Brevet FR3072459A1 (20190419)

REVENDICATIONS1. Procédé de détection de défauts d'une structure aéronautique (STR), comprenant les étapes suivantes: - on dispose sur la structure (STR) un maillage constitué d'une pluralité de mailles (M) et défini par une pluralité de transducteurs (100), ^( chaque transducteur étant commandé au moins entre : o un mode d'émission dans lequel il est apte à émettre un signal d'excitation vers les autres transducteurs (100), 1 0 o et un mode de réception dans lequel il est apte à recevoir un signal de réception émis par un autre transducteur (100), ^( les signaux d'excitation et les signaux de réception étant aptes à se propager à travers la structure (STR), - on extrait, en fonction des signaux d'excitation et des signaux de réception, 15 une signature (S) pour chacune des mailles (M), - on compare les signatures (S) entre elles pour identifier parmi les mailles (M) au moins une maille comme localisant un défaut de la structure (STR), appelée maille défaillante, lorsque la signature (S) de cette maille (M) est différente de plusieurs autres signatures (S) de plusieurs autres mailles (M). 2 0\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 1, caractérisé en ce que la maille défaillante est identifiée comme ayant une signature qui est différente des signatures, qui sont égales entre elles, d'au moins deux autres mailles (M), chacune indépendamment limitrophe ou non limitrophe de la maille défaillante. 25\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'une première fonction d'identification d'un groupe défini par successivement une première maille (1), une deuxième maille (2) et une troisième maille (6), est définie par le fait que la première maille (1), la deuxième maille (2) et la troisième maille (6) sont 30 identifiées comme mailles (1, 2,\n<CLM>\1\tnon défaillantes, lorsque les signatures de ces mailles (1, 2,\n<CLM>\1\tsont égales, 22 lorsque la signature de la première maille (1) est différente de la signature de la deuxième maille (2) égale à la signature de la troisième maille (6), la première maille (1) est identifiée comme maille défaillante, lorsque la signature de la première maille (1) est égale à la signature de la 5 deuxième maille (2) et est différente de la signature de la troisième maille (6), la première maille (1) est identifiée comme maille non défaillante et la troisième maille (6) est identifiée comme maille suspecte, dans une première sous-étape (E31) d'identification, on applique la première fonction d'identification à un premier groupe de trois mailles (1, 2, 6), comportant 1 0 successivement une première maille (1), une deuxième maille (2), qui est limitrophe à la première maille (1), et une troisième maille (6), qui est limitrophe à la première maille (1).\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 3, caractérisé en ce que, dans une deuxième sous-étape (E32) d'identification 15 postérieure à la première sous-étape (E31) d'identification, l'on applique la première fonction d'identification à un autre groupe de mailles défini par successivement une maille de départ formée par la deuxième maille (2) et - la première maille (1), si la première maille (1) a été identifiée comme maille non défaillante, et une quatrième maille (3), qui est limitrophe à la maille de départ, 2 0 - une cinquième maille (7), qui est limitrophe ou non limitrophe à la première maille (1), si la première maille (1) a été identifiée comme maille défaillante, et la quatrième maille (3), qui est limitrophe à la maille de départ.\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 4, caractérisé en ce que l'on réitère la deuxième sous-étape (E32) d'identification une ou 25 plusieurs fois sur respectivement un ou plusieurs autres groupes de mailles.\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 5, caractérisé en ce que la maille de départ de chaque deuxième sous-étape (E32) d'identification est limitrophe à la maille de départ de la deuxième sous-étape (E32) d'identification la précédant. 30\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant l'une quelconque des revendications 4 à 6, caractérisé en ce que la quatrième maille (3) et la cinquième 23 maille (7) sont différentes de la troisième maille (6), qui est identifiée comme maille suspecte.\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant l'une quelconque des revendications 3 à 7, caractérisé en ce que les mailles de chaque groupe sont 5 autres qu'une maille ayant été identifiée comme maille défaillante.\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant l'une quelconque des revendications 3 à 8, caractérisé en ce que pour la troisième maille (6), qui est identifiée comme maille suspecte, on applique une deuxième fonction d'identification définie par le fait que lorsque la signature de la troisième maille (6) est différente de la signature de la première maille (1) égale à la signature d'une sixième maille (7) limitrophe à la troisième maille (6), la troisième maille (6) est identifiée comme maille défaillante, lorsque la signature de la troisième maille (6) est différente de la signature de la première maille (1) différente de la signature de la sixième maille (7), la troisième 15 maille (6) est identifiée comme maille défaillante et la sixième maille (7) est identifiée comme maille suspecte, lorsque la signature de la troisième maille (6) est égale à la signature de la sixième maille (7), un premier signal d'indication est envoyé sur une interface (104) homme-machine. 20\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 1, caractérisé en ce qu'au cours d'au moins une sous-étape (E33, E34) de classification, l'on classifie les mailles (M) ayant la même signature dans une même famille respective, les mailles (M), qui sont classifiées dans la famille respective ayant le plus 25 grand nombre de mailles, appelée famille saine, étant identifiées comme mailles non défaillantes, chaque maille (M), qui est classifiée dans une famille respective n'ayant qu'une seule maille, appelée famille défaillante respective, étant identifiée comme maille défaillante. 30\n<CLM>\1\tProcédé suivant la revendication 10, caractérisé en ce que pour classifier les mailles (M), 24 on classifie une première maille (1) ayant une première signature (S1) dans une première famille (Fi), à laquelle on attribue une référence respective égale à la première signature (S1), puis successivement pour chaque autre maille (k), différente de la première 5 maille (1), on itère la sous-étape (E34) de classification selon laquelle - on compare la signature (S2) de l'autre maille (k) à la référence respective de chaque famille (F1), - si la signature (S2) de l'autre maille (k) est égale à la référence respective de l'une (Fi) des familles (F), alors cette autre maille (k) est classifiée dans cette famille 10 (Fi), - si la signature (S2) de l'autre maille (k) n'est égale à aucune référence respective des familles (F), alors cette autre maille (k) est classifiée dans une nouvelle famille (F2), à laquelle on attribue une référence respective égale à la signature (S2) de cette autre maille (k).\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 10 ou 11, caractérisé en ce que pour chaque maille n'appartenant ni à la famille saine, ni à la ou aux familles défaillantes respectives, appelée maille à analyser, on calcule une première distance entre la signature de la maille à analyser et la signature des mailles de la famille saine, et une deuxième distance respective entre la signature de la maille à analyser et la signature des mailles de chaque famille défaillante respective, pour - lorsque la première distance est inférieure à chaque deuxième distance respective, classifier la maille à analyser dans la famille saine ou identifier la maille à analyser comme maille non défaillante, - lorsque la première distance est supérieure à une ou plusieurs deuxièmes distances respectives, classifier la maille à analyser dans la famille défaillante ayant cette deuxième distance respective ou identifier la maille à analyser comme maille défaillante.\n<CLM>\1\tDispositif (10) de détection de défauts d'une structure (STR), le dispositif (10) comportant une pluralité de transducteurs (100) destinés à être positionnés sur ou dans la structure (STR), 25 chaque transducteur (100) de la pluralité de transducteurs étant apte, lorsqu'il est dans un mode d'émission, à émettre un signal d'excitation vers les autres transducteurs (100) de la pluralité de transducteurs, chaque transducteur (100) étant apte, lorsqu'il est dans un mode de 5 réception, à recevoir un signal de réception en réponse au signal d'excitation émis par un autre transducteur (100) de la pluralité de transducteurs, les signaux d'excitation et les signaux de réception étant aptes à se propager le long de la structure (STR) ou dans la structure (STR), caractérisé en ce que 10 les transducteurs (100) délimitent entre eux plusieurs mailles (M), qui sont limitrophes entre elles et qui ont des positions connues, le dispositif (10) comportant une unité (103) de calcul pour : - calculer, en fonction des signaux d'excitation et des signaux de réception, une signature (S) pour chacune des mailles (M), 15 - comparer les signatures (S) entre elles pour identifier parmi celles-ci au moins une maille (M) comme localisant un défaut de la structure (STR), appelée maille défaillante, lorsque la signature (S) de cette maille (M) est différente de plusieurs autres signatures (S) de plusieurs autres mailles (M). 20