FR 2915592 A1 20081031 FR 0706958 A 20071004 L'invention concerne un procédé de diagnostic du fonctionnement d'un dispositif sous test, au cours duquel on réalise : • une initialisation du compteur d'occurrences au démarrage du dispositif sous test, • une succession de tests élémentaires du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un résultat indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test, • après chaque réalisation d'un test élémentaire, la mise à jour d'un compteur d'occurrences en fonction du résultat du test élémentaire, • lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur ou lorsque le compteur d'occurrences atteint une deuxième valeur, la mise à jour dans un gestionnaire de défaillances du dispositif sous test, en fonction de la première valeur ou de la deuxième valeur atteinte par le compteur, d'un diagnostic indiquant un état normal ou un état défaillant du dispositif sous test. L'invention trouve une application avantageuse dans le domaine de l'automobile, plus particulièrement dans le domaine du diagnostic de dispositifs embarqués de commande de systèmes électriques ou mécaniques complexes pour lesquels un fonctionnement anormal ponctuel peut être toléré. L'invention peut plus généralement être utilisée dans tout domaine technique pour le diagnostic fonctionnel d'un système électrique ou mécanique plus ou moins complexe pour lequel un diagnostic n'est validé que s'il est confirmé dans le temps. Pour garantir la sécurité des usagers, et / ou pour faciliter la remise en état d'un véhicule en cas de défaillance, la plupart des dispositifs embarqués comprennent des moyens de diagnostic appropriés pour détecter rapidement une défaillance du dispositif sous test. Par défaillance, on entend ici un défaut de fonctionnement, susceptible d'entraîner immédiatement ou à terme un fonctionnement anormal du dispositif sous test. Une défaillance peut être continue ou intermittente. Les outils de diagnostic actuels comprennent généralement des moyens pour réaliser une succession de tests élémentaires de fonctionnement du dispositif sous test, un compteur d'occurrences pour comptabiliser les résultats des tests élémentaires et diagnostiquer un état normal ou défaillant du dispositif sous test. L'état normal ou défaillant du dispositif sous test est finalement mémorisé dans un gestionnaire de défaillances, selon un format préconisé par les normes internationales, par exemple ISO 15031-5 ou SAE J1979 dans le domaine de l'automobile. Les tests élémentaires sont réalisés généralement tout au long du fonctionnement du dispositif sous test, à des intervalles prédéfinis. Au moment de l'arrêt du dispositif sous test, la valeur du compteur est mémorisée dans une zone de mémoire réservée à cet effet, par exemple une mémoire dite "mémoire flash" ou EEPROM (acronyme anglais pour "Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory", c'est à dire "mémoire morte effaçable électriquement et programmable"). La valeur ainsi mémorisée sera ensuite utilisée pour initialiser le compteur lors d'un prochain redémarrage du dispositif sous test. Les outils de diagnostic sont ainsi activés dans l'état où ils étaient lors du précédent fonctionnement du dispositif sous test. La mise en oeuvre de tels outils de diagnostic nécessite ainsi au minimum, pour chaque panne susceptible d'être diagnostiquée, un compteur et une zone mémoire appropriée pour conserver la valeur du compteur à l'arrêt du dispositif sous test et des outils de diagnostic associés. Dans un véhicule où trois à cinq cent pannes sont susceptibles d'être diagnostiquées, une zone de mémoire de l'ordre de quelques milliers d'octets est alors nécessaire. L'invention propose un nouveau procédé de diagnostic, et un nouveau dispositif associé ne nécessitant pas l'utilisation d'une mémoire dédiée à la mémorisation de la valeur du compteur. Le procédé de diagnostic selon l'invention, par ailleurs conforme à un procédé antérieur tel que décrit dans le préambule, est caractérisé en ce que, lors de l'initialisation du compteur d'occurrences, le dit compteur d'occurrences est initialisé à une valeur initiale prédéfinie fonction du diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances. Ainsi, selon l'invention, pour initialiser le compteur de défaillance, on utilise l'information relative à l'état (normal ou défaillant) du dispositif sous test, telle que diagnostiquée et mémorisée dans le gestionnaire de défaillances lors du dernier arrêt du dispositif sous test. En d'autres termes, pour initialiser le compteur d'occurrences, on utilise une information mémorisée dans le gestionnaire de défaillances et utilisée habituellement pour d'autres applications. La mémorisation de la valeur du compteur lors de l'arrêt du dispositif sous test devient ainsi inutile, de même que la mémoire dédiée utilisée habituellement pour cela. Le dispositif de diagnostic du fonctionnement d'un dispositif sous test selon l'invention, comprend quant à lui : • des moyens de test élémentaire, pour réaliser une succession de tests élémentaires du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un 35 résultat indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test, • un compteur d'occurrences, initialisé au démarrage du dispositif sous test et mis à jour après chaque test élémentaire en fonction du résultat du dit test élémentaire, • un gestionnaire de défaillances, pour mémoriser un diagnostic indiquant un état normal ou défaillant du dispositif sous test, le diagnostic étant mis à jour lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur ou lorsque le compteur d'occurrences atteint une deuxième valeur, en fonction de la première valeur ou de la deuxième valeur atteinte par le compteur d'occurrences. Le dispositif selon l'invention est caractérisé en ce qu'il comprend également un 10 moyen pour initialiser le compteur d'occurrences à une valeur initiale prédéfinie fonction du diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances. L'invention sera mieux comprise, et d'autres caractéristiques et avantages apparaîtront à la lecture de la description qui va suivre d'un exemple de procédé de diagnostic selon l'invention et d'un dispositif de diagnostic associé, associée à la figure 15 unique décrivant un mode de réalisation dudit procédé. Tout comme un dispositif de diagnostic connu, le dispositif selon l'invention comprend : • des moyens de test élémentaire, pour réaliser une succession de tests élémentaires du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un 20 résultat indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test, • un compteur d'occurrences, initialisé au démarrage du dispositif sous test et mis à jour après chaque test élémentaire en fonction du résultat du dit test élémentaire, • un gestionnaire de défaillances, pour mémoriser un diagnostic indiquant un état 25 normal ou défaillant du dispositif sous test, le diagnostic étant mis à jour lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur ou lorsque le compteur d'occurrences atteint une deuxième valeur, en fonction de la première valeur ou de la deuxième valeur atteinte par le compteur d'occurrences. Le dispositif de diagnostic est activé (étape 10 de la figure 1) lors du démarrage 30 du dispositif sous test. Les tests élémentaires sont réalisés tout au long du fonctionnement du dispositif sous test, par exemple à des instants prédéfinis ou en fonction de certains paramètres (vitesse de rotation, température, etc.) du dispositif sous test. Chaque test élémentaire (étape 20) produit par exemple un résultat négatif si le fonctionnement du dispositif sous test est normal ou un résultat positif sinon. 35 Le compteur d'occurrences est mis à jour (étape 30) après chaque test élémentaire, il est par exemple incrémenté lorsque le résultat d'un test élémentaire est positif (état défaillant du dispositif), et décrémenté (ou inchangé) si le résultat d'un test est négatif (fonctionnement normal du dispositif). Le diagnostic du dispositif sous test est validé lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur représentative (étape 40) d'un état normal du dispositif ou lorsque le compteur d'occurrence atteint une deuxième valeur représentative (étape 50) d'un état défaillant du dispositif sous test. Le diagnostic validé est mémorisé (étape 60) dans le gestionnaire de défaillances. La première valeur du compteur peut être par exemple la valeur zéro. La deuxième valeur peut être par exemple la valeur maximale que le compteur peut atteindre (par exemple 100). La deuxième valeur peut également être prédéfinie, fixée par le fabricant ou un utilisateur. Ainsi, la deuxième valeur peut être égale à 50 si le fabricant ou l'utilisateur estime que cinquante tests élémentaires positifs sont suffisants pour considérer que le dispositif sous test est défaillant. Le gestionnaire de défaillances est connu sous le nom anglais de "DEM" (acronyme anglais pour "Diagnostic Event Manager" dans le domaine de l'automobile. Le gestionnaire de défaillances est adapté pour mémoriser tous les diagnostics de tous les dispositifs de diagnostic mis en oeuvre autour du dispositif sous test, selon les normes correspondantes. Ledit gestionnaire de défaillances n'est pas automatiquement initialisé au démarrage du dispositif sous test. II est initialisé par exemple après une réparation du dispositif sous test. Selon l'invention, le dispositif de diagnostic comprend également un moyen pour 20 initialiser le compteur d'occurrences à une valeur initiale prédéfinie fonction du diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances. Ainsi, selon l'invention, le compteur est initialisé (INIT) à partir du dernier diagnostic (état normal / état défaillant) réalisé et mémorisé dans le gestionnaire de défaillances. 25 Si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état normal du dispositif sous test, le compteur est par exemple initialisé à une valeur initiale prédéfinie égale à la première valeur du compteur d'occurrences, par exemple zéro. Si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état défaillant du dispositif sous test, la valeur initiale prédéfinie peut être égale à la deuxième 30 valeur du compteur d'occurrences, par exemple la valeur maximale du compteur ou une valeur maximale fixée par le fabricant ou l'utilisateur. Ainsi, une défaillance détectée lors du dernier fonctionnement du dispositif sous test est prise en compte dès le premier test élémentaire suivant le redémarrage du dispositif sous test, du moins si la dite défaillance perdure. 35 Si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état défaillant du dispositif sous test. la valeur initiale prédéfinie peut être égale à une valeur proche de la deuxième valeur si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état défaillant du dispositif sous test. Par exemple, la valeur initiale du compteur peut être fixée à 98 si la deuxième valeur du compteur est égale à 100. Ainsi, une défaillance détectée lors du dernier fonctionnement du dispositif sous test est prise en compte peu de temps après le redémarrage du dispositif sous test, dans l'exemple au bout de 2 tests élémentaires si la dite défaillance perdure après redémarrage. A noter que l'initialisation du compteur d'occurrences selon l'invention est moins précise que dans les procédés antérieurs, en ce sens qu'elle ne reflète pas précisément l'état du compteur au moment du denier arrêt du dispositif sous test. En effet, selon l'invention, la valeur initiale du compteur peut prendre seulement deux valeurs selon l'état normal ou défaillant du dispositif sous test au moment de son dernier arrêt. Ceci n'est toutefois pas très gênant, l'important étant de savoir si le dispositif sous test était dans un état normal ou dans un état défaillant lors de son dernier arrêt. REVENDICATIONS 1. Procédé de diagnostic du fonctionnement d'un dispositif sous test, au cours duquel on réalise : • une initialisation du compteur d'occurrences au démarrage du dispositif sous test, • une succession de tests élémentaires du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un résultat indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test, • après chaque réalisation d'un test élémentaire, la mise à jour d'un compteur d'occurrences en fonction du résultat du test élémentaire, • lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur ou lorsque le compteur d'occurrences atteint une deuxième valeur, la mise à jour dans un gestionnaire de défaillances du dispositif sous test, en fonction de la première valeur ou de la deuxième valeur atteinte par le compteur, d'un diagnostic indiquant un état normal ou un état défaillant du dispositif sous test, le procédé étant caractérisé en ce que, lors de l'initialisation du compteur 15 d'occurrences, le dit compteur d'occurrences est initialisé à une valeur initiale prédéfinie fonction du diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la valeur initiale prédéfinie est égale à la première valeur du compteur d'occurrence si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état normal du dispositif sous test. 20 3. Procédé selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel la valeur initiale prédéfinie est égale à la deuxième valeur si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état défaillant du dispositif sous test. 4. Procédé selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel la valeur initiale prédéfinie est égale à une valeur proche de la deuxième valeur si le diagnostic mémorisé 25 dans le gestionnaire de défaillances indique un état défaillant du dispositif sous test. 5. Dispositif de diagnostic du fonctionnement d'un dispositif sous test, comprenant : • des moyens de test élémentaire, pour réaliser une succession de tests élémentaires du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un 30 résultat indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test, • un compteur d'occurrences, initialisé au démarrage du dispositif sous test et mis à jour après chaque test élémentaire en fonction du résultat du dit test élémentaire, • un gestionnaire de défaillances, pour mémoriser un diagnostic indiquant un état 35 normal ou défaillant du dispositif sous test, le diagnostic étant mis à jour lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur ou lorsque le compteurd'occurrences atteint une deuxième valeur, en fonction de la première valeur ou de la deuxième valeur atteinte par le compteur d'occurrences. le dispositif étant caractérisé en ce qu'il comprend également un moyen pour initialiser le compteur d'occurrences à une valeur initiale prédéfinie fonction du diagnostic 5 mémorisé dans le gestionnaire de défaillances. 6. Dispositif selon la revendication 5, dans lequel la valeur initiale prédéfinie est égale à la première valeur du compteur d'occurrence si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état normal du dispositif sous test. 7. Dispositif selon l'une des revendications 5 ou 6, dans lequel la valeur 10 initiale prédéfinie est égale à la deuxième valeur si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état défaillant du dispositif sous test. 8. Dispositif selon l'une des revendications 5 ou 6, dans lequel la valeur initiale prédéfinie est égale à une valeur proche de la deuxième valeur si le diagnostic mémorisé dans le gestionnaire de défaillances indique un état défaillant du dispositif sous 15 test.