Brevet FR3039272A1 (20170127)
REVENDICATIONS1. Jauge de déformation (10 ; 30 ;\n<CLM>\1\tcomprenant une piste (24) s'étendant sur une face (14) d'un substrat (12) en formant des allers-retours, la piste étant en un matériau comprenant de l'oxyde d'étain et du carbone.\n<CLM>\1\tJauge de déformation (10 ; 30 ;\n<CLM>\1\tcomprenant de 95 % à 50 % en poids d'oxyde d'étain et de 5 % à 50 % en poids de carbone.\n<CLM>\1\tJauge de déformation selon la revendication 1 ou 2, dans laquelle l'oxyde d'étain est de l'oxyde d'étain dopé à 10 l'antimoine.\n<CLM>\1\tJauge de déformation selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, comprenant une couche (22) interposée entre au moins une partie de la piste (24) et le substrat (12), le substrat étant en un premier matériau ayant un premier module 15 d'Young, la piste (24) étant en un deuxième matériau ayant un deuxième module d'Young supérieur strictement au premier module d'Young, la couche (22) étant en un troisième matériau ayant un troisième module d'Young compris entre le premier module d'Young et le deuxième module d'Young. 20\n<CLM>\1\tJauge de déformation selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans laquelle la couche (22) est en poly(fluorure de vinylidène), en un seul copolymère du poly(fluorure de vinylidène), en un mélange de deux ou plus de deux copolymères du poly(fluorure de vinylidène), ou en un mélange 25 du poly(fluorure de vinylidène) et d'au moins un copolymère du poly(fluorure de vinylidène).\n<CLM>\1\tJauge de déformation selon la revendication 5, dans laquelle le copolymère du PVDF est le poly(fluorure de vinylidène - tri fluoro éthylène), le poly(fluorure de vinylidène - 30 tétrafluoroéthylène), le poly(fluorure de vinylidène trifluoroéthylène - chlorofluoroéthylène) (P(VDF-TrFE-CFE)) ou le poly(fluorure de vinylidène - trifluoroéthylène - chlorotrifluoro éthylène) (P(VDF-TrFE-CTFE)). 3039272 B14090 - DD15907E0 18\n<CLM>\1\tJauge de déformation selon l'une quelconque des revendications 1 à 6, dans laquelle le substrat (12) est flexible.\n<CLM>\1\tJauge de déformation selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans laquelle le substrat (12) est un film 5 ayant une épaisseur comprise entre 100 nm et 1000 pin, de préférence entre 10 gm et 200 pin, en polyéthylène naphtalate, en polyéthylène téréphtalate, en polyimide ou en polyétheréthercétone.\n<CLM>\1\tProcédé de fabrication d'une jauge de déformation (10) comprenant la formation d'une piste (24) s'étendant sur une face (14) d'un substrat (12) en formant des allers-retours, la piste comprenant de l'oxyde d'étain et du carbone.\n<CLM>\1\tProcédé de fabrication selon la revendication 9, dans lequel la piste (24) est formée par des techniques d'impression.\n<CLM>\1\tProcédé de fabrication selon la revendication 9 ou 10, dans lequel la formation de la piste (24) comprend le dépôt d'une composition liquide ou pâteuse et un recuit thermique dans une atmosphère d'azote.\n<CLM>\1\tProcédé de fabrication selon l'une quelconque des 20 revendications 9 à 11, comprenant la formation d'une couche (22) interposée entre au moins une partie de la piste (24) et le substrat (12), le substrat étant en un premier matériau ayant un premier module d'Young, la piste (24) étant en un deuxième matériau ayant un deuxième module d'Young supérieur strictement 25 au premier module d'Young, la couche (22) étant en un troisième matériau ayant un troisième module d'Young compris entre le premier module d'Young et le deuxième module d'Young.\n<CLM>\1\tProcédé de fabrication selon la revendication 12, comprenant le dépôt du troisième matériau sur le substrat (12) 30 sous forme amorphe et la cristallisation au moins partielle du troisième matériau.