FR 2879872 A1 20060623 FR 0511303 A 20051107 Des exemples de modes de réalisation de la présente invention concernent de façon générale un circuit et un procédé associé, et plus particulièrement un circuit pour réduire le bruit impulsionnel et un procédé associé. Une technique de multiplexage par répartition en fréquence orthogonal (OFDM pour "Orthogonal Frequency Division Multiplexing") peut être un exemple d'une technique de modulation à porteuses multiples (MCM pour "Multiple Carrier Modulation"). La technique OFDM peut être appliquée dans le domaine de la transmission numérique (par exemple diffusion audio numérique (DAB pour "Digital Audio Broadcasting"), télévision numérique, réseaux locaux sans fil (WLAN pour "Wireless Local Area Network"), systèmes à mode de transfert asynchrone sans fil (WATM pour "Wireless Asynchronous Transfer Mode"), etc.). Dans la technique OFDM, des données à émettre peuvent être divisées en une multiplicité de segments. Chacun de la multiplicité de segments peut être modulé et émis en parallèle. Cependant, la technique OFDM décrite cidessus peut exiger des circuits complexes. D'autres types classiques de techniques de traitement de signal numérique peuvent inclure la Transformation de Fourier Rapide (FFT pour "Fast Fourier Transform") et la FFT Inverse (IFFT pour Inverse FFT"). La technique OFDM peut être similaire à une technique de multiplexage en fréquence (FDM pour "Frequency Division Multiplexing"). Cependant, dans la technique OFDM, chacune d'une multiplicité de sous- porteuses peut être émise dans une direction orthogonale vis-à-vis d'autres sous-porteuses, permettant ainsi d'obtenir un rendement de transmission de données accru lorsque des données sont émises à des vitesses plus élevées. Diverses techniques (par exemple OFDM / accès multiple par répartition dans le temps (OFDM/TDMA), OFDM / accès multiple par répartition par code (OFDM/CDMA), etc.) peuvent utiliser la technique OFDM pour émettre des données à des vitesses plus élevées. Un signal MCM reçu avec la technique OFDM peut être affecté par du bruit se manifestant entre un émetteur et un récepteur. Des systèmes OFDM peuvent être moins sensibles au bruit (par exemple le brouillage par bruit impulsionnel) en comparaison avec des systèmes à porteuse unique. En outre, la durée d'un symbole OFDM peut être plus longue en comparaison avec celle d'un symbole d'un système à porteuse unique. Par conséquent, l'énergie de bruit impulsionnel peut être dispersée dans l'ensemble de chacune des sous- porteuses OFDM au cours de la durée de symbole. Le brouillage par bruit impulsionnel peut affecter négativement les performances du système OFDM (par exemple un signal de diffusion vidéo numérique terrestre (DVB-T pour "Digital Video Broadcasting- Terrestrial") utilisant la modulation d'amplitude en quadrature (MAQ) de type 64). Un procédé classique pour réduire le bruit impulsionnel dans des systèmes OFDM peut inclure l'écrêtage dans le domaine temporel. La figure 1 est un schéma synoptique illustrant un système d'écrêtage 100 classique. En se référant à la figure 1, on note que le système d'écrêtage 100 peut inclure un amplificateur à gain variable 110, une unité d'écrêtage 120, un convertisseur analogique-numérique (CAN) 130, une unité de mesure de puissance 140 et un calculateur de seuil 150. Le système d'écrêtage 100 peut effectuer un écrêtage dans un domaine analogique (par exemple avant qu'un signal analogique ne soit transformé en un signal numérique). Le système d'écrêtage 100 peut effectuer un écrêtage avec une valeur de seuil d'écrêtage fixée. Le niveau d'écrêtage exigé peut être déterminé en mesurant la puissance d'un signal reçu du CAN 130 et en réglant un gain d'amplitude du signal reçu. L'unité de mesure de puissance 140 peut mesurer la puissance du signal reçu du CAN 130 et peut fournir la mesure au calculateur de seuil 150. Le calculateur de seuil peut régler le gain d'amplitude du signal reçu en commandant l'amplificateur à gain variable 110. Le signal avec l'amplitude réglée peut être reçu par l'unité d'écrêtage 120. L'unité d'écrêtage 120 peut écrêter le signal avec l'amplitude réglée. Le niveau d'écrêtage de l'unité d'écrêtage 120 peut être approximativement égal à l'amplitude de crête d'un signal OFDM. Si l'amplitude du bruit impulsionnel est supérieure à la puissance moyenne de signaux OFDM, le procédé d'écrêtage décrit ci-dessus en relation avec la figure 1 peut réduire le bruit impulsionnel. Des amplitudes de crête de bruit impulsionnel peuvent être remplacées par les amplitudes d'échantillons de signal qui peuvent être approximativement égales à l'amplitude de crête du signal OFDM. Cependant, le procédé d'écrêtage décrit ci-dessus en relation avec la figure 1 peut créer une distorsion de l'orthogonalité de sous-porteuses qui peut ultérieurement augmenter un taux d'erreurs de bit (BER pour "Bit-Error Rate"). La figure 2 illustre une réponse d'écrêtage classique. La réponse d'écrêtage de la figure 2 peut être mise en oeuvre dans un domaine temporel. Les crêtes d'impulsions dépassant un niveau d'écrêtage de seuil peuvent être remplacées par un deuxième niveau logique (par exemple un niveau logique inférieur ou "0" logique). Comme représenté sur la figure 2, des crêtes d'impulsions (par exemple une impulsion de bruit dépassant le niveau d'écrêtage de seuil (comme représenté sur la figure 2(a)) peuvent être remplacées par un niveau zéro (comme représenté sur la figure 2(b)). Dans la réponse d'écrêtage illustrée sur la figure 2, l'écrêtage peut être effectué après une opération de conversion analogique-numérique. La figure 3 est un schéma synoptique illustrant un système d'écrêtage 300. En se référant à la figure 3, on note que lorsque le système d'écrêtage 300 reçoit un signal OFDM Ski une unité de mesure de valeur absolue 301 peut mesurer une valeur absolue du signal OFDM Sk, et un comparateur 302 peut comparer la valeur absolue mesurée avec une valeur de seuil C qui peut être utilisée pour déterminer des niveaux d'écrêtage. Le signal OFDM Sk peut être un signal normal avec une quantité donnée de bruit impulsionnel. Le comparateur 302 peut fournir en sortie un premier niveau logique (par exemple un niveau logique supérieur ou un "1" logique) lorsque la valeur absolue est plus grande que la valeur de seuil C. D'autre part, le comparateur 302 peut fournir en sortie le deuxième niveau logique lorsque la valeur absolue est inférieure à la valeur de seuil C. Un sélecteur 303 peut fournir en sortie le deuxième niveau logique lorsque le comparateur 302 fournit en sortie le premier niveau logique. D'autre part, le sélecteur 303 peut fournir en sortie le signal OFDM reçu, Sk, lorsque le comparateur 302 fournit en sortie le deuxième niveau logique. Le signal de sortie du sélecteur 303 (par exemple le deuxième niveau logique, le signal OFDM Sk, etc.) peut être émis vers un démodulateur OFDM 304. Ainsi, le système d'écrêtage 300 peut fournir en sortie le deuxième niveau logique à la place du signal OFDM Sk et peut émettre le deuxième niveau logique vers le démodulateur OFDM 304 lorsque la valeur absolue du signal OFDM Sk est plus grande que la valeur de seuil C. D'autre part, lorsque la valeur absolue du signal OFDM Sk est inférieure à la valeur de seuil C, le système d'écrêtage 300 peut émettre le signal OFDM Sk vers le démodulateur OFDM 304. Lorsque la valeur absolue du signal OFDM Sk est plus grande que la valeur de seuil C, le signal OFDM Sk peut inclure du bruit impulsionnel. Par conséquent, le procédé décrit ci-dessus consistant à insérer le deuxième niveau logique à la place du signal OFDM Sk lorsque le signal OFDM Sk est plus grand que la valeur de seuil C, peut réduire le niveau du bruit reçu dans le signal OFDM Sk. La détermination de la valeur de seuil C peut affecter les performances d'un récepteur exécutant le procédé d'écrêtage, comme décrit ci-dessus en relation avec les figures 2 et 3. La valeur de seuil C peut être déterminée sur la base des caractéristiques de bruit impulsionnel. Par exemple, la valeur de seuil C peut être un nombre plus élevé lorsque l'amplitude du bruit impulsionnel est à un niveau supérieur. De façon similaire, la valeur de seuil C peut être un nombre moins élevé lorsque l'amplitude du bruit impulsionnel est à un niveau inférieur. Les performances du récepteur peuvent également être affectées par les caractéristiques d'une structeure de commande automatique de gain (CAG) (par exemple l'amplificateur à gain variable 110 représenté sur la figure 1). Si le dispositif de CAG fixe la valeur de seuil c à un niveau non souhaitable (par exemple la valeur de seuil C peut être fixée à un niveau inférieur en comparaison avec un niveau désiré), des parties supplémentaires de signaux OFDM reçus (par exemple en plus de parties incluant du bruit impulsionnel) peuvent être écrêtées. Par conséquent, un signal de sortie du récepteur peut ne pas être fiable. La valeur de seuil C peut être fixée à un niveau plus élevé (par exemple supérieur à un niveau désiré) afin d'éviter le problème décrit ci- dessus et de réduire une dégradation de signaux OFDM reçus. Par exemple, la valeur de seuil C peut être fixée de façon à être supérieure de 15 dB au niveau de signal OFDM moyen. Cependant, la fixation des valeurs de seuil au niveau plus élevé peut augmenter une quantité de bruit dans les signaux reçus. Un exemple de mode de réalisation de la présente invention porte sur un circuit incluant une unité de mesure de bruit comparant une valeur absolue d'un premier échantillon de signal avec des valeurs absolues d'une multiplicité de deuxièmes échantillons de signal, et générant une valeur de rang sur la base des résultats de la comparaison. Un autre exemple de mode de réalisation de la présente invention porte sur un procédé de réduction de bruit impulsionnel, incluant le retardement d'un signal reçu pour générer une multiplicité de signaux retardés, le calcul de la valeur absolue de chacun de la multiplicité de signaux retardés, la comparaison de la valeur absolue calculée d'un premier de la multiplicité de signaux retardés avec l'amplitude absolue calculée d'au moins un des autres signaux de la multiplicité de signaux retardés, et la fixation d'un signal de sortie d'après la comparaison. Les exemples de modes de réalisation de la présente invention ressortiront davantage en décrivant en détail des exemples de modes de réalisation de celle-ci, en référence aux dessins annexés dans lesquels: la figure 1 est un schéma synoptique illustrant un système d'écrêtage classique; la figure 2 illustre une réponse d'écrêtage classique; la figure 3 est un schéma synoptique illustrant un système d'écrêtage; la figure 4 illustre un circuit conforme à un exemple de mode de réalisation de la présente invention; la figure 5 illustre une série d'échantillons de signal reçus par le circuit de la figure 4, en conformité avec un autre exemple de mode de réalisation de la présente invention; la figure 6 est un schéma de circuit concernant un circuit et un démodulateur conformes à un autre exemple de mode de réalisation de la présente invention; la figure 7 est un schéma synoptique illustrant un système d'émission et de réception avec multiplexage par répartition en fréquence orthogonal (OFDM), conforme à un autre exemple de mode de réalisation de la présente invention. Dans ce qui suit, on décrira en détail des exemples 5 de modes de réalisation de la présente invention en référence aux dessins annexés. Dans les figures, on utilise les mêmes numéros de référence pour désigner les mêmes éléments dans l'ensemble des dessins. La figure 4 illustre un circuit 400 conforme à un exemple de mode de réalisation de la présente invention. Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 4, le circuit 400 peut inclure un comparateur à seuil 420, un sélecteur 421 et une unité de mesure de bruit 430. Le circuit 400 peut émettre un signal vers un démodulateur 422. Le circuit 400 peut réduire du bruit associé à un échantillon de signal reçu (par exemple un signal en modulation à porteuses multiples (MCM)). Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 4, l'unité de mesure de bruit 430 peut comparer une valeur absolue d'un échantillon de signal Sk avec les valeurs absolues d'une multiplicité d'échantillons (obtenus par exemple en retardant un échantillon de signal MCM d'entrée Skin)É L'unité de mesure de bruit 430 peut combiner les résultats de la comparaison. L'unité de mesure de bruit 430 de rang R(Sk) sur la base des exemples de modes de réalisation, le signal reçu peut inclure n'importe quel type de signal pouvant être modulé. De façon similaire, le circuit 400 peut être configuré pour traiter des signaux OFDM, des signaux CDM et/ou d'autres types de signaux. peut générer une valeur résultats combinés. Le signal reçu sera considéré ci-après comme incluant au moins un d'un signal OFDM et d'un signal de multiplexage par code (CDM pour "Code Division Multiplexing"). Il faut cependant noter que, dans d'autres Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 4, le comparateur à seuil 420 peut comparer la valeur de rang R(Sk) avec un seuil T et peut générer un signal de sélection sur la base d'un résultat de comparaison. Le sélecteur 421 peut fournir en sortie l'un de l'échantillon de signal présent Sk ou d'un deuxième niveau logique (par exemple un niveau logique inférieur ou "0"), en réponse au signal de sélection. Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 4, le circuit 400 peut réduire le bruit impulsionnel dans un signal traité (par exemple un signal OFDM, un signal CDM, etc.). Le circuit 400 peut détecter des échantillons de signal influencés par du bruit impulsionnel, afin de réduire une dégradation de performances dans un dispositif (par exemple une commande automatique de gain (CAG)) fonctionnant avec un seuil d'écrêtage non optimal. Les amplitudes d'échantillons de signal influencés par du bruit impulsionnel peuvent être supérieures en comparaison avec des échantillons de signal voisins non influencés par du bruit impulsionnel. La probabilité qu'un échantillon de signal donné soit influencé par du bruit impulsionnel peut être proportionnelle à un nombre donné d'échantillons de signal voisins avec des amplitudes inférieures, en comparaison avec l'échantillon de signal donné. Le nombre donné peut indiquer le rang de l'échantillon de signal donné. Des caractéristiques de détecteurs basés sur le rang (par exemple le circuit 400) ne dépendent pas nécessairement d'un niveau de signal et/ou d'une distribution de signal pour garantir un fonctionnement correct. Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 4, le circuit 400 peut utiliser le rang d'un échantillon de signal Sk pour détecter des échantillons de signal affectés par du bruit impulsionnel. Le circuit 400 peut calculer une valeur de rang R(Sk) de l'échantillon de signal Sk conformément à la relation: R(Sk) = E hVskl - ISk+il) Equation 1 i=NÉÉÉN, i#k avec h(x) = 1 pour x > 0 = 0 pour x S 0 Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 4, la valeur de rang R(Sk) peut être calculée par l'unité de mesure de bruit 430 en utilisant l'Equation 1. L'unité de mesure de bruit 430 peut inclure une ligne à retard 440, une unité de calcul de valeur absolue 450, une unité de comparaison 460 et un additionneur 419. La ligne à retard 440 peut inclure une multiplicité d'éléments de retard 401/402/403/410/411/412 connectés en série. Chacun des éléments de retard 401/402/403/410/411/412 peut retarder l'échantillon de signal Skin et peut fournir en sortie le résultat retardé. Comme représenté sur la figure 4, l'échantillon de signal Sk peut être un échantillon de signal intermédiaire parmi des échantillons de signal obtenus en retardant l'échantillon de signal Skin. Dans un exemple, une sortie de l'élément de retard 403 peut être placée près du milieu de la ligne à retard 440. L'information de sortie peut être l'échantillon de signal Sk. L'échantillon de signal Skin peut être un signal en bande de base incluant une valeur (par exemple un nombre réel ou un nombre complexe) reçue d'un convertisseur analogique- numérique (CAN) (non représenté). Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 4, l'unité de calcul de valeur absolue 450 peut calculer les amplitudes (par exemple la valeur absolue d'amplitudes) d'échantillons de signal reçus de la ligne à retard 440, en utilisant une multiplicité de calculateurs de valeur absolue 404/405/406/413/414/415/423. L'unité de calcul de valeur absolue 450 peut fournir les valeurs absolues des échantillons de signal retardés provenant des éléments de retard 401/402/ 403/410/411/412, respectivement aux calculateurs de valeur absolue 404/405/406/413/414/415 L'unité de calcul de valeur absolue 450 peut fournir la valeur absolue de l'échantillon de signal Sk au calculateur de valeur absolue 423. L'unité de comparaison 460 peut comparer la valeur absolue de l'échantillon de signal Sk (provenant par exemple du calculateur de valeur absolue 423) avec les valeurs absolues reçues des calculateurs de valeur absolue 404/405/406/ 413/414/415, à une multiplicité de comparateurs 407/408/409/ 416/417/418, respectivement. Les comparateurs 407/408/409/ 416/417/418 peuvent fournir en sortie un premier niveau logique (par exemple un niveau logique supérieur ou "1" logique) lorsque la valeur absolue de l'échantillon de signal Sk est supérieure au signal de sortie comparé provenant du calculateur de valeur absolue 450 (provenant par exemple de chacun des calculateurs de valeur absolue 404/405/406/413/ 414/415). Sinon, les comparateurs (407/408/409/416/417/418) peuvent fournir en sortie un deuxième niveau logique (par exemple un niveau logique inférieur ou "0" logique). L'additionneur 419 peut recevoir les résultats de chacune des comparaisons de l'unité de comparaison 460 (par exemple les signaux de sortie de chacun des comparateurs 407/408/409/416/417/418). L'additionneur 419 peut combiner les résultats de comparaison reçus de l'unité de comparaison 460 et peut fournir en sortie la valeur de rang R(Sk) (par exemple le nombre de comparateurs fournissant en sortie le premier niveau logique). L'unité de calcul de valeur absolue 450 peut ne pas calculer des valeurs absolues de K (K pouvant être par exemple un nombre naturel) signaux de sortie de l'élément de retard 403 obtenus avant que l'échantillon de signal Sk ne soit généré, et de K signaux de sortie de l'élément de retard 410 obtenus après que l'échantillon de signal Sk a été généré. Le bruit impulsionnel peut influencer une série d'échantillons de signal (par exemple des échantillons de signal consécutifs ou voisins), et l'influence du bruit impulsionnel peut ne pas être limitée à un seul échantillon de signal. Par conséquent, en ne calculant pas des valeurs absolues pour K échantillons de signal reçus avant et/ou après l'échantillon de signal Sk, une efficacité du circuit 400 peut augmenter (par exemple du fait que des signaux avec une probabilité plus élevée d'avoir des niveaux de bruit impulsionnel supérieurs peuvent ne pas exiger le calcul). La figure 5 illustre une série d'échantillons de signal reçus par le circuit 400 de la figure 4 conformément à un autre exemple de mode de réalisation de la présente invention. Dans un exemple, si tous les échantillons de signal adjacents (par exemple voisins ou à proximité immédiate) de l'échantillon de signal Sk sont affectés par du bruit impulsionnel, les amplitudes des échantillons de signal affectés peuvent être plus élevées en comparaison avec l'amplitude de l'échantillon de signal Sk. Dans cet exemple, comme représenté sur la figure 5, les K (par exemple, dans l'exemple de la figure 5, K peut être égal à deux) échantillons de signal 522/524 obtenus avant la génération de l'échantillon de signal Sk et les K échantillons de signal 526/528 obtenus après la génération de l'échantillon de signal Sk, peuvent être exclus du calcul de la valeur de rang R(Sk). La valeur de rang R(Sk) de l'échantillon de signal Sk peut être comparée avec le seuil T. Si la valeur de rang R(Sk) est supérieure à un seuil T, l'amplitude de l'échantillon de signal Sk peut être remplacée par le deuxième niveau logique. D'autre part, si la valeur de rang R(Sk) est inférieure au seuil T, l'échantillon de signal Sk peut être fourni en sortie. La comparaison et la sélection de l'un du deuxième niveau logique et de l'échantillon de signal Sk dans l'exemple décrit ci-dessus peuvent être effectuées par le comparateur à seuil 420 et le sélecteur 421. Le comparateur à seuil 420 peut comparer la valeur de rang R(Sk) et le seuil T et peut générer un signal de sélection (par exemple le résultat de la comparaison. Le seuil T peut être une valeur de référence utilisée pour écrêter le bruit dans un signal reçu. Le seuil T peut être fixé à une valeur supérieure (par exemple un niveau suffisant pour rejeter le bruit impulsionnel sans dégrader l'intégrité des échantillons de signal reçus). Le signal de sélection reçu du comparateur à seuil 420 peut être fixé au premier niveau logique (par exemple un d'un niveau logique supérieur et d'un niveau logique inférieur) lorsque la valeur de rang R(Sk) est plus grande que le seuil T. Le signal de sélection reçu du comparateur à seuil 420 peut être fixé au deuxième niveau logique lorsque la valeur de rang R(Sk) est inférieure au seuil T. Le sélecteur 421 peut fournir en sortie soit l'échantillon de signal Sk, soit le deuxième niveau logique, d'après le signal de sélection. Si le signal de sélection est au premier niveau logique, le sélecteur 421 peut fournir en sortie le deuxième niveau logique. Si le signal de sélection est au deuxième niveau logique, le sélecteur 421 peut fournir en sortie l'échantillon de signal Sk. Le signal de sortie du sélecteur 421 (par exemple un de l'échantillon de signal Sk et du deuxième niveau logique) peut être envoyé au démodulateur 422. Le démodulateur 422 peut décoder le signal de sortie reçu provenant du sélecteur 421 et peut générer un train de bits. Le démodulateur 422 peut être n'importe quel démodulateur bien connu (par exemple un démodulateur OFDM, un démodulateur CDM, etc.). Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 4, le circuit 400 peut être capable de déterminer un niveau d'écrêtage (par exemple le seuil T) qui peut être utilisé pour rejeter du bruit impulsionnel indépendamment de l'amplitude et/ou de la distribution de l'échantillon de signal Skin. La figure 6 est un schéma de circuit concernant un circuit 600 et un démodulateur 638 en conformité avec un autre exemple de mode de réalisation de la présente invention. Le circuit 600 peut inclure une unité de mesure de bruit 650, une unité de commande d'écrêtage 670 et des sous-unités d'écrêtage 675, 680/685. Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 6, le circuit 600 peut détecter des échantillons de signal isolés affectés par du bruit impulsionnel, aussi bien que des groupes d'échantillons de signal affectés par une salve de bruit impulsionnel. Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 6, si une valeur de rang R(Sk) de l'échantillon de signal Sk est supérieure à un premier seuil Ti (c'est-à-dire R(Sk) > Tl), l'amplitude de l'échantillon de signal Sk peut être fixée au deuxième niveau logique. La valeur de rang R(Sk) de l'échantillon de signal Sk peut être calculée par l'unité de mesure de bruit 650. L'unité de mesure de bruit 650 du circuit 600 peut fonctionner de façon similaire à l'unité de mesure de bruit 430 du circuit 400 et ne sera pas décrite davantage, dans l'intérêt de la brièveté. L'unité de commande d'écrêtage 670 peut comparer la 25 valeur de rang R(Sk) de l'échantillon de signal Sk avec le premier fournir de rang part, 1 seuil Tl. L'unité de commande d'écrêtage 670 peut en sortie l'échantillon de signal Sk si la valeur R(Sk) est inférieure au premier seuil Tl. D'autre unité de commande d'écrêtage 670 peut fournir en sortie le deuxième niveau logique lorsque la valeur de rang R(Sk) est plus grande que le premier seuil Tl. L'unité de commande d'écrêtage 670 peut inclure un comparateur à seuil 628, une unité d'opération OU 639 et un sélecteur 621. Le comparateur à seuil 628 peut comparer la valeur 35 de rang R(Sk) avec le premier seuil Tl. Le comparateur à seuil 628 peut générer un signal de sélection d'après le résultat de comparaison. L'unité d'opération OU 639 peut effectuer une opération OU sur le signal de sélection et une multiplicité de signaux de sous-sélection. Le sélecteur 621 peut fournir en sortie l'un de l'échantillon de signal Sk et du deuxième niveau logique, en réponse au signal de sortie de l'unité d'opération OU 639. Le signal de sortie peut être fixé au premier niveau logique (par exemple un d'un niveau logique supérieur et d'un niveau logique inférieur) si la valeur de rang R(Sk) est supérieure au premier seuil Ti. Si le signal de sélection est au premier niveau logique, le sélecteur 621 peut fournir en sortie le deuxième niveau logique. D'autre part, le signal de sélection peut être fixé au deuxième niveau logique (par exemple un d'un niveau logique supérieur et d'un niveau logique inférieur) si la valeur de rang R(Sk) est inférieure au premier seuil Ti. Si le signal de sélection est au deuxième niveau logique, le sélecteur 621 peut fournir en sortie l'échantillon de signal Sk. Si au moins un de la multiplicité de signaux de sous-sélection est au premier niveau logique, le sélecteur 621 peut fournir en sortie le deuxième niveau logique. Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 6, la fonction de l'unité de mesure de bruit 650 et de l'unité de commande d'écrêtage 670 peut être similaire à la fonction, décrite ci-dessus, du circuit 400 de la figure 4. Cependant, lorsque la somme de la valeur de rang R(Sk) de l'échantillon de signal Sk et d'une valeur de rang R (Sk_1) d'un échantillon de signal précédent Sk_1 est plus grande qu'un deuxième seuil T2 (c'est-à-dire R(Sk) + R (Sk_1) > T2), le circuit 600 peut fixer les deux amplitudes des échantillons de signal présent et précédent, Sk et Sk_1, au deuxième niveau logique avec les sous-unités de commande d'écrêtage 675, 680 et 685. Les sous-unités de commande d'écrêtage 675, 680 et 35 685 peuvent être connectées en série avec l'unité de commande d'écrêtage 670. Chacune des sous-unités de commande d'écrêtage 675, 680 et 685 peut fournir en sortie l'échantillon de signal provenant de l'élément précédent respectif (par exemple l'unité de commande d'écrêtage 670, la sous-unité de commande d'écrêtage 675 ou la sous-unité de commande d'écrêtage 680) des sous-unités de commande d'écrêtage 675, 680 et 685, respectivement, si la somme de la valeur de rang reçue de l'élément précédent et d'une valeur obtenue en retardant la valeur de rang est inférieure à la valeur de seuil T2. D'autre part, si les conditions décrites ci-dessus ne sont pas remplies, les sous-unités de commande d'écrêtage 675, 680 et/ou 685 peuvent fournir en sortie le deuxième niveau logique. Dans l'exemple de mode de réalisation de la figure 6, la sous- unité de commande d'écrêtage 675 peut inclure un premier sous-élément de retard 635, un sous-additionneur 629, un sous-comparateur à seuil 630, une sous-unité d'opération OU 640, un deuxième sous-élément de retard 622 et un sous-sélecteur 623. La sous-unité de commande d'écrêtage 680 peutinclure un premier sous-élément de retard 636, un sous-additionneur 631, un sous-comparateur à seuil 632, une sous-unité d'opération OU 641, un deuxième sous-élément de retard 624 et un sous-sélecteur 625. La sousunité de commande d'écrêtage 685 peut inclure un premier sous-élément de retard 637, un sous-additionneur 633, un sous-comparateur à seuil 634, un deuxième sous-élément de retard 626 et un sous-sélecteur 627. Les premiers sous-éléments de retard 635, 636 et 637 peuvent retarder les valeurs de rang émises respectivement par l'unité de commande d'écrêtage 670, la sous-unité de commande d'écrêtage 675 et la sous-unité de commande d'écrêtage 680. Les sous-additionneurs 629, 631 et 633 peuvent combiner les valeurs de rang reçues respectivement de l'unité de commande d'écrêtage 670, de la sous-unité de commande d'écrêtage 675 et de la sous-unité de commande d'écrêtage 680, et les signaux de sortie reçus respectivement des premiers éléments de retard 635, 636 et 637. Les sous-comparateurs à seuil 630, 632 et 634 peuvent comparer des signaux de sortie reçus des sous- additionneurs 629, 631 et 633 et leurs seuils correspondants T2, T3 et T4, respectivement, en générant ainsi un signal de sous-sélection pour chacun des sous-comparateurs à seuil 630, 632 et 634. La sous-unité d'opération OU 640 peut effectuer une opération OU sur le signal de sous-sélection reçu de la sous-unité de commande d'écrêtage 675 et le signal de sous-sélection reçu de la sous-unité de commande d'écrêtage 680. La sous-unité d'opération OU 641 peut effectuer une opération OU sur le signal de sous-sélection reçu de la sous-unité de commande d'écrêtage 680 et le signal de sous-sélection reçu de la sousunité de commande d'écrêtage 685. Les deuxièmes sous-éléments de retard 622, 624 et 626 peuvent respectivement retarder les signaux de sortie du sélecteur 621 (provenant de l'unité de commande d'écrêtage 670), du sous-sélecteur 623 (provenant de la sous-unité de commande d'écrêtage 675) et du sous-sélecteur 625 (provenant de la sous-unité de commande d'écrêtage 680), et peuvent fournir en sortie les signaux de sortie retardés. Les sous-sélecteurs 623, 625 et 627 peuvent fournir en sortie un des signaux de sortie des deuxièmes sous-éléments de retard 622, 624 et 626 et du deuxième niveau logique, d'après les signaux de sortie (par exemple des signaux de sélection) reçus des sous-unités d'opération OU 640 et 641. Le signal de sous-sélection peut être fixé au premier niveau logique si les signaux de sortie des sous-additionneurs 629, 631 et 633 sont supérieurs à leurs seuils correspondants T2, T3 et T4, respectivement. Sinon, le signal de sous-sélection peut être fixé au deuxième niveau logique. Si le signal de sous-sélection est fixé au deuxième niveau logique, les sous-sélecteurs 623, 625 et 627 et le sélecteur 621 peuvent fournir en sortie le deuxième niveau logique. D'autre part, si le signal de sous-sélection est au premier niveau logique, les sous-sélecteurs 623, 625 et 627 peuvent fournir en sortie les signaux de sortie reçus respectivement des deuxièmes sous-éléments de retard 622, 624 et 626. Comme décrit ci-dessus et représenté sur la figure 6, le circuit 600 peut inclure une unité de commande d'écrêtage 670 et trois sous- unités de commande d'écrêtage 675, 680 et 685. Ainsi, le circuit 600 de l'exemple décrit ci-dessus peut être capable de détecter la salve de bruit impulsionnel qui peut affecter une série de quatre échantillons de signal. Le circuit 600 peut régler l'amplitude des échantillons de signal détectés. Le nombre de sous-unités de commande d'écrêtage incluses dans le circuit 600 conforme à d'autres exemples de modes de réalisation de la présente invention n'est cependant pas limité aux nombres décrits et illustrés ci-dessus. A la place, le nombre d'unités de commande d'écrêtage et de sous-unités de commande d'écrêtage peut être changé (par exemple sur la base d'exigences spécifiques à une application). Dans un autre exemple de mode de réalisation de la présente invention, les seuils Tl - T4 peuvent être fixés 25 de façon à satisfaire à la relation suivante: Tl >T2 >T, > 4 Equation 2 La figure 7 est un schéma synoptique illustrant un système d'émission et de réception OFDM 700 (qu'on appelle ci-après le "système 700") conforme à un autre exemple de mode de réalisation de la présente invention. Le système 700 peut inclure le circuit 400 de la figure 4 ou le circuit 600 de la figure 6 (par exemple dans la position 740). Le système 700 peut inclure un système d'émission 710 et un système de réception 720. La position 740 (incluant par exemple le circuit 400/600) peut être installée à côté d'un convertisseur analogique-numérique (CAN) 760 du système de réception 720. En d'autres termes, un échantillon de signal Skin peut être reçu à la position 740 à partir du CAN 760. Bien que les exemples de modes de réalisation décrits ci-dessus et les figures associées aient été décrits et illustrés en considérant des formes de réalisation matérielles, on appréciera que, dans d'autres exemples de modes de réalisation, la fonctionnalité décrite ci-dessus peut être réalisée avec d'autres méthodologies (par exemple un système logiciel). Les exemples de modes de réalisation de la présente invention ayant ainsi été décrits, il apparaîtra de façon évidente qu'ils peuvent être changés de nombreuses manières. Par exemple, il faut noter que les premier et deuxième niveaux logiques décrits ci-dessus peuvent correspondre respectivement à des niveaux logiques supérieur et inférieur, ou bien respectivement à des niveaux logiques inférieur et supérieur. En outre, il faut noter que les premier et deuxième niveaux logiques peuvent correspondre à des tensions analogiques (c'est-à-dire dans le domaine analogique) ou à des représentations numériques (par exemple "0" ou "1") (c'est-à-dire dans le domaine numérique). De tels changements ne doivent pas être considérés comme hors de l'esprit et du cadre des exemples de modes de réalisation de la présente invention, et toutes les modifications qui seraient évidentes pour l'homme de l'art doivent être considérées comme incluses dans le cadre des revendications suivantes. REVENDICATIONS 1. Circuit, caractérisé en ce qu'il comprend: une unité de mesure de bruit (430) comparant une valeur absolue d'un premier échantillon de signal (Sk) avec des valeurs absolues d'une multiplicité de deuxièmes échantillons de signal, et générant une valeur de rang (R(Sk)) d'après les résultats de la comparaison. 2. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend en outre: un comparateur à seuil (420) pour comparer la valeur de seuil (R(Sk)) avec un seuil (T) de valeur de rang et générant un signal de sélection d'après la comparaison; et un sélecteur (421) émettant un signal de sortie sur la base du signal de sélection. 3. Circuit selon la revendication 2, caractérisé en ce que le signal de sélection est à un premier niveau logique si la valeur de rang (R(Sk)) est supérieure au seuil de valeur de rang, et le signal de sélection est à un deuxième niveau logique si la valeur de rang (R(Sk)) est inférieure ou égale au seuil de valeur de rang. 4. Circuit selon la revendication 2, caractérisé en ce que le signal de sortie est à un premier niveau logique si le signal de sélection est à un premier niveau de sélection, et le signal de sortie est le premier échantillon de signal (Sk) si le signal de sélection est à un deuxième niveau de sélection. 5. Circuit selon la revendication 4, caractérisé en ce que le premier niveau logique est un niveau logique bas. 6. Circuit selon la revendication 2, caractérisé en ce que le signal de sortie est un du premier échantillon de signal (Sk) et d'un premier niveau logique. 7. Circuit selon la revendication 6, caractérisé en ce que le premier niveau logique est un niveau logique bas. 8. Circuit selon la revendication 2, caractérisé en ce que le seuil de valeur de rang est utilisé pour écrêter du bruit. 9. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce que le premier échantillon de signal (Sk) est un échantillon de signal en modulation à porteuses multiples (MCM). 10. Circuit selon la revendication 8, caractérisé en ce que l'échantillon de signal MCM est un d'un signal en multiplexage en fréquence orthogonal (OFDM) et d'un signal en multiplexage par code (CDM). 11. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce que le premier échantillon de signal (Sk) est un échantillon intermédiaire de la multiplicité de deuxièmes échantillons de signal. 12. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce que la multiplicité de deuxièmes échantillons de signal est générée en retardant un échantillon de signal reçu (Skie) 13. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'unité de mesure de bruit (430) comprend: une ligne à retard (440) ayant une multiplicité d'éléments de retard (401, 402, 403, 410, 411, 412) connectés en série, chacun de la multiplicité d'éléments de retard (401, 402, 403, 410, 411, 412) retardant un échantillon de signal reçu et fournissant en sortie un du premier échantillon de signal (Sk) et un de la multiplicité de deuxièmes échantillons de signal, la multiplicité d'éléments de retard incluant un élément de retard intermédiaire (403) fournissant en sortie le premier échantillon de signal (Sk); un calculateur de valeur absolue (450) fournissant en sortie à la multiplicité de comparateurs (407, 408,409, 416, 417, 418) des valeurs absolues de la multiplicité de deuxièmes échantillons de signal, du premier échantillon de signal (Sk) et de l'échantillon de signal reçu (Skin); et une multiplicité de comparateurs (407, 408,409, 416, 417, 418) effectuant des comparaisons, chacun de la multiplicité de comparateurs fournissant en sortie un premier niveau logique si la valeur absolue de l'amplitude du premier échantillon de signal (Sk) est plus grande que la valeur absolue du deuxième échantillon de signal comparé, et fournissant en sortie un deuxième niveau logique si la valeur absolue de l'amplitude du premier échantillon de signal (Sk) n'est pas plus grande que la valeur absolue du deuxième échantillon de signal comparé; et un additionneur (419) combinant les résultats des comparaisons et fournissant en sortie la valeur de rang (R(Sk)). 14. Circuit selon la revendication 13, caractérisé en ce que la valeur de rang (R(Sk)) n'est pas affectée par les signaux de sortie de K éléments de retard qui précèdent le premier échantillon de signal (Sk) et par les signaux de sortie de K éléments de retard qui suivent le premier échantillon de signal (Sk), K étant un entier naturel. 15. Circuit selon la revendication 13, caractérisé en ce que la valeur de rang (R(Sk)) est un nombre des signaux de sortie de comparaison au premier niveau logique. 16. Circuit selon la revendication 13, caractérisé en ce que le premier niveau logique est un d'un niveau logique supérieur et d'un niveau logique inférieur. 17. Circuit selon la revendication 13, caractérisé en ce que le deuxième niveau logique est un d'un niveau logique supérieur et d'un niveau logique inférieur. 18. Circuit selon la revendication 1, caractérisé en ce que le premier échantillon de signal (Sk) et la multiplicité de deuxièmes échantillons de signal sont des parties retardées d'un échantillon de signal reçu (Skie)19. Circuit selon la revendication 18, caractérisé en ce que l'échantillon de signal reçu (Skip) est un signal en bande de base. 20. Circuit selon la revendication 18, caractérisé en ce que l'échantillon de signal reçu (Skin) est reçu à partir d'un convertisseur analogique-numérique. 21. Circuit selon la revendication 18, caractérisé 35 en ce qu'une valeur de l'échantillon de signal reçu est une d'une valeur réelle et d'une valeur complexe. 22. Circuit selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comprend en outre: une unité de commande d'écrêtage (670) incluant le comparateur à seuil (628); et une multiplicité de sous-unités de commande d'écrêtage (675; 680; 685) connectées en série à l'unité de commande d'écrêtage (670), chacune de la multiplicité de sous-unités de commande d'écrêtage (675, 680, 685) comparant une valeur de rang (R(Sk)) présente avec au moins une valeur de rang retardée, chacune de la multiplicité de sous-unités de commande d'écrêtage (675, 680, 685) émettant un échantillon de signal reçu si une somme de la valeur de rang présente et de l'au moins une valeur de rang retardée est inférieure ou égale à un seuil de sous-comparateur (630, 632, 634), et émettant un premier niveau logique si la somme est supérieure au seuil de sous-comparateur. 23. Circuit selon la revendication 22, caractérisé en ce que la valeur de rang présente est la valeur de rang générée (R(Sk)). 24. Circuit selon la revendication 22, caractérisé 20 en ce que la valeur de rang retardée est associée à un échantillon de signal reçu précédemment. 25. Circuit selon la revendication 22, caractérisé en ce que chacune des sous-unités de commande d'écrêtage (675, 680, 685) comprend: un sous-comparateur à seuil (630, 632, 634) effectuant la comparaison; et un sous- sélecteur (623, 625, 627) émettant un du premier et d'un signal de sortie au réponse à un signal de sous- selon la revendication 25, caractérisé de sous-sélection est le résultat de la selon la revendication 25, caractérisé de sous-sélection est le résultat d'une unité d'opération OU (640, 641) travaillant sur le résultat de la comparaison et sur au moins un résultat d'une échantillon de signal (Sk) premier niveau logique, en sélection. 26. Circuit en ce que le signal comparaison. 27. Circuit en ce que le signal comparaison provenant d'au moins une autre sous-unité de commande d'écrêtage (680, 685). 28. Circuit selon la revendication 22, caractérisé en ce qu'au moins une de la multiplicité de sous-unités de commande d'écrêtage (675, 680, 685) comprend: un premier sous-élément de retard (635, 636, 637) retardant une valeur de rang (R(Sk)) reçue; un sous-additionneur (629, 631, 633) calculant la somme de la valeur de rang présente et de la valeur de rang retardée; un sous-comparateur à seuil (630, 632, 634) comparant un signal de sortie du sous- additionneur (629, 631, 633) et le seuil de sous-comparateur et générant un signal de sous-sélection; une sous-unité d'opération OU (640, 641) accomplissant une opération OU sur le signal de sous-sélection et sur des signaux de sous--sélection reçus à partir d'au moins une autre de la multiplicité de sous-unités de commande d'écrêtage (680, 685); un deuxième sous-élément de retard (622, 624, 626) retardant l'un des signaux de sortie d'un sélecteur (621) de l'unité de commande d'écrêtage (670) et d'un signal de sortie d'un sous-sélecteur (623, 625) de l'une de la multiplicité de sous-unités de commande d'écrêtage (675, 680), le deuxième sous-élément de retard émettant un deuxième sous-signal retardé, le sous-sélecteur (623, 625, 627) émettant un d'un signal de sortie du deuxième sous-élément de retard (622, 624, 626) et d'un signal de sortie d'un premier niveau logique, en réponse à un signal de sortie de la sous-unité d'opération OU {640, 641); et en ce que le niveau de signal de sous-sélection est à un premier niveau lorsque le signal de sortie du sous- additionneur (629, 631, 633) est plus grand que le seuil de sous-comparateur, et est à un deuxième niveau lorsque le signal de sortie du sous-additionneur (622, 624, 626) n'est pas plus grand que le seuil de sous-comparateur (630, 632, 634). 29. Circuit selon la revendication 28, caractérisé en ce que le sous-sélecteur {623, 625, 627) émet un signal au premier niveau logique si le signal de sous-sélection est au premier niveau, et le sous- sélecteur (623, 625, 627) émet le signal de sortie du deuxième sous- élément de retard (622, 624, 626) si le signal de sous-sélection est au deuxième niveau. 30. Circuit selon la revendication 22, caractérisé en ce que la multiplicité de sous-unités de commande d'écrêtage comprend au moins trois sous-unités de commande d'écrêtage (675, 680, 685). 31. Procédé pour réduire du bruit impulsionnel, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à : retarder un signal reçu (Skin) pour générer une multiplicité de signaux retardés; calculer la valeur absolue de chacun de la multiplicité de signaux retardés; comparer l'amplitude absolue calculée d'un premier (Sk) de la multiplicité de signaux retardés, avec l'amplitude absolue calculée d'au moins un de l'autre multiplicité de signaux retardés; et fixer un signal de sortie d'après la comparaison. 32. Procédé selon la revendication 31, caractérisé en ce que le signal de sortie est un premier niveau logique si un nombre donné de comparaisons indique que le premier signal retardé (Sk) a une amplitude absolue calculée qui est plus grande que celle du signal comparé parmi l'autre multiplicité de signaux retardés. 33. Procédé selon la revendication 31, caractérisé en ce que le signal de sortie est le premier de la multiplicité de signaux retardés si un nombre donné de comparaisons n'indique pas que le premier signal retardé n'a pas une amplitude absolue calculée plus grande que celle du signal comparé parmi l'autre multiplicité de signaux retardés. 34. Procédé selon la revendication 31, caractérisé en ce que la comparaison affecte au moins une comparaison 35 supplémentaire d'au moins un signal reçu ultérieurement. 35. Procédé selon la revendication 31, caractérisé en ce que le signal de sortie est en outre basé sur au moins une comparaison antérieure d'au moins un signal reçu précédemment. 36. Procédé selon la revendication 35, caractérisé en ce qu'il comprend en outre l'écrêtage d'au moins une partie de signal sur la base des comparaisons. 37. Procédé selon la revendication 36, caractérisé en ce que le signal de sortie est un d'un signal incluant la valeur de rang (R(Sk)), du premier signal retardé (Sk) et d'un premier niveau logique. 38. Circuit pour accomplir le procédé de la revendication 31.