FR 2591358 A1 19870612 FR 8518196 A 19851209 Procédé de mesure, des temps de propagation d'un circuit trois états lorsque celui-ci passe d'un état donné à l'e'tat haute impédance L'invention se rapporte aux circuits trois états et plus particu lièrement à la mesure des temps de propagation de ces circuits lors du passage de l'état haut à l'e'tat haute impédance, TpHZ, et lors du passage de l'e'tat bas à l'e'tat haute impédance, TpLZ. Il est en effet fréquemment impossible de respecter les conditions de mesure définies dans les catalogues des fabricants qui fixent le circuit de charge lequel comporte une capacité de l'ordre de 5pF, la plupart des testeurs automatiques ayant des capacités d'entrée variant généralement entre 15pF et 35pF. Il est théoriquement possible de déduire le temps de propagation correspondant à une capacité de 5pF à partir de plusieurs mesures effectuées chacune avec une valeur de capacité différente, en faisant une correction à partir de ces mesures. Une telle façon de procéder n'est pas pratiquement utilisable car elle nécessite pour chaque circuit au moins deux mesures avec des capacités différentes, ce qui allonge considérablement le temps de mesure nécessaire pour chaque temps de propagation, et est incompatible avec l'emploi d'un testeur automatique, car cela ralentirait considérablement la cadence de mesure des circuits. Ce problème se pose de la même manière si les mesures sont effectuées dans des conditions de charge spécifiées par la norme européenne CECC 90-103, qui définit pour chaque type de circuit trois états les conditions de mesure et les valeurs des temps de propagation TpHZ et TpLZ de ces circuits pour une capacité donnée, inférieure à la capacité d'entrée des testeurs automatiques. La présente invention a donc pour but la détermination des temps de propagation TpHZ et TpLZ des circuits trois états correspondants à des conditions de mesure spécifiées, à partir d'une mesure effectuée dans des conditions de charge spécifiées mais avec une capacité différente de la capacité spécifiée. L'invention a pour objet un procédé de mesure des temps de propagation TpHZ et TpLZ d'un circuit trois états, correspondant respectivement au passage dudit circuit d'un état haut à un état haute impédance et d'un état bas à un état haute impédance, les temps de propagation des circuits d'un même type étant donnés pour des conditions de mesures spécifiées définissant un circuit de charge ayant une capacité spécifiée Co, caractérisé par le fait que l'on mesure, par un testeur ayant une capacité d'entrée différente de la capacité spécifiée, les temps de propagation TpHZ et TpLZ, que l'on détermine le temps de propagation TpHZ correspondant à la capacité spécifiée à l'aide d'un premier algorithme VOH TpHZ - t1 + R #C Log VOH-0,5 dans lequel tl est le temps de propagation mesuré par le testeur, R est une résistance en parallèle sur la capacité d'entrée, a C est la différence de capacité entre la capacité spécifiée Co et la capacité d'entrée du testeur ( a C=Co-C), VOH est la tension de sortie du circuit trois états à l'état haut, et Log désigne le logarithme népérien, et que l'on détermine le temps de propagation TpLZ correspondant à la capacité spécifiée à l'aide d'un deuxième algorithme U-V0L TpLZ = t2 + R' # C Log U-VOL-0,5 dans lequel t2 est le temps de propagation mesuré par le testeur, a c est la différence entre la capacité spécifiée Co et la capacité d'entrée du testeur (h C = Co-C), VOL est la tension de sortie du circuit trois états à l'état bas, Log désigne le logarithme népérien et R'i R2 R2 et U = R2 Vcc R'= R'1+R2 et U :R2 Vcc R'1+R2 ~ R'1+R2 expressions dans lesquelles R'i et R2 sont une première et une deuxième résistances du circuit de charge en série, la première résistance R'1 étant reliée à une tension positive Vcc et la deuxième résistance R2 étant en parallèle sur la capacité d'entrée. L'invention va être décrite à l'aide des figures annexées dans lesquelles - la figure 1 représente le circuit de charge spécifié par les fabricants de circuits trois états pour la mesure des temps de propagation TpHZ et TpLZ, - la figure 2 représente le circuit de charge selon la norme européenne CECC 90-103 pour la mesure du temps de propagation TpHZ, - la figure 3 représente le circuit de charge selon la norme européenne CECC 90-103 pour la mesure du temps de propagation TpLZ, - la figure 4 représente le schéma auquel le circuit de charge de la figure 1 se réduit dans le cas de la mesure du temps de propagation TpLZ, - la figure 5 représente un circuit de charge pour la mesure du temps de propagation TpHZ, - la figure 6 représente l'allure du courant de sortie d'un circuit trois états haut à l'état haute impédance, - la figure 7 représente un circuit de charge pour la mesure du temps de propagation TpLZ, - la figure 8 est un organigramme relatif à la mesure des temps de propagation TpHZ et TpLZ conformément à l'invention. Le temps de propagation TpHZ, passage de l'état haut à l'état haute impédance, est le temps qui s'écoule entre le moment où le circuit est inhibé, par un signal appliqué à l'entrée et le moment où la tension de sortie passe de la tension VOH à la tension VOH-0,5 volts, la tension VOH étant celle du circuit à l'état haut et ayant généralement une valeur de 3 volts. Le temps de propagation TpLZ, passage de l'état bas à l'état haute impédance, est le temps qui s'écoule entre le moment où le circuit est inhibé, par un signal appliqué à l'entrée, et le moment où la tension de sortie passe de la tension VOL à la tension VOL+0,5 volts, la tension VOL étant celle du circuit à l'état bas et ayant généralement une valeur de 0,3 volts. L'état haut et l'état bas du circuit correspondent respectivement à l'état non passant et à l'état passant du circuit, l'état haute impédance correspondant à l'état repos du circuit, dans lequel celui-ci à une très faible concommation. Les mesures des temps de progation TpHZ et TpLZ se font lorsque la sortie du circuit est chargée par une impédance convenable. Il existe deux types de charges : un premier type de charge défini dans le catalogue des fabricants de circuits, et un deuxième type de charge défini par la norme européenne CECC 90-103. Le figure 1 représente le premier type de charge ; dans cette figure la charge est constituée par un condensateur Co et une résistance R2 en parallèle, le condensateur et la résistance étant connectés entre la sortie S du circuit et la masse, une résistance R1 en série avec trois diodes D2, D3, D4, elles mêmes en série, l'ensemble résistance R1 et diodes D2, D3, D4 étant connecté entre une polarité positive Vcc d'une source de tension continue et la masse ; un point P commun à la résistance R1 et à la diode D2 est relié à la sortie S du circuit par une diode D1 passante dans le sens P vers S ; les diodes D2, D3, D4 sont passantes dans le sens P vers la masse.Les quatre diodes D1 à D4 sont identiques. Ce type de charge est utilisé pour les mesures des temps de propagation TpHZ et TpLZ. Les valeurs de R1, R2, et Co et le type des diodes est spécifié par le fabricant pour chaque circuit. La tension de sortie Vs, entre la sortie et la masse est soit la tension VOH lorsque le circuit est à l'état haut, soit la tension VOL lorsque le circuit est à l'état bas. La figure 2 représente le type de charge défini par la norme CECC 90-103 pour la mesure de TpHZ ; dans cette figure un condensateur C1 et une résistance R3 sont connectés en parallèle entre la sortie S du circuit et la masse. La figure 3 représente le type de charge défini par la norme CECC 90-103 pour la mesure de TpLZ ; une résistance Rh est connectée entre une polarité positive Vcc d'une source de tension continue et la sortie S du circuit, et un condensateur C2 est connecté entre la sortie S et la masse. On va examiner à présent le comportement du circuit de charge de la figure 1 lors des mesures des temps de propagation TpHZ et TpLZ. - Cas de la mesure du temps de propagation TpHZ. Lorsque le circuit à mesurer n'est pas inhibé la tension de sortie Vs est égale à VOH qui est de l'ordre de 3 volts. D'autre part les trois diodes D2, D3, D4, figure 1, conduisent et par conséquent la tension VP entre le pont P et la masse est égal à trois fois la chute de tension directe d'une diode, soit de l'ordre de 3 x 0,7 =2,1 volts. La tension de sortie Vs étant supérieure à la tension VP la diode D1 est bloquée. Lorsque le circuit est inhibé, la tension de sortie Vs décroit pour atteindre une valeur de l'ordre de 1,5 volt, correspondant à'état haute impédance. Lorsque lors de sa décroissance laNtension de sortie prend la valeur VOH = 0,5=2,5 volts correspondant à la valeur à laquelle le temps TpHZ est mesuré, la diode D1 est toujours bloquée, cette valeur de 2,5 volts étant supérieure à la tension VP = 2,1 volts. En conséquence tout se passe comme si la charge était constituée, aussi longtemps que la diode D1 reste bloquée, uniquement par le condensateur Co et la résistance R2, ce qui donne une charge du type de celle de la figure 2 ; si l'on prend R3 = R2, les charges ne diffèrent que par la valeur du condensateur. - Cas de la mesure du temps de propagation TpLZ. Lorsque le circuit à mesurer n'est pas inhibé la tension de sortie Vs est égale à VOL qui est de l'ordre de 0,3 volt. Dans ce cas la diode D1, figure 1, conduit et la tension VP entre le point P et la masse est VP = VOH + u = VOL + 0,7 volts, u étant la chute de tension directe dans la diode D1, cette chute de tension étant de l'ordre de 0,7 volt. La tension de sortie VOL étant de 0,3 volt on a : VP = 0,3 + 0,7 = 1 volt. Dans ces conditions la chute de tension directe dans chacune des diodes D2, D3, D4 est de l'ordre de 1/3 = 0,33 volt, et le courant direct dans ces diodes est de quelques microampères. Comparativement le courant I1 qui circule dans la résistance R1 est égal à I1 = Vcc - VP = 5 - 1 = 4 milliampères R1 1000 avec R1 = 1000 ohms. On peut donc négliger le courant circulant dans les diodes D2, D3, D4, et considérer que tout se passe comme si les diodes D2, D3, D4 n'existaient pas. Lorsque le circuit à mesurer est inhibé, la tension de sortie Vs croit pour atteindre une valeur de l'ordre de 1,5 volt correspondant à l'état haute impédance. Lorsque lors de sa croissance la tension de sortie Vs prend la valeur VOL + 0,5 = 0,3 + 0,5 = 0,8 volt qui correspond à la valeur à laquelle le temps TpLZ est mesuré, la diode D1 reste conductrice, cette valeur de 0,8 volt étant suffisamment basse pour que la diode D1 soit conductrice ; la tension VP au point P est alors de l'ordre de VP = 0,8 + 0,7 = 1,5 volt. La chute de tension directe dans chacune des diodes D2, D3, D4 devient donc 1,5/3 = 0,5 volt, et le courant direct dans ces diodes est de quelques dizaines. de microampères. Comparativement le courant I1 dans la résistance R1 devient I1 = Vcc - VP = 5 - 1,5 = 3,5 milliampères R1 1000 avec R1 = 1000 ohms. On peut donc négliger le courant circulant dans les diodes D2, D3, D4, et considérer que tout se passe comme si ces diodes n'existaient pas et que la charge était constituée, comme représenté figure 4, par la résistance R1, la diode D1, la résistance R2 et le condensateur Co. On notera que du point de vue mathématique la charge représentée figure 4 est équivalente, si l'on fait tendre R2 vers l'infini, à la charge représentée figure 3, en faisant R4 = R1 + rd, rd étant la résistance directe de la diode D1. Ce schéma équivalent, figure 4, n'est bien entendu valable que tant que la diode D1 conduit et que le courant qui la traverse est très supérieur à celui qui circule dans les diodes D2, D3, D4, ce qui est le cas lors de la mesure de TpLZ à la tension VOH + 0,5 = 0,8 volt. Ce qui vient d'être exposé ci-dessus permet donc de considérer que, quel que soit le type de charge utilisé, le comportement des charges est identique, au moins dans les plages de variation des tensions de sortie auxquelles on effectue les mesures des temps de propagation TpHZ et TpLZ ; ce qui se passe ensuite n'a pas d'influence sur les mesures. A partir de ce qui vient d'être exposé il est donc possible de traiter de la même façon le comportement des circuits de charge quel que soit leur type. On va étudier à présent le fonctionnement du circuit de charge représenté figure 5, utilisé pour la mesure du temps de propagation TpHZ, ce circuit de charge étant constitué d'un condensateur C en parallèle avec une résistance R, et relié à la sortie S d'un circuit à mesurer dont l'étage de sortie comporte deux transistors T1 et T2. Le circuit de charge figure 5 est de type identique à celui de la figure 2, et comme indiqué précédemment, le circuit de la figure 1 se réduit à celui de la figure 2 lors de la mesure de TpHZ. Lorsque le circuit à mesurer est à l'état haut, le transistor T1 est bloqué et le transistor T2 conduit, le courant circulant dans la charge étant issu du transistor T2. Lorsqu'on inhibe le circuit à mesurer pour le faire passer de l'état haut à l'état haute impédance, le courant dans le transistor T2 décroit, la tension de sortie V décroit également jusqu'à une valeur correspondant à l'état haute impédance, cette valeur étant par exemple de 1,5 volt. Or, on sait, d'après l'expérience que le courant I délivré par le transistor T2 a l'allure représenté par la courbe de la figure 6. Ceci signifie que le courant I peut être représenté par un palier d'ordonnée Io et une exponentielle de constante de temps 1 décalée d'un temps s Cette manière simplifiée de traduire l'allure du courant, mais valable expérimentalement, permet de représenter le courant par l'expression, en calcul symbolique Dans ces conditions, en désignant par I1 le courant dans la resistance R, par I2 le courant dans le condensateur C, et par V la tension aux bornes de la charge, on peut écrire I = I1 + I2 s V I1 = R et I2 = C (pV - Vo), R Vo étant la tension à l'état initial V I = R + C (pV-Vo) D'où En remarquant que R.Io = Vo il vient : En posant RC = #: 2 il vient : d'où : Cette équation est aisée à résoudre par les méthode classique du calcul symbolique, et, en remontant aux originales et en appelant #(t) la fonction échelon, ou a En conséquence : sit En première approximation on voit que pour O - on va étudier à présent le circuit de charge représenté figure 7 utilisé pour la mesure du temps de propagation TpLZ, ce circuit de charge étant constitué par une résistance R1 une diode D1 et une résistance R2 en série et un condensateur C en parallèle sur la résistance R2, le point P commun au condensateur C, à la diode D1 et à la résistance R2 étant relié à la sortie S du circuit à mesurer dont l'étage de sortie comporte deux transistors T1 et T2. Le circuit de charge de la figure 7 est du même type que celui de la figure 4. Lorsque le circuit à mesurer est à l'état bas le transistor T2 est bloqué et le transistor T1 conduit. Le courant circulant dans la résistance R1 et la diode D1 passe en partie dans la résistance R2 et en partie dans le transistor T1. Lorsque l'on inhibe le circuit à mesurer pour le faire passer de l'état bas à l'état haute impédance, le courant I' dans le transistor T1 décroit, et la tension de sortie V croit jusqutà une valeur correspondant à l'état haute impédance, cette valeur étant de l'ordre de 1,5 volt. Comme indiqué précédemment, et représenté figure 6, on admettra que le courant I' dans le transistor T1 décroit suivant une exponentielle retardée d'un temps #', après un palier d'ordonnée I'o. Le courant I' est alors représenté par l'expression, en calcul symbolique. Le courant I', figure 7 est égal à + = I'1 + I'2 + I'3 En désignant par V la tension de sortie du circuit à mesurer, et par R'1 la somme R1 + rd, rd étant la résistance directe de la diode D1, on a I'2 = R2 p = R'1 . I'1 + V i'3 = C(pV-Vo) R2 = R2 p D'où En tenant compte des conditions initiales au temps t = o, on a I'1 = I'2 + I'o E - Vo = R'1. I'1 d'où : Io = E - Vo Vo R'1 R2 en désignant par Vo la tension de sortie au temps t = o, c'est-à-dire avant inhibition du circuit à mesurer. En portant la valeur de I'o dans l'équation (1) ci-dessus et la valeur de I' (p) dans l'équation(2) on obtient CI L'équation(3) se résoud par les méthodes générales du calcul symbolique. Pour simplifier l'écriture on pose R2 E R'1 et 2 3 = R 1 R2 U = (4) et 23 = C = R'C (5) R'1 + R2 Rti + R2 avec R' = R'1 R2 (6) R'1 + R2 L'équation (3), compte tenu des simplifications selon (4) et (5), s'écrit Le passage aux originales est immédiat et en désignant par r(t- #1 ) l'échelon unité on obtient En conséquence si O r(t- On a En première approximation, on voit que si t Les équations (I) et (II) donnent la variation de la tension de sortie en fonction du temps ; la partie intéressante, pour la mesure, est celle qui correspond à une exponentielle retardée, d'un temps 9 pour l'équation (I) et d'un temps O pour l'équation (II) ; cette partie intéressante de la tension est donc celle qui correspond à t > # , ou t > - L'équation (I) est relative à la mesure du temps de propagation TpHZ. En posant t - e = x, l'équation I s'écrit La fonction V (x) est toujours décroissante, quels que soient ''1 et Z2 ; en effet De plus pour X = o, ctest-à-dire t = e d v- sX = La courbe part donc tangentiellement à l'horizontale correspondant à V = Vo et tend asymptotiquement vers 0.On peut également voir que le raccordement avec l'horizontale se fait suivant une parabole, en faisant un développement limité au voisinage de x = o, ce qui donne L'examen de la courbe V (x) à l'oscilloscope, lors de la mesure de TpHZ sur un circuit trois états, montre la présence d'un petit arrondi au raccordement avec l'horizontale V = Vo = VOH, ce qui montre que pratiquement une exponentielle s'éteint plus rapidement que l'autre dans l'équation (III).En effet, la plupart des circuits ont une constante de temps propre, # 1, très inférieure à la constante de temps 252 = RC. il est donc possible de négliger la constante de temps r1, et l'équation (III) devient alors Cette équation est l'équation de décharge d'un condensateur dans une résistance, ce qui est parfaitement valable pour le type de charge de la figure 2 correspondant à la norme CECC 90-103.Avec le type de charge donné par les fabricants de circuits trois états, figure 1, à partir d'unevaleur suffisamment basse de la tension de sortie Vs, la diode D1 devient conductrice, comme cela a été discuté précédemment, et le condensateur Co ne se décharge plus, de sorte que la tension de sortie Vs ne décroit pas jusqutà la valeur zéro mais tend vers une asymptote horizontale de valeur de l'ordre de 1,5 volts. Néanmoins ceci est sans importance pour le problème traité, mesure de TpHZ, puisqu'à la tension de mesure VOH-0,5 volts, la diode D1 n'est pas conductrice comme indiqué précédemment. Dans le cas de l'équation (IV) le temps t1 au bout duquel la tension de sortie atteint la valeur VOH-0,5 volts s'obtient facilement x VOH-0,5 = VOH e - V0H x = 2 Lcg VOH-0,5 t1 - e = RC Lcg V0H VOH-0,5 d'où V0H t1 = + RC Lcg VOH-0,5 (V) VOH est la tension de sortie avant inhibition du circuit à mesurer ; on a donc VOH = Vo. Le temps t est le temps de propagation TpHZ. L'équation (V), avec une valeur différente du condensateur donne VOH t' = # + +RC' Log En tenant compte de la valeur de t1, équation (V) on obtient t' t + R #C Log VOH (VI) 1 = t1 + R # C Log VOH-O,5 avec ss C = C' - C La mesure du temps de propagation TpHZ découle immédiatement de l'observation de l'équation (VI). Les testeurs automatiques ayant une capacité C différente de la capacité Co indiquée par le fabricant des circuits trois états pour la mesure de TpHZ, on effectue une mesure de temps de propagation TpHZ avec un testeur automatique, et la connaissance de la valeur de la résistance R et de la capacité C du testeur permet, par application de 11 équation (VI) d'en déduire le temps de propagation t'1 correspondant à la capacité Co, et ainsi de comparer la valeur obtenue t'1 au temps de propagation donné par le fabricant, pour le type de circuit trois états considéré. On remarquera que la résistance R est égale à la résistance R2 du circuit de charge de la figure 1 ; dans le cas de la figure 2, on a R = R3. Comme les circuits de charge figures 1 et 2 sont équivalents pour la mesure de TpHZ, l'on a R = R3 = R2. Dans l'équation (VI) la résistance R est égale à R2 quel que soit le type de charge utilisé. - L'équation (II) est relative à la mesure du temps de propagation TpLZ En posant t- e = x, l'équation (II) s'écrit La fonction V (x) est toujours croissante, quels que soient SD1 et t3 : en effet De plus, pour x = o, c'est-à-dire t = at #v dx =O La courbe part donc tangentiellement à l'horizontale correspondant à V = Vo et tend asymptotiquement vers U.De même que dans le cas du temps de propagation TpHZ (équation I), le raccordement à l'horizontale se'fait suivant une parabole ; en faisant un développement limité au voisinage de x = o, on obtient x V (x) - Vo = (U-Vo) 2#1#3 L'examen à I'oscilloscope de la courbe V (x), lors de la mesure de TpLZ sur un circuit trois états, montre la présente d'un petit arrondi au raccordement avec l'horizontale V =Vo = VOL, ce qui montre que pratiquement une exponentielle s'éteint plus rapidement que l'autre dans l'équation (VIII), les circuits trois états ayant une constante de temps 251 très inférieure à la constante de temps 223 donnée par l'équation (5).Il est donc possible de négliger la constante de temps \51, et l'équation (VIII) devient alors : Cette équation est celle de la décharge d'un condensateur dans une résistance, ce qui est parfaitement valable pour le type de charge de la figure 3 correspondant à la norme CECC 90-103. Avec le type de charge donné par les fabricants de circuits trois états, figure 1, à partir d'une valeur suffisamment haute de la tension de sortie Vs, la diode D1 cesse de conduire, ce qui a pour effet d'abaisser l'asymptote horizontale à une valeur inférieure à la tension Vcc, et de l'ordre de 1,5 volt. Néanmoins ceci est sans importance pour le problème traité, mesure de TpLZ, puisqu'à la tension de mesure VOL + 0,5 volts, la diode D1 est toujours conductrice, comme indiqué précédemment. Dans le cas de l'équation (IX), le temps-t2 au bout duquel la tension de sortie atteint la valeur VOL + 0,5 volt s'obtient facilement. x (U- vOL) - 0,5 e - x ~ (U-VOL d'où 44 U-VOL x = t3 Lcg U-VOL-0,5 en tenant compte de la valeur de la constante de temps 3 donnée par l'équation (5), il vient t2 - t9' = R' C Log U-VOL U- VOL - 0,5 d'où U-VOL t2 = p +R' C Log U-VOL - 0,5 (X) VOL est la tension de sortie avant inhibition du circuit à mesurer ; on a donc Vo =VOL (équation IX). Pour une autre valeur de capacité C' on obtient U-VOL t'2 =9'+ R'C' Log U-VOL-0,5 en tenant compte de la valeur de t2, équation (X), on obtient U-VOL t'2 = t2 + R' # C Log U-VOL-0,5 Cxi) avec AC = C'-C. L'équation (XI) découle de l'équation (II) elle-même relative au circuit de charge représenté figure 7, dans laquelle U et R' sont donnés par les équations (4) et (6), respectivement, rappelées ci-après U = R2 E et R' = R'1 R2 avec E = Vcc R'1+R2 R'1+R2 Dans le cas d'une charge selon la figure 1, c'est-à-dire celle donnée par le fabricant d'un circuit trois états, les expressions de U et de # 3 sont celles indiquées ci-dessus puisque dans la figure 7 la charge est celle de la figure 4 dont on a montré qu'elle était équivalente à celle de la figure 1, pour la mesure de TpLZ ; on a également Vcc = E. Dans le cas d'une charge selon la norme CECC 90-103, représentée figure 3, on observe que cette charge se déduit de celle de la figure 4 en faisant R2 infini. Les termes U et R' deviennent alors U' =E = Vcc (7) et R" = R'1 (8) Comme indiqué précédemment on a R'1 = R1 + rd = R4, la résistance R4 étant celle de la charge représentée figure 3. Bien évidemment le temps t2 donné par l'équation (X) a une valeur différente, puisque R' prend la valeur R" = R'1. La mesure des temps de propagation TpLZ découle immédiatement de l'observation de l'équation (XI). Les testeurs automatiques ayant une capacité C, différente de la capacité Co indiquée par le fabriquant des circuits trois état pour la mesure de TpLZ, on effectue une mesure du temps de propagation TpLZ avec un testeur aumatique avec une charge du type fabriquant ou du type norme CEECC 90-103, et la connaissance de la valeur de la capacité C du testeur et de celles des résistances constituant la charge permet d'en déduire le temps t'2, ou t"2 en fonction du type de charge utilisé, correspondant à la capacité Co ; bien entendu pour le calcul on tiendra compte du type de charge pour la détermination des termes R' et U, comme indiqué cidessus, équations (4) et (6) pour le type de charge selon le fabricant, et (7) et (8) pour le type de charge selon la norme CECC 90-103. Les temps de propagation TpLZ pour une capacité Co sont fonction du type de charge utilisé ; le temps t2 mesuré est également différent puisque mesuré avec des charges différentes. Avec une charge du type indiqué par le fabricant, le temps de propagation TpLZ déterminé par l'équation (XI) avec les valeurs de U et R' correspondant à ce type de charge est à comparer avec le temps TpLZ indiqué par le fabricant Dans le cas d'une charge du type conforme à la norme CECC 90-103, le temps de propagation TpLZ déterminé par l'équation (XI) est à comparer avec le temps indiqué par la norme pour le type de circuit trois états mesuré, le temps TpLZ pour la capacité Co étant différent de celui indiqué par le fabricant puisque le circuit de charge est différent. Les équations (VI) et (XI) relatives respectivement aux temps de propagation TpHZ et TpLZ, permettent donc d'obtenir les temps de propagation des circuits trois états dans les conditions de mesure spécifiées par le fabricant ou par la norme CECC 90-103. Une vérification expérimentale des temps de propagation TpHZ et TpLZ a été faite ; elle consiste à mesurer les temps de propagation pour différentes valeur du condenseur du circuit de charge. Les mesures donnent en représentation graphique, temps de propagation - capacité, des points alignés. Par extrapolation on lit la valeur du temps de propagation correspondant à une capacité de 5pF. Pour un circuit donné on a trouvé, par extrapolation, un temps de propagation TpHZ de 2,83 ns ; l'application de l'équation (VI), à partir d'une mesure ayant donné 7,9 ns pour une capacité de 35pF, donne un temps de propagation de 2,80ns, valeur qui correspond bien à la valeur de 2,83 ns obtenue par extrapolation. Pour un circuit donné on a trouvé, par extrapolation, un temps de propagation TpLZ de 16,5 ns ; l'application de l'équation (XI), à partir d'une mesure ayant donné 20 ns pour une capacité de 18pF, donne un temps de propagation de 16,60 ns, valeur qui correspond bien à la valeur de 16,5ns obtenue par extrapolation. Les équations (IV) et (XI) permettent donc d'obtenir les temps de propagation TpHZ et TpLZ avec une très bonne précision, à partir d'une seule mesure. Les mesures des temps de propagation sont effectuées sur un testeur automatique dont la capacité d'entrée à une valeur connue C ; la différence C = Co-C est donc connue et fixe. D'autre part les testeurs automatiques sont pilotés par un calculateur qui active les différents organes du testeur selon une séquence choisie et parfaitement déterminée en fonction des mesures que l'on désire effectuer. Il est donc tout indiqué de faire effectuer les calculs des équations (VI) et CXI) par le calculateur. Pour cela on fournira au calculateur chacune de ces équations sous forme d'algorithme en exprimant par exemple le terme en logarithme népérien sous la forme d'un développemnt série limité par exemple aux trois premiers termes, ce qui donne une précision très suffisante.Ainsi à partir de chacun des temps de propagation TpHZ et TpLZ le calculateur effectuera les calculs correspondant à chaque algorithme, ces calculs étant très simples puisque ne comportant que des opérations simples telles qu'additions, sous-tractions, élévations au carré, multiplications et divisions. Bien entendu les données relatives à chaque algorithme, et fonction de chaque type de circuit trois états à mesurer, seront fournies au calculateur en même temps que l'algorithme correspondant. Ainsi après chaque mesure d'un temps de propagation, TpHZ ou TpLZ, dans des conditions de charges spécifiées, le calculateur effectuera le calcul du temps de propagation pour la valeur de capacité Co donnée par le c9nstructeur des circuits trois états. Les algorithmes étant simples, ce calcul est effectué très rapidement, et la cadence de mesure du testeur automatique n'est pratiquement pas ralentie. Les valeurs des temps de propagation calculées peuvent être affichées sur un écran et/ou imprimées à l'aide d'une imprimante commandée par le calculateur. Bien évidemment les algorithmes seront fournies au calculateur dans le langage machine qui lui est propre. L'invention permet donc d'obtenir les temps de propagation TpHZ et TpLZ correspondant à des conditions de mesure spécifiées, soit par le fabricant, soit par une norme telle que par exemple la norme CECC 90-103, et ainsi de comparer les valeurs des temps de propagations des circuits trois états mesurés aux valeurs indiquées par le fabricant ou par la norme, alors qu'une mesure avec un testeur automatique ne permet pas cette comparaison puisque sa capacité d'entrée est différente de celle spécifiée dans les conditions de mesure. La figure 8 donne l'organigramme des mesures des temps de propagation TpLZ et TpHZ. Lorsqu'on effectue les mesures des temps de propagation sur un circuit trois états donné on choisit à priori le type de circuit de charge utilisé, suivant que la mesure est faite selon la feuille particulière du fabricant ou selon la norme CEECC. L'organigramme est indépendant du type de charge, seules les valeurs numériques changent. Pour un circuit trois état donné, les valeurs /\ C = Co-C, R (équation VII), R' (équation XI) et U (équation XI) ont été déterminées une fois pour toute ; ces valeurs peuvent donc être incluses dans les variables déclarées dans le programme de mesure et rappelées au moment voulu. Les testeurs automatiques comportent un comparateur qui a une première entrée portée à un niveau de tension donné, VS = VOH-0,5 ou VS = VOLs0,5, et une deuxième entrée reliée à la sortie du circuit à mesurer, et un dispositif de commande qui pilote le déroulement de la mesure. La première entrée est reliée à une source de tension variable programmée par le dispositif de commande. Le comparateur est un comparateur déclenché par l'impulsion de commande du circuit à mesurer, cette impulsion étant retardée par un dispositif de retard programmable évoluant de façon discrète par bonds de l'ordre de 150 ps. Le principe de la mesure du testeur consiste à retarder le déclenchement du comparateur pour l'amener à changer d'état entre deux impulsions et à mesurer le retard qui est égal au temps de propagation cherché. La détermination des temps de propagation s'effectue selon l'une des équations VI ou XI, selon que le temps de propagation mesuré est TpHZ ou TpLZ. REVENDICATIONS 1/ Procédé de mesure des temps de propagation TpHZ et TpLZ d'un circuit trois états, correspondant respectivement au passage dudit circuit d'un état haut à un état haute impédance et d'un état bas à un état haute impédance, les temps de propagation des circuits d'un même type étant donnés pour des conditions de mesures spécifiées définissant un circuit de charge ayant une capacité spécifiée Co, caractérisé par le fait que l'on mesure, par un testeur ayant une capacité d'entrée différente de la capacité spécifiée, les temps de propagation TpHZ et TpLZ, que l'on détermine le temps de propagation TpHZ correspondant à la capacité spécifiée à l'aide d'un premier algorithme TpHZ = tl + R a C Log VOH V0H-0,5 dans lequel tl est le temps de propagation mesuré par le testeur, R est une résistance en parallèle sur la- capacité d'entrée, C est la différence de capacité entre la capacité spécifiée Co et la capacité d'entrée du testeur (d C = Co-C), VOH est la tension de sortie du circuit trois états à l'état haut, et Log désigne le logarithme népérien, et que l'on détermine le temps de propagation TpLZ correspondant à la capacité spécifiée à l'aide d'un deuxième algorithme TpLZ = t2 + R' dC Log U-VOL U-VOL-0, 5 dans lequel t2 est le temps de propagation mesuré par le testeur, A C est la différence entre la capacité spécifiée Co et la capacité d'entrée du testeur ( ssC = Co-C), VOL est la tension de sortie du circuit trois états à l'état bas, Log désigne le logarithme népérien et R' = R'1 R2 et U = R2 Vcc R'1+R2 expressions dans lesquelles R'1 et R2 sont une première et une deuxième résistances du circuit de charge en série, la première résistance R'1 étant reliée à une tension positive Vcc et la deuxième résistance R2 étant en parallèle sur la capacité d'entrée. 2/ Procédé de mesure des temps de propagation d'un circuit trois état, selon la revendication 1 caractérisé par le fait que pour la mesure du temps de propagation TpHZ on utilise un circuit de charge constitué par la capacité d'entrée du testeur et une résistance en parallèle avec ladite capacité d'entré. 3/ Procédé de mesure des temps de propagation d'un circuit trois états selon la revencation 1, caractérisé par le fait que pour la mesure du temps de propagation TpLZ on utilise un circuit de charge constitué par la capacité d'entrée du testeur et un circuit série comportant une première résistance reliée à la tension positive (Vcc), une diode (D1) et une deuxième résistance, la première résistance et la diode ayant ensemble une résistance égale à la première résistance du deuxième algorithme, la deuxième résistance étant la deuxième résistance du deuxième algorithme, et comme elle en parallèle sur la capacité d'entrée du testeur. 4/ Procédé de mesure des temps de propagation d'un circuit trois états selon la revendication 1, caractérisé par le fait que l'on utilise un circuit de charge constitué par une résistance en série avec la capacité d'entrée, ladite résistance étant reliée à la tension positive et ayant même valeur que la première résistance, R'1 dans les expressions de R' et U du deuxième algorithme, expression dans lesquelles la deuxième résistance, R2, a une valeur infinie. 5/ Procédé de mesure des temps de propagation d'un circuit trois états selon l'une des revendications 1, 2, 3 et 4, caractérisé par le fait que le testeur est un testeur automatique comportant un calculateur et que la détermination des temps de propagation TpHZ et TPLZ est effectuée par le calculateur à partir des premier et deuxième algorithmes et des valeurs des différents termes de ces algorithmes, ces valeurs étant introduites avant les mesures en mémoire du calculateur.