Brevet FR3045840A1 (20170623)
REVENDICATIONS1. Système (2 ; 2B) de mesure de dose absorbée, caractérisé en ce qu'il comporte une tête de détection (7) comprenant une matrice (4) solide pleine et au moins un détecteur (6) solide, la matrice (4) présentant une surface d'entrée (10) externe, l'au moins un détecteur (6) étant propre à délivrer un signal (Sb,,) représentatif d'une dose de rayonnement absorbée au point où est disposé le détecteur (6), l'au moins un détecteur (6) étant disposé dans la matrice (4), à une profondeur prédéterminée par rapport à la surface d'entrée (10).\n<CLM>\1\tSystème de mesure (2 ; 2B) selon la revendication 1, dans lequel la matrice (4) est réalisée dans un matériau présentant, en moyenne sur une plage d'énergie prédéterminée, un coefficient d'absorption présentant une différence relative avec le coefficient d'absorption de l'eau liquide qui est inférieure ou égale à 50%, avantageusement inférieure ou égale à 30%, par exemple inférieure ou égale à 10%, et un coefficient de diffusion présentant une différence relative avec le coefficient de diffusion de l'eau liquide qui est inférieure ou égale à 50%, avantageusement inférieure ou égale à 30%, par exemple inférieure ou égale à 10%.\n<CLM>\1\tSystème de mesure (2 ; 2B) selon la revendication 1, dans lequel la matrice (4) est réalisée dans un matériau présentant, en moyenne sur une plage d'énergie prédéterminée, un coefficient d'absorption présentant une différence relative avec le coefficient d'absorption d'un tissu biologique donné qui est inférieure ou égale à 50%, avantageusement inférieure ou égale à 30%, par exemple inférieure ou égale à 10%, et un coefficient de diffusion présentant une différence relative avec le coefficient de diffusion du tissu biologique qui est inférieure ou égale à 50%, avantageusement inférieure ou égale à 30%, par exemple inférieure ou égale à 10%. 3045840 23\n<CLM>\1\tSystème de mesure (2 ; 2B) selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, comportant une pluralité de détecteurs (6), la position des détecteurs (6) dans la matrice (4) définissant une droite (X-X). 5\n<CLM>\1\tSystème de mesure (2 ; 2B) selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel l'au moins un détecteur (6) est choisi parmi le groupe consistant en les dosimètres diamant et les détecteurs à scintillation. 10\n<CLM>\1\tProcédé d'étalonnage d'un système de mesure (2 ; 2B) selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, la surface d'entrée (10) de la matrice (4) du système de mesure (2 ; 2B) étant éclairée par un rayonnement d'une source de rayonnement de référence, la source de rayonnement de référence étant propre à émettre un rayonnement présentant au moins une qualité de faisceau prédéterminée, une dose de référence (Dref) 15 dans un milieu prédéterminé étant associée à l'au moins une qualité de faisceau, la dose de référence (Dref) étant connue en un point de référence, la dose de référence (Dref) étant, en outre, associée à une profondeur de référence, la tête de détection (7) étant disposée de sorte que le détecteur (6) qui est situé à une profondeur équivalente du milieu prédéterminé égale à la profondeur de référence soit disposé au point de référence, 20 le procédé comprenant, pour l'au moins une qualité de faisceau, les étapes de : - acquisition d'un signal (Sb,i) délivré par chaque détecteur (6) ; - calcul, à partir du signal acquis (Sb,i), d'un signal corrigé (Scorr,i) associé à chaque détecteur (6) ; 25 - calcul d'un coefficient d'étalonnage (N) égal au résultat de la division de la dose de référence (Dref) par le signal corrigé (Scorr,i) associé au détecteur (6) disposé au point de référence ; - écriture du coefficient d'étalonnage (N) dans un emplacement mémoire (22) ; 3045840 24 - pour au moins un premier détecteur (6) et un deuxième détecteur (6) distinct du premier détecteur (6), calcul d'un indice de qualité (Ftc,r,/,) égal au résultat de la division du signal corrigé (Scorr,h) associé au deuxième détecteur (6) par le signal corrigé (Scorr,i) associé au premier détecteur (6) ; 5 - écriture de chaque indice de qualité (Ftc,r,/,) dans l'emplacement mémoire (22).\n<CLM>\1\tProcédé d'étalonnage selon la revendication 6, dans lequel chaque détecteur (6) est associé à un rang correspondant à la profondeur prédéterminée du détecteur (6), le procédé comportant, pour au moins un couple de rangs (h, i) distincts, et pour l'au moins une qualité de faisceau, les étapes de : - lecture d'un couple formé par le coefficient d'étalonnage (N) correspondant et par l'indice de qualité (Ftc,r,/,) associé au couple de rangs (h, i) distincts pour la qualité de faisceau, l'indice de qualité (Ftc,r,/,) formant un antécédent et le coefficient 15 d'étalonnage (N) formant une image ; - calcul d'une fonction d'approximation (Fro) pour l'ensemble des couples lus ; - écriture de la fonction d'approximation (Fro) dans l'emplacement mémoire (22). 20\n<CLM>\1\tProduit programme d'ordinateur comprenant des instructions de code de programme qui, lorsqu'elles sont exécutées par un ordinateur, mettent en oeuvre le procédé d'étalonnage selon la revendication 6 ou\n<CLM>\1\t25 9.- Procédé de détermination de la qualité de faisceau d'un faisceau émis par une source (3) de rayonnement, mettant en oeuvre un système de mesure (2 ; 2B) selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, le système de mesure (2 ; 2B) étant étalonné par le procédé d'étalonnage selon la revendication 6 ou 7, 3045840 25 la tête de détection (7) étant disposée dans la position de mesure prédéterminée, la surface d'entrée (10) de la matrice (4) du système de mesure (2 ; 2B) étant éclairée par le faisceau émis par la source (3), le procédé comprenant les étapes de : 5 - acquisition d'un signal (Sb,i) délivré par chaque détecteur (6) ; - calcul, à partir du signal acquis (Sb,i), d'un signal corrigé (Scorr,i) associé à chaque détecteur (6) ; - pour au moins un premier détecteur (6) et un deuxième détecteur (6) distinct du premier détecteur (6), calcul d'un rapport brut (Rb,r,/,) égal au résultat de la division du signal corrigé (Scorr,b) associé au deuxième détecteur (6) par le signal corrigé (Scorr,i) associé au premier détecteur (6) ; - recherche de l'existence d'une qualité de faisceau sélectionnée, la qualité de faisceau sélectionnée étant la qualité de faisceau pour laquelle les rapports bruts (Rb,r,/,) calculés satisfont un critère prédéterminé par rapport aux indices de qualité (Rc,F0) 15 correspondants écrits dans l'emplacement mémoire (22) ; - si la qualité de faisceau sélectionnée est trouvée, affectation, à la qualité de faisceau de la source (3), de la qualité de faisceau sélectionnée.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 9, comprenant en outre, si la qualité 20 de faisceau sélectionnée est trouvée, l'étape de : - calcul, pour chaque détecteur (6), d'une dose absorbée (D,') égale au résultat du produit du signal corrigé (Scorr,i) correspondant par le coefficient d'étalonnage (N) associé à la qualité de faisceau sélectionnée. 25\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 9 lorsqu'elle dépend de la revendication 7, comprenant en outre, si la qualité de faisceau sélectionnée n'est pas trouvée, les étapes de : - choix d'un couple de rangs (h, i) distincts ; 3045840 26 - calcul d'un coefficient d'étalonnage approché (N'), le coefficient d'étalonnage approché (N') étant égal à l'image du rapport brut (Rb,r,/,) associé au couple de rangs (h, i) par la fonction d'approximation (Fro) associée au couple de rangs (h, i) ; - calcul, pour chaque détecteur (6), d'une dose absorbée (D,') égale au 5 résultat du produit du signal corrigé (Sc,,,,) correspondant par le coefficient d'étalonnage approché (N').\n<CLM>\1\tProduit programme d'ordinateur comprenant des instructions de code de programme qui, lorsqu'elles sont exécutées par un ordinateur, mettent en oeuvre 10 le procédé de détermination d'une qualité de faisceau selon l'une quelconque des revendications 9 à 11.