FR 2241059 A1 19750314 FR 7330014 A 19730817 La présente invention concerne un dispositif pour mesurer, contrôler et régler la position de points choisis d'objets par rapport à une ligne de visée optique pour mesurer de façon'préci- se la forme d'objets ou des variations de leur position ou de leur forme par rapport à cette ligne et pour guider les objets selon des trajets déterminés par rapport à cette ligne. Les opérations de topographie en géodésie et dans la construction, dans les transports, dans la métallurgie, les mines, l'u- sinage et d'autres branches nécessitent de plus en plus des procédés de mesure permettant de réaliser ces opérations dans une gamme me très étendue et avec une précision maximale, et essentiellement ltenregistrement automatique des résultats des mesures ou la régulation automatique de certains processus de fabrication selon les résultats de ces mesures.Les dispositifs connus de mesures géodésiques précises actuels reposent pratiquement tous sur le principe de l'observation de marques topographiques par les réticules d'un appareil optique de précisions diverses permettant de réaliser une lecture automatique des valeurs angulaires ou des distances, et le facteur humain influence essentiellement les mesures individuelles en limitant non seulement la précision mais égale- ment l'automatisation totale des mesures. On a utilisé avec succès des faisceaux à laser de traçage lorsqu'on peut travailler dans un milieu entièrement homogène avec des dispositifs optiques de Fresnel (systèmes sous vide des accélérateurs linéaires). Dans les conditions atmosphériques courantes, la longueur cohérente et également la gamme de systèmes semblables sont-réduites à- tel point qu'ils perdent toute valeur pratique.Les dispositifs utilisant des faisceaux lasers avec des optiques classiques posent des problèmes d'effets de déflexion parasites et utilisent généralement divers systèmes photoélectriques compliqués pour évaluer le centre-énergétique du faisceau, ce procédé étant incertain mê- me si on utilise des lasers à un seul mode stabilisés.Les résultats obtenus avec ces dispositifs sont relativement satisfaisants -on peut obtenir une évaluation entièrement automatique des mesures, mais ces mesures sont longues ou ont une précision relativement faible qui diminue avec la distance Bien que ces dispositifs permettent dtobtenir une précision plus élevée ou une certaine automatisation de l'évaluation, ils nécessitent rigoureusement à l'emplacement de l'objet mesuré, un dispositif d'évaluation relativement exigeant et délicat, Si bien qu'ils ne conviennent pas à l'utilisation dans des conditions défavorables. Les inconvénients qu'on ne peut pas négliger sont en plus de la fragilité du dispo sitif, une consommation d'énergie, une taille, un poids relativement importants, une longévité réduite et un codt d'investissement relativement élevé. La précision de ces dispositifs dont le principe peut êt résumé comme une topographie au moyen d'une ligne devisée dans un plan vertical choisi, déterminé par un point et par un angle que forme cette ligne avec un plan de référence (par exemple avec un plan horizontal) dépend bien entendu de la stabilité angulaire de l'axe optique du laser ou du télescope à réticule, dont l'effet augmente avec l'éloignement de l'objet mesuré. Cet inconvénient est considérablement réduit dans les dispositifs qui utilisent un procédé d'occultation du faisceau optique qui est propagé entre un transmetteur et un récepteur, et qu'on peut, de façon semblable, caractériser comme une topographie utilisant une ligne de visée déterminée par ses deux points terminaux. On contact de nombreux dispositifs différents reposant sur ce principe et qui conviennent relativement bien car ils permettent de façon naturelle d'automatiser entièrement la mesure, mais qui présentent cependant divers inconvénients empêchant leur utilisation pour une topographie plus précise. Ces inconvénients sont surtout une sensibilité non uniforme et une précision relativement faible des mesures en des points différents du trajet de mesure, une gamme de performances réduite, le fait que la précision des mesures varie avec les conditions d'éclairage extérieures ou les changements des propriétés optiques du milieu le long de la ligne de mesure, l'utilisation d'éléments mécaniques (par exemple d'obturateurs tournants) et généralement aussi la consommation d'énergie élevée et la faible longévité du dispositif. Un des buts de l'invention est la diminution considérable ou l'élimination des inconvénients des dispositifs précités pour les opérations de topographie précise, grâce à un dispositif qui après avoir été mis en place sur le trajet de mesure permet une lecture stable et précise des distances d'objets donnés par rapport à > au moins, une ligne de visée, avec une précision et une sensibilité constantes en tout point du trajet de mesure, avec la possibilité d'automatiser la lecture, d'enregistrer automatiquement le signal et de l'utiliser éventuellement comme signal de ré-gulatton automatique, et qui offre ces résultats tout en tant pratiquement l'influence des variations d'éclairement extérieur ou dès changements de propriétés optiques le long du trajet de mesure, et en évitant pratiquement aussi l'influence de l'instabilité angulaire des axes optiques des éléments du dispositif situés au début et à la fin de la ligne de mesure sur la précise globale des mesures. Le dispositif selon l'invention ne nécessite donc pas au point mesuré de dispositifs d'évaluation optique délicats, consomme très peu d'énergie} est peu coûteux, ne comporte pratiquement pas d'éléments mécaniques en déplacement rapide et présente donc une usure très limitée, si bien qu'on peut estimer que sa longévité est très grande. Selon l'invention, le transmetteur du faisceau de lumière de mesure est constitué dtun élément semi-conducteur photo-émetiNr avec un système à fente optique directionnelle. Le récepteur de ee faisceau de lumière de mesure est constitué d'un photodétecteur semi-conducteur muni d'un système à fente optique directionnelle dont la fente a la meAme largeur et/ou la même longueur que la fente du système transmetteur optique et lui est parallèle.Un-masque est disposé dans 11 espace de propagation du faisceau de lumière de mesure entre le transmetteur et le récepteur, ce masque étant raccordé en position fixe ou par l'intermédiaire-d'un dispositif de déplacement, au point choisi de l'objet, dont on dést- re mesurer, contrôler et/ou régler la position par rapport à la ligne de visée optique. Le photodétecteur semi-conducteur est muni d'une diode photo-émettrice alimentée en courant continua de telle sortie que la surface photosensible du photodétecteur se trouve dans l'angle d'émission de cette-diode photoémettrice. Le transmetteur ou le récepteur peut également comporter un élément photo-émetteur semi-conducteur émettant un faisceau lumineux de référence, et le récepteur ou le transmetteur est muni,-dans ee cas, d'un photodétecteur semi-conducteur de ce faisceau lumineux de référence et d'un circuit de comparaison de l'intensité du signal transmis respectivement par le faisceau de mesure ou de référencé. Le transmetteur ou le récepteur peut, de plus, comporter un élément photo-émetteur semi-conducteur, émettant un faisceau lumineux de blocage, et le récepteur ou le transmetteur comporte > dans ce cas, un photodetecteur semi-condueteur additionnel de ce faisceau de blocage, et un circuit de blocage indiquant l'occulta- tion du faisceau de blocage par un obstacle accidentel. Le masque peut être directement constitué par le pourtour de l'objet dont on désire mesurer, contrôler ou régler la positia Le dispositif mobile qui raccorde le masque au point choisi de l'objet dont on mesure, contrôle et/ou règle la position par rapport à la ligne de visée optique, est commandé en fonction de l'intensité du signal du récepteur du faisceau de mesure et/ou selon un programme dépendant du trajet couvert par l'objet. Le transmetteur et/ou le récepteur du faisceau lumineux de mesure peut être muni d'un dispositif de pointage dont l'axe optique est parallèle à l'axe optique du système à fente optique directionnelle du transmetteur et/ou du récepteur du faisceau lumineux de mesure, ce qui permet de connattre de façon précise la distance de ces deux axes. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la des eription qui suit faite en regard des desstas annexés sur leels: la figure 1 représente de façon générale un dispositif selon l'invention 3 la figure. 2 représente un dispositif où le bord du masque est parallèle au grand c8té de la fente ; la figure 3 représente un dispositif où le bord du masque est parallèle au petit côté de la fente ; la figure 4 montre la relation entre le signal de sortie du récepteur du faisceau de lumière de mesure et le degré d'occultation de-la zone active de ce faisceau ; la figure 5 représente une élévation avec partie en coupe, d'un photodétecteur semi-conducteur avec une diode photo-émettrice pour l'éclairage additionnel ;; la figure 6 représente un photodétecteur semi-conducteur avec un système de fente optique directionnelle ; la figure 7 représente un élément photo-émetteur semiconducteur avec un système de fente optique directionnelle ; la figure 8 représente un engin finisseur dont le fonctaF nement est commandé par le dispositif de l'invention ; la figure 9 représente un dispositif d'évaluation des profils guidé par un dispositif selon l'invention ; la figure 10 représente l'utilisation du dispositif de l'invention à la régulation de la position de l'outil d'une grosse machine-outil ; la figure 11 représente une machine-outil > par exemple un tour, sur lequel on mesure le diamètre de la pièce usinée avec le dispositif de 11 invention. La figure 1 représente une vue globale d'un dispositif constitué d'un transmetteur l, d'un faisceau de lumière modulé, dtun récepteur 2de ce faisceau et d'un masque 31 dans la zone de propagation de ce faisceau de lumière du transmetteur 1 au récepteur 2. La condition d'un fonctionnement correct, est que le ré cepteur 2 soit situé dans l'angle d'émission X du transmetteur 1 et que le transmetteur 1 soit simultanément dans l'angle de réce tiontdu récepteur 2.Le dispositif présente la marge opératoire et la précision maximales Si le transmetteur 1 est sur l'axe de l'angle de réceptiondu récepteur 2, alors-que, simultanément, le récepteur 2 est sur l'axe de 1'angle de transmissionsdu transmetteur 1. L'occultation du faisceau de lumière du transmetteur 1 ne peut eAtre indiquée que si le masque 31 est dans la zone active III de ce faisceau, ce qui correspond à l'espace occupé par un paral lélépipède, dont une base est formée par la fente 111 du système 11 à fente optique du transmetteur 1 et dont la face opposée est constituée par la fente 211 du système à fente optique 21 du récepteur 2.Une condition du fonctionnement correct du dispositif est que le récepteur 2 soit nettement sensible à-la longueur d'ont de et au mode de modulation du rayonnement émis par le transmetteur 1. Le transmetteur 1 et le récepteur 2 sont situés sur des supports 13 et 23, qui sont, par exemple, des trépieds. La figure 2 illustre un des dispositifs possibles selon l'invention, où le transmetteur I et le récepteur 2 sont situés tous deux sur les supports respectifs 13 et 23 et sont munis de systèmes et 21 comportant les fentes optiques 111 et 211 dont la largeur b est nettement supérieure à.îa hauteur a. On obtient la marge opératoire la plus grande et la précision la plus élevée si les fentes 111 et 211 sont égales et si les côtés de ces fentes 111 et 211 de même longueur sont parallèles auquel cas, comme le montre la figure 2, la zone active 1121 du faisceau de rayonnement du transmetteur 1 a la forme d'un prisme dont les bases sont les fentes 111 et 211.Le bord actif 311 du masque 31 est parallèle aux grands catésdes fentes 111 et 211, si bien qu'il existe une relation étroite entre la quantité lumineuse frappant le système 21 à fente optique du récepteur 2 et le mouvement du masque 31 dans la direction Z, comme le montre la courbe k de la figure 4. La figure 3 illustre un autre mode de réalisation approprié ou contrairements celui de la figure 2, le bord actif 311 du masque 31 est orienté parallèlement aux petits cotés des fentes 111 et 211, ce qui créé une gamme étendue de relation linéaire entre l'intensité du rayonnement fmappant le système 21 à fente opti que du récepteur ? et le mouvement du masque 31 dans la direction x comme le montre la courbe m de la figure 4. La figure 4 illustre le rapport de l'intensité de la lumière tombant sur le système 21 à fente optique du récepteur 2 par rapport au mouvement du masque 31 dans la direction x. La courbe k correspond au dispositif selon la figure 2, où â est la hauteur de la fente 111 du système 11 à fente optique du transmetteur 1 et de la fente 211 du système 21 à fente optique du récepteur 2, et éga lement la hauteur de la zone active 1121 du faisceau lumineux u " mis par le transmetteur 1. La valeur relative de l'intensité de la lumière tombant sur le système 21 fente optiaue est représentée selon l'axe S, et son rapport, avec la hauteur d'occultation dela zone active 1121 par le masque 31 dans la gamme correspondant à la hauteur a, est pratiquement linéaire et très accentué. La courbe m correspond au dispositif de la figure 3 où b est lalargeur de la fente 111 du système li à fente optioue du transmetteur 1 et également celle de la fente 211 du système 21 à fente optique du récepteur 2, et par conséquent également la largeur de la zone active 1121 du faisceau de lumière du transmetteur 1. Le rapport de l'intensité lumineuse relative tombant sur le système 21 à fente optique lors de l'occultation de la zone active 1121 par le masque 31 est, dans la gamme de largeur b pratiquement linéaire et progressive et permet une évaluation de la po sitiori du masque 31 par rapport à la zone active 1121 dans une grs me étendue de positions mais, bien entendu, avec une précision réduite. La courbe n correspond à un dispositif où le bord actif 311 du masque forme un angle commun nar rapport aux bords des fentes 111 et 211 des systèmes 11 et 21 à fente optique. On peut donc obtenir, dans la gamme c, une relation pratiquement linéaire de l'intensité lumineuse relative tombant sur le système 21 à fente optique lors de l'occultation de la zone active 1121 par le masque 31, si bien qu'on peut régler la gamme c en choisissant de façon appropriée l'angle dans une gamme de a à b. La courbe o correspond à une disposition où la hauteur des fentes 111 et 211 des système 11 et 21 à fente optique est si réduite qu'elle est de l'ordre de la longueur d'onde du rayonnement utilisé3 si bien que le signal détecté par le récepteur 2 est essn- tiellement déterminé par l'effet de diffraction sur le bord actif 311 du masque 31. La figure 5 illustre un photodétecteur semi-conducteur 25 placé dans un support 27 qui porte également une diode photo-émettrice 26, disposée de façon à eAtre horsde l'axe optique 251 dupo- détecteur 25 mais dans l'angle de rayonnementde la diode photoémettrice 26 alimentée èn courant continu. Le photodétecteur 25 est donc éclairé avec une intensité constante, si bien qu'on peut régler le point de travail du photodétecteur 25 dans la gamme de sensibilités maximales et, simultanément3 réduire l'effet des variations de l'éclairement extérieur naturel sur les changements de sn- sibilité du photodétecteur 25.En utilisant une diode photo-émettrice 26 on peut- obtenir, contrairesentaux autres sources de ra rayonnement, une amélioration du rapport signal/bruit. La figure 6 illustre un photodétecteur semi-conducteur 25 muni d'un système 21 à fente optique direetionnelle, constitué d'une section étroite 213 d'un miroir parabolique, sphérique ou cylindri que dont l'axe optique 2111 est dans la direction du faisceau de lumière reçu. L'espace entre la section 213 et le photodétecteur 25 peut être occupé par un milieu optique transparent. La surface d'entrée optique du système 21 à fente optique a la forme d'une fente étroite 211. Ce dispositif permet la détection dtun faisceau lumineux parallèle plat. La figure 7 illustre un élément photo-émetteur semi-eondue- teur 14, muni d'un système 11 à fente directionnelle comportant une section étroite 112 d'un miroir parabolique, sphérique ou cy lindrique, dont l'axe optique 1111 coïncide avec l'axe du faisceau de rayonnement de l'élément photo-émetteur 14. La section 112 est orientée de façon à dextre dans le plan de divergence maximale du faisceau de l'élément photo-émetteur 14. Le faiseeau de lumière quitte le système optique l1 par la fente 111. L'espace entre la section 112 et ltélément photo-émetteur 14 peut être rempli par un milieu optique. Les sections 213 et 112 des miroirs sphériques ou cylindre ques des figures 6 et 7 peuvent être remplacées par des sections de lentilles sphériques ou cylindriques. La figure 8 illustre un appareil de construction qui est un finisseur 5 muni d'un dispositif selon l'invention. Un transmetteur 1 sur un support 13 est dispose à une extrémité du trajet de travail du finisseur 5 et un récepteur 2 sur un support 25 à l'autre extrémité du trajet de travail. Un masque 31 avec un bord actif 311 est placé sur lè finis- seur 5 par l'intermédiaire d'un dispositif de déplacement 41. La position du masque 31 par rapport au finisseur 5 est réglée par un volant de commande 412 agissant sur le dispositif de déplacement 41. L'information concernant le degré d'occultation est transmise par radiotransmission de llantenne 28 du récepteur 2 à l'antenne 518 du dispositif 51 d'évaluation des informations concernant l'oc- occultation des faisceaux lumineux de mesure émis par le système à fente optique du transmetteur let reçus par les système 21 et 22 à fente optique du récepteur 2.Le fonctionnement du système hydraulique 55 réglant l'épaisseur de la couche déposée par le finisseur 5 est commandé en fonction de ltoccultatlon du faisceau dera- yonnement reçu par le système 21 à fente optique. Le dispositif de déplacement 42 du masque 32 est commandé en fonction de 11 occultation du faisceau lumineux de mesure reçu par le système 22 à fente optique de façon à maintenir le bord actif 321 du masque 32 au milieu de la zone active de ce faisceau. L'information concernant la position du masque 32 par rapport au finisseur- 5 est transmise à 11 indicateur de position 53 placé sur le panneau de contrôle 54 du finisseur i. La direction du mouvement du finisseur 5 peut être commandée en fonction de cette information. Le- dispositif décrit permet de construire des sections rectilignes de chaussées et on utilise un dispositif programmé 52, ajustant, selon la lecture du dispositif de lecture 56, par l'intermédiaire du servo-mécanisme 411, le dispositif de déplacement 41fez, par conséquent également, la position de l'écran 31 par r port au corps du finisseur, pour construire des sections ayant une inclinaison variable.Des corrections programmées pour la construction de courbes peuvent être introduites dans le système de guidage 32 ; 42 ; 51 ; 53 du finisseur 5 en fonction des informations du dispositif de lecture 56. Le faisceau de lumière de référence reçu par le système 212 à fente optique sert, à ia fois, à l'éva- luation relative du signal desvfaisceaux lumineux reçus par les systèmes 21 et 22 à fente optique pour augmenter la précision et limiter l'effet des changements des propriétés de transmission du milieu optique entre. le transmetteur 1 et le récepteur 2, et comme faisceau de blocage, car les circuits du récepteur 2 sont disposés de façon à ce au'ils indiquent l'occultation totale du faisceau en présence d'un obstacle indésirable dans l'espace entre le transmetteur 1 et le récepteur 2. Le dispositif de pointage 19 sur letransmetteur 1, et le dispositif de pointage 29 sur le récepteur 2, servent à faciliter l'ajustement mutuel du transm-tteur 1 et du récepteur 2 dans les positions indiquées dans la figure 1, et au transfert ds- informations concernant les positions des deux extrémités de la ligne de visée optique;par rapport aux repères d'arpentage du terrain. La figure 9 illustre un dispositif pour évaluer les proAlS par exemple dans les chaussées ou les pistes d'aéroports, Le dispositif est constitué dtun châssis support 6 reposant sur des roues 611 et 612. Ce cassis 6 comporte une barre de mesure 62 pouvant coulisser et pivoter sur les broches 621 et 622, les transmetteurs de déplacement linéaire 6231, 6232, 62fiv, situés sur la barre de mesure 62, transférant une information concernant la distance de la barre de mesure 62 par rapport à la surface mesurée selon les profils longitudinaux 62 311, 62 321, 62 391, sous forme d'un si-- gnal électrique.Les dispositifs de marquage 6241 et6242 sont de plus disposés sur la barre de mesure 62, et forment sur le profil évalué lors du mouvement de l'ensemble du disnositif des marques d'orientation 62 411 et 62 491. Un chAssis-625, comportant les masques 31 et 32, est disposés la barre de mesure 62 en pivotant autour de l'axe 6252, son inclinaison étant stabilisée par un ser vo-mécanisme 6251 en fonction de l'information d'un dispositif 626 mesurant les inclinaisons raccordé en position fixe ? la barre de mesure 62, de façon à ce que le bord actif 311 du masque 31 coulissant dans le châssis 625 soit maintenu en position horizontale. Un autre masque 32, dont le bord actif est nerpendiculairg au bord. actif 311 du masque coulissant 31, est fixé au châssis 625 en.plus du masque- coulissant 31. Le mouvement de pivotement de la barre de mesure 62 autour des broches 621 et 622 est commandé par le servomécanisme 61), selon les informations du dispositif 626 mesurant les inclinaisons, si bien que le bord actif 321 du masque 32 est maintenu en position verticale. Au début de la section mesurée, on dispose le transmetteur 1 sur un support 13 et, à la fin de cette section, on dispose un récepteur 2 des rayons lumineux transmis par le transmetteur l sur un support 23. On ajuste mutuellement le transmetteur 1 et le récepteur 2 comme le montre la figure I en utilisant les dispositifs de pointage 19 et 29 de telle sorte que les zones actives des faisceaux de lumière, reçus par les systèmes à fente optique 21, 22, et 212, traversent le cassis 625. Le châssis support 6 est tiré, par exemple, par une voiture au moyen d'un attelage de remorque 610 dans la direction..8, le long de la section à étudier. Les informations concernant l'occultation de la zone active ve du faisceau de lumière par le bord actif 311 du masque 31, re çues par le système 21 à fente optique, sont transmises par radiotransmission de l'antenne 28 à l'antenne 616 du récepteur 615, et le bord actif 311 est ajusté par le servo-mécanisme 6253 au milieu de-cette zone active en fonction de cette information. De façon semblable, on transmet les informations concernant l'occultation par le bord actif 321 du masque 32 de la zone active du faisceau de lumière reçu par le système 22 à fente optique, et on ajuste la position de la barre de mesure 62 et, également, celle du masque dans la direction de l'axe des broches 621 et 622 par rapport au châssis 6, de façon que le bord actif 321 du masque 32 soit maintenu au milieu de cette zone active.Le rôle du faisceau du rayonnement de référence, reçu par le système 212 à fente optique, est analogue à celui du faisceau de lumière de référence décrit à propos de la figure 8. Pour faciliter la conduite de la voiture de traction, cette voiture comporte un indicateur de direction grossier, indiquant la position de la barre de mesure 62 par rapport au châssis 6 telle qu'elle est lue par le transmetteur de déplacement 618. Ce dispositif permet de lire et d'enregistrer automatiquement par des dispositifs placés sur la voiture de traction les valeurs suivantes 1) la position de la barre de mesure 62 le long de la section mesurée, par exemple selon les informations du dispositif 614 de mesure des distances, 2) les lectures des transmetteurs de déplacement linéaire 6231, 6232, 6239, 3) la position du bord actif 311 du masque par rapport à la barre de mesure 62 selon les informations du dispositif de lecture de cette position, 4) les informations concernant I'inclinaison de l'axe de la barre de mesure 62 par rapport à un plan horizontal, obtenues à partir du dispositif 626 de mesure des inclinaisons. Dans le cas d'un mouvement rapide du dispositif où on ne peut maintenir le bord actif 311 du masque 31 au milieu réel de la zone active du faisceau de lumière correspondant3 il est souhaitable que le dispositif d'enregistrement 24 enregistre, en plus des autres valeurs, les valeurs instantanées du signal analogique indiquant le degre d'occultation de la zone active de ce faisceau de lumière. On peut établir, à partir de toutes ces valeurs, la forme de la surface de la chaussée, de la piste d'aviatlon, ou autre mesucrée La figure 10 illustre l'application du dispositif de l'invention a' la régulation de la position d'un outil d'une grosse ma chine-outil pour éliminer l'effet d'un défaut de planéité, ou, par exemple, d'une déformation du bâti 71 de cette machine. Un support 75 portant l'objet à usiner 76 est monté sur un bâti rigide commun, De plus, des supports volumineux 13 et 23 du transmetteur 1 et du récepteur 2 sont également fixés sur le bAati rigide commun. Le banc support 71 dtune machine-outil repose également sur ce bâti rigide commun, independamment des supports-13, 23 et 75.Un support 72 peut se-déplacer horizontalement sur ce banc 71, une texte d'usinage 73, qui porte une broche 74 pour l'outil 741, se dépla çant verticalement sur le banc 71. Un masque 31 coulisse sur la teAte d'usinage 73, et il est possible de mesurer et de lire sur une échelle d'un volant de réglage 731 la position du masque 31 par rapport à l'axe de la broche 74. En réglant le masque 31 au milieu de la zone active du faisceau de lumière reçu par le système 21 à fente optique du récepteur 2, on peut obtenir une position du bord actif 311 du masque 31-sur la droite idéale constituée par' l'axe de la zone active. On peut lire sur le volant de réglage 731 la position de la broche 74 par rapport au bord actif 311.Selon les lectures du récepteur 2 du faisceau de lumière, on peut régler, lors du déplacement sur le support 72, la position de la texte d'usinage 73, et également de la broche 74 portant l'outil 741, par l'intermédiaire du servo-mécanisme 732 de façon que masque 31, et la broche 74 qui lui est raccordée de façon fixe, se déplacent selon une droit idéale sans reproduire les inégalités éventuelles du banc 71. Le rôle du faisceau de lumière de référence reçu par le système 212 à fente optique est analogue à celui du faisceau de référence de la figure 8. La figure li illustre un tour muni d'un dispositif selon l'invention où la circonférence de l'objet usiné constitue le mas Elle. L'objet à usiner 81 est serré dans un mandrin 83, et usiné pàr une lame 82 serrée dans un support 82i. Le transmetteur 1 et le récepteur 2 du faisceau de lumière émis par le transmetteur 1 sont disposés de façon à coulisser sur les supports 13 et 23 qui sont fixés au banc de tour 84, par exemple en étant attachés à un bâti rigide commun. L'axe'de la zone active 1121 du faisceau de lu mière de mesure transmis par le système 11 à fente optique et reçu par le système 21 à fente optique, est perpendiculaire à l'axe de l'objet usiné 81.Le diamètre de l'objet usiné 81 peut astre amené à une valeur constante d'occultation de la zone active 1121 par la circonférence 811 de l'objet 81, cette occultation étant déterminée par les positions du transmetteur 1 et du récepteur 2 que l'on lit sur les échelles 133 et 233 des dispositifs de réglage qui, pour le transmetteur 1, sont constitués d'un volant de réglage 131, d'une vis mobile 134 raccordée à ce volant 131, et d'une glissière de guidage 132 et, pour ie-récepteur 2, de façon semblable, d'un volant de réglage 231, d'une vis mobile 234, et d'une glissière de guidage 232.Lorsqu'on usine l'objet à un diamètre préalablement déterminé, on peut ajuster tout d'abord dans une position stable le transmetteur 1 et le récepteur 2 au moyen des volants de réglage 131 et 231, puis suivre en cours d'usinage, sur un indicateur 27, le degré d'occultation de la zone aetive 1121, et obtenir ainsi le diamètre désiré de l'objet usiné 81. On peut également utiliser le signal indiauant le degré d'occultation de la zone active 1121 pour la régulation automatique de l'engagement de la lame 82. Lorsqu'on usine des formes à diamètre variable, on a avantage à fi-xer les supports 13 et 23, non pas au banc du tour 84 mais au eha- riot 85, en permettant ainsiune mesure de l'objet 81 juste après usinage, directement derrière la lame 82, en un emplacement quelconque de l'objet usiné 81. Le rôle du faisceau de lumière de référence, transmis par le système 112 à fente optique et reçu par le système 212 à fente optique, est semblable à celui du faisceau de référence décrit à propos de la figure 8. D'autres propriétés et utilisations du dispositif selon l'invention vont maintenant être décrites. Le dispositif selon l'invention est constitué d'un transmetteur 1, d'un faisceau modulé de lumière transmis par un système 11 à fente optique directionnelle, et d'un élément photo-émetteur semi-conducteur 14 situé dans ce transmetteur 1, et, de plus, d'un récepteur 2 du faisceau de lumière modulé reçu par un système 21 à fente optique directionnelle et un photodétecteur 25 à peti te active, si bien que le récepteur 2 faisceau modulé de lumière est particulièrement sensible à la longueur d'onde et au mode de modulation du faisceau de lumière transmis par le transmetteur 1. Le récepteur 2 est placé dans l'angle d'émission étroits du système optique directionnel 11 du transmetteur 1 et le transmetteur 1 et simultanément dans l'angle de réception étroit du système optique directionnel 21 du récepteur 2 comme le montre la figure 1.Ce dispositif possède sa gamme opératoire et sa précf sion maximales si le transmetteur 1 et dans l'axe de angle de réception ss du récepteur 2, tandis que, simultanément, le récepteur 2 est dans l'axe de transmission &alpha; du transmetteur 1. Pour la même raison, il est nécessaire de régler les fentes de sortie 111 et 211 des systèmes optiques directionnels 11 et 21 du transmetteur 1 et du récepteur 2 en parallélisme mutuel comme l'indique la figure 2.Le transmetteur 1 et le récepteur 2 doivent, pour permettre un réglage mutuel rapide, être munis de-systèmes de visée optique appropriés qui doivent eAtre parallèles et raecordés fermement aux systèmes à fente optique directionnelle 11 et 21 du transmetteur 1 et du récepteur 2, un réglage par rapport à des repères appropriés permettant l'alignement mutuel. Ces systèmes de visée optique peuvent entre semblables aux dispositifs de pointage optique 19 et 29 dont sont munis, de préférence, le transmetteur I et le récepteur 2 dans de nombreuses applications.Un autre élément- im- portant du-dispositif est le masque 31, dont le bord actif 311 est essentiellement parallèle ou perpendiculaire aux fentes 111 et 211 des systèmes li et 21 à fente optique direetionnelle-du transmetteur 1 et du récepteur 2. Ce dispositif qui constitue le mode de réalisation fondamental fonctionne comme suit. L'élément photo-émetteur semi-conducteur 14 du transmetteur 1 émet un faisceau de lumière modulé, et de préférence directionnel, qui frappe uniformément un système 11 à fente optique du transmetteur 1, qui réduit le faisceau de lumière transmis à une divergence d'environ 10, et ajuste de façon simultanée sa section transversle à la forme d'un rectangle allongé ou fente 111.Le faisceau de lumière ainsi ajusté, émis par le transmetteur 1, frappe, dans le cas d'un alignement mutuel correct du transmetteur I et du récepteur 2, la fente d'entrée 211 du système 21 à fente optique directionnelle du récepteur 2, est concentré par le système optique 21, et frappe la surface active du photo-détecteur 25 à faible surface qui est particulièrement sensible a la Ioneur d'onde du ra-Jonnement utilisé.Grâce aux circuits électroniques disposés à la suite du récepteur 2, qui réagissent seulement au mode de modulation de la lumière incidente, on détecte un signal, dont la valeur dépend de la distance et de la transmittance optique du milieu entre le transmetteur 1 et le récepteur 2 et également, à un degré moindre, de petites variations de l'in- clinaison relative des axes optiques 1111 et 2111 des systèmes 11 et 21 à fente optique directionnelle du transmetteur 1 et du ré cepteur-2, à condition que l'alignement mutuel fondamental du transmetteur 1 et du récepteur 2 ne soit pas troublé, c est-à-dire que le récepteur 2 demeure dans l'angle d'émission Sdu transmetteur 1, et que le transmetteur 1 demeure dans l'angle de réception ss du récepteur 2.Le dispositif décrit est donc, si on le compare aux dispositifs de topographie semblables, relativement insensible aux diverses déformations (par exemple déformation thermique) des supports 13 et 23 portant le transmetteur 1 et le récepteur 2, et également aux- petits mouvements provoqués par le vent ou les déformations du sol sous le transmetteur 1 et le récepteur 2. On peut ajuster le signal à la sortie du récepteur 2 à une valeur préalablement déterminée (par exemple 100 %). Du point de vùe de optique géométrique, seule la partie de l'énergie du faisceau de lumière émis qui est propagé dans l'espace du prisme allongé dont les bases correspondent aux surfaces des fentes 111 et 211 des systèmes 11 et 21 à fente optique directionnelle du transmetteur 1 et du récepteur 2, contribue à la valeur du signal évalué par le récepteur 2. Si les dimensions de ces fentes 111 et 211 sont égales et si les fentes sont parallèles, cet espace de propagation de l'énergie du faisceau de lumière émis a une sect-ion transversale constante entre le transmetteur 1 et le récepteur 2. On appelle ci-après cet espace, zone active 1121 du faisceau de rayonnement. Si on introduit alors un masque 31 en un emplacement quelconque au delà de la zone active 1121, il ne provoque pas de changement de la valeur du signal détecté par le récepteur 2, même si le masque 31 est dans l'espace déterminé par l'angle d'émission oC.du transmetteur 1 ou dans l'angle de réception ssdu récepteur 2. Cependant, si le masque 31 pénètre dans la zone active 1121, le sit gnal détecté par le récepteur 2 diminue, car seule une partie de l'énergie transmise~par la zone active 1121 frappe le récepteur 2. Une propriété importante du dispositif décrit est que le signal évalué par le récepteur 2 diminue d'un maximum jusqu'au zéro par le seul mouvement du masque, selon la hauteur a dans le cas d'une disposition selon la figure 2, ou selon la largeur b dans le cas d'une disposition selon la figure 3, et que cette propriété demeure inaltérée en tout endroit de la zone active 1121 dans',l'espace situé entre le transmetteur I et le récepteur 2 relation entre la valeur relative du signal ss détecté par le récepteur 2 et le mouvement x du masque 31 dans la. zone active 1121, apparait sur la figure 4.La courbe k correspond à la disposition selon la figure2 où le bord actif 311 du masque est parallèle aux grands cotés des fentes 111 et 211 des deux systèmes ll et 21 à fente optique directionnelle du transmetteur 1 et du récepteur 2, et la courbe m correspond à la disposition selon la figure 3, ou le bord actif 311 du masque 31 est- perpendiculaire aux grands côtés de ces fentes 111 et 211. Dans les deux cas, on suppose que le mouvement x du masque 31 est perpendiculaire à son bord actif 311 et à l'axe (direction) de la zone active 1121.Si on réduit la dimension des fentes 111 et ?11 dans la direction du mouvement x, la précision relative de la détermination de la position du masque dans cette direction augmente Cependant, si cette dimension des fentes 111 et 211 devient comparable à la longueur d'onde du rayonnement utilisé, les lois de l'optique géométrique cessent d'etre valables, et le signal détecté par le récepteur 2 est alors déterminé essentiellement par l'effet de diffraction sur le bord actif 311 du masque 31.On peut observer ce phénomène Si la largeur des fentes 111 et 211 est de 11 ordre de plusieurs dizaines de millimètres.La relation entre la valeur relative du signal ss et le mouvement x du masque 31 correspond, -dans ce cas, à la courbe o de la figure -1e procédé de mesure approprié avec ce dispositif consiste à placer Té transmetteur I et le récepteur 2 avant le début et après la fin du trajet de. mesure, et à régler les positions des centres des fentes 111 et 211 de leurs systèmes 11 et 21 à fente optique directionnelle, par exemple en utilisant les dispositifs de pointage 19 et 29 dont sont mlnis le transmetteur 1 et le récepteur 2. On réalise l'ajustement relatif du transmetteur 1 et du récepteur 2 selon la figure 1, et on ajuste 11 amplification du récepteur 2 (ou éventuellement 1a puissance de sortie du transmetteur 1) de telle sorte que la valeur du signal de sortie du récepteur 2 corresponde, pour une zone active 1121 non occultée, à une valeur de référence, par exemple à 100 96. Si alors un masque 31 pénètre dans la zone active 1121, le signal détecté par le récep teur 2 diminue et, par comparaison avec la valeur de référence (100 %), on détermine la position du bord actif 311 du masque 31 dans la zone active 1121 en utilisant la courbe corresEondante de la figure 4.On obtient dans la gamme de la section centrale rectiligne de cette courbe un signal analogique proportionnel au changement de position du masque 31 dans la direction transversale de la zone active 1121. Comme la position de l'axe de la zone active 1121, où sont placés les centres des fentes 111 et 211 des systèmes 11 et 21 à fente optique directionnelle du transmetteur 1 et du récepteur 2, est déterminée par rapport au voisinage, par exemple au moyen des dispositifs de pointage 19 et 29 dont sont munis le transmetteur 1 et le récepteur 2, on peut également évaluer la position du bord actif 311 du masque 31 dans un système de coordonnées fixe par rapport au voisinage.Pour des opérations précises de nivellement on a avantage à choisir un certain niveau de référence X (par exemple, dans la figure 4, niveau k = 50 i) et à engager le bord actif 311 du masque 31 dans la zone active 1121, de façon à ce que toujours le signal détecté par le récepteur 2 soit juste égal à ce niveau de référence k. Dans ce cas, le bord actif 311 du masque 31 touche juste la ligne de visée optique dont la position dans la zone active 1121 est déterminée de façon précise par le niveau de référence k, et sa position'est également connue dans le système de coordonnées, établi dans I' espace environnant où on utilise le dispositif, par exemple grâce aux dispositifs de pointage 19 et 29 précités.On peut également déterminer avec un appareil de mesure classique la distance d'un point mesuré quelconque de cet espace par rapport à la ligne de visée optique, ou évaluer (au moyen du signal analogique du récep teur 2) en continu (et éventuellement aussi automatiquement) les variations de cette distance dans une certaine gamme (c'est-àdire au maximum + a/2 ou + b/2). Pour permettre le réglage du bord actif 311 du masque 31 en alignement avec la ligne de visée optique comme décrit, le masque 31 doit être muni d'un dispositif de dé lacement 41 commandé à la pa main ou automatiquement (par exemple/servo-mécanisme) et le fonctionnement de ce dispositif de déplacement 41 doit etre réglé selon les informations concernant la valeur du signal détecté par le récepteur 2.Cette information est transmise par le récepteur 2 au dispositif de déplacement 41 du masque 31, à l'aide d'un câble ou par radiotransmission, soit sous forme d'un signal analogique indiquant directement le degré d'occultation de la zone active 1121, c'est-à-dire la position da bord actif 311 du masque 31 dans la zone active 1121, soit simplement sous forme d'un signal logique correspondant à ltinformation logique, que le bord actif 311 de l'écran n'ait pas-encore atteint la ligne de visée préalablement déterminée dans la zone active 1121, ou qutil soit juste en alignement avec cette ligne de visée optique, ou qutil ait déjà dépassé cette ligne de visée.Ces procédés de transmission permettent un réglage automatique du bord actif 311 du masque 31 en alignement avec la ligne de visée, avec une précision qui dépend en plus des faeteurs limitatifs courants de la qualité et des erreurs de manoeuvre du servo-mécanisme réglant le dispositif mobile 41 du masque, et également des propriétés du trajet de transmission où se propage l'énergie active 1121. les facteurs principaux sont ici : une puissance de sortie constante du transmetteur 1, une sensibilité constante du récepteur 2, et une transparence constante du milieu où se propage l'énergie de la zone active 1121.La puissance de sortie constante du transmetteur 1 peut être obtenue par stabilisation et par compensation thermi -que des circuits électroniques du transmetteur 1 et de l'élément photo-émetteur semi-conducteur 14, selon des procédés connus. La sensibilité du récepteur 2 dépend essentiellement de la valeur de ltéclairement extérieur, qui dépend des propriétés courantes des photodétecteurs (en particulier des phototransistors), et la sensibilité aux petites variations de lumière incidente (c'est-àdire la modulation) dépend particulièrement de la valeur de 1' éclairement superpose au repos (ou de ce qu'on appelle l'éclairement additionnel).La sensibilité du photodétecteur à de petites variations de la lumière incidente (ou de la composante utile de modulation) augmente généralement avec l'éclairement additionnel jusqu'à saturation et, simultaSEentX le changement relatif de cerne sensibilité, provoqué par les changements de la valeur de l'éclairement extérieur, diminue.On a donc avantage à realiser un éclairement additionnel du photodétecteur 25 utilisé, de préférence avec une diode photo-émettrice 26 spéciale (par exemple une diode à l'arséniure de gallium) placée de façon appropriée dans l'angle spatial de réception de la photodiode 25 à semi-conducteur à éclairement additionnel (par exemple selon la figure 5). L'utili- sation d'une diode photo-émettrice 26 à semi-conducteur permet, par rapport à l'éclairement additionnel c-lassique, par exemple avec une lampe à incandescence, une amélioration importante du rapport signal/bruit à l'entrée du récepteur 2. 'effet du pouvoir de transmission optique du milieu où se propage l'énergie du faisceau de lumière peut être considérablement limité par l'utilisation d'un faisceau de lumière de référence formé par un dispositif semblable à celui du faisceau de lumière de mesure qui a été le seul faisceau décrit jusqu'ici et qui, ci-après, après l'introduction de ce faisceau de lumière de référence, est appelé faisceau de lumière de mesure. Le faisceau de lumière de référence est disposé par rapport au faisceau de lumière de mesure de façon à se propager dans une zone de l'espace très voisine de la zone active 11a1 du faisceau de lumière de mesure, mais de façon à ne pas être influencé par le masque. les systèmes optiques directionnels 112 et 212 du transmetteur 1 et du récepteur 2 du faisceau de lumière de référence n'ont pas besoin d'être des systèmes à fente, mais les systèmes à fente permettent le rapprochement relatif maximal des zones actives des faisceaux de lumière de référence et de mesure, et éliminent ainsi l'effet de propriétés strictement locales du milieu optique à travers lequel se propagent les deux faisceaux de lumière. Des caractéristiques directionnelles semblables ou égales des systèmes optiques 11 et 21 et 112 et 212 des faisceaux de lumière de mesure et de référence contribuent, de plus, à réduire la dépendance entre la précision et la qualité de la mesure et la stabilité de l'inclinaison relative des axes optiques 1111 et 2111 du transmetteur 1 et du récepteur 2.On peut utiliser de façon différente le signal obtenu par évaluation'du faisceau de lumière de référence par le récepteur 2, par exemple pour régler la puissance de sortie du transmetteur 1 du faisceau de lumière de mesure, pour régler la sensibilité du récepteur 2 du faisceau de lumière de mesure, ou pour obtenir un niveau de comparaison K afin d'évaluer le faisceau de lumière de mesure, ou d'obtenir le rapport de base,des signaux des faisceaux de lumière de mesure et de référence. Toutes ces utilisations du signal du faisceau de lumière de référence contribuent à la propriété importante de l'ensemble, qui consiste en ce que la position de la ligne de visée optique dans la zone active 1121 du faisceau de lumière de mesure (ou également la position préalablement déterminée dù bord actif 311 du masque 31 dans ce faisceau) n'est pas liée à une certaine valeur absolue de l'énergie reçue de la zone active 1121, mais est géométriquement stable et déterminée par la relation choisie entre les faisceaux de lumière de référence et de mesure. Si on utilise la mesure automatique de la position d'un point d'un objet par rapport à une ligne de visée optique donnée pour la régulation automatique, par exemple d'un procédé de fabrication, et si, lors de la mesure, une occultation indésirable de la zone active 1121 par un objet différent du masque 31 peut se produire, cette occultation doit être indiquée, et-il-est nécessaire dtintroduire uqdispositif empechant les conséquences possibles d'une telle interaction- indésirable, par exemple pour éliminer les résultats -de ces mesures.Pour obtenir la fiabilité maximale de la détection d'une telle occultation indésirable, on peut utiliser un faisceau de lumière de blocage voisin du-rayonnement de mesure, ou, éventuellement, également voisin du rayonnement de référence, sans etre influencé par le fonctionnement normal du masque 31 du faisceau de lumière de mesure.Le faisceau lumineux de blocage est formé par un dispositif semblable à celui du faisceau de lumière de référence, et les propriétés des systèmes optiques directionnels, qui ont été mentionnées relativement au faisceau de lumière due référence, s'appliquent également à ce faEF ceau de lumière blocage On peut, dans certains cas, combiner le royale du faisceau de lumière de blocage à celui du faisceau de lumière de référence, de sorte que la disparition complète du signal du faisceau de lumière de référence (ou sa diminution en dessous d'une limite minimale préalablement~déterminée) est considérée comme une indication d'une occultation indésirable par un objet étranger situé dans la zone active 1121 du faisceau de lumière de mesure. Jusqu'ici, on a envisagé un dispositif de mesure de la distance d'un point à partir d'une ligne mode visée optique unique, ou la mesure (ou l'arpentage) dlune voie (ou d'un système de points) unique dans une direction préférée (la direction du mouvement perpendiculaire au bord actif 311 du masque 31) par rapport à cette ligne de visée optique unique et en avançant le long de cette ligne. On peut, bien sûr, utiliser simultanément deux faisceaux de lumière de mesure indépendants ou plus, constituant deux lignes de visée optique indépendantes ou plus, de façon à pouvoir mesurer simultanément, comme précédemment décrit, la distance de deux points ou plus d'un objet unique par rapport à ces lignes.Ainsi on peut régler (ou limiter) les degrés individuels de liberté de objet auquel les masques individuels sont raccordés aux points étuaiés, jusqu'à ce que la position de cet objet dans l'espace, où on a réalisé les lignes de visée requises, soit déterminée de façon exacte. Les variations des signaux analogiques des sorties des récepteurs correspondant aux faisceaux de lumière de mesure permettent l'évaluation automatique des changements de dimension de cet objet dans les directions perpendiculaires aux bords actifs des masques correspondants, ou bien ces signaux analogiques (ou des signaux logiques dérivés) peuvent être utilisés pour maintenir de façon automatique cet objet dans la position requise par rapport aux points de contact des lignes de visée optique avec les bords actifs des masques correspondants. Bien entendu, si, dans une telle limitation automatique delta position de-l'objet observé, on laisse sans imitation un degré de liberté, par exemple dans la direction du déplacement le long des lignes de visée optique préalablement déterminées, on peut réaliser un guidage de l'objet déterminé par les lignes de visée optique et par les distances des points etudiés de l'objet guidé (c'est-à-dire les points de raccordement des masques) par rapport aux bords actifs de ces masques. Il est généralement inutile de limiter le déplacement de 1' objet guidé à une voie rectiligne déterminée, par exemple par plusieurs lignes de visée optique parallèles. On peut simultanément faire tourner ou déplacer latéralement l'objet guidé, c'est à-dire réaliser une combinaison avec le mouvement primaire de façon à guider l'objet selon une courbe compliquée, si, au cours du mouvement d'avancement primaire de l'objet guidé, on modifie de façon appropriée les paramètres qui limitent les degrés de liberté restants, ou si on modifie les éléments qui déterminent les positions de l'objet guidé par rapport aux points de contact des lignes de visée optique avec les bords actifs des masques correspondants.Des éléments semblables sont constitus par les distances mutuelles des lignes de visée optique, et les distances des points de contact des masques avec les lignes de visée optique correspondantes par rapport aux points étudiés de l'élément guidé. Quand on réalise un changement continu approprié de ces éléments pendant le mouvement d'avancerent primaire de l'objet guidé en programmant ces éléments de façon appropriée, on peut obtenir un mouvement de l'objet guidé selon une courbe choisie à l'avance qui peut avoir une configuration spatiale complexe. On peut donc réaliser cette programmation selon les procédés suivants 1. En choisissant de façon appropriée la position mutuelle des lignes de visée optique utilisées, de façon à ce qu'elles divergent et/ou forment un angle sans venir en contact. 2. En changeant les distances mutuelles des lignes de visée optique selon le trajet parcouru par l'objet guidé dans la directif du mouvement d'avancement primaire. 3. En changeant les points de contact des bords actifs des masques par rapport aux lignes de visée optique respectives, ce quto obtient, soit en inclinant les bords actifs de ces masques par rapport aux directions des mouvements permis de ces masques, soit en façonnant les profils des bords actifs de ces masques selon des courbes spatiales, ou bien encore en combinant ces deux procédés. 4. En changeant la distance des points de contact des bords actifs des masques avec les lignes de visée optique correspondantes par rapport aux points étudiés de l'objet guidé (c'est-à-dire par rapport aux points de raccordement de ces masques avec 1'obit guidé) en fonction du trajet parcouru par l'objet guidé dans la direction du mouvement d'avancement primaire. 5. En combinant simultanément une partie ou la totalité des procédés indiqués. Le procédé le plus important d'introduction des programmes -pour modifier les éléments -déterminant la position de l'objet guidé par rapport aux lignes de visée optique est, du point de vue pratique, le procédé 4 comme, le montrent également les exemples pratiques précités. I1 convient de plus d'indiquer que le programme des changements des élémenta , déterminant-- la position de 1' objet guidé par rapport aux lignes de visée optique, n'est pas obligatoirement réalisé en fonction de la distance parcourue par l'objet guidé dansa direction du mouvement d'avancement primaire, mais qu'on peut également le faire dépendre d'autres valeurs, par exemple du temps. Le nombre de lignes de visée optique (et par conséquent le nombrè de faisceaux de lumière de mesure indépendants réalisés par des couples indépendants transmetteur-récepteurs) qui sont nécessaires dans le cas optimal pour guider un objet selon un trajet donné, dépend des besoins concrets de chaque cas et, essenr tiellement, de la précision et de la sensibilité de l'ensemble du dispositif dans certaines directions de mouvement préférées de l'objet guidé. Chacun des faisceaux de :mesure optique utilisés avec les dispositifs de guidage d'un objet selon un trajet donné peut être muni, selon son importance ou les besoins de précision ou de sécurité, d'un faisceau de lumière correspondant de référence ou de blocage. Dans le dispositif décrit de formation des faisceaux de lu typlques mière, on a utilisé des systèmes à fente optiques', dont la surface d'entrée (ou de sortie) a toujours la forme d'une fente relativement étroite et simultanément longue, ce qui constitue une caractéristique importante d'une telle solution. Cette forme de la surface d'entrée (ou de sortie) des systèmes optiques formant des faisceaux de lumière de mesure, permet d'obtenir simultanément, avec la précision maximale requise de fonctionnement et, par conséquent, elle constitue dans les cas semblables la forme optimale. Le signal analogique qui est reçu à la sortie de chaque récepteur du faisceau de lumière de mesure peut être utilisé pour indiquer la position du bord actif du masque dans la zone active du faisceau de lumière de mesure le long de la totalité du trajet déterminé par la largeur de la fente du système optique directionnel du transmetteur et du récepteur. En modifiant la largeur de ces fentes, on peut, en pratique, réaliser dans certaines mesures un compromis entre la précision et la gamme de mesures au moyen d'un signal analogique (et également la gamme de l'ensemble du dispositif). Si on-désire simultanément une précision de mesure élevée et une amme étendue de lectures de mesure des distances, on peut, comme précédemment indiqué, régler automatiquement le bord actif du masque correspondant au contact de la ligne de visée optique au moyen d'un dispositif de déplacement du masque, commandé par un servo-mécanisme, commandé lui-même par des ordres dérivant d un signal analogique ou logique de la sortie du récepteur correspondant. On obtient la lecture de la distance mesurée par évaluation analogique ou digitale dans une condition stabilisée de la position du servo-mécanisme commandant le mouvement du masque. On élimine ainsi les défauts de linéarité qui ont, dans une certaine mesure, un effet sur la précision des mesures lors de 1' évaluation du signal analogique de base à la sortie du récepteur. En plus d'une précision élevée et d'une gamme étendue de distances mesurées, si on désire également une vitesse élevée d'évaluation des mesures, si lorsque le servo-mécanisme décrit n'est plus capable de prendre sa position stabilisée avec la précision désirée, on a avantage à évaluer la position instantanée de ce servomécanisme par un élément à inertie linéaire, dont la réponse d' impulsion est la même que la réponse d'impulsion du système récepteur dans son ensemble, et réaliser simultanément une lecture du signal analogique à la sortie de ce récepteur. k partir de ces deux valeurs obtenues, on peut évaluer la valeur réelle de la distance mesurée et réduire l'influence des propriétés dy.nami- ques du servo-mécanisme sur terreur globale des mesures. Pour les mesures directes de petites variations ou dans une petite gamme de distances à partir de la ligne de visée optique, on peut utiliser de façon avantageuse la relation linéaire du signal analogique par rapport au mouvement du masque, cette relation existant dans une certaine zone disposée de façon symétrique par rapport à l'axe de la zone active du faisceau de lumière de mesure. T'importance de cette zone linéaire varie selon une relation, symétriquement par rapport au centre du trajet mesuré, (ctest-å-dire en fonction de la distance transmetteur-récepteur), à condition que les tailles-des fentes des systèmes à fente optique directionnelle du transmetteur et du récepteur soient égales. Les relations du signal analogique avec le mouvement du masque sont constantes pour une certaine disposition du système de mesure, et on peut les exprimer analytiquement en particulier pour des modèles ou des -cas simplifiés qui peuvent se produire en pratique (voir par exemple la mesure décrite relativement à la figure 3). On peut modifier en continu le degré d'utilisation du signal analogique pour une évaluation directe d'une distance mesurée (ou des changements de cette distance) par rapport à une ligne de visée optique, pour réaliser un compromis avec la précision de mesure, en inclinant simultanément les fentes paralleles du trans- metteur et du récepteur par rapport à la direction du bord actif du masque, de telle sorte que la gamme du dispositif demeure la même.En inclinant simultanément les axes des fentes du transmetteur et du récepteur, on ne fait pas que modifier ltimportance du mouvement du masque permettant dtobtenir un signal analogique (et également une précision de mesure exécutable), car on peut égales ment régler la marche des relations onctionnelles du signal analogique par rapport au mouvement du masque en des emplacements individuels du trajet mesuré. L'erreur de mesure de la distance par rapport à la ligne de visée optique, due en particulier à l'influence des phénomènes de diffraction, est maximale au centre du trajet mesuré, tandis que, pour les systèmes lasers (ou pour le nivellement classique), pour des mesures de la mAeme longueur de la base, elle est maximale à la fin du trajet mesuré.le dispositif selon l'invention présente donc pour cette raison toutes les conditions permettant de doubler la précision des systèmes connus. On peut réduire ou éliminer totalement l'influence des phénomènes de diffraction, et également l'influence d'un changement de la relation fonctionnelle du signal analogique par rapport à 11 importance de l'occultation le long du trajet mesuré, quand on évalue la valeur moyenne des mesures obtenues en déplaçant le bord actif du-masque dans la zone active du faisceau de lumière de mesure d'un côté (par exemple à partir du bas), et, d'autre part, en déplaçant le bord actif du masque de l'autre côté (par exemple à partir du haut), de telle sorte que ces mesures soient évaluées par rapport au même niveau de comparaison k.Ainsi le problème de l'occultation de la zone active devient un problème symétrique par rapport à l'axe du faisceau de lumière de mesure et tous les phénomènes, qu'ils soient symétriqùes à cet axe (c'est-à-dire les relations fonctionnelles indiquées du signal analogique) ou qu'ils ne soient pas sym'triques (par exemple les phénomènes de diffraction), sont éliminés suivant la précision avec laquelle la symétrie de ces deux mesures par le masque est maintenue. La précision des mesures peut également être influencée par des variations des propriétés du milieu optique le long du trajet de mesure (par exemple des changements de l'indice de réfraction du milieu). Ces variations ont généralement des propriétés statistiques caractérisées par une durée de corrélation relativement brève (inférieure à une seconde).On peut réduire arbitrairement l'erreur de mesure due à ces influences en choisissant la durée d'évaluation nécessaire à un réglage unique du masque. le dispositif selon l'irvention qui utilise cette propriété diffère donc, entre autres, des dispositifs de lecture optique de mesures classiques de nivellement où la représentation du signal lu est déterminée finalement et avec une précision l-'mib'e par les pro priétés de l'ensemble du milieu optique à travers lequel on observe et qu'il est impossible d'améliorer pour une seule lecture. La stabilité de la ligne de visée qu'on utilise dans l'inven- tion est déterminée par la stabilité absolue de la position des points terminaux de la ligne, c'est-à-dire, par exemple, de la stabilité des positions des centres geométriques des fentes de sortie des systèmes à fente optique directionnelle du transmetteur et du récepteur. Cette stabilité peut être bonne et on peut la maintenir longtemps.On peut ainsi contrôler(ici aussi automatiquement le cas échéant) le tassement progressif à long terme du sol ou la stabilité des points d'un système de triangulation même d'ordre supérieur. le rayonnement utilisé généralement pour les mesures avec le dispositif de l'invention, c'est-à-dire un rayonnement voisin de ltinfrarouge (par exemple d'environ ls') est moins influencé par les propriétés du milieu le long du trajet (par exemple sous l'effet du brouillard, de la pluie ou simllailas) si bien que 1' élimination de ces influences, grâce aux mesures relatives précédemment décrites utilisant un faisceau de lumière de référence, permet une précision accrue. ive faisceau de lumière de référence (ainsi que le faisceau de blocage) doit être géométriquement voisin du faisceau de lumière de mesure mais cependant discernable de celui-ci, soit par le procédé de modulation, soit par la direction de propagation et finalement, de façon moins souhaitable, par la longueur d'onde du rayonnement.La combinaison du faisceau de lumière demeure et du faisceau de lumière de référence (ou également de blocage) qui se propage en direction opposée, dans laquelle le transmetteur du faisceau de lumière de référence ou de blocage est situe à l'emplacement du récepteur du faisceau de lumIère de mesure et transmet le long du trajet de mesure le faisceau de lumière de référence (ou de blocage) qui est reçu par le récepteur du faisceau de lumière de référence (ou de blocage) situé à l'emplacement du transmetteur du faisceau de lumière de mesure, permet, de plus, la transmission simple d' un signal de référence pour une détection synchrone du faisceau de lumière de mesure.L'utilisation d'une détection synchrone apporte des possibilités complémentaires d'évaluation du faisceau de lumière de mesure en améliorant: le rapport signal/bruit et en augmentant relativement la vitesse de réponse. On peut mon-frer que la forme du bord actif du masque (section perpendiculaire à ce bord actif) n'a pratiquement pas d'influence sur la qualité et la précision des mesures (y compris l'évaluation dans le cas de la diffraction). On peut donc mesurer directement avec le dispositif de l'invention la circonférence (profil) d'objets tournants ou en déplacement (voir figure 11) ou mesurer, par exemple, la position de cylindres forgeurs de laminoirs. a puissance de rayonnement des faisceaux de lumière des dispositifs décrits n'est pas élevée (?lmW suffit). Cette valeur est donc nettement inférieure à celle des systèmes lasers et l'utilisation de ce dispositif est donc parfaitement sans danger. RhVENDIGADIONS 1. Dispositif pour mesurer, contrôler et régler la position de points choisis d'cbjets par rapport à une ligne de visée optique déterminée réunissant le centre dut système optique d'un transmetteur de faisceau de lumière de mesure et le centre d'un système optique d'un récepteur sensible sélectivement à la lon- gueur d'onde et à la modulation de ce faisceau de lumière de mesure, caractérisé én ce qu'il fonctionne par occultation de ce faisceau de lumière de mesure, le transmetteur du faisceau de lumière de mesure étant constitué d'un élément photo-émetteur semi-conducteur ayant un système à fente optique directionnelle, le récepteur de ce faisceau de lumière de mesure étant constitué par un dispositif photodétecteur semi-conducteur à faible surface avec un système à fente optique directionnelle, dont la fente, au moins dans une direction, de la même dimension que la fente du système à fente optique du transmetteur et-lui est parallèle, un masque étant placé dans l'espace de propagation du faisceau de lumière de mesure entre le transmetteur et le récepteur, en connexion avec un point choisi de l'objet observé dont la position par rapport à la ligne de visée optique doit être déterminée. 2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le masque est connecté en position fixe par rapport à ltobjet observé. 3. Dispositif selon la revendication 1-, caractérisé en ce que le masque est connecté au point choisi-de l'objet par un dispositif de déplacement. 4. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le photo-détecteur semi-conducteur est muni d'une diode photo-émettrice à alimentation en courant continu, la surface photosensible du photo-détecteur étant dans l'angle de-rayonne- ment de cette diode photo-émettrice. 5. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'un élément photo-émetteur semi-conducteur émettant un faisceau de lumière de référence est disposé à une extrémité du trajet entre le transmetteur et le récepteur du faisceau de lumière de mesure, un photodétecteur semi-conducteur de ce faisceau de lumière de référence et un circuit de comparaison des intensités des faisceaux lumineux de mesure et de référence étant disposés à l'autre extrémité de ce trajet. 6. Dispositif selon la revendication 1, caract-risé en ce qu'il comporte un élément photodétecteur semi-conducteur émettant un faisceau de lumière de blocage à une extrémité du trajet entre le transmetteur et le récepteur du faisceau de lumière de mesure, un photodétecteur semi-conducteur de ce faisceau de lumière de blocage et un circuit de blocage, indiquant l'occultation de ce faisceau de blocage par un obstacle accidentel, étant disposés à l'autre extrémité de ce trajet. 7. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le dispositif d'occultation est constitué directement par la circonférence de 11 objet dont on détermine la position par rapprit à la ligne de visée Optique. 8. Dispositif selon la revendication 3, caractérisé en ce que le dispositif de déplacement, par lequel le masque est connecté au point choisi de l'objet dont on détermine la position par rapport à la ligne de visée optique, est commandé en fonction de l'intensité du signal du faisceau de lumière de mesure dans le récepteur. 9. Dispositif selon la revendication 3, caractérisé en ce que le dispositif de déplacement, qui connecte le masque au point choisi de l'objet dont on détermine la position par rapport à la ligne de visée optique, est commandé selon un programme dépendant du trajet couvert par l'objet. 10. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le système du transmetteur et du récepteur du faisceau de lumière de mesure comporte un dispositif de pointage dont l'axe optique est parallèle à l'axe optique du système à fente direc tonnelle utilisé pour mesurer le faisceau de lumière, ce qui permet de connaître exactement la distance entre ces deux axes optiques.