Brevet FR3038722A1 (20170113)
REVENDICATIONS1. Procédé de classification d'un matériau comprenant les étapes suivantes : i) irradiation d'un échantillon (10) comportant ledit matériau à l'aide d'un rayonnement ionisant électromagnétique (12), dit rayonnement incident, produit par une source d'irradiation (11) ; ii) détection d'un rayonnement transmis (14) par l'échantillon à l'aide d'un détecteur spectrométrique (16), ledit échantillon (10) étant disposé entre ladite source d'irradiation (11) et ledit détecteur spectrométrique (16), et acquisition d'un spectre (Sp) du rayonnement ainsi détecté, dit spectre de transmission, représentatif de la distribution en énergie dudit rayonnement transmis (14) ; iii) détermination d'un ensemble de paramètres (x1 ,..., xp ) à partir du spectre de transmission (Sp), cet ensemble de paramètres formant les coordonnées d'un vecteur de paramètres (VM), représentant ledit spectre de transmission (Sp), dans un espace de départ () ; iv) projection dudit vecteur de paramètres (VM) selon au moins un vecteur de projection (w1 , ...., wi,v), de façon à obtenir au moins une donnée projetée (yi , ....,yw), chaque donnée projetée résultant de la projection dudit vecteur de paramètres (VM) selon un vecteur de projection ; v) classification du matériau en fonction de chaque donnée projetée (yi , ....,yw)-\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, dans lequel on dispose d'un nombre prédéterminé (C) de classes de matériaux, l'étape v) consistant à classifier le matériau selon une desdites classes de matériau.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 2, dans lequel l'étape iv) comporte la projection dudit vecteur de paramètres (VM) dans un espace d'arrivée ('), chaque vecteur de projection formant alors une base (w1 , ...., ww), dite base d'arrivée, dudit espace d'arrivée.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 3, dans lequel le nombre de vecteurs formant ladite base d'arrivée est strictement inférieur au nombre (C) de classes de matériaux. 3038722 21\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le spectre de transmission (Sp) est normalisé, terme à terme, par un spectre (Spo) du rayonnement incident, ce dernier étant représentatif de la distribution en énergie dudit rayonnement incident.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le spectre de 5 transmission (Sp) comportant N canaux, le nombre P de paramètres de l'ensemble de paramètres est strictement inférieur à N.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 6, dans lequel le nombre P de paramètres est inférieur à N/2.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel, le spectre de transmission (Sp) étant défini sur une pluralité de canaux, au moins un paramètre 10 (xp ) comporte : une référence du canal du spectre de transmission comportant le nombre maximal de photons détectés ; ou un ratio entre les contenus de deux canaux différents ; ou un taux de variation entre les contenus de deux canaux différents ; 15\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel chaque vecteur de projection (w,) est déterminé au cours d'une phase d'apprentissage, réalisée à l'aide de matériaux de calibration (C alk ) dont la nature (j) est connue, lesdits matériaux de calibration définissant au moins deux classes distinctes (C,) de matériaux, ladite phase d'apprentissage comprenant : 20 l'obtention de / spectres de calibration (Sp(Ca/Ijc, /)), / 1, chaque spectre de calibration étant représentatif de la distribution en énergie d'un rayonnement transmis (14) par un matériau de calibration (Cali) lorsque ledit matériau de calibration est disposé entre ladite source d'irradiation (11) et ledit détecteur spectrométrique (16) ; la détermination d'un ensemble de paramètres de calibration ) à partir 25 de chaque spectre de calibration (Sp(Ca/Ijc, /), cet ensemble de paramètres formant les coordonnées d'un vecteur de calibration (Vm(Caljk, 1), de façon à obtenir une pluralité de vecteurs de calibration (Vm ,\n<CLM>\1\tcorrespondant à chaque classe (Cj). 3038722 22\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 9, dans lequel au moins un vecteur de projection (w,) est déterminé en calculant, et en particulier en maximisant, à partir de chaque vecteur de calibration (Vm(Caejc, 0), un critère discriminant (J(w)), déterminé par une comparaison entre : un premier terme (Y ,_int')représentatif d'une dispersion inter-classes ; 5 un deuxième terme lY représentatif d'une dispersion intra-classe.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 9 ou la revendication 10, dans lequel au moins un vecteur de projection (w,) est obtenu en déterminant, à partir de chaque vecteur de calibration (Vm(Ca/jk, 0), une première matrice lY ,_inter)représentative d'une dispersion inter-classes, 10 une deuxième matrice lY représentative d'une dispersion intra-classe, une troisième matrice (E), formée par un produit matriciel d'une matrice inverse de ladite deuxième matrice par ladite première matrice, ledit vecteur de projection étant un vecteur propre de ladite troisième matrice.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 9, dans lequel chaque vecteur de projection (w,) est 15 déterminé par analyse discriminante linéaire, en considérant chaque vecteur de calibration (Vm(Ca/jk, 0).\n<CLM>\1\tDispositif de caractérisation du matériau contenu dans un échantillon (10) comprenant : une source d'irradiation (11), apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident (12), vers ledit échantillon (10), 20 un détecteur spectrométrique (16), apte à détecter un rayonnement transmis (14) par l'échantillon (10) lorsque l'échantillon (10), exposé audit rayonnement incident (12), est interposé entre la source d'irradiation et le détecteur spectrométrique, le dispositif étant caractérisé en ce qu'il comporte un processeur (20), apte à recevoir des données mesurées par le détecteur spectrométrique et à mettre en oeuvre le 25 procédé objet de l'une quelconque des revendications 1 à 12, le processeur étant relié à une mémoire (22) dans laquelle est stockée au moins un vecteur de projection (w1 --- - , Ww).\n<CLM>\1\tSupport d'enregistrement d'informations, comportant des instructions pour l'exécution d'un procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 12, ces instructions étant aptes à être exécutées par un processeur (20).