FR 2953299 A1 20110603 FR 0905794 A 20091201 Procédé d'étalonnage d'un détecteur de rayonnement X Le domaine de l'invention est celui des détecteurs matriciels de rayonnement X à comptage de photons. Plus précisément, l'invention concerne un procédé d'étalonnage des pixels de la matrice constituant le détecteur. Les détecteurs de rayonnement X de type semi-conducteur monolithique, comportent, comme illustré sur la figure 1, un substrat plan 1 en matériau semi-conducteur. Le matériau détecteur peut être de la famille des détecteurs semi-conducteurs à température ambiante. On citera notamment le CdTe, le CdZnTe, le GaAs, le TIBr, le Hgl2 ou le CdMnTe. Ce substrat 1 comporte, sur une de ses faces, une matrice de premières électrodes 2, polarisées positivement et, sur la face opposée, une matrice d'électrodes polarisées négativement 3. Chaque pixel est ainsi constitué par une anode élémentaire reliée à son électronique de traitement. La dimension typique d'un pixel, définie par la distance de répétition des électrodes peut aller de quelques dizaines de microns à quelques centaines de microns. Lorsqu'un photon X dont l'énergie est située dans la bande d'énergie de quelques keV à une centaine de keV traverse un pixel en matériau semi-conducteur, il crée un certain nombre de paires électrons-trous 5 par ionisation des atomes du cristal semi-conducteur. Ces charges sont captées par les électrodes du pixel, et génèrent; durant leur parcours des impulsions électriques au niveau de ces électrodes. Ces impulsions sont comptabilisées par un circuit intégré 4 de type «ASIC », acronyme signifiant « Application Specific integrated Circuit ». Le matériau d'interconnexion 6 entre le substrat et l' « ASIC » dépend de la dimension des pixels. On utilise avantageusement de l'indium ou tous métaux à faible température de fusion, typiquement inférieure à 150°C pour des faibles dimensions ou des colles polymères conductrices pour des dimensions plus importantes. Pour une matrice de détection de rayonnement utilisant le principe du comptage, l'impulsion émise par le pixel élémentaire est amplifiée, puis comparée à un seuil pour décider si l'impulsion est comptée ou non. L'amplitude de ce seuil va définir l'amplitude de l'impulsion et donc théoriquement l'énergie cédée dans le détecteur par le photon incident. Dans le cas d'un système de comptage multi-énergie, on ajuste les différents seuils afin qu'ils correspondent chacun à une énergie précise. On définit ainsi des bandes d'énergie et des images correspondantes à ces bandes. Ces images sont notamment utilisées dans des dispositifs d'imagerie d'agents de contraste ou de différents types de tissus ou dans la détection d'explosifs dans le cas de contrôle de bagages. Pour une matrice de quelques milliers de pixels, la sensibilité de réponse du système de comptage en fonction de la position de ce seuil peut être assez importante d'un pixel à l'autre, entraînant des inhomogénéités de réponse. Différentes méthodes sont habituellement utilisées pour ajuster ces seuils. Pour pallier, par exemple, une dérive en température de l'électronique de comptage, on utilise une injection électrique calibrée à l'ensemble des pixels et l'ajustement se fait en faisant un balayage en seuil de l'ensemble des pixels. Les seuils sont ensuite ajustés pour que tous les pixels ne retiennent finalement que les impulsions dont l'amplitude dépasse celle du signal injecté. Cette injection peut se faire au niveau de chaque pixel par un dispositif électronique dédié. Elle peut également se faire par l'intermédiaire de la capacité C du détecteur semi-conducteur connecté à chaque pixel. Il peut s'agir, par exemple, d'un détecteur CdTe connecté par bille d'indium à un « ASIC » de comptage. Le détecteur semi-conducteur est alors constitué d'une électrode de polarisation sur la face supérieure et sur la face inférieure d'une multitude d'électrodes connectées à i' « ASIC » de lecture, pixel à pixel. En appliquant une variation de tension rapide SV sur l'électrode commune supérieure, on crée une impulsion électrique dont l'amplitude vaut C.5V/St au niveau de chaque petite électrode connectée à l'entrée de l'amplificateur de l'« ASIC » de comptage. Un mode de réalisation est présenté sur la figure 2. La chaîne électronique située à la sortie du pixel 10 comprend : - une capacité 11 permettant d'injecter une quantité de charge dans la chaine d'amplification pour étalonner le système ; - Un premier étage d'amplification 12 qui amplifie le paquet de charges provenant du détecteur 10 en faisant, dans ce cas de figure, une conversion courant-tension ; - Des moyens électroniques 13 permettant de mettre en forme 5 temporellement les signaux ; - Des moyens électroniques 14 permettant, à partir d'un convertisseur digital/analogique, de définir une tension de seuil utile pour le comparateur ; - Des moyens électroniques 15 assurant la fonction de 10 comparaison de la tension en entrée avec la tension de seuil et fournissant un signal logique lorsque cette tension d'entrée est supérieure au seuil ; - Des moyens électroniques 16 assurant les fonctions de comptage des impulsions logiques pendant un intervalle de temps donné puis de transmission du résultat sur un bus de lecture. 15 Le fonctionnement du dispositif est le suivant. Une tension de quelques volts est appliquée en amont de l'étage d'amplification 12 situé à la sortie du pixel 10 durant une durée de quelques nanosecondes à quelques dix nanosecondes, simulant ainsi le signal produit par une interaction d'un 20 photon d'une certaine énergie dans le détecteur. On détermine ensuite l'amplitude du signal délivré par les différents moyens constituant l'électronique de lecture du pixel, et on aboutit à l'amplitude correspondant à l'impulsion "injectée" en amont du pixel. En réalisant cette opération pour l'ensemble des pixels du détecteur, il est possible de connaître, pour chaque 25 pixel, l'amplitude correspondant à cette même impulsion. On considère ensuite que cette amplitude constitue le seuil de chaque pixel. On dispose alors d'un détecteur dont chaque pixel est « seuillé », chaque seuil correspondant à une même impulsion, donc à une même énergie déposée dans le détecteur. 30 Cependant, ce procédé de calibration présente certains inconvénients. En effet, la corrélation entre l'énergie déposée dans le détecteur et la durée et l'intensité de l'impulsion est difficile à établir. De plus, un tel procédé ne prend pas en compte les différences de transport et de 35 collection de charges entre chaque pixel. En effet, deux pixels peuvent posséder des capacités électroniques identiques et des propriétés de transport de charges complètement différentes. De plus, les circuits électroniques, et en particulier les circuits de lecture, subissent une dérive thermique. Un seuil correspondant à une énergie donnée peut correspondre, au bout d'un certain temps, à une énergie différente. Cette opération, relativement fastidieuse, doit donc être répétée au cours du temps. Pour réaliser une calibration plus fiable, il faut utiliser une source de rayonnement X ou gamma dont les caractéristiques sont connues. Pour avoir une correspondance entre l'amplitude d'impulsions produites par un détecteur et l'énergie correspondante de photons incidents, on peut calibrer le système avec des sources de rayonnement mono-énergétiques dont l'énergie est connue. Ces sources ne sont généralement pas très actives et la statistique reste insuffisante même avec des temps d'acquisition longs. Dans le cas d'un tube à rayon X, les énergies émises présentent un continuum entre une énergie minimum définie par la filtration du générateur, de l'ordre de 10 à 20 keV suivant les applications et une énergie maximum définie par la haute tension du générateur X. On peut utiliser l'énergie maximum comme référence pour la calibration. Mais ceci n'est pas facile lorsque les seuils doivent être ajustés à des valeurs de faible énergie, entre 10 et 40 keV par exemple car le nombre de photons émis par le générateur dans cette gamme d'énergie est alors très faible. De plus, les générateurs utilisés ne sont pas prévus pour émettre à des tensions situées dans la gamme de 10 à 40 kV. C'est le cas par exemple du scanner X. Une autre méthode décrite dans le brevet US 7 479 639 consiste à utiliser des sources de rayonnement d'énergie bien connu pour calibrer les seuils. Mais cette méthode est longue et nécessite la présence de sources irradiantes dans l'environnement du système de radiologie. Se pose alors le problème de la gestion de ces sources afin de satisfaire aux différentes normes de sécurité, d'autant plus que l'on doit disposer des sources les plus actives possibles si l'on souhaite réaliser une calibration correcte dans une durée raisonnable. Le procédé selon l'invention ne présente pas ces inconvénients. Le procédé de calibration proposé utilise le générateur de rayonnement X présent dans les systèmes de détection de rayonnement X. On évite ainsi à la fois les inconvénients d'une calibration purement électronique qui ne permet pas d'étalonner l'intégralité de la chaîne de détection et d'une calibration comportant des sources étalon, nécessairement plus lourde à mettre en place. On obtient, pour chaque pixel, un seuil d'amplitude correspondant à une même énergie, par un procédé simple et rapide, en tenant compte du transport et de la collection des charges dans le matériau détecteur. Avantageusement, le procédé s'appuie sur des moyens présents sur le lieu d'utilisation du détecteur. 10 Plus précisément, l'invention a pour objet un procédé de calibration d'un système de détection de rayonnement X, ledit système comprenant au moins un générateur de rayonnement X et un ensemble de détection comprenant une matrice de pixels détecteurs semi-conducteurs et une électronique de traitement et de calibration, caractérisé en ce que le 15 procédé de calibration comporte, pour tout ou partie des pixels, les différentes étapes suivantes : Mise en fonctionnement du générateur à rayons X à sa haute tension nominale, le générateur étant disposé face au détecteur ; 20 - Comptage, par l'électronique de traitement et de calibration, des impulsions émises par chaque pixel sous l'effet du rayonnement produit par le générateur ; Sur chaque pixel, établissement d'une distribution en amplitude des impulsions comptées ; 25 Sur chaque distribution en amplitude, application d'un indicateur statistique de façon à identifier une amplitude particulière, cette amplitude particulière correspondant à une énergie liée audit indicateur statistique ; Ajustement, par l'électronique de traitement et de calibration, 30 des paramètres de calibration de chaque pixel, tenant compte de la relation amplitude-énergie ainsi établie. Avantageusement, l'indicateur statistique relatif à ladite distribution comprend la médiane ou tout autre fractile, ou la moyenne. L'indicateur statistique final peut également être une combinaison de différents 35 indicateurs statistiques. Selon un premier mode de réalisation, sur chaque pixel, la valeur d'énergie correspondant à l'amplitude du signal correspondant audit indicateur est traitée comme étant un seuil en énergie. Selon un second mode de réalisation, sur chaque pixel, les 5 impulsions dont l'amplitude est inférieure à un seuil déterminé ne sont pas traitées par l'électronique de lecture du pixel. Selon un troisième mode de réalisation, un tel procédé permet de sélectionner, pour l'ensemble des pixels, au moins une fenêtre d'énergie, comprise entre un premier seuil et un second seuil, les impulsions 10 correspondant à cette fenêtre étant séparées du reste des impulsions. Avantageusement, cette opération est réalisée en considérant simultanément, pour chaque distribution, plusieurs indicateurs statistiques différents prédéterminés, ce qui permet d'aboutir à autant de seuils dans chacun de pixels considérés, chaque seuil correspondant alors à un desdits 15 indicateurs statistiques. Avantageusement, cette opération est réalisée pour l'ensemble des pixels d'un détecteur, mais elle peut être effectuée sur tout ou partie de ses pixels. Avantageusement, le seuil de plus bas niveau est situé au-dessus 20 du bruit électronique de l'électronique de traitement. Avantageusement, la calibration est effectuée systématiquement entre deux mesures du système de détection. L'invention sera mieux comprise et d'autres avantages 25 apparaîtront à la lecture de la description qui va suivre donnée à titre non limitatif et grâce aux figures annexées parmi lesquelles : La figure 1 représente le schéma d'une partie d'un détecteur à matrice de pixels semi-conducteur ; La figure 2 représente une chaîne électronique de calibration 30 selon l'art antérieur ; La figure 3 représente les rayonnements X primaire et secondaire d'un détecteur à matrice de pixels semi-conducteur ; La figure 4 représente le nombre d'impulsions détectées en fonction de la valeur du seuil ; La figure 5 représente le schéma électronique d'une voie de comptage d'un système de détection mettant en oeuvre le procédé selon l'invention. Le procédé de calibration selon l'invention met en oeuvre le générateur à rayons X présent dans la grande majorité des systèmes de détection de rayonnement X. Celui-ci est utilisé à sa haute tension nominale, c'est-à-dire entre 15 et 160 kV. Une particularité de la réponse des détecteurs semi-conducteurs, lors de l'interaction d'un photon incident avec un pixel détecteur, est qu'une partie de l'énergie peut-être convertie en photons de plus faible énergie, qui peuvent alors déposer leur énergie dans un pixel voisin. Pour un détecteur de volume donné, cet effet apparaît d'autant plus que le nombre de pixels est élevé, ce qui est le cas dans les détecteurs ayant une électrode divisée en petits pixels. On entend par petit pixel, un pixel dont les dimensions typiques définies par la distance de répétition des électrodes sont comprises entre quelques dizaines de microns à quelques centaines de microns. Lorsque l'interaction a lieu au voisinage du bord du pixel, il peut également y avoir un partage du nuage de charges crées entre plusieurs pixels adjacents. Ainsi, une multitude d'impulsions de faible amplitude provenant de chaque pixel est produite couvrant un spectre énergétique très large. La figure 3 est une illustration de ce phénomène. La courbe en traits pleins représente le spectre SE de l'énergie de la source, c'est-à-dire du rayonnement incident, en l'occurrence une cible en tungstène, la courbe en traits pointillés représente le spectre SD produit par un détecteur semi-conducteur en tellurure de cadmium (CdTe) dont l'anode est segmentée en petits pixels, ou électrodes élémentaires, tels que décrits ci-dessus. Les deux spectres sont représentés en fonction de l'énergie du rayonnement X en keV. Comme on le voit, ce second spectre SD comporte des raies spectrales aux basses énergies correspondant aux énergies libérées durant différentes interactions dans le détecteur, ainsi qu'au phénomène de partage de porteurs de charges entre pixels adjacents. En comptant les impulsions émises par chaque pixel sous l'effet du rayonnement incident, en les classant selon leurs amplitudes sous la forme d'un histogramme, on obtient, pour chaque pixel, une distribution en amplitude de ces impulsions, l'axe des abscisses représentant l'amplitude, l'axe des ordonnées représentant le nombre d'impulsions comptées. Le rayonnement incident, produit par un générateur de rayons X, peut-être considéré comme homogène du point de vue de son spectre en énergie comme du point de vue de son intensité. Aussi, lors de l'éclairement du détecteur par un tel rayonnement, chaque pixel est soumis à un rayonnement de spectre en énergie identique. Le détecteur étant considéré de bonne qualité, on peut estimer que la distribution en amplitude des impulsions comptées est analogue pour l'ensemble des pixels. Par analogue, on entend qu'elle a une forme et une intégrale comparable. Ceci est notamment dû au fait qu'il n'y a pas de grande différence de sensibilité entre les pixels, l'intégrale de cette distribution est également sensiblement égale pour l'ensemble des pixels. Par contre, notamment du fait de circuits électroniques de lecture différents d'un pixel à un autre, cette distribution en amplitude peut subir, d'un pixel à un autre, une translation selon l'axe des amplitudes. Ainsi, des interactions ayant libéré la même énergie dans le détecteur peuvent générer des impulsions d'amplitudes différentes selon la localisation du pixel collectant les porteurs de charges générés par cette interaction. Sans correction particulière, la correspondance entre l'amplitude d'une impulsion et l'énergie à laquelle correspond cette impulsion n'est pas constante d'un pixel à un autre. Par énergie à laquelle correspond cette impulsion, on entend l'énergie déposée par l'interaction ayant générée cette impulsion. Il est nécessaire de corriger cet effet de translation ou dérive, afin que, pour l'ensemble des pixels, la correspondance entre amplitude et énergie soit la même. Dans le procédé selon l'invention, une telle correspondance est obtenue en déterminant, sur chaque distribution relative à chaque pixel, un critère, par exemple un indicateur statistique. Selon le mode préféré de réalisation, cet indicateur est un fractile à N %, c'est-à-dire une valeur en deçà de laquelle sont classées N % des impulsions comptées, le fractile à 50% correspondant alors à la médiane. La forme et l'intégrale de la distribution étant conservées d'un pixel à un autre, on comprend alors qu'un tel fractile permet d'obtenir une relation directe entre l'amplitude et l'énergie. Ainsi, pour chaque distribution notée Dn correspondant à chaque pixel noté n, le fractile à N% noté FN°% correspond à une amplitude Ar. Sans correction particulière, les amplitudes An °'° sont différentes d'un pixel à un autre. Mais les pixels étant soumis à un rayonnement homogène, et compte tenu de la bonne qualité du détecteur, on considère que l'on peut raisonnablement attribuer une même valeur d'énergie EN à ce fractile, et cela pour l'ensemble des pixels considérés. Ainsi, en déterminant, pour chaque pixel n, l'amplitude An °° à laquelle correspond le fractile à N% noté F,N°O de la distribution Dn, on obtient une correspondance simple entre la dite amplitude et l'énergie EN 10 correspondant à ce fractile. Le procédé de calibration selon l'invention comporte donc les différentes étapes suivantes : Etape 1 : Mise en fonctionnement du générateur à rayons X à sa 15 haute tension nominale, le générateur étant disposé de façon que le rayonnement X vu par le détecteur soit homogène, et préférentiellement perpendiculaire à la surface de réception dudit détecteur. On utilise avantageusement un générateur X et notamment le générateur équipant le dispositif de l'équipement de radiologie auquel appartient le détecteur. Cela 20 permet de réaliser une calibration de tout ou partie des pixels à fréquence répétée, par exemple entre deux examens radiologiques. La distribution de l'amplitude mesurée sur chaque pixel a une forme voisine ou similaire de celle représentée en figure 3. Etape 2: Comptage, par l'électronique de traitement et de 25 calibration, des impulsions émises par chaque pixel sous l'effet du rayonnement auquel est soumis le détecteur. A titre d'exemple, la figure 5 représente une voie de comptage. Elle comprend un pixel de détection 10, une électronique d'amplification 20, une électronique de traitement 21 assurant la mise en forme du signal, N comparateurs 22 comparant l'énergie 30 des impulsions à N seuils prédéterminés, N compteurs 23 associés à chacun des comparateurs précédents. Durant la phase de calibration, il est d'ailleurs possible de n'utiliser qu'un seul comparateur, en faisant varier le seuil en amplitude au-delà duquel les impulsions sont comptées. On peut ainsi réaliser une multitude de 35 comptages Cm, le détecteur étant irradié de la même façon, et comptabiliser seulement les impulsions dont l'amplitude excède un seuil Sm, ce seuil étant incrémenté entre chaque comptage. Ainsi, dans l'hypothèse ou on augmente la valeur du seuil Sm entre chaque comptage Cm, autrement dit, si Sm est supérieur à Sm_, pour deux comptages Cm et Cm_1, le nombre d'impulsions dont l'amplitude est comprise entre les valeurs Sm et Sm_i est le résultat du nombre d'impulsions comptées durant le comptage Cm auquel on soustrait le nombre d'impulsions comptées durant le comptage Cm_i, les durées de comptage étant ici supposées identiques. Alternativement, on peut non pas déterminer, lors de chaque mesure, des comptages, mais des taux de comptage. On établit alors une distribution en amplitude représentant, pour différentes valeurs d'amplitudes, non pas à une occurrence, mais à un taux d'occurrence, c'est-à-dire un nombre d'occurrences par unité de temps, ou taux de comptage. D'autre part, d'autres méthodes connues de l'homme du métier peuvent être mises en oeuvre pour établir, sur chaque pixel, une distribution de l'amplitude des impulsions détectées lors de l'exposition à un flux photonique incident. Les informations sont ensuite transmises sur un bus de lecture 24. On analyse la distribution de l'amplitude du signal mesuré par chaque pixel : il s'agit par exemple de l'histogramme des impulsions comptées classées selon leur amplitude. Comme indiqué précédemment, il peut s'agir de l'histogramme représentant les taux de comptage de chaque impulsion, les impulsions étant également classées selon leur amplitude. Le détecteur étant de bonne qualité, on peut estimer que, pour chaque pixel, l'intégrale de cette distribution est constante, ce qui signifie qu'il n'y a pas de variations importantes de sensibilité entre les pixels. De plus, le rayonnement incident étant homogène, cette distribution a une forme constante d'un pixel à un autre. Par contre, dû à la dérive électronique, cette distribution peut subir un décalage en amplitude, ce décalage variant selon les pixels et selon le temps. Le seuil est déterminé par un indicateur statistique de cette distribution. Il peut s'agir d'un fractile à N% de cette distribution, le seuil correspond à une amplitude au dessous de laquelle on trouve N% de l'intégrale de la distribution, c'est-à-dire N% des impulsions comptées durant cette phase de calibration. On peut utiliser d'autres indicateurs statistiques comme la moyenne par exemple, mais les fractiles à N% sont les indicateurs préférés. Ainsi, en soumettant l'ensemble des pixels à une même exposition homogène en énergie et en intensité, on détermine, sur chaque pixel, un indicateur. Cet indicateur peut correspondre, pour les différents pixels, à diverses valeurs en amplitudes, mais, pour l'ensemble des pixels considérés il correspond à une même énergie déposée dans le détecteur. On a alors établi, pour chacun des pixels, une correspondance entre amplitude et énergie. Selon un mode préférentiel de l'invention, on peut « seuiller » les impulsions en fonction de cet indicateur, c'est-à-dire ne retenir, par exemple, que les impulsions dont l'amplitude est supérieure à ce seuil. Les différents seuils en amplitude des différents pixels correspondent à la même énergie. On comprend alors qu'en réalisant un tel seuillage en amplitude sur chacun des pixels, on réalise un seuillage à un même niveau d'énergie pour l'ensemble des pixels. En utilisant différents indicateurs, on aboutit à différents seuils en amplitude, correspondant chacun à différents niveaux d'énergies, ces différents niveaux d'énergie étant les mêmes pour l'ensemble des pixels. En déterminant plusieurs seuils notés Th(i), il est ensuite possible de réaliser des images correspondant à une bande d'énergie rassemblant les impulsions dont l'amplitude est comprise entre deux de ces seuils Th(i) et Th(i+1). La figure 4 représente ainsi, pour un pixel donné, le nombre d'impulsions ND reçues en fonction de l'énergie E. sur cette figure, cinq seuils Th(i) sont définis. Le premier seuil Th(1) peut être défini en fonction du bruit acceptable pour une application donnée. Le bruit de comptage NB représenté par une courbe en pointillés sur la figure 4 est fonction du bruit électronique de l'amplificateur et dépend de la proximité ou non du premier seuil. II peut être avantageux de soustraire cette valeur de bruit pour ne pas fausser la mesure de la première bande d'énergie. Etape 3: Ajustement, par l'électronique de traitement et de calibration, des niveaux de seuil de chaque pixel de façon que chaque seuil en amplitude corresponde à une même énergie pour l'ensemble des pixels. Le nombre d'impulsions correspondant à un seuil donné peut être 35 calibré initialement par différentes méthodes qui peuvent être plus ou moins complexes à mettre en oeuvre, utilisant notamment des sources parfaitement calibrées. Par contre, l'ajustement pixel à pixel selon l'invention utilisant le générateur X à sa tension nominale peut se faire régulièrement pour tenir compte des dérives électroniques et de la non stabilité du matériau semi- conducteur. Une telle calibration rapide peut se faire avant chaque passage de patient dans le cas d'un scanner médical ou entre deux bagages lors d'un contrôle sur une chaîne de détection de produits suspects fonctionnant en continu. Ainsi, on peut procéder à des calibrations peu avant, ou peu après l'utilisation du dispositif de radiologie. On limite alors les effets de dérive énoncés ci-dessus. Un autre avantage particulièrement important de l'invention est que cette calibration peut-être réalisée en utilisant le même générateur que celui utilisé lors des examens médicaux. Aucune source supplémentaire de rayonnement X n'est requise. Un tel procédé permet d'améliorer nettement la stabilité de réponse des détecteurs semi-conducteurs, particulièrement pour l'imagerie scanner qui nécessite une très grande stabilité et une grande reproductibilité de la mesure. REVENDICATIONS1. Procédé de calibration d'un système de détection de rayonnement X, ledit système comprenant au moins un générateur de rayonnement X et un ensemble de détection comprenant une matrice de pixels (10) détecteurs semi-conducteurs et une électronique de traitement et de calibration (20, 21, 22, 23), caractérisé en ce que le procédé de calibration comporte, pour tout ou partie des pixels, les différentes étapes suivantes : Mise en fonctionnement du générateur à rayons X à sa haute tension nominale, le générateur étant disposé face au détecteur ; Comptage, par l'électronique de traitement et de calibration, des impulsions émises par chaque pixel sous l'effet du rayonnement produit par le générateur ; Pour chaque pixel, établissement d'une distribution en amplitude des impulsions comptées ; Pour chaque distribution en amplitude, application d'un indicateur statistique de façon à identifier une amplitude particulière correspondant à une énergie liée audit indicateur statistique ; Ajustement, par l'électronique de traitement et de calibration, des paramètres de calibration de chaque pixel, tenant compte de la relation amplitude-énergie ainsi établie. 2. Procédé de calibration selon la revendication 1, caractérisé en 25 ce que l'indicateur statistique relatif à ladite distribution en amplitude est un fractile de ladite distribution. 3. Procédé de calibration selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'indicateur statistique relatif à ladite distribution en amplitude est la 30 médiane de ladite distribution. 10 15 20 4. Procédé de calibration selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'indicateur statistique relatif à ladite distribution en amplitude est la moyenne de ladite distribution. 5. Procédé de calibration selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'indicateur statistique est une combinaison de différents fractiles. 6. Procédé de calibration selon l'une des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que, sur chaque pixel, la valeur d'énergie correspondant à 10 l'amplitude du signal correspondant audit indicateur est traitée comme étant un seuil en énergie (Th(i)) par l'électronique de traitement et de calibration du pixel. 7. Procédé de calibration selon la revendication 6, caractérisé en 15 ce que le seuil de plus bas niveau (Th(1)) est situé au-dessus du bruit électronique de l'électronique de traitement. 8. Procédé de calibration selon les revendications 6 ou 7, caractérisé en ce que les impulsions dont l'amplitude est inférieure audit seuil 20 ne sont pas traitées par l'électronique de traitement et de calibration du pixel. 9. Procédé de calibration selon la revendication 6, caractérisé en ce que l'électronique de traitement et de calibration du pixel détermine au moins une fenêtre d'énergie, ladite fenêtre étant comprise entre un premier 25 seuil et un second seuil. 10. Procédé de calibration selon la revendication 9, caractérisé en ce que l'électronique de traitement et de calibration du pixel divise chaque distribution en autant de fenêtres d'énergie. 11. Procédé de calibration selon la revendication 10, caractérisé en ce que l'opération de division de chaque distribution reçue par chaque pixel en autant de fenêtres d'énergie est réalisée pour l'ensemble des pixels de la matrice de détection. 30 355 12. Procédé de calibration selon la revendication 10, caractérisé en ce que l'opération de division de chaque distribution reçue par chaque pixel en autant de fenêtres d'énergie est réalisée pour certains pixels de la matrice de détection. 13. Procédé de calibration selon l'une des revendications 1 à 12, caractérisé en ce que le procédé de calibration est effectué systématiquement entre deux mesures du système de détection. 10