Brevet FR3037992A1 (20161230)
REVENDICATIONS1. Procédé d'identification de limites de couches de formation sur des mesures de diagraphie de puits, comprenant : a) le calcul d'une dérivée première à l'aide soit d'une dérivée première des mesures de diagraphie de puits soit des dernières mesures de diagraphie de puits lissées ; b) le calcul d'un indice de fluctuation par division de la dérivée première par le nombre de points de données dans les mesures de diagraphie de puits ; c) le lissage d'une des mesures de diagraphie de puits et des dernières mesures de diagraphie de puits lissées à l'aide d'un processeur d'ordinateur ; d) la répétition des étapes a) - c) jusqu'à ce que l'indice de fluctuation soit inférieur à un seuil prédéfini ; e) le calcul d'une dérivée seconde à l'aide soit d'une dérivée seconde des mesures de diagraphie de puits soit des dernières mesures de diagraphie de puits lissées en chaque point échantillonné ; f) l'identification de chaque dérivée seconde avec une valeur nulle, qui représente un point d'inflexion ; et g) l'affichage d'une limite de couche de formation sur une des mesures de diagraphie de puits et des dernières mesures de diagraphie de puits lissées à chaque point d'inflexion identifié.\n<CLM>\1\tProcédé de la revendication 1, comprenant également l'ajustement d'au moins une opération de forage en fonction de chaque limite de couche de formation affichée.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, dans lequel les mesures de diagraphie de puits comprennent soit des mesures de résistivité soit des mesures aux rayons gamma.\n<CLM>\1\tProcédé de la revendication 1, dans lequel le seuil prédéfini représente une résolution de limite de couche de formation optimale. 3037992 12\n<CLM>\1\tProcédé de la revendication 1, dans lequel le lissage est basé sur une taille de fenêtre de lissage et sur un certain nombre d'itérations de lissage.\n<CLM>\1\tProcédé de la revendication 5, dans lequel la taille de la fenêtre de lissage se détermine par multiplication de l'indice de fluctuation par un facteur prédéfini d'évaluation. 5\n<CLM>\1\tProcédé de la revendication 5, dans lequel le nombre d'itérations de lissage est déterminé par multiplication de l'indice de fluctuation par une constante prédéfinie.\n<CLM>\1\tProcédé de la revendication 1, comprenant également l'ajustement du seuil prédéfini.\n<CLM>\1\tDispositif de support de programme non transitoire transportant de façon tangible des instructions exécutables par un ordinateur pour l'identification de limites de couche de formation 10 sur des mesures de diagraphie de puits, les instructions étant exécutables pour mettre en oeuvre l'un quelconque des procédés des revendications 1 à\n<CLM>\1\t10. Dispositif de support de programme non transitoire transportant de façon tangible des instructions exécutables par un ordinateur pour l'identification de limites de couche de formation sur des mesures de diagraphie de puits, les instructions étant exécutables pour : 15 a) le calcul d'une dérivée première à l'aide soit d'une dérivée première des mesures de diagraphie de puits soit des dernières mesures de diagraphie de puits lissées ; b) le calcul d'un indice de fluctuation par division de la dérivée première par le nombre de points de données dans les mesures de diagraphie de puits ; c) le lissage d'une des mesures de diagraphie de puits et des dernières mesures de 20 diagraphie de puits lissées ; d) la répétition des étapes a) à c) jusqu'à ce que l'indice de fluctuation soit inférieur à un seuil prédéfini, le seuil prédéfini représentant une résolution optimale de limite de couche de formation ; e) le calcul d'une dérivée seconde à l'aide soit d'une dérivée seconde des mesures de 25 diagraphie de puits soit des dernières mesures de diagraphie de puits lissées en chaque point échantillonné ; et 3037992 13 f) l'identification de chaque dérivée seconde avec une valeur nulle, qui représente un point d'inflexion. 5