FR 2455271 A1 19801121 FR 7910321 A 19790424 L'invention se rapporte à un procédé de mesure du taux de fuite d'une enceinte sensiblement étanche contenant un gaz sous pression, par détermination de l'évolution de l'indice de réfraction du gaz dans l'enceinte sur un intervalle de temps choisi. L'invention se rapporte également à un dispositif de mise en oeuvre du procédé. On entend par taux de fuite d'une enceinte prévue pour être étanche, le débit massique de gaz à travers les fuites résiduelles ou accidentelles sous la différence de pression régnant entre les surfaces interne et externe de l'enceinte, débit rapporté à la masse de gaz dans l'enceinte. L'invention vise plus particulièrement la vérification d'étanchéité d'enceintes de confinement de centrales nucléaires à eau bouillante ou à eau pressurisée, ces enceintes étant prévues pour retenir des gaz contaminés en cas d'une rupture de canalisation dans le circuit primaire. Pour préciser le degré de sécurité demandé aux installations, on définit les conditions qui s'éta bliraient dans l'enceinte à la suite d'une rupture de canalisation, dites conditions de l'accident de référence, ou conditions A.D.R., et on en déduit le taux de fuite maximal acceptable pour que la teneur en contaminants du milieu extérieur à l'enceinte ne dépasse pas les valeurs admises. De façon typique la pression relative A.D.R. est d'environ 5 bars, et le taux de fuite maximal exprimé en pourcent de masse par jour est de l'ordre de 0,1 à 0,5 %. Les procédés usuels de masse de taux de fuite d'enceintes étanches au vide, qui consistent à mesurer la différence de pression de part et d'autre d'un étranglement calibré dans un circuit de mise sous vide de l'enceinte, présenteraient des difficultés considérables en raison des volumes d'enceintes à envisager et de l'importance des moyens de pompage à mettre en oeuvre. En outre l'enceinte mise sous vide présente des contraintes de sens et d'intensité différentes de la même enceinte mise sous pression, de sorte que les fuites résultantes peuvent n'hêtre pas eomparables. Enfin des enceintes dont les parois 04t un grand développement présentent des effets de dégazage qui peuvent masquer des fuites réelles. D'un autre coté, lorsque l'enceinte est sous pression relative de plusieurs bars par rapport à l'atmosphère, il n'est pas possible de transposer les procédés usuels précités, car les variations aléatoires de température dans l'enceinte peuvent provoquer des variations de pression d'amplitude très supérieure aux variations de pression dues aux fuites. Seules les fuites massiques sont significatives. Il est hors de question de procéder à des pesées différentielles de l'enceinte et, en l'absence de possibilité de localiser les fuites, et donc de recueillir le gaz qui a fui, la détermination directe de la quantité de gaz qui s'échappe de l'enceinte n'est pas envisageable. L'indice de réfraction d'un gaz, au moins pour des longueurs d'ondes lumineuses éloignées de bandes d'absorption spécifiques, varie très sensiblement avec sa masse spécifique, pour des gammes de température et de pression où le gaz se comporte sensiblement comme un gaz parfait. On conçoit que dans ces conditions la variation d'indice du gaz est une bonne image de la variation de masse du gaz confiné dans une enceinte. Toutefois la détermination du taux de fuite dans une enceinte sous pression de gaz parait se heurter à des difficultés insurmontables. En premier lieu l'indice d'un gaz, tel que l'air, même sous pression de quelques bars, est très peu différent de l'indice ce du.vide, de l'ordre du millième, de sorte que la variation d'indice correspondant au taux de fuite maximal admissible se situe entre le cent millième et le millionième, ce qui implique des résolutions de mesure notablement plus fines. De plus, dans une enceinte degrandesdimensions, la masse spécifique locale est sujette à variations, notamment en raison d'inégalités de température.Si l'on mesure l'indice dans une région localisée de l'en- ceinte pour satisfaire aux conditions de précision requises, les résultats ne sont pas significatifs, car la variation aléatoire de masse spécifique dans la région de mesure peut être très supérieure à la variation de masse spécifique corrélée au taux de fuite. Si par contre on mesure l'indice moyen dans l'enceinte par détermination du retard de marche d'un rayon lumineux sur un trajet tel que l'influence de pratiquement toutes les régions de l'enceinte soit prise en compte, il parait impossible de stabiliser la longueur de ce trajet, ou longueur de base, avec la précision nécessaire.En effet, bien que l'indice moyen soit représentatif de la masse spécifique moyenne du gaz traversé le long du trajet, en raison de la relation de linéarité entre indice et masse spécifique, l'indice moyen n'est représentatif de la masse spécifique moyenne dans l'enceinte que si le trajet est suffisam ment étendu pour intéresser toutes les régions de l'enceinte. Pour des enceintes de confinement le trajet peut atteindre plusieurs centaines de mètres. La mesure des variations d'indices de gaz est commodément faite à l'aide d'un interféromètre de Michelson ; on forme en aval d'un point de réunion un réseau de franges d'interférence par superposition colinéaire de deux faisceaux secondaires résultant de la division d'un faisceau primaire de lumière cohérente, un des faisceaux secondaires traversant le gaz sur une longueur de base bien précise et stable, et l'on compte numériquement le nombre de franges qui défilent en un point de mesure en réponse à la variation d'indice du gaz. L'invention a pour objet un procédé de mesure du taux de fuite d'une enceinte contenant un gaz sous pression, par détermination de la variation d'indice du gaz en interférométrie de Michelson, où l'on compense les variations de la longueur de base. A ces effets l'invention propose un procédé de mesure du taux de fuite d'une enceinte sensiblement étanche contenant un gaz sous pression, par détermination de l'évolfltion sur un intervalle de temps choisi de l'indice de réfraction du gaz dans l'enceinte, suivant lequel on forme un réseau de franges d'interférence en aval d'un point de réunion de deux faisceaux secondaires résultant de la division d'un faisceau primaire de lumière cohérente, les faisceaux secondaires réunis étant colinéaires, un des faisceaux secondaires traversant sur une longueur de base le gaz sous pression en amont du point de réunion, et on compte numériquement en un point de mesure en aval du point de réunion le nombre de franges passant par le point de mesure dans l'intervalle de temps choisi en raison de la différence de marche optique du faisceau secondaire sur la longueur de base en corrélation avec la variation d'indice, procédé compensant les variationa de marche optique liées aux variations de longueur de base, caractérisé en ce que, le faisceau primaire comportant deux composantes de longueurs d'onde distinctes, on dédouble le réseau de frange en sous-réseaux selon lesdites longueurs d'onde, on compte séparément le nombre de franges passant à un point de mesure dans chacun des sous-réseaux, et on combine les résultats de comptage en sorte de faire apparaître une différence invariante par rapport à la longueur de base. Comme les différences de marche dues respectivement à la variation d'indice et à la variation de longueur de base sont très faibles devant la différence de marche sur la longueur debase, les termes du second ordre sont négligeables devant les termes du premier ordre. Aussi le comptage relatif à chaque longueur d'onde est la somme de deux termes, l'un proportionnel à la différence d'indice entre le début et la fin du comptage, et l'autre proportionnel à la différence de marche résultant de la variation de longueur de base dans la meme période.Or cette dif férence de marche, comptée en longueur d'onde, est le quotient de la différence de longueur de base par la longueur d'onde dans le gaz sous pression, celle-ci pouvant être admise comme invariante au premier ordre0 En toute rigueur une variation de longueur d'onde introduit un troisième terme au comptage, proportionnel à la variation de longueur d'onde. Maia Si les variations des deux longueurs d'onde utilisées sont corrélées et faibles, les troisièmes termes des deux comptages se compensent au premier ordre. Ainsi, en effectuant le quotient de chaque résultat de comptage par la longueur d'onde respective dans le gaz sous pression, puis la différence des quotients obtenus, on obtient un terme invariant par rapport aux variations de longueur de base et representatif de la variation d'indice. Sans précautions spéciales les comptages enregistrent sans distinction les défilements quel que soit leur sens. Bien que les sens de défilement soient corrélés aux deux points de mesure, des fluctuations de la longueur de base conduisent à des comptages de nombres très élevés, et les bruits de quantifications risquent de masquer le signal différentiel utile.Aussi préfère-t-on éviter les ambiguités sur le sens de défilement en diffractant le second faisceau secondaire en amont du point de réunion avec un effet Doppler transversal en sorte de former un système de diffraction avec des composantes d'ordres successifs divergeant symétriquement de part et d'autre d'une c omposante centrale, chaque composante décalée en longueur d'onde suivant son ordre, on sélectionne une composante de premier ordre comme second faisceau au point de réunion, on réunit la composante symétrique de premier ordre avec la composante centrale en un troisième point de mesure, on compte à partir d'un instant origine le nombre de franges défilant au troisième point de mesure, et on retranche ce nombre de chacun des nombres comptés aux points de mesure des sous-réseaux en partant du même instant origine avant de combiner ces résultats de comptage. Les deux sous-réseaux sont affectés d'un défilement systématique correspondant au décalage Doppler, auquel vient s'ajouter ou retrancher le défilement du aux différences de marche sur la longueur de base, sans que le défilement combiné change de sens. Le battement de la composante centrale et la-composante de premier ordre symétrique du système de diffraction détermine exactement le nombre correspondant au défilement par décalage Doppler, de sorte que la différence des comptages à chaque point de me sur re des sous-réseaux et du comptage au troisième point de mesure fait apparaitre le comptage correspondant aux différences de marche, sans ambiguité sur le sens de défilement. Les dispositifs de mise en oeuvre de procédé utilisent un laser émettant sur deux longueurs d'onde simultanément, et des détecteurs photoélectriques associés à des compteurs numériques pour déterminer le nombre de franges qui défilent. On dispose devant les détecteurs photoélectriques aux premier et deuxième points de mesure des filtres monochromateurs interférentiels capables de laisser passer une des longueurs d'onde émise par le laser en arrêtant l'autre. Pour diffracter le second faisceau secondaire avec un effet Doppler transversal, on peut utiliser un-réseau disposé au bord d'un disque tournant, avec des traits radiaux. Les caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront d'ailleurs de la description qui va suivre à titre d'exemple, en référence aux dessinsannesés dans lesquels t la figure 1 représente schématiquement un dispositif selon l'invention ; la figure 2 représente une variante de l'invention incluant un réseau de diffraction tournant ; la figure 3 est un schéma fonctionnel de moyens de calcul associés au dispositif de l'invention. Selon la forme de réalisation choisie et représentée figure 1, le dispositif de mesure de taux de fuite de l'enceinte E comporte un laser 1, à argon, capable d'émettre sur une multiplicité de longueurs d'ondes dont on privilégie un couple, 476,5 et 514,5 nanomètres par réglage convenable de la cavité résonante sur des modes résonants respectifs. Le faisceau primaire 2 est dirigé sur une lame semi-réfléchissante 3, qui divise au point 3a le faisceau primaire 2 en deux faisceaux secondaires 4 et 5, le faisceau 4 étant transmis et le faisceau 5 réfléchi. Le faisceau 4 est dirigé à travers un hublot 6 à qualité optique, fixé sur la paroi 7 de l'enceinte de confinement E dont il a' agit de mesurer le taux de fuite, et qui contient de l'air sous une pression correspondant à celle qui résulterait de l't'Accident de Référence", ou pression A.D.R. Entre son émergence 4a dans l'enceinte E et son incidence de retour 4b sur le hublot 6, le faisceau 4 parcourt un trajet de longueur L, en ligne brisée par suite de réflexions sur des miroirs. Ceux-ci sont disposés dans l'enceinte pour que le faisceau 4 traverse toutes les zones de l'enceinte, la longueur de trajet dans chaque zone étant approximativement proportionnelle au volume de la zone. Le faisceau 4' émergeant du hublot 6 en prolongement du faisceau 4 frappant le hublot en 4b tombe sur une lame semi-réfléchissante 8, au point 8a sur le trajet du second faisceau secondaire 5. La lame 8 est orientée de telle sorte que la partie transmise du faisceau 5 soit colinéaire avec la partie réfléchie du faisceau 4' dans le faisceau 9. Par raison de symétrie la partie réfléchie du faisceau 5 est colinéaire avec la partie transmise du faisceau 4' dans le faisceau 10. Du fait de la cohérence temporelle du faisceau primaire 4, les faisceaux 4' et 5 sont en cohérence spatiale pour chacune des longueurs d'onde, de sorte que les faisceaux 9 et 10 forment l'un et l'autre un réseau de franges d'interférence.Sur le trajet le faisceau 9 traverse un filtre monochromateur interférentiel 11 avec une bande passante étroite autour de l'une des longueurs d'ondes, par exemple 476,5 nm, puis tombe sur un détecteur photoélectrique 11, dont les signaux de sortie, convenablement amplifiés et mis en forme sont appliqués à un compteur numérique 15. De mimez sur le trajet du faisceau 10 est intercalé un filtre monochromateur interférentiel 12 dont la bande passante étroite est centrée sur l'autre longueur d'onde, 514,5 nm selon l'exemple. Derrière le filtre 12 on a placé un détecteur photoélectrique 14 associé à un compteur 16. Les s orties des compteurs 15 et 16 sont appliquées aux entrées d'un calculateur 17. Si l'on appelle n l'indice du gaz, À la longueur d'onde dans le vide pour la radiation considérée, L la longueur de trajet dans le gaz sous pression, T le taux de fuite massique, dn la variation d'indice correspondante, et N le retard de marche compté en longueurs d'onde on a :: en différenciant la relation (1), en négligeant les infiniment petits du second ordre, et en admettant ltinvariance de la longueur d'onde, et en remplaçant dn par sa valeur tirée de la relation (2) dN est le résultat de comptage que l'on obtient sur le compteur 15 pour la première longueur d'onde, et sur le compteur 16 pour la seconde longueur d'onde. I1 est clair que chaque comptage en soi ne peut donner d'indication significative du taux de fuite, en raison du terme qui peut être nettement plus important que le terme La relation (4) peut s'écrire s Si lton affecte dE, A et n des indices 1 et 2 pour les première et seconde longueurs d'onde respectivement la relation (5) s'écrit s en retranchant la relation (5-1) de la relation (5-2)on obtient s dans lesquelles dl est éliminée On remarquera que sont précisément les longueurs d'onde dans le gaz sous pression pour des rayonnements dont les longueurs d'onde dans le vide sont et et A2.Ainsi pour obtenir un résultat de calcul représentatif du taux de fuite il faut multiplier les résultats de comptage respectivement par la longueur d'onde correspondante dans le gaz sous pression. Comme, avec la disposition décrite en référence à la figure 1, les détecteurs photoélectriques sont sensibles au défilement des franges indépendamment du sens de défilement de celles-ci, ce sens étant déterminé principalement par le sens des variations dl > les comptages seront effectués en prenant en compte Ilne variation de longueur qui est la somme des valeurs absolues des amplitudes de variations sur l'intervalle de temps considéré. les termes fonctions de dl prennent des valeurs très grandes devant les termes fonctions de dn, et les bruits de quantification dus au comptage numérique peuvent masquer les termes significatifs. La disposition de la figure 2 permet d'éliminer les .ambiguî- tés de sens de défilement et donc d'améliorer la finesse des mesure res. la disposition du laser 1, des lames semi-reléchissantes 3 et 8, et le trajet du faisceau secondaire 4' ne sont pas altérés, ainsi que les détecteurs photoélectriques 13 et 14 avec leur$ filtres monochromateurs 11 et 12 qui reçolvent les faisceaux 9 -et 10.Sur le trajet du second faisceau secondaire 5 -Dn a intercalé un réseau de diffraction 18 disposé sur une plage Seripherique d'un disque tournant entraîné à vitesse régulière par un moteur 19. les traits du réseau sont dirigés radialement le réseau 18 forme un système de diffraction avec des composantes divergeant symétriquement suivant leur ordre de diffraction de part et d'autre d'une composante centrale Sa. Un diaphragme 20 laisse passer, outre la composante centrale, les deux composantes symétriques d'ordre +1 et -1, respectivement 5b et 5c. On sait que les composantes de diffraction d'un réseau tournant 18 sont affectées d'un décalage Doppler de fréquence produit de l'ordre de la composante par la fréquence de défilement des traits du réseau 18 sur le trajet du faisceau 5.La composante d'ordre +1 5b st dirigée sur le point de réunion 8a formé par la lame semi-réfléchissante 8, de sorte que les défilements de franges sur les détecteurs photoélectriques 13 et 14 se produisent à la fréquence de décalage Doppler, augmentée ou diminuée des vitesses de décalage de marche sur la longueur de base L. On a compris que le décalage Doppler choisi est tel qu'il n'y ait jamais inversion de sens de dèfile- ment des franges0 La composante centrale 5a et la composante d'ordre -1 5c tombent sur un miroir courbe 21 qui les réunit à l'entrée 22a d'un troisième détecteurphotoélectrique 22.A ce point de mesure 22a les composantes 5a et 5c battent à une fréquence qui est exactement la fréquence de décalage Dopplere Les compteurs 15 et 16 possèdent respectivement des entrées de comptage 15a, 16a, des entrées de décomptage 15b, 16b, et des entrées de remise à zéro 15c, 16c. Les entrées de comptage 15a, 16a sont reliées respectivement aux détecteurs 13 et 14, tandis que les entrées de décomp;- tage 15b, 16b sont reliées en commun au détecteur 22. Un signal de remise à zéro sur la ligne 24, reliée aux entrées de remise à zéro 15c et 16c, marque le début d'une mesure.Il est clair qu'ensuite les contenus des compteurs 15 et 16 représentent, avec leur signe, les variations de retard de marche sur lalongueur de base depuis le début de mesure, indépendamment de leur sens de variation, puisque les compteurs 15 et 16 retranchent le nombre exact de franges défilantes, déterminé par le détecteur 22, que le décalage Doppler de la composante 5b avait ajouté aux défile ment s de franges sur les détecteurs 13 et 14. Le calculateur 17 schématisé figure 3 comprend essentiellement deux opérateurs de multiplication 30 et 31, deux mémoires 32 et 33, et un registre soustracteur 35. Les opérateurs de multiplication 30 et 31 comportent respectivement des entrées de multiplicande 30a et 31a, reliées chacune à l'une des sorties de résultat de comptage, soit des compteurs 15 et 16 de la figure 1, soit des soustracteurs 25 et 26 de la figure 2, des entrées de multiplicateur 30b et 31k reliées respectivement aux sorties de lecture mémoires 32 et 33, et des sorties de produits 30c et 31c reliées respectivement aux entrées additive et soustractive du registre 35. Les mémoires 32 et 33 sont chargées avec des signaux numériques représentant les coefficients de dN2 et dN1 dans la relation (7) ci-dessus. A un rythme d'horloge sur la connexion de lecture 34 les mémoires 32 et 33 envoient sur les opérateurs de multiplication 30 et 31 les signaux numériques représentatifs des coefficients de la relation (7), tandis que les résultats de comptage se présentent sur les entrées de multiplicande 30a et 31a, de sorte qu'apparaissent sur les sorties 30c et 31c les produits qui viennent se retrancher dans le registre 35, qui accumule les valeurs élémentaires de taux de fuite calculées pour chaque période d'horloge. Le contenu du registre 35, que l'on fera apparaître sur la sortie 36 à la fin de l'intervalle de temps choisi, donnera le taux de fuite mesuré rapporté à cet intervalle de temps. On remarquera que les deux longueurs d'onde utilisées, étant produites par le même laser à cavité, ne peuvent évoluer sous l'influence de petites variations de la cavité, que proportion- nellement l'une à l'autre, de sorte que les variations de longueur d'onde n'introduisent pas d'erreurs du premier ordre sur les résultats de comptage0 Par ailleurs un décalage provoqué des longueurs d'onde, sur un intervalle de temps tel que ni la longueur de base, ni la pression du gaz ne subissent des variations du premier ordre, fournissent un moyen de mesurer la longueur de base, comme il apparaitrait d'un calcul analogue au calcul précédent. On ne prend en compte qu'une longueur d'onde.La variation de longueur d'onde peut s'obtenir en montant un des miroirs de cavité sur un support piézoélectrique dont on fera varier la tension d'alimentation. Une variation conjointe de la température de four du résonateur de Pérot Fabry, placé dans la cavité pour sélectionner les mode longitudinaux voulus, de façon classique, permet de maintenir la sélection de mode au cours de la variation de longueur d'onde. Pour fixer les ordres de grandeur, on indiquera que pour les longueurs d'onde de l'Argon 476,5 et 514,5 nm les indices dans l'air sous 5 bars de pression et à 250C sont de 1,001355 et 1,001347. Avec une longueur de base de 500 m, soit environ 10q lon gueurs d'ondes, les comptages alY relatifs à un taux de fuite de 0,1 fio s'établissent aux environs de 1350, tandis qu'une variation e de l'ordre de 10 5 sur la longueur de base (11100 de mi par mètre) induit un comptage d'environ 10 000. Par ailleurs un réseau de 50 traits au millimètre donne une divergence des composantes du premier ordre de l'ordre de 0,025 (1,40) pour les longueurs d'onde considérée.Ce réseau, disposé sur une plage périphérique de diamètre d'environ 80 mm sur un disque tournant à 10 tours/ seconde, induit un décalage Doppler de 125 kHz par rapport à la composante centrale. I1 est clair qu'aucune ambiguité de sens de comptage n'intervient si la dérive relative de longueur de base n'excède pas 10 5 par seconde. Bien entendu l'invention n'est pas limitée aux exemples décrits, mais en embrasse toutes les variantes d'exécution. Ainsi notamment on peut disposer tout llensemble optique depuis le laser Jusqu'aux détecteurs photoélectriques, à l'intérieur de 11 enceinte de confinement ou d'une enceinte adventice fixée sur un regard de l'enceinte de confinement, les connexions électriques nécessaires aux liaisons extérieures passant par des passages étanches. On évite ainsi l'utilisation d'un hublot étanche à qualité optique coûteux et fragile. Par ailleurs le calculateur de la figure 3 pourrait être remplacé par un microprocesseur associé à des mémoires, et programmé de façon convenable pour effectuer les calculs nécessaires. La réalisation et la programmation du calculateur s ont en dehors du cadre de la présente invention, et apparaitront d'ailleurs clairement à un technicien averti en informatique0 REVENDICATIONS 1. Procédé de mesure du taux de fuite d'une enceinte sensiblement étanche contenant un gaz sous pression, par détermination de l'évolution sur un intervalle de temps choisi de l'indice de réfraction du gaz dans l'enceinte, suivant lequel on forme un réseau de franges d'interférence en aval d'un point de réunion de deux faisceaux secondaires résultant de la division d'un faisceau primaire de lumière cohérente, les faisceaux secondaires réunis étant colinéaires, un des faisceaux secondaires traversant sur une longueur de base le gaz sous pression en amont du point de réunion, et on compte numériquement en un point de mesure en aval du point de réunion le nombre de franges passant par le point de mesure dans l'intervalle de temps choisi en raison de la différence de marche optique du faisceau secondaire sur la longueur de base en corrélation avec la variation d'indice, procédé compensant les variations de marche optique liées aux variations de longueur de base, caractérisé en ce que, le faisceau primaire comportant deux composantes de longueurs d'onde distinctes, on dédouble le réseau frange en sous-réseaux selon lesdites longueurs d'onde, on compte séparément le nombre de franges passant à un point de mesure dans chacun des sous-réseaux, et on combine les résultats de comptage en sorte de faire apparaître une différence invariante par rapport à la longueur de base. 2. Procédé suivant la revendication 1, caractérisé en ce qu'on élabore le produit de chacun des résultats de comptage par un facteur proportionnel à la longueur d'onde correspondante dans le gaz, et on détermine la différence des produits. 3. Procédé suivant la revendication 1 ou la revendication 2, où l'on élimine en outre des perturbations dues à des variations aléatoires de la longueur de base, caractérisé en ce que l'on diffracte le second faisceau secondaire en amont du point de réunion avec un effet Doppler transversal en sorte de former un système de diffraction avec des composantes d'ordres successifs divergeant symétriquement de sart et d'autre d'une composante centrale, chaque composante décalée en longueur d'onde suivant son ordre, on sélectionne une composante de premier ordre comme second faisceau au point de réunion, on réunit la composante symétrique de premier ordre avec la composante centrale en un troisième point de mesure, on compte à partir dlun instant origi ne le nombre de franges défilant au troisième point de mesure, et on retranche ce nombre de chacun des nombres comptés aux points de mesure des sous-réseaux en partant du même instant origine avant de combiner ces résultats de comptage. 4. Dispositif de mesure du taux de fuite d'une enceinte sensiblement étanche contenant un gaz sous pression par détermination de l'évolution, sur un intervalle de temps choisi, de l'indice de réfraction du gaz dans l'enceinte, comportant un laser émettant un faisceau primaire de lumière cohérente, un moyen de séparation sur le trajet du faisceau primaire adapté à diviser le faisceau primaire en deux faisceaux secondaires divergeant l'un de l'autre, des moyens de guidage optique définissant un trajet optique sur une longueur de base dans l'enceinte entre une face d'entrée et une face de sortie pour un premier faisceau secondaire, moyens de guidage réglés en sorte que le premier faisceau secondaire intersecte, au-delà de la face de sortie, le second faisceau secondaire en un point de croisement, un moyen de réunion disposé au point de croisement et réglé en sorte que les deux faisceaux secondaires soient colinéaires après le point de croise-. ment, et un détecteur photoélectrique associé à un moyen numérique de comptage recevant les deux faisceaux colinéaires, dispositif capable de compenser des variations de longueur de base, caractérisé en ce qu'il comporte un laser excité sur deux longueurs d'onde et émettant un faisceau primaire avec deux composantes de longueurs d'onde distincte, un moyen de dédoublement disposé sur le trajet des faisceaux secondaires colinéaires et adapté à définir deux directions d'émersion divergeantes, deux détecteurs photoélectriques associés à des moyens de comptage numérique, chacun disposé face à l'une des directions d'émersion et équipé d'un moyen monochromateur, chaque moyen monochromateur réglé sur une distincte des deux longueurs d'onde de composantes de faisceau primaire, et des moyens de calcul reliés aux deux moyens de comptage et adaptés à extraire un résultat différentiel indépendant des variations de longueur de base. 5. Dispositif selon la revendication 4, caractérisé en ce qutil comporte une première lame semi-réfléchissante formant moyen de division, et une seconde lame semi-réfléchissante formant conjointement moyen de réunion et moyen de dédoublement. 6. Dispositif selon la revendication 4 ou la revendication 5, caractérisé en ce que les moyens de calcul comportent deux moyens de multiplication numérique, chacun associé à un moyen de mémorisation où est enregistré un facteur de multiplication, et rece liant de 1'un des moyens de comptage un signal numérique, et un moyen de soustraction relié en entrée aux sorties des deux moyens de multiplication. 7. Dispositif selon une quelconque des revendications 4 à 6, destiné en outre à éliminer l'influence de variations aléatoires de la longueur de base, caractérisé en ce qu'il comporte, intercalé sur le trajet du second faisceau secondaire entre moyens de séparation et de réunion un réseau radial tournant à vitesse réglée dans un plan perpendiculaire à la direction d'incidence du second faisceau, suivi d'un moyen de sélection adapté à diriger d'une part une composante de premier ordre de diffraction du réseau tournant sur le moyen de réunion, et d'autre part, ensembles, la composante de premier ordre symétrique et la composante centrale sur un troisième détecteur photoélectrique, les moyens de comptage associés aux premier et second détecteurs photoélectriques étant munis d'entrées de décomptage reliées en commun au troisième détecteur photoélectrique. 8. Dispositif selon la revendication 7, caractérisé en ce que lesdits moyens de comptage sont munis en outre d'entrées de remise à zéro reliées à une ligne de transmission de signal d'origine de mesure.