FR 2920568 A1 20090306 FR 0757193 A 20070827 PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE BASE(S) DE DONNÉES DE PANNES L'invention concerne les pannes qui surviennent dans des matériels, et plus précisément la génération de base(s) de données représentatives de telles pannes. On entend ici par � panne � un ensemble d'au moins un défaut de fonctionnement, permanent ou intermittent (ou fugitif), et pouvant faire l'objet 1 o d'une détection aboutissant à la génération par une fonction de diagnostic de message(s) d'erreur regroupé(s) dans un fichier de données. Un défaut est dit permanent s'il ne disparaît qu'après une intervention de réparation. Un défaut est dit fugitif s'il apparaît et disparaît de façon aléatoire ou cyclique sans intervention de réparation. 15 Par ailleurs, on entend ici par � matériel � tout type d'équipement muni d'au moins un élément pouvant faire l'objet d'au moins un défaut de fonctionnement tel que défini ci-dessus. II pourra par exemple s'agir, bien que non limitativement, d'un véhicule automobile. Dans certains matériels, comme par exemple les véhicules 20 automobiles, l'électronique dite � embarquée � occupe une place de plus en plus importante. Ainsi, dans l'application précitée, on la retrouve notamment au niveau du moteur, du châssis, des organes de sécurité et dans l'habitacle (en particulier pour gérer l'aérothermie). II est donc fréquent de voir coexister au sein d'un même véhicule plusieurs dizaines de calculateurs (ou 25 microprocesseurs). Afin de faciliter la gestion d'un si grand nombre de calculateurs, il a été proposé de mettre en oeuvre une technique d'échange de données par multiplexage. Pour ce faire, on peut par exemple constituer un réseau global à partir de plusieurs sous-réseaux, par exemple de type CAN (� Controller Area Network �), connectés entre eux par l'intermédiaire d'un 30 calculateur central (maître). Le multiplexage est particulièrement utile, mais hélas il induit certains inconvénients. Ainsi, il peut être à l'origine de problèmes de sûreté de fonctionnement et peut rendre difficile la détermination de l'origine des pannes du fait de la propagation dans le réseau global des symptômes de panne due aux interdépendances entre calculateurs et fonctions (fréquemment réparties). II peut également s'avérer défaillant du fait d'incompatibilités de fonctionnement entre des calculateurs provenant d'équipementiers différents. Bien qu'il ne soit pas le seul dans ce cas (cela peut être également dû à une stratégie de diagnostic embarqué faiblement robuste), le multiplexage peut être également à l'origine de l'allumage permanent à tort de certains voyants du tableau de bord (c'est ce que l'on appelle les faux défauts) ou du 1 o dysfonctionnement par intermittence de certaines fonctions (c'est ce que l'on appelle les défauts intermittents ou fugitifs). Afin de permettre aux techniciens de déterminer les origines des pannes, on met à leur disposition des fichiers, parfois dits � log �, qui contiennent des messages d'erreur générés par des fonctions de diagnostic 15 embarquées consécutivement à la détection ou la disparition de défauts de fonctionnement (ou dysfonctionnements), permanents ou intermittents. Un message d'erreur est généralement constitué de trois champs principaux. Un premier champ (parfois appelé � apparition/disparition �) est destiné à indiquer si le message résulte de la détection ou de la disparition d'un défaut de 20 fonctionnement. Un deuxième champ (parfois appelé � code de défaut �) est un code généralement de type hexadécimal désignant le défaut détecté. Un troisième champ (parfois appelé � libellé �) est destiné à décrire le défaut détecté. Les contenus de ces fichiers log sont cependant souvent difficiles à 25 exploiter du fait qu'ils sont analysés au moyen de méthodes basiques de diagnostic de pannes et de bases de données de défauts. Cela résulte notamment du fait qu'il n'existe pas de relations bijectives entre les codes de défaut (répertoriés dans les bases de données de défauts) et les pannes réelles du fait des interdépendances fonctionnelles, et donc qu'une panne peut 30 être représentée par un ensemble de codes de défaut. Cela résulte également du fait que les fichiers log peuvent être � pollués � par de fausses alertes et sont en outre de type multidimensionnel. L'invention a donc pour but d'améliorer la situation, et plus précisément de permettre la génération de nouvelles bases de données de pannes rendant plus facile l'analyse des fichiers log par des outils de diagnostic de pannes et donc la détermination de l'origine réelle des pannes. Elle propose à cet effet un procédé, dédié à la génération (et la mise à 5 jour) de base(s) de données représentatives de pannes survenues dans des matériels, et consistant : i) à stocker des fichiers de données JDD; issus de matériels et représentatifs de défauts qui sont survenus dans certains de leurs éléments, puis ii) à transformer chaque fichier de données JDD; en un vecteur dit � forme � x;, 1 o et iii) à construire pour chacune de M pannes identifiées 1 des vecteurs dits � prototypes � à partir des vecteurs formes x;, afin de constituer une base de données X contenant des vecteurs prototypes représentatifs des M pannes identifiées 1 et de M ensembles de M-1 pannes 1' (avec j' j) excluant 15 chacun l'une des M pannes identifiées j. Le procédé selon l'invention peut comporter d'autres caractéristiques qui peuvent être prises séparément ou en combinaison, et notamment : - au ii) on peut transformer chaque fichier de données JDD; en un vecteur forme x; constitué d'un ensemble de N variables x;k (x; = (xi1,..., x;N), avec k = 20 1 à N) associées respectivement à N codes de défaut CD;k pouvant survenir dans le matériel correspondant, chaque variable x;k pouvant prendre des première et seconde valeurs représentatives respectivement de la détection au moins une fois et de l'absence de détection du code de défaut CD;k dans ledit fichier JDD; considéré ; 25 - au ii) on peut déterminer parmi les vecteurs formes x; ceux qui ne correspondent qu'à une unique panne puis parmi ces derniers ceux qui correspondent à une panne 1 (j = 1 à m) choisie parmi les M pannes identifiées afin de regrouper pour chaque panne identifiée j, dans des premier X11 et second X2j sous-ensembles, les vecteurs formes x; qui 30 respectivement correspondent et ne correspondent pas à cette panne j. Dans ce cas, au iii) on construit pour chaque panne identifiée i des premier Pl et second P2j vecteurs prototypes à partir des vecteurs formes x; qui sont respectivement contenus dans les premier X11 et second X2j sous- ensembles, afin de constituer une base de données X contenant M premiers vecteurs prototypes P1~ représentatifs respectivement des M pannes i identifiées et M seconds vecteurs prototypes P2i représentatifs respectivement de M ensembles de M-1 pannes (avec j' j) excluant chacun l'une des M pannes identifiées 1; - au ii) on peut analyser les valeurs des variables de chaque vecteur forme x; de manière à déterminer le(s) code(s) de défaut CD;k qu'il désigne, puis on peut déterminer si ce(s) code(s) de défaut CD;k correspondent à une unique panne ; - chaque premier vecteur prototype P1~ peut être constitué, d'une part, d'un premier vecteur a1~ dont chaque variable a1ik qui le constitue est représentative de la valeur de variable x;k qui est majoritaire dans les vecteurs formes x; considérés du premier sous-ensemble X1i, et d'autre part, d'un second vecteur dont chaque variable 1~k qui le constitue est représentative de la variation des valeurs de variable x;k du premier sous-ensemble X11 par rapport à la variable aljk correspondante, et chaque second vecteur prototype P2i peut être constitué, d'une part, d'un premier vecteur a2i dont chaque variable a2ik qui le constitue est représentative de la valeur de variable x;k qui est majoritaire dans les vecteurs formes x; considérés du second sous-ensemble X2i, et d'autre part, d'un second vecteur 2i dont chaque variable 2ik qui le constitue est représentative de la variation des valeurs de variable x;k du second sous-ensemble X2i par rapport à la variable a2ik correspondante ; • chaque variable 1ik peut par exemple être donnée par la relation el/k = ni . * xik ùal jk , où n 1 est égal au nombre de vecteurs formes nombre de vecteurs formes x; dans le second sous-ensemble X2i ; - on peut éventuellement adjoindre à la base de données X des premiers P1~ 30 et seconds P2i vecteurs prototypes représentatifs de pannes communes à des matériels différents de ceux d'où sont issus les vecteurs formes x; mais XiEWJ x; dans le premier sous-ensemble X1i et chaque variable 2ik peut être donnée par la relation e21k = l * xzk ù a2/k , où n2i est égal au n21 X, w,. faisant partie d'une même famille de matériels ; - on peut éventuellement adjoindre à la base de données X des premiers Pl et seconds P2j vecteurs prototypes résultant de simulations de pannes sur les matériels d'où sont issus les vecteurs formes x; ; - on peut éventuellement adapter certains premiers Pl et/ou seconds P2j vecteurs prototypes en fonction de retours d'expérience. L'invention propose également un dispositif, dédié à la génération de base(s) de données représentatives de pannes survenues dans des matériels, et comprenant : - des moyens de stockage propres à stocker des fichiers de données JDD; issus des matériels et représentatifs de défauts survenus dans certains de leurs éléments, et - des moyens de traitement chargés, de transformer chaque fichier de données JDD; en un vecteur forme x;, et de construire pour chacune des M pannes identifiées 1 des vecteurs prototypes à partir des vecteurs formes x;, afin de constituer une base de données X contenant des vecteurs prototypes représentatifs des M pannes identifiées 1 et de M ensembles de M-1 pannes 1' (avec j' j) excluant chacun l'une des M pannes identifiées j. Le dispositif selon l'invention peut comporter d'autres caractéristiques qui peuvent être prises séparément ou en combinaison, et notamment : - ses moyens de traitement peuvent être chargés de transformer chaque fichier de données JDD; en un vecteur forme x; constitué d'un ensemble de N variables x;k (x; = (xi1,..., x;N), avec k = 1 à N) associées respectivement à N codes de défaut CD;k pouvant survenir dans l'équipement correspondant, chaque variable x;k pouvant prendre des première et seconde valeurs représentatives respectivement de la détection au moins une fois et de l'absence de détection du code de défaut CD;k dans le fichier JDD; considéré ; - ses moyens de traitement peuvent être chargés de déterminer parmi les vecteurs formes x; ceux qui ne correspondent qu'à une unique panne puis ceux qui correspondent à une panne 1 (j = 1 à m) choisie parmi les M pannes identifiées afin de regrouper pour chaque panne 1 dans des premier X1j et second X2j sous-ensembles les vecteurs formes x; qui respectivement correspondent et ne correspondent pas à cette panne j, et de construire pour chaque panne identifiée 1 des premier Pl et second P2j vecteurs prototypes à partir des vecteurs formes x; qui sont respectivement contenus dans les premier X11 et second X2j sous-ensembles, afin de constituer une base de données X contenant M premiers vecteurs prototypes Pl représentatifs respectivement des M pannes i identifiées et M seconds vecteurs prototypes P2j représentatifs respectivement de M ensembles de M-1 pannes 1' (avec j' j) excluant chacun l'une des M pannes identifiées 1; - ses moyens de traitement peuvent être chargés d'analyser les valeurs des variables de chaque vecteur forme x; afin de déterminer le(s) code(s) de défaut CD;k qu'il désigne, puis de déterminer si ce(s) code(s) de défaut CD;k correspondent à une unique panne ; - ses moyens de traitement peuvent être chargés de constituer i) chaque premier vecteur prototype Pli avec, d'une part, un premier vecteur a1j dont chaque variable a1jk qui le constitue est représentative de la valeur de variable x;k qui est majoritaire dans les vecteurs formes x; considérés du premier sous-ensemble X1j, et d'autre part, un second vecteur 1j dont chaque variable 1ik qui le constitue est représentative de la variation des valeurs de variable x;k du premier sous-ensemble X1j par rapport à la variable a1jk correspondante, et ii) chaque second vecteur prototype P2j avec, d'une part, un premier vecteur a2j dont chaque variable a2jk qui le constitue est représentative de la valeur de variable x;k qui est majoritaire dans les vecteurs formes x; considérés du second sous-ensemble X2j, et d'autre part, un second vecteur 2j dont chaque variable 2jk qui le constitue est représentative de la variation des valeurs de variable x;k du second sous-ensemble X2j par rapport à la variable a2jk correspondante ; • ses moyens de traitement peuvent être chargés de déterminer chaque variable 1 jk à partir de la relation e1 ;k = J * xik û a l où n1 i est % x, E wj égal au nombre de vecteurs formes x; dans le premier sous-ensemble X1 j, et chaque variable 2jk à partir de la relation �2;k = 1 * xik -a2/k, où n2i est égal au nombre de vecteurs n21 x,ew; formes x; dans le second sous-ensemble X2i ; - ses moyens de traitement peuvent être éventuellement chargés d'adjoindre à la base de données X des premiers Pl et seconds P2i vecteurs prototypes reçus et représentatifs de pannes communes à des matériels différents des matériels d'où sont issus les vecteurs formes x;, mais faisant partie d'une même famille de matériels ; - ses moyens de traitement peuvent être éventuellement chargés d'adjoindre à la base de données X des premiers Pl et seconds P2i vecteurs 1 o prototypes reçus et résultant de simulations de pannes sur les matériels d'où sont issus les vecteurs formes x; ; - ses moyens de traitement peuvent être éventuellement chargés d'adapter certains premiers Pl et/ou seconds P2i vecteurs prototypes en fonction de retours d'expérience reçus. 15 D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à l'examen de la description détaillée ci-après, et du dessin annexé, sur lequel l'unique figure illustre de façon schématique et fonctionnelle un exemple de réalisation d'un dispositif de génération de base(s) de données de pannes selon l'invention alimenté en fichiers log provenant de matériels. 20 Le dessin annexé pourra non seulement servir à compléter l'invention, mais aussi contribuer à sa définition, le cas échéant. L'invention a pour but de permettre la génération de base(s) de données de pannes destinées à faciliter l'analyse de fichiers log issus de matériels par des outils de diagnostic de pannes, en vue de la détermination de 25 l'origine réelle des pannes. Dans ce qui suit, on considère à titre d'exemple non limitatif que les matériels (V;) sont des véhicules automobiles. Mais, l'invention n'est pas limitée à ce type de matériel. Elle concerne en effet tout type de matériel (ou équipement) comportant au moins un élément, pouvant faire l'objet d'au moins 30 un défaut de fonctionnement détectable, et d'au moins un module de diagnostic embarqué, chargé au moins de générer des messages d'erreurs consécutivement à la détection ou la disparition de défauts de fonctionnement (ou dysfonctionnements), permanents ou intermittents. II est rappelé que ces messages d'erreur sont regroupés dans un fichier de données JDD;, dit � log �, qui est stocké dans le matériel V; correspondant et qui peut être extrait en vue d'une analyse par un outil de diagnostic de pannes externe. Afin d'atteindre le but précité, l'invention propose un procédé et un dispositif D dédiés à la génération de base(s) de données de pannes survenues dans des matériels V;, ici des véhicules automobiles, de préférence d'un même modèle. Dans l'exemple non limitatif illustré, seuls quatre véhicules V1 à V4 (i = 1 à 4) ont été représentés, mais l'invention n'est pas limitée à ce 1 o nombre. Elle concerne en effet n'importe quel nombre de véhicules, dès lors qu'il est au moins égal à un (1). Un dispositif D selon l'invention comprend au moins des moyens de stockage MS et un module de traitement MT. Les moyens de stockage MS sont chargés de stocker des fichiers de 15 données (ou fichiers log) JDD; qui sont issus des véhicules V; et qui représentent les défauts de fonctionnement qui ont été détectés dans certains de leurs éléments. Ils peuvent se présenter sous n'importe quelle forme connue de l'homme de l'art, comme par exemple une mémoire ou une base de données. 20 Un fichier log JDD; peut être considéré comme un ensemble d'enregistrements correspondant chacun à un message d'erreur, généralement constitué de trois champs principaux. Le premier champ principal, appelé � apparition/disparition �, indique si le message résulte de la détection ou de la disparition d'un défaut de fonctionnement. II peut par exemple comprendre le 25 signe � + � (apparition) ou � - � (disparition). Le deuxième champ principal, appelé � code de défaut � CD;k, est un code généralement de type hexadécimal qui désigne le défaut détecté. Le troisième champ principal, parfois appelé � libellé �, décrit le défaut détecté. Un fichier log JDD; peut être schématiquement représenté sous la 30 forme d'un tableau du type de celui donné ci-dessous : Apparition/ disparition Code de Libellé défaut + 7159 Défaut information niveau d'huile moteur invalide + 7173 Défaut information température huile moteur invalide + 7362 Voyant inhibition sac passager - 7173 Défaut information température huile moteur invalide - 7159 Défaut information niveau d'huile moteur invalide + 7173 Défaut information température huile moteur invalide + F01 D Défaut absence de communication avec le calculateur suspension - 7173 Défaut information température huile moteur invalide + F011 Défaut BSI muette sur le réseau CAN carrosserie On considère dans ce qui suit que l'on a identifié M pannes j, avec j = 1 à m, pour le modèle auquel appartiennent les véhicules V; ici considérés. Par ailleurs, on considère dans ce qui suit qu'il existe N codes de défaut CDik, avec k = 1 à N, pour les véhicules V; ici considérés. On comprendra alors qu'il est possible d'établir une correspondance entre chacune des M pannes 1 et un ensemble d'au moins un code de défaut CDik. Une telle correspondance est par exemple stockée sous la forme d'une table de correspondance, éventuellement dans les moyens de stockage MS. 1 o Le module de traitement MT est chargé de transformer chaque fichier de données JDD; qui est stocké dans les moyens de stockage MS en un vecteur dit � forme � x;, et de construire pour chacune des M pannes identifiées 1 des vecteurs dits � prototypes �, représentatifs des M pannes identifiées 1 et de M ensembles de M-1 pannes 1' (avec j' j) excluant chacun l'une des M 15 pannes identifiées j, à partir des vecteurs formes x;. II peut ainsi constituer une base de données X contenant ces vecteurs prototypes qui va alors pouvoir être utilisée par un outil de diagnostic de pannes (non représenté) pour analyser les fichiers des véhicules V; et ainsi permettre la détection de l'origine de leurs pannes. On notera que les M ensembles de M-1 pannes 1' sont 20 parfois appelés pannes complémentaires des M pannes identifiées j. Le module de traitement MT peut par exemple stocker cette base de données de pannes X dans les moyens de stockage MS. Dans un mode de réalisation avantageux, le module de traitement MT peut par exemple transformer chaque fichier de données JDD; en un vecteur forme x; qui est constitué d'un ensemble de N variables x;k, soit x; = (xi1,..., x;N). Chaque variable x;k d'un vecteur forme x; correspond alors à l'un des Ni codes de défaut CDik, et peut prendre soit une première valeur représentative de la détection au moins une fois du code de défaut CDik dans le fichier JDD; (duquel est issu le vecteur forme x;), soit une seconde valeur représentative de l'absence de détection du code de défaut CDik dans ledit fichier JDD;. On notera que si un même code de défaut CDik peut être généré par P calculateurs différents (P 2) au sein d'un même véhicule V;, on prévoit alors P variables différentes x;k dans le vecteur forme x;. A titre d'exemple non limitatif, chaque variable x;k peut être binaire. Dans ce cas, sa première valeur peut être égale à 1, tandis que sa seconde valeur est égale à O. Mais l'inverse est également possible. On comprendra qu'avec ce codage binaire, on ne prend en compte qu'une seule fois l'occurrence d'un évènement. En d'autres termes, un défaut intermittent n'est comptabilisé qu'une seule fois. Cette solution est actuellement préférée, car il est considéré que le nombre et/ou la fréquence d'occurrence d'un défaut n'apporte pas d'information supplémentaire. Mais, cette comptabilisation peut être envisagée. Lorsque les vecteurs formes x; sont du type présenté ci-avant, le module de traitement MT peut par exemple déterminer parmi eux ceux qui ne correspondent qu'à une unique panne puis ceux qui correspondent à l'une des M pannes j. Pour ce faire, il peut par exemple analyser les valeurs prises par les variables de chaque vecteur forme x; afin de déterminer l'ensemble de code(s) de défaut CDik qu'il désigne (c'est-à-dire ceux qui correspondent à une valeur de variable x;k égale à 1 (ou en variante 0)), puis il peut déterminer si cet ensemble de code(s) de défaut CDik correspond à une unique panne. On 3o comprendra que cette détermination se fait en comparant pour chaque vecteur forme x; l'ensemble de codes de défaut CDik qu'il désigne aux ensembles de codes de défaut CDik qui correspondent respectivement aux M pannes 1 dans la table de correspondance précitée. Une fois que le module de traitement MT sait quels sont les vecteurs formes x; qui correspondent à une unique panne i parmi les M identifiées, il peut alors définir pour chaque panne i un premier sous-ensemble X1j regroupant les vecteurs formes x; qui correspondent à une unique panne parmi les M identifiées et un second sous-ensemble X2j regroupant les autres vecteurs formes x; qui correspondent aux M-1 autres pannes identifiées (avec j' j). II peut ensuite construire pour chaque panne identifiée j, d'une part, un premier vecteur prototype Pl qui la représente, à partir des vecteurs formes x; qui sont contenus dans le premier sous-ensemble X1j, et d'autre part, un second vecteur prototype P2j qui représente l'ensemble des M-1 pannes i' (avec j' j) qui exclue cette panne identifiée j, à partir des vecteurs formes x; qui sont contenus dans le second sous-ensemble X2j. II peut alors constituer la base de données de pannes X avec les M premiers vecteurs prototypes Pl et les M seconds vecteurs prototypes P2j, qu'il vient de construire. Par exemple, le module de traitement MT constitue chaque premier vecteur prototype Pli avec un premier vecteur a1j et un second vecteur 1j. Chaque premier vecteur a1j est constitué de N variables alik, soit a1j = (a1 J1, al ~2,..., aliN). Chaque variable alik représente la valeur de variable x;k qui est majoritaire au sein des vecteurs formes x; considérés dans le premier sous-ensemble X1 j. Par conséquent, chaque variable a1 jk ne peut prendre que les mêmes valeurs que les variables x;k (par exemple 0 et 1). Par exemple, si X1j comprend cinq vecteurs formes (n1j=5), et que trois valeurs de x;k dans ces vecteurs formes sont nulles (0) tandis que les deux autres valeurs sont égales à un (1), alors la valeur de variable x;k qui est majoritaire dans le sous-ensemble X1j est la valeur nulle (0) et par conséquent la valeur de alik est nulle (0) Chaque second vecteur 11 est constitué de N variables "4, soit 11 = ( 1jN). Chaque variable 1ik représente la variation (ou dispersion) des valeurs de variable x;k par rapport à la variable a1 jk correspondante. Par conséquent, lorsque les variables alik prennent les valeurs 0 et 1, les variables 1ik ne peuvent prendre que des valeurs comprises entre 0 (par valeur supérieure) et 1/2 (par valeur inférieure). Par exemple, chaque variable 1ik peut être déterminée à partir de la relation suivante : El jk 1 * xik ù al jk , nh x,Eco, où n1i est égal au nombre de vecteurs formes x; dans le premier sous-ensemble Xli, et où � I I � représente l'opérateur valeur absolue. De même, le module de traitement MT peut constituer chaque second vecteur prototype P2i avec un premier vecteur a2i et un second vecteur 2i. Chaque premier vecteur a2i est constitué de N variables a2ik, soit a2i = (a2i1, a2iN). Chaque variable a2~k représente la valeur de variable Xik qui est majoritaire au sein des vecteurs formes x; considérés dans le second sous- 1 o ensemble X2i. Par conséquent, chaque variable a2~k ne peut prendre que les mêmes valeurs que les variables Xik (par exemple 0 et 1). Par exemple, si X2i comprend cinq vecteurs formes (n2i=5) et que deux valeurs de Xik dans ces vecteurs formes sont nulles, tandis que les trois autres valeurs sont égales à un (1), alors la valeur de Xik qui est majoritaire est la valeur un (1) et par 15 conséquent la valeur de alik est égal à un (1). Chaque second vecteur 2j est constitué de N variables soit 2j = ( 2i1, 2iN). Chaque variable 2ik représente la variation (ou dispersion) des valeurs de variable Xik par rapport à la variable a2~k correspondante. Par conséquent, lorsque les variables a2~k prennent les valeurs 0 et 1, les variables 20 2ik ne peuvent prendre que des valeurs comprises entre 0 (par valeur supérieure) et 1/2 (par valeur inférieure). Par exemple, chaque variable 2ik peut être déterminée à partir de la relation suivante : E2~k 1 * .xik ù Cl2Jk , n2j w,. où n2i est égal au nombre de vecteurs formes x; dans le second sous- 25 ensemble X2i. On notera que ces M paires de vecteurs prototypes (ou formes de référence), qui constituent la base de données de pannes X, conservent les propriétés statistiques principales des données initiales x;. Par ailleurs, ces paires sont particulièrement avantageuses car elles vont permettre à un outil 30 de diagnostic de pannes d'effectuer des mesures de similarité (ou � matching �) à partir des vecteurs formes x; provenant des véhicules V;, et ainsi permettre de déterminer plus facilement et de façon plus fiable l'origine des pannes. On notera également que le module de traitement MT peut être chargé d'adjoindre à la base de données de pannes X des premiers Pl et seconds P2i vecteurs prototypes qu'il a reçus et qui sont représentatifs de pannes qui sont communes à des véhicules (matériels) différents des véhicules V; objets de ladite base X, mais faisant partie d'une même famille de véhicules. On comprendra en effet que certaines pannes peuvent être communes à des 1 o véhicules de modèles différents du fait qu'elles concernent des éléments sensiblement identiques, et donc qu'il est avantageux que des vecteurs prototypes qui ont été déterminés par un dispositif D pour un modèle donné de véhicules puissent enrichir la base de données de pannes X d'au moins un autre modèle de véhicules. 15 On notera également que le module de traitement MT peut être chargé d'adjoindre à la base de données de pannes X des premiers Pl et seconds P2i vecteurs prototypes qu'il a reçus et qui sont représentatifs de pannes simulées au sein de véhicules V. On notera également que le module de traitement MT peut être chargé 20 d'adapter certains premiers Pl et/ou seconds P2i vecteurs prototypes en fonction de retours d'expérience reçus. On notera également que le dispositif D peut être chargé de déterminer des bases de données de pannes X pour plusieurs (au moins deux) modèles de véhicules différents. 25 On notera également que l'on peut également stocker dans la base de données de pannes (ou dans une autre base de données) les vecteurs formes x; et en correspondance des pannes identifiées auxquelles ils correspondent. Le dispositif de gestion D selon l'invention, et notamment son module 30 de traitement MT ainsi qu'éventuellement ses moyens de stockage MS, peut être réalisé sous la forme de circuits électroniques, de modules logiciels (ou informatiques), ou d'une combinaison de circuits et de logiciels. L'invention peut être également vue sous l'angle d'un procédé dédié à la génération (et la mise à jour) de base(s) de données représentatives de pannes survenues dans des matériels, et pouvant par exemple être mis en oeuvre par un dispositif D du type de celui décrit ci-avant. Ce procédé reprenant les fonctionnalités principales et auxiliaires présentées ci-avant, seule sa combinaison de fonctionnalités principales est présentée ci-dessous. Ce procédé consiste : i) à stocker des fichiers de données JDD; issus de matériels (ici des véhicules) V; et représentatifs de défauts qui sont survenus dans certains de leurs éléments, puis ii) à transformer chaque fichier de données JDD; en un vecteur dit forme x;, et iii) à construire pour chacune des M pannes identifiées 1 des vecteurs prototypes à partir des vecteurs formes x;, afin de constituer une base de données de pannes X contenant des vecteurs prototypes représentatifs des M pannes identifiées 1 et de M ensembles de M-1 pannes 1' (avec j' j) excluant chacun l'une des M pannes identifiées j. L'invention ne se limite pas aux modes de réalisation de dispositif et de procédé de génération de base(s) de données de pannes décrits ci-avant, seulement à titre d'exemple, mais elle englobe toutes les variantes que pourra envisager l'homme de l'art dans le cadre des revendications ci-après. REVENDICATIONS 1. Procédé de génération de base(s) de données représentatives de pannes survenues dans des matériels (V;), caractérisé en ce qu'il consiste i) à stocker des fichiers de données (JDD;) issus de matériels (V;) et représentatifs de défauts survenus dans certains de leurs éléments, puis ii) à transformer chaque fichier de données (JDD;) en un vecteur dit � forme � x;, et iii) à 1 o construire pour chacune de M pannes identifiées 1 des vecteurs dits � prototypes � à partir des vecteurs formes x;, de manière à constituer une base de données X contenant des vecteurs prototypes représentatifs des M pannes identifiées 1 et de M ensembles de M-1 pannes 1' (avec j' j) excluant chacun l'une des M pannes identifiées j. 15 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'au ii) on transforme chaque fichier de données (JDD;) en un vecteur forme x; constitué d'un ensemble de N variables x;k (x; = (xi1,..., x;N), avec k = 1 à N) associées respectivement à N codes de défaut CD;k pouvant survenir dans le matériel (V;) correspondant, chaque variable x;k pouvant prendre des première et seconde 20 valeurs représentatives respectivement de la détection au moins une fois et de l'absence de détection du code de défaut CD;k dans ledit fichier (JDD;). 3. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'au ii) on détermine parmi les vecteurs formes x; ceux qui ne correspondent qu'à une unique panne puis parmi ces derniers ceux qui correspondent à une panne i 25 (j = 1 à m) choisie parmi les M pannes identifiées 1 de manière à regrouper pour chaque panne identifiée 1 dans des premier X1j et second X2j sous-ensembles, les vecteurs formes x; qui respectivement correspondent et ne correspondent pas à cette panne j, et en ce qu'au iii) on construit pour chaque panne identifiée i des premier Pl et second P2j vecteurs prototypes à 30 partir des vecteurs formes x; qui sont respectivement contenus dans lesdits premier X1j et second X2j sous-ensembles, de manière à constituer une base de données de pannes X contenant M premiers vecteurs prototypes Pl représentatifs respectivement des M pannes 1 identifiées et M secondsvecteurs prototypes P2j représentatifs respectivement de M ensembles de M-1 pannes 1' (avec j' j) excluant chacun l'une des M pannes identifiées j. 4. Procédé selon l'une des revendications 2 et 3, caractérisé en ce qu'au ii) on analyse les valeurs des variables de chaque vecteur forme x; de manière à déterminer le(s) code(s) de défaut CD;k qu'il désigne, puis on détermine si ce(s) code(s) de défaut CD;k correspondent à une unique panne. 5. Procédé selon l'une des revendications 3 et 4, caractérisé en ce que chaque premier vecteur prototype P1j est constitué, d'une part, d'un premier vecteur a1j dont chaque variable a1jk qui le constitue est représentative de la valeur de variable x;k qui est majoritaire dans les vecteurs formes x; considérés du premier sous-ensemble X1j, et d'autre part, d'un second vecteur 1j dont chaque variable lik qui le constitue est représentative de la variation des valeurs de variable x;k du premier sous-ensemble X1j par rapport à la variable a1jk correspondante, et en ce que chaque second vecteur prototype P2j est constitué, d'une part, d'un premier vecteur a2j dont chaque variable a2jk qui le constitue est représentative de la valeur de variable x;k qui est majoritaire dans les vecteurs formes x; considérés du second sous-ensemble X2j, et d'autre part, d'un second vecteur 2j dont chaque variable 2jk qui le constitue est représentative de la variation des valeurs de variable x;k du second sous-ensemble X2j par rapport à la variable a2jk correspondante. 6. Procédé selon la revendication 5, caractérisé en ce que chaque variable 1 jk est donnée par la relation e1,k = 1 * xzk ù a1j.k , où n1 i est égal IZlj e671 au nombre de vecteurs formes x; dans le premier sous-ensemble X1j, et en ce que chaque variable 2jk est donnée par la relation �21k = n2 * xzk -a2/k, où xteaJ1 n2j est égal au nombre de vecteurs formes x; dans le second sous-ensemble X2j. 7. Procédé selon l'une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que l'on adjoint à ladite base de données de pannes X des premiers P1j et seconds P2j vecteurs prototypes représentatifs de pannes communes à des matériels différents desdits matériels (V;) mais faisant partie d'une même famille de matériels. 8. Procédé selon l'une des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que l'on adjoint à ladite base de données de pannes X des premiers Pl et seconds P2j vecteurs prototypes résultant de simulations de pannes sur lesdits matériels (V;). 9. Procédé selon l'une des revendications 1 à 8, caractérisé en ce que l'on adapte certains premiers Pl et/ou seconds P2j vecteurs prototypes en fonction de retours d'expérience. 10. Dispositif (D) de génération de base(s) de données représentatives de pannes survenues dans des matériels (V;), caractérisé en ce qu'il comprend 1 o des moyens de stockage (MS) propres à stocker des fichiers de données (JDD;) issus desdits matériels (V;) et représentatifs de défauts survenus dans certains de leurs éléments, et des moyens de traitement (MT) agencés pour transformer chaque fichier de données (JDD;) en un vecteur dit � forme � x;, et pour construire pour chacune de M pannes identifiées 1 des vecteurs dits 15 � prototypes � à partir des vecteurs formes x;, de manière à constituer une base de données X contenant des vecteurs prototypes représentatifs des M pannes identifiées 1 et de M ensembles de M-1 pannes 1' (avec j' j) excluant chacun l'une des M pannes identifiées j.