FR 2664395 A1 19920110 FR 9008625 A 19900706 PROCEDE DE DETERMINATION AUTOMATIQUE DE LA DUREE D'EXPOSITION D'UN FILM RADIOGRAPHIQUE ET SYSTEME DE MISE EN OEUVRE L'invention concerne les systèmes de radiologie comprenant un film radiologique et utilisés pour examiner des objets et, plus particulièrement dans de tels systèmes, un procédé qui permet d'estimer, pendant l'examen de l'objet, la lumination reçue par le film radiologique et d'arrêter l'exposition lorsque le film est arrivé à un niveau de noircissement donné. Un système de radiologie comprend essentiellement un tube à rayons X et un récepteur d'un tel rayonnement entre lesquels est interposé l'objet å examiner tel qu'une partie du corps d'un patient. Le récepteur image qui est, par exemple, un couple film-écran, fournit après une durée de pose appropriée et développement du film, une image de l'objet. Pour que l'image de l'objet puisse être exploitée dans les meilleures conditions, il faut que les différents points qui constituent cette image présentent entre eux un contraste suffisant, ctest-å-dire que le noircissement du film radiographique soit correct, et cela d'une radiographie à la suivante, malgré les différences d'opacité que peut présenter l'objet radiographié. Le noircissement du film est lié à la quantité d'énergie du rayonnement incident sur le couple film-écran, c'est-å-dire le produit de l'intensité du rayonnement auquel est soumis le film radiographique, ou débit de dose "film", par le temps durant lequel le film est exposé à ce rayonnement. En conséquence, pour obtenir un noircissement constant du film d'une radiographie à la suivante, il est connu de mesurer, au cours de l'examen, l'énergie incidente sur le film au moyen d'une cellule de détection, placée en général avant le récepteur, qui est sensible au rayonnement X et qui fournit un courant proportionnel au débit de dose "film". Ce courant est intégré, à compter du début de la pose, dans un circuit intégrateur qui fournit une valeur croissante au cours de la pose.Cette valeur croissante est comparée durant le temps de pose à une valeur de consigne fixe, préalablement établie en fonction des caractéristiques du film. La fin du temps de pose est déterminée par l'instant auquel la comparaison indique que la valeur représentative de l'énergie incidente sur le film est égale à la valeur de consigne. Dans le cas ou le film radiographique est directement soumis au rayonnement X et que la variation des temps de pose d'un examen à l'autre est suffisamment faible, un noircissement constant du film est obtenu d'une pose à la suivante, indépendamment de la durée du temps de pose S, à condition que le produit du temps de pose S par le débit de dose F soit constant, c'est-a-dire que la valeur résultant de l'intégration doit rester constante. Ceci n'est vrai que si les caractéristiques du film obéissent à la loi de réciprocité qui indique que la densité optique du film est proportionnelle au produit F x S et si la réponse du film est indépendante de la qualité du faisceau de rayons X incident. Cette loi de réciprocité n'est plus vérifiée dans le cas ou la variation des temps de pose est forte. Par ailleurs, dans le cas ou le film radiographique est associé à un écran renforçateur, le noircissement du film dépend de la qualité du spectre. En effet, la réponse de l'écran dépend de la répartition énergétique du spectre du rayonnement reçu, ce qui signifie qu'il est sensible au durcissement de spectre et au changement de tension du tube à rayons X. Enfin, il existe certaines applications pour lesquelles il est pénalisant que la cellule de détection soit placée avant le film, par exemple en mammographie, car l'énergie de rayonnement est telle que la cellule de détection serait alors visible sur le film. Dans ce cas, elle est placée derrière le récepteur image mais cela crée une difficulté supplémentaire car le signal perçu par la cellule détectrice est celui qui n'a pas contribué au noircissement du film. Il en résulte que la mesure effectuée par la cellule de détection ne représente pas, en général, la lumination incidente sur le film radiographique. L'écart à la loi de réciprocité, qui varie selon le type de film, représente la variation relative de la lumination nécessaire pour obtenir une densité optique constante lorsque le temps de pose S varie alors que le spectre du rayonnement X est constant. Ceci se traduit par le fait que pour obtenir une même densité optique du film, la lumination devra être par exemple de 1 pour un temps de pose S = 0,1 seconde, de 1,3 pour S = 1 seconde et de 2 pour S = 4 secondes. Cet écart à la loi de réciprocité est dû au phénomène connu sous le nom d'effet Schwarzschild. Cet effet est décrit notamment dans le livre intitulé : "CHIMIE ET PHYSIQUE PHOTOGRAPHIQUES" de Pierre GLAFKIDES - 4ème édition, pages 234 à 238 et édité par PUBLICATIONS PHOTO-CINEMA Paul MONTEL. Pour tenir compte de cet écart à la loi de réciprocité, il a été proposé différentes solutions et l'une d'entre elles a été décrite dans le brevet français 2 584 504. Dans ce brevet, il est prévu de comparer la valeur intégrée du signal fourni par la cellule de détection å une valeur de consigne qui varie au cours de la pose selon une loi déterminée. Plus précisément, à partir du début de chaque temps de pose, on ajoute à la différence des valeurs du signal intégré et de la consigne une valeur additionnelle qui est croissante en fonction du temps selon une loi préalablement déterminée, par exemple exponentielle. Cette loi préalablement déterminée, qu'elle soit exponentielle ou autre, ne rend compte de l'écart à la loi de réciprocité que de manière imparfaite, notamment en ne tenant pas compte des variations de l'intensité lumineuse effectivement reçue par le film. En outre, cette correction ne tient pas compte des effets d'autres phénomènes tels que le durcissement du rayonnement X dû à l'épaisseur d'objet traversé, à la modification du spectre due à la tension du tube à rayons X. De plus, dans ce procédé, la cellule de détection est placée avant le récepteur image. Le but de la présente invention est donc de mettre en oeuvre un procédé pour déterminer automatiquement, pendant la durée du temps de pose, l'instant d'arrêt de la pose en tenant compte des différents effets qui interviennent, notamment les variations du courant de tube, le durcissement du spectre dû à l'épaisseur d'objet traversé, à la modification du spectre due à la tension de tube et, lors de la présence d'un écran renforçateur, de la réponse en absorption de celui-ci. L'invention concerne un procédé de détermination automatique de la durée d'exposition d'un film radiographique dans un système de radiologie prévu pour examiner un objet qui comprend un tube à rayons X dont la tension d'alimentation V peut prendre diverses valeurs Vm, à variation continue ou discrète, et qui émet un faisceau'de rayons X sous forme d'impulsions de durée variable S en direction de l'objet à examiner, un récepteur du rayonnement X ayant traversé l'objet pour réaliser une image dudit objet, ledit récepteur étant composé d'au moins un écran renforçateur et d'un film sensible à la lumière émise par cet écran, une cellule de détection des rayons X, placée derrière le récepteur image, qui permet de convertir une grandeur physique caractérisant le faisceau de rayons X en un signal de mesure L, un circuit intégrateur qui intègre le signal de mesure L pendant la durée S de la pose et fournit un signal M et un dispositif de calcul du rendement D donné par le rapport de M par le produit I x S (ou mA.s) du courant anodique I du tube par la durée S de la pose, caractérisé en ce qu'il comprend les opérations suivantes (a) un premier étalonnage du système de radiologie à l'aide d'objets d'épaisseur Ep en utilisant le récepteur sans le ou les écrans renforçateurs de manière à déterminer la fonction Dse = f' (Vm, Ep) (4) et la fonction inverse Ep = g' (Vm, Dse) (5) (b) un deuxième étalonnage du système de radiologie à l'aide des objets d'épaisseur Ep en utilisant le réce#pteur avec écran renforçateur de manière à déterminer la fonction Dc = f" (Vmt Ep) (6) la fonction inverse Ep = g" (Vm, Dc) (7) et la fonction Df = f'(Vm, Ep) - f"(Vm,Ep) (8) (c) un troisième étalonnage pour déterminer la lumination de référence Lref que doit recevoir le film, dans des conditions de référence fixées, pour arriver au noircissement (ou densité optique) choisi comme valeur de référence par le praticien; Ces opérations d'étalonnages ayant été effectuées, on peut passer à l'examen radiologique de l'objet qui consiste à (el) mise en place de l'objet à radiographier; (e2) déclenchement du début de la pose par le praticien; (e3) mesure du rendement Dcl un certain temps t' après le début de la pose; (e4) mesure de l'épaisseur équivalente E1 par l'équation (7); (e5) calcul du rendement Dfl au niveau du film pour l'épaisseur E1 par l'équation (8);; (e6) calcul de la lumination Lf reçue par le film selon l'équation Lf = Lam + Dfl x SmA.s (9) (e7) calcul de la lumination Lra restant à acquérir pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation : Lra = Lref - Lf (10) (e8) calcul prévisionnel des mA.s restant à débiter mAsr pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation mAsr = Lra/Dfl (11) (e9) mesure des mA.s débités mAsmes depuis le début de l'opération (e3); (elO)- arrêt de la pose lorsque les mA.s mesurés mAsmes en (e9) sont égaux ou supérieurs à mAsr, - ou retour à l'opération (e3) lorsque les mA.s mesurés en (e9) sont inférieurs à mAsr. Pour tenir compte du temps tc des opérations (e4) à (e8), l'opération (e8) comprend, en outre, une opération de calcul des mA.s débités (mAsc) pendant les opérations (e4) à (e8) définie par l'équation mAsc = I x tc (13) ce qui permet de déterminer la valeur réelle des mA.s restant à acquérir (mAsra) par l'équation : mAsra = mAsr - mAsc (12) Dans une première variante, l'opération (elO) comprend, en outre, une opération de calcul du temps de pose restant à courir trc tel que mAsra trc = I (14) de manière à terminer la pose en boucle ouverte si trc est inférieur à une valeur t" correspondant à l'intervalle de temps séparant deux opérations successives (e3). Dans une deuxième variante, les opérations (e3) à (elO) sont remplacées par - une tâche d'estimation (T.E.) des mA.s restant à débiter constituée par les opérations (e4) à (e8) et une opération de conversion des mA.s en un signal dans les unités de la cellule 12 tel que CEcible = mAsra x Dc (16) - une tâche de coupure (T.C.) de la pose qui consiste à décrémenter la valeur cible CEcible par les signaux reçus par la cellule (12) et à terminer la pose lorsque la valeur décrémentée devient inférieure ou égale à une valeur Valo (Val0 est égal à zéro par exemple). La tâche d'estimation (T.E.) est renouvelée périodiquement pendant la pose aux instants t1, t2...tn séparés par une durée qui est au moins égale au temps de calcul tc. Dans une dernière variante, l'opération (e10) est remplacée par l'opération de calcul du temps de pose restant à courir trc de manière à terminer la pose en boucle ouverte. Pour tenir compte de l'effet de non réciprocité du film, les opérations (e6) et (e8) sont modifiées pour introduire un coefficient CNRD (débit-film) de non réciprocité du film dans les équations (9) et (11) qui deviennent Lf = Lam + Dfl x EmA.s/CNRD (débit-film) (9') et Lra et Lra x Dfl x CNRD (débit-film) (11') Df1 formules dans lesquelles CNRD (débit-film) est le coefficient de non réciprocité indexé en fonction du débit-film tel que débit-film = Dfl x I (17) Le coefficient CNRD est obtenu en effectuant les opérations suivantes:: - mesure des coefficients de non réciprocité CNRT (ti) du couple film-écran en fonction des temps de pose (ti), - mesure pour chaque temps de pose (ti) du débit-film dit - détermination de la fonction de modélisation des coefficients CNRD (di) telle que CNRD (d) = A'o + A'1 log l/d + A'2 log l/d ] 2 (20) ce qui permet de déterminer le coefficient correspondant à un débit donné. Le débit-film di est par exemple donné par la formule di = Lref x CNRT (ti) ti La lumination de référence Lref est déterminée par un procédé d'étalonnage qui comprend les opérations suivantes réalisation d'un cliché dans des conditions radiologiques déterminées pour une densité optique de référence DOrefo, un étalon d'épaisseur Eo, une tension d'alimentation Vo, un temps de pose to et une valeur du produit Io x to; - mesure du rendement Do; ; calcul de l'épaisseur équivalente Epo par la formule Epo = g" (Vo Do) (7) calcul du rendement Dfo sur le film par la formule Dfo = f' (V0, Eo) - f" (Vo, Eo) (6) Calcul de la luminance Lfilm sur le film par la formule Dfo x 1o x t0 (23) CNRT - CNRT (to) calcul de l'échelon d'éclairement Echref correspondant à la densité optique de référence DOrefo à l'aide de la courbe sensitométrique; - mesure de la densité optique Dom du cliché obtenu et calcul de l'échelon d'éclairement Echm à l'aide de la courbe sensitométrique;; calcul de la lumination de référence Lref par la formule avec K = 2/long10(2) (26) Les coefficients de non réciprocité CNRD (d) en fonction du débit-film sont obtenus en effectuant les opérations suivantes - mesure des coefficients de non réciprocité CNRT (ti) du couple film-écran en fonction des temps de pose (ti), - mesure pour chaque temps de pose (ti) du débit-filom dit - détermination de la fonction de modélisation des coefficients CNRD (di) telle que CNRD (d) = A'0 + A'1 log 1/d + A'2 [ îog l/d ] 2 (20) ce qui permet de déterminer le coefficient correspondant à un débit-film donné. Les coefficients de non réciprocité CNRT (ti) en fonction des temps de pose (ti) peuvent être obtenus de différentes manières, par exemple en effectuant les opérations suivantes (al) la modification du courant de chauffage du tube de manière à obtenir différentes valeurs dudit courant, (a2) le relevé des valeurs M (ti) fournies par le circuit intégrateur pour différents temps de pose (ti) de manière à obtenir une densité optique D0 du film (a3) le calcul du rapport M (ti) M (tref) (29) qui donne le coefficient CNRT (ti) avec M (tref) la valeur M (ti) pour ti = tref Les coefficients CNRT (ti) peuvent être modélisés par la fonction;; CNRT (t) = Ao + A1 log t + A2 [ 1og t ] 2 (18) Dans le cas ou le récepteur image de l'appareil de radiologie est du type film et dans lequel la cellule de détection est placée devant ou après le récepteur image, les opérations (a),(b),(c), et (el) à (elO) décrites ci-dessus sont réduites aux opérations suivantes (a') étalonnage du système de radiologie de manière à déterminer le modèle analytique D'f = f "' (Vm, Ep) (30) (c') avec le film comme récepteur image, étalonnage pour déterminer la lumination de référence L'ref que doit recevoir le film, dans des conditions de référence fixées, pour arriver au noircissement (ou densité optique) choisi comme valeur de référence par le praticien; (e'1) mise en place de l'objet à radiographier; (e'2) déclenchement du début de la pose par le praticien;; (e'3) mesure du rendement D'fil un certain temps t' après le début de la pose; (e'6) calcul de la lumination L'f reçue par le film par l'équation L'f = Lam + D'fil x & A.s (9") (e'7) calcul de la lumination L'ra restant à acquérir pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation L'ra = L'ref - L'f (10") (e'8) calcul prévisionnel des mA.s restant à débiter mAs'ra pour obtenir le noircissement (ou densité optique) par l'équation mAs'ra = L'ra/D'fî (11") les autres opérations suivantes (e9) et (elO) étant sans changement. D'autres buts, caractéristiques et avantages de la présente invention apparaîtront à la lecture de la description suivante du procédé selon l'invention et d'un exemple particulier de réalisation du système de radiologie pour le mettre en oeuvre, ladite description étant faite en relation avec les dessins joints dans lesquels - la figure 1 est un schéma fonctionnel d'un système de radiologie qui permet de mettre en oeuvre le procédé selon l'invention, - la figure 2 est un diagramme montrant des courbes obtenues en mettant en oeuvre un procédé d'étalonnage utilisé dans le procédé selon l'invention, - la figure 3 est un diagramme montrant une courbe de variation des coefficients de non réciprocité CNRT en fonction du temps de pose t, - la figure 4 est un diagramme montrant des courbes de variation des coefficients de non réciprocité CNRD en fonction de l'inverse du débit d, et - la figure 5 est un diagramme montrant des courbes de variation de la densité optique d'un film radiographi que en fonction de la lumination. Un système de radiologie auquel s'applique le procédé de détermination automatique du temps de pose d'un objet à radiographier 13 selon l'invention comprend une source 11 de rayonnement X tel qu'un tube à rayons X qui fournit un faisceau 14 de rayons X illuminant cet objet 13 et un récepteur image 17, tel qu'un couple film-écran, qui est placé de manière à recevoir les rayons X ayant traversé ledit objet et qui fournit, après une durée de pose S appropriée et développement du film, une image de l'objet 13. Pour mettre en oeuvre le procédé de l'invention, le système comprend, en outre, une cellule de détection 12 qui est placée derrière le récepteur image 17 dans le cas d'un film radiographique avec écran renforçateur. Cette cellule peut être placée devant le récepteur dans le cas d'un film sans écran renforçateur. La cellule de détection 12 permet de convertir une grandeur physique caractéristique du rayonnement X ayant traversé l'objet et le récepteur image, tel que le KERMA ou la fluence énergétique, en un signal de mesure L, par exemple de type électrique. Le signal L, fourni par la cellule de détection 12, est appliqué à un circuit 16 qui réalise une intégration du signal électrique pendant la durée S de la pose. Le signal M, qui résulte de l'intégration, est une mesure du rayonnement ayant traversé l'objet 13 pendant la durée S de la pose. La source 11 de rayonnement X est associée à un dispositif d'alimentation 15 qui fournit une haute tension d'alimentation variable Vm du tube à rayons X et qui comprend un appareil de mesure du courant anodique I dudit tube. Afin de modifier la durée du temps de pose S, le dispositif d'alimentation 15 et le tube à rayons X comprennent des moyens pour démarrer l'émission de rayons X à un instant précis et l'arrêter après une durée S variable qui est déterminée, conformément au procédé de l'invention, en fonction du signal M fourni par le circuit 16 et des valeurs de I, S et Vm et, plus précisément, du rapport M/I x S qui est appelé rendement D et qui est calculé par le dispositif 18. Les valeurs du rendement D sont traitées par un calculateur ou microprocesseur 19 conformément au procédé de l'invention de manière à fournir un signal de fin de pose. La première opération du procédé consiste à effectuer un étalonnage du système de radiologie de la figure 1 qui aboutit à une fonction d'estimation de la lumination vue par le film radiographique. Cet étalonnage et la fonction d'estimation sont décrits dans la demande de brevet français déposée ce jour et intitulée : "PROCEDE D'ESTIMATION ET D'ETALONNAGE DE LA LUMINATION RECUE PAR UN FILM RADIOGRAPHIQUE". Pour la compréhension de la suite de la description, on rappellera que le procédé d'estimation de la lumination reçue par un film radiographique est basé sur des étalonnages aboutissant à la définition d'une fonction proportionnelle au débit photonique sur le film, appelée débit-film, et sur un étalonnage permettant de faire le lien entre la fonction débit-film et la lumination reçue par le film dans des conditions de référence fixées et aboutissant à un noircissement donné du film. Ce dernier étalonnage sera plus amplement détaillé dans la suite de la description. Les étalonnages qui permettent de définir la fonction débit-film sont dérivés d'un procédé d'étalonnage décrit dans la demande de brevet ne 89 07686 déposée le 9 juin 1989 et intitulée "PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME RADIOLOGIQUE ET DE MESURE DE L'EPAISSEUR EQUIVALENTE D'UN OBJET ". Ce procédé consiste à mesurer le rendement D de la cellule pour chaque étalon aux tensions d'alimentation Vm choisies. Plus précisément, avec un premier étalon d'épaisseur E1, on effectue une mesure de rendement Dlm pour chaque valeur Vm constituant un ensemble déterminé. Ces valeurs Dlm en fonction de la tension Vm peuvent être reportées sur un diagramme pour obtenir les points 21' de la figure 2. Les mesures de rendement D sont effectuées pour un autre étalon d'épaisseur E2 et on obtient les valeurs D2m correspondant aux points 22' de la figure 2 et ainsi de suite pour obtenir les autres séries de points 23', 24' et 25' correspondant respectivement aux rendements D3m D4m et D5m et aux épaisseurs E3, E4 et Es. Il est à noter que, sur la figure 2, les rendements Dpm ont été reportés en ordonnées logarithmiques tandis que les tensions d'alimentation ont été reportées en abscisses de 20 kilovolts à 44 kilovolts. Ces séries de points 21' à 25' servent à définir les paramètres d'un modèle analytique qui décrit le comportement du rendement D en fonction des paramètres Vm et Ep pour une configuration donnée du système radiologique. Ce modèle analytique sera noté D = f (Vm, Ep) (1) Les paramètres du modèle analytique peuvent être ajustés à l'aide d'outils classiques d'estimation tels que la méthode de minimisation de l'erreur quadratique. Les courbes 21 à 25 représentent la valeur du rendement D donnée par le modèle analytique représenté par l'expression D = f (Vm, Ep) = exp fl (Vm) + Ep x f2 (Vm) ] (2) dans laquelle fl (Vm) et f2 (Vm) sont des polynômes du deuxième degré dont l'expression est donnée par fl (Vm) = Ao + A1 Vm + A2 V2 m f2 (Vm) = Bo + B1 Vm + B2 V2 m La fonction inverse de celle exprimée par la formule (2) permet de calculer Ep si l'on connaît D et Vm en utilisant la formule (3) suivante Ep = g (Vm,D) = Ln (D) - fî (Vm) f2 (Vm) sachant que f2 (Vm) ne peut pas s'annuler pour les valeurs courantes de Vm car le rendement D dépend toujours de l'épaisseur Ep aux tensions Vm considérées. En d'autres termes, à un couple de valeurs (Ep, Vm) correspond une mesure de rendement D, ce qui permet de déterminer Ep en fonction de Vm et D. Au cours d'un examen radiologique, une mesure de rendement D, qui est effectuée avec une tension d'alimentation Vm donnée, permet de déterminer une épaisseur équivalente exprimée dans les unités utilisées pour Epo Cet étalonnage est effectué par deux fois avec des configurations différentes du système de radiologie en ce qui concerne le récepteur 17. Le premier de ces étalonnages est réalisé avec le récepteur 17 sans écran renforçateur.Suivant l'équation (1), on détermine une fonction f' qui donne lieu à des valeurs de rendement de la cellule 12 notées Dse telles que Dse = f' (Via, Ep) (4) et la fonction inverse Ep =g' (Vm, Dse) (5) La deuxième opération du procédé consiste à effectuer un deuxième étalonnage muni d'un écran renforçateur avec un récepteur 17 et on obtient alors une série de valeurs de rendement Dc et on détermine, comme précédemment, la fonction f" telle que Dc = f" (Via, Ep) (6) et la fonction inverse Ep = g" (Vm, Dc) (7) Des deux étalonnages précédents, on déduit une fonction Df qui représente le rendement sur le film tel que Df = Dse - Dc soit Df = f' (Via, Ep) - f"(Vm,Ep) (8) Cette fonction Df ne tient pas compte de la modification du spectre du rayonnement X due à la filtration additionnelle entre l'écran renforçateur et la cellule de détection 12 qui provient, par exemple, de la face de sortie de la cassette conteffant le couple film-écran. Pour en tenir compte, on remplace Ep dans l'équation (8) par (Ep - sup.filtre) où sup.filtre est l'épaisseur équivalente à l'objet radiographié correspondant à cette filtration. On obtient cette épaisseur équivalente en plaçant, par exemple, dans le faisceau 14 un objet équivalent à cette filtration et en utilisant la fonction étalonnée déterminant l'épaisseur équivalente g' ou g" suivant la configuration de la machine. Comme le produit Df x I x t est proportionnel à l'énergie absorbée dans l'écran renforçateur pendant un temps t et pour un courant anodique I, la quantité DfxI, notée débit-film, est proportionnelle au débit photonique incident sur le film et est exprimée dans les unités de mesure du signal de la cellule détectrice 12. Cette relation de proportionnalité est d'autant mieux vérifiée que le nombre de photons lumineux émis par l'écran renforçateur est lui-même proportionnel à l'énergie absorbée. Si le nombre de photons lumineux émis par l'écran répond à une autre loi en fonction de l'énergie absorbée, il faut appliquer cette autre loi sur DfxI pour obtenir le "débit-film". Un dernier étalonnage consiste à relier les fonctions électriques précédemment décrites à une valeur du noircissement du film, c'est-à-dire une densité optique, que l'on souhaite obtenir à la fin de la pose. Le choix de cette valeur est effectué par le praticien en fonction du couple film-écran, du type de diagnostic, de la partie du corps du patient à examiner et de ses habitudes d'examen des radiographies. Ce choix permet de déterminer la lumination de référence, notée Lref, c'est-à-dire la lumination que doit recevoir le film, dans des conditions de référence fixées, pour arriver à un tel noircissement. Le procédé de détermination de Lref sera décrit ultérieurement.Ces opérations d'étalonnage ne sont pas effectuées å chaque examen radiologique d'un objet ou d'un patient mais seulement une fois de temps à autre pour tenir compte des variations des caractéristiques du système de radiologie au cours du temps, notamment le vieillissement du tube à rayons X. Les résultats de ces opérations sont enregistrés dans la mémoire du microprocesseur 19 sous la forme des fonctions représentées par les équations 4 à 8, ce qui signifie que le microprocesseur 19 sait calculer Ep s'il connaît Dc et peut alors calculer Df. Au cours de l'examen radiologique du patient, le procédé selon l'invention consiste en outre, à effectuer les opérations principales suivantes (el) mise en place de l'objet ou du patient à radiographier, (e2) déclenchement du début de la pose par le praticien (e3) mesure du rendement Dc un certain temps t' après le début de la pose, (e4) calcul de l'épaisseur équivalente à partir de la mesure de rendement Dc, (e5) calcul du rendement Df au niveau du film, (e6) estimation de la lumination reçue par le film depuis le début de la pose, (e7) calcul de la lumination restant à acquérir pour obtenir le noircissement choisi, (e8) calcul prévisionnel des mA.s restant à débiter dans le tube à rayons X pour obtenir le noircissement choisi, (e9) mesure des mA.s, notée mAsmes, débités suivant le cas depuis le début de la pose ou de la mesure précédente, (elO) arrêt du rayonnement X lorsque les mAsmes sont supérieurs ou égaux aux mA.s calculés ou retour à l'opération (e3) dans le cas contraire. Il est à noter que l'on appelle lumination le produit de la quantité de lumière reçue, par exemple l'éclairement EC de la surface sensible, par la durée de l'exposition ou pose. L'opération (e3) consiste à mesurer la valeur intégrée D fournie par le dispositif 18 un certain temps t' après le début de la pose sachant que l'intégrateur 16 a été remis à zéro soit, suivant le cas, au début de la pose, soit après la dernière mesure. Le temps t' d'intégration correspond, suivant le cas, au temps écoulé depuis le début de la pose ou au temps écoulé depuis la dernière mesure. L'opération (e4) est effectuée par le microprocesseur 19 à partir du premier étalonnage du système de radiologie tel que décrit ci-dessus : elle est régie par l'équation (7); on obtient alors une valeur E1 de l'épaisseur équivalente. Il est à remarquer que pour la deuxième itération du procédé et les suivantes, il n'est pas nécessaire d'effectuer l'opération (e4) dans la mesure où l'estimation de l'épaisseur équivalente a été suffisamment précise lors de la première itération. L'opération (e5) consiste à calculer le rendement du film Dfl correspondant à l'épaisseur E1 en utilisant la fonction définie par l'équation (8), ce qui permet de tenir compte, notamment, de l'influence de l'écran du récepteur. Cette opération a été décrite succinctement ci-dessus. L'opération (e6) consiste à estimer la lumination Lf reçue par le film depuis le début de la pose en appliquant l'équation suivante Lf = Lam + Dfl x #mA.s (9) équation dans laquelle Lam est la lumination reçue par le film avant l'opération (e3) et SmA.s est le nombre de mA.s débités dans le tube pendant le temps t' et est défini par le produit du courant I de tube par le temps d'intégration S. L'opération (e7) consiste å calculer la lumination restant à acquérir Lra pour obtenir le noircissement choisi; elle est déterminée par l'équation Lra = Lref - Lf (10) L'opération (e8) consiste à calculer les mA.s restant à débiter pour obtenir le noircissement choisi et qui est donné par l'équation mAsr = Lra/Dfl (11) Il est alors possible de déduire le nombre de mA.s débités pendant les calculs, noté mAsc. Alors, les mA.s restant réellement à acquérir, notés mAsra, sont définis par mAsra = mAsr - mAsc (12) où mAsc = I x tc (13) avec tc le temps des calculs. L'opération (elO) consiste à effectuer un choix : soit arrêter la pose, soit la continuer selon la valeur des mAs restant à débiter ou encore du temps de pose restant à courir, soit recalculer l'estimation de la valeur prévisionnelle du temps de fin de pose. Le critère de fin de pose pourra être le suivant Si la valeur Dif (mA.s) = mAsra - mAsmes (15) est nulle ou inférieure à une valeur Valo fixée, le microprocesseur 19 arrête le rayonnement X par action sur le dispositif d'alimentation 15. Dans le cas contraire, on revient à l'opération (e3). Il est possible d'envisager un test supplémentaire sur la valeur du temps de pose restant à courir trc définie par la relation mAsra trc = I (14) Ce test supplémentaire consiste à ne pas modifier la valeur de l'estimation mAsra dans le cas ou trc est inférieur à une valeur to. Alors la fin de la pose se termine en boucle ouverte en ne poursuivant que les opérations de fin de pose, c'est-à-dire la décrémentation du nombre de mA.s débités et arrêt de la pose lorsque ce nombre devient inférieur ou égal à zéro. Une valeur possible de to est une valeur sensiblement égale à l'intervalle de temps séparant deux mesures correspondant à l'opération (e3). Ainsi, dans ce cas, l'opération (elO) comporte deux tests - un premier test sur mAsra décidant si on arrête ou non la pose, - puis un test sur trc pour décider si on entreprend une nouvelle estimation des mAs restant à débiter ou si la valeur mAsra reste figée jusqu'à la fin de la pose. Dans ce dernier cas, le test de fin de pose se fera périodiquement avec la valeur mAsra. Par ailleurs, les opérations d'estimation du temps restant à courir et celle de coupure de la pose peuvent être découplées afin d'affiner encore la précision de l'exposeur. Ainsi, le procédé se décompose de la manière suivante : une tâche T.E. destinée à estimer les mA.s restant à débiter avant la fin de la pose et une tâche T.C. de coupure de la pose. Ce sont deux tâches indépendantes qui se déroulent en parallèle. La tâche d'estimation T.E. des mA.s restant à débiter est constituée des opérations (e3) à (e8) auxquelles s'ajoute une opération (e'9) de conversion des mA.s en un signal dans les unités de la cellule 12 tel que CEcible = mAsra x Dc (16) Cette tâche d'estimation T.E. est renouvelée périodiquement pendant la pose, par exemple aux instants tl, t2,...tn qui sont des instants de mesure séparés par une durée qui est au moins égale au temps de calcul tc. A la fin de la tâche d'estimation T.E., la valeur cible CEcible de la tâche de coupure T.C. est actualisée. Cette actualisation doit tenir compte du signal reçu par la cellule détectrice 12 entre l'instant de mesure au début de l'opération (e3) et l'instant de l'actualisation de la valeur CEcible à la fin de l'opération T.C. La tâche de coupure de la pose T.C. est une tâche consistant à décrémenter une valeur donnée (ou cible) en fonction du signal réellement reçu par la cellule 12. Cette tâche coupe la pose dès que la valeur CEcible devient inférieure ou égale à Valu, égale à zéro par exemple. Ainsi, le fonctionnement de la tâche T.C. se résume aux opérations suivantes (fl) mesure du signal intégré Mm par la cellule 12 après un certain temps tTC; (f2) décrémentation de cette valeur à la valeur cible (CEcible - Mm) (f3) arrêt de la pose lorsque (CEcible - Mm) est inférieure à Valo sinon retour en (fl). Le procédé qui vient d'être décrit fonctionne correctement dans la mesure ou il n'y a pas d'écart à la loi de réciprocité pour le récepteur 17 et la cellule de détection 12. S'il n'en est pas ainsi, il faut compléter les opérations (e6) et (e8) pour en tenir compte et déterminer un coefficient de correction par des mesures et calculs particuliers. Ce coefficient de correction est introduit dans les équations (9) et (11) où interviennent la lumination et le rendement du film. C'est ainsi que les formules (9) et (11) deviennent Lf = Lam + Dfl x 6mA.s/CNRD (débit-film) (9') mAsra = Lra CNRD (débit-film) (11') Dfl avec débit-film = Dfl x I (17) CNRD est la fonction représentant l'effet de non réciprocité exprimé en fonction du débit photonique sur le film. La fonction CNRD est obtenue par un procédé d'étalonnage qui est décrit dans la demande de brevet déposée ce jour et intitulée : " PROCEDE DE DETERMINATION DE LA FONCTION REPRESENTANT L'EFFET DE NON RECIPROCITE D'UN FILM RADIOGRAPHIQUE". Pour la compréhension de la suite de la description, on rappellera que ce procédé d'étalonnage consiste d'abord à déterminer les coefficients de non réciprocité du film en fonction de la durée de pose ti et notés CNRT (ti). Cette fonction CNRT est déterminée expérimentalement et peut être représentée par une fonction analytique. De manière plus précise, le procédé consiste à déterminer pour diverses valeurs IRi de l'intensité du rayonnement, la valeur ti du temps d'exposition nécessaire pour obtenir une densité optique DOrefo du film fixée, par exemple DOrefo = 1, et à relever les valeurs fournies par le circuit intégrateur 16 pour les différents temps de pose ti, valeurs que l'on appellera M (ti). Ces valeurs sont comparées à une valeur de référence M (tref), qui est par exemple celle correspondant à un temps de pose d'une seconde, en calculant le rapport M (ti) (29) M (tref) C'est ce rapport qui détermine le coefficient de non réciprocité en temps CNRT (ti) pour le temps de pose ti. Une autre manière pour déterminer les coefficients CNRT (ti) sera décrite ultérieurement. Ces coefficients CNRT (ti) sont reliés entre eux en fonction du temps de pose par la courbe de la figure 3 dans le cas, par exemple, d'une densité optique DOrefo = 1 et un temps de pose de référence tref = 1 seconde. Cette courbe montre que la lumination nécessaire pour atteindre la densité optique désirée croit avec le temps de pose. C'est ainsi que, dans cet exemple, le rapport entre les énergies pour les deux temps de pose de 50 ms et 6,5 s est de l'ordre de 1,6. La courbe de la figure 3 peut être modélisée à l'aide d'une fonction de la forme CNRT (ti) = Ao + A1 log t + A2 log t ] 2 (18) dont les paramètres Ao, A1 et A2 sont estimés à partir des points de mesure par une procédure d'estimation aux moindres carrés. Dans le principe, l'effet Schwarzschild que l'on prend en compte dans les équations (9') et (11') pourrait être modélisé par la fonction CNRT. L'intérêt d'utiliser la fonction CNRD indexée en débit est que l'on peut prendre en compte des variations du courant anodique. Donc, un exposeur automatique qui utilise la fonction CNRD suivant les équations (9') et (11') a, par exemple, pour avantage que le tube peut fonctionner en charge décroissante. Pour passer des coefficients CNRT (t) indexés en temps aux coefficients CNRD (d) indexés en débit, il faut tenir compte du fait que les coefficients CNRT (t) ont été déterminés par des mesures à temps de pose variable sans connaître nécessairement les valeurs du débit photonique sur le film. Si l'on mesure pour chaque temps de pose ti le débit-film di, la valeur du coefficient CNRD (di) pour di sera égale à celle du coefficient CNRT (ti) pour le temps de pose ti correspondant selon la relation CNRD (di) = CNRT (ti) (19) Ces différentes valeurs de CNRD (di) sont reliées entre elles par une courbe (figure 4) en fonction de l'inverse l/d du débit.Cette courbe peut être modélisée à l'aide d'une fonction de la forme 2 CNRD (d) = Alo + A'1 log V d + A'2 [ log 1/d- ] (20) Les valeurs di peuvent ne pas être données par l'étalonnage, surtout parce qu'elles sont exprimées dans l'unité de mesure de la cellule 12 qui n'est pas nécessairement celle utilisée dans l'étalonnage. Ainsi, en général, il faut relier les valeurs di aux valeurs connues ti par la relation Lref x CNRT (ti) = di x ti (21) ou encore di = Lref x CNRT (ti) (22) ti On rappelle ici que Lref est la lumination que reçoit le film dans des conditions radiologiques fixées et connues lorsque le film atteint un noircissement donné et que l'effet de non réciprocité est corrigé. Pour finaliser la définition de la fonction CNRD ainsi que pour expliciter le dernier étalonnage du procédé, il reste à exposer la méthode d'évaluation de la lumination de référence. Cette méthode est décrite dans la demande de brevet précitée et intitulée : PROCEDE D'ESTIMATION ET D'ETALONNAGE DE LA LUMINATION RECUE PAR UN FILM RADIOGRAPHIQUE . La lumination de référence dépend de la densité optique que l'on souhaite obtenir sur le film. Pour déterminer cette lumination, la première étape est de réaliser un sensitogramme du type de film utilisé, ensuite il faut réaliser un cliché dans des conditions radiologiques déterminées avec un étalon d'épaisseur connue. Ces conditions radiologiques déterminées sont, par exemple, - une densité optique de référence DOrefo choisie en fonction des habitudes du praticien, par exemple DOrefo = 1 - un étalon d'épaisseur Eo, - une tension d'alimentation Vo, - une valeur du temps de pose to, - une valeur du produit Io x to, Pour ce cliché, on mesure la densité optique DOm ainsi que les valeurs Mor lo, to, ce qui permet de calculer l'épaisseur équivalente Ep à l'aide de la formule (7). On calcule ensuite le rendement Df sur le film à l'aide de la formule (6), ce qui permet de calculer la lumination reçue par le film Lfilm par la formule Lfilm = DfxIoxto (23) La densité optique de référence DOrefo permet de calculer l'échelon d'éclairement correspondant à DOrefo sur la courbe sensitométrique du film utilisé (figure 5), cette courbe ayant été tracée à l'aide d'un sensitographe et d'un densitometre. Ceci permet de tenir compte des caractéristiques de la machine à développer qui est utilisée. La courbe est enregistrée, par exemple, sous la forme d'une fonction dans le microprocesseur 19 (fig.l). La densité optique mesurée DOm permet de calculer l'échelon de mesure Echm qui est la valeur de l'échelon d'éclairement correspondant à Dom sur la courbe sensitométrique (fig. 5). Avec les valeurs Lfilm de la lumination sur le film, de l'échelon de référence Echref et de l'échelon de mesure Echm, il est possible de calculer la lumination de référence Lref pour obtenir la densité optique DOrefo en utilisant l'équation qui définit le changement d'échelle entre la lumination et l'échelon d'éclairement de l'axe des abscisses de la courbe sensitométrique (figure 5), soit De cette équation (24), on tire avec K = 2/log10 (2) (26) La constante sensitométrique K correspond à l'échelle retenue pour les échelons d'éclairement. La valeur Lref dépend de to à travers Lfilm par les équations (23) et (25). Ainsi, la valeur Lref est sensible aux effets de non réciprocité du film. Pour corriger l'influence de la non réciprocité sur la valeur de Lref, il suffit d'utiliser dans l'équation (23), la valeur Lfilm définie par Df x Io x to Lfilm = CNRT (tu) (23') Cette lumination de référence Lref est celle qui doit être utilisée dans l'équation (10) pour obtenir la densité optique de référence DOrefo et la formule (25) montre qu'elle dépend, notamment, de la différence entre l'échelon de référence et l'échelon de mesure. La connaissance de la lumination reçue par le film permet de connaître di par application de la formule (22) et à en déduire CNRD (di) par la formule (20). Pour une densité optique du film radiographique autre que DOrefo = 1, il est nécessaire d'effectuer de nouveau les opérations décrites ci-dessus de manière à déterminer les nouvelles valeurs de CNRT (ti) et de Lref Afin de simplifier ces opérations, les coefficients CNRT (ti) peuvent être obtenus en effectuant les opérations suivantes (gl) réalisation à l'aide d'un sensitographe à temps variable, d'un premier sensitogramme Srefo (figure 5) lorsque le temps de pose est réglé pour un temps de référence trefo; (g2) réalisation à l'aide du même sensitographe à temps variable, de q sensitogrammes S1 à Sq (figure 5) pour q temps de pose différents ti;; (g3) choix d'une densité optique de référence Dorefo, par exemple DOrefo = 1 (g4) mesure sur chaque sensitogramme, de l'échelon d'éclairement Echrefo, Echl...Echi...Echq correspondaht à la densité optique DOrefo = 1 (g5) calcul du coefficient CNRT (ti) par l'équation Si le praticien décide de travailler à une densité optique différente, il est proposé, afin d'éviter l'étalonnage décrit ci-dessus, d'utiliser la densité optique corrigée volontairement pour le noircissement DOCvn. Alors la lumination de référence Lref, utilisée dans l'équation (10) doit être remplacée par la lumination corrigée Lcvn qui s'exprime par Lcvn = Lref x exp [ CVN/r x P x Log(lO) (27) où - CVN est la correction volontaire de noircissement exprimée par un nombre entier de -10 à + 10 par exemple, - P est le pas en densité optique, par exemple 0,1, - r est la pente de la partie linéaire de la courbe sensitométrique (figure 5). Le procédé qui vient d'être décrit montre que sa mise en oeuvre nécessite un certain nombre d'étalonnages qui sont, en résumé, les suivants (a) l'étalonnage du système radiologique de manière à déterminer les modèles analytiques Dse = f' (Via, Ep) (4) avec cassette sans écran et Dc = f" (Via, Ep) (6) Ep = g" (Vm, Dc) avec cassette et écran; La différence Df = (Dse - Dc) (équation (8)) permettra de déduire le rendement absorbé par l'écran; (b) l'étalonnage du film de manière à déterminer la loi de non réciprocité CNRT (t) exprimée en fonction du temps; cette loi sera utilisée pour déterminer la loi de non réciprocité CNRD (d) exprimée en fonction du débit; (c) l'étalonnage de la lumination de référence Lref. Ces différents étalonnages ayant été effectués, les différentes opérations proprement dites du procédé sont les suivantes (d) choix, par le praticien, de la valeur de noircissement ou de la valeur de la correction volontaire de noircissement de manière à déterminer la lumination cible Lcvn que doit recevoir le film dans des conditions de référence fixées pour arriver au noircissement (ou densité optique) choisi.La lumination Lcvn est calculée à partir de l'équation (27) où la lumination Lref est déterminée par l'étalonnage (c) et les équations (25) et (26); (el) mise en place de l'objet à radiographier, (e2) déclenchement du début de la pose par le praticien; (e3) mesure après un temps t' du rendement Dcl au niveau de la cellule (12); (e4) mesure de l'épaisseur équivalente E1 par l'équation (7); (e5) calcul du rendement Dfl au niveau du film pour l'épaisseur E1 par l'équation (8);; (e6) calcul de la lumination Lf reçue par le film par l'équation Lf = Lam + Dfl x 6mA.s/CNRD (débit-film) (9') (e7) calcul de la lumination Lra restant à acquérir pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation Lra = Lcvn - Lf (10') (e8) calcul prévisionnel des mA.s restant à débiter mAsra pour obtenir le noircissement (ou densité optique) par l'équation mAsra = Lra/Dfl x CNRD (débit-film) (11') (e9) mesure des mA.s débités depuis le début de l'opération (e3); (elO)- arrêt de la pose lorsque les mA.s mesurés en (e9) sont égaux ou supérieurs à mAsra. - ou retour à l'opération (e3) lorsque les mA.s mesurés en (e9) sont inférieures à mAsra. La description du procédé qui vient d'être faite correspond à une certaine configuration du système de radiologie. Dans le cas où ce système peut prendre plusieurs configurations tels que, par exemple, le choix - du matériau d'anode, - des dimensions du foyer, - du filtre de modification du spectre, - de la collimation, - de la présence ou absence d'une grille anti-diffusante, - du type de récepteur image, - du type de cellule de détection, il est nécessaire d'effectuer pour chacune de ces configurations des étalonnages (a), (b) et (c). Le nombre de ces étalonnages peut être réduit en tenant compte des similitudes de comportement d'une configuration à l'autre comme cela a été décrit pour l'étalonnage (a) dans la demande de brevet n0 89 07686 déposée le 9 juin 1989. Lors de la mise en oeuvre du procédé par le praticien, ce dernier définit la configuration dont les caractéristiques sont transmises au microprocesseur (19) de manière que ce dernier utilise les modèles correspondants. Le procédé selon l'invention a été décrit dans son application à un récepteur 17 du type couple film-écran. Il peut aussi être mis en oeuvre dans le cas d'un récepteur 17 ne comportant qu'un film sensible au rayonnement X. Avec un tel film, les étalonnages des opérations (a) et (b) deviennent (a') étalonnage du système radiologique de manière à déterminer le modèle analytique D'f = f"'(Vm, Ep) (30) avec le film comme récepteur image. Dans le déroulement du procédé, les modifications sont les suivantes - (e3) devient (e'3) : mesure après un temps t' du rendement D'fl au niveau de la celulle 12; - (e4) et (e5) sont supprimées et - les opérations (e6) à (e8) sont modifiées de la manière suivante (e'6) calcul de la lumination L'f reçue par le film par l'équation L'f = Lam + D'fl x EmA.s/CNRD (débit-film) (9") (e'7) calcul de la lumination L'ra restant à acquérir pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation L'ra = Lref - L'f (10") (e'8) calcul prévisionnel des mA.s restant à débiter mAs'ra pour obtenir le noircissement (ou densité optique) par l'équation : : mAS'ra = L'ra/D'fl x CNRD (débit-film) (11") Les autres opérations (e9) et suivantes restent sans changement. Par ailleurs, il faut noter que le sensitographe peut, dans ce cas, être du type à émission X. En outre, avec un tel récepteur ne comportant pas d'écran renforçateur, la cellule de détection 12 peut être placée, soit derrière le récepteur 17 comme dans le cas du récepteur du type film-écran, soit devant le récepteur 17 si l'énergie du rayonnement le permet. REVENDICATIONS 1. Procédé de détermination automatique de la durée d'exposition d'un film radiographique dans un système de radiologie prévu pour examiner un objet (13) qui comprend un tube (11) à rayons X dont la tension d'alimentation V peut prendre diverses valeurs Vm, à variation continue ou discrète, et qui émet un faisceau (14) de rayons X sous forme d'impulsions de durée variable S en direction de l'objet (13) à examiner, un récepteur (17) du rayonnement X ayant traversé l'objet (13) pour réaliser une image dudit objet, ledit récepteur étant composé d'au moins un écran renforçateur et d'un film sensible à la lumière émise par cet écran, une cellule de détection (12) des rayons X ayant traversé l'objet à examiner, placée derrière le récepteur image (17) qui permet de convertir une grandeur physique caractérisant le faisceau (14) de rayons X en un signal de mesure L, un circuit intégrateur (16) qui intègre le signal de mesure L pendant la durée S et fournit un signal M et un dispositif de calcul (18) du rendement D donné par le rapport de M par le produit I x S (ou mA.s) du courant anodique I du tube par la durée de la pose S, caractérisé en ce qu'il comprend les étalonnages suivants (a) un premier étalonnage du système de radiologie à l'aide d'objets d'épaisseur Ep en utilisant un récepteur (17) sans le ou les écrans renforçateurs de manière à déterminer la fonction Dse = f' (Via, Ep) (4) et la fonction inverse Ep = g' (Via, Dse) (5) (b) un deuxième étalonnage du système de radiologie à l'aide des objets d'épaisseur Ep en utilisant un récepteur (17) avec écran renforçateur de manière à déterminer la fonction Dc = f" (Via, Ep) (6) la fonction inverse Ep = g" (Via, Dc) (7) et le calcul de la fonction Df = f' (Via, Ep) - f" (Via, Ep) (8) (c) un troisième étalonnage pour déterminer la lumination de référence que doit recevoir le film, dans des conditions de référence fixées, pour arriver au noircissement (ou densité optique) choisi comme valeur de référence par le praticien; puis les opérations suivantes (el) mise en place de l'objet (13) à radiographier; (e2) déclenchement du début de la pose par le praticien; (e3) mesure du rendement Dcl un certain t' après le début de la pose; (e4) mesure de l'épaisseur équivalente E1 par l'équation (7); (e5) calcul du rendement Dfl au niveau du film pour l'épaisseur E1 par l'équation (8);; (e6) calcul de la lumination Lf reçue par le film selon l'équation Lf = Lam + Dfl x 6mA.s (9) (e7) calcul de la lumination Lra restant à acquérir pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation Lra = Lref - Lf (10) (e8) calcul prévisionnel des mA.s restant à débiter mAsra pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation mAsr = Lra/Df (11) (e9) mesure des mA.s débités mAsmes depuis le début de l'opération (e3); (elO)- arrêt de la pose lorsque les mA.s mesurés mAsmes en (e9) sont égaux ou supérieurs à mAsr - ou retour à l'opération (e3) lorsque les mA.s mesurés en (e9) sont inférieurs à mAsr. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le deuxième étalonnage (b) est complété par une détermination de l'épaisseur équivalente (sup. filtre) due à la filtration additionnelle entre l'écran renforçateur et la cellule de détection (12) et par le remplacement dans l'équation (8) de Ep par (Ep - sup. filtre). 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que l'opération (elO) est remplacée par une opération (e'10) qui comprend une opération de calcul du temps de pose tr restant à courir tel que mAsr tr = (11") I de manière à terminer la pose en boucle ouverte de sorte que la pose sera arrêtée lorsque le temps tr sera écoulé. 4. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que l'opération (e8) comprend en outre une opération de calcul des mA.s débités (mAsc) pendant la durée tc des opérations (e4) à (e8) par l'équation mAsc = I x tc (13) de manière à déterminer la valeur réelle des mA.s restant à acquérir (mAsra) telle que mAsra = mASr - mAsc (12) 5. Procédé selon la revendication 3, caractérisé en ce que l'opération (elO) comprend, en outre, une opération de calcul du temps de pose trc restant à courir tel que mAsra trc = I (14) de manière à terminer la pose lorsque trc est inférieur à une valeur to correspondant à l'intervalle de temps séparant deux opérations successives (e3). 6. Procédé selon la revendication 1, 2 ou 3, caractérisé en ce que les opérations (e3) à (e10) sont remplacées par - une tâche d'estimation (T.E.) des mA.s restant à débiter constituée par les opérations (e4) à (e8) et une opération de conversion des mA.s en un signal dans les unités de la cellule (12) tel que CEcible = mAsra x Dc (16) - une tâche de coupure (T.C.) de la pose qui consiste à décrémenter la valeur cible CEcible par les signaux reçus par la cellule (12) et à terminer la pose lorsque la valeur décrémentée devient inférieure ou égale à une valeur Valo. 7. Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce que la tâche d'estimation (T.E.) est renouvelée périodiquement pendant la pose à des instants tl, t2.'. .ton séparés par une durée qui est au moins égale au temps de calcul tc. 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les opérations (e6) et (e8) sont modifiées pour tenir compte de l'effet de non réciprocité telles que Lf = Lam + Dfl x EmA.s/CNRD (débit-film) (9') Lra et mAsra = Lra x CNRD (débit-film) (11') Dfl formules dans lesquelles CNRD (débit-film) est le coefficient de non réciprocité indexé en débit-film du récepteur (17) tel que débit-film = Dfl x I (17) 9.Procédé selon la revendication (8) caractérisé en ce que le coefficient CNRD (débit-film) est obtenu en effectuant les opérations suivantes - mesure des coefficients de non réciprocité CNRT (ti) du couple film-écran en fonction des temps de pose (ti), - mesure pour chaque temps de pose (ti) du débit-film dit - détermination de la fonction de modélisation des coefficients CNRD (di) telle que CNRD (d) = AZo + A'1 log V d + A'2 [ 1og 1/d ] 2 2 ce qui permet de déterminer le coefficient correspondant à un débit-film donné. 10. Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que le débit-film d est mesuré par la cellule (12). 11. Procédé selon la revendication 9, caractérisé en ce que le débit-film di est donné par la formule di = Lref x CNRT (tri) (28) ti 12. Procédé selon la revendication 9 ou 11, caractérisé en ce que les coefficients CNRT (ti) en fonction du temps de pose ti sont obtenus en effectuant les opérations suivantes. (al) la modification du courant de chauffage du tube (11) de manière à obtenir différentes valeurs dudit courant, (a2) le relevé des valeurs M (ti) fournies par le circuit intégrateur (16) pour différents temps de pose (ti) de manière à obtenir une densité optique D01 du film (ag) le calcul du rapport M (ti) (29) M (tref) qui donne le coefficient CNRT (ti) avec M (tref) la valeur M (ti) pour ti = tref 13.Procédé selon la revendication 9 ou 11, caractérisé en ce que les coefficients CNRT (ti) sont obtenus en effectuant les opérations suivantes (gl) réalisation à l'aide d'un sensitographe à temps variable, d'un premier sensitogramme Srefo lorsque le temps de pose est réglé pour un temps de référence trefo; (g2) réalisation à l'aide du même sensitographe à temps variable, de q sensitogramme S1 à Sq pour q temps de pose différents ti; (g3) choix d'une densité optique de référence DOrefo, (g4) mesure sur chaque sensitogramme, de l'échelon d'éclairement Echrefo, Ech1. . ....... .Echq correspondant à la densité optique DOrefo, (g5) calcul du coefficient CNRT (ti) par l'équation 14.Procédé selon la revendication 12 ou 13 caractérisé en ce qu'il comprend, en outre, une opération de modélisation des coefficients CNRT (ti) sous la forme d'un modèle analytique CNRT (t) = Ao + A1 log t + A2 log t ] 2 (18) 15. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'opération (c) d'étalonnage de la lumination de référence comprend les opérations suivantes - la réalisation d'un cliché dans des conditions radiologiques déterminées pour une densité optique de référence DOref, un étalon d'épaisseur Eo, une tension d'alimentation VO et une valeur du produit Io x to; - Mesure du rendement Do;; - Calcul de l'épaisseur équivalente Epo par la formule Epo = g" (Via, Do) (7) - Calcul du rendement Dfo sur le film par la formule Dfo = f' (Vm, Epo) - f" (Via, Epo) (8) - Calcul de la luminance Lfilm sur le film par la formule Lfilm = Dfo x Io x to (23) - Calcul de l'échelon d'éclairement Echref correspondant à la densité optique de référence DOrefo à l'aide de la courbe sensitométrique; - Mesure de la densité optique Dom du cliché obtenu et calcul de l'échelon d'éclairement Echm à l'aide de la courbe sensitométrique; - Calcul de la lumination de référence Lref par la formule avec K = 2/log10 (2) (26) 16.Procédé selon la revendication 15, caractérisé en ce que pour le calcul du rendement Dfo sur le film par l'équation (8), l'épaisseur équivalente Epo est remplacée par (Epo - sup.filtre), (sup.filtre) étant l'épaisseur équivalente due à la filtration additionnelle résultant de l'atténuation entre l'écran renforçateur et la cellule de détection (12). 17. Procédé selon la revendication 15 ou 16, caractérisé en ce que la luminance sur le film est calculée par la formule Df0 x 1o x t0 CNRT = CNRT (to) (23) 18. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que la lumination de référence Lref est remplacée par une lumination corrigée Lcvn de manière à obtenir un noircissement (ou densité optique) différent tel que Lcvn = Lref x exp [ CVN/r x P x log(lo) ] (27) où - CVN est la correction volontaire de noircissement exprimée par un nombre entier par exemple, - P est le pas en densité optique, - r est la pente de la partie linéaire de la courbe sensitométrique. 19. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes dans son application à un appareil de radiologie dans lequel le récepteur (17) est du type film et dans lequel la cellule de détection (12) est placée devant ou derrière le récepteur (17), caractérisé en ce que les opérations (a) et (b) deviennent (a') étalonnage du système radiologique de manière à déterminer le modèle analytique D'f = f"' (Vm, Ep) (30) avec le film comme récepteur image; - en ce que l'opération (e3) devient (e'3) mesure du rendement D'fl après un temps t'; - en ce que les opérations (e4) et (e5) sont supprimées;; - en ce que les opérations (e6), (e7) et (e8) deviennent (e'6) calcul de la lumination L'f reçue par le film par l'équation L'f = Lam + D'fl x 6mA.s/CNRD (débit-film) (9") (e'7) calcul de la lumination L'ra restant à acquérir pour obtenir le noircissement (ou densité optique) choisi par l'équation : L'ra = Lref - L'f (10') (e'8) calcul prévisionnel des mA.s restant à débiter mAs'ra pour obtenir le noircissement (ou densité optique) par l'équation mAs'ra = L'ra/D'fl x CNRD (débit-film) (11') 20. Procédé selon la revendication 19, caractérisé en ce que dans l'équation (30), l'épaisseur Ep est remplacée par (Ep - sup.filtre), (sup.filtre) étant l'épaisseur équivalente due à la filtration additionnelle résultant de l'atténuation entre le film du récepteur (17) et la cellule détectrice (12).