FR 2801462 A1 20010525 FR 0014584 A 20001114 Procédés et dispositif pour la détection automatisée de réparations de détecteurs de rayons X à semi-conducteurs La présente invention est relative d'une manière générale à des matrices d'imagerie de rayonnement et, plus particulièrement, à des procédés et dispositifs automatisés pour réparer de telles matrices. On forme couramment des dispositifs électroniques complexes des substrats dans le cadre de procédés de fabrication comportant le dépôt de multiples couches de matériaux conducteurs, semi-conducteurs et diélectriques et la formation de motifs sur celles-ci pour constituer de multiples composants électroniques individuels. Par exemple, on fabrique sur une galette des matrices d'imagerie à grande surface. Ces matrices contiennent des photodiodes et des circuits pour lire les signaux de sortie des photodiodes. Le montage comprend des lignes de balayage (d'adresses), des lignes de données et des composants de commutation (par exemple, des transistors effet de champ (TEC)). Dans une telle matrice, le contact avec les lignes de balayage et les lignes de données s'établit à l'aide d'ensembles de contacts séparés présents sur l'écran. En outre, la moitié des systèmes électroniques d'attaque sont connectés à une série de contacts, situés sur le bord extérieur de l'écran, qui assurent la connexion avec des lignes de balayage "Impaires". Entre ces contacts et une zone active de l'écran se trouve une autre série de contacts qui servent établir une connexion avec des lignes de balayage "paires". Des composants électroniques de détection se trouvent sur les deux autres côtés de l'écran. Un premier ensemble de composants électroniques de détection est connecté à toutes les lignes de données "impaires" situées sur une face de l'écran et l'autre ensemble de composants électroniques de détection est connecté à des lignes de données "paires" sur la face opposée. Il n'y a aucun contact entre les lignes de balayage ou de données sur les deux faces de l'écran. Parmi d'autres causes, des défauts dans de tels imageurs de rayonnement peuvent résulter d'impuretés présentes dans des matériaux déposés pour former divers composants. Un court-circuit entre une ligne de données et une ligne de balayage (d'adresses) située au-dessous dans le groupe de pixels constitue un exemple tel défaut dû à des impuretés. De tels courts-circuits interrompent les connexions électriques voulues entre des dispositifs de la matrice et nuisent fortement fonctionnement d'un ou plusieurs des composants électroniques individuels présents sur la galette, souvent au point de rendre inutilisable une galette entière. Afin d'améliorer le rendement de détecteurs radiologiques à écran plat, les courts-circuits entre une ligne de balayage et une ligne de données, qui risquent normalement de rendre inutilisables aussi bien la ligne de données que la ligne de balayage, sont éliminés d'une façon qui permet de récupérer la ligne de balayage et la ligne de données en ne perdant qu'un petit nombre de pixels au voisinage immédiat du court-circuit. Globalement, deux coupures sont réalisées de part et d'autre du court-circuit sur la ligne et peuvent très facilement être rattrapées (ou "réparées La réparation et la restauration de lignes de données qui ont été interrompues sur des moniteurs radiographiques à écran plat sont rendues possibles par l'ajout d'un petit nombre de contacts sans affectation. Les contacts sans affectation sont connectés à une extrémité "libre" d'une ligne de données qui a été coupée a deux endroits pour supprimer un court-circuit. Dans ce cas, on entend par extrémité libre d'une ligne de données une extrémité coupée d'une ligne de données qui, à cause de la coupure, n'est plus fixée à des circuits électroniques de détection situés en regard. Sans restauration, les données à cette extrémité libre seraient normalement perdues, ce qui revient à perdre au moins une ligne partielle (de données) pour chaque court- circuit supprimé par coupure. Des contacts sans affectation à l'extrémité opposée peuvent servir pour court-circuiter avec l'extrémité libre d'une ligne de données coupée. En effet, une extrémité libre d'une ligne "impaire" de données coupée devient une ligne paire" partielle de données par connexion avec un contact sans affectation à l'extrémité opposée où se trouvent les dispositifs électroniques "impairs" de détection. contacts sans affectation ne sont connectés à aucune ligne de données pendant la fabrication, mais sont conçus pour permettre de réaliser facilement sur l'écran un court-circuitage entre une extrémité d'une ligne de données coupée et un contact sans affectation. Si une ligne de données a été coupée et est connectée à un contact sans affectation, les données arrivant de l'extrémité libre de la ligne de données coupée seront décalées dans l'espace sur l'image ainsi obtenue. Comme cette image est représentée sous la forme groupe de nombres binaires dans la mémoire d'un ordinateur, les données décalées peuvent être remappées à leur emplacement adéquat sur l'image soumise un diagnostic à l'aide d'algorithmes de remplacement simples gérés par ordinateur. Une partie de ce processus propre à chaque écran réside dans une série d'emplacements où des coupures ont été faites, et pour lesquels des contacts sans affectation été utilisés pour restaurer les lignes de données coupées. Il a été proposé que, au cours des opérations d'essai et de réparation, un fichier soit créé pour enregistrer à la fois les emplacements de coupures et les emplacements de contacts affectation qui ont servi à restaurer les lignes de données coupées. Ce fichier devrait accompagner l'écran pour un système utilisant cet écran afin de générer des images radiologiques diagnostiques de qualité, pour permettre au système de reconstruire image à partir de l'écran réparé. Ces données seraient différentes pour chaque écran. Pour des raisons de logistique, il peut être difficile de réussir à transférer des informations de remappage vers des utilisateurs. Une perte de données dans un fichier d'informations de remappage peut survenir pour diverses raisons, par exemple la détérioration de données dans le fichier lui-même, ou la perte ou la destruction du support. Si on ne réussit pas à transférer fichier, il faut régénérer le fichier, sinon le système de détection risque de se retrouver ' la poubelle. II serait donc souhaitable de disposer de procédés et de dispositifs rendant inutile le transfert de fichiers d'informations de remappage vers les utilisateurs. Il serait par ailleurs souhaitable d'automatiser ce remappage là où se trouve utilisateur. II est proposé un procédé pour détecter des réparations faites et des lignes de données coupées dans une matrice d'imagerie qui comporte une matrice de pixels pour mesurer un rayonnement, et une pluralité de lignes de données pour extraire des données des pixels, et un certain nombre de contacts sans affectation pour lignes de données, à utiliser pour réparer des lignes de données court-circuitées. Le procédé comprend les étapes consistant à initialiser les pixels de la matrice, déterminer un niveau de signal pour les lignes de données qui n'ont pas été coupées, mesurer un niveau de signal de chaque ligne de données de la matrice et déterminer si le niveau de signal pour chaque ligne de données équivalent au niveau de signal des lignes de données non coupées. Le procédé décrit ci-dessus rend inutile la transmission fichiers d'informations de remappage avec des détecteurs réparés. En outre, on supprime le risque que le support contenant le fichier d'informations de remappage soit mis en péril pendant la transmission de la matrice d'imagerie. L'invention et nombre des avantages qui s'y attachent apparaîtront facilement plus clairement en référence à la description détaillée ci-après, faite en considération des dessins annexés, sur lesquels: la 1 est une vue en coupe transversale d'une partie système d'imagerie ayant un trajet conducteur indésirable entre une ligne de données et une ligne de balayage de la matrice; la 2 est une vue en plan d'une matrice de capteurs optiques ayant des lignes de balayage et des lignes de données avec sur ses bords une pluralité de plots de contact électrique; la fig. 3 est une vue en plan d'une matrice de capteurs optiques représentant une ligne de balayage et une ligne de données qui a été réparée, l'extrémité libre de la ligne de données étant reliée à un contact sans affectation; et la Fig. 4 est une vue schématique d'une matrice de capteurs optiques comportant des lignes de balayage, des lignes de données, des photodiodes et des transistors couches minces. Dans une forme de réalisation et en référence à la Fig. 1, système d'imagerie de rayonnement, par exemple un dispositif d'imagerie radiologique, comprend d'une manière typique un substrat 12 sur lequel est disposée une matrice de pixels, parfois appelée matrice 14 de capteurs optiques. La matrice 14 de capteurs optiques comporte une pluralité de composants électroniques tels que des lignes de balayage 16 des photodiodes 18 et des dispositifs de commutation dont des transistors ` effet de champ (TEC) (non représentés sur la Fig. 1). TEC sont disposés pour coupler d'une manière sélective des photodiodes respectives 18 à certaines lignes 20 de données. Le système d'imagerie 10 est un dispositif d'imagerie à adressage suivant x et y. Plus spécifiquement, une pluralité de lignes balayage 16 pour l'adressage de pixels individuels (non représentés) de la matrice 14 de capteurs optiques comprennent une pluralité de lignes 20 de données (Fig. 2) et une pluralité de lignes balayage 16. Chaque ligne 20 de données est orientée sensiblement suivant un premier axe du système d'imagerie 10, et chaque ligne de balayage 16 est orientée sensiblement suivant un deuxième axe du système d'imagerie 10. Les premier et deuxième axes du système d'imagerie 10 sont disposés sensiblement perpendiculairement l'un l'autre. Pour alléger l'illustration de la Fig. 2, seules sont représentées quelques-unes des lignes 20 de données et des lignes de balayage 16 s'étendant en travers de la matrice 14 de capteurs optiques. Les lignes de balayage 16 et les lignes 20 de données sont agencées en rangées et colonnes de façon que les pixels individuels de la matrice 14 de capteurs optiques soient adressables par une seule ligne de balayage 16 et une seule ligne 20 de données. Les lignes de balayage 16 sont en matériau conducteur tel que le molybdène, l'aluminium ou autre. Les photodiodes 18 (non représentées sur la Fig. 2) sont couplées électriquement aux lignes 20 de données par l'intermédiaire des TEC (non représentés sur la Fig. 2). Seule une partie de chaque photodiode 18 est illustrée sur la coupe transversale particulière de la Fig. l; les photodiodes 18 constituent la partie active de la matrice qui réagit aux photons incidents et qui produit les signaux électriques correspondant à la lumière incidente détectée. L'énergie de rayons X est convertie en énergie lumineuse en traversant une couche de substance luminescente (non représentée) telle que de l'iodure de césium, normalement disposée près de la surface des photodiodes 18. Chaque photodiode 18 comporte une couche de silicium amorphe intrinsèque disposée entre une couche de silicium dopée pour présenter une conductivité de type P et une couche de silicium dopée pour présenter une conductivité du type N. Un état de court-circuit représentatif est illustré sur les figures 1 et 2. L'état de court-circuit résulte par exemple d'un défaut 22 dans le diélectrique 24 contenant une impureté. D'une manière typique, il s'agit d'un matériau électriquement conducteur qui a été entraîné avec le diélectrique déposé 24, lors du dépôt de celui-ci, ou d'un artefact résultant du dépôt d'autres constituants dans la matrice 14 de capteurs optiques. Comme illustré sur les figures 1 et 2, le défaut 22 est disposé de telle façon qu'il est couplé électriquement à la ligne 20 de données et à la ligne de balayage 16, si bien qu'il existe un trajet conducteur entre la ligne de balayage 16 et la ligne 20 de données. Un tel trajet conducteur est indésirable car il crée un court-circuit entre deux couches conductrices, ce qui dégrade le signal généré par des pixels couplés à cette ligne 20 de données et cette ligne de balayage 16. Jusqu'à ce que soit isolé le court- circuit avec la ligne de balayage affectée 16, le fonctionnement de l'ensemble de la matrice 14 de capteurs optiques est dégradé. Des lignes 26 de données non défectueuses sont représentées à titre d'illustration. Une partie "réparée" d'une matrice 30 de capteurs optiques avec une ligne 32 de données "réparée" est illustrée sur la Fig. 3. Il y a des coupures 34 de chaque coté du défaut 36. Une extrémité "libre" d'une ligne de données coupée 38 est connectée électriquement à un contact 40 sans affectation. Des circuits d'attaque 46 sont connectés des lignes de balayage 16 (représentées sur la Fig. 2) et activent la matrice 30 de capteurs optiques en permettant à des circuits de lecture 48 de lire données présentes sur les lignes 20 (représentées sur la Fig. 2) de données. En référence à la fig. 4, les lignes 20 (également représentées sur les figures 1 et 2) de données qui ont été coupées sont détectées, dans une forme de réalisation, par un artefact connu sous l'appellation de rétention de charge, fréquent dans les TEC 50 à silicium amorphe. Le fait de balayer une image sombre (ou décalée) en l'absence de rayons X et de lumière (c'est-à-dire un balayage dans l'obscurité) aboutit à un signal légèrement négatif. Cette charge négative est "retenue" par le TEC 50 de l'écran au moment de son allumage, ou de son balayage. La charge retenue s'échappe lentement au fil du temps et ajoute un signal positif à des pixels lus ou balayés plus tard. La conséquence effective est un décalage légèrement négatif. Lorsqu'une ligne 20 de données est coupée, le système électronique de détection n'enregistre aucun décalage. Par conséquent, un canal du système électronique de détection connecté à un contact 40 (représenté sur la Fig. 3) sans affectation ou à une ligne 42 (représentée sur la Fig. 3) de données raccourcie indique un niveau de signal légèrement supérieur à celui indiqué par un canal connecté à une ligne 26 (représentée sur la Fig. 2) de données non défectueuses. Un décalage "naturel" de chaque canal est déterminé en maintenant bloqués les TEC 50 de l'écran et par une acquisition d'image. Lorsque les TEC 50 sont rendus passants par les circuits d'attaque 46 (représentés sur la Fig. 3) pendant l'acquisition d'une image sombre, les canaux connectés à une ligne 26 de données non défectueuse indiquent aux circuits de lecture 48 (représentés sur la Fig. 3) un niveau de signal plus faible dans une image sombre que dans une image avec "TEC bloqué". Des paramètres de gain et de conversion sont choisis pour accentuer une différence entre les lignes de données connectées et non connectées. Les lignes 42 (représentées sur la Fig. 3) de données court-circuitées peuvent être déterminées en examinant les données sur les lignes 20 de données à l'aide des circuits de lecture 48. S'il existe un pas dans le niveau d'un signal lorsque des données sont examinées sur chaque ligne 20 de données, il en est alors déduit qu'une coupure 34 (représentée sur la Fig. 3) a été réalisée sur cette ligne de données. Une partie de la ligne 20 de données qui a un niveau moyen de signal plus élevé est une partie coupée sur un canal électronique de détection qui dessert normalement la ligne de données coupée. Les canaux connectés à des contacts 40 (représentés sur la Fig. 3) normalement sans affectation sont examinés d'une manière similaire. Comme seulement des contacts "locaux" 40 sans affectation sont utilisés pour la restauration, seul un petit nombre de canaux doit faire l'objet d'une recherche d'un pas complémentaire d'un premier pas découvert sur une ligne de données coupée. Dans une forme de réalisation, les canaux des contacts sans affectation sont examinés les premiers, de façon qu'un nombre exact de coupures dans un groupe, qui est un sous-ensemble du système d'imagerie 10 de rayonnement, puisse être déterminé sans qu'il faille examiner chaque ligne du groupe. Comme illustré sur la Fig. 3, un contact 40 sans affectation est connecté électriquement à une extrémité libre de la ligne de données coupée 38. S'il apparaît qu'aucun contact 40 sans affectation pour un groupe n'a de données "d'image" présentes, c'est-à-dire une valeur de décalage plus faible, ce groupe est entièrement sauté. De même, si on trouve dans un groupe un appariement pour chaque canal de contact 40 sans affectation utilisé (devenu contact de réparation), l'appariement pour ce groupe est complet, même si toutes les lignes de données de ce groupe n'ont pas été examinées. données issues d'une partie à valeur moyenne "inférieure" du canal de contact sans affectation sont utilisées pour remplacer des données présentes dans une partie à valeur moyenne "supérieure" de la ligne de données coupée. Une ligne de données réparée 32 (représentée sur la Fig. 3) est mise avec certitude en corrélation avec contact 40 sans affectation par une position d'un "pas" dans les données dans le canal de contact 40 sans affectation utilisé pour la réparation. Dans une forme de réalisation, une règle définissant un ordre dans lequel des courts-circuits sont réalisés entre des lignes de données réparées 32 et des contacts 40 sans affectation est appliquée pendant une partie de l'essai et de la réparation servant à restauration. L'application de cette règle permet de déterminer avec certitude des associations entre des lignes de données coupées et des canaux de contacts sans affectation lorsque deux lignes de données paires (ou impaires) appartenant au même motif sont coupées sur la même ligne de balayage 16 (représentée sur les figures 1, 2 et Dans une autre forme de réalisation, au lieu d'utiliser une charge retenue pour déterminer la connectabilité, une capacité parasite existant entre chaque ligne de balayage et toute ligne de données sert à induire un niveau de signal dans le système électronique de détection en prolongeant le temps durant lequel le TEC est passant delà d'un instant où le système électronique de détection prélève son échantillon. effet dû à une capacité parasite est suffisamment fort pour exciter le systeme électronique de détection d'une manière beaucoup plus négative qu'un effet de rétention de charge nominale. Les canaux connectés à des lignes de données (ou ' des parties de celles-ci) apparaissent en traits noirs. De la sorte, les canaux non connectés à des lignes de données renvoient un décalage ou niveau de signal nominal "naturel" de ce canal du système électronique de détection. D'après la description ci-dessus de diverses formes de réalisation de la présente invention, il est évident que la nécessité de transmettre des fichiers d'informations de remappage avec un détecteur réparé est éliminée. De plus, les détecteurs sont indépendants des systèmes d'imagerie, car le fichier de réparation n'a plus à accompagner un détecteur s'il ne faut pas qu'il soit toujours connecté au même système pendant toute sa durée de vie utile. REVENDICATIONS Procédé pour détecter des lignes de données coupées (38) dans une matrice d'imagerie (10) comportant une matrice de pixels (14) pour mesurer un rayonnement, une pluralité de lignes (20) de données comportant au moins une ligne de données non coupée et au moins une ligne de données coupée (38), la pluralité de lignes de données servant à extraire des données des pixels, une pluralité de contacts de lignes de données, chaque contact de ligne de données étant connecté à une ligne parmi la pluralité de lignes de données, et au moins un contact (40) sans affectation, ledit procédé comprenant les étapes consistant à: initialiser des pixels de la matrice d'imagerie; déterminer un niveau de signal pour les lignes de données non coupees; mesurer un niveau de signal de chaque ligne de données de la pluralité de lignes données; et déterminer si le niveau de signal pour chaque ligne de données de pluralité de lignes de données est équivalent au niveau de signal des lignes de données non coupées. Procédé selon la revendication 1, dans lequel ladite étape d'initialisation des pixels de la matrice d'imagerie (10) comporte l'étape consistant à effectuer un balayage dans l'obscurité. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre l'étape consistant à déterminer un niveau de signal à chaque contact de ligne de données en raison d'une certaine charge retenue par un transistor (50) à effet de champ dans la matrice (14) de pixels lors de l'initialisation de la matrice de pixels. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre l'étape consistant à déterminer à chaque contact de ligne de données, d'après la capacité parasite entre chaque ligne (20) de données, un niveau de signal induit lors de l'initialisation de la matrice 4) de pixels en raison d'une rétention de charge. 5. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre l'étape consistant à déterminer un certain nombre de lignes de données coupées (38). 6. Procédé selon la revendication 5, dans lequel ladite étape consistant à déterminer un certain nombre de lignes de données coupées (38) comporte l'étape consistant à soustraire du nombre total de lignes (20) de données un certain nombre de lignes ayant un niveau de signal pour des lignes de données non coupées. Procédé selon la revendication 5, comprenant en outre l'étape consistant à appliquer une règle préalablement définie, définissant un ordre dans lequel contacts sans affectation sont utilisés lors d'une partie de l'essai et de la réparation servant a la restauration. 8. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre l'étape consistant à sélectionner des paramètres de gain et de conversion choisis pour accentuer une différence de niveaux de signaux mesurés sur des contacts de lignes de données pour des lignes de données coupées et non coupées. 9. Procédé de détermination du nombre de lignes de données coupées (3 dans matrice (10) d'imagerie, la matrice d'imagerie ayant un détecteur comportant une matrice de pixels (14) pour mesurer un rayonnement, une série lignes (20) de données comportant au moins une ligne de données non coupée au moins ligne de données coupée (38), la série de lignes de données pour extraire des données des pixels, une pluralité de contacts (40) sans affectation et au moins un contact sans affectation connecté électriquement à ladite au moins une ligne de données coupée, ledit procédé comprenant les étapes consistant à: initialiser les pixels de la matrice; déterminer un niveau de signal pour ladite au moins une ligne de données coupée; mesurer un niveau de signal de chaque contact sans affectation; et déterminer si un certain nombre de contacts sans affectation ont un niveau signal equivalent au niveau de signal de ligne de données coupée de ladite au moins une ligne de données coupée; et soustraire, d'un nombre total de contacts sans affectation, le nombre contacts sans affectation ayant un niveau de signal équivalent au niveau de signal de ligne de données coupée de ladite au moins une ligne de données coupée. Procédé selon la revendication 9, dans lequel ladite étape d'initialisation des pixels de la matrice d'imagerie (10) comporte l'étape consistant à effectuer à balayage dans l'obscurité. 1 . Procédé selon la revendication 10, comprenant en outre l'étape consistant à déterminer un niveau de signal à chaque contact de ligne de données d'après certaine charge retenue par un transistor (50) à effet de champ dans la matrice d'imagerie (10) lors de l'initialisation de la matrice (14) de pixels. 12. Procédé selon la revendication 10, comprenant en outre l'étape consistant à déterminer à chaque contact de ligne de données, d'après la capacité parasite entre chaque ligne (20) de données, un niveau de signal induit lors de l'initialisation de la matrice (14) de pixels en raison d'une rétention de charge. 13. Procédé selon la revendication 9, comprenant en outre l'étape consistant à sélectionner des paramètres de gain et de conversion choisis pour accentuer la différence entre les lignes de données coupées (38) et les contacts sans affectation non utilisés (40). 14. Procédé selon la revendication 13, comprenant en outre l'étape consistant à appliquer une règle définissant un ordre dans lequel les contacts (40) sans affectation sont utilisés lors d'une partie de l'essai et de la réparation servant à la restauration. 15. Système d'imagerie pour générer une image d'un objet, ledit système d'imagerie comprenant une matrice d'imagerie (10) constituée par une matrice de pixels (14) pour la mesure d'un rayonnement, une première série de lignes (20) de données comportant au moins une ligne d'une deuxième série de lignes de données non coupées et au moins un ligne d'une troisième série de lignes de données coupées (38), la première série de lignes de données pour extraire des données des pixels, une pluralité de contacts de lignes de données, chaque contact de ligne de données étant connecté électriquement à l'une des lignes de données, une pluralité de contacts (40) sans affectation et au moins un contact sans affectation connecté électriquement à l'une des lignes de données coupées, ledit système d'imagerie étant apte à détecter des lignes de données coupées dans ladite matrice d'imagerie en étant configuré pour: initialiser les pixels de la matrice; déterminer un niveau de signal pour la deuxième série de lignes de données non coupées; mesurer un niveau de signal de chaque ligne de données de la première série de lignes de données; et déterminer si le niveau de signal pour chaque ligne de données de la première série de lignes de données est équivalent au niveau de signal des lignes de données non coupées. 16. Système d'imagerie selon la revendication 15, agencé en outre pour initialiser les pixels de la matrice (14) en effectuant un balayage dans l'obscurité. 17. Système d'imagerie selon la revendication 15, agencé en outre pour déterminer un certain nombre de lignes de données coupées (38). 18. Système d'imagerie selon la revendication 17, agencé en outre pour déterminer un certain nombre de lignes de données coupées (38) en soustrayant, du nombre de lignes de données de la première série, le nombre de lignes (20) de données de deuxième série. 19. Système d'imagerie selon la revendication 15, agencé en outre pour déterminer niveau de signal à chaque contact de ligne de données, le niveau de signal dépendant d'une certaine charge retenue par un transistor (50) à effet champ dans la matrice (14) de pixels au cours de l'initialisation de la matrice de pixels. 20. Système d'imagerie selon la revendication 19, agencé en outre avec des paramètres gain et de conversion choisis pour accentuer une différence niveaux de signaux mesurée à des contacts de lignes de données pour des lignes de données coupées et coupées. 21. Système d'imagerie selon la revendication 15, agencé en outre pour déterminer à chaque contact de ligne de données, d'après une capacité parasite entre chaque ligne (20) de données, un niveau de signal induit au cours de l'initialisation de la matrice (14) de pixels en raison d'une rétention de charge. 22. Système d'imagerie selon la revendication 15, agencée en outre pour soustraire, d'un nombre total de contacts sans affectation, le nombre de contacts (38) sans affectation à niveau de signal non équivalent au niveau de signal de la deuxième série de lignes de données non coupées. 23. Système d'imagerie selon la revendication 15, agencé en outre pour déplacer des données d'images à décalage dans l'espace, recueillies à partir lignes de données coupées (38) connectées à des contacts (40) sans affectation pour le placer à un endroit correct de l'image.