FR 2936870 A1 20100409 FR 0856698 A 20081003 PROCEDE ET DISPOSITIF DE COMMANDE DE LA RESISTANCE D'UN ELEMENT SENSIBLE DE DETECTEUR BOLOMETRIQUE DOMAINE DE L'INVENTION La présente invention a trait au domaine de l'imagerie infrarouge et de la pyrométrie bolométrique. Plus particulièrement, la présente invention concerne des dispositifs de détection de 10 rayonnement électromagnétique, comportant des matrices d'éléments sensibles bolométriques, dits bolomètres élémentaires, ou plus simplement bolomètres, dont la résistivité est commandée, notamment à des fins de réduction de phénomènes de rémanence. 15 ETAT ANTERIEUR DE LA TECHNIQUE Dans le domaine des détecteurs de rayonnements électromagnétiques, notamment infrarouges, il est connu d'utiliser des dispositifs agencés sous forme matricielle, et susceptibles de fonctionner à température ambiante, c'est-à-dire ne nécessitant pas de 20 refroidissement à de très basses températures, contrairement aux dispositifs de détection appelés "détecteurs quantiques" qui eux, nécessitent un fonctionnement à très basse température, typiquement celle de l'azote liquide. Ces détecteurs non refroidis utilisent traditionnellement la variation d'une grandeur 25 physique d'un matériau approprié, en fonction de la température, au voisinage de 300K. Dans le cas des détecteurs bolométriques, cette grandeur physique est la résistivité électrique. Un tel détecteur non refroidi associe généralement : 30 - des moyens d'absorption du rayonnement infrarouge et de conversion de celui-ci en chaleur ; - des moyens d'isolation thermique du détecteur, de telle sorte à permettre à celui-ci de s'échauffer sous l'action du rayonnement infrarouge ; - des moyens de thermométrie qui, dans le cadre d'un détecteur bolométrique, 35 mettent en oeuvre un élément résistif ; - et des moyens de lecture des signaux électriques fournis par les moyens de thermométrie.5 Les détecteurs destinés à l'imagerie infrarouge sont classiquement réalisés sous la forme d'une matrice de détecteurs élémentaires, ou bolomètres, selon une ou deux dimensions, lesdits bolomètres prenant la forme de membranes suspendues au dessus d'un substrat, généralement réalisé en silicium, via des bras d'isolement thermique et de soutien ancrés au substrat. Il est usuellement ménagé dans le substrat des moyens d'adressage séquentiel des détecteurs élémentaires et des moyens d'excitation électrique et de pré-traitement des signaux électriques générés par ces détecteurs élémentaires. Ce substrat et les moyens intégrés sont communément désignés par le terme � circuit de lecture �. Classiquement, chaque bolomètre est connecté à un transistor de polarisation apte à injecter dans le bolomètre un courant, et à un intégrateur capacitif apte à intégrer le courant circulant dans le bolomètre pour la lecture de celui-ci. Pour obtenir une scène par l'intermédiaire de ce détecteur, on projette la scène à travers une optique adaptée sur la matrice de détecteurs élémentaires (le substrat est agencé au niveau du plan focal de cette optique), et des stimuli électriques cadencés sont appliqués par l'intermédiaire du circuit de lecture à chacun des détecteurs élémentaires, ou à chaque rangée de tels détecteurs, afin d'obtenir un signal électrique constituant l'image de la température atteinte par chacun desdits détecteurs élémentaires. Ce signal est traité de manière plus ou moins élaborée par le circuit de lecture, puis éventuellement par un dispositif électronique extérieur au boîtier afin de générer l'image thermique de la scène observée. Les matériaux usuellement utilisés pour concevoir les bolomètres sont connus pour ne pas être thermiquement très stables. Aussi, lorsque les bolomètres comprenant ces matériaux sont soumis à des flux infrarouges trop importants (par exemple observation d'une source lumineuse très chaude comme le soleil ou un luminaire), on parle alors de � sur-exposition �, le temps pris par ces bolomètres pour revenir dans leur état initial est conséquent. On parle alors de � rémanence � ou d� En outre, les bolomètres ne sont pas strictement identiques et présentent classiquement des gains et des offsets différents. Cette dispersion de gains et d'offsets est usuellement corrigée par l'utilisation de tables de gains et d'offsets établies lors d'une calibration du détecteur en usine (on parle alors de correction � 2-points �). La sur-exposition des bolomètres a pour effet de rendre ces tables au moins temporairement invalides. La durée du phénomène de rémanence dépend du flux incident sur le bolomètre ainsi que de la durée d'exposition de ceux-ci. Cette durée de rémanence peut être très longue, jusqu'à plusieurs mois, alors même que le bolomètre n'est pas détruit. Pour remédier au phénomène de rémanence, il a été proposé de détecter en cours d'exposition la présence de bolomètres sur-exposés, et de limiter cette sur-exposition par l'emploi de filtres absorbants saturables et/ou d'un obturateur mécanique de manière à protéger les éléments sensibles. Toutefois, ces techniques font perdre l'usage du détecteur pendant la durée de la correction, par exemple lors de la fermeture de l'obturateur, et nécessitent des circuits électroniques et mécaniques supplémentaires. Or, la non-disponibilité du détecteur est préjudiciable dans certaines applications, de sorte que la durée de perte de l'image doit être la plus courte possible. Dans le document US-A-2005/0274892, il a été proposé de réduire le phénomène de rémanence d'un bolomètre en portant temporairement la température de celui-ci à une valeur supérieure à la température du plan focal, par la mise en oeuvre d'un module Peltier, ou module TEC (acronyme de l'expression anglo-saxone � Thermo-Electric Cooler �) pour chauffer le plan focal à une température supérieure à celle à laquelle étaient soumis les bolomètres sur-exposés avant leur sur-exposition. Toutefois, on observe que l'élimination des phénomènes de rémanence utilisant une telle technique prend plusieurs secondes, voire plusieurs minutes. En effet, cette technique utilise plusieurs étapes de chauffage successives pour porter le plan focal à une température souhaitée de manière stable. En outre, le chauffage par module Peltier est coûteux en énergie de par l'utilisation d'un courant élevé, pulsé notamment, qui induit des appels de courant qui contraignent les éléments électroniques de commande. Enfin, la température du plan focal est modifiée. Or, les tables de gains et d'offsets utilisées pour la correction des dispersions des gains et des offsets des bolomètres dépendent de cette température. La modification de la température du plan focal nécessite donc de prévoir des tables pour plusieurs configurations. L'établissement des tables de correction est cependant délicat et coûteuse en temps. Il a également été proposé dans ce document de réduire le phénomène de rémanence en modifiant les paramètres du circuit de lecture réglant la quantité de courant circulant dans le bolomètre. Dans ce dernier cas, une polarisation du bolomètre et un temps d'intégration supérieurs sont ainsi utilisés pour échauffer le bolomètre et ainsi réduire les phénomènes de rémanence. Toutefois, en modifiant les paramètres du circuit de lecture (polarisation et/ou temps d'intégration), le point de fonctionnement du bolomètre est modifié. Or, les tables de gains et d'offsets utilisées pour la correction des dispersions des gains et des offsets des bolomètres dépendent du point de fonctionnement de ceux-ci. La modification de la polarisation et/ou du temps d'intégration nécessite donc de prévoir des tables pour plusieurs configurations. Or, ainsi que déjà précisé, l'établissement des tables de correction est délicat et coûteuse en temps. EXPOSE DE L'INVENTION Le but de la présente invention est de résoudre les problèmes susmentionnés en proposant un procédé de commande de la résistivité d'un ou plusieurs bolomètre(s) d'un détecteur matriciel du type précité, qui soit rapide et qui ne modifie pas le point de fonctionnement de celui-ci, ledit détecteur comportant un circuit de lecture apte à adresser ledit ou lesdits bolomètre(s). Selon l'invention, le procédé comporte une étape de réglage de la récurrence d'adressage du bolomètre par le circuit de lecture. Ici le terme � adressage � combine la notion classique d'adressage d'une matrice de bolomètres, visant à � désigner �, par une commande appropriée d'interrupteurs, les bolomètres qui vont être lus, et l'envoi de courant dans les bolomètres ainsi désignés. 30 Dans l'état de la technique décrit ci-dessus, et dans le cadre particulier de l'élimination de la rémanence, un chauffage des bolomètres était notamment effectué en modifiant l'amplitude et/ou la durée du courant les traversant. Dans le cas de la présente invention, le chauffage global du plan focal n'est pas nécessaire et 35 on peut se passer, comme c'est de plus en plus le cas dans les dispositifs modernes qui en sont dépourvus, du module Peltier mentionné dans l'art antérieur.25 Selon l'invention, une commande de la résistivité d'un bolomètre est effectuée également en élevant la température de celui-ci, mais par le biais d'une injection de courant plus fréquente, les caractéristiques du courant restant par ailleurs inchangées. Les caractéristiques du circuit de lecture restent donc inchangées, et notamment la polarisation et le temps d'intégration. Comme le point de fonctionnement des bolomètres ainsi que la température du plan focal demeurent inchangés, il n'est donc pas nécessaire de prévoir plusieurs tables de gains et d'offsets. 10 Dans le cadre d'une réduction de la rémanence, le demandeur a en outre observé que le procédé selon l'invention permet un gain de temps substantiel. Ainsi, il est possible grâce au procédé de l'invention de corriger un phénomène de rémanence en quelques dizaines de millisecondes, contre quelques secondes voire minutes pour 15 l'état antérieur de la technique. De plus, il est possible grâce au procédé selon l'invention d'obtenir des températures plus élevées pour les bolomètres que celles usuellement obtenues dans l'état antérieur de la technique. Ainsi, il est possible par exemple de porter les 20 bolomètres à une température de 35°C supérieure à celle du plan focal, alors que la température généralement observée dans l'état de la technique atteint difficilement 10°C au-dessus de celle du plan focal. Selon un mode de réalisation particulier de l'invention, le circuit de lecture est apte 25 à adresser une fenêtre comprenant le bolomètre, ligne par ligne et à une fréquence ligne prédéterminée, et la récurrence d'adressage du bolomètre est réglée en fonction du nombre de lignes de la fenêtre. La fréquence ligne désigne le nombre prédéterminé de lignes lues par le circuit de lecture en l'espace d'une seconde. 30 En d'autres termes, le détecteur conforme à l'invention est capable de fenêtrer librement la matrice de bolomètres et de lire les bolomètres compris dans une telle fenêtre ligne par ligne. En choisissant une fenêtre de format réduit, le nombre de lignes est réduit. Le temps mis pour lire l'ensemble des lignes de la fenêtre est donc réduit, de sorte qu'une ligne de la fenêtre, et donc les bolomètres la constituant, est 35 adressée plus fréquemment. Un courant circule donc plus souvent dans les bolomètres de la fenêtre. Les dimensions de la fenêtre permettent ainsi de régler la récurrence d'adressage, et donc l'échauffement subi par les bolomètres.5 Selon un mode de réalisation de l'invention, le circuit de lecture est apte à adresser la matrice, ou une fenêtre prédéterminée de celle-ci comprenant le bolomètre, ligne par ligne, et la récurrence d'adressage du bolomètre est réglée en fonction de la fréquence de trame. La fréquence de trame est définie par le nombre de fois prédéterminé où la matrice ou une fenêtre de celle-ci est balayée (lue) en l'espace d'une seconde. En d'autres termes, la récurrence d'injection de courant dans un bolomètre dépend de la fréquence auquel celui-ci est adressé. Le réglage de la fréquence de trame 10 permet donc de régler cette récurrence. Selon un mode de réalisation de l'invention, le bolomètre est un bolomètre sur-exposé, et le procédé comporte, préalablement à l'étape de réglage de la récurrence d'adressage, une étape de détection des bolomètres sur-exposés de la matrice, 15 l'étape de réglage de la récurrence visant à corriger la rémanence de chacun des bolomètres sur-exposés. En d'autres termes, le procédé s'applique avantageusement à la réduction de la rémanence induite par une sur-exposition. Une étape préliminaire de détection des 20 bolomètres sur-exposés permet ainsi de ne régler la résistance que de ceux-ci. Ceci est particulièrement avantageux dans le cas où un fenêtrage est réalisé. En effet, usuellement la matrice et son circuit de lecture associé sont enfermés dans une enceinte hermétique placée sous une pression réduite. L'échauffement de certains 25 éléments a pour effet de libérer des gaz, réduisant de fait la durée de vie du détecteur. Ainsi, un nombre réduit d'éléments chauffés limite en proportion la diminution de durée de vie du détecteur. Selon un mode de réalisation particulier préférentiel de l'invention, le détecteur 30 comporte un obturateur, et le procédé comporte une étape de fermeture de l'obturateur. A défaut d'obturateur, le procédé comporte une étape de défocalisation de l'image lors de l'opération de réduction de la rémanence. En d'autres termes, la fermeture de l'obturateur coupe le flux incident sur tous les 35 bolomètres, et en particulier sur les bolomètres sur-exposés, permettant ainsi d'adresser ces derniers sans ajouter d'effet parasite supplémentaire. L'invention a également pour objet un détecteur bolométrique comprenant une matrice de bolomètres et un circuit de lecture de la matrice apte à adresser chaque bolomètre de celle-ci. Selon l'invention, le circuit de lecture est apte à régler la résistance de chaque bolomètre de la matrice par un réglage de la récurrence d'adressage de celui-ci. En d'autres termes, le détecteur bolométrique est apte à mettre en oeuvre un procédé du type précité. BREVE DESCRIPTION DES FIGURES L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple, et réalisée en relation avec les dessins annexés, dans lesquels des références identiques désignent des éléments identiques ou analogues, et dans lesquels : la figure 1 est une vue schématique d'une matrice de bolomètres associés à un circuit de lecture ; la figure 2 représente une fenêtre locale inscrite dans la matrice complète ; la figure 3 est un organigramme d'un procédé selon l'invention ; et la figure 4 est un tracé de la température d'un bolomètre, en fonction du temps, obtenu par le procédé selon l'invention DESCRIPTION DETAILLEE DE L'INVENTION On a illustré schématiquement sur la figure 1 un détecteur bolométrique qui comprend une matrice bidimensionnelle 12 d'imagerie comprenant n lignes et m colonnes de pixels bolométriques 14, où n et m sont des entiers supérieurs ou égaux à 1. La matrice d'imagerie 12 est agencée dans le plan focal 16 d'une optique transparente au rayonnement infrarouge (non représentée). Le détecteur comprend également un circuit de lecture 15 réalisé dans un substrat agencé dans le plan focal 16, lequel supporte la matrice d'imagerie 12. Le circuit de lecture 15 comprend un circuit d'adressage 18 des pixels 14 de la matrice 12, et, pour chaque colonne de celle-ci, un élément de lecture 20 apte à être connecté à chaque pixel 14 de la colonne par des moyens électriques. Chaque pixel 14 comprend un bolomètre résistif 22, soumis à un rayonnement infrarouge � IR �, et connecté à l'une de ses bornes à une tension de polarisation constante VDET prédéterminée. Le pixel 14 comprend également un interrupteur 24 de lecture, pilotable au moyen d'un signal � Select � émis par le circuit d'adressage 18, et un transistor MOS 26 d'injection, dont la grille est apte à être mise à une tension GFID constante prédéterminée, dont la source est connectée à l'autre borne du bolomètre 22, et dont le drain est connecté à l'une des bornes du premier interrupteur 24 de sélection. L'élément de lecture 20 comprend quant à lui un intégrateur 21 formé : - d'un amplificateur opérationnel 28 dont l'entrée non inverseuse (+) est mise à une tension constante Vbus prédéterminée, et dont l'entrée inverseuse (-) est connectée à l'autre borne de l'interrupteur de lecture 24 ; - d'un condensateur 30, de capacité Cà, prédéterminée, connecté entre l'entrée inverseuse (-) de l'amplificateur 28 et la sortie de celui-ci ; et - d'un interrupteur de remise à zéro 32 connecté en parallèle du condensateur 30, et pilotable au moyen d'un signal � Reset �. L'élément de lecture 20 comporte également une colonne d'ébasage 34 comprenant un bolomètre de compensation 36, réalisé dans le même matériau que le bolomètre 22 et présentant une faible résistance thermique vers le substrat, et un transistor MOS 38 d'injection pour la polarisation du bolomètre de compensation 36. La colonne d'ébasage 34 a pour effet de produire un courant dit de compensation de mode commun, ou d'ébasage (plus communément connu sous l'expression anglo-saxonne de � skimming �), comme cela est connu en soi de l'état de la technique. Au début d'un cycle de lecture du bolomètre 22, l'interrupteur de remise à zéro 32, qui est à l'état fermé suite à un cycle de décharge du condensateur 30, est basculé à l'état ouvert par réglage du signal � Reset � à une valeur appropriée. L'interrupteur 24 de lecture, qui est dans l'état ouvert, est basculé à l'état fermé par réglage du signal � Select �, et un courant traverse le bolomètre 22, dont la polarisation est ajustée par le transistor MOS 26 par une commande appropriée de la tension de grille GFID. Cette séquence est désignée par l'expression � adressage � du bolomètre 22. Le courant traversant le bolomètre 22 est alors intégré par le condensateur 30 après soustraction du courant traversant le bolomètre de compensation 36 dont la polarisation est ajustée par le transistor MOS 38. Lorsqu'une durée d'intégration AIft prédéterminée s'est écoulée depuis le début du cycle de lecture, l'interrupteur de lecture 24 est basculé dans son état ouvert. Selon un premier mode de réalisation de l'invention, le circuit de lecture 15 est apte à mettre en oeuvre une lecture par fenêtrage de la matrice 12, c'est-à-dire apte à lire uniquement les bolomètres d'une fenêtre 39 (figure 3) quelconque de la matrice 12 en mettant en oeuvre une limitation programmée du format d'adressage, la position et les dimensions de cette fenêtre étant définies au moyen du circuit de lecture 15 selon les commandes programmées par l'utilisateur, via un lien de communication série par exemple. Le choix des dites commandes étant lui-même guidé par étalonnage de la récurrence d'adressage comme cela sera expliqué plus en détail ci-dessous. Le mode de lecture par fenêtrage est connu en soi et ne sera donc pas expliqué plus en détail pour des raisons de concision. Usuellement, le circuit de lecture 15 lit la matrice 12, ou la fenêtre 39 de celle-ci, ligne par ligne à une fréquence de trame prédéterminée, classiquement autour de 60 20 Hz. Enfin, le détecteur comprend un obturateur mécanique (non représenté) coupant le flux incident sur la matrice 12, comme cela est connu en soi. 25 La figure 4 est un organigramme d'un procédé de réduction de la rémanence induite par exemple par une sur-exposition de bolomètres de la matrice 12. Lors d'une première étape 40, une détection de bolomètres sur-exposés de la matrice 12 est mise en oeuvre. Par exemple, les bolomètres dont le signal de sortie hors 30 éclairement de scène, dit niveau continu, dans les conditions de référence (température du plan focal donnée, obturateur fermé) diffère d'une valeur de seuil prédéterminée d'un niveau continu dit de référence, sont considérés comme sur-exposés. 35 S'il existe des bolomètres sur-exposés (étape de test 42), l'obturateur est fermé en 44 ou bien une défocalisation de l'image de la scène est mise en oeuvre. En 46, une fenêtre est alors sélectionnée autour du ou des pixel(s) sur-exposé(s). Les dimensions de cette fenêtre, et plus particulièrement son nombre de lignes, sont choisies pour régler le taux d'augmentation de la température du bolomètre. Le nombre d'adressages des bolomètres pour parvenir à une limitation ou une élimination des phénomènes de rémanence est par exemple déterminé lors d'une étude préliminaire, effectuée en usine sur des bolomètres de test, qu'on a appelée plus haut étalonnage. Ce nombre dépend notamment de la polarisation des bolomètres, de leur conception, du format de la fenêtre (de son nombre de lignes). Les principaux paramètres dits de conception sont la résistance électrique, la résistance thermique Rth, le coefficient TCR de variation en température de la résistance, la capacité thermique Cth) Un étalonnage expérimental consiste typiquement à soumettre délibérément dans une première phase une rétine sensible de référence (de test) à un sur-éclairement particulier, en termes de puissance radiative et de durée, et à mesurer le décalage initial de niveau continu qui en résulte. L'étalonnage consiste à mesurer ensuite, pour une fréquence ligne prédéterminée, l'évolution temporelle du décalage de niveau continu après application d'un fenêtrage de lecture de dimension donnée, puis de recommencer l'ensemble du processus avec un fenêtrage de dimension différente (une fréquence de récurrence de lecture différente). Il en résulte l'information recherchée du nombre de récurrences à appliquer en fonction de la taille de la fenêtre (du nombre de lignes) pour obtenir par exemple l'effacement de 90% du décalage de niveau continu initial. Cet étalonnage empirique peut être obtenu également en fonction de la fréquence trame, à fenêtrage constant, comme il a été proposé de manière alternative. Cette opération d'étalonnage peut être reconduite avec un décalage de niveau continu initial préalable différent (c' est-à dire des conditions de sur-éclairement différentes), jusqu' à obtenir un abaque contenant l'information nécessaire pour la programmation du fenêtrage ou/et de la fréquence trame d'application, dans l'ensemble des cas raisonnablement utiles (c'est à dire tant que les éléments sensibles ne sont pas détruits) d'application de l'invention. Le comportement de l'évolution du niveau continu après une dérive liée à une période de sur-éclairement est essentiellement déterminé par la température maximale à laquelle est porté le bolomètre. Il est donc avantageux en termes de facilité d'exploitation de l'invention, d'exprimer le comportement expérimental du décalage de niveau continu résiduel sous forme d'une expression analytique générale, basée sur la modélisation de la température atteinte par les éléments sensibles en fonction des conditions opératoires d'excitation au cours du cycle de réduction de rémanence (essentiellement, la fréquence de récurrence, et la durée d'application). Le calcul de la température est simple à obtenir à l'aide d'une modélisation thermique, à partir des paramètres connus de conception du bolomètre et des paramètres d'excitation Joule. Un exemple de résultat de modélisation thermique dans un cas représentatif est présenté en figure 3. Par contre, le comportement temporel en termes de résistance électrique qui résulte d'un cycle thermique donné, appliqué après une période de sur-éclairement, c'est-à-dire l'évolution de niveau continu en fonction des conditions opératoires, dépend en particulier du matériau sensible mis en oeuvre, il n'est donc pas possible ni même utile de proposer ici une forme générale d'expression analytique qui modéliserait ce comportement. Cependant, lorsque tous paramètres d'éblouissement d'une part, de processus de réduction de rémanence d'autre part sont fixés, on observe que le comportement est suffisamment déterministe (reproductible), d'autant plus qu'il n'est pas besoin de précision pour obtenir l'effet recherché, pour être applicable à tous les produits construits à partir du même type de bolomètre élémentaire. Il est en conséquence pertinent d'appliquer une relation analytique simple qui fournit très rapidement et pour une large gamme de conditions initiales un ordre de grandeur du nombre de récurrences à appliquer, selon les conditions opératoires préférées, pour parvenir au but recherché. Toujours en 46, la fréquence ligne est choisie constante et égale à la fréquence ligne utilisée lors de la lecture plein format de la matrice 12 et la fréquence de trame utilisée lors de l'adressage ligne par ligne de la fenêtre 39 est choisie égale au produit de la fréquence de trame lors de la lecture plein format de la matrice 12 et du rapport entre le nombre de ligne de la matrice 12 et du nombre de lignes de la fenêtre 39. En effet, en conservant la fréquence ligne et en raison du nombre restreint de lignes dans la fenêtre 39, une augmentation de la fréquence de trame, et donc de la récurrence d'adressage des bolomètres de cette fenêtre, est rendu possible. Une fois la fenêtre et la fréquence de trame sélectionnées, un adressage ligne par ligne de celle-ci est réalisé par le circuit de lecture 15 à la fréquence ligne, utilisée pour la lecture plein format de la matrice 12, pendant une durée prédéterminée de manière à disposer de plusieurs balayages des lignes de la fenêtre. Le profil de la température d'un bolomètre de la fenêtre sélectionné est illustré à la figure 3. Ce profil alterne des périodes d'augmentation quasi-linéaire de la température du 5 bolomètre, pendant lesquelles le bolomètre est adressé, avec des périodes de refroidissement libre du bolomètre, pendant lesquelles le bolomètre n'est pas adressé. Comme on peut le constater, la température moyenne du bolomètre augmente du fait d'une fréquence d'adressage élevée de celui-ci. En effet, la fenêtre comprend un 10 nombre réduit de lignes en comparaison du plein format de la matrice 12. En conséquence, le balayage de l'ensemble de ces lignes est rapide, une même ligne étant lue de nouveau avant refroidissement complet des bolomètres de celle-ci. De fait, la température moyenne augmente. 15 En se référant de nouveau à la figure 4, le procédé se poursuit en 48 par la fin de la lecture récurrente de la fenêtre et l'ouverture de l'obturateur, puis reboucle sur l'étape 40 de détection. La rémanence des bolomètres sur-exposés est ainsi réduite en amplitude et en durée, voire éliminée. 20 Il a été décrit un mode de réalisation dans lequel, une fenêtre de dimensions fixes comprenant des pixels sur-exposés est sélectionnée. En variante, lors de la procédure de réduction des phénomènes de rémanence, les dimensions de la fenêtre varient au cours du temps. Le profil temporel de la 25 température moyenne des bolomètres sur-exposés peut ainsi être commandé avec précision. Par exemple, une fenêtre de petites dimensions est sélectionnée dans un premier temps afin d'obtenir une élévation rapide de la température, puis une fenêtre de plus grandes dimensions, c'est-à-dire comportant plus de lignes afin de maintenir avantageusement la fréquence de ligne identique, est sélectionnée afin d'obtenir un 30 accroissement de la température moyenne plus modéré. La température moyenne des bolomètres est ainsi ajustée graduellement. De même, il a été décrit un mode de réalisation dans lequel la fréquence ligne utilisée pour la lecture des fenêtres est celle utilisée pour la lecture de la matrice. En 35 variante, une augmentation de la fréquence de trame est également mise en oeuvre pour accroître la récurrence d'adressage des bolomètres sur-exposés. De même il a été décrit un mode de réalisation dans lequel, le module à effet Peltier, lorsqu'il existe, n'est pas utilisé pour chauffer le plan focal. En variante, ce module à effet Peltier est également utilisé. Bien entendu, on comprendra que l'invention ne se limite pas au détecteur bolométrique décrit en relation avec la figure 1, mais s'applique à tout type de détecteur bolométrique. Grâce à l'invention, il est ainsi obtenu les avantages suivants : le temps pendant lequel le détecteur est indisponible est faible. En effet, en quelques dizaines de millisecondes, on observe une réduction substantielle, voire une élimination complète, des phénomènes de rémanence ; la consommation électrique induite par la mise en oeuvre du procédé selon l'invention est réduite. En effet, la réduction des phénomènes de rémanence mise en oeuvre selon l'invention ne nécessite pas l'utilisation de matériel grand consommateur d'énergie, comme un module à effet Peltier par exemple ; le procédé selon l'invention ne modifie ni la température du plan focal (au premier ordre), ni les caractéristiques de courant (polarisation, temps d'intégration). Les tables utilisées pour la correction des dispersions de gains et d'offsets dans la matrice demeurent donc valables ; une efficacité accrue de la réduction des phénomènes de rémanence est obtenue, car les températures accessibles grâce à l'invention sont supérieures à celles observées dans l'état antérieur de la technique ; la conception des détecteurs bolométriques restent inchangés puisque aucune 25 de leurs caractéristiques, comme la polarisation des bolomètres ou le temps d'intégration, n'est modifiée ; et une altération de la durée de vie du détecteur est modérée par le fait qu'une très faible partie des éléments internes à l'enceinte sous vide est thermiquement concernée par une correction localisée des phénomènes de 30 rémanence. REVENDICATIONS1. Procédé de commande de la résistance d'un bolomètre (22) d'une matrice de bolomètres (12) d'un détecteur, ledit détecteur comportant un circuit de lecture (15) de ladite matrice apte à adresser ledit bolomètre, caractérisé en ce qu'il comporte une étape (46) de réglage de la récurrence d'adressage du bolomètre par le circuit de lecture. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le circuit de lecture (15) est apte à adresser une fenêtre comprenant le bolomètre (22), ligne par ligne et à une fréquence ligne prédéterminée, et en ce que la récurrence d'adressage du bolomètre est réglée en fonction du nombre de lignes de la fenêtre. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que le circuit de lecture (15) est apte à adresser la matrice, ou une fenêtre prédéterminée de celle-ci comprenant le bolomètre, ligne par ligne et à une fréquence de trame prédéterminée, et en ce que la récurrence d'adressage du bolomètre est réglée en fonction de la fréquence de trame. 4. Procédé selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que le bolomètre est un bolomètre sur-exposé, et en ce que le procédé comporte, préalablement à l'étape (46) de réglage de la récurrence d'adressage, une étape (40) de détection des bolomètres sur-exposés de la matrice, l'étape (46) de réglage de la récurrence visant à corriger la rémanence de chacun des bolomètres sur-exposés. 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le détecteur comporte un obturateur, et en ce que le procédé comporte une étape (44) de fermeture de l'obturateur ou de défocalisation de l'image lors de la réduction de la rémanence. 6. Détecteur bolométrique comprenant une matrice de bolomètres (12) et un circuit de lecture (15) de la matrice (12), apte à adresser chaque bolomètre (22) de celle-ci, caractérisé en ce que le circuit de lecture (15) est apte à régler la résistance de chaque bolomètre (22) de la matrice (12) par un réglage de la récurrence d'adressage de celui-ci.