FR 3072459 A1 20190419 FR 1759562 A 20171012 L'invention concerne un procédé et un dispositif de détection de défauts d'une structure, notamment d'une structure aéronautique. Un domaine d'application de l'invention concerne les structures utilisées dans le domaine de l'aéronautique, comme par exemple des parties de nacelles d'aéronefs. On connaît des dispositifs de détection de défauts de structures, par exemple par les documents US-7,937,248 B2 et US 2015/0308920 Al. 1 0 Le principal objectif des compagnies aériennes est d'assurer des vols réguliers et ponctuels à des prix compétitifs de façon à se placer favorablement face à leurs concurrents. De ce fait, elles sont attentives aux coûts de maintenance de leurs équipements et intéressées à travailler avec des équipementiers ayant conscience de l'enjeu de la disponibilité et de la maintenabilité d'un produit pendant son cycle de 15 vie. Aujourd'hui, la plupart des éléments purement structuraux ne sont visités que lors des entretiens périodiques auxquels les avions sont soumis (par exemple : inspection de type C, ou en anglais : C-check) tous les 24 mois ou 10000 heures de vol. De manière plus précise, la maintenance de la structure de type IFS (en anglais : 2 0 internai fixed structure pour structure fixée de manière interne) d'un inverseur de poussée (nacelle) de l'avion est aujourd'hui inspectée par un opérateur n'ayant pas à disposition d'outils d'aide à la prise de décision. On cherche deux axes d'amélioration: le premier est lié à la sécurité et le second est lié à des aspects économiques. 25 Le fait que la vérification de l'intégrité structurale soit réalisée uniquement lors des entretiens périodiques et par un opérateur humain non assisté, laisse la porte ouverte à l'éventualité de voler avec un système n'ayant pas 100% de son intégrité. Ici, l'aspect sécuritaire voudrait que le système structural soit remplacé juste avant la perte d'intégrité, ce qui implique le besoin de pousser plus loin la maintenance 30 préventive. Le remplacement des composants lors de l'inspection de type C a par ailleurs deux inconvénients majeurs : d'une part, les systèmes sont souvent remplacés de 2 manière préventive, alors qu'ils sont encore aptes au vol; d'autre part, ils sont parfois surdimensionnés, pour tenir les intervalles de maintenance prévus sans dégrader la sûreté. De ce fait, il y a un coût pour l'exploitant qui pourrait être évité ou tout au moins réduit de manière significative. 5 On cherche à suivre de manière continue et/ou périodique l'évolution de l'état de santé des structures aéronautiques. L'objectif est de résoudre les problèmes évoqués précédemment et par la même occasion d'espacer, de simplifier, voire de réorganiser les opérations de maintenance. On connaît des systèmes de diagnostic de l'état de la structure, également 1 0 appelés systèmes SHM (en anglais : Structural Health Monitoring). Un système SHM consiste essentiellement en un système de contrôle non destructif qui intègre des capteurs de manière permanente (capteurs collés sur la structure ou noyés dans la structure). Les données collectées permettent de détecter l'apparition, et de suivre l'évolution, de dommages/défauts dans la structure. Idéalement, le système SHM 15 doit pouvoir: (i) détecter la présence d'un défaut, (ii) le localiser, (iii) déterminer sa taille, (iv) fournir un pronostic sur la durée de vie de la structure. Les enjeux économiques sont dans un premier temps de réduire le temps d'immobilisation de l'avion, parce que les réparations peuvent être prédites ou au moins automatisées. Dans un second temps, l'enjeu est de ne remplacer que les 2 0 structures ou composants ayant vraiment besoin de l'être, et, partant, d'avoir moins d'éléments à remplacer, et donc à produire. L'instrumentation de la structure permet d'obtenir des mesures, par exemple des mesures d'ondes acoustiques ou guidées (par exemple des ondes de Lamb) qui doivent être traitées et analysées afin de définir si la structure présente ou non un 25 défaut. Suivant un état de la technique, l'analyse est aujourd'hui réalisée en comparant les mesures qui sont prises sur une structure à analyser (dit échantillon sous analyse) vis-à-vis de celles qui sont prises sur une structure de référence (dit échantillon de référence), qui elle est par définition à l'état sain. 30 Les mesures qui sont faites sur la structure de référence sont souvent prises dans des états thermiques de référence bien définis. Ce choix implique une 3 contrainte, qui est que les mesures sur la structure A ne peuvent pas être réalisées avant qu'elle soit arrivée à un état thermique identique à l'état de référence dans lequel les mesures sur la structure de référence ont été faites. Cette problématique implique des coûts liés à des retards dans l'analyse et 5 donc à des retards dans la disponibilité de l'avion. L'invention vise à obtenir un procédé et un dispositif de détection de défauts d'une structure, permettant de réaliser une évaluation des défauts sans recourir à l'état de référence, mais qui se base seulement sur les informations à sa disposition (de l'état actuel) pour identifier la présence d'un défaut. A cet effet, un premier objet de l'invention est un procédé de détection de défauts d'une structure, comprenant les étapes suivantes: - on dispose sur la structure un maillage constitué d'une pluralité de mailles et défini par une pluralité de transducteurs, ^( chaque transducteur étant commandé au moins entre : o un mode d'émission dans lequel il est apte à émettre un signal d'excitation vers les autres transducteurs, o et un mode de réception dans lequel il est apte à recevoir un signal de réception émis par un autre transducteur, ^( les signaux d'excitation et les signaux de réception étant aptes à se propager à travers la structure, - on extrait, en fonction des signaux d'excitation et des signaux de réception, une signature pour chacune des mailles, - on compare les signatures entre elles pour identifier parmi les mailles au moins une maille comme localisant un défaut de la structure, appelée maille défaillante, lorsque la signature de cette maille est différente de plusieurs autres signatures de plusieurs autres mailles. Suivant un mode de réalisation de l'invention, la maille défaillante est identifiée comme ayant une signature qui est différente des signatures, qui sont égales entre elles, d'au moins deux autres mailles, chacune indépendamment 30 limitrophe ou non limitrophe de la maille défaillante. 4 Suivant un mode de réalisation de l'invention, une première fonction d'identification d'un groupe défini par successivement une première maille, une deuxième maille et une troisième maille, est définie par le fait que la première maille, la deuxième maille et la troisième maille sont identifiées 5 comme mailles non défaillantes, lorsque les signatures de ces mailles sont égales, lorsque la signature de la première maille est différente de la signature de la deuxième maille égale à la signature de la troisième maille, la première maille est identifiée comme maille défaillante, lorsque la signature de la première maille est égale à la signature de la 10 deuxième maille et est différente de la signature de la troisième maille, la première maille est identifiée comme maille non défaillante et la troisième maille est identifiée comme maille suspecte, dans une première sous-étape d'identification, on applique la première fonction d'identification à un premier groupe de trois mailles, comportant 15 successivement une première maille, une deuxième maille, qui est limitrophe à la première maille, et une troisième maille, qui est limitrophe à la première maille. Suivant un mode de réalisation de l'invention, dans une deuxième sous-étape d'identification postérieure à la première sous-étape d'identification, l'on applique la première fonction d'identification à un autre groupe de mailles défini par 20 successivement une maille de départ formée par la deuxième maille et - la première maille, si la première maille a été identifiée comme maille non défaillante, et une quatrième maille, qui est limitrophe à la maille de départ, - une cinquième maille, qui est limitrophe ou non limitrophe à la première maille, si la première maille a été identifiée comme maille défaillante, et la quatrième 25 maille, qui est limitrophe à la maille de départ. Suivant un mode de réalisation de l'invention, l'on réitère la deuxième sous-étape d'identification une ou plusieurs fois sur respectivement un ou plusieurs autres groupes de mailles. Suivant un mode de réalisation de l'invention, la maille de départ de chaque 30 deuxième sous-étape d'identification est limitrophe à la maille de départ de la deuxième sous-étape d'identification la précédant. 5 Suivant un mode de réalisation de l'invention, la quatrième maille et la cinquième maille sont différentes de la troisième maille, qui est identifiée comme maille suspecte. Suivant un mode de réalisation de l'invention, les mailles de chaque groupe 5 sont autres qu'une maille ayant été identifiée comme maille défaillante. Suivant un mode de réalisation de l'invention, pour la troisième maille, qui est identifiée comme maille suspecte, on applique une deuxième fonction d'identification définie par le fait que lorsque la signature de la troisième maille est différente de la signature de la 10 première maille égale à la signature d'une sixième maille limitrophe à la troisième maille, la troisième maille est identifiée comme maille défaillante, lorsque la signature de la troisième maille est différente de la signature de la première maille différente de la signature de la sixième maille, la troisième maille est identifiée comme maille défaillante et la sixième maille est identifiée comme maille 15 suspecte, lorsque la signature de la troisième maille est égale à la signature de la sixième maille, un premier signal d'indication est envoyé sur une interface homme-machine. Suivant un mode de réalisation de l'invention, au cours d'au moins une sous-2 0 étape de classification, l'on classifie les mailles ayant la même signature dans une même famille respective, les mailles, qui sont classifiées dans la famille respective ayant le plus grand nombre de mailles, appelée famille saine, étant identifiées comme mailles non défaillantes, 25 chaque maille, qui est classifiée dans une famille respective n'ayant qu'une seule maille, appelée famille défaillante respective, étant identifiée comme maille défaillante. Suivant un mode de réalisation de l'invention, pour classifier les mailles, on classifie une première maille ayant une première signature dans une 30 première famille, à laquelle on attribue une référence respective égale à la première signature, 6 puis successivement pour chaque autre maille, différente de la première maille, on itère la sous-étape de classification selon laquelle - on compare la signature de l'autre maille à la référence respective de chaque famille, 5 - si la signature de l'autre maille est égale à la référence respective de l'une des familles, alors cette autre maille est classifiée dans cette famille, - si la signature de l'autre maille n'est égale à aucune référence respective des familles, alors cette autre maille est classifiée dans une nouvelle famille, à laquelle on attribue une référence respective égale à la signature de cette autre maille. 10 Suivant un mode de réalisation de l'invention, pour chaque maille n'appartenant ni à la famille saine, ni à la ou aux familles défaillantes respectives, appelée maille à analyser, on calcule une première distance entre la signature de la maille à analyser et la signature des mailles de la famille saine, et une deuxième distance respective entre la signature de la maille à analyser et la signature des 15 mailles de chaque famille défaillante respective, pour - lorsque la première distance est inférieure à chaque deuxième distance respective, classifier la maille à analyser dans la famille saine ou identifier la maille à analyser comme maille non défaillante, - lorsque la première distance est supérieure à une ou plusieurs deuxièmes 20 distances respectives, classifier la maille à analyser dans la famille défaillante ayant cette deuxième distance respective ou identifier la maille à analyser comme maille défaillante. Un deuxième objet de l'invention est un dispositif de détection de défauts d'une structure, 25 le dispositif comportant une pluralité de transducteurs destinés à être positionnés sur ou dans la structure, chaque transducteur de la pluralité de transducteurs étant apte, lorsqu'il est dans un mode d'émission, à émettre un signal d'excitation vers les autres transducteurs de la pluralité de transducteurs, chaque transducteur étant apte, lorsqu'il est dans un mode de réception, a recevoir un signal de réception en réponse au signal d'excitation émis par un autre 7 transducteur de la pluralité de transducteurs, les signaux d'excitation et les signaux de réception étant aptes à se propager le long de la structure ou dans la structure, caractérisé en ce que les transducteurs délimitent entre eux plusieurs mailles, qui sont limitrophes 5 entre elles et qui ont des positions connues, le dispositif comportant une unité de calcul pour : - calculer, en fonction des signaux d'excitation et des signaux de réception, une signature pour chacune des mailles, - comparer les signatures entre elles pour identifier parmi celles-ci au moins 10 une maille comme localisant un défaut de la structure, appelée maille défaillante, lorsque la signature de cette maille est différente de plusieurs autres signatures de plusieurs autres mailles. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple non limitatif en référence aux dessins annexés, 15 sur lesquels : - la figure 1 représente schématiquement un synoptique modulaire d'un dispositif de détection de défauts suivant un mode de réalisation de l'invention, - la figure 2 représente schématiquement un exemple d'implantation de transducteurs du procédé et du dispositif de détection de défauts dans une zone 2 0 d'une structure à surveiller d'un premier type, suivant un mode de réalisation de l'invention, - la figure 3 représente schématiquement un exemple d'implantation de transducteurs du procédé et du dispositif de détection de défauts dans une zone d'une structure à surveiller d'un deuxième type, suivant un mode de réalisation de 25 l'invention, - la figure 4 représente schématiquement un exemple de maillage d'une structure par des transducteurs du procédé et du dispositif de détection de défauts suivant un mode de réalisation de l'invention, - la figure 5 représente schématiquement un organigramme d'un premier 30 mode de réalisation du procédé de détection de défauts suivant l'invention, 8 - la figure 6 représente schématiquement un organigramme d'un deuxième mode de réalisation du procédé de détection de défauts suivant l'invention, - la figure 7 représente schématiquement la structuration d'une matrice de mesures, pouvant être utilisée suivant un mode de réalisation du procédé de 5 détection de défauts suivant l'invention, - la figure 8 représente schématiquement un organigramme schématique, illustrant le principe du calcul d'un indicateur de défauts, pouvant être utilisé suivant un mode de réalisation du procédé de détection de défauts suivant l'invention, - la figure 9 représente schématiquement un exemple de résultat de la 10 détection de défauts, indiquant en abscisse un numéro d'essai, et en ordonnées la valeur d'un indicateur de défaut selon la figure 8, pouvant être utilisé suivant un mode de réalisation du procédé de détection de défauts suivant l'invention. Aux figures 1 à 6, le procédé de détection de défauts d'une structure et le dispositif 10 de détection de défauts d'une structure suivant l'invention utilisent une 15 pluralité de transducteurs 100 ou capteurs 100, qui sont positionnés sur ou dans une structure STR, dont il s'agit de détecter et localiser les éventuels défauts. Le dispositif 10 suivant l'invention peut être un système de diagnostic de l'état de la structure. Le procédé suivant l'invention peut être un procédé de diagnostic de l'état de la structure. La structure STR peut être en tout type de matériau, pouvant être 20 par exemple composites (par exemple composites de types monolithique et/ou composite de type sandwich et/ou à alvéoles pouvant être en nid d'abeille ou autre). La structure STR peut être une partie d'un avion, comme par exemple une partie de turbomachines d'avion, comme par exemple de turboréacteurs d'avion ou de turbopropulseurs d'avion ou une partie d'un inverseur de poussée (nacelle). Le 25 procédé et le dispositif 10 suivant l'invention peuvent être utilisés directement sur une partie de l'avion lui-même, la structure STR étant alors située à demeure dans l'avion. Le procédé et le dispositif 10 suivant l'invention peuvent également être utilisés sur une partie de l'avion, ayant été démontée de celui-ci. L'invention peut s'appliquer à une structure de type IFS (structure fixée de manière interne ou en 30 anglais : Internai Fixed Structure) d'une nacelle d'une turbomachine d'avion ou autre, cette structure étant constituée de matériaux composites de types 9 monolithique et sandwich, mais elle peut être étendue à toute autre structure de l'avion. Les transducteurs 100 peuvent être de tout type, par exemple du type ultrasonore (par exemple de type piézo-électrique ou autre, notamment du type PZT 5 (à Titano-Zirconate de Plomb) ou autre. Les transducteurs 100 ont des postions connues ou prédéterminées par rapport à structure STR. Les transducteurs 100 peuvent être disposés par exemple sur une même surface SUR de la structure STR, ainsi que représenté aux figures 2 à 4. Les transducteurs 100 peuvent également être disposés dans la structure STR. 10 La figure 2 représente des transducteurs 100 positionnés à la surface SUR d'une structure STR formée d'un matériau composite monolithique de la structure de type IFS mentionnée ci-dessus. La figure 3 représente des transducteurs 100 positionnés à la surface SUR d'une structure STR formée d'un matériau composite de type sandwich à alvéoles en nid d'abeille de la structure de type IFS mentionnée 15 ci-dessus. Chaque transducteur 100 est apte à se trouver dans un mode d'émission (également appeler mode d'excitation) ou dans un mode de réception, et peut être commandé de l'extérieur par un signal de commande pour être dans l'un ou l'autre de ces modes. Lorsque le transducteur 100 est dans le mode d'émission, le 20 transducteur 100 émet un signal d'excitation prédéterminé vers les autres transducteurs 100. Lorsque le transducteur 100 est dans le mode de réception, le transducteur 100 reçoit un signal de réception en réponse au signal d'excitation émis par un autre transducteur 100. Les signaux d'excitation et les signaux de réception sont aptes à se propager à travers la structure STR, par exemple le long de la 25 structure STR ou dans la structure STR, par exemple le long de la surface SUR de la structure STR. Lorsque le signal d'excitation émis par le transducteur 100 en mode d'émission ne rencontre pas de défauts de la structure STR, le signal de réception reçu par l'autre transducteur 100 correspond à ce signal d'excitation ou est égal à ce signal d'excitation. Lorsque le signal d'excitation émis par le transducteur 100 en 30 mode d'émission rencontre un ou plusieurs défauts de la structure STR, le signal de réception reçu par l'autre transducteur 100 ne correspond pas à ce signal 10 d'excitation et est perturbé par rapport à ce signal d'excitation. Chaque transducteur 100 peut comporter une ou plusieurs fibre(s) optique(s) à réseau de Bragg, ou un autre moyen de mesure. Chaque transducteur 100 peut comporter des moyens 101 de connexion à l'extérieur ainsi que représenté aux figures 2 et 3, ou sans fil. Il est 5 également prévu avec les transducteurs 100 des alimentations et l'électronique nécessaires à leur mise en oeuvre. Ces moyens 101 de connexion servant à envoyer le signal de commande et l'alimentation électrique depuis une unité extérieure 102 à chaque transducteur 100 et à envoyer les signaux de réception et/ou les signaux d'excitation à cette unité extérieure 102, ainsi que cela est représenté à la figure 1. 10 Cette unité extérieure 102 est par exemple un module électronique et sert à l'acquisition des signaux émanant des transducteurs 100. Cette unité extérieure 102 peut comporter un superviseur ayant pour but de rapatrier les mesures (signaux de réception et signaux d'excitation) réalisées par les transducteurs 100. Les transducteurs 100 sont disposés pour délimiter entre eux plusieurs 15 mailles M. Les transducteurs 100 ne sont donc pas tous alignés entre eux. Les mailles M sont limitrophes entre elles. Les mailles M ont des positions connues par rapport à la structure STR. Les coins des mailles M sont formés par les transducteurs 100. Chaque maille M entoure une zone située entre trois transducteurs 100 non alignés ou plus de trois transducteurs 100 non alignés. Par 20 exemple, à la figure 4, chaque maille M est délimitée par trois transducteurs 100 non alignés et est donc triangulaire. Chaque maille M peut avoir une, deux, trois mailles, ou plus de trois mailles qui lui sont limitrophes. Les mailles M peuvent être triangulaires isocèles, triangulaires rectangles, ou triangulaires équilatérales. Par exemple, à la figure 4, on a représenté par des traits continus fictifs entre les 25 transducteurs 100 les dix mailles 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, qui sont équilatérales et limitrophes l'une à la suite de l'autre, et qui sont délimitées par une première rangée R1 de trois transducteurs 100 alignés, une deuxième rangée R2 de quatre transducteurs 100 alignés entre eux et non alignés avec la rangée R1 et une troisième rangée R3 de trois transducteurs 100 alignés entre eux et non alignés avec les rangées 30 Ri et R3 . 11 Suivant un mode de réalisation de l'invention, dans une première étape E1 d'acquisition de mesures, on met l'un après l'autre chaque transducteur 100 en mode d'émission et les autres transducteurs 100 en mode de réception. Chaque transducteur peut basculer entre le mode d'émission et le mode de réception. 5 Dans une deuxième étape E2 de calcul, postérieure à la première étape El d'acquisition de mesures, on extrait ou on détermine, à partir des signaux d'excitation des transducteurs 100 et des signaux de réception des transducteurs 100, une signature S pour chacune des mailles M, par exemple par une unité 103 de calcul reliée à l'unité 102 d'acquisition. Les signatures S peuvent par exemple être 10 calculées par un outil de traitement du signal et d'analyses multivariées, par le fait que les signatures S sont extraites de matrices de mesures, calculées en fonction des signaux d'excitation et des signaux de réception. En outre, cette unité 103 de calcul met en oeuvre l'algorithme décrit ci-dessous et peut être un module algorithmique de détection de l'défaut. L'unité de calcul 103 est automatique, telle que par exemple 15 un ou plusieurs calculateur(s) et/ou un ou plusieurs ordinateur(s), et/ou un ou plusieurs processeur(s) et/ou un ou plusieurs serveur(s) et/ou une ou plusieurs machine(s), pouvant être programmées à l'avance par un programme informatique préenregistré. Les mailles M et/ou la position des mailles M par rapport à la structure S et/ou la position des transducteurs 100 et/ou l'appartenance des 20 transducteurs 100 aux mailles M sont calculées et/ou enregistrées et/ou préenregistrées dans l'unité 103 de calcul. Dans une troisième étape E3 d'identification de défauts, postérieure à la deuxième étape E2 de calcul, on compare les signatures S entre elles. On identifie parmi les mailles M une ou plusieurs mailles M comme localisant un défaut de la 25 structure STR, appelée maille défaillante (maille à l'état endommagé), lorsque la signature S de cette ou ces mailles est différente de plusieurs autres signatures de plusieurs autres mailles. Suivant un mode de réalisation, la ou les mailles ayant été identifiées mailles défaillantes et leur position connue par rapport à la structure STR sont envoyées 30 dans un signal d'indication à une interface 104 homme-machine pour être restitué à un utilisateur, au cours d'une quatrième étape E4 d'indication, postérieure à la 12 troisième étape E3 d'identification de défauts. On fournit ainsi à l'utilisateur leur position connue des mailles défaillantes par rapport à la structure STR et donc la localisation des défauts ainsi détectés. L'interface 104 homme-machine permet par exemple l'utilisation par les équipes de maintenance. L'interface 104 homme- 5 machine est par exemple connectée à l'unité 103 de calcul. Le dispositif 10 de détection de défauts de la structure STR comporte par exemple les transducteurs 100, l'unité 103 de calcul, l'unité 102 d'acquisition et l'interface 104 homme-machine. Le dispositif 10 de détection met en oeuvre le procédé de détection de défauts de la structure STR. 10 On décrit ci-dessous un premier mode de réalisation, dit à vote majoritaire, de cette comparaison lors de la troisième étape E3 d'identification de défauts, en référence à la figure 5. La maille défaillante est identifiée comme ayant une signature S qui est différente des signatures S, qui sont égales entre elles ou similaires entre elles, d'au moins deux autres mailles. Ces au moins deux autres mailles, 15 indépendamment l'une de l'autre, sont chacune limitrophes ou non limitrophes de la maille défaillante. La comparaison est par exemple faite dans plusieurs groupes de trois mailles ou plus de trois mailles, chaque groupe étant différent des autres groupes par au moins une maille. Chaque groupe comporte par exemple un nombre impair de mailles. 20 Suivant un mode de réalisation, on considère ci-dessous des groupes de trois mailles M. Suivant un mode de réalisation, on applique ainsi une identification des mailles défaillantes selon un critère de la majorité 2 sur 3. Il est considéré que la probabilité d'avoir deux mailles ayant le même défaut aux mêmes endroits est très faible. Bien entendu, chaque groupe de maille pourrait avoir plus de trois mailles M, 25 notamment un nombre impair de mailles. Les mailles de chaque groupe peuvent être limitrophes entre elles, ou non limitrophes entre elles. Chaque groupe est défini par successivement une première maille, une deuxième maille et une troisième maille, pouvant être indépendamment limitrophes entre elles, ou non limitrophes entre elles. Chaque groupe a donc une maille de 30 départ, qui est la première maille. Par exemple, le cas d'un groupe de mailles limitrophes entre elles est le premier groupe G1 de trois mailles, défini par 13 successivement la première maille 1, la deuxième maille 2, qui est limitrophe à la première maille 1, et la troisième maille 6, qui est limitrophe à la première maille 1 à la figure 4 ou à la deuxième maille. Une première fonction d'identification de tout groupe de mailles défini par 5 successivement une première maille, une deuxième maille et une troisième maille, pouvant être indépendamment limitrophes entre elles, ou non limitrophes entre elles est définie ci-dessous, en prenant l'exemple ci-dessous du premier groupe G1. La fonction d'identification peut être appliquée au premier groupe G1 et à tout groupe de mailles autre que le premier groupe G1, et donc à tout groupe de mailles pouvant 1 0 être autres que la maille 1 et/ou que la maille 2 et/ou que la maille 6 du premier groupe G1. Par la première fonction d'identification, la première maille 1, la deuxième maille 2 et la troisième maille 6 sont identifiées comme mailles 1, 2, 6 non défaillantes, lorsque les signatures S de ces mailles 1, 2, 6 sont égales. 15 Par la première fonction d'identification, lorsque la signature S de la première maille 1 est différente de la signature S de la deuxième maille 2 égale à la signature S de la troisième maille 6, la première maille 1 est identifiée comme maille défaillante. Par la première fonction d'identification, lorsque la signature S de la première maille 1 est égale à la signature S de la deuxième maille 2 et est différente de la 2 0 signature S de la troisième maille 6, la première maille 1 est identifiée comme maille non endommagée (ou maille en bonne santé) et la troisième maille 6 est identifiée comme maille suspecte. La troisième étape E3 d'identification peut comporter une ou plusieurs première(s) sous-étape(s) E31 d'identification et une ou plusieurs deuxième(s) sous-2 5 étape(s) E32 d'identification. Ainsi, dans la première sous-étape E31 d'identification, on applique la première fonction d'identification au premier groupe G1 de successivement les mailles 1, 2 et 6. Cette première sous-étape E31 d'identification est donc effectuée pour le premier groupe G1 ayant comme maille de départ la maille 1. 30 Suivant un mode de réalisation, dans la deuxième sous-étape E32 d'identification, postérieure à la première sous-étape E31 d'identification, l'on 14 applique la première fonction d'identification à un autre groupe G2 de mailles ayant comme maille de départ la deuxième maille 2. Par exemple, cet autre groupe G2 de mailles est défini par successivement la deuxième maille 2, 5 - puis la première maille 1, si la première maille 1 a été identifiée comme maille non défaillante, et une quatrième maille 3, qui est limitrophe à la maille de départ (maille 2 dans ce cas), - puis une cinquième maille, qui est limitrophe ou non limitrophe à la première maille 1, si la première maille 1 a été identifiée comme maille défaillante, et 1 0 la quatrième maille 3, qui est limitrophe à la maille de départ (maille 2 dans ce cas). Suivant un mode de réalisation, la quatrième maille 3 et la cinquième maille 7 sont différentes de la troisième maille 6, qui est identifiée comme maille suspecte. Par exemple, la première maille 1, la deuxième maille 2, troisième maille 6, la quatrième maille 3 et la cinquième maille 7 sont distinctes entre elles. Par exemple, la cinquième 15 maille, dans le cas où elle est non limitrophe à la première maille 1 peut être la maille 7. Suivant un mode de réalisation, l'on réitère la deuxième sous-étape E32 d'identification une ou plusieurs fois sur respectivement un ou plusieurs autres groupes de mailles. Les mailles de départ des deuxièmes sous-étapes E32 2 0 d'identification successives peuvent être différentes entre elles. Suivant un mode de réalisation, la maille de départ de chaque deuxième sous-étape E32 d'identification est limitrophe à la maille de départ de la deuxième sous-étape E32 d'identification la précédant. On effectue ainsi l'identification sur des groupes de proche en proche. 25 Suivant un mode de réalisation, les mailles de chaque groupe sont autres qu'une maille ayant été identifiée comme maille défaillante. Suivant un mode de réalisation, par exemple, l'on applique la première fonction d'identification à un autre groupe G3 de mailles ayant comme maille de départ la quatrième maille 3, limitrophe à la deuxième maille 2. 30 Par exemple, cet autre groupe G3 de mailles est défini par successivement la quatrième maille 3, 15 - une septième maille, qui est limitrophe ou non limitrophe à la maille de départ et qui n'a pas été identifiée comme maille défaillante, et une huitième maille, qui est limitrophe ou non limitrophe à la maille de départ, - une septième maille, qui est limitrophe ou non limitrophe à la maille de 5 départ, si la deuxième maille (2) a été identifiée comme maille non défaillante, et une huitième maille, qui est limitrophe ou non limitrophe à la maille de départ. La septième maille peut être limitrophe à la maille de départ (quatrième maille 3) et être la maille 4 ou la maille 2, si la maille 2 n'a pas été identifiée comme maille défaillante. La huitième maille peut être limitrophe à la maille de départ (quatrième 10 maille 3) et être la maille 8 ou la maille 2. Une manière de faire ce choix peut être celui de choisir les deux mailles qui ont été le moins utilisées au moment de l'analyse, afin de limiter le risque d'erreur. Suivant un mode de réalisation, pour la troisième maille 6 ou chaque maille, qui est identifiée comme maille suspecte, on applique une deuxième fonction 15 d'identification définie de la manière suivante. Lorsque la signature de la troisième maille 6 ou maille suspecte est différente de la signature de la première maille 1 égale à la signature d'une sixième maille 7 limitrophe à la troisième maille 6 ou maille suspecte, la troisième maille 6 ou maille suspecte est identifiée comme maille défaillante. 2 0 Lorsque la signature de la troisième maille 6 ou maille suspecte est différente de la signature de la première maille 1 différente de la signature de la sixième maille 7, la troisième maille 6 ou maille suspecte est identifiée comme maille défaillante et la sixième maille 7 est identifiée comme maille suspecte. Lorsque la signature de la troisième maille 6 ou maille suspecte est égale à la 25 signature de la sixième maille 7, un deuxième signal d'indication est envoyé sur l'interface homme-machine 104, par exemple pour demander une décision de l'utilisateur, ce cas survenant toutefois rarement. Lorsque la maille suspecte (par exemple 6) est limitrophe à une maille identifiée comme maille défaillante (par exemple 1), on applique la deuxième sous- 3 0 étape E32 d'identification, la première sous-étape E31 d'identification et/ou la 16 deuxième fonction d'identification à une autre maille (par exemple 7) limitrophe à la maille suspecte. Suivant un mode de réalisation, on applique la deuxième sous-étape E32 d'identification, la première fonction d'identification et/ou la deuxième fonction 5 d'identification pour que la maille de départ soit tour à tour chacune des mailles, sans être une maille ayant été identifiée comme maille défaillante. On décrit ci-dessous un deuxième mode de réalisation, dit à classification de populations, de cette comparaison lors de la troisième étape E3 d'identification de défauts, en référence à la figure 6. 1 0 La troisième étape E3 d'identification peut comporter une ou plusieurs troisième(s) sous-étape(s) E33 de classification et une ou plusieurs quatrième(s) sousétape(s) E34 de classification. Au cours de la troisième(s) sous-étape(s) E33 de classification, l'on classifie les mailles M ayant la même signature dans une même famille respective F. 15 Les mailles M, qui sont classifiées dans la famille respective F ayant le plus grand nombre de mailles, appelée famille saine, sont identifiées comme mailles non défaillantes. Chaque maille M, qui est classifiée dans une famille respective F n'ayant qu'une seule maille M, appelée famille défaillante respective, est identifiée comme 2 0 maille défaillante. Il est peu probable d'avoir le même type de défaut sur plusieurs mailles, et il est donc considéré que la population avec le plus d'individus est une population de mailles en bon état, tandis que nous considérons que toutes les populations n'ayant qu'un seul individu sont des populations de maille défaillante. 25 Suivant un mode de réalisation, dans la phase de construction des populations, on classifie chaque maille de la structure dans une famille afin de pouvoir par la suite analyser les familles et d'en déduire s'il y a des familles défaillantes. Chaque population est définie par une référence. Suivant un mode de réalisation, pour classifier les mailles, on classifie une 30 première maille 1 ayant une première signature Si dans une première famille F1, à laquelle on attribue une référence respective égale à la première signature Si. On 17 définit ainsi la référence pour la première population, dont le nombre d'individu est égal à 1 (pour la première maille 1). Puis successivement pour chaque autre maille k (par exemple maille 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10), différente de la première maille 1, on itère la quatrième sous-étape 5 E34 de classification décrite ci-dessous. On compare la signature S2 de l'autre maille k à la référence respective de chaque famille F (dont la famille F1), par exemple en comparant successivement la signature S2 de l'autre maille k à la référence respective des familles Fi l'une après l'autre. 1 0 Si la signature S2 de l'autre maille k est égale à la référence respective de l'une Fi des familles F, alors cette autre maille k est classifiée dans cette famille F. Ainsi, dans ce cas, le nombre d'individus de de la famille Fi est incrémenté de un. Si la signature S2 de l'autre maille k n'est pas égale à la référence respective de la famille Fi, alors on effectue la comparaison de la signature S2 de l'autre maille k à la 15 référence respective de la famille suivante Fi, avec j incrémenté de 1. Si la signature S2 de l'autre maille n'est égale à aucune référence respective des familles F, Fi, alors cette autre maille k est classifiée dans une nouvelle famille F2, à laquelle on attribue une référence respective égale à la signature de cette autre maille k. Ainsi, dans ce cas, le nombre d'individus de nouvelle famille F2 est égal à 1. 2 0 On passe ensuite à la maille suivante, sur laquelle on effectue la quatrième sous-étape E34 de classification. Cette itération est effectuée, tant qu'il y a une ou plusieurs mailles non encore classifiées dans une famille F. Suivant un mode de réalisation, on détermine, par calcul de distances, si la 25 famille en cours d'analyse est plus proche de la famille saine ou d'une famille défaillante. Suivant un mode de réalisation, on classifie chaque maille n'appartenant ni à la famille saine, ni à la ou aux familles défaillantes respectives, appelée maille à analyser, dans une famille à analyser. 30 Suivant un mode de réalisation, pour chaque maille à analyser de la famille à analyser, on calcule une première distance entre la signature de la maille à analyser et 18 la signature des mailles de la famille saine, et une deuxième distance respective entre la signature de la maille à analyser et la signature des mailles de chaque famille défaillante respective. Lorsque la première distance est inférieure à chaque deuxième distance 5 respective, on classifie la maille à analyser dans la famille saine ou on identifie la maille à analyser comme maille non défaillante. Lorsque la première distance est supérieure à une ou plusieurs deuxièmes distances respectives, on classifie la maille à analyser dans la famille défaillante ayant cette deuxième distance respective ou on identifie la maille à analyser comme maille 10 défaillante. Suivant un mode de réalisation, en SHM, les distances calculées sont appelées indicateurs de défauts. Suivant un mode de réalisation, l'indicateur proposé est calculé par le biais d'une méthode d'extraction basée sur l'analyse multivariée. Les détails du calcul de cet indicateur sont décrits dans la suite du présent document. 15 Par exemple, pour toutes les familles ayant 2 ou plusieurs individus (mailles), mais qui ne sont pas la population ayant le plus de mailles, un indicateur est calculé entre les populations principales et celle ayant un seul individu. On effectue ensuite l'étape E4 d'indication, décrite ci-dessus. Comparé au premier mode de réalisation, ce deuxième mode de réalisation 20 permet de d'avoir un nombre limité de mailles ayant le même défaut et donc de pallier le problème du vote majoritaire 2 sur 3 avec 2 mailles défaillantes et une maille non défaillante. Suivant un mode de réalisation, une longueur d'onde d'interrogation (du signal d'excitation) est inférieure à la distance entre les transducteurs d'une même 25 maille. On décrit ci-dessous un mode de réalisation de l'extraction de caractéristiques. Soit Y k) E , la matrice émanant d'une zone structurale considérée sans défaillance (cf. Figure 7, représentant la structuration de la matrice de mesures): 19 Yln . - (1) où : ny est le nombre de capteurs ou transducteurs C1, C2, . . . Ck, Ck+ 1, Cny instrumentés sur la zone, M est le nombre d'acquisitions établies pour interroger la zone, 5 k est le temps discret. La définition de la zone sans défaillance est dans notre cas liée soit au vote majoritaire, soit à une plus forte densité de population, selon les algorithmes décrits précédemment. L'extraction des caractéristiques de l'état de santé est établie à travers une méthode 10 d'analyse multivariée, par exemple, l'analyse en composantes principales (ACP). Cette méthode permet de transformer des variables liées entre elles (dites corrélées) en de nouvelles variables décorrélées les unes des autres, par exemple selon le document [1] Tibaduiza, D.A et al (2015). "Structural damage detection using principal component analysis and damage indices". Journal of Intelligent 15 Material Systems and Structures. Mathématiquement parlant, l'ACP est basée sur une décomposition en valeurs et vecteurs propres de la matrice de mesures (cf équation 1), permettant ainsi d'obtenir un espace principal et résiduel, définis par les équations suivantes : 0 (2) (3) 2 0 Les matrices "A Ï sont appelées matrices des valeurs propres, des vecteurs propres, associées à l'espace principal. Les matrices A.15 sont appelées matrices des valeurs propres, vecteurs propres, associées à l'espace résiduel. 20 On décrit ci-dessous un mode de réalisation de l'indicateur de défauts. Considérons maintenant, la matrice émanant d'une autre zone structurale considérée suspecte, et associons à cette zone, une matrice de mesures notée Y.,' construite de la même manière que le schéma de la Figure 7 et selon l'équation (1). 5 Une zone considérée suspecte est une zone ayant un indicateur différent de celui de la zone considérée en bonne santé. Pour établir l'indicateur de défauts nécessaire à la prise de décision de l'état de santé, la matrice Itit, est projetée dans le modèle ACP (selon les équations (2) et (3)) établie sur la zone considérée sans défaillance. L'indicateur de défaut noté DI est défini par 1 0 l'équation suivante : E = [ii' (100 - r3é- )] (4) DI, = E,ET (5) où i correspond au numéro de l'acquisition établie pour interroger la structure. La Figure 8 illustre un schéma de principe du calcul de l'indicateur de défauts. La Figure 9 illustre l'application du vote majoritaire à l'indicateur de défauts. Par comparaison, nous pouvons constater que l'indicateur issu de la zone N°3 est plus 15 important que celui issu de la zone N°1 et N°2, indiquant ainsi qu'une défaillance est présente dans la zone N°3. Bien entendu, les modes de réalisation, caractéristiques et exemples ci-dessus peuvent être combinés l'un avec l'autre ou être sélectionnés indépendamment l'un de l'autre. REVENDICATIONS1. Procédé de détection de défauts d'une structure aéronautique (STR), comprenant les étapes suivantes: - on dispose sur la structure (STR) un maillage constitué d'une pluralité de mailles (M) et défini par une pluralité de transducteurs (100), ^( chaque transducteur étant commandé au moins entre : o un mode d'émission dans lequel il est apte à émettre un signal d'excitation vers les autres transducteurs (100), 1 0 o et un mode de réception dans lequel il est apte à recevoir un signal de réception émis par un autre transducteur (100), ^( les signaux d'excitation et les signaux de réception étant aptes à se propager à travers la structure (STR), - on extrait, en fonction des signaux d'excitation et des signaux de réception, 15 une signature (S) pour chacune des mailles (M), - on compare les signatures (S) entre elles pour identifier parmi les mailles (M) au moins une maille comme localisant un défaut de la structure (STR), appelée maille défaillante, lorsque la signature (S) de cette maille (M) est différente de plusieurs autres signatures (S) de plusieurs autres mailles (M). 2 0 2. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 1, caractérisé en ce que la maille défaillante est identifiée comme ayant une signature qui est différente des signatures, qui sont égales entre elles, d'au moins deux autres mailles (M), chacune indépendamment limitrophe ou non limitrophe de la maille défaillante. 25 3. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'une première fonction d'identification d'un groupe défini par successivement une première maille (1), une deuxième maille (2) et une troisième maille (6), est définie par le fait que la première maille (1), la deuxième maille (2) et la troisième maille (6) sont 30 identifiées comme mailles (1, 2, 6) non défaillantes, lorsque les signatures de ces mailles (1, 2, 6) sont égales, 22 lorsque la signature de la première maille (1) est différente de la signature de la deuxième maille (2) égale à la signature de la troisième maille (6), la première maille (1) est identifiée comme maille défaillante, lorsque la signature de la première maille (1) est égale à la signature de la 5 deuxième maille (2) et est différente de la signature de la troisième maille (6), la première maille (1) est identifiée comme maille non défaillante et la troisième maille (6) est identifiée comme maille suspecte, dans une première sous-étape (E31) d'identification, on applique la première fonction d'identification à un premier groupe de trois mailles (1, 2, 6), comportant 1 0 successivement une première maille (1), une deuxième maille (2), qui est limitrophe à la première maille (1), et une troisième maille (6), qui est limitrophe à la première maille (1). 4. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 3, caractérisé en ce que, dans une deuxième sous-étape (E32) d'identification 15 postérieure à la première sous-étape (E31) d'identification, l'on applique la première fonction d'identification à un autre groupe de mailles défini par successivement une maille de départ formée par la deuxième maille (2) et - la première maille (1), si la première maille (1) a été identifiée comme maille non défaillante, et une quatrième maille (3), qui est limitrophe à la maille de départ, 2 0 - une cinquième maille (7), qui est limitrophe ou non limitrophe à la première maille (1), si la première maille (1) a été identifiée comme maille défaillante, et la quatrième maille (3), qui est limitrophe à la maille de départ. 5. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 4, caractérisé en ce que l'on réitère la deuxième sous-étape (E32) d'identification une ou 25 plusieurs fois sur respectivement un ou plusieurs autres groupes de mailles. 6. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 5, caractérisé en ce que la maille de départ de chaque deuxième sous-étape (E32) d'identification est limitrophe à la maille de départ de la deuxième sous-étape (E32) d'identification la précédant. 30 7. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant l'une quelconque des revendications 4 à 6, caractérisé en ce que la quatrième maille (3) et la cinquième 23 maille (7) sont différentes de la troisième maille (6), qui est identifiée comme maille suspecte. 8. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant l'une quelconque des revendications 3 à 7, caractérisé en ce que les mailles de chaque groupe sont 5 autres qu'une maille ayant été identifiée comme maille défaillante. 9. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant l'une quelconque des revendications 3 à 8, caractérisé en ce que pour la troisième maille (6), qui est identifiée comme maille suspecte, on applique une deuxième fonction d'identification définie par le fait que lorsque la signature de la troisième maille (6) est différente de la signature de la première maille (1) égale à la signature d'une sixième maille (7) limitrophe à la troisième maille (6), la troisième maille (6) est identifiée comme maille défaillante, lorsque la signature de la troisième maille (6) est différente de la signature de la première maille (1) différente de la signature de la sixième maille (7), la troisième 15 maille (6) est identifiée comme maille défaillante et la sixième maille (7) est identifiée comme maille suspecte, lorsque la signature de la troisième maille (6) est égale à la signature de la sixième maille (7), un premier signal d'indication est envoyé sur une interface (104) homme-machine. 20 10. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 1, caractérisé en ce qu'au cours d'au moins une sous-étape (E33, E34) de classification, l'on classifie les mailles (M) ayant la même signature dans une même famille respective, les mailles (M), qui sont classifiées dans la famille respective ayant le plus 25 grand nombre de mailles, appelée famille saine, étant identifiées comme mailles non défaillantes, chaque maille (M), qui est classifiée dans une famille respective n'ayant qu'une seule maille, appelée famille défaillante respective, étant identifiée comme maille défaillante. 30 11. Procédé suivant la revendication 10, caractérisé en ce que pour classifier les mailles (M), 24 on classifie une première maille (1) ayant une première signature (S1) dans une première famille (Fi), à laquelle on attribue une référence respective égale à la première signature (S1), puis successivement pour chaque autre maille (k), différente de la première 5 maille (1), on itère la sous-étape (E34) de classification selon laquelle - on compare la signature (S2) de l'autre maille (k) à la référence respective de chaque famille (F1), - si la signature (S2) de l'autre maille (k) est égale à la référence respective de l'une (Fi) des familles (F), alors cette autre maille (k) est classifiée dans cette famille 10 (Fi), - si la signature (S2) de l'autre maille (k) n'est égale à aucune référence respective des familles (F), alors cette autre maille (k) est classifiée dans une nouvelle famille (F2), à laquelle on attribue une référence respective égale à la signature (S2) de cette autre maille (k). 12. Procédé de détection de défauts d'une structure suivant la revendication 10 ou 11, caractérisé en ce que pour chaque maille n'appartenant ni à la famille saine, ni à la ou aux familles défaillantes respectives, appelée maille à analyser, on calcule une première distance entre la signature de la maille à analyser et la signature des mailles de la famille saine, et une deuxième distance respective entre la signature de la maille à analyser et la signature des mailles de chaque famille défaillante respective, pour - lorsque la première distance est inférieure à chaque deuxième distance respective, classifier la maille à analyser dans la famille saine ou identifier la maille à analyser comme maille non défaillante, - lorsque la première distance est supérieure à une ou plusieurs deuxièmes distances respectives, classifier la maille à analyser dans la famille défaillante ayant cette deuxième distance respective ou identifier la maille à analyser comme maille défaillante. 13. Dispositif (10) de détection de défauts d'une structure (STR), le dispositif (10) comportant une pluralité de transducteurs (100) destinés à être positionnés sur ou dans la structure (STR), 25 chaque transducteur (100) de la pluralité de transducteurs étant apte, lorsqu'il est dans un mode d'émission, à émettre un signal d'excitation vers les autres transducteurs (100) de la pluralité de transducteurs, chaque transducteur (100) étant apte, lorsqu'il est dans un mode de 5 réception, à recevoir un signal de réception en réponse au signal d'excitation émis par un autre transducteur (100) de la pluralité de transducteurs, les signaux d'excitation et les signaux de réception étant aptes à se propager le long de la structure (STR) ou dans la structure (STR), caractérisé en ce que 10 les transducteurs (100) délimitent entre eux plusieurs mailles (M), qui sont limitrophes entre elles et qui ont des positions connues, le dispositif (10) comportant une unité (103) de calcul pour : - calculer, en fonction des signaux d'excitation et des signaux de réception, une signature (S) pour chacune des mailles (M), 15 - comparer les signatures (S) entre elles pour identifier parmi celles-ci au moins une maille (M) comme localisant un défaut de la structure (STR), appelée maille défaillante, lorsque la signature (S) de cette maille (M) est différente de plusieurs autres signatures (S) de plusieurs autres mailles (M). 20