FR 2902514 A1 20071221 FR 0605320 A 20060615 Procédé pour contrôler l'épaisseur d'un revêtement sur un substrat L'invention a trait au contrôle, sur un échantillon formé d'un substrat pourvu d'un revêtement, de l'épaisseur de ce revêtement. Bien que l'invention puisse en principe être appliquée à tous les domaines dans lesquels on est confronté à la nécessité de revêtir un substrat, les problèmes qu'ont rencontrés les inventeurs se sont posés dans le domaine de la fabrication des récipients. Rappelons que la technique la plus répandue pour la fabrication des récipients est le soufflage à partir d'ébauches réalisées dans une matière thermoplastique telle que le PET (polyéthylène téréphtalate). Ce type de matière s'étant révélé perméable aux gaz, et notamment à l'oxygène, il a été proposé, pour certaines applications, de traiter les récipients de manière à les munir, généralement sur la face interne de leur paroi, d'une couche barrière retardant la migration des gaz au travers de celle-ci et protégeant ainsi de l'oxydation le contenu du récipient. Citons à titre d'exemple les couches barrière à base de carbone amorphe hydrogéné, de type PLC (polymer like carbon) ou DLC (diamond like carbon), déposées par plasma en phase vapeur (PECVD). Pour illustrer ce type de technologie, on pourra notamment se référer au brevet européen EP 1 068 032 (ou à son équivalent américain US 6 919 114) au nom de Sidel, ou au brevet européen EP 773 166 (ou à son équivalent américain US 6 589 619) au nom de Kirin. Il s'est avéré que la qualité de la couche barrière û c'est-à-dire sa capacité à retarder la migration des gaz û dépend fortement de son épaisseur. En théorie, l'épaisseur de la couche dépend elle-même du temps de traitement du récipient. A titre indicatif, précisons que l'épaisseur de la couche est généralement comprise entre 50 nm et 200 nm (1 nm = 10-9 m), pour des temps de traitement compris entre 1s et 3s. En pratique, la couche est rarement homogène : elle présente en effet des variations d'épaisseur suivant les parties du récipient (fond, corps, col). Si la présence de la couche barrière est aisément décelable (elle jaunit en effet un récipient à l'origine transparent et incolore), ses variations de teinte suivant les parties du récipient sont imperceptibles à l'ceil nu. Or, pour diverses raisons (notamment la nécessité d'optimiser le temps de traitement pour maximiser les cadences tout en minimisant la consommation de gaz précurseur), il apparaît souhaitable de contrôler l'épaisseur de la couche barrière sur les récipients traités. Une méthode classique consiste à effectuer régulièrement sur des récipients traités une mesure physique, par exemple au moyen d'un profilomètre. Suivant cette méthode, on introduit sur la chaîne de fabrication un récipient muni, sur sa face interne, d'au moins un adhésif. Une fois traité, le récipient est prélevé ; la zone munie de l'adhésif est découpée et l'adhésif enlevé. Au moyen du profilomètre, on mesure la hauteur de la dénivellation entre la zone initialement munie de l'adhésif (et par conséquent non revêtue) et la zone environnante, revêtue : cette dénivellation correspond à l'épaisseur du revêtement. Si cette méthode permet de mesurer avec précision l'épaisseur de la couche barrière, elle nécessite toutefois de longs préparatifs et de nombreuses manipulations, qui interdisent son application spontanée à une chaîne de fabrication. En effet, dans l'hypothèse où une dérive serait constatée, le temps écoulé entre le prélèvement du récipient et l'obtention des mesures est suffisamment important pour qu'un grand nombre (pouvant atteindre plusieurs milliers) de récipients aient déjà été traités de manière incorrecte, tous ces récipients devant alors être mis au rebut. C'est pourquoi cette méthode n'est généralement employée qu'à titre de simple vérification ponctuelle de la qualité du traitement. Des méthodes optiques, non destructives, ont très récemment fait leur apparition. Une première, proposée par la société Hokkai Can dans sa demande de brevet européen EP 1 500 600 (voir également l'équivalent américain US 2005/0118365), se fonde sur les propriétés colorantes de la couche barrière. Elle consiste à éclairer successivement un récipient non revêtu et un récipient revêtu, puis à comparer dans un repère CIE L*a*b*, au moyen d'un colorimètre, les valeurs respectives du paramètre b* de la lumière transmise. Il est affirmé dans ce document, en effet, que la présence de la couche barrière se traduit par une augmentation du paramètre b*, caractéristique d'une saturation dans le jaune, la variation Ab* étant censée croître avec l'épaisseur de la couche. Selon ce document, il est souhaitable que la variation Ab* soit comprise entre 2 et 7. Un seul exemple est présenté, selon lequel, à une variation Ab* de 3 points correspond une épaisseur de la couche de 0,04 pm (soit 40 nm). La fonction de corrélation, qui permettrait d'établir un lien entre la variation Ab* et l'épaisseur de la couche n'est toutefois pas fournie. Suivant une seconde méthode, proposée par la société Plastipak dans sa demande internationale WO 2004/012999 (voir également l'équivalent américain US 2004/0065841), on éclaire dans les ultraviolets la paroi du récipient, et on détermine, à partir de la quantité de lumière transmise au travers de la paroi, l'épaisseur du revêtement. Ce document ne révèle pas non plus la fonction de corrélation entre la quantité de lumière transmise et l'épaisseur du revêtement. En pratique, la mesure d'épaisseur du substrat seul ne pose généralement pas de problème. Des lois ont ainsi été proposées pour modéliser l'évolution du coefficient de transmission d'une paroi en fonction de son épaisseur. Ainsi, le brevet américain US 5 049 750 (Dai Nippon) propose une loi exponentielle : F=a•e-fi' 20 Où : F est le coefficient de transmission de la paroi, défini par le rapport entre l'intensité lumineuse transmise par la paroi et l'intensité lumineuse incidente (F est une grandeur sans dimension, comprise 25 entre 0 et 100), t est le coefficient de transmission et l'épaisseur de la paroi, et a et / sont des constantes, qui peuvent être aisément déterminées de manière expérimentale à partir d'une double mesure optique (pour le coefficient de transmission) et physique (pour 30 l'épaisseur). Cependant, dès lors que le substrat est revêtu, il devient extrêmement difficile de déterminer quelle part de transmission est due au substrat, et quelle part est due au revêtement. En effet, en vertu de la théorie des filtres (Cf. H.Gross, Handbook of Optical Systems : 35 Fundamentals of Technical optics, vol. 1, ISBN 3-527-40377-9) le coefficient de transmission F de l'échantillon est le produit des coefficients de transmission Fs du substrat et F. du revêtement : F=F •T(. En d'autres termes, on peut mesurer sur deux échantillons distincts l'intensité lumineuse transmise et en déduire une variation du coefficient de transmission total de l'échantillon sans pouvoir en déduire si cette variation est due à une variation de l'épaisseur (ou à un défaut) du substrat ou à une variation de l'épaisseur du revêtement. De même, on peut constater que le coefficient de transmission total de l'échantillon est constant sans pour autant en déduire que les épaisseurs respectives du substrat et de la couche sont constantes. L'invention vise notamment à remédier aux inconvénients précités en proposant un procédé de contrôle fiable de l'épaisseur d'un revêtement sur un substrat (tel que la paroi d'un récipient), qui permettre en particulier de s'affranchir des éventuels défauts et variations d'épaisseur de celui-ci. A cet effet, l'invention propose un procédé pour contrôler, sur un échantillon composé d'un substrat muni d'un revêtement, l'épaisseur du revêtement en au moins un point de contrôle prédéterminé, ce procédé comprenant les opérations suivantes : a) fournir l'échantillon à contrôler ; b) sélectionner sur l'échantillon un point de contrôle ; c) éclairer l'échantillon au moyen d'un faisceau lumineux focalisé au au point de contrôle ; d) recueillir la part du faisceau transmise au travers de l'échantillon ; e) mesurer l'intensité lumineuse transmise au travers de l'échantillon pour deux longueurs d'onde prédéterminées, à savoir une première longueur d'onde choisie dans l'ultraviolet ou dans le visible, et une seconde longueur d'onde choisie dans l'infrarouge en déduire les coefficients de transmission de l'échantillon auxdites longueurs d'onde ; f) calculer une grandeur, dite épaisseur relative du revêtement, définie comme suit : E(P)=-1nFi(P)+R•1nFm(P) où : P est le point de contrôle, FÀ(P) est le coefficient de transmission au point de contrôle P à la longueur d'onde 2 choisie dans l'ultraviolet ou dans le visible, FJJ?(P) est le coefficient de transmission au point P à la longueur d'onde IR choisie dans l'infrarouge, R est un coefficient constant. g) en déduire une épaisseur théorique t du revêtement au point de contrôle, au moyen d'une fonction de corrélation linéaire : t(P) = a • E(P) +b où a et b sont des constantes. Il a été constaté que par un tel procédé il est possible d'effectuer un contrôle optique (et par conséquent non destructif) fiable et rapide de l'épaisseur du revêtement sur un substrat, en minimisant les éventuels effets d'une variation de l'épaisseur du substrat (ou autres défauts de celui-ci). Plus précisément, pour calculer le paramètre R , on effectue les opérations suivantes : f.1) fournir un échantillon test, non revêtu, similaire à l'échantillon à contrôler ; f.2) sélectionner sur l'échantillon test non revêtu un point de mesure M ; f.3) éclairer l'échantillon test non revêtu au moyen d'un faisceau lumineux focalisé au point de mesure ; f.4) recueillir la part du faisceau transmise au travers de l'échantillon test non revêtu ; f.5) mesurer l'intensité lumineuse transmise au travers de l'échantillon test aux longueurs d'ondes choisies pour l'opération e) et en déduire les coefficients de transmission auxdites longueurs d'onde ; f.6) calculer un coefficient, dit de pondération, égal au quotient des logarithmes des coefficients de transmission mesurés au point M à l'opération f.5) : R(M) ù In I' (M) 1n F11 (M) f.7) répéter les opérations f.1) à f.6) pour une pluralité de points M de mesure ; f.8) calculer le coefficient R, égal à la moyenne du coefficient de 10 pondération pour l'ensemble des points de mesure. Il est à noter que les opérations f.1) à f.7) peuvent être répétées pour une pluralité d'échantillons tests non revêtus similaires à l'échantillon à contrôler. S'agissant des coefficients a et b de la fonction de corrélation, on 15 les calcule en effectuant les opérations suivantes : g.1) fournir un échantillon test, revêtu, similaire à l'échantillon à contrôler ; g.2) sélectionner sur l'échantillon test un point de mesure M ; g.3) éclairer l'échantillon test au moyen d'un faisceau lumineux focalisé 20 au point de mesure ; g.4) recueillir la part du faisceau transmise au travers de l'échantillon test ; g.5) mesurer l'intensité lumineuse transmise au travers de l'échantillon test aux longueurs d'ondes choisies pour l'opération e) et en 25 déduire les coefficients de transmission auxdites longueurs d'onde ; g.6) calculer l'épaisseur relative du revêtement au point de mesure M ; g.7) répéter les opérations g.1) à g.6) pour une pluralité de points de mesure ; 30 g.8) mesurer de manière physique l'épaisseur réelle du revêtement en chaque point de mesure ; g.9) à partir de l'ensemble des doublets de mesures optique et physique, calculer au moyen d'une régression linéaire les coefficients a et b de la fonction de corrélation.5 Les opérations g.1) à g.7) peuvent être répétées pour une pluralité d'échantillons tests revêtus similaires à l'échantillon à contrôler. Le procédé qui vient d'être succinctement décrit peut être appliqué au contrôle de l'épaisseur d'un revêtement (notamment en carbone amorphe) dont est pourvu un substrat (par exemple la paroi d'un récipient) réalisé dans une matière thermoplastique. D'autres objets et avantages de l'invention apparaîtront à la lumière de la description faite ci-après en référence aux dessins annexés dans lesquels : la figure 1, scindée en trois parties 1A, 1B et 1C, est un diagramme illustrant les différentes opérations d'un procédé conforme à l'invention ; la figure 2 est un graphe montrant la superposition de deux spectres établis sur une même gamme prédéterminée de longueurs d'onde, à savoir : le spectre de l'intensité lumineuse transmise au travers de la paroi d'un récipient de couleur violette revêtu d'une couche barrière en carbone amorphe hydrogéné au cours d'un traitement PECVD d'une durée de 2,5s ; le spectre de l'intensité lumineuse transmise au travers de la paroi d'un récipient de même fabrication, non revêtu ; la figure 3 est un graphe montrant la superposition de deux spectres établis sur une même gamme prédéterminée de longueurs d'onde, à savoir : le spectre de l'intensité lumineuse transmise au travers de la paroi d'un récipient de couleur ambre revêtu d'une couche barrière en carbone amorphe hydrogéné déposée par traitement PECVD d'une durée de 2,5s ; le spectre de l'intensité lumineuse transmise au travers de la 30 paroi d'un récipient de même fabrication, non revêtu ; la figure 4 est un graphe montrant un exemple de fonction de corrélation entre une grandeur, dénommée épaisseur relative (fonction de la transmission), et l'épaisseur du revêtement ; la figure 5, enfin, est une vue d'élévation en coupe montrant un 35 dispositif permettant de mettre en oeuvre le procédé suivant l'invention. 25 Comme nous l'avons vu en introduction, l'invention vise à permettre un contrôle fiable de l'épaisseur d'un revêtement dont est pourvu un substrat susceptible de transmettre au moins une partie du spectre lumineux, en s'affranchissant autant que possible des défauts ou variations d'épaisseur du substrat. Dans ce qui suit, le substrat est constitué par la paroi d'un récipient en matière thermoplastique (par exemple en PET), prélevé sur une chaîne de fabrication à la sortie d'une unité de traitement au sein de laquelle sur le récipient, préalablement soufflé, est déposé un film mince ayant des propriétés barrière. Ce dépôt est indifféremment appelé revêtement ou couche (barrière) Il ne s'agit pas ici de décrire le procédé de dépôt, pour lequel l'homme du métier pourra se référer aux documents de l'état de la technique, et notamment au brevet européen précité EP 1 068 032, qui décrit un procédé et une installation permettant de déposer par plasma, sur la face interne de la paroi d'un récipient, une couche de carbone amorphe. Précisons que le temps de traitement a une incidence directe sur l'épaisseur de la couche, sans qu'il soit possible à l'heure actuelle d'établir une corrélation fiable entre ces deux paramètres, à cause notamment du défaut d'homogénéité de la couche suivant les parties du récipient, ce défaut d'homogénéité pouvant lui-même résulter, au moins en partie, de la forme de la bouteille, dont le diamètre n'est pas nécessairement constant. Comme la seule mesure du temps de traitement ne suffit pas à s'assurer que le revêtement présente l'épaisseur visée, il apparaît nécessaire de contrôler celle-ci, soit en continu sur la chaîne de fabrication, soit de manière épisodique en effectuant des prélèvements sur cette dernière. Le procédé suivant l'invention comprend, de manière schématique, deux étapes principales, à savoir : une étape de calibration, visant, à partir de mesures physiques de l'épaisseur réelle du revêtement, à établir une fonction de corrélation entre l'épaisseur d'une part et, d'autre part, un coefficient, mesuré de manière optique, de transmission de la lumière au travers de la paroi du récipient revêtu (rappelons que la lumière incidente frappant la paroi est, pour partie réfléchie, pour partie absorbée, et pour partie transmise : le coefficient de transmission est une grandeur sans dimension comprise entre 0 et 100, qui désigne le pourcentage de lumière transmis), et une étape de contrôle, suivant laquelle on mesure sur un récipient à contrôler le coefficient de transmission précité, pour en déduire par calcul, à partir de la fonction de corrélation établie à l'étape de calibration, l'épaisseur du revêtement au point de contrôle. Comme nous le verrons, par une sélection judicieuse des longueurs d'onde, ce procédé permet en outre un contrôle fiable de l'épaisseur du revêtement quelle que soit la couleur du substrat (en pratique du récipient), c'est-à-dire que celui-ci soit incolore, ou que des pigments aient été mélangés à la matière thermoplastique dans laquelle il est fabriqué. Les mesures, fournies à titre d'exemple, effectuées sur deux récipients colorés seront exposées ci-après. Dans ce qui suit, on qualifie de similaires des récipients (et par extension des échantillons) issus de la même fabrication et de même couleur, qu'ils soient ou non revêtus. On appelle gamme un ensemble de récipients (ou d'échantillons) similaires. Pour des raisons de commodité, nous commencerons par exposer les principes sur lesquels repose le procédé suivant l'invention, lequel sera décrit ensuite en détail. I. Principes Par hypothèse, un récipient revêtu se comporte optiquement comme un système de filtres. En supposant que le substrat d'une part, et le revêtement d'autre part, sont des matériaux homogènes (mais non nécessairement isotropes), on peut donc modéliser optiquement le récipient revêtu par un système de deux filtres, dont le coefficient de transmission total, noté F, est, pour une longueur d'onde donnée 2, égal au produit des coefficients de transmissions propres Fs du substrat et Tc du revêtement :35 F(2) = r~ (2) • rc (2) Il n'est à ce jour pas envisageable par une méthode non destructive d'obtenir séparément les coefficients de transmissions propres Fs du substrat et F du revêtement. II est par contre envisageable de d'obtenir ces coefficients par deux mesures distinctes : dans un premier temps, calculer le coefficient de transmission Fs du substrat non revêtu à partir de la mesure de l'intensité lumineuse transmise au travers de celui-ci puis, dans un deuxième temps, calculer le coefficient de transmission total F du récipient revêtu à partir de la mesure de l'intensité lumineuse transmise au travers de ce dernier pour en déduire, par une simple division, le coefficient de transmission F( du revêtement. Il resterait alors à calculer l'épaisseur du revêtement à partir de son coefficient de transmission au moyen d'une fonction de corrélation. En toute rigueur, il serait nécessaire d'effectuer de manière systématique ces mesures au même point, sur le même échantillon car, le coefficient de transmission du substrat n'étant constant ni d'un point à l'autre, ni d'un échantillon à l'autre, il ne serait pas certain que le coefficient de transmission F. du revêtement ainsi calculé correspondrait à la réalité. En pratique, d'un point de vue industriel, il faudrait prélever deux fois de suite le même récipient, avant et après traitement. Un double prélèvement est industriellement pénalisant, d'une part parce qu'il nécessite de mettre en place des moyens de traçage du récipient à prélever, ce qui ne peut être fait sans arrêter la ligne de fabrication, d'autre part parce qu'entre la première mesure, effectuée sur le récipient avant traitement, et la seconde effectuée sur le même récipient après traitement, les propriétés du substrat (orientation moléculaire, cristallinité) ont pu varier en fonction des conditions de température et de pression, avec une incidence incontrôlée sur son coefficient de transmission. Un premier objectif des inventeurs est, dans le cadre industriel qui est le leur, de permettre un contrôle non destructif par simple prélèvement (ou en continu) sur la ligne de fabrication, après traitement, ce que permet le procédé suivant l'invention, comme nous le verrons. Un deuxième objectif des inventeurs est de s'affranchir autant que possible des défauts et variations d'épaisseur du substrat (par rapport à une moyenne statistique) sans pour autant sacrifier le premier objectif. En pratique, ayant confronté les mesures optiques et physiques, les inventeurs ont fait le constat que la loi statistique de corrélation entre le coefficient de transmission du récipient revêtu et l'épaisseur du revêtement est de nature exponentielle, sans pour autant que la fonction de densité exponentielle que l'on connaît, du type F(2)ù 0.e-02 (où F est le coefficient de transmission, 2 la longueur d'onde et 9 une constante), n'en fournisse une approximation satisfaisante, l'écart type entre les épaisseurs mesurées physiquement et les épaisseurs calculées apparaissant trop important. Pour établir une loi de corrélation satisfaisante, les inventeurs ont mis à profit une propriété optique qu'ils ont constatée sur les récipients, selon laquelle, dans l'infrarouge, les spectres de l'intensité lumineuse transmise au travers d'un récipient avec et sans revêtement sont quasiment superposés. En d'autres termes, dans l'infrarouge, l'absorption de la lumière par le revêtement n'est pas significative. A priori, ce constat devrait simplement conduire à ne pas exploiter les mesures effectuées dans l'infrarouge, puisque l'atténuation induite par le revêtement est minime. Les inventeurs ont eu l'esprit d'exploiter ces mesures de manière indirecte. En effet, dans la mesure où la couche n'influence que peu la transmission dans l'infrarouge, ils ont formulé l'hypothèse que toute variation importante de la transmission dans ces longueurs d'onde doit être due à une modification structurelle du substrat (présence d'inclusions ou variation d'épaisseur par exemple) par rapport à une moyenne statistique constatée sur la chaîne de fabrication. Puis ils ont apporté à la fonction de densité exponentielle une correction dépendant de la transmission dans l'infrarouge, pour obtenir une fonction de densité à deux variables, à savoir une première longueur d'onde 2v, choisie dans l'ultraviolet ou dans le visible, et une seconde longueur d'onde IR, choisie dans l'infrarouge : les résultats se sont révélés probants, comme nous l'exposerons ci-après. II. Description du procédé a) Contrôle de l'épaisseur On décrit à présent le procédé de contrôle de l'épaisseur. Pour des raisons de commodité, on décrit d'abord l'étape de 10 contrôle (Cf. figure 1A). Bien que l'étape de calibration la précède, elle sera décrite ultérieurement. L'étape de mesure comprend une première opération a) de fourniture du récipient sur lequel on souhaite effectuer le contrôle d'épaisseur (récipient à contrôler), par exemple par prélèvement de 15 celui-ci sur la chaîne de fabrication au sortir de l'unité de traitement au sein de laquelle est déposé le revêtement. Une deuxième opération b) consiste à sélectionner sur le récipient un point de contrôle, une troisième opération c) consistant ensuite à éclairer la paroi du récipient au point de contrôle au moyen d'un 20 faisceau lumineux focalisé en ce point ; ce faisceau peut être de lumière blanche, ou encore d'une lumière bichromatique ou polychromatique couvrant au moins deux longueurs d'ondes prédéterminées, à savoir une première longueur d'onde 2 dans l'ultraviolet ou le visible (suivant la couleur du récipient), et une 25 seconde longueur d'onde IR dans l'infrarouge. Nous verrons ci-après comment sont sélectionnées ces longueurs d'onde. Une quatrième opération d) consiste à recueillir la part de faisceau transmise au travers de la paroi du récipient. Une cinquième opération e) consiste à mesurer l'intensité 30 lumineuse transmise au travers de la paroi pour les deux longueurs d'onde précitées et en déduire les coefficients de transmission du récipient pour ces deux longueurs d'onde. Une sixième opération f) consiste ensuite à calculer, à partir de ces coefficients, une grandeur sans dimension, dénommée épaisseur relative du revêtement, définie 35 comme suit : k E(P) _ùlnT2(P)+R•1nFil?(P) où : P est le point de contrôle, F2(P) est le coefficient de transmission au point de contrôle P à la longueur d'onde 2 choisie dans l'ultraviolet ou dans le visible, Fm(P)est le coefficient de transmission au point P à la longueur d'onde IR choisie dans l'infrarouge, R est un coefficient constant, dont la définition et le mode de calcul seront explicités ci-après. Une septième opération g) consiste à déduire de l'épaisseur relative E(P) ainsi calculée une épaisseur théorique t du revêtement au point de contrôle P, au moyen d'une fonction de corrélation linéaire définie comme suit : t(P) = a • E(P) + b où a et b sont des constantes. b) Choix des Iongueurs d'onde Si le PET incolore transmet correctement l'ensemble du spectre, à l'exception de l'ultraviolet court (c'est-à-dire pour des longueurs d'onde inférieures à 300 nm), la courbe spectrale d'un PET coloré présente généralement des pics de transmission à certaines longueurs d'onde et des pics d'absorption à d'autres. On a ainsi représenté sur les figures 2 et 3 les courbes spectrales (c'est-à-dire les variations de l'intensité lumineuse transmise en fonction de la longueur d'onde) au travers de deux récipients similaires en PET, l'un non revêtu et l'autre revêtu d'une couche barrière en carbone amorphe déposée par traitement plasma d'une durée de 2,5s : sur la figure 2, pour un récipient de couleur violette, sur la figure 3, pour un récipient de couleur ambre. Il est à noter que dans chaque cas les courbes spectrales du récipient revêtu et du récipient non revêtu présentent les mêmes variations, et notamment les mêmes pics de transmission et d'absorption, la présence du revêtement se traduisant par une atténuation de l'intensité lumineuse transmise sur l'ensemble du spectre, de manière inégale toutefois (dans l'infrarouge par exemple, l'atténuation due au revêtement est faible, comme nous l'avons déjà évoqué ci-dessus). Le choix de la première longueur d'onde 2 s'effectue en repérant une bande passante commune aux deux spectres Dans le cas du récipient de couleur violette par exemple (figure 2), on repère une bande passante entre 350 et 450 nm (c'est-àdire dans le violet et l'ultraviolet). Dans le cas du récipient de couleur ambre (figure 3), on peut repérer plusieurs bandes passantes : une première entre 320 et 420 nm (dans le violet et l'ultraviolet) et une deuxième entre 450 et 700 nm, soit sur la majeure partie du domaine visible. Il apparaît souhaitable dans ce cas de choisir l'une des deux bandes passantes : bien que la première corresponde à des transmissions plus faibles, on note un taux d'absorption plus important du revêtement : le choix se portera donc de préférence sur cette première bande passante, qui apparaît plus significative de l'influence du revêtement sur la variation de transmission de la lumière. On sélectionne ensuite dans la bande passante repérée une longueur d'onde correspondant à un écart entre les spectres. Bien qu'au sein de la bande passante plusieurs longueurs d'ondes répondent manifestement à ce critère, le choix se portera de préférence sur une longueur d'onde correspondant à un pic de transmission, pour lequel le coefficient de transmission est stable (la pente de la courbe spectrale étant faible ou nulle), sa mesure étant dès lors supposée relativement fiable. Dans le cas du récipient de couleur violette précité (figure 2), la longueur d'onde 2 sélectionnée est ainsi de 410 nm (dans le violet, donc), tandis que dans le cas du récipient de couleur ambre (figure 3), lalongueur d'onde 2 sélectionnée est de 370 nm (dans l'ultraviolet proche, donc). Dans le cas d'un récipient incolore, on choisit de préférence cette première longueur d'onde 2 dans l'ultraviolet transmis. Suivant un mode de réalisation, la longueur d'onde 2 sélectionnée est de 370 nm (dans l'ultraviolet proche). Quant à la seconde longueur d'onde IR , elle est de préférence choisie dans l'infrarouge moyen, où le spectre apparaît relativement stable, en l'occurrence au-delà de 800 nm, par exemple aux environ de 900 nm. Suivant un mode de réalisation, la longueur d'onde IR est égale à 880 nm. c) Calibration L'étape de calibration vise à établir la fonction de corrélation pour une gamme donnée de récipients. Le choix du modèle étant effectué (Cf. ≈a) ci-dessus), cette étape comprend, pour chaque gamme, la détermination expérimentale des coefficients R, a et b. Détermination du coefficient R Comme nous l'avons déjà indiqué, des variations d'épaisseur (ou autres défauts) du substrat d'un échantillon à l'autre peuvent fausser les mesures de transmission effectuées sur les échantillons revêtus. Le coefficient R vise à caractériser le comportement optique d'un échantillon non revêtu moyen (au sens statistique du terme), de manière à corriger ces éventuelles variations. La détermination du coefficient R est expérimentale ; elle s'effectue, comme exposé ci-après (et comme illustré sur la figure 1B), à partir d'une population de récipients non revêtus d'une même gamme à laquelle appartient le récipient à que l'on souhaite contrôler ultérieurement. Une première opération f.1) consiste à fournir un récipient test, non revêtu, de cette gamme. Une deuxième opération f.2) consiste à sélectionner sur cet échantillon test un point de mesure M. Une troisième opération f.3) consiste à éclairer cet échantillon test au moyen d'un faisceau lumineux focalisé au point de mesure M. Ce faisceau peut être de lumière blanche, ou encore d'une lumière bichromatique ou polychromatique couvrant au moins les deux longueurs d'onde 2 et IR retenues (Cf. ≈b) ci-dessus). Une quatrième opération f.4) consiste à recueillir la part du faisceau transmise au travers de la paroi du récipient test, et une cinquième f.5) à mesurer l'intensité lumineuse transmise aux longueurs d'onde précitées et en déduire les coefficients de transmission du récipient pour ces longueurs d'onde. Une sixième opération f.6) consiste alors à calculer un coefficient R(M), dit de pondération, égal au quotient des logarithmes des coefficients de transmission ainsi mesurés : ln T (M) R(M) û lnFil?(M) Les opérations qui viennent d'être décrites sont répétées (f.7)) pour une pluralité de points de mesure M, et éventuellement pour une pluralité de récipients tests non revêtus de la même gamme. On calcule ensuite le coefficient R , défini comme la moyenne arithmétique, pour l'ensemble des points M de mesure, du coefficient de pondération : 1 1n FÀ (M) R=ùL N N 1n F1R (M) Détermination des coefficients a et b Reste à déterminer les coefficients a et b . Comme pour le coefficient R , cette détermination est expérimentale. Elle s'effectue à partir d'une population de récipients revêtus d'une même gamme, gamme à laquelle appartiennent les récipients non revêtus ayant servi à la détermination du coefficient R et le récipient à contrôler ultérieurement. Une première opération g.1) consiste à fournir un récipient test, revêtu, de cette gamme. Une deuxième opération g.2) consiste à sélectionner sur ce récipient test un point de mesure M (bien que la notation soit la même que précédemment, ce point de mesure n'est pas nécessairement confondu avec les points de mesure choisis sur les récipients tests non revêtus lors du calcul du coefficient R). Une troisième opération g.3) consiste à éclairer le récipient test au moyen d'un faisceau lumineux focalisé au point de mesure M. Comme précédemment, ce faisceau peut être de lumière blanche, ou encore d'une lumière bichromatique ou polychromatique couvrant au moins les deux longueurs d'onde 2 et IR retenues (Cf. ≈b) ci-dessus). Une quatrième opération g.4) consiste à recueillir la part de faisceau transmise. Une cinquième opération g.5) consiste à mesurer l'intensité lumineuse transmise au travers du récipient test au point de mesure M , aux longueurs d'onde 2 et IR précitées, et à en déduire les coefficients de transmission FÂ(M) et FJR(M) pour ces longueurs d'onde. Une sixième opération g.6) consiste alors, à partir de ces coefficients, à calculer l'épaisseur relative du revêtement au point de mesure M à partir de la formule édictée au ≈a) : E(M)=û1nFÀ(M)+R•1nF/R(M) Ces opérations sont répétées (g.7)) pour une pluralité de points de mesure, et éventuellement pour une pluralité de récipients revêtus de la même gamme, autant de fois qu'il est jugé nécessaire. Une huitième opération g.8) consiste ensuite à mesurer de manière physique, en chaque point de mesure M, l'épaisseur réelle du revêtement, par exemple au moyen d'un profilomètre. Afin de garantir la fiabilité de ces mesures, on aura par exemple préparé au préalable les récipients tests revêtus en sélectionnant des zones localisées (dans lesquelles on peut supposer que les propriétés physiques û notamment l'épaisseur û et optiques de la paroi du récipient varient de manière insensible), non revêtues, au voisinage desquelles sont sélectionnés les points M de mesure optique, de sorte que les mesures profilométriques effectuées au voisinage de chaque point M peuvent raisonnablement être considérées comme fournissant une excellente approximation de l'épaisseur réelle en ce point. Comme nous l'avons déjà évoqué, il ressort des expériences conduites par les inventeurs que l'épaisseur réelle, mesurée physiquement au voisinage immédiat du point M de mesure optique, est une fonction sensiblement linéaire de l'épaisseur relative calculée en ce point conformément à la méthode décrite ci-dessus. A titre d'exemple, calculs et mesures ont été effectués sur plusieurs récipients similaires en PET transparent, pourvus d'un revêtement en carbone amorphe déposé par plasma au cours d'un traitement d'une durée de 1s, 2s et 2,5s respectivement. Le tableau qui suit fournit une série de doublets obtenus pour une pluralité de points de mesure répartis sur chacun des récipients. épaisseur relative épaisseur réelle (nm) 0,52322273 161,7 0,56535174 159,8 0,36560061 138,3 0,44035936 125,0 0, 39357823 121, 8 0,36653792 121,1 0,37342098 119,3 0,27089794 102,6 0,26790898 98,5 0, 3087815 97, 8 0,27995456 88,8 0,2033177 83,9 0,29407129 80,9 0,227679 75,1 0,22918271 73,5 0,1937663 72,9 0,21706449 68,1 0,22452518 65,4 0,14382297 65,0 0,17244316 56,7 0,1709512 55, 3 0,15623151 45,2 0, 06723764 45,1 0,10889669 39,0 Chacun de ces doublets est représenté par un point sur le graphe de la figure 4, en abscisse duquel est portée l'épaisseur relative tandis qu'en ordonnée est portée l'épaisseur réelle (mesurée physiquement) du revêtement : la tendance du nuage de points ainsi constitué est clairement linéaire. Enfin, lors d'une neuvième opération g.9), une régression linéaire (telle que la méthode des moindres carrés) permet de manière simple, à partir de ce nuage de points, de calculer les coefficients a et b de la fonction linéaire de corrélation entre l'épaisseur relative E définie ci- dessus et l'épaisseur t du revêtement : t=a•E+b Cette fonction est représentée, pour l'exemple présenté ci-dessus, par la droite tracée sur le graphe de la figure 4. Les coefficients R , a et b ainsi calculés, permettent pour une gamme donnée de récipient, de calculer, selon la méthode présentée ci- dessus au ≈I, l'épaisseur théorique du revêtement d'un récipient sur une ligne de fabrication, avec une excellente approximation de l'épaisseur réelle, la fonction de corrélation minimisant les effets des défauts et variations d'épaisseur du substrat. Une fois établie la fonction de corrélation pour toutes les gammes fabriquées (ou destinées à l'être), la méthode de contrôle peut être appliquée, soit en continu, soit par prélèvement, de manière rapide et non destructive. III. description du dispositif Les mesures optiques décrites ci-dessus peuvent être réalisées au moyen d'un dispositif 1 tel que représenté sur la figure 5. Ce dispositif 1 comprend une chambre noire (non représentée) renfermant un support 2 tournant sur lequel est placé le récipient 3 (successivement le(s) récipient(s) test(s) puis le récipient à contrôler). Le dispositif 1 comprend également une source 4 de lumière blanche, ici représentée de manière schématique, qui génère un faisceau 5 lumineux (en traits mixtes) parallèle, guidé par un périscope 6. La source 4 peut être de lumière blanche, bichromatique ou polycromatique en fonction des longueurs d'onde sélectionnées. De préférence, il s'agit d'une lumière blanche, c'est-à-dire une lumière s'étendant sur une gamme de longueurs d'onde allant de l'ultraviolet à l'infrarouge. Les inventeurs ont constaté qu'une source lumineuse émettant dans une gamme de longueurs d'onde comprises entre 300 et 1200 nm permet d'obtenir des mesures significatives quelle que soit la couleur du récipient, la sélection des longueurs d'onde pouvant être effectuée ultérieurement. Le choix de la source lumineuse est laissé à la libre appréciation de l'homme du métier. Deux technologies ont été expérimentées avec succès : la première consiste à combiner deux lampes, à savoir une lampe à incandescence de type halogène à filament de tungstène (émettant dans le visible et l'infrarouge court) et une lampe de type à décharge au Deutérium (émettant dans l'ultraviolet) ; la seconde consiste à employer une lampe unique de type à décharge au Xénon, qui émet une lumière blanche couvrant la gamme 300- 1200 nm. Il est à noter que cette gamme est particulièrement adaptée à la mesure sur des récipients en PET. Le périscope 6, introduit dans le récipient 3 par le col 7 de celui-ci, est pourvu, à son extrémité opposée à la source 4 lumineuse , d'un miroir 8, qui réfléchit radialement le faisceau 5, et d'une ouverture 9 dans laquelle est monté un système optique 10 convergent (qui peut être constitué, comme cela est représenté, d'une simple lentille) focalisant le faisceau 5 sur le revêtement, au point de mesure (respectivement au point de contrôle). Outre qu'il est monté pivotant autour d'un axe vertical (confondu avec l'axe propre du récipient 3), le support 2 est déplaçable verticalement, de sorte qu'il est possible de régler en hauteur et en angle la position du récipient 3 par rapport au périscope 6, de manière à pouvoir placer au point focal du système optique 10 le point (de mesure ou de contrôle) à éclairer. Suivant un mode de réalisation, le périscope 6 est muni d'une bague 11 coulissante qui vient coopérer avec le col 7 du récipient 3 pour assurer le centrage de celui-ci par rapport à l'axe de rotation du support 2. Le dispositif 1 comprend en outre un capteur 12 optique, disposé à l'extérieur du récipient 3 en regard de l'ouverture 9 du périscope 6 pour recueillir la part transmise du faisceau 5 lumineux . Le capteur 12 et la source 4 lumineuse sont tous deux reliés à un spectrophotomètre 13 au moyen duquel sont effectuées les mesures d'intensité lumineuse transmise pour les longueurs d'onde retenues, et au moyen duquel sont établis les spectres évoqués ci-dessus. Quant au traitement des données recueillies, il peut être effectué par simple programmation sur un ordinateur de bureau (PC).10 REVENDICATIONS 1. Procédé pour contrôler, sur un échantillon composé d'un substrat muni d'un revêtement, l'épaisseur du revêtement en au moins un point de contrôle prédéterminé, ce procédé comprenant les opérations suivantes : a) fournir l'échantillon à contrôler ; b) sélectionner sur l'échantillon un point de contrôle ; c) éclairer l'échantillon au moyen d'un faisceau lumineux focalisé au au point de contrôle ; d) recueillir la part du faisceau transmise au travers de l'échantillon ; e) mesurer l'intensité transmise au travers de l'échantillon pour deux longueurs d'onde prédéterminées, à savoir une première longueur d'onde choisie dans l'ultraviolet ou dans le visible, et une seconde longueur d'onde choisie dans l'infrarouge, et en déduire les coefficients de transmission auxdites longueurs d'onde ; f) calculer une grandeur, dite épaisseur relative du revêtement, définie comme suit : E(P)_ùlnhÂ(P)+R•1nFIR(P) où : P est le point de contrôle, F2(P) est le coefficient de transmission au point de contrôle P à la longueur d'onde 2 choisie dans l'ultraviolet ou dans le visible, F]R(P) est le coefficient de transmission au point P à la longueur d'onde IR choisie dans l'infrarouge, R est un coefficient constant. g) en déduire une épaisseur théorique t du revêtement au point de contrôle, au moyen d'une fonction de corrélation linéaire : t(P) = a. E(P) +b où a et b sont des constantes. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel, pour calculer le paramètre R , on effectue les opérations suivantes : f.1) fournir un échantillon test, non revêtu, similaire à l'échantillon à contrôler ; f.2) sélectionner sur l'échantillon test non revêtu un point de mesure M ; f.3) éclairer l'échantillon test non revêtu au moyen d'un faisceau lumineux focalisé au point de mesure ; f.4) recueillir la part du faisceau transmise au travers de l'échantillon test non revêtu ; f.5) mesurer l'intensité lumineuse transmise au travers de l'échantillon test aux longueurs d'ondes choisies pour l'opération e) et en déduire les coefficients de transmission auxdites longueurs d'onde ; f.6) calculer un coefficient, dit de pondération, égal au quotient des logarithmes des coefficients de transmission mesurés au point M à l'opération f.5) : ln F,~ (M) R(M) ù ln Fin (M) f.7) répéter les opérations f.1) à f.6) pour une pluralité de points M de mesure ; f.8) calculer le coefficient R, égal à la moyenne du coefficient de pondération pour l'ensemble des points de mesure. 3. Procédé selon la revendication 2, dans lequel les opérations f.1) à f.7) sont répétées pour une pluralité d'échantillons tests non revêtus similaires à l'échantillon à contrôler. 4. Procédé selon l'une des revendications là 3, dans lequel, pour calculer les coefficients a et b de la fonction de corrélation, on effectue les opérations suivantes : g.1) fournir un échantillon test, revêtu, similaire à l'échantillon à contrôler ; g.2) sélectionner sur l'échantillon test un point de mesure M ; g.3) éclairer l'échantillon test au moyen d'un faisceau lumineux focaliséau point de mesure ; g.4) recueillir la part du faisceau transmise au travers de l'échantillon test ; g.5) mesurer l'intensité lumineuse transmise au travers de l'échantillon test aux longueurs d'ondes choisies pour l'opération e) et en déduire les coefficients de transmission auxdites longueurs d'onde ; g.6) calculer l'épaisseur relative du revêtement au point de mesure M ; g.7) répéter les opérations g.1) à g.6) pour une pluralité de points de mesure ; g.8) mesurer de manière physique l'épaisseur réelle du revêtement en chaque point de mesure ; g.9) à partir de l'ensemble des doublets de mesures optique et physique, calculer au moyen d'une régression linéaire les coefficients a et b de la fonction de corrélation. 5. Procédé selon la revendication 4, dans lequel les opérations g.1) à g.7) sont répétées pour une pluralité d'échantillons tests revêtus similaires à l'échantillon à contrôler. 6. Procédé selon l'une des revendications 1 à 5, appliqué au contrôle de l'épaisseur d'un revêtement dont est pourvu un substrat réalisé dans une matière thermoplastique. 7. Procédé selon l'une des revendications 1 à 6, appliqué au contrôle de l'épaisseur d'un revêtement en carbone amorphe. 8. Procédé selon l'une des revendications 1 à 7, dans lequel les échantillons sont des récipients dont la paroi revêtue constitue le substrat.