FR 2409506 A1 19790615 FR 7734423 A 19771116 On connatt un échantillon métallographique enrobé comprenant un échantillon métallique ou autres, à polir et à examiner, noyé dans un enrobage cylindrique en résine durcie en y apparaissant sur l'une des faces d'extrémités. On place cet enrobage dans l'un des trous cylindriques ménagés, d'une manière angulairement régulière, dans une platine formant porte-échantillons, qui comporte des moyens permettant de l'entralner en rotation autour de son axe, alors que les faces des enrobages, et donc les échantillons, sont en contact avec la face active, qui leur est sensiblement parallèle, d'un plateau de polissage. Il convient de positionner les échantillons métallographiques dans le porte-échantillons de maniere à respecter le mieux possible ce parallélisme, ce qui implique un positionnement précis en hauteur et en inclinaison par rapport à l'axe. A cet effet, on a prévu des vis de calage radiales serrant la face latérale de l'enrobage sur la paroi intérieure du trou qui, suivant un perfectionnement, est de section droite ovale, de manière à obtenir un coincement aussi précis que possible. Cette fixation par vis, même perfectionnée, est imprécise en raison du jeu de la vis et ne garantit aucun positionnement immuable en hauteur. On a déjà proposé de brider l'enrobage de maniere que l'épaulement ainsi créé vienne en appui sur la face inférieure du porte-échantillons et de retenir l'enrobage dans le trou à l'aide d'un joint sphérique. La révolution de l'enrobage n'est jamais parfaite. Si, en cours de polissage, pour examiner ltun des échantillons au microscope, on le retire du porteéchantillons, on ne peut plus le replacer dans le trou d'une manière angulairement semblable à la position qu'il avait auparavant.Lorsque le polissage reprend, c'est le plan de polissage tout entier qui est modifié, y compris pour les autres échantillons, ce qui exclut, en fait, la possibilité d'en sortir un en cours de polissage et oblige à mettre l'ensemble du porte-échantillons chargé sur la platine du microscopejqui est de faible dimention et qui n'est pas conçue pour résister à de telles charges, En outre, la fixation de l'enrobage dans le porte-échantillons s'effectue suivant une ligne périphérique qui ne permet pas d'éviter une oscillation par rapport au plan de polissage. L'invention pallie ces inconvénients par un échantillon enrobé et par un porte-échantillons,qui procurent un positionnement instantané et précis en hauteur et en inclinaison, par rapport à l'axe de rotation du porte-échantillons, sans aucune pièce de fixation rapportée, telle qu'un joint sphérique ou une vis, donc sans les difficultés et le temps de montage correspondants, tout en permettant de remettre un échantillon enrobé dans son trou exactement en la meme position angulaire et à la même hauteur. Dans le porte-échantillons suivant l'invention, les trous sont tronconiques et le tronçon de l'enrobage, adjacent à la face où apparaît l'échantillon, diverge tronconiquement vers ladite face. Il suffit d'engager l'enrobage tronconique dans le trou de même conicité pour qu'il soit positionné et de repérer la position angulaire relative par deux marques conjuguées en regard sur l'enrobage et sur le porte-échantillons, ou meme de prévoir des gorge et nervure conjuguées de positionnement. Pour assurer une bonne tenue de l'enrobage au cours du polissage et éviter notamment une torsion de celui-ci, la face de l'enrobage ne doit etre que peu en saillie de la platine. C'est pourquoi il importe que ce soit le tronçon, qui est adjacent à la face où apparaît l'échantillon et qui est le tron çon de positionnement dans le trou, qui soit tronconique, étant entendu qu'une partie de la portion en saillie pourrait ne pas être tronconique, C'est ainsi, en particulier, qu'il est avantageux d'arrondir de moulage le coin périphérique formé par ladite face d'extrémité et la face latérale de l'enrobage, afin d'éviter une usure prématurée du disque de polissage. Au dessin annexé, donné uniquement à titre d'exemple La figure 1 est une vue en perspective d'un échantillon enrobé suivant l'invention; La figure 2 est une vue en perspective d'un porte-échantillons suivant l'invention; La figure 3 est une vue de dessus du porteéchantillons; et La figure 4 est une vue en coupe du porteéchantillons chargé d'échantillons enrobés a polir. A la figure 1, un échantillon I métallique, à polir et à examiner, est noyé dans un enrobage 2 en résine polyépoxy, L'échantillon 1 apparaît sur la face 3 la plus grande de l'enrobage de forme tronconique. Une nervure 4 est ménagée le long d'une génératrice de l'enrobage 2 tronconique. Un repère 5 radial peut être également prévu sur une génératrice ou sur la face 6 opposée à la face 3. A la figure 2, le porte-échantillons est une platine 7 métallique percée de six trous 8 à 600 l'un de l'autre autour de l'axe 9 de rotation de la platine. Les trous 8 sont tronconiques de même conicité que celle des enrobages 2. La section droite de la face 3 est un peu supérieure à celle de la plus grande section droite d'un trou 8. Un repère 10, dans le plan de l'axe du trou 8, est tracé adjacent à ce trou sur la face supérieure et/ou sur la face latérale et/ou sur la face inférieure de la platine 7. A la figure 3, une gorge 11, conjuguée de la nervure 4, est ménagée dans la paroi- intérieure de chaque trou 8. A la figure 4, les enrobages 2 sont engagés par le bas dans les trous 8. L'arête 12 inférieure périphérique des enrobages 2 est arrondie de moulage. La face 3 des enrobages 2 est en contact avec un polissoir R. On fait tourner la platine 7. Le polissage s'effectue. On interrompt la rotation. On éloigne la platine 7 chargée d'échantillons du politsoir R. Par une simple poussée sur la face 6, en saillie ou non de la platine 7, selon que l'enro- bage 2 a une hauteur h postérieure, décomptée à partir de la zone d'engagement dans la platine 7, supérieure ou inférieure à l'épais- seurede cette dernière, on dégage ltenrobage 2 de la platine 7. On examine l'échantillon 1 au microscope. La mise en coincidence des nervure 4 et gorge 11 ou des repères S et 10 permet de remettre l'enrobage 2 dans le trou 8 exactement en la même position. Bien que le dégagement de l'enrobage 2 du trou 8 soit très simple, l'enrobage 2 ne tourne pas dans le trou 8 sous l'action du polissoir R,en raison de la grande portée de l'enrobage 2 sur la paroi intérieure du trou 8. REVENDICATIONS 1. Porte-échantillons formé d'une platine percée de trous, caractérisé en ce que les trous sont tronconiques. 2. Porte-échantillons suivant la revendication 1, caractérisé par un repère dans le plan de l'axe du trou. 3. Echantillon enrobé pour la mise en oeuvre du procédé suivant la revendication I ou 2 comprenant un échantillon noyé dans un enrobage en y apparaissant sur l'une des faces d'extrémité, caractérisé en ce que le tronçon de l'enrobage, adjacent à la face où apparat l'échantillon, diverge tronconiquement vers ladite face. 4. Echantillon enrobé suivant la revendication 3, caractérisé en ce que l'arête périphérique, formée par ladite face et la face latérale de l'enrobage, est arrondie. 5. Echantillon enrobé suivant la revendication 3 ou 4, caractérisé par un repère radial sur la face d'extrémité opposée à celle où apparatt l'échantillon. 6. Ensemble d'un porte-échantillonssuivant la revendication 1 ou 2 et d'échantillons enrobés suivant l'une quelconque des revendications 3 à 5, caractérisé en ce que les trous ont les mêmes conicités que lesdits tronçons.