FR 3054949 A1 20180209 FR 1657536 A 20160803 1 Procédé de réglage d'au moins un point de fonctionnement d'au moins un circuit intégré d'un système sur puce, et système sur puce correspondant. Les modes de réalisation et de mise en oeuvre de l'invention concernent les systèmes sur puce, et plus particulièrement un dispositif et un procédé d'ajustement d'une tension d'alimentation, dans le cadre de la gestion de la fiabilité de tels systèmes. Dans les systèmes sur puce actuels (communément dénommés par l'acronyme « SOC » tiré du terme anglo-saxon « System on Chip »), le vieillissement des composants électroniques est anticipé lors de la conception desdits systèmes. Habituellement, on compense le vieillissement en allouant un excédent, ou une compensation, de tension à la tension d'alimentation, afin que les composants vieillis fonctionnent encore de manière satisfaisante dans un produit « usé ». Par exemple, un excédent de 40mV pour une alimentation de 150mV est habituellement fourni dès les premières utilisations d'un tel système sur puce. Par conséquent, cette compensation se traduit par une consommation d'énergie excédentaire dès la première utilisation, ce qui représente un handicap dans le cadre d'applications dans lesquelles le rendement énergétique est valorisé, par exemple en cas de batterie faible ou dans un objectif de dissipation minimale d'énergie. En outre, ces pertes de performances peuvent être encore plus graves lorsqu'un système sur puce d'une même conception est utilisé pour différents profils de mission. Un profil de mission est un modèle d'utilisation correspondant à différentes contraintes que le système sur puce doit subir. A titre illustratif, un système conçu pour l'industrie supportera une utilisation plus intensive qu'un système conçu pour l'automobile, qui lui-même supportera une utilisation plus intensive qu'un système utilisé par des particuliers. Les systèmes sur puce utilisables dans différents profils de mission sont par conséquent conçus afin de résister au modèle le plus contraignant, et cela représente une perte de compétitivité en raison de 3054949 2 valeurs énergétiques conventionnelles (« PPA », acronyme tiré du terme anglais « Power Purchase Agreement ») mal respectées pour des profils de missions moins contraignants. Ainsi, les systèmes de gestion du vieillissement des 5 composants électroniques présentent une problématique d'optimisation de l'alimentation, dans un compromis entre les performances et la fiabilité, en tenant compte des limitations des systèmes sur puce comportant lesdits composants. Il serait donc souhaitable de remédier à cette problématique en 10 réalisant une compensation adaptative du vieillissement des systèmes sur puces. En matière d'ajustement adaptatif de la tension/fréquence d'un système sur puce, le brevet américain US 8,154,335 B2 décrit un système sur puce dans lequel une tension d'alimentation est diminuée 15 et/ou une fréquence d'horloge est augmentée afin de retrouver des conditions d'utilisation dans des marges acceptables, lesdites marges étant générées par un circuit de réplique de chemin critique. Ce brevet américain décrit également une augmentation de la tension et/ou une diminution de la fréquence dans un but préventif en cas de 20 dépassement desdites marges de fonctionnement acceptables de conditions d'utilisation. Or, la solution proposée dans le brevet américain susmentionné est adaptée à des variations occasionnelles dans le fonctionnement du système sur puce, et ne prend pas en considération les problèmes 25 d' excédent d' alimentation et de vieillissement à long terme précédemment exposés. C'est pourquoi il est proposé selon des modes de réalisation et de mise en oeuvre d'ajuster dynamiquement, au cours de la vie d'un système sur puce, la tension d'alimentation et/ou la fréquence de 30 travail de ses composants, en fonction d'états de vieillissements desdits composants. En d'autres termes on mesure un état de vieillissement réel du système sur puce pour par exemple appliquer la tension de compensation à un instant optimal et selon une valeur optimale. 3054949 3 Un état de vieillissement est une donnée représentative de l'utilisation qu'a subi un composant donné, à un instant donné, dès ses premières utilisations et mises en oeuvre. Les composants en question peuvent être préférentiellement des 5 circuits intégrés formant la logique d'une unité de calcul telle qu'un processeur, généralement plus sensibles au vieillissement que d'autres composants, par exemple passifs, des systèmes sur puce. D'autre part, les circuits intégrés, ou certains blocs fonctionnels des circuits intégrés, fonctionnement de manière optimale 10 à un point de fonctionnement de performance donnée, pour un état de vieillissement donné. Un point de fonctionnement de performance, plus connu sous l'acronyme « OPP » tiré du terme anglo-saxon « Operating Performance Point », est une entité utilisée par l'homme du métier 15 pour désigner un bon compromis dans les paramètres qui sont appliqués à un composant, par exemple entre sa tension d'alimentation et sa fréquence de fonctionnement. Dans la suite, on désignera un point de fonctionnement de performance OPP par le terme plus concis « point de 20 fonctionnement ». Ainsi, il est proposé selon un aspect un procédé de réglage d'au moins un point de fonctionnement d'au moins un circuit intégré d'un système sur puce, comprenant une étape de suivi comprenant une collecte d'au moins une 25 durée cumulée d'activité dudit au moins un circuit intégré, une étape d'évaluation comprenant l'établissement d'un état de vieillissement dudit au moins un circuit intégré en fonction de ladite durée cumulée d'activité, et une étape d' ajustement dudit au moins un point de 30 fonctionnement dudit au moins un circuit intégré en fonction de son état de vieillissement. Selon un mode de mise en oeuvre, le système sur puce comporte un premier circuit intégré configuré pour fonctionner à un premier point de fonctionnement et un deuxième circuit intégré configuré pour 3054949 4 fonctionner à un deuxième point de fonctionnement moins contraignant que le premier point de fonctionnement, l'étape d'ajustement comprend un ajustement avantageusement par palier du point de fonctionnement du premier circuit intégré au 5 deuxième point de fonctionnement lorsque l'état de vieillissement du premier circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré, dépasse une première valeur seuil. Un point de fonctionnement d'un circuit intégré moins contraignant qu'un autre point de fonctionnement est par exemple un 10 point de fonctionnement dont certains au moins des paramètres, par exemple la tension et la fréquence de travail, présentent des valeurs permettant au circuit intégré de fonctionner avec une plus grande tolérance à des aléas de fonctionnement, par exemple dus au vieillissement du circuit intégré, que les valeurs de ces mêmes 15 paramètres associés à l'autre point de fonctionnement. L'étape d'ajustement peut aussi comprendre un ajustement avantageusement par palier du point de fonctionnement des premier et deuxième circuits intégrés à un troisième point de fonctionnement moins contraignant que le deuxième point de fonctionnement, lorsque 20 les états de vieillissement des premier et deuxième circuits intégrés, respectivement égaux aux durées cumulées d'activité des premier et deuxième circuits intégrés, dépassent une deuxième valeur seuil. En d'autres termes, ce mode de mise en oeuvre correspond à faire passer par exemple des premiers points de fonctionnement dits 25 critiques du système sur puce, c'est-à-dire qui supportent par exemple une tension plus faible et/ou une fréquence plus importante que d'autres points de fonctionnement dit réguliers, à un deuxième point de fonctionnement régulier à un instant déterminé et fixé au moment de la conception dudit système sur puce. 30 Selon un autre mode de mise en oeuvre, le système sur puce comporte un premier circuit intégré configuré pour fonctionner à un premier point de fonctionnement, l'étape d'ajustement comprend un ajustement avantageusement par palier du point de fonctionnement du premier circuit intégré à un 3054949 5 deuxième point de fonctionnement dédié au premier circuit intégré et moins contraignant que le premier point de fonctionnement, lorsque l'état de vieillissement du premier circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré, dépasse une première 5 valeur seuil. Dans le cas d'un système sur puce comportant un deuxième circuit intégré configuré à un troisième point de fonctionnement, l'étape d'ajustement comprend avantageusement un ajustement, par exemple par palier, du point de fonctionnement du deuxième circuit 10 intégré à un quatrième point de fonctionnement dédié au deuxième circuit intégré et moins contraignant que le troisième point de fonctionnement, lorsque l'état de vieillissement du deuxième circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du deuxième circuit intégré, dépasse une deuxième valeur seuil. 15 En d'autres termes, ce mode de mise en oeuvre correspond par exemple à un ajustement de certains points de fonctionnement du système sur puce, réalisé au cours de la vie dudit système sur puce selon une planification et des valeurs déterminées au moment de la conception dudit système sur puce. 20 Cet ajustement et cette planification peuvent par exemple être optimisés pour différents profils de missions en fonction des besoins que représentent ceux-ci. Les ajustements des points de fonctionnements dédiés sont alors préétablis au moment de la conception du système sur puce. 25 Selon un mode de mise en oeuvre, l'étape de suivi comprend en outre une collecte d'une tension d'alimentation appliquée audit au moins un circuit intégré, et l'étape d'évaluation comprend l'établissement d'un état de vieillissement dudit au moins un circuit intégré en fonction de la durée cumulée d'activité et d'au moins une 30 tension d'alimentation précédemment appliquée audit au moins un circuit intégré. L'étape d'ajustement peut comprendre un ajustement par palier dudit au moins un point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à au moins un autre point de fonctionnement dédié audit au 3054949 6 moins un circuit intégré, moins contraignant que ledit au moins un point de fonctionnement. En d'autres termes, ce mode mise en oeuvre correspond par exemple à un ajustement « sur-mesure » de certains points de 5 fonctionnement du système sur puce, en fonction du vieillissement causé par sa durée d'activité et son alimentation en tension. Avantageusement, l'étape d'évaluation et l'étape d'ajustement sont mises en oeuvre lors de chaque démarrage du système sur puce. Selon un autre mode de mise en oeuvre, l'étape de suivi 10 comprend une collecte d'au moins un paramètre physique représentatif de l'utilisation dudit au moins un circuit intégré, l'étape d'évaluation comprend la détermination d'au moins un état de vieillissement instantané respectivement dudit au moins un circuit intégré, en fonction dudit au moins un paramètre physique, et le 15 calcul d'au moins une marge d'utilisation dudit au moins un circuit intégré comportant la comparaison dudit au moins un état de vieillissement instantané avec un état de vieillissement présumé, et l'étape d'ajustement comprend l'ajustement dudit au moins un point de fonctionnement en tenant compte de ladite au moins une 20 marge d'utilisation respective. Un tel mode de mise en oeuvre est décrit plus en détails dans la demande de brevet français déposée le même jour que la présente demande et par le même demandeur ayant pour titre « Procédé d'estimation d'un profil d'exploitation d'un circuit intégré d'un système 25 sur puce, et système sur puce correspondant », dont on reprend ici les principales caractéristiques. L' étape d' évaluation et l' étape d' ajustement peuvent avantageusement être réalisées périodiquement en temps réel au cours du fonctionnement du système sur puce. 30 D' autre part, ladite collecte de l'étape de suivi peut avantageusement être réalisée en continu au cours du fonctionnement du système sur puce. L'étape de suivi peut comprendre en outre une communication d'un signal d'alerte, en cas de dysfonctionnement matériel, et dans 3054949 7 lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à un point de fonctionnement de sureté en cas de communication d'un signal d' alerte. 5 Selon un autre aspect, il est proposé un système sur puce comportant au moins un circuit intégré configuré pour fonctionner à respectivement au moins un point de fonctionnement, comportant un moyen de suivi configuré pour collecter au moins la durée cumulée d'activité dudit au moins un circuit intégré, un moyen d'évaluation 10 configuré pour établir au moins un état de vieillissement instantané respectivement dudit au moins un circuit intégré comprenant ladite au moins une durée cumulée d'activité, et un moyen d'ajustement configuré pour ajuster au moins un point de fonctionnement en fonction dudit au moins un état de vieillissement dudit au moins 15 circuit intégré respectif. Selon un mode de réalisation dans lequel un premier circuit intégré est configuré pour fonctionner à un premier point de fonctionnement et un deuxième circuit intégré est configuré pour fonctionner à un deuxième point de fonctionnement moins contraignant 20 que le premier point de fonctionnement, et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster, avantageusement par palier, le point de fonctionnement du premier circuit intégré au deuxième point de fonctionnement lorsque l'état de vieillissement du premier circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré, 25 dépasse une première valeur seuil. Le moyen d'ajustement peut être configuré pour ajuster, avantageusement par palier, le point de fonctionnement des premier et deuxième circuits intégrés à un troisième point de fonctionnement moins contraignant que le deuxième point de fonctionnement lorsque 30 les états de vieillissement des premier et deuxième circuits intégrés, respectivement égaux aux durées cumulées d'activité des premier et deuxième circuits intégrés, dépassent une deuxième valeur seuil. Selon un mode de réalisation dans lequel un premier circuit intégré est configuré à un premier point de fonctionnement, le moyen 3054949 8 d'ajustement est configuré pour ajuster, avantageusement par palier, le point de fonctionnement dudit au moins un premier circuit intégré à un deuxième point de fonctionnement dédié au premier circuit intégré et moins contraignant que le premier point de fonctionnement lorsque 5 l'état de vieillissement du premier circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré, dépasse une première valeur seuil. Selon un mode de réalisation dans lequel un deuxième circuit intégré est configuré à un troisième point de fonctionnement, le moyen 10 d'ajustement est configuré pour ajuster, avantageusement par palier, le point de fonctionnement du deuxième circuit intégré à un quatrième point de fonctionnement dédié au deuxième circuit intégré et moins contraignant que le troisième point de fonctionnement lorsque l'état de vieillissement dudit au moins un deuxième circuit intégré, égal à la 15 durée cumulée d'activité du deuxième circuit intégré, dépasse une deuxième valeur seuil. Selon un mode de réalisation le moyen de suivi est configuré en outre pour collecter une tension d'alimentation appliquée audit au moins un circuit intégré, et le moyen d'évaluation est configuré pour 20 établir au moins un état de vieillissement respectivement dudit au moins un circuit intégré, en fonction de la durée cumulée d'activité et des tensions d'alimentation précédemment appliquées audit au moins un circuit intégré. Le moyen d'ajustement peut être configuré pour ajuster par 25 palier ledit au moins un point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à au moins un autre point de fonctionnement dédié audit au moins un circuit intégré, moins contraignant que ledit au moins un point de fonctionnement. Avantageusement, le moyen d' évaluation et le moyen 30 d'ajustement sont configurés pour établir l'état de vieillissement instantané et ajuster ledit point de fonctionnement lors de chaque démarrage du système sur puce. Selon un mode de réalisation, le moyen de suivi est configuré pour collecter au moins un paramètre physique représentatif de 3054949 9 l'utilisation dudit au moins un circuit intégré, le moyen d'évaluation est configuré pour déterminer au moins un état de vieillissement instantané respectivement dudit au moins un circuit intégré, en fonction dudit au moins un paramètre physique, et calculer au moins 5 une marge d'utilisation respectivement dudit au moins un circuit intégré en comparant ledit au moins un état de vieillissement instantané respectif avec un état de vieillissement présumé, et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster ledit au moins un point de fonctionnement respectif en fonction de ladite au moins une marge 10 d'utilisation respective. Le moyen d'évaluation et le moyen d'ajustement peuvent être configurés pour calculer ladite au moins une marge d'utilisation et ajuster ledit au moins un point de fonctionnement périodiquement, en temps réel. 15 Avantageusement, le moyen de suivi est configuré pour réaliser ladite collecte en continu au cours du fonctionnement du système sur puce. Le moyen de suivi peut comporter en outre des circuits de rupture associés à au moins un circuit intégré, comprenant des 20 répliques de chemin critique et/ou des capteurs in-situ, configurés pour, en cas de dysfonctionnement matériel, communiquer un signal d'alerte au moyen d'ajustement, et dans lequel le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à un point de fonctionnement de sureté lorsqu'un 25 signal d'alerte lui est communiqué. Selon un autre aspect, il est proposé un appareil électronique comportant un système sur puce tel que défini ci-avant. D' autres avantages et caractéristiques de l' invention apparaîtront à l'examen de la description détaillée de modes de mise 30 en oeuvre et de réalisation, nullement limitatifs, et des dessins annexés sur lesquels : - Les figures 1 à 8 illustrent différents modes de mise en oeuvre et de réalisation de l'invention. 3054949 10 La figure 1 représente schématiquement et de manière simplifié un mode de réalisation d'un système sur puce SOC comportant un processeur 1 configuré pour mettre en oeuvre des moyens logiciels 2. Le système sur puce comporte de manière habituelle des 5 composants passifs et des composants actifs tels que des circuits intégrés, non représentés à des fins de simplification. Le circuit intégré, formant par exemple le processeur 1, est configuré pour fonctionner de manière optimale à un point de fonctionnement qui lui est propre. 10 Un point de fonctionnement, ou « point de fonctionnement de performance », plus connu sous l'acronyme « OPP » tiré du terme anglo-saxon « Operating Performance Point », est une entité utilisée par l'homme du métier pour désigner un bon compromis entre les paramètres qui sont appliqués à un composant. 15 Un point de fonctionnement est par exemple défini par au moins une tension d'alimentation et une fréquence d'horloge. Les tensions d'alimentation sont générées par un étage d'alimentation à découpage 3 (couramment désigné par l'acronyme VSMPS tiré du terme anglosaxon « Voltage Switched Mode Power 20 Supply ») puis distribuées (19) dans le système sur puce SOC et plus particulièrement dans les circuits intégrés du processeur 1. Le processeur 1 possède un moyen de suivi 4 configuré pour collecter le temps d'activité d'au moins un circuit intégré à un point de fonctionnement donné, et pour lire (10) et actualiser (11) une durée 25 cumulée d'activité dudit au moins un circuit intégré dans une mémoire non volatile 5. Au commencement d'une période d' activité d'un circuit intégré, le moyen de suivi 4 lit la précédente valeur de la durée cumulée d'activité dudit circuit intégré dans la mémoire 5, et 30 chronomètre le temps écoulé pendant ladite période d'activité. Après la période d'activité, le moyen de suivi, additionne le temps d'activité chronométré à la précédente valeur de durée cumulée d'activité et enregistre la nouvelle valeur de durée cumulée d'activité dans la mémoire 5. 3054949 11 Le moyen de suivi 4 peut par exemple être réalisé de manière logicielle au sein du processeur 1. Le système sur puce SOC comporte un processeur sécurisé 6, couramment désigné par l'acronyme TEE tiré du terme anglo-saxon 5 « Trusted Execution Environment ». Le processeur sécurisé 6 est un processeur ou une zone d'un processeur sécurisé(e) qui est difficilement accessible par un utilisateur ou un programme extérieur au système sur puce SOC en tant que tel. 10 Un moyen de paramétrage 7 est configuré pour commander les différents paramètres physiques permettant au système sur puce SOC de fonctionner. Le moyen de paramétrage 7 est notamment capable de commander l'étage d'alimentation 3, et ainsi de modifier le point de 15 fonctionnement d'un circuit intégré du système sur puce SOC, en modifiant sa tension d'alimentation. Le moyen de paramétrage 7 est par exemple réalisé par un module logiciel incorporé dans un microcontrôleur indépendant. Un moyen d'évaluation est configuré pour établir un état de 20 vieillissement en fonction de ladite durée cumulée d'activité. Dans un premier mode de réalisation, le moyen d'évaluation est formé par la coopération du processeur sécurisé 6 et du moyen de paramétrage 7. En effet, le processeur sécurisé est utilisé pour lire (12) la durée cumulée d'activité et la transmettre (13) au moyen de 25 paramétrage 7. Plus précisément, le processeur sécurisé 6 est utilisé ici comme un intermédiaire fiable permettant par exemple d'éviter une corruption extérieure de la mémoire 5 ou du moyen de paramétrage 7. Le moyen de paramétrage 7 établit un état de vieillissement à 30 partir de ladite durée cumulée d'activité. Dans ce mode de réalisation l'état de vieillissement d'un circuit intégré est directement sa durée cumulée d'activité à un point de fonctionnement donné. L'état de vieillissement est ensuite transmis (14) au processeur sécurisé 6 qui l'écrit (15) dans la mémoire 5. 3054949 12 Dans ce mode de réalisation, si l'état de vieillissement d'un circuit intégré, soit sa durée cumulée d'activité à un point de fonctionnement dit critique, atteint une valeur seuil, alors le moyen de paramétrage 7 commande (18) l'étage d'alimentation 3 afin de 5 modifier (19) le point de fonctionnement du circuit intégré en question. Le moyen de paramétrage 7 et l'étage d'alimentation 3 forment ainsi un moyen d'ajustement capable d'ajuster le point de fonctionnement d'un circuit intégré compte tenu de son état de 10 vieillissement. Un point de fonctionnement dit critique comporte par exemple une tension plus faible et/ou une fréquence plus importante que d'autres points de fonctionnement, dit réguliers. La figure 2 représente un diagramme temporel de différentes 15 opérations décrites en relation avec la figure 1. Les quatre flèches verticales descendantes représentent l'écoulement du temps. La lecture 12 de la durée cumulée d'activité et sa transmission 13 au moyen de paramétrage 7, suivie d'un temps de calcul 21, la transmission 14 et l'écriture 15 dans la mémoire 5 de l'état de 20 vieillissement, ainsi que la commande 18 de l'étage d'alimentation 3 sont mis en oeuvre lors d'une phase préliminaire 20. Le temps de calcul 21 est le temps nécessaire au calcul de l'état de vieillissement d'un circuit intégré ainsi que, le cas échéant, le calcul de l'ajustement optimal d'un point de fonctionnement, et plus 25 particulièrement la tension générée par l'étage d'alimentation 3 pour ce point de fonctionnement. La phase préliminaire 20 est mise en oeuvre à chaque démarrage du système sur puce SOC. La lecture 10 et l'actualisation 11 de la durée cumulée 30 d'activité du circuit intégré dans une mémoire non volatile 5 sont réalisées de manière continue dans l'utilisation du système sur puce, à chaque fois que le circuit intégré respectif est en activité 22. 3054949 13 L'ajustement des points de fonctionnement des circuits intégrés du système sur puce SOC est réalisé lors de chaque démarrage du système SOC. La figure 3 représente un mode de mise en oeuvre d'une 5 première variante de ce mode de réalisation, sous la forme d'un graphique avec en abscisse la durée cumulée d'activité DCA et en ordonné une échelle OPP représentant des points de fonctionnement. L'échelle OPP peut représenter par exemple la valeur de la tension d'alimentation des points de fonctionnement qu'elle 10 représente. Un premier circuit intégré CIl est configuré pour fonctionner à un premier point de fonctionnement critique 31, puis, lorsque la durée cumulée d'activité DCA de ce circuit intégré CIl à ce point de fonctionnement critique 31 atteint une première valeur seuil VS1, le 15 moyen d'ajustement (3 et 7) place ce circuit intégré CIl à un point de fonctionnement régulier 32. Le point de fonctionnement régulier 32 est par exemple un point de fonctionnement d'un deuxième circuit intégré Cl2. De même, lorsque la durée cumulée d'activité du deuxième 20 circuit intégré Cl2 et du premier circuit intégré CIl à ce point de fonctionnement dépasse une deuxième valeur seuil VS2, le moyen d'ajustement place ces circuits CI1, Cl2 à un troisième point de fonctionnement 33 moins contraignant que les précédents points de fonctionnement 31, 32. Par « point de fonctionnement moins 25 contraignant », on entend ici et dans toute la partie détaillée de la description, que le point de fonctionnement d'un circuit intégré moins contraignant qu'un autre point de fonctionnement est par exemple un point de fonctionnement dont certains au moins des paramètres, par exemple la tension et la fréquence de travail, présentent des valeurs 30 permettant au circuit intégré de fonctionner avec une plus grande tolérance à des aléas de fonctionnement, par exemple dus au vieillissement du circuit intégré, que les valeurs de ces mêmes paramètres associés à l'autre point de fonctionnement. 3054949 14 Les valeurs seuils de durée cumulée d'activité peuvent être par exemple de 3 ans d'activité pour un point de fonctionnement critique (VS1), de 7 ans d'activité pour un point de fonctionnement régulier (VS2). 5 En résumé, cette variante permet de faire passer des premiers points de fonctionnement critiques du système sur puce à des deuxièmes points de fonctionnement réguliers à des instants déterminés et fixés au moment de la conception dudit système sur puce. 10 Cela permet par exemple d'utiliser les performances maximales de certains circuits intégrés du système sur puce en début de vie dudit système et de maintenir un fonctionnement fiable des mêmes circuits intégrés après qu'ils aient vieillis. Autant de « paliers » que nécessaires sont réalisables, un palier 15 correspondant à un changement de point de fonctionnement suite au dépassement d'une valeur seuil de durée cumulée d'activité. La figure 4 représente un mode de mise en oeuvre d'une autre variante de ce mode de réalisation, sous la forme d'un graphique de la même construction que le graphique représenté par la figure 3. 20 Dans cette variante, les deuxièmes points de fonctionnement peuvent être des points de fonctionnement différents que des points de fonctionnement réguliers appliqués à des autres circuits intégrés du système sur puce. Ces deuxièmes points de fonctionnement peuvent être par 25 exemple dimensionnés lors de la conception du système sur puce pour optimiser le fonctionnement des circuits intégrés, après un vieillissement égal à une première valeur seuil de durée cumulée d' activité. Cela correspond à un ajustement de certains points de 30 fonctionnement réalisé au cours de la vie dudit système sur puce selon une planification et des valeurs optimales, dédiées à ce circuit intégré et déterminées au moment de la conception du système sur puce. Plus précisément, un premier circuit intégré CI10 est configuré pour fonctionner à un premier point de fonctionnement critique 41, 3054949 15 puis, lorsque la durée cumulée d'activité DCA de ce circuit intégré CI10 à ce point de fonctionnement critique 41 atteint une première valeur seuil VS10, le moyen d'ajustement place ce circuit intégré CI10 à un point de fonctionnement dédié 42, moins contraignant que le 5 point de fonctionnement critique initial 41. Le point de fonctionnement dédié 42 n'est pas nécessairement un point de fonctionnement d'un deuxième circuit intégré C120. Lorsque la durée cumulée d'activité DCA du premier circuit intégré CI10 à ce point de fonctionnement dédié 42 atteint une autre 10 valeur seuil VS30, le moyen d'ajustement place ce circuit intégré CI10 à un autre point de fonctionnement dédié 45, lui-même moins contraignant que le précédent point de fonctionnement dédié 42. De la même manière, lorsque la durée cumulée d'activité d'un deuxième circuit intégré C120 à un troisième point de fonctionnement 15 43 dépasse une deuxième valeur seuil VS20, le moyen d'ajustement place le circuit intégré C120 à un quatrième point de fonctionnement 44 moins contraignant que le précédent point de fonctionnement 43. Dans les précédentes variantes, l'ajustement d'un point de fonctionnement est mis en oeuvre au premier redémarrage du système 20 sur puce, après que la durée cumulée d'activité d'un circuit intégré ait dépassé la valeur seuil correspondante. Cet ajustement et cette planification peuvent avantageusement prendre en considération le profil de mission auquel le système sur puce SOC est destiné. 25 En outre, le profil de mission d'un système sur puce peut être configuré par un utilisateur, par exemple initialisé avant la première utilisation ou modifié au cours de la vie du système sur puce. Selon un autre mode de réalisation, l'état de vieillissement d'un circuit intégré est le résultat d'un calcul prenant en compte la 30 durée cumulée d'activité, les valeurs de la tension d'alimentation fournie à ce circuit intégré lors de ses activités antérieures, et son état de vieillissement antérieur. Les données relatives aux activités antérieures sont lues dans la mémoire 5. 3054949 16 Ce calcul est basé sur un modèle physique et/ou empirique du vieillissement de chacun des circuits intégrés. L'ajustement du point de fonctionnement peut avantageusement tenir compte, outre l'état de vieillissement du circuit intégré, de la 5 température du système, des contraintes subies par exemple dues à des appels de courants ou encore de la précision de l'étage d'alimentation, sous forme de constantes fixes correspondant à un profil de mission. Le profil de mission peut par exemple être prévu lors de la conception du système sur puce, ou bien être configuré par un 10 utilisateur. En outre, dans ce mode de réalisation, l'ajustement du point de fonctionnement est réalisé lors de chaque démarrage du système sur puce SOC, et la valeur de la tension d'alimentation du point de fonctionnement ajusté est calculée à partir d'une formule préétablie 15 fonction de la durée cumulée d'activité et de l'état de vieillissement précédent. Ledit calcul est mis en oeuvre par le moyen de paramétrage 7. La nouvelle tension appliquée et le nouvel état de vieillissement sont alors enregistrés dans la mémoire 5, par le biais du 20 processeur sécurisé 6 et formeront les données relatives aux activités antérieures d'un calcul ultérieur de la valeur d'une tension d' alimentation. Lors du premier démarrage, la tension d'alimentation est fixée à une valeur par défaut. 25 La tension d'alimentation va ensuite augmenter par paliers au cours de la vie du système sur puce, en fonction de l'utilisation qui est faite dudit système sur puce. La figure 5 représente un exemple de l'évolution de ladite tension d'alimentation, sous la forme d'un graphique ayant le temps t 30 en abscisse et la tension d'alimentation V en ordonnée. L'axe des abscisses est notamment repéré par des événements de redémarrage RES du système sur puce SOC. En d'autres termes, dans ce mode de réalisation, un moyen de suivi, par exemple mis en oeuvre de façon logicielle par le processeur 3054949 17 1, enregistre le temps passé de circuits intégrés à des points de fonctionnement critiques, et un ajustement dynamique des points de fonctionnement est réalisé lors du prochain redémarrage du système sur puce. 5 Ainsi, lors de chaque démarrage du système sur puce, la tension appliquée à un circuit intégré, préférentiellement un circuit intégré formant une unité de calcul, est calibrée en fonction des utilisations que ce circuit intégré a subies dès le premier fonctionnement du système sur puce. 10 La figure 6 représente un mode de réalisation décrit dans la demande de brevet français déposée le même jour que la présente demande et par le même demandeur ayant pour titre « Procédé d'estimation d'un profil d'exploitation d'un circuit intégré d'un système sur puce, et système sur puce correspondant. », dont on reprend ici les 15 principales caractéristiques. Dans ce mode de réalisation, on collecte des paramètres physiques 61 représentatifs de l'utilisation d'un circuit intégré, par exemple grâce à des capteurs in situ, assignés aux circuits intégrés d'intérêt. 20 Les paramètres physiques peuvent être par exemple la tension 611, la température 612, la durée d'activité 613 du circuit intégré, ou encore sa fréquence de travail 614. Un moyen d'évaluation 62, par exemple réalisé de façon logicielle au sein d'un processeur 60, est configuré pour déterminer un 25 état de vieillissement instantané 63 du circuit intégré. L' état de vieillissement instantané est calculé à partir d'équations 64 modélisant l'usure propre à un circuit intégré en fonction desdits paramètres physiques 61 mesurés. D'autre part, un second moyen d'évaluation 620 est configuré 30 pour déterminer un état de vieillissement présumé 68, dépendant uniquement d'une durée cumulée d'activité 65 et d'un profil de mission 66. Les deux moyens d'évaluation 62 et 620 sont distincts dans cette représentation mais peuvent être réalisés par un unique moyen 3054949 18 d'évaluation, par exemple réalisé de façon logicielle au sein du processeur 60. L'état de vieillissement présumé 68 correspond à un état de vieillissement estimé associé à un profil de mission 66 multiplié par 5 un taux d'utilisation effectif égal au rapport entre la durée cumulée d'activité 65 et une durée de vie estimée totale 67 pour un circuit intégré dans ce profil de mission 66. En d'autres termes, l'état de vieillissement instantané reflète le vieillissement réel du circuit intégré, tandis que l'état de 10 vieillissement présumé reflète le vieillissement prévu du circuit intégré dans un profil de mission donné. La différence entre l'état de vieillissement instantané et l'état de vieillissement présumé donne une valeur de marge 69. Cette marge 69 est transmise au processeur sécurisé 6 qui 15 actualise l'état de vieillissement du circuit intégré en fonction de la marge 69, le transmet (13) au moyen d'ajustement (moyen notamment formé par la commande (18) du moyen de paramétrage 7 sur l'étage d'alimentation 3) et l'enregistre (15) dans la mémoire 5. Le moyen d'ajustement du système sur puce est configuré pour 20 ensuite ajuster le point de fonctionnement de ce circuit intégré de manière à optimiser son fonctionnement dans la limite de ladite marge d'utilisation. Dans ce mode de réalisation, les mesures physiques et les évaluations des états de vieillissement sont réalisés en continu, dans 25 une période temporelle comprise entre la microseconde et la seconde, ainsi que l'ajustement d'un point de fonctionnement. En variante, il est possible que le profil de mission soit configurable par un utilisateur 100, par exemple pour des systèmes sur puce destinés à remplir différentes missions. 30 Sinon, l'état de vieillissement estimé est paramétré lors de la conception du système sur puce SOC pour correspondre au profil de mission le plus contraignant, du type conditions industrielles. La marge calculée sera plus importante en cas de surdimensionnement du 3054949 19 profil de mission mais sera sans conséquence visible sur le résultat de l'ajustement d'un point de fonctionnement. D'autre part, les différents modes de réalisation d'un système sur puce SOC précédemment décrit peuvent comporter en outre des 5 circuits de rupture associés à des circuits intégrés du système sur puce, configurés pour détecter un dysfonctionnement matériel, tels que par exemple des répliques de chemin critique ou des capteurs-déclencheurs (« trigger » en anglais) in-situ. Lesdits circuits de rupture forment une partie supplémentaire du moyen de suivi. 10 En cas de dysfonctionnement, les circuits de rupture communiquent un signal d'alerte (« flag » en anglais) au moyen d'ajustement. Le moyen d'ajustement est configuré pour alors ajuster le point de fonctionnement du circuit intégré déficient à un autre point de fonctionnement, dit de sureté. Le point de fonctionnement de sureté 15 est par exemple un point de fonctionnement moins contraignant que le point de fonctionnement dans lequel le circuit intégré a subi un dysfonctionnement. Les figures 7 et 8 représentent chacune des exemples de produits ou appareils équipés d'un mode de réalisation d'un système 20 sur puce SOC tel que précédemment détaillé, respectivement un ordinateur personnel 700 et un téléphone mobile 800. Il apparaîtra à l'homme du métier que les modes de réalisation d'un système sur puce SOC précédemment détaillés peuvent être mis en place dans tout autre produit connu et non cité ici. 25 Bien évidemment, la solution de gestion du vieillissement proposée ne se limite pas aux modes de réalisation et de mise en oeuvre précédemment détaillés mais en embrasse toutes les variantes, par exemple, les composants passifs ou d'autres composants qu'un circuit intégré formant la logique d'un processeur peuvent bénéficier d'une 30 telle gestion de leur vieillissement. En outre, les modes de réalisation et de mise en oeuvre décrits sont appliqués à un point de fonctionnement d'au moins un circuit intégré, mais, à titre d'exemples, de nombreux points de fonctionnement de différents composants du système sur puce, ou bien 3054949 20 un point de fonctionnement global, ou encore seulement les points de fonctionnements les plus critiques, peuvent être simultanément ou indépendamment gérés. REVENDICATIONS1. Procédé de réglage d'au moins un point de fonctionnement (31, 32, 41, 43) d'au moins un circuit intégré (CI1, C12, CHO, C120) d'un système sur puce (SOC), comprenant une étape de suivi comprenant une collecte d'au moins une durée cumulée d'activité dudit au moins un circuit intégré, une étape d'évaluation comprenant l'établissement d'un état de vieillissement dudit au moins un circuit intégré en fonction de ladite durée cumulée d'activité, et une étape d'ajustement dudit au moins un point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré en fonction de son état de vieillissement. 2. Procédé selon la revendication 1, le système sur puce comportant un premier circuit intégré (CI1) configuré pour fonctionner à un premier point de fonctionnement (31) et un deuxième circuit intégré (C12) configuré pour fonctionner à un deuxième point de fonctionnement (32) moins contraignant que le premier point de fonctionnement (31), dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement du premier circuit intégré au deuxième point de fonctionnement (32) lorsque l'état de vieillissement du premier circuit intégré (CI1), égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré (DCA), dépasse une première valeur seuil (VS1). 3. Procédé selon la revendication 2, dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement des premier et deuxième circuits intégrés (CI1, C12) à un troisième point de fonctionnement (33) moins contraignant que le deuxième point de fonctionnement (32), lorsque les états de vieillissement des premier et deuxième circuits intégrés, respectivement égaux aux durées cumulées d'activité des premier et deuxième circuits intégrés (DAC), dépassent une deuxième valeur seuil (VS2). 4. Procédé selon la revendication 1, le système sur puce comportant un premier circuit intégré (CHO) configuré pour 3054949 22 fonctionner à un premier point de fonctionnement (41), dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement du premier circuit intégré (CHO) à un deuxième point de fonctionnement (42) dédié au premier circuit intégré (CHO) et 5 moins contraignant que le premier point de fonctionnement (41), lorsque l'état de vieillissement du premier circuit intégré (CHO), égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré (DAC), dépasse une première valeur seuil (VS10). 5. Procédé selon la revendication 4, le système sur puce 10 comportant un deuxième circuit intégré (CI20) configuré à un troisième point de fonctionnement (43), dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement du deuxième circuit intégré (CI20) à un quatrième point de fonctionnement (44) dédié au deuxième circuit intégré et moins 15 contraignant que le troisième point de fonctionnement (43), lorsque l'état de vieillissement du deuxième circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du deuxième circuit intégré (DAC), dépasse une deuxième valeur seuil (VS20). 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 20 précédentes, dans lequel l'étape d'ajustement comprend un ajustement par palier. 7. Procédé selon la revendication 1, dans lequel l'étape de suivi comprend en outre une collecte d'une tension d'alimentation appliquée audit au moins un circuit intégré, et l'étape d'évaluation 25 comprend l'établissement d'un état de vieillissement dudit au moins un circuit intégré en fonction de la durée cumulée d'activité et d'au moins une tension d'alimentation précédemment appliquée audit au moins un circuit intégré. 8. Procédé selon la revendication 7, dans lequel l'étape 30 d'ajustement comprend un ajustement par palier dudit au moins un point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à au moins un autre point de fonctionnement dédié audit au moins un circuit intégré, moins contraignant que ledit au moins un point de fonctionnement. 3054949 23 9. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'étape d'évaluation et l'étape d'ajustement sont mises en oeuvre lors de chaque démarrage (RES) du système sur puce. 5 10. Procédé selon la revendication 1, dans lequel l'étape de suivi comprend une collecte d'au moins un paramètre physique (61) représentatif de l'utilisation dudit au moins un circuit intégré, l'étape d'évaluation comprend la détermination d'au moins un état de vieillissement instantané (63) respectivement dudit au moins un circuit 10 intégré, en fonction dudit au moins un paramètre physique (61), et le calcul d'au moins une marge d'utilisation (69) dudit au moins un circuit intégré comportant la comparaison dudit au moins un état de vieillissement instantané (63) avec un état de vieillissement présumé (68), et l'étape d'ajustement comprend l'ajustement dudit au moins un 15 point de fonctionnement en tenant compte de ladite au moins une marge d'utilisation (69) respective. 11. Procédé selon la revendication 10, dans lequel ladite étape d'évaluation et ladite étape d'ajustement sont réalisées périodiquement en temps réel au cours du fonctionnement du système sur puce. 20 12. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la collecte de l'étape de suivi est réalisée en continu au cours du fonctionnement du système sur puce. 13. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel l'étape de suivi comprend en outre une 25 communication d'un signal d'alerte, en cas de dysfonctionnement matériel, et dans lequel l'étape d'ajustement comprend l'ajustement du point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à un point de fonctionnement de sureté en cas de communication d'un signal d' alerte. 30 14. Système sur puce (SOC) comportant au moins un circuit intégré (1) configuré pour fonctionner à respectivement au moins un point de fonctionnement, un moyen de suivi (4) configuré pour collecter au moins la durée cumulée d'activité dudit au moins un circuit intégré, 3054949 24 un moyen d'évaluation (6, 7) configuré pour établir au moins un état de vieillissement instantané respectivement dudit au moins un circuit intégré comprenant ladite au moins une durée cumulée d'activité, et 5 un moyen d'ajustement (3, 7) configuré pour ajuster au moins un point de fonctionnement en fonction dudit au moins un état de vieillissement dudit au moins circuit intégré respectif. 15. Système sur puce selon la revendication 14, dans lequel un premier circuit intégré (CI1) est configuré pour fonctionner à un 10 premier point de fonctionnement (31) et un deuxième circuit intégré (Cl2) est configuré pour fonctionner à un deuxième point de fonctionnement (32) moins contraignant que le premier point de fonctionnement (31), et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement du premier circuit intégré (CI1) au 15 deuxième point de fonctionnement (32) lorsque l'état de vieillissement du premier circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré (DAC), dépasse une première valeur seuil (VS1). 16. Système sur puce selon la revendication 15, dans lequel le 20 moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement des premier et deuxième circuits intégrés (CI1, Cl2) à un troisième point de fonctionnement (33) moins contraignant que le deuxième point de fonctionnement (32) lorsque les états de vieillissement des premier et deuxième circuits intégrés (CI1, Cl2), 25 respectivement égaux aux durées cumulées d'activité des premier et deuxième circuits intégrés (DAC), dépassent une deuxième valeur seuil (VS2). 17. Système sur puce selon la revendication 14, dans lequel un premier circuit intégré (CHO) est configuré à un premier point de 30 fonctionnement (41), et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement dudit au moins un premier circuit intégré (CHO) à un deuxième point de fonctionnement (42) dédié au premier circuit intégré (CHO) et moins contraignant que le premier point de fonctionnement (41) lorsque l'état de vieillissement du 3054949 25 premier circuit intégré, égal à la durée cumulée d'activité du premier circuit intégré (DAC), dépasse une première valeur seuil (VS10). 18. Système sur puce selon la revendication 17, dans lequel un deuxième circuit intégré (CI20) est configuré à un troisième point de 5 fonctionnement (43), et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement du deuxième circuit intégré (CI20) à un quatrième point de fonctionnement (44) dédié au deuxième circuit intégré et moins contraignant que le troisième point de fonctionnement (43) lorsque l'état de vieillissement dudit au moins un deuxième 10 circuit intégré (CI20), égal à la durée cumulée d'activité du deuxième circuit intégré (DAC), dépasse une deuxième valeur seuil (VS20). 19. Système sur puce selon l'une quelconque des revendications 14 à 18, dans lequel le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster par palier ledit au moins un point de fonctionnement. 15 20. Système sur puce selon la revendication 14, dans lequel le moyen de suivi est configuré en outre pour collecter une tension d'alimentation appliquée audit au moins un circuit intégré, et le moyen d'évaluation est configuré pour établir au moins un état de vieillissement respectivement dudit au moins un circuit intégré, en 20 fonction de la durée cumulée d'activité et des tensions d'alimentation précédemment appliquées audit au moins un circuit intégré. 21. Système sur puce selon la revendication 20, dans lequel le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster par palier ledit au moins un point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à 25 au moins un autre point de fonctionnement dédié audit au moins un circuit intégré, moins contraignant que ledit au moins un point de fonctionnement. 22. Système sur puce selon l'une quelconque des revendications 14 à 21, dans lequel le moyen d'évaluation et le moyen d'ajustement 30 sont configurés pour établir l'état de vieillissement instantané et ajuster ledit point de fonctionnement lors de chaque démarrage (RES) du système sur puce (SOC). 23. Système sur puce selon la revendication 14, dans lequel 3054949 26 le moyen de suivi (62) est configuré pour collecter au moins un paramètre physique (61) représentatif de l'utilisation dudit au moins un circuit intégré, le moyen d'évaluation (62, 620) est configuré pour déterminer 5 au moins un état de vieillissement instantané (63) respectivement dudit au moins un circuit intégré, en fonction dudit au moins un paramètre physique (61), et calculer au moins une marge d'utilisation (69) respectivement dudit au moins un circuit intégré en comparant ledit au moins un état de vieillissement instantané (63) respectif avec un état 10 de vieillissement présumé (68), et le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster ledit au moins un point de fonctionnement respectif en fonction de ladite au moins une marge d'utilisation (69) respective. 24. Système sur puce selon la revendication 23, dans le moyen 15 d'évaluation (62, 620) et le moyen d'ajustement sont configurés pour calculer ladite au moins une marge d'utilisation (69) et ajuster ledit au moins un point de fonctionnement périodiquement, en temps réel. 25. Système sur puce selon l'une quelconque des revendications 14 à 24, dans lequel le moyen de suivi (62) est configuré pour réaliser 20 ladite collecte en continu au cours du fonctionnement du système sur puce (SOC). 26. Système sur puce selon l'une quelconque des revendications 14 à 25, dans lequel le moyen de suivi (62) comporte en outre des circuits de rupture associés à au moins un circuit intégré, comprenant 25 des répliques de chemin critique et/ou des capteurs in-situ, configurés pour, en cas de dysfonctionnement matériel, communiquer un signal d'alerte au moyen d'ajustement, et dans lequel le moyen d'ajustement est configuré pour ajuster le point de fonctionnement dudit au moins un circuit intégré à un point de fonctionnement de sureté lorsqu'un 30 signal d'alerte lui est communiqué. 27. Appareil électronique (700, 800) comportant un système sur puce (SOC) selon l'une quelconque des revendications 14 à 26.