FR 2768228 A1 19990312 FR 9711335 A 19970908 La présente invention concerne le domaine technique du test des condensateurs au sens général, permettant de déterminer l'état de leur fonctionnement ou de prévoir leur défaillance. L'objet de l'invention trouve une application dans le domaine du test des condensateurs pour déterminer leur état de vieillissement. La présente invention vise, plus particulièrement, une technique adaptée pour prévoir la défaillance dans le temps, du ou des condensateurs équipant des systèmes électroniques, de manière à permettre le changement du ou des condensateurs à un moment opportun choisi pour ne pas entraver le fonctionnement des systèmes électroniques. Les systèmes électroniques font désormais partie de la plupart des équipements ou matériels industriels. Les systèmes électroniques sont ainsi installés par exemple, dans des équipements médicaux, nucléaires, militaires ou de transport. I1 est clair que la défaillance des systèmes électroniques est susceptible d'entrainer un réel danger aussi bien pour les personnes que pour les biens. Dans le même sens, la défaillance des systèmes électroniques équipant les machines de fabrication entraîne inévitablement une perte de production. Un examen approfondi des défaillances des systèmes électroniques a permis de mettre en évidence que la majeure partie des pannes sont imputables au convertisseur d'énergie électrique alimentant en tension continue les systèmes électroniques. La défaillance des convertisseurs d'énergie conduit, bien évidemment, à une panne des systèmes qu'ils équipent avec les conséquences évoquées ci-dessus. n a été constaté que la plupart des pannes des convertisseurs statiques d'énergie sont dues à une défaillance des condensateurs électrolytiques de filtrage de la tension de sortie ou de la tension d'entrée. Pour réduire les conséquences liées à de telles pannes, il a été prévu de mettre en oeuvre des convertisseurs statiques comportant une architecture redondante. n s'avère qu'une telle technique présente un coût élevé en raison de la redondance des composants et impose une double surveillance en continu pour permettre le remplacement des composants défaillants. Afin de remédier aux inconvénients de cette technique et en vue de résoudre le problème technique posé, il est connu, notamment, par le document JP 63 128270, de détecter l'ondulation du signal apparaissant aux bornes d'un condensateur et d'analyser la variation de l'ondulation de manière à déceler l'état de défaillance du condensateur, dans la mesure où l'ondulation est modifiée lors de l'apparition d'une altération du fonctionnement du condensateur. Par ailleurs, le brevet US 4 216 424 décrit une technique de mesure de la résistance équivalente série d'un condensateur pour déceler un vieillissement ou une dégradation du condensateur. Les différentes techniques décrites dans l'art antérieur ne donnent pas satisfaction en pratique. En effet, il doit être considéré que les techniques proposées pour détecter l'état de défaillance d'un condensateur ne tiennent pas compte des conditions variables de fonctionnement auxquelles le condensateur est soumis. il s'ensuit une erreur relativement importante sur l'appréciation de l'état de vieillissement du condensateur. L'objet de l'invention vise donc à remédier à cet inconvénient en proposant un procédé conçu pour déterminer, de manière précise, l'état de fonctionnement d'un condensateur, quelles que soient les conditions de fonctionnement auxquelles il est soumis. Conformément à l'invention, le procédé vise à détecter l'état de vieillissement d'un condensateur destiné à être monté dans un circuit électrique présentant une température extérieure au condensateur et des signaux d'extrémités, à savoir une tension d'entrée et un courant de sortie ou un courant d'entrée et une tension de sortie. Le procédé consiste: - dans une phase d'acquisition expérimentale: à à déterminer une loi de vieillissement du condensateur donnant la variation de la résistance équivalente série ESR du condensateur en fonction du temps, pour des valeurs données de la température extérieure, à à mesurer les signaux d'extrémités, la température extérieure et l'ondulation aux bornes du condensateur, pour une variation dans le temps et dans une plage donnée de la température extérieure et des signaux d'extrémités, à à filtrer l'ondulation, afin de déterminer la composante de l'ondulation aux bornes du condensateur, à définir une première relation de référence donnant la variation de la composante de l'ondulation en fonction de la température extérieure, pour des valeurs données des signaux d'extrémités, - dans une phase de test à à mesurer les signaux d'extrémités, la température extérieure et l'ondulation aux bornes du condensateur, à à filtrer l'ondulation de test, afin de déterminer la composante de test de l'ondulation, . et à partir de la composante de test de l'ondulation à la température extérieure de test pour les valeurs de test des signaux d'extrémités, à déduire à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, l'état de défaillance du condensateur. Un autre objet de l'invention vise à offrir un procédé conçu pour diagnostiquer à l'avance le moment où un condensateur est considéré comme n'assurant plus correctement sa fonction à laquelle il est destiné. Conformément à l'invention, le procédé consiste à tenir compte d'un coefficient de fonctionnement limite du condensateur, pour permettre, à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, de prédire le moment de défaillance du condensateur. Diverses autres caractéristiques ressortent de la description faite cidessous en référence aux dessins annexés qui montrent, à titre d'exemples non limitatifs, des formes de réalisation et de mise en oeuvre de l'objet de l'invention. La fig. 1 est une vue générale d'un exemple de réalisation d'un dispositif permettant de détecter l'état d'un vieillissement d'un condensateur. La fig. 2 est une vue de courbes illustrant la forme de l'ondulation aux bornes d'un condensateur. La fig. 3 est une série de courbes illustrant la phase d'acquisition expérimentale du procédé conforme à l'invention. La fig. 4 est un schéma illustrant les variations de la composante de l'ondulation aux bornes du condensateur en fonction de la température extérieure Te du courant de sortie 's et de la tension d'entrée Ve. La fig. 5 est un schéma illustrant les variations de la température Tc du boîtier du condensateur en fonction de la température extérieure Te, pour des valeurs données du courant de sortie 'set de la tension d'entrée Ve. La fig. 6 est une courbe illustrant les variations de la composante AVof de l'ondulation en fonction de la température extérieure Te. La fig. 7 est une courbe illustrant les variations de la température du boîtier Tc en fonction de la température extérieure Te. La fig. 8 est une courbe illustrant la variation de la résistance équivalente série ESR en fonction de la température Tc boîtier du condensateur. La fig. 9 est une courbe illustrant la variation de la résistance équivalence série ESR en fonction du temps t. Tel que cela ressort de la fig. 1, le dispositif 1 selon l'invention est adapté pour détecter l'état de défaillance ou de vieillissement d'au moins un condensateur 2 monté dans un circuit électrique 3 constitué, dans un exemple préféré de réalisation décrit ci-après, par un convertisseur statique d'énergie électrique d'une tension d'entrée Ve en une tension de sortie continue Vs. Par exemple, le convertisseur d'énergie 3 est une alimentation à découpage, du type Forward unidirectionnel dont la tension d'entrée continue nominale Ve est de 48 Volts, tandis que la tension de sortie continue Vs est de 5 Volts. La tension d'entrée Ve est découpée classiquement à l'aide d'un transistor dont le fonctionnement en commutation selon une fréquence de découpage fc est piloté par un circuit de commande. Dans l'exemple illustré, le ou les condensateurs 2 sont montés sur la sortie du convertisseur 3. Ainsi, le condensateur de filtration 2 joue le rôle d'une source de tension de valeur Vs et peut être du type électrolytique. La tension de sortie Vs délivrée par le convertisseur 3 aux bornes d'une résistance de charge 4 présente une valeur continue à laquelle est superposée une ondulation périodique AV0. Conformément à l'invention, le dispositif 1 comprend des moyens 5 d'acquisition et de traitement de l'ondulation AV0 de la tension aux bornes du condensateur ou, dans l'exemple illustré, de sortie du convertisseur 3, afin de déterminer la composante ivVof de l'ondulation de la tension /vV0 à la fréquence de découpage fc du convertisseur. La grandeur AVof (courbe A, fig. 2) est donc la composante de Fourrier ou le fondamental de l'ondulation de la tension aux bornes du condensateur à la fréquence de découpage du convertisseur. Selon une caractéristique de réalisation, ces moyens 5 d'acquisition et de traitement sont constitués par un filtre passe-bande centré sur la fréquence de découpage du convertisseur. La sortie du filtre passe-bande est reliée à un circuit de redressement et d'amplification permettant de délivrer un signal correspondant à une image de /vVof en tension continue. La courbe B de la fig. 2 illustre la valeur moyenne redressée de la composante de l'ondulation. Dans le cas où la fréquence de découpage fc du convertisseur est variable, la fréquence centrale du filtre passe-bande est asservie à la fréquence de découpage permettant ainsi au filtre de toujours suivre la fréquence du fondamental. Le dispositif 1 selon l'invention comporte également un capteur 6 de mesure du courant de sortie t du convertisseur statique, et un capteur de mesure 7 de la tension d'entrée V e du convertisseur statique 3. Le dispositif 1 selon l'invention comporte également un capteur 8 apte à détecter la température Te extérieure par rapport au condensateur 2. La température extérieure Te peut correspondre à la température ambiante, à la température du boîtier du condensateur ou à toute autre température du convertisseur, par exemple, de la carte électronique sur laquelle est monté le condensateur. Dans le cas où la température Tc du boîtier du condensateur 2 est différente de la température extérieure du condensateur, il est prévu de mettre en oeuvre un capteur 9 de mesure de la température Tc du boîtier du condensateur. Les différents capteurs 5, 6, 7, 8, 9 sont reliés à une unité de captation et de traitement 11 communiquant par une liaison 12 avec un système de contrôle et de commande 13. L'unité de captation et de traitement 11, associée au système de commande et de contrôle 13, permettent de mettre en oeuvre un procédé conforme à l'invention pour détecter l'état de défaillance du condensateur 2. Le procédé selon l'invention comprend une première phase d'acquisition dite expérimentale ou de référence, visant à contrôler l'état du condensateur 2 considéré comme sain ou non défaillant. Dans l'exemple illustré, cette phase d'acquisition est effectuée dès la fabrication des convertisseurs statiques, par exemple avant leur sortie du site. 11 est à noter que les condensateurs 2 de filtrage de la sortie du convertisseur sont identiques, de sorte qu'ils possèdent approximativement la même température boîtier et le même état de vieillissement durant le fonctionnement du convertisseur. Il apparaît ainsi nécessaire de contrôler un seul condensateur de filtrage 2. Lors de cette phase d'acquisition, il est procédé à la mesure de la tension d'entrée V du courant de sortie 's, de la température extérieure T et de e' e l'ondulation aV0 de la tension de sortie, pour une variation dans le temps et dans une plage donnée, de la température extérieure Tes du courant de sortie 's et de la e' tension d'entrée Ve. 11 est à noter que si la température extérieure T e est différente de la température Tc du boîtier du condensateur, il est également prévu de mesurer la température Tc du boîtier. I1 est donc prévu d'acquérir un référentiel initial de mesure pour différents régimes de fonctionnement du convertisseur statique. Ainsi, tel que cela ressort de la fig. 3, il est prévu de faire varier - la température extérieure Te dans une gamme donnée, par exemple de -10" à + 40 C en utilisant une étuve à température réglable, - le courant de sortie ls dans une gamme donnée, par exemple de O à 8 A, en utilisant un plan de charge commandable, - la tension d'entrée V e dans une gamme donnée, par exemple de 18 à 33 Volts, en utilisant une alimentation commandable. Il peut ainsi être procédé à une série d'acquisitions de mesures à des instants différents t;, par exemple au nombre d'une quinzaine. A chaque instant de mesure, il est mesuré la température Tes le courant de sortie 's, la tension d'entrée Ve, la température boîtier Tc et la composante aVof de l'ondulation. Le procédé consiste, ensuite, à définir un référentiel initial de mesure ou appelé ci-après une première relation de référence, donnant la variation de la composante aVof de l'ondulation en fonction de la température extérieure Tes de la tension d'entrée Ve et du courant de sortie 's, soit /vVof = f ('s, Ve, Te). Cette première relation de référence revient à exprimer la variation de la composante /vVof de l'ondulation en fonction de la température extérieure Te pour des valeurs données du courant de sortie Is et de la tension d'entrée Ve, soit AVof = f (Te) pour Is et Ve données. Il est ainsi obtenu une matrice tridimensionnelle pour aVof qui est stockée en mémoire pour servir de référentiel initial de mesures. La fig. 4 montre un exemple de matrice AVof en fonction de 1; et Ve pour différentes températures extérieures Te. Dans le cas où la température Tc du boîtier du condensateur 2 est différente de la température extérieure Te qui est acquise, il est procédé également à l'acquisition d'un deuxième référentiel initial de mesure donnant la variation de la température du boîtier Tc en fonction de la température extérieure Tes de la tension d'entrée V e et du courant de sortie 's, soit Tc = f ('s, Ve, Te). Ce référentiel de mesure revient à la détermination d'une relation de référence donnant la variation de la température du boîtier Tc en fonction de la température extérieure Te pour des valeurs données du courant de sortie 's et de la tension d'entrée Ve. La fig. 5 montre un exemple d'un référentiel initial de mesure de la température de boîtier Tc en fonction du courant de sortie 's et de la tension d'entrée Ve pour différentes températures extérieures Te. Les fig. 4 et 5 montrent les matrices AVof et Tc en fonction de 's et Ve, pour quatre températures extérieures TeS à savoir 40 C, 20 C, 0 C et -10 C. La première et la deuxième relations de référence sont enregistrées par exemple en mémoire, en vue d'une utilisation ultérieure, comme le montrera la description qui suit du procédé selon l'invention. 11 est à noter que le procédé selon l'invention vise également à acquérir, après définition, une loi de vieillissement du condensateur utilisé, donnant la variation de la résistance équivalente série ESR du condensateur en fonction du temps t, pour des valeurs données de la température du boîtier Tc. La fig. 9 illustre un exemple d'une loi de vieillissement du condensateur qui décrit la variation de la résistance équivalente série ESR du condensateur en fonction du temps. Cette loi expérimentale qui est connue, permet de constater qu'une augmentation de la valeur de la résistance équivalente série ESR indique un vieillissement ou une dégradation du condensateur. Le procédé selon l'invention vise à effectuer une phase de test ou de contrôle de l'état du condensateur au cours de son fonctionnement ou après une durée de fonctionnement déterminée. Dans l'exemple illustré, cette opération de test ou de contrôle peut être effectuée en continu pendant le fonctionnement du convertisseur statique ou ponctuellement à des instants déterminés. Lors de cette phase de test, il est procédé à un instant t, à la mesure de la tension d'entrée Veut, du courant de sortie I, de la température extérieure Tet et de l'ondulation V0t de la tension de sortie. A partir de l'ondulation V0t de la tension de sortie, il est déterminé la composante avOft de l'ondulation de la tension de sortie, comme expliqué ci-dessus. Conformément à l'invention, à partir de la composante de l'ondulation de test /tVoft à la température extérieure de test Tet, pour une valeur de tension d'entrée de test Vet et une valeur de courant de sortie de test I, le procédé consiste à déduire à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, l'état de défaillance du condensateur. Si pour des valeurs de test de la tension d'entrée Vet et du courant de sortie 1, le point P de coordonnées AVoft et Te ne coincide pas avec ou s'écarte d'un seuil donné de la première relation de référence acquise lors de la phase expérimentale, il peut être déduit que le condensateur de filtrage n'est pas sain ou commence à être usé. La fig. 6 illustre la courbe de référence acquise expérimentalement donnant AVof = f (Te) à 's et Ve données. Dans l'exemple illustré, le point de fonctionnement P mesuré à l'instant t de coordonnées avOft et Te se trouve en dehors de la courbe de référence. Le procédé consiste à déterminer la valeur théorique de la température extérieure Te correspondant à la valeur de la température extérieure Te, si le condensateur était sain pour la valeur de l'ondulation V0ft. I1 est procédé ensuite à la détermination de la valeur initiale V0,0 de la composante de l'ondulation correspondant à un condensateur non défaillant ou sain à la température extérieure Te mesurée à l'instant t. Par ailleurs, dans le cas où le procédé vise à prédire l'état de défaillance d'un condensateur, il est prévu de définir la limite de fonctionnement correct du convertisseur en fixant un coefficient de fonctionnement F du condensateur. I1 est ainsi fixé une valeur limite admissible AVofl pour l'ondulation au-delà de laquelle le condensateur est considéré comme défaillant. Le coefficient F est donné par la relation suivante: V0f1 = F./tVof Le procécé consiste à déterminer pour la valeur limite d'ondulation aV de l'ondulation, la température extérieure limite Te correspondant à la température extérieure, si le condensateur était sain pour la valeur de l'ondulation limite aVofl. Dans le cas où la température extérieure Te est différente de la température Tc du boîtier, il est prévu d'utiliser la deuxième relation de référence acquise pendant la phase expérimentale. Comme illustré à la fig. 7, cette deuxième relation donne la variation de la température du boîtier Tc en fonction de la température extérieure Te pour des valeurs données du courant de sortie Is et de la tension d'entrée Ve Ainsi, à partir des valeurs de température réelle ou de test Tet, limite Te et théorique re, il est prévu de déterminer, à partir de cette deuxième relation de référence, les valeurs de la température Tc du boîtier, respectivement - Tc, c'est-à-dire la valeur réelle de la température boîtier à l'instant t, - Tl, c'est-à-dire la température limite du boîtier correspondant à Te - TS c'est-à-dire la valeur théorique de la température boîtier correspondant à Te. Le procécé consiste ensuite à déterminer, à l'aide de la loi de vieillissement du condensateur, les valeurs de la résistance équivalente série ESR en fonction des diverses valeurs trouvées. Tel que cela apparaît à la fig. 8, la loi de vieillissement donne la variation de la résistance équivalente série ESR, en fonction de la température Tc du boîtier du condensateur. Ainsi, à partir des valeurs de température du boîtier, Tact, Tc et Tl, il est déduit, respectivement - la valeur ESRO de la résistance équivalente série considérée pour un condensateur neuf à une température de boîtier Tact, - la valeur réelle ESR' de la résistance équivalente série à l'instant t, déduite à partir de température du boîtier Tc, - la valeur limite EsR1 de la résistance équivalente série, déduite à partir de la température du boîtier Tc. fl est ensuite utilisé la loi de vieillissement donnant les variations de la résistance équivalente série ESR en fonction du temps t (en heures), pour une température T correspondant à la valeur réelle Tct (fig. 9). Ainsi, à partir de cette loi de variation et des valeurs limites ESRI et réelle EsRt de la résistance équivalente série, il est obtenu des temps limites tz et réel t, permettant par différence, d'en déduire le temps restant t, avant que le condensateur soit considéré défaillant ou en panne pour un régime de fonctionnement donné. Le procédé selon l'invention permet ainsi de déterminer l'état de défaillance ou, mieux encore, de prévoir le moment où le condensateur serait en panne, en tenant compte des conditions de fonctionnement auxquelles il est soumis. Le procécé est mis en oeuvre par l'intermédiaire d'un logiciel adapté pour assurer les différents traitements et étapes décrits ci-dessus. Dans l'exemple de réalisation décrit ci-dessus, le ou les condensateurs 2 à contrôler sont montés en sortie du convertisseur 3. Bien entendu, l'objet de l'invention peut être mis en oeuvre pour détecter l'état de défaillance d'un ou des condensateurs placés en entrée d'un convertisseur. Selon cet exemple d'application, l'ondulation AV0 prise en compte aux bornes du condensateur, est l'ondulation de la tension d'entrée. Les paramètres à mesurer dans ce cas, sont la tension de sortie Vs et le courant d'entrée 1e I1 peut ainsi être déterminé une appellation commune pour les différentes applications, en considérant que le couple de valeurs tension d'entrée Ve - courant de sortie 's et courant d'entrée Te - tension de sortie Vs sont des signaux dits d'extrémités. Ainsi, le dispositif 1 selon l'invention comporte des moyens de mesure, d'acquisition et de traitement pour des signaux d'extrémités, à savoir soit une tension d'entrée Ve et un courant de sortie Vs, soit un courant d'entrée Ie et une tension de sortie Vs Par ailleurs, dans l'exemple préféré décrit ci-dessus, le condensateur à contrôler équipe un convertisseur statique d'énergie électrique. I1 est clair que l'objet de l'invention s'applique au contrôle de l'état de défaillance d'un condensateur monté à l'intérieur de tous types de circuits électriques 3. Dans le même sens, il peut être envisagé de tester un condensateur en le montant dans un circuit électrique de contôle 3 adapté pour déterminer son état de vieillissement. L'invention n'est pas limitée aux exemples décrits et représentés, car diverses modifications peuvent y être apportées sans sortir de son cadre. REVENDICATIONS: 1 - Procédé pour détecter l'état de vieillissement d'un condensateur (2) destiné à être monté dans un circuit électrique (3) présentant une température (Te) extérieure au condensateur et des signaux d'extrémités, à savoir une tension d'entrée (Ve) et un courant de sortie (ils) ou un courant d'entrée (ive) et une tension de sortie (Vs) caractérisé en ce qu'il consiste - dans une phase d'acquisition expérimentale: . à déterminer une loi de vieillissement du condensateur donnant la variation de la résistance équivalente série ESR du condensateur en fonction du temps, pour des valeurs données de la température extérieure (Te), à à mesurer les signaux d'extrémités (Ve, Ie-Vs), la température extérieure (Te) et l'ondulation (#V0) aux bornes du condensateur, pour une variation dans le temps et dans une plage donnée, de la température extérieure (Te) et des signaux d'extrémités (Ve-Is, Ie-Vs), . à filtrer l'ondulation (#V0), afin de déterminer la composante (#Vof) de l'ondulation aux bornes du condensateur, à à définir une première relation de référence donnant la variation de la composante (AVof) de l'ondulation en fonction de la température extérieure (Te), pour des valeurs données des signaux d'extrémités (Ve-Is, Ie Vs), - dans une phase de test; à à mesurer les signaux d'extrémités (Vet-Ist, Iet-Vst), la température extérieure (Te) et l'ondulation (#V0t) aux bornes du condensateur, à à filtrer l'ondulation de test (#V0t), afin de déterminer la composante de test (#V0ft) de l'ondulation, . et à partir de la composante de test de l'ondulation à la température extérieure de test (Te) pour les valeurs de test des signaux d'extrémités (Ve Ist, Iet-Vst), à déduire à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, l'état de défaillance du condensateur. 2 - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il consiste à tenir compte d'un coefficient (F) de fonctionnement limite du condensateur, pour permettre, à l'aide de la première relation de référence et de la loi de vieillissement, de prédire le moment de défaillance du condensateur. 3 - Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'il consiste pour déterminer la défaillance du condensateur - à comparer pour les valeurs de test des signaux d'extrémités (Ve-Itss Ie-Vs) la valeur (AVoft) de la composante de test de l'ondulation avec la première relation de référence, - et à déduire une défaillance du condensateur si la valeur de la composante (#Voft) de test de l'ondulation s'écarte d'un seuil donné par rapport à la valeur de la relation de référence. 4 - Procédé selon la revendication 3, caractérisé en ce qu'il consiste pour déterminer la défaillance du condensateur - à déterminer, à partir des valeurs de test de la composante de l'ondulation (#Voft) en fonction de la température extérieure (Tet) pour les valeurs de test des signaux d'extrémités (VetIst, IetVs)t et avec la première relation de référence la valeur théorique (T:) de la température extérieure correspondant à un condensateur non défaillant pour la valeur de test de la composante (#Voft) de l'ondulation, la valeur initiale (#Vof ) de la composante de l'ondulation correspondant à un condensateur non défaillant pour la valeur de test de la température extérieure (Tet), la valeur limite (aVofl) de la composante de l'ondulation, à partir du coefficient de fonctionnement limite (F), la valeur de la température limite (Tel) correspondant à la valeur limite (AVofl) de la composante de l'ondulation, - et à déterminer, à partir des valeurs de température limite (Te) de test (Tet) et théorique (Te) et de la loi de vieillissement, les valeurs correspondantes (ESR1, ESRt, ESRs) de la résistance équivalente série, afin d'en déduire le temps restant jusqu'au moment où le condensateur est considéré défaillant. 5 - Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce qu'il consiste, lorsque la température extérieure (Te) est différente de la température (Tc) du boîtier du condensateur - dans la phase de référence : à à mesurer également la température (Tc) du boîtier du condensateur, pour la variation dans le temps et dans la plage donnée, de la température extérieure (Te) des signaux d'extrémités (Ve-Itss Ie-Vs), . à définir une deuxième relation de référence donnant la variation de température du boîtier (Tc) en fonction de la température extérieure (Te) pour des valeurs données des signaux d'extrémités (Ve-Is, Ie-Vs), - et dans la phase expérimentale: . à déduire, à partir des valeurs de température extérieure de test (Tet, limite (Tb et théorique (Tes), et de la deuxième relation de référence, les valeurs correspondantes de température du boîtier (Tc, Tl, T, . et à déterminer, à partir des valeurs de température de boîtier, respectivement limite (Te) de test (Tct) et théorique (toc) et de la loi de vieillissement, les valeurs correspondantes (ESR1, ESRt, EsRs) de la résistance équivalente série, afin d'en déduire le temps restant jusqu'au moment où le condensateur est considéré défaillant. 6 - Dispositif pour détecter l'état de vieillissement d'un condensateur monté dans un circuit électrique (3) présentant une température extérieure (Te) au condensateur et des signaux d'extrémités, à savoir une tension d'entrée (Ve) et un courant de sortie (ils) ou un courant d'entrée (ive) et une tension de sortie (vus) caractérisé en ce qu'il comprend: - des capteurs (6, 7) de mesure des signaux d'extrémités (Ve-Is, IeVs) du circuit (3), - un capteur (8) de mesure de la température (Te) extérieure du boîtier du condensateur, - des moyens (5) d'acquisition et de traitement de l'ondulation (#V0) de la tension aux bornes du condensateur, afin de déterminer la composante (AVtof) de l'ondulation aux bornes du condensateur, - des moyens assurant une variation dans le temps et dans une plage donnée, de la température extérieure (Te) et des signaux d'extrémités (Ve-Is, Ie-Vs), - des moyens d'acquisition des mesures de la température extérieure et des signaux d'extrémités, lors d'une phase d'acquisition expérimentale (Te, Ve-Is, Ie-Vs) OU de test (Tet, Ve Ie-V ), - des moyens de traitement adaptés pour établir une première relation de référence donnant, dans une phase d'acquisition expérimentale, la variation de la composante (AVof) de l'ondulation en fonction de la température extérieure pour des valeurs données des signaux d'extrémités (Ve-Is, IeV,), pour déterminer l'état de défaillance du condensateur, à l'aide de la première relation de référence et d'une loi de vieillissement du condensateur, et à partir des valeurs de test de la température extérieure (Te) des signaux d'extrémités (Ve-I, Ie-V ) et de la composante de test (AVt0f) de l'ondulation de sortie. 7 - Dispositif selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'il comprend - un capteur (9) de mesure de la température (Tc, Tc) du boîtier du condensateur, - des moyens d'acquisition des mesures de la température (Tc, Te)t du boîtier, lors des phases expérimentale d'acquisition ou de test, - des moyens de traitement adaptés pour établir une seconde relation de référence, donnant pour une phase de référence, la variation de la température (Te) du boîtier en fonction de la température extérieure (Te), pour des valeurs données des signaux d'extrémités, pour déterminer l'état de défaillance du condensateur, à l'aide des première et seconde relations de référence et de la loi de vieillissement, et à partir des valeurs de test (Te) de la température du boîtier, des signaux d'extrémités et de la composante de l'ondulation. 8 - Dispositif selon la revendication 6, caractérisé en ce que les moyens d'acquisition et de traitement de l'ondulation de la tension aux bornes du condensateur comportent, pour un condensateur équipant un circuit électrique (3) constitué par un convertisseur statique d'énergie, un filtre passe-haut suivi d'un filtre passe-bande dont la fréquence centrale est centrée sur la fréquence de découpage du convertisseur statique, le filtre passe-bande étant relié en sortie à un étage de redressement du signal filtré. 9 - Dispositif selon la revendication 8, caractérisé en ce que le filtre passebande possède une fréquence centrale asservie à la fréquence de découpage du convertisseur statique.