FR 2944894 A1 20101029 FR 0952639 A 20090422 Système et procédé de conduite de tests automatisés La présente invention concerne le domaine technique de la validation et de la maintenance préventive et/ou curative d'unité électronique multicomposants comme les cartes électroniques utilisées dans des systèmes complexes tels que, par exemple, mais non exclusivement des matériels de transport ferroviaire ou analogue. En effet, en raison de normes en vigueurs, il est nécessaire de valider les unités électroniques multicomposants avant la mise en service des matériels roulants qu'elles équipent mais également tout au long de la vie des matériels afin d'en assurer une maintenance préventive et/ou curative. A cet effet, les intégrateurs ou constructeurs de matériels ferroviaires développent des systèmes de test dédiés qui sont conçus pour assurer soit les tests d'un composant spécifique constitutif du système commercialisé ou soit un ensemble de composants de ce même système. Ces systèmes de tests dédiés utilisés pour la validation du matériel avant livraison sont vendus à l'exploitant et/ou aux entités chargées d'assurer la maintenance des matériels tout au long de leur exploitation. De tels systèmes de test dédiés remplissent généralement leur fonction dans les premières années d'exploitation du système ferroviaire. Ils présentent toutefois l'inconvénient de représenter un investissement particulièrement onéreux dans la mesure où cet investissement ne peut être rentabilisé que sur l'exploitation d'un seul type de matériel. Par ailleurs, les fournisseurs de ces systèmes de tests n'en garantissent pas la maintenance pour des durées de vie compatibles avec celles des matériels dont ils assurent le contrôle. En effet, la maintenance des systèmes de test dédié est assurée pour des durées de l'ordre d'une dizaine années, alors que la durée d'exploitation du matériel roulant est supérieure à quarante années, de sorte que les systèmes de tests dédiés connus sont difficiles à maintenir en état de fonctionnement et deviennent obsolètes bien avant le matériel dont ils devraient assurer le test. Il est donc apparu le besoin d'un nouveau système de test qui puisse d'une part, être plus rapidement amorti que les systèmes de test dédié selon l'art antérieur et, d'autre part, d'être facilement maintenu de manière à suivre les évolutions techniques ou la disponibilité des composants mis en oeuvre sans nécessiter de refonte complète ou le développement d'un nouveau système de tests en cas d'obsolescence ou d'indisponibilité de ces composants. Afin d'atteindre cet objectif, l'invention concerne un ensemble comprenant, d'une part, une interface de test dédiée à au moins un type d'unité électronique multicomposants et, d'autre part, un système de conduite de test automatisé destiné à être raccordé à l'interface de test pour assurer les tests d' unité électronique multicomposants qui y seront connectées. Ainsi, l'invention concerne une interface de test dédiée à un au moins un type d'unité électronique multicomposants comprenant des voies d'entrée et de sortie de signaux. Selon l'invention cette interface de test dédiée comprend : ù au moins une interface de connexion aux voies d'entrée et de sortie d'au moins une unité électronique à tester, ù au moins un connecteur multipoints dont certains au moins sont raccordés à l'interface de connexion et qui est destiné à être connecté de manière réversible à un connecteur multipoints complémentaire d'un système de conduite de tests automatisés, ù des moyens d'identification de l'interface de test dédiée à lecture automatique. La mise en oeuvre d'au moins une interface de connexion au point d'entrée et de sortie de l'unité électronique multicomposants à tester, permet de manière avantageuse d'effectuer rapidement les raccords électriques nécessaires aux tests de l'unité électronique multicomposants. Ainsi, l'interface de test dédiée fournit à un opérateur les moyens nécessaires pour raccorder, rapidement et sans risque d'erreur, l'unité électronique multicomposants à tester à un système de conduite de tests automatisés. Il doit être remarqué qu'une même interface de test peut être conçue pour tester simultanément plusieurs unités multicomposants de même type ou des types différents. L'interface de test comprendra alors autant d'interfaces de connexion que d'unités multicomposants pouvant être testées simultanément. Par ailleurs, la mise en oeuvre d'un connecteur multipoints, qui sera standardisé d'une interface de test dédiée à l'autre, permet d'envisager une connexion rapide de l'interface de test dédié au système de conduite de tests automatisés destiné à générer les signaux d'entrée et à analyser les signaux de sortie de l'unité électronique multicomposants sous test. Ainsi, l'invention concerne également un système de conduite de tests automatisés destiné à être raccordé à une interface de test dédiée amovible selon l'invention pour le test d'au moins une unité électronique multicomposants comprenant des voies d'entrée et de sortie de signaux. Selon l'invention, le système de conduite de test comprend : au moins une unité contrôlable de génération de signaux, au moins une unité contrôlable d'acquisition de signaux, une unité contrôlable d'identification adaptée pour assurer une lecture automatique des moyens d'identification de l'interface de test dédiée, au moins un connecteur multipoints dont certains points au moins sont raccordés aux unités de génération et d'acquisition de signaux et qui est destiné à être raccordé au connecteur multipoints complémentaire d'une interface de test dédiée, une unité de commande qui comprend au moins un processeur et une unité de mémoire destinée à stocker au moins un programme d'application de test associé à une interface de test dédiée, qui contrôle les unités de génération, d'acquisition et d'identification, et qui est adaptée pour: û identifier de manière automatique l'interface de test dédiée raccordée au connecteur multipoints, û exécuter un programme d'application de test uniquement s'il est associé à l'interface de test dédiée identifiée. D'une manière générale, un tel système de conduite de test automatisé pourra être associé à plusieurs, à savoir au moins deux, interfaces de test dédiées différentes, chacune destinée à permettre le test d'au moins un type d'unité multicomposants. L'interchangeabilité des interfaces de test dédiées permet alors d'augmenter le taux d'utilisation du système de conduite de test en lui-même et donc de l'amortir plus rapidement en permettant de l'utiliser pour le test d'unités électronique multicomposants qui pourront provenir de matériels et/ou fournisseurs différents. A cet égard, il doit être noté que la plus grosse part de l'investissement représenté par un outil de test réside dans les unités de génération et d'acquisition de signaux, ainsi que dans l'unité de commande pilotant l'ensemble ce qui constitue le système de conduite de test au sens de l'invention. Dans le cadre d'une association avec plusieurs interfaces pour des types différents d'unités à tester, le système et, plus particulièrement, son unité de commande comprendra au moins un programme d'application de test pour chaque interface de test dédiée utilisée. La reconnaissance automatique de chaque interface dédiée par le système de conduite de test selon l'invention, puis l'association automatique de cette interface dédiée à un ou plusieurs programmes d'application de test garantit une très grande sécurité dans la conduite des tests et permet d'utiliser un même système de conduite de test automatisé pour plusieurs types d'unités multicomposants en minimisant les risques d'erreurs de la part des utilisateurs. Selon une caractéristique de l'invention, le système de conduite de test automatisé pourra être conçu de manière que : ù chaque programme d'application de test est associé à une configuration matérielle qui correspond aux fonctionnalités de génération et d'acquisition de signaux mises en oeuvre par le programme d'application de test et qui est enregistrée dans l'unité de mémoire, ù l'unité de commande est adaptée pour : stocker dans l'unité de mémoire la configuration matérielle effective du système correspondant les fonctionnalités offertes par les unités constitutives du système, exécuter un programme d'application de test uniquement si la configuration matérielle associée à ce programme d'application de test est compatible avec la configuration matérielle effective du système. Le contrôle de la configuration matériel du système de conduite de test automatisé augmente le niveau de sécurité en réduisant encore les risques de fausse manoeuvre et d'altération de l'unité électronique multicomposants à tester. Selon l'invention, la configuration matérielle du système de conduite de test peut être de toute nature appropriée en offrant de préférence la capacité de pouvoir traiter une grande variété de signaux tant en génération qu'en acquisition. A cet égard, une unité de génération ou d'acquisition de signaux pourra être adaptée pour générer ou respectivement acquérir des signaux électriques ou optiques selon la nature des voies d'entrée ou de sortie de l'unité électronique multicomposants à tester. Ces signaux pourront, selon les cas, être de nature analogique ou numérique. De la même manière, ces signaux pourront être des signaux de commande, des signaux de puissance, des signaux de transport d'information. Ainsi dans le cadre de l'invention le terme � signal � doit être entendu au sens large. Afin d'offrir une grande versatilité au système de conduite de test automatisé selon l'invention, ce dernier pourra comprendre une ou plusieurs unités de génération de signaux choisies parmi les types de générateurs de signaux suivants sans que cette liste soit limitative ou restrictive : alimentation programmable, alimentation de puissance programmable, liaison série de tous types (RS 232, RS422, RS485,...) générateur de fonction et d'aléa numérique, générateur de fonction et d'aléa analogique. De la même manière, la conduite de test automatisé pourra comprendre une ou plusieurs unités d'acquisition, choisies parmi les types d'unité d'acquisition suivants sans que cette liste soit limitative ou restrictive : convertisseur numérique analogique, fréquencemètre, multimètre, oscilloscope, ù liaison série de tous types (RS 232, RS422, RS485,...) Selon une caractéristique de l'invention, le système peut comprendre au moins une unité de génération de signaux analogiques et au moins une unité de génération de signaux numériques. Selon une autre caractéristique de l'invention, le système pourra comprendre au moins une unité d'acquisition de type convertisseur analogique/numérique. Selon encore une caractéristique de l'invention, le système peut comprendre une unité d'acquisition constituée par un oscilloscope. Le système pourra également comprendre des unités mixtes qui sont adaptées pour acquérir et générer des signaux et qui regroupent une ou plusieurs des fonctionnalités des types d'unités d'acquisition et des types d'unités de génération ci-dessus. Selon une caractéristique de l'invention, le système comprendra au moins une unité de génération contrôlable qui est adaptée pour générer un signal d'alimentation et qui est désignée dans le cadre de la présente invention sous la terminologie � unité d'alimentation �. Selon une autre caractéristique de l'invention, le système de conduite pourra comprendre au moins une unité contrôlable de commutation interposée entre au moins une unité d'acquisition et/ou une unité de génération et au moins un point du connecteur multipoints et l'unité de commande sera alors adaptée pour contrôler l'unité de commutation. La mise en oeuvre d'une telle unité de commutation permet une affectation dynamique des entrées ou des sorties des unités de génération et/ou d'acquisition aux différents points du connecteur de manière à permettre soit une affectation dynamique en cours de test d'une même unité électronique multicomposants, soit une affectation prenant en compte la nature de l'interface de test dédié raccordée au connecteur multipoints du système de conduite de test automatisé selon l'invention. De plus, la mise en oeuvre d'une telle unité de commutation permet la création au niveau du connecteur multipoints, de points mixtes qui pourront être alternativement connectés à une unité de génération analogique ou numérique et une unité d'acquisition analogique ou numérique. Selon une autre caractéristique de l'invention, le système comprendra au moins une unité de commutation contrôlable interposée entre plusieurs points du connecteur multipoints et l'unité de commande sera alors adaptée pour contrôler l'unité de commutation. Selon l'invention, l'unité de commande du système de conduite de tests automatisés peut être réalisée de toute manière appropriée. Dans une forme de réalisation, l'unité de commande comprendra un ordinateur associé à une interface homme machine comprenant un écran et des moyens de saisie d'information. La mise en oeuvre d'un tel ordinateur, en tant qu'unité de commande, permet d'offrir une grande souplesse d'utilisation en proposant un environnement particulièrement ergonomique à l'utilisateur. Ainsi, selon une caractéristique de l'invention, l'ordinateur constitutif de l'unité de commande met en oeuvre un système d'exploitation faisant appel à un environnement multifenêtres. Selon une autre caractéristique de l'invention, l'ordinateur, constitutif de l'unité de commande, pourra mettre en oeuvre un programme séquenceur de test adapté pour interpréter chaque programme d'application de test et pour contrôler les unités du système de test en mettant en oeuvre des macrofonctions qui seront intégrées au programme d'application de test et qui appelleront des pilotes logiciels des unités constitutives du système de génération de test. Le programme séquenceur de test pourra être de toute nature appropriée en fonction notamment du système d'exploitation mis en oeuvre par l'ordinateur constitutif de l'unité de commande. Le programme séquenceur de test pourra, par exemple, être le logiciel � TestStand � de la société National Instruments. Par ailleurs, l'ordinateur constitutif de l'unité de commande pourra également mettre en oeuvre au moins un programme d'édition/création des programmes d'application de tests. De la même manière, l'ordinateur constitutif de l'unité de commande pourra mettre en oeuvre au moins un programme d'édition/création des macrofonctions. Ces programmes pourront par exemple être choisis parmi les logiciels de la société National Instruments comme par exemple mais non exclusivement � LabWindows/CVI �. Il est à noter que l'unité de commande pourra alors être adaptée pour enregistrer la configuration logicielle qu'elle met en oeuvre, tandis que chaque programme d'application de test pourra être associé à une configuration logicielle donnée, de sorte que l'unité de commande pourra, avant mise en oeuvre des programmes d'application de test, vérifier la compatibilité entre la configuration logicielle effective du système et la configuration logicielle associée au programme d'application de test. De la même manière, Il est à noter que l'unité de commande pourra alors être adaptée pour enregistrer la configuration matérielle mise en oeuvre par le système de conduite de test automatisé, tandis que chaque programme d'application de test pourra être associé à une configuration matérielle donnée, de sorte que l'unité de commande pourra, avant mise en oeuvre des programmes d'application de test, vérifier la compatibilité entre la configuration matérielle effective du système et la configuration matérielle associée au programme d'application de test. Par ailleurs, l'invention concerne également un procédé de test de plusieurs unités électroniques de types différents comprenant les étapes suivantes : mise en oeuvre de plusieurs interfaces de test selon l'invention, chacune dédiée à un type différent d'unité électronique à tester, mise en oeuvre d'un système de test selon l'invention, dont le connecteur multipoints est adapté pour être raccordé indifféremment à chacune des interfaces de test dédiées et dont l'unité de commande comprend en mémoire au moins un programme applicatif de test associé à chacune des interfaces de test dédiées, pour le test d'une unité électronique donnée : ù raccordement du connecteur multipoints de l'interface de test dédiée correspondante au connecteur multipoints du système de test, ù raccordement à l'unité électronique à tester de l'interface de connexion à l'interface de test dédiée, ù identification automatique de l'interface de test dédiée par l'unité de commande, ù proposition par l'unité de commande d'au moins un programme applicatif de test associé à l'interface de test dédiée, ù mise en oeuvre d'un programme application de test sélectionné dans la proposition faite par l'unité de commande. Selon une forme de mise en oeuvre du procédé selon l'invention, l'unité de commande met en oeuvre un séquenceur de test et chaque programme applicatif de test comprend : ù des fonctions d'accès au séquenceur de test qui appartiennent à une bibliothèque de fonctions d'accès commune aux programmes d'application de test mis en oeuvre sur le système de test, ù des macrofonctions de commandes des unités du système de test qui sont compatibles avec le séquenceur de test et appartiennent à une bibliothèque de macrofonctions commune aux programmes d'application de test mis en oeuvre sur le système de test et qui appellent des pilotes des unités du système de test. Selon une forme de mise en oeuvre, le procédé comprend une étape d'adaptation de la configuration matérielle et de la configuration logicielle du système de test aux besoins de test de l'unité électronique à tester sans altération de la capacité du système de conduite de test à mettre en oeuvre les programmes d'application de test (PAT) présents avant l'étape d'adaptation. Cette adaptation, qui pourra être qualifiée d'additive, permet de garantir la pérennité du système de test selon l'invention. Cette adaptation additive est notamment simplifiée par la mise en oeuvre des bibliothèques de fonction d'accès et de macrofonctions qui peuvent être enrichies en fonction de l'évolution matérielle et/ou logicielle du système tout en conservant l'ensemble des fonctionnalités des versions antérieures. Par ailleurs, afin de faciliter les évolutions matérielles, le système de test pourra comprendre au moins un emplacement physique libre et les fonctionnalités de raccordement associées pour recevoir, en fonction des besoins, une nouvelle unité contrôlable. Bien entendu, les diverses caractéristiques, variantes et formes de réalisation de l'interface de test dédiée, du système de conduite de tests automatisés et du procédé de test selon l'invention, peuvent être associées les unes avec les autres selon diverses combinaisons dans la mesure où elles ne sont pas incompatibles ou exclusives les unes des autres. Par ailleurs, diverses autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortent de la description ci-dessous effectuée en référence aux dessins qui illustrent une forme non limitative de réalisation d'une interface de test dédiée selon l'invention et une forme non limitative du système de conduite de test automatisé associé ainsi que de mise en oeuvre du procédé de test conforme à l'invention. La figure 1 est une vue schématique extérieure d'un système de conduite de tests automatisés selon l'invention. La figure 2 est une perspective schématique d'un connecteur multipoint constitutif du système illustré à la figure 1/ La figure 3 est une vue schématique de la configuration matérielle du système de conduite de tests automatisés, illustré à la figure 1, en association avec une interface de test dédiée. La figure 4 est une vue schématique illustrant les relations entre la configuration matérielle et la configuration logicielle du système de conduite de tests montré aux figures 1 à 3. Un objectif de l'invention est donc d'offrir un système de génération de test automatisé polyvalent susceptible de répondre aux besoins de tests de nombreuses unités électroniques multicomposants de provenances et de fonctions diverses. Par unité électronique multicomposants, il convient d'entendre notamment une carte électronique ou un ensemble de cartes électroniques faisant intervenir des composants électroniques discrets ou circuits intégrés. Ainsi une unité électronique multicomposants peut être constituée par un circuit imprimé sur lequel sont adaptés des composants numériques et/ou analogiques. Au sens de l'invention, une unité électronique multicomposants pourrait également être constituée par une puce électronique et ses pattes de connexion. Les unités électroniques multicomposants susceptibles d'être testée dans le cadre de l'invention peuvent par exemple assurer, au sein des systèmes complexes dans lesquels elles sont destinées à être intégrées, des fonctions de contrôle, de régulation, de puissance, de commande de sécurité, d'acquisition de données, de communications sans que cette liste puisse être considérée comme exhaustive ou limitative. Afin donc de répondre aux besoins de tests d'une telle variété d'unités électronique, l'invention propose un système de conduite de test automatisé possédant une conception modulaire permettant de regrouper en un même système de nombreuses fonctions différentes tout en autorisant un remplacement des modules qui la constituent sans remise en cause de la cohérence de l'ensemble. A cet effet, l'invention propose dans une forme de réalisation préférée mais non strictement nécessaire d'intégrer l'ensemble des modules constitutifs du système de conduite de test, désigné dans son ensemble par la référence SCT, dans une structure porteuse commune telle qu'illustrée à la figure 1. Selon cet exemple, la structure porteuse 1 est constituée par l'association de deux châssis ou armoires 2, 3 juxtaposés. Les châssis 2, 3 offrent des baies pour la mise en place d'unités de génération de signaux UG d'unité d'acquisition de signaux UA, ainsi que des unités d'alimentation UP constituant un type particulier de l'unité de génération de signaux. Le système de conduite de test automatisé selon l'invention, est donc conçu de manière à pouvoir alimenter les unités électroniques multicomposants dont il assure le test, ainsi que pour être en mesure de simuler les signaux d'entrée de cette unité ou en étant en mesure de récupérer et d'analyser les signaux émis par l'unité multicomposants soit en réponse aux signaux d'entrée, soit dans un mode de fonctionnement autonome de l'unité électronique multicomposants à tester indépendamment de toute consigne ou stimuli extérieurs. Les unités d'acquisition UA et de génération UG de signaux peuvent être de toute nature appropriée dans la mesure où elles sont contrôlables par une unité de commande UC également intégrée à la structure porteuse 1. Les unités de génération de test peuvent ainsi par exemple être conçues pour être mises en oeuvre dans le cadre d'un ou plusieurs bus PCI ou encore d'un ou plusieurs bus PXI sans qu'il faille exclure d'autre types de bus ou d'interface matérielle pour le contrôle des unités. Ainsi, le système de conduite de test automatisé selon l'invention, pourra comprendre une ou plusieurs des unités suivantes : - carte multifonctions pour la génération de signaux analogiques, - carte multifonctions pour l'acquisition de signaux analogiques, - carte de génération de signaux analogiques en tension ou en courant, - multimètre, - fréquencemètre, - générateur de fonction arbitraire, - alimentation programmable, - alimentation de puissance programmable, - oscilloscope numérique, - port numérique, - liaison série de tous types (RS 232, RS422, RS485,...) - carte d'entrée/sortie numérique rapide, sans qu'une telle liste puisse être considérée comme exhaustive ou limitative. De telles unités de génération et d'acquisition de signaux peuvent par exemple être commercialisées par les sociétés National Instruments, Tektronix et/ou Agilent sans pour autant que cette liste soit exhaustive ou limitative. Il doit être remarqué que le système de test selon l'invention aura de préférence une conception modulaire de manière à permettre un démontage ou un remplacement des différentes unités qui le constituent indépendamment les une des autres. Ainsi, chaque unité contrôlable du système sera de préférence démontable et/ou remplaçable et/ou substituable indépendamment des autres unités contrôlables. Ce caractère amovible des unités contrôlables contribue à la pérennité du système de conduite de test selon l'invention. Afin de permettre un raccordement standardisé des entrées et/ou sorties des unités qui le constitue avec l'unité à tester, le système de conduite ou génération de test SCT comprend également un connecteur multipoints CMP1, dont certains des points au moins sont raccordés directement ou indirectement aux entrées et sorties des unités UP, UG et UA. Le connecteur multipoints CMP1 peut être réalisé de toute façon appropriée et, par exemple, être constitué par la juxtaposition de connecteurs normalisés multipoints. Bien entendu, chacun des points du connecteur CMP1 peut être de nature galvanique ou optique, selon le type de signal qu'il doit véhiculer. Dans une forme de réalisation préférée, mais non exclusive, illustrée par la figure 2, le connecteur multipoints CMP1 comprend un ensemble de matrices 6 de points métalliques de connexion mâle 7 formant des broches ou des pions destinées à venir s'insérer dans des points de connexion femelle d'un connecteur complémentaire CMP2, comme cela apparaîtra par la suite. Comme le montre la figure 3, certaines, au moins, des broches 7 de connexion sont raccordées directement aux unités UG, UA et UP, tandis que d'autres y sont raccordées indirectement par l'intermédiaire d'unités de commutation UCom et de bus, contrôlées par l'unité de commande Uc. La mise en oeuvre des unités de commutations UCom permet notamment de connecter un même point 7 alternativement à une unité de génération de signal et une unité d'acquisition de signal ou encore des unités de génération UG, d'acquisition UA, d'alimentation UP de natures différentes analogique ou numérique. Cette possibilité de commutation alternative permet d'obtenir un point qui peut être qualifié de point mixte. Les unités de commutations UCom mises en oeuvre peuvent alors être des matrices de commutation du commerce ou des matrices de commutation ad hoc. De la même manière, certains des points 7 du connecteur multipoints CMP1 peuvent être raccordés les uns aux autres par des unités de commutation UCom de manière à simuler des relais ou des commutations externes à l'unité électronique multicomposants à tester, désignée par la référence UsT pour Unité sous Test. L'ensemble des unités UA, UG, UP, UCom, BUS, constitutives du système de conduite de test automatisé SCT sont contrôlées par l'unité de commande UC pouvant être de toute nature appropriée. L'unité de commande UC sera de préférence, constituée par un ordinateur comprenant au moins un processeur associé à des unités de mémoires telle que des unités de mémoire vive et de mémoire de masse. Selon l'exemple illustré l'unité de commande UC est associée à une interface homme/machine IHM comprenant par exemple un moniteur M, un clavier C azerty de type standard et une souris So. Bien entendu, l'interface homme machine IHM pourrait être réalisée autrement et, par exemple, mettre en oeuvre un écran tactile, un écran et une souris seulement ou encore des moyens de visualisation et de saisie d'informations spécifiques. L'ensemble des éléments décrits précédemment et illustrés figures 1 à 3, constitue ce qui peut être appelé la configuration matérielle du système de conduite SCT selon l'invention et désigné par la référence CM. Cette configuration matérielle CM est alors contrôlée par l'unité de commande UC par la mise en oeuvre d'une configuration logicielle CL adaptée comme cela sera décrit par la suite. Afin de permettre le test d'unités électroniques multicomposants de types variés, le système de conduite de test SCT selon l'invention est associé avec plusieurs interfaces de test dédié IT, chacune conçue pour permettre le test d'un type donné d'unité électronique multicomposants. Chaque interface de test dédiée IT comprend alors un connecteur multipoints CMP2 complémentaire du connecteur multipoints CMP1 du système SCT. Dans le cas présent, le connecteur multipoints CMP2 de chaque interface de test IT présente une série de connecteurs femelles destinés à coopérer avec chacun des pions 7 ou connecteurs mâles du connecteur multipoints CMP1. La conception mécanique du connecteur multipoints CMP2 est bien entendu commune à toutes les interfaces de test IT associées au système SCT. Certains au moins des points du connecteur CMP2 sont en outre raccordés par tout moyen approprié, tel que par exemple des fils ou des nappes de fils souples à au moins une et, selon l'exemple illustré, deux interfaces de connexion IC destinées à être connectées aux points d'entrée et de sortie de l'unité électronique à tester UsT. Chacune des interfaces de connexion IC de l'unité de test dédiée IT est alors constituée par un connecteur normalisé ou un connecteur ad hoc conçu selon les caractéristiques de l'unité électronique à tester UsT. Dans le cadre du test et de la maintenance de cartes électroniques, l'interface de test IT pourra comprendre un châssis de support 10 de la carte électronique UsT comme le montre la figure 4. Ce châssis 10 est alors adapté de manière amovible sur la structure porteuse 1. Bien entendu, dans le cadre du test d'unités électroniques multicomposants de grandes dimensions, l'interface de test dédiée IT pourrait comprendre une série de connecteurs IC reliés par des câbles de longueur adaptée au connecteur multipoints CMP2. De même dans la mesure où l'interface de test serait conçue pour permettre le test de plusieurs unités électroniques multicomposants simultanément elle pourrait comprendre autant de moyens de support que d'unités électroniques multicomposants susceptibles d'être testées simultanément. Lorsqu'un opérateur doit tester une unité UsT donnée, il adapte l'interface de test dédiée IT correspondante sur le système SCT en raccordant les connecteurs multipoints CMP1 et CMP2 l'un à l'autre et en adaptant le cas échéant le châssis 10 sur la structure porteuse 1. L'opérateur dispose ainsi de l'environnement matériel nécessaire à la conduite du ou des tests de l'unité UsT et il peut, après avoir raccordé l'unité à tester UsT aux interfaces IC, conduire les tests au moyen de l'interface homme machine IHM du système. Dans le cadre de la mise en oeuvre de l'interface homme machine IHM illustrée figures 1 et 3, l'unité de commande UC met en oeuvre un système d'exploitation à interface graphique multifenêtre tel que par exemple, un système de la société Microsoft, un système d'exploitation de type Linux à interface graphique ou encore un système d'exploitation de type Mac OS. Le système d'exploitation mis en oeuvre peut notamment être un système dit en temps réel ou autre, selon les besoins. Le système d'exploitation est en outre complété de différents programmes ou ressources logicielles permettant la mise en oeuvre de façon automatisée des différentes unités matérielles constitutives du système SCT pour réaliser les tests souhaités. L'ensemble formé du système d'exploitation et des ressources logicielles constitue la configuration logicielle, référencée CL à la figure 4, du système de conduite de tests SCT. Chaque protocole de test permettant de valider ou de vérifier le fonctionnement correct de l'unité UsT se présente sous la forme d'un logiciel, appelé programme d'application de test, PAT qui décrit un ou plusieurs enchaînements de test appelés scénarii. Chaque scénario fait intervenir une ou plusieurs étapes de tests qui regroupent chacune une ou plusieurs séquences de pas de test qui regroupent chacun une ou plusieurs macrofonction. Un tel programme d'application de test PAT est généralement mis en oeuvre par un séquenceur de test qui en contrôle le déroulement. Chaque programme d'application de test PAT est associé à une unique interface de test IT donnée étant entendu que plusieurs programmes d'application de test PAT peuvent être associé à une même interface de test IT. Ainsi, l'unité de commande pourra comprendre une base de programmes d'application de tests PAT classés en relation avec l'interface de test IT pour laquelle ils ont été conçus. Afin de faciliter le travail de l'opérateur en réduisant les risques d'erreurs, chaque interface de test dédiée IT comprend alors des moyens d'identification ID à lecture automatique et le système SCT comprend une unité d'identification UI contrôlée par unité de commande UC et adaptée pour lire de manière automatique les moyens d'identification ID. Ces moyens d'indentification peuvent être réalisés de toute manière appropriée telle sous la forme d'une puce RFID, d'un code graphique ou d'un composant électronique comme une EPROM. L'identification automatique de chaque interface de test IT permet à l'unité de commande UC de, rechercher le ou les programme(s) d'application de test PAT associé à l'interface de test IT effectivement raccordée et de proposer à l'opérateur uniquement un choix de programmes d'application de test PAT compatibles avec ladite interface de test dédiée IT. Pour mettre en oeuvre le programme d'application de test qui aura été sélectionné par l'opérateur, l'unité de commande UC comprend un programme séquenceur de test S adapté tel que, par exemple, le logiciel TestStand de la société National Instruments. L'unité de commande UC comprend également des pilotes P nécessaires pour la commande des différentes unités contrôlables UA, UG, UP, UI, UCom, BUS du système SCT. Ainsi, dans une configuration logicielle CL minimale, l'unité de commande UC comprend les programmes d'application de test PAT associés à différentes interfaces de test dédiées IT, le séquenceur de test S et les pilotes P associés aux unités constitutives du système SCT. Toutefois dans une forme de réalisation de l'invention visant à garantir la pérennité et la portabilité des programmes d'application de test PAT, ces derniers mettent en oeuvre une bibliothèque FS de fonctions d'accès au séquenceur S. Cette bibliothèque FS regroupe alors toutes les fonctions d'accès au séquenceur S qui sont utilisées par l'ensemble des programmes d'application de test PAT. Ainsi, il n'est utilisé qu'une seule et même fonction pour accéder à une propriété du séquenceur quel que soit le programme d'application de test PAT accédant à cette propriété, de sorte que si la manière d'accéder à une propriété du séquenceur S doit être modifiée pour l'ensemble des programmes d'application de test, seule la fonction correspondante est modifiée sans qu'il soit nécessaire de revoir tous les programmes d'application de test. Par ailleurs, dans la mesure où la bibliothèque FS correspond à une couche logicielle interposée entre les programmes d'application de test PAT et le séquenceur S, lors de la mise en oeuvre d'une nouvelle version du séquenceur S, il suffit d'adapter la bibliothèque FS de fonction d'accès sans devoir modifier tous les programmes d'application de test PAT. Dans le même esprit, l'unité de contrôle UC comprendra une bibliothèque MF de macrofonctions, chaque macrofonction ou groupe de macrofonctions correspondant à la plus petite entité exécutable du programme d'application de test PAT à savoir le pas de test. Les macrofonctions sont chacune destinées à appeler des propriétés des pilotes contrôlant le fonctionnement des unités du système SCT. La mise en oeuvre d'une telle bibliothèque MF de macrofonctions permet de standardiser les fonctions des unités (UA, UG, UP, UCom, BUS, UI) mises en oeuvre via leur pilotes P indépendamment de leur fournisseurs et de leurs fonctionnalités exotiques. Ainsi, en cas de remplacement d'une unité par une nouvelle unité, d'un autre modèle, ayant des fonctionnalités équivalentes seules doivent être modifiées les macrofonctions correspondantes et leur façon d'interagir avec le ou les pilotes de la nouvelle unité. La mise en oeuvre d'une telle bibliothèque MF de macrofonctions constituant une couche logicielle interposée entre, d'une part, le séquenceur S et/ou chaque programme d'application de test PAT et, d'autre part, les pilotes P des unités du système SCT permet donc de s'affranchir des problèmes liés à la maintenance des dites unités en permettant leur remplacement sans affecter les fonctionnalités disponibles et utilisées par les programmes d'application de test PAT. Bien entendu, comme le montre la figure 4, il est également possible d'envisager un accès direct des programmes d'application de test PAT aux pilotes des unités du système SCT toutefois cette option sera par préférence évitée afin de garantir la portabilité des programmes d'applications de test PAT. Afin de faciliter le travail de l'opérateur, l'unité de commande UC pourra également comprendre un environnement logiciel d'édition et de compilation des programmes d'application de test ainsi que des macrofonctions, un tel environnement pouvant comprendre notamment des programmes de la société National Instruments tels que LabWindows/CVI. Il doit être remarqué que cet environnement logiciel ainsi que la bibliothèque FS de fonction d'accès au séquenceur S et la bibliothèque MF de macrofonctions peut également être mis en oeuvre sur un ordinateur indépendamment des ressources matérielles de test, afin de permettre le développement des programmes d'application de test PAT en dehors du système SCT. Par ailleurs, l'identification automatique de chaque interface de test dédiée IT et donc des programmes d'application de test PAT qui seront mis en oeuvre peut être mise à profit pour vérifier la conformité de la configuration matérielle et logicielle effective du système SCT avec celle nécessaire à une bonne mise en oeuvre du programme d'application de tests qui seront susceptibles d'être choisis par l'opérateur. A cet effet, l'unité de commande UC est adaptée pour assurer une énumération de sa configuration matérielle CM ainsi qu'une vérification de sa configuration logicielle CL et pour mémoriser ces configurations de manière à les comparer aux configurations associées aux programmes d'application de test PAT et/ou à l'interface de test dédiée IT correspondante. C'est alors seulement en cas de conformité que l'opérateur pourra lancer un déroulement automatique ou pas à pas du programme d'application de test PAT qu'il aura choisi, au moyen de l'interface homme/machine IHM. Bien entendu, le déroulement du programme d'application de test PAT s'effectue conformément aux pratiques bien connues de l'homme du métier en générant par ailleurs des journaux de mémorisation des tests effectués et des résultats conformément aux règles de l'art. De tels journaux ou leur contenu pourront alors être organisés ou stockés en base de donnée dans l'unité de commande ou sur un serveur distant auquel a accès l'unité de commande. Il apparaît donc que l'invention permet par le changement des interfaces de test utilisées en relation avec le système SCT, une grande versatilité associée à une sécurité de test et une possibilité de maintenance modulaire garantissant la pérennité de l'exploitation des systèmes dont les tests sont assurés par le système SCT selon l'invention. Il apparaît également la capacité d'évolution matérielle et logicielles du système SCT sans pour autant impacter les programmes applications PAT et interfaces de test dédié IT déjà développées. Bien entendu, diverses modifications peuvent être apportées à l'invention dans le cadre des revendications annexées. REVENDICATIONS1. Interface de test dédiée pour au moins une unité électronique multicomposants (UsT) comprenant des voies d'entrée et de sortie de signaux, caractérisée en ce qu'elle comprend : ù au moins une interface de connexion (IC) aux voies d'entrée et de sortie d'au moins une unité électronique multicomposants à tester, au moins un connecteur multipoints (CMP) dont certains au moins sont raccordés à l'interface de connexion (IC) et qui est destiné à être connecté de manière réversible à un connecteur multipoints (CMP) complémentaire d'un système de conduite de tests automatisés ; des moyens d'identification à lecture automatique. 2. Interface de test selon la revendication précédente, caractérisé en ce qu'elle comprend un châssis de support de chaque unité électronique à tester (UsT). 3. Système de conduite de tests automatisés destiné à être raccordé à une interface de test dédiée amovible selon l'une des revendications précédentes pour le test d'au moins une unité électronique multicomposants (UsT) comprenant des voies d'entrée et de sortie de signaux, système caractérisé en ce qu'il comprend : au moins une unité contrôlable de génération (UG) de signaux, au moins une unité contrôlable d'acquisition (UA) de signaux, une unité contrôlable d'identification (UI) adaptée pour assurer une lecture automatique des moyens d'identification (ID) de l'interface de test dédiée (IT), au moins un connecteur multipoints (CMP) dont certains points au moins sont raccordés aux unités contrôlables de génération (UG) et d'acquisition (UA) de signaux et qui est destiné à être raccordé au connecteur multipoints (CMP) complémentaire d'une interface de test dédiée (IT), une unité de commande (UC) qui comprend au moins un processeur et une unité de mémoire destinée à stocker au moins un programme d'application de tests (PAT) associé à une interface de test dédiée (IT), qui contrôle les unités contrôlables de génération (UG), (UP), d'acquisition (UA) et d'indentification (UI) et qui est adaptée pour :identifier de manière automatique une interface de test dédiée (IT) raccordée au connecteur multipoints (CMP), exécuter un programme d'application de tests (PAT) uniquement s'il est associé à l'interface de test dédiée (IT) identifiée. 4. Système selon la revendication précédente, caractérisé en ce que : chaque programme d'application de tests (PAT) est associé à une configuration matérielle (CM) et logicielle (CL) qui correspond aux fonctionnalités de génération (UG), (UP) et d'acquisition (UA) de signaux mises en oeuvre par le programme d'application de tests (PAT) et qui est enregistrée dans l'unité de mémoire, l'unité de commande (UC) est adaptée pour : ù stocker dans l'unité de mémoire la configuration matérielle (CM) effective du system correspondant les fonctionnalités offertes par les unités constitutives du system, stocker dans l'unité de mémoire la configuration logicielle (CL) effective du system identifiant les différents constituants logiciels de l'unité de commande UC. exécuter un programme d'application de tests (PAT) uniquement si la configuration matérielle et la configuration logicielle associée à ce programme d'application de tests (PAT) est compatible avec la configuration matérielle et logicielle effective du système. 5. Système selon l'une des revendications précédentes caractérisé en ce qu'il comprend au moins deux programmes d'application de test chacun associé à une interface de test dédiée (IT) différente et en ce qu'il est associé à deux interfaces de test dédiées (IT) différentes. 6. Système selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comprend au moins une unité contrôlable de génération (UP) adaptée pour générer un signal d'alimentation. 7. Système selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comprend au moins une unité contrôlable de commutation (UCom) interposée entre au moins une unité contrôlable d'acquisition (UA) ou/et une unité contrôlable de génération (UG) et au moins un point du connecteur multipoints (CMP) et en ceque l'unité de commande (UC) est adaptée pour contrôler l'unité de commutation (UCom). 8. Système selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comprend au moins une unité contrôlable de commutation (UCom) interposée entre plusieurs points du connecteur multipoints (CMP) et en ce que l'unité de commande (UC) est adaptée pour contrôler l'unité de commutation (UCom). 9. Système selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comprend au moins une unité contrôlable de génération (UG) de signaux analogiques et/ou numériques. 10. Système selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il comprend au moins une unité contrôlable d'acquisition (UA), par exemple de type convertisseur analogique numérique. 11. Système selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'unité de commande (UC) comprend un ordinateur associé à une interface homme machine comprenant un écran et des moyens de saisie d'information. 12. Système selon la revendication 11, caractérisé en ce que l'ordinateur, constitutif de l'unité de commande (UC), met en oeuvre un programme séquenceur de test adapté pour interpréter chaque programme d'application de tests (PAT) et pour contrôler les unités du système de test en mettant en oeuvre des macrofonctions, intégrées au programme d'application de tests (PAT), d'appel de pilotes (P) des unités du système. 13. Système selon la revendication 11 ou 12, caractérisé en ce que l'ordinateur, constitutif de l'unité de commande (UC), met en oeuvre au moins un programme d'exécution et/ou d'édition/création des programmes d'application de tests (PAT). 14. Système selon l'une des revendications 12 ou 13, caractérisé en ce que l'ordinateur, constitutif de l'unité de commande (UC), met en oeuvre au moins un programme d'exécution et/ou d'édition/création des macrofonctions. 15. Système selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les différentes unités constitutives du système sont intégrées dans ou supportées par une structure porteuse commune à l'ensemble du système. 16. Système selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il est adapté pour que chaque unité contrôlable soit démontable et/ou remplaçable et/ou substituable indépendamment des autres unités contrôlables. 17. Procédé de test de plusieurs unités électroniques de types différents comprenant les étapes suivantes : mise en oeuvre de plusieurs interfaces de test (IT) selon la revendication 1 ou 2, chacune dédiée à un type différent d'unité électronique à tester (UsT), mise en oeuvre d'un système de conduite de test (SCT) selon l'une des revendications 3 à 16, dont le connecteur multipoints (CMP) est adapté pour être raccordé indifféremment à chacune des interfaces de test dédiées (IT) et dont l'unité de commande (UC) comprend en mémoire au moins un programme applicatif de test (PAT) associé à chacune des interfaces de test dédiées (IT), pour le test d'une unité électronique (UsT) donnée : raccordement du connecteur multipoints (CMP) de l'interface de test dédiée (IT) correspondante au connecteur multipoints (CMP) du système de test, raccordement à l'unité électronique à tester (UsT) de l'interface de connexion (IC) de l'interface de test dédiée (IT), ù identification automatique de l'interface de test dédiée (IT) par l'unité de commande (UC) ; ù proposition par l'unité de commande (UC) d'au moins un programme applicatif de test associé à l'interface dédiée ; ù mis en oeuvre d'un programme application (PAT) sélectionné dans la proposition faite par l'unité de commande (UC). 18. Procédé selon la revendication 17, caractérisé en ce que l'unité de commande (UC) met en oeuvre un séquenceur de test et en ce que chaque programme applicatif de test (PAT) comprend : ù des fonctions d'accès au séquenceur de test qui appartiennent à une bibliothèque (FS) de fonctions d'accès commune aux programmes d'application de test (PAT) mis en oeuvre sur le système de test (SCT), ù des macrofonctions de commandes des unités du système de test qui sont compatibles avec le séquenceur de test et appartiennent à une bibliothèque (MF) de macrofonctions commune aux programmesd'application de test (PAT) mis en oeuvre sur le système de test (SCT) et qui appellent des pilotes des unités du système de test. 19. Procédé selon la revendication 17 ou 18 caractérisé en ce qu'il comprend une étape d'adaptation de la configuration matérielle et de la configuration logicielle du système de test aux besoins de test de l'unité électronique à tester sans altération de la capacité du système de conduite de test à mettre en oeuvre les programmes d'application de test (PAT) présents avant l'étape d'adaptation.