Brevet FR3072777A1 (20190426)

REVENDICATIONS1. Four portable destiné à être positionné sur un trajet d'un rayonnement, ledit four portable comprenant : -un support apte à recevoir un échantillon dans une enceinte agencée pour laisser ledit rayonnement irradier ledit échantillon, -un dispositif de mise en rotation auquel est relié le support, ledit dispositif de mise en rotation étant agencé pour mettre en rotation ledit support de manière continue ou intermittente, -un ou plusieurs éléments chauffants agencés pour chauffer l'échantillon, -une ou plusieurs sondes de température agencées pour mesurer une 10 température de l'échantillon ; le four étant caractérisé en ce qu'il comprend, en outre : -un dispositif de mesures électriques agencé pour réaliser des mesures électriques sur l'échantillon, et -un collecteur tournant agencé pour transmettre vers un connecteur : 15 - des données électriques mesurées par le dispositif de mesure électrique, - des données de températures issues de la ou des sondes de température. 20\n<CLM>\1\tFour selon la revendication 1, dans lequel le dispositif de mise en rotation : -comprend un encodeur agencé pour déterminer, en temps réel, une valeur d'un angle de rotation de l'échantillon, -est agencé, de manière à ce que le rayonnement interagisse avec un 25 volume restreint de l'échantillon, pour : - positionner l'échantillon selon une valeur d'un angle de rotation de l'échantillon, et/ou - déplacer successivement l'échantillon selon des valeurs d'angles de rotation de l'échantillon formant une gamme de valeur d'angles 30 de rotation de l'échantillon.\n<CLM>\1\tFour selon la revendication 1 ou 2, dans lequel le ou les éléments chauffants sont agencés pour émettre une puissance thermique variable par - 24 - modulation d'une puissance électrique injectée dans le ou lesdits éléments chauffants de sorte à faire varier la température de l'échantillon selon un profil de température prédéfini. 5\n<CLM>\1\tFour selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le ou les éléments chauffants sont positionnés : -de manière à émettre principalement en direction de l'échantillon, -hors du trajet du rayonnement.\n<CLM>\1\tFour selon la revendication 4, dans lequel le ou les éléments chauffants comprennent : -une ou plusieurs sources de rayonnement électromagnétique, en particulier de longueur d'onde comprise entre 400 nm et 2 mm, -un ou plusieurs éléments optiques, -la ou les sources et/ou le ou les éléments optiques étant agencés pour focaliser au moins une partie du rayonnement émis par la ou les sources, en une zone déterminée.\n<CLM>\1\tFour selon la revendication 5, comprenant en outre un ou plusieurs 20 dispositifs de mise en mouvement agencés pour déplacer un ou des éléments chauffants relativement : -à un ou des autres éléments chauffants, et/ou -à l'échantillon. 25\n<CLM>\1\tFour selon l'une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre un dispositif agencé pour : -modifier un débit de gaz inerte, ou réducteur, injecté dans l'enceinte, -mesurer une pression dudit gaz inerte ou réducteur dans ladite 'enceinte. 30\n<CLM>\1\tFour selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel tout ou partie de l'enceinte est réalisée en quartz.\n<CLM>\1\tFour selon l'une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre une unité de traitement, ladite unité de traitement étant - 25 - configurée et/ou programmée pour déterminer une variation d'une impédance électrique de l'échantillon en fonction de la température.\n<CLM>\1\tFour selon l'une quelconque des revendications précédentes, positionné, 5 de manière amovible, sur un trajet d'une ligne d'un rayonnement synchrotron, ou neutron.\n<CLM>\1\tFour selon la revendication 10, dans lequel l'unité de traitement est configurée et/ou programmée pour déterminer, en temps réel, lors d'un 10 traitement thermique de l'échantillon, des contraintes internes et/ou une variation des contraintes internes de l'échantillon.\n<CLM>\1\tFour selon la revendication 10 ou 11, dans lequel l'unité de traitement est configurée et/ou programmée de manière à ce qu'une détermination 15 des contraintes internes et/ou une variation des contraintes internes de l'échantillon soit réalisée par diffractométrie des rayons X, lors d'un traitement thermique de l'échantillon.\n<CLM>\1\tFour selon la revendication 11 ou 12, dans lequel l'unité de traitement est configurée et/ou programmée pour déterminer, en temps réel, lors d'un traitement thermique de l'échantillon, les contraintes internes et/ou une variation des contraintes internes en fonction de la valeur d'un angle de rotation de l'échantillon.\n<CLM>\1\tProcédé d'analyse d'un échantillon positionné sur un trajet d'un rayonnement, ledit échantillon étant chauffé de sorte qu'une température dudit échantillon est variable et étant disposé sur un support mis en rotation de manière continue ou intermittente, ledit procédé comprenant une mesure, in situ et en temps réel, d'une température de l'échantillon, 30 le procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend en outre : -une ou des mesures électriques réalisées, in situ et en temps réel, sur l'échantillon, et -une transmission de données de mesure électrique et de données de mesure de température depuis l'échantillon vers une unité de traitement. 35 - 26 -\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 14, comprenant en outre : -une variation de la température de l'échantillon dans le temps selon un profil de température prédéfini, et -une détermination, en temps réel, d'une impédance électrique de 5 l'échantillon, à partir de données électriques mesurées, en fonction de la température.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 14 ou 15, comprenant en outre un positionnement de l'échantillon sur un trajet d'une ligne d'un rayonnement 10 synchrotron ou neutron.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 16, comprenant en outre: -une détermination, en temps réel, d'une nature d'une ou de plusieurs phases cristallographiques de l'échantillon, à partir de caractéristiques de 15 rayons diffractés provenant de la diffraction par l'échantillon du rayonnement synchrotron, et/ou -une détermination, en temps réel, de contraintes internes et/ou d'une variation de contraintes internes de l'échantillon à partir de caractéristiques de rayons diffractés provenant de la diffraction par l'échantillon du 20 rayonnement synchrotron, et/ou -une détermination, en temps réel, d'une variation de la résistivité électrique de l'échantillon, à partir de données électriques mesurées, en fonction de la température. 25\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications 16 ou 17, comprenant en outre : -une analyse d'un volume restreint de l'échantillon, le volume restreint étant identifié à partir d'une valeur d'un angle de rotation de l'échantillon ou d'une gamme de valeurs d'angles de rotation de l'échantillon, et -une détermination, en temps réel, de la nature et/ou d'une variation de la nature de la ou des phases cristallographiques comprises dans un volume de l'échantillon au cours d'une rotation complète lors d'une variation de température de l'échantillon, et/ou - 27 - -une détermination de contraintes internes et/ou d'une variation de contraintes internes d'un volume restreint de l'échantillon lors d'une variation de température de l'échantillon. 5