FR 2940555 A1 20100625 FR 0807235 A 20081219 1 DISPOSITIF DE FILTRAGE A AUTO-ETALONNAGE La présente invention concerne un dispositif de filtrage à auto-étalonnage. Elle s'applique par exemple au domaine des circuits intégrés équipant des dispositifs de réception de géopositionnement par satellite. Les filtres sont des éléments fondamentaux des circuits électroniques. Ils permettent notamment de traiter un signal d'entrée afin d'en discriminer des signaux indésirables, ou bien d'en isoler des bandes de fréquences particulières. En particulier, les filtres sont largement utilisés dans les dispositifs de télécommunications, ainsi que dans les radars, et notamment dans les chaînes de réception de dispositifs de géo-positionnement par satellite, ou GPS, acronyme selon la dénomination anglo-saxonne Global Positioning System. Les filtres passifs, c'est-à-dire fonctionnant sans aucune source d'alimentation propre, sont réalisés à l'aide de composants passifs tels que les résistances, les bobines et les condensateurs. La sélectivité d'un filtre est d'autant plus grande que le nombre de composants est élevé ; or de nombreuses applications, notamment dans le domaine des télécommunications, requièrent un nombre élevé de filtres présentant une grande sélectivité. De nombreuses applications requièrent en outre que les circuits électroniques soient intégrables dans un encombrement minimal. Cependant les filtres passifs se prêtent mal à la miniaturisation poussée, l'usage des composants passifs, notamment des bobines et des condensateurs de grande capacité, étant incompatible avec l'intégration dans des puces électroniques, fabriquées selon des techniques de type circuits intégrés monolithiques hyperfréquences ou MMIC, ou bien circuits intégrés spécialisés ou ASIC. Les filtres actifs comportent des éléments d'amplification et peuvent présenter des gains en puissance supérieurs à l'unité. De tels filtres permettent, grâce à l'utilisation de composants actifs tels que des amplificateurs opérationnels ou bien des amplificateurs à transconductance, de synthétiser les caractéristiques de filtres réalisés habituellement avec des résistances, des condensateurs et des bobines. Ils présentent l'avantage d'être plus facilement intégrables, car ils peuvent se passer de bobines qui sont chères, difficilement intégrables et imparfaites, dans le sens où elles présentent des résistances et capacités parasites significatives et difficilement maîtrisables, ainsi qu'une grande sensibilité aux champs électromagnétiques externes. Certains filtres actifs sont réalisés à l'aide de cellules actives utilisant la transconductance de transistors conjuguée à une capacité de valeur raisonnable, donc facilement intégrable. Bien que les performances de ces filtres soient très bonnes, ces filtres sont très sensibles aux variations du processus de fabrication, ainsi qu'aux variations de leur tension d'alimentation et de leur température de fonctionnement. Les condensateurs présentent des capacités qui sont sensibles au processus de fabrication, par conséquent les valeurs absolues des capacités de condensateurs intégrés varient grandement autour de leur valeur nominale, de l'ordre de �30% pour des condensateurs intégrés en technologie CMOS par exemple. Néanmoins l'appairage entre deux capacités de même valeur au sein d'une même puce est très satisfaisant, avec un rapport de capacités de l'ordre de 0,2%. Il est donc possible de s'affranchir des larges plages de tolérance liées aux valeurs absolues des capacités, avec des conceptions de circuits faisant intervenir dans le calcul des performances du filtre, non pas des capacités isolées mais des rapports entre capacités. De la même manière, les tensions d'alimentation sont aisément maîtrisables. En revanche la transconductance, tout autant déterminante pour la performance des filtres actifs, est dépendante du courant circulant dans le filtre, ainsi que de la température ; le courant étant lui-même dépendant du processus de fabrication et de la tension d'alimentation du filtre. En conséquence, l'étalonnage de ces filtres nécessite la prise en compte de tous ces paramètres, et produit une dispersion des performances qui n'est pas adaptée d'un point de vue pratique. II existe certaines solutions consistant à réaliser un ajustement des performances des filtres à l'issue de leur processus de fabrication, par exemple par morsure laser afin d'ajuster finement les valeurs des résistances, ou encore par fusible. Il existe d'autres solutions consistant à étalonner les filtres depuis l'extérieur en commutant des sources de courant. Ces solutions existantes permettent de limiter la dispersion des performances, mais ~o présentent l'inconvénient de nécessiter l'intervention d'un utilisateur extérieur. Il existe encore d'autres solutions utilisant des systèmes à base de PLL, acronyme anglo-saxon pour "phase-locked loop" ou boucles à verrouillage de phase, mais de telles solutions rendent la conception des circuits plus complexe, et intègrent des fonctions 15 supplémentaires qui augmentent la surface des puces, et ajoutent des dérives supplémentaires. Un but de l'invention est de pallier les problèmes susmentionnés, en proposant un dispositif permettant de procéder à 20 l'étalonnage d'un filtre actif intégré sur une puce, de manière autonome et ne nécessitant pas l'intervention d'une personne ou d'un dispositif extérieur. Un dispositif selon l'invention présente l'avantage de pouvoir être intégré facilement dans diverses architectures d'émetteur / récepteur. Un autre avantage du dispositif 25 selon l'invention est qu'il présente des performances qui sont indépendantes des dispersions du procédé de fabrication dont il est issu. La présente invention propose de faire suivre au courant une 30 loi proportionnelle à la température, afin de rendre la transconductance du filtre constante quelle que soit la température de fonctionnement, puis à procéder à un étalonnage du filtre par exemple à chaque démarrage du circuit, sans qu'une intervention de tiers ne soit nécessaire. Cette solution est basée sur le lien entre 35 l'état de la phase d'un signal parcourant le filtre, et la fréquence de ce signal. Une fois le filtre dimensionné, ses paramètres peuvent être extraits de manière à connaître l'état de la phase à une fréquence donnée. Une référence de fréquence, généralement disponible dans tout système intégrant un dispositif de filtrage, permet de réaliser l'étalonnage du filtre, selon le principe suivant : la référence de fréquence est utilisée pour générer un signal de référence, compatible avec la bande de fréquence du filtre, qui passe à la fois au travers du filtre et à l'extérieur du filtre. L'écart de phase entre le signal résultant en sortie du filtre et le signal de référence est déterminé et permet de commander l'ajustement du courant du filtre actif jusqu'à l'obtention d'un écart de phase mesuré correspondant à la performance attendue du filtre. A cet effet, l'invention a pour objet un dispositif de filtrage comprenant un filtre actif à transconductance, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens d'étalonnage comportant des moyens de comparaison de la phase du signal de sortie du filtre en réponse à un premier signal, avec la phase d'un second signal déphasé du premier signal d'un déphasage prédéterminé, les moyens de comparaison étant aptes à asservir un dispositif de commande en courant de l'alimentation du filtre actif de manière à minimiser la différence entre la phase du signal de sortie du filtre en réponse au premier signal, et la phase du second signal. Dans un mode de réalisation de l'invention, le dispositif de filtrage décrit ci-dessus peut comprendre en outre un filtre polyphasé apte à générer sur la base d'un signal de référence, ledit premier signal déphasé d'un premier déphasage déterminé (p1 par rapport au signal de référence et ledit second signal déphasé d'un second déphasage déterminé cp2 par rapport au signal de référence, la différence entre cp2 et cpl étant égale au déphasage nominal de sortie du filtre en réponse à un signal dont la fréquence est égale à la fréquence du signal périodique de référence. Dans un mode de réalisation de l'invention, le dispositif de filtrage décrit ci-dessus peut être caractérisé en ce que les signaux ont une amplitude présentant deux niveaux logiques, les moyens de comparaison de phase comprenant une bascule D dont l'entrée d'horloge est attaquée par le second signal, et l'entrée D par le signal de sortie du filtre actif et à offrir en sortie un niveau logique donné si le signal de sortie du filtre est en avance sur le second signal ou l'autre niveau logique si le signal de sortie du filtre est en retard par rapport au second signal. Dans un mode de réalisation de l'invention, le dispositif de filtrage décrit ci-dessus peut être caractérisé en ce que les signaux ont une amplitude présentant deux niveaux logiques, les moyens de comparaison de phase comprenant une bascule D dont l'entrée D est attaquée par le second signal, et l'entrée d'horloge par le signal de sortie du filtre actif et à offrir en sortie un niveau logique donné si le signal de sortie du filtre est en avance sur le second signal ou l'autre niveau logique si le signal de sortie du filtre est en retard par rapport au second signal. Dans un mode de réalisation de l'invention, le dispositif de filtrage décrit ci-dessus peut être caractérisé en ce que le dispositif de commande en courant d'alimentation du filtre actif est apte à incrémenter le courant d'un pas prédéterminé lorsque la sortie de la bascule D est à un niveau logique donné, ou le décrémenter d'un pas prédéterminé lorsque la sortie de la bascule D est à l'autre niveau logique, l'incrémentation et la décrémentation du courant se faisant par itérations successives synchronisées par la sortie de la bascule D, jusqu'à ce qu'un nombre prédéterminé d'états de sortie successifs de la bascule D corresponde à une séquence prédéterminée. L'invention a encore pour objet un dispositif de réception de signal de géo-positionnement par satellite comprenant un dispositif 35 de filtrage tel que décrit ci-dessus. Dans un mode de réalisation, le dispositif de réception de signal de géo-positionnement par satellite peut être caractérisé en ce que les moyens d'étalonnage sont activés à chaque mise en service du dispositif de réception de signal, au moyen d'un signal activé lors de la mise sous tension. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description, donnée à titre d'exemple, faite en regard des dessins annexés qui représentent : - la figure 1, le synoptique d'un exemple de dispositif de filtrage à auto-étalonnage selon l'invention, - la figure 2, le synoptique d'un exemple de dispositif de filtrage à auto-étalonnage selon l'invention, décrivant en détails le principe de fonctionnement de la bascule D et du dispositif de commande en courant, - la figure 3, les courbes représentant le fonctionnement d'un exemple de dispositif de comparaison de phase faisant partie du dispositif de filtrage selon l'invention, - la figure 4, l'ordinogramme représentatif d'un exemple de mise en oeuvre d'une séquence d'auto-étalonnage d'un filtre actif selon l'invention, La figure 1 présente le synoptique d'un exemple de système 100 selon l'invention comprenant un filtre 101 à auto-étalonnage. Le système comprend un polyphaseur 102 recevant en entrée un signal de référence 110, et produisant en sortie un premier signal 111 décalé par rapport au signal de référence 110 d'un premier déphasage (pi déterminé, et un second signal 112 décalé par rapport au signal de référence 110 d'un second déphasage (2 prédéterminé. Le signal de référence 110 peut par exemple être un signal de forme sinusoïdale ou, dans l'exemple illustré par la figure, un signal dont l'amplitude présente deux niveaux logiques. Le système comprend en outre une bascule D 104, et un dispositif de contrôle du courant 103 pour la commande du filtre 101. Le filtre 101 est un filtre actif construit sur la base de transistors à transconductance, ses caractéristiques peuvent être ajustées en fonction du courant d'alimentation de ce filtre. Le filtre 101 produit en réponse au premier signal 111, un signal de sortie 113. Le second signal 112 ne passe pas dans le filtre 101 : sa phase est comparée à la phase du signal 113 sortant du filtre 101. Dans l'exemple présenté, la bascule D 104 permet de comparer la phase du signal 113 sortant du filtre 101 à la phase du second signal 112 : le signal de sortie de filtre 113 est appliqué à l'entrée de la bascule D 104, dont l'entrée d'horloge est ~o attaquée par le second signal 112, ainsi la sortie de la bascule D 104 présente en sortie un niveau logique 1 si le signal de sortie de filtre 113 est en avance de phase sur le second signal 112, ou un niveau logique 0 dans le cas contraire. Il est bien entendu que la bascule D peut fournir des états de sortie réciproques si son entrée 15 d'horloge est attaquée par le signal de sortie de filtre 113, et son entrée D par le second signal 112. Si le polyphaseur 102 est construit de manière à produire un déphasage entre le premier signal 111 et le second signal 112, correspondant à l'opposé du déphasage nominal produit par le filtre 101 en réponse à un signal 20 périodique de fréquence donnée, il peut être considéré que le filtre 101 est correctement centré si le déphasage entre le signal 113 en sortie de filtre, et le second signal 112 est nul. Dans l'exemple de la figure, le premier signal 111 est déphasé du signal de référence 110 de (pi à -A p, et le second signal 112 est déphasé du signal de 25 référence 110 de 92 égal à +A(p, le déphasage nominal généré par le filtre 101 en réponse à un signal dont la période égale la période du signal périodique 110 étant de 2A p. De la sorte, un asservissement du filtre est réalisé, par un dispositif 103 de commande de l'alimentation en courant du filtre 101 en fonction de l'état de la sortie 30 de la bascule D 104, par itérations successives de manière à minimiser le déphasage entre le signal 113 de sortie de filtre 101 et le second signal 112. Le dispositif de commande en courant peut notamment comprendre un registre à décalage, non représenté sur cette figure, mais décrit en détails ci-après en référence aux figures 35 suivantes. Le dispositif 103 de commande en courant est lui-même alimenté par une source de courant non représentée, qui produit un courant suivant une loi inversement proportionnelle à la température, de manière à contrebalancer les effets de la température sur la valeur de transconductance des transistors. De telles sources de courant sont en elles-même connues de l'homme du métier, sous l'acronyme de PTAT pour Proportional To Absolute Temperature. La fréquence du signal de référence 110 est choisie de manière à être comprise dans la bande passante du filtre 101. Par exemple, dans le cas d'un récepteur GPS, le signal de référence 110 peut être obtenu ~o depuis un signal d'horloge existant dans le circuit, via des dispositifs connus de division de fréquence. La figure 2 présente le synoptique d'un exemple de dispositif de filtrage à auto-étalonnage selon l'invention, décrivant en détails le 15 principe de fonctionnement de la bascule D 104 et du dispositif de contrôle du courant 103. Un registre à décalage 210 comprend une pluralité N de bits formant un mot M, chaque bit étant connecté à N commutateurs 211 commandant chacun une source de courant 212 fournissant un courant 10. Les branches comprenant une source de 20 courant 212 et un commutateur 211 sont connectées en parallèle, et fournissent une alimentation au filtre 101 par un courant I égalant la somme des courants qu'elles produisent. Le fonctionnement de la bascule D 104 est explicité en détails ci-après, en référence à la figure 3. Le filtre 101 est commandé par le courant I. Dans l'exemple 25 de la figure, un front montant de la sortie active ou "UP" de la bascule D 104 provoque un décalage du registre 210 vers la gauche, et ainsi la décrémentation du courant I d'alimentation du filtre 101 d'un pas lo. Réciproquement, un front descendant ou "DOWN" de la bascule D 104 provoque un décalage du registre 210 30 vers la droite, et ainsi l'incrémentation du courant I d'alimentation du filtre 101 d'un pas Io. Il est bien entendu que le dispositif selon l'invention peut fonctionner de manière similaire si un front montant de la sortie active de la bascule D 104 provoque un décalage du registre 210 vers la droite, donc une incrémentation du courant I 35 d'alimentation du filtre 101 d'un pas lo, et si un front descendant de la sortie active de la bascule D 104 provoque un décalage du registre 210 vers la gauche, donc une décrémentation du courant I d'alimentation du filtre 101 d'un pas lo. La figure 3 présente un diagramme temporel 303 représentant l'état de sortie 304 de la bascule D 104 en fonction du signal 113 de sortie du filtre 101 appliqué en entrée de celle-ci et représenté en fonction du temps par une courbe 313, et du second signal 112 la pilotant, représenté en fonction du temps par une io courbe 312. Une courbe 311 est représentative du premier signal 111 appliqué en entrée du filtre 101 en fonction du temps. Une courbe 310 représente le signal de référence 110 en fonction du temps. Une courbe 320 représente un signal commandant la réinitialisation d'un dispositif comprenant le dispositif de filtrage à 15 auto-étalonnage selon l'invention, en fonction du temps. Une courbe 330 représente un signal de commande du processus d'auto-étalonnage mis en oeuvre par le dispositif selon l'invention, en fonction du temps. Une courbe 340 représente la valeur du courant I d'alimentation du filtre 101 en fonction du temps. Le signal 111 20 appliqué en entrée du filtre 101, et donc le signal de référence 110, présentent une amplitude qui est cohérente du filtre 101 à calibrer ; dans l'exemple de la figure, ces signaux sont représentés par des niveaux logiques, dans un souci de clarté. A la réinitialisation de l'appareil comprenant le dispositif de 25 filtrage selon l'invention, par exemple lors de sa mise sous tension, la procédure d'auto-étalonnage est enclenchée ; à ce moment, la sortie de la bascule D 104 est à 0. Pour plus de clarté, le déroulement de la procédure est explicité par la description d'un ordinogramme 400 ci-après, en référence à la figure 4. Comme 30 indiqué par la courbe 312, le second signal 112 est décalé dans le temps d'un déphasage +A w par rapport au signal de référence 110. Comme indiqué par la courbe 311, le premier signal 111 appliqué en entrée de filtre est décalé d'un déphasage -A (p par rapport au signal de référence 110. Comme indiqué par la courbe 340, le courant I 35 d'alimentation du filtre 101 avant l'enclenchement de la procédure d'auto-étalonnage a une valeur dépendante du processus de fabrication du circuit intégré, de la tension d'alimentation et de la température. Dès le démarrage de la procédure d'auto-étalonnage, le courant I prend une valeur Mo*lo, le mot Mo étant prédéterminé, et défini par le registre à décalage 210. Pour la suite, on nommera itération chaque front montant du second signal 112 représenté par la courbe 312. A la première itération, le signal 113 sortant du filtre, comme indiqué sur la courbe 313, est décalé du second signal 112 d'un déphasage E((p). Les itérations successives ont pour but de minimiser la valeur de E((p). La bascule D 104, synchronisée sur l'itération, restitue donc la valeur 0 prise par le signal de sortie de filtre 113 avant l'itération. En conséquence, le registre à décalage 210 est décalé vers la droite, et le courant I d'alimentation du filtre 101 est décrémenté d'une valeur Io. A la seconde itération, le signal 113 de sortie du filtre 101 présente toujours un retard par rapport au second signal 112, soit une valeur positive de E((p). Par conséquent, la sortie de la bascule D 104 est toujours à 0, et le courant I d'alimentation du filtre 101 est à nouveau décrémenté d'un pas lo. A la troisième itération, le signal 113 de sortie du filtre 101 présente cette fois une avance par rapport au second signal 112, soit une valeur négative de E(cp). Par conséquent, la sortie de la bascule D 104 passe à 1, et le courant I d'alimentation du filtre 101 est incrémenté d'un pas k. A la quatrième itération, le signal 113 de sortie du filtre 101 présente à nouveau un retard par rapport au second signal 112, soit une valeur positive de E((p). Par conséquent, la sortie de la bascule D 104 repasse à 0, et le courant I d'alimentation du filtre 101 est à nouveau décrémenté d'un pas lo. A la cinquième itération, le signal 113 de sortie du filtre 101 présente une avance par rapport au second signal 112, soit une valeur négative de E((p). Par conséquent, la sortie de la bascule D 104 passe à nouveau à 1, et le courant I d'alimentation du filtre 101 est à nouveau incrémenté d'un pas lo. A la sixième itération, le signal 113 de sortie du filtre 101 présente à nouveau un retard par rapport au second signal 112, soit une valeur positive de E( y). Par conséquent, la sortie de la bascule D 104 repasse à 0, et le courant I d'alimentation du filtre 101 est à nouveau décrémenté d'un pas lo. Une séquence d'arrêt de la procédure d'auto-étalonnage peut par exemple être définie par la succession des valeurs 1-0-1-0 en sortie de la bascule D 104, ainsi dans l'exemple de la figure, la procédure peut se terminer à ce stade. La figure 4 présente un ordinogramme 400 représentant un exemple de séquence d'auto-étalonnage du dispositif de filtrage selon l'invention. La séquence d'étalonnage est par exemple déroulée à chaque mise en service du système comprenant le dispositif de filtrage selon l'invention. Une première étape 401 correspond à l'allumage du dispositif intégrant un dispositif de filtrage à auto-étalonnage selon l'invention, par exemple un récepteur GPS. Une étape consécutive 402 démarre le processus d'auto- étalonnage, par le passage à 1 du bit de commande de la procédure, nommé Autocal. A cette étape, il est rappelé que le courant d'alimentation du filtre 101 est égal à Mo*lo. En outre, lors de cette étape, la séquence de fin de procédure est définie. Avantageusement, la séquence de fin est prédéfinie une fois pour toutes par le fabricant du dispositif. Lors d'une étape 403, la valeur du bit Autocal est vérifiée. Si elle est nulle, alors la procédure d'auto-étalonnage prend fin, et la dernière valeur du courant I d'alimentation du filtre 101, déterminée par les itérations successives, est conservée jusqu'à une prochaine procédure d'auto-étalonnage, par exemple à la prochaine mise en service du récepteur GPS. Si la valeur du bit Autocal est 1, alors on passe à une étape 405 suivante. Lors de l'étape 405, on estime le signe du décalage E((p) de phase entre le second signal 112 et le signal 113 de sortie du filtre 101, via la bascule D 104, comme explicité plus haut en référence à la figure 3. Si le déphasage E((p) est positif, on passe à une étape 406 suivante, où le courant I d'alimentation du filtre 101 est incrémenté d'une valeur lo comme explicité plus haut en référence aux figures 2 et 3 ; si le déphasage E((p) est négatif, on passe à une étape 407 suivante, où le courant I d'alimentation du filtre 101 est décrémenté d'une valeur lo comme explicité plus haut en référence aux figures 2 et 3. Une étape consécutive 408 consiste à détecter la séquence de fin de procédure telle que définie à l'étape 402, puis le ~o déroulement de la procédure d'auto-étalonnage reprend à l'étape 403. REVENDICATIONS1. Dispositif de filtrage (100) comprenant un filtre actif à transconductance (101), caractérisé en ce qu'il comprend des moyens d'étalonnage comportant des moyens de comparaison (104) de la phase du signal de sortie (113) du filtre (101) en réponse à un premier signal (111), avec la phase d'un second signal (112) déphasé du premier signal (111) d'un déphasage prédéterminé, les moyens de comparaison (104) étant aptes à asservir un dispositif de commande en courant (103) de l'alimentation du filtre actif (101) de manière à minimiser la différence entre la phase du signal de sortie du filtre (113) en réponse au premier signal (111), et la phase du second signal (112). 2. Dispositif de filtrage (100) selon la revendication 1, comprenant en outre un filtre polyphasé (102) apte à générer sur la base d'un signal de référence (110), ledit premier signal (111) déphasé d'un premier déphasage déterminé (pi par rapport au signal de référence (110) et ledit second signal (112) déphasé d'un second déphasage déterminé cp2 par rapport au signal de référence (110), la différence entre cp2 et cpi étant égale au déphasage nominal de sortie du filtre (101) en réponse à un signal dont la fréquence est égale à la fréquence du signal périodique de référence (110). 3. Dispositif de filtrage (100) selon la revendication 2, caractérisé en ce que les signaux (110, 111, 112) ont une amplitude présentant deux niveaux logiques, les moyens de comparaison de phase comprenant une bascule D (104) dont l'entrée d'horloge est attaquée par le second signal (112), et l'entrée D par le signal de sortie (113) du filtre actif (101) et à offrir en sortie un niveau logique donné si le signal de sortie (113) du filtre (101) est en avance sur le second signal (112) ou l'autre niveau logique si le signal de sortie (113) du filtre (101) est en retard par rapport au second signal (112). 4. Dispositif de filtrage (100) selon la revendication 2, caractérisé en ce que les signaux (110, 111, 112) ont une amplitude présentant deux niveaux logiques, les moyens de comparaison de phase comprenant une bascule D (104) dont l'entrée D est attaquée par le second signal (112), et l'entrée d'horloge par le signal de sortie (113) du filtre actif (101) et à offrir en sortie un niveau logique donné si le signal de sortie (113) du filtre (101) est en avance sur le second signal (112) ou l'autre niveau logique si le signal de sortie (113) du filtre ~o (101) est en retard par rapport au second signal (112). 5. Dispositif de filtrage (100) selon l'une des revendications 3 ou 4, caractérisé en ce que le dispositif de commande en courant (103) d'alimentation du filtre actif (101) est apte à incrémenter le courant 15 d'un pas prédéterminé lorsque la sortie de la bascule D (104) est à un niveau logique donné, ou le décrémenter d'un pas prédéterminé lorsque la sortie de la bascule D (104) est à l'autre niveau logique, l'incrémentation et la décrémentation du courant se faisant par itérations successives synchronisées par la sortie de la bascule D 20 (104), jusqu'à ce qu'un nombre prédéterminé d'états de sortie successifs de la bascule D (104) corresponde à une séquence prédéterminée. 6. Dispositif de réception de signal de géo-positionnement par 25 satellite comprenant un dispositif de filtrage (100) selon l'une quelconque des revendications précédentes. 7. Dispositif de réception de signal de géo-positionnement par satellite selon la revendication 6, caractérisé en ce que les moyens 30 d'étalonnage sont activés à chaque mise en service du dispositif de réception de signal, au moyen d'un signal activé lors de la mise sous tension.