FR 2925159 A1 20090619 FR 0759787 A 20071212 DISPOSITIF POUR LA DETECTION D'UN RAYONNEMENT INFRAROUGE COMPORTANT UN BOLOMETRE RESISTIF D'IMAGERIE, SYSTEME COMPRENANT UNE MATRICE DE TELS BOLOMETRES, ET PROCEDE DE LECTURE D'UN BOLOMETRE D'IMAGERIE INTEGRE DANS UN TEL SYSTEME DOMAINE DE L'INVENTION La présente invention a trait au domaine de l'imagerie infrarouge et de la pyrométrie bolométrique. Plus particulièrement, la présente invention concerne un dispositif pour la détection d'un rayonnement infrarouge comportant un bolomètre résistif d'imagerie. Elle concerne également un système comprenant une matrice de tels dispositifs ainsi qu'un procédé de lecture d'un bolomètre d'imagerie intégré dans un tel système. ETAT ANTERIEUR DE LA TECHNIQUE Dans le domaine des détecteurs infrarouges, il est connu d'utiliser des dispositifs agencés sous forme matricielle, et susceptibles de fonctionner à température ambiante, c'est-à- 20 dire ne nécessitant pas de refroidissement à de très basses températures, contrairement aux dispositifs de détection appelés "détecteurs quantiques" qui eux, nécessitent un fonctionnement à très basse température, typiquement celle de l'azote liquide. Ces détecteurs non refroidis utilisent traditionnellement la variation d'une grandeur 25 physique d'un matériau approprié, en fonction de la température, au voisinage de 300K. Dans le cas des détecteurs bolométriques, cette grandeur physique est la résistivité électrique. Un tel détecteur non refroidi associe généralement : 30 - des moyens d'absorption du rayonnement infrarouge et de conversion de celui- ci en chaleur ; - des moyens d'isolation thermique du détecteur, de telle sorte à permettre à celui-ci de s'échauffer sous l'action du rayonnement infrarouge ; - des moyens de thermométrie qui, dans le cadre d'un détecteur bolométrique, 35 mettent en oeuvre un élément résistif ; - et des moyens de lecture des signaux électriques fournis par les moyens de thermométrie. 10 15 Les détecteurs destinés à l'imagerie infrarouge sont classiquement réalisés sous la forme d'une matrice de détecteurs élémentaires, ou bolomètres, selon une ou deux dimensions, lesdits bolomètres étant suspendus au dessus d'un substrat, généralement réalisé en silicium, via des bras de soutien. Il est usuellement ménagé dans le substrat des moyens d'adressage séquentiel des détecteurs élémentaires et des moyens d'excitation électrique et de pré-traitement des signaux électriques générés par ces détecteurs élémentaires. Ce substrat et les moyens intégrés sont communément désignés par le terme � circuit de lecture �. 10 Pour obtenir une scène par l'intermédiaire de ce détecteur, on projette la scène à travers une optique adaptée sur la matrice de détecteurs élémentaires, et des stimuli électriques cadencés sont appliqués par l'intermédiaire du circuit de lecture à chacun des détecteurs élémentaires, ou à chaque rangée de tels détecteurs, afin d'obtenir un signal électrique 15 constituant l'image de la température atteinte par chacun desdits détecteurs élémentaires. Ce signal est traité de manière plus ou moins élaborée par le circuit de lecture, puis éventuellement par un dispositif électronique extérieur au boîtier afin de générer l'image thermique de la scène observée. 20 On observe cependant que la résistance thermique Rrh des bras de soutien, associée à la capacité calorifique Crh d'un bolomètre élémentaire, définit pour celui- ci une constante de temps thermique Tth , égale au produit RthCth et habituellement de l'ordre de la dizaine de millisecondes. 25 Cette constante de temps thermique propre à chaque bolomètre présente un effet dommageable, qui limite la pénétration des détecteurs bolométriques non refroidis sur le marché de la vision embarquée ou de la poursuite d'objets en mouvement par exemple. 30 La constante de temps Tth d'un bolomètre est élevée, ce qui limite son temps de réponse. Ainsi, si la scène est sujette à des variations de contraste rapides, comme par exemple l'intrusion d'un objet de température plus élevée (ou moins élevée) que celle du fond de la scène (on parle alors d'objet � chaud �, respectivement � froid �), le bolomètre peine à suivre de telles variations. Il s'en suit que le bolomètre présente une 35 mémoire thermique d'une trame de lecture à la suivante. Le déplacement d'un objet chaud (respectivement froid) dans la scène donnera ainsi lieu à une traînée dans l'image formée.5 Cet effet est dommageable de la même manière devant une scène immobile mais qui présente localement des variations rapides de température. Le bolomètre peine également à suivre de telles variations qui sont plus rapides que sa constante de temps, et donc peine à rendre fidèlement la scène. Par ailleurs, la dispersion de résistance des divers détecteurs élémentaires conduit à une dispersion du courant qui les traverse au cours de la lecture. Il en résulte une dispersion de signal devant une scène uniforme (appelée dispersion � d'offset �), ainsi qu'une dispersion de sensibilité, ou de gain, à une variation de température. La dispersion de résistance trouve son origine principalement au niveau des dispersions technologiques d'élaboration, ainsi qu'au niveau de la distribution spatiale de température du substrat, et de l'environnement radiatif. 15 Classiquement, ces dispersions sont compensées par un calcul de correction d'image, dite correction � deux points �, hors du plan focal, après acquisition expérimentale des paramètres dispersifs d'offset et de gain. Afin de pallier de tels inconvénients, une réduction de la constante de temps Zth des 20 bolomètres peut être tentée. Toutefois, diminuer la capacité calorifique Cth d'un bolomètre est difficile dans la mesure où celle-ci est dépendante de la quantité de matière utilisée pour la fabrication du bolomètre. Or, une diminution de la masse du bolomètre a pour conséquence directe 25 d'augmenter le bruit électrique de celui-ci, puisque la puissance du bruit électrique est liée au volume du bolomètre, au moins lors de la mise en oeuvre de matériaux thermométriques présentant un niveau de bruit basse fréquence non négligeable. Par ailleurs, la stabilité géométrique des structures sensibles ne peut être assurée qu'au-delà d'une quantité de matière structurale suffisante, non réductible à volonté. 30 Par ailleurs, diminuer la résistance thermique Rth ne constitue pas non plus une solution satisfaisante. En effet, cela implique une diminution de l'isolation thermique du bolomètre vis-à-vis du substrat, c'est-à-dire sa sensibilité, car la résistance thermique Rrh est directement liée à la sensibilité de détection thermique du bolomètre, 35 facteur primordial qui définit la résolution thermique du détecteur bolométrique. 10 On constate ainsi dans l'état de la technique qu'il est impossible d'obtenir un détecteur bolométrique qui soit à la fois exempt de phénomènes de traînée, et performant en terme de résolution thermique, c'est-à-dire avec un rapport signal/bruit élevé. Généralement, un détecteur bolométrique de l'état de la technique est conçu pour une application particulière. Usuellement, la constante de temps Zth d'un tel bolomètre est maximisée par augmentation de Rrh par construction jusqu'à un niveau de traînée jugé acceptable dans le cadre de cette application. Le but de la présente invention est d'annuler la dualité défavorable entre la constante de temps des bolomètres et la résolution thermique de ceux-ci. L'invention a donc pour but de fournir, à l'aide de moyens simples et robustes, des détecteurs bolométriques qui soient sensiblement exempts de phénomènes de traînée 15 tout en étant performants en termes de résolution thermique. EXPOSE DE L'INVENTION A cet effet, l'invention a pour objet un dispositif pour la détection d'un rayonnement 20 infrarouge, comportant un bolomètre résistif d'imagerie destiné à être connecté électriquement à un circuit de mesure d'une résistance de celui-ci. Selon l'invention, ce dispositif comporte des moyens de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie. 25 Ainsi, il est possible à l'aide de ces moyens de commande, de régler la résistance du bolomètre sur une valeur prédéterminée de référence au moins une fois pour chaque cycle de lecture de celui-ci. Ceci a pour effet d'annuler la mémoire thermique du bolomètre avant chaque lecture de ce dernier, et donc d'éliminer le bruit de fond et le 30 phénomène de traînée. En effet, en réglant ainsi la résistance du bolomètre sur la valeur de référence, la résistance du bolomètre lue est indépendante des évènements ayant eu lieu jusqu'à la fin du cycle précédent, avant le cycle courant de lecture, et notamment du déroulement 35 de la scène et de la variation thermique du substrat antérieurs. Cette résistance est également sensiblement indépendante de la position spatiale du bolomètre dans une disposition linéaire ou matricielle. Par ailleurs, l'invention améliore sensiblement le détecteur au niveau de ses dispersions 5 d'offset et de gain, et permet donc de simplifier sa mise en oeuvre. Dans ce qui suit, on appelle � bolomètre d'imagerie � un bolomètre sensible au flux de scène incident et destiné à produire un élément d'image thermique de la scène observée. Selon des modes de réalisations particuliers de l'invention, les moyens de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie comprennent des moyens d'injection d'un courant de référence (Iref) prédéterminé dans celui-ci. 15 Ces moyens de commande comprennent avantageusement des moyens de déconnection des moyens d'injection de courant lorsqu'une tension à une borne du bolomètre d'imagerie est sensiblement égale à une tension de référence prédéterminée. Cette tension de référence est elle-même avantageusement réglée à une valeur inférieure à une tension présente aux bornes du bolomètre d'imagerie lors d'une activation des 20 moyens d'injection de courant, et lorsque le courant est sensiblement égal au courant de référence Iref L'invention a également pour objet un système de détection d'un rayonnement infrarouge comportant une matrice d'au moins une ligne de dispositifs comportant 25 chacun: ^ un bolomètre résistif d'imagerie ; ^ et un circuit de mesure apte à être connecté électriquement au bolomètre d'imagerie pour une lecture d'une résistance de celui-ci. 30 Selon l'invention, ces dispositifs sont chacun du type susmentionné. Selon l'invention, les moyens de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie sont aptes à régler celle-ci sur une valeur prédéterminée de résistance commune pour tous les bolomètres d'imagerie de ladite matrice. Avantageusement, les moyens de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie sont activés après chaque lecture de celui-ci. 10 35 En outre, le système peut comprendre des moyens de commande d'une dynamique thermique d'une scène détectée par la matrice en fonction d'une dynamique électrique prédéterminée du circuit de lecture. Ces moyens de commande de la dynamique de la scène détectée comprennent des moyens aptes à activer le circuit de lecture une fois écoulée une durée prédéterminée d'exposition depuis une désactivation des moyens de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie. Dans ce cas de figure, la durée d'exposition est sélectionnée pour que la dynamique de la scène détectée soit inférieure ou égale à une dynamique correspondante du circuit de 10 lecture. Selon un mode particulier de réalisation de l'invention : ^ le circuit de lecture est apte à lire la matrice ligne par ligne, ^ les moyens de commande de la résistance du bolomètre sont aptes à commander 15 la matrice ligne par ligne, ^ et le système comporte en outre des moyens de cadencement de la lecture et de la commande de la résistance du bolomètre, de sorte que la lecture d'une ligne de la matrice soit décalée d'un nombre prédéterminé de lignes de la commande des résistances d'une ligne de la matrice. 20 Selon une autre caractéristique avantageuse de l'invention, le système de détection comporte un circuit de commande de résistance associé à chaque bolomètre d'imagerie de la matrice bolométrique et apte à commander la résistance de celui-ci. 25 Alternativement, ledit système comporte un circuit de commande de résistance associé à chaque colonne de la matrice et apte à commander la résistance de chaque bolomètre de cette colonne. La présente invention a également pour objet un procédé de lecture d'un bolomètre 30 résistif d'imagerie d'une matrice de bolomètres constitutive d'un système de détection d'un rayonnement infrarouge, dans lequel la résistance de celui-ci est réglée sur une valeur prédéterminée de résistance commune pour tous les bolomètres de la matrice au moins une fois par cycle de lecture de celui-ci. BREVE DESCRIPTION DES FIGURES L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple, et réalisée en relation avec les dessins annexés dans lesquels des références identiques se rapportent à des éléments identiques ou analogues, et dans lesquels : ^ la figure 1 est une vue schématique d'un détecteur bolométrique selon l'invention ; ^ la figure 2 est une vue schématique d'un agencement d'un bolomètre d'imagerie, d'un circuit de compensation, d'un circuit de mesure et d'un circuit de thermalisation entrants dans la constitution du détecteur de la figure 1 ; ^ la figure 3 est un organigramme du fonctionnement du détecteur de la figure 1 ; ^ la figure 4 est un tracé illustrant l'évolution temporelle de la dynamique thermique de la scène détectée par une ligne du détecteur de la figure 1. DESCRIPTION DETAILLEE DE L'INVENTION On a illustré schématiquement sur la figure 1 un détecteur bolométrique qui comprend : ^ une matrice bidimensionnelle 12 d'imagerie comprenant n lignes et m colonnes de bolomètres résistifs d'imagerie 102, où n et m sont des entiers supérieurs ou égaux à 1. La matrice d'imagerie 12 est agencée dans le plan focal d'une optique transparente aux infrarouges (non représentée) ; ^ un circuit de lecture 16 réalisé dans un substrat sous la surface de la matrice d'imagerie 12. Le circuit de lecture 16 comprend un circuit d'adressage ligne par ligne 18 et, pour chaque colonne de la matrice d'imagerie 12, un circuit de mesure 22 apte à être connecté à chaque bolomètre d'imagerie de leur colonne par des moyens électriques ; ^ une matrice de bolomètres de compensation 24 comprenant un ou plusieurs circuits de compensation 26 disposés en regard de chaque colonne de la matrice d'imagerie 12, mais au-delà du format de la matrice d'imagerie. La matrice 24 comporte par exemple, pour chaque colonne de la matrice d'imagerie 12, un circuit de compensation 26 apte à être connecté à chaque bolomètre d'imagerie de la colonne ; et une unité de traitement d'informations 28 connectée au circuit de lecture 16 et mettant en oeuvre un algorithme de traitement des signaux délivrés par celui-ci pour déterminer une image infrarouge de la scène projetée sur la matrice 12. 7 Une telle structure de détecteurs bolométriques est classique et ne sera pas expliquée plus en détail par la suite. Pour de plus amples informations, on pourra utilement se reporter par exemple au document � Uncooled amorphous silicon enhancement for 25,um pixel pitch achievement � de E. Mottin et al, Infrared Technology and Application XXVIII, SPIE, vol. 4820. Selon l'invention, cette structure de détecteur est complétée par un circuit d'obturation thermique 30 de la matrice de bolomètres d'imagerie 12, sous le contrôle des moyens d'adressage 18, et formé de circuits de thermalisation 32 de la matrice 12 ligne par ligne, comme cela sera expliqué plus en détail ci-dessous. Le circuit d'obturation 30 comporte, pour chaque colonne de la matrice d'imagerie 12, un circuit de thermalisation 32 apte à être connecté à chaque bolomètre d'imagerie de la colonne. Sur la figure 2, on a illustré un agencement élémentaire préféré : ^ d'un point élémentaire d'image 14, composé d'un bolomètre d'imagerie 102 de la matrice 12 et des éléments 46 et 48 nécessaires à sa mise en oeuvre ; ^ d'un circuit de mesure 22 du circuit de lecture 16 pour la mesure du bolomètre d'imagerie 102 ; ^ d'un circuit de compensation 26 de la matrice 24 pour la compensation d'un 20 courant de mode commun circulant dans le bolomètre d'imagerie 102 lors de la lecture de celui-ci ; et ^ d'un circuit de thermalisation 32 du circuit d'obturation thermique 30 pour la thermalisation du bolomètre d'imagerie 102. 25 Le bolomètre 102 est soumis à un rayonnement infrarouge IR issu d'une scène et est connecté à la masse par une première borne A. Le circuit de mesure 22 comprend : - un amplificateur opérationnel 40, dont la borne non inverseuse (+) est mise à une 30 tension constante Vbus prédéterminée ; - un condensateur 42, de capacité Chi, prédéterminée, connecté entre une borne inverseuse (-) de l'amplificateur 40 et la sortie de celui-ci ; - un interrupteur de remise à zéro 44 connecté en parallèle du condensateur 42 et pilotable au moyen d'un signal � Reset � commandé par le circuit d'adressage 18 ; 35 - un interrupteur 46 de lecture, pilotable au moyen d'un signal � Select � commandé par le circuit d'adressage 18, et connecté à la colonne de lecture 101, elle-même connectée à la borne inverseuse (-) de l'amplificateur opérationnel ; et un premier transistor MOS 48 d'injection situé dans le point élémentaire 14, dont la grille est mise à une tension Vfid constante prédéterminée, dont la source est connectée à une seconde borne B du bolomètre 102, et dont le drain est connecté à l'autre borne de l'interrupteur 46 de lecture. Le circuit de compensation 26 du courant de mode commun traversant le bolomètre d'imagerie 102 comprend un bolomètre résistif de compensation 50 réalisé dans le même matériau que le bolomètre d'imagerie 102, présentant une faible résistance thermique vers le substrat et pourvu, de manière optionnelle, d'un écran 52 contre le rayonnement issu de la scène. Le bolomètre de compensation 50 est connecté à l'une de ses bornes à une tension prédéterminée VSK et à l'autre de ses bornes à la source d'un second transistor MOS d'injection 54 du circuit 26. Le drain du transistor 54 est connecté à l'entrée non inverseuse de l'amplificateur opérationnel 40 et la grille est connectée à une tension prédéterminée GSK. L'agencement et le fonctionnement des éléments venant d'être décrits est classique et ne seront donc pas expliqués plus en détail pour des raisons de concision. Pour de plus amples détails, on pourra par exemple se référer au document � Uncooled amorphous silicon enhancement for 25,um pixel pitch achievement � de E. Mottin et al, Infrared Technology and Application XXVIII, SPIE, vol. 4820. Selon l'invention, il est prévu le circuit de thermalisation 32 apte à éliminer la mémoire 25 thermique du bolomètre d'imagerie 102. Plus particulièrement, le circuit de thermalisation 32 comprend une source de courant 56 connectée à la borne B du bolomètre d'imagerie 102 au travers d'un premier et d'un second interrupteurs de thermalisation pilotables 58, 60, ce dernier étant déporté dans 30 le point d'imagerie élémentaire 14. La source de courant 56 injecte dans le bolomètre d'imagerie 102 un courant d'intensité prédéterminée 'ref lorsque les interrupteurs de thermalisation 58, 60 sont dans leur état fermé. Le circuit de thermalisation 32 comporte également un comparateur 62, dont une 35 première borne est connectée, par exemple au travers des interrupteurs de thermalisation 58, 60, à la borne B du bolomètre d'imagerie 102, et dont une seconde borne est connectée à une tension de référence prédéterminée VYef . Le comparateur 62 est par ailleurs connecté au premier interrupteur de thermalisation 58, dont il pilote l'état en fonction du résultat de la comparaison entre la tension VB de la borne B du bolomètre d'imagerie 102 et la tension de référence VYef . Enfin, l'état du second interrupteur de thermalisation 60 est piloté au moyen d'un signal d'effacement �Erase � par le circuit d'adressage 18. Un procédé de thermalisation et de lecture de la matrice d'imagerie 12 va maintenant être décrit en relation avec la figure 3. Dans une première étape 70, par exemple déclenchée après avoir mis sous tension le détecteur bolométrique 10 : ^ un pointeur de lecture Nleer du circuit d'adressage 18 est initialisé à 1 ; ^ une valeur de VYef et une valeur de IYef sont sélectionnées, d'une manière qui sera expliquée plus en détail par la suite ; ^ les signaux � Reset �, � Select � et � Erase � associé à chaque bolomètre d'imagerie 102 de la matrice 12 sont réglés par le circuit d'adressage 18 sur zéro, valeur qui correspond à l'état ouvert des interrupteurs 44, 46, 60. L'étape 70 se poursuit alors par une macro étape 72 de lecture de la ligne Nleer de la matrice 12. L'étape 72 de lecture comporte une étape 76 de réglage du signal � Reset � des circuits de mesure 22 par le circuit d'adressage 18 sur une valeur positive, de manière à fermer les interrupteurs de remise à zéro 44. Les condensateurs 42 de la ligne Nleer sont donc déchargés quasi instantanément. L'étape 76 se poursuit par une étape 80 dans laquelle les signaux � Reset � sont basculés sur zéro par le circuit d'adressage 18 de manière à ouvrir les interrupteurs de remise à zéro 44. Parallèlement, toujours en 80, les signaux � Select � sont basculés par le circuit d'adressage 18 sur une valeur positive de manière à fermer les interrupteurs de lecture 46 de la ligne Nleer . Ainsi pour chaque agencement décrit à la figure 2 de la ligne Nleer , la différence entre 35 le courant traversant le bolomètre d'imagerie 102 et le courant traversant le bolomètre de compensation 50 est alors intégrée par le condensateur 42. Comme le courant traversant le bolomètre de compensation 50 est sensiblement égal au courant de mode commun traversant le bolomètre d'imagerie 102, la différence de courant en entrée du circuit de mesure 22 correspond alors sensiblement à une variation ARbolo de la résistance Rbolo du bolomètre d'imagerie 102 induite par le rayonnement issu de la scène et incident sur celui-ci. Lors d'une étape suivante 82, la différence de courants à l'entrée du circuit 22 est intégrée pendant une durée Tint dans la capacité 42. Une fois le temps d'intégration écoulé, le circuit d'adressage 18 bascule, en 84, la valeur des signaux � Select � de la ligne Nlect sur zéro, de manière à ouvrir les interrupteurs de lecture 46 correspondants. A l'issue de l'étape 84, tous les signaux � Select � et � Reset � sont à zéro. Les interrupteurs respectifs sont donc ouverts. La tension Voir en sortie d'un intégrateur 42 est alors l'image de la variation de résistance ARbolo du bolomètre d'imagerie 102 associé. La macro-étape 74 de thermalisation de la ligne Nleer qui suit l'étape 84, comprend quant à elle une étape 86 dans laquelle les signaux � Erase � de cette ligne sont basculés sur une valeur positive par le circuit d'adressage 18 de manière à fermer les interrupteurs de thermalisation 60 de cette ligne. On notera qu'à cet instant, les interrupteurs de lecture 46 de la ligne Nleer sont dans leur état ouvert. Dans chaque agencement, tels qu'illustrés à la figure 2, de la ligne Nther , le bolomètre d'imagerie 102 est ainsi polarisé par l'injection dans celui-ci du courant IYef et subit donc un échauffement par effet joule. 30 Dans le cas d'un matériau classiquement utilisé pour réaliser un bolomètre d'imagerie, comme par exemple du silicium amorphe ou un oxyde de vanadium, le coefficient thermique du matériau est négatif et la résistance Rbolo du bolomètre d'imagerie 102 évolue selon une loi d'Arrhenius selon la relation : 35 Rbolo = Ro x eTCRxO (1) où :25 ^ 9 est l'échauffement du bolomètre, c'est-à-dire la différence entre la température du plan focal et la température du bolomètre de référence ; ^ Ro est une valeur de la résistance du bolomètre de référence lorsque l'échauffement de celui-ci est nul ; et ^ TCR est un coefficient thermique du matériau utilisé pour la formation du bolomètre. Ce coefficient est négatif pour les matériaux à comportement du type semi-conducteur, comme le silicium amorphe et les oxydes de vanadium. Lors d'une étape suivante 88, un test est mis en oeuvre pour déterminer si la résistance Rbolo du bolomètre d'imagerie 102 est sensiblement égale à une résistance prédéterminée RYef . Si le résultat de ce test est négatif, la thermalisation du bolomètre d'imagerie 102 se poursuit. Sinon, l'étape de test 88 se termine par l'arrêt de la thermalisation du bolomètre d'imagerie 102 par la déconnexion, en 90, de la source de courant 56 correspondant. Plus particulièrement, les étapes 88 et 90 sont mises en oeuvre par le comparateur 62. Selon la loi d'Ohm, la tension Vbolo aux bornes du bolomètre d'imagerie 102 est modélisable selon la relation : Vbolo VB Rbolo X Iref (2) Le comparateur 62 bascule alors le second interrupteur de thermalisation 58 dans son état ouvert, déconnectant ainsi la source de courant 56 du bolomètre d'imagerie 102, lorsque la tension VYef est sensiblement égale à VB , c'est-à-dire lorsque Rbolo vérifie la relation : V R ûR _ref Rbolo Rref Iref La thermalisation du bolomètre d'imagerie 102 est ainsi terminée. On notera que la résistance RYef que présente le bolomètre d'imagerie 102 en fin de thermalisation est indépendante de la quantité de rayonnement infrarouge reçu par le celui-ci. On peut en effet montrer que l'échauffement 9 subi par le bolomètre d'imagerie 102 35 au moment de la déconnexion de la source de courant 56 par le comparateur 62 s'exprime selon la relation : (3) 1 Vref = x (4) BTCRRoxIYef Comme on peut le constater, cet échauffement ne dépend pas du rayonnement infrarouge reçu, mais uniquement de paramètres internes au bolomètre d'imagerie 102 ainsi que de paramètres du circuit de thermalisation 32, à savoir le courant IYef et la tension Vref . L'étape de thermalisation de la ligne Nleer se termine enfin par une étape 92, au cours de laquelle le circuit d'adressage 18 bascule les signaux � Erase � de cette ligne sur zéro afin d'ouvrir les interrupteurs de thermalisation 60 correspondants. L'étape 74 de lecture et de thermalisation se poursuit ensuite par une étape 94, déclenchée une fois celle-ci terminée, dans laquelle la valeurs du pointeur de lecture Nleer est réglée sur Nleer +1(modn) , où mod est l'opérateur modulo. En effet, une fois Nleer = n, la prochaine étape sera Nleer = 1. L'étape 94 boucle alors en entrée de l'étape 72 pour la lecture des lignes suivantes. Les valeurs du courant IYef et de la tension VYef sont déterminées lors de l'étape 70 de manière à ce que : ^ la durée d'échauffement nécessaire pour que la résistance Rbolo d'un bolomètre d'imagerie atteigne la valeur RYef soit la plus faible possible. Ainsi, le cadencement des signaux � Reset � et � Select � de l'état de la technique peut être conservé ; la valeur de VYef soit inférieure à la tension VB de la borne B du bolomètre d'imagerie 102 lors du déclenchement de la thermalisation de celui-ci. Ainsi, la condition de commutation du comparateur 62 associé n'est pas d'emblée satisfaite. Dans le cas contraire, la thermalisation du bolomètre de référence 26 serait inhibée. Dans le mode de réalisation précédemment décrit, les macro-étapes de lecture et de thermalisation, respectivement 72 et 74, s'enchaînent. La matrice est ainsi adressée, lue puis thermalisée ligne après ligne. Dans un autre mode de réalisation, un second pointeur Nther est introduit, adressant la ligne correspondante, afin de thermaliser une ligne différente de la ligne lue. Le nombre de lignes Nexp séparant la lecture de la thermalisation est avantageusement sélectionné pour commander la dynamique de la scène détectée par la matrice d'imagerie 12, comme cela est illustré sur la figure 4. Sur la figure 4, il est tracé une évolution temporelle d'un histogramme de la population de bolomètres d'imagerie 102 d'une ligne N de la matrice 12 en fonction de la température détectée par ceux-ci. L'axe des abscisses supérieur référence le temps et l'axe des abscisses inférieur référence la température détectée. A t = T0, la ligne N subit une thermalisation, comme cela a été décrit précédemment. La dispersion en population des températures des bolomètres est alors très faible. Cette dispersion est principalement inhérente à la dispersion naturelle dans la construction du détecteur, les bolomètres d'imagerie et les connexions entre les divers éléments du détecteur n'étant pas strictement identiques. On notera que la durée de thermalisation d'un bolomètre est très sensiblement inférieure à sa durée d'exposition, c'est-à-dire la durée séparant sa thermalisation de sa lecture. A titre d'exemple numérique, la durée d'exposition est de l'ordre de la dizaine de millisecondes alors que la durée de thermalisation est de l'ordre de la dizaine de microsecondes. Une fois la thermalisation terminée, les bolomètres d'imagerie de la ligne N se refroidissent. Chaque bolomètre d'imagerie a sa propre vitesse de refroidissement en fonction du rayonnement infrarouge qu'il reçoit. On observe, comme cela est illustré, un étalement de l'histogramme. La dynamique de la scène détectée par la ligne N, définie comme la différence entre la température du bolomètre le plus chaud et la température du bolomètre le plus froid de la ligne N, augmente donc avec le temps. Par ailleurs, le circuit de mesure 22 présente lui-même une dynamique de lecture fixe, définie comme la différence entre les tensions maximale et minimale que peut délivrer la sortie des amplificateurs opérationnels 40. Une telle dynamique, convertie dans le domaine des températures, est illustrée entre les deux lignes pointillées. Comme on peut le constater, si une durée d'exposition trop importante s'écoule entre la thermalisation de la ligne N et sa lecture, par exemple 16 millisecondes, la dynamique de la ligne est plus importante que la dynamique de lecture. Une partie importante des bolomètres d'imagerie, correspondant à des températures froides, ne peut pas être lue par le circuit de lecture du détecteur. De manière avantageuse, la lecture de la ligne N est déclenchée avant que la dynamique de sortie induite par la scène ne soit plus importante que la dynamique du circuit de lecture par le choix approprié du nombre de lignes Nexp , où Nexp est le nombre de lignes séparant le pointeur de thermalisation Nther du pointeur de lecture Nient Il s'écoule en effet une durée d'exposition T = New exp F , où Fiigne est une fréquence ligne d'adressage prédéterminée du circuit d'adressage 18, entre la lecture et la thermalisation de la ligne N. Cette durée est donc pilotable par le choix de Nexp . De manière préférée, le temps d'exposition Texp est choisi de façon à ce que la dynamique de l'image en sortie induite par la scène soit inférieure ou égale à celle de la lecture. Grâce à l'invention, on obtient : ^ une annulation sensible de la mémoire thermique de la matrice d'imagerie 12 et donc des effets de traînée. En effet, avant chaque lecture, les résistances Rbolo des bolomètres d'imagerie sont réglées sur une valeur de référence RYef indépendante de la scène. Ainsi, seules les variations de résistance ayant eu lieu pendant l'exposition des bolomètres entre leur thermalisation et leur lecture sont détectées ; ^ une commande simple et efficace de la dynamique de scène accessible par la matrice d'imagerie 12 au moyen de l'utilisation d'un pointeur de thermalisation dans la logique de cadencement ; ^ une annulation substantielle des effets de dispersion spatiale d'offset et de gain, liée à la formation d'une résistance électrique sensiblement identique sur tous les bolomètres d'imagerie avant l'intégration du signal ; ^ l'élimination potentielle du traditionnel système mécanique d'obturation optique (ou � shutter �), ce qui améliore notoirement l'intérêt économique, la continuité de service du détecteur lors d'une phase d'observation, et la durée de vie du système. Il a été décrit un mode de réalisation particulier de l'invention. En variante, les sources de courant 56 sont pilotables. Par exemple, un profil de courant variable pendant la durée de thermalisation peut être préalablement déterminé de 10 manière à encore optimiser cette durée. De même, il a été décrit une thermalisation ligne à ligne de la matrice d'imagerie 12. En variante, un circuit de thermalisation 32 peut être prévu pour chaque bolomètre d'imagerie 102 de la matrice d'imagerie 12. Ceci est particulièrement avantageux 15 lorsqu'un circuit de mesure 22 est également prévu pour chaque bolomètre d'imagerie. On obtient ainsi une thermalisation synchrone de tous les bolomètres d'imagerie, ce qui diminue sensiblement des artéfacts induits par une thermalisation ligne par ligne de la matrice d'imagerie. 20 De même, il a été décrit une thermalisation d'une matrice d'imagerie associée à une structure de compensation. On comprendra que la présente invention s'applique également à une matrice d'imagerie associée à une structure dite de � référence �, telle que décrite dans le document � Performance of 320x240 Uncooled Bolometer-type Infrared Focal Plane Arrays � de Yutaka Tanake et al., Proc. SPIE, vol 5074. 25 La présente invention trouve application dans le domaine des capteurs d'image à détection bolométrique, quelle que soit la bande de fréquences de détection ou du type de matériau bolométrique utilisé pour fabriquer les bolomètres d'imagerie et de référence, comme par exemple du silicium amorphe (a-Si), de l'oxyde de vanadium 30 (Vox), un métal. Par sa capacité d'adaptation à différentes températures de fonctionnement d'un capteur d'image à détection bolométrique, l'invention s'applique aussi bien aux capteurs régulés thermiquement qu'aux capteurs opérant à une température variable du plan 35 focal (communément désigné par l'expression anglo-saxonne � TEC-LESS �), et cela qu'un obturateur ait été ou non prévu en association avec l'optique.5 REVENDICATIONS 1. Dispositif pour la détection d'un rayonnement infrarouge comportant un bolomètre résistif d'imagerie (102), destiné à être connecté électriquement à un circuit de mesure (22) d'une résistance de celui-ci, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens (32) de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie (14). 2. Dispositif pour la détection d'un rayonnement infrarouge selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens (32) de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie (102) comprennent des moyens (56) d'injection d'un courant de référence (Iref) prédéterminé dans celui-ci. 3. Dispositif pour la détection d'un rayonnement infrarouge selon la revendication 2, caractérisé en ce que les moyens (32) de commande comprennent des moyens (62) de déconnection des moyens (56) d'injection de courant lorsqu'une tension à une borne (B) du bolomètre d'imagerie (102) est sensiblement égale à une tension de référence prédéterminée. 4. Dispositif pour la détection d'un rayonnement infrarouge selon la revendication 3, caractérisé en ce que la tension de référence est réglée à une valeur inférieure à une tension présente aux bornes (B) du bolomètre d'imagerie (102) lors d'une activation des moyens (56) d'injection de courant et lorsque le courant est sensiblement égal au courant de référence (Iref). 5. Système de détection d'un rayonnement infrarouge comportant une matrice (12) d'au moins une ligne de dispositifs, comportant chacun : ^ un bolomètre résistif d'imagerie (102) ; ^ et un circuit de mesure (22) apte à être connecté électriquement au bolomètre d'imagerie (102) pour une lecture d'une résistance de celui-ci, caractérisé en ce que les dispositifs sont chacun conformes à l'une quelconque des revendications 1 à 4. 6. Système de détection d'un rayonnement infrarouge selon la revendication 5, caractérisé en ce que les moyens (32) de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie sont aptes à régler celle-ci sur une valeur prédéterminée de résistance commune pour tous les bolomètres d'imagerie (102) de la matrice (12). 7. Système de détection d'un rayonnement infrarouge selon l'une des revendications 5 et 6, caractérisé en ce que les moyens (32) de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie sont activés après chaque lecture de celui-ci. 8. Système de détection d'un rayonnement infrarouge selon l'une des revendications 5 à 7, caractérisé en ce qu'il comprend en outre des moyens (18) de commande d'une dynamique thermique de scène accessible par le système en fonction d'une dynamique prédéterminée du circuit de lecture (16). 10 9. Système de détection d'un rayonnement infrarouge selon la revendication 8, caractérisé en ce que les moyens de commande de la dynamique de scène comprennent des moyens (18) aptes à activer la lecture du bolomètre d'imagerie une fois écoulée une durée prédéterminée d'exposition depuis une désactivation 15 des moyens (32) de commande de la résistance du bolomètre d'imagerie. 10. Système de détection d'un rayonnement infrarouge selon la revendication 9, caractérisé en ce que la durée d'exposition est sélectionnée pour que la dynamique de la scène détectée soit inférieure ou égale à une dynamique 20 correspondante du circuit de lecture. 11. Système de détection d'un rayonnement infrarouge selon l'une des revendications 8 à 10, caractérisé : ^ en ce que le circuit de lecture est apte à lire la matrice ligne par ligne, 25 ^ en ce que les moyens (32) de commande de la résistance du bolomètre sont aptes à commander la matrice ligne par ligne, ^ et en ce que le système comporte en outre des moyens (18) de cadencement de la lecture et de la commande de la résistance du bolomètre de sorte que la lecture d'une ligne de la matrice soit décalée d'un nombre prédéterminé 30 de lignes de la commande des résistances d'une ligne de la matrice. 12. Système de détection d'un rayonnement infrarouge selon l'une quelconque des revendications 5 à 11, caractérisé en ce qu'il comporte un circuit de commande de résistance associé à chaque bolomètre d'imagerie de la matrice bolométrique 35 et apte à commander la résistance de celui-ci. 5 13. Système de détection d'un rayonnement infrarouge selon l'une quelconque des revendications 5 à 11, caractérisé en ce qu'il comporte un circuit de commande de résistance associé à chaque colonne de la matrice et apte à commander la résistance de chaque bolomètre de cette colonne. 14. Procédé de lecture d'un bolomètre résistif d'imagerie (102) d'une matrice de bolomètres (12) constitutive d'un système de détection d'un rayonnement infrarouge, dans lequel la résistance du bolomètre (102) est réglée sur une valeur prédéterminée de résistance commune pour tous les bolomètres de la matrice (12) au moins une fois par cycle de lecture de celui-ci.