FR 2713539 A1 19950616 FR 9315330 A 19931214 La présente invention concerne un procédé de régulation automatique d'épaisseur pour lignes de production de films, feuilles ou plaques, ainsi qu'un dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé. Il existe dans l'industrie un très grand nombre de procédés de fabrication qui, mettant en jeu des équipements divers, permettent, à partir d'une matière première donnée, d'obtenir un produit qui se présente sous forme de film, feuille ou plaque, donc dans des épaisseurs très variées. Certains de ces procédés, auxquels s'applique aussi l'objet de la présente invention, permettent d'obtenir, à partir de la matière première, une gaine qui, dans le contexte de la présente invention, sera assimilée à un produit plat, la gaine étant soit enroulée directement et constituant de ce fait une double épaisseur de produit plat, soit, après, ouverture, constituant directement un produit plat. Les procédés auxquels il est fait allusion s'appliquent à des matières premières aussi variées que le caoutchouc, les produits alimentaires, le papier, le métal, les feuilles plastiques, etc. Un exemple typique de ces fabrications est constitué par les lignes de production de feuille plastique dans lesquelles la matière première, qui se présente sous forme de granulés, est fondue et homogénéisée dans une extrudeuse, la matière fondue, généralement après avoir été filtrée, passe au travers d'un outil de conformation appelé filière et est ensuite reçue sur des cylindres permettant le refroidissement de la matière fondue, celle-ci étant, après refroidissement, soumise à une ou plusieurs opérations de transformation avant d'être enroulée en bobine pour une utilisation ultérieure. Des lignes de ce type sont utilisées pour la production de matières plastiques très diverses telles que le polyéthylène, le polypropylène, le PVC, le polystyrène, 1'ABS, le polycarbonate, etc... Des lignes similaires sont également utilisées dans l'industrie agroalimentaire, dans l'industrie des caoutchoucs pour production de feuille, bandes ou plaques. Il est évident que pour la très grande majorité de ces produits plats, la constance de l'épaisseur, dans le sens transversal et dans le sens longitudinal, est une caractéristique essentielle du produit, à la fois en ce qui concerne la capacité d'utilisation ultérieure du produit, mais également de façon à économiser au maximum la matière première servant à la fabrication de ces produits. C'est la raison pour laquelle, tout particulièrement dans l'exemple cité ci-dessus, l'outil de conformation, à savoir la filière, est équipé d'un certain nombre de dispositifs mécaniques, généralement des vis de réglage appelées aussi "boulons", permettant un réglage très fin de l'interstice au travers duquel est extrudée la matière fondue et permettant de ce fait un réglage de l'épaisseur. Plus les exigences de régularité d'épaisseur sont importantes, plus grande est l'importance attachée à la précision des organes de réglage, ainsi qu'à leur nombre. Il est en effet évident que sur une largeur donnée de filière, plus le nombre d'organes de réglage sera important, mieux l'opérateur sera à même de corriger de façon précise un défaut d'épaisseur en un endroit précis de la feuille. Dans des lignes de fabrication de feuilles plastiques, il est courant d'utiliser une largeur de boulon de réglage de l'ordre de 25 mm, ce qui, pour une feuille de lm de large, qui est tout-à-fait classique, correspond à 40 boulons. L'existence d'organes de réglage sur l'outil de conformation n'est bien entendu pas suffisant pour permettre un bon contrôle de l'épaisseur et il est classique d'incorporer sur les lignes de fabrication, intervenant après que le produit a subi sa transformation finale et a été refroidi et avant son enroulement, un système de mesure d'épaisseur en continu qui permet d'afficher en permanence le profil d'épaisseur de la feuille produite et de vérifier si celle-ci se trouve dans des limites acceptables. Les systèmes de ce type, connus d'une manière générale sous le nom de jauge d'épaisseur, reposent sur différents principes, mais utilisent généralement un ensemble constitué d'un émetteur et d'un récepteur. L'émetteur envoie, au travers du produit à mesurer, un rayonnement issu généralement d'une source radioactive de type Beta, dont l'énergie est adaptée à l'épaisseur du produit à mesurer. Le flux nominal du rayonnement émis étant connu, le principe de la mesure consiste à détecter, grâce au récepteur, le flux atténué qui a traversé le produit à mesurer, et d'établir une corrélation entre l'épaisseur du produit et le rapport entre l'énergie contenue dans le flux émis et l'énergie reçue après traversée du produit. Sur tous ces systèmes, est associée à l'électronique de conditionnement et d'amplification du signal mesuré, une électronique qui relie la mesure effectuée à la position de l'ensemble émetteur-récepteur et par conséquent permet de localiser à chaque instant la mesure effectuée par rapport à la feuille. On comprend que grâce à ces systèmes, il soit aisé de mesurer quasiment en continu l'épaisseur du produit en cours de fabrication et de localiser, dans le sens transversal et dans le sens longitudinal par rapport à la feuille en déplacement, la position des anomalies d'épaisseur (sur-épaisseur ou sous-épaisseur). Ces données étant acquises, l'opérateur est alors à même d'effectuer, sur l'outil de conformation, la correction appropriée de façon à corriger les écarts d'épaisseur constatés. Il est aisé de comprendre, de ce qui vient d'être énoncé, que la mesure étant effectuée, l'opération de réglage permanent de l'outil de conformation peut être à la fois complexe et fastidieuse. Une complication supplémentaire provient du fait que les conditions de viscosité de la matière ne sont jamais constantes, que les conditions de température et de pression des extrudeuses sont inévitablement fluctuantes, et que même si l'outil de conformation a été à un moment donné parfaitement réglé, le profil peut être amené à se dégrader pour des raisons liées soit à la viscosité, soit à la température, soit à la pression, soit au manque d'homogénéité de la matière fondue, et par conséquent le réglage pour correction doit être quasiment permanent. Pour cette raison, il a été développé depuis de nombreuses années des systèmes dits de régulation automatique d'épaisseur, dont l'objectif est d'assurer en permanence et sans action manuelle, la correction du profil d'épaisseur. De tels systèmes associent toujours - Un ensemble de mesure qui est constitué d'un émetteur et d'un récepteur se déplaçant de part et d'autre du produit à mesurer à une distance constante par rapport au produit, l'émetteur et le récepteur se déplaçant face à face sur des rails de guidage transversaux au produit. - Un ensemble con formateur (par exemple une filière) dans lequel les organes de réglage (par exemple les vis) sont motorisés de façon à pouvoir se substituer à l'action manuelle. De tels organes sont soit un ensemble de vis munies chacune de sa motorisation, soit des systèmes de cames avec vérins, soit, de façon plus classique, des boulons auxquels sont associés des plots à expansion. Le principe est alors que les plots, qui ont généralement tous la même longueur (à température ambiante) sont, pendant la régulation, maintenus à des températures différentes par des organes de chauffage respectifs, à chaque température correspondant, du fait de l'expansion thermique, une longueur donnée qui agit sur la lèvre et donc sur l'interstice de la filière. Il existe de très nombreux systèmes de ce type, certains systèmes associant à l'organe de chauffage (résistance électrique) un organe de refroidissement (jet d'air) de façon à réduire les temps de réponse. - Un calculateur dont la fonction est de déterminer, en fonction de l'anomalie d'épaisseur constatée sur le produit et de sa position, le ou les boulons sur lesquels il est nécessaire d'agir et l'ampleur de la correction à apporter. L'intérêt de ces systèmes par rapport à la méthode de réglage manuel est évident et un très grand nombre de ces systèmes ont par conséquent été installés dans toutes les branches de l'industrie. On conçoit aisément que dans de tels systèmes, la jauge d'épaisseur par elle-même ne présente pas de très grande difficulté et que les systèmes de mesure en continu d'épaisseur classiques, tels qu'ils sont utilisés sur les machines à réglage manuel, soient ici aussi satisfaisants. Ainsi, les moyens utilisés à ce jour comme organes de mesure dépendent généralement de la précision demandée et de l'épaisseur du produit à mesurer, mais ils sont en général les mêmes, que la correction d'épaisseur ait lieu de façon manuelle ou de façon automatique (par exemple tête à rayonnement Beta, tête à infra-rouge, etc...). Il faut toutefois remarquer que si l'objectif est de faire une régulation très fine de l'épaisseur, il est souhaitable bien entendu d'utiliser un système dont la précision de lecture soit la meilleure possible. L'organe de régulation automatique de l'outil de conformation ne présente pas, lui non plus, de très grande difficulté ; la partie conformation est identique, qu'il s'agisse d'un conformateur automatique ou d'un conformateur manuel. Dans la version automatique les boulons doivent être remplacés par des plots à expansion par exemple. De très nombreux systèmes existent, l'objectif étant, lorsqu'une régulation fine est souhaitée, de réduire au maximum le temps de réponse de l'organe de commande, ce qui est parfaitement obtenu par l'utilisation combinée d'une source chaude à résistance, et d'une source froide (jet d'air), au niveau du plot à expansion. Cependant, on comprend aisément que l'élément essentiel du système de régulation automatique se trouve au niveau du calculateur qui doit être capable à chaque instant d'associer à une mesure d'épaisseur donnée, l'action appropriée sur le boulon approprié. De la qualité de cette association dépend la qualité du résultat obtenu. La conception de tels systèmes est évidemment très complexe. Il est nécessaire en effet que le système ne réagisse pas de façon exagérée en modifiant complètement le profil de la filière dès qu'apparaît un défaut minime limité dans le temps ; par contre, il est nécessaire qu'il agisse sans tarder si ce défaut est de nature permanente. Il est également nécessaire de distinguer entre - des défauts longitudinaux, c'est-à-dire des variations d'épaisseur longitudinales dans le sens de défilement de la feuille, qui peuvent être corrigées soit par des actions sur des boulons de la filière, soit par des variations du débit de la matière première, ou de la vitesse de ligne, et - des variations d'épaisseur dans le sens transversal, qui ne peuvent être corrigées que par action sur les boulons. Il est par ailleurs évident que des variations d'épaisseur dans le sens transversal des feuilles sont très gênantes pour la quasi-totalité des applications, alors que des variations, même d'amplitude équivalente, dans le sens de défilement de la feuille posent moins de problèmes. C'est pour cette raison qu'une des difficultés essentielles des programmes informatiques dits de régulation automatique consiste à déterminer de façon précise et fiable celui des boulons de la filière auquel doit être appliquée une correction pour corriger un défaut donné constaté sur la feuille. L'opération, qui consiste à associer à un boulon de la filière, une zone donnée de la feuille, porte le nom de repérage des boulons et constitue une étape essentielle de la mise en place d'un tel système. Si le repérage est correct, on peut espérer une bonne correction des défauts constatés. Si le repérage est incorrect, quelle que soit la qualité de l'ensemble de mesure et quelle que soit la qualité du programme déterminant l'amplitude de cette correction, les corrections risquent d'être appliquées au mauvais boulon, et par conséquent risquent d'amplifier les défauts au lieu de les atténuer. C'est pour cette raison que d'innombrables logiciels ont été développés pour effectuer ce repérage. L'opération est apparemment simple, mais elle est en fait rendue très compliquée à cause des variations d'épaisseur et quelquefois de largeur que subit la feuille dans le cours du processus de fabrication. En effet, la largeur d'ouverture de la filière ne correspond presque jamais à la largeur utile du produit fini. Lorsque le produit fondu quitte la filière et qu'il est reçu sur le premier tambour de refroidissement, il y a généralement une contraction transversale ; d'autres contractions peuvent intervenir au cours du processus de fabrication, et très souvent les bords présentent des irrégularités qui sont découpées avant enroulement. Plus ce processus de fabrication est complexe, moins il est facile de faire correspondre de façon simple une position donnée de la feuille à un boulon donné. Pour certains processus de fabrication, cette tâche devient extrêmement complexe en raison des très grandes variations de forme et d'épaisseur que subit la feuille entre sa sortie du conformateur et son arrivée sur l'enrouleuse. Ceci est tout particulièrement le cas dans les lignes de production de film dit bi-orienté, où le produit qui sort du conformateur est successivement refroidi en subissant une contraction latérale, étiré dans le sens longitudinal en subissant une deuxième contraction transversale associée à une première diminution d'épaisseur puis un deuxième étirage transversal dans lequel la feuille, dont les deux bords sont pris dans des dispositifs appelés pinces, est étirée transversalement, voyant la largeur de la feuille augmentée de 3 à 10 fois avec la réduction correspondante d'épaisseur. En outre, dans le cas de l'étirage transversal, les bords qui ont servi à la prise par les pinces et dont l'étirage a été imparfait sont découpés et évacués avant l'enroulement, d'ou une complication supplémentaire. On conçoit aisément que dans de tels processus de fabrication, il soit difficile de procéder à l'opération dite de repérage des bords. Pour tenter d'y parvenir, de très nombreux logiciels ont été développés qui généralement reposent sur le principe que partant d'un des bords de la feuille à sa sortie du conformateur, on calcule de quelle façon les bandes de matière successives s'écoulent au travers de la machine. Tous ces calculs reposent toutefois sur l'hypothèse que les transformations successives de la feuille sont homogènes pour tous les points de la feuille, qu'il s'agisse des bords ou du milieu. Cette hypothèse est bien entendu inexacte, puisque chaque machine a sa propre "signature", et que par conséquent deux feuilles identiques, transformées sur deux machines même identiques sur le plan constructif, ne seront pas transformées rigoureusement dans les mêmes conditions. Pour pallier cet inconvénient, il est courant, lorsqu'un tel système est installé sur des machines simples pour un produit du type feuille, et à plus forte raison sur des machines complexes pour la production de film bi-orienté, de procéder à un étalonnage, c'est-à-dire de vérifier directement sur la machine que le repérage effectué par le programme informatique correspond bien à la réalité. Une façon simple de procéder à cet étalonnage est, sur la machine à production avant mise en route du système de correction automatique, de marquer, par exemple avec un trait d'une couleur donnée, la zone qui se trouve au droit d'un boulon, et de repérer sur l'enrouleuse la zone de la feuille affectée par ce marquage. Si la zone correspond aux prédictions du calculateur, le repérage sera validé. Si cela n'est pas le cas, le repérage du calculateur sera corrigé. Compte tenu du nombre de boulons et des difficultés de l'opération, cet étalonnage est une opération longue et complexe, mais qui est indispensable avant la mise en route du système. Il est donc déjà évident qu'en pratique cette opération ne peut pas être reproduite trop fréquemment. En outre, l'expérience montre que la réalité est en fait infiniment plus complexe en ce sens que les machines ne sont généralement pas prévues pour une production unique, mais au contraire pour une gamme de produits mettant en oeuvre, sur la même machine, des matières diverses pour obtenir des feuilles de caractéristiques diverses avec des épaisseurs diverses. Dans la réalité, un repérage, confirmé par un étalonnage, restera éventuellement valable pour un produit donné ayant une épaisseur donnée et à une vitesse de production donnée, mais ne sera plus exact pour une épaisseur différente, une matière première différente et un réglage différent, ceci sans exclure les variations de viscosité de matière qui affectent également ce repérage. Il est évident qu'il n'est pas possible de procéder à une nouvelle opération d'étalonnage dès que l'un des paramètres a varié. Dans la pratique, tous ces systèmes fonctionnent avec le repérage confirmé par l'étalonnage au moment de la mise en route et sur la base du repérage informatique qui est théorique ; la probabilité est donc extrêmement importante pour que sur un système donné, à un instant donné, le repérage ne corresponde pas à la réalité, ce qui perturbe considérablement les opérations de réglage et de contrôle de l'épaisseur. Pour pallier cet inconvénient, il serait souhaitable de pouvoir, en fonction du programme de fabrication, vérifier de façon simple que le repérage des bords corresponde au type de produit et au réglage actuel de la machine, et que par conséquent les corrections se font à bon escient. Une méthode envisagée consiste à créer artificiellement, à un instant donné, une action nominale sur un boulon choisi arbitraitement et d'essayer de déterminer, à l'aide du dispositif de mesure, la zone qui sera affectée par cette déformation. Cette opération est extrêmement compliquée, étant donné que toute modification d'un boulon donné affecte, du fait de l'élasticité des lèvres de la filière et de la viscosité élastique de la matière, une zone importante et que par conséquent une intervention, même programmée sur un seul boulon, risque de perturber complètement un profil établi. Si, pour pallier cet inconvénient, la déformation nominale appliquée à un boulon donné est extrêmement faible, son influence sur l'épaisseur du film sera extrêmement faible et risque d'échapper au contrôle de la jauge, ce sans parler du fait que sur les machines pour la production de film bi-orienté, compte tenu de la longueur de la machine et du temps de réaction des boulons, il s'écoule plusieurs minutes entre l'action sur un boulon et son effet correspondant sur le film fini. Pour les raisons qui viennent d'être exposées, ces méthodes sont quasiment abandonnées. Le but de la présente invention est par conséquent de remédier à cet état de choses en associant, au système de régulation d'épaisseur décrit ci-dessus, un procédé et un dispositif permettant de façon simple, automatique et quasiment en continu, la vérification du repérage sans que soit perturbée la fabrication. A cet effet, l'invention a essentiellement pour objet un procédé de régulation automatique d'épaisseur pour lignes de production de films, feuilles ou plaques, du genre de celles comprenant une extrudeuse, un outil de conformation ou filière équipé d'une pluralité de dispositifs mécaniques alignés ou "boulons" réglables, répartis sur sa largeur, pour la régulation de l'épaisseur de la matière fondue extrudée au niveau de chaque boulon et, en aval de l'outil de conformation, un système de mesure d'épaisseur du produit fini sous forme de film, feuille ou plaque, ou "jauge d'épaisseur", déplaçable sur toute la largeur de ce produit, et des moyens qui déterminent, en fonction des anomalies d'épaisseur constatées sur le produit, des actions correctrices sur les boulons précités, le procédé étant caractérisé en ce que, pour repérer les zones d'un produit fini correspondant effectivement aux différents boulons de la filière, on effectue au droit de chacun des boulons, mais indépendamment de ces boulons, un dépôt d'une matière spécifique de marquage sur la matière en cours d'extrusion, les différents dépôts de matière de marquage formant des bandes de longueur finie réparties sur la largeur du produit, et en ce que l'on repère, au moyen de la jauge d'épaisseur, la position de ces bandes qui sont détectées comme formant des surépaisseurs locales du produit fini. L'intérêt de ce procédé, qui consiste à simuler une action nominale au niveau de chaque boulon, puis à en localiser l'effet sur le produit fini, vient de ce qu'on utilise pour cette localisation la jauge d'épaisseur, c'est-à-dire le moyen de mesure qui est lui-même à la base du processus de régulation, et ceci d'une manière rapide sans affecter durablement le profil d'épaisseur du produit fini, de sorte que le rendement de la production n'est pas affaibli. En prévoyant le dépôt d'une matière spécifique au droit de chaque boulon, puis en repérant les surépaisseurs ainsi créées au niveau du produit fini, le procédé selon l'invention permet de mettre en relation, précisément et sans ambiguïté, chaque zone du produit fini avec le boulon qui lui correspond. Le principe de repérage de dépôts de matière étant ainsi défini, il convient de préciser les conditions particulières et avantageuses que doivent satisfaire ces dépôts, pour la mise en oeuvre industrielle du procédé selon l'invention. En particulier, les termes de surépaisseur ou de dépôt ne doivent en aucun cas être compris comme un ajout supplémentaire, au droit des boulons, de matière plastique de même nature que celle de la feuille ou du film à produire, ce qui serait trop difficile à réaliser par des moyens simples. Il s'agit plutôt, par un dispositif approprié, de déposer de la matière étrangère et convenable (appelée plus haut "matière spécifique") pendant un temps limité T, en face de chaque boulon. La feuille ou le film étant produit à une vitesse connue V, on constitue ainsi avec la matière spécifique de marquage, des dépôts sous forme de bandes unitaires de longueur finie L = V.T au droit des différents boulons. La longueur L doit être juste suffisante pour permettre la détection de toutes les bandes au cours d'un aller-retour de la jauge d'épaisseur, de sorte que le produit n'est affecté que sur une relativement faible longueur, donc durant un temps bref (typiquement moins d'une minute), par le processus de marquage. La longueur de chaque bande déposée pourrait être encore réduite, en prévoyant que les différentes bandes unitaires sont décalées longitudinalement, les unes par rapport aux autres, en fonction de la vitesse de déplacement de la jauge d'épaisseur. La largeur des bandes doit, bien entendu, être sensiblement inférieure à la distance entre deux boulons consécutifs, pour que ces bandes soient individuellement discernables. Le positionnement des bandes (dans le sens de la largeur du produit) doit en outre être précis, et être le même pour chacun des boulons. Par exemple, il est possible de former des bandes unitaires respectivement centrées sur les plans médians des différents boulons. Une distance typique entre ces boulons étant de l'ordre de 25 mm, un ordre de grandeur intéressant pour la largeur des bandes est de 5 mm, soit environ un cinquième de la distance entre deux boulons consécutifs. L'épaisseur des dépôts de matière de marquage, doit être négligeable, comparée à celle de la feuille ou du film plastique, pour ne pas perturber le comportement de la feuille ou du film au cours des différentes phases d'étirage. On conçoit qu'un apport important de matière supplémentaire pourrait agir fortement sur les caractéristiques physiques de la feuille ou du film qui est soumis à des contraintes mécaniques et thermiques importantes. Il est clair également que le dépôt doit bien adhérer à la feuille ou au film, sous peine de ne pas reproduire localement l'amplitude de l'étirage. Il faut en outre que malgré leur épaisseur, négligeable par rapport à celle du support (voir cidessus), les bandes déposées soient détectables précisément et sans ambiguïté par le type de jauge utilisé, c'est-à-dire que la matière constituant les dépôts atténue le rayonnement de l'émetteur de la jauge beaucoup plus fortement que la feuille ou le film plastique lui-même, donc possède un effet amplifié, comparé à celui du matériau de la feuille ou du film. Cette condition est illustrée par la figure 1 du dessin schématique annexé, sur laquelle : le repère 1 désigne un film plastique extrudé, 2 désigne la bande (vue en coupe transversale) déposée sur le film 1, et la courbe P indique le profil souhaitable "vu" par la jauge d'épaisseur. En particulier, il est impératif que les bordures 3 et 4 de la bande déposée, qui en réalité peuvent avoir une épaisseur bien inférieure à ce qu'elle est au centre, soient cependant détectées de manière très nette par la jauge. L'idéal serait que les bordures du dépôt se traduisent par des variations verticales sur le profil P fourni par la jauge. Dans ce cas, la localisation du dépôt, c'est-à-dire la position de son axe médian longitudinal ainsi que sa largeur, pourrait être très facilement obtenues. Le temps de réponse de la jauge doit aussi être le plus bref possible, pour que la position détectée des bordures des bandes déposées sur la feuille ou le film corresponde, autant que possible, à leur position réelle. On comprend que ce temps de réponse peut avoir pour effet de distordre le profil de la bande, et en particulier les bords de la bande, à cause de la vitesse de déplacement de la jauge, pendant qu'elle balaye transversalement la feuille ou le film. A titre indicatif, ce temps de réponse ne doit dans tous les cas pas être supérieur à 50 ms. En outre, la fidélité de la réponse de la jauge d'épaisseur dépend de la taille de son faisceau et de son récepteur 5, comme l'illustre la figure 2 représentant le profil P (théorique) en "marche d'escalier" sur la bordure 3 d'une bande déposée 2, le déplacement de la jauge s'effectuant dans le sens de l'axe des abscisses, tandis que sa réponse R est portée en ordonnées. On conçoit bien, comme l'indique la moitié supérieure de la figure 2, qu'un récepteur 5 de taille très petite ne verra la "marche" que lorsqu'il commencera à la surplomber. A l'inverse, comme l'indique la moitié inférieure de cette figure, un récepteur 5 de taille conséquente ne possèdera, pendant tout un intervalle de temps, qu'une fraction de sa surface située à l'aplomb de la "marche". Dans ce dernier cas, le signal de réponse R obtenu sera la moyenne pondérée entre le signal correspondant à la fraction de surface du récepteur directement située au-dessus de la face supérieure du film, et le signal correspondant, à la fraction de surface du détecteur située au-dessus de la "marche". Ainsi, un récepteur de taille importante aurait tendance à "lisser" excessivement les bordures des bandes déposées, ce qui compliquerait singulièrement le calcul pour la localisation des bordures, et diminuerait la confiance que l'on pourrait avoir dans le résultat. C'est d'ailleurs une raison qui conduit à ne pas choisir des bandes de largeur trop petite. En résumé, la dimension transversale du récepteur doit être aussi petite que possible, un compromis devant être trouvé entre cette dimension et la largeur du dépôt de matière, pour que la précision avec laquelle la position de l'axe médian de ce dépôt est calculée soit la meilleure possible. A titre de règle générale, on peut ici préconiser un récepteur dont la taille est inférieure à la moitié de la largeur des bandes déposées (largeur considérée dans la zone de mesure d'épaisseur). Les contraintes précédemment exposées ne peuvent être satisfaites avec les jauges d'épaisseur classiques utilisées pour la mesure de film plastique, en particulier de film bi-orienté qui est très mince. Ces jauges sont pour l'essentiel des "jauges Beta", où l'émetteur est une source radioactive produisant des électrons, et où le récepteur est une chambre d'ionisation. La source radioactive usuellement employée est une source de krypton 85, émettant des électrons, dont le spectre est continu entre 0 et 760 kev et dont le maximum se situe aux environs du premier tiers, c'est-à-dire 250 kev. La précision de la mesure est fonction du nombre d'électrons émis par unité de temps. Plus grand est ce nombre et meilleure est la précision de la mesure. En effet, un certain nombre d'effets statistiques dégradent la précision - La source émet aléatoirement dans le temps. - Les électrons diffusent énormément dans la matière. - Ils peuvent ou non pénétrer dans le détecteur, pénétrer puis en ressortir, etc... et ont donc un parcours extrêmement erratique. - De même, la perte d'énergie des électrons dans la matière est sujette à de larges fluctuations. L'ensemble de ces phénomènes statistiques est regroupé sous le vocable de fluctuations statistiques. Elles se traduisent sur les profils de mesure par une "herbe" dont l'amplitude indique l'imprécision de la mesure. Les fluctuations statistiques sont d'autant plus faibles que le nombre d'électrons participant à la mesure est plus important. De ce point de vue, on a donc toujours intérêt à choisir les sources de plus forte activité, les récepteurs de plus grande taille, une distance entre source et récepteur minimale et le temps dédié à chaque mesure le plus long possi pour une épaisseur de 10 ym qui est une épaisseur typique des films bi-orientés, la précision de mesure est seulement d'environ 30 %. Il y a donc une incompatibilité fondamentale entre la mesure précise d'un dépôt de petite taille et les performances des jauges d'épaisseur de type Beta. De surcrolt, un dépôt d'épaisseur très faible, soit au plus 5 % de l'épaisseur du support, est très difficilement visible avec une jauge Beta. Par exemple, toujours dans le cas du krypton, où 1 l'énergie la plus probable est de 250 keV, la perte d'énergie différentielle dans le carbone (représentatif du support) est de 2,28 Mev cm2/g. Si l'on suppose que la densité du film est 1, et que son épaisseur est 10 ym, ceci signifie qu'un électron de 250 KeV perd donc en moyenne 2,28 keV. Les dépôts qui provoqueront la perte d'énergie la plus éloignée de cette valeur doivent être constitués des atomes les plus lourds possibles. Bien entendu, il faut éviter, pour les dépôts, les substances nuisibles à la santé puisque le film plastique est assez largement utilisé pour l'emballage des aliments. De ce point de vue, le choix du sulfate de baryum qui n'est absolument pas toxique, et dont le nombre atomique est Z = 56, ce qui est relativement élevée, représente un bon compromis. Toutefois, compte tenu des épaisseurs relatives du dépôt et de son support, on observera ici une différence minime entre une mesure faite à l'aplomb du dépôt recouvrant le film, et une mesure faite à l'aplomb du film seul, puisque la perte d'énergie différentielle dans le sulfate de baryum est de 1,70 MeV.cm2/g, ce qui conduit à une perte d'énergie de 0,085 keV pour un dépôt d'épaisseur au plus égale à 5 % de l'épaisseur du film. C'est la raison pour laquelle il est souhaitable d'utiliser, par la jauge d'épaisseur intervenant dans le procédé selon l'invention, un rayonnement plus sensible à la composition qu'un rayonnement de type Beta (électrons). Dans ce contexte, le rayonnement X apparat toutà-fait adapté. Ainsi, selon un mode de mise en oeuvre préféré de l'invention, le repérage des bandes déposées est réalisé au moyen d'une jauge d'épaisseur utilisant le rayonnement X, émis par un tube à rayons X. Une telle jauge d'épaisseur est décrite dans la demande de brevet français NO 2691247 à laquelle il est fait référence. Une telle jauge d'épaisseur satisfait aux impératifs précédemment définis, puisqu'il est possible, avec l'utilisation d'un rayonnement X, de combiner dans le même temps précision de mesure, temps de réponse rapide et petite taille de détection. Par exemple, une précision statistique d'environ 1,5 % à 2 écarts-types est possible avec un temps de réponse de 20 ms et un diamètre de détection de 1,5 cm. Effectivement, avec un temps de réponse de 20 ms, la réponse de la jauge est très fidèle, puisqu'un défaut réel d'une largeur de 2,5 cm est reproduit avec un écart inférieur à 2 %. De plus, un dépôt du type préconisé ci-dessus, dont l'épaisseur est quelques pourcents de l'épaisseur du support, est nettement visible par une jauge à rayonnements X. A titre d'exemple, on peut se référer à des dépôts idéaux constitués d'au plus 0,5 ym de sulfate de baryum BaS04, sur un film plastique de 10 ym. La figure 3 montre à cet effet la surépaisseur mesurée S (en % de l'épaisseur du film plastique) que simule le dépôt, en fonction de son épaisseur réelle E exprimée en pourcentage de l'épaisseur nominale du support (ici : 10 îm). Les résultats sont donnés pour deux hautes tensions du tube à rayons X, respectivement 4000 et 5000 Volts. Dans les deux cas, un dépôt représentant 5 % de l'épaisseur nominale simule une surépaisseur de matière plastique supérieure à 50 %, c'est-à-dire 5 ym. Le dépôt est donc très aisément visible par la jauge, même pour des épaisseurs inférieures à 5 % de l'épaisseur nominale. Il convient cependant de noter qu'un mélange réaliste constitué d'une résine et contenant du sulfate de baryum atténue un peu moins les rayons X, puisque les résines sont formées généralement d'éléments chimiques de petit numéro atomique, et est donc de ce point de vue un peu moins efficace ; il demeure néanmoins bien détectable par la jauge. La forme de probabilités d'interaction de rayons X avec la matière, en particulier les sections efficaces de l'effet photoélectrique, montrent que l'atténuation maximale à une énergie donnée n'est pas forcément obtenue avec les éléments de numéros atomiques les plus élevés. La figure 3 montre par exemple qu'un dépôt de sulfure d'étain SnS2 est beaucoup plus efficace à 5 kV qu'un dépôt de sulfate de baryum. A titre de règle générale, on peut préconiser, pour le dépôt de bandes, des matières à base d'un corps simple de numéro atomique Z égal ou supérieure à 22 (qui est le numéro atomique du titane). En pratique, le sulfate de baryum ou le sulfure d'étain sont, pour des commodités d'utilisation, utilisés non pas seuls mais incorporés à un mélange solvant ou une résine non toxique, facilement manipulable, et notamment un mélange approprié pour une pulvérisation afin d'effectuer l'opération de marquage, au droit des boulons, tout en garantissant une atténuation maximale du rayonnement X de la jauge d'épaisseur. Il est à noter que beaucoup de composés, autres que le sulfate de baryum ou le sulfure d'étain, permettent également un repérage de bande aisé. Les surépaisseurs simulées ou mesurées par des mélanges comportant par exemple une proportion notable de sulfate de baryum ou de sulfure d'étain sont de beaucoup supérieures aux tolérances commerciales des films plastiques qui sont habituellement de l'ordre de + 3 %. Ceci demeure vrai même si le profil du dépôt n'est pas uniforme, entre autres s'il est beaucoup plus mince sur ses bords qu'en son milieu. Par exemple, des bordures cinq fois moins épaisses que le milieu conduisent quand même à une surépaisseur simulée ou mesurée S supérieure à 20 %. La précision avec laquelle les bordures du dépôt peuvent être localisées dépend donc peu du profil du dépôt. Par contre, la taille du récepteur, comme cela a été mentionné, est plus critique à cet égard. Un dépôt d'une largeur de 5 mm à la sortie de la filière conduit à une bande d'environ 5 cm de large après la phase d'étirage. De même, la zone extrudée face à un boulon représente environ 25 cm sur le film fini. Avec un récepteur rectangulaire de 0,5 cm de large et d'un peu moins de 4 cm de long, l'erreur sur la localisation d'une bordure est majorée par la dimension transversale du détecteur, c'est-à-dire 0,5 cm. On commet donc au maximum une erreur de 2 % sur la localisation d'une zone correspondant à un boulon. En conclusion, le procédé ici proposé permet d'établir facilement une corrélation entre une position sur le film et un organe de régulation de la filière, ce qui actuellement n'existe pas. Il débouche sur des processus de contrôle en ligne, notamment pour des films bi-orientés, beaucoup plus fiables que ceux déjà existants. L'invention concerne aussi un dispositif pour la mise en oeuvre du procédé défini ci-dessus, ce dispositif comprenant essentiellement en combinaison - des organes de dépôt d'une matière de marquage spécifique, situés au droit des différents boulons de la filière et en relation avec une réserve de matière de marquage, pour le dépôt de bandes de cette matière sur le produit extrudé, - une jauge d'épaisseur, notamment à rayonnement X, déplaçable sur la largeur du produit fini et conçue pour détecter les bandes déposées comme formant des surépaisseurs locales du produit, et - des moyens de traitement des signaux fournis par la jauge d'épaisseur au cours du balayage d'une portion dudit produit pourvue de ces bandes déposées, pour localiser sur le produit fini les zones correspondant effectivement aux différents boulons de la filière. Un exemple de réalisation d'un tel dispositif est illustré par le dessin schématique annexé, dans lequel Figure 4 est une vue d'ensemble, en perspective, d'une ligne de production de film plastique bi-orienté, équipée du dispositif objet de l'invention Figure 5 est une vue d'un détail du dispositif de figure 4 Figure 6 représente, vu en plan par dessus, un exemple de bandes déposées par ce dispositif. En se référant à la figure 4, une ligne de production d'un film plastique bi-orienté 1 comprend, d'amont en aval : une filière 6, un tambour 7 de coulée du film plastique, un embarrage 8 dans la région duquel est disposée une première jauge d'épaisseur (non représentée et non directement concernée dans ce cas par la présente invention), une zone 9 dans laquelle le film 1 est "biorienté", c'est-à-dire étiré longitudinalement et transversalement, et une zone de mesure 10, dans laquelle le film 1 a atteint sa largeur définitive 1, et dans laquelle l'épaisseur de ce film 1 est mesurée, sur toute sa largeur, au moyen d'une jauge d'épaisseur 11 déplaçable le long d'un guide transversal 12. La figure 4 ne représente ni l'extrudeuse fournissant la matière plastique à la filière 6, ni l'enrouleuse qui, située à l'aval de la zone de mesure 10, permet de former une bobine de produit fini. Comme le montre plus en détail la figure 5, la filière 6 comprend une série de "boulons" chauffants 13, disposés côte-à-côte dans le sens transversal, et délivrant chacun, entre deux lèvres 14,15, une épaisseur déterminée et réglable de matière plastique fondue. A partir de la jauge d'épaisseur 11, qui se déplace transversalement selon la flèche F sur toute la largeur 1 du film à l'état fini, s'étend une boucle de régulation 16 qui aboutit aux moyens de commande des différents boulons 13, et qui permet d'asservir chaque boulon 13, en ce qui concerne l'épaisseur de matière délivrée, à l'épaisseur de film mesurée sur le produit fini, par la jauge 11, dans la zone supposée correspondre à ce boulon 13. Pour localiser précisément les zones du film fini correspondant aux différents boulons 13 de la filière 6, il est prévu, en correspondance avec chaque boulon 13 mais indépendamemnt de celui-ci, un organe 17 de dépôt d'une matière de marquage. Tous les organes de dépôt 17, situés respectivement au droit des différents boulons 13, sont raccordés par un conduit d'alimentation commun 18 à un réservoir 19 de matière de marquage à déposer, telle qu'un mélange renfermant du sulfure d'étain. En fonctionnement, lorsqu'un repérage des zones du produit fini correspondant aux différents boulons 13 est souhaité, les organes 17 sont activés et chacun d'eux dépose sur la matière plastique extrudée, dans l'axe du boulon 13 associé, de la matière additionnelle qui, compte tenu de l'avance régulière de la matière extrudée, formera sur cette dernière une trace en forme de bande longitudinale 2, de faible épaisseur. Dans l'ensemble, on obtient ainsi, sur le film 1, autant de bandes déposées 2 que de boulons 13, ces bandes 2 adhérant au film 1 en suivant ses déformations étirement longitudinal et transversal). Ainsi, au niveau de la zone de mesure 10, le film 1 se présente avec une série de bandes déposées 2 sensiblement parallèles, qui sont toutes repérées au moyen de la jauge d'épaisseur 11 au cours d'un seul mouvement d'aller-retour de cette dernière. Pour cette application, la jauge d'épaisseur 11 est une jauge à rayonnement X, avec, de part et d'autre du produit à mesurer, respectivement un émetteur constitué par un tube à rayons X, et un récepteur adapté à ce type de rayonnement. La figure 6 montre, de façon plus précise, un exemple de bandes de marquage 2 déposées sur le film plastique 1. Les bandes de marquage 2 sont dans le cas présent décalées longitudinalement, les unes par rapport aux autres, chaque bande 2 étant reculée d'un écart d par rapport à la bande voisine, l'écart d étant déterminé en fonction de la vitesse de déplacement de la jauge d'épaisseur 11 de telle sorte que celle-ci balaye l'ensemble des bandes déposées 2 au cours d'un seul allerretour. Les signaux particuliers fournis par la jauge d'épaisseur 11 lors du balayage des bandes déposées 2 sont traités, dans la boucle de régulation 16, de manière à établir une corrélation précise entre les zones du film 1 fini et les différents boulons 13. Il va de soi que l'invention ne se limite pas à la seule forme d'exécution de ce dispositif qui a été décrite ci-dessus ; elle en embrasse, au contraire, toutes les variantes de réalisation et d'application respectant le même principe. REVENDICATIONS 1. Procédé de régulation automatique d'épaisseur pour lignes de production de films, feuilles ou plaques, du genre de celles comprenant une extrudeuse, un outil de conformation ou filière (6) équipé d'une pluralité de dispositifs mécaniques alignés ou "boulons" (13) réglables, répartis sur sa largeur, pour la régulation de l'épaisseur de la matière fondue extrudée au niveau de chaque boulon (13) et, en aval de l'outil de conformation (6), un système de mesure d'épaisseur du produit fini (1) sous forme de film, feuille ou plaque, ou "jauge d'épaisseur" (11) déplaçable sur toute la largeur de ce produit (1), et des moyens (16) qui déterminent, en fonction des anomalies d'épaisseur constatées sur le produit (1), des actions correctrices sur les boulons (13) précités, caractérisé en ce pue, pour repérer les zones d'un produit fini (1) correspondant effectivement aux différents boulons (13) de la filière (6), on effectue au droit de chacun des boulons (13), mais indépendamment de ces boulons, un dépôt d'une matière spécifique de marquage sur la matière en cours d'extrusion, les différents dépôts de matière de marquage formant des bandes (2) de longueur finie réparties sur la largeur (1) du produit (1), et en ce que l'on repère, au moyen de la jauge d'épaisseur (11), la position de ces bandes (2) qui sont détectées comme formant des surépaisseurs locales du produit fini (1). 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que la jauge d'épaisseur (11) utilisée pour la détection des surépaisseurs formées par les bandes déposées, est une jauge d'épaisseur (11) à rayonnement X. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que les bandes unitaires (2), formées par les dépôts de matière de marquage, sont respectivement centrées sur les plans médians des différents boulons (13). 4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que la largeur des bandes déposées (2) est sensiblement inférieure à la distance entre deux boulons (13) consécutifs. 5. Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que la largeur des bandes déposées (2) est d'environ un cinquième de la distance entre deux boulons (13) consécutifs. 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce qu'est choisie, comme matière spécifique de marquage, une matière atténuant le rayonnement de l'émetteur de la jauge (11) beaucoup plus fortement que le matériau de la feuille ou du film plastique (1) lui-même, de sorte que l'épaisseur des dépôts de matière de marquage est négligeable, comparée à celle de la feuille ou du film plastique (1). 7. Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce que l'épaisseur des dépôts de matière spécifique de marquage est, au plus, 5 % de l'épaisseur du support. 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que l'on utilise, par le dépôt des bandes (2), une matière à base d'un corps simple de numéro atomique égal ou supérieur à celui du titane (Z = 22). 9. Procédé selon la revendication 8, caractérisé en ce que la matière spécifique de marquage est du sulfate de baryum ou du sulfure d'étain, de préférence incorporé à un mélange ou à une résine. 10. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, caractérisé en ce que la jauge d'épaisseur (11), utilisée pour la détection des surépaisseurs formées par les bandes déposées, possède un récepteur (5) dont la largeur est inférieure à la moitié de la largeur des bandes déposées (2). 11. Dispositif de régulation automatique d'épaisseur pour lignes de production de films, feuilles ou plaques, mettant en oeuvre le procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 10, caractérisé en ce qu'il comprend, en combinaison - des organes de dépôt (17) d'une matière de marquage spécifique, situés au droit des différents boulons (13) de la filière (6) et en relation avec une réserve (19) de matière de marquage, pour le dépôt de bandes (2) de cette matière sur le produit extrudé (1), - une jauge d'épaisseur (11), notamment à rayonnement X, déplaçable sur la largeur (1) du produit fini (1) et conçue pour détecter les bandes déposées (2) comme formant des surépaisseurs locales du produit (1), et - des moyens de traitement des signaux fournis par la jauge d'épaisseur (11) au cours du balayage d'une portion dudit produit (1) pourvue de ces bandes déposées (2) pour localiser sur le produit fini (1) les zones correspondant effectivement aux différents boulons (13) de la filière (6). 12. Dispositif selon la revendication 11, caractérisé en ce que les organes de dépôt (17) de la matière de marquage sont constitués par des organes de pulvérisation de cette matière de marquage.