FR 2623899 A1 19890602 FR 8716611 A 19871126 La présente invention concerne un procédé de mesure de dia mètres de fils ou profils ou pièces circulaires par diffraction de ray ons lumineux. L'invention concerne également un dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé. Le principe de base sur lequel est fondée l'invention est bien connu et il fait appel au phénomène de diffraction. Ce phénomène est particulièrement mis en évidence par une source de lumière monochromatique de longueur d'onde "s" dont les, faisceaux para llèles sont repris et focalisés par une optique focale donnée sur un plan perpendiculaire à l'axe des rayons et placé au point focal de ladite optique. " On a représenté sur la figure 1 des dessins annexés, de fa çon schématique, le dispositif faisant apparaître ce phénomène, figure sur laquelle : S désigne la source lumineuse, L1 désigne l'optique four nissant un faisceau de rayons parallèles R1 à partir du faisceau ini tial de rayons R, I,2 désigne l'optique de longueur focale F pour concen trer les rayons R2 au foyer F1 de cette optique et sur un plan D perpen diculaire à l'axe des rayons, plan dans lequel on dispose un capteur d'énergie désigné par la référence C, dont les signaux sont repris et analysés par tout moyen approprié. Si l'on place alors dans le champ de lumière parallèle R 1 un objet A, comme par exemple, un fil de diamètre "d", au même un dia- phragme présentant une fente de diamètre "d",des franges de diffrac tion se forment sur le plan D. Le point milieu de la série des franges se confond avec l'axe optique Y,Y' et le pas, c'est-à-dire la distance séparant deux franges est indépendant de la position de l'objet dans le champ. Ainsi, dans le cas d'un fil ou d'une fente, les franges sont réparties sur un axe passant par-F1, et perpendiculaire à l'axe physique dudit objet. Le rappel de ce phénomène de diffraction connu, a été fait pour qu'il permet de déterminer la valeur de "d" en appliquant la relation suivante de la répartition de l'énergie lumineuse "E", à savoir (1) E (x) = d2 sin u 2 U (2) Avec : u (x) = Rd.x . F. La fonction "sin" est atténuée par la fonction "1/ii". on en déduit l'enveloppe "v" du signal qui est 3) rF ###2 1 (3) V (x) = I l.# x- = K. x 2 Le pas des alternances est donné par la période de la fonction "sin2u!'. La relation (2) permet alors déauire la valeur du pas "xo" D'une façon évidente, la mesure de "xo" s'obtient en mesurant "X" pour "N" franges. A partir de ces résultats, on conçoit que l'on peut aisément déterminer la valeur du diamètre "d". Or il se trouve que l'explication et l'exploita tion du phénomène de diffraction, présenté ci-dessus, s'en tend pour des signaux théoriquement idéaux. En pratique,les alternances sont entachées de bruits importants conduisant à des signaux d'allure peu sinusoldale et la précision de positionnement des franges extrêmes est souvent réduite à plus ou moins une demi-frange divisée par le nombre de franges dans l'intervalle. Pour améliorer la précision des mesures, il est nécessaire de réaliser des franges dont la forme soit très proche de la théorie, puis de localiser les distances-en- tre franges avec une grande précision. C'est là un des buts et des objets de l'invention prévoyant une source de lumiè re appropriée présentant les caractéristiques qui seront précisées ci-après. En effet, le rôle joué par la source lumineuse a son importance dans la précision recherchée. A la connaissance du Demandeur, cette pré cision laisse à désirer du fait que l'on utilise générale ment, comme décrit par exemple dans le brevet des Etats- Unis n 3851 180 et dans les brevets Français n 2335824 et 2275764, des sources lumineuses monochromatiques très cohérentes. Or, si les faisceaux émis sont très cohérents, que la source monochromatique utilisée soit du type Laser à Hélitun-Néon ou du type Laser à semi-conducteur à spectre d'émission très étroit, il n'en reste pas moins que ces faisceaux sont très sensibles aux particules de pous- sières et aux défauts des optiques utilisées qui donnent lieu à autant de systèmes de franges minuscules devenant sources de parasites et, par conséquent, au détriment de la précision des résultats recherchés. Par ailleurs, les faisceaux de rayons émis par les sources lumineuses du type Laser, actuellement utilisés , sont très peu uniformes du point de vue énergétique et ils présentent des fluctuations importantes dans la répartition de cette énergie, ce qui provoque également des per turbatïons dans les amplitudes des franges du spectre obtenu. La présente invention obvie à ces inconvénients en prévoyant un faisceau lumineux présentant une répartition spatiale homogène de l'énergie et non cohérente, contrairement aux faisceaux actuellement utilisés. Dans ces conditions, le phénomène de diffraction est beaucoup teins sensible aux perturbations et les signaux obtenus sont alors très près des signaux théoriques. . En outre, pour parfaire encore la précision des mesures, il est nécessaire que le capteur restitue parfaitement la forme originale du signal lumineux. Pour des capteurs à barrettes photosensibles, on procède à un étalonnage préalable de la réponse point à point du capteur, afin de corriger par traitement la dispersion des réponses des points. Par ailleurs, afin de ne pas saturer un tel capteur, le signal ou le pic d'énergie maximale est masqué ou annulé pour ne conserver, sur le spectre de diffraction obtenu, que les franges symétriques d'amplitude acceptable que l'on prend en este dans l'analyse et le calcul des valeurs désirées. Un avantage de la méthode réside en ce que la mesure est indé pendante de la position de l'objet dans le champ. La seule restriction pour des fils ou des fentes provient de la nécessité de maintenir ces objets perpendiculaires au capteur. Ainsi la présente invention fournit un procédé de mesure de diamètres de fils, de fentes ou pièces circu laires par diffraction de rayons lumineux caractérisé par le fait qu'il consiste, à partir d'une source lumineuse monochromatique, à créer un champ de faisceau de ra yons lumineux, non cohérent, présentant une répartition spatiale homogène de l'énergie lumineuse, à placer ledit fil, ledit profil ou ladite pièce circulaire dans ledit champ en maintenant ce fil, ce profil ou cette pièce dans une orientation fixe, en ne-lui permettant des déviations de position que parallèlement à lui-même (ou à elle-même), à focaliser lesdits rayons lumineux par une optique de lon gueur focale appropriée sur un capteur placé au point fo cal de ladite optique et dans un plan perpendiculaire à l'axe desdits rayons lumineux, à masquer l'a zone centra le recevant le flux maximum dudit faisceau à convertir les images des franges de diffraction, situées de part et d'autre de cette zone centrale, en signaux électriques après avoir étalonné ledit capteur et, à analyser ces si gnaux qui sont fonction de la répartition de l'énergie lumineuse "E" suivant la relation c avec d = diamètre à évaluer, x = distance par rapport au point focal, F = distance focale de l'optique de focalisation des rayons lumineux, S = longueur d'onde de la source de lumière mono chromatique. Suivant d'autres caractéristiques . La répartition spatiale homogène de l'énergie lumineuse et sa non cohérence sont obtenues en faisant passer tout le faisceau de rayons lumineux au travers d'un orifice de dimensions microscopiques ; . La source monochromatique est une source de rayons lasers à l'Hélium-Néon ou à semi-conducteur, ou caractérisée par sa monochromaticité ; . Le capteur doit être capable de restituer parfai tement la forme originale du signal lumineux aussi bien en amplitude qu'en position. L'ïnvention vise également un dispositif pour la mise en oeuvre du procédé ci-dessus. De façon avantageuse, un tel dispositif comporte . Une source lumineuse monochromatique ; . Un diaphragme à orifice de dimension microscopique situé sur le chemin des rayons émis par cette source et dans l'axe optique ; . Une optique de focale donnée ; . Un capteur situé dans le plan focal de cette optique et perpendiculairement à cet axe optique ; . Un masque disposé sur la zone médiane centrale dudit capteur et, . Un système convertisseur analyseur-calculateur relié audit capteur. Suivant une variante, le diaphragme à orifice de dimension microscopique est remplacé par un système à fibre optique. D'autres avantages et caractéristiques de l'inven tion ressortiront plus clairement de la description qui va suivre faite en regard des dessins annexés sur lesquels . La figure 1 est, comme indiqué précédemment, un schéma optique illustrant le phénomène connu de diffraction ; . La figure 2 -est un schéma optique illustrant le procédé selon l'invention ; . La figure 3 est la courbe de répartition de l'énergie lumineuse et la figure 4 est une courbe obtenue après correction de la courbe illustrée à la figuré 3. Eh se référant à ces figures, on a représenté à la figure 2 le schéma d'un dispositif optique pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention ; sur cette figure, les références déjà utilisées pour commenter la figure 1 le sont pour désigner les mêmes éléments ou les éléments jouant le même rôle et ayant la même fonction. La source S monochromatique telle qu'une source de rayons lasers émet un faisceau de rayons R3 qui est repris par une optique_L3 en un faisceau de rayons parallèles R4 puis canalisé en un faisceau plus étroit R5 par la présence d'un diaphragme M1. Ce dernier faisceau est lui-même repris par une optique L4 pour être focalisé sur un écran M2 situé au plan focal de cette optique et présentant en F2 un orifice microscopique émettant un flux de rayons R non cohérent mais présentant une répartition spatiale homogène de l'énergie lumineuse. Suivant une variante, on peut faire appel à un système du type à fibre optique. Ce flux lumineux est transformé par l'optique L1 en un faisceau de rayons parallèles lesquels sont focalisés par L2 sur le capteur C. Ce dernier consiste, suivant un mode de réalisation préféré, en un capteur à photo-éléments - avantageusement, un tel capteur sera du type CCD linéaire à, par exemple, 1728 points dont les photo-éléments ont une dimension de 13 u. x 39 g, au pas de 13 g.. Un tel capteur présente l'avan tage de permettre l'obtention d'une grande résolution avec un encombre- ment réduit avec une grande stabilité de paramètres de mesure. Confor mément à l'invention, la zone centrale est pourvue d'un masque (M3) au droit de l'impact de flux lumineux maximum. Ce capteur est relié à tout moyen approprié de conversion, d'analyse et de calcul tel qu'un convertisseur analogique/numérique C1 suivi d'un calculateur C2. Bien entendu, pour obtenir une réponse idéale de ce capteur, il y a lieu de l'étalonner et de normaliser les réponses des photo- éléments en niveau de noir et en sensibilité en fonction, notamment, de la température. I1 est également possible d'étalonner les pas des photo éléments par tout dispositif approprié. Dans ces conditions, toutes les réponses des photo-éléments corrigées seront parfaitement identiques, les positions des franges seront connues, si bien que le signal électri que obtenu représentera fidèlement E (X). Un tel étalonnage permettant par conséquent l'identification des constantes entrant dans la mesure du diamètre recherché, peut se faire de la façon suivante Corme spécifié ci-dessus, la zone centrale du capteur est masquée pour éviter de le saturer par un apport de la très importante quantité d'énergie que représente le flux lumineux au niveau de l'axe optique du système. Ceci étant, pour identifier les paramètres nécessaires au calcul final, paramètres qui ne sont fonction que du montage optique et mécanique, on provoque le phénomène dé diffraction en plaçant un fil "A" (figure 2) dans le champ du rayon R1, ce fil ayant un diamètre quelconque mais connu avec précision. I1 est placé sensiblement ortho- gonalement par rapport au flux R1 et par rapport au capteur C. Puis on procède à la suite de mesures et/ou des calculs exposée ci-après et dont on peut suivre le cheminement en se référant aux figures 3 et -4 - la partie hachurée de la figure 3 correspondant à la zone centrale masquée du capteur. On cherche, de part et d'autre de la partie masquée, les franges symétriques de même amplitude. On évalue le pas des franges de part et d'autre du masque en repérant le premier passage à zéro, "Pij", puis le deuxième "Pij+1" dans l'échelle du capteur (les points P de la figure 3). Le pas se déduit de la relation (4) ci-dessus, soit (5) xo Po d Avec (6) Po = Pij+1 - Pij On obtient d-Po = F-J = A (constante évaluée) Sur chacune des deux franges symétriques, on évalue alors les positions "P11" et "P21" des deux passa ges à zéro suivant chacune des deux alternances. Le centre "PO" des franges sur le capteur se situe au centre de ces deux positions. D'autre part, on détermine le nombre d'al ternances entre ces deux-franges (partie masquée par "P11 - P21)/Po"). On peut, dès lors, évaluer la fonction d'amortis sement V (p) pour correction à partir de la fonction (3) ci-dessus, soit (8) p = P - PO On va donc multiplier, point par point, la fonc tion E(p) par 1/V (p) pour obtenir une fonction "F"(p) 2". compensée de son amortissement et très proche de "sin Cette coure corrigée, va permettre de reprendre le calcul du pas et du centre avec une meilleure précision, de recalculer un coefficient K plus précis et de retransfor- mer la courbe initiale avec une meilleure précision. En générale la deuxième itération est amplement suffisante. Le centre des franges est-alors obtenu comme pour la mesure des diamètres, par une méthode des moindres carrés. La correction V(p) obtenue dépend d'une constante indépendante du diamètre à mesurer, et va s'appliquer sys tématiquement sur chaque acquisition du signal, pour effec tuer les mesures de pas de la fonction "sin2". Ce traitement s'effectue une fois, à chaque étalonnage du capteur. On va calculer avec précision le paramètre "A" à partir du diamètre de référence, par la relation (7). Mesures des diamètres Il s'agit maintenant de déterminer la position d'un zéro entre deux franges successives, de part et d' autre du centre optique, assez éloignées pour que le nombre de franges intermédiaires "N" soit le plus grand possible. Pour obtenir une bonne précision sur la position des zéros, il faut employer une méthode compensant les bruits restants sur-le signal, sur une zone de traitement largement supérieure à la périodicité du bruit. La méthode employée est celle des moindres carrés à partir d'une fonc tion approchée du type (10) y (p) = a. (p - b) 2 = a.p2 - 2. a. b. p. + a.b. 2 appliquée à la fonction "sin2"dans un intervalle +/- 7Y4. L'on recherche la coïncidence des centres de fonctions symé- triques."b" représente la position de l'axe de la fonction "y" et "a" la courbure. Pour réduite les itérations, i1 con vient de donner à ces coefficients une valeur initiale très rapprochée de la valeur cherchée. La courbure "a" est déter minée au départ du calcul et restera fixe pour une même gamme de mesure. Le centre "b" sera calculé systématique ment. Ces valeurs s'obtiennent à partir des valeurs de la fonction "sin2" prises à mi-hauteur des,valeurs crètes situées de part et d'autre des deux zéros. La valeur initiale du centre, "b0" correspondra à la position milieu de ces points. Partant de ces paramètres, on résoudra la minimi sation des moindres carrés suivante, sur toute 'la plage encadrant les zéros jusqu'à mi-hauteur. (12) I (b) _ (F (pi) - y (pi) 2 avec (13) I` (b) = 4.a. 2 (F(pi) - y(pi). (pi-b) (14) I" (b) = 4 .a. S 2.a. (pi-b) 2 - (F (pi) -y(pi) Par cette méthode on cherche "b"-tel que I' 0. On peut appliquer la méthode itérative de Newton pour le calcul de la variation "db" à appliquer sur "b" Cette façon de poser y(p), et de rechercher la position des zéros va permettre de travailler ensuite en tracking sur un seul paramètre, pour mesurer, en continu, avec une courte périodicité, les diamètres. Les diamètres sont calculées à partir des valeurs b1 et b2 obtenues par minimisation des carrés pour les deux zéros extrêmes et du nombre "N" de franges intermédiaires à partir de l'équation (7), dans laquelle La courbure "a" s'obtient en appliquant les points à la fonction y(p) - voir figure 4. Bien entendu, tous les calculs et le tracé des cour bes dont on a présenté le principe ci-dessus à titre d'ex emple, se font par tout moyen approprié à la sortie du capteur par transformation, conversion et analyse des signaux transmis par la ligne Q dans les systèmes C 1 et C2 et ana logues. L'invention qui vient d'être décrite s'applique aussi bien à la mesure de diamètres de fils, que de fen tes dans le cas de pièces linéaires, qu'à la mesure de diamètres de pièces circulaires. Dans ce dernier cas, le phénomène de diffraction se traduira par la génération de franges annulaires concentriques permettant la . déter mination d'un profil de diamètres. on comprendra ainsi que dans le cas des fils, la détermination de leur diamètre pourra se faire de façon continue eri faisant défiler le fil A dans le champ des ra yons lumineux R 1 mais en veillant à ce que toute varia tion de position du fil ne puisse se faire que parallèle ment à lui-même au risque d'entacher les résultats d'er reurs non négligeables. Il suffit pour cela de disposer de guides ou de supports appropriés permettant une telle'déviatiation de position parallèlement au défilement du fil. I1 va du reste de soi que la présente invention n'a été décrite qu'à titre purement explicatif et nullement limitatif et que toute modification utile pourra y être apportée au niveau des équivalences sans sortir de son cadre. REVENDICATIONS 1. Procédé de mesure de diamètres de fils ou de profils ou pièces circulaires par diffraction de rayons lumineux, procédé caractérisé par le fait qu'il consiste, à partir d'une source lumineuse monochromatique, à créer un champ de faisceau de rayons lumineux, non cohérent, présentant une répartition spatiale@homogène de l'énergie lumineuse, à placer ledit fil, ledit profil ou ladite pièce circulaire dans ledit champ en maintenant ce fil, ce profil ou cette pièce dans une position fixe tout en ne lui permettant des déviations de position que parallèlement à lui-même (ou à elle-même), à focaliser lesdits rayons lumineux par une optique de longueur focale appropriée sur un capteur placé au point focal de ladite optique et dans un plan perpendiculaire à l'axe desdits rayons lumineux, à masquer la zone centrale recevant le flux maximum dudit faisceau,à convertir les images des franges de diffraction, situées de part et d'autre de cette zone centrale, en signaux électriques après avoir étalonné ledit capteur et, à analyser ces signaux qui sont fonction de la. répartition de l'énergie lumineuse "E" suivant la relation avec d = diamètre à évaluer, x = distance par rapport au point focal, F = distance focale de l'optique de focalisation rayons lumineux, ,S= longueur d'onde de la source de lumière mono chromatique. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que la répartition spatiale homogène de l'énergie lumineuse et sa non cohérence à partir de faisceaux lasers sont obtenues en faisant passer tout le faisceau de rayons lumineux au travers d'un orifice de dimensions microscopiques. 3. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que la répartition spatiale homogène de l'énergie lumineuse et sa non cohérence à partir de faisceaux lasers sont obtenues en faisant passer tout le faisceau de rayons lumineux dans un système a fibre optique. 4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce. que la source monochromatique est une source de rayons lasers à gaz ou à semi-conducteur, ou toute source monochromatique. 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que le capteur doit être capable de restituer parfaitement la forme originale du signal lumineux aussi bien en amplitude qu'en position. 6. Dispositif pour la mise en oeuvre du .procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce qu'il comporte - Une source lumineuse monochromatique (S) ; = Un diaphragme à orifice de dimension microscopique (MZ) situé sur le chemin des rayons émis par cette source et dans l'axe optique ou un système à fibre optique ; - Une optique de focale donnée (L2) ; - Un capteur (C) situé dans le plan focal de cette optique et perpendiculairement à cet axe optique ; - Un masque (M3) disposé sur la zone médiane centrale dudit capteur et, - Un système convertisseur analyseur-calculateur (C1-C2) relié audit capteur.