Brevet FR3046240A1 (20170630)
REVENDICATIONS1. Procédé d'analyse d'un objet (10) comprenant les étapes suivantes : a) disposition de l'objet (10) face à une source d'irradiation (11) émettant un rayonnement électromagnétique ionisant et irradiation de l'objet à l'aide de ladite source, à travers un premier collimateur (30), de façon à former un faisceau incident collimaté (12c) se propageant vers l'objet (10) selon un axe de propagation (12,) ; b) disposition d'un détecteur (20) comprenant une pluralité de pixels (20k), de façon que chaque pixel soit apte à détecter un rayonnement diffusé (14e) par l'objet ainsi irradié, ledit rayonnement diffusé (14e) se propageant selon une direction formant un angle, dit angle de diffusion (0), aigu par rapport audit axe de propagation (12,) ; c) acquisition, par plusieurs pixels (20k) du détecteur, d'un spectre de diffusion (Se) représentatif d'une distribution en énergie dudit rayonnement diffusé (14e), chaque spectre de diffusion étant associé à un pixel (20k) ; d) décomposition de l'objet en volumes élémentaires (V,) et association, à chaque pixel (20k), d'une fonction de dispersion (g k) représentant une contribution de chaque volume élémentaire au rayonnement diffusé (14e) détecté par chaque pixel (20k); e) à partir des spectres de diffusion acquis (Se) et des fonctions de dispersions (g k) associées à chaque pixel (20k), détermination d'une signature de diffusion (e) associée à chaque volume élémentaire (V,), représentative d'un matériau constituant ledit volume élémentaire ; f) à partir des signatures de diffusion (e) associées à chaque volume élémentaire (V,), estimation d'une nature du matériau constituant les différents volumes élémentaires (V,) de l'objet.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, dans lequel l'étape e) comporte, sur la base du spectre de diffusion (Se) acquis par chaque pixel (20k), une détermination d'une fonction de diffusion (f)x associée audit pixel, obtenue en combinant ledit spectre de diffusion (Se) avec un spectre de référence (Se'f) acquis par ledit pixel (20k) en plaçant un matériau de référence (10ref) à la place de l'objet (10).\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 2, dans lequel la détermination de ladite fonction de diffusion (fkx) associée à chaque pixel (20k) comporte une prise en compte d'une fonction de diffusion 3046240 23 dite de référence xef (f ), établie, pour ledit pixel, relativement audit matériau de référence k,r (10ref).\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 3, dans lequel la détermination de ladite fonction de diffusion (fkx) associée à chaque pixel (20k) comporte l'établissement d'un ratio, terme à terme, du 5 spectre de diffusion (Se), acquis par ledit pixel, par ledit spectre de référence (seref), le ratio étant multiplié, terme à terme, par ladite fonction de diffusion de référence (fkxref) établie pour ledit pixel.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 4, dans lequel l'étape e) comporte une prise en compte d'une fonction spectrale d'atténuation de l'objet (Att) ainsi qu'une fonction 10 spectrale d'atténuation dudit objet de référence (Attref).\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications 2 à 5, dans lequel l'étape e) comporte : l'établissement d'une matrice de réponse (Fk) à partir des fonctions de diffusion (fkx) associées à chaque pixel (20k) ; l'établissement d'une matrice de dispersion (G) à partir des fonctions de dispersion 15 (g k) associées à chaque pixel (20k) ; l'estimation d'une matrice (Fa) comportant les signatures de diffusion (f)() de chaque volume élémentaire (Vz), de telle sorte que le produit matriciel de ladite matrice de dispersion (G) par ladite matrice de signatures de diffusion de chaque volume élémentaire (Fa) corresponde sensiblement à ladite matrice de réponse (Fk). 20\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ladite fonction de dispersion (g k) associée à un pixel (20k) est élaborée en plaçant un objet de calibration (10c) successivement à différentes positions (z), le long dudit l'axe de propagation (12z), et en effectuant, à chaque position, les étapes suivantes : i) irradiation dudit matériau de calibration (10c) et acquisition, par ledit pixel (20k) d'un 25 spectre, dit spectre de calibration (Sez) du rayonnement diffusé par ledit objet de calibration, placé dans ladite position (z) ; ii) sur chaque spectre de calibration (Secz), identification d'un pic de calibration, caractéristique dudit objet de calibration (10c) ; iii) détermination de l'intensité (/k,,,z) dudit pic de calibration ; 3046240 24 la fonction de dispersion (g k) étant obtenue à partir de différentes intensités (Ik,,,,) des pics de calibration respectivement obtenus, pour ledit pixel (20k), à chaque position (z) dudit objet de calibration (10c).\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'étape f) 5 comporte, pour chaque volume élémentaire (Vz), une comparaison entre la signature de diffusion (e) associée audit volume élémentaire, obtenue lors de l'étape e), avec des signatures de diffusion pré-établies (fix), correspondant chacune à un matériau connu (101).\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les pixels (20k) sont des pixels virtuels, obtenus par une sur-pixelisation de pixels physiques du détecteur (20). 10\n<CLM>\1\tSupport d'enregistrement d'informations, comportant des instructions pour l'exécution d'un procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, ces instructions étant aptes à être exécutées par un processeur (22).\n<CLM>\1\tDispositif d'analyse d'un objet (10) comportant : une source d'irradiation (11), apte à produire un rayonnement électromagnétique (12) 15 ionisant se propageant vers un support (10g) apte à recevoir ledit objet (10) ; un premier collimateur (30), disposé entre la source d'irradiation et le support (10g), le premier collimateur présentant une ouverture (32) apte à former un faisceau collimaté (12c) se propageant selon un axe de propagation (12z), vers le support (10s) ; un deuxième collimateur (40), disposé entre le support (10s) et un détecteur (20), le 20 deuxième collimateur présentant une ouverture (42) s'étendant entre ledit support (10g) et ledit détecteur (20), selon un axe médian (45) incliné par rapport audit axe de propagation (12z) ; le détecteur (20), comprenant des pixels (20k), chaque pixel étant apte à détecter un rayonnement électromagnétique diffusé (14e) par l'objet (10) à travers ladite ouverture 25 (42), et à en acquérir un spectre en énergie, dit spectre de diffusion (se) ; caractérisé en ce que le dispositif comporte un microprocesseur (22) apte à effectuer, à partir du spectre de diffusion (Se) acquis par chaque pixel (20k), les étapes d) à f) du procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à\n<CLM>\1\t30 3046240 25\n<CLM>\1\tDispositif d'analyse d'un objet selon la revendication 11, dans lequel l'axe médian (45) forme un angle (0), dit angle de collimation, par rapport à l'axe de propagation (12,), cet angle étant strictement supérieur à 0° et inférieur à 20°.\n<CLM>\1\tDispositif d'analyse d'un objet (10) selon l'une quelconque des revendications 11 ou 12, 5 comportant également un détecteur auxiliaire (200) apte à acquérir un spectre d'un rayonnement transmis par l'objet, dit spectre de transmission, maintenu sur le support (10g), selon l'axe de propagation (12,). 10