FR 2938100 A1 20100507 FR 0806074 A 20081031 PROCEDE DE RECADRAGE AUTOMATIQUE D'UNE IMAGE INFRAROUGE L'invention se rapporte au domaine général du traitement d'images. Elle concerne plus particulièrement le recadrage d'images, d'images infrarouges notamment, en vue de l'exploitation des informations contenues dans ces images par comparaison avec des images de référence. Dans le cadre de l'analyse du bon fonctionnement de circuits électroniques, les mesures de température effectuées sur ces circuits pendant différentes phases de leur fonctionnement permettent de diagnostiquer des défauts de fonctionnement consécutifs par exemple à des erreurs de conception ou de réalisation. La détection d'un "point chaud" sur un circuit peut ainsi indiquer qu'un des composants du circuit se trouve dans une zone de fonctionnement potentiellement destructrice. Elle peut par exemple révéler un problème systématique de réalisation de série, non décelé lors de la conception, ni même lors de la réalisation d'un prototype. Parmi les méthodes d'analyse utilisées une méthode connue consiste à utiliser l'imagerie infrarouge (IR) pour détecter d'éventuels points chauds au travers de leur signature infrarouge. L'image thermographique d'un circuit apparaît alors comme un ensemble de zones de différentes couleurs, la couleur d'une zone étant fonction de la température du circuit, ou plus exactement de l'énergie rayonnée par cette zone. L'analyse infrarouge du bon fonctionnement d'un circuit après fabrication, est généralement réalisée alors que celui-ci est mis en test (test in situ ou test fonctionnel). Une image IR du circuit est capturée et utilisée pour déterminer la température en chaque point du circuit. Pour réaliser une mesure précise et significative à partir de l'image infrarouge, il est nécessaire de prendre en compte l'émissivité de chaque élément constituant le circuit, substrat, composants ou pistes conductrices. En effet pour une température donnée chaque composant émet une onde infrarouge dont l'intensité est principalement fonction de la nature de sa surface, de sorte que deux composants portés à des températures différentes, l'une étant par exemple excessive, peuvent émettre des ondes infrarouges de même intensité. Par suite sans connaître l'émissivité correspondant à chaque composant il est impossible de déterminer si l'un de ces composants présente une température excessive. Autrement dit, il n'est pas possible de donner une mesure précise de la température d'un composant donné ou encore d'une zone donnée du circuit sans déterminer l'émissivité correspondante. En outre la détermination d'une émissivité moyenne ne permet pas une mesure précise de la température locale dans une zone donnée du circuit à partir d'une image infrarouge. Déterminer cette émissivité a priori, par le calcul par exemple, s'avère malheureusement impossible. On a donc généralement recours à des opérations de calibration afin d'en effectuer l'estimation. Dans ce contexte, l'approche classique consiste à calculer, à partir d'un circuit pris comme référence, l'émissivité moyenne sur des zones homogènes et à associer les résultats obtenus aux zones correspondantes de l'image infrarouge du circuit analysé. A cet effet, le circuit de référence est placé, hors fonctionnement, dans un environnement porté à une température stabilisée donnée (enceinte climatique). Une image infrarouge est alors réalisée puis les données extraites de l'image sont analysées. La caméra IR est étalonnée sur un corps noir et n'est sensible qu'aux luminances, de sorte que bien que le circuit soit porté de manière uniforme à une température donnée, la caméra infrarouge délivre une image présentant des zones ayant apparemment des températures différentes. Par suite, connaissant la température à laquelle est porté le circuit, on détermine l'émissivité de chaque zone homogène. Dans un processus de test automatique, les données de température fournies par la caméra infrarouge sont généralement mémorisées sous forme de pixels, la température associée à chaque pixel étant mémorisée dans une table et référencée par la position du pixel sur l'image. Par suite, l'étalonnage consiste à déterminer la valeur d'émissivité à associer à chaque zone du circuit présentant une température apparente (mesurée par la caméra) homogène, connaissant la position du circuit de référence par rapport à la caméra lors de la réalisation de l'image infrarouge de référence ainsi que la température d'étalonnage à laquelle le circuit est porté. Les valeurs d'émissivité ainsi calculées sont alors utilisées pour déterminer sur chaque circuit mis en test, les températures respectives des zones correspondant aux zones déterminées à partir de l'image du circuit de référence. Pour ce faire une image infrarouge du circuit sous test est réalisée et les pixels formant cette image, ou plus exactement les zones de l'image homogènes en température, sont associés aux valeurs d'émissivité déterminées lors de l'étalonnage. Cette association nécessite une identification de chaque zone de l'image de mesure à la zone correspondante de l'image de référence. Ce type d'automatisation se heurte à un problème technique de taille qui consiste à associer de manière automatique la bonne valeur d'émissivité estimée sur le circuit de référence à chacune des zones du circuit analysé. Or dans l'environnement de test, le circuit et l'appareil de prise de vue sont agencés l'un par rapport à l'autre de manière semblable mais non identique à l'agencement d'étalonnage. II en résulte que le positionnement du circuit par rapport au repère de l'appareil de prise de vue peut être légèrement différent de ce qu'il était lors de l'étalonnage. Par suite, les pixels représentant une même zone sur l'image de référence et sur l'image de test, n'occupent pas toujours des positions identiques sur chaque image de sorte que sans opération de remise en coïncidence, l'association automatique, telle quelle, d'une valeur d'émissivité à une zone de l'image infrarouge du circuit sous test (image de mesure) conduit à une estimation erronée de la valeur de la température de la zone considérée. La remise en coïncidence, doit prendre principalement en compte l'écart, entre la phase d'étalonnage et les phases de test successives, de positionnement du circuit par rapport à la caméra infrarouge. Elle doit également prendre en compte la variation de grandissement pouvant avoir affecté la prise de vue entre ces deux phases. En l'état actuel de l'art il n'existe pas de moyen permettant d'effectuer de manière entièrement automatique l'ensemble des opérations d'étalonnage et de mesure. En particulier, aucune méthode ne permet de réaliser de manière satisfaisante un recadrage automatique d'une image infrarouge par rapport à une autre On est donc contraint de procéder en plusieurs étapes. La première étape consiste à réaliser l'étalonnage en déterminant sur une image infrarouge de référence les zones homogènes et les valeurs d'émissivité associées. La deuxième étape consiste ensuite à réaliser une image infrarouge du circuit sous test. La troisième étape consiste enfin à mettre en coïncidence l'image obtenue avec l'image obtenue lors de la phase d'étalonnage. Par mise en coïncidence on entend ici, l'action consistant à déterminer à partir de l'image de référence, la valeur d'émissivité à associer à chacune des zones de l'image de mesure. Les deux premières étapes peuvent être réalisées de manière automatique, tandis que la troisième nécessite généralement l'intervention d'un opérateur. C'est pourquoi dans la pratique, en l'état actuel de l'art, on se contente généralement d'estimer une valeur d'émissivité moyenne à partir de l'image de référence que l'on applique à l'ensemble des zones du circuit. Ceci permet de s'affranchir de la troisième étape et de mettre en oeuvre un processus entièrement automatique. En revanche cela rend la mesure de la température locale moins précise et diminue l'efficacité de l'utilisation d'images infrarouges pour déterminer les points chauds. Un but de l'invention est de rendre possible une automatisation complète d'une mesure précise de la température d'un circuit. Un autre but de l'invention est de proposer un moyen d'assurer le recadrage automatique de deux images d'un même objet prises dans des conditions d'agencement différentes de l'objet et des moyens de prise de vue. A cet effet l'invention a pour objet un procédé pour réaliser en automatique le recadrage d'une image de mesure infrarouge de la température d'un circuit en fonctionnement sur une image infrarouge de référence réalisée sur un circuit semblable hors fonctionnement et porté à une température uniforme, les deux images infrarouges étant exploitées sous la forme de matrices de pixels. Le procédé selon l'invention comporte les étapes suivantes: - une première étape durant laquelle on effectue une rotation de l'image de mesure, la valeur de l'angle de rotation étant déterminée par détection des contours des zones de l'image homogènes en température, par détermination de directions prépondérantes dans l'image et par détermination de l'écart angulaire séparant ces directions prépondérantes des directions prépondérantes correspondantes de l'image de référence; - une deuxième étape durant laquelle on modifie la taille de l'image de mesure réorientée obtenue à l'issue de la sous-étape précédente, la taille de l'image étant modifiée d'un facteur d'échelle K, le facteur K étant déterminé par appariement des points caractéristiques des deux images, et analyse de l'écart entre la distance des points caractéristiques de l'image de mesure corrigée à une origine donnée et la distance à cette même origine des points caractéristiques de l'image de référence auxquels ils sont appariés; - une troisième étape durant laquelle l'image obtenue à l'issue de la deuxième sous-étape est translatée de façon à superposer le repère de position de cette image au repère de position de l'image de référence. Selon un mode de mise en oeuvre préféré on effectue, durant la 10 première étape, la détection des contours de l'image de mesure et de l'image de référence par la méthode de Canny. Selon un mode de mise en oeuvre préféré pouvant être combiné avec le précédent, on détermine, durant la première étape, le décalage angulaire 15 des droites prépondérantes en appliquant une transformation de Hough dans un plan (distance, angle de rotation) aux pixels constituant les contours des images et en effectuant une corrélation circulaire entre les vecteurs des maxima de la transformée de hough de chacune des images. 20 Selon un mode de mise en oeuvre préféré pouvant être combiné avec les précédents, les points d'intérêt recherchés lors de la deuxième étape sont des coins déterminés au moyen du détecteur de Harris. Selon un mode de mise en oeuvre préféré, pouvant être combiné avec 25 le précédent, durant la deuxième étape la détermination du facteur d'échelle K est réalisée en découpant l'image de mesure corrigée en rotation et l'image de référence en sous-images, chaque sous-image étant centrée sur un coin et étant caractérisée par ses descripteurs de Hu, puis en effectuant l'appariement des sous images de l'image de mesure avec les sous-images 30 de l'image de référence, l'appariement étant réalisé en calculant les éléments D1,j de la matrice de distance D définie par: 7 D1,, 1 (1) (i) - m) m=1 où i représente la i-ème sous-image de l'image de mesure et j la jème sous-image de l'image de référence et (1),(0 le moment de Hu d'indice m de la sous-image i. Selon un mode de mise en oeuvre préféré, pouvant être combiné avec les précédents, on effectue durant la troisième étape une corrélation croisée, suivant les deux dimensions, de l'image de mesure corrigée obtenue à l'issue de la deuxième étape et de l'image de référence, de façon à déterminer par rapport à deux directions perpendiculaires l'écart de positionnement existant ~o entre les deux images. L'invention a également pour objet une application du procédé selon l'invention pour réaliser la mesure de la température réelle en tout point d'un circuit électronique en fonctionnement, le procédé d'application comportant 15 trois étapes: - une première étape de détermination de la matrice des émissivité à partir de la matrice de pixels correspondant à l'image de référence, la matrice des émissivité caractérisant l'émissivité de chaque point du circuit de référence représenté par un pixel sur l'image de référence; 20 - une seconde étape de recadrage durant laquelle on procède à la rotation de l'image de mesure, à la modification de son grandissement et la translation de cette image, de façon à construire une image de mesure corrigée dont les pixels coïncident avec ceux de l'image de référence; - une troisième étape de correction durant laquelle la valeur de chaque 25 pixels de la matrice de l'image infrarouge de mesure recadrée est modifiée en fonction de la valeur de l'émissivité mesurée à partir du pixel correspondant de l'image de référence. Selon l'invention la deuxième étape du procédé d'application met en 30 oeuvre le procédé de recadrage selon l'invention. Selon un mode de mise en oeuvre préféré, on calcule durant la troisième étape l'énergie théoriquement émise par le circuit au point considéré. Le calcul est effectué à partir de la température mesurée pour ce 35 point par la caméra infrarouge. On multiplie ensuite cette valeur par la valeur de l'élément de la matrice d'émissivité correspondant, puis on calcul la valeur de la température réelle du circuit au point considéré en utilisant la valeur. Le procédé selon l'invention permet avantageusement la mise en oeuvre de mesures automatiques précises de températures à partir d'images infrarouges ce qui permet d'éviter la pose de capteurs sur le circuit lors du test en fonctionnement de ce dernier. Les caractéristiques et avantages de l'invention seront mieux 10 appréciés grâce à la description qui suit, description qui s'appuie sur les figures annexées qui représentent: - la figure 1, un organigramme général du procédé selon l'invention - la figure 2, une illustration présentant un exemple type d'image 15 de référence; - la figure 3, une illustration présentant un exemple type d'image de mesure, l'image de mesure présentant un décalage à l'image de référence; - la figure 4, une illustration relative à la première sous-étape de la 20 deuxième étape du procédé selon l'invention; - les figures 5 à 8, des illustrations relatives à la deuxième sous-étape de la deuxième étape du procédé selon l'invention; - les figures 9 à 14, des illustrations relatives à la troisième sous-étape de la deuxième étape du procédé selon l'invention; 25 - la figure 15 une illustration de l'image obtenue à l'issue de la deuxième sous-étape de la deuxième étape du procédé selon l'invention; - la figure 16 une illustration de l'image infrarouge obtenue après recadrage et correction de la température au moyen des informations tirées de l'image de référence. 30 - la figure 17, un organigramme général d'un procédé de mesure de la température réelle d'un circuit à partir de son image infrarouge, ce procédé mettant en oeuvre le procédé de recadrage d'image selon l'invention. On décrit dans un premier temps les étapes du procédé selon 35 l'invention tel qu'illustré par la figure 1. Comme il a été dit précédemment, le procédé selon l'invention a en particulier pour objet d'effectuer le recadrage géométrique de l'image infrarouge d'un circuit sous test (image de mesure) et l'image infrarouge d'un circuit pris comme référence (image de référence), cette image étant réalisée alors que le circuit de référence est porté hors fonctionnement, à une température constante et uniforme. L'image infrarouge du circuit de référence est exploitée sous la forme d'une matrice de pixels 12 chaque pixel étant repéré par sa position (x,y) sur l'image. Chaque pixel représente ici la valeur de la température au point de l'image considéré. Cette matrice de pixels est appelée matrice de référence. L'image de mesure est ici définie par sa matrice de pixels 11 de manière identique à l'image de référence. Le recadrage géométrique a pour objet de permettre l'identification de zones homogènes de l'image de mesure aux zones homogènes correspondantes de l'image de référence et de permettre l'association automatique de la valeur d'émissivité déterminée pour chacune des zones homogènes de l'image de référence avec la zone correspondante de l'image de mesure. Les zones homogènes étant définies aussi bien pour l'image de mesure que pour l'image de référence par les pixels qui les composent, il est nécessaire pour que l'association automatique d'une zone de l'image de mesure avec la valeur de l'émissivité correspondante tirée de l'image de référence soit possible, que l'orientation des deux images par rapport à la caméra infrarouge soit identique et que les deux images soient à la même échelle. Or, considérant que l'image de référence et l'image de mesure ont été réalisées dans des environnements différents, enceinte climatique pour l'image de référence et environnement de test pour l'image de mesure, il importe ici de considérer que les prises de vues correspondantes peuvent avoir été effectuées, comme l'illustrent les figures 2 et 3, avec un cadrage différent d'une prise de vue à l'autre. Cette différence de cadrage a pour conséquence que les deux images ne peuvent pas être superposées l'une sur l'autre, de sorte qu'associer sans précaution à chaque pixel de la matrice 11 correspondant à l'image de mesure, l'émissivité déterminée pour le pixel repéré par les mêmes coordonnées dans la matrice 12 de référence peut conduire, à associer à un pixel de l'image de mesure une valeur d'émissivité correspondant à un point du circuit représenté en réalité par un autre pixel de cette même image. Par suite la correction effectuée est erronée. Le rôle de la seconde étape est de réaliser sur l'image de mesure les opérations nécessaires au recadrage des deux images. Comme l'illustre la figure 1, le procédé selon l'invention comporte trois 10 étapes: - une première étape 13 durant laquelle on effectue une rotation de l'image de mesure relativement à l'image de référence; - une deuxième étape 14 durant laquelle on effectue une mise à l'échelle de l'image de mesure modifiée, obtenue à l'issue de la première 15 sous-étape, relativement à l'image de référence; - une troisième étape 15 durant laquelle on effectue une translation de l'image de mesure modifiée, obtenue à l'issue de la deuxième sous-étape, relativement à l'image de référence. A l'issue de ces trois étapes on dispose d'une image infrarouge de 20 mesure 16 recadrée par rapport à l'image de référence. La première étape 13 met en oeuvre trois opérations successives Ces opérations sont effectuées sur l'image de mesures ainsi que sur l'image de référence: 25 - une première opération, Illustrée par la figure 4, de détection des contours des zones apparaissant sur l'image infrarouge comme homogènes en température; - une deuxième opération, illustrée par les figures 5 et 6, ayant pour objet de déterminer, sur l'image de mesure et sur l'image de référence, 30 l'orientation majoritaire des lignes de contours ainsi définies par rapport à une direction absolue donnée; - une troisième opération illustrée par les figures 6 et 8, ayant pour objet de comparer les orientations majoritaires respectives des images de mesure et de référence et de déterminer la rotation à appliquer à l'image de mesure pour faire coïncider son orientation avec celle de l'image de référence. Selon l'invention, les contours de chacune des images sont extraits par toute méthode connue. Dans un mode de mise en oeuvre préféré on utilise la méthode connue sous le nom de "méthode de Canny". On rappelle ici que cette méthode commence par un filtrage gaussien de l'image considérée, qui permet de s'affranchir des problèmes liés au bruit de l'image. Elle se poursuit par le calcul et la sommation des gradients directionnels (verticaux et horizontaux) de façon à obtenir I� La deuxième étape 14 met quant à elle en oeuvre deux opérations successives: - une première opération, illustrée par la figure 9 visant à déterminer des points d'intérêt sur l'image de mesure et sur l'image de référence; - une seconde opération, illustrée par les figures 10 à 13, visant à déterminer le facteur d'échelle K liant l'image de mesure à l'image de référence, à partir des points d'intérêt définis précédemment. En ce qui concerne la première opération de détermination des points d'intérêt, le procédé selon l'invention procède à la détection des coins présents sur l'image. On rappelle ici qu'un coin peut être défini comme l'intersection de deux contours. Un coin peut aussi être défini comme un point pour lequel il y a deux directions de contours prépondérantes différentes dans un voisinage local du point. Plus généralement, dans une image, un point d'intérêt peut être défini comme un point ayant une position bien définie. Par suite, un coin constitue un point d'intérêt, qui peut être reconnu d'une image donnée d'un objet, une image infrarouge dans le cas présent, à une autre image du même objet. Il existe plusieurs méthodes connues de l'homme du métier permettant la détection des coins présents sur une image. Cependant, dans un mode de mise en oeuvre préféré, le procédé selon l'invention met en oeuvre la méthode connue sous le nom de "méthode de Harris". Conformément à la méthode de Harris, on détermine les gradients G, et Gy de l'image considérée. Les matrices A = (G, )2, B = (Gy )2 et A = (G, )2 sont ensuite calculées, puis on applique un filtrage gaussien 2D à ces matrices. On calcule ensuite l'opérateur R défini par la relation R = (A x B ù C2 ) ù k x (A + B) , où k est un facteur empirique arbitraire dont la valeur typique est 0,04. Puis on retient les coins les plus significatifs à 5 30 pixels près. Le résultat de cette première opération peut être représenté comme l'illustre la figure 9 par une image sur laquelle sont représentés les différents coins 91 ainsi déterminés. L'objet de la suite de l'étape 14 est de déterminer parmi ces coins, ceux qui correspondent réellement aux contours d'une 35 zone. En ce qui concerne la seconde opération, le calcul du facteur d'échelle proprement dit, celle-ci consiste dans un premier temps à définir des sous-images de l'image considérée, chaque sous-image, d'une taille de quelques pixels carrés, étant centrée sur un coin 91. La taille de chaque sous-image est par ailleurs fixée de manière à obtenir un résultat satisfaisant, par exemple à 5 pixels (verticalement et horizontalement) autour du point d'intérêt considéré. Le but de cette opération est de limiter le nombre de points d'intérêt à partir desquels lesquels le calcul du facteur d'échelle est effectué, en ne conservant que les points d'intérêt (i. e. les coins) correspondant réellement au contour d'une zone homogène. Cette opération de segmentation en sous-image est réalisée à la fois sur l'image de mesure et sur l'image de référence. On détermine ensuite pour chaque sous-image les moments de Hu (ou descripteurs de Hu) qui lui sont associés. Les descripteurs de Hu se présentent avantageusement comme des invariants algébriques qui peuvent être calculés sur des images. Ces invariants restent identiques pour les différentes similitudes (ils sont en revanche sensibles à l'illumination). On rappelle ici que pour une image donnée les moments de Hu sont définis à partir à partir des moments normalisés pp+q d'ordre 3 de l'image par les relations suivantes: (1)1 = P2,o +P0,2 (1)2 =(1 2,0 ûP0,2)2 +4'1;1 (1)3 = (1 3,o - 3N1,2 )2 +(3p2,1 -P0,3 )2 (1)4 =(P3,0 +P1,2)2 +(P2,1 +p0,3)2 (1)5 -(P3,0 - 3P1,2 )' (P3,0 + P1,2 )' [(N3,0 +P1,2)2 - 3(P2,1 + P0,3)2] +(31 2,1 P0,3)'(P2,1 +P0,3)'[3(p3,0 +P1,2)2 ù(1 2,1 +P0,3)2] (1)6 =(P2,0 ùP0,2)'[(N3,0 +P1,2)2 ù(P2,1+P0,3)2J û 4N1,1 ' (13,0 + P1,2 ) ' (12,1 + 10,3) l ~7 =(3P2,1 P0,3)'(P3,0 +P1,2)'[(P3,0 +P1,2)2 -3(1 2,1 +N0,3)2] + (P3,0 -3P1,2 )' (P2,1 + P0,3 )' [3(P3,0 +P1,2)2 +(P2,1 + 1 0,3 )2 J [1] Les moments d'ordres p + q d'une image sont par ailleurs définis par la formule : vp, q = jxP • yq • I(x, y) • dx, dy [2] R2 5 où I(x,y) représente la valeur du pixel situé à la position (x,y) sur l'image dans un repère fixe par exemple lié à la caméra. Chaque sous-image de l'image de mesure et de l'image de référence 10 est alors ainsi représentée par un vecteur contenant les sept moments de Hu: (41,42,4)34,4,d)5,1CI)6,(7). Une matrice de distance D est alors calculée entre les sous-images constituant les deux images, l'élément situé à la i-ème ligne et la j-ème colonne de la matrice étant défini en utilisant la relation suivante: 15 Di,j E \~m(1) - `Ym(i) m=1 où i représente la i-ème sous-image de l'image de mesure et j la j-ème sous-image de l'image de référence. 20 Selon l'invention, les éléments de cette matrice font ensuite l'objet d'un appariement d'une image à l'autre. Une sous-image n de l'image de mesure est appariée à une sous-image m de l'image de référence si pour cette sous- image n, la distance Dn,m représente la valeur minimum de Dn,i et si pour la 25 sous-image m la distance Dn,m représente la valeur minimum de D;,m. L'appariement s'effectue ainsi en deux analyse simultanées. Autrement dit, la sous-image i de l'image 1 n'est apparié à la sous-image j de l'image 2 que si i reconnaît j comme son image et que réciproquement j reconnaît i comme son image. Par suite le processus d'appariement est un processus itératif 30 pour lequel après chaque itération les appariements effectués sont retirés des appariements possibles, une image ne pouvant être appariée qu'à une seule image. A l'issue de ce processus on peut définir une matrice de distance dite "réduite" qui, comme l'illustre la représentation de la figure 10 )2 contient, sous-forme réduite, pour chaque point 101 représentant une distance séparant deux sous-image appariées suivant deux axes orthogonaux de référence Ox, Oy, le nombre de sous-images appariées correspondant à ce point. L'opération d'appariement ayant été réalisée, les images appariées peuvent alors être déduites l'une de l'autre, à condition que la rotation ait été effectuée correctement, par simple application d'une homothétie et/ou d'une translation. La suite de la description expose une façon de déterminer le rapport d'homothétie K. Soient X. et Y; les coordonnées de la sous-image i dans l'image de mesure et Xi, Yi de la sous-image j dans l'image de référence. Les sous- images i et j étant appariées, on peut écrire les relations suivantes: Xi =KxXi +X0, Yi =KxYi +Yo Xi ùYi =Kx(Xi ùYi )+(Xo ùYo). Où K représente le facteur d'échelle entre les 2 images, X0 le décalage, exprimé en nombre de pixel, selon l'axe horizontal entre les 2 images et Yo le décalage vertical. Chaque appariement de deux sous-images correspond donc comme l'illustrent les figures 11 à 13, à une droite dans les espaces respectifs (K, Xo) , (K, Yo) et (K, Xo û Yo) de sorte que, dans la pratique, en fonction des appariements retenus, les droites correspondant aux différents appariements effectués se coupent majoritairement en un point 111, 121, et 131 dont l'abscisse correspond au facteur d'échelle K qui définit le grandissement relatif des deux images et dont l'ordonnée correspond selon la représentation choisie à un décalage horizontal (figure 12) ou vertical (figure 13) ou bien un décalage dans un plan (figure 11). Il est donc possible de déterminer, selon la qualité de l'appariement effectué au préalable, un ou plusieurs points au niveau desquels un nombre maximum de droites se coupent, chaque point définissant un facteur d'échelle K particulier. Par suite, selon l'invention, les maximums de chaque plan pour chaque facteur d'échelle K sont alors sommés pour déterminer le facteur d'échelle 141 le plus probable comme l'illustre la figure 14. On détermine ainsi avantageusement le facteur d'échelle à appliquer pour passer de l'image de référence à l'image de mesure et inversement. La Troisième étape 15 est appliquée à l'image de mesure corrigée 151 illustrée par la figure 15. Cette image corrigée, réorientée et remise à l'échelle par rapport à l'image de référence ne présente plus, par rapport à cette image, dans le cas le plus défavorable, qu'un décalage en translation matérialisé par le décalage des systèmes d'axes 152 et 153 sur la figure 15. Par suite la troisième sous-étape 23 consiste essentiellement à opérer une translation de l'image de mesure modifiée, de façon à superposer les deux systèmes d'axes. Pour ce faire, une corrélation croisée suivant les deux dimensions est appliquée à l'image de mesure de façon à déterminer les déplacements horizontaux et verticaux qui permettent de maximiser la similitude des 2 images. Une fois déterminés, ces déplacements sont appliqués à l'image corrigée 151 de sorte que l'on obtient alors l'image recadrée 16 présentée sur la figure 16. A l'issue de la troisième étape 15 du procédé selon l'invention on dispose ainsi d'une image de référence et d'une image de mesure 16 (cf. figure 17) cadrée de la même façon que l'image de référence (cf. figure 3). II est possible d'utiliser le procédé selon l'invention décrit précédemment dans une application générale consistant en la détermination automatique des points chauds sur un circuit électrique ou électronique mis en test de bon fonctionnement, après fabrication par exemple. Dans cette application, on exploite simultanément l'image infrarouge du circuit sous test (image de mesure) et l'image infrarouge du circuit pris comme référence (image de référence), cette image étant réalisée alors que le circuit de référence est porté hors fonctionnement, à une température constante et uniforme. Le procédé pour effectuer une telle détermination comporte notamment, comme l'illustre la figure 17 les étapes suivantes: - une première étape 171 de calcul de l'émissivité en chaque point du circuit considéré; - une deuxième étape 172 de recadrage de l'image infrarouge réalisée une image de référence; - une troisième étape 173 de correction durant laquelle la valeur de chaque pixels de la matrice de l'image infrarouge de mesure recadrée est modifiée en fonction de la valeur de l'émissivité mesurée à partir du pixel correspondant de l'image de référence. La première étape 171 consiste tout d'abord à déterminer à partir d'une image de référence la matrice d'émissivité correspondante. L'image infrarouge du circuit de référence est exploitée sous la forme d'une matrice de pixels 12 chaque pixel étant repéré par sa position (x,y) sur l'image. Chaque pixel représente ici la valeur de la température au point de l'image considéré. Cette matrice de pixels est appelée matrice de référence. La première étape 171 consiste ensuite à comparer, pour chacun des pixels de l'image 12, la valeur de température associée à ce pixel avec la température réelle du point correspondant sur le circuit de référence celui-ci étant porté à une température constante et uniforme. La différence entre la température réelle et la température mesurée est ensuite utilisée pour déterminer l'émissivité du circuit au point. On rappelle ici que l'émissivité c d'un élément correspond au rapport de l'énergie thermique émise (rayonnée) par l'élément considéré pour une température donnée à l'énergie émise (rayonnée) par un corps noir porté à la même température (rapport sans dimension inférieur à 1). L'énergie thermique est ici déterminée à partir de la Loi de Planck et de la réponse du capteur de la caméra infrarouge en fonction des longueurs d'onde reçues. On obtient ainsi à l'issue de la première étape une matrice d'émissivités qui caractérise chaque point du circuit de référence par son émissivité. La deuxième étape 172 met en oeuvre les trois étapes 13, 14 et 15 du procédé de recadrage selon l'invention décrit précédemment. Elle n'est donc pas détaillée ici. La troisième étape 173 consiste quant à elle à calculer la température réelle du circuit en chaque point en utilisant la température déterminée à partir de l'image de mesure recadrée, obtenue à l'issue de l'étape 172, et la valeur de l'émissivité du point considéré. On produit ainsi une matrice de mesures corrigées 16, qui permet de déterminer les écarts réels de température entre les différentes zones du circuit et d'identifier les zones où la température peut être considérée comme révélatrice d'un problème de disfonctionnement. Par suite, à partir de la valeur du pixel correspondant de l'image corrigée, on obtient de manière automatique la valeur réelle de la température du point du circuit représenté par ce pixel. De manière classique, la température déduite de l'image infrarouge de mesure est corrigée en appliquant pour chaque pixel de la matrice de mesure 11, ou pour chaque zone homogène en température, la méthode suivante: Soit f la fonction reliant la température du point considéré à l'énergie vue par la caméra pour le pixel correspondant à ce point pour une émissivité parfaite. À partir de l'image de calibration, on peut donc déterminer une image de l'énergie vue par la caméra. Or, la température de calibration est connue et l'on peut aussi déterminer l'énergie théorique qui aurait dû être vue pour une émissivité parfaite (égale à 1). La matrice des émissivités est alors obtenue comme le rapport entre l'énergie réellement vue et l'énergie théorique attendue. À partir de l'image de mesure, on peut également déterminer la matrice des énergies vues. En divisant cette énergie vue pour chaque pixel par l'émissivité correspondante, on obtient l'énergie qui aurait été émise si l'émissivité avait été parfaite. On peut alors utiliser la fonction inverse de f pour déterminer la température réelle. REVENDICATIONS1. Procédé pour réaliser en automatique le recadrage d'une image de mesure infrarouge (31) d'un circuit en fonctionnement sur une image infrarouge de référence (21) réalisée sur un circuit semblable hors fonctionnement et porté à une température uniforme, les deux images infrarouges étant exploitées sous la forme de matrices de pixels (11, 12), caractérisé en ce qu'il comporte les étapes suivantes: - une première étape (13) durant laquelle on effectue une rotation de l'image de mesure (31), la valeur de l'angle de rotation étant déterminée par détection des contours (42) des zones de l'image homogènes en température, par détermination de directions prépondérantes dans l'image (31) et par détermination de l'écart angulaire séparant ces directions prépondérantes des directions prépondérantes correspondantes de l'image de référence (21); - une deuxième étape (14) durant laquelle on modifie la taille de l'image de mesure réorientée obtenue à l'issue de l'étape précédente (13), la taille de l'image étant modifiée d'un facteur d'échelle K, le facteur K étant déterminé par appariement des points caractéristiques des deux images, et analyse de l'écart entre la distance des points caractéristiques de l'image de mesure corrigée à une origine donnée et la distance à cette même origine des points caractéristiques de l'image de référence auxquels ils sont appariés; - une troisième étape (15) durant laquelle l'image (151) obtenue à l'issue de la deuxième étape (14) est translatée de façon à superposer le repère de position (152) de cette image au repère de position (153) de l'image de référence. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que durant la première étape (13) on effectue la détection des contours de l'image de mesure (31) et de l'image de référence (21) par la méthode de Canny. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que durant la première étape (13) on détermine le décalage angulaire desdroites prépondérantes en appliquant une transformation de Hough dans un plan (distance, angle de rotation) aux pixels constituant les contours (42) des images et en effectuant une corrélation circulaire entre les vecteurs des maxima de la transformée de hough de chacune des images. 4. Procédé selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que durant la deuxième étape (14) les points d'intérêt recherchés sont des coins (91) déterminés au moyen du détecteur de Harris. 5. Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que durant la deuxième étape (14) la détermination du facteur d'échelle K est réalisée en découpant l'image de mesure corrigée en rotation et l'image de référence (21) en sous-images, chaque sous-image étant centrée sur un coin (91) et étant caractérisée par ses descripteurs de Hu puis en effectuant l'appariement des sous images de l'image de mesure corrigée en rotation avec les sous-images de l'image de référence (21), l'appariement étant réalisé en calculant les éléments DiJ de la matrice de distance D définie par: 1,j =7 ( m(1) - om (J))2 m = où i représente la i-ème sous-image de l'image de mesure et j la jème sous-image de l'image de référence et (pm(i) le moment de Hu 25 d'indice m de la sous-image i. 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que durant la troisième étape (15) on effectue une corrélation croisée suivant les deux dimensions de l'image de mesure 30 corrigée (151) obtenue à l'issue de la deuxième étape (14) et de l'image de référence (21), de façon à déterminer par rapport à deux directions perpendiculaires l'écart de positionnement existant entre les deux images. 7. Utilisation du procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes pour réaliser en automatique la mesure de la température réelle d'un circuit en fonctionnement à partir de son image infrarouge (31), caractérisée en ce que le recadrage de l'image infrarouge du circuit (31) sur l'image infrarouge de référence (21) est suivi d'une étape (173) de correction durant laquelle la valeur de chaque pixel de la matrice de l'image infrarouge de mesure (31) recadrée (16) est modifiée en fonction de la valeur de l'émissivité mesurée à partir du pixel correspondant de l'image de référence (21). 8. Utilisation selon la revendication 7, caractérisée en ce que durant l'étape de correction (173) on calcule l'énergie théoriquement émise par le circuit au point considéré, à partir de la température mesurée pour ce point par la caméra infrarouge, on multiplie cette valeur par la valeur de l'élément de la matrice d'émissivité correspondant, puis on calcul la valeur de la température réelle du circuit au point considéré en utilisant la valeur.