Brevet FR3046247A1 (20170630)
REVENDICATIONS1. Circuit électronique (1), caractérisé en ce qu'il comprend : -un composant électronique (11); -une armature conductrice (4) entourant le composant électronique ; -un isolant électrique (5) entre le composant électronique (11) et l'armature conductrice (4) ; -un dispositif (7) configuré pour mesurer le courant traversant l'armature (4) ou la tension sur cette armature ou sur le composant électronique ; -un dispositif de détermination (8) d'un défaut, configuré pour déterminer un défaut de l'isolant électrique (5) en fonction du courant ou de la tension mesurée.\n<CLM>\1\tCircuit électronique (1) selon la revendication 1, dans lequel ladite armature (4) inclut majoritairement du polysilicium présentant une concentration de dopants au moins égale à 1019cm-3.\n<CLM>\1\tCircuit électronique (1) selon la revendication 1 ou 2, dans lequel ledit composant électronique (11) est une diode électroluminescente.\n<CLM>\1\tCircuit électronique (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ladite armature (4) est à un potentiel flottant.\n<CLM>\1\tCircuit électronique (1) selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel ladite armature conductrice (4) entoure plusieurs composants électroniques (11-16), ledit isolant électrique (5) isolant chacun desdits composants électroniques de l'armature conductrice et isolant lesdits composants électroniques (11-16) entre eux.\n<CLM>\1\tCircuit électronique (1) selon la revendication 5, dans lequel lesdits composants électroniques (11-16) sont connectés électriquement en série.\n<CLM>\1\tCircuit électronique (1) selon la revendication 5, dans lequel lesdits composants électroniques (11-16) sont connectés électriquement en parallèle.\n<CLM>\1\tCircuit électronique (1) selon la revendication 5, comprenant un dispositif d'alimentation configuré pour alimenter séquentiellement lesdits composants électroniques (11-16) avec une même différence de potentiel.\n<CLM>\1\tProcédé de détermination d'un défaut d'un isolant électrique (5), le procédé comprenant les étapes de : -fournir un circuit électronique (1) incluant un isolant électrique (5), un composant électronique (11) et une armature conductrice (4) entourant le ICG11031-DD16624HB FR Irreg Texte.docx 3046247 13 composant électronique, l'isolant électrique (5) étant disposé entre l'armature conductrice (4) et le composant électronique (11), -mesure du courant traversant l'armature (4) ou de la tension sur cette armature ou sur le composant électronique ; 5 -détermination d'un défaut de l'isolant électrique (5) en fonction du courant ou de la tension mesurée.\n<CLM>\1\tProcédé de détermination selon la revendication 9, dans lequel ladite armature (4) du circuit électrique (1) est à un potentiel flottant en l'absence de défaut de 10 l'isolant électrique (5).\n<CLM>\1\tProcédé de détermination selon la revendication 9 ou 10, comprenant en outre une étape de localisation de l'emplacement d'un défaut en fonction de l'amplitude de la tension ou du courant mesuré. 15\n<CLM>\1\tProcédé de détermination selon la revendication 11, dans lequel ledit circuit électronique fourni comprend plusieurs composants électroniques (11) connectés électriquement en série et entourés par l'armature conductrice (4), l'isolant électrique étant disposé entre l'armature conductrice (4) et lesdits 20 composants électroniques (11), et dans lequel la localisation du défaut est réalisée en mesurant la tension sur ladite armature et en comparant la tension mesurée aux tensions d'alimentation des composants électroniques connectés en série. 25\n<CLM>\1\tProcédé de détermination selon la revendication 11, dans lequel ledit circuit (1) fourni comprend plusieurs composants électroniques (11) entourés par l'armature conductrice (4), l'isolant électrique étant disposé entre l'armature conductrice (4) et lesdits composants électroniques (11), ledit circuit fourni comprenant un dispositif d'alimentation configuré pour alimenter 30 séquentiellement lesdits composants électroniques (11-13) avec une même différence de potentiel, et dans lequel la localisation du défaut est réalisée en mesurant la tension sur ladite armature (4) et en déterminant pour quel composant électronique alimenté la tension mesurée correspond à une tension d'alimentation du composant électronique. 35\n<CLM>\1\tProcédé de détermination selon l'une quelconque des revendications 9 à 13, dans lequel ladite armature fournie (4) inclut majoritairement du polysilicium présentant une concentration de dopants au moins égale à 1019cm-3. 40 ICG11031-DD16624HB FR Irreg Texte.docx