Brevet FR3044777A1 (20170609)
REVENDICATIONS1. Système de réglage d'une distance entre un porte-échantillon (4) et une lentille (3) d'un dispositif de focalisation, la lentille (3) et le porte-échantillon (4) étant disposés dans une enceinte cryostatique (2), caractérisé en ce que le système de réglage comprend : o un premier organe destiné à être positionné à l'intérieur de l'enceinte cryostatique (2), le premier organe incluant une embase supportant le porte-échantillon (4) et/ou la lentille (3), l'embase étant montée mobile en translation le long d'un axe longitudinal (26) de l'enceinte cryostatique (2) entre une première position extrême et une deuxième position extrême, la distance entre la lentille (3) et le porte-échantillon (4) lorsque l'embase est dans la première position extrême étant inférieure à la distance entre la lentille (3) et le porte-échantillon (4) lorsque l'embase est dans la deuxième position extrême, o un deuxième organe pour commander le déplacement (D) de l'embase, le deuxième organe étant destiné à être positionné à l'extérieur de l'enceinte cryostatique (2).\n<CLM>\1\tSystème de réglage selon la revendication 1, dans lequel les premier et deuxième organes (61,\n<CLM>\1\tsont distants et incluent respectivement des premiers et deuxièmes moyens de couplage sans contact permettant leur coopération.\n<CLM>\1\tSystème de réglage selon la revendication 2, dans lequel les premiers et deuxièmes moyens de couplage sont de type magnétique.\n<CLM>\1\tSystème de réglage selon l'une quelconque des revendications 2 ou 3, dans lequel les deuxièmes moyens de couplage comprennent un levier de préhension (68) mobile en rotation autour de l'axe longitudinal de l'enceinte (2), la mise en 3044777 17 rotation du levier de préhension (68) induisant le déplacement (D) de l'embase entre les première et deuxième positions extrêmes.\n<CLM>\1\tSystème de réglage selon l'une quelconque des revendications 2 à 4, dans 5 lequel : o les premiers moyens de couplage comprennent au moins un premier aimant permanent (64) et o les deuxièmes moyens de couplage comprennent au moins un deuxième aimant permanent (70), 10 les premier et deuxième aimants étant positionnés en regard l'un de l'autre et ayant des polarités opposées.\n<CLM>\1\tSystème de réglage selon l'une quelconque des revendications 2 à 5, dans lequel : 15 o les premiers moyens de couplage comprennent une bague annulaire (63) fixée à l'une des extrémités de l'embase, ladite bague (63) incluant une pluralité de premiers aimants permanents (64) de polarités alternées à sa périphérie de sorte que deux premiers aimants permanents adjacents ont des polarités opposées, et 20 o les deuxièmes moyens de couplage comprennent un disque (69) incluant une pluralité de deuxièmes aimants permanents (70) de polarités alternées à sa périphérie de sorte que deux deuxièmes aimants permanents adjacents ont des polarités opposées, la bague (63) et le disque (69) s'étendant en regard l'un de l'autre autour 25 d'une paroi (21) de l'enceinte (2) et étant orienté de sorte que chaque premier aimant permanent (64) fait face à un deuxième aimant permanent (70) de polarité opposée.\n<CLM>\1\tSystème de réglage selon l'une quelconque des revendications 2 à 6, dans 30 lequel les premiers moyens de couplage comprennent un filetage de vis (67) 3044777 18 ménagé sur la face latéral de l'embase et destiné à coopérer avec un filetage (27) complémentaire ménagé sur une enveloppe creuse de l'enceinte (2).\n<CLM>\1\tSystème de réglage selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans 5 lequel le premier organe comprend au moins une butée (66a, 66b) pour limiter la course de l'embase.\n<CLM>\1\tEnceinte cryostatique pour l'analyse d'objet, ladite enceinte (2) incluant un porte-échantillon (4) et une lentille (3) d'un dispositif de focalisation, 10 caractérisée en ce qu'elle comprend en outre un système de réglage d'une distance entre la lentille (3) et le porte-échantillon (4) selon l'une quelconque des revendications précédentes.