FR 2930678 A1 20091030 FR 0802336 A 20080425 SYSTEME OPTRONIQUE IR A MAINTENANCE PREDICTIVE DU NOMBRE DE CYCLES AVANT PANNE Le domaine de l'invention est celui des systèmes optroniques tels que des caméras thermiques, équipés de détecteurs infrarouges (� IR �) refroidis aussi désignés détecteurs-refroidisseurs. La figure 1 présente une conception classique de détecteur-refroidisseur qui comporte : un détecteur IR 1 placé dans une enceinte à vide (cryostat 2) qui maintient la température de cette enceinte à une température de fonctionnement du détecteur soit environ -200 °C, une machine à froid 3 qui utilise par exemple de l'hélium et fournit au cryostat 2 le froid nécessaire pour amener (en général baisser) sa température d'une température ambiante à la température de fonctionnement. Le temps nécessaire pour atteindre la température de fonctionnement est désigné � Temps de Mise en Froid � (TMF). La performance de l'ensemble est mesurée sur une plage de température significative : de -173°C à -190°C. Le TMF pour passer de - 173°C à -190°C est typiquement de quelques dizaines de secondes. un dispositif d'asservissement 4 de cette machine à froid en fonction de la température Td du détecteur fournie par un capteur 8. Les détecteurs-refroidisseurs utilisés aujourd'hui sont fragiles, hétérogènes en ce sens que deux détecteurs-refroidisseurs identiques ne se comportent pas de la même manière, et coûteux. La maintenance actuelle se limite à constater la panne lorsqu'elle survient c'est-à-dire en détectant une sortie de spécification du temps de mise à froid. La panne entraîne des indisponibilités et de l'insatisfaction de la part des utilisateurs. De plus les coûts de maintenance sont élevés. En conséquence, il existe à ce jour un besoin pour un système permettant de pallier les inconvénients précités sans pour autant augmenter son encombrement. Le principe qui sous-tend l'invention consiste à anticiper les dysfonctionnements c'est-à-dire à réaliser une maintenance prédictive afin de limiter les pannes. Cette maintenance prédictive est basée sur un suivi de 5 l'état de santé du refroidisseur-détecteur. Plus précisément elle est effectuée à partir de la mesure de la dérive du temps de mise à froid. En effet cette dérive du TMF peut trahir : - une fuite de l'hélium de la machine à froid, - une pollution de l'hélium, 10 - une dégradation du vide du cryostat, avec pour conséquence une fatigue de la machine à froid sous forme de : - dégradation des éléments mécaniques de la machine à froid, - dégradation de l'isolation thermique, - variation de la température interne du système optronique lors du 15 démarrage de la mise en froid, - variation de la température initiale du détecteur lors du démarrage de la mise en froid. Le temps de mise en froid augmente lorsque la machine à froid fatigue. A chaque démarrage de la machine à froid on mesure ce TMF. 20 L'invention est basée sur un traitement statistique de ces données. Ceci permet de prédire le potentiel de la machine c'est-à-dire le nombre de démarrages avant que le TMF ne dépasse une valeur seuil représentative d'une panne imminente, et ainsi de maîtriser la disponibilité opérationnelle du détecteur-refroidisseur. 25 Un des inconvénients de ce traitement statistique réside dans le stockage des données car les systèmes optroniques ont peu de mémoire disponible pour la maintenance. L'algorithme permet de s'affranchir des problèmes de stockage en sauvegardant des données cumulées mais pas les mesures de températures, ni les TMF. L'algorithme permet à chaque 30 détecteur-refroidisseur de construire seul son propre modèle de comportement. Le système est � auto-adaptatif �. Plus précisément l'invention a pour objet un système optronique équipé : a. d'un détecteur-refroidisseur qui comprend : 35 i. une machine à froid, ii. un cryostat, iii. un détecteur IR placé dans le cryostat, iv. un capteur de la température TD du détecteur, b. d'une carte de traitement qui comporte des moyens d'asservissement de la machine à froid en fonction de la température T0. Il est principalement caractérisé en ce que le système comprend un capteur de la température TS interne au système, et en ce que la carte de traitement comprend des moyens de calcul : du temps de mise à froid TMF à partir des températures TD et Ts, à chaque cycle � Marche-Arrêt � du détecteur-refroidisseur, de l'évolution de la dérive du temps de mise à froid TMF, en fonction du nombre de cycles � Marche-Arrêt � du détecteur-15 refroidisseur, d'un nombre de cycles � Marche-Arrêt � du détecteur-refroidisseur avant panne en fonction de ladite évolution de la dérive du TMF, et des moyens de stockage de données utilisées dans lesdits calculs 20 et en ce que ces données sont des données cumulées et non pas les mesures de températures TD , Ts ni lesdits TMF afin de limiter la taille des moyens de stockage. Cette solution permet donc avec un minimum d'espace mémoire de déterminer le potentiel résiduel du détecteur-refroidisseur. II en résulte 25 notamment une économie de l'espace mémoire nécessaire aux autres applications du système optronique, une meilleure maîtrise du détecteur-refroidisseur par l'utilisateur, une amélioration des performances opérationnelles, une augmentation de l'autonomie par une diminution de l'énergie consommée par le détecteur refroidisseur. 30 On se donne alors l'opportunité de : déclencher une opération de maintenance préventive car les défauts décelés sont réversibles, donner le choix à l'utilisateur de partir en mission avec un détecteur-refroidisseur en bon état plutôt qu'un autre au 35 potentiel trop entamé. 10 Il comprend avantageusement un indicateur de maintenance prédictive relié aux moyens de calcul. La panne est typiquement représentée par un TMF maximal prédéterminé. Selon une caractéristique de l'invention, le calcul est réalisé à partir d'une somme des TMF, d'un nombre de mises en froid cumulé, et d'un cumul du produit du n° du cycle considéré par le TMF correspondant. De préférence, le calcul est réalisé pour différentes classes de température Ts du système. Avantageusement, chaque classe de température fait l'objet de calculs indépendants. La dérive du TMF est typiquement une fonction linéaire du nombre de cycles. Ce système optronique est par exemple une caméra thermique. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description détaillée qui suit, faite à titre d'exemple non limitatif et en référence aux dessins annexés dans lesquels : la figure 1 déjà décrite représente schématiquement un système 20 optronique selon l'état de la technique, la figure 2 représente schématiquement un système optronique selon l'invention, la figure 3 est un organigramme présentant le calcul du nombre de cycles avant défaut, 25 la figure 4 représente schématiquement une courbe de température du détecteur en fonction du temps. D'une figure à l'autre, les mêmes éléments sont repérés par les mêmes références. 30 Le système selon l'invention représenté figure 2, comprend en plus du système de l'état de la technique, un capteur 9 de la température Ts interne au système et des moyens de calcul 5 et de stockage de données 10, ainsi qu'un indicateur 6 de maintenance prédictive. L'invention est basée sur un traitement statistique des TMF 35 calculés lors de chaque démarrage de la machine à froid 3. Cela permet de prédire le potentiel de démarrages de la machine à froid avant panne, et ainsi de maîtriser la disponibilité opérationnelle du détecteur-refroidisseur. Le potentiel est exprimé par le rapport du nombre de cycles ( de démarrage-arrêt) courant sur le nombre de cycles prévisionnels avant atteinte d'un TMF maximal acceptable. Ce calcul est décrit en relation avec l'organigramme de la figure 3. Ce calcul est basé sur la mesure de la température TD du détecteur et de la température interne Ts du système optronique (étape A). Ces mesures sont ensuite validées (étape B) c'est-à-dire ne sont prises en compte que dans certaines conditions. En effet, les éléments suivants perturbent la mesure du TMF. Il faut donc s'affranchir de ces perturbations. a. Une variation de la température interne du système optronique Ts lors du démarrage de la mise en froid. Le calcul est réalisé pour différentes classes de température TD ou TS, par exemple par pas de 5°C. Chaque classe de température fait l'objet d'un calcul de moyenne indépendant. Il n'est donc pas utile de ramener les mesures à une température de référence. De plus, on considère que pour un système optronique donné, les conditions d'emploi sont assez reproductibles et donc centrées sur 2 ou 3 classes de températures. L'exemple décrit par la suite est basé sur des classes de température TD du détecteur. b. Une variation de la température initiale du détecteur lors du démarrage de la mise en froid. Si la mise en froid est réalisée peu de temps après un arrêt, le TMF peut être très court (le cryostat reste froid quelques heures après l'arrêt de la machine à froid �MAF �). Ce TMF n'est alors pas représentatif car la MAF ne réalise pas un cycle complet de mise en froid. Ces cas sont éliminés par comparaison de la température TD initiale avec la température interne Ts du système. Si TD s'écarte trop de Ts, la mesure n'est pas prise en compte. Une fois les mesures validées, un calcul du nombre de cycles avant panne est effectué pour chaque classe de températures. Chaque classe de températures fait l'objet de calculs indépendants. II n'est donc pas utile de ramener les mesures à une température de référence. Pour chaque classe de température on utilise les données 35 suivantes : - TMF TOT qui est la somme de tous les TMF dans la classe de température considérée, - Nb-cycles qui est le nombre de mises en froid cumulé dans la classe de température considérée, - (N° cycle.TMF)-TOT qui est le cumul du produit du n° du cycle considéré par le TMF correspondant, dans la classe de température considérée. Ces données sont des données cumulatives dont la valeur évolue en fonction de la mesure courante. Il n'y a donc pas de sauvegarde de 10 chaque mesure de TMF, TD et T. Ceci permet de limiter l'espace mémoire dédié à cette prédiction d'évolution du TMF. Comme on va le voir plus loin, ces données cumulatives sont sauvegardées dans un tableau de K colonnes, K étant le nombre de classes de températures différentes, les lignes du tableau correspondant à ces 15 données. Le nombre K est par exemple déterminé par le nombre de tranches de 5°C. On calcule également le TMF moyen, TMF_MOY qui est égal à TMF TOT / Nb-cycles ; cette donnée n'est pas sauvegardée dans le tableau. On se reporte à l'organigramme de la figure 3. Le TMF est mesuré 20 dans une fourchette de température prédéfinie (étape C). Celle-ci est définie à partir de la courbe de la température du détecteur TD en fonction du temps, schématiquement représentée figure 4: cette fourchette correspond à la portion quasi-linéaire de la courbe typiquement comprise entre -173 et -190 °C. 25 La colonne du tableau de sauvegarde des données est sélectionnée en fonction de la température TD du détecteur (étape D). Diverses données sont alors calculées et sauvegardées dans ladite colonne du tableau en vue du calcul de l'évolution du temps de mise en froid : Nb-cycles (étape E), TMF_TOT, (N°cycle.TMF)_TOT (étapes F et 30 G). Cette évolution est modélisée par TMF = a.N°cycle + b La pente � a � est estimée par la méthode des moindres carrés mais en s'affranchissant du stockage de toutes les données. a = Covariance (TMF, Nb_cycles) / Variance (Nb_cycles) (étape G) 35 avec : Variance (Nb_cycles) = [Somme (N°_cycle2)/Nb-cycles] - Espérance(Nb_cycles)2 Variance (Nb_cycles) = [Somme (12+22+32+42...)/Nb_cycles] ù [Somme(1+2+3+4+...)/Nb_cycles]2 5 Les suites arithmétiques permettent de généraliser l'expression Variance (Nb_cycles) = [Nb_cycles.(Nb_cycles+1).(2.Nb_cycles +1) / 6 / Nb_cyles] ù [Nb_cycles.(1+ Nb_cycles)/2/Nb_cycles]2 Variance (Nb_cycles) = 10 [(Nb_cycles +1).(2.Nb_cycles +1) / 6 ]-.[(1+ Nb_cycles) / 2]2 Covariance (TMF, Nb_cycles) = Espérance(TMF.N°_cycle)-TMF_moy.Nb_cycles_moy Avec 15 Espérance(TMF.N°cycle) = (N°cycle.TMF)_TOT / Nb_cycles TMF_moy est calculé à chaque cycle, Nb_cycles_moy = (1+ Nb_cycles)/2 Covariance (TMF, Nb_cycles) = [(N°cycle.TMF)_TOT / Nb_cycles] ù [TMF_moy . (1+ Nb_cycles)/2] 20 La valeur de la pente � a � du TMF et le TMF à l'origine de la droite � b � sont alors mis à jour à chaque nouveau cycle (étape G). L'extrapolation de la droite jusqu'au TMF limite acceptable au regard de la spécification, est alors déterminée. Le potentiel est exprimé par 25 le rapport du nombre de cycles courant sur le nombre de cycles prévisionnels avant atteinte du TMF max acceptable (étape H), et affiché sur une interface utilisateur (étape I). Cette interface utilisateur 6 peut être une interface sonore et/ou visuelle. 30 Cette méthode permet de s'affranchir des problèmes de disparité liés à la production. Chaque système optronique dispose d'une analyse qui lui est propre. Il n'y a pas de modèle générique. Au fur et à mesure des mesures du TMF, le système optronique � construit � son modèle d'évolution du TMF. 10 Cette solution permet donc avec un minimum d'espace mémoire de déterminer le potentiel résiduel du détecteur-refroidisseur. Il en résulte notamment : une économie de l'espace mémoire (l'espace mémoire nécessaire est de 2 Ko) qui est ainsi disponible pour d'autres applications du système optronique, une meilleure maîtrise du détecteur-refroidisseur par l'utilisateur, une amélioration des performances opérationnelles, une augmentation de l'autonomie par une diminution de l'énergie consommée par le détecteur refroidisseur. REVENDICATIONS1. Système optronique équipé : - d'un détecteur-refroidisseur qui comprend : i. une machine à froid (3), ii. un cryostat (2), iii. un détecteur IR (1) placé dans le cryostat, iv. un capteur (8) de la température TD du détecteur, d'une carte de traitement (7) qui comporte des moyens d'asservissement (4) de la machine à froid en fonction de la température T0, caractérisé en ce que le système comprend un capteur (9) de la 15 température Ts interne au système, et en ce que la carte de traitement (7) comprend des moyens de calcul (5) : du temps de mise à froid TMF à partir des températures TD et Ts, à chaque cycle � Marche-Arrêt � du détecteur-refroidisseur, 20 de l'évolution de la dérive du temps de mise à froid TMF, en fonction du nombre de cycles � Marche-Arrêt � du détecteur-refroidisseur, d'un nombre de cycles � Marche-Arrêt � du détecteur-refroidisseur avant panne en fonction de ladite évolution de la 25 dérive du TMF, et des moyens de stockage (10) de données utilisées dans lesdits calculs et en ce que ces données sont des données cumulées et non pas les mesures de températures TD et Ts ni lesdits TMF, afin de limiter la taille des moyens de stockage. 30 2. Système optronique selon la revendication précédente, caractérisé en ce qu'il comprend un indicateur (6) de maintenance prédictive relié aux moyens de calcul (5). 3. Système optronique selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la panne est représentée par un TMF maximal prédéterminé. 4. Système optronique selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le calcul est réalisé à partir d'une somme de TMF, d'un nombre de mises en froid cumulé, et du cumul du produit du n° du cycle considéré par le TMF correspondant. 5. Système optronique selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que le calcul est réalisé pour différentes classes de température T0 du détecteur ou Ts du système. 6. Système optronique selon les revendications 4 et 5, caractérisé en ce que la somme de TMF, le nombre de mises en froid cumulé, et le cumul du produit du n° du cycle considéré par le TMF correspondant sont réalisés pour une classe de température. 7. Système optronique selon la revendication précédente, caractérisé en ce que chaque classe de température fait l'objet de calculs indépendants. 8. Système optronique selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que la dérive du TMF est une fonction linéaire du nombre de cycles. 9. Système optronique selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que ce système est une caméra thermique.30