Brevet FR3042285A1 (20170414)
REVENDICATIONS1. Procédé de correction d'un spectre d'un rayonnement électromagnétique ionisant transmis par un objet (10), l'objet étant disposé entre une source d'irradiation (11) et un détecteur (20), la source d'irradiation étant apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident (I°), vers ledit objet ; le détecteur (20) comportant des pixels (20ii), chaque pixel étant apte à détecter un rayonnement transmis par l'objet (10) vers le détecteur, et à en acquérir un spectre (Sii), le rayonnement transmis comportant un rayonnement de diffusion (Idiff ), causé par la diffusion du rayonnement incident dans l'objet (10), et un rayonnement primaire (/P) ; le procédé comportant les étapes suivantes : a) interposition d'un masque (15) entre la source (11) et l'objet (10), et acquisition, par plusieurs pixel (20ii), d'un premier spectre (S!-1) d'un premier rayonnement (V-) transmis par l'objet, ledit masque comportant des éléments absorbants (15,), aptes à absorber une partie dudit rayonnement incident (I°), et dont une projection sur le détecteur définit un premier groupe de pixels (G1); b) obtention, pour chaque pixel du premier groupe de pixels (G1), d'un deuxième spectre (SÏJE Gi) d'un deuxième rayonnement (12) transmis par l'objet sur le détecteur, en l'absence dudit masque ; c) comparaison, pour chaque pixel dudit premier groupe de pixels (G1), du premier spectre (S!JE Gi) et du deuxième spectre (SÏJE Gi), de façon à obtenir un spectre de comparaison (ASij E G1); d) pour chaque pixel du premier groupe de pixels (G1), application d'une matrice de passage (M), préalablement établie, audit spectre de comparaison (ASiJE Gi), pour obtenir une estimation d'un spectre dit primaire jPE Gi) représentant le rayonnement primaire transmis par l'objet audit pixel, et estimation d'un spectre de - d diffusion (S..i ff ) représentatif du rayonnement de diffusion transmis par l'objet ; E e) pour tout ou partie des pixels (20Q) du détecteur (20), à partir de chaque spectre de diffusion (-diff ) estimé lors de l'étape d), correction du deuxième spectre (Si,J) ou du premier spectre (e1), de façon à obtenir un spectre corrigé (Si* j). 3042285 30\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1, dans lequel l'étape e) comporte, préalablement à ladite correction, une estimation d'un spectre de diffusion (.idij.") pour l'ensemble des pixels du détecteur.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 1 ou la revendication 2, dans lequel l'étape e) comporte, pour 5 chaque pixel, une soustraction dudit spectre de diffusion estimé (.dr. ) audit deuxième spectre (ej) ou audit premier spectre (Sb).\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel, lors de l'étape b), pour chaque pixel du premier groupe (G1), le deuxième spectre (eje G1) est obtenu : - soit par une acquisition dudit deuxième spectre par ledit pixel ; 10 - soit par une estimation sur la base d'au moins un premier spectre (Sb e G1) acquis par au moins un pixel n'appartenant pas audit premier groupe.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel : - l'étape a) est mise en oeuvre dans une pluralité de configurations (C), à chaque configuration étant associée une position du détecteur et de la source par rapport à 15 l'objet, de façon à obtenir, à chaque configuration, et pour chaque pixel, un premier spectre (Silj'c), à chaque configuration étant également associé un premier groupe de pixel (Gf) ; - l'étape b) comporte, pour tout ou partie des pixels du premier groupe (Gf) associé à une configuration (C), une détermination d'un deuxième spectre (Sir) à partir d'un 20 premier spectre (Sil'ic') obtenu selon une autre configuration (C').\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 5, dans lequel à chaque configuration (C) est associé un paramètre (Pu), de telle sorte qu'au moins un deuxième spectre (Sil) selon une configuration (C) associée à un premier paramètre (Pu) est obtenu à partir d'un premier spectre (Sil'ic') obtenu selon une autre configuration (C') associée à un deuxième paramètre (Pu,), différent du premier 25 paramètre.\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 6, dans lequel ledit paramètre (Pu) est un angle d'inclinaison (Oc) de la source (11) et/ou du détecteur (20) par rapport à l'objet (10). 3042285 31\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lors de l'étape d), l'estimation dudit spectre primaire comprend le produit matriciel de ladite matrice de passage (M) par chaque spectre de comparaison (ASiJe\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel chaque élément 5 absorbant (15,) est apte à absorber entre 5 % et 80 % du rayonnement auquel il est exposé.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel, le masque (15) s'étendant selon une surface, chaque élément absorbant est distant d'un autre élément absorbant d'une distance inférieure à 1 cm.\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les étapes a) à 10 e) sont mise en oeuvre selon une pluralité de configurations (C), à chaque configuration étant associée une position du détecteur et de la source par rapport à l'objet, de façon à obtenir, dans * c chaque configuration, pour une pluralité de pixels, un spectre corrigé (Sii' ), les spectres corrigés de chaque configuration étant utilisés pour réaliser une reconstruction tomographique de l'objet (10). 15\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque 1 à 11, dans lequel les étapes a) à e) sont complétées par les étapes suivantes : f) sélection d'au moins une énergie (E) ou une plage d'énergie (iE); g) réalisation d'une image (Im(AE), Im(E)), dont chaque pixel comprend une donnée obtenue à partir d'un spectre corrigé (SKI), associé à un pixel (20i3) du détecteur, à 20 ladite énergie (E) ou dans ladite plage d'énergie (iE).\n<CLM>\1\tProcédé selon la revendication 12, dans lequel lors de l'étape g) chaque pixel de l'image comporte une information relative à une intégrale ou à une moyenne dudit spectre corrigé (Si*1) dans ladite plage d'énergie (iE).\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le masque (15) 25 est interposé entre la source d'irradiation (11) et l'objet (10).\n<CLM>\1\tProcédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la matrice de passage (M) est obtenue en réalisant une pluralité de mesures dites de calibration, chaque mesure de calibration étant effectuée en interposant un matériau de nature et d'épaisseur connue entre la source d'irradiation (11) et le détecteur (20). 3042285 32\n<CLM>\1\tSupport d'enregistrement d'informations, comportant des instructions pour l'exécution d'un procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 15, ces instructions étant aptes à être exécutées par un microprocesseur.\n<CLM>\1\tDispositif pour la réalisation d'images d'un objet (10) comportant : 5 une source d'irradiation (11), apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident (I°), vers ledit objet (10); un détecteur (20) comportant des pixels (2013), chaque pixel étant apte à détecter un rayonnement (10) transmis par l'objet vers le détecteur, et à en acquérir un spectre (Sii) ; 10 un masque (15), apte à être interposé entre la source (11) et l'objet (10), ledit masque comportant des éléments absorbants (15,), aptes à absorber une partie dudit rayonnement incident (e), et dont une projection sur le détecteur définit un premier groupe de pixels (G1); un processeur (21), apte recevoir des spectres détectés par chaque pixel, et à mettre en 15 oeuvre le procédé objet de l'une quelconque des revendications 1 à 15.