FR 2943442 A1 20100924 FR 0951724 A 20090318 Procédé de traitement de l'émission de photons dynamique pour l'analyse de circuits intégrés, et système de mise en oeuvre du procédé L'invention se rapporte à un procédé de traitement d'image pour l'analyse de circuits intégrés, à un système et à un programme d'ordinateur de mise en ceu- vre du procédé. L'émission de lumière dynamique dans la bande infrarouge est à la base depuis la fin des années 80 de techniques connues de localisation de défauts sur des circuits électroniques intégrés. En effet, chacun des transistors qui constituent ces circuits est susceptible d'émettre avec une certaine probabilité un photon ou quantum d'énergie de rayonnement électromagnétique lors de sa commutation, de l'état bloqué à l'état passant, ou inversement, de l'état passant à l'état bloqué, le transistor passant par un état de saturation. En fait, cette technique a longuement été utilisée sur la face avant des cir- cuits intégrés, avant d'être étendue dans la fin des années 90 à la face arrière. En effet, cela s'adapte mieux aux technologies récentes, où la zone active du circuit, c'est-à-dire la zone où sont situés les composants élémentaires tels que transis-tors, capacités, résistances et diodes, est de plus en plus masquée par les ni-veaux d'interconnexions de plus en plus nombreux, ou par les soudures (bondings en anglais) de certains procédés d'assemblage. Ainsi, grâce à cette technique et à l'aide d'un capteur optique sensible aux photons isolés, il est possible de localiser chaque transistor en commutation à chaque instant, et donc d'analyser en détail le fonctionnement d'un circuit intégré pendant un cycle de fonctionnement, sous réserve que le capteur permette de déterminer la position spatiale de chaque photon détecté. Un dispositif de mesure selon cette technique, équipé d'une tel capteur d'image et d'un testeur électrique permet ainsi localiser un ou plusieurs défauts par comparaison du fonctionnement du circuit défaillant, soit à son fonctionnement théorique déterminé d'après une simulation, soit au fonctionnement pratique d'un circuit en bon état de marche. Le capteur ne faisant que lister les coordonnées spatiale et/ou temporelle de chaque photon détecté, il est indispensable de traiter les données brutes émises par le capteur avant de pouvoir les interpréter correctement. Ce traitement postérieur à l'acquisition des données, appelé en anglais post-processing, est mis en oeuvre après acquisition de données complètes, qualifiées de brutes après ré-arrangement et enregistrées dans une base de données. Il est connu, d'après le document intitulé � STPC-PICA : Spatial Temporal Photon Correlation for Faster IC analysis � de R. Desplats et al. du CNES (French Space Agency) et le document intitulé � A new approach for faster IC analysis with PICA � de R. Desplats et al. (Physical and Faiure Analysis of Integrated Circuits, 2003, IPFA 2003, pages 45-53), d'utiliser un filtrage dénommé STPC (Spatial Temporal Photon Correlation) permettant de supprimer le bruit, constitué par tous les photons qui ne correspondent pas une commutation du transistor. Le filtrage STPC décrit dans le document cité ci-dessus comprend les étapes consistant, d'abord à pondérer chacun des photons détectés par le capteur en fonction du nombre de photons voisins spatio-temporels qu'il a, puis à appliquer un seuil de filtrage pour supprimer les photons qui n'ont pas un poids suffisamment significatif. Bien que le filtrage STPC constitue un bon compromis entre efficacité et temps de calcul, du bruit non filtré existe encore qui surcharge les bases de don-nées et induisent des temps de traitement supplémentaires inutiles. Le problème technique est d'améliorer la qualité du filtrage STPC ou similaire, d'alléger les bases de données et de diminuer le temps de traitement. A cet effet, l'invention a pour objet un procédé de traitement d'image pour l'analyse de défauts d'un circuit électronique intégré, le procédé étant mis en oeuvre à partir d'une première base de données d'une image contenant des données d'acquisition de mesure de photons isolés et détectés par un dispositif d'acquisition de mesures optiques, comprenant les étapes consistant à - déterminer à partir de la première base de données d'acquisition de me-sures des photons isolés (iacq), une base de données de photons filtrés (i) contenant pour chaque photon filtré (i) un enregistrement qui comprend : - une position (P(i)) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) définie dans un repère spatial et/ou temporel à n dimensions, et - un poids scalaire (W(i)) associé au photon filtré (i), caractérisé en ce que le procédé comprend au moins une étape de regroupement élémentaire de photons filtrés autour d'un photon filtré prédéterminé (k) central en un évènement (ev(k)), la ou chaque étape de regroupement élémentaire comprenant : - la recherche autour du photon central (k) de position (P(k)) de photons (reg(k)) de positions respectives (P(reg(k))) contenus dans une fenêtre spatiale et/ou temporelle (Fev(k)) d'évènement contenant (P(k)) et d'amplitude (ATmaxev) prédéterminée, - lorsqu'au moins un photon (P(reg(k))) a été trouvé, le regroupement entre eux des photons trouvés dans la fenêtre (Fev(k)) en créant un évènement ((ev(k))) associé au photon central (k) comme un enregis- trement qui comprend : une position de l'évènement (Pmoy(k)) égale à une première fonction des positions des photons (k, Reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)), un poids d'évènement (Wev(k)) égal à une deuxième fonction des poids scalaires (W(k), W(reg(k)) de la totalité des photons contenus dans la fenêtre (Fev(k)). Suivant des modes particuliers de réalisation, le procédé de traitement comporte l'une ou plusieurs des caractéristiques suivantes : - l'enregistrement d'un évènement comprend les coordonnées maximales et minimales des photons (k, reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)) ; - la première fonction est une moyenne non pondérée des positions (Pmoy(k)) des photons (k, reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)) ; - la première fonction est une moyenne pondérée des positions (Pmoy(k)) des photons (k,reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)) affectés de leur poids scalaire respectif (W(k), W(reg(k)), de sorte que la position de l'évènement (ev(k)) est un barycentre des photons (k, reg(k)) ; - la deuxième fonction est la somme des poids (W(k), W(reg(k)) respectifs des photons (k, reg(k) contenus dans la fenêtre (Fev(k)) ; - le procédé comprend une phase de regroupement de tous les photons filtrés (i) de la base de données en des évènements, la phase de regroupement consistant à appliquer l'étape de regroupement élémentaire à chaque photon (i) une seule fois, le photon (i) étant considéré soit comme un photon central, soit comme un photon trouvé dans une fenêtre d'évènement ; - les évènements créés (ev(k)) sont rassemblés dans une base de don-nées ne contenant que des évènements ; - le procédé comprend une étape de filtrage des évènements (ev(k)) consistant à supprimer les évènements (ev(k)) dont le poids d'évènement (Wev(k)) est inférieur à une valeur de seuil prédéterminée (Sev), les évènements restants étant des évènements filtrés (ev(ktiitre)) ; - le procédé comprend une étape de création d'une image des évènements filtrés, respectivement des évènements non filtrés (ev(k)), représentant le ou les évènements filtrés (ev(ktiitre)), respectivement le ou les évènements non fil- trés (ev(k)) sous la forme de segments, de carrés ou de volumes ayant chacun une position, une taille et une couleur, la taille et la position du segment, du carré ou du volume étant déterminée par les cordonnées de l'évènement filtré (ev(ktiitre)), respectivement de l'évènement non filtré (ev(k)) et la couleur est fonction du poids (Wev(ktiitre)) de I"évènement filtré, respectivement du poids (Wev(k)) de l'évènement non filtré (ev(k)) ; - le procédé comprend une étape de comparaison d'au moins un évènement (ev(k)) déterminé à partir de la première base de données à au moins un évènement déterminé à partir d'une deuxième base de données dite de référence et correspondant à un circuit électronique identique en bon état de fonctionne- ment, et une étape d'identification des évènements non semblables dérivés respectivement de la première base de données et la deuxième base de données ; - le procédé comprend une étape de recueil de données d'acquisition de mesures de photons isolés (iacq) et détectés par un dispositif d'acquisition de me-sures optiques, les données de mesures formant une image ; - la position (P(i)) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) est définie par n coordonnées (xi(i) avec j entier variant de 1 à n, correspondant à un emplacement et/ou un moment d'émission du photon filtré (i), les n coordonnées étant prises ensemble dans un n-uplet formé par n-1 coordonnées spatiales et une coordonnée temporelle (t), les coordonnées spatiales étant définies par rapport à un repère spatial d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle (t) étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal électrique d'excitation du circuit électronique, la taille maximale d'évènement (ATmaxev) est formée par un n-uplet (ATmaxevi), j entier variant de 1 à n, et la fenêtre spatiale et/ou temporelle (Fev(k)) d'évènement est centrée au-tour de (P(k)) et d'amplitude (ATmaxev) et s'écrit comme un ensemble produit car- tésien fl[x1(k)ûATmaxev1;x1(k)+ATmaxev1] ; - l'étape de détermination d'une base de données de photons filtrés (i) à partir de la base de données d'acquisition de mesures des photons isolés comprend une étape d'arrangement préliminaire des donnés d'acquisition de mesures des photons mesurés (iacq) en des données brutes de photons bruts (ibrut) et une étape de conversion des données brutes des photons bruts (ibrut) en les données de photons filtrés (i) ; les données brutes contiennent pour chaque photon brut (ibrut) un enregistrement qui comprend : - une position (P(ibrut)) spatiale et/ou temporelle du photon brut (ibrut) défi- nie dans un repère spatial et/ou temporel à n dimensions, et - une valeur scalaire de sensibilité du capteur optique (S(ibrut)) associée au photon brut (ibrut) ; et l'étape de conversion des données brutes des photons bruts (ibrut) en les données de photons filtres (i) comprend une étape de pondération de recherche autour du photon (ibrut) de position (P(ibrut)) de photons (vois(ibrut)) de positions respectives (P(vois(ibrut))) contenus dans une fenêtre spatiale et/ou temporelle (FW(ibrut)) de pondération de photon, la fenêtre de pondération de photon (FW(i)) contenant de (P(ibrut)) et étant d'amplitude (ATw), et de calcul du poids (W(ibrut)) associé au photon pondéré (ibrut) égal à une troisième fonction des sensibilités (S(vois(ibrut))) des photons (ibrut, vois(ibrut)) trouvés dans la fenêtre (FW(ibrut)) ; - la troisième fonction est la somme des sensibilités (S(vois(ibrut))) des photons (ibrut, vois(ibrut)) trouvés dans la fenêtre (FW(ibrut)) ; - l'étape de conversion des données brutes des photons bruts (ibrut) en les données de photons filtres (i) comprend une étape de filtrage des photons bruts (ibrut) pondérés succédant à l'étape de pondération consistant à supprimer les photons bruts pondérés dont le poids (W(ibrut)) est inférieur à une valeur de seuil de filtrage de photons prédéterminée (St;,t), les photons bruts pondérés restants constituant les photons filtrés (i) ; - la position (P(ibrut)) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) est définie par n coordonnées (xi(ibrut) avec j entier variant de 1 à n, correspondant à un em- placement et/ou un moment d'émission du photon brut (ibrut), les n coordonnées étant prises ensemble dans un n-uplet formé par n-1 coordonnées spatiales et une coordonnée temporelle (t), les coordonnées spatiales étant définies par rapport à un repère spatial d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle (t) étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal élec- trique d'excitation du circuit électronique, la taille de pondération de photon brut (ATW) est formée par un n-uplet (ATW1) , et la fenêtre spatiale et/ou temporelle (FW(ibrut)) est centrée autour de (P(ibrut)) et d'amplitude (ATw) et s'écrit comme un ensemble produit cartésien n n[xf(1bn,,) -0 Wf;xi (Zbrut) +ATwf], et j=1 - n est un entier inférieur ou égal à 3 et les coordonnées (xi(i) d'un photon filtré (i), respectivement (xi(ibrut) d'un photon brut (ibrut) avec j entier variant de 1 à 3, correspondent à un emplacement et/ou un moment d'émission du photon filtré (i) respectivement du photon (ibrut) , les n coordonnées étant prises ensemble dans 20 un triplet formé par une première coordonnée spatiale (x), une deuxième coordonnée spatiale (y) et une coordonnée temporelle (t), les coordonnées spatiales (x) et (y) étant définies par rapport à un repère spatial d'un plan d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle (t) étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal électrique d'excitation du circuit électroni- 25 que ; - le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 3 avec deux dimensions spatiales selon les coordonnées (x), (y) et une dimension temporelle t, l'étape de pondération des photons est un procédé de corrélation spatio-temporelle STPC (Spatial Temporal Photo Correlation) avec la taille de la fenêtre 30 de pondération (ATW) formé par un triplet (dl, dl, dt) dans lequel les composantes spatiales de la taille (ATW) de la fenêtre sont identiques ;15 - le procédé utilise une technique d'acquisition comme l'émission de lumière statique, le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 2 avec deux dimensions spatiales selon les cordonnées (x) et (y), l'étape de pondération des photons est un procédé de corrélation spatiale avec la taille de la fenêtre de pan- dération (ATw) formé par un doublet (dl, dl) dans lequel les deux composantes spatiales de la taille de la fenêtre sont identiques ; et - le procédé utilise une technique d'acquisition comme l'émission à résolution temporelle TRE (Time Resolved Emission) de lumière statique, le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 1 avec une unique dimension temporelle selon la coordonnée temporelle (t), l'étape de pondération des photons est un pro-cédé de corrélation temporelle avec la taille de la fenêtre de pondération (ATw) formé par une valeur (dt). L'invention a également pour objet un produit programme d'ordinateur comprenant des instructions de programme pour mettre en oeuvre les étapes du procédé tel que défini ci-dessus lorsque ledit programme fonctionne sur un ordinateur. L'invention a également pour objet un système de mise en oeuvre du pro-cédé pour l'analyse de défauts d'un circuit électronique intégré comprenant un dispositif d'acquisition de mesures optiques apte à détecter des photons isolés émis par le circuit électronique et à fournir des données d'acquisition de mesure des photons isolés détectés (iacq), une mémoire apte à sauvegarder les données d'acquisition de mesure des photons isolés détectés formant une base de données, un calculateur apte à déterminer à partir de la base de données d'acquisition de mesures des photons isolés une base de données de photons filtrés (i) contenant pour chaque photon filtré (i) un enregistrement qui comprend : - une position P(i) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) définie dans un repère spatial et/ou temporel à n dimensions, avec n entier inférieur ou égal à 3, par n coordonnées (xi(i) avec j entier variant de 1 à n, correspondant à un em- placement et/ou un moment d'émission du photon filtré (i), les n coordonnées étant prises ensemble dans un triplet formé par une première coordonnée spatiale (x), une deuxième cordonnée spatiale (y) et une coordonnée temporelle (t), les coordonnées spatiales (x) et (y) étant définies par rapport à un repère spatial d'un plan d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle (t) étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal électrique d'excitation du circuit électronique, et - un poids scalaire (W(i)) associé au photon filtré (i), caractérisé en ce que le calculateur est apte à mettre en oeuvre une étape de regroupement élémentaire de photons autour d'un photon prédéterminé (k) central en un évènement (ev(k)), l'étape de regroupement élémentaire consistant à: - une taille maximale d'évènement (ATmaxev) formée par un n-uplet (ATmaxevi) étant prédéterminée, rechercher autour du photon prédéterminé (k) de position (P(k)) les photons (reg(k)) de positions respectives (P(reg(k))) contenus dans une fenêtre spatiale et/ou temporelle (Fev(k)) d'évènement, la fenêtre d'évènement (Fev(k)) étant centrée autour de (P(k)) et d'amplitude (ATmaxev) et s'écrivant comme ensemble produit fl[x1(k)-ATmaxev1;xi(k)+ATmaxev], - lorsqu'au moins un photon (reg(k)) a été trouvé, regrouper entre eux les photons trouvés dans la fenêtre (Fev(k)) en créant un évènement (ev(k)) associé au photon (k) comme un enregistrement qui comprend : une position de l'évènement égal à la moyenne (Pmoy(k)) des positions des photons (reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)) et du photon (k), les coordonnées maximales et minimales des photons contenus dans la fenêtre (Fev(k)), le photon (k) y compris, un poids d'évènement (Wev(k)) égal à la somme des poids de la totalité des photons contenus dans la fenêtre (Fev(k)). L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description d'une unique forme de réalisation qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple et faite en se référant aux dessins sur lesquels : - la Figure 1 est une vue d'un système d'imagerie spatio-temporelle pour l'analyse de défaut de circuit intégré selon l'invention, - la Figure 2 est un ordinogramme d'un procédé de traitement mis en oeu- vre par le système d'imagerie décrit à la figure 1, - la Figure 3 est une vue détaillée de l'étape de traitement préliminaire décrite dans l'organigramme de la Figure 2, - la Figure 4 est une vue détaillée de l'étape de pondération des photons bruts décrite dans l'organigramme de la Figure 2, - la Figure 5 est une vue détaillée de l'étape de filtrage des photons bruts décrite dans l'organigramme de la Figure 2, - la Figure 6 est une vue détaillée de l'étape de vectorisation décrite dans l'organigramme de la Figure 2, - la Figure 7 est une vue détaillée de l'étape de regroupement des photons filtrés en évènements décrite dans l'ordinogramme décrit à la figure 6, - la Figure 8 est une vue détaillée de l'étape de comparaison des évène- ments de deux bases de données décrite dans l'ordinogramme de la figure 2, - la Figure 9 est une vue détaillée de I"étape de détermination d'évènements semblables décrite dans l'ordinogramme de la Figure 8, - les Figures 10 et 11 sont des images de photons bruts émis respective- ment par un circuit défaillant et un circuit fonctionnel, - les Figures 12 et 13 sont des images de photons filtrés déterminés respectivement à partir des images des Figures 10 et 11, - les Figures 14 et 15 sont des images des évènements déterminés respectivement à partir des images des Figures 12 et 13, - la Figure 16 est une image de comparaison des évènements des Figures 14 et 15, et - la Figure 17 est une image des premiers évènements divergents obtenue à partir de l'image de la Figure 16. Suivant la Figure 1, le système 2 d'analyse de défauts dans un circuit intégré comprend un dispositif 4 d'imagerie ou d'acquisition de mesures de photons PICA (dénomination en anglais de Picosecond Imaging Circuit Analysis) et un moyen 6 de traitement des données de mesures acquises et de coordination des tâches exécutés par le dispositif d'imagerie 4, le moyen de traitement et de coordination 6 et le dispositif d'imagerie 4 étant connectés entre eux. Le dispositif d'imagerie 4 comprend trois bornes de sortie 8, 10, 12 et une borne d'entrée 14. Le dispositif d'imagerie 4 est apte à être commandé par le moyen de traitement et de coordination 6 au travers de la borne d'entrée 14 et à fournir des données de mesures acquises de photons iacq au travers des trois bornes de sortie 8,10 et 12. Le moyen de traitement et de coordination 6 comprend trois bornes d'entrée 16, 18, 20, connectées respectivement aux trois bornes de sortie 8, 10, 12 du dispositif d'imagerie 4, et une borne de sortie 22 connectée à la borne d'entrée 14. Le moyen de traitement et de coordination 6 est apte à commander le dis-positif d'imagerie 4 au travers de la borne de sortie 22 et à recevoir des données de mesures acquises des photons iacq issues du dispositif d'imagerie 4 au travers des trois bornes d'entrée 16, 18, 20. Le dispositif d'imagerie 4 comprend un circuit électronique intégré 24 à tester ou échantillon, un testeur électrique 26 et un capteur 28 d'image de photons isolés PICA. Le testeur électrique 26 comprend une borne d'entrée 30, connectée à la borne 14 et apte à recevoir un signal de commande issu du moyen de traitement et de coordination 6, une première borne de sortie 32 connectée au circuit électronique intégré 24 et une deuxième borne de sortie 34 connectée au capteur d'image 28. Le testeur électrique 26 est apte à envoyer au travers de la première borne de sortie 32 une séquence électrique de test, réalisée sous la forme d'un motif d'impulsions en série et/ou en parallèle, au circuit intégré 24 lorsqu'il reçoit en sa borne d'entrée 30 une commande issue du moyen de coordination 6. La séquence électrique de test peut également être programmée à l'intérieur du circuit intégré 24, auquel cas le testeur électrique 26 est apte à en- voyer un simple signal de déclenchement sous la forme d'une impulsion au circuit intégré 24. Le testeur électrique 26 est apte à envoyer au capteur d'image 28 au travers de la deuxième borne de sortie 34 la même séquence de test ou le même signal de déclenchement envoyés au travers de la première borne de sortie 32, de manière à fournir une référence temporelle de synchronisation. Le capteur d'image 28 comprend une lentille 36, un détecteur de photons 38, un moyen 40 de capture spatiale des composantes spatiales des photons iso- lés détectés, un moyen 42 de capture temporelle de la composante temporelle respective de chacun des photons isolés détectés. La lentille 36 est apte à récupérer les photons émis par l'ensemble des composants élémentaires du circuit électronique 24 sur toute son étendue et à les réacheminer sous la forme d'une image planaire au détecteur de photons 38. Le détecteur de photons 38 est apte à détecter chacun les photons émis par le circuit électronique 24 via la lentille 38. Le détecteur de photons 38, compatible avec les exigences de la technique PICA comprend par exemple des multiplicateurs de photons à canal unique ou des photodiodes à avalanche en silicium, ou encore des multiplicateurs de photons d'imagerie plane à micro-canaux, formant un réseau plan de cellules élémentaires de détection de photons isolés. Chaque cellule élémentaire du détecteur ou pixel, repérée dans une grille planaire par deux coordonnées spatiales x et y qui lui ont été affectées de manière prédéterminée, est apte à créer en une sortie propre non représentée un signal électrique indiquant qu'un photon isolé a été détecté. Le détecteur de photons 38 comprend un convertisseur classique, non représenté sur la Figure 1, apte à partir des signaux fournis par les cellules élémentaires, à convertir chaque photon isolé détecté en une information spatiale de l'emplacement de la cellule ayant reçu le photon isolé et une information temporelle du moment de détection. L'information spatiale associée au photon isolé comprend la première cor-donnée spatiale x et la deuxième coordonne spatiale y de la cellule l'ayant détecté, tandis que l'information temporelle est fournie sous la forme d'une impulsion correspondant au moment de détection du photon. Le détecteur de photons 38 est apte à fournir respectivement l'information spatiale x, y et l'information temporelle au moyen 40 de capture spatiale et au moyen 42 de capture temporelle au travers de bornes de sortie 44, 46, 48. Le moyen de capture spatiale 40 comprend une première unité de capture spatiale 50 et une deuxième unité de capture spatiale 52 connectées respective-ment en entrée aux bornes de sortie 44, 46 du détecteur 38 et en sortie aux bornes 8, 10. La première unité de capture spatiale 50 et la deuxième unité spatiale 52 sont aptes à recevoir respectivement les informations spatiales x et y de chaque photon associé et à les retransmettre à l'unité de traitement et de coordination 6 au travers des bornes de sortie 8, 10 sous la forme de composantes spatiales x, y associées au photon détecté iacq. Le moyen de capture temporelle 42 comprend une première borne d'entrée 54 et une deuxième borne d'entrée 56 raccordées respectivement à la borne de sortie 48 du détecteur 38 et à la deuxième borne de sortie 34 du testeur électrique 26. Le moyen de capture temporelle 42 est apte à convertir l'information temporelle, associée à un photon détecté et reçue à la première borne d'entrée 54, en une composante temporelle t du photon référencée par rapport au signal de séquence ou de déclenchement de séquence émis par le testeur électrique 26 et servant de référence temporelle. Ainsi, le dispositif de mesure 4 est apte à fournir au moyen de traitement et de coordination 6 les deux composantes spatiales x, y et la composante temporelle t associées à chaque photon isolé détecté. Le moyen de traitement et de coordination 6 comprend un calculateur 60 raccordé aux bornes d'entrée 16, 18, 20 et à la borne de sortie 22, une mémoire 62 de sauvegarde de bases de données connectée au calculateur 60 par une liai- son bidirectionnelle 64. Le moyen de traitement et de coordination 6 comprend également une unité d'interface utilisateur 66 connectée au calculateur 60 par une liaison bidirectionnelle 68. L'unité d'interface utilisateur 66 est apte à fournir au calculateur 60 des données entrées par l'utilisateur, à recevoir des images du calculateur 60 et les afficher. Le dispositif d'imagerie 4 fournit ainsi des données de mesures de photons isolés iacq à trois dimensions spatio-temporelles, sous la forme de deux coor- données spatiales x(iacq), y(iacq)et une coordonnée temporelle t(iacq). Le système 2 permet de filtrer les photons reçus en utilisant la méthode de pondération dénommée STPC (en anglais de Spatial Temporal Photon Correlation). Suivant la figure 2, un procédé de traitement PICA des données de mesures d'acquisition des photons isolés collectées par le dispositif d'imagerie 4 comprend un ensemble d'étapes. Ici, le procédé de traitement utilise une méthode de pondération STPC des photons détectés. Dans une première étape d'initialisation 202, des paramètres de pondération associés à la méthode de pondération STPC sont entrés par l'utilisateur au travers de l'interface utilisateur 66. Les paramètres de pondération comprennent la taille ATMä d'une fenêtre spatio-temporelle de pondération se présentant sous la forme d'un triplet (dl, dl, dt), dl étant la taille d'une composante spatiale quelconque de la fenêtre et dt étant la taille temporelle de la fenêtre. Dans une étape suivante de traitement préliminaire 204, les données de mesures x(iacq), y(iacq), t(iacq) associées à chaque photon désigné par un indice distinct iacq et acquises par le dispositif d'imagerie 4 sont réarrangées dans une base de données en tant que données brutes des photons bruts ibrut détectés. Ensuite dans une étape de pondération 206, chaque photon brut ibrut est pondéré en lui affectant un poids W(ibrut) suivant la méthode de pondération STPC et les paramètres choisis associés. Une étape principale, non représentée sur la figure 2 et mise en oeuvre au sein de l'étape de pondération 206 consiste à calculer pour chaque photon ibrut un produit de convolution spatio-temporelle sur trois dimensions, deux spatiales et une temporelle, ou encore le calcul d'une fonction de corrélation du photon (brut avec ses voisins vois(ibrut) contenus dans une fenêtre spatio-temporelle FW(ibrut) centrée autour du photon ibrut et ayant la taille de fenêtre ATMä entrée à l'étape 202. Puis dans une étape 208, un premier filtrage des photons pondérés à l'étape 206 est effectué en fonction des poids W(ibrut) affectés pour obtenir des photons filtrés i. Dans une étape 210, une image des photons filtrés i est construite à partir des photons filtrés i à l'étape 208 puis affichée. L'utilisateur est invité à indiquer s'il souhaite continuer le procédé de traitement 200 ou s'il souhaite modifier les para-mètres de pondération. Si l'utilisateur souhaite effectuer des modifications à la mise en oeuvre de l'étape de pondération 206, dans une étape 212 de modification, l'utilisateur choisit de nouveaux paramètres de pondération associés. Le procédé 200 se poursuit ensuite par le branchement en début de l'étape 206. Si l'utilisateur ne souhaite pas de modification, le procédé 200 est pour-suivi par une étape facultative d'affichage 214 d'histogramme des photons filtrés i par le premier filtrage de l'étape 208. Dans l'étape d'affichage d'histogrammes 214, deux histogrammes sont créés pour une zone spatiale donnée, un premier histogramme représentant le nombre de photons filtrés i en fonction du temps, un deuxième histogramme représentant le poids W(i) des photons filtrés i en fonction du temps. La zone spatiale a été déterminée au préalable par l'utilisateur qui a choisi les coordonnées du centre de la zone spatiale et la taille spatiale de la zone. La mise en oeuvre du caractère optionnel de l'étape 214 est réalisée par une étape d'invitation préliminaire 216. Ensuite, une étape facultative d'affichage 218 d'une vidéo des images des photons filtrés i ou bruts ibrut ordonnées dans le temps est mise en oeuvre sur une demande effectuée dans une étape 220. Dans l'étape d'affichage 218 de vidéo, une succession d'images est créée à partir de données réarrangées en sortie de l'étape 204 ou des données filtrées par le premier filtrage 208. La succession d'images correspond à une succession de séquences ou trames du cycle de fonctionnement du circuit. L'utilisateur a choisi au préalable la durée d'une séquence. Puis, dans une étape de vectorisation 222, les photons filtrés i par le pre- mier filtrage 208 des photons bruts et qui correspondent à un même évènement physique sont regroupés en un objet informationnel dit évènement ev(k) qui sera décrit ci-dessous dans la description de la Figure 7. Un évènement physique est la commutation d'un transistor ou des commutations d'un groupe de transistors. Une base de données, dite d'évènements, comprenant l'ensemble des évènements ev(k) en tant qu'objets informationnels est ainsi créée. Un deuxième filtrage portant sur les évènements ev(k) est effectué au cours de l'étape de vectorisation 222. Ensuite dans une étape de comparaison 224, deux bases de données d'évènements sont comparées. Les deux bases d'évènements, une première et une deuxième, sont ici au travers du procédé de la figure 2 issues respectivement de deux acquisitions, une première acquisition de mesures effectuée sur un circuit électronique intégré pour lequel un ou des défauts sont recherchés, une deuxième acquisition de mesures effectuée sur un circuit électronique de référence connu comme étant en bon état de fonctionnement. En variante, la deuxième base d'évènements issus de mesures effectuées sur un circuit de référence en bon état de fonctionnement est remplacée par une base d'évènements déduite au travers de l'étape de vectorisation d'une base de données contenant les résultats d'une simulation des photons émis par un circuit de référence en bon état de fonctionnement. Dans une étape suivante 226, le ou les premiers évènements différents à l'origine possible du défaut sont identifiés. Dans une étape 228, il est vérifié si le ou les premiers évènements différents correspondent de manière cohérente à la source de la défaillance et n'en sont pas seulement une conséquence directe, en raison d'un second filtrage trop limitatif effectué pendant l'étape de vectorisation 222 qui a pu enlever les vérita- bles évènements à l'origine du défaut dans le circuit intégré. Dans le cas ou un tel défaut de cohérence est suspecté, les paramètres du deuxième filtrage par exemple un seuil de filtrage Sev peuvent être modifiés dans une étape 230 par l'utilisateur. Dans le cas d'une modification d'un paramètre de filtrage du deuxième fil- trage de l'étape de vectorisation 222, les étapes 222, 224, 226, 228 sont répétées. Dans le cas où la cohérence est vérifiée, le procédé 200 est terminé par une étape de terminaison 230. Suivant la Figure 3, l'étape 204 de traitement préliminaire des données de mesures x(iacq), Y(iacq), t(iacq) des photons détectés iacq comprend une succession d'étapes. Dans une première étape 302, les photons iacq, contenus dans la base de données des mesures, et paramétrés chacun de manière propre par les trois composantes spatio-temporelles X(iacq), Y(iacq) et t(iacq), qui apparaissent dans une bordure du détecteur 38, sont supprimés. Par exemple, la bordure est déterminée par une marge de retrait 230 pixels autour de la périphérie de l'image supposée ici carrée et contenant 4094x4096 pixels. Ensuite, dans une étape 304 un histogramme est affiché par l'unité de traitement 6. L'histogramme représente le nombre de photons détectés en fonction du temps. Puis, dans une étape 306, l'utilisateur est invité à indiquer s'il souhaite ré- duire la période de travail sur le cycle de fonctionnement. Dans l'affirmative, l'utilisateur modifie la période de travail dans une étape 308 puis l'étape 306 est répétée. Dans la négative, l'étape de traitement préliminaire 204 est poursuivie par une étape 310 dans laquelle les photons restants (ibrut) après le retrait de la bar- dure sont triés par ordre temporel. Puis, dans une étape 312, afin de prendre en compte la sensibilité non uniforme du capteur optique 28, une matrice de correction étendue selon les coordonnées spatiales x et y, déterminée à partir d'une acquisition de mesures à vide c'est-à-dire sans circuit de test 24, est chargée dans le calculateur 60, et des sen- sibilités sont affectés à chaque photon 'brut, la sensibilité S(ibrut) étant égale à 1 lorsque le photon se trouve à un endroit du capteur dont la sensibilité est égale à une valeur médiane prédéterminée, la sensibilité S(ibrut) étant supérieure à 1 lors-que le photon est reçu en un endroit plus sensible par rapport à la valeur médiane, la sensibilité S(ibrut) étant inférieure à 1 lorsque le photon est reçu en un endroit moins sensible à la valeur médiane de sensibilité du capteur. Ensuite, dans une étape 314, les données brutes associées à chaque photon ibrut, c'est-à-dire les coordonnées spatio-temporelles x(ibrut), y(ibrut), t(ibrut) de chaque photon et la sensibilité S(ibrut) associée du capteur optique en l'emplacement (x(ibrut), y(ibrut)) sont enregistrés sous la forme d'un fichier binaire dans une base de données brutes. Puis dans une étape 316, une image brute est créée à partir des données brutes de la base de données brutes. Au cours de l'étape 316, les coordonnées des photons ibrut sont ajustées pour obtenir une superposition avec une image in- frarouge dite LSM pour Laser Standard Masc servant de référence pour corriger le cas échéant un défaut d'alignement entre un plan optique de détection du détecteur et un plan du circuit électronique 24.. Suivant la figure 4, l'étape de pondération 206 des photons bruts (brut, contenus dans la base des données brutes, ici la méthode STPC est décrite. L'étape de pondération 206 comprend un ensemble d'étapes. Dans une première étape 402, les données brutes obtenues après l'étape de traitement préliminaire 204 sont importées dans le calculateur 60. Les données brutes comprennent une liste des coordonnées spatio-temporelles des photons ibrut et des sensibilités S(ibrut) du capteur 28 associées. Les photons bruts ibrut sont classés par ordre temporel croissant. Ensuite dans une étape 404, le nombre total nb de photons est compté. Dans une étape suivante d'initialisation 408, deux variables imin et imax sont toutes deux mises égales à 1 et un compteur d'indice de photon ibrut est mis égal à 1. Puis une boucle 410 d'étapes est mise en oeuvre paramétrée par l'indice de photon désigné ibrut. Dans une étape 412, les cordonnées spatio-temporelles x(ibrut), y(ibrut), t(ibrut) du photon brut d'indice ibrut sont identifiées. Puis dans une étape 414, le premier photon brut dont le temps est supérieur ou égal à t(ibrut)-dt est recherché en parcourant la liste dans le sens des temps croissant, à partir du photon d'indice imin. Dans une étape suivante 416, le paramètre imin est mis à jour en le met-tant égal à l'indice du photon trouvé à l'étape 414. Ensuite dans une étape 418, le dernier photon brut dont le temps est inférieur ou égal à t(ibrut)+dt est recherché en parcourant la liste dans le sens des temps croissant, à partir du photon d'indice imax. Dans une étape 420, le paramètre imax est mis a jour, en le mettant égal à l'indice du photon trouvé à l'étape 318. Puis, dans une étape 422, les photons bruts dont l'indice est compris entre imin et imax sont récupérés, c'est-à-dire les photons situés dans la fenêtre temporelle [t(ibrut)-dt ; t(ibrut)+dt]. Ensuite dans une étape 424, parmi les photons récupérés à l'étape 422, les photons bruts qui sont en dehors de la fenêtre spatiale [x(ibrut)-dl ; X(ibrut)+dl] X [y(ibrut)-dl ;y(ibrut)+dl] X [t(ibrut)-dl ;t(ibrut)+dl] sont supprimés. Cette étape 424 est facilement et rapidement exécutable à l'aide de la fonction du logiciel Scilab, car la nouvelle liste de photons est beaucoup plus petite que celle de la base complète de données brutes. Puis, dans une étape 426, un poids W(ibrut) du photon d'indice ibrut est cal-culé comme étant égal à la somme des sensibilités du capteur associées aux photons restants de l'étape 424. Dans l'étape suivante 428, il est vérifié si l'indice courant est inférieur stric- tement à nb. Dans l'affirmative, l'indice courant ibrut est incrémenté d'une unité par une étape 430, et les étapes 412, 414, 416, 418, 420, 422, 424, 426, 428 sont répétées avec l'indice i incrémenté. Dans la négative, l'étape de pondération 206 des photons bruts est termi- née par une étape de terminaison 432. Suivant la figure 5, l'étape de premier filtrage 106 des photons pondérés comprend un ensemble d'étapes. Dans une première étape 502, un histogramme est affiché représentant les poids de photons bruts pondérés en fonction du temps. Puis, dans une étape 504, un seuil de premier filtrage Sf;,tdes photons bruts pondérés est choisi par l'utilisateur. De manière connexe, une valeur de seuil par défaut est calculée. La valeur de seuil par défaut correspond à une suppression de 80% des photons bruts. Elle sert de valeur indicative pour l'utilisateur. Dans une étape suivante 506, les photons pondérés dont le poids est infé- rieur au seuil de premier filtrage SfiIt déterminé par l'utilisateur sont supprimés. Ensuite dans une étape 508, un affichage d'une image des photons filtrés i résultant du premier filtrage 506 est fourni à l'utilisateur afin de le guider dans le choix d'une valeur de seuil de filtrage adapté. Puis, dans une étape 510, l'utilisateur est invité à indiquer s'il souhaite modifier la valeur du seuil de filtrage St;,t. Dans l'affirmative, le seuil de filtrage SfiIt est modifié dans une étape d'ajustement du seuil 512 et un branchement à l'étape 506 est effectué. Le seuil Sf;,t est ici ajustable par paliers en plus ou en moins de 2% ou 0,1% correspondant au pourcentage de suppression ou d'augmentation du nombre total de photons pondérés supprimés. Dans la négative, l'étape 208 est poursuivie par l'exécution d'une étape 514 au cours de laquelle les données de filtrage correspondant à des photons filtrés sont enregistrés dans une base de données de photons filtrés. Puis dans l'étape 516, une image des photons filtrés est crée à partir des données filtrées. Suivant la figure 6, l'étape de vectorisation 222 comprend un ensemble d'étapes. Dans une première étape 602, les photons filtrés i sont regroupés sous forme d'évènements, une taille spatio-temporelle maximale d'évènement ATmaxev sous la forme d'un triplet (dlev, dlev, dtev) ayant été au préalable déterminée par l'utilisateur. Pour chaque évènement déterminé ev(k), un poids d'évènement, des tailles maximale et minimale d'évènements sont déterminés en tant que composantes de l'évènement. Dans une étape suivante 604, un histogramme est affiché représentant les poids des évènements en fonction du temps. Puis dans une étape 606, un seuil d'un deuxième filtrage Sev portant sur les évènements est déterminé par l'utilisateur. Ensuite dans une étape 608 un deuxième filtrage portant sur les évènements est effectué en supprimant les évènements dont le poids d'évènement associé est inférieur au seuil de deuxième filtrage Sev déterminé par l'utilisateur à l'étape 606. Dans une étape suivante de vérification 610, il est vérifié si le nombre d'évènements observé est susceptible d'être correct au vu du nombre d'évènements physiques attendus. Dans la négative, un branchement est effectué à l'étape 606. Dans l'affirmative, l'étape de vectorisation 222 est poursuivi par une étape d'enregistrement 612 des données de type évènement dans une base de données d'évènements sous forme d'un fichier binaire. Ensuite, dans une étape 614 une image des évènements est créée représentant les événements sous forme de carrés ayant une taille, une position et une couleur La taille et la position de chaque carré est déterminée par les coordon- nées spatiales minimum et maximum de l'évènement associé, et la couleur est fonction du poids de l'évènement. Suivant la Figure 7, l'étape de regroupement 602 des photons filtrés i en évènements comprend un ensemble d'étapes. Dans une première étape 702, les données filtrées i correspondant aux photons filtrés sont importés dans le calculateur 60 et comprennent une liste des coordonnées spatio-temporelles des photons filtrés x(i), y(i), t(i) et de leurs poids associés W(i). La liste en tant que structure de données comprend un pointeur de parcours des photons filtrés. Dans une étape suivante 704, la taille spatio-temporelle d'un évènement ATmaxev est choisie par l'utilisateur sous la forme la forme d'un triplet (dlev, dlev, dtev), dlev étant la composante spatiale de la taille de la fenêtre selon une quel-conque coordonnée spatial xev et yev, dtev étant la composante temporelle de la fenêtre d'évènement. De plus, un pointeur d'indice courant de photon central k est mis égal à 1. Puis, dans une boucle 706 d'étapes est mise en oeuvre paramétré par le pointeur d'indice de photon central k. Dans une étape 708, les coordonnées spatio-temporelles du photon filtré central d'indice k sont identifiées en tant que x(k), y(k), t(k). Dans une étape suivante 710, les photons filtrés reg(k) qui sont à l'intérieur de la fenêtre spatio-temporelle Fev(k) ou [x(k)-dlev, x(k)+dlev] x [y(k)-dlev, y(k)+dlev] x [t(k)-dtev, t(k)+dtev] encadrant le photon filtré d'indice k sont recherchés. L'étape 710 est facilement et rapidement réalisée par exemple par la fonction find du logiciel Scilab du fait que la base de données des photons filtrés i est beaucoup plus petite que la base des données brutes. Dans une étape suivante 712, il est vérifié si la fenêtre spatio-temporelle Fev(k) encadrant le photon central d'indice k comprend plus d'un photon filtré, le photon central d'indice k étant compris dans la fenêtre. S'il n'existe qu'un photon isolé, dans une étape 714, le photon k est supprimé de la liste de travail, l'indice k courant est incrémenté d'une unité et l'étape de regroupement 602 est poursuivie par le branchement à l'étape 708. S'il existe au moins un photon trouvé reg(k) à l'étape 710, alors dans une étape 716 d regroupement élémentaire un nouvel évènement ev(k) est créé dans la base de données des évènements structurée en liste. Le nouvel évènement comprend des caractéristiques associées telles qu'une position spatio-temporelle moyenne Pmoy(k), des coordonnées maximales et minimales des photons filtrés qui se trouvent à l'intérieur de la fenêtre Fev(k), et un poids d'évènement Wev(k) égal à la somme des poids des photons trouvés reg(k) dans la fenêtre spatio-temporelle et du poids W(k) du photon central k. La position spatio-temporelle moyenne Pmoy(k) est calculée par exemple comme une moyenne non pondérée c'est-à-dire un isobarycentre. En variante, la position spatio-temporelle Pmoy(k) est calculée comme une moyenne pondérée des cordonnées des photons trouvés reg(k) et du photon k affectées des poids respectifs des photons W(reg(k)), W(k). Dans une étape suivante 718 les photons filtrés trouvés reg(k) et le photon k sont supprimés de la liste de travail des photons filtrés. Puis dans une étape 720, l'indice le plus petit de la liste de travail est re- cherché. Ensuite dans une étape 722, il est vérifié si la liste de travail est vide. Dans l'affirmative, l'étape 602 est terminée par une étape de terminaison 724. Sinon, dans une étape 726, l'indice trouvé dans l'étape 720 est affecté à l'indice courant k et un branchement est effectué en début d'étape 708. Suivant la Figure 8, l'étape de comparaison 224 de deux bases de don- nées d'évènements comprend une succession d'étapes. Dans une première étape 802, les deux bases de données d'évènements, première et deuxième, issues des deux bases de données des mesures d'acquisition, sont importées dans le calculateur. Désigné par nbl, le nombre total d'évènements contenus dans la première base de données est déterminé. Désigné par nb2, le nombre total d'évènements contenus dans la deuxième base de données est déterminé. Dans une étape suivante 804, les deux bases de données des mesures acquises correspondantes et de manière correspondante les deux bases de don- nées d'évènements sont alignées spatialement entre elles par l'application d'une transformation homographique prédéterminée, la transformation homographique étant déterminée à partir de deux images LSM (dénomination anglaise de Laser Standard Masc) servant de marqueurs. L'utilisateur marque chacune des deux images de quatre points rouges à des endroits identifiables du circuit électronique intégré. En variante d'autres méthodes de détermination de la transformation homographique peuvent être utilisées. Par exemple, des pointeurs lumineux sont utilisés pour pouvoir être identifié sur une image EMMI (dénomination anglaise de Emission Microscopy), ou en- core la séquence de test électrique du circuit électronique est modifiée de façon à émettre en fonctionnement des éléments fonctionnels du circuit émettant de la lumière et dont la position est facilement repérable sur l'image EMMI. Dans une étape suivante 806, une taille de fenêtre de tolérance AFcomp, ici spatio-temporelle est déterminée avec une taille de la fenêtre égale au triplet (dlcom, dlcomp, dtcomp), dlcom, désignant la taille spatiale de la fenêtre de tolérance et dtcomp désignant la taille temporelle de la fenêtre de tolérance. Dans la même étape 806, un indice courant d'évènement de parcours de boucle est désigné par icomp et mis égal à 1. Dans une étape suivante 808, les évènements semblables sont détermi- nés par comparaison des deux bases de données d'évènements et sont supprimés. Dans une étape 810, les évènements restants en sortie de l'étape 808 sont fusionnés dans une base de données d'évènements de diagnostic sous la forme d'un fichier binaire, une provenance de la base de données des évène- ments d'origine étant affecté à chaque évènement. Dans une étape suivante 812, une image est créée représentant les évènements sous forme de carrés avec une couleur associée et une luminosité associée. La taille et la position de chaque carré est déterminée par les coordonnées spatiales minimum et maximum de l'évènement associé. La couleur de l'évènement est fonction de son appartenance à l'une ou l'autre des bases de donnés d'évènements d'origine, et la luminosité de son poids. Suivant la figure 9, l'étape 808 est réalisée sous la forme d'une boucle 902 paramétrée par l'indice courant ilcomp des évènements de la première base de données. La boucle 902 comprend un ensemble d'étapes. L'indice courant iloomp est mis égal à 1 dans une étape 902. Dans l'étape 904, les coordonnées spatio-temporelles x(ilcomp), y(ilcomp), t(ilcomp) de l'évènement courant noté A(ilcomp) de la première base de données sont identifiées. Puis dans une étape 906, les évènements de la deuxième base de don-nées d'évènements qui sont à l'intérieur de la fenêtre spatio-temporelle [x(ilcomp)-dlcomp, x(ilcomp)+dlcomp] x [y(ilcomp)-dlcomp, y(ilcomp)+dlcomp] x [t(ilcomp)-dtcomp, t(ilcomp)+dtcomp] sont recherchés. Cette étape 906 est facilement réalisable avec la fonction find du logiciel Scilab du fait que la base de données des évènements est plus petite que la base des données de photons pondérés dont elle est issue. Puis, il est vérifié dans l'étape 908 s'il existe au moins un évènement trouvé. Dans le cas où il existe au moins un évènement trouvé, dans une étape 910, parmi les évènements trouvés, il est déterminé une liste des évènements trouvés et désignés par A(i2trouv), situés à une distance minimale de A(il comp). i2trouv désignant le paramètre de parcours de cette liste et varie de 1 à Ntrouv, Ntrouv étant égal au nombre total d'évènements trouvés dans la liste. Dans une étape 912 un drapeau désigné par p est mis égal à 0 et le pa- ramètre i2trouv est mis égal à 1. Puis une boucle 914 d'étapes est mise en oeuvre. Dans l'étape 916, il est recherché dans la première base de données les évènements situés à une distance minimale de A(2trouv). Dans une étape 918, il est vérifié si A(il comp) fait partie des évènements trouvés à l'étape 916. Si A(il comp) fait partie des évènements trouvés à l'étape 916, alors A(il comp) et A(2trouv) sont considérés comme semblables et sont supprimés dans une étape 920 de leurs bases de données respectives. En même temps, le drapeau p est mis égal à 1. Dans le cas contraire, le drapeau p reste égal à 0. Puis dans une étape 922, il est vérifié si le drapeau est égal 0 et i2trouv est inférieur à Ntrouv. Dans l'affirmative, l'indice i2trouv est incrémentée d'une unité dans une étape d'incrémentation 924 et un branchement est effectué à l'étape de recherche 916. Dans la négative, il est vérifié si iloomp est inférieur à nbl dans une étape 926. Si il oomp est inférieur à nbl , alors l'indice il oomp est incrémenté d'une unité dans une étape d'incrémentation 928 et l'étape de détermination d'évènements semblables est poursuivie par le branchement à l'étape 902. A l'inverse, l'étape de détermination d'évènements semblables est termi- née par une étape de terminaison 930. Les figures 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16 17 se rapporte à un exemple d'application du procédé d'analyse de défauts à un circuit électronique dénommé MAX186. Le circuit électronique MAX186 est un convertisseur analogique- numérique à 12 bits. Au préalable des acquisitions en émission de photons ont été effectuées sur un circuit défectueux et un circuit en bon état de fonctionnement par le système PICA. Les caractéristiques du circuit analysé et de l'acquisition des mesures sont rassemblées dans la tableau 1 ci-dessous. Fréquence de fonctionnement 20 MHz Technologie CMOS, 3 �m, 4 niveaux d'interconnexion Zone active 2,877 mm x 3,604 mm Durée de la boucle d'acquisition 250 ns Tableau 1 Suivant les figures 10 et 11, les images respectives des circuits des photons bruts obtenus à l'issue de l'étape de traitement préliminaire sont représentées. L'image de la Figure 10 est celle du circuit défaillant tandis que celle de la Figure 11 est celle du circuit en bon état de marche. Le tableau 2 ci-dessous résume les principales caractéristiques des images obtenues à la fin de l'étape de traitement préliminaire. Défaillant Fonctionnel Nombre de photons importés 576512 603136 Nombre de photons supprimés car 1128 1194 dans la bordure du détecteur Réduction de la période de travail Sans Sans Nombre de photons restants 575384 601942 Tableau 2 Suivant les Figures 12 et 13, les images respectives des circuits des pho- tons filtrés obtenus à l'issue de l'étape de filtrage des photons sont représentées. L'image de la Figure 12 est celle du circuit défaillant tandis que celle de la Figure 13 est celle du circuit en bon état de marche. Le tableau 3 ci-dessous résume les principales caractéristiques des ima-15 ges obtenues à la fin de l'étape de traitement préliminaire. Défaillant Fonctionnel Technique de pondération STPC STPC Taille spatiale de la fenêtre spatio- 128 pixels 128 pixels temporelle Taille temporelle de la fenêtre spatio- 50 ps 50 ps temporelle Seuil appliqué pour le filtrage 7% 7% Nombre de photons restants après 38624 38735 filtrage Tableau 3 Suivant les Figures 14 et 15, les images respectives des évènements obtenus à l'issue de l'étape de vectorisation 222 sont représentées. L'image de la Figure 14 est celle du circuit défaillant tandis que celle de la Figure 15 est celle du circuit en bon état de marche. Le tableau 4 ci-dessous résume les principales caractéristiques des images obtenues à la fin de l'étape de traitement préliminaire. Défaillant Fonctionnel Taille spatiale maximale d'un évène- 64 pixels 64 pixels ment Taille temporelle maximale d'un évè- 5000 ps 5000 ps nement Nombre d'évènements après regrou- 2788 2899 pement Seuil appliqué pour la sélection 100 100 Nombre d'évènements après filtrage 994 984 Tableau 4 Suivant la figure 16, les images respectives des figures 14 et 15 ont été superposés, les zones de recouvrement représentant des évènements semblables. Suivant la figure 17, seuls les premiers évènements divergents sont représentés, les évènements divergents postérieurs ayant été filtrés. Le tableau 5 ci-dessous résume les principales caractéristiques des ima-15 ges obtenues à l'étape de comparaison. Tolérance temporelle 3000 ps Tolérance spatiale 4 pixels Nombre d'évènements di- 1244 vergents Localisation temporelle du 2851,4 ps premier évènement diver- gent Tableau 5 En variante, le dispositif d'imagerie fournit des images de photons i caractérisés par les deux coordonnées spatiales x(i) et y(i), la durée d'une trame temporelle comme étant la durée d'une succession de séquences de test étant suffisamment longue pour détecter des photons sur une large étendue spatiale. Dans ce cas une corrélation purement spatiale des photons peut être effectuée. Dans ce cas, l'étape de pondération des photons qualifiée de voisinage spatial requiert l'entrée par l'utilisateur d'une taille de fenêtre spatiale bidimensionnelle par exemple sous la forme (dl, dl), une trame temporelle Atrame suffisamment longue ayant été choisie pour avoir une forte probabilité de détecter un pho- ton correspondant à un emplacement d'un composant défectueux. L'étape principale mise en oeuvre dans l'étape de pondération est le calcul d'un produit de convolution spatiale sur deux dimensions, c'est-à-dire une corrélation spatiale à deux dimensions de chaque photon détecté sur une fenêtre de taille (dl,dl). En variante, le dispositif d'imagerie fournit des images de photons i carac- térisés par une coordonnée temporelle seulement t(i), l'observation des photons étant limitée à une zone relativement étroite du circuit électronique. Cette limitation est réalisée par exemple à l'aide d'un masque opaque à la lumière émise par les composants du circuit situés en dehors de la zone et transparent au niveau de la zone étroite observée. Dans ce cas, une corrélation purement temporelle des pho- tons émis est recherchée. Dans ce cas, l'étape de pondération des photons qualifiés de voisinage temporelle requiert l'entrée par l'utilisateur d'une taille de fenêtre temporelle uni-dimensionnelle dt, la localisation de l'éventuel défaut recherché étant prédéterminée. L'étape principale mise en oeuvre dans l'étape de pondération est le calcul d'un produit de convolution temporelle unidimensionnelle, c'est-à-dire une corrélation temporelle à une dimension de chaque photon détecté étendu sur une fenêtre temporelle de taille dt. De manière générale, un procédé de traitement d'image pour l'analyse de défauts d'un circuit électronique intégré est mis en oeuvre à partir d'une première base de données d'acquisition de mesures qui contient des données d'acquisition de mesure de photons isolés et détectés par un dispositif d'imagerie. Le procédé comprend les étapes consistant à : - déterminer à partir de la première base de données d'acquisition de me-sures des photons isolés iacq, une base de données de photons filtrés i contenant pour chaque photon filtré i un enregistrement qui comprend : - une position P(i) spatiale et/ou temporelle du photon filtré i définie dans un repère spatial et/ou temporel à n dimensions, et - un poids scalaire W(i) associé au photon filtré i_ Le procédé comprend au moins une étape de regroupement élémentaire de photons filtrés autour d'un photon filtré prédéterminé k central en un évènement ev(k), la ou chaque étape de regroupement élémentaire comprenant : - la recherche autour du photon central k de position P(k) de photons reg(k) de positions respectives P(reg(k)) contenus dans une fenêtre spatiale et/ou temporelle Fev(k) d'évènement contenant P(k) et d'amplitude ATmaxev prédéterminée, - lorsqu'au moins un photon reg(k) a été trouvé, le regroupement entre eux des photons trouvés dans la fenêtre Fev(k) en créant un évène- ment ev(k) associé au photon central k comme un enregistrement qui comprend : une position de l'évènement Pmoy(k) égale à une première fonction des positions des photons k, Reg(k) contenus dans la fenêtre Fev(k), un poids d'évènement Wev(k) égal à une deuxième fonction des poids scalaires W(k), W(reg(k) de la totalité des photons contenus dans la fenêtre Fev(k). En variante, l'enregistrement d'un évènement comprend également les coordonnées maximales et minimales des photons k, reg(k) contenus dans la fe- nêtre Fev(k). En variante, la première fonction est une moyenne non pondérée des positions Pmoy(k) des photons k, reg(k) contenus dans la fenêtre Fev(k). En variante, la première fonction est une moyenne pondérée des positions Pmoy(k) des photons k, reg(k) contenus dans la fenêtre Fev(k) affectés de leur poids scalaire respectif W(k), W(reg(k), de sorte que la position de l'évènement (ev(k)) est un barycentre des photons k, reg(k). En variante, la deuxième fonction est la somme des poids W(k), W(reg(k) respectifs des photons k, reg(k) contenus dans la fenêtre Fev(k). Le procédé comprend une phase de regroupement de tous les photons filtrés i de la première base de données en des évènements, la phase de regroupement consistant à appliquer l'étape de regroupement élémentaire à chaque photon i une seule fois, le photon i étant considéré soit comme un photon central, soit comme un photon trouvé dans une fenêtre d'évènement. Les évènements créés ev(k) sont rassemblés dans une base de données ne contenant que des évènements. Le procédé comprend une étape de filtrage des évènements ev(k) consistant à supprimer les évènements ev(k) dont le poids d'évènement Wev(k) est infé- rieur à une valeur de seuil prédéterminée Sev, les évènements restants étant des évènements filtrés ev(kfiltre). Le procédé comprend une étape de création d'une image des évènements filtrés, respectivement des évènements non filtrés ev(k), représentant le ou les évènements filtrés ev(kfiitre), respectivement le ou les évènements non filtrés ev(k) sous la forme de segments, de carrés ou de volumes ayant chacun une position, une taille et une couleur, la taille et la position du segment, du carré ou du volume étant déterminée par les cordonnées de l'évènement filtré ev(kfiitre), respectivement de l'évènement non filtré ev(k) et la couleur est fonction du poids Wev(kfiitre) de I"évènement filtré, respectivement du poids Wev(k) de l'évènement non filtré ev(k). Le procédé comprend une étape de comparaison d'au moins un évènement ev(k) déterminé à partir de la première base de données à au moins un évènement déterminé à partir d'une deuxième base de données dite de référence et correspondant à un circuit électronique identique en bon état de fonctionnement, et une étape d'identification des évènements non semblables dérivés respective- ment de la première base de données et la deuxième base de données. Le procédé comprend une étape de recueil de données d'acquisition de mesures de photons isolés iacq et détectés par un dispositif d'acquisition de mesures optiques, les données de mesures formant une image. La position P(i) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) est définie par n coordonnées xi(i) avec j entier variant de 1 à n, correspondant à un emplacement et/ou un moment d'émission du photon filtré i, les n coordonnées étant prises ensemble dans un n-uplet formé par n-1 coordonnées spatiales et une coordonnée temporelle t, les coordonnées spatiales étant définies par rapport à un repère spatial d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle t étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal électrique d'excitation du circuit électronique. La taille maximale d'évènement ATmaxev est formée par un n-uplet ATmaxevi, j entier variant de 1 à n, et La fenêtre spatiale et/ou temporelle Fev(k) d'évènement est centrée au-tour de P(k) et d'amplitude ATmaxev et s'écrit comme un ensemble produit carté- sien fl[x1(k)_ATmaxev1;x1(k)+ATmaxev1]. L'étape de détermination d'une base de données de photons filtrés i à par- tir de la première base de données d'acquisition de mesures des photons isolés comprend une étape d'arrangement préliminaire des donnés d'acquisition de me-sures des photons mesurés iacq en des données brutes de photons bruts ibrut et une étape de conversion des données brutes des photons bruts ibrut en les don-nées de photons filtrés i. Les données brutes contiennent pour chaque photon brut ibrut un enregistrement qui comprend : - une position P(ibrut) spatiale et/ou temporelle du photon brut ibrut définie dans un repère spatial et/ou temporel à n dimensions, et - une valeur scalaire de sensibilité du capteur optique S(ibrut) associée au photon brut (ibrut). L'étape de conversion des données brutes des photons bruts ibrut en les données de photons filtrés i comprend une étape de pondération de recherche autour du photon ibrut de position P(ibrut) de photons vois(ibrut) de positions respectives P(vois(ibrut)) contenus dans une fenêtre spatiale et/ou temporelle FW(ibrut) de pondération de photon, la fenêtre de pondération de photon Fw(i) contenant de P(ibrut) et étant d'amplitude ATW , et de calcul du poids (W(ibrut)) associé au photon pondéré (ibrut) égal à une troisième fonction des sensibilités S(vois(ibrut)) des photons (ibrut, vois(ibrut)) trouvés dans la fenêtre FW(ibrut). La troisième fonction est en particulier la somme des sensibilités S(vois(ibrut)) des photons ibrut, vois(ibrut) trouvés dans la fenêtre FW(ibrut). L'tape de conversion des données brutes des photons bruts ibrut en les données de photons filtres i comprend une étape de filtrage des photons bruts ibrut pondérés succédant à l'étape de pondération consistant à supprimer les photons bruts pondérés dont le poids W(ibrut) est inférieur à une valeur de seuil de filtrage de photons prédéterminée St;,t, es photons bruts pondérés restants constituant les photons filtrés i. La position P(ibrut) spatiale et/ou temporelle du photon filtré i est définie par n coordonnées Xi(ibrut) avec j entier variant de 1 à n, correspondant à un emplacement et/ou un moment d'émission du photon brut 'brut, les n coordonnées étant prises ensemble dans un n-uplet formé par n-1 coordonnées spatiales et une coordonnée temporelle t, les coordonnées spatiales étant définies par rapport à un repère spatial d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle t étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal électrique d'excitation du circuit électronique. La taille de pondération de photon brut ATw est formée par un n-uplet (ATwi) et la fenêtre spatiale et/ou temporelle FW(ibrut) est centrée autour de P(ibrut) et d'amplitude ATw et s'écrit comme un en- semble produit cartésien fl[xi(ibYur)ùAT1;xi @bru,)+ATw]. Dans un premier cas particulier, le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 3 avec deux dimensions spatiales selon les coordonnées x, y et une dimension temporelle t, l'étape de pondération des photons est un procédé de corrélation spatio-temporelle STPC (Spatial Temporal Photo Correlation) avec la taille de la fenêtre de pondération ATw formé par un triplet (dl, dl, dt) dans lequel les composantes spatiales de la taille de la fenêtre sont identiques. Dans un deuxième cas particulier, le procédé utilise une technique d'acquisition comme l'émission de lumière statique, le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 2 avec deux dimensions spatiales selon les cordonnées x et y, l'étape de pondération des photons est un procédé de corrélation spatiale avec la taille de la fenêtre de pondération ATw formé par un doublet (dl, dl) dans lequel les deux composantes spatiales de la taille de la fenêtre sont identiques. Dans un troisième cas particulier, le procédé utilise une technique d'acquisition comme l'émission à résolution temporelle TRE (Time Resolved Emission) de lumière statique, le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 1 avec une unique dimension temporelle selon la coordonnée temporelle t, l'étape de pondération des photons est un procédé de corrélation temporelle avec la taille de la fenêtre de pondération ATw formé par une valeur dt. Ainsi, la qualité du filtrage des photons isolés détectés est améliorée par le second filtrage des objets informationnels constitués par les évènements. En outre, les étapes subséquentes au deuxième filtrage portant sur les évènements présentent des durées plus petites et les bases de données sur les-5 quelles elles opèrent sont allégées. REVENDICATIONS1. Procédé de traitement d'image pour l'analyse de défauts d'un circuit électronique intégré (24), le procédé étant mis en oeuvre à partir d'une première base de données d'une image contenant des données d'acquisition de mesure de photons isolés et détectés par un dispositif d'acquisition de mesures optiques (4), comprenant les étapes consistant à - déterminer à partir de la première base de données d'acquisition de me-sures des photons isolés (iacq), une base de données de photons filtrés (i) contenant pour chaque photon filtré (i) un enregistrement qui comprend : - une position (P(i)) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) définie dans un repère spatial et/ou temporel à n dimensions, et - un poids scalaire (W(i)) associé au photon filtré (i), caractérisé en ce que le procédé comprend au moins une étape de regroupement élémentaire (716) de photons filtrés autour d'un photon filtré prédé- terminé (k) central en un évènement (ev(k)), la ou chaque étape de regroupement élémentaire comprenant : - la recherche autour du photon central (k) de position (P(k)) de photons (reg(k)) de positions respectives (P(reg(k))) contenus dans une fenêtre spatiale et/ou temporelle (Fev(k)) d'évènement contenant (P(k)) et d'amplitude (ATmaxev) prédéterminée, - lorsqu'au moins un photon (P(reg(k))) a été trouvé, le regroupement entre eux des photons trouvés dans la fenêtre (Fev(k)) en créant un évènement ((ev(k))) associé au photon central (k) comme un enregistrement qui comprend : une position de l'évènement (Pmoy(k)) égale à une première fonction des positions des photons (k, Reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)), un poids d'évènement (Wev(k)) égal à une deuxième fonction des poids scalaires (W(k), W(reg(k)) de la totalité des photons contenus dans la fenêtre (Fev(k)). 2. Procédé de traitement d'image selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'enregistrement d'un évènement comprend les coordonnées maximales et minimales des photons (k, reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)). 3. Procédé de traitement d'image selon l'une quelconque des revendications 1 à 2, caractérisé en ce que la première fonction est une moyenne non pondérée des positions (Pmoy(k)) des photons (k, reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)). 4. Procédé de traitement d'image selon l'une quelconque des revendications 1 à 2, caractérisé en ce que la première fonction est une moyenne pondérée des positions (Pmoy(k)) des photons (k,reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)) affectés de leur poids scalaire respectif (W(k), W(reg(k)), de sorte que la position de l'évènement (ev(k)) est un barycentre des photons (k, reg(k)). 5. Procédé de traitement d'image selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que la deuxième fonction est la somme des poids (W(k), W(reg(k)) respectifs des photons (k, reg(k) contenus dans la fenêtre (Fev(k)). 6. Procédé de traitement d'image selon l'une quelconque des revendica- tions 1 à 5, caractérisé en ce qu'il comprend une phase de regroupement (602) de tous les photons filtrés (i) de la base de données en des évènements, la phase de regroupement (602) consistant à appliquer l'étape de regroupement élémentaire à chaque photon (i) une seule fois, le photon (i) étant considéré soit comme un photon central, soit comme un photon trouvé dans une fenêtre d'évènement. 7. Procédé de traitement d'image selon la revendication 6, caractérisé en ce que les évènements créés (ev(k)) sont rassemblés dans une base de données ne contenant que des évènements. 8. Procédé de traitement d'image selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce qu'il comprend une étape de filtrage (608) des évè- nements (ev(k)) consistant à supprimer les évènements (ev(k)) dont le poids d'évènement (Wev(k)) est inférieur à une valeur de seuil prédéterminée (Sev), les évènements restants étant des évènements filtrés (ev(kfiltre)). 9. Procédé de traitement d'image selon l'une quelconque des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'il comprend une étape de création d'une image des évènements filtrés (614), respectivement des évènements non filtrés (ev(k)), représentant le ou les évènements filtrés (ev(kfiltre)), respectivement le ou les évènements non filtrés (ev(k)) sous la forme de segments, de carrés ou de volumes ayant chacun une position, une taille et une couleur, la taille et la position du seg-ment, du carré ou du volume étant déterminée par les cordonnées de l'évènement filtré (ev(ktiitre)), respectivement de l'évènement non filtré (ev(k)) et la couleur est fonction du poids (Wev(ktiitre)) de I"évènement filtré, respectivement du poids (Wev(k)) de l'évènement non filtré (ev(k)). 10. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, caractérisé en ce qu'il comprend une étape de comparaison (224) d'au moins un évènement (ev(k)) déterminé à partir de la première base de données à au moins un évènement déterminé à partir d'une deuxième base de données dite de référence et correspondant à un circuit électronique identique en bon état de fonctionnement, et une étape d'identification des évènements non semblables dérivés respectivement de la première base de données et la deuxième base de données. 11. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 10, caractérisé en ce qu'il comprend une étape de recueil de données d'acquisition de mesures de photons isolés (iacq) et détectés par un dispositif d'acquisition de mesures opti- ques (4), les données de mesures formant une image. 12. Procédé de traitement d'image selon l'une quelconque des revendications 1 à 11, caractérisé en ce que la position (P(i)) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) est définie par n coordonnées (xi(i) avec j entier variant de 1 à n, correspondant à un emplace- ment et/ou un moment d'émission du photon filtré (i), les n coordonnées étant prises ensemble dans un n-uplet formé par n-1 coordonnées spatiales et une coordonnée temporelle (t), les coordonnées spatiales étant définies par rapport à un repère spatial d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle (t) étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal élec- trique d'excitation du circuit électronique, la taille maximale d'évènement (ATmaxev) est formée par un n-uplet (ATmaxevi), j entier variant de 1 à n, et la fenêtre spatiale et/ou temporelle (Fev(k)) d'évènement est centrée au-tour de (P(k)) et d'amplitude (ATmaxev) et s'écrit comme un ensemble produit car- tésien fl[x1(k)-ATmaxev1;x1(k)+ATmaxev1]. 13. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 12, caractérisé en ce quel'étape de détermination d'une base de données de photons filtrés (i) à partir de la base de données d'acquisition de mesures des photons isolés comprend une étape d'arrangement préliminaire (204) des donnés d'acquisition de mesures des photons mesurés (iacq) en des données brutes de photons bruts (ibrut) et une étape de conversion (206, 208) des données brutes des photons bruts (ibrut) en les données de photons filtrés (i) ; en ce que les données brutes contiennent pour chaque photon brut (ibrut) un enregistrement qui comprend : - une position (P(ibrut)) spatiale et/ou temporelle du photon brut (ibrut) défi- nie dans un repère spatial et/ou temporel à n dimensions, et - une valeur scalaire de sensibilité du capteur optique (S(ibrut)) associée au photon brut (ibrut) ; et en ce que l'étape de conversion (206, 208) des données brutes des photons bruts (ibrut) en les données de photons filtres (i) comprend une étape de pondération (206) de recherche autour du photon (ibrut) de position (P(ibrut)) de photons (vois(ibrut)) de positions respectives (P(vois(ibrut))) contenus dans une fenêtre spatiale et/ou temporelle (FW(ibrut)) de pondération de photon, la fenêtre de pondération de photon (FW(i)) contenant de (P(ibrut)) et étant d'amplitude (ATw), et de calcul du poids (W(ibrut)) associé au photon pondéré (ibrut) égal à une troisième fonction des sensibilités (S(vois(ibrut))) des photons (ibrut, vois(ibrut)) trouvés dans la fenêtre (FW (i brut)) • 14. Procédé de traitement d'image selon la revendication 13, caractérisé en ce que la troisième fonction est la somme des sensibilités (S(vois(ibrut))) des photons (ibrut, vois(ibrut)) trouvés dans la fenêtre (FW(ibrut)). 15. Procédé selon l'une quelconque des revendications 13 à 14, caractérisé en ce que l'étape de conversion (206, 208) des données brutes des photons bruts (ibrut) en les données de photons filtres (i) comprend une étape de filtrage (208) des photons bruts (ibrut) pondérés succédant à l'étape de pondération (206) consistant à supprimer les photons bruts pondérés dont le poids (W(ibrut)) est infé- rieur à une valeur de seuil de filtrage de photons prédéterminée (St;,t), les photons bruts pondérés restants constituant les photons filtrés (i). 16. Procédé de traitement d'image selon l'une quelconque des revendications 13 à 15, caractérisé en ce quela position (P(ibrut)) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) est définie par n coordonnées (xj(ibrut) avec j entier variant de 1 à n, correspondant à un emplacement et/ou un moment d'émission du photon brut (ibrut), les n coordonnées étant prises ensemble dans un n-uplet formé par n-1 coordonnées spatiales et une coordonnée temporelle (t), les coordonnées spatiales étant définies par rapport à un repère spatial d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle (t) étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal électrique d'excitation du circuit électronique, la taille de pondération de photon brut (ATw) est formée par un n-uplet (ATw1) , et la fenêtre spatiale et/ou temporelle (FW(ibrut)) est centrée autour de (P(ibrut)) et d'amplitude (ATw) et s'écrit comme un ensemble produit cartésien n n[xi@brut)-ATwj;.xi (lb,w)+OTw], et j=1 17. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 16, caractérisé en ce que n est un entier inférieur ou égal à 3 et en ce que les coordonnées (xi(i) d'un photon filtré (i), respectivement (xj(ibrut) d'un photon brut (ibrut) avec j entier variant de 1 à 3, correspondent à un emplacement et/ou un moment d'émission du photon filtré (i) respectivement du photon (ibrut) , les n coordonnées étant prises ensemble dans un triplet formé par une première coordonnée spatiale (x), une deuxième coordonnée spatiale (y) et une coordonnée temporelle (t), les coordonnées spatiales (x) et (y) étant définies par rapport à un repère spatial d'un plan d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle (t) étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal électrique d'excitation du circuit électronique. 18. Procédé selon l'une quelconque de revendications 1 à 17, caractérisé en ce que le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 3 avec deux dimensions spatiales selon les coordonnées (x), (y) et une dimension temporelle t, l'étape de pondération des photons est un procédé de corrélation spatio-temporelle STPC (Spatial Temporal Photo Correlation) avec la taille de la fenêtre de pondération (ATw) formé par un triplet (dl, dl, dt) dans lequel les composantes spatiales de la taille (ATw) de la fenêtre sont identiques. 19. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 17, caractérisé en ce que le procédé utilise une technique d'acquisition comme l'émission de lumière statique, le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 2 avec deux dimensions spatiales selon les cordonnées (x) et (y), l'étape de pondération des photons (206) est un procédé de corrélation spatiale avec la taille de la fenêtre de pondération (ATw) formé par un doublet (dl, dl) dans lequel les deux composantes spatiales de la taille de la fenêtre sont identiques. 20. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 17, caractérisé en ce que le procédé utilise une technique d'acquisition comme l'émission à réso- lution temporelle TRE (Time Resolved Emission) de lumière statique, le nombre n de dimensions d'acquisition est égal à 1 avec une unique dimension temporelle selon la coordonnée temporelle (t), l'étape de pondération des photons (206) est un procédé de corrélation temporelle avec la taille de la fenêtre de pondération (ATw) formé par une valeur (dt). 21. Produit programme d'ordinateur comprenant des instructions de pro-gramme pour mettre en oeuvre les étapes du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 20 lorsque ledit programme fonctionne sur un ordinateur (60). 22. Système pour l'analyse de défauts d'un circuit électronique intégré comprenant un dispositif d'acquisition de mesures optiques apte (4) à détecter des photons isolés émis par le circuit électronique et à fournir des données d'acquisition de mesure des photons isolés détectés (iacq), une mémoire (62) apte à sauvegarder les données d'acquisition de mesure des photons isolés détectés formant une base de données, un calculateur (60) apte à déterminer à partir de la base de données d'acquisition de mesures des photons isolés une base de données de photons filtrés (i) contenant pour chaque photon filtré (i) un enregistrement qui comprend : - une position P(i) spatiale et/ou temporelle du photon filtré (i) définie dans un repère spatial et/ou temporel à n dimensions, avec n entier inférieur ou égal à 3, par n coordonnées (xi(i) avec j entier variant de 1 à n, correspondant à un emplacement et/ou un moment d'émission du photon filtré (i), les n coordonnées étant prises ensemble dans un triplet formé par une première coordonnée spatiale (x), une deuxième cordonnée spatiale (y) et une coordonnée temporelle (t), lescoordonnées spatiales (x) et (y) étant définies par rapport à un repère spatial d'un plan d'émission des photons du circuit électronique et la coordonnée temporelle (t) étant définie par rapport à une référence temporelle d'un signal électrique d'excitation du circuit électronique, et - un poids scalaire (W(i)) associé au photon filtré (i), caractérisé en ce que le calculateur (60) est apte à mettre en oeuvre une étape de regroupement élémentaire de photons autour d'un photon prédéterminé (k) central en un évènement (ev(k)), l'étape de regroupement élémentaire consistant à : - une taille maximale d'évènement (ATmaxev) formée par un n-uplet (ATmaxevi) étant prédéterminée, rechercher autour du photon prédéterminé (k) de position (P(k)) les photons (reg(k)) de positions respectives (P(reg(k))) contenus dans une fenêtre spatiale et/ou temporelle (Fev(k)) d'évènement, la fenêtre d'évènement (Fev(k)) étant centrée autour de (P(k)) et d'amplitude (ATmaxev) et s'écrivant comme ensemble produit fl[x1(k)-ATmaxev. ;xi (k) + AT max ev], - lorsqu'au moins un photon (reg(k)) a été trouvé, regrouper entre eux les photons trouvés dans la fenêtre (Fev(k)) en créant un évènement (ev(k)) associé au photon (k) comme un enregistrement qui comprend : une position de l'évènement égal à la moyenne (Pmoy(k)) des positions des photons (reg(k)) contenus dans la fenêtre (Fev(k)) et du photon (k), les coordonnées maximales et minimales des photons contenus dans la fenêtre (Fev(k)), le photon (k) y compris, un poids d'évènement (Wev(k)) égal à la somme des poids de la totalité des photons contenus dans la fenêtre (Fev(k)).