FR 2215626 A1 19740823 FR 7402697 A 19740128 La présente invention a pour objet un détecteur de dé- fauts d'isolement comprenant une source de tension d'épreuve et un instrument indicateur gradué en valeurs de résistance. Un tel détecteur de défauts d'isolement est, par exemple, décrit dans le brevet allemand 1 010 161. D'après les indications fournies dans ce document, les gammes de mesure de l'appareil s'é- chelonnent entre des limites de 0,001 et 500 Mégohms. On a toutefois besoin, pour le repérage de lignes susceptibles de comporter des résistances en dérivation, ainsi que pour la recherche de contacts intermittents, d'appareils capables de différencier des résistances comprises dans la gamme des milliohms. Pour adapter à cette fonction particulière l'appareil précité, il serait nécessaire de soumettre l'échantillon essayé à des intensités ou à des tensions inadmissiblement élevées. On pourrait encore à recourir à une mesure de résistance aux moyens de circuits en pont, toutefois une telle mesure requèrerait des moyens importants et serait d'une exécution délicate. La présente invention se donne pour but de concevoir un détecteur de défauts d'isolement de construction simple, et qui soit capable de différencier des résistances meme dans le domaine des milliohms. Ce but est atteint dans un appareil du genre précité, et selon une caractéristique de l'invention, grâce au fait que son circuit d'entrée consiste en un diviseur de tension fractionnant la tension d'épreuve et composé de trois résistances dont l'une, insérée entre les résistances d'extrémité, est représentée par le circuit soumis à l'essai, et qu'aux deux bornes de ce circuit sont reliées les deux bornes d'entrée d'un amplificateur opérationnel dont la sortie est raccordée à l'instrument indicateur et/ou à un montage oscillateur débitant sur un haut-parleur. Grâce à l'insertion du circuit essayé dans un diviseur de tension fractionnant la tension d'épreuve, il devient possible d'employer pour l'amplification de la chute de tension se produisant aux bornes de ce circuit un amplificateur opérationnel sensible et précis, lequel requiert en général comme tension d'entrée une tension symétrique par rapport à la masse. Cette symétrisation est obtenue grâce au fait que le circuit essayé est employé comme résistance intermédiaire dans un diviseur de tension constitué de trois résistances. Il est avantageux d'utiliser la source de tension d'épreuve comme source de tension de service pour l'alimenta tion de l'amplificateur opérationnel et du montage oscillateur. Pour simplifier encore le maniement du détecteur de défauts d'isolement, ainsi que pour empcher l'amplificateur opérationnel et le montage oscillateur de charger la source de tension d'épreuve en l'absence d'utilisation, l'invention prévoit selon une autre de ses caractéristiques que soit raccordée à l'une des bornes du circuit essayé l'électrode de commande d'un transistor de commutation dont le trajet principal contrôle le circuit d'alimentation en tension de service de cet amplificateur et de ce montage. Lorsque le circuit à essayer est raccordé aux bornes prévues cet effet, la chute de tension qui apparat ! alors aux bornes de la résistance du diviseur de tension qui est insérée entre la borne considérée et la borne correspondante de la source de tension d'épreuve a pour effet de rendre passant le transistor de commutation. Comme sélecteur de gammes de mesure peut tre employé un commutateur permettant de court-circuiter sélectivement plusieurs résistances extérieures de contre-réaction connectées en série et associées à l'amplificateur opérationnel. Comme montage oscillateur peut enfin, selon une autre caractéristique de l'invention, etre employé un composant du type intégré disponible sur le marché. L'invention sera à présent décrite plus en détail à propos d'un exemple de réalisation, donné à simple titre illustratif, et en se référant à l'unique figure du dessin ci-annexé. Un diviseur de tension constitué des trois résistances R1, Rx et R2 est raccordé par l'intermédiaire des bornes K1 et K2 à une source de tension d'épreuve non représentée, laquelle peut tre par exemple constituée par une batterie sèche de 9 volts de tension de service. La résistance Rx, qui est représentée sur le schéma en traits ponctués, est constituée par le circuit à essayer lui-mme, lequel doit tre raccordé aux bornes Kxl et Kx2. Ces deux bornes sont reliées, par l'intermédiaire de résistances chutrices R3 et R4, aux deux bornes d'entrée d'un amplificateur opé- rationnel V. Les bornes d'alimentation en tension de service de l'amplificateur opérationnel V sont connectées à des conducteurs d'alimentation L1 et L2 provenant des bornes K1 et K2 de la source de tension d'épreuve. La borne de sortie de l'amplificateur opérationnel V est reliée à la borne d'entrée négative de ce mme amplificateur par l'intermédiaire de trois résistances de contre réaction RG1, RG2, et RG3. Ces résistances peuvent tre sélectivement court-circuitées par l'intermédiaire d'un commutateur S. Celui-ci permet de la sorte de choisir la gamme de mesure appropriée au circuit à essayer. Par ailleurs, la sortie de l'amplificateur opérationnel V est reliée à l'une des bornes d'un instrument indicateur A. L'autre borne de cet instrument est elle-mme reliée par l'intermédiaire d'une résistance réglable R5 au point milieu d'un diviseur de tension constitué d'une résistance R6 et de trois diodes D1, D2 et D3 connectées en série. Ce diviseur de tension est monté entre les deux conducteurs L1 et L2 amenant la tension d'épreuve. Il a pour rôle de maintenir à un certain potentiel, par exemple de 1,7 volts, l'une des bornes de l'instrument indicateur A. La sortie de l'amplificateur opérationnel V est égale- ment reliée à l'une des bornes d'entrée 5 d'un montage oscillateur TG, lequel peut etre constitué par un composant intégré du commerce. La. tension de service amenée par les conducteurs L1 et L2 est appliquée à des bornes correspondantes 1 et 8 du montage oscillateur. Entre la borne 8 et une borne de sortie 3 du montage oscillateur est d'autre part raccordé, par l'intermédiaire d'une résistance chutrice R7, un haut-parleur ou autre dispositif ronfleur LS. Deux autres bornes d'entrée 6 et 7 du montage oscillateur TG sont par ailleurs raccordées aux points de jonction d'un circuit série monté entre les conducteurs L1 et L2 et constitué de deux résistances R8 et R9 et d'un condensateur C. Les tensions prélevées sur ce circuit série servent au réglage de la fréquence fondamentale du montage oscillateur. La fréquence acoustique délivrée au haut-parleur LS dépend toutefois de l'intensité du courant de sortie de l'amplificateur opérationnel. Il est ainsi possible de déduire l'ordre de grandeur de la résistance du circuit essayé à partir de la hauteur du signal sonore émis par le dispositif acoustique. Des contacts intermittents, en particulier, provoquent de rapides fluctuations de la hauteur du son, ce qui permet de les détecter facilement par voie auditive. L'indication visuelle donnée par l'instrument A ne permettrait pas, en raison de son inertie, de déceler de tels contacts intermittents à variation rapide. A la borne Kx2 du circuit à essayer est raccordée, par l'intermédiaire d'une résistance R10, la base d'un transistor de commutation T dont le trajet collecteur-émetteur contrôle le circuit du conducteur d'alimentation L2. Lorsque l'on raccorde le détecteur de défauts d'isolement au circuit à essayer par l'in- termédiaire des bornes Kxl et Kx2, la chute de tension qui apparatt aux bornes de la résistance R2 provoque alors le basculement du transistor T de l'état non passant à l'état passant, et de ce fait également l'application de la tension de service à l'amplificateur opérationnel V et au montage oscillateur TG. REVENDICATIONS 1. Détecteur de défauts d'isolement comprenant une source de tension d'épreuve et un instrument indicateur gradué en valeurs de résistance, caractérisé par le fait que son circuit d'entrée consiste en un diviseur de tension fractionnant la tension d'épreuve et composé de trois résistances (Ri, Rx, R2) dont l'une (Rx), insérée entre les résistances d'extrémité (R1, R2), est représentée par le circuit soumis à l'essai, et qu'aux deux bornes (Kxl, Kx2) de ce circuit sont reliées les deux bornes d'entrée d'un amplificateur opérationnel (V) dont la sortie est raccordée à l'instrument indicateur (A) et/ou à un montage oscillateur (TG) débitant sur un haut-parleur (LS). 2. Détecteur de défauts d'isolement selon la revendication 1, caractérisé par le fait que la source de tension d'épreu- ve sert simultanément à alimenter en tension de service l'amplificateur opérationnel (V) et le montage oscillateur (TG). 3. Détecteur de défauts d'isolement selon l'une des revendications 1 ou 2, caractérisé par le fait qu'est raccordée à l'une (Kx2) des bornes du circuit essayé l'électrode de commande d'un transistor de commutation (T) dont le trajet principal contr8le le circuit d'alimentation (L2) en tension de service de 1'amplificateur opérationnel (V) et du montage oscillateur (TG). 4. Détecteur de défauts d'isolement selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé par le fait qu'est associé à l'amplificateur opérationnel (V) un sélecteur de gammes (S) à plusieurs positions agissant sur des résistances de contre-réaction extérieures (RG1, RG2, RG3) connectées en série. 5. Détecteur de défauts d'isolement selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé par le fait que le montage oscillateur (TG) est constitué par un composant intégré.