FR 2965930 A1 20120413 FR 1058192 A 20101008 L'invention concerne un dispositif de test électromagnétique d'au moins un objet, comme par exemple un objet rayonnant. On peut citer comme exemples de tels objets sous test une ou plusieurs antennes alimentées au moyen de câbles ou bien munies directement de leurs sources ou bien de leurs récepteurs intégrés, et pouvant fonctionner en émission et/ou en réception. On cherche par exemple à connaître la réponse de l'antenne et du récepteur intégré d'un téléphone portable à des rayonnements électromagnétiques extérieurs. Ou encore, on cherche par exemple à connaître la réponse d'une 15 antenne GPS avec son récepteur embarqué à des interférences électromagnétiques extérieures. Ou encore, on cherche par exemple à mesure le diagramme de rayonnement d'une antenne radar dans plusieurs directions de l'espace. Ou encore, on cherche par exemple à mesurer la sensibilité d'un 2 0 téléphone portable dans plusieurs directions de l'espace. Un tel dispositif de test électromagnétique d'au moins un objet rayonnant, comportant un réseau de sondes électromagnétiques d'émission et/ou de réception de rayonnements électromagnétiques vers ou depuis l'objet sous test, le dispositif comportant en outre une structure de support du réseau de sondes et un 2 5 support de l'objet sous test, est connu. Par exemple, le document WO 2010/006891 décrit un réseau de sondes électromagnétiques réparties sur une sphère, ayant comme support de l'objet sous test un mât qui s'étend depuis un dispositif de positionnement jusqu'à proximité du centre géométrique de la sphère. 3 0 Il existe également dans l'état de la technique des réseaux de sondes en arches, en anneaux ou sur un plan, comme par exemple selon le document « Spherical Near Field Facility for Characterizing Random Emissions », de Benoît Fourestié, Jean-Charles Bolomey, Thierry Sarrebourse, Zwi Altman, Joe Wiart dans IEEE Transactions on Antennas and Propagation, Vol. 53, N°8, Août 2005. Ces dispositifs sont disposés dans une chambre anéchoïque, pour éviter les réflexions parasites des rayonnements, et faradisée pour s'affranchir des perturbations électromagnétiques extérieures. L'un des inconvénients de ces dispositifs connus et disposés dans une chambre anéchoïque faradisée est la taille souvent importante des chambres qui nécessitent la construction de grands bâtiments et l'utilisation de quantités importantes d'absorbeurs électromagnétiques pour couvrir les grandes surfaces intérieures, ce qui entraine des coûts et des délais importants. Un autre inconvénient est que l'installation de la chambre anéchoïque faradisée est souvent réalisée par une entité différente de celle qui installe le système de mesure à l'intérieur de la chambre, ce qui représente un risque supplémentaire pour les projets, tant d'un point de vue organisationnel et de planning que d'un point de vue de la responsabilité finale des performances du mesure du moyen final. Un autre inconvénient est que la qualité des mesures électromagnétiques est directement tributaire de la capacité de la chambre anéchoïque faradisée à limiter les échos intérieurs et les perturbations extérieures 2 0 nécessitant d'une part des absorbeurs électromagnétiques performant et d'autre part un blindage électromagnétique sévère, ce qui peut s'avérer d'un coût élevé. Un autre inconvénient est que la présence d'équipements ou de pièces de support mécaniques réfléchissants ou diffractants les ondes électromagnétiques à proximité des sondes de mesure peut dégrader la qualité des mesures. 2 5 L'invention vise à obtenir un dispositif de test électromagnétique palliant les inconvénients de l'état de la technique. A cet effet, l'invention concerne un dispositif de test électromagnétique d'au moins un objet, le dispositif comportant un réseau de sondes électromagnétiques d'émission et/ou de réception de rayonnements 30 électromagnétiques vers ou depuis l'objet sous test, le dispositif comportant en outre une structure de support du réseau de sondes et un support de l'objet sous test, caractérisé en ce que la structure de support du réseau de sondes est fermée tout autour du support de l'objet sous test selon les trois dimensions de l'espace par au moins une paroi conductrice formant cage de Faraday, qui est munie sur son côté intérieur d'absorbeurs électromagnétiques anéchoïques situés dans les intervalles entre les sondes. Le dispositif de test suivant l'invention est à "faradisation" intégrée, ce qui signifie qu'au lieu d'avoir une chambre faradisée qui soit désolidarisée du moyen de mesure formé par les sondes, l'invention propose une chambre faradisée faisant partie intégrante du moyen de mesure, avec tous les avantages que cela comporte en termes de réduction de taille de la chambre, de réduction des travaux de génie civil nécessaires, de réduction de durée d'installation, de réduction des quantités d'absorbeurs utilisés, de réduction des coûts, de mobilité. En effet, l'état de la technique consiste à placer le moyen de mesure, 15 comme par exemple le réseau de sondes décrit dans le document WO 2010/006891, dans une chambre faradisée et anéchoïque indépendante. Ainsi, au lieu d'avoir une chambre anéchoïque désolidarisée du moyen de mesure, le dispositif suivant l'invention propose une chambre anéchoïque faisant partie du moyen de mesure avec des absorbeurs électromagnétiques entre les sondes 20 et tous les avantages que cela comporte en termes de réduction de volume de la chambre, de réduction de la surface couverte par les absorbeurs, de réduction des coûts, de mobilité. Notamment, le dispositif de test suivant l'invention pourra être déménageable beaucoup plus aisément en tout lieu, y compris en dehors d'une chambre anéchoïque classique. 2 5 En outre, le dispositif suivant l'invention offre toujours le même environnement électromagnétique contrôlé à l'avance autour de l'objet sous test, ce qui garantit une qualité constante des mesures. Dans un mode de réalisation de l'invention, la paroi conductrice est courbe. Dans un autre mode de réalisation de l'invention, la paroi conductrice peut 3 0 être à facettes. Dans un mode de réalisation de l'invention, la structure de support est de forme générale sphérique. Dans un mode de réalisation de l'invention, la structure de support comporte au moins un montant auquel sont fixées les sondes et la au moins une paroi conductrice, des absorbeurs électromagnétiques anéchoïques étant également prévus en outre sur le côté intérieur des montants dans les intervalles entre les sondes. Dans un mode de réalisation de l'invention, la au moins une paroi conductrice est fixée au côté extérieur du au moins un montant par l'intermédiaire d'au moins un joint radiofréquence. Dans un mode de réalisation de l'invention, la structure de support délimite un volume clos contenant le support de l'objet sous test. Dans un mode de réalisation de l'invention, le volume clos délimité par la structure de support contient en outre un système de déplacement relatif du support par rapport à la structure de support suivant au moins un degré de liberté. Dans un mode de réalisation de l'invention, le système de déplacement relatif situé à l'intérieur de la structure de support est composé d'au moins un premier système de déplacement angulaire relatif permettant au moins un déplacement angulaire déterminé de glissement de la structure de support relativement par rapport au support autour d'un axe géométrique non vertical. 2 0 Dans un autre mode de réalisation de l'invention, le système de déplacement relatif situé à l'intérieur de la structure de support permet au moins un déplacement angulaire de rotation relative de la structure de support par rapport au support autour d'un axe géométrique vertical. Dans un mode de réalisation de l'invention, la structure de support 2 5 repose sur un socle inférieur, entre le socle et la structure de support est prévu un deuxième autre système de déplacement angulaire permettant de déplacer la structure de support par rapport au socle d'un deuxième angle de même valeur absolue et opposé au déplacement angulaire de glissement du premier système de déplacement angulaire relatif du support par rapport à la structure de support, afin 30 que le support de l'objet sous test conserve une position prescrite et sensiblement constante par rapport à la verticale. Dans un mode de réalisation de l'invention, le deuxième autre système de déplacement angulaire comporte une pluralité de rouleaux de soutien d'une surface extérieure courbe de la paroi de la structure de support sur le socle et au moins un moteur d'entraînement d'au moins l'un des rouleaux pour faire rouler dudit deuxième angle ladite surface extérieure courbe de la paroi de la structure de support par rapport au socle. Dans un mode de réalisation de l'invention, le dispositif comporte en outre : un organe de commande du déplacement angulaire de glissement du premier 10 système de déplacement angulaire, au moins un capteur de mesure d'un angle réel du support de l'objet sous test par rapport à la verticale, une boucle d'asservissement du moteur d'entraînement en fonction de l'angle mesuré par le capteur, pour que l'angle mesuré par le capteur soit égal à une valeur 15 constante correspondant à ladite position prescrite du support par rapport à la verticale. Dans un mode de réalisation de l'invention, les sondes sont réparties de manière équiangle suivant au moins une coordonnée sphérique autour d'un même point cible des sondes. Dans un autre mode de réalisation de l'invention, les sondes 20 sont réparties suivant des positions angulaires arbitraires à l'aide de moyens de coulissement manuels ou motorisés sur la structure de support des sondes autour d'un même point cible des sondes. Dans un mode de réalisation de l'invention, il est prévu sur au moins une des sondes un système de réglage individuel de l'alignement mécanique de la 25 sonde par rapport à un même point cible pour toutes les sondes, point cible où doit être centré l'objet sous test sur le support. Dans un mode de réalisation de l'invention, le système de réglage individuel de l'alignement mécanique de la sonde est associé à au moins une caméra optique de détection positionnée au point cible pour mesurer l'alignement mécanique 3 0 de la sonde. Dans un mode de réalisation de l'invention, le système de réglage individuel de l'alignement mécanique de la sonde comporte une motorisation de ladite sonde sur la structure de support, pour déplacer la sonde par rapport à la structure de support suivant au moins un degré de liberté autre que suivant une direction de pointage de la sonde vers le point cible. Dans un mode de réalisation de l'invention, il est prévu un module d'analyse de l'image fournie par la caméra pour détecter dans cette image la trace de ladite sonde et un module d'asservissement de la motorisation pour aligner la trace détectée de la sonde sur une trace de consigne correspondant à l' alignement de la sonde sur le point cible. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple non limitatif en référence aux dessins annexés, sur lesquels : - la figure 1 est une vue schématique de côté d'un mode de réalisation 15 du dispositif de test suivant l'invention, - la figure 2 est une vue schématique en perspective de dessus de l'intérieur du dispositif de test suivant un mode de réalisation de l'invention, - la figure 3 est une autre vue schématique en perspective de dessus de l'intérieur du dispositif de test suivant un mode de réalisation de l'invention, 2 0 montrant en plus le fond de la structure de support des sondes, - la figure 4 est une vue schématique de face ouverte de côté du dispositif de test suivant un mode de réalisation de l'invention, - la figure 5 est une vue schématique en coupe transversale d'une partie du dispositif suivant un mode de réalisation de l'invention, 2 5 - les figures 6 à 9 sont des vues schématiques de face ouverte de côté du dispositif de test suivant un mode de réalisation de l'invention dans différentes positions de glissement, - la figure 10 est un schéma de principe d'un dispositif d'alignement d'une sonde suivant l'invention. 3 0 Dans le mode de réalisation représenté aux figures 1 à 9, le dispositif 1 de test électromagnétique comporte un réseau de sondes 2 électromagnétiques fixé à une structure 3 de support. La structure 3 de support comporte à cet effet des montants 30 de support des sondes 2, ces montants 30 étant par exemple en forme d'arches s'étendant verticalement et étant par exemple conducteurs. Le dispositif 1 comporte également un support 4 d'un ou plusieurs 5 objets sous test, ce support 4 étant par exemple formé par un mât. La structure 3 de support comporte au moins une paroi 31 s'étendant, suivant les trois dimensions de l'espace tout autour du support 4 de l'objet sous test pour former une cage de Faraday complètement fermée autour de l'objet sous test lorsque ce dernier se trouve sur le support 4. L'objet sous test est par exemple un 10 objet rayonnant, ainsi qu'indiqué ci-dessus. On empêche ainsi les rayonnements électromagnétiques extérieurs de pénétrer à l'intérieur de l'espace clos délimité par la structure 3 de support. On empêche également les rayonnements électromagnétiques émis par les sondes 2 et/ou les rayonnements électromagnétiques émis par l'objet sous test disposé sur le support 4 de sortir de l'espace clos délimité par la structure 3 15 de support. Sur les figures 1 à 4, le dispositif de test électromagnétique est représenté avec des parties de la paroi 31 de la structure de support, qui ont été enlevées, pour montrer l'intérieur de cette dernière. La paroi 31 ou les parois 31 est ou sont fixée(s) aux montants 30 pour empêcher toute fuite électromagnétique vers l'intérieur ou à l'extérieur, par 2 0 exemple par le mode de fixation représenté à la figure 5, qui sera décrit plus en détail ci-après. Sur son côté intérieur tourné vers l'objet sous test et le support 4, la structure 3 de support comporte des absorbeurs électromagnétiques anéchoïques 5 situés dans les intervalles entre les sondes 2. Par conséquent, les montants 30, 2 5 lorsque, ainsi que représentés, ils se trouvent à l'intérieur par rapport à la paroi 31, sont recouverts d'absorbeurs électromagnétiques anéchoïques 5 tournés vers le point cible 40 des sondes 2, ce point cible 40 se trouvant en général au dessus ou à proximité du support 4 et l'objet sous test devant en général être centré en ce point test 40. La paroi 31 est recouverte, sur son côté intérieur, d'absorbeurs 3 0 électromagnétiques anéchoïques 5 tournés vers le point cible 40 en lequel doit en général être centré l'objet sous test sur le support 4. Les absorbeurs électromagnétiques 5 sont par exemple pyramidaux, ainsi que représentés. Une partie d'entre eux peuvent par exemple être plats notamment pour couvrir la base 611 du système de déplacement relatif 6. Les absorbeurs 5 empêchent les rayonnements électromagnétiques émis par les sondes 2 et/ou les rayonnements électromagnétiques émis par l'objet sous test d'atteindre la ou les parois 31 et les montants 30 ou les atténuent très fortement, pour empêcher ou diminuer très fortement les réflexions pouvant être occasionnées par les montants 30 et la ou les parois 31. En effet, les montants 30 sont par exemple métalliques, notamment en acier ou aluminium. La ou les parois 31 sont conductrices et fabriquées en métal ou autre matériau conducteur pour former un mur électrique. Elles sont par exemple formées chacune d'une tôle métallique en aluminium. Les absorbeurs électromagnétiques 5 sont disposés sur toute la surface intérieure de la structure 3 à l'exception des sondes 2, lesquelles sont enrobées d'absorbeurs électromagnétiques spécifiques 51 par exemple de forme plane comme sur la figure 2 ou bien conformés comme sur les figures 3 et 4, les absorbeurs 5 se trouvant donc autour et entre les sondes 2 munies de leurs absorbeurs spécifiques 51. Les parois 31 sont, par exemple, courbes en étant orientées vers le support 4. Il est par exemple prévu une pluralité de parois 31 avec chacune des parois 31 fixées entre deux montants 30 successifs. Les montants 30 sont, par 2 0 exemple, aux figures 1 à 4, en forme d'arches semi-circulaires s'étendant le long d'un méridien d'une sphère, pour donner à la structure 3 de support une forme générale sphérique. La ou les parois 31 formant cage de Faraday peuvent n'être courbes, ainsi que représenté, que dans le sens vertical, c'est-à-dire être formées chacune d'une portion d'un cylindre ayant son axe géométrique horizontal. La ou les parois 31 2 5 formant cage de Faraday peuvent également être de forme générale sphérique. Ou encore la ou les parois 31 formant cage de Faraday peuvent également être facettées. En outre, dans l'une des parois 31 est prévue une porte permettant à une personne de pénétrer à l'intérieur de la structure 3 pour y introduire et/ou enlever l'objet sous test sur le support 4. 3 0 Dans le mode de réalisation de la figure 5, une paroi 31 est fixée sur le côté extérieur d'un montant 30. Un joint radiofréquence 32 (aussi appelé joint RF) est prévu entre le montant 30 et la paroi 31 pour assurer une étanchéité vis-à-vis des rayonnements électromagnétiques entre l'intérieur et l'extérieur. De tels joints RF 32 sont, par exemple, formés d'un ruban métallique, constitué par exemple de fils métalliques tricotés. Un tel joint 32 permet de s'adapter aux formes courbes ou facettées. En outre, un premier arceau métallique conducteur 33 est fixé au côté extérieur du montant 30, le joint RF 32 se trouvant entre le premier arceau 33 et la paroi 31. Un deuxième arceau métallique conducteur 34 est prévu sur le côté extérieur de la paroi 31 en face du joint RF 32, la paroi 31 se trouvant donc entre le deuxième arceau 34 et le joint RF 32. Le premier arceau 33, le joint RF 32, la paroi 31 et le deuxième arceau 34 sont fixés les uns aux autres par des vis 35 les traversant depuis l'extérieur. Bien entendu, tout autre moyen 35 de fixation pourrait être prévu. Ces moyens 35 de fixation permettent, en rapprochant le deuxième arceau 34 du premier arceau 33, de comprimer le joint RF 32 pour assurer la continuité du blindage électromagnétique, ainsi que de fixer la paroi 31 au montant 30. Comme montré sur les figures 2 et 3, des traverses 36 peuvent également être prévues entre les montants 30 et derrière les absorbeurs 5 entre ceux-ci et la paroi 31, pour rigidifier la structure de support. De plus, à l'aide de ces traverses 36, le principe d'étanchéité électromagnétique décrit dans l'exemple de la 2 0 figure 5 peut être réemployé pour raccorder les parois 31 d'un point de vue blindage électromagnétique dans le cas où les parois 31 sont composées de plusieurs morceaux dans le sens du méridien. La géométrie circulaire des montants 30 dans le mode de réalisation représenté aux figures 1 à 5 permet de disposer de manière régulière les sondes 2 2 5 autour du support 4 et autour de son point cible 40 en géométrie sphérique. Par exemple, l'écartement angulaire azimutal entre les montants 30 en forme d'arches circulaires est le même pour tous les montants 30. De même l'écartement angulaire entre les sondes 2, situées sur un même montant 30, par rapport à l'axe horizontal passant par le point cible 40 et perpendiculaire au plan du montant 30 est par 3 0 exemple le même pour toutes les sondes 2. Ainsi, si l'on considère que les montants 30 représentent les méridiens d'une sphère, il est par exemple prévu un premier jeu de n sondes 2, appelées 2a, situées sur un même plan équatorial passant par le point cible 40, un deuxième jeu de n sondes 2, référencées 2b, situé dans un deuxième plan parallèle au premier plan équatorial et disposé à un deuxième angle de latitude négatif par rapport au premier jeu de sondes 2a, un troisième jeu de n sondes 2, appelées 2c, situé sur un troisième plan parallèle au premier plan équatorial et écarté d'un troisième angle de latitude par rapport à ce plan équatorial, ce troisième angle ayant la même valeur absolue que le deuxième angle mais étant en sens opposé, ainsi qu'une autre sonde 2, 2d, située au sommet de la sphère, c'est-à-dire au point d'intersection supérieur des montants 30, formant le pôle nord de la sphère. Les sondes 2 sont écartées de manière équiangle dans chacun des premiers, deuxièmes et troisièmes plans indiqués ci-dessus. Le deuxième angle et le troisième angle sont par exemple égaux à 45° en valeur absolue, de même que les angles de longitude entre les méridiens formés par les montants 30. Dans le mode de réalisation représenté à la figure 2, cet angle d'écartement est par exemple identique en longitude et en latitude, en étant par exemple égal à 45°. Dans ce cas particulier de mode de réalisation, les sondes sont réparties sur m méridiens et p = m/2 - 1 plans de latitude, avec une sonde éventuellement présente au sommet de la structure 3. Dans le mode de réalisation représenté aux figures 2 à 4, le support 4 se trouve à l'intérieur du volume clos défini par la structure 3 de support. 2 0 Un système 6 de déplacement relatif de la structure 3 de support et du support 4 de l'objet sous test l'un par rapport à l'autre est prévu à l'intérieur du volume clos défini par cette structure 3 de support et les parois 31. Ce système 6 de déplacement permet de déplacer la structure 3 de support et le support 4 relativement l'un par rapport à l'autre suivant au moins un 2 5 degré de liberté, et par exemple selon au moins deux degrés de liberté, comme par exemple suivant au moins un déplacement angulaire autour d'un axe géométrique passant par le point cible 40, pouvant comprendre par exemple un déplacement angulaire Al dans un premier plan non horizontal et par exemple vertical, passant par le point cible 40 et/ou un autre déplacement angulaire dans un autre plan non 3 0 horizontal et par exemple vertical, passant par le point cible 40 et sécant du premier plan et/ou un autre déplacement angulaire autour de l'axe géométrique vertical passant par le point cible 40. Dans le mode de réalisation représenté aux figures 2 à 4, le système 6 comporte des moyens pour effectuer un premier déplacement angulaire relatif de la structure 3 de support par rapport au support 4 suivant un premier angle Al de glissement dans un plan non horizontal et par exemple vertical (déplacement de glissement) et effectuer l'autre déplacement angulaire relatif de rotation suivant un autre angle A3 de rotation autour de l'axe géométrique vertical passant par le point cible 40, ce qui permet d'avoir toutes les dispositions relatives possibles des sondes 2 par rapport au support 4 et au point cible 40, et permet ainsi de réaliser un suréchantillonnage spatial au moyen du réseau de sondes 2 lors d'une mesure du champ électromagnétique. Ce système 6 de déplacement relatif est, par exemple, selon le document WO 2010/006891. Le système 6 de déplacement relatif situé à l'intérieur de la structure 3 de support est composé d'au moins un premier système 60 de déplacement angulaire relatif permettant au moins un déplacement angulaire Al déterminé de glissement de la structure 3 de support et du support 4 l'un par rapport à l'autre autour d'un axe géométrique non vertical. Ce système 6 comporte le premier système 60 de déplacement angulaire relatif de la structure 3 de support suivant le premier angle Al de glissement. Ce premier système 60 de déplacement angulaire comporte par exemple un rail 62 de guidage en arc de cercle fixé à une partie inférieure et 2 0 intérieure de la structure 3 de support, le rail 62 et la palette 610 supportée par ce rail 62 se trouvant donc à l'intérieur du volume clos défini par la structure 3 de support, les parois 31 et la partie inférieure. La palette 610 peut être déplacée angulairement suivant le premier angle Al de glissement sur le rail 62, des moyens 620 étant prévus pour déplacer la palette 610 sur le rail 62. Un autre système 601 de 25 déplacement relatif du support 4 de l'objet sous test et de la structure 3 de support en rotation l'un par rapport à l'autre autour d'un axe vertical est prévu, par exemple par le fait que le support 4 est monté sur la palette 610 par l'intermédiaire de moyens 613 de rotation qui permettent au support 4 de tourner par rapport à la palette 610 angulairement suivant l'angle A3 de rotation. Ces moyens 613 de rotation 3 0 permettent ainsi à la structure 3 de tourner relativement autour du support 4. Les figures 3 et 4 montrent la plaque 611 de couverture du système 6, laquelle est également recouverte d'absorbeurs 5 et comporte un passage 612 pour le déplacement du support 4 dans celui-ci, une paroi inférieure conductrice 37 formant cage de Faraday étant prévue sous le système 6 de déplacement. Le systeme 6 de déplacement relatif de la structure 3 de support par rapport au support 4 de l'objet sous test se trouve donc totalement inclus à l'intérieur de la « Faradisation intégrée » du système de mesure, ce qui évite par exemple toute ouverture dans la paroi inférieure 37 et donc toute rupture de la Faradisation pour faire passer le support 4. Le système 6 est recouvert d'absorbeurs électromagnétiques 5, 51 au moyen de la plaque de couverture 611 et permet donc la continuité de 1« La boucle 65 possède un correcteur ayant en grandeur de consigne un angle mesuré nul du capteur 66 correspondant à la position prescrite du support 4. Le correcteur agit sur la commande du moteur 64 pour corriger l'angle réel mesuré par le capteur 66 et le rendre égal à cette grandeur de consigne. Dans la position fictive de la figure 8, cette boucle 65 d'asservissement fait tourner, par l'intermédiaire du rouleau 631b mené par le moteur 64, la surface 310 et la structure 3 de support des sondes 2 d'un angle A2 égal à l'opposé à l'angle réel Al d'inclinaison mesuré par le capteur 66, autour de l'axe géométrique X par rapport au socle 61 fixe et au châssis 67 fixe. On a représenté à la figure 8 la rotation inverse A2 de la surface 310 de la structure 3 de support des sondes 2 par rapport au socle 61. A la figure 9, la combinaison du mouvement goniométrique Al de la figure 7 et de la rotation inverse A2 de la figure 8 ramène le support 4 de l'objet OT dans la position prescrite de la figure 6 par rapport à la verticale, position prescrite dite à la verticale, dans laquelle le mât 4 est considéré comme étant positionné à la verticale. Le mouvement goniométrique Al de la figure 7 et la rotation inverse A2 de la figure 8 sont simultanés et synchronisés par la boucle 65 d'asservissement en position. La verticalité du mât 4 est ainsi assurée en permanence. Ainsi dés que le 2 0 premier système 60 veut déplacer angulairement le support 4 autour de l'axe X, la boucle 65 provoque le déplacement angulaire de la structure 3 de support des sondes 2 en sens inverse pour maintenir vertical le support 4. Les figures 7 et 8 sont fictives en ce que le mouvement goniométrique et la rotation inverse sont réalisées par petits pas successifs qui n'inclinent pas le support 4 autant qu'il est représenté. Au final, 2 5 c'est à la figure 9 seulement qu'est représentée la structure 3 de support des sondes 2 qui a tourné relativement du premier angle Al par rapport au support 4, ce dernier en restant dans la même position à la verticale pendant tout le mouvement. En effet, le basculement du support 4 par rapport à la verticale provoquerait une flexion de celui-ci sur sa hauteur séparant le point cible 40, où doit 30 être disposé l'objet sous test, et la structure 3 de support, ce qui fausserait le positionnement du point cible 40. En effet, une très grande précision est requise sur le positionnement du point cible 40 par rapport au point d'intersection théorique de visée des sondes 2. Le point cible 40 où est disposé l'objet sous test doit se trouver en ce point d'intersection théorique de visée des sondes 2 ou être très proche de ce point d'intersection théorique de visée des sondes 2. Par exemple, pour une fréquence de 6 GHz de fonctionnement des sondes, le point cible 40 doit se trouver dans un cube théorique de 1,5 mm de côté autour de ce point d'intersection théorique de visée des sondes 2. Pour des sondes fonctionnant à 18 GHz, le point cible 40 doit se trouver dans un cube théorique de 500 µm de côté autour de ce point d'intersection théorique de visée des sondes 2. Par conséquent, la flexion du support 4 qui est provoquée par son inclinaison par rapport à la verticale risque de faire sortir le point cible de ces tolérances de positionnement. Grâce aux deux systèmes de positionnement angulaire complémentaires mentionnés ci-dessus, à savoir le premier système 60 de positionnement angulaire du support 4 situé à l'intérieur de la structure 3 de support et le deuxième système 63 de positionnement angulaire disposé entre la structure 3 de support et le socle 61 fixe au sol, on maintient dans une position verticale prescrite le support 4 et c'est la structure 3 de support qui bouge angulairement de façon relative par rapport au socle 61 et au support 4 de l'objet sous test. Ce double système est dit antigravitationnel. Ce double système permet de disposer sur le support 4 des objets plus lourds, qui ne risquent 2 0 donc pas de faire fléchir le support 4, voire d'endommager le support 4, voire de tomber du fait d'une trop forte inclinaison et ainsi de compromettre la précision des mesures, voire la faisabilité des mesures tout simplement. De plus, ce système antigravitationnel permet par exemple d'avoir des espacements angulaires entre sondes 2 plus important et donc de réduire le nombre de sondes 2 car le débattement 2 5 du mouvement goniométrique du système 6 ne se trouve plus limité en amplitude par les contraintes de flexion et de torsion du support 4. Suivant un mode de réalisation de l'invention représenté à la figure 10, il est prévu un système 7 de réglage individuel de l'alignement mécanique des sondes 2 par rapport au point cible 40. Ce système 7 de réglage d'alignement 3 0 comporte, par exemple, une motorisation 70 de la sonde 2 sur sa structure 3 de support selon au moins un degré de liberté autre que suivant la direction DP de pointage de la sonde 2 vers le point cible 40 et par exemple selon au moins deux directions au niveau de chaque sonde 2, qui sont perpendiculaires ou sécantes par rapport à la direction DP de pointage de la sonde 2 vers le point cible 40. Il est prévu en outre par exemple un dispositif automatique 72 d'alignement, basé par exemple sur une caméra optique 71, par exemple du type CCD. Lors d'une phase d'installation du système de mesure ou encore d'une phase préparatoire à la mise en oeuvre d'une mesure de rayonnements électromagnétiques, la caméra optique 71 est par exemple positionnée précisément au point test 40 en étant fixée sur un mât 4 de référence et est orientée successivement vers chaque sonde 2 pour contrôler par l'image prise par la caméra 71 le bon positionnement et le bon alignement de la sonde 2, la sonde 2 formant une trace identifiable CR, par exemple en forme de croix, sur l'image prise par la caméra 71. A la figure 10, le système 7 comporte un bloc 70 de motorisation de la sonde 2 sur la structure 3 de support suivant les trois dimensions de l'espace pour pouvoir déplacer la sonde 2 suivant ces trois dimensions par rapport à la structure 3, en translation et/ou en rotation. Un contrôleur multiaxe 73 permet d'actionner le bloc 70 de motorisation suivant ses degrés de liberté. La caméra 71 est reliée à un module 74 d'analyse de l'image qu'elle fournit pour détecter dans cette image la trace CR de la sonde 2, l'image de la caméra 71 pouvant être par exemple en plus affichée sur un écran 75 de contrôle. Le module 74 2 0 d'analyse d'image est relié à un module 76 de gestion, lui-même commandant le contrôleur multiaxe 73 pour asservir en positions la trace laissée par la sonde 2 dans l'image de la caméra 71 sur une trace TRC de consigne prédéterminée, correspondant au bon alignement de la direction DP de pointage sur le point test 40, cette trace TRC étant une cible logicielle. Le module 76 est donc programmé pour 2 5 déplacer par l'intermédiaire du contrôleur 73 et du bloc 70 de motorisation la sonde 2 par rapport à sa structure 3 de support, pour que la trace réelle CR de la sonde coïncide avec la trace TRC de consigne. Le module 76 est relié à une interface 77 de programmation par l'utilisateur et à une mémoire 78 de sauvegarde des traces et/ou réglages effectués pour chaque sonde 2. La sonde est ensuite maintenue par le bloc 3 0 70 de motorisation dans la position d'alignement sur le point cible 40. On garantit ainsi que chaque sonde 2 est bien alignée sur un même point cible 40 pour les mesures ultérieures pouvant être effectuées par la sonde 2. La caméra optique peut par exemple également être couplée à une visée laser des sondes. Les sondes 2 permettent d'envoyer ou de recevoir un rayonnement électromagnétique déterminé à l'avance vers ou depuis l'objet sous test placé au point cible 40 pour caractériser la réponse de l'objet au rayonnement électromagnétique émis. Bien entendu, il est possible d'envoyer des rayonnements électromagnétiques différents mais déterminés à l'avance suivant des lois calculées par un ordinateur pour simuler les environnements électromagnétiques en trois dimensions. Ainsi, le dispositif suivant l'invention permet de générer des scénarios électromagnétiques en trois dimensions représentant les conditions réelles du fonctionnement des appareils sous test. Ainsi, les objets pouvant être testés au point cible 40 peuvent être des objets sous tests dits « passifs » comportant une ou plusieurs antennes alimentées par des câbles ou bien être des objets sous tests dits « actifs » ou encore « sans fil » , c'est-à-dire des objet sous test ayant leur propre batterie d'alimentation ; leur propre système de réception et/ou d'émission intégré et leur propre protocole de communication. REVENDICATIONS1. Dispositif de test électromagnétique d'au moins un objet, le dispositif comportant un réseau de sondes (2) électromagnétiques d'émission et/ou de réception de rayonnements électromagnétiques vers ou depuis l'objet sous test, le dispositif comportant en outre une structure (3) de support du réseau de sondes (2) et un support (4) de l'objet sous test, caractérisé en ce que la structure (3) de support du réseau de sondes (2) est fermée tout autour du support (4) de l'objet sous test selon les trois dimensions de l'espace par au moins une paroi conductrice (31) formant cage de Faraday, qui est munie sur son côté intérieur d'absorbeurs électromagnétiques anéchoïques (5, 51) situés dans les intervalles entre les sondes (2). 2. Dispositif suivant la revendication 1, caractérisé en ce que la paroi 15 conductrice (31) est courbe ou à facettes. 3. Dispositif suivant la revendication 1, caractérisé en ce que la structure (3) de support est de forme générale sphérique. 4. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la structure (3) de support comporte au moins un montant (30) 2 0 auquel sont fixées les sondes (2) et la au moins une paroi conductrice (31), des absorbeurs électromagnétiques anéchoïques (5) étant également prévus en outre sur le côté intérieur des montants (30) dans les intervalles entre les sondes (2). 5. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la au moins une paroi conductrice (31) est fixée au côté 2 5 extérieur du au moins un montant (30) par l'intermédiaire d'au moins un joint radiofréquence (32). 6. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la structure (3) de support délimite un volume clos contenant le support (4) de l'objet sous test. 30 7. Dispositif suivant la revendication 6, caractérisé en ce que le volume clos délimité par la structure (3) de support contient en outre un système (6)de déplacement relatif du support (4) par rapport à la structure (3) de support suivant au moins un degré de liberté. 8. Dispositif suivant la revendication 7, caractérisé en ce que le système (6) de déplacement relatif situé à l'intérieur de la structure (3) de support est composé d'au moins un premier système (60) de déplacement angulaire relatif permettant au moins un déplacement angulaire (Al) déterminé de glissement de la structure (3) de support relativement par rapport au support (4) autour d'un axe géométrique non vertical. 9. Dispositif suivant la revendication précédente, caractérisé en ce que la structure (3) de support repose sur un socle inférieur (61), entre le socle (61) et la structure (3) de support est prévu un deuxième autre système (63) de déplacement angulaire permettant de déplacer la structure (3) de support par rapport au socle (61) d'un deuxième angle (A2) de même valeur absolue et opposé au déplacement angulaire (Al) de glissement du premier système (60) de déplacement angulaire relatif du support (4) par rapport à la structure (3) de support, afin que le support (4) de l'objet sous test conserve une position prescrite et sensiblement constante par rapport à la verticale. 10. Dispositif suivant la revendication 9, caractérisé en ce que le deuxième autre système (63) de déplacement angulaire comporte une pluralité de 2 0 rouleaux (631) de soutien d'une surface extérieure courbe (310) de la paroi (31) de la structure (3) de support sur le socle (61) et au moins un moteur (64) d'entraînement d'au moins l'un des rouleaux (631) pour faire rouler dudit deuxième angle (A2) ladite surface extérieure courbe (310) de la paroi (31) de la structure (3) de support par rapport au socle (61). 2 5 11. Dispositif suivant la revendication 10, caractérisé en ce qu'il comporte en outre : un organe de commande du déplacement angulaire (Al) de glissement du premier système (60) de déplacement angulaire, au moins un capteur (66) de mesure d'un angle réel du support (4) de l'objet 3 0 sous test par rapport à la verticale,une boucle (65) d'asservissement du moteur (64) d'entraînement en fonction de l'angle mesuré par le capteur (66), pour que l'angle mesuré par le capteur (66) soit égal à une valeur constante correspondant à ladite position prescrite du support (4) par rapport à la verticale. 12. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les sondes (2) sont réparties de manière équiangle suivant au moins une coordonnée sphérique autour d'un même point cible (40) des sondes (2). 13. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il est prévu sur au moins une des sondes (2) un système (7) de réglage individuel de l'alignement mécanique de la sonde (2) par rapport à un même point cible (40) pour toutes les sondes (2), point cible (40) où doit être centré l'objet sous test sur le support (4). 14. Dispositif suivant la revendication précédente, caractérisé en ce que le système (7) de réglage individuel de l'alignement mécanique de la sonde (2) est associé à au moins une caméra optique (71) de détection positionnée au point cible (40) pour mesurer l'alignement mécanique de la sonde (2). 15. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications 13 et 14, caractérisé en ce que le système (7) de réglage individuel de l'alignement mécanique 2 0 de la sonde (2) comporte une motorisation (70) de ladite sonde (2) sur la structure (3) de support, pour déplacer la sonde (2) par rapport à la structure (3) de support suivant au moins un degré de liberté autre que suivant une direction (DP) de pointage de la sonde (2) vers le point cible (40). 16. Dispositif suivant la revendication 15, caractérisé en ce qu'il est 2 5 prévu un module (74) d'analyse de l'image fournie par la caméra pour détecter dans cette image la trace (CR) de ladite sonde (2) et un module (76) d'asservissement de la motorisation (70) pour aligner la trace (CR) détectée de la sonde sur une trace (TRC) de consigne correspondant à l'alignement de la sonde (2) sur le point cible (40).