FR 2473718 A1 19810717 FR 8000663 A 19800109 La présente invention concerne les instruments du type "dilatomètre", permettant de mesurer et d'enregistrer l'élongation d'une dimension en fonction d'un paramètre évolutif (température, humidité, réaction chimique ....) Dans les dispositifs connus de ce genre, la mesure détermine uniquement la variation d'une dimension en fonction du paramètre choisi. Ces dispositifs présentent les inconvénients de ne fournir qu'une seule donnée aucun d'entre eux n'étant couplé à une autre technique connue c 'est le cas par exemple en ATD-ATG. Le dispositif suivant l'invention permet d'éviter ces inconvénients. Dans celui-ci en effet il est possible pour un même échantillon de mesurer simultanément la variation d'une dimension et celle d la conductivité électrique. Le dispositif objet de l'invention comporte un dilatomètre de type conventionnel auquel est couplé un système de mesure de la conductivité électrique. Cette mesure peut être faite soit par un dispositif à deux électrodes, soit par la méthode des pointes. Le passage d'une méthode à l'autre se fait par simple court-circuit des pointes au niveau de l'échantillon, par l'introduction d'un petit disque de platine, soit au niveau de la sortie électrique de l'appareil - Selon une première variante l'appareil donne la mesure des élongations d'un matériau donné, par rapport à celle du quartz = = o,55lo6 0C1).Dans cette variante les électrodes de mesure M et M' de la conductivité qui sont en platine (11 = 9 10-6 OC'1) pénètrent dans un creux des enclumes du système de mesure micrométrique (voir figure ) ; elles n'interviennent donc pas dans la mesure des élongations. - Selon une deuxieme variante, l'appareil donne directement la valeur absolue de l'élongation par un système différentiel. Dans ce cas les électrodes de mesure de la conductivité électrique peuvent être fixes à condition de figurer aussi dans la référence. Le dessin annexé illustre à type d'exemple non limitatif un mode de réalisation du dispositif conforme à la présente invention. Tel qu'il est représenté, le dispostif comporte un micromètre p dont le rôle est de mettre le palpeur du capteur C en contact avec l'échantillon E par l'intermédiaire de la tige D. La colonne F contenant l'échantillon et la tige D est représentée séparément de l'appareil. Ce dispositif est conforme à la première variante. L'électrode de platine M' pénètre dans l'enclume arrière G du dispositif ; le ressort R' dont la force est inférieure à celle du capteur C, maintient le contact. Le système de mesures par pointes S est placé dans la tige D. I1 est constitué par une tige d'alumine standard à quatre trous pour thermocouples, les fils de platine logés dans les trous forment les électrodes. Ce système se déplace dans le tige D et s'appuie sur l'échantillon grâce à un ressort R de force inférieure à celle du capteur C. L'échantillon E est donc pris en sandwich entre les électrodes qui s'effacent d'une part dans l'enclume arrière G, d'autre part dans le tube D qui forme l'enclume avant du système de mesure micrométrique. Les fils de sortie électrique Y du système sont suffisamment fins et souples pour ne pas gêner le mouvement de la tige D. Pour passer de la méthode de mesures électriques par pointes à la méthode classique, il suffit d'introduire au niveau de l'échantillon une petite coupelle de platine court-circuitant les quatre pointes (cette coupelle a un diamètre égal au diamètre intérieur de la tige D). I1 est possible aussi de se contenter de court-circuiter les fils de sortie du système à pointes, celui-ci travaillant alors comme une seule électrode. Le dispositif objet de l'invention peut être utilisé dans tous les cas où on veut étudier l'évolution des dimensions d'un matériau en fonction d'un facteur quelconque et celle des propriétés électriques en fonction du même facteur. Par leur sensibilité, les mesures électriques peuvent mettre en évidence des changements d'état difficiles à mettre en évidence par d'autres techniques. REVENDICATIONS 1. Dilatomètre-conductimètre permettant de mesurer simultanement l'évolution d'une dimension et de la conductivité électrique d'un échantillon ; appareil caractérisé par le fait de contenir des électrodes de mesures électriques s'effaçant dans les enclumes du dispositif de mesures micrométriques. 2. Dilatomètre-conductimètre permettant la mesure des résistances électriques soit par la méthode conventionnelle, soit par la méthode des pointes, caractérisé par l'utilisation d'électrodes fixées sur un système différentiel qui en élimine les effets d'élongation.