FR 3044777 A1 20170609 FR 1561952 A 20151207 1 SYSTEME DE REGLAGE D'UN DISPOSITIF OPTIQUE DE FOCALISATION DANS UNE ENCEINTE CRYOSTATIQUE DOMAINE DE L'INVENTION La présente invention concerne le domaine de la microscopie optique à basse-température, c'est-à-dire typiquement à des températures comprises entre 50 et 300 Kelvin (K). ARRIERE PLAN DE L'INVENTION Un dispositif d'analyse par microscopie optique est un instrument d'optique comprenant typiquement : - une source de rayonnement électromagnétique pour éclairer un objet à analyser, - un porte-échantillon destiné à supporter l'objet, - un détecteur permettant de détecter le rayonnement ayant traversé l'objet. II peut être utilisé notamment en biologie, en métallurgie ou en métallographie. Dans le cadre d'une analyse à basse-température, l'objet doit être placé dans une enceinte cryostatique. Une enceinte cryostatique (cryostat) est un instrument permettant d'obtenir des températures cryogéniques par l'utilisation de l'inertie thermique d'un liquide très froid. Une enceinte cryostatique peut par exemple contenir, selon la température d'utilisation, de l'hélium ou de l'azote liquide. 3044777 2 Le dispositif d'analyse comprend alors, une enceinte cryostatique destinée à recevoir le porte-échantillon et disposée entre la source de rayonnement et le détecteur. L'enceinte comporte généralement : - une fenêtre d'entrée pour le passage d'un faisceau électromagnétique initial 5 généré par la source de rayonnement, et - une fenêtre de sortie pour le passage du faisceau électromagnétique final (transmis ou réfléchi) ayant illuminé l'objet. Pour focaliser le faisceau électromagnétique initial, il peut être nécessaire d'intégrer un 10 dispositif de focalisation - tel qu'une (ou plusieurs) lentille(s) - à proximité du porte- échantillon, c'est-à-dire dans l'enceinte cytostatique. Le réglage de la position de la position de l'objet par rapport au plan focal du dispositif de focalisation se fait alors selon la procédure suivante. Dans une première étape, le réglage de la position de l'objet par rapport au plan focal du dispositif de focalisation est réalisé « à l'air » en ouvrant l'enceinte cryostatique et en déplaçant l'objet (ou une lentille du dispositif de focalisation) le long du chemin optique du faisceau électromagnétique. Une fois l'objet correctement positionné par rapport au plan focal du dispositif de focalisation, l'enceinte cryostatique est refermée et une basse-température est générée dans celle-ci (mise à froid). 25 Or, la mise à froid influe sur la position du plan focal du dispositif de focalisation. Il est donc nécessaire de vérifier l'état de focalisation du dispositif de focalisation et de corriger la position de l'objet relativement au plan focal du dispositif de focalisation. L'enceinte cryostatique est donc ouverte à nouveau pour déplacer l'objet (ou le dispositif de focalisation) afin de tenir compte de l'influence de la température sur la position du plan focal du dispositif de focalisation. 15 20 3044777 3 Ces étapes sont itérées plusieurs fois jusqu'à obtention d'un réglage satisfaisant de la position de l'objet par rapport au plan focal. 5 Les étapes d'activation et de désactivation de la mise à froid étant longues, cette procédure peut durer entre un et trois jours. Cette procédure est donc fastidieuse et couteuse en temps. Un but de la présente invention est de proposer un système de réglage permettant de 10 faciliter l'ajustement de la position d'un objet relativement à un plan focal d'un dispositif de focalisation monté dans une enceinte cryostatique. BREVE DESCRIPTION DE L'INVENTION 15 A cet effet, l'invention propose un système de réglage d'une distance entre un porte-échantillon et une lentille d'un dispositif de focalisation, la lentille et le porte-échantillon étant disposés dans une enceinte cryostatique, remarquable en ce que le système de réglage comprend : 20 un premier organe destiné à être positionné à l'intérieur de l'enceinte cryostatique, le premier organe incluant une embase supportant le porte-échantillon et/ou la lentille, l'embase étant montée mobile en translation le long d'un axe longitudinal de l'enceinte cryostatique entre une première position extrême et une deuxième position extrême, la distance entre la lentille et le 25 porte-échantillon lorsque l'embase est dans la première position extrême étant inférieure à la distance entre la lentille et le porte-échantillon lorsque l'embase est dans la deuxième position extrême, un deuxième organe pour commander le déplacement de l'embase, le deuxième organe étant destiné à être positionné à l'extérieur de l'enceinte cryostatique. 30 3044777 4 Des aspects préférés mais non limitatif du système de réglage selon l'invention sont les suivants : - les premier et deuxième organes sont distants et incluent respectivement des 5 premiers et deuxièmes moyens de couplage sans contact permettant leur coopération ; - les premiers et deuxièmes moyens de couplage sont de type magnétique ; 10 - les deuxièmes moyens de couplage comprennent un levier de préhension mobile en rotation autour de l'axe longitudinal de l'enceinte, la mise en rotation du levier de préhension induisant le déplacement de l'embase entre les première et deuxième positions extrêmes ; 15 - avantageusement : o les premiers moyens de couplage comprennent au moins un premier aimant permanent et o les deuxièmes moyens de couplage comprennent au moins un deuxième aimant permanent, 20 les premier et deuxième aimants étant positionnés en regard l'un de l'autre et ayant des polarités opposées ; - avantageusement encore : o les premiers moyens de couplage comprennent une bague annulaire 25 fixée à l'une des extrémités de l'embase, ladite bague incluant une pluralité de premiers aimants permanents de polarités alternées à sa périphérie de sorte que deux premiers aimants permanents adjacents ont des polarités opposées, et o les deuxièmes moyens de couplage comprennent un disque incluant une 30 pluralité de deuxièmes aimants permanents de polarités alternées à sa 3044777 5 périphérie de sorte que deux deuxièmes aimants permanents adjacents ont des polarités opposées, la bague et le disque s'étendant en regard l'un de l'autre autour d'une paroi de l'enceinte et étant orienté de sorte que chaque premier aimant permanent fait 5 face à un deuxième aimant permanent de polarité opposée ; - les premiers moyens de couplage comprennent un filetage de vis ménagé sur la face latéral de l'embase et destiné à coopérer avec un filetage complémentaire ménagé sur une enveloppe creuse de l'enceinte ; 10 - le premier organe comprend au moins une butée pour limiter la course de l'embase ; L'invention concerne également une enceinte cryostatique pour l'analyse d'objet, ladite 15 enceinte incluant un porte-échantillon et une lentille d'un dispositif de focalisation, remarquable en ce qu'elle comprend en outre un système de réglage d'une distance entre la lentille et le porte-échantillon tel que décrit ci-dessus. 20 BREVE DESCRIPTION DES DESSINS D'autres avantages et caractéristiques du procédé selon l'invention et du produit associé ressortiront mieux de la description qui va suivre de plusieurs variantes d'exécution, données à titre d'exemples non limitatifs, à partir des dessins annexés sur 25 lesquels : - La figure 1 est une vue schématique d'un appareil d'analyse optique d'objet, - La figure 2 est une vue schématique d'un deuxième organe d'un système de réglage de l'appareil d'analyse illustré à la figure 1. 30 DESCRIPTION DETAILLEE DE L'INVENTION 3044777 6 On va maintenant décrire différents exemples de système de réglage selon l'invention en référence aux figures. Dans ces différentes figures, les éléments équivalents sont désignés par la même référence numérique. 5 Le système de réglage du dispositif de focalisation sera décrit en référence à un appareil d'analyse optique d'objet basé sur la technique d'analyse optique en transmission. Il est bien évident pour l'homme du métier que le système de réglage peut également 10 être utilisé avec d'autres types d'appareils d'analyse optique dans lesquels un dispositif de focalisation est intégré à une enceinte cryostatique, notamment les appareils d'analyse optique basés sur les techniques d'analyse optique en absorption et/ou émission. 15 En référence à la figure 1, on a illustré un appareil d'analyse optique d'objet basé sur la technique d'analyse en transmission. L'appareil comprend une source de rayonnement 1, une enceinte cryostatique 2, un dispositif de focalisation, un porte-échantillon 4, un détecteur 5 et un système de 20 réglage selon l'invention. 1. Source de rayonnement La source de rayonnement 1 permet de générer un faisceau électromagnétique destiné 25 à illuminer l'objet disposé sur le porte-échantillon. La source de rayonnement est un L.A.S.E.R. (acronyme de l'anglais « Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation », signifiant « amplification de la lumière par émission stimulée de rayonnement » en français), ou tout autre type de 30 dispositif connu de l'homme du métier et apte à produire un rayonnement spatialement et temporellement cohérent. 3044777 7 La source de rayonnement est de type connue en soit de l'homme du métier et ne sera pas décrite plus en détail dans la suite. 5 2. Enceinte cryostatique L'enceinte cryostatique 2 permet l'étude d'objets sous vide à basse-température en vue d'effectuer des analyses de spectroscopie optique, des mesures de micro-photoluminescence, ou encore toute autre étude d'objets en transmission, absorption 10 et/ou émission. L'enceinte cryostatique 2 est positionnée entre la source de rayonnement 1 et le détecteur 5. Elle s'étend longitudinalement le long du chemin optique du faisceau électromagnétique émis par la source de rayonnement 1. 15 L'enceinte cryostatique comporte un doigt froid entouré d'une enveloppe externe sous vide formée d'une pièce creuse réalisée d'un seul tenant. L'enveloppe externe est globalement cylindrique. Une première base 21 de l'enveloppe 20 positionnée en regard de la source de rayonnement 1 comporte une première fenêtre 23 transparente au rayonnement émis par ladite source de rayonnement 1. La deuxième base 22 de l'enveloppe en regard du détecteur 5 comporte une deuxième fenêtre 24 transparente au rayonnement émis par ladite source de rayonnement 1. 25 L'enveloppe externe comporte également un canal tubulaire 25 ménagé entre les première et deuxième fenêtres 23, 24 et s'étendant le long de l'axe longitudinal 26 de l'enceinte 2. Ce canal tubulaire 25 permet le passage du faisceau électromagnétique émis par la source de rayonnement 1 à travers l'enceinte cryostatique 2. 30 La face interne du canal tubulaire 25 comporte un filetage de vis 27 destiné à coopérer avec un filetage de vis 67 complémentaire ménagé sur une face externe d'un premier 3044777 8 organe 61 du système de réglage. Le système de réglage, qui sera décrit plus en détail dans la suite, comprend deux organes 61, 62 incluant chacun un conduit creux 65 coaxial au canal tubulaire 25 pour le passage du faisceau électromagnétique émis par la source de rayonnement 1. La constitution précise de l'enceinte cryostatique est classique dans ce genre d'appareil d'analyse et ne sera donc pas davantage décrite. 3. Dispositif de focalisation Le dispositif de focalisation permet de focaliser le faisceau électromagnétique issu de la source de rayonnement 1 en un point de focalisation désiré pour l'analyse. Le dispositif de focalisation peut comprendre une (ou plusieurs) lentille(s) et/ou un (ou 15 plusieurs) miroir(s). Par exemple, le dispositif de focalisation peut comprendre deux lentilles convergentes. Une première lentille est positionnée à proximité de la première base 21 de l'enveloppe externe (i.e. extrémité de l'enceinte cryostatique 2 la plus proche de la source de 20 rayonnement 1). La distance focale de la première lentille est choisie de sorte que le rayonnement électromagnétique pénétrant dans l'enceinte cryostatique 2 ne vienne pas en contact avec des parois internes du conduit creux 65 du système de réglage avant d'atteindre la deuxième lentille. Ceci permet d'améliorer la qualité du faisceau électromagnétique de sortie. Avantageusement, la première lentille peut remplacer la 25 première fenêtre 23 transparente au rayonnement émis par la source de rayonnement 1. Une deuxième lentille 3 est positionnée dans l'enceinte cryostatique 2, à proximité du porte-échantillon 4. Cette deuxième lentille 3 est avantageusement montée sur le 30 premier organe 61 du système de réglage. Ce premier organe 61 est monté mobile en translation à l'intérieur de l'enceinte 2. Ceci permet de faire varier la distance entre la 5 10 3044777 9 deuxième lentille 3 et le porte-échantillon 4 de sorte à ajuster la position du plan focal de la lentille à une position désirée pour l'analyse d'un objet. En variante, la deuxième lentille 3 peut être montée fixe à l'intérieur de l'enceinte 5 cryostatique 2, le porte-échantillon 4 étant fixé au premier organe 61 du système de réglage. Dans ce cas, c'est le déplacement D en translation du porte-échantillon 4 le long de l'axe longitudinal 26 qui permet de faire varier la distance entre l'objet à analyser et le plan focal du dispositif de focalisation. 10 Dans tous les cas, le premier organe 61 supporte soit la deuxième lentille 3, soit le porte échantillon 4. Ainsi, le déplacement D en translation du premier organe 61 entre des première et deuxième positions extrêmes le long de l'axe longitudinal 26 de l'enceinte cryostatique 2 permet le déplacement D de l'objet à analyser par rapport au plan focal du dispositif de focalisation. 15 4. Porte-échantillon Le porte-échantillon 4 est destiné à recevoir l'objet à étudier. Il permet d'assurer un positionnement précis de l'objet dans l'appareil d'analyse optique. Le porte-échantillon 4 est constitué dans un matériau transparent au rayonnement électromagnétique émis par la source de rayonnement 1, tel que du verre ou du quartz. Il s'étend perpendiculairement à l'axe du faisceau électromagnétique émis par la source de rayonnement. Le porte-échantillon 4 est de tout type connu par l'homme du métier et ne sera donc pas décrit plus en détails dans la suite. 5. Détecteur 20 25 30 3044777 10 Le détecteur 5 permet de détecter le faisceau électromagnétique ayant traversé l'objet à analyser. Le détecteur 5 est de type connue en soi et comprend classiquement un capteur de type CCD (acronyme de l'expression anglo-saxonne « Charged Coupled Device », ou « Dispositif à Transfert de Charge » en français). 5 Le détecteur 5 collecte les particules ayant traversées l'objet et génère un signal représentatif desdites particules collectées. Le signal provenant du détecteur 5 est typiquement traité pour créer une image de la 10 surface de l'objet. 6. Système de réglage 6.1. Généralités 15 Le système de réglage comprend deux organes distants : - un premier organe 61 destiné à être monté à l'intérieur de l'enceinte cryostatique 2, - un deuxième organe 62 destiné à être monté à l'extérieur de l'enceinte cryostatique 2. 20 Le deuxième organe 62 permet de commander le déplacement D du premier organe 61 de sorte à régler la position du porte-échantillon 4 relativement au plan focal du dispositif de focalisation lorsque la mise à froid de l'enceinte cryostatique 2 est activée. 25 En permettant un réglage depuis l'extérieur de la position du porte-échantillon 4 relativement au plan focal, il n'est plus nécessaire d'ouvrir l'enceinte cryostatique 2 pour déplacer le porte-échantillon 4 relativement au plan focal du dispositif de focalisation. Ceci permet de réduire la durée liée au réglage de l'appareil d'analyse optique. 30 6.2. Embase 3044777 11 En référence à la figure 1, le premier organe 61 comprend une embase mobile en translation le long de l'axe longitudinal 26 de l'enceinte cryostatique 2 entre des première et deuxième positions extrêmes. 5 L'embase forme support pour une lentille 3 du dispositif de focalisation et/ou pour le porte-échantillon 4. Le déplacement D de l'embase entre les première et deuxième positions extrêmes permet de faire varier la distance entre le porte-échantillon 4 et la lentille 3 de sorte à positionner le porte-échantillon 4 dans le plan focal du dispositif de 10 focalisation. Par exemple, dans un mode de réalisation, l'embase forme support pour la lentille 3, le porte-échantillon 4 étant monté fixe à l'intérieur de l'enceinte cryostatique 2. Dans ce cas, le déplacement D de l'embase vers la première position extrême permet de 15 rapprocher la lentille 3 du porte-échantillon 4, tandis que le déplacement D de l'embase vers la deuxième position extrême permet d'éloigner la lentille 3 du porte-échantillon 4. Dans un autre mode de réalisation, l'embase forme support pour le porte-échantillon 4, la lentille 3 étant montée fixe à l'intérieur de l'enceinte cryostatique 2. Dans ce cas, 20 le déplacement D de l'embase entre les première et deuxième positions extrêmes permet de déplacer le porte-échantillon 4 relativement à la lentille 3. Que l'embase supporte le porte-échantillon 4 et/ou la lentille 3, le déplacement D de l'embase entre les première et deuxième positions extrêmes permet de faire varier la 25 distance entre le porte-échantillon 4 et la lentille 3 pour positionner le porte-échantillon 4 dans le plan focal du dispositif de focalisation, la distance entre le porte-échantillon 4 et la lentille 3 lorsque l'embase est dans la première position extrême étant inférieure à la distance entre le porte-échantillon 4 et la lentille 3 lorsque l'embase est dans la deuxième position extrême. 30 6.3. Moyens de couplage 3044777 12 Les premier et deuxième organes 61, 62 comprennent respectivement des premiers et des deuxièmes moyens de couplage leur permettant de coopérer ensemble sans contact. 5 L'absence de contact mécanique permet d'éviter le transfert thermique entre l'enveloppe et le doigt froid de l'enceinte cryostatique. Par exemple, dans le mode de réalisation illustré à la figure 1, les moyens de couplage 10 sont de type magnétique. L'utilisation de moyens de couplage de type magnétique permet d'améliorer leur fiabilité, leur magnétisme étant insensible aux variations de température dans l'enceinte cryostatique 2. 15 6.3.1. Premiers moyens de couplage Les premiers moyens de couplage comprennent un filetage 67 ménagé sur la paroi externe de l'embase et destiné à coopérer avec le filetage 27 ménagé sur la face 20 interne du canal tubulaire 25. Ainsi, la variation de la distance entre le porte-échantillon 4 et la lentille 3 est obtenue en appliquant un mouvement hélicoïdal à l'embase. Le fait que le mouvement de l'embase soit hélicoïdal permet d'améliorer la fiabilité de l'appareil d'analyse en le 25 rendant moins sensible aux vibrations. Les premiers moyens de couplage comprennent également une bague annulaire 63 fixée à l'une des extrémités de l'embase (opposée à l'extrémité supportant le porte-échantillon et/ou la lentille). 30 3044777 13 La bague annulaire 63 comprend au moins un premier aimant permanent 64 destiné à coopérer avec les deuxièmes moyens de couplage de type magnétique. L'utilisation d'un aimant permanent permet de simplifier la fabrication des premiers moyens de couplage. 5 Dans un mode de réalisation, la bague annulaire comprend quatre premiers aimants permanents 64. Ces premiers aimants permanents 4 sont disposés à la périphérie de la bague annulaire 63. En écartant les aimants permanents 64 du centre de la bague annulaire 63, on limite les risques de perturbation du faisceau électromagnétique 10 généré par la source de rayonnement 1. Pour limiter encore les risques de perturbation du faisceau électromagnétique du fait des lignes de champs produites par les premiers aimants permanents 64, ceux-ci peuvent être disposés de sorte à alterner leurs polarités sur la bague 63. En d'autres 15 termes, les premiers aimants permanents 64 peuvent être disposés de sorte que deux premiers aimants permanents 64 adjacents aient des polarités opposées. Ainsi, les lignes de champs produites par un premier aimant permanent 64 (par exemple de polarité positive) sont compensées par les lignes de champs produites par un premier aimant permanent 64 adjacent (de polarité négative). 20 De préférence, les premiers moyens de couplage comprennent également une butée 66a, 66b pour limiter la course en translation de l'embase. Ceci permet de garantir que la force d'attraction magnétique entre les premiers et deuxièmes moyens de couplage reste suffisante pour qu'un déplacement du deuxième organe induise un déplacement 25 D du premier organe. En d'autres termes, on garantit ainsi que la distance entre les premiers et deuxièmes moyens de couplage reste inférieure à une distance critique au-delà de laquelle les forces d'adhérences magnétiques entre les premiers et deuxièmes moyens de couplage sont insuffisantes pour assurer la coopération entre les premier et deuxième organes 61, 62. 30 1.1.1. Deuxièmes moyens de couplage 3044777 14 En référence à la figure 1, les deuxièmes moyens de couplage peuvent comprendre un levier de préhension 68 mobile en rotation autour de l'axe longitudinal 26 de l'enceinte 2, la mise en rotation du levier de préhension 68 induisant le déplacement D 5 de l'embase entre les première et deuxième positions extrêmes. Ceci permet de limiter les risques de déplacement de l'enceinte 2 par rapport à la source de rayonnement 1 lors du réglage de la distance entre le porte-échantillon 4 et la lentille 3 du dispositif de focalisation. 10 Les deuxièmes moyens de couplage comprennent également un disque 69 fixé à l'une des extrémités du levier de préhension 68. Ce disque 69 peut comprendre un (ou plusieurs) deuxième(s) aimant(s) permanent(s) 70, chaque deuxième aimant permanent 70 étant associé à un premier aimant permanent 64 respectif de polarité 15 opposée. La présence d'une pluralité de deuxièmes aimants permanents 70 associés à une pluralité de premiers aimants permanents 64 permet de renforcer l'adhérence magnétique entre les premier et deuxième organes 61, 62. 20 Comme illustré à la figure 1, le disque 69 et le levier de préhension 68 comporte une ouverture cylindrique 71 s'étendant le long d'un axe de révolution du levier de préhension 68. 25 Le principe de fonctionnement du système de réglage est le suivant. Lorsque l'objet à analyser a été positionné sur le porte-échantillon 4, l'enceinte cryostatique 2 est fermée, et la mise à froid activée. Le levier de préhension 68 et le disque 69 sont positionnés sur la première base 21 de 30 l'enveloppe externe de l'enceinte 2. Le couplage magnétique entre les premiers et deuxièmes aimants permanents 64, 70 de polarités opposées induit l'adhérence du 3044777 15 deuxième organe 62 sur l'enceinte cryostatique 2. La position du deuxième organe 62 sur l'enceinte 2 est ajustée de sorte que le conduit 65 de l'embase soit coaxial à l'ouverture cylindrique 71 traversant le levier 68 et le disque 69. Ainsi, le canal tubulaire 25, le conduit 65 et l'ouverture cylindrique 71 s'étendent le long d'un unique axe 26 5 passant par les première et deuxième fenêtres 23, 24. L'enceinte 2 est ensuite positionnée entre la source 1 et le détecteur 5. Plus précisément, la première base 21 de l'enceinte 2 est positionnée en regard de la source 1 et la deuxième base 22 de l'enceinte 2 est positionnée en regard du détecteur 5. Les positions relatives du détecteur 5, de la source 1 et de l'enceinte 2 sont ensuite ajustées de sorte que le chemin de passage du faisceau électromagnétique soit confondu avec l'axe unique 26 passant par le canal tubulaire 25, le conduit 65 et l'ouverture cylindrique 71. Une fois les différents éléments de l'appareil d'analyse correctement alignés, le deuxième organe 62 est déplacé en rotation en utilisant le levier de préhension 68. Le pivotement du deuxième organe 62 autour de l'axe unique 26 induit une mise en mouvement hélicoïdale de l'embase. L'embase est ainsi déplacée en translation entre les première et deuxième positions extrêmes jusqu'à l'obtention d'un réglage désiré de la distance entre le porte-échantillon 4 et le plan focal du dispositif de focalisation. 25 Le lecteur aura compris que de nombreuses modifications peuvent être apportées à l'invention décrite précédemment sans sortir matériellement des nouveaux enseignements et des avantages décrits ici. Par conséquent, toutes les modifications de ce type sont destinées à être incorporées à l'intérieur de la portée des revendications jointes. 10 15 20 30 REVENDICATIONS1. Système de réglage d'une distance entre un porte-échantillon (4) et une lentille (3) d'un dispositif de focalisation, la lentille (3) et le porte-échantillon (4) étant disposés dans une enceinte cryostatique (2), caractérisé en ce que le système de réglage comprend : o un premier organe destiné à être positionné à l'intérieur de l'enceinte cryostatique (2), le premier organe incluant une embase supportant le porte-échantillon (4) et/ou la lentille (3), l'embase étant montée mobile en translation le long d'un axe longitudinal (26) de l'enceinte cryostatique (2) entre une première position extrême et une deuxième position extrême, la distance entre la lentille (3) et le porte-échantillon (4) lorsque l'embase est dans la première position extrême étant inférieure à la distance entre la lentille (3) et le porte-échantillon (4) lorsque l'embase est dans la deuxième position extrême, o un deuxième organe pour commander le déplacement (D) de l'embase, le deuxième organe étant destiné à être positionné à l'extérieur de l'enceinte cryostatique (2). 2. Système de réglage selon la revendication 1, dans lequel les premier et deuxième organes (61, 62) sont distants et incluent respectivement des premiers et deuxièmes moyens de couplage sans contact permettant leur coopération. 3. Système de réglage selon la revendication 2, dans lequel les premiers et deuxièmes moyens de couplage sont de type magnétique. 4. Système de réglage selon l'une quelconque des revendications 2 ou 3, dans lequel les deuxièmes moyens de couplage comprennent un levier de préhension (68) mobile en rotation autour de l'axe longitudinal de l'enceinte (2), la mise en 3044777 17 rotation du levier de préhension (68) induisant le déplacement (D) de l'embase entre les première et deuxième positions extrêmes. 5. Système de réglage selon l'une quelconque des revendications 2 à 4, dans 5 lequel : o les premiers moyens de couplage comprennent au moins un premier aimant permanent (64) et o les deuxièmes moyens de couplage comprennent au moins un deuxième aimant permanent (70), 10 les premier et deuxième aimants étant positionnés en regard l'un de l'autre et ayant des polarités opposées. 6. Système de réglage selon l'une quelconque des revendications 2 à 5, dans lequel : 15 o les premiers moyens de couplage comprennent une bague annulaire (63) fixée à l'une des extrémités de l'embase, ladite bague (63) incluant une pluralité de premiers aimants permanents (64) de polarités alternées à sa périphérie de sorte que deux premiers aimants permanents adjacents ont des polarités opposées, et 20 o les deuxièmes moyens de couplage comprennent un disque (69) incluant une pluralité de deuxièmes aimants permanents (70) de polarités alternées à sa périphérie de sorte que deux deuxièmes aimants permanents adjacents ont des polarités opposées, la bague (63) et le disque (69) s'étendant en regard l'un de l'autre autour 25 d'une paroi (21) de l'enceinte (2) et étant orienté de sorte que chaque premier aimant permanent (64) fait face à un deuxième aimant permanent (70) de polarité opposée. 7. Système de réglage selon l'une quelconque des revendications 2 à 6, dans 30 lequel les premiers moyens de couplage comprennent un filetage de vis (67) 3044777 18 ménagé sur la face latéral de l'embase et destiné à coopérer avec un filetage (27) complémentaire ménagé sur une enveloppe creuse de l'enceinte (2). 8. Système de réglage selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans 5 lequel le premier organe comprend au moins une butée (66a, 66b) pour limiter la course de l'embase. 9. Enceinte cryostatique pour l'analyse d'objet, ladite enceinte (2) incluant un porte-échantillon (4) et une lentille (3) d'un dispositif de focalisation, 10 caractérisée en ce qu'elle comprend en outre un système de réglage d'une distance entre la lentille (3) et le porte-échantillon (4) selon l'une quelconque des revendications précédentes.