FR 2221722 A1 19741011 FR 7309405 A 19730315 L'invention concerne le domaine de l'analyse des contraintes par photoélasticimétrie. Bile a plus particulièrement pour objet un procédé permettant de déterminer, en chaque point d'un modèle bidimensionlel, la différence algébrique, même grande en valeur absolue, des contraintes principales, ainsi que leur orientation. L'invention concerne également un dispositif pour la mise en oeuvre d'un tel procédé. La p@otoélasticimétrie doit fournir à l'ingénieur, le plus vite et le plus complètement possible, les données dont il a besoin pour déterminer les contraintes au sein de la pièce qu'il étudie. On connaît deux types de méthodes - des méthodes globales, qui permettent de visualiser rapidement les réseaux d'isoclines et d'isochromes sur tout le champ du modèle. - des méthodes ponctuelles, qui fournissent des renseignements plus complets et plus précis, mais point par point. Les secondes connaissent actuellement un grand développement parce qu'elles se prêtent mieux à une acquisition automatique des données. On en a vu apparaître un certain nombre ces dernières années. Une des premières est sans doute celle de SAPALY [Contribution à l'étude de la photo-extensométrie statique et dynamique (thèse Sc. Phy. Paris 1961) j. Elle permet de déterminer la contrainte principale non nulle en tout point d'un modèle sollicité unidimensionnellement, par la mesure du déphasage de l'intensité lumineuse émergente, modulée par un analyseur-tournant. Puis sont apparues les méthodes bien connues mises au point par A. ROBERT Èprincipe et description d'un photoélasticimètre automatique (Revue Française de Mécanique N 29)l. Une autre méthode a été proposée récemment par I. ALLISOUT, P. NURSE cal data acquisition for an automatic polariscope (Seventer all-union conference on photoelasticity@ Tallinn 1971)7. Elle utilise plusieurs longueurs d'onde et permet de détermiher la différence des contraintes principales en chaque point par compensation. Pour une illustration plus détaillée de la technique antérieure, on peut se reporter à la demande de brevet français déposée le 9 Juin 1972 sous le N 72 20 950 au nom du présent demandeur. Le texte de ladite demande est introduit dans la présente description à titre de référence. On rappellera simplement que la biréfringence d'une lame photoélastique est ourhie par la formule S= Ce (61 E,) dans laquelle la lettre C désigne la constante photoélastique relative, la lettre e l'épaisseur de la lame photoélastique et ltexpression #1 G2 représente la différence des contraintes principales. r'invention a pour objet un procédé permettant de déterminer la valeur de la biréfringence et par conséquent, en chaque point d'un modèle bidimensionnel, la différence algébrique, même grande en valeur absolue, des contraintes principales ainsi que leur orientation. Sous sa forme générale, l'invention a pour objet un procédé d'analyse ponctuelle des contraintes par photoélasticimétrie, en utilisant un modèle ou lame photoélastique éclairé par une sourie lumineuse et interposé entre des moyens polariseurs et analyseurs, procédé dans lequel on fait arriver en incidence normale sur le modèle photoélastique un faisceau lumineux de longueur d'onde donnée, ayant traversé un polariseur circulaire et dans lequel on traite l'information contenue dans le faisceau lumineux transmis par les moyens analyseurs, ledit procédé étant caractérisé en ce qu'on fait tourner à une vitesse prédéterminée un analyseur xecti- ligne tournant situé sur le trajet du faisceau sortant du modèle et ayant traversé une lame quart d'onde, qu'on effectue simultanément la même opération avec un faisceau de longueur d'onde différente obtenu dans les bermes conditions que le premier, la lame quart d'onde étant quart d'onde vis-à-vis des longueurs d'onde de chacun des deux faisceaux, qu'on fait tourner la lame quart d'onde, en vue de repérer les directions principfiles en un point du modèle, jusqu' ce que les intensités des deux signaux correspondant aux faisceaux modulés par l'analyseur tournant soient en phase ou en opposition de phase ou que l'amplitude de la composante alternative de l'une desdites intensités soit minimale, ce qui correspond à une première position déterminée de la lame quart d'onde, qu'on fait tourner de 450 la lame quart d'onde à partir de ladite première position, ce qui l'amène à une deuxième position, qu'on mesure alors le déphasage des deux faisceaux correspondant à cette deuxième position et qu'on détermine directement la différence des contraintes principales, qui est proportionnelle à ce déphasage. Le système optique mis en oeuvre dans le procédé de l'invention comprend donc, en incidence normale, au moins une source lumineuse capable de fournir deux faisceaux de lumière monochroma tique, un polariseur circulaire cortitué--d'uI-1.polariseur rectiligne et d'une lame quart d'onde, le modèle photoélastique proprement dit, une deuxième lame quart d'onde puis un analyseur rectiligne tournant et deux filtres, chaque filtre ne laissant passer qutune longueur d'onde, celle du faisceau transmis correspondant à chaque faisceau incident, les deux faisceaux sortant respectivement de ces deux filtres étant transmis individuellement à deux photomultiplicateurs. Le procédé selon l'invention peut présenter un certain nombre de variantes. On notera tout d'abord que la rotation de 450 de la lame quart d'onde située à la sortie du modèle photoélasti- que peut etre effectuée dans n'importe quel sens partir de la première position déterminée de la lame quart d'onde. Il est préférable, par ailleurs, de déterminer la direction des contraintes principales à partir de la deuxième position -de la lame quart d'onde, ce qui évite tout risque d'erreur sur le si- gne de la différence des contraintes priucipales. On notera également qu'on peut déterminer directement la deuxième position de la lame quart d'onde en la faisant tourner jusqu'à ce que le déphasage entre les intensités des deux faisceaux transmis soit égal à un extremum, qui correspond à un maximum de l'amplitude des composantes alternatives des intensités lumineuses. En variante, on peut s'arranger pour que la première position de l'analyseur tournant corresponde toujours au cas où les intensités des deux signaux correspondant aux faisceaux modulés par l'analyseur tournant, soient en phase. On superpose alors à chacun des signaux correspondant aux deux faisceaux lumineux transmis un signal-de référence ayant une pulsation double de celle de l'analyseur tournant et une phase ne dépendant que de la position de la lame quart d'onde située du côté de l'analyseur. Il est également possible d'asservir la lame quart d'onde, disposée du co- té de l'analyseur, en vue de fixer ladite lame dans la première position, sans intervention manuelle, par exemple en cas de déplacement du modèle. Selon une variante particulièrement intéressante du procédé de l'invention, au lieuse deux faisceaux de longueur d'onde différente ou faisceaux actifs, comme dans le cas général décrit cidessus, on utilise un faisceau actif et un faisceau de référence, c' est-à-dire un faisceau dokt la phase-ne dépend que de la posi- tion de la lame quart d'onde associée à l'analyseur tournant. Dais cette variante, la successIon des opérations reste alors la même qu'avec deux faisceaux actifs mais, dans ce cas, la différence des contraintes principales n'est pas en général proportionnelle au déphasage des deux faisceaux transmis et ne peut donc être directement déterminée.Il y a donc lieu, dans une telle variante, de déterminer par une autre mesure le déphasage obtenu en changeaht seulement la longueur d'onde du.faisceau actif. A l'aide des valeurs de ces deux déphasages, il est alors possible de calculer la différence des contraintes principales. Lorsqu'il est utilisé, le faisceau de référence peut etre obtenu de diverses maniçres. D'une façon générale, on notera que le faisceau de référence n'est pas obligatoirement constitué pa un faisceau lumineux car on peut par exemple utiliser un signal électrique comme référence. A titre illustratif, on peut obtenir le plus commodément un faisceau de référence en envoyant sur l'analyseur tournant un faisceau polarisé rectilignement à 450 des lignes neutres de la lame quart d'onde disposée du coté dudit analyseur. Dans ce cas, on associe un polariseur rectiligne à la lame quart d'onde disposée du côté de l'analyseur tournant. Un autre moyen de former un faisceau de référence est de former un faisceau identique au faisceau actif mais ne traversant pas le modèle photoélastique, auquel cas il n'est pas nécessaire d'avoir recours à un polariseur rectiligne associé à la lame quart d'onde. Selon une autre variante encore, on peut utiliser un deuxième faisceau de référence, polarisé rectilignement, totalement indépendant du premier, mais ayant la même pulsation. Le déphasage entre les deux faisceaux de référence correspondant à la deuxième position de la lae quart d'onde est égal au double de l'angle formé par une direction principale du modèle avec la direction de polarisation du deuxième faisceau de référence. Cette variante permet donc de lire itrectement la position des directions principales. Il est parfois difficile de mesurer le déphasage entre des signaux d'amplitude trop faible,par exemple, lors de la détermination de la première position de la lame quart d'onde. En effet, dans cette position, l'amplitude du ou des faisceaux actifs passe par un minimum. Dans ce cas, au lieu de suivre l'évolution du déphasage, on peut suivre les variations de l'amplitude de la com posante alternative du faisceau transmis, ce qui permet également de déterminer la deuxième position de la lame quart d'onde. Pour la commodité de l'exposé, on illustrera d'abord le procédé de l'invention en décrivant sa mise en oeuvre avec un fais- ceau actif et un faisceau de référence. La figure 1 est une représentation vectorielle illustrant l'application de l'invention à l'analyse des contraintes en un point d'une lame ou mode photoélastique. A la figure 1, on a désigné par - x et y les directions des contraintes principales et #2 au point du modèle M considéré. - A(t) la direction de polarisation de l'analyseur tournant A à l'instant t -x1 et y1 les axes lent et rapide de la lame quart d'onde Q disposée du côté de l'analyseur tournant A. - x0 une direction de référence. On pose ss= (x1, x) &alpha;= (x0, x1) # = (x1, A(t)), angles définis à #près et orientés par le sens de propagation de la lumière. Entre les vibrations lumineuses se propageant suivant les directions x et y existe la différence de marche, ou biréfringen ce, #= Ce (#2 - #1),e et C étant respectivement l'épaisseur et la constante photoélastique du modèle. Il lui correspond le dé phasage #1 =2## / #1, si l'on utilise une lumière monochromati- que de longueur-d'onde #1. On démontre que l'intensité lumineuse issue de l'analyseur tournant est de la forme (1) I = 10/2 (1 + sin 2 # cos #1 - cos 2 # sin #1 sin 2 ss ) si la lumière incidènte est circulaire droite (sin@n, on obtient une composante alternative de signe opposé). En envoyant, sur l'analyseur tournant, un faisceau de lumière rectiligne polarisée suivant la direction P1, telle que (x1, P1) = #/4, on forme un signal de référence I1, de la forme: (2) I1 = I0/2 (1 + sin 2 0) Le déphasage #1, entre les composantes alternatives de I et I1 dépend de la disposition relative du modèle M et de la lame quart onde Q, caractérisée par l'angle ss .On a ainsi la relation; (3) tg#1 = " tg 01 sin 2 On montre que - si les axes de Q sont paralleles à ceux du modèle #1 = 0 - si les axes de Q sont bissecteurs de ceux du modèle (X1, X) = t/4 d'où yl = (x1, x) = -#/4 d'où #1 = On obtient donc la position des directions principales du modèle en annulant tg #1 par rotation de la lame quart d'onde Q: elles coincident alors avec les lignes neutres de la lame quart d'onde Q. Le procédé conduit donc à la détermination directe de la direction des contraintes principales. On mesure ensuite, à 2 # près, le déphasage 1 proportionnel à #2 -o1 en tournant la lame quart d'onde Q de -#/4 par rapport à sa position antérieure. En fait, le procédé ne fournit #2 - #1 qu'à un terme additif près, que l'on détermine en mesurant le déphase 2 associé à une deuxième longueur d'onde #2 d'un faisceau de référence. Les deux biréfringences correspondantes sont On mesure 1 et 2 tels que k2 étant un nombre entier, #vaut -1, O, ou 1 tant que La valeur de est donnée par l'expression: Le nombre k est l'entier le plus proche de 2 la relation Il est ainsi possible de déterminer rj' et, par conséquent, la différence algébrique des contraintes principales. En variante, le procédé ci-dessus décrit, qui fait appel à des mesures de déphasage, peut être mis en oeuvre avec des mesures d'amplitude. En effet l'intensité lumineuse I, définie par la formule (1) précédente, comporte -une composante continue o -une composante alternative d'amplitude Lorsque les lignes neutres de la lame quart d'onde/sont parallèles aux directions principales du modèle (ss= k , k entier) l'amplitude a passe par un minimum 0/2 cos #1. Lorsque les lignes neutres de la lame Q sont bissectrices des directions principales de M, l'amplitude a passe par un maximum I0 et le déphasage entre Iet Il est alors ##1 suivant que ss=#2 #/4 Ainsi pour orienter Q par rapport å M, au lieu de suivre l'évolution du déphasage entre I et Il,on peut suivre les variations de l'amplitude a de la composante alternative de I. Une telle mesure d'amplitude est complémentaire du procédé de mesure de phase lorsque les deux minima de l'amplitude a, associés aux deux longueurs d'onde et#2, sont simultanément trop faibles pour permettre la mesure pratique du déphasage. Lorsque le procédé de 1'invention est mis en oeuvre dans sa conception la plus générale, il est fait usage de deux faisceaux actifs ce qui permet d'afficher directement la différence 51 Par rapport au mode de réalisation comportant un faisceau de réfé- rence Il,le procédé consiste à remplacer ce faisceau par un faisceau I', semblable à I mais de longueur d'onde différente. On uti-- lise alors une lame quart d'onde Q', qui est 1/4 d'onde pour I' et telle que ses axes lent et rapide soient respectivement parallèles à leurs homologues de la lame Q.Les intensités I et I' sont adonnées par les relations: (1 + sin 2 # cos #1- cos 2# sin #1 sin 2 (1 + sin 2 Q cos 2- cos 2 Q sin 2 sin 2 2) Les mesures du déphasage existant entre I' et I,permettent de déterminer la direction des contraintes principales en un point du modèle et la différence #1 -#2.En effet tg#est nulle lorsque les lignes neutres de la lame Q sont parallèles aux directions principales de M(sin 2ss t O). ol peut ainsi déterminer ces directions -'t, = 1 - 2 lorsque les lignes neutres de-la lame Q sont bissectrices des directions principales de M de sorte que (x,,x)= + -. est alors proptiopnel à la différence des contraintçs principalest = I 211ce E ( -2 ~ ) En tarant convenablement le voltmètre lié au phasemètre, on peut lire directement la différence des contraintes principales en valeur algébrique. ainsi, dans s forme la plus générale, le procédé de l'inven- tion consiste successivement - à lire le déphasage entre I et I' en tournant la lame quart d'onde jusqu'à le rendre nul ou égal à #pour déterminer les directions principales. - à effectuer la rotation de + #/4 de la lame quart d'onde Q et à lire le nouveau déphasage entre I et I', qui est proportionnel à #2 - #1, cette différence pouvant ainsi être directement affichée. On a représenté à la figure 2 un schéma de principe d'un dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé. Le dispositif comporte essentiellement, dans le sens des rayons lumineux, une source lumineuse S, un polariseur circulaire Pc constitué d'un polariseur rectiligne Pr et d'une lame quart d'onde L, le modèle tfi ou lame photoélastique à étudier, une lame quart d'onde Q mobile en rotation autour de l'axe optique du système, et un analyseur tournant A. On a matérialisé les deux faisceaux actifs par leurs axes optiques I et I'. On notera que le procédé est mis en oeuvre en incidence normale. A chaque faisceau est associé un filtre F, F'. Les faisceaux lumineux sortant respectivement des filtres F, F' sont transmis à deux photomultiplicateurs 11 et par des conducteurs de lumière. Il est important de noter que la lame quart d'onde Q est quart d'onde pour les deux faisceaux I et I'. Pans la pratique, on utilise une lame formée de deux matériaux différents. On sait en effet qu'à un matériau donné correspond une constante photoélastique dépendant de la longueur d'onde. Atxdeux longueurs d'onde des faisceaux I et I' correspondent donc deux constantes photoélastiques pour un même matériau. On choisit deux matériaux tels que le rapport des constantes photoélastiques relatives aux deux longueurs d'onde pour un matériau soit différent du meme rapport pour l'autre matériau.Par exemple, pour former une lame quart d'onde Q pour les deux longueurs d'onde #1 = 4360 et #2= 5461 , on peut superposer une lame de quartz de biréfringence 9810 pour #1 (9 #1/4) et 9557 pour #2 (7#2/4) et une lame d "'Araldite" où l'on a fixé 8160 A pour #@ @ et 8750 h pour l'ensemble constitue un biréfringent valant sensiblement 17 #1/4 pour #1 et 13#2/4 pour #2, et ayant mêmes axes, lent et rapide, pour les deux longueurs d'onde.Lorsqu'on met en oeuvre le procédé dé en utilisant la variante avec un faisceau actif et au moins ur faisceau de référence, le dispositif est dans son principe identi- que - celui de ta figure 2. Dans ta variante, il suffit d'un filtre inter-os sur le trajet du faisceau actif. De préférence, or associe à l'analyseur tournant A un polariseur rectiligne P'r (non représenté) interposé sur le trajet du faisceau de référence. Dans ce cas, la position angulaire de P'r est telle que sa direction de polarisation fait un angle déterminé, par exemple 450, avec les lignes neutres de la lame quart d'onde Q. Il est avantageux que le polariseur P'r et la lame Q soient liés mécaniquement pour satisfaire en permanence à cette condition de disposition relative. Une solution simple consiste à disposer la lame quart d'onde Q dans une monture circulaire et, à la périphérie de cette dernière, un élément de polariseur en forme de secteur de couronne concentrique à la monture. La position du polariseur 7'r peut être fixe, auquel cas l'angle de/sa direction de polarisation avec les lignes neutres de la lame n est variable. On a représenté à la figure 3 un schéma de montage permettant de mettre en oeuvre le procédé de l'invention avec un faisceau actif et deux faisceaux de référence. Le dispositif de la figure 3 comprend essentiellement - un ensemble émetteur E composé d'une source lumineuse S, d'une optique classique désignée globalement par la référence O et d'un polariseur circulaire - le modèle I à étudier -- un ensemble récepteur R' constitué d'une lame quart d'onde Q, de deux polariseurs rectilignes P1, P2, d'un analyseur tournant a, d'un diaphragme D et d'un filtre F monochromatique. - deux photomultiplicateurs p: et PM2 - un phasemètre PH A l'aide de conducteurs flexibles de lumière (faisceaux de fibres optiques) on réalise deux faisceaux de référence I1 et I2 - l'un, li, traverse le polariseur P1 solidaire de Q. L'ensemble (P1, Q) est mobile en rotation autour de l'axe du faisceau I; il peut etre bloqué dans une position quelconque et subir à@ partir d'elle une rotation de # @ #/4 grâce à un dispositif à cran. - l'autre I2 traverse un polariseur P2 fixe dont la direction de polarisation matérialise X@. Les trois faisceaux I, I1, I2 traversent le même analyseur tournant A sensiblement au même point (grâce à une légère inclinaison de I1 et I2) pour éviter une distorsion des signaux due aux défauts d'homogénéité de l'analyseur. Par d'autres conducteurs flexibles de lumière, ils solit conduits sur deux photomultiplicateurs PI51 et PM2. PM1 reçoit I1 et PM2, tantôt I, tantôt I2. Le déphasage entre les signaux électriques issus de P}.l1 et est est mesuré avec le phasemètre PH. Un instrument de mesure (voltmètre, oscilloscope) permet de vérifier que ces signaux ont une amplitude suffisante. Pans un exemple de réalisation pratique, deux longueurs d'onde (bleu 4360 AO et vert 5461 ) sont obtenues à partir d'une même source S consistant en une lampe à vapeur de nercure de 100W. Les lames quart d'onde, et en particulier la lame Q, le sont à la fois pour les deux longueurs d'onde mais l'axe lent pour le bleu est rapide pour le vert et inversement. Grâce à cette disposition, on mesure les valeurs des déphasages 1 et -2. A l'aide du dispositif de la figure 3, la mise en oeuvre du procédé peut par exemple s'effectuer comme suit (a) PM2 recevant le faisceau actif I, on fait tourner ltensem- ble (P1, Q) jusqu'à annuler (au rendre égal à) le déphasageld au phasemètre. (b) à partir de cette position on fait subir une rotation de - #/4 à l'ensemble (P1, Q) et on lit les déphasages 1 et -#2 associés aux deux longueurs d'onde. (c) on envoie I2 sur PM2 et on lit 2 (&alpha;+ t) double de l'angle d'une direction principale avec x0. A ltétape (a) la formule (1) précitée montre que l'amplitude de la composante alternative de I passe par un minimum égal à 1o cos /2, variable suivant la longueur d'onde utilisées lorsque, pour une longueur d'onde donnée, ce minimum est trop faible pour que le phasemètre fonctionne, on change de longueur d'onde. Aux deux étapes (b) et (c) on mesure les déphasages entre des signaux d'amplitudes constantes, indépendantes de l'état de contrainte au point du modèle étudié. A titre illustratif, le procédé de l'invention a été appliqué à la mesure des contraintes dans un disque en résine époxy disponible sur le @arché sous la dénomination "Araldite" en compression diamétrale. Le disque est représenté vu de face a la figure 4. Une force T s'exerce en compression le long de l'a@e Y du disque. Le procédé a été mis en oeuvre à l'aide dc dispositif de la figure 3, c'est-à-dire avec un faisceau actif et deux faisceaux de référence. n chaque point, on obtient, pour chaque longueur d'onde une valeur de la biréfringence @ l'aide des relations (4) et (5) précitées. L'écart entre les deux valeurs ainsi obtenues est inférieur à 2/100 de longueur d'onde.La moyenne de ces deux valeurs coïncide sensiblement avec la valeur théorique de la biréfringence calculés par la théorie de l'élasticité. Avec les longueurs d'onde utilisées, il est possible de mesurer les biréfringences comprises entre -7900 et + 7900 . Les contraintes, calculées par intégration sommaire, diffèrent de moins de 0,8 N/mn2 des valeurs théoriques. Au centre du disque la valeur de la contrainte est de 20,5 N/mm2, dans les conditions spécifiques de l'essai à savoir force appliquée F de 590 # 6 N diamètre du disque : 110 t 0,1 mm épaisseur du disque e : e = 5 T 0,1 mm Les résultats complets obtenus sont rassemblés dans le tableau ci-après. Les lettres ont la signification suivante; X, Y coordonnées du point étudié du disque, exprimées en mm et rapportées au système de coordonnées ayant le centre du disque comme origine. 51 et S2 = valeurs des biréfringences mesurées pour les lon gueurs d'onde #1 et # 2. #th = valeur de # calculée théoriquement. &alpha;th = valeur de l'angle &alpha; , ci-dessus défini, mesurée théorique- ment. Lesvaleurs de la constante photoélastique du disque sont respectivement de : 58,7 brewsters pour #1 = 4360 et de 54,8 brewsters pour # 2 = 5461 X, Y #1 th &alpha; &alpha;th #xx #xx th #yy #yy en mm en en degrés en N/mm2 -7533 6,8 6,8 -7463 -20,4 -20,5 -10,0 -6923 6,5 5,9 -6897 3,6 0 -6856 -18,5 -1@ -5243 4,8 4,0 -20,0 -5152 -1 0 -5240 -14,3 -14,5 -3194 2,7 2 -30,0 -3176 2,5 0 -3216 - 8,9 - 9,4 -1626 1,2 0,7 -40,0 -1534 1 0 -1643 - 4,8 - 4,9 - 486 0 0,6 -50,0 - 396 -1,35 0 - 514 1,8 - 1,4 X, Y #1 #TH &alpha; &alpha;th #2 0,10 7912 7872 2,9 0 7873 -10,10 7240 7077 -1,5 -3,78 7160 5444 -20,10 5184 5431 -7,75 -8,35 3244 -30,10 3110 -7,35 -8,91 3246 Le procédé de l'invention n'est évidemment pas limité au mode de réalisation décrit ci-dessus à titre d'exemple, On notera que le mouvement relatif, par rapport au modèle, du dispositif de mesure représenté à la figure 2 peut etre acquis, en tout ou partie, par un déplacement dudit dispositif devant le modèle. En outre, on remarguera que le dispositif de mise en oeuvre de l'invention, dans sa conception la plus générale ou dans ses variantes, peut etre constitué des éléments d'un photoélasticimètre classique à lumière circulaire dont on fait tourner l'analyseur à une vitesse prédéterminée@ dans le procédé de l'inven- tion il suffit de déplacer dans le champ lumineux de l'appareil un organe (pouvant etre les extrémités de conducteurs flexibles de lumière) délimitant le (ou les) faisceaux actifs traversant lemodèle, et, éventuellement de capter un rayon de référence parmi ceux ne le traversant pas. Gn peut ainsi combiner les avantages d'un procédé lobal et d'un procédé ponctuel d'analyse des con traintes. Par une visualisation rapide des réseaux d'isoclines et d'isochromes dans tout le champ, le procédé global assure la détection des points faibles de la structure (avec le critère souvent utilisé du cisaillenent maximum) et des régions où # 2- varie peu. Il indique ainsi les zones où l'on doit effectuer des mesures ponctuelles serrées et, au contraire, celles où l'on peut se contenter de quelques points de mesure sans qutil en soit préjudiciable oour le calcul des contraintes. L'utilisation cortaplémen- taire des deux procédés conduit à un gain de temps appréciable et une meilleure précision. iEr'tBI'TDI CATIeTS 1. Procédé d'analyse ponctuelle des contraintes par photoélasticimétrie, en utilisant un modèle ou lame photoélastique éclairé par une source lumineuse et interposé entre des moyens po lariseurs et analyseurs, procédé dans lequel on fait arriver en incidence normale sur le modèle photcélastique un faisceau lumineux de longueur d'onde donnée, ayant traversé un polariseur circulaire et dans lequel on traite l'information contenue dans le faisceau lumineux transmis par les moyens analyseurs, ledit procédé étant caractérisé en ce qu'on fait tourner à une vitesse prédéterminée un analyseur rectiligne tournant situé sur le trajet du faisceau sortant du modèle et ayant traversé une lame quart d'onde, qu'on effectue simultanément la meme opération avec un fasteau de longueur d'onde différente obtenu dans les memes conditions que le premier, la lame quart d'onde étant quart d'onde vis-à-vis des longueurs d'onde de chacun des deux faisceaux, qu'on fait tourner la lame quart d'onde, en vue de repérer les directions principales en un point du modèle jusqu'à ce que les intensités des deux signaux correspondant aux faisceaux modulés par l'analyseur tournant soient en phase ou en opposition de phase ou que l'amplitude de la composante alternative de l'une desdites intensités soit minimale, ce qui correspond à une première position déterminée de la lame quart d'onde, qu'on fait tourner de 450 la lame quart d'onde à partir de ladite première position, ce qui l'amène à une deuxième position, qu'on mesure alors le déphasq3des deux faisceaux correspondant à cette deuxième position et qu'on détermine directement la différence des contraintes principales, qui est proportionnelle à ce déphasage. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on détermine la direction des contraintes principales à partir de la deuxième position de la lame quart d'onde. 3. Procédé selon l'une quelcpnque des revendications 1 ou 2 caractérisé an ce qu'on détermine directement la deuxième position de la lame quart d'onde en la faisant tourner jusqu' c ce que le déphasage entre les intensités des deux faisceaux transmis soit égal à un extremum, qui correspond à un maximum de l'amplitude des composantes alternatives des intensités lumireuses. 4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que la première position de l'analyseur tournant correspond toujours au cas où les intensités des deux signaux, correspondant aux faisceaux modulés par l'analyseur tournant, soient en phase, on superpose à chacun des signaux correspondant aux deux faisceaux lumineux transmis, un signal de référence ayers une pulsation double de celle de l'analyseur tournant et une plia- se ne dépendait que de la position de la lame quart d'onde située du côté de l'analyseur. 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce qu'on asservit la lame quart d'onde, disposée du côté de l'analyseur, en vue de fixer ladite lame dans la première position, sans intervention manuelle, par exemple en cas de déplatement du modèle. @ 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications I à 5, caractérisé en ce qu'au lieu de deux faisceaux de longueur d'onde différente ou faisceaux actifs, on utilise un faisceau actif et un faisceau de référence, c'est-à-dire un faisceau dont la phase ne dépend que de la position de la lame quart d'onde associée à l'analyseur tournant. 7. Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'on détermine, par une autre mesure le déphasage obtenu en changeant seulement la longueur d'onde du faisceau actif, ce qui permet d'obtenir deux valeurs de déphasages et, par conséquent, la différence des contraintes principales. 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications 6 ou 7, caractérisé en ce qu'on réalise le faisceau de référence en envoyant sur l'analyseur tournant un faisceau polarise rectilignement à 450 des lignes neutres de la lame quart d'onde disposée du côté dudit analyseur. 9. Procédé selon la-revendication 8, caractérisé en ce qu'on associe un polariseur rectiligne à la lame quart d'onde disposée du côté de l'analyseur tournant. 10. Procédé selon l'une des revendications 6 ou 7, caractérisé en ce que, pour réaliser le faisceau de référence, on forme un faisceau identique au faisceau. actif mais ne traversant pas le modèle photoélastique 5 auquel cas il n'est pas nécessaire d'avoir recours à un polariseur rectiligne associé à la lame quart d'onde 11.Procédé selon la revendication 6, caractérisé en ce qu'on utilise un deuxième faisceau de référence, polarisé rectilignement, totalement indépendant du premier, mais ayant la même pulsation, auquel cas le déphasage entre les deux faisceaux de référence -correspondant à la deuxième position de la lame quart d'onde est égal au double de l'angle formé par une directions pri cipale du modèle avec la direction de polarisation du deuxième faisceau de référence. 1. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 11, caractérisé en ce que, au lieu de suivre l'évolution de déphasage, on suit les variations de l'amplitude de la composante alternative du faisceau transmis, ce qui permet également de déterminer la première position de la lame quart d'onde. 13. Dispositif pour la mise en oeuvre du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé en ce qu'il comprend en incidence normale, au moins une source lumineuse capable de fournir deux faisceaux de lumière monochromatique, un polariseur circulaire constitué dlun polariseur rectiligne et d'une lame quart d'onde, le modèle photoélastique proprement dit, une deuxième lame quart d'onde puis un analyseur rectiligne tournant et deux filtres, chaque filtre ne laissant passer 4aune longueur d'onde, celle du faisceau transmis correspondant à chaque faisceau incident, les deux faisceaux sortant respectivement de ces deux filtres, étant transmis individuellement à deux photomultiplicateurs. 14. Dispositif selon la revendication 13, caractérisée en ce que la lame quart d'onde associée à l'analyseur est quart d'onde pour les deux faisceaux actifs et est constituée de deux matériaux différents tels que le rapport des constantes photoélastiques relatives aux deux longueurs d'onde pour un matériau soit différent du même rapport pour l'autre matériau. 15. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 13 ou 14 pour la mise en oeuvre du procédé selon l'une quelconque des revendications 6 à 12 caractérisé en ce qu'il ne comporte qu'un filtre interposé sur le trajet du faisceau actif. 16. Dispositif selon la revendication 15 caractérisé en ce qu'il comporte un polariseur rectiligne interposé sur le trajet d'un faisceau de référence. 17. Dispositif selon l'une des revendications 15 ou 16, caractérisé en ce que la direction de polarisation du polariseur rectiligne fait un angle déterminé, par exemple 450, avec les lignes neutres de la lame quart d'onde disposée du côté de l'analyseur tournant. 18. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 15 à 17, caractérisé en ce que le polariseur rectiligne et la lame quart d'onde sont liés mécaniquement. 19. Dispositif selon la revendication 13, caractérisé en ce que la lame quart d'onde est disposée dans une monture circu- laire dont la périphérie rorte un élément de polariseur en forte de secteu de couronne concenlrique à la monture. ÀG. Dispositif selon la revendication 16, caractéris@ en ce que le polariseur rectiligne est fixe. 21. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 13 à 20, caractérisé en ce qu'il comprend un enseble récepteur com- portant une lame quart d'onde, déux polariseurs rectilignes coo- pérant respectivement avec les deux faisceaux de référence, l'ana lyseur tournant et un filtre monochromatique, ledit ensemble étant relié par des conducteurs optiques respectifs à deux photomultiplicateurs, dont les sorties sont branchées sur un phasemè- tre, et pouvant être déplacé par rapport au modèle à étudier. 22. Procédé selon l'une quelconque des revendications s à 12 dans lequel on utilise les éléments d'un photoélasticimètre classique à lumière circulaire, caractérisé en ce qu'on fait tourner l'analyseur à une vitesse prédéterminée, dans le champ duquel on déplace un organe pouvant être constitué par les extrémités de conducteurs flexibles de lumière, sélectionnant le ou les faisceaux actifs traversant le modèle et où l'on peut capter un rayon de référence parmi ceux ne le traversant pas.