Brevet FR3051633A1 (20171201)
REVENDICATIONS1. Procédé de patronage comprenant : l'acquisition dans une mémoire d'un ordinateur, d'une multiplicité d'images de coupe bidimensionnelles différentes d'une forme humaine ; la sélection par un processeur de l'ordinateur, d'un panneau d'une partie d'un patron d'un vêtement ; le mappage par le processeur de l'ordinateur d'une règle de calcul de métrique pour le panneau sélectionné à l'une des images de coupe bidimensionnelles ; l'acquisition par le processeur de l'ordinateur d'une mesure de l'une des images de coupe bidimensionnelles ; et, l'application par le processeur de l'ordinateur de la règle de calcul de métrique mappée à l'aide de la mesure acquise pour produire une mesure pour le panneau sélectionné.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, dans lequel le panneau fait partie d'un fond du vêtement.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, dans lequel la mesure acquise est un angle de courbure d'une partie périmétrique de l'image de coupe bidimensionnelle.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, dans lequel la mesure acquise est une longueur 17 3051633 d'une partie périmétrique de l'image de coupe bidimensionnelle.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 3, comprenant en outre la surveillance de changements de l'angle de courbure et en réponse à un changement de seuil, la sélection d'une image différente des images de coupe bidimensionnelles, le mappage d'une règle de calcul de métrique différente pour le panneau sélectionné à l'image différente des images de coupe bidimensionnelles, l'acquisition d'une mesure de l'image différente des images de coupe bidimensionnelles et l'application de la règle de calcul de métrique différente mappée à l'aide de la mesure acquise à l'image différente des images de coupe bidimensionnelles pour produire une mesure différente pour le panneau sélectionné.\n<CLM>\1\tSystème de traitement de données configuré pour le patronage, comprenant : un système informatique hôte comprenant un ou plusieurs ordinateurs, chacun doté d'une mémoire et d'au moins un processeur ; un magasin de données couplé au système informatique hôte et stockant une multiplicité d'images de coupe bidimensionnelles d'une forme humaine ; et, un module de patronage s'exécutant dans la mémoire du système informatique hôte, le module comprenant un code de programme activé pendant l'exécution pour sélectionner un panneau d'une partie d'un patron d'un vêtement, pour mapper une règle de calcul de métrique pour le panneau sélectionné à l'une des images de coupe bidimensionnelles, pour acquérir une mesure de l'une des images de coupe bidimensionnelles, et pour appliquer la règle de calcul de métrique mappée à l'aide de la 18 3051633 mesure acquise pour produire une mesure pour le panneau sélectionné.\n<CLM>\1\tSystème selon la revendication 6, dans lequel le panneau fait partie d'un fond du vêtement.\n<CLM>\1\tSystème selon la revendication 6, dans lequel la mesure acquise est un angle de courbure d'une partie périmétrique de l'image de coupe bidimensionnelle.\n<CLM>\1\tSystème selon la revendication 6, dans lequel la mesure acquise est une longueur d'une partie périmétrique de l'image de coupe bidimensionnelle.\n<CLM>\1\tSystème selon la revendication 8, dans lequel le code de programme est en outre activé lors de l'exécution pour surveiller des changements de l'angle de courbure et en réponse à un changement de seuil, pour sélectionner une image différente des images de coupe bidimensionnelles, pour mapper une règle de calcul de métrique différente pour le panneau sélectionné à l'image différente des images de coupe bidimensionnelles, pour acquérir une mesure de l'image différente des images de coupe bidimensionnelles et pour appliquer la règle de calcul de métrique différente mappée à l'aide de la mesure acquise de l'image différente des images de coupe bidimensionnelles pour produire une mesure différente pour le panneau sélectionné.\n<CLM>\1\tProduit de programme d'ordinateur de patronage, le produit de programme 19 3051633 d'ordinateur comprenant un support de stockage lisible par ordinateur non transitoire dans lequel sont incorporées des instructions de programme, les instructions de programme étant exécutables par un dispositif pour amener le dispositif à réaliser un procédé comprenant : l'acquisition d'une multiplicité d'images de coupe bidimensionnelles différentes d'une forme humaine ; la sélection d'un panneau d'une partie d'un patron d'un vêtement ; le mappage d'une règle de calcul de métrique pour le panneau sélectionné à l'une des images de coupe bidimensionnelles ; l'acquisition d'une mesure de l'une des images de coupe bidimensionnelles ; et, l'application de la règle de calcul de métrique mappée à l'aide de la mesure acquise pour produire une mesure pour le panneau sélectionné.\n<CLM>\1\tProduit de programme d'ordinateur selon la revendication 11, dans lequel le panneau fait partie d'un fond du vêtement.\n<CLM>\1\tProduit de programme d'ordinateur selon la revendication 11, dans lequel la mesure acquise est un angle de courbure d'une partie périmétrique de l'image de coupe bidimensionnelle.\n<CLM>\1\tProduit de programme d'ordinateur selon la revendication 11, dans lequel la mesure acquise est une longueur d'une partie périmétrique de l'image de coupe 20 3051633 bidimensionnelle.\n<CLM>\1\tProduit de programme d'ordinateur selon la revendication 13, dans lequel le procédé comprend en outre la surveillance de changements de l'angle de courbure et en réponse à un changement de seuil, la sélection d'une image différente des images de coupe bidimensionnelles, le mappage d'une règle de calcul de métrique différente pour le panneau sélectionné à une image différente des images de coupe bidimensionnelles, l'acquisition d'une mesure de l'image différente des images de coupe bidimensionnelles et l'application de la règle de calcul de métrique différente mappée à l'aide de la mesure acquise de l'image différente des images de coupe bidimensionnelles pour produire une mesure différente pour le panneau sélectionné. 21