Brevet FR3046460A1 (20170707)
REVENDICATIONS1. Procédé de caractérisation des propriétés rhéologiques d'un matériau à partir de signaux enregistrés dans un système d'analyse incluant : - une source (1) pour émettre un faisceau lumineux vers le matériau, - un capteur (4) en aval de la source pour détecter le faisceau réfléchi ou transmis par le matériau, le capteur incluant au moins un premier photodétecteur pour enregistrer un premier signal représentatif d'une première portion du faisceau réfléchi ou transmis, et au moins un deuxième photodétecteur pour enregistrer un deuxième signal représentatif d'une deuxième portion du faisceau réfléchi ou transmis et distinct de la première portion, les premier et deuxième signaux dépendant de la déformation d'une interface libre du matériau, caractérisé en ce que le procédé comprend les étapes consistant à : - recevoir (10) des signaux enregistrés par les premier et deuxième photodétecteurs sur une période de temps, - corréler (30) les premier et deuxième signaux pour obtenir un signal corrélé représentatif d'une densité spectrale de puissance, - modéliser (40) la déformation du matériau en fonction du signal corrélé pour déterminer les propriétés rhéologiques du matériau.\n<CLM>\1\tProcédé de caractérisation selon la revendication 1, dans lequel chaque photodétecteur comprend au moins deux photodiodes pour enregistrer des signaux élémentaires respectifs, la somme des signaux élémentaires étant représentative de la portion du faisceau réfléchi ou transmis enregistré par ledit photodétecteur, le procédé comprenant une étape consistant à calculer des premier et deuxième signaux résultants en : - combinant des signaux enregistrés par deux photodiodes adjacentes parmi les quatre photodiodes pour calculer le premier signal résultant, et en 3046460 22 - combinant des signaux enregistrés par deux autres photodiodes adjacentes parmi les quatre photodiodes pour calculer le deuxième signal résultant. 5\n<CLM>\1\tProcédé de caractérisation selon la revendication 1, dans lequel chaque photodétecteur comprend au moins deux photodiodes pour enregistrer des signaux élémentaires respectifs, la somme des signaux élémentaires étant représentative de la portion du faisceau réfléchi ou transmis enregistré par ledit photodétecteur, 10 le procédé comprenant : - une étape consistant à calculer un premier signal résultant en : o estimant une différence entre les signaux enregistrés par deux photodiodes adjacentes parmi les quatre photodiodes, o estimant une somme des signaux enregistrés par les deux 15 photodiodes adjacentes parmi les quatre photodiodes, et en o calculant un rapport entre la différence estimée et la somme estimée pour obtenir le premier signal résultant - une étape consistant à calculer un deuxième signal résultant en : o estimant une différence entre les signaux enregistrés par les deux 20 autres photodiodes adjacentes parmi les quatre photodiodes, o estimant une somme des signaux enregistrés par les deux autres photodiodes adjacentes parmi les quatre photodiodes, et en o calculant un rapport entre la différence estimée et la somme estimée pour obtenir le deuxième signal résultant. 25\n<CLM>\1\tProcédé de caractérisation selon la revendication 1, dans lequel : - le premier photodétecteur comprend au moins une première photodiode et une deuxième photodiode pour enregistrer des premier et deuxième signaux élémentaires, la somme des premier et deuxième signaux 30 élémentaires étant représentative de la première portion du faisceau réfléchi ou transmis, 3046460 23 - le deuxième photodétecteur comprend au moins une troisième photodiode et une quatrième photodiode pour enregistrer des troisième et quatrième signaux élémentaires, la somme des troisième et quatrième signaux élémentaires étant représentative de la deuxième portion du faisceau 5 réfléchi ou transmis, le procédé comprenant : - une étape consistant à calculer un premier signal résultant en divisant la différence entre les premier et deuxième signaux élémentaires par la somme des premier et deuxième signaux élémentaires, et 10 - une étape consistant à calculer un deuxième signal résultant en divisant la différence entre les troisième et quatrième signaux élémentaires par la somme des troisième et quatrième signaux élémentaires.\n<CLM>\1\tProcédé de caractérisation selon la revendication 1, dans lequel : 15 - le premier photodétecteur comprend au moins une première photodiode et une deuxième photodiode pour enregistrer des premier et deuxième signaux élémentaires, la somme des premier et deuxième signaux élémentaires étant représentative de la première portion du faisceau réfléchi ou transmis, 20 - le deuxième photodétecteur comprend au moins une troisième photodiode et une quatrième photodiode pour enregistrer des troisième et quatrième signaux élémentaires, la somme des troisième et quatrième signaux élémentaires étant représentative de la deuxième portion du faisceau réfléchi ou transmis, 25 le procédé comprenant : - une étape consistant à calculer un premier signal résultant en divisant la différence entre les premier et troisième signaux élémentaires par la somme des premier et troisième signaux élémentaires, et - une étape consistant à calculer un deuxième signal résultant en divisant 30 la différence entre les deuxième et quatrième signaux élémentaires par la somme des deuxième et quatrième signaux élémentaires. 3046460 24\n<CLM>\1\tDispositif de caractérisation des propriétés rhéologiques d'un matériau à partir de signaux enregistrés dans un système d'analyse incluant : - une source (1) pour émettre un faisceau lumineux vers le matériau, 5 - un capteur (4) en aval de la source pour détecter le faisceau réfléchi ou transmis par le matériau, le capteur incluant au moins un premier photodétecteur pour enregistrer un premier signal représentatif d'une première portion du faisceau réfléchi ou transmis, et au moins un deuxième photodétecteur pour enregistrer un deuxième signal 10 représentatif d'une deuxième portion du faisceau réfléchi ou transmis et distinct de la première portion, les premier et deuxième signaux dépendant de la déformation d'une interface libre du matériau, caractérisé en ce que le dispositif comprend : - un récepteur pour recevoir des signaux enregistrés par les premier et 15 deuxième photodétecteurs sur une période de temps, - un processeur programmé pour : o corréler les premier et deuxième signaux pour obtenir un signal corrélé représentatif d'une densité spectrale de puissance, o modéliser la déformation du matériau en fonction du signal corrélé 20 pour déterminer les propriétés rhéologiques du matériau.\n<CLM>\1\tDispositif selon la revendication 6, dans lequel le processeur est programmé pour mettre en oeuvre les étapes du procédé selon l'une quelconque des revendications 2 à\n<CLM>\1\t25\n<CLM>\1\tProduit programme d'ordinateur incluant des instructions de code programme enregistrées sur un support lisible par un ordinateur, pour mettre en oeuvre les étapes du procédé selon l'une des revendications 1 à 5 lorsque ledit programme est exécuté sur un ordinateur. 30