FR 2290708 A1 19760604 FR 7436865 A 19741106 La présente invention concerne un dispositif de test d'adaptateurs logiques appartenant à des appareils périphériques connectés à une unit de traitement de l'information , ce dispositif s'applique plus particulièrement aux tests d'adaptateurs d'appareils périphériques connectés à l'unité centraie d'un orS2tnateur, par l'intermédiaire d'un controleur de périphériques. Dans les ensembles de traitement de l'information, les appareils périphériques sont connectés à l'unité centrale par ltintermédiaire dlun controleur de périphériques . Ce controleur gère les priorités des appels émis par les appareils périphériques, pour des tâches qui doivent être exécutées dans luni- té centrale, ce qui permet de libérer cette unité de contraintes extérieures. Dans ces ensembles modernes de traitetneht de linformation, le controleur comporte une mémoire morte contenant des microprogrammes de gestion des appareils périphériques, et une mémoire vive dans laquelle transi tent les données et les instructions échangées entte I l'unité centrale et les appareils périphériques . Il comporte aussi des moyens de test des appareils périphériques. Chaque appareils périphérique comporte trois éléments principaux: - Le premier élément est un adaptateur logique d'appareil périphérique lié au controleur par l'intermédiaire diun interface. Il contient essentiellement des circuits logiques et des registres dont le contenu est 1'visible" de l'unité centrale, à travers le controleur. Ces registres reçoivent les données ou les instructions venant du péripçhérique et allant vers l'unité centrale et réciproquement. - Le deuxième élément est situé entre l'adaptateur et les organes mécaniques du périphérique, il est essentiellement constitué de circuits électriques qui assurent la transduction électromécanique des signaux #ou données échangées entre l'unité centrale et les organes mécaniques de chaque appareil périphérique - Le troisième élément est constitué par la partie mécanique du périphérique. Dans la technique actuelle, il est connu d'effectuer de manière intermit texte un test de simple fonctionnement d'ensemble de chaque appareil périphérique . Si ce test révèle un fonctionnement défectueus du périphérique considéré, la localisation de la panne se fera sur l'ensemble du périphérique. Ceci a pour inconv#i2ent de nécessiter pour chaque périphérique un dispositif de test compliqué et une localisation différente de la panne. En outre, ce dispositif de=test est généralement commandé à partir dlélé- ments binaires de tests contenus dans la mémoire vive de l'unité de traitement. Ces éléments binaires spécifiques de chaque appareil périphérique sont très nombreux et de ce fait encombrent la mémoire vive de unité de traitement alors que celle-ci doit contenir en priorité des éléments binaires nécessaires aux tâches que l'unité de traitement doit accomplir. La présente invention a pour but de remédier à ces inconvénients et principalement de simplifier le dispositif de test des appareils périphériques. Ce dispositif permet de déconnecter l'adaptateur des autres éléments du périphérique considérélpour ne faire porter le test que sur l'adaptateur, dans une première phase. -Si le dispositif de test révèle alors un bon fonctionnement de l'adaptateur, clest que la panne ne peut provenir que des élements électromécaniques ou mécaniques du périphérique qui sont alors dépannés séparéement, dans une deuxième phase. La mémoire vive de l'unité de traitement, grâce à ce dispositif, ne contient qu'un faible nombre d'éléments binaires de test. La présente invention a pour objet un dispositif de test d'adaptateurs logiques d'appareils périphériques, connectés à une unité de traitement de l'information, par llintermédiaire diun contrôleur de périphériques. Ce dispositif est principalement caractérisé en ce qu'il comporte les éléments suivants a) Des moyens permettant de charger à partir de l'unité de traitement, des éléments binaires de test et de commande de test, dans une mémoire vive du contrôleur de périphérique. b) Des moyens celui permettent d'adresser dans la mémoire vive du contrôleur, d'une part les éléments binaires de test et de commande de test, et, d'autre part, des éléments binaires résultant du test, ces éléments provenant respectivement de l'unité de traitement et de l'adaptateur testé. c) Un organe interprétatif d'éléments binaires de commande de test, cet organe est lié à la mémoire vive du contrôleur et il est constitué de manière à permettre la décodification et l'exécution des éléments binaires de commande de test. d) Des moyens qui permettent de déconnecter liadaptateur à tester, des autres éléments du périphérique correspondant, ces moyens étant commandés à partir de certains éléments binaires de commande de test, par I tin- termédiaire de l'organe interprétatif. e) Des moyens d'analyse des symptames de pannes détectées à partir des dits éléments binaires résultant du test. D'autres objets, caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront mieux à l'exposé qui va suivre, donné à titre purement illustratif et nullement limitatif, avec référence au dessin annexé représentant un mode préféré de réalisation du dispositif selon l'invention. Le dispositif qui est représenté sur la figure s'intègre dans un ensemble de traitement de l'information qui comporte: - une unité de traitement de l'information encore appelée unité centrale et qui est référencée CPU sur la figure. - un contrôleur d'appareils périphériques, référencé URC, qui gère notamment les priorités des tâches que doit accomplir l'unité de traitement en liaison avec les appareils périphériques. - les appareils périphériques notés DEVI, DEV2, DEV3, DEV4, connectés au contrôleur URC et dont le nombre a été limité à 4 pour des commodités de représentation. Ces appareils de types très variés, peuvent être constitués par exemple par des imprimantes, des lecteurs de carte, des unités à bande, etc... Il a également été représenté, en traits interrompus des interfaces référencés PSI et DAI et qui assurent respectivement la liaison de l'unité centrale avec le contrôleur et la liaison du contraleur avec les différents appareils périphériques DEV1, DEV2, DEV3. Chacun des appareils périphériques est divisé en 3 éléments principaux: 1 - un premier élément qui est l'adaptateur d'appareils périphériques, ces adaptateurs sont notés DAI, DA2, DA32 DA4 sur la figure. Ils sont liés aux autres éléments de l'appareil périphérique par l'intermédiaire de circuits 1, 2, 3, 4 qui permettent soit de connecter, soit de déconnecter électrique ment l'adaptateur des autres éléments du périphérique qui lui correspond. Ces circuits sont commandés par des signaux électriques provenant de moyens de déconnexion 5 appartenant au dispositif de test. Le fonctionnement de ces moyens 5, sera mieux expliqué dans la suite de la description. 2 - un deuxième élément 6, situé entre l'adaptateur et la partie mécanique 7 du périphérique. Cet élément est constitué par des circuits électriques qui assurent la transduction électromécanique, des signaux ou données échangées entre unité centrale et l'appareil périphérique. 3 - le troisième élément 7, de chaque appareil périphérique est principalement constitué par des organes mécaniques. Ainsi, le dispositif de test qui fait l'objet de l'invention va permettre de tester chacun des adaptateurs, sans que les deux autres éléments précités ne viennent perturber le test, puisqu'il sont déconnectés gracie aux circuits 1, 2, 3, 4 commandés par les moyens de déconnexion 5. Le dispositif de test, outre les moyens de déconnexion, comporte aussi des moyens 17, 19 qui permettent de charger à partir de l'unité de traitement-CPU, des éléments binaires de test et de commande de test, dans une mémoire vive 8 du contrôleur d'appareils périphériques URC. Les éléments binaires de test sont constitués de données de test qui vont être chargées dans les divers registres de fradaptateur testé ; les éléments binaires de commande de test permettent la commande du déroulement -du test. La lecture des éléments résultants du test va permettre d'analyser le sympt8me d'une panne. En effet totiélément binaire lu à la suite du test et qui ne correspond pas à un élément étalon qui devrait être lu en absence de panne, va fournir un symptôme à la suite duquel la panne pourra être localisée. Le dispositif de test comporte aussi des moyens d'adressage 9, dans la mémoire vive 8, des éléments binaires de test et de commande de test venant de l'unité de traitement, et des éléments binaires résultant du test et venant de l'adaptateur testé. Ces différents éléments binaires sont rangés dans la mémoire vive 8 du contrôleur, sous la commande des moyens dXadres- sage 9 et d'un organe 10, interprétatif d'éléments binaires de commande de test. Les éléments binaires de commande de test, nécessaires au déroulement du test, sont enregistrés dans une zone 14, dite d'exécution de tâche, appartenant à la mémoire vive 8, tandis que les données de test sont enregistrées dans une zone dite de données'l3w, de la zone de travail 11 de cette mémoire vive. Les éléments binaires résultant du test dgun adaptateur sont eux-mêmes enregistrés dans la zone de travail, mais dans une partie 12 dite zone "résultats". C'est à partir des éléments binaires de commande de test, contenus dans la zone d'exécution de la mémoire, que va s'effectuer la commande de l'organe interprétatif des éléments binaires de test et des éléments binaires résultant des tests, rangés dans la mémoire 8.C'est à travers cet organe que. va aussi s'effectuer la commande de moyens de déconnexion 5, permettant gracie aux signaux qu'ils délivrent, de déconnecter par l'intermédiaire des circuits 1, 2, 3, 4, chacun des adaptateurs à tester, du périphérique qui lui correspond. L'organe interpbétatif 10, va décodifier les éléments binaires de commande de test, situés dans la zone 14 de la mémoire vive du contrôleur. Il va permettre l'envoi des éléments binaires de test, vers l'adaptateur et l'envoi des éléments binaires résultant du test, vers l'unité de traitement. Enfin, le dispositif comporte des moyens 16, qui permettent d#ana- lyser les symptômes des pannes, détectées à partir des éléments binaires résultant des tests. Les moyens 17, 19 q: t permettent de charger à partir de l'unité centrale CPU, des éléments binaires de test et de commande de test, dans la mémoire vive 8 du contrôleur TURC. Ils comportent, d'une part des-moyens de chargement 17, d'éléments binaires de test, dans la mémoire vive 18 de l'unité de traitement CPU, d'autre part des moyens de transfert 19 de ces éléments vers la mémoire vive 8 du contrôleur URC. Les moyens de chargement 17 peuvent être constitués par exemple par un support magnétique et son lecteur, ce support portant les éléments binaires de test . Les moyens de transfert 19 peuvent par exemple entre consitutés par le contrôleur dientrée-sortie de l'unité de traitement CPU. Les éléments binaires résultant du test sont rangés dans la mémoire vive 8 du contrôleur, grâce à l'organe 10, envoyé ensuite dans la zone de lecture de la mémoire vive 18 de l'unité de traitement, puis dirigés enfin vers les moyens 16 d'analyse de symptômes. Ces moyens d'analyse comportent tout d'abord des moyens 20 de transfert des éléments résultant des tests, de la mémoire vive 8 du controleur URC, vers la mémoire vive 18 de l'unité de traitement CPU. Les moyens de transfert 20 qui pwvent être constitués par exemple par le contrôleur dgentrée-sortie de l'unité de traitement, comportent bien entendu des organes d'adressage non représentés. Ce transfert vers la mémoire vive de l'unité de traitement, sgeffectue par l'intermédiaire diun organe 21, de cumul de données, connu en soi et qui permet dans le traitement de íin- formation, de cumuler des données afin de faciliter un traitement à partir diun nombre inférieur d'éléments binaires. Entin, les moyens d'analyse comportent des moyens de comparaison 22 associés à un organe d'affichage de symptômes 23, lui-m & e associé à un dictionnaire des pannes 24. Les moyens de comparaison 22 permettent de comparer les éléments binaires résultant du test de l'adaptateur considéré, après cumul et transfert dans la mémoire vive 18, et des éléments binaires étalons contenus dans la mémoire 18, a chaque fois que la comparaison n'est pas établie et qu'il y a donc discordance entre éléments étalons et éléments cumulés résultants, le système de-comparaison va permettre gr ce à l'organe d'affichage 23 constitué par un système de visualisation de données connecté à l'unité de traitement d'afficher le symptôme de la panne correspondante.A partir de ce symptôme et du dictionnaire des pannes 24 le technicien de maintenance va découvrir la panne# qui correspond au symptôme considéré. Ce dictionnaire des pannes est construit par simulation de pannes dans les différents adaptateurs, après quoi les symptômes des pannes correspondantes sont notés et répertoriés Ainsi, ce dispositif de test, permet de tester n'importe quel adaptateur de façon très simple, il suffit au technicien de maintenance d'emmener pour la localisation d'une panne, un support magnétique portant les éléments binaires de test et de commande de test ainsi que le dictionnaire des pannes. Les éléments de test viennent occuper uniquement pendant le test, une faible partie de la zone de travail de la mémoire vive du contrôleur et n'affectent pas ainsi la capacité d'exécution de ce contrôleur . Le di cti on- naire des pannes qui comporte les symptômes des pannes qui peuvent survenir dans l'adaptateur permet de localiser une panne dans n'importe quel registre ou n'importe quel circuit logique de chaque adaptateur. Ce dispositif favorise donc les dépannages très rapides d'adaptateurs d'appareils périphériques et il en résulte que l'ensemble de traitement qui vient diêtre décrit est affecté pendant très peu de temps par un dépannage d'appareil périphérique connecté à une unité de traitement. REVENDICATIONS 1/ Dispositif de test d'adaptateurs logiques d'appareils périphériques connectés à une unité de traitement de l'information par l'intermédiaire d'un contrô- leur de périphériques, caractérisé par le fait qu'il comporte a) des moyens pour charger à partir de ladite unité de traitement, des éléments binaires de test et de commande de test dans une mémoire vive du contrôleur b) des moyens qui permettent d'adresser dans la mémoire vive du contrôleur, dgune part les éléments binaires de test et de commande de test, et d'autre part des éléments binaires résultant du test, ces éléments provenant respectivement de l'unité de traitement et de l'adaptateur testé c) un organe interprétatif d'éléments binaires de commande de test, cet organe est lié à la mémoire wive du contrôleur et il est constitué de manière à permettre la décodification et l'exécution des éléments binaires de commande de test d) des moyens qui permettent de déconnecter l'adaptateur à tester, des autres éléments du périphérique correspondant, ces moyens étant commandés à partir de certains éléments binaires de commande de test, par llin- termédiaire de lworgare interprétatif. e) des moyens d'analyse des symptômes de pannes, détectées à partir des dits éléments binaires résultant du test. 2/ Dispositif selon la revendication 1, caractérisé par le fait que le dit organe interprétatif est constitué de manière à permettre - d'une part, de sélectionner les éléments binaires de test à envoyer vers l'adaptateur à tester, - d'autre part, de ranger les éléments binaires résultant du test, dans la mémoire vive du contrôleur, avant transmission à l'unité de traitement. 3/ Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé par le fait que les dits moyens pour charger dans une mémoire vive fdu contrôleur, des éléments binaires de test et de commande de test, comportent - des moyens de chargement des éléments binaires de test dans une mémoire vive de la dite unité de traitement des moyens de transfert de ces éléments vers la mémoire vive du contrôleur. 4/ Dispositif de test selon la revendication 1; caractérisé par le fait que les dits moyens dtanalyse de symptômes de pannes, comportent: - des moyens de transfert des éléments binaires résultant du test et contenus dans la mémoire vive du contrôleur, vers la mémoire vive de l'unité de traitement; - des moyens de comparaison entre ces éléments résultant et des éléments étalons contenus dans la mémoire vive de l'unité de traitement - des moyens d'affichage du symptôme correspondantmis en évidence à chaque fois que la comparaison révèle une discordance entre les éléments résultants et les éléments étalons. 5/ Dispositif de test selon la revendication 4, caractérisé par le fait que les dits moyens de transfert des éléments résultants sont connectés à la mémoire vive de I l'unité de traitement, par l'intermédiaire d'un organe de cumul de données. 6/ Dispositif de test selon la revendication 5, caractérisé par le fait qu'un dictionnaire de pannes est associé au dit organe d'affichage de symptômes, ce dictionnaire étant obtenu par la simulation de pannes dans chaque adaptateur et par le recueil des symptômes correspondants. 7/ Dispositif de test selon la revendication 4, caractérisé par le fait que les dits moyens d'affichage sont constitués par un système de visualisation de données, connecté à la dite unité de traitement. 8/ Dispositif selon la revendication 2, caractérisé par le fait que les dits moyens d'adressage vers la mémoire vive du-contr8leur, d'une part des éléments binaires de test et de commande de test et d'autre part des éléments binaires résultant du test, sont constitués de manière à adresser ces éléments binaires dans trois zones différentes de la mémoire vive du contrôleur a) une zone dite "d'exécution de test" dans laquelle sont adressés les éléments binaires de commande de test b) une zone de Xdonnées dans laquelle sont adressés, sous la comma mande du dit organe interprétatif, les éléments binaires de test c) une zone de "résultats" -dans laquelle sont adressés, sous la commande du dit organe interprétatif, les éléments binaires résultant du test de l'adaptateur considéré.