Brevet FR3042877A1 (20170428)
REVENDICATIONS1. Procédé de mesure de la phase d'un signal analogique périodique (201), comprenant les étapes suivantes : a) acquérir, à une période d'échantillonnage Tech différente de la période Tsig dudit signal (201) et qui ne soit pas un multiple ou un sous-multiple de la période Tsig, une pluralité d'échantillons analogiques (203, 205 ;\n<CLM>\1\treprésentatifs de l'amplitude dudit signal (201) ; et b) quantifier sur un bit chacun desdits échantillons (203, 205 ;\n<CLM>\1\tpour fournir un signal binaire (207).\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, comportant en outre une étape c) de détermination d'une valeur de phase dudit signal (201) à partir du signal binaire (207) produit à l'étape b).\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 2, dans lequel 15 l'étape c) comprend la comparaison dudit signal binaire (207) avec des trains de bits stockés dans une table de correspondance.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 2 ou 3, dans lequel l'étape c) comprend une étape de filtrage numérique dudit signal 20 binaire (207), visant à détecter une aberration cyclique particulière dans ce signal (207).\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 2, dans lequel l'étape c) comprend l'intégration numérique dudit signal binaire, et la fourniture d'une valeur numérique (709) 25 correspondant au résultat de cette intégration.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel l'étape a) comprend une étape de filtrage analogique.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications 1 30 à 6, dans lequel l'étape a) comprend une étape d'intégration analogique.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel ledit signal analogique périodique (201) est un signal lumineux dont l'intensité oscille de façon périodique. 3042877 B13342 - DD15028ST 19\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel ledit signal analogique périodique (201) est un signal acoustique.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications 1 5 à 9, dans lequel Tech=Tsig/a, où a est un coefficient s'exprimant sous la forme a=p/q, où p et q sont des entiers strictement positifs tels que p/q soit une fraction irréductible.\n<CLM>\1\tDispositif (600 ;\n<CLM>\1\tde mesure de la phase d'un 10 signal analogique périodique (201), comportant : un étage d'échantillonnage (601 ;\n<CLM>\1\tadapté à acquérir, à une période d'échantillonnage Tech différente de la période Tsig dudit signal (201) et qui ne soit pas un multiple ou un sous-multiple de la période Tsig, une pluralité 15 d'échantillons analogiques (203, 205 ;\n<CLM>\1\treprésentatifs de l'amplitude dudit signal (201) ; et un étage de seuillage (605 ;\n<CLM>\1\tadapté à quantifier sur un bit chacun desdits échantillons (203, 205 ;\n<CLM>\1\tpour fournir un signal binaire (207). 20\n<CLM>\1\tDispositif (600 ;\n<CLM>\1\tselon la revendication 11, comportant en outre un étage de détermination d'une valeur de phase dudit signal (201) à partir du signal binaire (207) produit par l'étage de seuillage (605 ; 907).\n<CLM>\1\tDispositif selon la revendication 11 ou 12, dans 25 lequel Tech=Tsig/a, où a est un coefficient s'exprimant sous la forme a=p/q, où p et q sont des entiers strictement positifs tels que p/q soit une fraction irréductible.\n<CLM>\1\tDispositif comportant une pluralité de détecteurs agencés matriciellement, chaque détecteur étant adapté à fournir 30 un signal analogique périodique (201), et une pluralité de dispositifs de mesure de phase (600 ;\n<CLM>\1\tselon l'une quelconque des revendications 11 à 13, chaque détecteur étant couplé à l'un des dispositifs de mesure de phase.