FR 2890489 A1 20070309 FR 0509168 A 20050908 La présente invention concerne un procédé de fabrication d'un substrat de type "semi-conducteur sur isolant", connu sous l'acronyme "SeOl", d'après la terminologie anglaise de "Semiconductor On Insulator". Un tel substrat ou hétérostructure est utilisé en particulier dans les 5 domaines de l'optique, l'électronique et l'optoélectronique. Un substrat de type "SeOl" comprend généralement au moins une couche d'isolant, intercalée entre deux couches de matériau semi-conducteur. Dans la suite de la description et des revendications, le terme "isolant" désigne un matériau électriquement isolant, présentant éventuellement une permittivité électrique élevée. Les substrats SeOl sont fabriqués selon un procédé comprenant, par exemple, les étapes suivantes: - formation ou dépôt d'une couche d'isolant sur un premier substrat, dit "donneur", de sorte qu'il existe entre eux une interface dite de liaison , - implantation d'espèces atomiques à l'intérieur dudit substrat donneur, par un procédé connu selon la nomination commerciale "Smart CutTM", de façon à y former une zone de fragilisation, - collage par adhésion moléculaire d'un second substrat, dit "receveur", sur la surface libre de l'isolant, et - détachement de la partie arrière dudit substrat donneur le long de la zone de fragilisation. On obtient ainsi une hétérostructure comprenant successivement un support, une couche d'isolant et une couche supérieure active issue du substrat donneur. Dans le domaine de la microélectronique, la qualité de surface de la couche active de matériau semi-conducteur est d'une très grande importance. Plus précisément, la rugosité, ainsi que l'absence de défauts à la surface de cette couche active sont des paramètres qui doivent être optimisés, pour que les futurs composants qui seront réalisés à partir de ces hétérostructures soient d'une qualité optimale. Or, différents types de défauts de surface peuvent apparaître après le transfert de la couche active, sur le substrat receveur. Ces défauts sont notamment: - les zones non transférées (connues sous l'abréviation ZNT), les cloques, - les vides, connus sous la terminologie anglaise de "voids", - les "cloques à bords orientés suivant un plan cristallin", connues de l'homme du métier sous l'acronyme "COV", d'après la terminologie anglaise de 5 "Crystal Orientated Voids". Tous ces défauts sont dus à un mauvais transfert, à la présence de défauts sous-jacents dans les diverses couches de 1'hétérostructure, à la qualité du collage au niveau de l'interface de collage ou tout simplement, aux procédés mis en oeuvre pour fabriquer de telles hétérostructures, tels que l'implantation d'espèces atomiques ou le traitement thermique, par exemple. Les défauts présents au niveau des interfaces de collage ou de liaison vont devenir des lieux de piégeage de gaz, lors des différentes étapes du procédé et vont ainsi se gonfler et former des cloques de type COV ou des vides. Ainsi, par exemple, dans le cas d'une hétérostructure comprenant successivement un substrat support en silicium, recouvert d'une couche d'oxyde thermique, puis d'une couche d'oxyde TEOS obtenue par dépôt LPCVD, et enfin d'une couche de germanium, les éléments gazeux peuvent avoir plusieurs origines. L'expression LPCVD TEOS désigne un oxyde de silicium (SiO2) obtenu par un dépôt chimique en phase vapeur à base pression, à partir d'un précurseur de type tétraéthylorthosilicate (TEOS). Ces éléments gazeux peuvent provenir notamment de: - de l'hydrogène ou de l'hélium amené lors de l'étape d'implantation d'espèces atomiques visant à former la zone de fragilisation, la quantité de ces éléments gazeux dépendant du type d'implanteur utilisé et des conditions d'implantation (dose et énergie), - de la désorption des molécules d'eau (H2O), présentes à l'interface de collage entre l'oxyde thermique et l'oxyde TEOS, - de l'oxyde TEOS, si la densification de ce dernier n'a pas été suffisante, à cause de la diffusion de composés carbonés. De plus, on notera que plus l'épaisseur de la couche utile est faible, plus le nombre de défauts est important. En effet, lorsque la couche active est épaisse, les défauts du type cloques ou vides sont généralement retenus dans l'épaisseur de la couche active, et de ce fait, apparaissent moins à sa surface. A titre d'exemple illustratif de ces problèmes de défauts, on peut se reporter à la figure 3 jointe. Celle-ci est un graphique représentant la concentration C en ions H+/cm2 dans un substrat composite, en fonction de la profondeur en nanomètres, les résultats ayant été obtenus par spectroscopie de masse d'ions secondaires (SIMS). Plus précisément, ce substrat composite est le résultat d'un collage entre un substrat support (Si) ayant subit une oxydation thermique, et un substrat donneur de Ge sur lequel a été déposé une couche de SiO2. L'interface de collage se fait donc entre deux oxydes, l'un appartenant au substrat support et l'autre appartenant au substrat donneur. Sur le graphe 3, l'interface de collage entre les deux couches de SiO2 est située à -200 nm. Le substrat support n'est pas représenté sur la figure 3, seule son interface de liaison avec la couche de SiO2 l'est et cette interface se situe à -400 nm. La courbe a en trait plein représente les résultats obtenus avant l'implantation d'espèces atomiques Smart CutTM en vue de la formation de la zone de fragilisation à l'intérieur de la couche de germanium. Les ions H+ se trouvent principalement à l'interface de liaison entre la première couche de SiO2 et la couche de germanium. La courbe c en trait gras représente les résultats obtenus après l'implantation permettant la formation de la zone de fragilisation et avant le collage avec la seconde couche de SiO2. On notera que le trait vertical à -200 nm correspond à un artéfact. Les valeurs ne commencent que vers -200 nm car ceci correspond à l'implantation réalisée avant de coller la seconde couche de SiO2. Dans le cas particulier du germanium, le détachement ne se fait pas au niveau de l'implantation maximale, mais juste un peu après (env. 550 nm), ce qui explique l'allure de la courbe b ci-après. La courbe b en traits pointillés représente les résultats obtenus après le collage des deux couches de SiO2 et après le détachement et le transfert de la couche active de germanium. La répartition des espèces hydrogène montre une accumulation au niveau de l'interface de liaison SiO2/Ge et SiO2/substrat support. Un tout petit pic au niveau de la couche de SiO2 apparaît à -200 nm: il correspond à l'interface de collage des deux couches de SiO2. On constate une nette augmentation de la quantité de gaz dans la couche d'isolant (SiO2) après l'étape de détachement et de report de la couche active de germanium. Cette augmentation est à l'origine des défauts visibles après transfert sur la face supérieure de la couche de germanium reportée. On connaît déjà d'après le document US-2002/0190269, un procédé de fabrication d'une hétérostructure comprenant une couche de germanium sur du silicium, ce procédé ayant pour but de réduire la formation de bulles au niveau de l'interface de collage. Plus précisément, cette hétérostructure est obtenue par implantation d'hydrogène dans un substrat donneur en germanium pour y former une zone de fragilisation, puis collage sur un substrat receveur en silicium, et enfin traitement thermique pour détacher la partie arrière du substrat en germanium. Dans un mode particulier de réalisation, l'auteur suggère de disposer une couche dénommée "anti-bulles" de silicium amorphe, sur le substrat en germanium, avant le collage, afin de rendre l'interface de collage hydrophile et de réduire ainsi la formation de bulles d'hydrogène, lorsque le substrat en germanium est collé au substrat en silicium. Selon une autre variante de réalisation, il est suggéré d'améliorer la rugosité de la couche de germanium transférée, en déposant sur celle-ci, une couche 15 tampon de germanium, formée par épitaxie. Ces deux solutions ont pour but d'améliorer la qualité de l'interface de collage entre les deux substrats, toutefois, elles nécessitent l'ajout d'une couche supplémentaire, ce qui complique le procédé. L'invention a pour but d'éviter la formation des défauts à la surface de la couche active transférée, plus précisément des défauts dus à l'agglomération d'éléments gazeux au niveau des différentes interfaces de collage et/ou de liaison. L'invention a également pour but d'éviter le recours au dépôt de couches intermédiaires (couches amorphes ou couches tampons), déposées ou intercalées entre la couche d'isolant et la couche active, comme cela est le cas d'après les procédés connus de l'état de la technique. En effet, de telles couches sont susceptibles de modifier les propriétés électriques de la structure finale. A cet effet, l'invention concerne un procédé de fabrication d'une hétérostructure du type "semi-conducteur sur isolant", comprenant au moins une couche d'isolant, intercalée entre un substrat dit "receveur", en matériau semi- conducteur et une couche dite "active", issue d'un substrat en matériau semi-conducteur dit "donneur", ce procédé comprenant les étapes consistant à : - former ou déposer au moins une couche d'isolant sur au moins l'un des deux substrats donneur et receveur, - coller ledit substrat donneur et ledit substrat receveur, par adhésion 35 moléculaire, de façon que la ou les couche(s) d'isolant soi(ent) intercalée(s) entre eux et qu'il existe entre l'un des deux substrats et l'une des couches d'isolant ou entre les deux couches d'isolant, une interface de collage, -retirer une partie, dite "reste", du substrat donneur, de façon à ne conserver que ladite couche active et à obtenir ladite hétérostructure. Ce procédé est remarquable en ce qu'avant le collage, on procède à une implantation d'au moins une catégorie d'espèces atomiques à l'intérieur d'au moins l'une desdites couches d'isolant, ces espèces atomiques étant choisies de façon à être soit identiques, soit isoélectriques, à l'une de celles constituant ladite couche d'isolant dans laquelle elles sont implantées, de façon à y former une couche, dite "de piégeage", apte à retenir les espèces gazeuses éventuellement présentes au niveau des différentes interfaces de l'hétérostructure et à limiter la formation de défauts à la surface de la couche active de ladite hétérostructure. Selon d'autres caractéristiques avantageuses et non limitatives de l'invention, prises seules ou en combinaison: - après la formation de la couche de piégeage, on procède à une étape de recuit de la couche d'isolant contenant cette couche de piégeage, à une température d'au moins 350 C, pendant au moins 30 minutes. - les paramètres de l'implantation sont choisis de façon à former ladite couche de piégeage, soit à proximité de ladite interface de collage, de préférence à une distance comprise entre 2 et 10 nanomètres de l'interface de collage, soit à proximité d'une interface de liaison entre la couche d'isolant et l'un ou l'autre des deux substrats; - l'isolant peut être un oxyde, par exemple du dioxyde de silicium (SiO2) et les espèces implantées sont alors choisies parmi les atomes de silicium, de 25 germanium ou d'oxygène; - l'isolant peut être un nitrure, par exemple du nitrure de silicium (Si3N4) et les espèces implantées sont alors choisies parmi les atomes de silicium, de germanium ou d'azote; - le retrait de la partie arrière est effectué par polissage mécanico-30 chimique; - avant le collage, on forme une zone de fragilisation à l'intérieur du substrat source, cette zone de fragilisation délimitant la couche active, du reste dudit substrat destiné à être retiré ; cette zone de fragilisation pouvant être formée par implantation d'espèces atomiques; L'invention concerne également une hétérostructure du type "semi- conducteur sur isolant", comprenant au moins une couche d'isolant, intercalée entre un substrat, dit "receveur", en matériau semi-conducteur, et une couche, dite "active", en matériau semi-conducteur. Conformément à l'invention, au moins l'une desdites couches d'isolant comprend une couche de piégeage d'espèces gazeuses, constituée d'une couche bidimensionnelle de nanocavités ou de nanoparticules. D'autres caractéristiques de l'invention apparaîtront de la description qui va maintenant être faite, en référence aux dessins annexés, qui en représentent, à titre indicatif mais non limitatif, des modes de réalisations possibles. Sur ces dessins: - les figures lA à lE sont des schémas représentant les différentes 10 étapes successives du procédé de fabrication conforme à un premier mode de réalisation de l'invention, -les figures 2A à 2F sont des schémas représentant les différentes étapes successives du procédé de fabrication conforme à ce second mode de réalisation de l'invention, - la figure 3 est un graphique représentant la concentration C en ions H+/cm2, en fonction de la profondeur, dans un substrat composite résultant d'un collage entre un substrat support (Si) ayant subit une oxydation thermique, et un substrat donneur de Ge sur lequel à été déposé une couche de SiO2. Les résultats ont été obtenus par spectroscopie de masse d'ions secondaires (SIMS), - la figure 4 est un dessin réalisé à partir d'une photo d'une coupe d'une partie d'un substrat support oxydé avant collage SeOI, incluant une couche de piégeage formée dans la couche de SiO2, cette photo ayant été obtenue par microscopie électronique à transmission (TEM). Un premier mode de réalisation de l'invention va être maintenant être 25 décrit en faisant référence aux figures 1A à 1E. Comme cela apparaît mieux sur les figures lA et 1B, on utilise un substrat 1, dit "donneur", car c'est de ce substrat qu'est issue la couche active dans le futur substrat composite ou hétérostructure obtenu en fin de procédé. Ce substrat donneur 1 peut être monocouche ou multicouche, par exemple à deux couches, comme représenté sur la figure 1B. Dans ce cas, il se compose d'une couche primaire 11, recouverte d'une couche secondaire 12. La couche secondaire est par exemple déposée par épitaxie sur la couche primaire. Par ailleurs, on utilise un substrat support ou receveur 2, sur lequel on dépose ou dans lequel on forme une couche d'isolant 3, comme représenté sur la figure 1B, et comme cela sera décrit plus en détail ultérieurement. Entre la couche d'isolant 3 et le substrat receveur 2 existe une interface de liaison référencée 20. Comme représenté sur la figure 1C, on procède ensuite à une implantation d'espèces atomiques à l'intérieur du substrat dormeur 1, par exemple à l'intérieur de la couche secondaire 12, de façon à y former une zone de fragilisation 13. Cette zone 13 délimite une couche supérieure active 14, du reste 15 du substrat. Par ailleurs, conformément à l'invention, on procède à une implantation d'espèces atomiques à l'intérieur de la couche d'isolant 3, en vue d'y former une couche de piégeage 31. Comme on peut le voir sur la figure 1D, on procède ensuite au collage par adhésion moléculaire des deux substrats donneur 1 et receveur 2, par mise en contact intime de la couche active 14 avec la couche d'isolant 3. L'interface de collage porte la référence numérique 4. Comme représenté sur la figure 1 E, on procède ensuite au retrait de 15 la partie arrière 15. Dans le cas particulier, où il existe une zone de fragilisation 13, ce retrait correspond au détachement de la partie arrière ou reste 15 du substrat. Ce détachement est effectué par application de contraintes d'origine mécanique, chimique ou électrique, au niveau de la zone de fragilisation 13. On obtient l'hétérostructure référencée 5. Les figures 2A à 2F illustrent une variante de réalisation de procédé qui vient d'être décrit. Les mêmes éléments portent les mêmes références numériques. Cette variante diffère du procédé précédent, en ce que l'on dépose ou l'on forme une couche d'isolant 6 sur le substrat source 1, avant l'étape d'implantation d'espèces atomiques permettant la formation de zone de fragilisation 13. Il existe entre la couche d'isolant 6 et le substrat source 1, une interface de liaison 60. En outre, comme illustré sur la figure 2D, on procède à une implantation d'espèces atomiques à l'intérieur de la couche d'isolant 6, en vue d'y former une couche de piégeage 61. Dans le mode de réalisation représenté sur la figure 2D, la couche d'isolant 3 ne subit pas le même traitement. Toutefois, il serait également possible d'y former une couche de piégeage 31. Dans ce cas, le substrat composite final obtenu en comporterait deux. Enfin, comme on peut le voir sur la figure 2E, on procède au collage par adhésion moléculaire des deux substrats 1 et 2, de sorte qu'il existe entre eux une interface de collage 7. Après détachement du reste 15 du substrat source 1, on obtient 5 1'hétérostructure 8 représentée sur la figure 2F. Cette hétérostructure 8 comprend deux couches d'isolant 3, 6, intercalées entre deux couches de matériau semi-conducteur respectivement 14 et 2. Dans les deux modes de réalisation qui viennent d'être décrits, le détachement du reste 15 du substrat source 1 est effectué après formation d'une zone de fragilisation par implantation d'espèces atomiques. Toutefois, cette étape d'implantation pourrait également être supprimée, le reste 15 étant alors retiré par une étape de polissage mécanicochimique, connu de l'homme du métier sous la terminologie de polissage "CMP". La nature et les caractéristiques des matériaux constituant les substrats source et receveur, et la couche d'isolant vont être maintenant décrits plus en détails. Les substrats donneur 1 et receveur 2 sont constitués au moins en partie par des matériaux semi-conducteurs, notamment ceux couramment utilisés dans le domaine de l'électronique. Il s'agit, par exemple, du silicium (Si), du germanium (Ge), du nitrure de Gallium (GaN), de l'arséniure de gallium (AsGa) et du silicium germanium (SiGe). Les couches d'isolant 3, 6 sont choisies de préférence parmi les oxydes, tels que l'oxyde silicium (SiO2). Il peut également s'agir de nitrure, par exemple du nitrure de silicium (Si3N4) ou d'oxynitrure, par exemple l'oxynitrure de Germanium (GexOyN7;). Il est également possible d'utiliser des matériaux diélectriques à forte permetivité ("high k" selon la terminologie anglaise), tels que par exemple du dioxyde de hafnium (HfO2), de l'alumine (Al2O3), de l'oxyde de zirconium (ZrO2), du pentoxyde de tantale (Ta2O5), du dioxyde de titane (TiO2), leurs nitrures et leurs siliciures. Lorsque les couches d'isolant 3 ou 6 sont constituées par un oxyde, elles peuvent être obtenues par oxydation thermique du substrat source 1 ou du support 2 sur lequel elles doivent être formées. Ces couches d'isolant 3 ou 6 peuvent également être obtenues par 35 dépôt, par exemple dépôt chimique en phase vapeur. A titre d'exemple, pour du dioxyde de silicium (SiO2), il est possible d'utiliser le dépôt chimique en phase vapeur à basse pression (LPCVD) ou un procédé de dépôt en couches atomiques, connu sous l'acronyme "ALD" ("Atomic layer deposition"). Dans le cas du dépôt d'une couche de SiO2, il est également possible de procéder au dépôt par LPCVD, à partir d'un précurseur de type tétraéthylorthosilicate (TEOS). L'implantation d'espèces atomiques permettant la formation d'une zone de fragilisation à l'intérieur du substrat source peut être effectuée, par exemple, par le procédé connu sous la dénomination commerciale "Smart CutTM". Pour de plus amples détails sur ce procédé, on pourra se reporter au document "Silicium on insulator technology" ; matérials to VLSI, 2ème édition, par JP Collinge, Kluwer academic publishers, pp 50-51. Le terne "implantation d'espèces atomiques" désigne couramment tout type de traitement, susceptible d'introduire des espèces atomiques ou ioniques à l'intérieur du substrat donneur implanté, avec une concentration maximale des espèces situées à une profondeur prédéterminée depuis la surface traitée. L'implantation d'espèces atomiques à l'intérieur de la couche d'isolant 3, 6 visant à y former une couche de piégeage 31, respectivement 61, va maintenant être décrite plus en détails. Cette couche a pour but de piéger les espèces gazeuses diffusantes. La formation de la couche de piégeage consiste à implanter au moins une catégorie d'espèces atomiques à l'intérieur de la couche d'isolant, ces espèces atomiques étant choisies de façon à être soit identiques, soit isoélectriques, à l'une de celles constituant ledit isolant. Plus précisément, il est possible d'implanter une seule catégorie d'espèces atomiques ou successivement plusieurs. Cette étape permet soit de sursaturer l'isolant avec au moins une catégorie des atomes contenus dans celui-ci, soit d'y introduire une espèce atomique "isoélectrique". Par atome isoélectrique , on désigne tout atome appartenant à la même colonne du tableau de la classification périodique de Mendeleïev que l'un des atomes constituant ledit isolant. Toutefois, le choix de l'atome dans cette colonne dépendra de sa réactivité chimique vis-à-vis des catégories d'atomes constituant l'isolant. A titre d'exemple purement illustratif, dans une couche d'oxyde de silicium (SiO2), on peut implanter de l'oxygène, du silicium et/ou du germanium (son élément isoélectrique). Dans une couche de nitrure de silicium (Si3N4), on peut implanter de l'azote, du silicium et/ou du germanium. La couche de piégeage obtenue peut être constituée de deux types de pièges suivant la nature de l'élément implanté, à savoir: - des nano- cavités (en anglais "voids") dans le cas d'une implantation d'atomes, tels que l'oxygène ou l'azote, - des nanoparticules, pour une implantation de silicium ou de 10 germanium. Les paramètres d'implantation sur lesquels on peut agir sont d'une part, l'énergie d'implantation qui permet de faire varier la profondeur à laquelle sera formée la couche de piégeage, et d'autre part, la dose d'implantation qui permet de modifier la taille des agglomérats d'atomes et la densité de nanoparticules ou de nano-cavités. A titre d'exemple, en implantant du silicium dans du SiO2, avec une énergie d'implantation comprise entre 0,65 keV et 3 keV et des doses d'implantation comprises entre 5.1015 et 2.1016 Si+/cm2, on obtient une couche de piégeage située à une profondeur comprise entre -4 nm et -6 nm, sous la surface libre du SiO2, cette couche de piégeage présentant une épaisseur comprise entre 2 et 3 nm et une densité surfacique de nanoparticules très forte, supérieure à 1.1015.cm 2. La couche de piégeage peut être formée à n'importe quelle profondeur de la couche isolante. Selon une première variante, elle est formée le plus près possible de l'interface de collage qui est à l'origine de l'accumulation des gaz. Ainsi, elle agit comme une pompe chimique. Elle est de plus beaucoup plus efficace dans ce cas. La couche de piégeage peut également être formée le plus près possible de l'interface de liaison entre la couche d'isolant et le substrat. Ceci est particulièrement intéressant dans le cas d'un oxyde déposé, où l'interface de liaison peut être une zone importante d'accumulation d'espèces atomiques gazeuses. La zone de piégeage va alors aider à diminuer la concentration de gaz accumulé à l'interface de liaison. Lorsque l'on a deux couches d'isolant 3 et 6, comme dans le mode de réalisation représenté sur la figure 2, il peut également être intéressant de réaliser une couche piégeage dans chacune des deux couches d'isolant. De préférence, ces couches de piégeage seront alors formées à des profondeurs différentes, de façon que l'une soit proche d'une interface de liaison et que l'autre soit proche de l'interface de collage. Enfin, il peut être avantageux, une fois l'hétérostructure 5 ou 8 formée, de procéder à un recuit thermique. Celui-ci a pour but d'une part de renforcer le collage et d'autre part, de faire évoluer la couche de pièges. Toutefois, ce procédé de recuit est limité par le bilan thermique maximal applicable, comme cela sera expliqué ultérieurement. Plusieurs phénomènes physico-chimiques vont entraîner la formation 10 des pièges, puis la capture des espèces gazeuses. Dans le cas où les pièges sont des nanoparticules, celles-ci vont être formées dans l'isolant, au fur et à mesure de l'implantation, puis certaines vont coalescer partiellement jusqu'à former de petits agglomérats de particules. Cette coalescence va aboutir à la formation d'une couche bidimensionnelle de nanoparticules et de petits agglomérats qui vont piéger les espèces gazeuses, notamment l'hydrogène, par effet mécanique et par effet chimique. Le terme "coalescence" désigne dans ce cas, la répartition et la réorganisation des nanoparticules dans le même plan que l'implantation. La couche de piégeage est bidimensionnelle parce qu'elle s'étend sur toute la surface de la structure, à une profondeur contrôlée par l'énergie d'implantation. Elle va piéger les espèces diffusantes en les empêchant ainsi d'atteindre les interfaces de collage ou de liaison proches. L'effet chimique du piégeage correspond à la formation de liaisons entre les éléments présents. Ainsi, par exemple les atomes de silicium ou de germanium introduits dans une couche de SiO2 formeront des liaisons Si-H ou Ge-H, lorsque de l'hydrogène sera libéré à proximité. La réaction chimique de piégeage de l'hydrogène est particulièrement favorisée dans le cas d'une implantation de germanium, car l'énergie de formation de la liaison Ge-H est beaucoup plus petite. L'effet mécanique du piégeage correspond à l'établissement d'un gradient de concentration entre l'interface de collage ou de liaison et la zone de piégeage. La coalescence des nanoparticules permet d'augmenter la densité des pièges. La concentration d'atomes emprisonnés sur ces pièges s'accroît. Il s'installe alors un gradient d'atomes de gaz libres entre l'interface de collage ou de liaison et la couche de piégeage. On augmente alors le phénomène de diffusion des espèces gazeuses vers les pièges jusqu'à saturation de ces derniers. Enfin, on notera que même lorsqu'un recuit est réalisé après la formation de la couche de piégeage, (voir figures 1 C et 2D), les agglomérats de particules obtenus restent petits. En effet, ce recuit doit être effectué à une température inférieure à celle de l'étape ultérieure de détachement, réalisée après le collage, (voir respectivement les figures 1E et 2 F). Il y aura donc une multitude de petits agglomérats de quelques angstroms qui commencent à coalescer sous forme de nanoparticules. Le piégeage 10 est principalement assuré par ces petits agglomérats, produits à faible bilan thermique. Dans le cas, où les pièges sont des nano-cavités, les particules de gaz libres viennent s'y piéger. Les espèces vont s'accumuler dans ces nanoréservoirs enfouis dans l'isolant. Un gradient de concentration s'installe entre les espèces gazeuses libres et les espèces gazeuses gelées sur les défauts créés dans l'oxyde. Ce gradient de concentration sera la force motrice du piégeage jusqu'à saturation des nano-cavités. Plusieurs exemples de réalisation vont maintenant être décrits plus en détails. Exemple 1: On a préparé un substrat donneur en faisant croître par épitaxie unecouche de germanium, sur du silicium. On a alors effectué à l'intérieur du germanium, une implantation d'hydrogène et/ou d'hélium, afin d'y créer une zone de fragilisation. On a préparé par ailleurs un substrat récepteur en silicium en y déposant une couche isolante d'oxyde de silicium (SiO2) de 250 à 300 nm. On a ensuite procèdé à l'implantation de silicium, dans la couche de SiO2, pour y créer une couche bidimensionnelle de piégeage. Cette implantation s'effectuait à une énergie de 0,5 à 5 keV, pour une dose de 5.1015 à 5. 1016 d'ions 30 Si+/cm2. Ceci a conduit à la formation d'une couche de nanoparticules située entre 1,5 nm et 4 nm (nanomètres), sous la surface de la couche de SiO2, et dont l'épaisseur est comprise entre 2 et 3 nm. Le collage et le détachement sont effectués comme décrit 35 précédemment en liaison avec les figures 1 et 2. 25 Exemple 2: La figure 4 est un dessin réalisé à partir d'une photo obtenue par microscopie électronique à transmission (TEM), qui représente une couche de piégeage formée dans une couche de SiO2, par implantation de silicium avec une énergie de 1 keV et une dose de 1.1016 Si+/cm2. Cette couche de piégeage 31 apparaît comme une ligne noire au milieu de l'oxyde 3. Par ailleurs, des essais ont été effectués pour déterminer les gammes d'énergie et de dose d'implantation à utiliser pour réaliser la couche de piégeage, lorsque l'isolant est respectivement du dioxyde de silicium (SiO2) ou du nitrure de silicium (Si3N4). Les valeurs sont données ciaprès. Lorsque l'isolant est du dioxyde de silicium (SiO2), les espèces implantées sont choisies parmi les atomes de silicium, germanium et d'oxygène. Dans ce cas, on peut implanter au choix, soit uniquement l'une des catégories d'espèces atomiques mentionnées ci-dessous, soit successivement plusieurs d'entre elles: - des atomes de silicium avec une énergie d'implantation comprise entre 0,5 et 5 keV et une dose d'implantation comprise entre 5.10i5 et 5. 10i6 Si+/cm2. Dans ces conditions, la couche de nanoparticules sera située entre 15 nm et 40 nm sous l'interface de collage. L'augmentation de la dose d'implantation permet d'augmenter la densité surfacique des pièges et donc de moduler la quantité totale d'atomes de gaz emprisonnés sur ces piéges. - des atomes de germanium avec une énergie d'implantation comprise entre 0,7 et 10 keV et une dose d'implantation comprise entre 5. 1015 et 1. 1017 Ge+/cm2. Le germanium étant plus lourd, la gamme d'énergie d'implantation est plus large pour positionner le plan de nano-particules dans la même gamme de profondeur. - des atomes d'oxygène avec une énergie d'implantation comprise entre 0.5 et 3 keV et une dose d'implantation comprise entre 1.1015 et 1. 1017 O+ /cm2. Pour positionner la zone de piégeage à la même profondeur que précédemment, la fenêtre d'énergie d'implantation est ici réduite par rapport à l'implantation de silicium car l'oxygène est plus léger. Lorsque l'isolant est du nitrure de silicium (Si3N4), les espèces implantées sont choisies parmi les atomes de silicium, de germanium ou d'azote. 15 Dans ce cas, on peut implanter au choix, soit uniquement l'une des catégories d'espèces atomiques mentionnées ci-dessous, soit successivement plusieurs d'entre elles: - des atomes de silicium avec une énergie d'implantation comprise 5 entre 0,5 et 5 keV et une dose d'implantation comprise entre 5. 1015 et 5. 1016 Si+/cm2; - des atomes de germanium avec une énergie d'implantation comprise entre 0,7 et 10 keV et une dose d'implantation comprise entre 5. 1015 et 1. 1017 Ge+/cm2; - des atomes d'azote avec une énergie d'implantation comprise entre 0,5 et 3 keV et une dose d'implantation comprise entre 1. 1015 et 1. 1017 N+/cm2. Le procédé de fabrication de SeOI conforme à l'invention permet de s'affranchir de tous les défauts dus à l'accumulation de gaz aux interfaces de collage ou de liaison d'une hétérostructure. Le procédé conforme à l'invention est applicable à la fabrication de substrats semi-conducteurs sur isolant, avec tout type de matériau semiconducteur, puisque la couche de piégeage est formée dans l'oxyde. Les avantages seront bien entendu plus marqués dans le cas du GeOI, car d'après les profils SIMS, on observe une forte quantité d'hydrogène présent dans l'oxyde. REVENDICATIONS, 1. Procédé de fabrication d'une hétérostructure (5, 8) du type "semiconducteur sur isolant", comprenant au moins une couche d'isolant (3, 6), intercalée entre un substrat (2), dit "receveur", en matériau semiconducteur et une couche (14), dite "active", issue d'un substrat en matériau semi-conducteur (1), dit "donneur", ce procédé comprenant les étapes consistant à : - former ou déposer au moins une couche d'isolant (3, 6) sur au moins l'un des deux substrats donneur (1) et receveur (2), coller ledit substrat donneur (1) et ledit substrat receveur (2), par adhésion moléculaire, de façon que la ou les couche(s) d'isolant (3, 6) soi(ent) intercalée(s) entre eux et qu'il existe entre l'un des deux substrats (1, 2) et l'une des couches d'isolant (3, 6) ou entre les deux couches d'isolant (3, 6), une interface de collage (4, 7), - retirer une partie (15), dite "reste", du substrat donneur (1), de façon à ne conserver que ladite couche active (14) et à obtenir ladite hétérostructure (5, 8), caractérisé en ce qu'avant le collage, on procède à une implantation d'au moins une catégorie d'espèces atomiques à l'intérieur d'au moins l'une des couches d'isolant (3, 6), ces espèces atomiques étant choisies de façon à être soit identiques, soit isoélectriques, à l'une de celles constituant la couche d'isolant (3, 6) dans laquelle elles sont implantées, de façon à y former une couche (31, 61), dite "de piégeage", apte à. retenir les espèces gazeuses éventuellement présentes au niveau des différentes interfaces de l'hétérostructure (5, 8) et à limiter la formation de défauts à la surface de la couche active (14) de ladite hétérostructure. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'après la formation de la couche de piégeage (31, 61), on procède à une étape de recuit de la couche d'isolant (3, 6) contenant cette couche de piégeage, à une température d'au moins 350 C, pendant au moins 30 minutes. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que les paramètres de l'implantation sont choisis de façon à former ladite couche de piégeage (31, 61) à proximité de ladite interface de collage (4, 7). 4. Procédé selon la revendication 3, caractérisé en ce que la couche de piégeage (31, 61) est formée à une distance comprise entre 2 et 10 nanomètres de l'interface de collage (4, 7). 5. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que les paramètres de l'implantation sont choisis de façon à former ladite couche de piégeage (31, 61) à proximité d'une interface de liaison (20, 60) entre la couche d'isolant (3, 6) et l'un ou l'autre des deux substrats (1, 2). 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'isolant (3, 6) est un oxyde. 7. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que l'isolant (3, 6) est un nitrure. 8. Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce que l'isolant 10 (3, 6) est du dioxyde de silicium (SiO2) et en ce que les espèces implantées sont choisies parmi les atomes de silicium, de germanium et d'oxygène. 9. Procédé selon la revendication 8, caractérisé en ce que l'on implante des atomes de silicium avec une énergie d'implantation comprise entre 0,5 et 5 keV et une dose d'implantation comprise entre 5. 1015 et 5. 1016 Si+ /cm2. 10. Procédé selon la revendication 8, caractérisé en ce que l'on implante des atomes de germanium avec une énergie d'implantation comprise entre 0, 7 et 10 keV et une dose d'implantation comprise entre 5. 1015 et 1. 1017 Ge+/cm2. 11. Procédé selon la revendication 8, caractérisé en ce que l'on implante des atomes d'oxygène avec une énergie d'implantation comprise entre 0,5 et 3 keV et une dose d'implantation comprise entre 1. 1015 et 1. 1017 O+ /cm2. 12. Procédé selon la revendication 7, caractérisé en ce que l'isolant (3, 6) est du nitrure de silicium (Si3N4) et en ce que les espèces implantées sont choisies parmi les atomes de silicium, de germanium et d'azote. 13. Procédé selon la revendication 12, caractérisé en ce que l'on implante des atomes de silicium avec une énergie d'implantation comprise entre 0,5 et 5 keV et une dose d'implantation comprise entre 5. 1015 et 5. 1016 Si+/cm2. 14. Procédé selon la revendication 12, caractérisé en ce que l'on implante des atomes de germanium avec une énergie d'implantation comprise entre 0,7 et 10 keV et une dose d'implantation comprise entre 5. 1015 et 1. 1017 Ge+/cm2. 15. Procédé selon la revendication 12, caractérisé en ce que l'on implante des atomes d'azote avec une énergie d'implantation comprise entre 0,5et 3 keV et une dose d'implantation comprise entre 1. 1015 et 1. 1017 N+/cm2. 16. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le retrait de la partie arrière (15) est effectué par polissage mécanico-chimique. 17. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 15, caractérisé en ce qu'avant le collage, on forme une zone de fragilisation (13) à l'intérieur du substrat source (1), cette zone de fragilisation (13) délimitant la couche active (14), du reste (15) dudit substrat (1) destiné à être retiré. 18. Procédé selon la revendication 17, caractérisé en ce que la zone de fragilisation (13) est formée par implantation d'espèces atomiques. 19. Hétérostructure (5, 8) du type "semi-conducteur sur isolant", comprenant au moins une couche d'isolant (3, 6), intercalée entre un substrat (2), dit "receveur", en matériau semi-conducteur, et une couche (14), dite "active", en matériau semi-conducteur, caractérisée en ce qu'au moins l'une desdites couches d'isolant (3, 6) comprend une couche (31, 61) de piégeage d'espèces gazeuses, constituée d'une couche bidimensionnelle de nanocavités ou de nanoparticules.