Brevet FR3049709A1 (20171006)
REVENDICATIONS1.- Procédé de détection d'un défaut sur une surface (12), le procédé comprenant les étapes suivantes : - acquisition (100) d'une pluralité d'images (200) de la surface (12) par un dispositif optique (14) ayant un axe optique, chaque image (200) étant acquise avec un éclairage de la surface selon une direction d'éclairage (E, E') donnée pour chaque point de la surface (12) et avec l'axe optique du dispositif optique selon une direction optique (0) donnée, les images (200) étant acquises avec différentes directions d'éclairage (E, E') ou différentes combinaisons de directions d'éclairage et/ou avec différentes directions optiques (0) ; - pour chaque point (202) de la surface (200), calcul (102) à partir des images (200) acquises d'une pluralité de paramètres, les paramètres comprenant des coefficients d'une équation caractérisant la réponse dudit point (202) de la surface en fonction de la direction d'éclairage (E, E') et d'une direction d'observation (B, B') ; - déduction (104) des paramètres calculés si la surface (12) présente un défaut audit point (202). 2.- Procédé de détection selon la revendication 1, caractérisé en ce que la direction optique (0) est la même pour la pluralité d'images (200). 3.- Procédé de détection selon la revendication 2, caractérisé en ce que la direction optique (0) est sensiblement perpendiculaire à la surface (12). 4.- Procédé de détection selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que l'éclairage est réalisé par un dispositif d'éclairage (15), le dispositif d'éclairage (15) comprenant un premier nombre de sources de lumière (16), le premier nombre étant supérieur à six, chaque source de lumière (16) ayant une direction d'éclairage différente (E, E'), pour chaque image acquise, une unique source de lumière ou une combinaison de sources définie (16) étant allumée, l'unique source de lumière ou combinaison (16) étant différente pour chaque image (200) acquise. 5.- Procédé de détection selon la revendication 4, caractérisé en ce que les sources de lumière (16) ont une intensité lumineuse identique. 3049709 11 6.- Procédé de détection selon la revendication 4 ou 5, caractérisée en ce que les sources de lumière (16) sont disposées selon une demi-sphère (20) entourant la surface (12). 5 7.- Procédé de détection selon l'une quelconque des revendications 4 à 6, caractérisée en ce que le dispositif d'éclairage (15) comprend une ou plusieurs sources de lumière étant apte(s) à se déplacer en un premier nombre de positions par rapport à la surface. 10 8.- Procédé de détection selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que, pour chaque point de la surface, le calcul des paramètres comprend les étapes suivantes : - définition d'une grandeur (106) évoluant en fonction des images acquises, - choix d'un modèle de de la surface (108) dépendant de la ou des direction(s) 15 d'éclairage (E, E') et/ou de la direction d'observation (B, B') pour l'évolution de la grandeur, le modèle comprenant les coefficients, et - calcul des coefficients (110) par régression de l'évolution de la grandeur. 9.- Procédé de détection selon la revendication 8, caractérisé en ce que la 20 grandeur correspond à l'intensité de gris du point (202) de la surface (12), le modèle dépendant de la direction d'éclairage (E, E'). 10.- Procédé de détection selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'un défaut est détecté audit point (202) lorsqu'au moins un paramètre 25 audit point n'est pas compris dans un intervalle défini. 11 - Procédé de détection selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'un défaut est détecté audit point (202) lorsqu'au moins un paramètre audit point n'est pas compris dans un intervalle centré autour de la valeur moyenne dudit 30 paramètre sur l'ensemble des points de la surface (12). 12.- Procédé de détection selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'un défaut est détecté audit point (202) lorsqu'au moins un paramètre audit point diffère d'une valeur choisie comme seuil de détection par rapport au bruit de 35 fond dudit paramètre en un point adjacent, la surface (12) ne présentant pas de défaut au point adjacent. 3049709 12 13.- Dispositif de détection (10) d'un défaut sur une surface (12), le dispositif de détection (10) comprenant : - un dispositif optique (14) ayant un axe optique, le dispositif optique (14) étant 5 apte à acquérir une image (200) de la surface (12) selon une direction optique (0) donnée, - un dispositif d'éclairage (15) ayant plusieurs directions d'éclairage différentes (E, E'), et - un dispositif électronique de calcul (18), le dispositif électronique de calcul étant 10 configuré pour : - acquérir une pluralité d'images (200) de la surface (12) par le dispositif optique (14), chaque image (200) étant acquise selon la direction optique (0) donnée avec différentes directions d'éclairage (E, E') ou différentes combinaisons de directions d'éclairage pour chaque image (200), 15 - pour chaque point (202) de la surface (12), calculer à partir des images (200) acquises une pluralité de paramètres, les paramètres comprenant des coefficients d'une équation caractérisant la réponse dudit point (202) de la surface (12) en fonction de la direction d'éclairage (E, E') et d'une direction d'observation (B, B') ; 20 - déduire des paramètres calculés si la surface (12) présente un défaut audit point.