FR 2809517 A1 20011130 FR 0006556 A 20000523 L'invention concerne le domaine de la lecture et de l'écriture marquage des produits. Plus précisément, selon un aspect, l'invention concerne procédé de lecture d'un marquage inscrit sur un matériau, avec une source electromagnétique de lecture. Selon un autre aspect l'invention concerne un procédé de marquage, dans lequel on expose un matériau à source électromagnétique pour provoquer une transition de phase dans volume localisé de ce matériau. L'invention concerne également les produits marqués procédé de marquage. connaît déjà des procédés de lecture optique, dans lesquels on mesure coefficient de réflexion d'une source éléctromagnétique sur un matériau. type de procédé de lecture optique est par exemple couramment utilisé pour lire des disques compacts. Dans ce cas, la source électromagnetique est un laser. Un de l'invention est de fournir un procédé de lecture d'un type nouveau marquage d'un matériau. Ce est atteint grâce à un procédé de lecture de structures ou d'informations inscrites dans un matériau, dans lequel on balaye la surface matériau, sans modifier les structures ou les informations, avec une source électromagnétique de lecture, caractérisé par le fait que l'on recueille image du contraste photo-thermique ou photo-thermo-élastique de la surface ainsi balayée. Dans cas de l'invention, la lecture est réalisée par un relevé spatial des prophètes photo-thermiques et/ou photo-thermo-élastiques d'un matériau. On utilise pour réaliser ce type de relevé, une source de rayonnement électromagnétique. Avantageusement celle-ci est modulée en intensité. Typiquement il s'agit d'une source laser. Elle permet de moduler la température du matériau. L'interaction entre l'onde électromagnétique et le matériau produit, par conversion photo-thermique, une élévation de température localisée. chauffage résultant engendre de nombreux phénomènes physiques dans matériau et son environnement. Le procédé de lecture conforme à l'invention est basé sur la détection des propriétés thermiques et/ou thermo-élastiques des matériaux. L'analyse des propriétés thermiques des matériaux est effectuée par exemple, des mesures de la réflectivité. En effet la réflectivité d'un matériau depend de sa température. L'analyse des propriétés thermo-élastiques des matériaux est réalisée par exemple par une méthode interférométrique, en mesurant les déformations locales matériaux engendrées par conversion thermo-elastique. procédé de lecture selon l'invention comporte avantageusement les caractéristiques suivantes, prises indépendamment ou en combinaison - l'amplitude et la phase du signal correspondant à la réflectivité dynamique thermique du matériau ou à ses déformations thermo-élastiques sont séparees par détection synchrone ou une méthode équivalente, par exemple corrélation ; - l'image du contraste photo-thermique ou photo thermo-élastique est recueillie sans contact avec la surface du matériau ; - paramètres de la source électromagnétique de lecture sont choisis de maniere à détecter une structure d'écriture sous-jacente à la surface ; et - paramètres de la source électromagnétique de lecture sont choisis de manière à détecter un contraste photo-thermique ou photo-thermo-élastique dû à une difference de phase du matériau. Avantageusement, selon le procédé de lecture selon l'invention on recueille image du contraste photothermique, en mesurant l'émission infrarouge. Cette technique permet de n'utiliser qu'un récepteur et de s'affranchir la nécessité d'avoir une source d'excitation pour l'opération de détection. Selon autre aspect l'invention est un procédé d'écriture d'un matériau dans lequel expose ce matériau à une source électromagnétique d'écriture pour provoquer une transition de phase dans un volume localisé de ce matériau, caractérisé par le fait que l'on modifie, au cours de cette transition de phase, les propriétés thermiques, et éventuellement mécaniques, du matériau, de manière à changer le contraste photo-thermique ou photo-thermo-élastique du matériau et à le marquer pour une lecture ultérieure du contraste photo- thermique ou photo-thermo-élastique. procédé d'écriture selon l'invention présente avantageusement les caractéristiques suivantes prises indépendamment ou en combinaison source électromagnétique d'écriture est une source laser; l'écriture est adaptée pour être lue en recueillant une image du contraste photo-thermique ou photo-thermo-élastique, d'une surface balayée avec source électromagnétique de lecture; dans ce cas, lecture est avantageusement effectuée en utilisant une puissance la source électromagnétique d'écriture supérieure à la puissance la source électromagnétique de lecture, au minimum d'un facteur 1,5, et préférentiellement d'un facteur compris entre 2 et 5 ; et l'écriture est adaptée pour être lue en recueillant image du contraste optique, d'une surface balayée avec une source électromagnétique de lecture. Les procédés conformes à l'invention trouvent des applications dans les domaines dans lesquels on peut avoir besoin de marquages discrets (invisibles optiquement, par exemple) et fiables (un échauffement supérieur à 300 C est supportable sans altération pour la plupart des matériaux métalliques et le temps seul n'entraîne aucune dégradation à moyen terme, ce qui permet des marquages I enregistrements à très long terme). Parmi les applications envisageables, on peut citer - le marquage discret de billets ou autres titres monétaires (pièces,...), de cartes bancaires, le marquage de documents confidentiels ou de documents de sécurité ; - la traçabilité d'objets de valeur et en particulier de bijoux (marquage permettant de contrôler l'origine et l'appartenance) ; - le marquage antivol sur différents types de véhicules (la discrétion du marquage est ici un gage de sécurité ; de plus le procédé de lecture selon l'invention effectue une détection dans le volume de l'objet marqué - souvent métallique ; l'objet marqué peut donc subir toutes les conditions climatiques usuelles pendant des dizaines d'années sans que la lecture soit altérée ; - le stockage d'informations sous forme analogique ou numérique, inaltérable dans le temps ; la densité d'information peut être équivalente à celle d'un disque compact actuel (CD audio., CD - R, DVD-RAM par exemple) ; - etc. L'invention selon un autre aspect est un produit marqué par le procédé d'écriture selon l'invention. D'autres buts, aspects et avantages de l'invention seront mieux compris à l'aide la description détaillée qui suit. L'invention sera également mieux comprise a l'aide des dessins sur lesquels - figure 1 représente un schéma d'un mode de réalisation d'un dispositif la mise en oeuvre des procédés d'écrituré et de lecture conformes à la présente invention ; - figures 2a à 2e représentent un ensemble d'images de lecture obtenues dans le cadre d'un premier exemple de mise en ceuvre du procédé de lecture selon l'invention, sur le dispositif représenté à la figure 1 ; - les figures 3a à 3e représentent un ensemble d'images de lecture obtenues dans le cadre d'un deuxième exemple de mise en oeuvre du procedé de lecture selon l'invention, sur le dispositif représenté à la figure 1, - figure 4 représente schématiquement une structure de marquage apte à etre lue dans le cadre d'un troisième exemple de mise en oeuvre du procédé de lecture selon l'invention, sur le dispositif illustré par la figure 1 ; - figure 5 illustre schématiquement, en coupe, un échantillon de test pour la mise en oeuvre d'un procédé de lecture selon l'invention ; et - figure 6 représente l'évolution des signaux optiques (trait plein) et thermique (trait en pointillés) en fonction de la zone de l'échantillon comportant la structure de marquage représentée à la figure 4. L'invention est décrite de manière détaillée ci-dessous dans le cadre de sa mise oeuvre avec un exemple particulier, mais non limitatif, de dispositif d'écriture et de lecture. Selon cet exemple, représenté sur la figure 1, le dispositif d'écriture de lecture pour la mise en oeuvre des procédés selon l'invention, comporte première source d'excitation 2, un modulateur d'intensité 4, un générateur basses fréquences 6, un miroir 8, un objectif 10, une deuxième source d'excitation un photo détecteur 14, un démodulateur 16, des premier 18 et deuxième détecteurs synchrones, un micro ordinateur 22, un porte- échantillon et un dispositif de déplacement 26 du porte-échantillon 24. La première source d'excitation 2 est un laser de puissance, par exemple un laser argon. Le modulateur d'intensité 4 est un modulateur acousto-optique qui diffracte la lumière issue de la première source d'excitation 2, selon niveau de puissance électrique qui lui est appliqué. Le modulateur d'intensité est commandé par une électronique de commande (non représentée) et générateur basses fréquences 6. Le miroir 8 est un miroir dichroïque. Le miroir 8 dichrdique protège le photo-détecteur 14, du faisceau parasite délivré par la première source d'excitation 2. L'objectif 10 est un objectif de microscope qui focalise le faisceau issu modulateur d'intensité 4, sur l'échantillon disposé sur le porte-échantillon 24. La deuxième source d'excitation 12 est un laser hélium-néon. Le fonctionnement de ce dispositif est le suivant. Le procédé d'écriture consiste à transformer la surface et dans certaine mesure le volume du matériau de l'échantillon par échauffement, de façon irréversible dans des conditions normales de conservation de ce dernier (il est à noter qu'en général, un effacement de l'écriture est possible par même méthode). Par exemple, on transformera un matériau amorphe recristallisation. Dans le cas des métaux, un polissage grossier de la surface permet de désorganiser la surface du matériau. Au cours de l'opération d'écriture, le matériau tendra à retrouver localement la structure organisée du métal. Pour la mise en oeuvre du procédé d'écriture, seule la partie excitation dispositif est utilisée. Cette partie excitation est essentiellement composée de première source d'excitation 2, du modulateur d'intensité 4 et son électronique de commande, ainsi que du générateur basses fréquences 6. Le faisceau issu de la première source d'excitation 2, est modulé intensité par le modulateur d'intensité 4. Ce faisceau est tout d'abord réfléchi par le miroir dichroïque puis focalisé à l'aide de l'objectif 10 de microscope. modulateur d'intensité 4 et le dispositif de déplacement 26 sont pilotés par micro-ordinateur 22 de telle sorte que l'écriture soit effectuée avec la puissance requise et endroits appropriés. Pour mise en oeuvre du procédé de lecture, on réalise une opération d'excitation une opération de détection. La lecture du marquage d'écriture s'effectue une méthode optique, thermique ou thermo-élastique grâce au dispositif decrit plus haut en relation avec la figure 1, sensible aux modifications de propriétes induites par transformation de phase. La lecture, qui s'effectue à plus basse température que le marquage, ne modifie pas le marquage effectue. Pour l'opération d'excitation, on utilise à nouveau la partie d'excitation décrite ci-dessus, mais la puissance moyenne de la première source d'excitation 2 est réduite pour rester en régime réversible, c'est à dire pour lecture non destructive. A la sortie de l'objectif 10, l'énergie optique contenue dans le faisceau focalisé est transformée en ondes thermiques par conversion photo-thermique générant ainsi un chauffage local de l'échantillon. Puis par conversion thermo-élastique l'élévation de température engendre des dilatations locales de l'échantillon, Ces déformations thermo-élastiques dynamiques évoluent à la fréquence de modulation du générateur basses fréquences 6 et sont détectées à la surface de l'échantillon par la partie détection. Pour l'opération de détection, la deuxième source d'excitation 12, émet un faisceau qui est réfléchi perpendiculairement à la surface de l'échantillon. Une partie ce faisceau est utilisée pour fournir des images optiques thermiques liees respectivement aux coefficients de réflexion statique dynamique, alors que l'autre partie permet la détection des déplacements normaux à la surface de l'échantillon, c'est à dire des déformations thermo- élastiques, par interférométrie. Une lame séparatrice non représentée, à coté du miroir 8 dichroïque, réfléchit, sur le photodétecteur 14, approximativement 10% du faisceau issu de la deuxième source d'excitation 12 et réfléchi par l'échantillon. L'électronique associée au photodétecteur 14 délivre deux signaux. Le premier signal est filtré par un dispositif passe-bas et correspond à la composante statique de la réflectivité c'est à dire au signal optique. Le second signal filtré dans un filtre passe-haut et correspond par conséquent à la composante dynamique de la réflectivité c'est à dire au signal thermique qui est envoyé, ' le démodulateur 16, sur premier détecteur synchrone 18. ailleurs, l'élévation de température engendre des dilatations locales du materiau. Ces déformations thermo-élastiques, qui évoluent au rythme de la fréquence de modulation, sont détectées à la surface de l'échantillon par le faisceau d'une sonde interférométrique 13 hétérodyne à haute résolution (typiquement 10-2 pml@Hz). Les différences de chemin optiques sont converties par cette sonde interférométrique 13, sous la forme d'un signal électrique par un photodétecteur large bande (sonde laser) et sont démodulées par une électronique spécifique de démodulation de phase. Le signal ainsi obtenu est envoyé sur le deuxième détecteur synchrone 20 afin d'extraire l'amplitude (partie énergétique) et la phase (partie propagative du signal thermo- élastique. Les informations obtenues point par point sont envoyées au micro- ordinateur 22 qui gère l'affichage des résultats ainsi que balayage assuré par le dispositif de déplacement 26. Ce dernier comporte deux unités de translations croisées XY de grande précision. Un convertisseur analogique- numérique, non représenté sur la figure 1, permet d'acquérir en temps réel les différents signaux issus des premier 18 et deuxième 20 détecteurs synchrones ainsi que le signal optique. Ce microscope fonctionne entièrement sans contact avec une fréquence de travail ajustable entre quelques centaines de Hertz et quelques centaines de kiloHertz. Ce microscope est un microscope multi-acquisition, il permet, comme indiqué ci-dessus, d'obtenir plusieurs types d'images # une image optique de la surface, par un fonctionnement analogue à un microscope optique à balayage, # deux images de photoréflectivité (amplitude et phase) : ce sont les images photo-thermiques, # deux images photo-thermo-élastiques (amplitude et phase). Le dispositif décrit ci-dessus est tout à fait adapté à usage industriel pour des matériaux présentant un coefficient de réflexion optique élevé et une faible rugosité. Ce dernier point est important si l'on souhaite eviter la diffraction du faisceau sonde par la surface de l'échantillon (en pratique, l'effet de diffraction est limité par l'objectif de microscope). II est à noter que la détection optique peut etre utile pour un positionnement "visuel", c'est à dire par rapport aux éléments de l'échantillon visibles optiquement. Trois exemples, de mise en oeuvre du procédé lecture selon l'invention sont décrits ci-dessous. Selon le premier exemple de mise en oeuvre, â titre illustratif les lettres LPMO ont été marquées sur un échantillon de nickel polycristallin (cet échantillon ayant été préalablement poli mécaniquement façon grossière). Chaque lettre a une hauteur de 5 micromètres. La focalisation été optimisée en utilisant un objectif 10 de type x100 qui permet .une résolution optique d'environ 0,5 p.m. Néanmoins, un autre objectif 10 peut être utilisé en fonction de la taille du motif marqué et de la profondeur du marquage. Le marquage thermique représenté à la figure 2 a été réalisé avec une puissance de laser de 180 mW et avec l'objectif 10 x100, en attendant 100 ms à chaque pas minimal (100 nm) du dispositif de déplacement 26. Les figures 2a à 2e correspondent à la lecture des lettres LPMO par le microscope photothermoélastique multi-acquisition décrit ci-dessus. La taille des images présentées est de 28x13 microns. La lecture s'effectue comme indiqué précédemment. La fréquence de modulation est de 8kHz (valeur non critique), la puissance d'excitation est de 36mW pour la lecture (5 fois moins importante que celle utilisée pour le marquage). Les images optique 2a de l'amplitude photothermique 2b, de l'amplitude thermoélastique 2d et de la phase thermoélastique 2e, ne présentent pas le contraste du marquage des lettres LPMO , par transformation de phase, par recristallisation du nickel. Seule l'image de la phase photothermique 2f permet de lire marquage de lettres LPMO . Selon le deuxieme exemple de mise en oeuvre du procédé de lecture selon l'invention, le matériau est marqué optiquement, par exemple, par marquage thermique, 'est à dire sans enlèvement de matière. Lorsque l'on dépasse un certain seuil de puissance dépendant du matériau de l'échantillon choisi et de l'état de surface, la zone est endommagée (fusion du matériau en surface) laissant apparaître optiquement les informations. De nombreux matériaux peuvent être ainsi marqués (Silicium, acier, cuivre, nickel, , etc. Deux exemples illustrés par les figures 3a et 3e et 4a à 4e correspondent a des applications de la gravure optique respectivement sur du Silicium et sur l'acier et ses répercussions sur les images thermiques et thermoélastiques. taille des lettres ainsi marquées peut être inférieure à 10 micromètres, alors l'oeil humain perçoit des objets d'une taille supérieure à 50 micromètres. Selon le troisième exemple de mise en #uvre du procédé de lecture selon l'invention, on détecte des informations qui sont masquées optiquement par un film métallique en surface. II suffit pour cela que les effets topographiques soient suffisamment faibles pour ne pas permettre une détection visuelle. résultats présentés ci-dessous montrent clairement que ce processus peut appliquer à la lecture d'informations écrites sous la surface de l'objet. La figure 5 illustre schématiquement, en coupe, un échantillon de test pour ce troisième exemple de mise en oeuvre du procédé de lecture selon l'invention. Cet échantillon est constitué d'un substrat 30 de quartz sur lequel est déposé un motif 32 d'aluminium, de 500A d'épaisseur, destiné à être lu, le tout étant recouvert d'une couche 34 de titane, également de 500Â d'épaisseur. Le motif 32 d'aluminium et la couche 34 de titane sont optiquement opaques. Les conditions expérimentales associées à ce troisième exemple de mise aeuvre du procédé de lecture selon l'invention sont : objectif de focalisation x20, et fréquence de modulation de 8kHz. Plusieurs tests on été effectués afin de voir si le motif 32 subsurface est détectable. II est à noter que le faisceau de détection (faisceau sonde HeNe) est confondu avec le faisceau d'excitation (faisceau Argon). Les résultats sont présentés dans les deux tableaux ci-dessous. Le tableau 1 représente l'amplitude IUzI et la phase Pha(Uz) du coefficient thermo-élastique Uz selon la direction normale à la surface de l'échantillon sur la zone de l'échantillon avec le motif subsurface 32 (avant) et sur la zone l'échantillon sans le motif subsurface 32 (après). Les tableaux 1 et 2 présentent également les variations de cette valeur ainsi que la réflectivité dynamique quand on passe d'une zone avec le motif subsurface à une zone sans celui-ci. Les tableaux 1 et 2 regroupent ces différentes valeurs, pour différentes valeurs du grossissement de l'objectif 10 et de la fréquénce de modulation. TABLEAU I Objectif JUzi avant JUzl après 81UZI Pha(Uz) Pha(Uz) BPha(Uz) fréquence (mV) (mV) relatif (%) avant (deg) après (deg) (deg) modulation X20, 8 kHz 1,833 1,842 0,49 32,48 33,62 ,14 x20, 100 0,203 0,216 6,4 -50,49 -48,65 84 x1_00,_8 2, 646 2,510 5,1 63,32 63,15 17 X100, 100 1 1,109 1 1,153 4,0 -1,63 -0,39 .24 Le tableau 2 présente l'amplitude ITI et la phase Pha(T) de la réflectivité dynamique thermique, sur la zone de l'échantillon avec le motif subsurface (avant) et zone de l'échantillon sans motif subsurface 32 (après). Objectif et ITI avant ITI après 81T relatif Pha(T) Pha(T) 3Pha(T) fréquence (pV) (p,V) (%) avant (deg) après (deg) (deg) modulation x20,8 298,8 296,4 0,8 34,79 36,13 x20,100 220,2 241,0 9,5 -49,19 -47,12 x 100, 8 kHz 92,94 63,57 32 -124,4 -125,7 1,3 x100, 100 kHz 149,5 54,42 64 178, 1 -174,8 7,1 Les resultats regroupés dans les tableaux précédents montrent que pour obtenir les meilleurs résultats, c'est à dire les meilleurs contrastes, il est préférable travailler au maximum de focalisation (x100) et avec la plus haute fréquence de modulation possible (ici kHz) pour la détection du signal photothermique qui présente une variation 64 % en amplitude. Plus on augmente la fréquence modulation plus on sonde des paramètres proches de la surface. La figure 6 présente l'évolution signaux optique (trait plein) et thermique (trait en pointillés), en fonction la distance parcourue X, lors d'un balayage passant d'une zone sans le motif à une zone avec le motif 32. Les variations de ces signaux sont traduites des variations du niveau de gris des images. La partie droite des deux courbes correspondant à la zone sans le motif 32 et la partie de gauche des deux courbes correspondant à la zone avec le motif 32. Pour l'acquisition de ces courbes, la constante de temps T est de 300 ms et le temps d'attente est de 3 T. Le laser Argon peut fournir une puissance réglable du milliWatt à environ deux watt. Néanmoins la mise oeuvre procédé de d'écriture nécessite, selon l'invention, peu de puissance du fait focalisation du faisceau par l'objectif 10 de microscope. Une puissance par exemple peut être utilisée. Par contre, la puissance disponible peut s'averer très utile dans le cas d'un faisceau d'excitation non focalisé pour l'imagerie parallèle avec une caméra CDD par exemple. La densité de puissance dans le cas non focalisé peut ainsi atteindre 7,35.105 Wlm2, et dans le focalisé 1,65.10'2 WIm2 ( avec un objectif x100 et sachant que le diamètre minimum du faisceau est de 1,5 ,um). En ce qui concerne la modulation d'intensité du faisceau, le modulateur acousto-optique est classiquement positionné en incidence de Bragg permettant ainsi la division du faisceau deux parties (l'ordre 0 et l'ordre +1 ou -1) dont les intensités sont liées ' l'amplitude de la tension appliquée. L'électronique de commande du modulateur acousto-optique 4 délivre un signal en fréquence de 40MHz qui génère, conversion piézoélectrique, un réseau de diffraction dans le modulateur. signal à 40MHz est modulé en amplitude par le générateur basses fréquences conduisant ainsi à la modulation d'intensité du faisceau. Aussi, est-il préférable que le générateur basses fréquences, qui est la source du système, ait grande stabilité en phase car il délivre une tension destinée à moduler l'intensité du faisceau du laser de puissance, et conditionne par conséquent la qualité de l'excitation. II est cependant à noter que le modulateur acousto-optique n'est pas utile si le laser 2 est modulable directement. REVENDICATIONS 1. Procédé de lecture de structures ou d'informations inscrites dans un matériau, dans lequel on balaye la surface du matériau, sans modifier les structures ou les informations, avec une source électromagnétique de lecture (2), caractérisé par le fait que l'on recueille une image du contraste photo-thermique ou photo-thermo-élastique de la surface ainsi balayée. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé par le fait que l'on recueille une image contraste photo-thermique, en mesurant la réflectivité dynamique thermique matériau ou l'émission infrarouge. 3. Procède selon la revendication 1, caractérisé par le fait que l'on recueille une image contraste photo-thermo-élastique, en détectant les déformations thermo-élastiques par interférométrie. 4. Procédé selon l'une des revendications 2 et 3, caractérisé par le fait que l'on sépare l'amplitude et la phase du signal correspondant à la réflectivité dynamique thermique du matériau ou à ses déformations thermo- élastiques, par détection synchrone ou corrélation. 5. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé par le fait l'on recueille l'image du contraste photo-thermique ou photo-thermo-élastique sans contact avec la surface du matériau. 6. Procède selon l'une des revendications précédentes, caractérisé par le fait que la source électromagnétique de lecture est une source laser (2). 7. Procédé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé par le fait que l'on choisit les paramètres de la source électromagnétique de lecture (2), de manière à détecter une structure d'écriture (32) sous-jacente à surface. 8. Procedé selon l'une des revendications précédentes, caractérisé par le fait que l'on choisit les paramètres de la source électromagnétique de lecture (2), de manière à détecter un contraste photo- thermique ou photo-thermo-élastique dû à une différence de phase du matériau. 9. Procédé d'écriture d'un matériau, dans lequel on expose ce matériau à une source électromagnétique d'écriture (2) pour provoquer une transition de phase dans un volume localisé de ce matériau, caractérisé par le fait que l'on modifie, au cours de cette transition de phase, les propriétés thermiques, et éventuellement mécaniques, du matériau, de manière à changer le contraste photo-thermique ou photo-thermo-élastique du matériau et à le marquer pour une lecture ultérieure du contraste photo-thermique ou photo- thermo-elastique de la surface marquée. 1 Procédé selon la revendication 9, caractérisé par le fait que la source electromagnétique d'écriture (2) est une source laser. 1 . Procédé selon l'une des revendications 9 et 10, caractérisé par le fait l'écriture ainsi réalisée est adaptée pour être lue en recueillant une image du contraste photo-thermique ou photo-thermo-élastique, d'une surface balayée avec une source électromagnétique de lecture (2). 12. Procédé selon la revendication 11, caractérisé par fait que l'écriture est effectuée en utilisant une puissance de source électromagnétique d'écriture (2) supérieure à la puissance de source électromagnétique de lecture (2), au minimum d'un facteur 1,5 et préférentiellement d'un facteur compris entre deux et cinq. Procédé selon l'une des revendications 9 et 10, caractérisé par le fait l'écriture ainsi réalisée est adaptée pour être lue en recueillant une image du contraste optique, d'une surface balayée avec une source électromagnétique de lecture (2). 14. Produit marqué par un procédé selon l'une des revendications 9 à 13.