FR 3084545 A1 20200131 FR 1857053 A 20180727 DISPOSITIF D'ECHANTILLONNAGE AVEC GESTION DE LA CONSOMMATION ELECTRIQUE Domaine de l'invention L'invention est relative à un dispositif d'échantillonnage, à un convertisseur analogique-numérique comportant un tel dispositif d'échantillonnage et à un procédé d'échantillonnage. Etat de la technique Dans de nombreuses activités, une scène est observée par un dispositif de détection qui comporte un photodétecteur. Le photodétecteur reçoit un signal lumineux qu'il transforme en un signal électrique représentatif de la scène observée. Dans un mode de réalisation conventionnel illustré à la figure 1, le photodétecteur 1 est par exemple une photodiode qui génère un courant représentatif de la luminosité de la scène observée. Le courant émis par le photodétecteur est transformé en une tension Vin qui est représentative de la scène étudiée au moyen d'un circuit de lecture 2. La tension analogique Vin est transformée en un signal numérique au moyen d'un convertisseur analogique-numérique 3. Afin de réaliser la transformation de la tension analogique en un signal numérique, la tension Vin est échantillonnée au moyen d'un dispositif d'échantillonnage qui comporte un condensateur Cee et un amplificateur 4. L'amplificateur 4 est un dispositif actif qui est configuré pour être opérationnel dans les pires conditions de fonctionnement afin d'apporter une certaine 30 robustesse au dispositif d'échantillonnage. L'amplificateur 4 est donc 2 dimensionné afin d'assurer que les différentes tensions appliquées sur une des bornes du condensateur Coch pourront être échantillonnées dans un délai raisonnable. L'amplificateur 4 est alimenté par une source d'alimentation 5 qui délivre un courant nominal 'no,. 5 Or, dans les conditions standards de fonctionnement qui représentent la majorité du temps de fonctionnement du dispositif de détection, les variations de tension aux bornes du condensateur C0Ch ne correspondent pas aux pires cas ce qui se traduit par une surconsommation chronique du dispositif 10 d'échantillonnage qui se trouve à l'intérieur du convertisseur analogique- numérique 3. Objet de l'invention 15 L'invention a pour objet un dispositif d'échantillonnage qui présente une consommation moins importante que les dispositifs d'échantillonnage de l'art antérieur avec des performances équivalentes. 20 On tend à atteindre ce résultat au moyen d'un dispositif d'échantillonnage comportant : un condensateur d'échantillonnage possédant une première borne formant une première entrée du dispositif d'échantillonnage destinée à recevoir un signal à échantillonner et une deuxième borne, 25 un amplificateur ayant une première borne d'entrée connectée à la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage de manière à échantillonner la tension aux bornes du condensateur d'échantillonnage par rapport à une référence, et une deuxième borne d'entrée connectée à une source (6) de tension de référence. 3 Le dispositif d'échantillonnage est remarquable en ce que l'amplificateur est alimenté par une source de courant configurée pour : délivrer un courant réduit et alimenter l'amplificateur dans une première 5 condition de fonctionnement durant une première période ou ne pas alimenter l'amplificateur durant la première période, délivrer un courant nominal et alimenter l'amplificateur dans une deuxième condition de fonctionnement durant une deuxième période postérieure à la première période, la valeur du courant réduit étant 10 inférieure à la valeur du courant nominal et éventuellement nulle. Le dispositif d'échantillonnage est également remarquable en ce que durant la première période, la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage est reliée électriquement à la source de tension de référence. 15 Dans un développement, la source de courant est formée par: une première source d'alimentation configurée pour délivrer le courant réduit et alimenter l'amplificateur dans la première condition de fonctionnement, l'amplificateur est alimenté uniquement par la première source de d'alimentation, 20 une deuxième source d'alimentation configurée pour délivrer le courant nominal et alimenter l'amplificateur dans la deuxième condition de fonctionnement, l'amplificateur est alimenté uniquement par la deuxième source de d'alimentation. 25 Il est également intéressant de prévoir que la source de courant soit formée par : une première source d'alimentation configurée pour délivrer le courant réduit et alimenter l'amplificateur dans la première condition de fonctionnement, l'amplificateur est alimenté uniquement par la première 30 source de d'alimentation, 4 une deuxième source d'alimentation configurée pour délivrer le courant nominal et alimenter l'amplificateur dans la deuxième condition de fonctionnement, l'amplificateur est alimenté par la deuxième source de d'alimentation et par la première source de d'alimentation. 5 Dans un cas particulier, la première source d'alimentation est configurée pour délivrer un courant réduit représentant moins de la moitié du courant nominal délivré par la deuxième source d'alimentation. 10 Dans un autre cas particulier, la source de courant est configurée pour ne pas alimenter l'amplificateur pendant au moins une partie de la première période, la source de courant étant séparée de l'amplificateur par un interrupteur à l'état bloquant. 15 De manière avantageuse, la source de courant est configurée pour avoir une première période ayant une durée au moins égale à la durée de la deuxième période Dans un mode de réalisation plus précis, la source de courant est configurée 20 pour avoir une première période ayant une durée au moins égale à deux fois la durée de la deuxième période. Il est encore possible de prévoir un convertisseur analogique-numérique comportant un dispositif d'échantillonnage selon l'une des modes de réalisation 25 précédents dont la première entrée destinée à recevoir la tension à échantillonner est formée par la première borne du condensateur d'échantillonnage. L'invention a également pour objet un procédé d'échantillonnage qui est simple 30 à mettre en oeuvre et qui permet une réduction de la consommation électrique sans dégradation des performances électriques et temporelles. 5 Le procédé d'échantillonnage comporte fournir une tension à échantillonner sur une première borne d'un condensateur d'échantillonnage, le condensateur d'échantillonnage 5 possédant une deuxième borne reliée à une première borne d'entrée d'un amplificateur, l'amplificateur possédant une deuxième borne d'entrée recevant une tension de référence, échantillonner la tension à échantillonner durant une étape d'échantillonnage. 10 Le procédé d'échantillonnage est remarquable en ce que l'étape d'échantillonnage comporte successivement : une première période d'échantillonnage durant laquelle l'amplificateur est alimenté avec un courant réduit de sorte que l'amplificateur fonctionne 15 dans une première condition de fonctionnement, une deuxième période d'échantillonnage durant laquelle l'amplificateur est alimenté avec un courant nominal de sorte que l'amplificateur fonctionne dans une deuxième condition de fonctionnement, la valeur du courant réduit étant inférieur à la valeur du courant nominal, 20 et en ce que durant la première période d'échantillonnage, la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage reçoit la tension de référence. Dans un mode de réalisation particulier, l'amplificateur est alimenté uniquement par une première source de courant durant la première période 25 d'échantillonnage et l'amplificateur est alimenté uniquement par une deuxième source de courant durant la deuxième période d'échantillonnage. Dans un autre mode de réalisation particulier, l'amplificateur est alimenté uniquement par une première source de courant durant la première période 30 d'échantillonnage et l'amplificateur est alimenté par une deuxième source de 6 courant et par la première source de courant durant la deuxième période d'échantillonnage. Avantageusement, l'amplificateur n'est pas alimenté durant au moins une partie 5 de la première période d'échantillonnage. Description sommaire des dessins 10 D'autres avantages et caractéristiques ressortiront plus clairement de la description qui va suivre de modes particuliers de réalisation de l'invention donnés à titre d'exemples non limitatifs et représentés aux dessins annexés, dans lesquels : la figure 1 représente, de manière schématique, un circuit de détection 15 de l'art antérieur, la figure 2 représente, de manière schématique, un premier mode de réalisation d'un circuit de détection, la figure 3 représente, de manière schématique, un deuxième mode de réalisation d'un circuit de détection, 20 les figures 4 et 5 représentent, de manière schématique, des premières périodes d'échantillonnage selon deux modes de réalisation différents d'un circuit de détection, les figures 6 et 7 représentent, de manière schématique, des deuxièmes période d'échantillonnage selon deux modes de réalisation différents 25 d'un circuit de détection. Description détaillée La figure 2 illustre un premier mode de réalisation d'un circuit d'échantillonnage 30 intégré à l'intérieur d'un circuit de détection d'un rayonnement électromagnétique. A titre d'exemple, le circuit d'échantillonnage forme, par 7 exemple, le premier étage d'un convertisseur analogique-numérique 3 ou d'une manière plus générale, le point d'entrée d'une ligne de lecture. Dans un convertisseur analogique-numérique, le circuit d'échantillonnage peut être utilisé dans n'importe quel étage. 5 Le circuit de détection comporte un photodétecteur 1 qui est préférentiellement une photodiode. Le photodétecteur 1 génère un courant représentatif de la scène observée, c'est-à-dire un premier signal qui est un signal en courant représentatif de la scène observée. Le photodétecteur 1 génère des porteurs de 10 charge en fonction de l'intensité du signal observé. Le photodétecteur 1 peut être configuré pour détecter un rayonnement électromagnétique dans le domaine visible ou dans le domaine infrarouge. Le circuit de détection comporte également un circuit de lecture 2 qui est 15 configuré pour transformer le courant émis par le photodétecteur 1 en une tension représentative de la scène observée. Le circuit de lecture 2 délivre sur sa borne de sortie un signal en tension qui doit être échantillonné. Le circuit d'échantillonnage est configuré pour stocker et échantillonner un 20 signal Vin, ici la tension délivrée par le circuit de lecture 2. Le circuit d'échantillonnage reçoit, sur une première borne le signal en tension qui doit être échantillonné. Le signal en tension Vin est, par exemple, appliqué sur une borne d'entrée d'un convertisseur analogique-numérique 3. 25 Le dispositif d'échantillonnage comporte un amplificateur 4 et un condensateur d'échantillonnage Cech. Le condensateur d'échantillonnage Cech forme la borne d'entrée du dispositif d'échantillonnage, c'est-à-dire qu'il reçoit la tension à échantillonner Vin- 30 Dans le mode de réalisation illustré aux figures 2, 3, 4, 5, 6 et 7, une première armature du condensateur d'échantillonnage Cech est connectée à une borne de 8 sortie du circuit de lecture 2. Dans les modes de réalisation illustrés, la connexion entre le condensateur d'échantillonnage Cod, et le circuit de lecture 2 est une connexion directe. Cependant, il est également possible de prévoir une connexion indirecte. 5 La deuxième borne du condensateur d'échantillonnage Cecil est reliée électriquement à une première entrée de l'amplificateur 4. Dans un mode de réalisation particulièrement avantageux, l'amplificateur 4 est monté en suiveur, c'est-à-dire que la première entrée est reliée électriquement avec la borne de 10 sortie de l'amplificateur 4. La borne de sortie délivre la tension de sortie V'1 de l'amplificateur 4. De manière avantageuse, la borne de sortie de l'amplificateur 4 forme la borne de sortie du dispositif d'échantillonnage. L'amplificateur 4 possède également une deuxième borne d'entrée qui est 15 connectée à une source de tension 6 qui délivre une tension de référence \ira De cette manière, la deuxième borne d'entrée reçoit la tension de référence Vrei. Cependant, l'amplificateur 4 n'étant pas pariait, la première entrée n'applique pas la tension Vre, sur l'armature du condensateur C'h mais la tension Vrei+E. Cet écart de tension doit être pris en considération lors des étapes de calcul à 20 suivre afin de le supprimer pour conserver une qualité de conversion acceptable. Par exemple, la tension Vin stockée sur une armature du condensateur C'h est utilisée dans une multiplication, une addition ou une soustraction ou encore dans un transfert sur la borne de sortie de l'amplificateur. Il convient donc d'utiliser la tension la plus proche de ce qui est 25 fourni sur la borne d'entrée, c'est-à-dire la tension Vin. L'amplificateur 4 étant un dispositif électronique actif, ce dernier est alimenté par une source d'alimentation 5 qui fournit un courant d'alimentation. 30 Les inventeurs ont observé que durant toute la phase d'échantillonnage, c'est- à-dire durant que la première armature du condensateur C'h se charge au 9 moyen de la tension Vin, la consommation de l'amplificateur 4 peut être relativement importante alors que l'amplificateur 4 ne délivre pas une information pertinente sur sa borne de sortie et à destination de circuits de traitement (non illustrés) qui sont connectés sur la borne de sortie du dispositif 5 d'échantillonnage. Afin de réduire cette consommation, les inventeurs proposent de moduler les conditions d'alimentation de l'amplificateur 4 dans le temps afin que, sur la durée d'échantillonnage de la tension Vin, l'énergie électrique consommée par 10 l'amplificateur 4 soit moins importante qu'un dispositif de l'art antérieur à qualité d'échantillonnage équivalente, c'est-à-dire à durée d'échantillonnage et précision d'échantillonnage constantes. Il est intéressant de prévoir que l'amplificateur 4 soit alimenté par une source 15 d'alimentation 5 configurée pour délivrer au moins deux courants différents à l'amplificateur 4 afin de le faire fonctionner successivement au moins dans deux conditions différentes durant la durée d'échantillonnage. Comme illustré aux figures 3, 4, 5, 6, 7 et 8, cette différence dans l'alimentation 20 de l'amplificateur 4 peut être réalisée en utilisant au moins deux sources de courant différentes à l'intérieur de la source d'alimentation 5. Durant une première période d'échantillonnage illustrée à la figure 4, la source d'alimentation 5 est configurée pour délivrer un courant réduit irep et alimenter 25 l'amplificateur 4 pour que ce dernier se trouve dans une première condition de fonctionnement. Dans une deuxième période d'échantillonnage postérieure à la première période d'échantillonnage et illustrée aux figures 6 et 7, la source d'alimentation 30 5 est configurée pour délivrer un courant nominal i', et alimenter l'amplificateur 4 pour que ce dernier se trouve dans une deuxième condition de 10 fonctionnement. La valeur du courant réduit irep est inférieure à la valeur du courant nominal inom. Dans la deuxième condition de fonctionnement, la première borne d'entrée de l'amplificateur 4 peut délivrer un courant maximal plus important que dans la première condition de fonctionnement. 5 Durant la première période d'échantillonnage, la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage Ceci est reliée électriquement à la source 6 de tension de référence Vref. De cette manière, la tension Vre, est appliquée sur la deuxième armature du condensateur d'échantillonnage C'h qui peut stocker la 10 tension Vin par rapport à la tension Vref. Dans un mode de réalisation, la tension Vrei est appliquée sur la première entrée de l'amplificateur 4 en court-circuitant les deux entrées de l'amplificateur 4. Cette configuration est particulièrement avantageuse car compacte. Ce court-circuit peut être réalisé au moyen d'un interrupteur 7 comme cela est illustré aux figures 4 et 5. Le court-circuit permet 15 d'appliquer la tension Vre, sur la deuxième armature simplement. En alternative, la deuxième armature du condensateur Coal est déconnectée de la première entrée de l'amplificateur 4. Durant la première période d'échantillonnage, la tension Vre, est appliquée par 20 la source 6 de tension de référence Vref et non par la première entrée de l'amplificateur 4. Le condensateur se charge au moyen du courant apporté par la source 6. Il est donc possible de réduire l'alimentation délivrée à l'amplificateur 4 sans que cela ne pose des problèmes sur la qualité de l'information présente dans le condensateur d'échantillonnage Ceoh. Si la 25 tension appliquée sur la deuxième armature du condensateur d'échantillonnage Cech était imposée par l'amplificateur 4, il pourrait y avoir des écarts de polarisation importants car l'amplificateur 4 n'est plus alimenté par le courant nominal nom et n'est pas toujours en mesure d'échantillonner la tension Vin. Le courant fourni à l'amplificateur 4 est faible de sorte que l'amplificateur n'est pas 30 en mesure de charger le condensateur d'échantillonnage au niveau souhaité durant la première période et la deuxième période. 11 Dans un mode de réalisation illustré aux figures 3 et 5, il est même possible de prévoir que l'amplificateur 4 ne soit pas alimenté durant la première période d'échantillonnage ou au moins durant une partie de la première période. Le 5 courant réduit irep peut être un courant nul et la source de courant 5a peut ne pas exister. Cependant, les inventeurs ont observé que l'absence d'alimentation aux bornes de l'amplificateur 4 peut entrainer des aléas lors de sa remise en fonctionnement. Il apparaît donc avantageux d'utiliser un tel mode de réalisation lorsque la durée d'échantillonnage est importante. Si la première phase 10 d'échantillonnage est réalisée sans alimenter l'amplificateur 4 alors la deuxième phase d'échantillonnage peut être plus longue de sorte que l'amplificateur atteigne un régime stationnaire en fin de deuxième période d'échantillonnage. La figure 3 représente un mode de réalisation qui permet de ne pas alimenter l'amplificateur 4 durant une partie de la première période d'échantillonnage. 15 L'amplificateur 4 est alimenté avec le courant de repos irae durant l'autre partie de la première période (figure 4). La figure 5 représente un mode de réalisation qui permet de ne pas alimenter l'amplificateur 4 durant toute la première période d'échantillonnage. 20 Dans une telle configuration, il est particulièrement avantageux de connecter directement la première entrée de l'amplificateur 4 avec la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage Ceci,. Durant la deuxième période d'échantillonnage illustrée aux figures 6 et 7, la 25 source de tension de référence Vrof n'est pas connectée directement à la deuxième armature du condensateur d'échantillonnage Cech. L'interrupteur 7 est à l'état ouvert ou bloquant. Durant la deuxième période d'échantillonnage, le condensateur 30 d'échantillonnage Cod, termine de se charger pour stocker la tension Vin. La tension Vref-Fe est appliquée sur la seconde borne du condensateur 12 d'échantillonnage Cod, au moyen de la première entrée de l'amplificateur 4. L'écart à la tension de référence Vrs est présent sur la deuxième borne du condensateur C'h ce qui permet d'utiliser la tension stockée sur la première armature du condensateur facilement dans les opérations courantes d'un circuit 5 d'échantillonnage. Cette configuration évite d'introduire un décalage de tension égal à s dans le résultat de sortie et donc de devoir traiter le signal avec des algorithmes supplémentaires dans les traitements postérieurs. Durant la deuxième période d'échantillonnage, l'amplificateur 4 est alimenté 10 avantageusement avec un courant nominal in' qui est plus important que le courant réduit irop ce qui permet de fournir rapidement les charges permettent de passer de la tension \ire/ à la tension Vret-Fs. Il est donc possible d'avoir une deuxième phase d'échantillonnage courte. 15 En utilisant la première entrée de l'amplificateur 4 pour appliquer la tension de référence Vret-Fs sur la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage Cecil, le décalage de tension qui existe entre les première et deuxième entrées de l'amplificateur (également appelé offset d'amplificateur) est introduit dans la mesure échantillonnée ce qui facilite le traitement de l'information en stockant 20 une erreur liée à l'amplificateur pour permettre l'élimination de cette erreur lors de l'utilisation suivante de l'amplificateur. La deuxième période d'échantillonnage illustrée aux figures 6 et 7 représente un fonctionnement du dispositif d'échantillonnage comme dans l'art antérieur 25 avec la tension à échantillonner Vin qui est mesurée par l'amplificateur 4 dans ses conditions nominales d'alimentation. Le schéma électrique équivalent correspond alors à celui de la figure 1. Dans le mode de réalisation illustré à la figure 6, les sources de courant 5a et 30 5b sont connectées simultanément à l'amplificateur 4 afin que ce dernier soit alimenté avec le courant nominal in'. Dans le mode de réalisation illustré à la 13 figure 7, seule la source de courant 5b est connectée à l'amplificateur 4 afin que ce dernier soit alimenté avec le courant nominal in'. En utilisant, deux conditions différentes d'alimentation de l'amplificateur 4, le 5 dispositif d'échantillonnage consomme moins de courant qu'un dispositif de l'art antérieur sur la durée totale d'échantillonnage. Cette configuration permet de conserver les mêmes fréquences d'échantillonnage que celles des dispositifs de l'art antérieur. La deuxième période d'échantillonnage est réalisée avantageusement avec le courant nominal, c'est-à-dire le courant d'alimentation 10 prévu pour un fonctionnement standard voire optimal de l'amplificateur 4 pour charger faiblement le condensateur C00h. Afin d'avoir un gain en consommation de courant le plus important possible, il est avantageux de réduire autant que possible la valeur du courant réduit irop 15 et/ou la durée de la deuxième période d'échantillonnage vis-à-vis de la durée totale d'échantillonnage. De manière avantageuse, la durée de la première période d'échantillonnage est égale à au moins 10% de la durée totale d'échantillonnage, de préférence au moins 50% de la durée totale d'échantillonnage. 20 Les inventeurs ont observé un gain notable en consommation de courant sans perte de performance lorsque la durée de la première période d'échantillonnage est égale à la durée de la deuxième période d'échantillonnage. De très bons résultats sont également attendus lorsque la première période 25 d'échantillonnage représente une durée supérieure à celle de la deuxième période d'échantillonnage, c'est-à-dire que la première période d'échantillonnage représente plus de la moitié de la durée d'échantillonnage. En d'autres termes, la source d'alimentation 5 peut être configurée pour avoir une première période d'échantillonnage ayant une durée au moins égale à la 30 deuxième période d'échantillonnage. De manière avantageuse, la source d'alimentation 5 est configurée pour avoir une première période 14 d'échantillonnage ayant une durée au moins égale à deux fois la durée de la deuxième période d'échantillonnage. Cette configuration permet aussi d'obtenir des bons résultats lorsque la durée de la première période d'échantillonnage est comprise entre 80% et 90% de la durée totale d'échantillonnage. 5 De manière avantageuse, la deuxième période est au moins égale à 10% de la durée de la première période d'échantillonnage pour s'assurer que la première borne d'entrée de l'amplificateur 4 délivre la tension Vrei+E. 10 II est avantageux de prévoir que la valeur du courant réduit irep représente moins de 80% de la valeur du courant nominal inom Préférentiellement, la valeur du courant réduit Lep représente moins de 50% de la valeur du courant nominal in' et encore plus préférentiellement moins de 30%. Comme indiqué plus haut, il est également possible de prévoir que le courant réduit corresponde à un 15 courant nul. Il est également possible de prévoir que la première période d'échantillonnage soit divisée en au moins deux périodes élémentaires successives qui correspondent à des conditions d'alimentation différentes. 20 Il est, par exemple, avantageux de prévoir que la première période élémentaire correspond à une absence de courant d'alimentation aux bornes de l'amplificateur 4 et que la deuxième période élémentaire correspond à une alimentation avec un courant réduit irep qui représente entre 30% et 50% du 25 courant nominal in'. De cette manière, l'arrêt de l'amplificateur 4 durant la première période élémentaire permet un gain maximal en consommation et la deuxième période élémentaire permet un démarrage maitrisé de l'amplificateur 4 pour éviter des artefacts de mesure. La deuxième période élémentaire est postérieure à la première période élémentaire. 30 15 Pour obtenir l'arrêt de l'amplificateur 4, il est possible d'éteindre la source d'alimentation 5, mais il est également possible d'appliquer un faible courant dont la valeur se trouve en dessous de la valeur nécessaire au démarrage de l'amplificateur 4. Ces deux options peuvent être utilisées pour arrêter 5 l'amplificateur 4 durant la première période d'échantillonnage ou une partie de la première période d'échantillonnage. En alternative, il est possible de déconnecter la source d'alimentation 5 de l'amplificateur 4 en basculant à l'état bloquant un interrupteur 8a/8b qui relie la source de courant 5 avec l'amplificateur 4. 10 La source d'alimentation 5 est avantageusement configurée pour délivrer deux courants différents, le courant réduit Loi, et le courant nominal in'. La source d'alimentation 5 peut être formée de différentes manières pour fournir des conditions d'alimentation différentes à l'amplificateur 4 au cours du temps. 15 Dans une première configuration illustrée aux figures 3 et 4, la source d'alimentation 5 délivre le courant réduit ken sur une première borne de sortie et elle délivre un courant supplémentaire i'pp sur une deuxième borne de sortie. Le courant supplémentaire est choisi de manière à ce que la source 20 d'alimentation 5 délivre le courant nominal inom à partir de la première borne de sortie et de la deuxième borne de sortie N-norrF-reptsupp, Ces deux bornes de sortie permettent de dissocier les deux fonctionnements attendus pour l'amplificateur 4 avec deux sources d'alimentations 25 complémentaires pour former le courant nominal in'. Les deux sources d'alimentation sont connectées à l'entrée d'alimentation de l'amplificateur 4 par l'intermédiaire de deux interrupteurs distincts 8a et 8b. Le premier interrupteur 8a relie électriquement l'amplificateur 4 avec la première source d'alimentation 5a qui délivre le courant réduit irep. Le deuxième interrupteur 8b relie 30 électriquement l'amplificateur 4 avec la deuxième source d'alimentation 5b qui délivre le courant supplémentaire i'pp. 16 Durant la première période d'échantillonnage (figure 4), le premier interrupteur 8a est passant afin de délivrer le courant réduit irep. Durant la deuxième période d'échantillonnage (figure 6), le premier et le deuxième interrupteurs 8a et 8b 5 sont passants afin de délivrer le courant nominal ir,'. Dans une deuxième configuration illustrée aux figures 4 et 7, la source d'alimentation 5 délivre le courant réduit irep sur une première borne de sortie et elle délivre le courant nominal in' sur une deuxième borne de sortie. Ces deux 10 bornes de sortie représentent deux sources d'alimentation spécifiques 5a et 5b délivrant respectivement chacune les courants attendus. Les deux sources d'alimentation spécifiques sont connectées à l'entrée d'alimentation de l'amplificateur 4 par l'intermédiaire de deux interrupteurs distincts 8a et 8b. Le premier interrupteur 8a relie électriquement l'amplificateur 4 avec la première 15 source d'alimentation 5a qui délivre le courant réduit irep. Le deuxième interrupteur 8b relie électriquement l'amplificateur 4 avec la deuxième source d'alimentation 5b qui délivre le courant nominal inom. En basculant l'ouverture et la fermeture des premier et deuxième interrupteurs 20 8a et 8b, il est possible d'alimenter l'amplificateur 4 avec le courant réduit irep ou avec le courant nominal ir,' si les deux interrupteurs 8a et 8b sont toujours en opposition d'états durant toute la durée d'échantillonnage. Il est également possible de prévoir que les deux interrupteurs 8a et 8b soient à l'état bloquant simultanément pour provoquer l'arrêt de l'amplificateur 4 (figure 3). 25 Dans un autre mode de réalisation, la première phase d'échantillonnage est réalisée sans alimenter l'amplificateur 4 (figure 3). Le condensateur C'h se charge entre la tension Vin et la tension Vref Durant la deuxième phase d'échantillonnage, l'amplificateur 4 est alimenté avec le courant de repos Irep 30 (figure 4). Les inventeurs ont observé que l'utilisation du courant de repos est possible car la différence de tension entre la tension Vref et la tension Vref-Fe est 17 faible ce qui permet d'utiliser un amplificateur 4 qui délivre moins de courant. Cependant, des précautions doivent être prises et la durée de la deuxième phase d'échantillonnage peut être augmentée. Lors de l'étape de calcul ou de transfert qui suit l'étape d'échantillonnage, l'amplificateur 4 est alimenté avec le 5 courant nominal inom. Le circuit d'échantillonnage peut posséder un circuit de commande (non représenté) qui actionne les différents interrupteurs 7, 8a et 8b et éventuellement d'autres éléments de manière à définir la première période 10 d'échantillonnage, la deuxième période d'échantillonnage et les étapes de calcul et de transfert de tension. Le photodétecteur 1 peut être formé par tout dispositif configuré pour transformer un signal électromagnétique reçu en un courant électrique. A titre 15 d'exemple, le photodétecteur 1 peut être une photodiode, un dispositif à puits quantique ou à multipuits quantiques. Il est encore possible d'utiliser un capteur CMOS comme photodétecteur. Le photodétecteur 1 peut être réalisé en silicium, dans des matériaux II-VI ou 20 encore dans des matériaux III-V. A titre d'exemple, le photodétecteur peut être réalisé dans des matériaux choisis parmi HgCdTe, InSb ou InGaAs. Le photodétecteur 1 peut être configuré pour détecter du rayonnement visible et/ou un rayonnement infrarouge. 25 Le circuit de détection peut être configuré pour fonctionner à température ambiante ou il peut être associé à un dispositif refroidisseur afin de former un circuit de détection refroidi. De manière avantageuse, le circuit de détection refroidi est configuré pour avoir une température de fonctionnement inférieure à 30 200K. 18 Le dispositif d'échantillonnage est présenté comme un élément d'un dispositif de détection, mais il est tout à fait possible de prévoir que le dispositif d'échantillonnage puisse être utilisé dans d'autres dispositifs ou circuits, par exemple à l'intérieur d'un convertisseur analogique numérique hors d'un 5 dispositif de détection ou dans une autre structure permettant l'échantillonnage à partir d'un condensateur d'échantillonnage sans faire partie d'un convertisseur analogique-numérique. De manière avantageuse, le courant nominal correspond au courant minimal 10 pour charger la capacité d'échantillonnage lorsque la tension Vin correspond au pire Cas dans la durée d'échantillonnage prédéfinie. Par exemple, la tension Vin correspond à la borne la plus éloignée de la tension initiale présente sur la borne du condensateur d'échantillonnage. Ainsi, durant la période d'échantillonnage du circuit, il faut accumuler la quantité maximale de charges 15 électriques afin d'avoir une information représentative de Vin. La valeur du courant nominal est fonction de la valeur du condensateur d'échantillonnage ce qui représente, le nombre de charges électriques à stocker. La valeur du courant nominal est également fonction de la valeur de 20 Vin et de la durée d'échantillonnage. REVENDICATIONS1. Dispositif d'échantillonnage comportant: un condensateur d'échantillonnage (Cech) possédant une première borne formant une première entrée du dispositif d'échantillonnage destinée à recevoir un signal à échantillonner et une deuxième borne, un amplificateur (4) ayant une première borne d'entrée connectée à la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage (Cech) de manière à échantillonner la tension aux bornes du condensateur d'échantillonnage (Open) par rapport à une référence, et une deuxième borne d'entrée connectée à une source (6) de tension de référence (Vrei), dispositif d'échantillonnage caractérisé en ce que l'amplificateur (4) est alimenté par une source de courant (5, 5a, 5b) configurée pour : délivrer un courant réduit (irep) et alimenter l'amplificateur (4) dans une première condition de fonctionnement durant une première période ou ne pas alimenter l'amplificateur (4) durant la première période, délivrer un courant nominal (in') et alimenter l'amplificateur (4) dans une deuxième condition de fonctionnement durant une deuxième période postérieure à la première période, la valeur du courant réduit (irep) étant inférieure à la valeur du courant nominal (i'm) et éventuellement nulle, et en ce que durant la première période, la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage (Cech) est reliée électriquement à la source de tension de référence (Vref). 2. Dispositif d'échantillonnage selon la revendication 1, caractérisé en ce que la source de courant (5) est formée par une première source d'alimentation (5a) configurée pour délivrer le courant réduit (ken) et alimenter l'amplificateur (4) dans la première 20 condition de fonctionnement, l'amplificateur (4) est alimenté uniquement par la première source de d'alimentation, une deuxième source d'alimentation (5b) configurée pour délivrer le courant nominal (inom) et alimenter l'amplificateur (4) dans la deuxième 5 condition de fonctionnement, l'amplificateur (4) est alimenté uniquement par la deuxième source de d'alimentation (5b). 3. Dispositif d'échantillonnage selon la revendication 1, caractérisé en ce que la source de courant (5) est formée par : 10 une première source d'alimentation (5a) configurée pour délivrer le courant réduit (irep) et alimenter l'amplificateur (4) dans la première condition de fonctionnement, l'amplificateur (4) est alimenté uniquement par la première source de d'alimentation (5a), une deuxième source d'alimentation (5b) configurée pour délivrer le 15 courant nominal (inom) et alimenter l'amplificateur (4) dans la deuxième condition de fonctionnement, l'amplificateur (4) est alimenté par la deuxième source de d'alimentation (5b) et par la première source de d'alimentation (5a). 20 4. Dispositif d'échantillonnage selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que la première source d'alimentation (5a) est configurée pour délivrer un courant réduit (iren) représentant moins de la moitié du courant nominal (inom) délivré par la deuxième source d'alimentation (5b). 25 5 Dispositif d'échantillonnage selon la revendication 1, caractérisé en ce que la source de courant (5) est configurée pour ne pas alimenter l'amplificateur (4) pendant au moins une partie de la première période, la source de courant (5) étant séparée de l'amplificateur (4) par un 30 interrupteur (7) à l'état bloquant. 21 6. Dispositif d'échantillonnage selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la source de courant (5) est configurée pour avoir une première période ayant une durée au moins égale à la durée de la deuxième période. 5 7. Dispositif d'échantillonnage selon la revendication précédente, caractérisé en ce que la source de courant (5) est configurée pour avoir une première période ayant une durée au moins égale à deux fois la durée de la deuxième période. 10 8. Convertisseur analogique-numérique (3) comportant un dispositif d'échantillonnage selon l'une quelconque des revendications précédentes dont la première entrée destinée à recevoir la tension à échantillonner (Vin) est formée par la première borne du 15 condensateur d'échantillonnage (Cech). 9. Procédé d'échantillonnage d'une tension comportant : fournir une tension à échantillonner (Vin) sur une première borne d'un condensateur d'échantillonnage (Cecil), le condensateur 20 d'échantillonnage (Cech) possédant une deuxième borne reliée à une première borne d'entrée d'un amplificateur (4), l'amplificateur (4) possédant une deuxième borne d'entrée recevant une tension de référence (Vret), échantillonner la tension à échantillonner (Vin) durant une étape 25 d'échantillonnage procédé d'échantillonnage caractérisé en ce que l'étape d'échantillonnage comporte successivement : une première période d'échantillonnage durant laquelle l'amplificateur (4) est alimenté avec un courant réduit (irep) de sorte que l'amplificateur (4) 30 fonctionne dans une première condition de fonctionnement, 22 une deuxième période d'échantillonnage durant laquelle l'amplificateur (4) est alimenté avec un courant nominal (inom) de sorte que l'amplificateur fonctionne dans une deuxième condition de fonctionnement, la valeur du courant réduit (irep) étant inférieur à la valeur 5 du courant nominal (inom), et en ce que durant la première période d'échantillonnage, la deuxième borne du condensateur d'échantillonnage (Cern) reçoit la tension de référence (Vref). 10 10. Procédé d'échantillonnage selon la revendication précédente dans lequel l'amplificateur (4) est alimenté uniquement par une première source de courant (5a) durant la première période d'échantillonnage et l'amplificateur (4) est alimenté uniquement par une deuxième source de courant (5b) durant la deuxième période d'échantillonnage. 15 11. Procédé d'échantillonnage selon la revendication 9 dans lequel l'amplificateur (4) est alimenté uniquement par une première source de courant (5a) durant la première période d'échantillonnage et l'amplificateur (4) est alimenté par une deuxième source de courant (5b) 20 et par la première source de courant (5a) durant la deuxième période d'échantillonnage. 12. Procédé d'échantillonnage selon la revendication 9 dans lequel l'amplificateur (4) n'est pas alimenté durant au moins une partie de la 25 première période d'échantillonnage.