [0005] Les films encapsulants, aussi appelés feuilles ou couches d'encapsulation, sont en général positionnés de part. et d'autre des cellules photovoltaïques. Les films en-capsulants sont des films solides en un matériau polymère de type élastomère, par exemple, en polyoléfines fonctionnelles réticulables, comme le copolymère d'éthylène et d'acétate de vinyle (EVA). [0006] Après l'étape d'assemblage, l'ensemble ainsi formé est soumis à une étape de la- mination (aussi appelée étape de laminage), permettant de faire fondre puis réticuler les matériaux polymères des films encapsulants. Cette opération est généralement exécutée à l'aide d'un laminateur (aussi appelé laminoir) pouvant être, par exemple, une presse à membrane. Cette opération peut également être réalisée par un autre procédé, par autoclave par exemple. On obtient ainsi des cellules photovoltaïques complètement encapsulées dans une couche d'encapsulation, obtenue à partir des deux films encapsulants. Les cellules sont isolées de l'environnement extérieur et protégées des chocs et des contraintes mécaniques. LEVA est un matériau thermofusible, mais grâce à la réticulation intervenant lors du procédé de lamination, il devient réticulé. La lamination thermique de l'empilement a également pour conséquence le collage de 2 l'ensemble de la structure. [0007] Il est indispensable que les matériaux polymères soient suffisamment réticulés pour assurer leur fonction d'encapsulation. Une faible réticulation peut mener au fluage du matériau polymère, et donc à une diminution de la durée de vie du module photovoltaïque. Pern et al. ont montré qu'une réticulation d'au moins 80% permet d'obtenir de bonnes propriétés thermomécaniques et optiques, et une résistance chimique satisfaisante (« EVA encapsulants for PV modules: Reliability issues and current R&D stands at NREL », Renewable Energy, vol 8, 1-4, p.367, 1996). [0008] Or, le taux de réticulation (ou degré de réticulation) peut varier en fonction des conditions opérationnelles utilisées (laminateur, température, pression, durée de l'étape de laminage, etc) ainsi qu'en fonction du matériau (quantité et nature des agents de réticulation). Il est donc essentiel de pouvoir déterminer le taux de réticulation des films encapsulants après l'étape de lamination. [0009] Il existe plusieurs méthodes connues permettant d'assurer un suivi de la réaction de réticulation d'un polymère. [0010] La première méthode est une méthode par extraction de solvant (Soxhlet). Cette méthode est par exemple décrite dans la norme fEC 62788-1-6 (« Procédures de mesure des matériaux utilisés dans les modules photovoltaïques - Partie 1-6 : En-capsulants - Méthodes d'essai pour déterminer le degré de durcissement dans l'éthylène-acétate de vinyle »). Des échantillons de polymère sont prélevés, immergés dans du xylène et suivent des cycles dans le Soxhlet à 140°C, pendant au moins 8h, puis les résidus sont séchés à 115°C pendant au moins 4h. La fraction insoluble est ensuite déterminée. [0011] Cependant, cette méthode est destructive, particulièrement longue à mettre en oeuvre, et utilise des solvants pouvant être toxiques. [0012] Il est également possible de déterminer le taux de réticulation par analyse calori- métrique différentielle (ou DSC pour « Differential Scanning Calorimetry »), par spectroscopie Raman ou encore par analyse diélectrique (DEA pour « Dielectric Analysis »). Hardis et al. ("Cure kinetics characterization and monitoring of an epoxy resin using DSC, Raman spectroscopy, and DEA", Compos. Part Appl. Sci. Manuf. 49 (2013) 100-108) ont utilisé ces techniques pour déterminer le taux de réticulation d'une résine époxyde. Pour déterminer le taux de réticulation par DSC, les échantillons réticulés de résine époxyde sont, dans un premier temps, refroidis à -50°C puis chauffés jusqu'à 275°C, à 10°C/min. La température de transition vitreuse est mesurée. Cette température dépend du degré de réticulation. Pour déterminer le taux de réticulation par DEA, une tension de 1V est appliquée à un échantillon de résine de 0,5mm d'épaisseur, positionné entre deux électrodes. La permittivité et le facteur de perte sont mesurés. Le facteur de perte, qui dépend de la mobilité des ions au sein du 3 matériau, diminue avec le degré de réticulation. Concernant la spectroscopie Raman, l'intensité du pic correspondant au groupe époxyde diminue quand le degré de réticulation augmente. 11 a été observé que les taux de réticulation déterminés par les trois techniques concordent. [0013] Cependant, les méthodes existantes sont destructives (nécessité de récupérer un morceau de film encapsulant pour l'analyser), chronophagcs et/ou coûteuses. Exposé de l'invention [0014] Un but de la présente invention est de proposer un procédé de caractérisation du taux moyen de réticulation d'une couche d'encapsulation, présente dans un module photovoltaïque, sans les inconvénients des méthodes précitées, et notamment sans avoir besoin de prélever et de détruire un échantillon de la couche d'encapsulation. [0015] Pour cela, la présente invention propose un procédé de caractérisation du taux moyen de réticulation d'une couche d'encapsulation, présente dans un module photovoltaïque, comprenant les étapes successives suivantes : a) fournir un module photovoltaïque comprenant au moins : -une première plaque, [0016] -une pluralité de cellules photovoltaïques, reliées électriquement entre elles, -une couche d'encapsulation, encapsulant la pluralité de cellules photovoltaïques, -une deuxième plaque, la couche d'encapsulation et la pluralité de cellules photovoltaïques étant situées entre les première et deuxième plaques, h) recouvrir la première plaque par un élément électriquement conducteur, c) mesurer la résistance électrique de la couche d'encapsulation entre la pluralité de cellules photovoltaïques et l'élément électriquement conducteur, avec un appareil de mesure, d) comparer la résistance électrique mesurée avec des valeurs de référence pré-définies, de manière à déterminer le taux moyen de réticulation de la couche d'encapsulation. [0017] On appelle couche d'encapsulation, une couche solide en matériau polymère au moins partiellement réticulée, par exemple obtenue par lamination d'un ou plusieurs films encapsulants en matériau polymère réticulable. L'étape de lamination permet de faire fondre les films encapsulants et de les faire au moins partiellement réticuler. [0018] Par au moins partiellement réticulé, on entend un taux de réticulation supérieur à 50%, et de préférence supérieur à 75%. La réticulation correspond à la formation de liaisons covalentes entre les chaînes polymères macromoléculaires (ponts de réticulation) créant un réseau tridimensionnel. Le taux de réticulation peut également être appelé taux de conversion. [0019] Le procédé de l'invention consiste à mesurer la résistance électrique de la couche d'encapsulation, entre le circuit de cellules photovoltaïques et un contact métallique, positionné à l'extérieur du module photovoltaïque (sur la face avant ou sur la face arrière). La résistance du matériau polymère de la couche d'encapsulation reflète la mobilité des porteurs de charges, qui dépend de la mobilité des chaines macromoléculaires et dépend donc de l'avancement de la réaction de réticulation. Cette mesure diélectrique permet de déterminer le taux de réticulation (aussi appelé degré de réticulation ou avancement de la réticulation) de la couche d'encapsulation. [0020] La mesure est fiable et très rapide (de quelques secondes à quelques minutes). [0021] Le procédé est facile à mettre en oeuvre et non destructif LI permet de contrôler di- rectement la réticulation des modules PV sur la ligne de production (« in line »), ou à la fin de la ligne de production (post-fabrication) ou encore d'analyser des modules PV sur le terrain ou revenant du terrain, ce qui n'est pas possible avec les procédés de l'art antérieur. Le procédé selon l'invention permet d'évaluer le taux de réticulation d'un matériau polymère sur un module photovoltaïque terminé. [0022] Avantageusement, le procédé comporte, en outre, après l'étape d), les étapes suc- cessives suivantes : [0023] c) retirer l'élément électriquement conducteur de la première plaque et recouvrir la deuxième plaque avec l'élément électriquement conducteur, [0024] f) répéter étapes c) et d) telles que définies précédemment. [0025] Lorsque la couche d'encapsulation est obtenue en laminant deux films encapsulants, disposés de part et d'autre de la pluralité de cellules photovoltaïques, le procédé peut être réalisé sur la face avant et/ou arrière d'un module photovoltaïque. Il peut permettre de vérifier que le taux moyen de réticulation est suffisant en face avant et/ou en face arrière. [0026] Avantageusement, le procédé comporte entre l'étape b) et l'étape c) les étapes suivantes : bl) connecter la pluralité de cellules photovoltaïques et l'élément électriquement conducteur, d'une part, à une source de tension ou de courant, et d'autre part, à l'appareil de mesure, b2) appliquer une tension ou un courant entre la pluralité de cellules photovoltaïques et l'élément électriquement conducteur. [0027] Avantageusement, la tension appliquée lors de l'étape b2) est supérieure ou égale à 250V, par exemple 500V ou 1000V, pour avoir une résistance mesurable avec une précision suffisante. [0028] Avantageusement, le courant ou la tension appliquée lors de l'étape b2) est appliquée pendant une durée d'au moins 30 secondes, et de préférence d'au moins 1 minute. Ceci permet d'atteindre un régime stationnaire [0029] Avantageusement, l'étape b2) est répétée deux fois, par exemple une première fois à une tension de 1000V et une deuxième fois à une tension de 500V, pour éviter de perturber les mesures avec la charge des éléments capacitifs du module photovoltaïque. [0030] Avantageusement, une pression d'au moins 10Pa est appliquée sur l'élément élec- triquement conducteur, lors des étapes h2) et c). Le contact entre l'élément électriquement conducteur et la plaque est amélioré. [0031] Avantageusement, le procédé comporte entre l'étape c) et l'étape d) les étapes suivantes : cl) débrancher l'appareil de mesure, et c2) décharger le module photovoltaïque en court-circuitant des parties électriquement conductrices du module photovoltaïque avec la terre. [0032] Avantageusement, la couche d'encapsulation comprend et est, avantageusement, constituée par un matériau polymère de type élastomère, par exemple, une polyoléfine fonctionnelle, comme le copolymère d'éthylène et d'acétate de vinyle (EVA) ou un autre copolymère à hase d'éthylène. [0033] Selon une première variante avantageuse, l'élément électriquement conducteur recouvre la pluralité de cellules photovoltaïques. Il est ainsi possible de mesurer la résistance de la partie de la couche encapsulante disposée entre les cellules PV et la plaque recouverte par l'élément électriquement conducteur. On choisira avantageusement un élément électriquement conducteur ayant la même surface que les cellules reliées au générateur de tension/courant et on les disposera en regard l'un de l'autre. [0034] Avantageusement, l'élément électriquement conducteur est une feuille métallique, par exemple une feuille d'aluminium ou de cuivre. [0035] Selon une deuxième variante avantageuse, l'élément électriquement conducteur est un cadre disposé sur le pourtour du module photovoltaïque. [0036] L'invention concerne également un procédé de suivi qualité d'une ligne de fa- brication de modules photovoltaïques, comprenant les étapes successives suivantes [0037] i. assembler au moins -une première plaque, [0038] -un premier film d'encapsulation réticulable, [0039] -une pluralité de cellules photovoltaïques, reliées électriquement entre elles, [0040] -un deuxième film d'encapsulation réticulable, [0041] -une deuxième plaque. ii laminer l'ensemble obtenu à l'étape i, de manière à faire fondre et au moins partiellement réticuler le premier film d'encapsulation réticulable et le deuxième film d'encapsulation réticulable, moyennant quoi on forme un module photovoltaïque ayant une couche d'encapsulation encapsulant la pluralité de cellules photovoltaïques, iii. réaliser le procédé de caractérisation du taux moyen de réticulation de la couche 6 d'encapsulation, telles que définies précédemment, pour suivre la qualité du module photovoltaïque. [0042] Avantageusement, si le taux moyen de réticulation de la couche d'encapsulation est inférieur à une valeur seuil prédéfinie, au moins un des paramètres de la ligne de fabrication du module photovoltaïque, par exemple, choisi parmi la température, la pression et la durée de l'étape de lamination, est modifié. BRÈVE DESCRIPTION DES DESSINS [0043] La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la description d'exemples de réalisation donnés à titre purement indicatif et nullement limitatif en faisant référence aux dessins annexés sur lesquels : [0044] [FIG. la] représente, de manière schématique, en vue éclatée, les différents éléments d'un module photovoltaïque, avant l'étape de lamination, selon un mode de réalisation particulier de l'invention, [0045] [FIG. lb] représente, de manière schématique, en vue éclatée, les différents éléments d'un module photovoltaïque, après l'étape de lamination, selon un mode de réalisation particulier de l'invention, [FIG. 2] représente de manière schématique, le montage électrique pour mesurer la résistance d'une couche d'encapsulation d'un module photovoltaïque, selon un mode de réalisation particulier de l'invention, [FIG. 3] représente la résistance d'une couche d'EVA en fonction du taux moyen de réticulation. [0046] Les différentes parties représentées sur les figures ne le sont pas nécessairement selon une échelle uniforme, pour rendre les figures plus lisibles. [0047] Les différentes possibilités (variantes et modes de réalisation) doivent être comprises comme n'étant pas exclusives les unes des autres et peuvent se combiner entre elles. [0048] EXPOSÉ DÉTAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS [0049] Assemblage et lamination du module photovoltaïque [0050] On se réfère tout d'abord à la figure la qui représente une vue éclatée de différents éléments que l'on assemble pour fabriquer un module photovoltaïque (PV), selon un mode de réalisation particulier de l'invention. Le module photovoltaïque est obtenu en assemblant : -une première plaque 10, en face avant du module, -une première couche de matériau polymère 21 (premier film encapsulant), -un ensemble de cellules photovoltaïques 30, par exemple, en silicium, disposées côte à côte, et interconnectées entre elles, par des connections métalliques 31 électriquement conductrices, -une deuxième couche de matériau polymère 22 (deuxième film encapsulant), -une deuxième plaque 40, en face tarière. 7 [0051] Puis l'ensemble ainsi formé est laminé à chaud. [0052] Initialement, c'est-à-dire avant l'opération de lamination, le module comprend, avan- tageusement, au moins deux films cncapsulants 21, 22, entre lesquels la pluralité de cellules photovoltaïques 30 est disposée. Selon une alternative, non représentée, le module pourrait comprendre un seul film d'encapsulation. Selon une autre variante non représentée, le module pourrait comprendre plusieurs films cncapsulants disposés en face avant et/ou plusieurs films cncapsulants disposés en face arrière. [0053] Les films cncapsulants 21, 22 utilisés, lors de l'assemblage, sont des films en matériau polymère réticulable, c'est-à-dire qu'ils sont polymérisés mais non réticulés ou peu réticulés. [0054] Par non réticulés ou peu réticulés, on entend qu'ils ont de préférence un taux de réti- culation inférieur ou égal à 5% et de préférence inférieur à 1%. [0055] La réticulation a lieu lors de l'étape de lamination. Après l'opération de lamination, les films cncapsulants 21, 22 fondent pour ne former qu'une seule couche 20 dite couche d'encapsulation dans laquelle sont noyées les cellules photovoltaïques 30 (figure 1 b). [0056] Avantageusement, la résistivité des films encapsulants 21, 22 varie significativement lors de la réticulation. [0057] Par varie significativement, on entend que la résistivité du matériau réticulé est au moins deux fois et, de préférence, au moins dix fois plus élevée que celle du matériau polymère non réticulé. Elle peut, par exemple, être cent fois plus élevée. [0058] Par matériau polymère, on entend un homopolymère ou un copolymère pouvant éventuellement contenir des additifs. [0059] Le matériau polymère est, avantageusement, choisi parmi les homopolymères ou les copolymères d'éthylène. Toute polyoléfine réticulable pouvant être laminée pourrait également être utilisée. De préférence, le matériau polymère est de l'EVA. [0060] Le matériau polymère peut comprendre, en outre, un agent de réticulation, tel qu'un peroxyde, un co-agent ou promoteur de réticulation pour améliorer la cinétique de réaction, un agent de couplage pour améliorer l'adhésion du film sur les plaques avant et arrière ainsi que sur l'ensemble de cellules photovoltaïques interconnectées (par exemple, un silane), un stabilisant UV (molécules capables de piéger des radicaux formés lors du vieillissement UV par recombinaison), et/ou un absorbeur UV tels que les benzophénones, les benzotriazoles, les cyanocrylates et les triazines. [0061] Le premier et le deuxième films encapsulants 21, 22 peuvent être de même nature ou de natures différentes. Au moins le matériau polymère du film encapsulant 21 en face avant est transparent. Par transparent, on entend qu'il laisse passer plus de 70% du rayonnement incident, et de préférence au moins 80%. [0062] Les films encapsulant 21, 22 ont une épaisseur comprise, typiquement, entre 10pm et 8 5mm, de préférence entre 50pm et 600pm, encore plus préférentiellement entre 200 et 600pm et encore plus préférentiellement entre 400 et 600pm. [0063] Le premier et le deuxième films encapsulants 21, 22 peuvent avoir la même épaisseur ou des épaisseurs différentes. [0064] Les films cncapsulants 21, 22 peuvent être maintenus, lors de l'assemblage, sur les cellules photovoltaïques et/ou sur les plaques avant ou arrière grâce à un adhésif sensible à la pression ou à une colle liquide par exemple. [0065] Dans le cadre de la fabrication d'un module photovoltaïque, au moins l'une des plaques qui fera face aux faces actives des cellules photovoltaïques du module est transparente, de sorte à laisser passer le rayonnement électromagnétique. Dans ce mode de réalisation particulier, il s'agit de la première plaque 10, positionnée en face avant. De préférence, la plaque transparente est en verre, ou en polymère, et présente des caractéristiques adaptées à une utilisation dans le domaine photovoltaïque. [0066] La plaque 40 positionnée en face arrière peut être opaque. Il s'agit, par exemple, d'une feuille multicouche, en polymère blanc, et pouvant contenir une feuille en aluminium. [0067] La première plaque 10 et la deuxième plaque 40 ont une résistivité inférieure ou égale, respectivement, à la résistivité du premier film encapsulant laminé 21 et à la résistivité du deuxième film encapsulant laminé 22. [0068] Selon une variante non représentée, les cellules photovoltaïques 30 sont bi-faciales, et les première et deuxième plaques 10, 40 sont transparentes au rayonnement solaire incident. [0069] Les cellules photovoltaïques 30 sont reliées électriquement en série par des connecteurs électriquement conducteurs 31 destinés à collecter l'électricité générée par les cellules photovoltaïques. Les connecteurs électriquement conducteurs 31 sont des connections métalliques, par exemple il s'agit de rubans ou de fils en cuivre. Les cellules sont, avantageusement, régulièrement espacées. Les cellules sont, par exemple, sous la forme de fines plaques d'environ 200pm d'épaisseur. Il y a par exemple 60 cellules dans un module PV. L'ensemble formé par les cellules photovoltaïques 30 et les connecteurs 31 forme un squelette de cellules photovoltaïques. [0070] Le module photovoltaïque comprend également une boite de jonction 50 (ou boite de dérivation) raccordant les connections métalliques 31 du circuit de cellules photovoltaïques 30, et, éventuellement, un cadre en aluminium 60. [0071] Caractérisation du taux moyen de réticulation [0072] Le procédé de caractérisation comprend les étapes successives suivantes : a) fournir un module photovoltaïque tel que défini précédemment, ayant été soumis à une étape de lamination, b) recouvrir une des plaques 10, 40, par exemple, la plaque 10 en face avant, par un 9 élément électriquement conducteur 100, c) mesurer la résistance électrique de la couche d'encapsulation 20, avec un appareil de mesure, d) comparer la résistance électrique mesurée avec des valeurs de référence de modules de même configuration (dimensions, matériaux, etc) de manière à déterminer le taux moyen de réticulation de la couche d'encapsulation 20. [0073] Le procédé comprend, de préférence, entre l'étape h) et l'étape c), les étapes suivantes : Ill) connecter la pluralité de cellules 30 et l'élément électriquement conducteur 100, d'une part, à une source 200 de tension ou de courant, et d'autre part, à un appareil de mesure, [0074] h2) appliquer une tension ou un courant entre la pluralité de cellules 30 et l'élément électriquement conducteur 100. [0075] Le taux moyen de réticulation correspond au taux de réticulation mesuré dans un volume de la couche d'encapsulation 20. Le volume est situé entre les cellules 30 connectées au générateur de tension 200 (et à l'appareil de mesure) et l'élément électriquement conducteur 100. Le taux peut varier localement dans ce volume (dans le cas d'un matériau bien réticulé, on peut observer généralement une variation de moins de 10 %). Il peut varier, par exemple, si la répartition des agents de réticulation est in-homogène dans le film encapsulant 21, 22. [0076] Le taux moyen de réticulation est, dans le cadre de l'invention, déterminé in situ, à partir de la mesure d'une grandeur électrique. [0077] Lorsque l'on mesure le taux moyen de réticulation de la couche d'encapsulation 20 entre la plaque 10, en face avant, et la pluralité de cellules photovoltaïques 300, ceci correspond au taux moyen de réticulation du premier film encapsulant laminé, en face avant. [0078] Les étapes b) à d) peuvent ensuite être répétées, sur l'autre face du module photo- voltaïque. Dans ce mode de réalisation, il s'agit de la face arrière. Cela permet de déterminer également le taux moyen de réticulation du film encapsulant laminé, positionné en face arrière. Les taux moyens de réticulation des films en face avant et en face arrière peuvent être identiques ou différents. Le même élément électriquement conducteur 100 peut être utilisé ou un autre élément électriquement conducteur. [0079] L'élément électriquement conducteur 100 est, par exemple, une feuille d'aluminium ou de cuivre. L'élément électriquement conducteur 100 a une épaisseur allant de 8 à 1501im par exemple. La surface de l'élément électriquement conducteur 100 est avantageusement identique à celle des cellules photovoltaïques 300 connectées au générateur 200 de tension/courant et à l'appareil de mesure. Par exemple, la surface de l'élément électriquement conducteur 100 peut recouvrir la totalité de la surface des cellules 30. L'élément électriquement conducteur 100 est, de préférence, à une distance minimale de 1 mm, préférentiellement de 10 mm à 15 mm, du cadre ou du bord du module PV. Avantageusement, on dispose une charge, par exemple, d'au moins l0Pa, et de préférence d'au moins 30Pa sur l'élément électriquement conducteur 100, de manière à améliorer le contact entre celui-ci et la plaque du module PV. [0080] Alternativement, le cadre du module 60, recouvrant le pourtour de la plaque 10 en face avant pourrait être utilisé comme élément électriquement conducteur pour remplacer la feuille conductrice. [0081] Lors de l'étape c), les cellules PV 300 et l'élément électriquement conducteur 100 sont reliés à la fois à un appareil configuré pour délivrer une grandeur électrique, comme un courant ou une tension, et à un appareil de lecture permettant de déterminer directement ou indirectement la valeur de la résistance du film encapsulant. Par exemple, il s'agit d'un voltmètre ou d'un ampèremètre, ou encore d'un ohmmètre. [0082] A titre illustratif, la figure 2 représente un montage électrique permettant de mesurer la résistance d'une couche cncapsulante 20 d'un module photovoltaïque, selon un mode de réalisation particulier de l'invention. [0083] Les cellules PV 300 sont préférentiellement connectées à la borne positive du gé- nérateur 200 de tension/courant. Toutes les cellules ou seulement une partie des cellules peuvent être reliées, par exemple, un tiers des cellules. La borne négative du générateur 200 est préférentiellement reliée à l'élément électriquement conducteur 100. Le générateur 200 est, par exemple, un testeur d'isolement électrique. Dans le cas d'un module PV ayant un cadre 60, le cadre du module 60 est, avantageusement, connecté à la garde du testeur d'isolement pour éviter que le courant aille dans le cadre du module 60. Alternativement, il est possible de recouvrir les bords du module d'une feuille conductrice et de la connecter à la garde du testeur d'isolement. [0084] Lors de l'étape b2), on applique une tension (ou un courant) entre les bornes positive et négative, à travers la couche encapsulante 20. Avantageusement, la tension est d'au moins 250V, par exemple 500V ou 1000V. Dans le cas d'un courant, on choisira un courant de l'ordre du pA. La tension ou le courant sont adaptés en fonction de la surface du module. On applique, avantageusement, la tension ou le courant progressivement. Par exemple, pour une tension, on choisira 500 V/s. Avantageusement, la tension ou le courant est appliqué pendant une durée d'au moins une minute, par exemple deux minutes, avant de mesurer la résistance du film encapsulant laminé, de manière à avoir un régime stable. L'étape b2) peut être répétée plusieurs fois à différentes tensions ou différents courants. Par exemple, elle peut être répétée deux fois. Par exemple, pour un module de taille standard 1,6m2 (module de 60 cellules), la tension est répétée une première fois à une tension de 1000V et une seconde fois à une tension de 500V. La tension ou le courant sont adaptés à la surface du module. La ré- 11 pétition de l'étape d) permet d'avoir un procédé plus fiable et d'éviter l'influence des éléments capacitifs du module. Avantageusement, entre chaque valeur de tension appliquée, la tension est coupée, et le module déchargé en court-circuitant les bornes du test. [0085] Lors de l'étape d) la résistance est déterminée à partir d'une grandeur électrique (tension ou courant). Pour cela, un appareil de lecture du courant ou de tension, par exemple avec un voltmètre, peut être utilisé. Il est également possible de déterminer une autre grandeur électrique, comme la résistivité et la conductivité. [0086] La valeur ainsi obtenue est comparée avec des données dites de référence. Les valeurs de référence sont prédéfinics et forment des abaques pour un matériau donné. Les valeurs de référence représentent la résistance, la résistivité ou la conductivité en fonction du taux de réticulation pour un matériau donné. Le taux de réticulation peut être déterminé, préalablement, par analyse calorimétrique différentielle (DSC) par exemple. Les valeurs de référence représentent la résistance, la résistivité ou la conductivité en fonction du taux moyen de réticulation pour un matériau donné. Lc taux moyen de réticulation peut être déterminé, préalablement, par analyse calorimétrique différentielle (DSC) par exemple. [0087] On estime que les matériaux polymères laminés sont suffisamment réticulés, pour des applications PV, si le taux moyen de réticulation est supérieur à 60%, et de préférence supérieur à 75%, par exemple pour un taux moyen de réticulation compris entre 60% et 90%, et de préférence compris entre 75% et 85%. [0088] A la fin du procédé, la tension est coupée, et le module déchargé en court-circuitant les bornes du test. [0089] Avantageusement, le procédé est réalisé à température ambiante (de l'ordre de 20-25°C) et à pression ambiante (de l'ordre de lbar). On choisira, par exemple, une humidité relative inférieure à 55%. Avantageusement, toutes les mesures sont réalisées dans les mêmes conditions environnementales. [0090] En fonction des valeurs obtenues, il est également possible de modifier les pa- ramètres de la chaine de fabrication pour la fabrication des modules photovoltaïques suivants. En particulier, il est possible de modifier les paramètres liés à l'étape de réticulation des matériaux destinés à former la couche d'encapsulation. En particulier, il est, par exemple, possible d'augmenter la température ou la durée de l'étape de lamination. La fabrication des modules est ainsi optimisée. [0091] Avec un tel procédé, il est également possible de suivre sur le site de production l'avancement de la réticulation de la couche d'encapsulation 20 en fonction du temps suite à la lamination du module, et donc la qualité du module photovoltaïque au cours de sa fabrication ou avant sa sortie du site de production. [0092] 11 est également possible de récupérer des modules PV ayant déjà servi, et présentant 12 des défaillances, afin de vérifier le taux moyen de réticulation de leurs films en-capsulants. Ceci permet de réaliser un diagnostic et de vérifier si la défaillance provient des films encapsulants des modules PV ou d'un autre élément. Ceci peut être utile, par exemple, si l'on constate que les plaques en face avant et arrière présentent un décalage. [0093] Exemples illustratifs et non limitatifs d'un mode de réalisation [0094] Détermination du taux moyen de réticulation d'échantillons laminés dans des conditions industrielles [0095] Différents modules contenant de l'EVA, à 33 % d'acétate de vinyle, ont été assemblés. Les modules comprennent un empilement comprenant successivement : -une plaque 10 en verre (3 mm d'épaisseur), -une feuille d'encapsulant 21 d'EVA de 450pm d'épaisseur, -un squelette de cellules interconnectées 30, -une deuxième feuille d'encapsulant 22 d'EVA de 450pm d'épaisseur, -une plaque 40 (« hacksheet ») de type TPT de 330 pm d'épaisseur. [0096] Les modules sont ensuite laminés à des temps différents dans un laminateur in- dustriel de la société 3S. modèle SI 815E. Le laminateur est un laminateur à deux chambres, une chambre supérieure et une chambre inférieure, séparées par une membrane souple. L'empilement est placé dans la chambre inférieure, chauffée par le bas par un plateau chaud. Après une première phase de dégazage pendant laquelle du vide est appliqué aux deux chambres, la chambre supérieure est remise à pression atmosphérique, ce qui a pour effet de venir plaquer la membrane souple qui sépare les deux chambres, contre l'empilement. [0097] Pour obtenir un module ayant des films non réticulés (taux moyen de réticulation de 0%, ou proche de 0%), le module est laminé à basse température, par exemple selon le cycle de lamination suivant : - 4 à 5 min de dégazage avec le module en contact avec la plaque chauffant, - 7 à 8 min sous 1000mbar, - température de la plaque chauffante du laminateur à 100°C. [0098] Pour obtenir un module ayant des films très réticulés (taux moyen de réticulation de 80%), le module est laminé avec un traitement thermique plus important en termes de température et de durée, selon par exemple le cycle de lamination suivant : - 4 à 5 min de dégazage avec le module en contact avec la plaque chauffante, - 30 min de réticulation sous 1000mbar, - température de la plaque chauffante du laminateur à 160°C. [0099] La mesure de résistance électrique des différents modules est réalisée, en face avant du module, à température de 21,7°C et à une humidité relative 43%, selon le procédé suivant : 13 -connecter les deux bornes du module en court-circuit à la borne positive d'un testeur d'isolement électrique, -appliquer une feuille électriquement conductrice 100 (une feuille d'aluminium ou de cuivre de 8µm à 150 pm) sur la face avant du module, de manière recouvrir à 100% la surface des cellules 300, la feuille électriquement conductrice 100 étant distante du cadre 60 du module d'au moins 1 mm, préférentiellement de 10 mm à 15 mm, -appliquer une charge homogène, de préférence d'au moins 30 Pa, sur la surface conductrice, -connecter cette feuille conductrice 100 à la borne négative du testeur 200 d'isolement électrique, -connecter le cadre 60 du module à la garde du testeur 200 d'isolement, -appliquer progressivement (à 500 V/s) une tension de 3000V pendant 2 minutes puis mesurer la résistance électrique, -une fois la tension coupée, décharger le module en court-circuitant les bornes du test puis enlever le court-circuit. [0100] Un morceau de feuille d'EVA réticulée est ensuite récupéré sur le module PV et ca- ractérisée par DSC. [0101] La courbe de résistance d'isolation du module en fonction du taux de réticulation mesuré peut ensuite être tracée. A partir de cette courbe de référence, il est possible de déterminer le taux moyen de réticulation d'un film d'encapsulation en EVA laminé d'un module photovoltaïque in situ et sans détériorer le module PV. [0102] La figure 3 représente la résistance de l'EVA en fonction du taux moyen de réti- culation. Chaque paramètre a été mesuré trois fois. La valeur représente la moyenne de 3 mesures. La variation de résistance électrique de l'EVA permet d'obtenir la courbe de référence et de déterminer par la suite le taux moyen de réticulation d'un film d'encapsulation en EVA laminé d'un module photovoltaïque in situ et sans détériorer le module PV. 14 [Revendication 1] [Revendication 2] [Revendication 3] [Revendication 4]