FR 2526544 A1 19831110 FR 8307578 A 19830506 PROCEDE ET APPAREIL POUR L'INSPECTION DE RECIPIENTS. La présente invention concerne un procédé et un appareil pour l'inspection de récipients, afin de détecter les défauts. L'invention concerne, en particulier, une technique à pente de glissement pour détecter les fissures de récipients. L'expression fissures englobe les défauts, les fentes etc... qui existent souvent dans les récipients tels que les bouteilles en verre. Les fissures ou analogues résultent du refroidissement irrégulier d'une bouteille en verre. I1 peut également s'agir de fissures dues à des contraintes mécaniques ou encore à des manques, c'est-à-dire à l'absence d'un morceau de verre ou à l'écrasement d'un morceau de verre. I1 y a également des gorges dans la surface extérieure ou surface de finition du récipient. De façon caractéristique, la détection des fissures ou assimilés se fait pendant la rotation du récipient. I1 est prévu un système optique formé d'une source lumineuse et d'un photocapteur qui détecte une partie de la surface du récipient. Le niveau du signal de sortie du photodétecteur est proportionnel à la variation de la lumière transmise ou réfléchie par la surface. Une fissure ou défaut envoie un faisceau plus intense ou faisceau de lumière brillante sur le photodétecteur. Cette lumière plus intense est détectée comme étant un point lumineux. Une rainure ou un manque atténue la lumière incidente du photodétecteur. L a lumière atténuée est détectée comme étant un point sombre.Le circuit de traitement de signal est généralement utilisé pour amplifier ou mettre en forme le signal de sortie du photocapteur pour préparer la comparaison avec un niveau de seuil prédéterminé (technique de la "comparaison d'amplitude"). Si l'amplitude du signal traité (ou une amplitude moyenne) dépasse l'amplitude du niveau formant le seuil, on considère que le récipient doit être mis au rebut. Un récipient à mettre au rebut est éjecté de la ligne de production. Lorsqu'on utilise la technique de comparaison d'amplitude pour détecter les défauts, on rencontre de grandes difficultés. Les variations de lumière incidente tombant sur le capteur e-t qui résultent des caractéristiques normales de la surface du récipient tel queleas filets, les bourrelets, les cols, les bagues et les parties en surépaisseur interfèrent et même sontanalogues aux variations provoquées par les défauts tels que les fissures ou les fentes. La distinction entre de telles caractéristiques normales d'une surface et les véritables défauts est difficile. Une solution consiste à masquer le champ. d'observation du photodétecteur. Selon cette technique, le champ d'observation est limité à une partie relativement faible de la surface du récipient-et qui ne comporte pas les filetages, les bourrelets ou autres surfaces engendrent des difficultés. Toutefois, le masquage du photodétecteur complique la mise en oeuvre et est souvent inutilement longue. En outre, comme le masquage du photodétecteur réduit brutalement le champ d'observation du photodétecteur, il est nécessaire de prévoir des photodétecteurs supplémentaires, pour examiner complètement le récipient. La détection de défauts tels que des défauts intérieurs à une bouteille de verre ou des rainures en travers de la surface extérieure sont particulièrement difficiles à détecter. Comme déjà indiqué de tels défauts sont détectés comme étant des points sombres, dans la finition de la bouteille et peuvent ne pas se distinguer de la lumière ambiante. Les brevets U.S. 4 002 823 (VAN OOSTERHOUT) délivré le 11 Janvier 1977 et 4 136 930 (GOMM) délivré le 30 Janvier 1979 décrivent des exemples de systèmes d'inspection optique classique. Le brevet U.S. 4 002 823 décrit un système permettant de détecter les défauts de produits tels que les produits en verre. Une caméra vidéo reçoit une lumière semi-diffusée traversant le produit en verre. Le signal vidéo représente le rapport dans l'espace de la variation des caractéristiques de réfraction du produit en verre. Le signal est filtré et subit une détection maximum pour distinguer entre les repères normaux, les défauts. Une valeur d'amplitude instantanée est prise et est comparée à une valeur moyenne de défilement (technique de la comparaison à une amplitude moyenne).L'installation génère une impulsion de défaut, lorsque l'amplitude instantanée dépasse la moyenne de défilement ou moyenne courante. Le brevet U.S. 4 136 930 décrit un système de détection de particules étrangères dans le liquide contenu dans une bouteille. La bouteille est d'abord examinée par une caméra vidéo qui "enregistre en mémoire ces caractéristiques optiques. Le contenu de la bouteille est alors agité pour déplacer les particules étrangères. Puis la bouteille est examinée par une seconde caméra Le mouvement des particules étrangères modifie les caractéristiques optiques lues par la caméra. Les différentes amplitudes entre les impulsions vidéos adjacentes indiquent la présence d'un corps étranger. D'autres moyens d'examen optique sont décrits aux brevets U.S. 3 886 356, 3 900 265 et 3 997 780. Le brevet U.S. 3 886 356 décrit un dispositif de balayage optique pour identifier les défauts d'un produit transparent mesurant les quantités de lumière transmise par le produit. Un circuit fonctionnant suivant la variation de l'amplitude du signal est utilisé pour détecter la présence des défauts. Le brevet U.S. 3 900 265 décrit un dispositif de balayage à laser pour détecter les défauts. Le dispositif à balayage répond aux variations de l'amplitude de la lumière réfléchie par la surface examinée. Le brevet U.S. 3 997 780 décrit un système d'inspection de l'orientation d'une étiquette. Une caméra vidicon examine un schéma généré par un réseau de cables à fibres optiques mis au point sur la bouteille. Le schéma est comparé à un schéma de référence pour détecter l'alignement correct de l'étiquette. Une surface de récipient est balayée de façon optique pour détecter les défauts donnant des "points clairs" et "points sombres" sans masquage du photodétecteur et permettant une mise en oeuvre rapide. Les défauts sont détectés de façon précise en utilisant une commutation à pente de glissement. La commutation à pente de glissement repose sur l'échantillonage répétitif du signal de sortie du photodétecteur et qui indique les caractéristiques optiques de la surface du récipient. Un nombre prédéterminé d'échantillons du signal est successivement enregistré en mémoire et est mis à jour suivant le principe de la technique premier entré premier sorti. La commutation de pente se fait entre les mises à jour successives des échantillons enregistrés. La différence entre deux échantillons enregistrés, de-préférence l'échantillon le plus ancien et l'échantillon le plus récent, se calcule et cette différence calculée est comparée à un nombre préselectionné. En fonction de la comparaison, un signal est généré pour indiquer si le récipient doit ou non être mis au rebut. On effectue des états de comptage permanents du nombre total de récipients examinés et du nombre total de récipients rejetés. Un défaut tel qu'une fissure donne en général une fluctuation de la lumière incidente au photodétecteur plus rapide que la fluctuation engendrée par des anomalies habituelles de surface, telles que des filets, des bourrelets, des bosses, des bagues de cols et des surcharges. En examinant la pente du signal du photodétecteur plutôt que son amplitude absolue, on détecte de façon précise et fiable, tout en acceptant le récipient avec des anomalies, sans que cela ne soit au détriment de son utilisation.De plus, la détection précise et fiable des défauts est assurée selon la technique de la pente de glissement, même si l'amplitude de la fluctuation de la lumière incidente au photodétecteur résultant de ce défaut peut être la même ou éventuellement inférieure à l'amplitude de la fluctuation de la lumière incidente due à une anomalie sans inconvénient. I1 en résulte que l'on peut détecter optiquement une plus grande surface du récipient sans être obligé de masquer le photodétecteur. La présente invention sera décrite plus en détail à l'aide des dassins annexés, dans lesquels - la figure 1 est un schéma bloc d'un détecteur de défauts selon l'invention utilisant un amplificateur non inversé, pour détecter les défauts donnant des "points clairs" - la figure 2 est un schéma du circuit d'échantillonnage et de maintien - les figures 3A et 3B sont des schémas de signaux représentatifs apparaissant à l'entre et à la sortie du circuit d'échantillonnage et de maintien - la figure 4 est un chronogramme d'un cycle de donnée montrant le fonctionnement synchrone du circuit d'échantillonnage et de maintien, ainsi qu'un convertisseur analogique/numérique - la figure 5 est un chronogramme montrant le ::fonctionnement successif de l'inventionj pour différents intervalles et conditions d'inspection ; - la figure 6 est un schéma de l'amplificateur inverseur à gain élevé qui remplace l'amplificateur non inverseur de la figure I pour permettre la détection de défauts donnant des "ponts sombres" - la figure-7 est un schéma d'un montage d'une source lumineuse d'un photodétecteur pour détecter les défauts de finition intérieure d'un récipient - ia figure 8 est un schémas'un montage de la source lumineuse et d'un photodétecteur pour détecter des défauts de finition extérieure d'un récipient - la figure 9 est un schéma bloc f-oncti,onnel montrant le fonctionnement de microcalculateurs programmés de façon identique pour chacun des différents détecteurs de défauts, fonctionnant par couple avec un ordinateur principal et un moyen d'affichage. DESCRIPTION DETAILLEE DE L'INVENTION En se reportant au, détail des dessins dans lesquels les memes références désignent les mêmes éléments on a représenté en figure 1 un schéma-bloc du détecteur de défauts selon l'invention portant de façon générale la référence 10. Une ou plusieurs sources lumineuses 12 et des photodétecteurs 14 (une paire seulemént- a été représentée dans un but de simplification) sont mis au point sur des endroits choisis suivant la'surface du récipient. Comme cela est connu dans la technique, on peut utiliser un nombre et une répartition différente de sources lumineuses et photodétecteurs. De façon préférentielle on utilise plusieurs détecteurs de défauts par exemple un détecteur par photodétecteur. La source lumineuse 12 est de préférence une source de lumière à tension continue. La lumière est dirigée par la source lumineuse sur le récipient C. La lumière incidente est dirigée par un défaut tel qu'une fissure ou analogue, dans la surface du récipient C par réflection ou transmission sur le photodétecteur 14. Le signal de sortie du photodétecteur 14 est couplé de façon capacitive par l'intermédiaire d'un circuit RC 16, sur l'amplificateur 18. Comme représenté à la figure 1, l'amplificateur 18 est un amplificateur opérationnel non inversé tel qu'un amplificateur TL082 dont le gain est approximativement égal à 60 : 1. L'amplificateur 18 est utilisé pour détecter les "points clairs ou points lumineux" c' est-à-dire une impulsion de lumière augmentée ou une impulsion de lumière brillante provenant d'un défaut du récipient C vers le photodétecteur 14. Pour détecter les'points sombres" c'est-à-dire une diminution relativement brusque de la lumière tombant sur le photodétecteur 14 par un défaut du récipient C, on utilise un amplificateur 18' (figure 6) à la place de l'amplificateur 18. Les deux amplificateurs peuvent être réalisés sur la même plaquette de circuit imprimé et peuvent servir en alternance en utilisant un cavalier ou un moyen de commutation. La détection des "points sombres" et d'autres détails tels que la nature de l'amplificateur 18' sont donnés dans la partie suivante de la description. La sortie (SHin) de l'amplificateur 18 est reliée à un circuit d'échantillonnage et de maintien 20 qui est supervisé par un microcaîculateur programmée 22. Une sortie impulsionnelle représentative de l'amplificateur 18 est représentée à la figure 3A dans le cas d'une forte augrentation de lumière incidente du photodétecteur 14 (point clair). De façon préférentielle, le circuit d'échantillonnage et de maintien 20 est un circuit de détection d'échantillonnage et de maintien de maximum, à amplification comme représenté en détail à la figure 2. Le circuit d'échantillonnage et de maintien 20 comporte un détecteur de maximum 24 pour détecter les flancs montants et les flancs descendants du signal impulsionnel SHin Le détecteur de maximum 24 présente une structure de circuit bien connue qui comporte un amplificateur opérationnel non inversé du type TL082 relié à une diode D1. La sortie du détecteur de maximum est reliée à un commutateur analogique 26 de type AH0142. Le commutateur analogique 26 est représenté à la figure 2 comme étant remis à l'état initial, le commutateur S1 étant enlevé de la borne A et le commutateur 52 étant relié à la borne B. Dans ces conditions, le condensateur d'échantillonnage et de maintien SHC se décharge à la masse. Le signal de détection maximum sur la borne A est échantillonné et est conservé lorsque le commutateur analogique 26 est à l'état autorisé. A l'état autorisé, le commutateur S1 est relié à la borne A et le commutateur S2 est coupé de la bande B. La commande du commutateur analogique 26 entre la position (ETAT) de remise à l'état initial et la position (ETAT) autorisée est maintenue par un signal remis à l'état initial/autorisation (RE) fourni par le microcalculateur 22. Le signal RE transfert à répétition le signal analogique 26 entre la remise à l'état initial et l'état autorisé pour donner des échantillons successifs du signal de détection de maximum sur la borne A pour un convertisseur analogique/numérique. Le condensateur d'échantillonnage et de maintien SHC est relié à un amplificateur à gain unitaire 28 formé d'un amplificateur opérationnel TL082 branché en mode de non-inversion. La sortie représentative de l'amplificateur 28, désignée Vin est représentée à la figure 38. Cette sortie se compose des échantillons successifs du signal de détecteur, après amplification. Le circuit d'échantillonnage et de maintien 20 est relié au convertisseur analogique/numérique 30. Le convertisseur analogique/numérique 30 est un convertisseur analogique/numérique ADC0804. L'entrée du convertis in seur analogique/numérique 30 est la sortie Vin de l'ampli- ficateur à gain unitaire de la figure 38. Des échantillons in successifs su la sortie V de l'amplificateur 28 sont transformés en des mots numériques à 8 bits par le convertisseur analogique/numérique. La sortie de donnée du convertisseur analogique/numérique 20 est couplée par un bus de données à trois états à 8 bits sur le microcalculateur 22. La conversion d'échantillons du signal de photodétecteur par le convertisseur analogique/numérique 30 est réglée par le signal d'autorisation de plaquette (chip)(CE) et le signal de début de conversion (SC) généré par le microcalculateur. La fin de la conversion d'échantillon est indiquée par un signal de fin de conversion (EC) généré par le convertisseur arialogique/numérique. La mise en oeuvre de la conversion analogique/numérique en réponse à ces signaux sera décrite de façon plus détaille ci-après à l'aide des courbes représentées à la figure 4. COMPENSATION DE LA VITESSE De façon préférentielle, le circuit d'échantillonage et de maintien 20 et le convertisseur analogique/ numérique 30 travaillent à une vitesse déterminée par le microcalculateur 22 en fonction de la vitesse à laquelle le récipient passe dans le poste d'inspection. La vitesse de déplacement du récipient à travers le poste d'inspection détermine la durée de l'intervalle d'inspection, c'est-à-dire le temps disponible pour l'inspection ou l'examen des défauts du récipient. Lorsque la vitesse de la machine augmente, le temps disponible pour l'examen du récipient diminue. En conséquence, à moins que l'on augmente la vitesse d'échantillonnage, on aura trop peu d'échantillons pris par le signal du photodétecte-ur et la résolution du système en souffrira. Ainsi malgré la réduction de la durée de l'intervalle d'inspection, il ,est souhaitable d'obtenir au moins un certain nombre mi.nimum d'échantillons pour conserver la résolut.ion du système. La vitesse d'échantillonnage réelle ou, vitesse à laquelle les échantillons sont fournis au microcalculateur, varie ainsi automatiquement pour garantir l'obtention du nombre approprié d'échantillons lorsque la vitesse de la machine varie. EXEMPLE De façon caractéristique, une succession de récipients est transportée à travers le poste d'inspection, en ligne, sur un convoyeur à moteur. Une bande rotative à vitesse réglable (non représentée) qui se trouve. dans le poste d'inspection touche et fait tourner chaque récipient sur son axe longitudinal. Pendant la rotation du récipient, i est possible de l'arrêter provisoirement ou de couper le, convoyeur. ou encore on peut laisser le récipient poursuivre son déplacement à travers le poste. Si le récipient est arrêté pendant qu'il tourne, la source lumineuse 12 et le photodétecteur 14 sont montés de façon fixe par rapport au poste. I1 est préférable que le récipient continue à se déplacer sur le convoyeur à travers le poste d'inspection pendant que le récipient tourne et la source lumineuse i2 et le photodétecteur 14 sont montés sur un chariot qui se déplace en synchronisme avec le convoyeur comme cela est bien connu dans cette technique. Dans chacun des deux cas, il est préférabale de faire tourner quelque peu le récipient sur plus de 3600 au cours d'un intervalle dtinspection pour assurer l'inspection de toute la surface du récipient. I1 est préférable que le récipient tourne de 1 1/4 de tour c'està-dire 4050 pour cela. Lorsque la vitesse de la machine augmente, le récipient tourne plus rapidement pour effectuer la rotation sur 4050 dans le poste d'inspeçtion. Le microcalculateur 22 modifie automatiquement la vitesse de fonctionnement du circuit d'échantillonnage et de maintien 20 et du convertisseur analogique/numérique 30 pour assurer l'obtention du nombre voulu d'échantillons pour toute intervalle d'inspection et quelque soit la vitesse de la machine. A titre d'exemple, on suppose que la vitesse maximale de la machine est de 240 récipients par minute à travers le poste d'inspection. De façon caractéristique à l'intervalle d'inspection est limité à un tiers du temps que prend le récipient pour passer à travers le poste d'inspection. Dans ces conditons, le temps nécessaire au récipient de passer dans le poste d'inspection est de 0,250 secondes. L'intervalle d'inspection le plus court prévisible est pour cette raison d'une durée de 0,,0833 secondes. I1 y a ainsi une vitesse maximum pour laquelle des échantillons peuvent être fournis par des circuits d'échantillonnage et de maintien 20 et par le convertisseur analogique/numérique 30 vers le microcalculateur. Cette vitesse est essentiellement déterminée par le temps nécessaire au convertisseur analogique/numérique pour effectuer la conversion. Le microcalculateur est programmé de façon à faire fonctionner le circuit d'échantillonnage et de maintien 20 en couple avec le convertisseur analo gique/numérique 30 pour que les échantillons soient fournis au microcalculateur à la vitesse maximale lorsque la machine travaille à la vitesse maximale.Pour le conver tisseur analogique/numérique, décrit, la vitesse maximale à laquelle les échantillons peuvent être fournis au microcalculateur est approximativement d'un échantillon pour 200 microsecondes. En conséquence, on obtient 416 échantillons et ceux-ci sont transmis sous forme numérique au microcalculateur pendant l'intervalle de 0,0833 secondes, qui est I'intervalle d'inspection prévu le plus court. Lorsque la vitesse de la machine augmente le microcalculateur 22 fait travailler le circuit d'échan tillonnage et de maintien 20 et le convertisseur analo gique/numérique 30 à des vitesses plus faibles pour assurer qu'environ 416 échantillons soient transférés au microcalculateur 22 pendant une rotation sur 4050 pour le récipient au cours d'un intervalle d'inspection quelconque. Dans toutes les hypothèses précédentes, si la vitesse de la machine diminue jusqu'à un débit de 150 récipients par minute passant à travers le poste d'inspection, l'intervalle d'inspection aura alors une durée sensiblement égale à 0,1333 secondes. Pour assurer l'obtention de 416 échantillons au cours de l'intervalle d'inspection, il faut que le circuit d'échantillonnage et de maintien 20 et le convertisseur analogique/numérique 30 soient commandés par le microcalculateur pour donner un échantillon au convertisseur analogique/numérique des sorties de données pour chaque intervalle de 320 micro secondes. Si la vitesse de la machine continue à diminuer jusqu'à 60 récipients par minute, passant dans le poste d'inspection, la vitesse la plus faible de la machine1 l'intervalle dtinspection augmente pour atteindre environ 0, 333 secondes. En conséquence, pour obtenir 416 échantillons du microcalculateur au cours de l'intervalle d'examen,--le microcalculateur fait fonctionner le circuit d'échantillonnage et de maintien 20 et le convertisseur analogique/numérique 30 à une vitesse d'un échantillon pour 801 microsecondes. Dans tous les exemples ci-dessus, on a 416 échantillons fournis au microcalculateur pour une .rotation d'environ 4050 du récipient. En d'autres termes, le convertisseur analogique/numérique reçoit un échantillon au moins pour chaque degré de rotation du récipient. Cela assure une information initiale pour le calculateur quelle que soit la vitesse des machines. CHANGEMENT DE LA VITESSE D'ECHANTILLONNAGE Le changement de la vitesse de fonctionnement bu convertisseur analgoque/numérique 30 sous le contrôle du microcalculateur programmé 22 ressort le mieux des chronogrammes de la figure 4. Selon la figure 4, le temps nécessaire au microcalculateur pour effectuer un calcul de pente (opération décrite de façon plus détaillée ci-après) et pour obtenir et transmettre un nouvel échantillon au microcalculateur pour préparer le calcul de pente suivant est appelé "cycle de donnée". I1 y a environ 416 de tels cycles de données pour les échantillons indiqués ci-dessus, un par échantillon. Au cours de chaque cycle de donnée, le convertisseur analogique/numérique transforme l'échantillon analogique fourni par le circuit d'échantillonnage de maintien 20 pour le mettre sous forme numérique.Le temps nécessaire au convertisseur analogique/numérique pour convertir un échantillon et le mettre sous forme numérique dans le cycle de donnée est fixe et est désigné par temps de conversion à la figure 4 Le circuit d'échan tillonnage et de maintien 20 est remis à l'état initial par le signal RE entre deux cycles successifs de données; Le signal d'autorisation de plaquette (CE) interdit le convertisseur analogiqueÎnumérique pendant un calcul de pente par le microcalculateur. Tel que le calcul de pente est exécuté, le flanc avant LCE de l'impulsion CE (flanc descendant) autorise le convertisseur analogique/numérique et l'impulsion de début de conversion (SC) (à flanc descendant) débute une conversion du dernier échantillon sous forme numérique un certain temps après cela. La conversion de l'échantillon sous forme numérique se produit au cours d'une impulsion de fin de conversion (EC) (flanc positif). Le flanc arrière TEC de l'impulsion EC indique la fin de la conversion. Le microcalculateur détecte le flanc arrière de l'impulsion EC et d'un signal d'autorisation de sortie (OE) (impulsion négative), un temps déterminé, postérieurement. Le signal OE conditionne les sorties du convertisseur pour transmettre le dernier échantillon numérique au microcalculateur par l'intermédiaire du bus de données à trois étapes. Le microcalculateur utilise le dernier échantillon numérique pour effectuer un calcul de pente au cours du cycle de données qui suit immédiatement. En modifiant le temps auquel se produit le flanc avant du signal CE, lorsque la vitesse de la machine varie, le microcalculateur change la vitesse d'échantillonnage réelle et garantit que le nombre souhaité d'échantillons soit obtenu pour n'importe quelle durée de l'intervalle d'inspection. DETECTION DES VARIATIONS DE LA VITESSE DE FONCTIONNEMENT DE LA MACHINE Le microcalculateur conserve un état de comptage des impulsions de temps au ,cours de chaque intervalle d'inspection. Le début et la fin d'un intervalle d'inspection est signalé par un commutateur 46 activé par une came (figure 9). Le fonctionnement du commutateur 46 est bien connu dans la technique. Le commutateur 46 travaille en synchronisme avec le moyen d'entraînement du convoyeur (non représenté) et génère une impulsion (négative) l'activation de la machine (MA) comme représentée à la figure 5 au cours d'un cycle de machine. La durée de l'impulsion MA représente essentiellement la durée de l'intervalle d'inspection. Ainsi toute augmentation de la vitesse de la machine c'est-à-dire de la vitesse à laquelle les récipients sont transférés à travers le poste d'inspection se traduit par une mise en oeuvre plus rapide--du commutateur 46 et une impulsion MA plus courte. Pour une vitesse de machine correspondant à 240 récipients par minute, l'impulsion MA présente une durée approximativement égale à 0,0833 secondes comme déjà indiqué. Comme cela est expliqué de façon plus détaillée ci-après en liaison avec la figure 5, l'impulsion MA est détectée par l'ordinateur principal 44. Dès qu'une impulsion MA est détectée, l'ordinateur principal génère une impulsion d'interrogation de canal (CI) c'est-à-dire une impulsion positive. L'impulsion CI initiale vise un cycle de donnée. L'impulsion CI est générée un court instant (fixe) après le flanc avant de l'impulsion MA pour un essai de diagnostic. Les flancs arrière des impulsions MA et CI coincident. Au cours de l'impulsion CI, le microcalculateur compte les impulsions de haute fré-quence générées par exemple toutes les 70 microsecondes par un oscillateur interne microcalculateur (oscillateur non représenté). L'état de comptage des impulsions de l'oscillateur interne à la fin de l'impulsion CI correspond ainsi à la vitesse de la machine. A la fin de l'impulsion CI , l'état de comptage est enregistré pour servir pendant l'intervalle d'inspection suivante. Tout changement de la vitesse de fonctionnement de la machine se traduit par une variation de l'état de comptage de l'oscillateur interne à la fin de l'impulsion CI. En fonction de cette variation, le microcalculateur modifie automatiquement l'instant auquel se produit le flanc avant LCE de l'impulsion CE. Lorsque la vitesse de la machine augmente, le flanc avant du signal CE se produit plus tôt ce qui augmente ainsi la fréquence du cycle de donnée. Lorsque la vitesse de la machine diminue le flanc avant du signal CE se produit plus tard ce qui réduit la fréquence du cycle des données. Jusqu'à l'arrivée du flanc avant de l'impulsion CE, le convertisseur analogique/numérique reste interdit, l'impulsion de début de conversion SC ne peut être généré et aucun échantillon supplémentaire ne peut être transformé et transmis au microcalculateur. De cette façon, la vitesse d'échantillonnage efficace c'est-à-dire la vitesse à laquelle les échantillons du photodétecteur sont fournis au microcalculateur change ainsi en fonction de la vitesse de la machine. CALCUL DE LA PENTE La figure 9 montré un schéma-bloc fonctionnel des opérations exécutées par le microcalculateur 22. Les échantillons numériques sont transmis au cours des cycles de données successifs par le convertisseur analogique/numérique 30 au microcalculateur qui les enregistre provisoirement dans la mémoire 32. De façon préférentielle, la mémoire 32 enregistre quatre échantillons successifs transmis par le convertisseur analogique/numérique. Les échantillons sont désignés par les références S1-54 à la figure 9. Chaque échantillon est un mot à 8 bits transmis par le bus de données reliant le convertisseur analogique/numorique et le microcalculateur.Lorsqu'un nouvel échantillon est enre gistré dans la mémoire 32, l'échantillon le plus ancien S1 qui est enregistré, est transféré hors de la mémoire à une unité logique de différence 34. Chaque échantillon est alors enregistré dans une mémoire de quatre cycles de données servant à calculer la pente pour deux cycles de données, puis est éliminé. I1 est à remarquer que le schéma d'enregistrement et de récupération dont le principe est représenté à la figure 7 correspond au schéma bien connu d'un circuit "premièr entré - premier sorti " (encore appelé circuit FIFO). De façon préférentielle, le microcalculateur 22 est programmé pour enregistrer et récupérer les échantillons de conversion analogique/numérique selon le principe de fonctionnement FIFO en utilisant un pointeur de mémoire.Ainsi les échantillons ne sont pas réellement décalés à travers le circuit pour obtenir le schéma d'enregistrement et de récupération souhaité. L'unité logique de différence 34 utilise des opérations logiques arithmétiques bien connues pour donner la différence entre l'échantillon le plus ancien S1 et l'échantillon le plus récent S4 enregistrés dans la mémoire 32 au cours de n'importe quel cycle de données. La différence ainsi calculée représente la pente du signal de sortie du photodétecteur ; ce signal est comparé par la logique de comparaison 36 à un niveau de seuil de pente sous la forme d'un nombre présélectionné enregistré dans une table de mémoire 38. La table de mémoire 38 peut par exemple contenir 15 tels nombres représentatifs de 15 seuils différents de pente. Le microcalculateur 22 est programmé pour choisir un nombre particulier dans le tableau de la mémoire 38 pour la comparaison avec la pente calculée en fonction du réglage fait sur un commutateur à bouton moleté de sensibilité 40. En fait, le réglage du commu tateur à bouton moleté 40 sert d'adresse pour la table de mémoire 38. Chacun des nombres enregistrés dans la table de mémoire 38 est obtenu de façon empirique selon un échantillonnage aléatoire de récipients ayant un assortiment caractéristique de défauts. Les nombres peuvent être modifiés d'une utilisation à l'autre, en fonction du type de récipient inspecté et du type de défauts examinés. Les calculs précédents sont répétés au cours des cycles de données successifs pour donner un calcul de pente "glissant" c'est-à-dire des calcules successifs de pente correspondant à l'ensemble de l'intervalle d'inspection. Dans le présent exemple, tout intervalle d'inspection comporte approximativement 416'cycles de données. Si au cours de n'importe quel cycle de donnée, la différence calculée par l'unité logique de différence 34 dépasse le nombre présélectionné obtenu à partir de la table 38, l'unité logique de comparaison 36 génère un signal de sortie de rejet (RO) qui indique que le récipient doit être mis au rebut (figures 5 et 9). SIGNAL DE SORTIE DE REJET (RO) Le signal RO peut s'utiliser pour activer un mécanisme de rejet 42, tel qu'un éjecteur pour éjecter le récipient destiné à être évacué du convoyeur. A cet effet, le signal RO est transmis à l'ordinateur principal 44. L'ordinateur principal déclenche le mécanisme de rejet 42 à la réception du signal RO. Le signal RO est également utilisé pour agrémenter un compteur interne dans 1 'ordinateur principal 44 pour conserver l'état de comptage du nombre de récipients qui ont été mis au rebut. L'ordinateur principal conserve également un état de comptage du nombre total de conteneurs examinés dans le poste d'inspection. A cet effet, un commutateur de contact 47 est prévu dans le poste d'inspection pour détecter la présence d'un conteneur principal au cours d'un intervalle d'inspection, c'est-àdire au cours d'une impulsion MA. L'ordinateur principal 44 détecte les commutateurs 46 et 47 pour déterminer s'il y a lieu d'initialiser un cycle de données comme décrit de façon plus détaillée ci-après. Si le commutateur 47 indique la présence d'un récipient, l'ordinateur principal transmet une impulsion d'interrogation de canal CI au microordinateur et incrémente un compteur interne indiquant le nombre de récipients qui ont pénétré dans le poste d'inspection. L'ordinateur principal 44 est associé à un dispositif d'affichage numérique 48 classique. L'état de comptage du nombre total de récipients inspectés et l'état de comptage du nombre de récipients rejetés par le détecteur de défauts 22 sont affichés sur le dispositif d'affichage 48 sous la commande de l'ordinateur principal. Dans un but de simplification, l'invention décrite ci-dessus l'a été pour un seul détecteur de défauts 22. Toutefois, 1' ordinateur principal 44 permet de traiter l'information provenant jusqu'à 12 détecteurs de défauts, chaque détecteur correspondant à un photodétecteur 12 mis au point sur une zone d'une surface de conteneur particulier. L'information de chaque détecteur tel que le nombre total de récipients inspectés, le nombre de conteneurs rejetés est utilisée par l'ordinsteurprincipal 44 pour commander l'affichage 48. Ainsi, l'ordinateur principal 44 fait la somme du nombre de récipients examinés par chaque détecteur de défauts pour donner le nombre total de tous les récipients inspectés. L'ordinateur 44 fait également la somme du nombre de récipients rejetés par chaque détecteur pour donner le total de tous les récipients mis au rebus. Ces totaux sont affichés par le dispositif d'affichage 48 en même temps que le nombre de récipients rejetés par chaque détecteur de défauts. AFFICHAGE DE LA MISE AU REBUT Un dispositif d'affichage de mise au rebut LED 54 et un dispositif de signalisation LED 56 sont prévus pour chaque détecteur de défauts (figure 1). Le dispositif de rejet LED donne un signal soutenu pendant tout l'intervalle d'inspection indiquant que le récipient doit être mis au rebut. Le dispositif LED de signal donne un signal de type impulsionnel dont la durée correspond à la durée de la fluctuation à la sortie du photodétecteur, engendré gar un défaut. Le fonctionnement des dispositifs LED sa, 56 d'un détecteur de défauts pour des intervalles d'inspec tion successifs et les conditions correspondantes sont représentées à la figure 5. Dans le premier intervalle d'inspection, le récipient présente deux défauts. Pendant un cycle de machine, le commutateur 46 activé par la came et le commutateur de contact 47 sont détectés par ltordinateurprincipal 44. Le commutateur 46 génère une impulsion MA négative indiquant l'intervalle d'inspection, Le commutateur 47 génère une impulsion négative appelée NB, seulement si aucun récipient ne se trouve dans le poste d'inspection. Le signal CI est généré par l'ordinateur principal, un temps court (fixe) après le début du signal MA pour donner au calculateur principal l'occasion d'examiner la ligne de signal RO au cours d'un essai de diagnostic qui sera décrit ci-après. L'impulsion CI est reçue simultanément par tous les détecteurs de défauts. Si le signal NB indique la présence d'un récipient, l'ordinateur principal 44 envoie l'impulsion CI au microordinateur 22. Cet envoi initialise les cycles de donnée précédemment décrits en relation avec la figure 4. Dans l'exemple représenté à la figure 5, l'entrée SHIN du circuit d'échantillonnage et de maintien 20 d'un détecteur de défauts fluctue en fonction des défauts du récipient donnant des signaux à deux impulsions pendant la première impulsion CI. On suppose que les flancs montant et descendant de chaque impulsion SHIN donnent des valeurs de pente successives qui dépassent le seuil sélectionné. I1 en résulte que le microordinateur 22 commande l'allumage du dispositif de signal LED 56 par l'intermédiaire du transistor Q1, et ce dispositif LED reste éclairé aussi longtemps que la pente calculée dépasse le seuil choisi. Lorsque la pente calculée chute en dessous du seuil, le micro ordinateur bloque le transistor Q1, éteignant le dispositif de signal LED. Lorsque d'abord un rejet est détecté comme l'indique l'éclairage du dispositif de signal LED, le dispositif de rejet LED est également éclairé par le microordinateur par l'intermédiaire du transistor Q2. Le dispositif de rejet LED est mainténu allumé bien que le dispositif de signal LED soit éventuellement coupé jusqu'à la réception de l'impulsion CI suivante fournie par l'ordinateur principal. Ainsi, le signal de sortie de rejet RO doit être généré pour éjecter le conteneur avant que le dispositif de rejet LED ne soit éteint. A la fin d'une impulsion CI, le microordinateur envoie le signal R0à l'ordinateur principal 44 comme représenté à la figure 5, l'impulsion CI est arrêtée pâr l'ordinateur principal à la fin du signal MA. La durée de l'impulsion CI varie ainsi directement avec la durée de l'impulsion MA et avec la vitesse de la machine. L'expression LED utilisée ci-dessus et dans la suite désigne de façon habituelle une diode photoémissive. ABSENCE DE RECIPIENT DANS LE POSTE D'INSPECTION Si le commutateur 47 indique qu'il n'y a pas de récipient, le poste d'inspection court de l'intervalle d'inspection suivant, par une impulsion NB négative comme représenté à la figure 5, l'ordinateur principal 44 ne fournit pas d'impulsion CI. En particulier, l'ordinateur principal balaie les lignes des signaux MA et NB (figure 9). Si le flanc avant LNB de l'impulsion NB précède le flanc avant LMA de l'impulsion MA, l'ordinateur principal ne génère pas l'impulsion CI. (figure 5). En conséquence, aucun microordinateur 22 n'exécute de cycle de donnée et aucun échantillon n'est reçu d'aucun convertisseur numérique/analogique et aucun calcul de pente n'est effectué par aucun détecteur. ESSAI DE DIAGNOSTIC Selon les figures 5 et 9, I'ordinateur principal 44 génère une impulsion CI pour tous les microordinateurs de détecteur de défauts, un court intervalle déterminé, à la suite du flanc avant LMA de l'impulsion MA. Au cours de cet intervalle, appelé ci-après intervalle de diagnostic, l'ordinateur principal balaie les lignes de sortie RO de tous les microordinateurs. Normalement, une ligne RO est au niveau bas pendant une impulsion MA. Si une ligne RO n'est pas au niveau bas pendant l'intervalle de diagnostic, cela indique un mauvais fonctionnement ou une défaillance du détecteur de défaut. L'ordinateur 44 constate cette situation pour n'importe quel détecteur de défaut en enregistrant en mémoire le résultat du balayage. L'ordinateur principal génère alors l'impulsion CI pour initialiser un cycle de donnée pour chaque détecteur de défaut. Chaque microordinateur de défaut est programmé pour générer une courte impulsion de diagnostic (DIAG) lors de la détection du flanc avant LCI de l'impulsion CI. L'ordinateur principal balaie de nouveau les lignes de sortie RO des micro ordinateurs. Si aucune impulsion DIAG n'apparaît sur aucune ligne RO, cela traduit un mauvais fonctionnement du microordinateur. L'ordinateur principal constate cette situation pour chaque microordinateur en enregistrant enfmémoire le résultat du balayage. A la suite de l'impulsion DIAG, chaque microordinateur est libre d'exécuter un cycle de donnée comme décrit précédemment. Toutefois, ltordinateur principal ignore tout signal apparaissant dans la ligne RO d'un détecteur de défaut qui donne un niveau "haut" au cours de l'intervalle de diagnostic précédant le flanc avantLCI d'impulsion CI ou qui ne donne pas d'impulsion DIAG. De plus, l'ordinateur principal commande le dispositif d'affichage 48 pour afficher un message d'avertissement tel qu'un message de secours en même temps qu'un nombre ou autre repère identifiant le détecteur défaillant. L'ordinateur principal 44 commande ainsi le dispositif d'affichage 48 pour afficher un nombre indiquant la vitesse de la machine, c'est-à-dire le nombre de récipients examinés par minute. Pour cela, une horloge externe 58 (figure 9) est reliée à l'ordinateur principal 44.-Lorsque le décomptage de temps est terminé par l'horloge, l'ordinateur principal calcule la vitesse de la machine en divisant l'état de comptage du nombre total de récipients examinés par la durée de l'intervalle d'horloge ; il multiplie le résultat par un coefficient d'échelle approprié et transmet le produit sous forme numérique au dispositif d'affichage 48.Par exemple, en utilisant une horloge à 30 secondes, l'ordinateur principal utilise l'état de comptage correspondant à un nombre total de récipients inspectés par 30 (intervalle d'horloge) et double le résultat pour donner un chiffre correspondant à la vitesse de la machine en récipients par minute On peut certes utiliser des intervalles de temps différents de 30 secondes à d'autres coefficients d'échelle pour faire le calcul de la vitesse de la machine en unité égale à des récipients par minute. DETECTION D'UN POINT NOIR Certains défauts de la surface du récipient tels que des plaquettes le long de la finition intérieure du récipient et d'une ligne coupant la finition de surface du récipient apparaissent comme des points sombres pour le photodétecteur. Ces défauts posent des problèmes importants à la détection parce que la réduction de la lumière incidente au photodétecteur résultant du défaut est très faible par comparaison à la lumière ambiante. La détection des défauts donnant des points clairs c'est-à-dire des défauts augmentant la lumière tombant sur le photodétecteur ne crée pas de telles difficultés car l'augmentation de la quantité de lumière tombant sur le photodétecteur est généralement relativement importante par comparaison avec la lumière ambiante. Pour effectuer une détection de point sombre, l'amplificateur non inversé 18 (figure 1) est remplacé' par l'amplificateur inverseur 18' ayant un gain relativement élevé (figure 6). L'amplificateur 18' peut avoir un gain égal par exemple à 2,5 (ou plus) de fois celui de l'amplificateur 18. Comme représenté àîa figure 1, l'amplificateur non-iversé 18 est utilisé pour détecter les points clairs à un gain égal à 60 R/R = 60. Le gain de l'amplificateur inverseur 18' selon la figure 5 est égal à 150 R'/R' = 150, c'est-àdire à 2,5 fois le gain de l'amplificateur 18. Un point sombre se traduit par un signal de type impulsionnel négatif relativement faible à la sortie du circuit RC 16. L'amplificateur inverseur 18' inverse le signal et l'amplifie. La sortie de l'amplificateur 18' est alors transmise au circuit d'échantillonnage et de maintien 20 et est traitée comme décrit précédemment. Un montage préférentiel de la source lumineuse 12 et du photodétecteur 14 pour détecter une plaquette sur la finition intérieure d'un récipient est représentée à la figure 7. La plaquette 50 tend à réfléchir la lumière vers l'arrière vers la source lumineuse 12 et réduit la quantité de lumière tombant sur le photodétecteur 14. Cela se traduit par la détection d'un point sombre comme déjà indiqué. De façon préférentielle la source lumineuse 12 et le photodétecteur 14 sont placés de fanon à être en ligne c'est -à- dire que les chemins lumineux P1 et P2 de la source 12 vers le récipient et du récipient vers le photodétecteur 14 se trouve pratiquement dans un plan vertical coupant le récipient C. Un montage préférentiel pour détecter une ligne estreprésenté à la figure 8. Cette ligne 52réduit la lumière incidente tombant sur le photodétecteur 14 et se détecte comme un point sombre comme cela a été indiqué. La source lumineuse 12 et le photodétecteur 14 sont dirigés vers la surface de finition supérieure du récipient C de façon que les chemins optiques P1 et P2 fassent des angles relativement aigus Z1 et Z2 par rapport au plan de la surface de finition en surface (indiqué par les lignes en pointillés). REVENDICATIONS 1 ) Procédé pour inspecter un ou plusieurs récipients, procédé utilisant un balayage optique d au moins une partie de la surface du récipient, au cours d'un intervalle d'inspection, en générant un signal dont la valeur dépend des caractéristiques optiques de la partie de la surface de récipient balayée, caractérisé en ce qu'on calcule la vitesse de variation de la valeur du signai, on compare la vitesse calculée de variation à un nombre présélectionné et on génère un signal indiquant si le récipient doit être mis au rebus, en fonction de la comparaison entre la vitesse calculée de changement et le nombre présélectionné. 20) Procédé d'inspection d'un ou plusieurs récipients, selon la revendication 1, caractérisé en outre en ce que l'opération de calcul de la vitesse de changement du signal consiste à échantillonner de façon répétée le signal au cours de l'intervalle d'inspection, à enregistrer et à mettre à jour un nombre prédéterminé d'échantillons du signal au cours de l'intervalle d'inspection et à calculer la différence entre les valeurs d'un premier échantillon enregistré et d'un second échantillon enregistré, et l'étape de comparaison de la vitesse calculée de changement, consiste à comparer la différence par rapport à un nombre présélectionné. 30) Procédé d'inspection d'un ou plusieurs récipients, selon la revendicatin 1, caractérisé en outre en ce que l'opération de calcul de la vitesse de changement du signal consiste à échantilloner de façon répétée le signal au cours de l'intervalle d'inspection, suivant une vitesse qui dépend de la durée de l'intervalle d'inspection, de façon que le nombre d'échantillons obtenu au cours de n'importe quelle inspection soit essentiellement constant, à enregistrer un nombre prédéterminé d'échantillons et à mettre à jour de façon répétée les échantillons enregistrés en éliminant l'échantillon le plus ancien enregistré et en enregistrant l'échantillon le plus récent et à calculer la différence entre l'échantillon le plus ancien enregistré et l'échantillon le plus récent enregistré, et en ce que l'étape de comparaison de la vitesse calculée de changement par rapport à un nombre présélectionné consite à comparer la différence calculée à un nombrre préselectionné. 40) Procédé selon la revendication 1, caractérisé en outre en ce qu'don calcule de façon répétée la vitesse de changement et on compare la vitesse de changement, telle que calculée à un nombre préselectionné suivant une fréquence reposant sur la durée de l'intep- valle de l'inspection. 50) Procédé selon l'une quelconque des revendications 1, 2 ou 3, caractérisé en outre en ce qu'on éjecte le récipient en fonction de la comparaison. 60) Procédé selon l'une quelconque des revendications 1, 2 ou 3, caractérisé en ce qu'on génère un signal indicateur de la présence d'un récipient pendant l'intervalle d'inspection et on conserve un état de comptage du nombre de récipients inspectés en fonction du signal indicateur de la présence du récipient. 70) Procédé selon l'une quelconque des revendications 1, 2 ou 3, caractérisé en ce qu'on conserve un état de comptage du nombre de récipients qur doivent etre mis au rebus en fonction du signal de rejet. 80) Procédé selon l'une quelconque des' revendications 1 et ou 3, caractérisé en ce qu'on dirige la lumière d'une source sur un premier endroit par rapport au récipient, vers la surface de finition intérieure du récipient et on détecte la lumière transmise à travers le récipient en un second endroit par rapport au récipient, le chemin de la lumière transmise à travers le récipient de la première position à la seconde position se trouvant pratiquement dans un plan vertical. 90) Procédé selon l'une quelconque des revendications 1, 2 ou 3, caractérisé en outre en ce qu'on dirige le faisceau lumineux d'une source en un premier endroit par rapport au récipient, vers la surface de finition supérieure du récipient et on détecte la lumière réfléchie par la surface de finition supérieure du récipient en un second endroit par rapport au récipient, le chemin de la lumière réfléchie par le récipient au niveau du premier endroit vers le second endroit se trouvant pratiquement dans un plan vertical. 100) Procédé selon la revendication 9, caractérisé en outre par le chemin de la lumière entre la première position et la surface de finition supérieure du récipient et le chemin de la lumière entre la surface de finition supérieure du récipient et de la seconde position, coupe le plan de la surface de finition supérieure du récipient suivant des angles relativement aigus. 110) Procédé selon la revendication 3, caractérisé en outre en ce qu'on détermine la durée d'un intervalle d'inspection précédent et on modifie automatiquement la fréquence de répétition de l'échantillonnage en fonction du signal correspondant à la durée de l'intervalle d'inspection précédent. 120) Appareil pour inspecter un ou plusieurs récipients, appareil comportant un moyen pour diriger de la lumière vers au moins une partie de la surface d'un récipient au cours d'un intervalle d'inspec tion, un moyen pour détecter la lumière réfléchie par ou transmis par le récipient et pour générer un signal dont la valeur dépend de la lumière détectée, appareil caractérisé par un moyen pour calculer la vitesse de changement de la valeur du signal, un moyen pour comparer la vitesse de changement telle que calculée à un nombre présélectionné, un moyen pour générer un signal de rejet indiquant si un récipient doit être rejeté en fonction de la comparaison de la vitesse de changement telle que calculée, du nombre présélectionné. 130) Appareil pour inspecter un ou plusieurs récipients selon la revendication 12, caractérisé en outre en ce que le moyen pour calculer la vitesse de changement de la valeur du signal comprend un moyen pour échantillonner de façon répétée le signal au cours d'un.intervalle d'inspection, un moyen pour enregistrer et mettre à jour un nombre prédéterminé d'échantillons du signal au cours de l'intervalle d'inspection et un moyen pour calculer la différence entre, les valeurs d'un premier échantillon enregistré et d'un second échantillon enregistré, et en ce que le moyen de comparaison de la vitesse de changement telle que calculée et d'un nombre présélectionné, se compose d'un moyen pour comparer la différence calculée à un nombre préselectionné. 14 ) Appareil pour inspecter un ou plusieurs récipients selon la revendication 12, caractérisé en outre en ce que le moyen pour calculer la vitesse de changement de la valeur du signal comprend un moyen pour échantillonner de façon répétée le signal au cours d'un intervalle d'inspection à une vitesse qui dépend de la durée de l'intervalle d'inspection de façon que le nombre d'échantillons obtenus au cours d'un intervalle d'inspection soit essentiellement constant, un moyen pour enregistrer un nombre prédéterminé d'échantillons et pour mettre à jour les échantillons enregistrés en supprimant l'échantillon le plus ancien, enregistré, et en enregistrant l'échantillon le plus récent, et un moyen pour calculer la différence entre l'échantillon le plus ancien enregistré et l'échantillon le plus récent enregistré, et en ce que le moyen de comparaison de la vitesse de changement, calculé et d'un nombre présélectionné comprend un moyen pour comparer la différence calculée à un nombre présélectionné. 150) Appareil selon l'une quelconque des revendications 12, 13 ou 14, caractérisé en outre par un moyen pour éjecter un récipient en fonction du moyen pour générer le signal de rejet suivant la comparaison de la vitesse de changement telle que calculée du nombre présélectionné. 16 ) Appareil selon la revendication 14, caractérisé en outre par un moyen pour déterminer automatiquement la durée d'un intervalle d'inspection précédent et un moyen pour modifier automatiquement la vitesse d'échantillonnage répétitive du signal en fonction de la durée de l'intervalle d'inspection précédent. 170) Appareil selon l'une quelconque des revendications 12, 13 ou 14, caractérisé en outre par un moyen pour détecter la présence d'un récipient au cours d'un intervalle d'inspection et un moyen pour conserver un état de comptage du nombre de récipients détectés. 180) Appareil selon l'une quelconque des revendications 12, 13 ou 14, caractérisé en outre par un moyen pour conserver un état de comptage d'un nombre de récipients qui doit être rejeté suivant le signal de rejet. 190) Appareil selon l'une quelconque des revendications 12, 13 ou 14, caractérisé en outre en ce que le moyen pour diriger la lumière comprend un moyen pour diriger la lumière d'une première position par rapport au récipient vers la surface de finition intérieure du récipient et le moyen pour détecter la lumière comprend un moyen pour détecter la lumière transmise par le récipient en une seconde position par rapport au récipient, le chemin de la lumière transmise de la première position vers le récipient, vers la seconde position se trouvant essentiellement dans un plan vertical. 200) Appareil selon l'une quelconque des revendications 12, 13 ou 14, caractérisé en ce que le moyen pour diriger la lumière comprend un moyen pour diriger la lumière d'une première position par rapport au récipient vers la surface de finition supérieure du récipient et le moyen pour détecter la lumière comprend-un moyen pour détecter la lumière réfléchie par la surface de finition supérieure du récipient en une seconde position par rapport au récipient, le chemin de la lumière réfléchie par le récipient de la première position vers la seconde position se trouvant essentiellement dans un plan vertical. 210) Appareil selon la revendication 20, caractérisé en outre en ce que le chemin de la lumière entre la première position et la surface de position supérieure du récipient et le chemin de la lumière entre la surface de finition supérieure du récipient et la seconde position coupe le plan de la surface de finition supérieure du récipient suivant des angles relativement aigus. 220) Appareil selon les revendications 13 ou 14, caractérisé en ce que le moyen d'échantillonnage à répétition du signal comprend un circuit d'échantillonnage et de maintien, un convertisseur analogique/ numérique relié au circuit d'échantillonnage et de maintien et un moyen pour modifier automatiquement la vitesse de fonctionnement du circuit d'échantillonnage et de maintien du convertisseur analogique/numérique suivant la durée de l'intervalle d'inspection. 230) Procédé selon la revendication 5, caractérisé en ce qu'on génère un signal de diagnostic, on détecte la présence ou l'absence du signal de diagnostic et on interdit l'opération déjection du récipient si l'on détecte l'absence de-signal de diagnostic. 240) Appareil selon la revendication 15-, caractérisé par un moyen pour générer un signal de diagnostic, un moyen pour détecter la présence de l'absence du signal de diagnostic et un moyen pour interdire l'éjection du récipient si l'on détecte l'absence du signal de diagnostic.