FR 2522135 A1 19830826 FR 8202840 A 19820222 La présente invention se rapporte, d'une manière générale, à des perfectionnements apportés aux jauges permettant de mesurer l'épaisseur d'objets ou de produits, au moyen de radiations, sans contact physique direct avec ces objets ou produits, jauge qui sera qualifiée ci-après jauge d'épaisseur "indirecte", la mesure consistant à détecter la quantité ou l'intensité des radiations transmises par la matière constituant l'objet ou le produit. Une telle jauge est décrite, par exemple, dans le brevet américain nO 3 955 086 de Tsujii et al. au nom de la présente Demanderesse. Des jauges d'épaisseur de ce genre ont déjà été utilisées dans divers domaines. Elles permettent de mesurer en continu l'épaisseur de feuilles de diverses matières sans contact physique avec celles-ci. La réponse de ces jauges a radiations telles que les jauges à rayons X, est rapide et peut être utilisée pendant le travail des trains de laminoir où un réglage automatique rapide est nécessaire pour obtenir des tôles ou des feuilles ayant une épaisseur régulière. Les jauges d'épaisseur "indirecte" de la technique antérieure utilisent normalement des étalons mobiles ayant des épaisseurs prédéterminées pour l'étalonnage du système. Généralement, on sélectionne un ou plusieurs étalons ayant une épaisseur précise connue et on les interpose sur le trajet du faisceau, puis on ramène à zéro l'indicateur d'un appareil de mesure analogique relié à la sortie du détecteur pour lte- paisseur nominale particulière de l'étalon. Ainsi, les écarts par rapport à l'épaisseur nominale de la matière en train d'être mesurée apparaissent comme des écarts ou des déviations de l'appareil de mesure D'autres systemes de la technique antérieure utilisent des étalons complémentaires, la plage de mesures tout entière étant subdivisée en un certain nombre de gammes ou échelons. L'étalonnage de chaque gamme s'effectue normalement en se référant à un seul étalon ayant une épaisseur maximale. Cet étalon unique est qualifié de étalon de base".Lorsque la jauge a été étalonnée avec l'étalon de base interposé sur le trajet du faisceau, il est possible, en enlevant cet étalon de base de mesurer des épaisseurs plus minces qui tombent dans les gammes inférieures d'épaisseur. On intercale ensuite sur le trajet du faisceau certains étalons qui complètent l'épaisseur désirée de la bande, de sorte que l'epaisseur totale est équivalente a celle de l'étalon de base. Quand l'épaisseur est correcte, l'indication de l'appareil de mesure est zéro. Des systemes d'étalonnage a deux points ont également été utilisés. Dans ces système, on interpose successivement sur le trajet du faisceau de radiations deux séries d'étalons pendant l'opération d'étalonnage. La première serie d'étalonnage est choisie de façon a correspondre à l'épaisseur apparente de la matière, laquelle est calculée à partir de l'épaisseur nominale de celle-ci et en utilisant un coefficient de compensation tenant compte de la composition ou de l'alliage constituant la matière. L'épaisseur apparente de la seconde série d'étalons est choisie de façon a correspondre à l'epaisseur apparente désirée plus un certain écart prédéterminé de cette épaisseur désirée de la matière.Un tel système est éta lonné en se basant sur deux épaisseurs apparentes et est fondé sur l'hypothèse que le signal de sortie du détecteur et l'epais- seur de la matière mesurée sont dans un rapport lineaire. Un tel système peut être considere comme un système d'interpolation linéaire. Dans les systèmes de la technique antérieure, l'etalonnage s'effectue généralement directement pour la matière que l'on veut mesurer, c'est-a-dire que le système est étalonné en se basant sur l'épaisseur apparente. La compensation de la composition s'effectue au cours de la procédure d'étalonnage et non pas pendant la mesure. Ces systemes exigent aussi que l'on refasse l'étalonnage chaque fois que l'épaisseur nominale de la matiere mesurée, interposée sur le trajet des radiations, change. Du fait que dans ces systèmes, on est généralement obligé de combiner plusieurs étalons pour obtenir l'épaisseur apparente dela matière que l'on veut mesurer, il est clair qu'on doit disposer d'un grand nombre de plaques-étalons. Un grand nombre de ces plaques est également nécessaire en raison de la nature de l'approximation linéaire utilisée pour le calibrage du système. C'est, ainsi, par exemple, que dans un système on utilise une série décimale de plaques codées en binaire en commençant avec une plaque très mince de O,Olmm et en allant jusqu'a une plaque de 8mm d'épaisseur. De plus, dans les systèmes de mesure d'épaisseur antérieurs, la dérive due aux variations de la tension d'alimentation de la source de radiations ou aux variations de sensibilité du détecteur doit également être compensée. Ceci est généralement réalise en réglant le gain du préamplificateur a l'aide de divers circuits de rtro-action. En conséquence,le but de la présente invention est de fournir une jauge d'épaisseur indirecte à radiations per fectionnée qui est fondée sur un procéde d'interpolation quadratique extrêmement précis. Un autre but de l'invention est de faire en sorte que la compensation de la composition de la matière mesurée puisse s'effectuer pendant la mesure plutôt qu'au cours de l'étalonnage du dispositif de mesure. Un autre objectif de l'invention est de permettre de changer l'épaisseur nominale pendant que la matière est en train d'être mesurée avec le faisceau de radiations et ce sans refaire l'étalonnage. Enfin, l'invention se propose de réduire le nombre des plaques-étalons nécessaires en selectionnant un nombre fini de points d'étalonnage disposés selon une progression géométrique à partir desquels les courbes d'étalonnage sont déterminées Selon l'invention, ces buts et d'autres peuvent être atteints par une jauge d'épaisseur indirecte à radiations qui utilise un certain nombre d'étalons mobiles ayant une épaisseur prédéterminée qui comprend une source de radiations pénetrantes; des moyens pour détecter les radiations de cette source et pour produire en réponse des signaux de sortie V qui sont fonction du niveau des radiations reçues, où ledit niveau est fonction des caractéristiques d'absorption des radiations et de l'épaisseur de la matiere interposée sur le trajet desdites radiations, entre ladite source et lesdits moyens de detection, des moyens pour interposer sélectivement des étalons et la matiere devant être mesurée sur la trajectoire desdites radiations, une mémoire pour conserver des paramètres définissant plusieurs courbes d'étalonnage qui correspondent a différentes gammes d'épaisseurs se rapportant à des signaux de sortie correspondants desdits moyens de détection quand lesdits étalons, ayant le point correspondant d'épaisseur d'étalonnage sont placés sur le trajet des radiations ou lesdits points d'taionnage sont choisi s de façon a correspondre approximativement a une série géométrique de valeurs d'épaisseur couvrant toutes lesdites gammes; des moyens pour régler l'épaisseur nominale et le coefficient de compensation de composition de la matiere devant être mesurée qui est à l'inter.eur de l'une desdites gammes, lesdits moyens produisant un signal de sortie indiquant ladite épaisseur nominale et ledit coefficient de compensation et les moyens pour traiter les signaux de sortie desdits moyens de détection et lesdits moyens de réglage quand la matiere devant être mesurée est interposée sur le trajet desdites radiations et qu'une courbe d'étalonnage est conservée dans ladite mémoire qui représente la gamme appropriee desdites gammes d'épaisseurs afin de déterminer l'épaisseur de ladite matière. D'autres caractéristiques et avantages de 1 'inven- tion ressortiront de la description qui va suivre, en référence aux dessins annexés sur lesquels figure 1 est une représentation schématique par blocs d'une jauge d'épaisseur indirecte a radiations conforme à la présente invention, figures 2A, 2B et 2C sont des exemples de tables montrant des gammes préférées d'épaisseurs pour mesurer des plaques d'aluminium, des bandes d'acier doux laminées a froid et des bandes d'acier doux laminées a chaud, figures 3 - 5 sont des organigrammes illustrant le transfert et le traitement de données dans la mémoire de la jauge d'épaisseur indirecte selon l'invention, figure 6 représente des courbes de préétalonnage pour plusieurs gammes et à plusieurs zones de selection de gamme, figures 7 - 9 représntent des courbes d'étalonnage de la jauge d'épaisseur indirecte selon l'invention, et, figures 10 - 12 représentent des organigrammes concernant respectivement les operations de preétalonnage, d'étalonnage de gamme et de mesure. On va décrire maintenant, un mode de réalisation préféré de l'invention illustré par le dessin annexé. Ce mode de réalisation préféré de la jauge d'épaisseur selon l'invention est représente sur la figure 1. Il comprend une source de radiations pénétrantes, en l'occurence, un générateur de rayons X 2 et engendre un faisceau de rayons X qui suit une trajectoire 4 pour traverser une matiere 6. Les moyens de détection comprennent un détecteur 8, un amplificateur 10 et un convertisseur analogique/numérique (A/N) 12 qui reçoit les radiations de la source 2 et produit en réponse un signal dont la grandeur est fonction du niveau des radiations reçues. Par ailleurs, le niveau des radiations reçues est fonction des caractéristiques d'absorption et de l'épaisseur de la matière 6 interposée sur le trajet entre la source et les moyens de détection. Le détecteur 8 est disposé pour recevoir les rayons x emis par le générateur 2 et qui ont traversé la matière 6 et pour Convertir les radiations ainsi reçues en un signal électrique appliqué à un amplificateur 10.Le signal de sortie de l'amplificateur 10 est converti en un format digital ou binaire (de préférence, en un format à 16 bits) par le convertisseur t/N 12 avant d'etre appliqué au processeur 14. Le processeur 14 reçoit un signal d'une unité d' étalonnage 16 qui produit un signal de réglage correspondant à l'épaisseur T et au coefficient de compensation N représentatif de l'alliage ou de la composition de la matière que l' on veut mesurer. L'installation comprend également une mémoire 18 dans laquelle des informations sont conservées et qui fournit ces informations au processeur 14 afin d'obtenir des courbes d'étalonnage par des opérations arithmétiques qui seront décrites plus loin. Un indicateur 20 qui reçoit les signaux de sortie du processeur 14 par l'intermédiaire d'un convertisseur numé rique/analogi9ue (N/A)22 affiche l'épaisseur mesurée. Dans le présent exemple de réalisation, le processeur 14 calcule et conserve dans la mémoire 18 les donnees des courbes d'étalonnage, traite ces données et d'autres signaux reçus et délivre, en tant que signal de sortie, à 1 indicateur d'épaisseur 20, un signal d'ecart d'épaisseur, en générant également divers autres signaux destinés à faciliter les opérations d'étalonnage et de mesure. C'est ainsi, par exemple, que le processeur 14 règle la tension du géné- rateur de rayons X2 au moyen d'un signal appliqué sur la ligne 24, et règle également le gain de l'amplificateur 10 par la ligne 26. Le système de jauge d'épaisseur de l'invention comporte aussi un magasin 21 qui contient un certain nombre de plaques de référence faites d'une matière déterminee et qui ont des épaisseurs précises mais différentes. On interpose et on retire de la trajectoire 4 des radiations des combinaisons déterminées de ces plaques de référence sous la com mande, par la ligne 28 > du processeur 14. L'utilisation de la jauge d'épaisseur indirecte à radiations selon l'invention comprend, essentiellement, une opération (1) de prtalonnage, (2) d'étalonnage de la plage de mesure et (3) des operations de mesure. Il est à noter que le réglage d'épaisseur de la jauge peut aussi être modifié même pendant qu'une matière dont on veut mesurer l'épaisseur est interposée sur le trajet du faisceau de radiations. Selon l'invention, la première opération, c'est à dire, le préétalonnage, commence en divisant la gamme totale d'épaisseurs que la jauge peut mesurer en un certain nombre d'échelons. L'opération de préétalonnage prépare les courbes d'étalonnage pour chacun des échelons de mesure. Cette opération prend environ soixante dix secondes et doit être refaite approximativement toutes les huit heures. Ces courbes seront qualifiées par la suite "courbes de preétalonnage". D'une maniere genérale, les courbes de préétalonnage ou d'étalonnage sont des courbes qui représentent la relation entre l'epais- seur de la matiere en train d'être mesurée et le signal apparatssant a la sortie du détecteur, dans le cas présent, le signal de sortie du convertisseur analogiue/numérique 12. Selon l'invention, la seconde opération, l'opération d'étalonnage comprend une étape de réglage et une etape de sélection d'échelon, suivie d'une compensation de la dérive de l'échelon choisi pour être utilisé dans l'opération de mesure. Les étapes de réglage et de sélection d'echelons comprennent (1) la fixation d'une épaisseur nominale Tn et d'un coefficient de compensation N pour la matière devant être mesurée, et (2) une sélection automatique de la gamme appropriée d'épaisseurs correspondant aux valeurs préétablies Tn et N. L'étape suivante de compensation de la derive pour 1 échelon de mesure choisi est nécessaire pour corriger les dérives qui se produisent après le préétalonnage de la jauge. On prépare une nouvelle courbe d'étalonnage compensée se rapportant à l'échelon d'épaisseurs choisi et on la conserve dans la mémoire 18. Il est preferable que cet étalonnage soit effectué après chaque nouvelle etape de sélection d'échelon et normalement cette opération demande environ cinq secondes. Selon la pressente inventions ia troisième opération, la mesure, implique que la matière dont on veut mesurer l'épaisseur soit placée sur la trajectoire du faisceau de radiations et que son épaisseur soit déterminée en utilisant la courbe d'étalonnage compensée avec les signaux de sortie du détecteur. La jauge d'épaisseur indirecte de la présente invention peut aussi être utilisée en changeant le réglage du dispositif de réglage d'épaisseur 16 pendant que la matiere considérée est interposée sur la trajectoire du faisceau. Pour calculer les courbes d'étalonnage dont la dérive a été compensée, comme décrit ci-dessus, il est nécessaire d'interposer les plaques-étalons sur la trajectoire du faisceau de radiations. Etant donné que ceci est impossible, lorsque la matière dont on mesure l'épaisseur est également placée sur le trajet du faisceau, on est obligé de selectionner une courbe d'étalonnage compensée qui a été obtenue auparavant et qui se rapporte au même échelon d'épaisseur que celui concernant l'opération d'étalonnage suivante. Cette courbe d'étalonnage compensée en dérive est ensuite introduite dans la mémoire 18 et l'épaisseur de la matiere mesurée est alors déterminée en utilisant la courbe d'étalonnage compensée contenue dans la mémoire. En se référant maintenant aux figures 2A, 28 et 2C, on voit un arrangement préféré des échelons ou des gammes d' épaisseurs se rapportant à des plaques d'aluminium, a des plaques d'acier doux laminées à froid et à des plaque d'acier laminées a chaud. Les épaisseurs sont indiquées en abscisse selon une échelle logarithmique, tandis que les points d'étalonnage utilisés pour ces différentes matieres sont respectivement indiqués par les points 30, 32 et 34. Les échelons ou gammes sont disposés de façon a se recouvrir mutuellement. C'est ainsi, que comme le montre la figure 2B, la jauge utilisée pour mesurer l'épaisseur des tôles d'acier doux laminées a froid comprend neuf échelons qui se recouvrent les uns les autres. Le second échelon couvre les épaisseurs comprises entre 0,04 mm et 0,16 mm et, tandis que la troisième gamme comprend les épaisseurs allant de 0,08 mm a 0,32 mm. Les échelons se recouvrent entre 0,08 mm et 0,16 et il y a un chevauchement analogue entre les autres échelons d'épaisseur. La plage totale d'épaisseurs est, dans chaque cas, divisée en un certain nombre d'échelons ou de gammes, par exemple, neuf échelons, échelon 1 a échelon 9, sont représentés pour la jauge d'épaisseur utilisée avec les plaques ou les tôles d'acier doux laminées à froid sur la figure 2B. D'autres parametres nécessaires sont également représentés, parmi lesquels la tension d'alimentation de la source à rayons X2 et le gain du préamplificateur 10 qui sont déterminés et réglés par le processeur 14 en fonction de la nature de la matière mesurée et de la gamme choisie, comme représenté sur les figures 2A, 2B et 2C. En ce qui concerne la jauge d'épaisseur utilisée pour mesurer l'épaisseur des tôles ou des bandes d'acier laminées a chaud (figure 2C), par exemple, la tension d'alimentation de la source de rayons X est fixée a 100 kV et le préamplificateur est réglé de façon a avoir un gain relativement faible pendant les mesures comprises dans les gammes 1 à 4. Quand les mesures concernent la gamme 5, la tension d'alimentation utilisée est également de 100kV, mais le gain du préamplificateur est réglé a un niveau moyen. Pour la gamme 6, la tension d'alimentation est fixée à 120 kV et le niveau du gain du préamplificateur est moyen tandis que pour la gamme 7, la tension d'alimentation adoptée est de 140 kV, tandis que le gain est fixé à un niveau élevé. Il convient également de noter que ces parametres sont aussi indiqués pour les différentes gammes d'apaisseurs des plaques d'aluminium (figure 2A) et des plaques d'acier doux laminées à chaud (figure 2C). Le magasin 21 contient un certain nombre de plaques-étalons ou de références ayant une épaisseur précise connue et faite d'une matière connue, ces plaques permettant séparément ou en diverses combinaisonc d'obtenir les valeurs des différents points d'étalonnage 30, 32 et 34. Pour mesurer l'aluminium, les plaques-étalons sont en aluminium pur, tandis qu'on utilise du fer pur pour les bandes d'acier doux laminées à froid et pour les bandes laminées â chaud. Les épaisseurs respectives des plaques-étalons sont, de préférence, choisies de façon a correspondre à une série binaire, ces épaisseurs pouvant, par exemple, être respectivement 0,01 mm, 0,02 mm, 0,04 mm, 0,08 mm, 0,16 mm, 0,32 mm, 0,64 mm, 1,28 mm, 2,56 mm, 5,12 mm, 10,24 mm, et 20,48 mm.On conçoit que la plaqueétalon de 20,48 mm est inutile pour mesurer l'épaisseur de bande d'aluminium ou d'acier laminée a froid, mais qu'elle est nécessaire pour les bandes ou les tôles d'acier laminées a chaud. Pendant l'opération d'étalonnage, on utilise des étalons composés d'une ou de plusieurs plaques de référence venant du magasin 21. Or, il est à noter que plus le nombre des plaques-étalons ou de références est grand, plus est grande l'erreur qui résulte de la diffusion des rayons X. En conséquence, on choisit les plaques-étalons de façon que les épaisseurs correspondant aux différents points d'étalonnage 30, 32 et 34 puissent être obtenues avec, au maximum, trois plaques. Pendant l'opération d'étalonnage, on interpose des plaques isolées ou des combinaisons de deux ou trois plaquesétalons successivement sur le trajet du faisceau de radiations en les extrayant du magasin 21. L'opération est commandée par des instructions en provenance d processeur 14. En se référant maintenant aux figures 3 - 5, on va décrire plus en détail le traitement des données par la mémoire 18 (figure 1). La mémoire 18 comprend une mémoire fixe (ROM) et une mémoire vive ou à accès direct (RAM), comme 1 indique schématiquement la figure 3. La mémoire fixe ROM comporte une base commune 42 qui contient toutes les données relatives a l'étalonnage et aux mesures qui sont communes a toutes les gammes, comme, le programme pour le préétalonnage (organigramme de la figure 11), le programme pour effectuer les mesures (organigramme de la figure 12), l'équation de compensation de la composition de la matière ou de l'alliage, l'équation quadratique de base et les données pour la selection de la gamme ou de l'échelon de mesure.La mémoire fixe renferme également des bases de données de gammes 44-1, 44-2, 44-3 ...44-n qui concerne des données spécifiques pour chaque gamme ou échelon de mesure. La mémoire vive contient deux tables 46 et 50, la première table comprenant des aires de données 48-1, 48-2, 48-3,.. .48-n correspondant à chacune des différentes gammes de mesures. La seconde table 50 sert d' aire de travail. Dans chacune des tables 46 et 50, les dif férentes aires de données comprennent des données de type 1, type 2 et type 3.Les données de type l correspondent aux différentes données de gammes conservées dans les bases 44-1, 44-2, 44-3,...44-n de la mémoire fixe. les données de type 2 correspondent aux résultat du préétalonnage de la jauge et es données de type 3 correspondent, d'une maniere générale, aux résultat de l'opération d'étalonnage. La seconde table 50 de la mémoire vive RAM est une aire de travail ayant une capacité lui permettant de conserver un groupe de données de type 1 , de type 2 et de type 3 se rapportant à une gamme particulière ou à un échelon de mesure particulier. On va décrire maintenant le transfert de données dans la mémoire 18 et dans le processeur 14 qui facilite le fonctionnement de la jauge de l'invention. Au commencement du préétalonnage, des données de gammes des bases 44-1, 44-2, 44-3,...44-n contenues dans la mémoire fixe ROM sont trans férées aux aires de donnees de type l des tables 48 correspondantes de la table 1 de la mémoire vive RAM (figure 3). En se référant maintenant a la figure 4, qui représente une opération de préétalonnage pour la gamme l, on voit que les données de type 1 conservées dans l'aire correspondant à la table 48-1 sont transférées a l'aire de travail de la seconde table 50. Ceci représente la première étape. La donnée de préétalonnage résultante est ensuite inscrite dans 1 aire de donnée de type 2 de l'aire de travail 50, ce qui constitue l'étape 2. La donnée rsuitat est transférée à la fois aux aires de base de type * et de type 3 de la première table 48-1 de la mémoire fixe R;AKt et est conservée, comme l'indique les etapes 2 et 3. On va décrire maintenant un étalonnage de la gamme l en se référant a la figure 5. La donnée de la première table de donnée 48-1 est transférée a l'aire de travail de la seconde table so a l'étape 1. Ceci est indiqué par des flèches a l'étape l. Pendant que l'opération continue, la donnée résultante de l'étalonnage est inscrite dans l'aire de donnée de type 3 de l'aire de travail 50 et est tranférée à l'aire de donnée de type 3 de la table 48-1 comme t'indique la flèche a l'étape 2. La donnée est conservée dans la table 48-1 comme indiqué a l'étape 2.A la fin de l'étape 2 de la figure 5, on procéde a la mesure de l'épaisseur de la matière en utilisant la courbe compensée en derive sélectionnée. Après la mesure, lorsque la table 48-1 de la gamme l est a nouveau choisie aux fins d'étalonnage, le contenu de la première table de la mémoire vive sera le même que celui de là table 48-1 de la gamme 1 de la mémoire vive de l'étape 3 obtenu pendant la procédure d'étalonnage suivante de la gamme précédente. En d'autres termes, la donnée de type 3 de la table de gamme 48-1 est remise a jour chaque fois que cet étalonnage est nécessaire pour cette gamme particuliere d'épaisseurs. On va décrire maintenant, plus en détails le fonctionnement incluant le préétalonnage, l'étalonnage et la mesure d'une gamme d'épaisseurs de la jauge d'épaisseur indirecte a radiations de la présente invention en se référant aux figures 6, 7, 8 et 9. On va commencer par décrire l'opération de préétalonnage en se référant plus particulierement a la figure 6. On choisit les points d'étalonnage de façon qu'ils correspondent approximativement a une progression géométrique de la valeur des épaisseurs en passant par toutes les- gammes d' épaisseurs qui doivent être mesurées par le dispositif. Il est préférable de choisir les points d'étalonnage de manière que les différentes épaisseurs correspondant aux points d' étalonnage puissent être obtenues avec une seule plaque-étalon ou de référence du magasin 21 ou par une combinaison de deux ou de, au plus, trois plaques-étalons de ce dernier. La figure 6 montre la relation qui lie l'épaisseur et les signaux de sortie correspondant du convertisseur a A/N 12. Les points d'étalonnage Tcl, > Tc2, Tc3,...Tcn sont pointes sur une échelle logarithmique le long de l'axe des abscisses. Les signaux de sortie numériques V sont convertis, par une opération arithmétique du processeur 14, en signaux logarithmiques qualifiés ci-après "signaux log". Ces signaux log ont été portés en ordonnée. Dans l'exemple représenté, chaque gamme ou échelon, d'épaisseur a sept points d'étalonnage y compris les points des deux extrémités de la gamme. C'est ainsi, par exemple, que la gamme 1 s'étend de Tcl a Tc7 et que la gamme 2 s'étend de 7c4 a TclO. On voit clairement sur la figure 6, que les différentes gammes se recouvrent partiellement. par contre, les zones de sélection situées a l'intérieur de chaque gamme qui sont utilisées pour l'opération de selection de gammes, ne se recouvrent pas avec les zones analogues des gammes adjacentes. C'est ainsi, par exemple, que la gamme 2 possede une zone de sélection qui s'étend des points TR1 à TR2. La zone de sélection suivante se rapporte a la gamme 3 et s' étend de TR2 à TR3. Ainsi, il n'y a donc pas de chevauchement ou de recouvrement entre les zones de sélection de gamme. Pendant l'opération de préetalonnage, on intercale une ou plusieurs plaquescétalons ayant une épaisseur déterminée, Tcl, par exemple, sur le trajet du faisceau de radiations, produisant ainsi un signal de sortie V1. Ce signal est appliqué sous un format numérique binaire, de préférence, à 16 bits, par le convertisseur analogique/numérique 12 au processeur 14 qui exécute une opération arithmétique pour convertir ce signal numérique en un signal log2V. Pendant l'opération de préetalonnage, le processeur 14 commande le magasin 21 de façon que celui-ci intercale des plaques-etalons ayant des épaisseurs Tcl , Tc2, Tc3,... Tcn successivement sur le trajet du faisceau de radiations afin oue le processeur 14 puisse calculer successivement des signaux log tels que log2V1, log2V2, log2V3,... log2V qui sont conservés dans la mémoire 18. La mémoire 18 conserve les coordonnées des points (Tcl, log2V1), (Tc2, log2V2), (Tc3, log2V3), ... , > (Tcn, log2Vn). Les points représentatifs des épaisseurs Tcl, Tc2, Tc2 > Tc3,... . . Tcn sont conservés dans les bases de donnée de gammes respectives de la mémoire fixe ROM, tandis que les signaux-log log2V1, log2V2, log2V3 > ,.. log2Vn sont conservés dans l'aire de donnée de type 2 de la première table (figure 4). On obtient ainsi une courbe 52 comme celle représentée sur la figure 6 en reliant les points de donnée, courbe qui représente la courbe d'étalonnage de ces points. Pendant l'opération de préétalonnage, on prépare des courbes d'étalonnage pour chaque gamme d'épaisseurs. En conséquence, on prépare un nombre de courbes d'étalonnage égal à celui des gammes d'épaisseurs. On divise chaque gamme en trois sous-gammes qui sont définies par trois points d'étalony compris les deux points situes aux extremites de la sous-gamme. Une courbe quadratique, dans le cas présent une courbe parabolique, passe par les trois points d'étalonnage et sert de courbe d préétalonnage pour cette sous-gamme. La courbe de préétalonnage de chaque gamme .se compose de trois courbes quadratiques reliées ensemble. (Les diverses courbes se rapportant à la gamme 1 sont désignes sur la figure 6 par les numeros des equations correspondantes, équations qui sont développées ci-après). La jauge d'épaisseur indirecte de l'invention est fondée sur la relation entre le signal log logez et l'épaisseur T de la matière mesurée. Cette relation peut être exprimée par l'équation quadratique suivante avec une précision donnée pour une gamme particulière d'épaisseurs C'est ainsi, par exemple, que a courbe se rapportant à la sous-gamme comprenant les points d'étalonnage Tcl, Tc2,-Tc3 à l'intérieur de la gamme 1 peut être obtenue comme suit Tcl = a111 + a112 (log2V1) + a113 (log2V1) Eq. 2 Tc2 = a111 + a112 (log2V2) + a113 (log2V2)2 Eq. 3 Tc3 = a111 + a112 (log2V3) + a113 (log2V3)2 Eq. 4 On resout le système de trois équations simultanées pour les trois inconnues (a111, a112 , a113) par le processeur 14 et la courbe désirée pour la première sous-gamme est ainsi déterminée. Les paramètres (a1ll , a112 , et a113)'définissent la courbe de préétalonnage comprenant les points T-cl, Tc2 et Tc3. On suppose que la solution.des trois équations simultanées ci-dessus 2, 3 et 4 peut être exprimée par Les paramètres définissant la courbe se rapportant aux autres sous-gammes peuvent s'écrirent comme suit Le résultat de ces calculs permet de définir la courbe de préétalonnage pour la gamme l par trois groupes de parametres de définition de courbes, (a111, a112, a1l3), (a121' a122 a123) et (a131,. a132, a133).Ces paramètres sont conservés dans l'aire de donnée de type 2 de l'aire de travail 50, comme représenté sur la figure 4. Les paramètres -de définition de courbes se rapportant aux gammes restantes sont obtenus d'une manière similaire. (Les accolades des courbes de la figure 6 indiquent les autres gammes et sous-gammes). Il est souhaitable que la jauge d'épaisseur indirecte a radiations fonctionne d'une manière stable. Toutefois, ce dispositif est très sensible et est sujet à une certaine dérive avec le temps.Si l'on suppose cette dérive négligeable, l'épaisseur des matières peut etre mesurée à partir des courbes de préétalonnage décrites ci-dessus. En se basant sur l'épaisseur nominale et sur le coefficient de compensation correspondant a la matière devant être mesurée1 et dont les valeurs sont inscrites dans le dispositif de re- glage 16, on obtient d'abord une épaisseur apparente (épaisseur compensee).On sélectionne alors une courbe de préé- talonnage se rapportant à une gamme ayant une zone de sélection à laquelle l'épaisseur obtenue appartient. Celle-ci tombe entre les points d'extrémité de la zone de sélection de gammes en question. On place la matière sur le trajet 4 du faisceau de radiations afin d'obtenir un signal log, et on détermine l'épaisseur T en utilisant la courbe de preetalonnage sélectionnée. Toutefois, à cause des dérives que l'on constate dans la pratique dans l'utilisation que ces jauges d'épaisseur indirectes, on procede à une opération d'étalonnage immédiatement avant la mesure afin de compenser ces dérives. L'operation d'étalonnage, si elle est executée immedfate- ment avant chaque mesure, manient la précision de la jauge de l'ordre de 0,1 % sur toute la gamme. On va décrire--maintenant en détail, ]'operation d'étalonnage des gammes en se référant aux figures 7 - 9. Cette opération consiste a régler l'épaisseur nominale et le coefficient de compensation pour la matiere mesures, à sélectionner la gamme appropriée et a compenser la dérive de la gamme sélectionnée. On introduit l'épaisseur nominale et le coefficient de compensation de la composition de la matière devant être mesurée dans le dispositif de reglage 16. On obtient 1' épaisseur apparente Tap du processeur 14 a partir de l'epais- seur nominale T n et le coefficient de compensation de compo sition N à partir du dispositif de réglage d'épaisseur 16 et on sélectionne une gamme correspondante en se basant sur la zone de sélection de gamme a laquelle I'épaisseur apparente appartient. Ce calcul est universel-lement connu dans la technique et est basé sur la relation suivante Tap = Tnr (1 + N/100) On achève l'opération d'étalonnage de gamme en compensant la dérive de la gamme sélectionnée.Ceci va être expliqué en regard de-s figures 7 - 9. L'étalonnage d'une gamme implique la détermination d'une courbe quadratique unique qui est représentative de la relation qui lie le signal log a l'épaisseur de la gamme considérée. Trois points d'étalonnage seulement, notamment les points situés aux deux extrémités et au centre de la gamme, parmi les sept points utilisés pour déterminer la gamme dans l'opération de préétalonnage, sont employés. C'est ainsi par exemple, que l'étalonnage de la gamme 1 est basé sur les points d'extrémite Tc1 et Tc7 et sur le point central Tc4. Quand aucune matiere n'est interposee sur le trajet des radiations, les données (Tc1, log2V1), (Tc4, log2V4), (toc7, log2V7) qui ont été conserves dans l'opération de préétalonnage discutee ci-dessus, sont utilisées pour obtenir les termes a101, a102 a103 a partir des équations suivantes Use courbe grossiere de préétalonnage 36 est obtenue par la solution simultanée de ces équations, la courbe résultante étant représentée sur la figure 7. Les paramètres (a101 > a102, a103) définissent la courbe grossiere ou appro ximatiVe de precalibrage pour la gamme 1. Simultanement, le magasin 21 est actionné par le processeur 14 afin d'intercaler successivement des étalons ayant des épaisseurs Tcl, Tc4, Tc7 sur le trajet du faisceau de radiations afin d'obtenir des données présentes ou cou rantes (Tc1, log2V1p), (Tc4, log294p), (Tc7, log2V7p). Ces données courantes ou présentes sont utilisées Dour dévelop per une courbe grossière d'étalonnage actuelle 38 avec les paramètres a101p, a102p, a103p, en utilisant une opération arithmétique similaire a celle indiquée ci-dessus. En se référant maintenant a la figure 8, on voit les valeurs des dériveslog2V2, #log2V3, #log2V5, et #log2V6 pour les différents points Tc2, Tc3, Tc5 et Tc6 qui ont été calculés par le processeur 14 en utilisant les courbes 36 et 38. Ces dérives sont des valeurs approxima tives obtenues par une interpolation entre les courbes 36 et 38, qui représente la dérive entre l'instant du préétalonnage et l'instant present respectivement pour chacun des points d'étalonnage.Dans la pratique, les valeurs de la dérive sont calculées dans le processeur en utilisant les para mètres définissant la courbe 36 (a101, a102, a103) et les paramètres définissant la courbe 38 (a1Olp, a102p, a103p). En conséquence, les nouvelles valeurs compensées des signaux log log2Vnc s'écrivent comme suit log2V1c = log2Vîp log2V2c = log2V2 + # log2V2 log2V3c = log2V3 + # log2V3 log2V4c = log2V4p log2V5c = log2V5 + # log2V5 lo2V6 = log2V6 + # log2V6 log2V7c = log2V7p Ces signaux-log compensés sont conservés dans la la mémoire 18. Une courbe d'étalonnage est tracée en utilisant les signaux-log compensés afin de produire une courbe d'éta- lonnage compensée 40. Plus précisément, on effectue les opé rations-arithmetiques suivantes, comme pour les courbes de preétalonnage : A partir de ces opérations arithmetiques, on trace une courbe d'étalonnage compensee en derive 40 qui se compose de trois courbes quadratiques reliées entre elles, comme le montre la figure 9. Les paramètres (alllc' a112c, à13c et suivants) définissant la courbe d'étalonnage compensée en dérive sont conserves dans l'aire de donnée de type 3 de la mémoire 18, comme il est expliqué plus en detail ci-après. Une courbe d'étalonnage compensée analogue peut de la même façon être etablie pour les autres gammes. Finalement, on effectue l'opération de mesure d' épaisseur avec la jauge d'épaisseur indirecte de la présente invention. On place la matière dont on veut mesurer l'epais- seur sur le trajet du faisceau de radiations et on calcule son épaisseur T au moyen du processeur 14 en utilisant la courbe d'étalonnage compensée en dérive obtenue ci-dessus. L' écartn T= T-Tn, où T n est l'épaisseur nominale, est ensuite calculé, dans le processeur 14 et l'écart calculé n T est affiché par l'indicateur 20. Comme exemple d'une opération de. mesure, on peut supposer que la gamme 1 a été sélectionnée au cours de l'éta- pe de selection de gamme decrite ci-dessus. Comme il a été expliqué, la courbe d'étalonnage compensee en dérive 40 se rapportant à la gamme 1 se compose de trois courbes quadratiques correspondant aux différentes sous-gammes de la gamme 1. En conséquence, il est d'abord nécessaire de déterminer: laquelle des trois courbes quadratiques il convient d'utiliser pour calculer l'épaisseur de la matière en train d'etre mesurée. Les points de liaison des trois courbes quadratiques sont définis par (Tc3, log2V3c) et (Tc5, log2V5c).Le signal-log engendré en réponse a la présence de la matiere sur le trajet du faisceau de radiations est, par conséquent, comparé avec log2v3cet log2V5c pour déterminer celle des trois cour bes quadratiques qu'il convient de sélectionner. Une fois la courbe sélectionnée, le processeur 14 calcule l'épaisseur de la matière en utilisant le signal-log et la courbe en question. Du fait nue 1 I'paisseur calculée Tcd est obtenue à partir d'une courbe d'étalonnage compensée en dérive, cette épaisseur ne sera pas l'épaisseur véritable mais seulement 1 'épaisseurapparente lorsque la composition de la matière mesurée est différente de celle des plaq,ues-etalons. Ceci est dU au fait que la courbe d'étalonnage compensee en dérive a été obtenue à partir de mesures fates avec les plaques-étalons. L'épaisseur véritable T est exprimée par En conséquence, l1écart de l'épaisseur nominale de la matière sera Les calculs arithmetiques sont exécutés par le processeurs 14. Les figures 10, 11 et 12 sont trois organigrammes se rapportant respectivement à l'opération de préetalonnage, à l'opération d'etalonnage de gamme et a l'opération de mesure décrites ci-dessus. Ces organigrammes résument le fonctionnement de la jauge d'épaisseur indirecte à radiations de la présente invention. En considérant la figure 10, on voit que l'opéra- tièn de préétalonnage commence par un ordre de préétalonnage 52 et que, sous la commande du processeur 14, l'étape d'initiation 54 provoque le transfert de données de la mémoire fixe ROM 18 à l'aire de donnée de type 1 de la table de gamme 1 48-1 de la mémoire vive RAM. L'étape suivante est le réglage des conditions 56. Des données pour la gamme sélectionnée sont transférées de la table de gamme 1 48-1 à l'aire de donnee de type 1 de 1 aire de travail 50. Selon la gamme choisie et la matière devant être mesurée, le processeur 14 fixe la tension de la source de radiations et Te gain da préamplificateur à des valeurs prédeterminées. Ensuite, a lieu la collecte 58 des données. Les plaques-etalons du magasin 21 sont successivement interposees, sous la commande du processeur 14, sur le trajet du faisceau de radiations. Les signaux de sortie binaires du convertisseur analogique/numérique 12 son.t lus et sont convertis par le processeur 14 en signaux-log qui, de leur côté, sont con servés dans l'aire de donnée de type 2 de l'aire de travail 50. Le calcul 60 des paramètres est l'étape suivante de l'opération de préétalonnage. Ces paramétres (par exemple, (alla' a112' a113), (a121, a122, a123), (a131, a132, a133) sont calcules dans le processeur 14 et sont conserves dans l'aire de donnee de type 2 de l'aire de travail 50. Finalement a lieu un transfert de donnee de l'aire de type 2 à l'aire de travail 50 et aux aires de type 2 et de type 3 de la table de gamme 48-1. Ces étapes se répètent jusqu'à ce que tous les paramètres de toutes les gammes ont été obtenus. La figure 11 est un organigramme montrant les étapes de 1 'opération d'étalonnage de gamme. La commande d'etalonnage de gamme 64 est émise et le système est initial:isé par l'étape 66. Ensuite s'effectue la lecture 68 de la valeur fixée pendant laquelle 1 'épaisseur nominale T n et le coefficient N de compensation de composition de la matière sont lus dans le dispositif de réglage 16. L'étape de sélection de gamme 70 comprend 1 'opéra- tion arithmétique du processeur 14 destinée à calculer l'epais- apparente Tap de la matière. La gamme est choisie n deter- minant à quelle zone de sélection appartient l'épaisseur apparente Tap c'est à dire, dans quelle zone de sélection de gamme de la gamme considérée elle est située. Ensuite, l'étape de réglage de condition 72 pro- voque un transfert de donnée des aires de type 1, 2 et 3 de la gamme sélectionnée de la première table aux aires correspondantes de l'aire de travail 50 (figure 5). La tension de la source de radiations et le gain du preamplificateur sont fixés po-ur prédéterminer les valeurs qui sont fonction de la courbe sélectionnée et de la nature de la matière. Au cours de l'étape suivante de l'opération d' étalonnage, un essai 74 est effectue pour déterminer si une matière dont l'épaisseur doit être mesurée est placée sur le trajet du faisceau de radiations. En supposant qu'il n'y a pas de matière sur ce trajet, l'étape de collecte de donnée 76 a lieu et les plaques-etalons pour les epaisseurs sélectionnées (par exemple, Tcl, Tc4, et Tc7) sont successivement intercalees sur le trajet du faisceau de radiations. Des signaux-log sont ainsi obtenus correspondant aux lectures courantes ou actuelles (par exemple, log2V1p, log2V4p, log2V7p). La dernière etape est une étape de calcul 78 qui consiste à déterminer les paramètres ( par exemple, (a101, a102, a103)) de la courbe grossière de préétalonnage et les paramètres ( par exemple (a101p, alO2pX a103P)) de la courbe grossière actuelle. Des valeurs de dérive (par exemple, nlogiV2, Alog2V3, fXlog2V5, alog2V6) sont ensuite calculées et les signaux-log compensés sont également calculés et conservés dans l'aire de travail 50. Les paramètres ( par exemple, a111c, a112c' a113c) (a121c, a122c a123c) (a131cX al32C a133c)) de la courbe d'étalonnage compensée sont calculés dans le processeur 14 et sont conservés dans l'a'ire de travail 50 de la mémoire 18. Finalement, les données représentant les signaux-log compensés et les paramètres des courbes d'étalonnage compensés en dérive sont transférées a l'aire de type 3 de la premiere table de la mémoire active RAM (figure 8). Si après l'étape 74, une matière est présente sur le trajet des radiations, les étapes 76 et 78 sont court circuitees. Finalement, en ce qui concerne le fonctionnement de la jauge d'épaisseur indirecte à radiations de la pre- sente dnvention, l'opération de mesure de celle-ci est représentée pas à pas sur l'organigramme de la figure 12. L'appa- reil étant en position d'attente 80, l'opération de mesure commence avec le réglage des conditions 82 au cours de laquelle les plaques-étalons sont retractées du trajet du faisceau de radiations sous la commande du processeur 14. Une impulsion de synchronisation 83 qui peut, par exemple, se présenter toutes les 10 millisecondes est appliquée à un circuit ET 84. L'impulsion de synchronisation 83, combinée avec le réglage de condition 82, provoque le déclenchement de la séquence de mesure. L'etape de lecture des signaux-log 86 inclut une determination des signaux-log se rapportant à la matière actuellement sur le trajet du faisceau de radiations, telle qu'elle a été calculée par rye processeur 14. Il est ensuite procédé aux calculs d'épaisseur 88. A cette fin, l'une des courbes quadratiques qui fait partie de la courbe d'étalonnage compensée en dérive est choisie pour. cette gamme sélectionnée. L'épaisseur TCd est calculée en utilisant la courbe quadratique choisie. Ensuite, l'épaisseur vraie T est calculee par la relation suivante Finalement, on obtient 1 'écart /tT par le calcul arithmétique de : AT = T-T n' Bien entendu, 1 'invention n'est pas limitée au mode de réalisation qui vient d'être décrit et représenté, on pourra y apporter de nombreuses modifications de détails sans sortir, pour cela, du cadre de l'invention. REVENDICATIONS I - Jauge d'épaisseur-indirecte a radiations pour mesurer l'épaisseur d'une matiere qui utilise un certain nombre d'étalons mobiles ayant des épaisseurs prédéterminées, caractérisée en ce quelle comprend une source de radiations pénétrantes , des moyens pour détecter les radiations de cette source et pour produire en réponse des signaux de sortie V qui sont fonction du niveau des radiations reçues, où ledit niveau est fonction des caractéristiques d'absorption des radiations et de l'épaisseur de la matière interposée sur le trajet desdites radiations, entre ladite source et lesdits moyens de détection, des moyens pour interposer sélectivement des étalons et la matière devant être mesurée sur la trajectoire desdites radiations, une mémoire pour conserver des paramètres définissant plusieurs courbes d'étalonnage qui correspondent à différentes gammes d'épaisseurs se rapportant a des signaux de sortie correspondants desdits moyens de détection quand lesdits étalons, ayant le point correspondant d'épaisseur d'é- talonnage sont placés sur le trajet des radiations ou lesdits points d'étalonnage sont choisis de façon à correspondre approximativement à une série géométrique de valeur d'épaisseur couvrant toutes lesdites gammes, des moyens pourregler l'épaisseur nominale et le coefficient de compensation de composition de la matiere devant être mésurée qui est à l'intérieur de l'une desdites gammes, lesdits moyens produisant un signal de sortie indiquant ladite épaisseur nominale et ledit coefficient de compensation et les moyens pour traiter les signaux de sortie desdits moyens de detection et lesdits moyens de réglage quand la matière devant être mesurée est interposée sur le trajet desdites radiations et qu'une courbe d'étalonnage est conservée dans ladite mémoire qui représente la gamme appropriee desdites gammes d'épaisseurs afin de déterminer l'épaisseur de ladite matière. 2" - Jauge d'épaisseur selon la revendication I, caractérisée en ce que les courbes d'étalonnage conserves dans ladite mémoire sont définies par, au moins, trois points d'eta talonnage. 3 - Jauge d'épaisseur selon la revendication I, caractérisée en ce que la courbe d'étalonnage utilisée dans lesdits moyens de traitement est sélectionnée en se basant sur l'épaisseur de la matière que l'on veut mesurer comprise dans a gamme d'épaisseurs qui correspond à ladite courbe d'étalonnage. 4" jauge d'épaisseur selon la revendication I caractérisée en ce que lesdites courbes d'étalonnage conservees dans ladite mémoire se recouvrent. 5 - Jauge d'épaisseur selon la revendication I, caractérisée en ce que le.sdites courbes sont des courbes quadratiques. 6 - Jauge d'épaisseur selon la revendication 5, caractérisée en ce que lesdites courbes quadratiques sont des courbes paraboliques. 7" - Jauge d'épaisseur selon la revendication I caractérisée en ce que lesdits signaux de sortie desdits moyens de detection sont élaborés par lesdites moyens de traitement de façon à produire des fonctions logarithmiques desdits signaux de sortie. 8" - Jauge d'épaisseur selon la revendication 7, caractérisée en ce que lesdites courbes d'étalonnage sont basées sur la relation entre ladite fonction logarithmique desdits signaux de sortie et lesdits points d'étalonnage. 9" - Jauge d'épaisseur selon la revendication I, caractérisée en ce que lesdits moyens de détection comprennent, en outre, un convertisseur analogique numerique connecte auxdits moyens de traitement. IO" - Jauge d'épaisseur selon la revendication I, caractérisée en ce qu'elle comprend un indicateur d'épaisseur qui en reponse aux signaux de sortie desdits moyens de traitement fournit une indication de ladite épaisseur. - - Jauge d'épaisseur selon la revendication I, caractérisée en ce que lesdits moyens de traitement compensent la dérive desdites courbes d'étalonnage. 120 - Jauge d'épaisseur selon la revendication I, caractérisée en ce que lesdits étalons mobiles sont choisis avec des épaisseurs telles qu'il n'en faut pas plus de trois pour n'importe quel point d'étalonnage particulier. I3" - Procédé pour mesurer l'epaisseur d'une ma tière avec une jauge d'épaisseur indirecte à radiations qui comprend une source de radiations pénétrantes, des moyens pour détecter les radiations émises par cette source et pour produire un signal de Sortie qui est fonction du niveau des radiations reçues, ledit niveau étant fonction des caractéristiques d'absorption et de l'épaisseur de la matière interposée sur le trajet desdites radiations entre ladite source et le détecteur, des moyens pour interposer sélectivement des étalons et la matière devant être mesurée sur le trajet desdites radiations, une mémoire pour conserver des données, des moyens pour traiter ledit signal de sortie et lesdites données et un magasin contenant un certain nombre d'étalons mobiles ayant des épaisseurs prédéterminées qui consiste à interposer des étalons ayant des épaisseurs prédéterminées sur la trajectoire desdites radiations, a préétalonner la jauge d'épaisseur pour une certaine matière afin d'obtenir un certain nombre de courbes de préétalonnage dont chacune correspond à une gamme d'épaisseurs, lesdites courbes se rapportant à des points d'étalonnage sélec tionnés pour représenter approximativement une série géométrique de valeurs d'épaisseur couvrant toutes les gammes auxquelles se rapportent les signaux de sortie correspondant desdits moyens de détection, chacune desdites courbes étant définie par, au moins, un groupe de trois points de précalibrage et par les signaux de sortie correspondants, à conserver lesdits courbes d'étalonnage dans ladite mémoire, à produire des signaux représentatifs de l'épaisseur nominale et du coefficient de compensation de composition ou d'alliage de la matière devant être mesurée; à sélectionner la courbe d'étalonnage correspondant à unegamme d'épaisseurs particulieres en se basant sur 1 'épais- seur de la matière devant être mesurée appartenant a ladite gamme, et à retirer les étalons et à interposer la matiere devant étre mesurée sur la trajectoire des radiations, entre ladite source et lesdits moyens de détection. I4 - Procédé selon la revendication I3, caractérisé en ce qu'on traite le signal de sortie desdits moyens de détection avec ladite courbe de prëetalonnage afin de déterminer l'épaisseur apparente de ladite matière. 15" - Procédé selon la revendication I3, caractérisé en ce qu'on compense la dérive de la courbe d'étalonnage de la gamme sélectionnée et on traite le signal de sortie desdits moyens de détection avec ladite courbe d'étalonnage afin de déterminer l'épaisseur apparente de ladite matière. I6" - Procédé selon la revendication I4 ou I5 carac térisé en ce que l'étape de traitement consiste à calculer l'épaisseur véritable T à partir de l'épaisseur apparente Tcd selon la relation suivante où N est le coefficient de compensation de composition correspondant à la matiere en train d'être mesurée. - - Procedé selon la revendication I4, I5 ou I6 caractérisé en ce que l'étape de traitement consiste, en outre, à calculer l'écart par rapport à une valeur nominale sXlection- née de l'épaisseur selon la relation suivante = = T = T - TN ou AT est l'écart de la valeur nominale, T est l'épaisseur apparente de la matière en train d'etre mesurée et T n est la valeur nominale d'épaisseur sélectionnée. I8" - Procédé selon la revendication I3, I4 ou I5 caractérisé en ce que les gammes d'épaisseurs des courbes de préétalonnage se recouvrent. I9" - Procédé selon la revendication I3, I4 ou I5 caractérisé e n ce que chacune desdites courbes de préétalonnage se compose de trois courbes quadratiques qui correspondent à des parties de ladite gamme d'épaisseurs.