FR 2758887 A1 19980731 FR 9701182 A 19970129 L'invention se rapporte à un procédé de localisation d'une panne sur un circuit électronique. Elle se rapporte également aux moyens pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention. La localisation d'une panne sur un circuit électronique n'est pas chose aisée et, dans certains cas, peut prendre énormément de temps. Les effets relatifs à la défaillance de composants de natures différentes, par exemple, une diode ou un transistor peuvent engendrer des effets qui paraissent similaires. Il n'est donc pas simple d'identifier l'origine de la panne. Actuellement, pour localiser la panne, le préposé à ce travail procède par tâtonnement et recherche en des points particuliers s'il existe un signal électrique et, à l'aide d'un oscilloscope, examine si le signal relevé correspond aux spécifications du constructeur. Si le signal est altéré ou absent, en fonction des informations dont il dispose et des connaissances qu'il a acquises par expérience, il peut en déduire que tel ou tel composant est déficient. Malheureusement, comme indiqué précédemment, la panne peut résulter de la déficience d'un autre composant et, après remplacement du composant qu'il estimait déficient, il doit poursuivre sa recherche. Il en résulte donc que le temps de localisation du composant déficient augmente considérablement le coût de la réparation notamment en regard du coût du composant à remplacer. En sortie de chaîne de fabrication, on connaît des appareils qui relèvent automatiquement une pluralité de signaux électriques en des points particuliers et qui, en fonction des différents signaux et d'un logiciel approprié, suggèrent de modifier tel ou tel réglage voire élaborent un diagnostic. Ces appareils comportent une platine dite de mesure comportant une pluralité de contacts, chacun relié à un appareil de mesure. On pose le circuit à vérifier sur cette platine de mesure de sorte que les contacts de la platine établissent des liaisons électriques entre certains points particuliers du circuit et l'appareil de mesure. L'alimentation du circuit électronique étant établie et les tensions de la carte étant stabilisées, la prise des mesures peut être réalisée. Pour la prise de mesures en de multiples points, chaque platine doit être adaptée aux circuits à examiner afin que chaque contact coïncide avec les points de mesure. Compte tenu de l'évolution technologique rapide des circuits et du coût de chaque adaptation, un tel dispositif n'est rentable qu'en sortie de chaîne de fabrication pour tester et régler les circuits électroniques et, par ailleurs, le diagnostic ne peut être établi qu'avec un grand nombre de mesures. Un des résultats que l'invention vise à obtenir est un procédé de localisation de pannes qui fournisse une réponse rapidement. A cet effet, l'invention a pour objet un procédé de localisation d'une panne sur un circuit électronique caractérisé en ce que - pendant la période de transition où la tension d'alimentation de la carte à dépanner passe de zéro volt à sa tension d'alimentation de référence, on enregistre au moins une courbe représentant l'évolution dans le temps d'au moins un paramètre relatif à la consommation de courant de la carte, - on compare les informations enregistrées avec celles stockées dans une bibliothèque de courbes qui, préalablement établies, sont représentatives chacune des effets produits par les diverses pannes possibles et - selon le degré de probabilité de concordance de la courbe enregistrée et d'au moins une des courbes représentatives chacune des effets produits par déficience d'un composant, on identifie au moins un composant à remplacer. L'invention a également pour objet les moyens pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention. L'invention sera bien comprise à l'aide de la description ci-aprés faite à titre d'exemple non limitatif en regard du dessin ci-annexé qui représente schématiquement - figure 1 : un dispositif de diagnostic de pannes - figures 2 à 4 : divers exemples de paramètres mesurés lors de différentes pannes. En se reportant au dessin, on voit que, pour localiser une panne sur une circuit 100 électronique, tel une carte électronique par exemple pour téléviseur, on fait appel à un dispositif 1 dit de diagnostic. Selon l'invention - pendant la période de transition où la tension d'alimentation de la carte 100 à dépanner passe de zéro volt à sa tension d'alimentation de référence, on enregistre au moins une courbe 2A, 2B représentant l'évolution dans le temps d'au moins un paramètre relatif à la consommation de courant de la carte 100, - on compare les informations enregistrées avec celles stockées dans une bibliothèque 3 de courbes 4A, 4B qui, préalablement établies, sont représentatives chacune des effets produits par les diverses pannes possibles et - selon le degré de probabilité de concordance de la courbe enregistrée et d'au moins une des courbes 4A, 4B représentatives chacune des effets produits par déficience d'un composant, on identifie au moins un composant 5 à remplacer. En effet, il est apparu que le disfonctionnement d'un composant d'une carte électronique se répercutait sur la consommation du courant, notamment lors de la mise en marche, et modifiait la courbe correspondante. Les courbes représentant la valeur instantanée du courant ou de la tension alternative et/ou continue varient selon le composant défaillant. C'est donc notamment ces paramètres de tension continue Dc et/ou tension alternative Ac ou encore de courant I que l'on enregistre. Les figures 2 à 4 montrent à gauche les courbes mesurées et à droite celles figurant dans la bibliothéque. Apparaît également sur ces figures le taux d'erreur suite à la comparaison effectuée. Sur la base de cette constatation pour chaque carte électronique, on peut établir une bibliothèque de références, par exemple, en provoquant volontairement la panne et, par rapport à cette bibliothèque, on peut effectuer des comparatifs. Le dispositif peut proposer un second diagnostic subsidiaire avec un taux d'erreur supérieur. Dans le cas où la panne ne serait pas déjà répertoriée, la localisation de la panne décelée par des moyens plus classiques serait alors introduite dans la bibliothèque, le dispositif ayant conservé les courbes acquises. De préférence, on ne commence l'enregistrement que lorsque la tension d'alimentation de la carte atteint un seuil prédéterminé inférieur à la tension de référence. Les moyens pour la mise en oeuvre du procédé comprennent - des moyens 6 d'acquisition de l'évolution dans le temps d'au moins un paramètre relatif à la consommation de courant de la carte à dépanner pendant la période de transition où la tension d'alimentation de la dite carte passe de zéro volt à la tension d'alimentation de référence de la carte, - des moyens 7 pour enregistrer les courbes représentatives de l'évolution dans le temps des paramètres précités, - des moyens 8 de comparaison des courbes enregistrées avec une bibliothèque de courbes représentatives chacune des effets produits par l'une des diverses pannes possibles et - des moyens 9 pour établir avec un taux de probabilité de concordance de la courbe enregistrée et d'une des courbes représentatives chacune des effets produits par déficience d'un composant déterminé et, - des moyens 10 d'identification du composant à remplacer. Le dispositif comprend en outre des moyens 11 pour déclencher l'enregistrement des paramètres à mesurer lorsque la tension d'alimentation atteint un seuil prédéterminé compris entre la tension de référence et zéro volt. On fait par exemple appel à un micro-ordinateur comprenant une carte 12 d'échantillonnage comprenant elle-même un convertisseur 13 analogique numérique. On utilise une sonde de mesure que l'on place en un point du circuit qui dépend de la nature de la carte électronique à tester. De ce point unique de mesure, on extrait les divers signaux nécessaires, tels l'évolution de la tension continue Dc ou de la tension alternative Ac qui sont notamment des paramètres liés à la consommation de courant de la carte. Ces paramètres sont isolés tant sur le plan de la masse qu'électriquement par des moyens 20 appropriés puis adaptés si nécessaire. Par exemple, dans le cas où la carte d'échantillonnage n'accepte pas des tensions supérieures à cinq ou dix volts, il faut réduire la tension mesurée d'un facteur prédéterminé. Ainsi, entre la prise de mesure analogique et la carte d'échantillonnage, est prévue une isolation électrique, telle une transmission des informations par liaison optique. La mesure pourra porter sur l'intensité du courant et/ou la tension instantanée, etc ... REVENDICATIONS 1. Procédé de localisation d'une panne sur un circuit électronique CARACTERISE en ce que - pendant la période de transition où la tension d'alimentation de la carte (100) à dépanner passe de zéro volt à sa tension d'alimentation de référence, on enregistre au moins une courbe (2A, 2B) représentant l'évolution dans le temps d'au moins un paramètre relatif à la consommation de courant de la carte (100), - on compare les informations enregistrées avec celles stockées dans une bibliothèque (3) de courbes (4A, 4B) qui, préalablement établies, sont représentatives chacune des effets produits par les diverses pannes possibles et - selon le degré de probabilité de concordance de la courbe enregistrée et d'au moins une des courbes (4A, 4B) représentatives chacune des effets produits par déficience d'un composant, on identifie au moins un composant (5) à remplacer. 2. Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce qu'on ne commence l'enregistrement que lorsque la tension d'alimentation de la carte atteint un seuil prédéterminé inférieur à la tension de référence. 3. Moyens pour la mise en oeuvre du procédé selon la revendication 2 caractérisés en ce qu'ils comprennent - des moyens (6) d'acquisition de l'évolution dans le temps d'au moins un paramètre relatif à la consommation de courant de la carte à dépanner pendant la période de transition où la tension d'alimentation de la dite carte passe de zéro volt à la tension d'alimentation de référence de la carte, - des moyens (7) pour enregistrer les courbes représentatives de l'évolution dans le temps des paramètres précités, - des moyens (8) de comparaison des courbes enregistrées avec une bibliothèque de courbes représentatives chacune des effets produits par l'une des diverses pannes possibles et - des moyens (9) pour établir avec un taux de probabilité de concordance de la courbe enregistrée et d'une des courbes représentatives chacune des effets produits par déficience d'un composant déterminé et, - des moyens (10) d'identification du composant à remplacer. 4. Moyens selon la revendication 3 caractérisés en ce qu'ils comprennent en outre des moyens (11) pour déclencher l'enregistrement des paramètres à mesurer lorsque la tension d'alimentation atteint un seuil prédéterminé compris entre la tension de référence et zéro volt. 5. Moyens selon la revendication 4 caractérisés en ce qu'ils comprennent un micro-ordinateur, une carte (12) d'échantillonnage et en avol un convertisseur (13) analogique numérique. 6. Moyens selon la revendication 5 caractérisés en ce qu'entre la carte d'échantillonnage et le convertisseur analogique numérique, ils comprennent une isolation électrique.