FR 2020788 A1 19700717 FR 6930691 A 19690902 La présente invention concerne un appareil et un procéda pour détecter des défectuosités apparaissant dans une bande magnétique Les testa de bandes magnétiques de l'art antérieur consistent jusqu'ici à (1) enregistrer un fort courant continu qui sature la bande ou (2) à enregistrer un signal en courant alternatif qui sature la bande ou (3) à enregistrer un signal en courant alternatif à hauts fréquence qui est faible au point de ne péné- trer que sur une faible profondeur de la bande. Chacun de ces procédas d'enregistrement est utile pour la détection de types spécifiques de défectuosités dans la bande.Cependant, aucun de ces procédés n'est capable de détecter avec succès tous les types de défectuosités dans une bande. Dans le cas d'une bande saturne par courant continu, les circuits de test rattaches à la tête de lecture recherchent les impulsions recueillies à partir de la bande saturne par la tête de lecture. La tête de lecture engendre les im- pulsions lorsqu'une défectuosité de la bande provoque un changement de flux dans la tête de lecture au fur et à mesure que la bande saturée en courant continu se déplace sous la tête de lecture. L'inconvénient de ce test réside dans le fait qu'il ne détecté pas les trous peu profonds ou les bosses de la bande dont l'épaisseur est inférieure à environ 25 x 10 mm. Dans un test de bande suturée en courant alternatif. un circuit de test, rattaché à la tête de lecture, contrôle l'enveloppe du signal en courant alternatif, partir de la bande saturée. Cette enveloppe du signal en courant alter- natif va correspondre en amplitude à l'épaisseur du revêtement d'oxyde placé sur la bande magnétique. De cette façon, les grosses dafectuosites (ayant un diamètre de 25 x 10-3 mm) apparaissant dans la bande font que la bande est soit beaucoup plus épaisse soit beaucoup plus mince que la normales L'enveloppe du signal en courant alternatif va fluctuer au fur et à mesure que la tête de lec- ture se déplace sur un trou ou une bosse.Ce procédé de test est inadéquat étant donné qu'il ne détecte pas les trous peu profonds ou les bosses ou les trous profonds de très faible diamètre. Lors d'un test de bande d'enregistrement sur une faible profondeur. le circuit de test rattaché à la tête de lecture considère l'amplitude de chaque demi période du signal en courant alternatif afin de vérifier ai cette amplitude se trouve en-dessous d'un niveau de seuil. Le circuit de test est complexe en ce sens qu'il contient un circuit d'échantillonnage de la partis crêts du signal enregistré en courant alternatif et également un circuit de seuil pour détecter lorsque la partie échantillonnée dépasse un seuil. La synchronisation doit être maintenue entre le circuit d'échantillonnage et la fréquence du signal lu par la tête de lecture.En conséquence, la fréquence du signal enregistré sur la bande et la vitesse do la bande doivent être rigoureusement commandées. Si le circuit de test, la fréquence d'enregistrement et la vitesse de la bande sont tous correctement réglés. l'enregistrement sur une faible profondeur en courant alternatif peut détecter des défuctuosités très peu profondes apparaissant sur la surface de la bande. L'inconvénient du test sur une faible profondeur en courant alternatif réside dans le fait qu'il ne va pas pouvoir repérer cos dXfec- tuosités de faible diamètre (de l'ordre de 25 x 10 -5 mm) quelle que soit leur profondeur dans la bande.En outre, la complexité des circuits st le réglage de l'équipement montrent que la technique est très coûteuse et difficile à ex- ploiter. A présent, un test complet de la bande nécessite que la bande soit soumis à uns combinaison des essais mentionnés ci-dessus de manière à détecter toutes les défectuosités. La combinaison type consiste à utiliser une saturation en courant continu afin de détecter toutes les défectuosités des trous profonds apparaissant dans la bande et un test de bande wr une faible profondeur on courant alternatif pour détecter les défectuosités très peu profondes.Cette oombi- nu son ne va toujours pas détecter les défectuosités peu profondes de très fai- ble diamètre. En outre, un important équipement est nécessaire on ce sens qu'il fût procéder à deux tests dont le test sur une faible profondeur en courant alternatif qui à lui seul nécessite une grosse partie de l'équipement. Un objet de la présente invention consiste à tester toutes les défectuosités y compris celles ayant une profondeur ou un diamètre de l'ordre de 25 x mm. Un autre objet de la présente invention consiste à tester toutes les d6fc- tuosités petites et peu profondes apparaissant dans une bande on utilisant un seul test de bande. Un autre objet de la présente invention consiste à tester toutes les défec- tuosités peu profondes ou de dimensions réduits apparaissant dans une bande en utilisant un test de bande d'enregistrement à gradients de courant continu. Un autre objet de la-prksnte invention consiste à mesurer la rugosité superficielle de la bande magnétique au moyen d'un appareil de test simple. peu coûteux qui nécessite peu ou pas de réglage. Conformément à la présente invention, les objets ci-dessus sont réalisés on enregistrant un signal à basse fréquence ou à courant continu sur la bande et qui ne sature pas la bande mais qui, au contraire, fournit un gradient de magnétisation dans la bande, Le gradient-de magnétisation dans la bande est tel que la plus forte magnétiiation se trouve près de la surface et que la magnéti- sation devient plus faible à mesure qu'on pénètre dans la bande. Lorsque la bando magnétique est lue, le signal de lecture va fluctuer de façon notable s'il y a une défectuosité, même pou profonde ou petite, dans la bande magnétique. La lecture des fluctuations provoqués par les défectuosités de la bande peut être encore renforcée en contrôlant la tête de lecture au moyen d'un circuit intégrateur. Le circuit intégrateur produit un signal de sortie dont les fluctuations correspondent de tries près aux fluctuations de la surface de la bande, En effet, le fonction d'intégration de l'intégrateur équilibre la fonction de différenciation de la tête de lecture de manière à reproduire les fluctuations dans le flux provoquées par les défectuosités apparaissant dans la surface de la bande. Les avantages de la présente invention par rapport aux dispositifs de tests de bande de l'art antérieur sont nombreux. Tout d'abord ce procédé de test va détecter toutes les défectuosités qu'elles soient grandes, petites, peu profondes ou profondes et en conséquence, il n'est pas nécessaire d'utiliser plusieurs procédés de test pour recueillir toutes les dfifeotuorites comme cela était le cas Jusqu'ici En outre, le dispositif de test de la présente invention est de construction et de fonctionnement beaucoup plus simples que les dispositifs de test de l'art antérieur.Pour cette raison, le prix du système de la présen te invention est beaucoup plus faible et la maintenance du fonctionnement de ce dernier est beaucoup moins coûteuse. En outre le signal produit par l'inté- grateur rattaché à la tête de lecture du système de test de la présente invention est soit une réplique exacte de la rugosité superficielle. soit une mesure de la rugosité superficielle suivant la largeur de la tête de lecture utili suée. Somme toute, le dispositif de test de bande de la présente invention donne une information relative à la surface d'une bande beaucoup plus rigoureuse à moindre prix et son fonctionnement est plus facile que celui des dispositifs de test de l'art antérieur. D'autres objets,caractéristiques et avantages de la présente invention ressortiront de la description qui va suivre, donnée à titre d'exemple non li mitatif, en se reportant aux dessins annexés sur lesquels: La figure 1 représente une partie de bande magnétique enregistrée et tes tés avec des têtes magnétiques. La figure 2 représente un schéma du détecteur de défectuosités de bande. La figure 3 représente une boucle d'hystérésis de la bande magnétique. La figure 4 représente un diagramme de la force du champ dans la bande en fonction de la distance à partir de la tête de lecture. La figure 5 représente un schéma du comparateur de tension de la figure 2. La figure B représente des courbes de réponse en fréquence pour les circuits dans le détecteur de défectuosités de bande. La figure 7 représente l'action entre les têtes de lecture / écriture et une bande daes les dispositifs de test de l'art antérieur et dans le dispositif de test de la présente invention lorsque les dispositifs de test doivent détec- ter un trou dans la couche d'oxyde revêtant la bande. La figure 8 représente l'action existant entre les têtes de lecture/écri- ture et la bande dans les dispositifs de test de l'art antérieur et dans le dispositif de test de la présente invention lorsque les dispositifs de test doivent détecter des particules fixées sur la surface ds la bande ou des bosses apparait- sent sur ld surface de la bande. La figure 1 représente un mode de réalisation préféré de fa présente in vention. Une bande magnétique 10, revêtue d'une couche d'oxyde 12, et placée sur un substrat 14, se déplace devant trois têtes magnétiques. La bande 10 est sous tension tension fournie par des colonnes sous vide ou des moteurs de bobines de la façon bien connue dans l'art. Cette tension permet à la bande d'être an contact avec les têtes magnétiques Si besoin est. un support d'air peut être utilisé entre la bande et la tête d'effacement ou la tête de lecture cependant, la tête d'enregistrement non saturant doit être en contact avec la bande.Les trois têtes magnétiques remplissent les fonctions d'effacement ou de saturation, d'enregistrement non saturant, et de lecture. La tête magnétique 16 est une tête d'effacement. Elle est commandée par une source d'énergie 18. La source d'énergie 18 commande la tête 16 suffisam- ment fortement pour saturer la couche d'oxyde 12 de la bande magnétique. Cette fonction de saturation ou d'effacement peut être réalisée soit par une source énergie en courant continu soit par une source en courant alternatif. La pré sente invention fonctionne pour un effacement soit en courant alternatif soit en courant continus cependant, comme cela sera vu ci-aprgs. le meilleur résul- tet est obtenu par effacement en courant continu ou par saturation en courant continu de la bande magnétique. La tête magnétique 20 enregistre un signal non saturant sur la bande 10. La tête magnétique 20 est entrainée par une source de gradient de puissance 22 afin de fournir un gradient de flux dans la bande magnétique. Le gradient de flux signifie que le flux parallèle à la surface de la bande 10 a une force décroissante à mesure qu'il s'écarte de la tête magnétique. Le gradient de flux permet l'enregistrement d'un gradient de magnétisation dans la couche d'oxyde 12 de bande 10. La source d'énergie variable 22 est une source d'énergie en courant continu. L'homme de l'art peut remarquer qu'une source d'énergie en courant alternatif à basse fréquence est équivalente à une source d'énergie en courant continu si la fréquence par rapport à la vitesse de la bande, est, à des fins pratiques. faible au point que la bande est enregistrée en courant continu. Le meilleur, ou le plus efficace, test de la bande est réalisé par une source d'énergie en courant continu qui magnétise la bande 10 dens un sens opposé à la magnétisation saturée an courant continu de la bande 10 fournie par la tête magnétique 16. Pour détecter les défectuosités, la tête magnétique 24 détecte des changements de flux. sur la bande 10. Les changements de flux sont amplifiés. intégrés et comparés à une référence par le détecteur de défectuosités de bande 26. Lorsque le changement de flux dépasse un seuil donné, le détecteur de défectuosités de bande va indiquer la présence d'une défectuosité. La bande peut alors etre arrêtée et examinée au moyen d'un microscope afin d'observer si la défectuosité peut être corrigée. La tête de lecture magnétique 24, comme le montre la figure. est une te- te à large piste qui recouvre les bords de la bande. L'usage d'une seule tête à large piste met encore plus en évidence la simplicité et le prix modéré du dispositif de test. Si besoin était. une seule tête de lecture étroite couvrant une partie de la bande pourrait être utilisée mais ceci nécessiterait plusieurs détecteurs de défectuosités de bande et une augmentation de prix exagérée du dispositif de test. du Les détails/détecteur de défectuosités de bande 26 sont représentés sur la figure 2. L'enroulement 28 sur la tête magnétique 24 a une prise centrale con nectée à la terre. Chaque extrémité de l'enroulement magnétique 28 est reliée à la base d'un transistor du type NPN.Les transistors 30 et 32 du type NPN sont polarisés par une source de tension positive au collecteur et par une source de courant 34 à l'émetteur. La source de courant 34 actionne le transistor 30, par la résistance 36, et le transistor 32 par la résistance 38. Les transistors 30 et 32 Jouent alors le rôle d'amplificateur de tète afin d'amplifier le courant provenant de l'enroulement 28 et de l'appliquer à un intégrateur 39. La sortie provenant de l'émetteur des transistors 30 et 32 représente des ondes identi ques. Cependant, les ondes sont de polarités-opposées par rapport à la terre. Les signaux sont appliqués à l'intégrateur 39 qui comprend un amplificateur différentiel 40, les résistances d'entrée 42 et 44. les condensateurs 46 et 46 montés dans des boucles de réaction. L'intégrateur fonctionne de là façon bien connue en tant qu'amplificateur opérationnel en mode d'intégration. La configuration différentielle de l'amplificateur est utilisée pour réduire le bruit de mode commun et, partant, améliorer le rapport signal/bruit. A partir de l'intégrateur. les deux signaux intégrés sont appliqués à un second amplificateur différentiel 50 en vue d'une amplification. La sortie de l'amplificateur 50 alimente un comparateur de tensions 52. La configuration différentielle du détecteur de défectuosités de bande est représentée sur la figure 2 étant donné que son fonctionnement est avantageux par rapport à une configuration représentée d'un même côté par rapport à la terre. Plus particulièrement, la configuration différentielle a un meilleur rapport signal/bruit étant donné que le bruit de mode commun peut être fiquili- bré . Cependant. l'homme de l'art pourra remarquer que le détecteur de défec tuosités de bande pourrait être construit avec une seule extrémité de bobine de lecture alimentant un intégrateur se trouvant du même côté de la terre, un amplificateur et un comparateur. La figure 5 représente un schéma du comparateur de tensions 52. Des impulsions positives par rapport à la terre apparaissent à l'entrée 54 et sont appliques à la base du transistor 58 du type NPN par l'intermédiaire du condensateur 57. Les impulsions négatives par rapport à la terre apparaissent à l'entrée 58 et sont appliquées à la base du transistor 60 par l'intermédiaire du condensateur 61. La base du transistor 60 est normalement à un niveau de tension de seuil+TH. Cette tension est appliquée à la base par la source de tension +TH par l'intermédiaire de la résistance 62. Le transistor 60 est normalement rendu passant et conduit le courant de la source de tension +V,. connectée à son collecteur par la résistance 64, à la source de courant 66. connectée à son émetteur par la diode 68. Le transistor 56 est de façon semblable polarisé par la source de tension V1 reliée à son collecteur, et par la source de courant 66 connectée à son émetteur par la diode 70. Le transistor 56 est normalement non conducteur étant donné que sa base est maintenue à la terre par la résistance 72 qui est connectée à la terre.Lorsque la base du transistor 56 est à la terre, et lorsque l'émetteur du transistor 60 se trouve à un niveau de tension quelconque positif, la jonction base-émetteur du transistor 56 est polarisée dans le sens inverse et en conséquence le transistor 56 est non conducteur du courant c'est à dire bloqué. L'autre transistor 74 du type NPN dans le circuit comparateur de la figure 5 est normalement bloqué étant donné que le transistor 60 est passant et maintient la base du transistor 74 au-dessous du niveau terre. Cependant, si le transistor 60 devient bloqué. la tension au collecteur du transistor 60 s'élève et la tension à la base du transistor 74 s'élève à son tour au-dessus du niveau terre et le transistor 74 devient passant. Lorsque le transistor 74 devient passant, la tension à la borne de son collecteur passe de +V3 au niveau terre, la résistance 77 recueille toute la tension V3. Cette chflte de tension de +V3 au niveau terre sert de signal de sortie. Les résistances 75 et 76 sont simplement des résistances de polarisation afin de commander les états passant et bloqué du transistor 74. Le condensateur 78 fait passer des courants transitoires à haute fréquence au niveau terre. Ces courants transitoires sont créés durant la commutation des transistors 60 et 74. Le comparateur de tensions de la figure 5 produit un signal de sortie au collecteur du transistor 74 lorsque la tension obtenue entre l'impulsion positive à l'entrée 54 et l'impulsion négative à l'entrée 58 dépasse le niveau de tension de seuil + TH. Lorsque cette condition existe. la jonction base-émetteur du transistor 56 va devenir polarisée dans le sens direct tandis que la jonction base-émetteur du transistor 60 va devenir polarisée dans le sens inverse.Le transistor 60 se bloque alors et le transistor 74 devient passant. La chûte de tension au collecteur du transistor 74 signale la présence d'impulsions dont la somme algébrique est supérieure au niveau de seuil. Bien entendu, le niveau de seuil peut être fixé à une valeur quelconque.Ce seuil, en contrôlant la dimension des impulsions qui vont provoquer un signal de sortie, contrôlent de ce fait la dimension des impulsions qui vont indiquer une défectuosité dans la bande magnétique. Une autre caractéristique importante dans la conception du détecteur de défectuosités de bande de le figure 2 est représentée par les diagrammes de réponses en fréquence de la figure 6. La figure BA représente la réponse en fréquence de la tête magnétique 24 (figure 1). La tête magnétique joue le rôle de différentiateur et ainsi, sa réponse en fréquence s'élève à environ 6 dB par octave. La figure 6B représente le gain en fonction de la fréquence de l'amplificateur intégrateur. Par suite de la fonction d'intégration, le gain de l'amplificateur intégrateur diminue à la cadence de 6 db par octave. En réglant les résistances d'entrée et les condensateurs de réaction dans l'intégrateur,il est possible de commander la plage des fréquences au-dessus de laquelle cette diminution du gain est linéaire. La figure 6C représente le gain global à partir de la tête de la bande en passant par l'amplificateur intégrateur. L'effet combiné est que, le système a une réponse en fréquence plate allant d'environ 500 hertz à 200.000 hertz. Cette région de réponse comme cela a été mentionné ci-dessus, est réglable suivant les valeurs choisies pour les résistances d'entrée 42, 44 et les condensateurs de rkaction 46,48. La largeur de bande de 500 hertz à 200.000 hertz est souhaitable pour des vitesses de bande de l'ordre de 250 à 500 cm par seconde. L'avantage d'avoir une réponse en fréquence plate dans le détecteur de défectuosités de bande réside dans le fait que le signal amplifié appliqué au comparateur de tension varie directement et est une image de la rugosité superficielle et des défectuosités superficielles rendues moyennes'sur toute la largeur de la tête de lecture. Les signaux différentiels à la sortie de l'intégrateur 39 (figure 2) pourraient être affichés optiquement afin de montrer la rugosité superficielle de la bande. Lorsqu'il est fait usage d'une large tête de lecture magnétique, les signaux provenant de l'intégrateur 39 représentent une rugosité de bande moyenne sur toute la largeur de la tête. S'il était fait usage d'une tête à piste très étroite, les variations superficielles véritables pas sant sous la tête pourraient être affichées. La manière suivant laquelle la présente invention détecte les défectuosités est mieux comprise en se reportant simultanément aux figures 1, 3 et 4. Au fur et à mesure que la bande se déplace de la gauche vers la droite. la bande rencontre tout d'abord la tête d'effacement 16. La tête d'effacement 16 est fortement commandée par une source d'énergie en courant continu et sature la couche d'oxyde magnétique 12 avec un champ magnétique dirigé vers la gauche. La bande se déplace alors vers une position se trouvant au-dessous de la tête magnétique 20. La tête magnétique 20 est commandée par une source de courant continu qui fournit un champ H dans la bande de sens opposé au champ de magnétisation établi dans la bande par la tête d'effacement 16. La force du champ H en fonction de la distance à partir de la tête magnétique 20 est représentée graphiquement sur la figure 4.La force du champ est représentée sur l'axe des données tandis que la distance à partir de la tête est représentée sur l'axe des absci sses. La courbe obtenue est la courbe exponentielle bien connue montrant la décroissance du champ H aux positions les plus éloignées de la tête magnétique. Avec la force de champ H sous la tête magnétique 20 spécifiée par le graphique de la figure 4. la magnétisation de la bande 10 peut être trouvée en faisant référence à la boucle d'hystérésis de la bande représentée sur la figure 3. Sur les figures 1, 3 et 4, les références V, W, X, Y et Z indiquent la magnétisation à des distances données à partir de la tête. Par exemple, pour la distance Z à partir de la tête, la force du champ dans la bande sous la tête est H . Avant que la bande ne se déplace sous la tête magnétique 20, sa.magnétisa z tion est au point 90 sur la boucle d'hystérésis de la figure 3. Le champ H à z partir de la tête provoque le déplacement de magnétisation de la bande au point 92.Au fur et à mesure que la bande quitte la tête magnétique 20. le champ H à partir de la tête est supprimé et la magnétisation de la bande B suit la cour z be 93 jusqu'au point 94 là où le champ H est 0, et la magnétisation finale est BZ. Le vecteur B de la figure 3 correspond au vecteur représenté sur la fi z gure 1 sous la tête 20 à une distance Z de la tête . De façon semblable, les autres vecteurs de distance V, W, X et Y à partir de la tête 20 peuvent être trou f vés en déterminant la/d8 champ H à cette profondeur (figure 4) en appliquant ce champ H à la boucle d'hystérésis de la figure 3, et ensuite en déterminant le vecteur de magnétisation B à cette profondeur à partir de la distance verticale de la figure 3. Comme le montre la figure 1, l'effet produit sur la couche d'oxyde magnétique 12 consiste à enregistrer un gradient de magnétisation dans la couche 12. Près du sommet de la couche d'oxyde. la magnétisation est fortement inversée à partir de la magnétisation d'effacement ou de saturation. Plus profondément dans la couche d'oxyde mahnétique, la magnétisation décroît jusqu'à atteindre O. Plus encore profondément dans la couche d'oxyde. la magnétisation reste dans le même sens que celui de l'effacement mais a une plus petite valeur. il est bien évident pour l'homme de l'art que le degré du gradient peut être commandé par la force du courant commandant la tête magnétique 20 et par la longueur de l'entrefer d'écriture de la tête 20. En outre, la bande magnétique pourrait être effacée par courant alternatif ou ne pas être effacée du tout, au moyen de la tête magnétique 16, et la tête magnétique 20 pourrait encore enregistrer un gradient de magnétisation dans la bande. Cependant, l'amplitude du gradient est renforcée en effaçant la bande dans le sens inverse à la magnétisation à gradient appliquée par la tête 20. Comme le montre la figure 1, la bande se déplace de la tête magnétique 20 à la tête de lecture 24. Etant donné que la bande a été enregistrée par courant continu par la tête magnétique 20, la tête 24 ne va pas fournir de sorties sauf lorsque des défectuosités dans la bande ou la rugosité superficielle de la bande provoquent des changements de flux dans la tête de lecture 24. La manière suivant laquelle l'invention améliore la détection des défectuosités peut être facilement observée à l'aide des figures 7 et 8 qui montrent respectivement un mode de détection de défectuosités de l'art antétieur et le mode de détection de défectuosités conforme à la présente invention. Tout d'abord, la figure 7 montre l'action des têtes de lecture d'écriture avec la bande dont la défectuosité est un trou. Dans l'art antérieur, les trous apparaissant dans la bande sont détectés par saturation en courant continu de la bande, comme le montre la figure 7A, puis par lecture de la bande saturée, comme le montre la figure 7B. Durant le fonctionnement, la bande passe au-dessus de la tête d'écriture de saturation (figure 7A). Par suite de la présence du trou dans laquelle, seule une faible quantité d'oxyde magnétique peut être saturée au voisinage du trou. En conséquence, lorsque la bande. saturée passe au-dessus de la tête de lecture, cette dernière détecte une diminution du flux. La diminution du flux à une position donnée de la bande est le résultat de tous les champs de magnétisation présents daes l'épaisseur de la couche d'oxyde magnétique à ce point. La longueur des flèches placées immédiatement audessus de la bande de la figure 7B. représente la magnétisation comprise de la bande ou le flux observé par la tête de lecture à ce point. Là où il n'y a pas de trou dans la couche d'oxyde, la magnétisation composée, comme l'indiquent les flèches 104 et 106 est relativement grande. Par ailleurs, au voisinage du trou ou vide, la magnétisation composée indiquée par la flèehe 108 est de même sens que les flèches 104 et 106 mais a une valeur beaucoup plus petite. Comme cela est bien connu, le changement de magnétisation au fur et à mesure que la bande se déplace devant la tête de lecture 102 produit un changement de flux dans la tête de lecture 102 qui est recueilli comme impulsion par les enroulements sur la tête de lecture. Les figures 7A, 7C et 7D représentent la relation entre les tests magnétiques et la bande magnétique dans le procédé de test de la présente invention. La bande magnétique est à nouveau saturée par la tête d'écriture 100. La bande passe ensuite à une position placée au-dessus de la tête d'écriture non-saturante 110. Comme cela a été mentionné préalablement, la tête d'écriture non-saturante 110 produit un gradient de flux dans la couche d'oxyde magnétique de la bande, et par là même, produit un gradient -de magnétisation dans la couche d'oxyde magnétique de la bande. Lorsque le trou est placé sur la tto d'écriture non saturante, une partie du gradient de magnétisation dans la bande magnétique est éliminée simplement parce qu'il n'y a pas d'oxyde magnétique.L'effet de cette élimination d'une partie du gradient se révèle lors de la lecture de la bande enregistrée à l'aide d'un gradient de courant comme le montre la figure 7D. La tête de lecture 112 montre une composante de flux qui est la résultante du gradient de magnétisation pour une position donnée sur la bande. Lorsqu'il n'y a ni trou, ni vide dans la bande. le flux résultant observé par la tête de lecture 112 est représenté par les flèches 114 et 116. Comme le montre la figure 7D, les flèches 114 et 116 sont de dimension petite étant donné que, dans l'exemple représenté, la bande magnétique contient des composantes de magnétisation de force variable et de polarité opposée. La résultante du gradient est un petit vecteur qui pointe vers la droite, comme le montrent les flèches 114 et 116. Cependant, lorsque le trou ou vide passe sur la tête de lecture 112, toutes les composantes de magnétisation du gradient ont été éliminées sauf la plus grande composante qui pointe vers la gauche.La tête de lecture observerait alors cette plus grande composante pointant vers la gauche, comme le montre la flèche 118. En conséquence, au fur et à mesure que la bande se déplace sur la tête de lecture 112, -le flux dans la tête change d'une petite quantité vers la droite à une grande quantité vers la gauche. Ce changement de flux considérable produit une impulsion dans les enroulements de la tête de lecture 112. Comme cela peut être observé en comparant la dimension des vecteurs rdsultants des figures 7B et 7D, le changement de flux détecté par la tête de lecture 112 va être légèrement plus grand que le changement de flux détecté par la tête de lec' ture 102. Cependant, le domaine dans leqqel la présente invention fournit un perfec tionnement très important par rapport aux tests de bande en courant continu de l'art antérieur, se trouve dans la détection de défectuosités peu profondes ou de bosses peu proéminentes, comme le montre la figure 8. Sur la figure 8, une bosse peu proéminente est représentée de la même manière que sur la figure 7, montrant le fonctionnement des dispositifs de tests de saturation en courant continu de l'art antérieur et le dispositif de test de bande en courant continu par gradient de la présente invention. Dans le dispositif de test de bande par saturation en courant continu de l'art antérieur, une particule étrangère apparaissant sur la bande provoque un changement de flux très petit à la tête de lecture. Comme le montre la figure 8A. la particule étrangers provoque un bossellement ou une tension de la bande magnétique alors qu'elle passe devant la tête de lecture saturante, 120. Cependant, étant donné que la tête d'écriture sature la bande, le léger écartement de la couche d'oxyde magnétique par rapport à la tête ne réduit pas le pouvoir de la tête de saturer complètement la couche d'oxyde magnétique qui est tendue par la particule étrangère. Lorsque la bande saturée passe alors sur la tête de lecture 122, la perticule étrangère provoque également la tension de la bande. L'effet sur la tête de lecture consiste en un léger écart supplémentaire de la bande magnétique saturée par rapport à la tête. Etant donné que la bande est saturée, l'écartement de la bande par rapport à la tête 122 ne réduit pas le flux résultant, recueilli par la tête. Ceci est représenté sur la figure 8B en ce sens que les flèches 124. 126 et 128 ont toutes la même longueur. En conséquence. la tête de lecture 122 n'observe pas de bosse sur la bande. Au contraire, dans la présente invention la bande se déplace de la tête d'écriture saturante 120 en direction de la tête d'écriture non saturante 130. La tête d'écriture 130 enregistre un gradient de magnétisation dans la bande, de sens opposé à l'enregistrement saturant appliqué par la tête d'écriture 120. Par suite de la particule étrangère, l'oxyde magnétique adjacent à la particule est rejeté de la tête d'écriture non saturante et le gradient de magnétisation dans la bande au niveau du défaut est très nettement différent de la magnétisation apparaissant immédiatement avant et après la défectuosité. Ceci est représenté sur la figure 8D où la bande magnétique enregistrée à l'aide d'un gradient passe sur la tête de lecture 132. La défectuosité provoque à nouveau,le bossellement ou la tension de la bande lorsqu'elle passe sur la tête de lecture.Cependant, si besoin est un support d'air peut être utilisé à la tête de lecture 132, de sorte que la bande ne puisse pas faire contact et qu'elle ne puisse pas être tendue ou bosselée. L'important est le flux résultant détecté par la tête de lecture 132 à chaque position de la bande lorsqu'elle se déplace devant la tête de lecture. Dans les régions où il n'y a pas de bosses, ou de particules étrangères, le flux résultant produit dans la tête de lecture 132 est indiqué par les flèches 134 et 136. Comme le montre le dessin, il y a de petites flèches dirigées vers la droite.Cependantau voisinage de la déflectuosité ou de la fréquence de la particule étrangère, une partie de la magnétisation dirigée vers la droite a été éliminée étant donné que la délectuosité l'empêchait d" être enregistrée par la tête d'écriture 130. En conséquence. le flux résultant recueilli par la tête de lecture 130 est très fort vers la gauche comme l'indique la flèche 138. Lorsque la bande passe sur la tête de lecture 132, il y a un grand changement de flux puisque le flux résultant 136 est suivi par un flux résultant 138, suivi par le flux résultant 134. Ce très grand changement de flux de 136 à 138 pour atteindre 134 produit une forte impulsion dans les enroulements de la tête de lecture 132.Ceci est nettement en opposition avec le que aucune impulsion n'était produite par les dispositifs de tests de bande en courant continu de l'art antérieur (voir figure 8B). Comme cela a été mentionné ci-dessus, cet appareil et ce procédé de tests permettent la détection de très petites ou de très peu profondes défectuosités dans une bande magnétique, défectuosités qui ont un diamètre ou une profondeur de l'ordre de 25 x 105 mm. Cette limitation est imposée par l'état actuel de l'art de l'enregistrement magnétique et n'est pas une limite aux principes * de la présente invention.En d'autres termes, ce procédé de test peut uniquement détecter des erreurs jusqu'à 25 x 10-5mm simplement parce que (1), le meilleur contact connu jusqu'ici entre la bande et les têtes se fait sur une sépa ration de l'ordre de 25 x 10 5 mm, et (2) la réponse en fréquence des têtes li- mitée par leur structure (plus précisemment par la longueur de l'entreferZnta pas une plage de fréquences suffisamment grande pour recueillir suffisamment d'énergie lorsque de très petites défectuosités dans la bande passent sur la tête . En conséquence, pour l'avenir, si l'art développe les têtes ayant une faible longueur d'entrefer et améliore le contact avec la bande, le procédé de test de la présente invention décrit ici va également être capable de détecter des défectuosités dont le diamètre et la profondeur sont inférieurs à 25 x mm. il reste bien entendu que la description qui précède n'a été donnée qu'à titre d'exemple non limitatif et que de nombreuses variantes peuvent être envisagées sans sortir pour autant du cadre et de la portée de la présente invention. Plus particulièrement, bien que la présente invention ait été décrite dans le cas d'une bande magnétique, il est bien compris par l'homme de l'art que cette invention peut également très bien s'appliquer pour le test de tout support d'emmagasinage magnétique tel que des tambours, films minces, disques magnétiques etc.... REVENDICATIONS -1.- Appareil pour détecter des défauts dans un support d'enregistrement magnétique flexible caractérisé en ce qu'il comporte: des moyens pour enregistrer dans le support un champ magnétique continu dont l'intensité varie en fonction de la profondeur dans le support, ce qui permet à la magnétisation du support de présenter un gradient à travers l'épaisseur du support sauf si un défaut est présent dans le support, auquel cas une partie du gradient de magnétisation est perdue, ët des moyens pour détecter des différences de flux magnétique entre des zones voisines du support, ces différences de flux étant dûes à des différences dans le gradient de magnétisation dans des zones voisines du support. 2.- Appareil selon la revendication 1 caractérisé en ce que les moyens de détection comprennent des moyens transducteurs pour engendrer un signal électrique en réponse aux différences de flux magnétique entre des zones adjacentes du support, les dits moyens transducteurs ayant une réponse en fréquence présentant une forme déterminée, des moyens pour amplifier le signal électrique engendré par les dits moyens transducteurs, ces moyens d'amplification ayant une réponse en fréquence qui est inverse de la réponse en fréquence des dits moyens transducteurs, de telle sorte que la réponse globale en fréquence des moyens transducteurs et des moyens d'amplification est sensiblement plate. 3.- Appareil selon l'une quelconque des revendications 1 ou 2 caractérisé en ce qu'il comporte en outre: des moyens pour saturer le support à l'aide d'un champ magnétique continu intense avant que les dits moyens d'enregistrement n'enregistrent un champ magnétique continu dans le support, le sens du champ magnétique appliqué au support par les dits moyens de saturation étant opposée au sens du champ magnétique appliqué au support par les dits moyens d'enregistrement. 4.- Appareil selon l'une quelconque des revendications 1 ou 2 caractérisé en ce qu'il comporte en outre: des moyens pour saturer le support avec un champ magnétique alternatif intense avant que les dits moyens d'enregistrement n'enregistrent dans le support un champ magnétique continu. 5.- Appareil de test de bande magnétique du genre comprenant une tête d'écriture une tête de lecture. et des moyens d'entrainement pour déplacer la bande tout d'abord devant la tête d'écriture, puis devant la tête de lecture. caractérisé en ce qu'il comporte: des moyens d'excitation pour exciter la tête d'écriture avec un signal continu de façon que cette tête d'écriture produise dans la bande un champ magnétique qui varie en fonction de la profondeur dans cette bande. ce qui permet à la magnétisation de la bande de présenter un gradient à travers l'épaisseur de cette bande sauf lorsqu'il y a un défaut dans la bande. auquel cas une partie du gradient de magnétisation est perdue, et des moyens pour permettre à la tête de lecture de détecter des changement5 dans le flux magnétique qui la travsrse, changements provoqués par des différences dans le gradient de magnétisation présenté par la bande dans des zones successives de celle-ci. 6.- Appareil selon la revendication 5 caractérisé en ce que les moyens pour permettre à la tête de lecture de détecter des changements de flux comportent des moyens d'intégration pour intégrer le signal apparaissant à la tête de lecture. la fonction d'intégration étant l'inverse de la fonction de différentiation introduite par la tête de lecture de telle sorte que la sortie des moyens d'intégration varie directement en fonction du flux dans la tête de lec- ture. 7.- Appareil selon la revendication 5 caractérisé en ce qu'il comporte en outre, des moyens d'effacement pour effacer par courant continu la bande avant que celle-ci passe sous la tête d'écriture. le champ magnétique Émis par ces moyens d'effacement étant de sens opposé à celui du champ magnétique émis par la tête d'écriture. 8.- Appareil selon la revendication 5 caractérisé en ce qu'il comporte en outre, des moyens d'effacement pour effacer par courant alternatif la bande avant que celle-ci ne passe sous la tête d'écriture.