FR 2713346 A1 19950609 FR 9314377 A 19931201 PERFECTIONNEMENT AUX OSCILLATEURS NUCLEAIRES COMPORTANT UNE BOUCLE A VERROUILLAGE DE PHASE NUMéRIQUE La présente invention concerne un oscillateur dont la fréquence d'oscillation est proportionnelle à l'intensité du champ magnétique ambiant, utilisé en vue de la mesure de ce champ magnétique, et comprenant une sonde à résonance magnétique nucléaire dont la sortie de détection est ramenée sur l'entrée d'excitation par l'intermédiaire d'une boucle à verrouillage de phase numérique. Plus particulièrement, la présente invention concerne un oscillateur nucléaire à verrouillage de phase numérique du type décrit dans la demande de brevet européen 326 474, et vise un perfectionnement de cet oscillateur. On rappellera en relation avec la figure 1 la structure et le fonctionnement d'un tel oscillateur, la figure 1 étant conforme à la figure 4 de la demande de brevet précitée. L'oscillateur 1 représenté en figure 1 comprend une sonde à résonance magnétique nucléaire 2 ou sonde RMN, comprenant une entrée d'excitation VHF, une entrée d'excitation basse fréquence, et une sortie de détection de résonance. La sortie de détection est appliquée à l'entrée d'un amplificateur 3 qui attaque une boucle à verrouillage de phase numérique 4. La boucle à verrouillage de phase 4 délivre un signal numérique qui est envoyé sur l'entrée d'excitation basse fréquence de la sonde par l'intermédiaire d'un convertisseur numérique-analogique 5. La sonde RMN, représentée schématiquement par le bloc 2, est un dispositif utilisant des échantillons liquides contenus dans des flacons, ces flacons étant emprisonnés dans des bobinages reliés électriquement à l'entrée d'excitation basse fréquence ainsi qu'à la sortie de détection de la sonde RMN. L'ensemble est contenu dans une cavité résonante polarisée en permanence par un signal radioélectrique VHF. Lorsque la fréquence f du signal appliqué aux bobinages par l'intermédiaire de l'entrée d'excitation basse fréquence est au voisinage de la fréquence fO de précession des spins nucléaires des échantillons liquides, ou fréquence de Larmor, la sonde RMN est dans l'état de résonance magnétique nucléaire et réémet sur sa sortie le signal reçu en entrée, avec un déphasage P. Comme illustré par la figure 2, ce déphasage P entre le signal de sortie et le signal d'excitation dépend de l'écart f - fO entre la fréquence d'excitation f et la fréquence de Larmor fO. P est égal à O quand f = fO, et croît en valeurs positives ou négatives lorsque f s'écarte de fO. L'avantage de l'oscillateur 1 est que la boucle à verrouillage de phase 4 maintient à O le déphasage P entre l'entrée et la sortie de la sonde RMN, de sorte que la fréquence d'oscillation du système reste calée sur la fréquence de Larmor fO. La boucle à verrouillage de phase 4 comprend en entrée un comparateur de phase, formé par un convertisseur numériqueanalogique 40 dont l'entrée de tension de référence reçoit le signal de sortie amplifié de la sonde RMN. A la sortie du convertisseur 40 sont disposés, en série, un filtre passe-bas 41, un réseau correcteur 42 assurant une fonction d'intégrateur, un oscillateur contrôlé en tension (VCO) 43 délivrant des créneaux de tension, un compteur 44 de capacité N, pour le comptage des créneaux de tension, dont les sorties numériques de comptage sont appliquées conjointement sur les entrées d'adresse de deux mémoires 45,47 de type ROM (accessibles en lecture uniquement), contenant les valeurs de deux fonctions sinusoïdales échantillonnées décalées de 909. La mémoire 45 contient par exemple les N valeurs aOcos(2ti/N) d'une fonction cosinus échantillonnée d'amplitude aO, et la mémoire 47 les N valeurs b0sin(2 i/N) d'une fonction sinus échantillonnée d'amplitude bO. La sortie de la mémoire 45 est appliquée à l'entrée numérique du comparateur de phase 40 par l'intermédiaire d'une première bascule tampon 46 synchronisée par le VCO, et la sortie de la mémoire 47 est appliquée à l'entrée numérique du convertisseur numériqueanalogique 5 par l'intermédiaire d'une deuxième bascule tampon 48 également synchronisée par le VCO. L'entrée de tension de référence du convertisseur 5 reçoit une tension Vref qui fixe l'amplitude du signal d'excitation de la sonde. Un fréquencemètre 8 relié en entrée à la sortie de poids fort du compteur 44, permet de mesurer la fréquence d'oscillation du système. L'oscillateur 1 comprend en outre un circuit 6 de détection de l'amplitude du signal délivré par la sonde, qui reçoit la sortie de l'amplificateur 3 et attaque un circuit 7 d'initialisation de la boucle à verrouillage de phase. A la mise sous tension, le circuit d'initialisation 7 injecte dans la boucle une tension continue qui crée une rampe de tension à la sortie du réseau correcteur 42 et un balayage en fréquence à la sortie du VCO. Ce balayage est désactivé par le circuit de détection 6 lorsque le signal reçu de la sonde est à un niveau suffisant, ce qui signifie que la fréquence de Larmor fO est atteinte. Lorsque l'oscillateur est "accroché", il reste calé sur fO, P étant maintenu à 0 par la boucle à verrouillage de phase. La fréquence de Larmor étant fonction du champ magnétique ambiant, la mesure de la fréquence d'oscillation du système au moyen du fréquencemètre 8 permet de connaître la valeur du champ magnétique. Cet oscillateur nucléaire à verrouillage de la phase entre la sortie et l'entrée de la sonde RMN apporte pleine satisfaction à la demanderesse, et présente l'avantage d'offrir une grande qualité de mesure due à une bonne stabilité du point de fonctionnement, et d'éviter toute oscillation parasite à la fréquence propre des bobines. Un but général que cherche à atteindre la présente invention est d'optimiser le fonctionnement de l'oscillateur, d'une part, afin de répondre à des besoins d'expérimentations portant sur la sonde RMN ou sur l'oscillateur lui-même, et, d'autre part, afin d'améliorer les performances de l'oscillateur dans certaines conditions d'utilisation. On donnera ci-après quelques exemples. Expérimentations sur la sonde RMN ou sur l'oscillateur Après fabrication, on effectue sur les sondes RMN des tests de caractérisation de performances servant notamment à détecter d'éventuelles anomalies de fonctionnement. Ces tests consistent à faire varier l'amplitude du signal d'excitation ou le décalage de phase P entre le signal d'excitation et le signal de sortie, et à observer le comportement de la sonde. Pour cela, on fait appel à un outillage électronique spécifique nécessitant l'intervention manuelle d'un opérateur. La demanderesse propose de simplifier ces opérations en les réalisant au moyen de l'oscillateur à verrouillage de phase, et à cette occasion, tester aussi le comportement de l'oscillateur en faisant varier sa bande passante. Néanmoins, l'oscillateur décrit précédemment est un système dont les caractéristiques de fonctionnement sont figées et prédéterminées, qui ne se prête pas facilement à de telles opérations. Par exemple, il est habituel de faire varier l'amplitude du signal d'excitation en ajoutant à la sortie du convertisseur 5 un pont diviseur de tension que l'on règle manuellement, mais cette solution est peu pratique. Un premier objectif de la présente invention est donc de prévoir un moyen simple permettant de faire varier divers paramètres de l'oscillateur, sans pour autant modifier les réglages préétablis qui définissent les performances du dispositif. Amélioration du fonctionnement de l'oscillateur En premier lieu, la demanderesse a remarqué que l'amplitude optimale du signal d'excitation de la sonde RMN (donnant la meilleure sensibilité à la sortie de la sonde) dépend de la température ambiante. On envisage donc de faire varier l'amplitude du signal d'excitation en cours de fonctionnement, en fonction de la température, pour améliorer la sensibilité de la sonde et le rapport signal/bruit. Pour cela, on recherche également un moyen simple permettant de moduler l'amplitude du signal d'excitation. D'autre part, la demanderesse à constaté que des problèmes de fonctionnement apparaissent en présence de rayonnements électromagnétiques de fréquences comprises dans la bande de fonctionnement de l'oscillateur (de 1000 à 3000 Hz pour la mesure du champ magnétique terrestre). Ces rayonnement parasites sont en effet captés par la sonde RMN, de sorte que l'oscillateur s'asservit parfois sur la fréquence de l'un de ces rayonnements au lieu de se caler sur la fréquence de Larmor. On peut bien sûr pallier cet inconvénient en prévoyant un blindage de l'oscillateur, mais c'est une solution lourde et coûteuse. Un procédé plus avantageux envisagé par la demanderesse, consisterait à désactiver la boucle à verrouillage de phase lors de la période d'initialisation si la fréquence d'accrochage n'est pas la fréquence de Larmor, et à continuer le balayage en fréquence jusqu'à l'obtention de la fréquence de Larmor. Un autre objectif de la présente invention est de permettre la réalisation de ce procédé. Pour atteindre ces objectifs, la présente invention prévoit un procédé pour optimiser le fonctionnement d'un oscillateur de mesure de l'intensité du champ magnétique ambiant, l'oscillateur comprenant une sonde RMN fournissant un signal de sortie appliqué à une boucle à verrouillage de phase numérique générant sous forme numérique les valeurs d'une première fonction sinusoïdale échantillonnée de boucle, et les valeurs d'une deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée délivrée à des moyens de création d'un signal d'excitation de la sonde, lesdites fonctions possédant des paramètres d'amplitude et de phase, ce procédé consistant à modifier au moins un des paramètres d'au moins une des fonctions échantillonnées générées par la boucle à verrouillage de phase. Avantageusement, pour modifier la bande passante de l'oscillateur, on modifie l'amplitude de la première fonction sinusoïdale échantillonnée. Avantageusement encore, pour désactiver la boucle à verrouillage de phase, on annule l'amplitude de la première fonction sinusoïdale échantillonnée. Avantageusement encore, pour modifier l'amplitude du signal d'excitation de la sonde, on modifie l'amplitude de la deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée. Avantageusement encore, pour modifier le décalage de phase entre le signal d'excitation et le signal de sortie de la sonde, on modifie la phase de la deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée. Avantageusement encore, pour déterminer si l'oscillateur oscille à la fréquence de résonance magnétique de la sonde, on modifie la phase de la deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée, on observe au moyen d'un fréquencemètre la fréquence d'oscillation de l'oscillateur, et on déduit que l'oscillateur oscille à la fréquence de résonance de la sonde si la modification de phase introduit un changement dans la fréquence d'oscillation. La présente invention prévoit également un procédé permettant de modifier de façon simple l'amplitude ou la phase des fonctions sinusoïdales échantillonnées générées par la boucle à verrouillage de phase. Ce procédé repose sur le fait que les mémoires ROM disponibles dans le commerce ont une capacité bien supérieure à ce qui est nécessaire pour stocker les valeurs de ces fonctions sinusoïdales échantillonnées. Ainsi, la demanderesse a remarqué qu'un échantillonnage de chaque fonction sinusoïdale sur 64 ou 128 octets mémoire est suffisant pour assurer un fonctionnement satisfaisant de l'oscillateur, alors qu'une mémoire conventionnelle a une capacité d'au moins 8 Kilo-octets, soit 8192 octets et 13 entrées d'adresse, ce qui signifie que l'on utilise seulement 0.8 % ou 1.6 % de la capacité mémoire, et 6 ou 7 entrées d'adresse sur les 13 entrées d'adresse disponibles. Partant de cette constatation, la présente invention prévoit d'ajouter dans les mémoires de l'oscillateur de nouvelles fonctions sinusoïdales échantillonnées, ayant des paramètres d'amplitude ou de phase particuliers, et d'agir sur les entrées d'adresse inutilisées auparavant pour faire intervenir l'une ou l'autre de ces fonctions dans la marche de l'oscillateur. Plus particulièrement, la présente invention prévoit un procédé pour modifier au moins un des parametres d'au moins une des fonctions échantillonnées générées par la boucle à verrouillage de phase, les valeurs des fonctions étant stockées respectivement dans une première et une deuxième mémoires, procédé consistant à ajouter dans au moins une des mémoires les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant chacune des paramètres prédéterminés, et à agir sur des entrées d'adresse de la mémoire pour sélectionner l'une des fonctions à la sortie de la mémoire. La présente invention concerne également un oscillateur pour la mesure de l'intensité du champ magnétique ambiant, comprenant une sonde RMN et une boucle à verrouillage de phase numérique comportant, en série, un comparateur de phase, des moyens de filtrage du signal délivré par le comparateur de phase, un oscillateur contrôlé en tension, un compteur dont la sortie commande des entrées d'adresse d'une premiere mémoire délivrant sous forme numérique une première fonction sinusoïdale échantillonnée appliquée au comparateur de phase, et des entrées d'adresse d'une deuxième mémoire délivrant sous forme numérique une deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée appliquée à des moyens de création d'un signal d'excitation de la sonde, oscillateur dans lequel l'une au moins des mémoires contient les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant chacune des paramètres d'amplitude et de phase prédéterminés, et comprenant des moyens pour agir sur des entrées d'adresse de la mémoire et sélectionner l'une des fonctions à la sortie de la mémoire Avantageusement, la première mémoire contient les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant des amplitudes distinctes. Avantageusement encore, la première mémoire contient les valeurs d'une fonction échantillonnée d'amplitude nulle. Avantageusement encore, la deuxième mémoire contient les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant des amplitudes distinctes. Avantageusement encore, la deuxième mémoire contient les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant des phases distinctes. Selon un mode de réalisation, des entrées d'adresse de la mémoire sont commandées par un microprocesseur. Avantageusement, les première et deuxième mémoires sont contenues dans un même circuit mémoire, l'entrée d'adresse de plus fort poids du circuit mémoire étant commandée par la sortie de plus faible poids du compteur. On décrira maintenant à titre d'exemple non limitatif un modes de réalisation particulier de la présente invention, en relation avec les figures jointes parmi lesquelles: - la figure 1 représente sous forme de blocs un oscillateur nucléaire de l'art antérieur, et a été décrite précédemment, - la figure 2 illustre une caractéristique des sondes à résonance magnétique nucléaire, - la figure 3 représente sous forme de blocs un oscillateur nucléaire selon la présente invention, - la figure 4 représente plus en détail une partie de l'oscillateur de la figure 3, et - la figure 5 illustre une variante de réalisation de l'oscillateur de la figure 3. La figure 3 représente un oscillateur nucléaire à verrouillage de phase numérique 100 conforme à la présente invention. L'oscillateur 100 comprend tous les éléments de l'oscillateur classique représenté en figure 1, qui ont déjà été décrits au préambule et sont par ailleurs décrits plus en détail dans la demande de brevet européen 326 474. L'oscillateur comprend en outre un microprocesseur 20, relié par l'intermédiaire de ses entrées-sorties à une mémoire-programme 21, à un capteur de température 22 disposé à proximité de la sonde RMN, ainsi qu'à la sortie du fréquencemètre 8. Par ailleurs, le microprocesseur reçoit la sortie du circuit de détection 6, par l'intermédiaire d'un convertisseur analogique-numérique 23, et commande le circuit d'initialisation 7, ce dernier n'étant plus directement commandé par le circuit de détection 6 comme dans l'oscillateur de la figure 1. Enfin, le microprocesseur peut être relié à un clavier externe 24, par l'intermédiaire d'un connecteur 25. Selon une caractéristique de la présente invention, des entrées d'adresse des mémoires 45,47 de la boucle à verrouillage de phase 4, ici les entrées d'adresse de poids fort, sont commandés par le microprocesseur 20, par l'intermédiaire d'un bus de données 26, les entrées d'adresse de poids faible étant commandées de façon classique par le compteur 44. Une partie du bus 26 est dédiée à la commande des entrées de poids fort de la mémoire 45, et l'autre partie à la commande des entrées de poids fort de la mémoire 47. Selon une autre caractéristique de la présente invention, chaque mémoire 45,47 contient les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées, s'ajoutant dans chaque mémoire aux valeurs de la fonction sinusoïdale classique. Comme représenté schématiquement sur la figure 4, la mémoire 45 comprend ici 5 champs mémoire distincts 450,451,452,453,454,455 contenant chacun sous forme numérique les N valeurs d'échantillonnage Acons(2 t i/N) d'une fonction cosinus dont l'amplitude A dépend du champ mémoire considéré. La fonction échantillonnée contenue dans le champ mémoire 450 a une amplitude A = aO et correspond à la fonction sinusoïdale de l'art antérieur, les fonctions contenues dans les champs 451,452,453 ont des amplitudes respectives al,a2,a3, et la fonction contenue dans le champ 454 a une amplitude nulle, les valeurs contenues dans le champ 454 étant toutes égales à 0. De façon semblable, la mémoire 47 comprend une pluralité de champs contenant chacun les N valeurs échantillonnées Bsin((2t i/N)+p) d'une fonction sinus dont l'amplitude B et la phase p dépendent du champ mémoire considéré. La mémoire 47 comprend tout d'abord un premier champ 470 contenant une fonction d'amplitude B = bO et de phase nulle (p = 0), équivalente à la fonction sinusoïdale de l'art antérieur, puis n champs 471 contenant des fonctions d'amplitudes bl,b2,...bn, ayant également une phase nulle, et enfin n' champs 472 contenant des fonctions de même amplitude bO mais présentant des phases particulières pl,p2,p3,...pn', dont certaines sont supérieures et d'autre inférieures à 0. Classiquement, la taille des champs mémoire dépend du nombre d'entrées d'adresse commandées par le compteur 44, un cycle de comptage du compteur 44 correspondant au moins à un balayage complet de toute les adresses d'un champ mémoire. Par exemple, dans le cas simple d'un compteur de capacité N = 64 disposant de 6 sorties de comptage appliquées respectivement sur 6 entrées d'adresse de chaque mémoire 45,47, la taille de chaque champ mémoire est de 64 octets si chaque valeur d'échantillonnage est codée sur un octet, soit 8 bits. Par ailleurs, si l'on utilise comme mémoires 45,47 des mémoires ROM conventionnelles de 8 Kilooctets et 13 entrées d'adresse, il reste 7 entrées d'adresse disponibles pouvant être commandées à partir du microprocesseur 20, ce qui représente 128 champs de 64 octets disponibles dans chaque mémoire. Ainsi, en envoyant une adresse sur le bus 26, on sélectionne dans chaque mémoire 45,47 un champ mémoire particulier. Les fonctions contenues dans les champs mémoire sélectionnés sont délivrées sous forme numérique à la sortie des mémoires, en raison du balayage d'adresses effectué par le compteur 44. On décrira maintenant des exemples particuliers d'application de la présente invention, répondant aux objectifs définis au préambule. On ne décrira que le fonctionnement global de l'oscillateur 100, sans détailler les aspects pratiques de réalisation et de programmation du microprocesseur 20, qui sont à la portée de l'homme du métier et relèvent de façon générale du domaine de la conception des cartes électroniques à microprocesseur. Réalisation d'expérimentations sur la sonde RMN ou sur l'oscillateur On agit sur les entrées d'adresse de poids fort des mémoires 45,47 par l'intermédiaire du clavier 24, du microprocesseur 20 et du bus 26. En l'absence de commande par le clavier, le microprocesseur est programmé pour sélectionner le champ 470 de la mémoire 47 et le champ 450 de la mémoire 45, contenant chacun les fonctions sinusoïdales de l'art antérieur, ce qui correspond à un fonctionnement classique de l'oscillateur. Pour introduire un décalage de phase entre le signal d'excitation et le signal de sortie de la sonde, on sélectionne dans la mémoire 47 un champ 472 contenant une fonction échantillonnée ayant une phase p égale au décalage de phase souhaité, choisi parmi pl,p2,p2,..pn'. A la sortie de la mémoire 47, la fonction échantillonnée contenue dans le champ mémoire sélectionné se substitue à la fonction échantillonnée de l'art antérieur. Cette nouvelle fonction ne se différencie de la précédente que par sa phase p, qui n'est pas égale à 0, de sorte que l'opération, vue de l'extérieur, revient à une modification numérique de la phase de la fonction délivrée par la mémoire 47, ainsi que le prévoit le procédé général de la présente invention. Le déphasage p introduit par la nouvelle fonction se retrouve dans le signal d'excitation de la sonde RMN délivré par le convertisseur numérique-analogique 5. Le point de fonctionnement de la sonde RMN se déplace sur la courbe montrée en figure 2, et l'on peut procéder à une analyse du comportement de la sonde RMN. On peut par ailleurs effectuer un balayage rapide de plusieurs valeurs de déphasages, en disposant dans la mémoire-programme 21 du microprocesseur des séquences toutes prêtes de balayage des champs mémoire 472, que l'on sélectionne à partir du clavier 24. Pour modifier l'amplitude du signal d'excitation de la sonde RMN, on procède comme ci-dessus, mais en sélectionnant cette fois un champ mémoire 471 contenant une fonction sinusoïdale ayant l'amplitude recherchée, choisie parmi bl,b2,...bn. Vue de l'extérieur, l'opération provoque un changement dans la valeur numérique de l'amplitude de la fonction échantillonnée appliquée au convertisseur 5, et cela entraîne un changement de l'amplitude du signal d'excitation délivré par le convertisseur. Enfin, pour modifier la bande passante de l'oscillateur, on sélectionne l'un des champs 451 à 453 de la mémoire 45. L'amplitude de la fonction sinusoïdale appliquée sous forme numérique au comparateur de phase 40 étant modifiée (al,a2 ou a3), on modifie de ce fait le gain en sortie du comparateur de phase 40 et par conséquent la bande passante de l'oscillateur. Amélioration du fonctionnement de l'oscillateur Pour adapter l'amplitude du signal d'excitation de la sonde RMN à la température ambiante, on dispose dans la mémoireprogramme 21 une table de référence qui permet au microprocesseur de déterminer le champ 471 de la mémoire 47 à sélectionner lorsque la sonde RMN est à une température donnée. Cycliquement, le microprocesseur lit la température de la sonde au moyen du détecteur 22, et envoie sur le bus 26 l'adresse correspondant au champ mémoire 471 indiqué dans la table. Ainsi, l'amplitude du signal d'excitation, choisie parmi bO,bl... bn, est celle procurant le meilleur rapport signal/bruit à la sortie de la sonde. Enfin, un objectif particulier de la présente invention est d'améliorer le fonctionnement de l'oscillateur en présence de rayonnements parasites. La solution imaginée pour éviter que l'oscillateur ne s'asservisse sur une fréquence parasite lors de la phase d'initialisation, consiste à rechercher tout d'abord si la fréquence de l'oscillateur est bien la fréquence de Larmor fO, puis en fonction du résultat, continuer le balayage en fréquence jusqu'à ce que fO soit trouvée, ou arrêter le balayage si fO est trouvée. Cela se traduit par la programmation des opérations suivantes: A la mise sous tension, le microprocesseur active le circuit d'initialisation 7 pour déclencher le balayage en fréquence dans la boucle à verrouillage de phase 4, puis surveille la sortie du circuit de détection d'amplitude 6 par l'intermédiaire du convertisseur 23; lorsqu'un signal (supérieur au seuil de sensibilité du circuit de détection 6) est perçu à la sortie de la sonde RMN, le microprocesseur vérifie si la fréquence d'oscillation est bien la fréquence de Larmor. Pour cela, le microprocesseur mémorise la valeur de la fréquence d'oscillation du système après l'avoir lue sur la sortie du fréquencemètre 8, puis modifie la phase du signal d'excitation de la sonde RMN en sélectionnant dans la mémoire 47 un champ mémoire 472 contenant une fonction sinusoïdale présentant un décalage de phase assez important (pl,p2, ou autre). Le microprocesseur fait ensuite une nouvelle lecture sur la sortie du fréquencemètre; si la fréquence a changé, cela signifie que la fréquence d'oscillation enregistrée était bien la fréquence de Larmor, conformément à la relation existant entre la phase et la fréquence au voisinage de fO, déjà décrite en relation avec la figure 2. Le microprocesseur désactive alors le circuit d'initialisation 7 et sélectionne à nouveau le champ 470 de la mémoire 47, pour que l'oscillateur revienne sur fO; si la fréquence n'a pas changé, la fréquence d'oscillation du système n'est pas la fréquence de Larmor, mais une fréquence parasite. Dans ce cas, le microprocesseur maintient activé le circuit d'initialisation 7 pour que le balayage en fréquence se poursuive, et désactive rapidement la boucle à verrouillage 4, en sélectionnant temporairement le champ 454 de la mémoire 45, qui ne contient que des valeurs égales à 0. Puis, il revient à l'étape initiale et surveille à nouveau le circuit de détection d'amplitude 6. Bien entendu, l'oscillateur selon la présente invention peut faire l'objet de nombreuses autres applications et variantes de réalisation. Ainsi, pour de simples essais de laboratoire, on peut se passer de microprocesseur et agir sur les adresses de poids fort des mémoires au moyen par exemple d'une roue codeuse, ou un circuit extérieur venant se brancher sur l'oscillateur. Par ailleurs, il appartiendra à l'homme du métier de définir le nombre de fonctions échantillonnées à stocker dans les mémoires 45,47, et les paramètres de phase et d'amplitude de chacune de ces fonctions, en fonction des applications envisagées et des caractéristiques de la sonde RMN. La figure 5 illustre une variante de réalisation de l'oscillateur de la figure 3, permettant de réduire l'encombrement des circuits mémoire. Dans cette variante de réalisation, les mémoires 45 et 47 sont remplacées par une seule mémoire 60. La figure 5 ne représente que la mémoire 60, le compteur 44 et les deux bascules tampon 46,48, les autres éléments de l'oscillateur étant inchangés. On a en outre représenté schématiquement le contenu de la mémoire 60, laquelle est organisée en deux blocs 61,62. Le bloc 61, ou bloc cosinus, remplace la mémoire 45 de la figure 3, et le bloc 62, ou bloc sinus, remplace la mémoire 47. La sortie de plus faible poids 441 du compteur est appliqué à l'entrée d'adresse de plus fort poids de la mémoire 60, ainsi qu'à l'entrée de validation de la bascule 46 et, par l'intermédiaire d'un inverseur 70, à l'entrée de validation de la bascule 48. Les autres sorties du compteur sont appliquées aux entrées de poids faible de la mémoire 60, le bus 26 du microprocesseur étant appliqué aux entrées de poids fort situées entre les entrées de poids faible et l'entrée de plus fort poids. Naturellement, dans ce deuxième exemple de réalisation comme dans l'exemple précédent, les termes "poids fort" et "poids faible" sont relatifs et ne sont utilisés que pour désigner l'ordre de branchement des divers éléments, car selon la capacité des mémoires 45,47,60 certaines entrées peuvent rester inutilisées. Par ailleurs, il apparaîtra clairement à l'homme du métier que le mode de branchement décrit n'est pas impératif, il est simplement plus judicieux que celui consistant par exemple à brancher le bus 26 sur les entrées de poids faible et le compteur 44 sur les entrées de poids fort, qui rendrait plus complexe l'organisation et la programmation des mémoires. Dans ce deuxième exemple de réalisation, lorsque l'oscillateur oscille à la fréquence f0, le VCO 43 applique au compteur 44 des créneaux à la fréquence 4Nf0. Le compteur 44 a ici une capacité de comptage de 2N, de sorte que pendant une période d'oscillation T=l/fO de l'oscillateur, les blocs sinus et cosinus la mémoire 60 sont sélectionnés alternativement par la sortie de plus faible poids 441 du compteur 44. Pour compenser le décalage temporel, égal à T/2, intervenant entre les instants où sont délivrées le fonctions sinus et les instants où sont délivrées les fonctions cosinus, on programme dans ces blocs fonctions dont les échantillons ont pour expressions respectives Acos(2nri/N) et Bsin(2K2i+1/2N)+p). Comme l'adresse de poids fort appliquée par le bus 26 sur la mémoire 60 agit à la fois sur le bloc sinus et sur le bloc cosinus, il convient de programmer la mémoire 60 par paires de fonctions sinus et cosinus. En effet, lorsque l'on veut modifier par exemple l' au moyen d'un microprocesseur. Dans ce cas, chaque mémoire ne contient que les valeurs d'une seule fonction sinusoïdale échantillonnée, mais ces valeurs peuvent être recalculées et modifiées à chaque instant par le microprocesseur en fonction d'une consigne de phase ou d'amplitude donnée. Ce mode de réalisation, qui est à la portée de l'homme du métier, est plus complexe car nécessite l'élaboration d'un algorithme de calcul permettant au microprocesseur de recalculer toutes les valeurs d'échantillonnage de la nouvelle fonction à charger dans la mémoire concernée. Toutefois, il entre dans le cadre de la présente invention. REVENDICATIONS: 1. Procédé pour optimiser le fonctionnement d'un oscillateur (100) de mesure de l'intensité du champ magnétique ambiant, ledit oscillateur comprenant une sonde RMN (2) fournissant un signal de sortie appliqué à une boucle à verrouillage de phase numérique (4) générant sous forme numérique les valeurs (Acos[2Jri/N]) d'une première fonction sinusoïdale échantillonnée de boucle, et les valeurs (Bsin[(2 i/N)+p)) d'une deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée délivrée à des moyens (48,5) de création d'un signal d'excitation de ladite sonde (2), lesdites fonctions possédant des paramètres d'amplitude (A,B) et de phase (p), procédé caractérisé en ce qu'il consiste à modifier au moins un des paramètres (A,B,p) d'au moins une desdites fonctions échantillonnées générées par la boucle à verrouillage de phase (4). 2. Procédé selon la revendication 1, pour modifier la bande passante de l'oscillateur, dans lequel on modifie l'amplitude (aO,al,a2,a3) de ladite première fonction sinusoïdale échantillonnée. 3. Procédé selon la revendication 1, pour désactiver ladite boucle à verrouillage de phase (4), dans lequel on annule l'amplitude de ladite première fonction sinusoïdale échantillonnée. 4. Procédé selon la revendication 1, pour modifier l'amplitude du signal d'excitation de ladite sonde (2), dans lequel on modifie l'amplitude (bO,...,bn) de ladite deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée. 5. Procédé selon la revendication 1, pour modifier le décalage de phase entre le signal d'excitation et le signal de sortie de ladite sonde (2), dans lequel on modifie la phase (pl,...,pn') de ladite deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée. 6. Procédé selon l'une des revendications 1 à 5, pour déterminer si l'oscillateur (100) oscille à la fréquence de résonance magnétique de ladite sonde (2), dans lequel on modifie la phase (pl,p2,...,pn') de la ladite deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée, on observe au moyen d'un fréquencemètre (8) la fréquence d'oscillation de l'oscillateur, et on déduit que l'oscillateur oscille à ladite fréquence de résonance si la modification de phase introduit un changement dans la fréquence d'oscillation. 7. Procédé selon l'une des revendications 1 à 6, pour modifier au moins un des paramètres (A,B,p) d'au moins une desdites fonctions échantillonnées générées par la boucle à verrouillage de phase (4), les valeurs desdites fonctions étant stockées respectivement dans une première (45,61) et une deuxième (47,62) mémoires, caractérisé en ce qu'il consiste à ajouter dans au moins une desdites mémoires (45,47,61,62) les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant chacune des paramètres (A,B,p) prédéterminés, et à agir sur des entrées d'adresse de ladite mémoire pour sélectionner l'une desdites fonctions à la sortie de la mémoire. 8. Oscillateur (100) pour la mesure de l'intensité du champ magnétique ambiant, comprenant une sonde RMN (2) et une boucle à verrouillage de phase numérique (4) comportant, en série, un comparateur de phase (40), des moyens (41,42) de filtrage du signal délivré par ledit comparateur de phase, un oscillateur contrôlé en tension (43), un compteur (44) dont la sortie commande des entrées d'adresse d'une première mémoire (45,61) délivrant sous forme numérique une première fonction sinusoïdale échantillonnée appliquée audit comparateur de phase (40), et des entrées d'adresse d'une deuxième mémoire (47,62) délivrant sous forme numérique une deuxième fonction sinusoïdale échantillonnée appliquée à des moyens (5) de création d'un signal d'excitation de ladite sonde (2), oscillateur caractérisé par le fait que l'une au moins desdites mémoires (45,47,61,62) contient les valeurs (Acos[2t i/N], Bsin[ (2i/N) +p)) de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant chacune des paramètres d'amplitude (A,B) et de phase (p) prédéterminés, et par le fait qu'il comprend des moyens (20,26) pour agir sur des entrées d'adresse de ladite mémoire et sélectionner l'une desdites fonctions à la sortie de la mémoire. 9. Oscillateur selon la revendication 8, dans lequel ladite première (45,61) mémoire contient les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant des amplitudes (A) distinctes (aO,...,a3). 10. Oscillateur selon la revendication 8, dans lequel ladite première mémoire (45,61) contient les valeurs d'une fonction échantillonnée ayant une amplitude (A) nulle. 11. Oscillateur selon la revendication 8, dans lequel ladite deuxième mémoire (47,62) contient les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant des amplitudes (B) distinctes (bO,...,bn). 12. Oscillateur selon la revendication 8, dans lequel ladite deuxième mémoire (47,62) contient les valeurs de plusieurs fonctions sinusoïdales échantillonnées ayant des phases (p) distinctes (pl,...,pn'). 13. Oscillateur selon l'une des revendications 8 à 12, dans lequel des entrées d'adresse de ladite mémoire (45,47,61,62) sont commandées par un microprocesseur (20). 14. Oscillateur selon l'une des revendications 8 à 13, dans lequel lesdites premières et deuxième mémoires (61,62) sont contenues dans un même circuit mémoire (60), l'entrée d'adresse de plus fort poids du circuit mémoire (60) étant commandée par la sortie de plus faible poids dudit compteur (44).