Brevet FR3047318A1 (20170804)
REVENDICATIONS1. Procédé de test d'un capteur de détection (20) disposé en regard d'une cible (12) fixée sur un arbre d'entrainement (10) destiné à être monté dans un véhicule automobile, ledit capteur de détection (20) étant configuré pour mesurer les variations de champ magnétique générées par le passage de la cible (12) devant le capteur (20) et pour générer un signal de sortie représentatif desdites variations, ledit procédé comprenant les étapes de : - génération (El ) d'un signal test (VG) de tension en créneaux comprenant des états hauts (EH) dont la valeur est supérieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDH) et des états bas (EB) dont la valeur est inférieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDB), les états hauts (EH) et les états bas (EB) codant des informations de test permettant de collecter des données relatives au signal de sortie du capteur (20), - amplification (E2) des états hauts dudit signal test généré (VG), - filtrage (E3) du signal test amplifié (VA) de sorte à obtenir un signal test filtré (VF) présentant des états hauts dont la tension est supérieure au seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDH) et des états bas dont la tension est inférieure au seuil de détection d'état bas prédéterminé (SDB), et - détection (E4) des états hauts et des états bas du signal test filtré (VF) afin de tester le capteur (20).\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, dans lequel, le filtrage (E3) étant caractérisé par un coefficient de filtrage prédéterminé, l'amplification (E2) est réalisée d'un coefficient d'amplification égal à l'inverse du coefficient de filtrage prédéterminé.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une des revendications 1 et 2, comprenant en outre une étape (E5) de collecte et d'analyse de données relatives au signal de sortie généré par le 25 capteur (20).\n<CLM>\1\tSystème (1) de test d'un capteur de détection (20) d'une cible (12) fixée sur un arbre d'entrainement (10) destiné à être monté dans un véhicule automobile, ledit système (1) comprenant : - un module (30) de génération configuré pour générer un signal test (VG) de 30 tension en créneaux comprenant des états hauts (EH) dont la valeur est supérieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDH) et des états bas (EB) dont la valeur est inférieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDB), les états hauts (EH) et les états bas (EB) codant des informations de test permettant de collecter des données relatives au signal de 35 sortie du capteur (20), 3047318 12 - un module (40) d'amplification relié électriquement au module de génération afin de recevoir un signal test généré par ledit module de génération et configuré pour amplifier les états hauts dudit signal test reçu, - un arbre d'entrainement (10) sur lequel est montée une cible (12), et 5 - un capteur de détection (20) disposé en regard de ladite cible (12) et connecté électriquement au module d'amplification (40) afin de recevoir un signal test amplifié (VA) par ledit module d'amplification (40), ledit capteur (20) comprenant un circuit de filtrage (26) configuré pour filtrer ledit signal test amplifié (VA) et un circuit intégré (28) configuré pour mesurer les variations de champ magnétique 10 générées par le passage de la cible (12) devant le capteur (20), pour générer un signal de sortie représentatif desdites variations et pour détecter, au-delà du seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDH), des états hauts d'un signal test filtré (VF) par le circuit de filtrage (26) et, en dessous d'un seuil de détection d'état bas prédéterminé (SDB), des états bas du signal test filtré (VF) par le circuit de 15 filtrage (26) afin de tester le capteur (20).\n<CLM>\1\tSystème (1) de test selon la revendication 4, dans lequel le circuit de filtrage (26) est caractérisé par un coefficient de filtrage prédéterminé et le module d'amplification (40) est configuré pour amplifier le signal test généré (VG) d'un coefficient d'amplification égal à l'inverse du coefficient de filtrage prédéterminé. 20\n<CLM>\1\tSystème de test selon l'une des revendications 4 et 5, dans lequel le module d'amplification (40) comprend un amplificateur opérationnel recevant sur son entrée négative le signal test généré et un circuit de filtrage, identique au circuit de filtrage du circuit intégré du capteur, dont l'entrée est reliée à la sortie de l'amplificateur opérationnel et dont la sortie est reliée à l'entrée positive de l'amplificateur opérationnel.\n<CLM>\1\tSystème de test selon l'une quelconque des revendications 4 à 6, dans lequel le module d'amplification (40) comprend en outre un sous-module d'amplification de courant disposé entre la sortie de l'amplificateur opérationnel et l'entrée du circuit de filtrage du module d'amplification (40).\n<CLM>\1\tSystème de test selon l'une quelconque des revendications 4 à 7, dans lequel le circuit de filtrage (26) du capteur (20) est constitué d'une résistance (R1) et d'une capacité (C1).\n<CLM>\1\tSystème de test selon l'une quelconque des revendications 4 à 8, comprenant en outre un module de gestion configuré pour recevoir et analyser des données relatives au signal de sortie du capteur (20) afin d'en déterminer l'état de fonctionnement.\n<CLM>\1\tVéhicule automobile comprenant un système de test selon l'une quelconque des revendications 4 à 9, dans lequel sont montés l'arbre d'entrainement (10) et le capteur de détection (20).