FR 2241120 A1 19750314 FR 7428317 A 19740814 La présente invention concerne un dispositif de localisation de défauts dans des répéteurs de lignes d'un dispositif de transmission numérique et, plus particulièrement, un dispositif utilisant une ligne de localisation de défauts commune alimentée par diverses combinaisons d'amplitude et de polarité pour surveiller sélectivement la sortie de l'un des répéteurs de lignes. De tels dispositifs de transmission numériques sont maintenant largement utilisés comme moyens pour transporter à la fois des signaux de parole analogiques et des signaux de données entre des stations par l'intermédiaire d'un-dispositif à courants porteurs. Un tel dispositif utilisant des techniques de modulation par impulsions codées (MIC) a été développé aux Etats-Unis d'Amérique par les laboratoires de ia Bell Te le phone sous la désignation de dispositifs de transmission à courants porteurs Tl. Ce dispositif comprend 24 canaux de parole qui sont transmis par MIC sur une paire de fils unique à une fréquence de répétition d'impulsions de 1,544 mégahertz.Pour compenser l'atténuation le- long de la ligne de transmission, des répéteurs de lignes sont insérés à des intervalles d'environ 2 km, tandis qu'une transmission bipolaire est géné raclement utilisée pour supprimer la composante continue sur la ligne de transmission. Un dispositif de localisation de défauts pour un tel dispositif de transmission bipolaire est décrit dans le brevet américain nO 3.083.270. En insérant un nombre déterminé d'impulsions unipolaires dans le train d'impulsions bipolaires à une vitesse de récurrence à fréquences audio, une composante continue variable est fournie. Le niveau de sortie audio de cette composante dépend de la densité des transgressions bipolaires. En conséquence, une mesure des performances de chaque répéteur de lignes peut être fournie à partir du nombre de ces transgressions bipolaires qui peut être reproduit fidèlement. Pour détecter quel répéteur de lignes est en défaut, la sortie de chaque répéteur est alimentée par l'intermédiaire d'un filtre passe-bande accordé à une fréquence unique.Chacun des filtres est relié par une ligne de localisation de défaut commune qui surveille les performances à une station du dispositif. On peut montrer qu'un répéteur marginal réduira toujours le nombre de transgressions bipolaires. Ainsi, quand la densité des transgressions bipolaires dans le signal de-test est augmentée pas-à-pas, jusqu'à une certaine valeur (dépendant de la qualité du répéteur de ligne en cours de test) la sortie du filtre n'augmentera pas autant que cela serait attendu. I1 a été également décrit par Mayo, dans un article ayant pour titre "Répéteur bipolaire pour signaux modulés par impulsions codées", paru dans le Bell System Technical Journal de janvier-1962, pages 25 à 97.et, plus particulièrement pages 78 à 82, qu'il y a un maximum de 17 fréquences de localisation de défauts uniques dans la bande comprise entre 1,005 et 3,017 kilohertz qui peuvent être utilisées comme test dans le dispositif à courants porteurs T1. En pratique, un maximum de 12 des 17 fréquences sont utilisées sur chaque ligne de localisation de défauts. Dans des dispositifs plus courants de l'art antérieur, le nombre de fréquences est doublé, les sorties des filtres étant connectées à des lignes de localisation de défauts séparées. Ainsi, un inconvénient des dispositifs de l'art antérieur est qu'un nombre maximum de 17 filtres, en pratique 12 filtres, peut être connecté à l'une quelconque des lignes de localisation de défauts communes. I1 est en conséquence avantageux de prévoir un dispositif dans lequel des filtres supplémentaires de même fréquence sont liés à une ligne de localisation de défauts commune et de prévoir des moyens pour sélectionner de façon unique la sortie de chaque filtre. En prévoyant à chaque emplacement un circuit de filtre de localisation de défaut qui répond seulement à une tension d'alimentation soit supérieure, soit inférieure, à une amplitude particulière, le nombre de filtres liés à chaque ligne de localisation de défauts peut être doublé. Ainsi, selon la présente invention, il est prévu un dispositif de localisation de défauts pour un dispositif de transmission numérique qui comprend une pluralité de répéteurs de lignes reliés en série le long d-'une ligne de transmission. Le dispositif de localisation de défauts comprend un circuit de filtres sélectifs en fréquences relié à la sortie de chacun des répéteurs de lignes pour surveiller ses performances. les circuits sont divisés en deux groupes qui sont sensibles à des fréquences de test correspondante's, chacune des fréquences étant unique dans un groupe. I1 est également prévu un générateur pour transmettre un signal de test le long de la ligne de transmission à l'une des fréquences de test. Une ligne de localisation de défauts commune est reliée à la sortie de signal de chaque circuit de filtre.L'alimentation est couplée au circuit à partir d'une ligne de localisation de défauts commune. En outre, chaque circuit de filtre sélectif en frequences comprend un moyen de commande pour actionner les circuits dans un groupe seulement quand la tension d'alimentation est inférieure à une valeur sélectionnée et pour actionner les circuits dans l'autre groupe seulement quand la tension d'alimentation est supérieure à une valeur sélectionnée, de sorte qu'un signal en provenance d'un seul des répéteurs de ligne est couplé à la ligne de localisation de défauts commune. Dans un autre mode de réalisation, une seconde ligne de transmission est parallèle à la première et comprend également des répéteurs de lignes aux mêmes emplacements que ceux de la première ligne de transmission. le circuit sélectif en fréquences à chaque emplacement est également relié à la sortie des répéteurs de ligne dans la seconde ligne de transmission. En outre, un moyen est prévu pour~sélectionner la sortie de l'un ou de l'autre de deux répéteurs de lignes connectés à la ligne selon la polarité continue de la tension d'alimentation liée à la ligne de localisation de défauts commune. Avec cette disposition, un nonibre quadruple de répéteurs de lignes peut être connecté à une ligne de localisation de défauts unique. Ainsi, pour faciliter la localisation d'un défaut dans des lignes de transmission avec plus que le nombre maximum alloué de répéteurs de lignes en utilisant une ligne de localisation de défauts unique, les filtres sélectifs en fréquences sont équipés dtamplificateurs commutés. les amplificateurs sont alimentés par la ligne de localisation de défauts de sorte que si la tension d' alimentation est inférieure à une valeur sélectionnée, un premier groupe de filtres répond tandis que si la tension d'alimentation est supérieure à cette valeur, l'autre groupe de filtres répond. Les deux groupes de filtres utilisent des fréquences identiques. En outre, les amplificateurs améliorent le rapport signal/bruit du signal de retour pour des boucles de test plus longues dans le dispositif. En plus du niveau de la tension d'alimentation, la pola rité de la tension d'alimentation peut également servir pour fournir une fonction de sélection. Les amplificateurs commutés ont deux entrées. Une première entrée fonctionne pour unie polarité d'alimentation tandis que l'autre fonctionne pour la polarité opposée. les répéteurs de lignes sur la ligne de transmission incidente sont actionnés par des tensions d'une première polarité tandis queleas répéteurs de lignes sur la ligne de transmission sortante sont actionnés par des tensions d'alimentation de l'autre polarité. Dans un mode de réalisation préféré, cette caractéristique est utilisée en relation avec des dispositifs de bouclage à une station éloignée. Un moyen de surveillance de performances est prévu pour détecter l'absence d'impulsions et/ou des nombres excessifs de transgressions bipolaires à la station éloignée. Quand une énergie d'un niveau et d'une polarité quelconque est appliquée simultanément à la ligne de localisation de défaut à la station principale, la sous-station détecte sa présence et renvoie la sortie d'une ligne de transmission à la sous-station vers la station principale par 1' intermédiaire de l'autre ligne de transmission. Cette caractéristique de bouclage peut être utilisée de deux façons différentes. S'il est nécessaire de vérifier la ligne de transmission incidente à la station principale quand un défaut est détecté, un signal de test peut être appliqué à la ligne de transmission sortante qui est associée à la ligne incidente en défaut. Ce signal de test excitera le dispositif de surveillance de performances dans la sous-station à la suite des transgressions bipolaires. Alimenter la ligne de localisation de défaut bouclera alors le signal de test vers l'arrière dans la ligne en défaut Quand la localisation du défaut est faite sur les lignes de transmission de sortie, aucune indication n'est disponible pour déterminer à la station rapprochée quelle ligne est en défaut. Ceci peut alors être déterminée en alimentant la ligne de localisation de défaut.Puisque la ligne de sortie enregistrera une perte complète de signal ou un nombre excessif de transgressions bipolaires, elle sera bouclée vers l'arrière par l'intermédiaire de la sous-station et par l'intermédiaire d'une ligne de transmission incidente et provoquera un enregistrement à la station principale. Un mode de réalisation de-la présente invention va maintenant être décrit en plus grand détail en se référant au dessin ci-joint, qui représente un dispositif de localisation de défauts pour un dispositif de transmission numérique bidirectionnel. En se référant à la figure unique, le dispositif=de localisation de défauts, en relation avec un dispositif de transmission numérique comprend de façon générale une station principale 10 (ouest) reliée par deux lignes de transmission unidireetionnelles 11 à une sous-station (est) 12. La structure détaillée du dispositif de localisation de défauts sera exposée plus en détails dans la description suivante de ses caractéristiques et de son fonctionnement. Dans cette description, les relais-et les commutateurs seront identifiés par un numéro de référence de base, leurs contacts associés étant désignés par une référence supplémentairé. Pendant le fonctionnement normal, un signal MIC bipolaire de format TI est -envoyé d'une borne d'entrée 20 par l'intermédia ire de la partie de coupure de contacts de transfert 21 à la sortie de la station principale 10. A partir de-là, le signal MIG est couplé à une ligne de transmission allant vers l'est 22 qui comprend 24 répéteurs de lignes reliés en série désignés successivement par 1E, 2E, 3E, ..., 23E et 2tE (dont certains ne sont pas représentés) qui seraient dans un cas particulier situés à environ 2 km d'intervalle le long d'une ligne téléphonique à deux fils. La sortie du dernier répéteur de ligne 24E qui est située dans la sousstation est 12 est reliée par l'intermédiaire d'un contact de coupure 23-1 à une borne de sortie 24.Inversement, un signal d'entrée MIC bipolaire au niveau de la sous-station est 12 est envoyé à partir d'une borne d'entrée 25 par l'intermédiaire des contacts de coupure 23-2 à la sortie de la sous-station 12. Cette sortie est reliée à une ligne de transmission allant vers l'ouest 26 qui comprend également 24 répéteurs de lignes connectés en série 1W, 2W, 3W, ..., 23W et 24W (dont à nouveau certains seulement sont représentés). La sortie du dernier répéteur de ligne 24W qui est située dans la station principale ouest 10 est connectée à une borne de sortie 27. Sauf aux stations d'extrémité 10 et 12, les répéteurs de lignes 1E à 23E et 1W et 23W sont situés par paires ; par exemple le répéteur 1E est apparié avec le répéteur 23W, et le répéteur lIE est apparié avec le répéteur 13W. Aux stations lOet 12, les répéteurs de lignes 24W et 24E sont connectés en série avec les parties incidentes des lignes-de transmission 26 et 22 respectivement. Aucun répéteur de ligne n'est nécessaire sur les parties sortantes des lignes 22 et 26.A chaque emplacement, les répéteurs ou paires de répéteurs 1E à 24E et 1W à 24W sont connectés, soit à un circuit de filtres sélectifs en fréquences alimentés en basse tension 1L, 2L, ..., 12L ou 13L, soit à un circuit de filtres sélectifs en fréquences alimentés à haute tension 1H, 2H, ..., 11H ou 12H. Tous les circuits de filtres sélectifs en fréquences 1L à 12H sont fondamentalement identiques et, en conséquence, seul le circuit de filtre 12L est représenté sous forme de bloc détaillé et de façon schématique. En outre, les sorties de chacun des circuits de filtres sélectifs en fréquences 1L, ..., 12H sont connectées à une ligne de localisation de défauts commune 30 qui comprend, en pratique, une paire de téléphones uniques munis de conducteurs de pointe T et de bague R. A la station principale 10, l'extrémité de la ligne de localisation de défauts commune 30 est connectée au primaire d' un transformateur 31 dont le secondaire est connecté à un poste de mesure de localisation de défauts 32. Pendant un test, la puissance est appliquée à la ligne de localisation de défauts commune 30 à partir d'une alimentation de puissance 33 dans le poste principal 10, qui est capable de fournir une haute tension (105 volts) ou une basse tension (45 volts) de l'une ou autre polarité aux conducteurs T et R. Egalement, un générateur de signal de test 34 est couplé à la ligne de transmission 22 par actionnement des contacts de transfert 2i. le générateur de signal de test 34 envoie un signal bipolaire sur lequel sont superposés des groupes d'une ou plusieurs impulsions unipolaires à des intervalles répétitifs, de façon à produire une composante à basse fréquence à l'une des douze fréquences audio f1 à f12. Chacun des circuits de filtres sélectifs en fréquences 1L, ..., 12H est sensible à seulement l'une des 12 fréquences audio f1 à f12. Quand le signal de test en provenance du générateur 34 est rebouclé par l'intermédiaire du poste intermédiaire 12, les sorties des 48 répéteurs de lignes 1E à 24E et 1W à 24W sont couplées aux 25 circuits de filtres de lignes 1L à 13L et 1H à 12H dont les sorties sont à leur tour réliées à la ligne de localisation de défauts commune 30.Puisque seulement 12 fréquences de test sont utilisées, une autre sélection est réalisée dans chaque circuit de filtres sélectifs en fréquences 1L à 12H en rendant chacun d'eux sensible seulement à une tension d'alimentation sur la ligne de localisation de défaut commune 30 d'une amplitude et d'une polarité particulières Comme oela a été mentionné ci-dessus, chacun des 25 circuits de filtres sélectifs en fréquences IL à 12H est essentiellement identique aux autres et représenté à titre d'exemple par le circuit de filtre alimenté en basse tension 12L. le circuit dans le bloc 12L est en quelque sorte simplifié, seuls les éléments nécessaires à une claire compréhension de son fonctionnement étant représentés.Ce circuit 12L va d'abord être décrit dans ses modes de fonctionnement normaux qui, sauf en ce qui concerne la fréquence de fonctionnement du filtre contenu dans ce circuit, sont identiques à ceux des circuits de filtres 1L, 2L, .. , 13L. Le circuit 12L va alors être décrit comme fonctionnant dans un mode de haute tension qui est fondamentalement identique à celui des circuits de filtres 1H à 12H. Un fonctionnement en haute tension survient quand la tension continue appliquée à la ligne de localisation de défauts commune 30 en provenance de l'alimentation de puissance 33 est supérieure à 65 volts tandis qu'un fonctionnement en basse tension a lieu pendant 1' intervalle durant lequel la tension d'alimentation est inférieure à 51 volts. Quand une tension de 45 volts est appliquée à la ligne de localisation de défauts commune 30 par l'alimentation de puissance continue 33, la borne positive étant sur le conducteur T, les trajets de courant suivants sont établis par l-lintermédiaire du circuit de filtres 12L : à partir du conducteur T, par 1' inter- médiaire d'une résistance de limitation de courant 40, d'une diode 41, d'un amplificateur de commande 42, d'une diode de régulation de courant 49, de contact de coupure 43-1 d'un commutateur bipolaire à double course,-d'une diode zener polarisée en sens direct 44 vers le conducteur R.Une résistance 45 applique une tension positive à l'entrée de li amplificateur 42 qui, à son tour, polarise en sens direct un transistor de commande 46 de façon à établir-le trajet de courant suivant dans le circuit de filtres 12L : de la diode 41, par l'intermédiaire d'un transistor de sortie 47, du primaire d'un transformateur 48, du transistor de commande 46, de la diode de ré gulation de courant 49, vers les contacts 43-1. En même temps, la tension positive sur le conducteur T polarise dans le sens direct la jonction base-émetteur d'un transistor d'entrée 50 par linter- médiaire d'une diode connectée en série 51 et d'une résistance 52, dont une extrémité est couplée à la résistance 40.Ceci applique la sortie du signal du répéteur de ligne 13W vers le transistor de sortie 47 qui, à son tour, est couplé au transformateur 48 dont le secondaire est couplé à un filtre passe-bande 53. La sortie du filtre 53 est connectée aux bornes de la ligne de localisation de défauts commune 30. Si, pendant cet état, une tension de fonctionnement élevée de +105 volts était appliquée entre les conducteurs T et R, un autre chemin de conduction serait établi de la diode 41 par l'in- termédiaire de la diode 45, des contacts de coupure 43, d'une diode zener 55 de 51 volts fonctionnant dans sa zone zener, d'une diode zener 44 vers le conducteur R. La conduction de la diode zener 55 applique une tension négative à l'amplificateur 42 qui, à son tour, coupe- le transistor de commande 46 invalidant par-là le transistor de sortie 47. Si, une tension de 45 volts est maintenant appliquée à la ligne de localisation de défauts commune 30, la borne R étant positive, les trajets de courant suivants seront établis par llinter- médiaire du circuit 12L : du conducteur R par une diode 60, lam- plificateur 42, les contacts de coupure 43-1, une diode zener polarisée en direct 61, la résistance de limitation de courant 40, vers le conducteur T. A nouveau, la tension positive appliquée par la résistance 45 à l'amplificatèur 42 polarisera en sens direct le transistor de commande 46.Ceci établira alors un second chemin depuis la diode 60 par l'intermédiaire du transistor de sortie 47, du primaire de transformateur 48, du transistor de commande 46, des contacts de coupure 43-1, de la diode zener polarisée en sens direct 60 et du transistor 40 vers le conducteur T. En outre, la tension positive sur le conducteur R polarise en sens direct un transistor d'entrée 62 par l'intermédiaire de la diode connectée en série 63 et d'une résistance 64 qui, à son tour, applique la sortie de signal du répéteur de ligne îlE à la base du transistor de sortie 47. Si, pendant cet état, la tension d'alimentation appliquée à la ligne de localisation de défauts commune~30 s'élevait au-dessus de 51 volts, la diode zener 55 commencerait à nouveau à conduire, ce qui, alors, appliquerait une tension négative par l'intermédiaire de l'amplificateur 42 au transistor de commande 46, invalidant par-là le transistor de sortie 47 d'une façon analogue à celle décrite ci-dessus. Pour faire fonctionner le circuit de filtres 12L en réponse à l'application d'une tension d'alimentation élevée (supérieure à 51 volts) le commutateur bipolaire à double course est actionné ouvrant par-là ses contacts de coupure 43-1 et transférant ses contacts de fermeture 43-2. La configuration de circuit est alors identique à celle des circuits de filtres 1H à 12H. Avec une tension de 105 volts appliquée à la ligne 30 à partir de l'alimentation 33 et une tension positive sur le conducteur T, les chemins de courant seront identiques à ceux de la première description ci-dessus, sauf que le courant passant dans l'amplificateur 42 et le transistor 46 passera par l'intermédiaire des contacts de fermeture 43-2 et de la diode zener de 51 volts 55 plutôt que par les contacts 43 I.Si la tension appliquée entre les conducteurs T et Rechute en dessous de 51 volts, la diode zener 55 arrêtera de conduire inhibant par-là l'alimentation appliquée à l'amplificateur 51 et au transistor 46, ce qui, à son tour, inhibe le transistor de sortie 47. Le fonctionnement du circuit l?L dans son autre configuration de haute tension avec 105 volts appliqués à la ligne 30 et une tension positive sur le conducteur R est analogue à la configuration de basse tension avec une tension positive sur le conducteur R. A nouveau, la différence est que le courant en provenance de l'amplificateur 42 et du transistor 46 passera par les contacts 43-2 et la diode zener 55. De meme, si la tension appliquée entre les conducteurs T et R chute en dessous de 51 volts la diode zener arrêtera de conduire, inhibant par-là l'alimentation appliquée au transistor de sortie 47 comme cela a été exposé précédemment. En bref, chacun des filtres 1L à 13L est conditionné pour fonctionner seulement quand une tension d'alimentation continue basse, de moins de 51 volts, est appliquée à la ligne de localisation de défauts commune 30 à partir de l'alimentation de puissance 33. Quand le conducteur T est positif, la sortie des répéteurs de lignes 24W, ..., 13W sera connectée aux circuits de filtres sélectifs en fréquences 1L à 12L respectivement. Inversement, quand le conducteur R est positif, la sortie des répéteurs des lignes 1E à 113 et 24E sera connectée aux répéteurs de lignes 2L à 13L respectivement.L'application d'une tension d'alimentation haute, supérieure à 51 volts, aux filtres 1L à 13L inhibera l'alimentation du transistor de sortie 47 en raison de l'invalidation du transistor de commande 46. D'autre part, quand une tension d'alimentation haute, supérieure à 65 volts, est appliquée à la ligne 30 à partir de l'alimentation de puissance 33, les circuits de filtres sélectifs en fréquence 1H à 12H seront conditionnés. Quand le conducteur T est ppsitif, les sorties des répéteurs de lignes 1W à 12W seront connectées aux circuits de filtres 12H à 1H respectivement. Inverserment, quand le conducteur R est positif, les sorties des répéteurs de lignes 12E à 23E seront connectées aux circuits de filtres 1H à 12H respectivement.Dans ces conditions de fonctionnement, quand la tension en provenance de l'alimentation de puissance 33 chute en dessous de 51 volts, la diode zener 55 cessera de conduire inhibant par-là le transistor de sortie 47. On notera que les deux circuits de filtres 1L et 13L ont seulement une entrée et non deux. Le circuit de filtre 1L fonctionne quand une tension de 45 volts est appliquée à la ligne 30 avec la polarité positive sur le conducteur T, tandis que le filtre 13L fonctionne quand 45 volts sont appliqués à la ligne 30 la polarité positive étant sur le conducteur R. La diode de régulation de courant 49 limite le courant extrait de la ligne de localisation de défaut 30 à environ 0,5 mA indépendamment de la tension d'alimentation exacte disponible aux bornes de la ligne 30. Ceci assure une distribution de puissance égale vers les circuits de filtres 1L à 12H quand des lignes lon- gues sont utilisées. Les diodes zener en anti-parallèle 44 et 61, en relation avec la résistance de limitation de courant 40, fournissent une protection contre les surtensions pour chacun des circuits de filtres 1L à 12H de façon classique. Un défaut de la ligne de transmission allant vers îtouest 26 peut être déterminé, soit par une chute complète du signal bipolaire incident, soit par le nombre de transgressions bipolaires reçues à la borne principale 10. Pour déterminer lequel des répéteurs de lignes 1W à 24W est en défaut, des signaux en provenance du générateur de signal de test 34 sont appliqués à la ligne de transmission allant vers l'est par actionnement~des contacts de transfert 21.A la sous-station 12, un dispositif de surveillance d'erreur 70 détecte les transgressions bipolaires en provenance du générateur de signal de test 34 et actionne un relais 71 qui ferme des contactsde fermeture 71-1. L'application d'une tension haute ou basse à partir de l'alimentation de puissance 33 vers la ligne de localisation de défauts commune 30 déclenche un oscillateur à 10 kilohertz 72 dont la sortie est redressée par une diode 73 en série avec les contacts de fermeture 71-1 pour actionner une bobine de relais 23. Ceci actionne alors les contacts 23-1, 23-2 et 23-3 pour ramener le signal incident sur la ligne de transmission 22 vers la ligne de transmission 26. D'autre part, un défaut de la ligne de transmission al- lant vers lest 22 peut être déterminé en appliquant une alimentation d'une amplitude et d'une polarité déterminées à la ligne de localisation de défauts commune 30. Ceci actionne alors l'oscilla- teur 72.Si des erreurs sont détectées simultanément par le dispo sitif de surveillance dterreur 70, ceci entrain un actionnément du relais 23 par 1' intermédiaire des contacts 71-1 qui, à leur tour bouclent les signaux en provenance de la sous-station 12 vers l'arrière le long de la ligne de transmission 26 vers la station principale 10. Mais, si le signal incident sur la ligne de transmission 22 est sensiblement exempt d'erreurs, aucun bouclage ne prendra place. Pour tester l'un particulier des 48 répéteurs de lignes 1E, ... 24W, un signal de test ayant une composante audio à l'une des fréquences fl, ..., fl2-est appliqué depuis le générateur 34 sur la ligne de transmission 22 par actionnement des contacts de transfert 21. En meme temps, une tension d'une amplitude et d'une polarité sélectionnées est appliquée par l'alimentation de puissance continue 33 à la ligne de localisation de défauts commune 30. L'amplitude de la tension d'alimentation détermine sigles circuits de filtres sélectifs en fréquences de tension d'alimentation tasse 1L à l3L ou les circuits de filtres sélectifs en fréquences de tension d'alimentation élevée 1H à 12H seront actionnés. La polarité de la tension d'alimentation détermine laquelle des deux lignes de transmission 22 ou 26 va être surveillée.Par exemple, si l'on sou- haite tester le répéteur de ligne llE, un signal de test ayant une fréquence f12 sera appliqué à la ligne de transmission 22 à partir du générateur 34. En même temps, une tension d'alimentation continue, en provenance de la ligne d'alimentation 33, à 45 volts et positive sur le conducteur R sera appliquée à la ligne de localisation de défauts commune 30. Ceci polarisera alors en direct le transistor 62 par l'intermédiaire de la diode 63 et la résistance 64 reliera la sortie du répéteur de ligne lIE au transistor 47.La sortie du transistor 47 sera connectée par l'intermédiaire du transformateur 48 et du filtre audio 53 dont la sortie est connectée par l'intermédiaire de la ligne de localisation de défauts commune 30 et du transformateur 31 au dispositif de mesure de 1 calisation de défaut 32. Le format du signal de test pourrait être essentiellement identique à celui décrit dans le brevet susmentionné. Ainsi, ce dispositif fournit un mode de test unique d'un répéteur de ligne particulier dans un dispositif de transmission en utilisant une seule paire de fils pour la ligne de localisation de défauts dans laquelle un nombre limité de fréquences de test est disponible. La présente invention n'est pas limitée aux exemples de réalisation qui viennent d'entre décrits, elle est au contraire susceptible de variantes et de modifications qui apparattront à 1'homme de l'art. REVENDICATIONS 1 - Dispositif de localisation de défauts pour dispos i- tif de transmission numérique bipolaire comprenant - une première et une seconde ligne de transmission munies de paires de répéteurs de lignes connectés en série dans le sens opposé, à des intervalles adjacents, - des circuits de filtres sélectifs en fréquences à chaque emplacement connectés aux sorties des paires de répéteurs de lignes pour surveiller leurs performances, ces circuits étant divisés en deux groupes qui sont sensibles à des fréquences de test correspondantes, chacune des fréquences étant unique dans un groupe ; - un moyen pour transmettre un signal de test bipolaire le long d'au moins l'une des lignes de transmission comprenant des impulsions unipolaires répétitives à l1une des fréquences de test ;; - une ligne de localisation de défauts communie, connectée à une sortie de signal de chacun des circuits de filtres sélectifs en fréquence ; - un moyen pour alimenter les circuits à partir de la ligne de localisation de défauts commune, chacun des circuits sélectifs en fréquences comprenant des moyens pour sélectionner la sortie de 11une ou de l'autre des paires de répéteurs de lignes qui sont connectés en réponse à la polarité continue de la-tension d'alimentation connectée à la ligne de localisation de défauts communie, - caractérisé en ce que chacun des circuits de filtres sélectifs en fréquences comprend un moyen de commande pour actionner les circuits d'un seul groupe seulement quand la tension d'alimentation est inférieure à une valeur sélectionnée et pour actionner les circuits de l'autre groupe seulement quand la tension d'alimentation est supérieure à la valeur sélectionnée ; d'où il résulte qutun signal en provenance dtun seul des répéteurs de ligne est couplé à la ligne de localisation-de défauts commune. 2 - Dispositif de localisation de défauts selon la revendication 1, caractérisé en ce que le dispositif de transmission comprend une station principale et une sous-station et en ce que la sous-station comprend - des moyens pour détecter des erreurs dans le signal bipolaire reçu à partir de la première ligne de transmission, - des moyens pour détecter la tension d'alimentation continue sur la ligne de localisation de défauts commune en provenance de la station principale ; et - des moyens sensibles au détecteur d'erreurs et au détecteur de tension pour renvoyer la sortie de la première ligne de transmission vers l'entrée de la seconde ligne de transmission. 3 - Dispositif de localisation de défauts pour un dispositif de transmission numérique comprenant plusieurs répéteurs de lignes connectés en série selon une ligne de transmission comprenant - des circuits de filtres sélectifs en fréquences connectés à la sortie de chacun des répéteurs de lignes pour surveiller leurs performances, ces circuits étant divisés en deux groupes qui sont sensibles à des fréquences de tests correspondantes, chacune des fréquences étant unique dans un groupe, - des moyens pour transmettre un signal de test le long de la ligne de transmission à l'une des fréquences de test, - une ligne de localisation de défauts commune connectée à une sortie de signal de chacun des circuits de filtres sélectifs en fréquences, - des moyens pour alimenter les circuits de filtres à partir de la ligne de localisation de défauts commune, caractérisé en ce que chacun des circuits de filtres sélectifs en fréquences comprend un moyen de commande pour actionner les circuits d'un premier groupe seulement quand la tension d'alimentation est inférieure à une valeur sélectionnée et pour actionner les circuits de l'autre groupe seulement quand la tension d'alimentation est supérieure à la valeur sélectionnée, d'où il résulte qu'un signal en provenance d'un seul des répéteurs de ligne est couplé à la ligne de localisation de défauts commune. 4 - Dispositir de localisation de défauts selon la revendication 3, dans lequel le dispositif de transmission numérique comprend une -seconde ligne de transmission parallèle à la première ligne de transmission et également munie d'une pluralité de répé-teurs de lignes connectés en série, caractérisé en ce que - chaque circuit de filtres sélectifs en fréquences est également connecté à la sortie de l'un des répéteurs de lignes dans la seconde ligne de transmission, et - chaque circuit comprend en outre des moyens pour sélectionner la sortie de l'un ou autre des deux répéteurs de lignes qui lui sont connectés en réponse à la polarité continue de la tension d'alimentation appliquée à la ligne de localisation de défauts commune. 5 - Dispositif de localisation de défauts selon la revendication 4, caractérisé en ce que la transmission'le long des li gnes est en sens opposé et en ce qu'il comprend en outre, à une station, des lignes de transmission, des moyens sensibles à la détection d'un nombre d'erreurs prédéterminé dans le signal incident en provenance de la première ligne de transmission et à la détection de l'alimentation sur la ligne de localisation de défauts com munè pour appliquer le signal sur l'entrée de la seconde ligne de transmission, d'où il résulte que le test de 1'une ou l'autre des lignes peut étre réalisé à partir de 11 autre borne des lignes.