Brevet FR3049358A1 (20170929)
REVENDICATIONS1. Procédé pour sonder ou modifier localement une zone de focalisation à l'aide d'un faisceau incident (F1) monochromatique, la zone de focalisation comprenant des informations optiques ou un échantillon (400), le procédé comprenant des étapes consistant à : convertir (1030) le champ électromagnétique dudit faisceau incident (F1) en un champ polaritonique dans une lentille à immersion solide (200), et focaliser (1040) ledit faisceau incident (F1) sur un point de focalisation situé dans ladite zone de focalisation et sur ladite lentille à immersion (200), grâce à un objectif optique (100) comprenant un ensemble d'au moins une lentille optique (110), Caractérisé en ce que le procédé comprend en outre des étapes consistant à : - refroidir (1050) ladite lentille à immersion solide et la maintenir à une température de consigne prédéterminée ; et - sélectionner (1000) préalablement ladite lentille à immersion solide (200) parmi un ensemble de lentilles à immersion solide construites à base d'un matériau semi-conducteur qui présente un dédoublement de Rabi au moins cinq fois plus grand que la valeur de l'élargissement inhomogène autour de la fréquence de résonance de l'exciton dudit matériau.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, comprenant en outre une étape consistant à : - choisir (1010) ladite température de consigne de sorte que l'élargissement inhomogène de l'exciton à la fréquence de résonance dudit exciton, lorsque ladite lentille à immersion solide est excitée par ledit faisceau incident (F1), est supérieure à l'élargissement homogène de l'exciton à la fréquence de résonance dudit exciton, lorsque ladite lentille à immersion solide est excitée par ledit faisceau incident (F1).\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'étape (1010) consistant à choisir ladite température de consigne comprend une étape consistant à établir une valeur de température de consigne inférieure à 100K ; le procédé comprenant en outre une étape consistant à : - plonger (1020) ladite lentille à immersion solide dans un bain d'azote liquide ou d'hélium liquide.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, comprenant en outre des étapes préalables consistant à : - déterminer (1060) la réponse optique de ladite lentille à immersion solide pour un ensemble de valeurs de température et/ou un ensemble de valeurs d'énergie des polaritons créés, - calculer (1070) l'indice de réfraction de la lentille à immersion solide correspondant à au moins l'une des réponses optiques déterminées, et 3049358 18 - enregistrer (1080) dans une base de données un ensemble d'au moins une correspondance entre la valeur de l'indice de réfraction calculé, et l'une au moins des valeurs parmi la température et l'énergie des polaritons créés. 5\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 4, comprenant en outre des étapes consistant à : - sélectionner (1090) dans la base de données la valeur de l'une des correspondances parmi : l'indice de réfraction calculé, la température et l'énergie des polaritons créés, et - en déduire (1100) la valeur de l'une au moins des autres valeurs de la correspondance. 10\n<CLM>\1\tSystème optique pour sonder ou modifier localement une zone de focalisation à l'aide d'un faisceau incident (F1) monochromatique, la zone de focalisation comprenant des informations optiques ou un échantillon (400), le système étend susceptible de mettre en oeuvre le procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, et comprenant : 15 une lentille à immersion solide (200), et un objectif optique (100) comprenant ensemble d'au moins une lentille optique (110), et configuré pour focaliser un faisceau incident (F1) sur un point de focalisation situé sur la lentille à immersion solide, Caractérisé en ce qu'il comprend en outre : 20 un cryostat pour refroidir ladite lentille à immersion solide et la maintenir à une température de consigne prédéterminée, et caractérisé en ce que la lentille à immersion solide est construite à base d'un matériau qui présente un dédoublement de Rabi au moins cinq fois plus grand que la valeur de l'élargissement 25 inhomogène autour de la fréquence de résonance de l'exciton dudit matériau lorsqu'il est soumis audit faisceau incident (F1).\n<CLM>\1\tSystème selon la revendication 6, comprenant un dispositif électronique programmable couplé audit cryostat et configuré pour établir et maintenir ladite température de 30 consigne entre 4K et 100K.\n<CLM>\1\tSystème selon l'une quelconque des revendications 6 ou 7, dans lequel ladite lentille à immersion solide est constituée à base d'un matériau semi-conducteur présentant une large bande interdite. 35 3049358 19\n<CLM>\1\tSystème selon l'une quelconque des revendications 6 à 8, dans lequel ladite lentille à immersion solide est constituée à partir d'un matériau semi-conducteur choisi parmi l'ensemble comprenant ZnO, GaN, AIN et leurs alliages. 5\n<CLM>\1\tSystème selon l'une quelconque des revendications 6 à 9, comprenant en outre une source lumineuse monochromatique, optionnellement en fréquence variable, configurée pour émettre ledit faisceau incident (F1). 10