FR 2575287 A1 19860627 FR 8419815 A 19841226 Perfectionnements apportés aux procédés et aux appareils d'analyse spectrale d'un rayonnement infrarouge au moyen d'un filtre interférentiel. La présente invention concerne des perfectionnements apportés aux procédés et aux appareils d'analyse spectrale d'un rayonnement infrarouge, mettant en oeuvre un filtre interférentiel.Elle s'applique notamment aux spectrophotomètres à filtre interférentiel tournant, destiné à déterminer la répartition spectrale du rayonnement émis par des sources infrarouges fluctuantes de très faible puissance. Pour différentes raisons, les détecteurs infrarouges et leur chaîne d'amplification ne transmettent pas la composante continue du signal détecté. Pour mesurer les rayonnements infrarouges lentemant variables, on tourne habituellement la difficulté, en interrompant périodiquement le faisceau optique à l'aide d'un modulateur mécanique. Ainsi, le détecteur "voit" alternativement la source et le modulateur et il délivre un signal alternatif, repré- sentant la différence entre le rayonnement provenant de la source et celui provenant du modulateur. Cette technique de mesure a deux conséquences -- la mesure ne donne pas la valeur absolue du rayonnement de la source, mais la différence entre le rayonnement émis par la source et celui envoyé par le modulateur (qui sert de référence) - les frequences enregistrées dans le signal sont translatées du continu vers la fréquence de modulation. Ces effets, qui sont recherchés, s'accompagnent de deux inconvénients principaux - une partie notable des informations émises par la source est perdue (par exemple la moitié si les pales pleines du modulateur sont égales aux parties ajourées) - le modulateur étant une pièce en mouvement, il est difficile de mesurer sa température avec précision ; la connaissance du niveau absolu de référence est donc approximative. Par ailleurs, les rayonnements qui ne sont pas transmis par le filtre sont soit réfléchis, soit absorbés. Lorsque le rayonnement de la source à mesurer est faible, le détecteur différencie difficilement a) le rayonnement (utile)à mesurer, provenant de la source et transmis par le filtre b) le rayonnement (parasite) provenant de I'environnement interne qui se réfléchit sur le filtre, en particulier le rayonnement émis par le détecteur lui-même (effet Narcisse); dans les appareils refroidis à l'azote liquide, cet effet induit un signal éle,ctrique parasite négatif de grande amplitude qui varie avec la position du filtre ; sa prise en compte est donc délicate c) le rayonnement (parasite) propre du filtre correspondant aux propriétés absorbantes du filtre. Si, par exemple, le filtre a un pouvoir sélecteur de 100, le rayonnement utile peut représenter moins de 1 % du rayonnement total reçu par le détecteur, alors que les variations du rayonnement parasite peuvent atteindre 20 à 50 % du rayonnement total reçu. Ces phénomènes de modulation et de mélange entre rayonnement utile et rayonnement parasite limitent notablement la possibilité de mesurer le rayonnement de sources infrarouges de faible intensité avec un analyseur de spectre à filtre interférentiel, par exemple à laide d'un spectrophotomètre à filtre tournant. L'invention a essentiellement pour but de supprimer ces inconvénients dans toute la mesure du possible et de proposer un procédé et un appareil perfectionnés qui permettent de réduire, dans des proportions importantes, l'influence des rayonnements parasites parvenant sur le détecteur et donc d'accroître la fidélité et la justesse des appareils de mesure, notamment des spectrophotomètres à filtre tournant. A ces fins, selon un premier aspect de l'invention, un procédé conforme à l'invention se caractérise en ce que - on incline le filtre pour que la normale au plan du filtre et l'axe du système optique associé au détecteur forment un angle tel que soit dirigé sur le détecteur un rayonnement issu d'une surface de référence dont on peut déterminer et/ou contrôler.la température, - on détecte ledit rayonnement issu de cette surface de référence, en l'absence de tout autre rayonnement issu du filtre, - on détecte un rayonnement composite constitué par le rayonnement utile à mesurer ayant traversé le filtre ét le rayonnement issu de la surface de référence et réfléchi par le filtre, - on effectue la différence entre les deux valeurs détectées des deux rayonnements, - et on en déduit la valeur du rayonnement transmis par le filtre. Grâce à ces dispositions, on évite que le rayonnement propre du détecteur et de l'enceinte refroidie associée ne se réfléchisse sur la face arrière du filtre Avantageusement, la surface de référence est agencée pour rayonner sensiblement comme un corps noir (c'est-à-dire entièrement opaque et non réfléchissant): le rayonnement parasite, qui parvient au détecteur après réflexion sur la face arrière du filtre, est ainsi connu. Par ailleurs, le filtre n'est par parfaitement transparent. En outre, dans le cas d'un filtre tournant, il est relativement isolé du châssis et il est soumis à des échauffements dus au moteur d'entraînement et aux frottements. I1 en résulte un échauffement par rapport aux autres organes de l'appareil, et en particulier par rapport à la surface de référence précitée. Des écarts thermiques de quelques degrés sont couramment observés ; ces écarts évoluent avec les conditions d'environnement et le temps de fonctionnement de l'appareil. I1 en résulte un rayonnement propre du support du filtre qui est perçu par le détecteur et'qu'il est important de connaitre pour s'zen affranchir. A cette fin, mettant en oeuvre les dispositions précitées du procédé de l'invention, on détecte d'abord le rayonnement issu d'une surface noire (c'est-à-dire entièrement opaque et non réfléchissante) de la face arrière du support du filtre, - on compare la valeur ainsi détectée avec la susdite va-- leur détectée du rayonnement issu de la.surface de référence, - et on en déduit une valeur de correction de la valeur du rayonnement de la surface de référence. Selon un aspect particulièrement préféré du procédé de l'invention, la valeur de correction est utilisée pour asservir la température de la surface de référence à la température du support du filtre, ce grâce à quoi le signal délivré par le détecteur est proportionnel à la différence entre la valeur du rayonnement incident transmis par le filtre et la valeur du rayonnement issu de la surface de référence. Un tel asservissement peut être facilement réalisé, par exemple à l'aide d'une cellule à effet Peltier, pour ramener l'écart de température entre la surface noire du filtre et la surface de référence à une petite fraction de degré (par exemple en-dessous de 0,02 K) Cette connaissance de la température de la surface de réfé rence permet de déterminer l'origine de la mesure différentielle du rayonnement. Enfin, une dernière disposition du procédé de l'invention est destinée à minimiser de légères déformations, préjudiciables à la précision des mesures, que subit le signal délivré par l'appareil du fait que les circuits électroniques de traitement des informations recueillies ne laissent pas passer les signaux à très basses fréquences. A cette fin, on effectue une remise à zéro globale de l'ensemble des circuits dès le premier étage d'amplification immédiatement avant chaque cycle de mesure les tensions rémanentes provenant des mesures précédentes, qui subsistent à long terme dans les circuits, comme c'est souvent le cas dans les systèmes ne passant par le continu, sont de ce fait éliminées. A partir d'une référence bien connue ainsi établie, il est possible, alors, d'introduire une correction des phénomènes de dérivation par une méthode dé filtrage récursif à deux termes fournissant la suite des valeurs corrigées Yi où x. est la suite des valeurs mesurées et a un coefficient lié à la fréquence de coupure basse des circuits. Grâce aux dispositions réunies dans le procédé de l'invention, il est possible de -s'affranchir des rayonnements parasites perçus par le détecteur et d'-isoler le rayonnement utile (de faible amplitude parVrapport aux rayonnements parasites) devant seul être mesuré, en même temps que l'on s'affranchit des erreurs de mesure introduites par les circuits de l'appareil de mesure lui-même. Pour la mise en oeuvre du procédé ci-dessus exposé, il est prévu,selon un second aspect de l'invention, un appareil caractérisé en ce que la normale à la surface du filtre interférentiel est inclinée par rapport à l'axe du système optique associé au détecteur de manière telle que le rayonnement réfléchi par la face arrière ou aval du support du filtre en direction du détecteur soit issu d'une surface de référence identifiable, notamment du point de vue de sa température, cette surface de référence étant de préférence située dans l'appareil lui-même.L'appareil comprend, en outre, des moyens de traitement de signaux, connectés à la sortie du détecteur, aptes à engendrer un signal représentatif de la différence entre un premier signal correspondant à un rayonnement composite (rayonnement utile ayant traversé le filtre et rayonnement provenant de la surface de référenceet réfléchi par la face arrière du filtre) reçu par le détecteur et un second signal correspondant au seul rayonnement réfléchi provenant de la surface de référence, en l'absence de tout rayonnement utile. De façon avantageuse, les moyens de traitement de signaux comprennent - des moyens de mémorisation pour mémoriser au moins un signal de sortie du détecteur, - des moyens différentiateurs dont une première borne d'entrée est reliée à la sortie des moyens de mémorisation, et - des moyens de commutation connectée à la sortie du détecteur et agencée pour raccorder la sortie du détecteur sélectivement à entrée des moyens de mémorisation ou à une seconde entrée des moyens différentiateurs. Dans le cas particulièrement visé par l'invention d'un spectrophotomètre à filtre interférentiel tournant, aux dispositions précédentes on adjoint celles consistant en ce que le filtre présente une zone réfléchissante et en ce que des moyens de synchronisation sont associés aux moyens de commutation et agencés pour commuter la sortie du détecteur sur'l'entrée des moyens de mémorisation lorsque la zone réfléchissante est dans l'axe optique du détecteur et pour commuter la sortie du détecteur sur la seconde entrée des moyens différentiateurs lorsque la zone utile du filtre est en face du détecteur. De préférence-, la surface de référence est agencée pour rayonner sensiblement comme un corps noir. Egalement de façon préférentielle, une zone du filtre est agencée pour rayonner sensiblement comme un corps noir. Dans l'un ou l'autre de ces deux derniers cas, la zone noire du filtre est prévue immédiatement avant la zone réfléchissante, (dans le sens de rotation du filtre). I1 est alors particulièrement intéressant de prévoir des moyens de régulation en température agencés pour assujettir la température de la surface de référence à la température de la zone noire du filtre. De façon avantageuse; les moyens de régulation en température comprennent une cellule à effet Peltier commandée par.le signal de différence entre les températures de la surface de référence et de la zone noire du filtre et il est prévu des moyens commutateurs pour isoler les moyens de régulation en température de la sortié des moyens différentiateurs lorsque la zone réfléchissante du filtre n'est plus dans l'axe optique du détecteur. En outre, on peut prévoir que l'appareil comprenne des moyens de remise à zéro connectés à la sortie du détecteur et des moyens de commande de ces moyens de synchronisation agencés pour agir au début de chaque cycle de mesure, notamment juste avant le passage de la zone noire du miroir dans l'axe optique du détecteur. Le recours à un appareil autorisant une mesure différentielle, comme indiqué plus haut, entraîne une réduction de la dynamique des circuits électroniques de traitement des signaux. En outre, par rapport à un appareil à système de modulation classique, l'appareil de l'invention procure un gain considérable en temps utile consacré à la mesure : le taux de perte, de 50 % dans un système classique utilisant des pales et des encoches interpales de sensiblement mêmes surfaces, est ramené à 1 ou 2 % dans l'appareil de l'invention. mêmes surfaces, est ramené à 1 ou 2 % dans l'appareil de l'invention. I1 en résulte de plus la possibilité d'effectuer des mesures très rapides, permettant d'obtenir cinquante spectres par seconde, voire plus encore. La mesure différentielle et l'élimination des termes continus rendent inutile l'emploi d'un modulateur de type papillon ainsi que de toute pièce en mouvement rapide par rapport- au défilement du spectre analysé. En outre, la prise de référence est effectuée à chaque tour de rotation du filtre tournant; donc pour chaque spectre analysé, et non plus une fois par élément spectral comme c'était le cas avec les appareils antérieurs. Par ailleurs, la remise à zéro globale de la chaîne de mesure, faite systématiquement avant chaque séquence de mesure, assure l'indépendance des mesures effectuées pour des tours de rotation successifs du filtre, laquelle indépendance confère une protection efficace contre les effets à long terme d'un éblouissement passager du système. Ces remises à zéro périodique rendent en outre possible une correction récursive des mesures qui conduit à une amélioration de la justesse relative de la mesure entre le début et la fin du spectre analysé pour chaque tour de rotation du filtre. Enfin, la précision des mesures effectuées sur des rayonnements issus de sources à évolution lente est améliorée grâce aux cadences élevées dont le système est capable. En effet, en procédant par moyennage sur les spectres successifs correspondant aux rotations du filtre tournant, la sommation s'effectue sur des échantillons dont les fluctuations ne sont pas corrélées. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui suit d'un mode de réalisation préféré donné uniquement à titre d'exemple non limitatif ; dans cette description, on se réfère aux dessins annexés sur lesquels - la figure 1 est un schéma-bloc illustrant, de façon simplifiée, la structure d'un appareil conçu conformément à l'invention ; - la figure 2 est une vue schématique de la face arrière (considéré bans le sens de propagation des rayonnements) d'un filtre tournant agencé conformément à l'invention et utilisé dans l'appareil de la figure 1, et - la figure 3 est un ensemble de courbe illustrant le fonctionnement du circuit de la figure 1. La figure 1 est une vue schématique des organes essentiels entrant dans la composition d'un spectrophotomètre à filtre interférentiel tournant. Le filtre interférentiel, désigné d'une façon générale par la référence numérique 1, présente la forme générale d'un disque apte à tourner (flèche 3) autour de son axe 2 et disposé en regard d'un récepteur 4. Comme représenté à la figure 2, le filtre 1 comporte une partie de filtrage 7 de forme annulaire, constituée notamment de plusieurs secteurs 8 de caractéristiques différentes, situés bout à bout selon un agencement connu. Conformément à l'invention, l'axe 2 du filtre est incliné par rapport à l'axe optique du récepteur 4 d'un angle a tel que les rayonnements 5 réfléchis par la face arrière de la partie de filtrage 7 en direction du récepteur 4 proviennent d'une surface 6 de l'appareil lui-même : la surface 6 est donc parfaitement identifiable et sa température peut être mesurée de façon précise. La surface 6 est traitée pour présenter les caractéristiques d'un corps noir. Par ailleurs, la partie annulaire de filtrage 7 est munie d'une zone réfléchissante 9 précédée (dans le sens de rotation 3 du filtre) d'une zone 10 présentant les caractéristiques d'un corps noir. Le détecteur 4 est connecté entre la masse et une entrée d'un amplificateur opérationnel 11, dont l'autre entrée est portée à la masse et qui est contre-réactionné par une résistance R1 inséréeentre sa première entrée et sa sortie, de manière à constituer un amplificateur à très haute impédance d'entrée formant un premier étage d'amplification. La sortie de l'amplificateur 11 est reliée, par l'intermédiaire d'un condensateur C1 de découplage , à l'entrée d'un suramplificateur (booster) 12 ; entre cette entrée et la masse est insérée une résistance R2 sur laquelle est connecté en parallèle un interrupteur I1. La sortie du suramplificateur 12 est raccordée, par l'intermédiaire d'une résistance R3, à l'entrée non inverseuse dtun amplificateur opérationnel 13, dont l'autre entrée (entrée inverseuse) est reliée à la masse par l'intermédiaire d'un circuit résistance-capacité : ce circuit comprend une résistance R4, une résistance R5 et un condensateur C2 connectés en série entre la seconde entrée de l'amplificateur 13 et la masse, avec une résistance R6 branchée en parallèle entre cette même entrée et la masse; la résistance R5 a une valeur beaucoup plus faible que les autres résistances. Un interrupteur I2 est connecté entre la sortie du suramplificateur 12 ét le point de liaison des résistances R4 et R5. Enfin, une résistance de contreréaction R7 relie la première entrée de l'amplificateur 13 à sa sortie.L'amplificateur 13 est ainsi monté en différentiateur fournissant un signal de sortie représentatif de la différence des signaux présents sur ses deux entrées. Ce signal de sortie peut ensuite être traité de toute façon appropriée et/ou être affiché. Sur la sortie de l'amplificateur est connecté un interrupteur I3 qui est lui-même relié à un circuit 14 de commande d'une cellule à effet Peltier 15 montée sur la surface de référence 6. D'une façon en soi connu, le cirsuit 14 comprend un échantillonneur-bloqueur 16 dont l'en- trée principale est connectée à l'amplificateur 13 via l'interrupteur I3 et dont l'entrée de commande 17 reçoit un signal de synchronisation ; la sortie de l'échantillon- neur-bloqueur 16 est raccordée à un amplificateur de commande en courant 18 relié ensuite à la cellule à effet Peltier 15. Un thermo-couple 19, disposé sur la surface de référence 6, est associé à une sonde résistive au nickel 20 reliée à un circuit électronique approprié (non représenté), ce qui permet de mesurer la température de la surface de référence 6 avec une grande précision. Le montage qui vient d'être décrit fonctionne de la manière suivante. Au cours de la rotation du disque 1, une impulsion d'initialisation de tour (courbe I sur la figure 3), est engendrée au moment de l'apparition de la zone noire 10 dans l'axe du détecteur 4- (schéma VI sur la figure 3 qui est une représentation développée linéairement de la partie annulaire de filtration 7 du filtre 1). Cette impulsion, qui est synchrone avec les impulsions d'échantillonnage des rayonnements (courbe II), commande la fermeture de l'interrupteur I1 (courbe III) qui court-circuite la ré sistance R : il en résulte donc une remise à zéro de la sortie du premier étage d'amplification en éliminant toute tension résiduelle pouvant subsister de la mesure précédente. Simultanément, la même impulsion commande la fermeture de l'interrupteur I2 (courbe) qui demeure dans cet état pendant toute la durée du défilement de la zone noire 10 du filtre. L'interrupteur I2 court-circuite alors la résistance R4 et, compte tenu du fait que la résistance R5 est beaucoup plus faible (par exemple 100 fois) que la résistance R3, le signal délivré par le détecteur 4 en correspondance avec la zone noire 10 est envoyé vers le circuit R52 et charge le condensateur C2. La transition de la zone noire 10 à la zone réfléchissante 9 en regard du détecteur est ensuite détectée et le signal correspondant commande la réouverture de l'interrupteur 12 (courbe IV). La tension de charge du condensateur C2 est alors portée à l'entrée inverseuse de l'amplificateur 13, tandis que les signaux de sortie du suramplificateur 12 sont transmis à l'entrée non inverseuse du même amplificateur 13. Le signal de sortie de l'amplificateur 13 est alors la différence entre les deux signaux d'entrée. Les valeurs choisies pour la résistance R5 et le condensa teur C sont telles que la constante de temps de décharge du circuit 2 R5C2 est de beaucoup supérieure à la durée d'un tour de rotation du filtre 1 : la tension mémorisée par le circuit R5C2 et présentée sur l'entrée inverseuse de l'amplificateur 13 peut ainsi être considérée comme constante pendant toute la durée de la mesure (un tour de rotation du filtre 1). Pendant tout ou partie de la durée de défilement de la zone réfléchissante 9 (schéma VI), l'interrupteur I3 est maintenu fermé (courbe V) de sorte que le signal de sortie de l'amplificateur 13 (représentant la différence de température entre la surface de référence 6 et la surface arrière du disque 1) est appliqué, via le circuit 13, à la cellule à effet Peltier 15. Celle-ci agit dans le sens approprié sur la température de la surface de référence 6 pour ramener cette température à une valeur égale à la température de la surface arrière du disque 1. On réalise ainsi un véritable asservissement en température de la surface de référence 6 par rapport à celle du disque 1. La surface de référence 6 étant fixe, il est facile de mesurer sa température à l'aide des moyens 19, 20 précités et de connaître, par cette voie, la température du disque 1 (laquelle température est impossible à mesurer par voie directe avec une grande précision du fait qu'il s'agit d'un corps tournant). Ce montage permet de maintenir à moins de 0,02 K l'écart entre les températures de la surface de référence 6 et le disque 1, et la température du disque 1 peut ainsi être connue avec une précision de l'ordre -de 0,1 K. Le disque 1 continuant à tourner, l'interrupteur I3 est à nouveau ouvert avant la fin de la zone réfléchis sante 9. Après la zone réfléchissante 9, ce sont les diffé rentes zones de filtrage 8 qui défilent successivement de vant le détecteur 4. La tension de charge du condensateur C2 (représentative de la température du corps noir) étant toujours présente sur l'entrée inverseuse de l'amplifica- teur 13, le signal de sortie dudit amplificateur représente la différence entre le rayonnement perçu par le détecteur et celui du corps noir placé dans les mêmes conditions de température. Grâce aux dispositions qui viennent d'être expo sées, l'appareil ne traite que le rayonnement utile trans mis par le filtre, à l'exclusion des rayonnements parasites (réfléchi et propre) du filtre, avec en outre un asservissement en température de la surface de référence, une élimination des tensions rémanentes et une méthode de filtrage récursif comme indiqué précédemment relativement au procédé, ce qui conduit à une qu'alité et à une précision de mesure exceptionnelle, très nettement supérieures aux résultats fournis par les appareils antérieurs. Comme il va de soi et comme il résulte d'ailleurs déjà de ce qui précède, l'invention ne se limite nullement à ceux de ses modes d'application et de réalisation qui ont été plus spécialement envisagés ; elle en embrasse, au contraire, toutes les variantes. REVENDICATIONS 1. Procédé d'analyse spectrale d'un rayonnement infrarouge au moyen d'un filtre interférentiel (7) et d'un détecteur (4) situé en aval du filtre, caractérisé en ce que: - on incline le filtre (7) pour que la normale au plan du filtre (7) et l'axe du système optique associé au détecteur (4), forment un angle tel que soit dirigé sur le détecteur (4) un rayonnement (5) issu d'une surface de référence (6) dont on peut déterminer et/ou contrôler la température - on détecte ledit rayonnement issu de cette surface de référence, l'absence de tout autre rayonnement issu du filtre - on détecte un rayonnement composite -constitué par rayonnement utile à mesurer ayant traversé le filtre et le susdit rayonnement issu de la surface de référence et réfléchi par le filtre, - on effectue la différence (en 13) entre les deux valeurs détectées des deux rayonnements - et on en déduit la valeur du seul rayonnement transmis par le filtre. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que la surface de référence (6) est agencée pour rayonner sensiblement comme un corps noir. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'on détecte d'abord le rayonnement issu dlune surface noire (lO){ctest-à-dire entièrement opaque et non réfléchissante) de la face arrière du filtre (7), - on compare la valeur ainsi détectée avec la susdite va leùr détectée du rayonnement issu de la surface de référence, - et on en déduit une valeur de correction de la valeur du rayonnement de la surface de référence. - 4. Procédé selon la revendication 3, caractérisé en ce que, au moyen de la valeur de correction, on asservit (en 14-18)la température de la surface de référence (6) à la température du support du filtre (7) ce grâce à quoi le le signal délivré par le détecteur est proportionnel à la différence mesurée (en 13) entre la valeur du rayonnement incident transmis par le filtre (7) et la valeur du rayonnement issu de la surface de référence (6). 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce qu'on effectue une remise à zéro (en I1) de l'ensemble de la chaîne de mesure immédiatement avant chaque cycle de mesure et en ce qu'on effectue une correction des phénomènes de dérivation, notamment-par un filtrage récursif à deux termes. 6. Appareil pour l'analyse spectrale d'un rayonnement infrarouge, comprenant un filtre interférentiel (7) et un détecteur (4) situé en aval de celui-ci, caractérisé en ce que la normale au plan du filtre interférentiel (7) est inclinée par rapport à l'axe optique du système optique associé au détecteur (4) de manière telle que le rayonnement (5) réfléchi par la face arrière ou aval du filtre (7) en direction du détecteur (4) soit issu d'une surface de référence (6) identifiable, notamment du point de vue de sa température, et en ce qu'il comprend en outre des moyens de traitement de signaux, connectés à la sortie du détecteur, aptes à engendrer un signal représentatif de la différence entre un premier signal correspondant à un rayonnement composite (rayonnement utile ayant traversé le filtre et rayonnement provenant de la surface de référence et réfléchi par la face arrière du filtre) reçu par le détecteur et un second signal correspondant au seul rayonnement réfléchi provenant de la surface de référence, en l'absence de tout rayonnement utile. 7. Appareil selon la revendication 6, caractérisé en ce que la surface de référence (6) est située dans l'appareil lui-même. 8. Appareil selon la revendication 6 ou 7, caractérisé en ce que les moyens de traitement de signaux comprennent - des moyens de mémorisation (R5C2) pour mémoriser au moins un signal de sortie du détecteur, - des moyens différentiateurs (13) dont une première borne d'entrée est reliée à la sortie des moyens de mémorisation et - des moyens de commutation (I2) connectés à la sortie du détecteur et agencés pour raccorder la sortie du détecteur (4) sélectivement à l'entrée des moyens de mémorisation ou à une seconde entrée des moyens différentiateurs- (13). 9. Appareil d'analyse spectrale à filtre interférentiel tournant selon la revendication 8, caractérisé en ce que le filtre (7) présente une zone réfléchissante (9) et en ce que des moyens de synchronisation sont associés aux-moyens de commutation et agencés pour commuter la sortie du détecteur sur l'entrée des moyens de mémorisation lorsque la zone noire (10) est dans l'axe optique du détecteur (4) et pour commuter la sortie du détecteur sur la seconde entrée des moyens différentiateurs (13) lorsque la zone de filtrage (8) du filtre (7) est-dans l'axe optique du détecteur (4). 10. Appareil selon l'une quelconque des revendications 6 à 9, caractérisé en ce que la surface de référence (6) est agencée pour rayonner sensiblement comme un corps noir. 11. Appareil selon l'une quelconque des revendications 6 à 8, caractérisé en ce qu'une zone (10) du filtre (7) est agencée pour rayonner sensiblement comme un corps noir. 12. Appareil selon la revendication 9 ou 10 et la revendication 11, caractérisé en ce que la zone noire (10) du filtre est prévue immédiatement avant la zone réfléchissante (9)(dans le sens de rotation du filtre). 13. Appareil selon la revendication 10 et la revendication 11 ou 12, caractérisé en ce qu'il est prévu des moyens de régulation en température (14-18) agencés pour assujettir la température de la surface de référence (6) à la température de la zone noire (10)dru filtre (7). 14. Appareil selon la revendication 13, caractérisé en ce que les moyens de régulation en température com-. prennent une cellule à effet Peltier (15) connectée à la sortie des moyens différentiateurs (13) afin d'etre commandée par le signal de différence entre les températures de la surface de référence (6) et de la zone noire (10) du filtre (7), et en ce qu'il est prévu des moyens commutateurs (I3) pour isoler les moyens de régulation en température de la sortie des moyens différentiateurs (13) lorsque la zone réfléchissante (9) du filtre n'est plus dans l'axe optique du- détec- teur (4). 15. Appareil selon l'une quelconque des revendications 6 à 14, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens de remise à zéro (I1) connectés à la sortie du détecteur (4) et des moyens de commande de ces moyens de synchronisation agencés pour agir au début de chaque cycle de mesure, notamment juste avant le passage de la zone noire (10) du miroir dans l'axe optique du détecteur.