Brevet FR3078162A1 (20190823)

REVENDICATIONS1. Dispositif (11) de détection de défauts d'une structure (STR), le dispositif (11) comprenant une unité de calcul (103) et une pluralité de transducteurs (100) destinés à être positionnés sur ou dans la structure (STR), - des premiers transducteurs (E) de la pluralité de transducteurs (100) étant aptes à être dans un mode d'émission où ils émettent un signal d'excitation, - des seconds transducteurs (R) de la pluralité de transducteurs (100) étant aptes à être dans un mode de réception où ils reçoivent un signal de réception en réponse au signal d'excitation émis par un premier transducteur (E) en mode émission, les signaux d'excitation et les signaux de réception étant aptes à se propager le long de la structure (STR) ou dans la structure (STR), caractérisé en ce que les premiers transducteurs (E) forment un maillage hexagonal de sorte à délimiter entre eux plusieurs mailles (M) limitrophes entre elles, les seconds transducteurs (R) étant disposés sur des cercles d'émission respectifs des premiers transducteurs (E), chaque cercle d'émission d'un premier transducteur (E) étant centré sur le premier transducteur (E).\n<CLM>\1\tDispositif (11) selon la revendication 1, dans lequel les premiers transducteurs (E) sont des capteurs piézoélectriques (110a), et les seconds transducteurs (R) comprennent chacun un réseau de Bragg (100b) d'une fibre optique (105).\n<CLM>\1\tDispositif (11) selon l'une des revendications 1 ou 2, dans lequel les mailles (M) sont triangulaires équilatérales dont chaque sommet correspond à la position d'un premier transducteur (E), chaque cercle d'émission de premier transducteur (E) présentant un rayon compris entre 1 et 2 fois la distance séparant deux premiers transducteurs (E) au sein du maillage, le rayon étant de préférence compris entre 1,5 et 2 fois cette distance, par exemple 1,73 fois cette distance. 24\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR), au moyen d'un dispositif (11) selon l'une des revendications 1 à 3, un maillage constitué d'une pluralité de mailles (M) et défini par la pluralité de transducteurs (100) ayant été préalablement disposé sur ou dans la structure (STR), le procédé 5 comprenant les étapes de : - extraction, (E2) en fonction de signaux d'excitation émis (El) ) par les premiers transducteurs (E), et des signaux de réception reçus (El) ) par les seconds transducteurs (R), d'une signature (S) pour chacune des mailles (M), 10 - comparaison (E3) des signatures (S) entre elles pour identifier parmi les mailles (M) au moins une maille comme localisant un défaut de la structure (STR), appelée maille défaillante, lorsque la signature (S) de cette maille (M) est différente de plusieurs autres signatures (S) de plusieurs autres mailles (M), 15 les étapes d'extraction (E2) et de comparaison (E3) étant mises en oeuvre par l'unité de calcul (103).\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon la revendication 4, dans lequel la maille défaillante est identifiée comme ayant 20 une signature qui est différente des signatures, qui sont égales entre elles, d'au moins deux autres mailles (M), chacune indépendamment limitrophe de la maille défaillante.\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon la 25 revendication 4 ou 5, dans lequel une première fonction d'identification d'un groupe défini par successivement une première maille (1), une deuxième maille (2) et une troisième maille (6), est en outre définie par le fait que : - la première maille (1), la deuxième maille (2) et la troisième maille (6) sont identifiées comme mailles (1, 2,\n<CLM>\1\tnon défaillantes, lorsque 30 les signatures de ces mailles (1, 2,\n<CLM>\1\tsont égales, - lorsque la signature de la première maille (1) est différente de la signature de la deuxième maille (2) égale à la signature de la troisième maille (6), la première maille (1) est identifiée comme maille défaillante, - lorsque la signature de la première maille (1) est égale à la 25 signature de la deuxième maille (2) et est différente de la signature de la troisième maille (6), la première maille (1) est identifiée comme maille non défaillante et la troisième maille (6) est identifiée comme maille suspecte, 5 - dans une première sous-étape (E31) d'identification, on applique la première fonction d'identification à un premier groupe de trois mailles (1, 2, 6), comportant successivement une première maille (1), une deuxième maille (2), qui est limitrophe à la première maille (1), et une troisième maille (6), qui est limitrophe à la première maille (1). 10\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon la revendication 6, dans lequel, dans une deuxième sous-étape (E32) d'identification postérieure à la première sous-étape (E31) d'identification, l'on applique la première fonction d'identification à un autre groupe de 15 mailles défini par successivement une maille de départ formée par la deuxième maille (2) et : - la première maille (1), si la première maille (1) a été identifiée comme maille non défaillante, et une quatrième maille (3), qui est limitrophe à la maille de départ, 20 - une cinquième maille (7), qui est limitrophe ou non limitrophe à la première maille (1), si la première maille (1) a été identifiée comme maille défaillante, et la quatrième maille (3), qui est limitrophe à la maille de départ. 25\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon la revendication 7, dans lequel on réitère la deuxième sous-étape (E32) d'identification une ou plusieurs fois sur respectivement un ou plusieurs autres groupes de mailles. 30\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon la revendication 8, dans lequel la maille de départ de chaque deuxième sous-étape (E32) d'identification est limitrophe à la maille de départ de la deuxième sous-étape (E32) d'identification la précédant. 26\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon l'une quelconque des revendications 7 à 9, dans lequel la quatrième maille (3) et la cinquième maille (7) sont différentes de la troisième maille (6), qui est identifiée comme maille suspecte. 5\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon l'une quelconque des revendications 6 à 10, dans lequel les mailles de chaque groupe sont autres qu'une maille ayant été identifiée comme maille défaillante. 10\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon l'une quelconque des revendications 6 à 11, dans lequel, pour la troisième maille (6), qui est identifiée comme maille suspecte, on applique une deuxième fonction d'identification définie par le fait que : 15 - lorsque la signature de la troisième maille (6) est différente de la signature de la première maille (1) égale à la signature d'une sixième maille (7) limitrophe à la troisième maille (6), la troisième maille (6) est identifiée comme maille défaillante, - lorsque la signature de la troisième maille (6) est différente de la 20 signature de la première maille (1) différente de la signature de la sixième maille (7), la troisième maille (6) est identifiée comme maille défaillante et la sixième maille (7) est identifiée comme maille suspecte, - lorsque la signature de la troisième maille (6) est égale à la 25 signature de la sixième maille (7), un premier signal d'indication est envoyé sur une interface (104) homme-machine.\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon la revendication 4, dans lequel, au cours d'au moins une sous-étape (E33, 30 E34) de classification, on classifie les mailles (M) ayant la même signature dans une même famille respective : - les mailles (M), qui sont classifiées dans la famille respective ayant le plus grand nombre de mailles, appelée famille saine, étant identifiées comme mailles non défaillantes, 27 - chaque maille (M), qui est classifiée dans une famille respective n'ayant qu'une seule maille, appelée famille défaillante respective, étant identifiée comme maille défaillante. 5\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon la revendication 13, dans lequel, pour classifier les mailles (M) : - on classifie une première maille (1) ayant une première signature (Si) dans une première famille (F1), à laquelle on attribue une référence respective égale à la première signature (Si), 10 - puis successivement pour chaque autre maille (k), différente de la première maille (1), on itère la sous-étape (E34) de classification selon laquelle o on compare la signature (S2) de l'autre maille (k) à la référence respective de chaque famille (F1), 15 o si la signature (S2) de l'autre maille (k) est égale à la référence respective de l'une (Fj) des familles (F), alors cette autre maille (k) est classifiée dans cette famille (Fj), o si la signature (S2) de l'autre maille (k) n'est égale à aucune référence respective des familles (F), alors cette autre maille 20 (k) est classifiée dans une nouvelle famille (F2), à laquelle on attribue une référence respective égale à la signature (S2) de cette autre maille (k).\n<CLM>\1\tProcédé de détection de défauts d'une structure (STR) selon la 25 revendication 13 ou 14, dans lequel : - pour chaque maille n'appartenant ni à la famille saine, ni à la ou aux familles défaillantes respectives, appelée maille à analyser, on calcule une première distance entre la signature de la maille à analyser et la signature des mailles de la famille saine, et une deuxième distance 30 respective entre la signature de la maille à analyser et la signature des mailles de chaque famille défaillante respective, pour : o lorsque la première distance est inférieure à chaque deuxième distance respective, classifier la maille à analyser dans la famille saine ou identifier la maille à analyser comme maille non 28 défaillante, o lorsque la première distance est supérieure à une ou plusieurs deuxièmes distances respectives, classifier la maille à analyser dans la famille défaillante ayant cette deuxième distance respective ou identifier la maille à analyser comme maille défaillante.