FR 2937138 A1 20100416 FR 0856870 A 20081010 Système d'analyse optique d'un échantillon La présente invention concerne un système d'analyse optique d'un échantillon. Plus particulièrement, l'invention se rapporte à un tel système qui comporte une source pompe-sonde laser modulée d'analyse de l'échantillon, adaptée pour délivrer à partir de l'échantillon, d'une part un signal de référence et d'autre part un signal d'analyse de celui-ci et des moyens d'analyse de ces signaux pour délivrer une information de réponse de l'échantillon. Les sources pompe-sonde laser modulées d'analyse sont déjà bien connues dans l'état de la technique et de tels systèmes d'analyse sont utilisés pour étudier des phénomènes ultra rapides et dynamiques en utilisant des photodiodes associées à des systèmes de détection synchrone permettant la suppression de la majeure partie du bruit indésirable et permettant ainsi une détection de signaux extrêmement faibles. Le problème de l'utilisation de ces photodiodes est qu'elles ne permettent d'obtenir qu'une analyse ponctuelle, ou tout au mieux à faible résolution spatiale, de la réponse. Le but de l'invention est donc de résoudre ces problèmes. A cet effet l'invention a pour objet un système d'analyse optique d'un échantillon du type comportant une source pompe-sonde laser modulée d'analyse de l'échantillon, adaptée pour délivrer à partir de l'échantillon, d'une part un signal de référence et d'autre part un signal d'analyse de celui-ci et des moyens d'analyse de ces signaux pour délivrer une information de réponse de l'échantillon, caractérisé en ce que les moyens d'analyse comprennent des moyens formant imageur matriciel des signaux de référence et d'analyse pour délivrer des images correspondantes de ces signaux à des moyens de traitement de ces images pour en extraire une image de la réponse de l'échantillon. Selon d'autres aspects de l'invention, le système d'analyse optique comprend l'une des caractéristiques suivantes : - la source comporte des moyens de modulation en amplitude du faisceau de pompe laser avant son application à l'échantillon, - la source comporte des moyens, synchronisés sur les moyens de modulation, de démultiplexage optique du faisceau issu de l'échantillon, en signaux de référence et d'analyse, - les moyens formant imageur matriciel sont formés par deux imageurs distincts, - les moyens formant imageur matriciel sont formés par deux zones distinctes d'un même imageur, - l'imageur matriciel est un imageur CCD, - l'imageur matriciel est un imageur CMOS, et - les moyens de traitement d'images comprennent en outre des moyens de soustraction de l'image de référence de l'image d'analyse. L'invention sera mieux comprise à l'aide de la description qui va suivre donnée uniquement à titre d'exemple et faite en se référant aux dessins annexés, sur lesquels : - la figure 1 représente un schéma synoptique illustrant la structure et le fonctionnement d'un système d'analyse selon l'invention, et - la figure 2 illustre différentes images obtenues grâce à un système d'analyse selon l'invention. On a en effet illustré sur ces figures et en particulier sur la figure 1, un système d'analyse optique d'un échantillon désigné par la référence générale 1, ce système comportant une source pompe-sonde laser modulée d'analyse de l'échantillon, cette source étant désignée par la référence générale 2 sur cette figure et présentant une structure classique. De façon classique, cette source met en effet en oeuvre un faisceau de sonde laser et un faisceau de pompe laser après passage dans des moyens de modulation optique en amplitude de ce faisceau désignés par la référence générale 3 sur cette figure. Cette source comporte également des moyens désignés par la référence générale 4, synchronisés sur les moyens de modulation 3, de démultiplexage optique du faisceau issu de l'échantillon en signaux de référence et d'analyse. Ces signaux de référence et d'analyse sont désignés par SR et SA respectivement sur cette figure 1. Le système selon l'invention comporte également des moyens d'analyse de ces signaux pour délivrer une information de réponse de l'échantillon. Ces moyens d'analyse sont désignés par la référence générale 5 sur cette figure 1 et comprennent en fait des moyens formant imageur matriciel des signaux de référence et d'analyse pour délivrer des images correspondantes de ces signaux à des moyens de traitement de ces images pour en extraire une image de la réponse de l'échantillon. Les moyens formant imageur matriciel sont en effet désignés par la référence générale 6 pour les moyens destinés à former une image du signal d'analyse et 7 pour les moyens destinés à former une image du signal de référence. Ces moyens formant imageur délivrent alors des images correspondantes appelées respectivement image 1 et image 2, à des moyens d'analyse d'images désignés par la référence générale 8 qui sont adaptés pour traiter celles-ci afin d'en extraire une image de la réponse de l'échantillon. Cette extraction est par exemple illustrée sur la figure 2. On voit que les moyens de traitement d'images 8 peuvent par exemple comporter en outre des moyens de soustraction de l'image de référence de l'image d'analyse pour obtenir l'image de la réponse de cet échantillon. Bien entendu, des traitements complémentaires peuvent être envisagés sur ces images. Ces traitements peuvent être des traitements classiques d'optimisation des images. Plusieurs modes de réalisation des moyens formant imageur matriciel peuvent être envisagés. C'est ainsi par exemple que ces moyens formant imageur peuvent être formés par deux imageurs distincts ou encore par deux zones distinctes d'un même imageur. Ceci peut par exemple présenter un certain nombre d'avantages au niveau de la cohérence des images formées. De même, plusieurs technologies d'imageur peuvent être envisagées, cet imageur matriciel pouvant être formé par un imageur CCD, un imageur CMOS, etc... Bien entendu, d'autres modes de réalisation encore peuvent être envisagés.5 REVENDICATIONS1.- Système d'analyse optique d'un échantillon (1) du type comportant une source pompe-sonde laser modulée (2) d'analyse de l'échantillon, adaptée pour délivrer à partir de l'échantillon, d'une part un signal de référence et d'autre part un signal d'analyse de celui-ci et des moyens d'analyse (5) de ces signaux pour délivrer une information de réponse de l'échantillon, caractérisé en ce que les moyens d'analyse (5) comprennent des moyens (6, 7) formant imageur matriciel des signaux de référence et d'analyse pour délivrer des images correspondantes de ces signaux à des moyens (8) de traitement de ces images pour en extraire une image de la réponse de l'échantillon. 2.- Système d'analyse optique selon la revendication 1, caractérisé en ce que la source comporte des moyens (3) de modulation en amplitude du faisceau de pompe laser avant son application à l'échantillon (1). 3.- Système d'analyse optique selon la revendication 2, caractérisé en ce que la source comporte des moyens (4), synchronisés sur les moyens de modulation (3), de démultiplexage optique du faisceau issu de l'échantillon, en signaux de référence et d'analyse. 4.- Système d'analyse optique selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens (6, 7) formant imageur matriciel sont formés par deux imageurs distincts. 5.- Système d'analyse optique selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que les moyens (6 , 7) formant imageur matriciel sont formés par deux zones distinctes d'un même imageur. 30 6.- Système d'analyse optique selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'imageur matriciel (6, 7) est un imageur CCD.257.- Système d'analyse optique selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que l'imageur matriciel (6, 7) est un imageur CMOS. 8.- Système d'analyse optique selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en que les moyens (8) de traitement d'images comprennent en outre des moyens de soustraction de l'image de référence de l'image d'analyse.