FR 2666146 A1 19920228 FR 9010737 A 19900821 DISSITIF POUR L'OBSERVATION EN MICR0SCOPIE ÉLECTRONIQUE DTUNE EPROUVETTE SOUS CONTRAINTE La présente invention concerne de façon générale le domaine de l'observation sous microscope électronique à balayage d'une éprouvette soumise à une contrainte mécanique. L'invention concerne plus particulièrement un dispositif permettant de supporter une telle éprouvette, de la soumettre à une contrainte déterminée et de l'orienter pour quelle puisse être correctement observée à 1 aide du microscope électronique, ce dispositif pouvant être placé entièrement à T l'intérieur de l'enceinte sous vide du microscope électrcnique. Afin de connaître de façon précise les caractéristiques mécaniques et le comportement des matériaux, en particulier des matériaux nouveaux, on effectue un grand nombre d'essais en utilisant des éprouvettes soumises à diverses contraintes mécaniques en traction, compression, torsion ou selon différents modes de fatigue, et l'on complète ces essais par une analyse microscopique des surfaces des éprouvettes avant, pendant ou après les opérations de mise sous contrainte. Une telle analyse microscopique de la surface d'une éprouvette est particulièrement utile lorsque l'on cherche à connaître le copportent mécanique de pièces en céramique, en matériau composite ou présentant un revêtement multicouche compo- site. L'observation sous microscope de ces éprouvettes permet de révéler en particulier la formation de fissures dont on essaie de préciser la nature, la forme, la dimension et le nombre par unité de surface ou de volume. Certains microscopes électroniques à balayage asmpren- nent un dispositif interne permettant de supporter une éprouvette et de la maintenir sous une contrainte de traction ou de flexion déterminée, afin d'effectr une observation de la surface de l'éprouvette ainsi soumise à une contrainte. Les dispositifs de support d'éprouvette de ce type, connus à ce jour, permettent dans certains cas d' obreer à l'aide du microscope électronique à balayage une fissure d'une surface de l'éprouvette tout en faisant varier la contrainte de l'éprouvette dans la zone contenant la fissure observée. De tels dispositifs ne donnent pas toute satisfaction perme que, à mesure que T on fait varier T l'intensité de la contrainte dans 1 'éprou- vette, il se produit un déplacement de la zone de l'éprouvette observée, ce qui oblige T l'utilisateur à effectuer continûment des réglages du microscope de façon à conserver dans le champ de vision la même fissure.En particulier, dans ces dispositifs, il peut se produire une variation de distance entre la zone observée et l'optique du microscope électrsnique. Or, même si une variation de distance entre ltobjet mesuré et l'optique de microscope électronique à balayage s 'effectue en restant dans la profondeur de champ du microscope, qui est relativement importante, cette variation modifie le grandissement du microscope, ce qui rend imprécises les mesures dimensionnelles que l'utilisateur effectue à partir des images fournies par le microscope. Lorque l'on observe de façon classique, par microscope électronique à balayage, des fissures apparaissant sur une surface plane d'une éprouvette soumise à une contrainte, on ne peut pas déminer à partir de 1' image fournie par le microscope toutes les dimensions des fissures. On peut relativement aisément effectuer une mesure de la longueur et de la largeur de la fissure. Cependant, une telle observation ne permet pas de mesurer de façon précise et fiable la profondeur de la fissure ni son orientation ou son profil en profondeur. Pour déterminer tout de même une dimension, un profil ou une orientation en pmforx3eur d'une fissure, il a été proposé d'effectuer successivement deux observations différentes, l'une effectuée sur une première surface de l'éprouvette et l'autre sur une surface perpendiculaire à la première. Les dispositifs de support d'une éprouvette soumisse à une contrainte variable connus à ce jour obligent à démonter l'éprouvette après l'observation au microscope selon la première surface et à la remonter pour permettre son observation selon la seoelee surface perpendiculaire. Dans ces oenditions, l'utilisateur n'est pas certain de connai- trie, pour une mette fissure, à la fois sa longueur et sa profondeur. En effet, sur une surface d'une même éprouvette, peuvent coexister plusieurs types de fissures, et l'observation ultérieure de ces mêmes fissures apparaissant sur une autre surface perpendiculaire ne permet pas une corrélation entre les types de fissures observés sur la première surface. Les dispositifs de ce type connus à ce jour ne permettent pas non plus de mesurer avec précision le niveau de contrainte s'exerçant dans l'éprouvette au cours de son observation au microscope électronique à balayage et ne permettent pas une mesure simultanée fiable et précise de l'énergie de déformation inélastique de l'éprouvette au odeurs de sa mise sous une contrainte déterminée. Or, il serait intéressant de pouvoir effectuer simultanément la détermination du nombre et de toutes les dimensions des fissures apparaissant sur une éprouvette soumise à une contrainte dérinfie, ainsi que la quantité d'énergie ayant provoqué la formation de ces fissures au cours de cette mise sous contrainte déterititée de l'éprouvette. Un objet de la présente invention est de fournir un dispositif pour l'observation au microscope électnique d'une éprouvette sous contrainte permettant une mesure en trois dimensions des fissures apparaissant sur une telle éprouvette. Un autre objet de la présente invention est de fournir un tel dispositif permettant une observation d'une zone de l'éprouvette pendant que celle-ci est soumise à une contrainte variant continûment sans que cette variation de contrainte ne modifie la distance séparant la zone observée de 1'optique du microscope électronique. Un autre objet de la présente invention est de fournir un tel dispositif permettant de mesurer la quantité d'énergie ayant proqué la formation de certaines fissures, sous une contrainte déterminée, et de détermines dans les trois dimensions la mesure de ces fissures et leur marbre par unité de surface ou de volume. L'invention oenoerne donc un dispositif pour l'observation sous microscope d'une éprouvette sous contrainte. Selon une caractéristique essentielle de 1' invention, le dispositif est constitué d'un châssis monté de façon pivotante selon un axe d'articulation, par rapport à un socle fixé à l'intérieur du microscope électronique, et d'un moyen de mise en flexion de l'éprouvette, de sorte que l'une des arêtes latérales de 1 'éprouvette soit située sensiblement dans l'axe d'articulation, afin de permettre une observation à l'aide du microscope électronique d'une zone de surface de l'éprouvette située de part et d'autre de ladite arête latérale. Selon un mode de réalisation de l'invention, lorsque l'éprouvette est mise en flexion, son arête latérale reste sensiblement tangente en un point fixe de l'axe de rotation, la zone d'observation englobant ce point de tangence. Selon un autre mode de réalisation de l'invention, le mayen de mise en flexion de l'éprouvette comporte deux points d'appui mobiles espacés montés rigidement sur une pièce mobile et un point d'appui fixe relié rigidement au châssis et disposé sensiblement à équidistance des deux points d'appui mobiles, l'éprouvette présentant une section reculaire, étant disposée entre les points d'appui mobiles et le point d'appui fixe, de sorte qu'un déplacement déterminé de la pièce mobile par rapport au châssis provoque le même déplacent des points d'appui mobiles par rapport au point d'appui fixe, afin de générer dans l'éprouvette un niveau de flexion déterminé variable qui crée un niveau aorresEiant de contrainte au voisinage de ladite arête latérale. Selon un autre mode de réalisation de l'invention, il est prévu en outre un moyen permettant d'effectuer le déplament contre lé de la pièce mobile au cours de 1 'opération d' observation au microscope, de façon à pouvoir observer ladite zone de l'éprouvette pendant une variation de contrainte ou sous différentes contraintes. Selon un autre triode de réalisation de l'invention, il est prévu en outre un mayen permettant d'effectuer la rotation contrôlée du châssis au cours de l'opération d'observation au microscope électranique, de façon à pouvoir observer ladite zone de l'éprouvette sous une incidence variable. Selon un autre mode de réalisatisn de l'invention, le dispositif caporte un capteur de force intercalé entre le châssis et le point d'appui fixe, de façon à effectuer en continu la mesure de la force générant la flexion de l'éprouvette. Selon un autre rrûde de raalisation de l'invention, le mayen permettant d'effectuer le déplacement de la pièce mobile est constitué d'une vis sans fin montée sur le châssis, libre en rotation selon un axe confondu avec l'axe de rotation du châssis par rapport au socle, d'une roue dentée en prise avec la vis sans fin et portant rigidement une came de profil déterminé, d'un bras de ccmnande relié par une de ses extrdmités au châssis de façon pivotante, son autre extrémité venant en appui sur la carre, la rotation de la vis sans fin entrant la rotation de la came prooqunt elle-même le pivotement du bras de commande qui à son tour provoque le déplacement de la pièce mobile portant les points d'appui mobiles. Selon un autre mode de réalisation de l'invention, il est prévu un dispositif de réglage dispose entre le point d'appui fixe et le châssis, de manière à régler la position de l'arête latérale de 1 'éprouvette pour l'amender de façon tangente à l'axe a' articulation. Selon un autre mode de réalisation de l'invention, l'articulation permettant le pivotement du bras de coeir'rode par rapport au châssis est montée sur un dispositif de réglage permettant d'amener les points d'appui mobiles en contact avec 1' éprouvette lorsque la came est dans une position déterminée. Ces objets, caractéristiques et avantages ainsi que d'autres de la présente invention seront exposés plus en détail dans la descriptisn suivante de modes de réalisation particuliers faite en relation avec les figures jointes parmi lesquelles la figure 1 est une vue scnérnatique d'un dispositif pour l'observation sous microscope électronique d'une éprouvette sous contrainte, selon l'invention; la figure 2 est une vue sXnatisée partielle agrandie d'une éprouvette montée dans un dispositif selon l'invention; la figure 3 est une vue agrandie de la zone de l'éprouvette de la figure 2 telle qu'observée au microscope; ; la figure 4 est une vue schématisec d'un mode de dépla cement de T éprouvette disposée dans un dispositif selon 1 'inven- tion; la figure 5 est une vue de dessus d'un mode de réalisation du dispositif selon l'invention l'invention; la figure 6 est une vue de face du dispositif représenté en figure 5 ; et la figure 7 est une vue depuis le côté gauche du dispositif représenté dans les figures 5 et 6. La figure 1 illustre schématiquement la disposition des pièces essentielles du dispositif selon l'invention permettant de supporter une éprouvette, de la mettre sous une contrainte déterminée variable et de la déplacer, ce dispositif étant destiné à être monté à l'intérieur d'un microscope, en particulier d'un microscope électronique à balayage. Un châssis 1 est monté sur un socle 2 par l'intermédiaire d'articulations de façon à pouvoir pivoter par rapport à ce socle 2 selon un axe d'articulation 3 disposé sensiblement horizontalement, dans le cas classique où l'axe du microscope électronique à balayage est disposé verticalement.Le châssis 1 porte une première partie rigide latérale 4 décalée par rapport à l'axe d'articulation 3 et une seconde partie latérale 5 décalée elle aussi par rapport à l'axe de rotation 3 et disposée de manie opposse à la première partie 2 par rapport à cet axe 3. La partie latérale 4 du châssis 1 comporte une pièce formant point d'appui fixe 6 liée rigidement à la partie 4 et s'étendant en diction de l'axe 3 jusqu a son voisinage.La partie latérale 5 importe un dispositif de guidage 7 permettant le coulissement longitudinal selon une direction recoupant l'axe 3, d'une pièce mobile 8 comprenant deux points d'appui 9 et 10 disposés de part et d'autre et à équidistance du point d'appui fixe 6. Un dispositif (non représenté) permet de commander les déplacements longitudinaux de la pièce mobile 8 par rapport à la partie latérale 5 du châssis 1. Lorsque 1 'on veut effectuer une observation d'une éprouvette 12, on dispose celle-ci dans le châssis 1 de telle sorte que l'une des surfaces latérales 13 de l'éprouvette vienne en appui contre le point d'appui fixe 6 et que 1 'autre surface latérale opposée 14 vienne en appui contre les points d'appui mobiles 9 et 10. Si 1 'on actionne le dispositif permettant le déplacement de la pièce mobile 8, les points d'appui mobiles 9 et 10 se déplacent en direction du point d'appui fixe 6 et cela provoque une flexion de l'éprouvette 12.De préfêroe, ltéprou- vette 12 présente une section taansvesale rectangulaire, les deux grands côtés du rectangle correspondant aux surfaces planes latérales 13 et 14 de l'éprouvette. Lorsque cette éprouvette 12 est ainsi mise en flexion dans le dispositif selon 1' invention, sa surface initialement plane 14 en appui contre les points d'appui mobiles 9 et 10 flédiit et prend une courbure convexe et sa surface apposez 13 en appui contre le point d'appui fixe 6 prend une courbure concave. Sur la figure 2, on distingue l'éprouvette 12 soumise à une certne flexion du fait du rapprint des deux points d'appui mobile 9 et 10 par rapport au point d'appui fixe 6. Le dispositif selon l'invention est disposé à l'intérieur d'un microscope électrique à balayage 15 dont on a représenté schématiquement sur la figure 2 un élément d'optique 16 et des tracés convergents 17 représentant le trajet du faisceau d'électrons. La zone de focalisation du microscope est située au niveau de l'arête latérale 20 de la surface latérale 14 de l'éprouvette 12. Cette éprouvette 12 est disposée dans le châssis 1 de manière que son arête 20 soit tangente à l'axe d'articulation 3 en un point 22 de cet axe situé le plus près du point d'appui fixe 6. Le microscope électronique 15 est positionné de manière que sa zone d'observation 24 soit située au niveau du point de tangence 22 de l'arête 20 avec l'axe 3. Cette zone d'observation 24 se situe donc à proximité du point d'appui fixe 6, et une modifica- tion du déplacement des points d'appui mobiles 9 et 10 provoque une modification de la flexion de l'éprouvette 12 sans que cette zone 24 (ou le point de tangence 22) ne se déplace de manière appréciable.Le microscope 15 peut donc servir pour effectuer une image de la zone observée 24 qui reste fixe lors d'un actionnement du dispositif permettant de modifier la flexion de 1 'éprou- vette 12, et en séééence de modifier le niveau de contrainte dans la zone observée 24 de l'éprouvette 12. La figure 3 représente la partie de 1 'éprouvette 12 observée à l'aide du microscope électronique à balayage 15, c'ect-à-dire la partie de l'éprouvette 12 située au niveau de la zone 24 qui englobe l'arête latérale 20. La surface latérale 14 de l'éprouvette 12 est soumise à une contrainte en traction, oe qui provoque, à partir d'un certain niveau de contrainte, des fissures 25 qui sont visibles sur une grande partie de la surface 14.On a représenté en figure 3 une éprouvette 12 comportant un revêtement mu1tioeucnes 26 situé sur sa surface latérale 14 soumise à une contrainte en traction. tibe fissure 28 s'étend sur une faible longueur le long de la surface 14 et sur une forte profondeur au travers de toutes les couches du revêtement 26. Une autre fissure 29 présente une grande longueur le long de la surface 14 et une faible profondeur. La simple observation de la surface 14, à l'aide d'un microscope à balayage, ne permet pas d'apprécier la nature des fissures 28 et 29.Si l'on fait des observations indépendantes de la surface latérale 14 et de la surface orthcgQnale 30, on ne peut pas établir de corrélation entre une forme particulière de fissure apparaissant au niveau de la surface latérale 14 et une forme particulière de fissure apparaissant au niveau de la surface 30. Si, pendant ltobservation au microscope, l'ensable du châssis 1 est pivoté autour de son axe 3, le microscope peut four une image au niveau de la zone d'observation 24 incluant à la fois des fissures s'étendant sur la surface latérale 14 et les mêmes fissures ou d'autres fissures s'étendant en profondeur au niveau de la surface 30. On peut ainsi effectuer des mesures des fissures en trois dimensions. La figure 4 représente schînratiquement le mouvement de pivotement de 1 'éprouvette 12 autour de T axe d'articulation 3. On constate que la zone observée 24 ne se déplace pas par rapport au microscope, au murs du pivotement de l'éprouvette 12, et ne se déplace pas non plus si, quelle que soit la position de rotation de l'éprouvette 12, on actionne le dispositif afin de modifier la flexion de l'éprouvette 12, c'est-à-dire si on modifie le niveau de contrainte au niveau de l'arête 20 de l'éprouvette. Un mode de réalisation particulier est représenté dans les figures 5 à 7. Dans ces figures, on retrouve un châssis 101 qui est monté libre en rotation autour d'un axe d'articulation 103, à T aide d' articulations (non représentées), par rapport à un socle (non représenté). Un point d'appui 106 est relié rigidement au châssis 101. Une glissière 107 permet le guidage et le déplacement longitudinal d'une pièce mobile 108 qui comporte deux points d'appui mobiles 109 et 110 disposés latéralement à equi- distance, de part et d'autre du point d'appui fixe 106. une éprouvette 112 de section transversale rectangu- laire est disposée entra les points d'appui mobiles 109 et 110 et le point d'appui fixe 106. Le déplacertent vers le haut de la pièce mobile 108 entrains un déplacement équivalent vers le haut des points d'appui mobiles 109 et 110, ce qui provoque le fléchissement de l'éprouvette 12, campe cela a été décrit précédemment en relation avec la figure 1. Le déplacement de la pièce mobile 108 est commandé par un mécanisme qui va être décrit ci-après. Une vis sans fin 115 est dispose libre en rotation par rapport au châssis 101, selon un axe confondu avec l'axe d'articulation 103. Cette vis sans fin peut être actionnée à l'aide d'un dispositif queloenque, par exemple à l'aide d'un moteur électrique ou d'une clé (non représentés). Une roue dentée 116 est en prise continue avec les filets de la vis sans fin 115 et une came 117 présentant un profil hélicoïdal 118 est fixée rigidement sur la roue dentée 116.Un bras de oasnande 119 est articulé par rapport au châssis 101 en un point d'articulation 120 et présente, au niveau de son autre extrémité, un roulement 121 qui vient en appui sur la surface hélicoïdale 118 de la carre. Le bras de ocrrrrande 119 vient s'appuyer au niveau de sa partie inte:eé- diaire sur un ergot 122 lié rigidement à la pièce mobile 108. Lorsque l'on actionne en rotation la vis sans fin 115, cella provoque la rotation de la roue dentée 116 qui entrains en rotation la came 117 dont la surface hélicdidale 118 vient s'appuyer sur le roulement 121, proaoqunt ainsi un déplacement de l'extré- mité du bras de commande 119 sur laquelle est traité le roulement 121. Le bras de ossnande 119 se déplace donc par pivotement autour de son axe d'articulation 120, oe qui provoque un déplacement de l'ergot 122 qui entraîne un déplacement équivalent de la pièce mobile 108 et des points d'appui mobiles 109 et 110.Si on tonne la vis sans fin 115 dans le sens contraire des aiguilles d'une montre, la came 117 tourne dans le sens des aiguilles d'une montre (sur la figure 5), ce qui prclvc qu le pivotement de la pièce 119 dans le sens contraire des aiguilles d'une montre et le déplacement des points d'appui mobiles 109 et 110 vers le haut (sur la figure 5). En actionnent ainsi la vis sans fin 115, on provoque le déplacement des points d'appui mobiles 109 et 110 en direction du point d'appui fixe 106, ce qui provoque une augmentation du fléchissement de l'éprouvette 112 et par conséquent une augmenta- tion de la contrainte en traction de la surface latérale 114 dirigée vers les points d'appui mobiles et une augmentation de la contrainte en compression de la surface latérale 113 dirigée vers le point d'appui fixe. L'axe d' articulation 120 du bras de ocmTande 119 est monté sur un dispositif 125 de réglage de position. Le point d'appui fixe 106 est relié au châssis 1 par l'intermédiaire d'un dispositif 126 de réglage de position. Les dispositifs de réglage de position 125 et 126 permettent un réglage selon une direction parallèle à la direction 111 du déplacement des points d'appui mobiles 109 et 110. En actionnant le dispositif de réglage 126, on peut faire en sorte que l'arête extérieure 131 de l'éprouvette 112 soit confondue avec l'axe d'articulation 103.En actionnent le dispositif de réglage 125, on peut faire en sorte que, lorsque la carre 117 est tournée au maximum de sa course dans le sens contraire des aiguilles d'une montre (carme cella est représenté en figure 5), le bras de comnande 119 vienne pousser les points d'appui mobiles 109 et 110 pour les faire venir en affeurement de la surface latérale 114 de 1 'éprouvette 112, de façon à être au tout début de la phase de fléchissement de l'éprouvette. Le point d'appui fixe 106 et son dispositif de re- glage 126 est relié rigidement au châssis 101 par l'intermédiaire d'une pièce 135 incluant un capteur de force 136.Ce capteur de force 136 permet de détecter le début du fléchissement de l'éprouvette 112 et permet également une mesure en continu de l'effort qu'exerce la pièce 112 sur le point d'appui fixe 106, cet effort étant en relation directe avec la contrainte s'exer çant sur les faces latérales 113 et 114 de 1 'éprouvette 112. Lorsque l'on actionne la vis sans fin 115 afin d'augmenter le fléchissement de l'éprouvette 112, celle ci subit, dans un premier temps, une sollicitation élastique, et si l'on augmente son fléchissement, il peut se produire des fissures qui marquent le début d'une flexion inélastique. A cet instant, il y a un certain relâchement de l'effort qu'exerce l'éprouvette sur le point d'appui fixe, et le capteur de force 136 révèle une diminution de la force qui caractérise la quantité d'énergie libérée par la formation des fissures. Le fait de disposer la vis sans fin 115 de façon oenoentrique avec T axe d'articulation 103 permet de l'actionner sans que cet actionnement ne soit perturbe par un pivotement du châssis 1 par rapport au socle 2, ce pivotement s'effectuant lui aussi selon l'axe 103. EtEVENDICATIONS 1. Dispositif pour l'osservation sous microscope élec tronque d'une éprouvette (12, 112) sous contrainte, caractérisé en ce qu'il est constitué d'un chassis (1, 101) monté de façon pivotante selon un axe d'articulation (3, 103), par rapport à un socle (2) fixé à l'intérieur du microscope électronique, et d'un mien de mise en flexion de l'éprouvette (12, 112), de sorte que l'une des arêtes latérales (20, 131) de l'éprouvette soit située sensiblement dans l'axe d'articulation (3, 103), afin de permet une une observation à l'aide du microscope électronique d'une zone (24) de surface de l'éprouvette (12, 112) située de part et d'autre de ladite arête latérale (20, 131). 2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que, lorsque l'éprouvette (12, 112) est mise en flexion, son arête latérale (20, 131) reste sensiblement tangente en un point fixe de l'axe de rotation (3, 103), la zone d'observation (24) englobant ce point de tangence (22). 3. Dispositif selon l'une des revendioetions 1 ou 2, caractérisé en ce que le mayen de mise en flexion de l'éprouvette (12, 112) comporte deux points d'appui mobiles espacés (9, 10, 109, 110) rentés rigidement sur une pièce mobile (8, 108) et un point d'appui fixe (6, 106) relié rigidement au châssis (1, 101) et disposé sensiblement à équidistance des deux points d'appui strobiles, l'éprouvette (12, 112), présentant une section rectanqu- laire, étant disposée entre les points d'appui mobiles et le point d'appui fixe, de sorte qu 'un déplacement déterminé de la pièce mobile (8, 108) par rapport au châssis (1, 101) provoque le même déplacement des points d' appui mobiles par rapport au point d'appui fixe, afin de générer dans l'éprouvette un niveau de flexion déterminé variable qui crée un niveau oerrepondant de contrainte au voisinage de ladite arête latérale (20, 131). 4. Dispositif selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il est prévu en outre un moyen permettant d'effectuer le déplacement contrôlé de la pièce mobile (8, 108) au cours de l'opération d'obrvation au miaroscope, de fanon à pouvoir observer ladite zone (24) de l'éprouvette pendant une variation de contrainte ou sous différentes contraintes. 5. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 4, caractérisé en ce qu'il est prévu en outre un mayen permettant d'effectuer la rotation contrôlée du châssis (1, 101) au cours de l'opération d'observation au microscope électranique, de façon à pouvoir observer ladite zone (24) de l'éprouvette sous une incidence variable. 6. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 3 à 5, caractérisé en ce qu'il comporte un capteur de force (136) intercalé entre le châssis 101 et le point d'appui fixe (106), de façon à effectuer en continu la mesure de la force générant la flexion de l'éprouvette (112). 7. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 2 à 6, caractérisé en ce que le mayen permettant d'effectuer le deplacement de la pièce mobile (108) est constitué d'une vis sans fin (115) montée sur le châssis (1), libre en rotation selon un axe confondu avec l'axe de rotation (103) du châssis par rapport au socle, d'une roue dentée (116) en prise avec la vis sans fin et portant rigidement une came de profil (118) déterminé, d'un bras de commande (119) relié par une de ses extrémités au châssis (101) de façon pivotante (120), son autre extrémité (121) venant en appui sur la came (118), la rotation de la vis sans fin entraînant la rotation de la came provocant elle-même le pivotement du bras de commande (119) qui à son tour provoque le déplacement de la pièce strobile (108) portant les points d'appui mobiles (109 et 110). 8. Dispositif selon la revendication 7, caractérisé en ce qu'il oortprend un dispositif de réglage (126) disposé entre le point d'appui fixe (106) et le châssis 101, de manière à régler la position de l'arête latérale (131) de l'éprouvette (112) pour l'amener à être tangente à l'axe d'articulation (103). 9. Dispositif selon l'une des revendications 7 ou 8, caractérisé en ce que 1 'articulation (120) permettant le pivotement du bras de carrande (119) par rapport au châssis (101) est montée sur un dispositif de réglage (125) permettant d'arrenter les points d'appui mobiles (109 et 110) en contact avec l'éprouvette (112) lorsque la came est dans une position de terminée.