FR 2919445 A1 20090130 FR 0803806 A 20080704 PROCEDE ET DISPOSITIF D'AMPLIFICATION D'UN SIGNAL ET DISPOSITIF D'ESSAI UTILISANT LESDITS PROCEDE ET DISPOSITF La présente invention concerne, de façon générale, les amplificateurs destinés à augmenter l'amplitude d'une tension et plus particulièrement, un amplificateur à impédance d'entrée élevée, à largeur de bande élevée et à rapport signal sur bruit élevé et son procédé. Les dispositifs destinés à mesurer différents paramètres électriques, notamment la tension, le courant et la résistance s'emploient couramment. Comme exemple classique, citons le multimètre, qui permet généralement de mesurer une tension et un courant de type alternatif (CA) ou continu (CC) ainsi qu'une résistance. Un multimètre comprend généralement un jeu de fils d'essai qui sont aptes à être raccordés à deux points d'essai. Ces fils d'essai sont couplés à un amplificateur interne qui commande un circuit pour fournir des informations à un dispositif de sortie tel qu'un compteur analogique ou un dispositif d'affichage numérique. Un circuit amplificateur classique est illustré sur la figure 1. Le circuit amplificateur 10 comprend un amplificateur opérationnel 12 ayant une entrée non inverseuse reliée à la terre. Une entrée inverseuse de l'amplificateur opérationnel 12 forme une jonction de sommation qui est connectée à une première borne d'entrée 14 du multimètre par l'intermédiaire d'une résistance d'entrée 18 et à une sortie de l'amplificateur opérationnel 12 par l'intermédiaire d'une résistance de contre-réaction 20. Une autre borne d'entrée 24 est reliée à la terre. Comme il est bien connu dans l'art, le gain de l'amplificateur 12 est fixé par le rapport de la résistance de la résistance de contre-réaction 20 à la résistance de la résistance d'entrée 18. En règle générale, il est souhaitable qu'un multimètre possède une impédance d'entrée très élevée. C'est pourquoi la résistance d'entrée 18 a généralement une résistance très élevée, telle que 1 M. La résistance de la résistance de contre-réaction 20 est généralement beaucoup plus faible, telle que 10ko2. Par conséquent, le gain de l'amplificateur 12 est faible. Dans les exemples fournis (une résistance d'entrée 18 de 1 MQ et une résistance de contre-réaction 20 de 10 kS2), le gain de l'amplificateur 12 est de 0,01. La sortie de l'amplificateur 12 est ensuite appliquée à un amplificateur à gain élevé 30. Le gain faible de l'amplificateur 12 atténue le signal à mesurer mais malheureusement, il n'atténue pas de façon significative le bruit susceptible de se trouver dans le signal ou susceptible de se trouver dans le multimètre. Par conséquent, lorsque la sortie de l'amplificateur 12 est amplifiée par l'amplificateur à gain élevé 30, le rapport signal sur bruit du signal mesuré peut être très faible. Un autre circuit amplificateur frontal 40 généralement utilisé dans un multimètre est illustré sur la figure 2. Ce circuit 40 utilise également un amplificateur opérationnel 44 configuré comme un suiveur de tension avec sa sortie connectée à l'entrée inverseuse de l'amplificateur 44. Le signal à mesurer est appliqué à l'entrée non inverseuse de l'amplificateur 44 par l'intermédiaire d'une résistance 46. L'amplificateur 44 a une impédance extrêmement élevée entre ses entrées inverseuse et non inverseuse. Or, pour fixer l'impédance d'entrée à une valeur constante et réglable, on peut utiliser une résistance d'entrée 48 entre la borne d'entrée 14 et la terre. Cette résistance d'entrée 48 peut avoir une valeur de résistance élevée, telle que 1 M. Malheureusement, une capacité parasite et une capacité d'entrée de l'amplificateur 44, toutes deux représentées par un condensateur C, forment un filtre passe-bas avec la résistance 46. Ce filtre passe-bas peut limiter la réponse en courant alternatif du circuit amplificateur 40. Bien que le circuit 40 puisse toujours servir à mesurer la tension et le courant des signaux CC, le filtre passe-bas peut provoquer des erreurs de mesure pour les signaux CA, notamment si ces derniers ont une fréquence élevée. Il est donc nécessaire de proposer un circuit qui amplifie un signal à mesurer de manière à obtenir un rapport signal sur bruit élevé, une impédance d'entrée élevée et stable et de bons résultats en haute fréquence. La présente invention met à disposition un circuit amplificateur, comprenant : - une première borne d'essai ; - une seconde borne d'essai ; - une première borne de sortie ; 4 - une seconde borne de sortie connectée à une première tension fixe ; et -un générateur de tension de sortie ayant une première entrée couplée à la première borne d'essai, une seconde entrée couplée à une seconde tension fixe, et une sortie couplée à la seconde borne d'essai et à la première borne de sortie, le générateur de tension de sortie étant conçu pour appliquer à la sortie du générateur de tension de sortie une tension ayant une amplitude égale à celle de la tension appliquée à la première entrée du générateur de tension de sortie par rapport à la seconde tension fixe et une polarité opposée à la polarité de la tension appliquée à la première entrée du générateur de tension de sortie par rapport à la seconde tension fixe. Le circuit amplificateur peut comprendre en outre une résistance d'entrée couplée entre la première borne d'essai et la seconde borne d'essai. Selon une caractéristique particulière, la première tension fixe a une amplitude qui est égale à l'amplitude de la seconde tension fixe et la première tension fixe et la seconde tension fixe sont nulles. Dans le circuit amplificateur de l'invention, le générateur de tension de sortie comprend un circuit d'attaque à intégration négative ayant une première entrée couplée à la première borne d'essai, une seconde entrée couplée à la seconde tension fixe, et une sortie couplée à la seconde borne d'essai et à la première borne de sortie, le circuit d'attaque à intégration négative étant conçu pour intégrer une tension appliquée à la première borne d'essai par rapport à la seconde tension fixe, l'intégration étant à une polarité opposée à la polarité de la tension appliquée à la première borne d'essai par rapport à la seconde tension fixe, le circuit d'attaque à intégration 5 négative fournissant une tension de sortie à la sortie du circuit d'attaque à intégration négative qui indique l'intégration. De plus, le circuit d'attaque à intégration négative comprend : un amplificateur ayant un gain, l'amplificateur ayant une première entrée couplée à la première borne d'essai, une seconde entrée couplée à la seconde tension fixe, et une sortie ; et un intégrateur ayant une entrée couplée à la sortie de l'amplificateur et une sortie couplée à la première borne de sortie et à la seconde borne d'entrée, l'intégrateur étant conçu pour intégrer une tension reçue de la sortie de l'amplificateur pour fournir une tension de sortie à la première borne de sortie et à la seconde borne d'entrée, l'intégrateur ayant une polarité d'intégration qui est opposée à une polarité du gain de l'amplificateur. Dans ledit circuit amplificateur, l'amplificateur peut comprendre : - un gain unitaire ; - un amplificateur opérationnel ayant une entrée inverseuse connectée à une sortie de l'amplificateur opérationnel, et une entrée non inverseuse connectée à la première borne d'essai ; 6 - une résistance connectée entre la première borne d'entrée et l'entrée non inverseuse de l'amplificateur opérationnel. Par ailleurs, l'intégrateur du circuit 5 amplificateur comprend : - un amplificateur opérationnel ayant une entrée inverseuse, une entrée non inverseuse, et une sortie, la sortie de l'amplificateur opérationnel étant couplée à la première borne de sortie et à la seconde borne 10 d'entrée ; - une résistance couplée entre l'entrée inverseuse de l'amplificateur opérationnel et la sortie de l'amplificateur ; et - un condensateur couplé entre l'entrée inverseuse 15 de l'amplificateur opérationnel et la sortie de l'amplificateur opérationnel. La présente invention met également à disposition un dispositif d'essai comprenant : - un premier fil d'essai ; 20 - un second fil d'essai ; - un générateur de tension de sortie ayant une première entrée couplée au premier fil d'essai, une seconde entrée couplée à une première tension fixe, et une sortie couplée au second fil d'essai, le générateur 25 de tension de sortie étant conçu pour appliquer à la sortie du générateur de tension de sortie une tension ayant une amplitude égale à celle de la tension appliquée à la première entrée du générateur de tension de sortie par rapport à la première tension fixe et une 30 polarité opposée à la polarité de la tension appliquée 7 à la première entrée du générateur de tension de sortie par rapport à la première tension fixe ; un sélecteur conçu pour commander le fonctionnement du dispositif d'essai ; un circuit de traitement couplé à la sortie du circuit d'attaque à intégration négative et au sélecteur, le circuit de traitement étant conçu pour fournir un signal de sortie indiquant une tension à la sortie du circuit d'attaque à intégration négative ; et un dispositif d'affichage couplé pour recevoir le signal de sortie du circuit de traitement et étant conçu pour fournir un affichage visuel indiquant l'amplitude d'une tension appliquée entre les premier et second fils d'essai. Ledit dispositif comprend en outre une résistance d'entrée couplée entre le premier fil d'essai et le second fil d'essai. De plus, la première tension fixe a une amplitude qui est égale à l'amplitude de la seconde tension fixe. Le générateur de tension de sortie dudit dispositif comprend un circuit d'attaque à intégration négative ayant une première entrée couplée au premier fil d'essai, une seconde entrée couplée à la première tension fixe, et une sortie couplée au second fil d'essai, le circuit d'attaque à intégration négative étant conçu pour intégrer une tension appliquée au premier fil d'essai par rapport à la première tension fixe, l'intégration étant à une polarité opposée à la polarité de la tension appliquée à la première borne d'essai par rapport à la première tension fixe, le circuit d'attaque à intégration négative fournissant 8 une tension de sortie à la sortie qui indique l'intégration. Ici, le circuit d'attaque à intégration négative comprend : - un amplificateur ayant un gain, l'amplificateur ayant une première entrée couplée au premier fil d'essai, une seconde entrée couplée à la première tension fixe, et une sortie ; et - un intégrateur ayant une entrée couplée à la sortie de l'amplificateur et une sortie couplée au second fil d'essai, l'intégrateur étant conçu pour intégrer une tension reçue du premier amplificateur pour fournir une tension de sortie au second fil d'essai, l'intégrateur ayant une polarité d'intégration qui est opposée à une polarité du gain de l'amplificateur. L'amplificateur du dispositif comprend un amplificateur opérationnel ayant une entrée inverseuse connectée à une sortie de l'amplificateur opérationnel, et une entrée non inverseuse couplée au premier fil d'essai. De son côté, l'intégrateur comprend : - un amplificateur opérationnel ayant une entrée inverseuse, une entrée non inverseuse couplée à une 25 tension fixe, et une sortie couplée au second fil d'essai ; - une résistance couplée entre l'entrée inverseuse de l'amplificateur opérationnel et la sortie de l'amplificateur ; et 30 - un condensateur couplé entre l'entrée inverseuse et la sortie de l'amplificateur opérationnel. 9 La présente invention met également à disposition un procédé d'amplification d'un signal appliqué entre des première et seconde bornes d'entrée, le procédé comprenant les étapes consistant à : générer une tension de sortie ayant une amplitude égale à celle de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe avec une polarité opposée à la polarité de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe ; et appliquer la tension de sortie à la seconde borne d'entrée. Selon des caractéristiques particulières de l'invention, dans ledit procédé, - l'opération de génération de la tension de sortie comprend l'intégration d'une tension intermédiaire par rapport au temps, la tension intermédiaire ayant une amplitude déterminée par l'amplitude de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe ; - la tension intermédiaire a une amplitude qui est égale à l'amplitude de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe et une polarité qui est opposée à la polarité de la tension appliquée à la première ; -l'opération de génération d'une tension de sortie comprend la génération d'une tension de sortie ayant une amplitude égale aux composantes de fréquence de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe qui sont inférieures à une limite de fréquence prédéterminée. L'invention sera mieux comprise, et d'autres caractéristiques de celle-ci apparaîtront plus clairement à la lecture de la description détaillée qui suit et qui est faite en référence aux figures annexées. La figure 1 est un mode de réalisation d'un circuit amplificateur de l'art antérieur qui est fréquemment utilisé dans un dispositif d'essai et de mesure. La figure 2 est un autre mode de réalisation d'un circuit amplificateur de l'art antérieur qui est fréquemment utilisé dans un dispositif d'essai et de 15 mesure. La figure 3 est un circuit amplificateur selon un premier mode de réalisation de l'invention. La figure 4 est un circuit amplificateur selon un autre mode de réalisation de l'invention. 20 La figure 5 est une vue de dessus d'un multimètre représenté en train de mesurer une tension alternative au moyen du circuit amplificateur de la figure 3 ou 4 ou d'un circuit amplificateur selon un autre mode de réalisation de l'invention. 25 Un circuit amplificateur 50 selon un premier mode de réalisation de l'invention est illustré sur la figure 3. Ce circuit amplificateur 50 comprend un circuit d'attaque à intégration négative 51 ayant deux bornes d'entrée 52, 53. L'une des bornes d'entrée 52 30 est connectée à une première borne d'essai 54 et l'autre borne d'entrée 53 est reliée à la terre. Une 11 tension d'entrée VIN à mesurer est appliquée entre la première borne d'essai 54 et une seconde borne d'essai 56. La sortie du circuit d'attaque à intégration négative 51 est connectée à la seconde borne d'essai 56 et à une première borne de sortie 58. Une seconde borne de sortie 59 est reliée à la terre. Une tension de sortie Vouî générée entre les bornes 58, 59 fournit une indication de l'amplitude de la tension VIN appliquée aux bornes d'essai 54, 56. Le circuit d'attaque à intégration négative 51 intègre par rapport au temps la tension d'entrée VIN appliquée entre les bornes d'essai 54, 56 à une polarité qui est opposée à la polarité de la tension d'entrée VIN. Par exemple, si la tension d'entrée VIN a une valeur constante de +5 volts, la sortie du circuit d'attaque à intégration négative 51 va augmenter de manière négative à une vitesse constante. Le circuit amplificateur 50 présente une propriété inhabituelle, à savoir que la sortie d'un circuit, en l'occurrence le circuit d'attaque à intégration négative 51, est connectée à une borne d'entrée, en l'occurrence la borne d'essai 56. En service, supposons que la tension au niveau de la borne 56 par rapport à la terre est initialement de 0 volt. La tension au niveau de la borne 54 par rapport à la terre sera donc égale à la tension VIN appliquée entre les bornes d'essai 54, 56. Cette tension est appliquée au circuit d'attaque à intégration négative 51 qui intègre celle- ci de manière négative. Au bout d'un certain temps, la tension à la sortie du circuit d'attaque à intégration négative 51 va être égale à la tension -VIN, c'est-à- dire l'opposé de la tension VIN entre les bornes 54, 56. A cet instant, la tension de la première borne d'essai 54 sera de 0 volt, tension qui sera appliquée à l'entrée du circuit d'attaque à intégration négative 51. Le circuit d'attaque à intégration négative 51 va donc arrêter l'intégration pour que la tension au niveau de la borne d'essai 56 reste à l'opposé de la tension VIN entre les bornes 54, 56. La tension de sortie Vouî prise entre les bornes 58, 59 a alors une valeur qui est l'inverse de la tension VIN à mesurer. Par exemple, si on applique +5 volts entre les bornes 54, 56, la sortie du circuit d'attaque à intégration négative 51 sera de -5 volts. A cet instant, la tension au niveau de la borne 54 par rapport à la terre sera de 0 volt. Par conséquent, le circuit d'attaque à intégration négative 51 ne continuera pas l'intégration, de telle sorte que la tension VAUT entre les bornes de sortie 58, 59 restera à -5 volts. Le circuit d'attaque à intégration négative 51 peut avoir une constante temporelle d'intégration suffisamment courte pour fournir au circuit amplificateur une réponse correcte en haute fréquence. Ainsi, les variations de la tension appliquée entre les bornes d'essai 54, 56 qui sont dans les limites de la réponse en fréquence du circuit d'attaque à intégration négative 51 ne provoquent aucun passage de courant entre les bornes d'entrée 54, 56. De ce fait, l'impédance d'entrée à basse fréquence, autrement dit de(t)/di(t), au niveau des bornes d'entrée 54, 56 est pratiquement infinie à condition que l'isolation entre l'une quelconque des bornes d'entrée 54, 56 et la terre soit totale. 13 Un circuit amplificateur 60 selon un autre mode de réalisation de l'invention est illustré sur la figure 4. Ce circuit amplificateur 60 comprend un circuit d'attaque à intégration négative 62 qui comprend un amplificateur opérationnel 64 configuré comme un suiveur de tension par le raccordement de sa sortie à son entrée inverseuse. L'entrée non inverseuse de l'amplificateur 64 est connectée à une première borne d'essai 66 par l'intermédiaire d'une résistance 70 qui peut avoir une valeur de 100k ou toute autre valeur adaptée. La sortie de l'amplificateur 64 est connectée par l'intermédiaire d'une résistance 74 à une entrée inverseuse d'un autre amplificateur opérationnel 80. Cet amplificateur 80 a son entrée non inverseuse mise à la terre et son entrée inverseuse connectée à sa sortie par l'intermédiaire d'un condensateur 84, de sorte qu'il fonctionne comme un intégrateur inverseur. La constante temporelle d'intégration est définie par le produit de la résistance de la résistance 74 et de la capacité du condensateur 84. Dans un mode de réalisation, la résistance 74 a une résistance de 200 ohms et le condensateur a une capacité de 100 picofarads, mais on peut utiliser d'autres valeurs. En utilisant l'amplificateur opérationnel 64 comme un suiveur de tension, on peut rendre le temps d'intégration de l'amplificateur 80 proportionnel à la résistance généralement plus faible de la résistance 74 plutôt qu'à la résistance généralement plus élevée de la résistance 70. La sortie de l'amplificateur 80 est connectée à une seconde borne d'essai 88. Une tension VIN à mesurer est appliquée entre les bornes 66, 88. 14 Une résistance 90 est connectée entre les bornes d'essai 66, 88 pour fixer l'impédance d'entrée du circuit amplificateur 60. Dans un mode de réalisation, la résistance 90 a une résistance de 1 Mû, mais on peut utiliser d'autres valeurs. En outre, on peut supprimer la résistance 90 pour obtenir une impédance d'entrée à basse fréquence pratiquement infinie. Une première borne de sortie 94 du circuit amplificateur 60 est obtenue à partir de la sortie de l'amplificateur 80 et une seconde borne de sortie 96 est reliée à la terre. Une tension de sortie Vouî est générée entre les bornes 94, 96. En service, la tension VIN appliquée entre les bornes d'essai 66, 88 est appliquée à nouveau à l'amplificateur 80. L'amplificateur 80 intègre alors cette tension de manière négative. Au bout d'un certain temps, la tension à la sortie de l'amplificateur 80 par rapport à la terre va être égale à la tension VIN entre les bornes 66, 88. A cet instant, la tension de la première borne d'essai 66 par rapport à la terre sera de 0 volt, tension qui est appliquée à l'entrée de l'amplificateur 80. L'amplificateur 80 va donc arrêter l'intégration pour que la tension à la sortie de l'amplificateur 80 reste à l'opposé de la tension VIN mesurée entre les bornes, quelle qu'elle soit. La tension de sortie VouT prise entre les bornes 94, 96 a alors une valeur qui est l'inverse de la tension VIN mesurée. Par exemple, si on applique +5 volts entre les bornes 66, 88, la sortie de l'amplificateur 64 sera de 5 volts. L'amplificateur 80 commence alors une intégration négative de sorte que la tension à la 15 sortie de l'amplificateur 80 augmente de manière négative, faisant ainsi diminuer de manière correspondante la tension au niveau de la borne d'essai 66 vers 0 volt. Lorsque l'intégration va en arriver au stade où la sortie de l'amplificateur 80 est à -5 volts, la tension au niveau de la borne 66 sera de 0 volt. A cet instant, l'amplificateur 64 va appliquer 0 volt à l'amplificateur 80, lequel va alors arrêter l'intégration de sorte que la tension VOUT entre les bornes de sortie 94, 96 restera à -5 volts par rapport à la terre. Si les bornes d'essai 66, 88 étaient soudain mises en court-circuit, une tension de -5 volts serait appliquée à l'amplificateur 64, ce qui amènerait l'amplificateur 80 à effectuer une intégration positive vers 0 volt. Lorsque la sortie de l'amplificateur 80 aurait atteint 0 volt, l'intégration s'arrêterait. En choisissant de façon judicieuse les valeurs de la résistance 74 et du condensateur 84, on peut rendre le temps d'intégration suffisamment court pour que la réponse en haute fréquence du circuit amplificateur 60 soit correcte. Le circuit amplificateur 50 ou 60, ou un circuit amplificateur selon un autre mode de réalisation de l'invention, est représenté sur la figure 5 utilisé dans un multimètre 100. Le multimètre 100 comprend un dispositif d'affichage numérique 104, des boutons à commande manuelle 106 et un commutateur de sélection à mode rotatif 108, illustré dans une position de mesure de tension alternative. Bien que le multimètre 100 utilise un dispositif d'affichage numérique 104, il va de soi qu'on peut utiliser d'autres types de dispositif 16 d'affichage, tels qu'un compteur analogique (non représenté). En outre, on peut bien évidemment utiliser des commandes autres que les boutons 106 et le commutateur de sélection 108. Deux fils d'essai 110, 112 ont des fiches 116, 118 qui s'enfichent dans des douilles respectives 120, 122. La fiche 118 s'insère dans la douille 122 pour mesurer une tension alternative ou continue, mais elle s'enfiche dans l'une ou l'autre de deux douilles supplémentaires 124, 126 pour mesurer un courant ou une résistance, respectivement. La fiche 116 s'insère dans la douille 120 pour toutes les mesures. Les fils d'essai 110, 112 sont connectés par l'intermédiaire de sondes d'essai respectives 130, 132 à des points d'essai respectifs se présentant sous la forme de fils respectifs 136, 138. La douille 120 est connectée à une borne de sortie d'un circuit d'attaque à intégration négative 140 qui peut être soit le circuit d'attaque à intégration négative 51 ou 62, soit un circuit d'attaque à intégration négative selon un autre mode de réalisation de l'invention. La douille 122 est connectée à l'entrée du circuit d'attaque à intégration négative 140. Une sortie du circuit d'attaque à intégration négative 140 est connectée à un circuit de traitement approprié 144, qui fournit des signaux au dispositif d'affichage 104 pour produire une indication de tension. On notera de ce qui précède que, bien que des modes de réalisation précis de l'invention aient été décrits ici à des fins d'illustration, il est possible d'envisager diverses modifications de ceux-ci sans pour autant s'écarter de l'esprit et de la portée de 17 l'invention. Par exemple, il est possible de supprimer l'amplificateur opérationnel 64 de sorte que la borne d'essai 66 soit appliquée directement à l'amplificateur 80 par l'intermédiaire d'une des résistances 70 ou 74. L'homme du métier comprendra aisément quelles peuvent être les autres variantes. En conséquence, l'invention ne connaît d'autres limites que les revendications annexées. REVENDICATIONS 1. Circuit amplificateur (50), caractérisé en ce qu'il comprend : une première borne d'essai (54) ; une seconde borne d'essai (56) ; une première borne de sortie (58) ; une seconde borne de sortie (59) connectée à une première tension fixe ; et un générateur de tension de sortie ayant une première entrée (52) couplée à la première borne d'essai (54), une seconde entrée couplée à une seconde tension fixe, et une sortie couplée à la seconde borne d'essai (56) et à la première borne de sortie (58), le générateur de tension de sortie étant conçu pour appliquer à la sortie du générateur de tension de sortie une tension ayant une amplitude égale à celle de la tension appliquée à la première entrée du générateur de tension de sortie par rapport à la seconde tension fixe et une polarité opposée à la polarité de la tension appliquée à la première entrée du générateur de tension de sortie par rapport à la seconde tension fixe. 2. Circuit amplificateur selon la revendication 1, comprenant en outre une résistance d'entrée (90) couplée entre la première borne d'essai (66) et la seconde borne d'essai (88). 3. Circuit amplificateur selon la revendication 1, dans lequel la première tension fixe a une amplitude qui 30 est égale à l'amplitude de la seconde tension fixe. 4. Circuit amplificateur selon la revendication 3, dans lequel la première tension fixe et la seconde tension fixe sont nulles. 5. Circuit amplificateur selon la revendication 1, dans lequel le générateur de tension de sortie comprend un circuit d'attaque à intégration négative (51) ayant une première entrée (52) couplée à la première borne d'essai (54), une seconde entrée (53) couplée à la seconde tension fixe, et une sortie couplée à la seconde borne d'essai (56) et à la première borne de sortie (58), le circuit d'attaque à intégration négative (51) étant conçu pour intégrer une tension appliquée à la première borne d'essai (54) par rapport à la seconde tension fixe, l'intégration étant à une polarité opposée à la polarité de la tension appliquée à la première borne d'essai (54) par rapport à la seconde tension fixe, le circuit d'attaque à intégration négative (51) fournissant une tension de sortie à la sortie du circuit d'attaque à intégration négative (51) qui indique l'intégration. 6. Circuit amplificateur selon la revendication 5, dans lequel le circuit d'attaque à intégration négative comprend : un amplificateur (64) ayant un gain, l'amplificateur (64) ayant une première entrée couplée à la première borne d'essai (66), une seconde entrée couplée à la seconde tension fixe, et une sortie ; et un intégrateur (80) ayant une entrée couplée à la sortie de l'amplificateur (64) et une sortie couplée à la première borne de sortie (94) et à la seconde borne d'entrée, l'intégrateur étant conçu pour intégrer une tension reçue de la sortie de l'amplificateur {64) pour fournir une tension de sortie à la première borne de sortie (94) et à la seconde borne d'entrée, l'intégrateur {80) ayant une polarité d'intégration qui est opposée à une polarité du gain de l'amplificateur (64). 7. Circuit amplificateur selon la revendication 6, dans lequel l'amplificateur (64) a un gain unitaire. 8. Circuit amplificateur selon la revendication 7, dans lequel l'amplificateur (64) comprend un amplificateur opérationnel (64) ayant une entrée inverseuse connectée à une sortie de l'amplificateur opérationnel (64), et une entrée non inverseuse connectée 15 à la première borne d'essai (66). 9. Circuit amplificateur selon la revendication 8, dans lequel l'amplificateur (64) comprend en outre une résistance (74) connectée entre la première borne 20 d'entrée et l'entrée non inverseuse de l'amplificateur opérationnel (64). 10. Circuit amplificateur selon la revendication 6, dans lequel l'intégrateur (62) comprend : 25 un amplificateur opérationnel (80) ayant une entrée inverseuse, une entrée non inverseuse, et une sortie, la sortie de l'amplificateur opérationnel (80) étant couplée à la première borne de sortie (94) et à la seconde borne d'entrée ; 30 une résistance (74) couplée entre l'entrée inverseuse de l'amplificateur opérationnel (80) et la sortie de l'amplificateur ; et un condensateur (84) couplé entre l'entrée inverseuse de l'amplificateur opérationnel (80) et la sortie de l'amplificateur opérationnel (80). 11. Dispositif d'essai (100), caractérisé en ce qu'il comprend : un premier fil d'essai (110) ; un second fil d'essai (112) ; un circuit amplificateur selon l'une des revendications précédentes, la première borne d'essai dudit circuit amplificateur étant couplée au premier fil d'essai (110) et la première borne de sortie dudit circuit amplificateur étant couplée audit second fil d'essai (112) ; un sélecteur (108) conçu pour commander le fonctionnement du dispositif d'essai (100) ; un circuit de traitement (144) couplé à la première borne de sortie du circuit amplificateur et au sélecteur (108), le circuit de traitement (144) étant conçu pour fournir un signal de sortie indiquant une tension à la sortie du circuit amplificateur; et un dispositif d'affichage (104) couplé pour recevoir le signal de sortie du circuit de traitement (144) et étant conçu pour fournir un affichage visuel indiquant l'amplitude d'une tension appliquée entre les premier et second fils d'essai (110, 112). 12. Procédé d'amplification d'un signal appliqué entre des première et seconde bornes d'entrée, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à : générer une tension de sortie ayant une amplitude égale à celle de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe avec une polarité opposée à la polarité de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe ; et appliquer la tension de sortie à la seconde borne d'entrée. 13. Procédé selon la revendication 12, dans lequel l'opération de génération de la tension de sortie comprend l'intégration d'une tension intermédiaire par rapport au temps, la tension intermédiaire ayant une amplitude déterminée par l'amplitude de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe. 14. Procédé selon la revendication 13, dans lequel la tension intermédiaire a une amplitude qui est égale à l'amplitude de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe et une polarité qui est opposée à la polarité de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe. 15. Procédé selon la revendication 12, dans lequel l'opération de génération d'une tension de sortie comprend la génération d'une tension de sortie ayant une amplitude égale aux composantes de fréquence de la tension appliquée à la première borne d'entrée par rapport à une tension fixe qui sont inférieures à une limite de fréquence prédéterminée.