FR 3049068 A1 20170922 FR 1652242 A 20160316 1 DESCRIPTION La présente invention concerne le domaine des dispositifs de détection inductif, permettant de détecter la présence à un endroit ou une position donnée, ou la proximité, d'un objet métallique, en particulier les détecteurs mis en oeuvre dans l'industrie et reposant sur l'analyse du signal fourni par au moins un circuit résonnant LC. De tels détecteurs sont commercialisés par la demanderesse depuis de nombreuses années et sont, par exemple, décrits dans les documents FR 2 827 677, EP 1 580 889, EP 1 580 536, EP 1 965 177 et EP 2 546 614. L'invention a plus spécifiquement pour objet un dispositif détecteur de proximité ou de présence, de type inductif et de "facteur 1", c'est-à-dire avec préférentiellement une très faible variation de distance de détection pour les différents principaux matériaux métalliques (acier, aluminium, laiton, cuivre, zinc, ....). Dans le cas d'un détecteur inductif conventionnel, la distance de détection nominale Sn est toujours donnée pour une cible en acier (norme EN60947-5-2). Pour les autres métaux, tels que l'aluminium ou le cuivre, pour déterminer la distance de détection, il est nécessaire d'appliquer un facteur de correction sur cette portée nominale Sn. Par exemple, la distance de détection pour l'aluminium peut être de 0,40 x Sn (facteur 0,40) ou de 0,70 x Sn (facteur 0,70) pour l'acier inoxydable. Pour l'acier, le facteur vaut 1, c'est-à-dire une distance de détection de 1 x Sn = Sn. Il est rappelé qu'en termes de détection, les matériaux métalliques peuvent être classés en deux catégories : - les matériaux ferromagnétiques (acier, fer) qui, lorsqu'ils sont à proximité d'une bobine de détection, ont tendance à faire augmenter la résistance série Rs de la bobine (l'inductance série Ls variant peu) ; - les matériaux non ferromagnétiques (aluminium, cuivre, laiton...) qui, lorsqu'ils sont à proximité d'une bobine de détection, ont 30 tendance à faire diminuer l'inductance série Ls de la bobine (Rs variant peu). Un détecteur peut être qualifié de "facteur 1" dès lors que la même distance de détection Sn s'applique à tous les métaux, ou au moins aux principaux d'entre eux. 3049068 - 2 - La figure 1 illustre schématiquement les principaux paramètres intervenant dans la définition des performances/caractéristiques de ce type de capteurs. Sur cette figure sont indiquées : - la portée nominale "Sn" : Portée conventionnelle servant à 5 désigner le détecteur ; - la portée réelle "Sr" : Portée mesurée sous la tension d'alimentation nominale et à température ambiante (+/- 10 % de Sn) ; - la portée utile "Su" : Portée mesurée dans les limites admissibles de température et de tension d'alimentation (+/- 10 % de Sr). 10 De nombreuses réalisations de détecteurs "facteur 1" existent déjà, tels que par exemple les systèmes basés sur de l'émission/réception (montage type transformateur) avec 3 ou 4 bobines (voir US 7,106,052 et EP 2 493 076 Al) ou des systèmes basés sur de la mesure de fréquence (voir EP 2 017 652 Al). 15 Toutefois, ces systèmes qui mettent en oeuvre plusieurs bobines, sont complexes, couteux et encombrants. Par ailleurs, un système basé sur la fréquence peut faire appel à des composants onéreux tout en ayant des performances souvent limitées (faible fréquence de commutation, faible distance de détection). 20 Pour pallier ces inconvénients, il a été proposé un dispositif détecteur de proximité ou de présence, de types inductif et "facteur 1", comprenant essentiellement, d'une part, un circuit résonnant LC alimenté par un générateur d'impulsions d'excitation définissant des phases successives et répétitives de détection, d'autre part, une chaîne 25 opérationnelle de moyens d'acquisition et de traitement du signal de réponse, sous forme d'oscillations libres, délivré par ledit circuit de détection LC durant chaque phase de détection, comportant notamment un moyen d'échantillonnage et un circuit de conversion analogique numérique, et, enfin, un ensemble fonctionnel de moyens d'évaluation d'au moins une valeur calée temporellement du signal traité et de fourniture d'une information ou d'un signal logique de détection ou de non détection. Un tel dispositif détecteur est par exemple connu, en partie au moins, du document EP 1 530 064. Dans le cas d'un tel montage d'oscillateur libre de type LC 35 résonnant, on observe : - une variation de l'amplitude des oscillations lorsque la bobine est située à proximité d'un matériau ferromagnétique ; 3049068 - 3 - - une variation de fréquence d'oscillation lorsque la bobine est située à proximité d'un matériau non ferromagnétique. Pour faire une détection "facteur 1", il suffit de s'intéresser qu'à deux types de matériaux : 5 - l'acier, représentant les matériaux ferromagnétiques, provoquant une variation de Rs et donc une variation d'amplitude dans le cas d'un oscillateur libre LC ; - l'aluminium, représentant les matériaux non ferromagnétiques, provoquant une variation de Ls et donc une variation de fréquence dans le 10 cas d'un oscillateur libre LC. Dans le cas de l'acier, l'approche d'une cible provoque une atténuation des pseudo-oscillations, mais peu de variation en fréquence du signal (figure 2A). Dans le cas de l'aluminium, l'approche d'une cible provoque 15 une augmentation de la fréquence des pseudo-oscillations, alors que l'amplitude du signal ne varie quasiment pas (figure 2B). Le document EP 1 530 064 indique qu'il existe un instant d'échantillonnage "Trif" auquel les conditions de fonctionnement "facteur 1" sont vérifiées, c'est-à-dire où la diminution de l'amplitude du signal 20 provoquée par l'approche d'une cible en acier est égale à la diminution de l'amplitude induite par le déphasage de la sinusoïde provoquée par l'approche d'une cible en aluminium (voir figure 3). Dans ce document EP, l'instant "Trif" est déterminé par calcul, mais sans que la manière de déterminer les valeurs permettant de réaliser ce 25 calcul ne soit indiquée. De plus, ni le procédé de fabrication, ni le procédé de réglage du détecteur ne sont évoqués dans ce document. Par ailleurs, la construction de circuit divulguée par le document EP 1 530 064 présente une faible dynamique du signal de détection et simultanément une forte dérive en température de ce dernier. 30 Le but de la présente invention est d'améliorer un dispositif détecteur "facteur 1" du type divulgué par le document EP 1 530 064 précité, en surmontant au moins certaines des limitations de ce dernier et de fournir un dispositif présentant une portée de détection augmentée. A cet effet, l'invention a pour objet un dispositif détecteur de 35 proximité ou de présence, de type inductif et de "facteur 1" tel qu'évoqué précédemment, caractérisé en ce que les moyens d'acquisition et de traitement comprennent, d'une part, des moyens analogiques de filtrage 3049068 - 4 - et/ou d'amplification du signal de réponse échantillonné, après son acquisition et avant sa conversion numérique, et, d'autre part, un moyen de compensation de la dérive en température du signal de réponse par correction du signal échantillonné après sa conversion numérique, associé à 5 ou comportant un capteur de température fournissant une information sur la température d'au moins une partie du dispositif détecteur, préférentiellement du circuit résonnant LC et des moyens d'acquisition et de traitement de la chaîne opérationnelle situés en amont du circuit de conversion A/N. L'invention sera mieux comprise, grâce à la description ci-10 après, qui se rapporte à un mode de réalisation préféré, donné à titre d'exemple non limitatif, et expliqué avec référence aux dessins schématiques annexés, dans lesquels : la figure 4 est un schéma synoptique des principaux éléments fonctionnels constitutifs du dispositif détecteur selon l'invention ; 15 la figure 5 est un schéma électrique équivalent simplifié de la chaîne opérationnelle de production et d'acquisition du signal de détection faisant partie du dispositif selon l'invention ; la figure 6 est une représentation graphique (avec recalage temporel) des courbes [amplitude/temps] représentatives des signaux de 20 détection (sinusoïdes pseudo-amorties) relevés aux bornes du circuit résonnant LC du dispositif détecteur selon l'invention, ce en réponse à une excitation impulsionnelle et respective en l'absence de cible, en présence d'une cible en acier (fer) à la distance Sn et en présence d'une cible en aluminium à la distance Sn ; 25 la figure 7 est une représentation à une échelle différente du détail A de la figure 6, montrant également les instants d'échantillonnage des signaux (seules les courbes des signaux "fer" et "aluminium" sont représentées) ; les figures 8A à 8C illustrent différentes cas de positionnement 30 de l'instant d'échantillonnage "facteur 1" (Tacq) par rapport aux instants d'échantillonnage prospectifs effectivement mis en oeuvre durant la phase de test de réglage et de calibration du dispositif détecteur selon l'invention, et, la figure 9 est un ordinogramme de la procédure d'apprentissage ou de calibration mise en oeuvre dans le cadre de 35 l'invention. La figure 4 et partiellement la figure 5 illustrent synoptiquement et fonctionnellement, un dispositif détecteur 1 de proximité 3049068 - 5 - ou de présence, de types inductif et "facteur 1", comprenant essentiellement, d'une part, un circuit 2 résonnant LC alimenté par un générateur 3 d'impulsions d'excitation définissant des phases successives et répétitives de détection, d'autre part, une chaîne opérationnelle de moyens 5 4, 5, 6 d'acquisition et de traitement du signal de réponse (oscillations libres), délivré par ledit circuit 2 de détection LC durant chaque phase de détection, comportant notamment un moyen d'échantillonnage 4 et un circuit 6 de conversion analogique numérique, et, enfin, un ensemble fonctionnel de moyens 7, 8 d'évaluation, notamment par comparaison, d'au 10 moins une valeur calée temporellement du signal traité et de fourniture d'une information ou d'un signal logique de détection ou de non détection. Ce dispositif comprend également une unité 9 de gestion et de commande, du type microcontrôleur, pour contrôler le fonctionnement dudit dispositif 1. 15 Conformément à l'invention, il est prévu que les moyens d'acquisition et de traitement précités comprennent, d'une part, des moyens 5 analogiques de filtrage et/ou d'amplification du signal de réponse échantillonné, après son acquisition et avant sa conversion numérique, et, d'autre part, un moyen 10 de compensation de la dérive en température du 20 signal de réponse par correction du signal échantillonné après sa conversion numérique, associé à ou comportant un capteur de température 10' fournissant une information sur la température d'au moins une partie du dispositif détecteur 1, préférentiellement du circuit 2 résonnant LC et des moyens 4, 5 d'acquisition et de traitement de la chaîne opérationnelle situés 25 en amont du circuit 6 de conversion A/N. Grâce à ces dispositions particulières qui contribuent cumulativement à l'amélioration des performances en termes de qualité et de précision, et donc de la portée maximale, du dispositif détecteur 1, la dynamique du signal exploitable et son indépendance vis-à-vis des 30 variations de température sont nettement améliorées par rapport à l'état de la technique. Avantageusement, l'évaluation de la valeur échantillonnée à l'instant critique déterminé est effectuée par comparaison à une valeur seuil déterminée lors de la phase de calibration en production. Préférentiellement, la chaîne opérationnelle comporte, à la suite du moyen d'échantillonnage 4 sous la forme d'un échantillonneur-bloqueur, un moyen d'amplification sous la forme d'un amplificateur différentiel, 3049068 - 6 - associé à un moyen 5' de soustraction de la composante continue du signal présenté à l'entrée de l'amplificateur différentiel 5. En tant que dispositions constructives pratiques pour augmenter la dynamique du signal, il peut être prévu en outre : 5 - d'utiliser un échantillonneur bloqueur 4 externe au microcontrôleur 9, permettant de diminuer le temps d'échantillonnage, de mieux cibler le point à échantillonner et de réaliser un traitement analogique (amplification, filtrage) avant la conversion analogique-numérique ; - d'augmenter la résolution du convertisseur A/N 6 (par 10 exemple à 12 bits), ce circuit réalisant une conversion analogique-numérique du signal issu de l'amplificateur 5 et non une conversion directe du signal de sortie du circuit LC 2. Pour faciliter et augmenter la fréquence et la répétabilité des cycles ou phases de détection, il peut être prévu, comme le montre 15 symboliquement la figure 5, en aval du circuit de détection 2 LC et en amont du moyen d'échantillonnage 4, un moyen de commutation 11 pour décharger sélectivement ledit circuit LC 2. L'échantillonneur bloqueur 4 peut, par exemple, comprendre un interrupteur 4' associé à une capacité 4" de mémorisation (voir figure 5). 20 En accord avec une caractéristique avantageuse de l'invention, le moyen 10 de compensation de la dérive en température consiste en une tâche logicielle exécutée par le microcontrôleur 9, à chaque phase de détection, avec exploitation, d'une part, de la valeur mesurée par le capteur de température 5' et, d'autre part, d'informations stockées résultant 25 d'évaluations expérimentales antérieures et relatives à l'influence de la température sur le signal de détection, ces informations stockées consistant en une fonction de compensation estimée ou en un tableau de correspondance par exemple. Ainsi, en vue de réaliser une compensation suffisamment 30 précise et répétable pour respecter les contraintes normatives (cf. EN60947-5-2 autorisant une dérive en température de +/- 10 % de la portée réelle), la solution retenue par l'invention pour compenser la dérive en température est basée sur une correction numérique du signal à partir d'une température relevée via un capteur de température 5'. 35 Pour mettre au point cette compensation en température, il est nécessaire de relever préalablement la dérive du signal en fonction de la température. Ces mesures de dérive s'effectuent avec les valeurs de sortie 3049068 - 7 - du convertisseur A/N 6 afin de compenser à la fois la dérive du capteur inductif (circuit LC 2) ainsi que de toute la chaine d'acquisition consécutive. Après avoir réalisé préalablement (dans une phase de mise au point) des relevés numériques de la dérive du signal sur une pluralité de 5 dispositifs détecteurs 1 identiques, il est possible de déterminer une dérive moyenne et répétable pour au moins une série de tels dispositifs 1. Il est possible de compenser la dérive à l'aide d'une fonction directement codée dans le microcontrôleur 9. La compensation peut aussi s'effectuer via un tableau de correspondance (dit "look up table"). 10 Selon une autre caractéristique de l'invention, permettant d'éviter tout calcul complexe, ainsi que le recours à des ressources à cet effet, il est avantageusement prévu que la valeur de calage temporelle (valeur de temporisation après la fin de l'impulsion d'excitation), qui est exploitée par le microcontrôleur 9 pour commander l'échantillonneur 15 bloqueur 4 et qui correspond au point "facteur 1", consiste en un couple [valeur d'amplitude ; temporisation après fin de l'impulsion d'excitation] déterminé expérimentalement par échantillonnage des signaux de réponse fournis par des cibles respectivement en fer et en aluminium placées à la distance de détection Sn souhaitée, ces signaux de réponse étant relevés 20 avec le dispositif détecteur 1 prêt à être utilisé. Dans la pratique, et comme le montre la figure 6, le point "facteur 1" choisi correspond préférentiellement à l'intersection des deux courbes des signaux de réponse des cibles en fer et en aluminium, sous forme de pseudo-oscillations sinusoïdales amorties, dans la phase 25 descendante de l'alternance positive de leur troisième période. Néanmoins, tout autre point d'intersection entre les deux courbes peut être utilisé, y compris ceux durant les alternances négatives des signaux de réponse. Ainsi, en accord avec une caractéristique de l'invention, il est prévu, en phase de réglage, de déterminer : 30 - le point d'échantillonnage optimal permettant une détection "facteur 1" ; - le point de commutation du dispositif 1 lié à la portée requise Sn. Dans la pratique, la solution retenue est basée sur la recherche 35 du point "facteur 1" par échantillonnages successifs. Ce procédé permet de rechercher le point optimal une fois le dispositif 1 entièrement assemblé et résiné, tout en éliminant l'emploi d'un dispositif externe (calculateur, ...) et 3049068 - 8 - coûteux. Cette technique permet également d'approcher au mieux la portée nominale Sn, propriété particulièrement intéressante dans le cas de portées augmentées et/ou de plages de température étendues. Pour chacun des deux matériaux de référence (Fer et 5 Aluminium) placé à la distance de détection Sn souhaitée, le microcontrôleur 9 réalise N mesures autour du point "facteur 1" avec un instant d'échantillonnage "Tacq" variant de TO à TO+N.dt (Tacq = TO + N x dt avec dt correspondant à la résolution temporelle et N variant de 0 à 9 dans ce cas). Les amplitudes correspondant aux différents échantillons sont 10 stockées dans des tableaux ("ValeurFer" et "ValeurAlu"). Bien que le point "facteur 1" (croisement des courbes Fer/Alu) existe sur chacune des périodes du signal oscillatoire amorti, l'échantillonnage au début de la phase descendante de la troisième période (voir figure 6) apparaît comme un bon compromis en terme de stabilité. 15 Le nombre N de points d'échantillonnage doit être choisi assez grand (au moins 10) afin de pouvoir trouver le "point facteur 1" dans tous les cas : il est en effet nécessaire de prendre en compte les tolérances initiales des composants qui introduisent des variations d'amplitude, de fréquence ou de base de temps d'une pièce à l'autre. 20 Les résultats des échantillonnages des deux courbes de la figure 7 sont présentés dans le tableau suivant en deux parties : Echantillon (N) I 2 3 4 5 Temporisation Tacq TO TO+dt T0+2dt T0+3dt T0+4dt ValeurFer (LSB) 2050 2060 2066 2070 2071 ValeurAlu (LSB) 2058 2069 2075 2078 2077 Ecart Fer/Alu (LSB) 8 9 9 8 6 Echantillon (N) 6 7 8 9 10 Temporisation Tacq T0+5dt T0+6dt T0+7dt T0+8dt T0+9dt ValeurFer (LSB) 2069 2062 2052 2041 2027 ValeurAlu (LSB) 2072 2061 2049 2034 2015 Ecart Fer/Alu (LSB) 3 1 3 7 12 25 Les valeurs "ValeurFer" et "ValeurAlu" sont ensuite comparées entre elles, ce qui permet de déterminer la valeur absolue de l'écart entre la 3049068 - 9 - valeur ValeurFer[N] et ValeurAlu[N]. L'écart le plus faible correspond au point d'échantillonnage le plus proche du point "facteur 1" qui est le point de croisement des deux courbes de réponse Fer et Aluminium. L'indice M correspondant à l'écart Fer/Aluminium le plus faible 5 permet de déterminer : - l'instant d'échantillonnage Tacq = TO + M x dt optimal pour une détection "facteur 1" ; - le seuil de détection choisi correspondant à la moyenne entre ValeurFer[M] et ValeurAlu[M]. 10 L'instant d'échantillonnage Tacq correspond théoriquement au croisement entre les courbes de réponse Fer et Aluminium, mais en pratique, un écart peut être observé entre le point d'échantillonnage et le croisement réel des deux courbes - voir figures 8A à 8C). En phase de développement, il est nécessaire de vérifier que malgré cet écart, le 15 dispositif détecteur 1 peut toujours être considéré comme "facteur 1", c'est-à-dire que la variation de la portée réelle Sr en fonction des matériaux dû à cet écart reste toujours dans les +/- 10 % de Sn autorisés par la norme EN60947-5-2. En phase de production, le réglage du point d'échantillonnage 20 Tacq et le réglage de la distance de détection Sn s'effectue en deux étapes successives (les deux étapes peuvent être interverties) : 1. Une cible en acier est placée devant le dispositif détecteur 1 à la distance Sn et une commande lance une séquence d'apprentissage permettant de compléter le tableau "ValeurFer". Le détecteur signale la fin 25 de cette procédure à l'aide de sa sortie. 2. Une cible en aluminium est placée devant le dispositif détecteur 1 à la distance Sn et une commande lance une séquence d'apprentissage permettant de compléter le tableau "ValeurAlu". Ensuite, à l'aide des deux tableaux, le microcontrôleur 9 est en 30 mesure de déterminer le point d'échantillonnage optimal et le seuil de détection. Ces deux paramètres sont ensuite sauvegardés en mémoire, et rappelés à chaque démarrage du détecteur. Le dispositif détecteur 1 signale la fin de cette procédure à l'aide de sa sortie. L'envoi de la commande d'apprentissage peut s'effectuer via 35 une interface de paramétrage communicant via les lignes d'alimentation et la sortie du dispositif détecteur, comme divulgué par exemple dans le document EP 2 748 936 au nom de la demanderesse. 3049068 - 10 - Un autre point important pour se rapprocher au maximum du point "facteur 1" est de prévoir une résolution temporelle élevée pour l'échantillonnage et donc un cycle d'horloge élevé et stable pour le microcontrôleur 9, préférentiellement de l'ordre de 32 MHz au moins et 5 avec une faible dérive en température. De ce fait, des bases de temps du type résonateurs quartz ou oscillateurs MEMS sont à privilégier. L'invention a également pour objet un procédé de calibration d'un dispositif détecteur 1 tel qu'évoqué ci-dessus, caractérisé en ce qu'il consiste à placer successivement une cible en fer et une cible en aluminium 10 à la distance de détection Sn souhaitée, acquérir une pluralité d'échantillons, préférentiellement au moins dix, du signal de réponse sinusoïdal fourni par le circuit de détection LC 2 du dispositif détecteur 1 après excitation impulsionnelle dudit circuit, avantageusement durant la phase descendante de la première alternance de la troisième période de ces deux signaux, et à 15 déterminer par comparaison, et éventuelle interpolation, les coordonnées (amplitude, temps) du point d'intersection des courbes représentatives des deux signaux de réponse correspondant au point "facteur 1". Un possible mode de réalisation pratique des différentes étapes du procédé précité est illustré sur la figure 9. 20 Bien entendu, l'invention n'est pas limitée au mode de réalisation décrit et représenté aux dessins annexés. Des modifications restent possibles, notamment du point de vue de la constitution des divers éléments ou par substitution d'équivalents techniques, sans sortir pour autant du domaine de protection de l'invention. REVENDICATIONS1. Dispositif détecteur (1) de proximité ou de présence, de types inductif et "facteur 1", comprenant essentiellement, d'une part, un circuit (2) résonnant LC alimenté par un générateur (3) d'impulsions d'excitation définissant des phases successives et répétitives de détection, d'autre part, 5 une chaîne opérationnelle de moyens (4, 5, 6) d'acquisition et de traitement du signal de réponse, sous forme d'oscillations libres, délivré par ledit circuit (2) de détection LC durant chaque phase de détection, comportant notamment un moyen d'échantillonnage (4) et un circuit (6) de conversion analogique numérique, et, enfin, un ensemble fonctionnel de moyens (7, 8) 10 d'évaluation, notamment par comparaison, d'au moins une valeur calée temporellement du signal traité et de fourniture d'une information ou d'un signal logique de détection ou de non détection, ledit dispositif (1) comprenant également une unité (9) de gestion et de commande, du type microcontrôleur, pour contrôler le fonctionnement dudit dispositif (1), 15 dispositif détecteur (1) caractérisé en ce que les moyens d'acquisition et de traitement comprennent, d'une part, des moyens (5) analogiques de filtrage et/ou d'amplification du signal de réponse échantillonné, après son acquisition et avant sa conversion numérique, et, d'autre part, un moyen (10) de compensation de la dérive en température du 20 signal de réponse par correction du signal échantillonné après sa conversion numérique, associé à ou comportant un capteur de température (10') fournissant une information sur la température d'au moins une partie du dispositif détecteur (1), préférentiellement du circuit (2) résonnant LC et des moyens (4, 5) d'acquisition et de traitement de la chaîne opérationnelle 25 situés en amont du circuit (6) de conversion A/N. 2. Dispositif détecteur selon la revendication 1, caractérisé en ce que la chaîne opérationnelle comporte, à la suite du moyen d'échantillonnage (4) sous la forme d'un échantillonneur-bloqueur, un moyen d'amplification (5) sous la forme d'un amplificateur différentiel, 30 associé à un moyen (5') de soustraction de la composante continue du signal présenté à l'entrée de l'amplificateur différentiel (5). 3. Dispositif détecteur selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce qu'il comprend également, en aval du circuit de détection (2) LC et en 3049068 - 12 - amont du moyen d'échantillonnage (4), un moyen de commutation (11) pour décharger sélectivement ledit circuit LC (2). 4. Dispositif détecteur selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que le moyen (10) de compensation 5 de la dérive en température consiste en une tâche logicielle exécutée par le microcontrôleur (9), à chaque phase de détection, avec exploitation, d'une part, de la valeur mesurée par le capteur de température (5') et, d'autre part, d'informations stockées résultant d'évaluations expérimentales antérieures et relatives à l'influence de la température sur le signal de détection, ces 10 informations stockées consistant en une fonction de compensation estimée ou en un tableau de correspondance par exemple. 5. Dispositif détecteur selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que la valeur de calage temporelle, qui est exploitée par le microcontrôleur (9) pour commander 15 l'échantillonneur bloqueur (4) et qui correspond au point "facteur 1", consiste en un couple [valeur d'amplitude ; temporisation après fin de l'impulsion d'excitation] déterminé expérimentalement par échantillonnage des signaux de réponse fournis par des cibles respectivement en fer et en aluminium placés à la distance de détection (Sn) souhaitée, ces signaux de 20 réponse étant relevés avec le dispositif détecteur (1) prêt à être utilisé. 6. Dispositif détecteur selon la revendication 5, caractérisé en ce que le point "facteur 1" choisi correspond à l'intersection des deux courbes des signaux de réponse des cibles en fer et en aluminium, sous forme de pseudo-oscillations sinusoïdales amorties, dans la phase 25 descendante de l'alternance positive de leur troisième période. 7. Procédé de calibration d'un dispositif détecteur selon l'une quelconque des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'il consiste à placer successivement une cible en fer et une cible en aluminium à la distance de détection (Sn) souhaitée, acquérir une pluralité d'échantillons, 30 préférentiellement au moins dix, du signal de réponse sinusoïdal fourni par le circuit de détection LC (2) du dispositif détecteur (1) après excitation impulsionnelle dudit circuit, avantageusement durant la phase descendante de la première alternance de la troisième période de ces deux signaux, et à déterminer par comparaison, et éventuelle interpolation, les coordonnées 35 (amplitude, temps) du point d'intersection des courbes représentatives des deux signaux de réponse correspondant au point "facteur 1".