FR 2735864 A1 19961227 FR 9507741 A 19950622 La présente invention concerne un procédé de caractérisation en polarisation d'un composant optique passif. Cette caractérisation consiste à déterminer les opérateurs mathématiques associés au composant à caractériser, et plus précisément à déterminer les matrices de transfert qui permettent d'interpréter les interactions entre le composant et les rayonnements polarisés qui s'y propagent. Les matrices de transfert les plus utilisées pour décrire les interactions rayonnement-matière sont, d'une part, la matrice de transfert de Mueller pour une lumière naturelle ou partiellement polarisée et, d'autre part, la matrice de Jones pour une lumière totalement polarisée. Ces matrices décrivent principalement l'évolution de la polarisation de la lumière à travers le composant à caractériser. En plus des applications classiques de ces matrices, telles que la description de l'évolution des états de polarisation et la représentation des propriétés physiques des composants à caractériser, plusieurs applications ont été envisagées en particulier pour la mesure de paramètres physiques tels la sensibilité à la polarisation et la dispersion de polarisation. Ces derniers paramètres physiques caractérisent la qualité des composants optiques et ses conséquences sur les performances des systèmes de transmission à haut débit. En ce qui concerne la mesure de la matrice de Mueller associée à un composant optique passif, les méthodes généralement utilisées sont fondées sur l'introduction d'un changement de phase entre les composantes orthogonales du champ polarisé en utilisant des modulateurs photoélastiques ou de pockels. La méthode qui est la plus couramment utilisée pour déterminer la matrice de transfert d'un composant est la méthode polarimètrique proposée en 1947 par R. C. Jones dans un article paru dans J. Opt. Soc. Amer., 37 pages 110-112. Elle permet de déterminer la matrice de Jones associée à un composant optique passif non polarisant et est fondée sur la mesure d'états de polarisation à la sortie du composant à caractériser pour trois états de polarisation linéaires envoyés à son entrée. Le principe simple de cette méthode a permis le développement d'appareils de mesure de caractéristiques optiques de composants, notamment celui qui est décrit dans le document de brevet EP-A-536 538. Ces appareils ont également été développés pour mesurer simultanément la matrice de Jones, la dépendance des pertes à la polarisation (PDL) et la dispersion de polarisation (PMD) des composants optiques. Sur ce sujet, on peut se reporter notamment au document de brevet US-A-5 371 597. La méthode polarimétrique proposée par Jones et citée ci-dessus donne la matrice de Jones sous la forme normalisée suivante: On peut constater que cette matrice est déterminée à une constante a complexe multiplicative près. Cette forme de matrice est assez bien adaptée pour déduire l'état de polarisation à la sortie d'un composant pour un état de polarisation connu à son entrée, ou pour mesurer, en utilisant les valeurs propres de la matrice, les pertes à la polarisation PDL ou la dispersion de polarisation PMD. Néanmoins, on peut constater que lorsque Z4= O, la matrice de Jones est indéterminée. Il en résulte, dans des cas particuliers où le coefficient Z4 tend vers zéro, par exemple pour une lame demi-onde orientée de 45 , des imprécisions de mesure.Pour l'exemple d'une lame demi-onde orientée de 45 , la matrice de Jones par rapport à une référence est donnée par: 0 i J=## i 0 La mesure de la matrice de Jones au moyen de l'appareil décrit dans le document de brevet mentionné ci-dessus EP-A-536 538 pour cette lame a donné le résultat suivant:: 0,02(cos 161,2 + i sin 161,2) cos 14,6 - i sin 14,6 J=a cos 133,7 + i sin 133,7 0,05(cos 145,1 + i sin 145,1 On note tout d'abord que l'appareil en question ne conserve pas la forme de la matrice donnée par la méthode de Jones, et qu'à partir de la matrice qu'il donne, il n'est pas possible de déduire qu'il s'agit bien d'une lame demi-onde orientée de 45 degrés. Un autre inconvénient lié à la détermination de la matrice de Jones par la méthode polarimétrique, est que celle-ci ne donne ni les caractéristiques exactes du composant, ni celles d'un système optiquement équivalent. Par exemple, si on considère un système optique passif non polarisant qui contient un ensemble de lames retardatrices et de rotateurs, on peut définir un système optiquement équivalent qui est la simple combinaison d'une unique lame retardatrice et d'un unique rotateur. Ainsi, la caractérisation de ce système passe par la détermination de l'angle de ce rotateur, du déphasage introduit par la lame ainsi que de l'orientation de ses axes principaux. Mais la matrice de Jones donnée par la méthode polarimétrique ne permet de déduire ni l'angle du rotateur, ni le déphasage et ni l'orientation des axes principaux de la lame retardatrice.Par suite, en utilisant la matrice de Jones sous cette forme, il n'est pas possible de vérifier expérimentalement les lois d'association des composants. Cette méthode ne permet pas non plus de déterminer la matrice de Mueller associée au composant. Le but de l'invention est donc de proposer une méthode de caractérisation d'un composant optique passif non polarisant qui soit simple de mise en oeuvre comparée aux méthodes exposées ci-dessus et qui permettent de déterminer les matrices de transfert associées au composant à caractériser. Un autre but de l'invention est de déterminer les caractéristiques du système optique équivalent au composant à caractériser qui est la combinaison d'une lame retardatrice et d'un rotateur, ce qui conduit à la détermination simultanée des matrices exactes de Jones et de Mueller associées au composant. A cet effet, un procédé de caractérisation en polarisation d'un composant optique passif non-polarisant selon l'invention est caractérisé en ce qu'il consiste à soumettre l'entrée dudit composant à caractériser à deux faisceaux incidents de lumière de polarisations linéaires et d'orientations non orthogonales entre elles et à déduire des états de polarisation des faisceaux respectivement résultants en sortie dudit composant, les caractéristiques en polarisation dudit composant. Comme on le verra dans la suite de la description, le procédé de caractérisation en polarisation selon l'invention est basé sur les constations suivantes. D'une part, si on envoie à l'entrée d'un composant optique non polarisant un ensemble d'états de polarisation représenté sur la sphère de Poincaré par un grand cercle, on obtient à la sortie du composant un ensemble d'états de polarisation représenté sur la même sphère par un autre grand cercle. Ceci reste vrai aussi pour les arcs des grands cercles, et de plus les deux arcs obtenus ont les mêmes longueurs. D'autre part, par deux points non diamétralement opposés sur la sphère de Poincaré, il passe un grand cercle et un seul. Un grand cercle sur la sphère de Poincaré peut donc être totalement défini par seulement deux points non diamétralement opposés qui lui appartiennent. Il s'ensuit que si on envoie à l'entrée d'un composant optique non polarisant deux états de polarisation d'orientations non orthogonales représentés sur la sphère de Poincaré par deux points, ces deux points appartiennent à un grand cercle et délimitent ainsi deux arcs de ce grand cercle. A la sortie du composant, on obtient deux états de polarisation représentés sur la même sphère par deux autres points qui appartiennent à un autre grand cercle et qui délimitent également deux arcs sur ce dernier de même longueur que ceux obtenus à partir des points représentatifs des états de polarisation à l'entrée. Pour une référence donnée l'ensemble des états de polarisation le plus aisément réalisable est l'ensemble des états de polarisation linéaires, représenté par l'équateur sur la sphère de Poincaré. Pour le définir, on fixe deux états de polarisation linéaires d'orientations non orthogonales. I1 est donc plus commode d'envoyer à l'entrée du composant l'ensemble des états de polarisation linéaires que l'on peut définir par seulement deux états de polarisation linéaires d'orientations non orthogonales. A la sortie, on acquière un ensemble d'états de polarisation représenté sur la sphère de Poincaré par un grand cercle, ce dernier étant totalement défini par les deux états de polarisation obtenus à la sortie. Selon le procédé de l'invention, il également possible de déduire des états de polarisation des faisceaux respectivement résultants en sortie dudit composant, les caractéristiques en polarisation d'un système optiquement équivalent constitué d'une lame retardatrice et d'un rotateur, lesdites caractéristiques consistant, d'une part, en l'orientation et la phase de ladite lame retardatrice et, d'autre part, à l'angle de rotation dudit rotateur. Le procédé de caractérisation en polarisation selon l'invention permet également de déduire des caractéristiques dudit système optiquement équivalent la matrice de Mueller de transfert dudit composant à caractériser ainsi que sa matrice de Jones. Le procédé de caractérisation en polarisation selon l'invention permet encore de déduire des états de polarisation des faisceaux respectivement résultants de deux faisceaux d'états de polarisation linéaires non-orthogonaux, la matrice de transfert en polarisation dudit composant. Cette matrice est soit la matrice de Mueller soit la matrice de Jones. Les caractéristiques de l'invention mentionnées ci-dessus, ainsi que d'autres, apparaîtront plus clairement à la lecture de la description suivante d'un exemple de réalisation, ladite description étant faite en relation avec les dessins joints, parmi lesquels: la Fig. 1 est un schéma synoptique d'un appareil adapté pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention, la Fig. 2 est une représentation d'un état de polarisation elliptique, la Fig. 3 est la représentation d'une sphère de Poincaré montrant les conventions utilisées dans la présente description, et la Fig. 4 est une vue d'une sphère de Poincaré avec les éléments nécessaires à la démonstration faite dans le présente description. L'appareil pour la mise en oeuvre du procédé de l'invention représenté à la Fig. 1 est essentiellement constitué d'une source de lumière 10, telle qu'une source laser, dont le faisceau est dirigé sur un ensemble 20 constitué d'un premier polariseur 21, d'une lame quart d'onde 22 orientée à 450 par rapport à l'axe de premier polariseur 21, et d'un second polariseur 23 monté en sérine. La combinaison du premier polariseur 21 avec la lame quart d'onde 22 permet d'obtenir un état de polarisation circulaire à l'entrée du deuxième polariseur 23. Ce dernier est alors utilisé pour délivrer sur sa sortie un état de polarisation linéaire avec l'orientation souhaitée par rapport à un repère lié au composant à caractériser et avec une puissance optique pratiquement constante quelle que soit cette orientation. Le faisceau de lumière polarisée à la sortie du second polariseur 23 est fourni sur la face d'entrée du composant à caractériser 30, lequel délivre par sa face de sortie un faisceau qui est envoyé à un polarimètre 40. Ce dernier est relié à un calculateur 50. L'angle d'orientation de l'état de polarisation linéaire à la sortie du second polariseur 23 est fourni, par des moyens appropriés (non représentés), au calculateur 50. De même, le polarimètre 40 délivre au calculateur 50 l'orientation et l'ellipticité de l'état de polarisation délivré par le composant à caractériser 30. Comme il sera expliqué ci-dessous, le calculateur 50 peut déduire de ces paramètres la matrice de Mueller ainsi que la matrice de Jones associées au composant à caractériser 30. Le procédé de l'invention consiste à soumettre l'entrée du composant à caractériser à deux faisceaux incidents de lumière de polarisations linéaires L(C1/2) et L(1l'/2) d'orientations Cu2 et Lu'/2 non orthogonales entre elles puis à analyser les états de polarisation E(T/2, e/2) et E(t'/2, g'/2) des faisceaux de lumière respectivement résultant pour en déduire les caractéristiques en polarisation dudit composant. En réponse aux deux faisceaux de lumière qui sont envoyés à l'entrée du composant à caractériser 30 et qui ont les deux états de polarisation linéaires non orthogonaux définis par les angles d'orientation S2 et '/2 par rapport à une référence quelconque liée au composant 30, le composant 30 délivre respectivement deux orthogonaux définis par les angles d'orientation /2 et /2 par rapport à une référence quelconque liée au composant 30, le composant 30 délivre respectivement deux faisceaux dont les états de polarisation sont respectivement E(1/2, s/2) et E(1'/2, '/2) généralement elliptiques d'éllipticités tg(#/2) et tg(#'/2) et d'orientations 1/2 et T'/2. Le composant à caractériser est optiquement équivalent à la combinaison d'une lame retardatrice d'orientation ss et de phase (p, et d'un rotateur d'angle p. On introduit le paramètre #=ss-#. On a pu montrer que, dans le cas général, les caractéristiques en polarisation de ce système équivalent répondent aux relations suivantes: Ces trois relations montrent qu'il est suffisant, pour déterminer les caractéristiques de polarisation ainsi que la matrice de transfert d'un composant optique passif non polarisant, de connaître les états de polarisation à la sortie du composant pour seulement deux états de polarisation linéaires à l'entrée. Néanmoins, les relations sus-mentionnées et valables dans le cas général sont complexes. On a pu montrer que dans des cas particuliers d'orientation des deux états de polarisation à l'entrée, ces relations se simplifient et deviennent aisément exploitables. Dans un premier cas, on considère deux faisceaux incidents dont les orientations S2 et '/2 des états de polarisation linéaires L ( /2) et L ( '/2) font entre elles un angle de 45 ( /2 - > '/2 = 45 ). On obtient alors: Dans un second cas, L'angle ( - ')/2 entre les deux états de polarisation linéaires L(2), L( '/2) à l'entrée est également de 45 , et les orientations /2 et '2 de ces faisceaux par rapport à une référence liée au composant sont telles qu'un des deux faisceaux résultants présente un état de polarisation linéaire (par exemple: E(1'/2, #'/2) = L(1'/2)). On obtient alors, si on suppose ' = 0:: #=# (IIIA) 2ss=#' (IIIB) 2#= ' (IIIC) De la connaissance des angles #, ss et , on en déduit la matrice de Mueller M et la matrice de Jones J respectivement associées au composant: 1 0 0 0 0 0 cossscos# + sinsssin#cos# sinsscos# - cossssin#cos# sinsssin# (IVA M=# # 0 cossssin# - sinsscos#cos# cossscos#cos# + sinsssin# -cossssin# 0 -sinsssin# cossssin# cos# On va maintenant présenter une approche théorique de l'invention. Dans un repère de coordonnées cartésiennes OXYZ, les composantes du vecteur champ d'une lumière monochromatique de polarisation elliptique se propageant suivant la direction positive de l'axe OZ sont données par la relation suivante: x= Aexp(i#)expi(#t) - kz) (la) Y= Bexp(I#y)expi(#t) - kz) (lb) où les quantités A et B sont les amplitudes du champ électrique, sont les angles de phase, # est la pulsation angulaire du vecteur champ, t le paramètre temps, k la constante de propagation et i le nombre complexe imaginaire i2 = - 1. En éliminant le paramètre t, à partir des équations (la) et (lb) (en notation réelle) on obtient l'équation suivante :: X2 Y2 2XY + - cos# = sin2#, A2 B2 AB où 8 = x -#y. Cette équation représente une ellipse inscrite dans un rectangle de côtés 2A et 2B dans le plan OXY que l'on a représenté sur la Fig. 2. Sur cette Fig., les quantités 2a et 2b représentent respectivement le grand et le petit axe de l'ellipse. L'ellipticité est définie par la relation: tan # =b/a L'angle azimutal e d'inclinaison de l'ellipse par rapport à l'axe OX est donné par la relation: tan 2# = 2 cos# A-B Le vecteur du stokes S = (S0, S1, S2, S3) et les paramètres de stokes normalisés associés à ce vecteur champ sont donnés par les relations: = 1 S1 = cos2#cos2# S2 = cos2#sin2# S3 = sin2 On considère une sphère, dite sphère de Poincaré, d'équation suivante:: S12 + S22 + S32 = 5o2 = La sphère de Poincaré est une représentation géométrique du vecteur de stokes dans un système de coordonnées cartésiennes OX1X2X3' Chaque vecteur de Stockes qui représente l'état de polarisation d'une lumière est décrit sur la sphère de Poincaré (Fig. 3) par le point M de coordonnées S1' S" S2, S3 dans le système de coordonnées cartésiennes OX1X2X3. Chaque point M présente une longitude 20 et une latitude 2# dans un système de coordonnées sphériques. Sur la sphère de Poincaré représentée à la Fig. 3, les pôles P et P' représentent les deux états de polarisation circulaire. Le grand cercle équatorial représente quant à lui l'ensemble des états de polarisation linéaire. Dans la suite de la description, la direction positive des angles 2û et 2 est déterminée conformément à la convention du signe usuelle décrite par P. S. Hauge, R. H. Mueller et C. G. Smith dans un article intitulé "Conventions and formulas for using the Poincaré sphere" paru dans Surface Sci. 96, pp 81-107 (1980). Un état de polarisation linéaire d'orientation arbitraire e par rapport à l'axe OX sera noté L(û) représenté par un point H sur l'équateur. Un état de polarisation elliptique de longitude 20 et de latitude 2w sera noté E(D,) et sera représenté par un point M appartenant à la sphère de Poincaré. Dans un triangle sphérique quelconque par exemple le triangle AMH noté Tj, nous désignerons par ai, mi et hj les longueurs en radians des arcs HM, AH et MA qui sont équivalents aux mesures en radians des angles HOM, AO'H et MO'A, et nous désignerons par Ai, Mi et Hi les mesures en radians des angles A, M et H du triangle sphérique. Dans la suite de la description, on utilisera des arcs qui appartiennent à des grands cercles si bien que les triangles résultants sont sphériques. Sur la sphère de Poincaré de la Fig. 4, on a représenté, par deux points L et L' qui appartiennent au cercle équatorial C0, les deux états L(pi2) et L('/2) des faisceaux incidents qui ont été envoyés sur la face d'entrée du composant à caractériser. Les deux états de polarisation E(T/2, E/2) et E(T'/2, '/2) généralement elliptiques des deux faisceaux de lumière alors respectivement obtenus à la sortie du composant à caractériser sont représentés par les points E et E de coordonnées sphériques (#,#) et (T'/E'). Par les deux points E et E', il ne passe qu'un unique grand cercle noté ici Cl incliné par rapport à C0 d'un angle inconnu # et qui le coupe aux deux points M, M'. Cette constatation n'est vraie que si les deux points E et E' ne sont pas diamétralement opposés, ce qui suppose, comme on le verra par la suite, que les orientations R et ' des états de polarisation L(p/2) et L(1l'/2) des faisceaux incidents ne soient pas orthogonales. On notera que le cercle Cl représente l'ensemble des états de polarisation obtenus à la sortie du composant à caractériser pour l'ensemble des états de polarisation linéaire présents sur son entrée. On a l'expression suivante: AM=2ss et AM =2# dans laquelle AM, AN sont respectivement les mesures algébriques en radian des arcs AM et AM sur les grands cercles C0 et C, dans le sens conventionnel signalé précédemment, les points A et A' étant respectivement pris comme origines sur les grands cercles C0 et C,. Les points E et E' représentatifs des états de polarisation des faisceaux en sortie du composant sont les points images des points L et L' représentatifs des états de polarisation des faisceaux incidents. De même, le point A' est l'image du point A. On a pu montrer que la mesure en radian de l'arc L'L est égale à celle de l'arc EE'. De même, la mesure en radian de l'arc AL' est égale à celle de l'arc A'E'. On a donc: L'L=E'E= - ' AL' = A'E' = ' On notera que si les deux orientations /2 e t/2 des états de polarisation L(p/2) et L( '/2) étaient orthogonales, les points L et L' seraient diamétralement opposés ( + ' =+#) et il en serait ainsi des points E et E', ce qui, comme on l'a vu précédemment, n'est pas souhaitable. On va maintenant déterminer les quantités (p, ss et a en fonction des paramètres connus , ',#, C, E', T et T'. Sur la sphère de Poincaré de la Fig. 4, on considère les points suivants : D(T,E'), B(T,o) et F(T',O) définis par leurs coordonnées sphériques. On considère ensuite les triangles sphériques FBD noté ici T1, FDE' noté ici T2, E'DE noté ici T3 et MFE' noté ici T4. On applique à l'ensemble des triangles T, à T4 les relations fondamentales de la trigonométrie sphérique telle qu'elle est définie dans l'ouvrage de G. Papelier intitulé "Eléments de trigonométrie sphérique" aux éditions Vuibert, troisième édition, 1956, pages 33 à 34. Le triangle T, est un triangle sphérique rectangle en B. On a alors l'expression suivante: cos b1 = cos d1 cos f1 dans laquelle d1 = #-#' et f1 = #'. On en déduit b1 = cos [COS(T - T).COS s'] (A1) sin F1 sin #'/sin b1 (A2) En ce qui concerne le triangle T2, on a la relation suivante: cos 2 = cos g' cos b1 + sin g' sin b, cos F2, cos F2 = sin F1, et en utilisant les expressions Al et A2, on obtient: f2 = cos-1[cos2#'cos(#-#')+sin2#'] (A@) Toujours en ce qui concerne le triangle T2, on a la relation suiva lte:: cos E'2 sin #' sin f2= cos e'2 - cos g' cos f2 sachant que e2'=b1' et en utilisant les expressions (Al), (A3) on obtient: En ce qui concerne le triangle T3, on a la relation suivante: cos e'3 = cos e3 cosd3 + sine3 sind3 cosE'3 sachant que d3 = - ', e'3 =#-#' et e3 =4 et en utilisant la relation (A3) on obtient: En ce qui concerne le triangle T4. on cherche le paramètre (p = M4.On a la relation suivante: cos M4=cos m4sin E'4 On a de plus E'4= n - (E'3 + E'2) et m4 = #' d'où (p = cos-1 [cos #' sin(E'2 + E'3)] En utilisant les expressions (A4) et (AS), on obtient le paramètre # exprimé seulement en fonction des quantités connues , ', C, #', T et T': Le paramètre 2ss est défini par: 2ss = AF - MF = T' Au triangle T4 rectangle en F, on a la relation suivante: cos e'4 sin (p = cos E'4 En utilisant les expressions (A4), (A5) et (1A), on obtient le paramètre 2ss exprimé en fonction des quantités connues, soit:: Le paramètre a est défini par: 2s = A'E - ME' = '- f4 Au triangle T on a la relation suivante: sin #'=sin # sinf4 En utilisant l'expression (1A), on obtient le paramètre 2a exprimé en fonction des quantités connues , ', #, #', # et #', soit: Un premier exemple de caractérisation est donné ci-dessous. II concerne la caractérisation d'une lame demi-onde orientée de 45 par rapport à la référence. Pour ce cas particulier de composant un état de polarisation linéaire à l'entrée donne un état de polarisation linéaire à la sortie. On a obtenu pour une orientation arbitraire 2T = ', 2ss = T' = 180 - 2T et # = 1800. En utilisant l'expression (IVA-B) on trouve: 0 0 1 0 0 i M=# # J= # # 0 0 0 -1 Dans le cas où on choisi 1l' = 90 on trouve pour cette lame T = ss=45 et # = 1800. On déduit de ces résultats que la lame demi-onde orientée de 45 est optiquement équivalente à la combinaison d'une lame demi-onde orientée de 45 + x/2 et d'un rotateur d'angle T. On peut montrer que dans le cas général une lame demi-onde orientée d'un angle ss par rapport à une référence fixe est optiquement équivalente à la combinaison d'un rotateur d'angle T et d'une lame demi-onde orientée de (ss + T/2). Un second exemple de caractérisation est maintenant donné pour montrer les résultats différents respectivement obtenus par la méthode classique dite polarimétrique et par le procédé de l'invention. On a utilisé à cet effet un coupleur 2x2. Pour ce composant, on a obtenu, par la méthode polarimétrique, la matrice de Jones suivante: 0,87 + 10,49 0,19+10,40 J=#alpha;# =0.48 + i0.07 1 Par la méthode selon l'invention, on a mesuré (p =35 , 2ss=73 et 2a =220. On a déduit de cette mesure que le coupleur utilisé est équivalent à une lame retardatrice dont l'orientation est de 36,5 par rapport à un repère lié au composant lui-même et dont la phase est de 35 , ladite lame étant associée à un rotateur d'angle p=36,5 -11 =25,5 On en a déduit également la matrice de Mueller M et la matrice de Jones J associées à ce composant: 1 0 0 i 0 0,8813 0,4574 0,3411 M= 0 -0,3250 0,7598 -0,4610 0 -0,3411 0,4610 0,8191 J = 0,8608 + i0,2031 0,4105 + i0.2217 -0,4105 + i0,2217 0,8608 - i0,2031 REVENDICATIONS 1) Procédé de caractérisation en polarisation d'un composant optique passif non-polarisant, caractérisé en ce qu'il consiste à soumettre l'entrée dudit composant à caractériser à deux faisceaux incidents de lumière de polarisation linéaire et d'orientations non orthogonales entre elles et à déduire des états de polarisation des faisceaux respectivement résultants en sortie dudit composant, les caractéristiques en polarisation dudit composant. 2) Procédé de caractérisation en polarisation d'un composant optique passif non-polarisant, caractérisé en ce qu'il consiste à soumettre l'entrée dudit composant à caractériser à deux faisceaux incidents de lumière de polarisation linéaire et d'orientations non orthogonales entre elles et à déduire des états de polarisation des faisceaux respectivement résultants en sortie dudit composant, les caractéristiques en polarisation d'un système optiquement équivalent constitué d'une lame retardatrice et d'un rotateur, lesdites caractéristiques consistant, d'une part, en l'orientation et la phase de ladite lame retardatrice et, d'autre part, à l'angle de rotation dudit rotateur. 3) Procédé de caractérisation en polarisation selon la revendication 2, caractérisé en ce que les deux faisceaux incidents sont orientés par rapport à une référence d'angles respectivement égaux à Cr et cor', les faisceaux résultants ayant alors des orientations et des ellipticités respectivement égales x, s; ', E', et en ce que les caractéristiques dudit système optiquement équivalent sont données par les relations suivantes: où ss est l'orientation de la lame retardatrice du système optique équivalent et (p sa phase, T étant égal à P - p où p est l'angle donné par le rotateur du système équivalent. 4) Procédé de caractérisation en polarisation selon la revendication 3, caractérisé en ce que l'angle entre les deux états de polarisation linéaires desdits faisceaux incidents est de 45 , en ce que les caractéristiques dudit système optiquement équivalent sont données par les relations suivantes: 5) Procédé de caractérisation en polarisation selon la revendication 4, caractérisé en ce que les états de polarisation des deux faisceaux incidents sont orientés de manière que l'un des états de polarisation des faisceaux résultants soit linéaire et en ce que les caractéristiques dudit système optiquement équivalent sont données par les relations suivantes, pour # = =0:: (p=8 (mA) 2ss=#' (IIIB) 2a = ' (IIIC) 6) Procédé de caractérisation en polarisation selon une des revendications 2 à 5, caractérisé en ce qu'il consiste à déduire des caractéristiques dudit système optiquement équivalent la matrice de Mueller de transfert dudit composant à caractériser, celle-ci étant de la forme suivante:: o o o M=| 0 cossscos# + sinss sin# cos# sinsscos# - cossssin# cos# sinsssin# | (IVA ~ 0 cos'3 sinua - sin ss casa cos# cas cosa costp + sin P sina -cossssin# 0 -sinsssin# cossssin# cos# 7) Procédé de caractérisation en polarisation selon une des revendications 2 à 5, caractérisé en ce qu'il consiste à déduire des caractéristiques dudit système optiquement équivalent la matrice de Jones de transfert dudit composant à caractériser, celle étant de la forme suivante:: 8) Procédé de caractérisation en polarisation d'un composant optique passif non-polarisant, caractérisé en ce qu'il consiste à soumettre l'entrée dudit composant à caractériser à deux faisceaux incidents de polarisations linéaires et d'orientations non orthogonales entre elles et à déduire des états de polarisation des faisceaux respectivement résultants, la matrice de transfert en polarisation dudit composant. 9) Procédé de caractérisation en polarisation selon la revendication 8, caractérisé en ce que ladite matrice de transfert est une matrice de Mueller. 10) Procédé de caractérisation en polarisation selon la revendication 8, caractérisé en ce que ladite matrice de transfert est une matrice de Jones. 11) Procédé de caractérisation en polarisation selon une des revendications précédentes, caractérisé en ce que pour obtenir les faisceaux incidents linéaires, on utilise une source de lumière, un premier polariseur, une lame quart-d'onde orientée de 45 par rapport à la direction de polarisation dudit premier polariseur et un deuxième polariseur déterminant l'angle d'orientation de chaque faisceau de polarisation linéaire appliqué audit composant à caractériser.