FR 3042285 A1 20170414 FR 1559646 A 20151009 1 Procédé de correction d'un spectre Description DOMAINE TECHNIQUE Le domaine technique de l'invention est le traitement de spectres d'un rayonnement transmis par un objet, ce dernier étant irradié par une source de rayonnement ionisant, en particulier un rayonnement X. L'objectif de l'invention est d'obtenir une pluralité de spectres à l'aide d'un détecteur pixellisé, et d'effectuer une correction de tout ou partie des spectres, de façon à limiter l'influence d'une composante représentative d'un rayonnement diffusé. Les applications se trouvent dans l'imagerie médicale ou dans le contrôle non destructif. ART ANTERIEUR Le contrôle d'objets par rayonnement X, dans le domaine médical ou industriel, est très répandu. Les procédés existants consistent à disposer un objet entre une source de rayonnement et un détecteur, puis à irradier l'objet à l'aide de la source. Le détecteur forme alors une image, généralement en deux dimensions, du rayonnement transmis par l'objet. Cette image est représentative de l'atténuation, par l'objet, du rayonnement émis par la source. Le rayonnement transmis par l'objet comporte généralement une composante résultant de la diffusion, par l'objet, du rayonnement émis par la source. Elle est d'autant plus significative que l'énergie du rayonnement est faible et/ou que l'objet est constitué de matériaux dont le numéro atomique est élevé. Cette composante, appelée communément rayonnement de diffusion, perturbe l'interprétation des images, car elle n'est qu'indirectement liée à l'atténuation par l'objet. De plus, alors que le rayonnement non diffusé, dit rayonnement primaire, se propage entre la source et le détecteur selon une trajectoire rectiligne, le rayonnement diffusé a pour origine un point quelconque de l'objet, et sa trajectoire, depuis ce point origine, est distribuée selon différents angles. On recherche donc à estimer cette composante de diffusion, de façon à l'extraire du signal mesuré par le détecteur, préalablement au traitement des images en vue de leur interprétation. De nombreuses méthodes ont été développées pour tenter d'estimer et de réduire la part du rayonnement diffusé dans ces images, de façon à obtenir une image essentiellement représentative du rayonnement non diffusé, dit rayonnement primaire, se propageant entre la source et l'objet selon une direction rectiligne. 3042285 2 Par exemple, la publication Zhu L, « Scatter Correction Method for X-ray CT Using Primary Modulation : Theory and Preliminary Results », IEEE Transactions on Medical Imaging, Vol. 25, N° 12, dec 2006, décrit un procédé consistant à interposer un masque amovible, prenant la forme d'une grille, entre une source de rayons X et un objet. Cette publication est basée sur le 5 fait qu'un tel masque engendre une modulation spatiale significative du rayonnement primaire, dans des fréquences spatiales élevées, tandis que son influence sur le rayonnement diffusé, dans les fréquences spatiales faibles, est moins importante. Ainsi, dans un espace fréquentiel, il est possible d'établir une discrimination entre le rayonnement primaire et le rayonnement diffusé. Par ailleurs, la publication Ning R,«X-ray Scatter Correction Algorithm for Cone Beam CT- 10 Imaging », Med.Phys. 31 (5), May 2004, décrit également un procédé consistant à interposer un masque amovible entre une source de rayons X et un objet. Le masque permet une atténuation telle que lorsqu'il est disposé entre la source et l'objet, le rayonnement mesuré par le détecteur est considéré comme représentatif du seul rayonnement diffusé. Autrement dit, ce masque permet une atténuation, considérée comme totale, du rayonnement primaire. 15 Les détecteurs actuels permettent l'obtention d'images en deux dimensions dont la qualité ne cesse de s'améliorer. Une évolution récente est l'apparition de détecteurs permettant l'acquisition d'images spectrales, c'est-à-dire d'images selon différentes bandes d'énergie. Ces détecteurs, fréquemment basés sur des détecteurs semi-conducteurs ayant une fonction spectrométrique, ajoutent une dimension spectrale aux données acquises, ces dernières étant 20 généralement obtenues selon deux dimensions. Il est alors possible d'obtenir une image du rayonnement transmis par l'objet selon différentes bandes d'énergie. Or, les méthodes précitées ne concernent pas l'imagerie spectrale. Les inventeurs proposent une solution alternative, basée sur l'imagerie spectrale, permettant une correction efficace du rayonnement détecté par le détecteur, de façon à en extraire le rayonnement primaire, et cela 25 simultanément dans plusieurs bandes d'énergie. Les essais présentés à la fin de la description témoignent de l'efficacité de la méthode. EXPOSE DE L'INVENTION L'invention est un procédé de correction d'un spectre d'un rayonnement électromagnétique ionisant transmis par un objet, 30 l'objet étant disposé entre une source d'irradiation et un détecteur, la source d'irradiation étant apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident, vers ledit objet ; 3042285 3 le détecteur (20) comportant des pixels, chaque pixel étant apte à détecter un rayonnement transmis par l'objet vers le détecteur, et à en acquérir un spectre, le rayonnement transmis comportant un rayonnement de diffusion, causé par la diffusion du rayonnement incident dans l'objet, et un rayonnement primaire, 5 le procédé comportant les étapes suivantes : a) interposition d'un masque entre la source et l'objet, et acquisition, par plusieurs pixel, d'un premier spectre d'un premier rayonnement transmis par l'objet, ledit masque comportant des éléments absorbants, aptes à absorber une partie dudit rayonnement incident, et dont une projection sur le détecteur définit un premier groupe de pixels ; 10 b) obtention, pour chaque pixel du premier groupe de pixels, d'un deuxième spectre d'un deuxième rayonnement transmis par l'objet sur le détecteur, en l'absence dudit masque ; c) comparaison, pour chaque pixel dudit premier groupe de pixels, du premier spectre et du deuxième spectre, de façon à obtenir un spectre de comparaison; 15 d) pour chaque pixel du premier groupe de pixels, application d'une matrice de passage, préalablement établie, audit spectre de comparaison, pour obtenir une estimation d'un spectre dit primaire, représentant le rayonnement primaire transmis par l'objet audit pixel, et estimation d'un spectre de diffusion, représentatif du rayonnement de diffusion transmis par l'objet ; 20 e) pour tout ou partie des pixels du détecteur, à partir de chaque spectre de diffusion estimé lors de l'étape d), correction du deuxième spectre ou du premier spectre, de façon à obtenir un spectre corrigé. Pour chaque pixel du détecteur, le spectre corrigé constitue alors une estimation du spectre d'un rayonnement primaire transmis par l'objet. Il représente plus fidèlement les propriétés 25 d'atténuation du rayonnement ionisant par l'objet. L'étape e) peut comporter : préalablement à ladite correction, une estimation d'un spectre de diffusion pour l'ensemble des pixels du détecteur. pour chaque pixel, une soustraction dudit spectre de diffusion estimé audit deuxième 30 spectre ou audit premier spectre. 3042285 4 L'étape e) peut comporter : pour chaque pixel du premier groupe, une correction du deuxième spectre, obtenu lors de l'étape b) en lui soustrayant le spectre de diffusion estimé lors de l'étape d) ; pour les pixels n'appartenant pas au premier groupe, une correction du deuxième 5 spectre, obtenu lors de l'étape b) ou du premier spectre, obtenu lors de l'étape a) par uns soustraction du spectre de diffusion estimé lors de l'étape d). Selon un mode de réalisation, lors de l'étape b), pour chaque pixel du premier groupe, le deuxième spectre est obtenu : - soit par une acquisition dudit deuxième spectre par ledit pixel ; 10 - soit par une estimation sur la base d'au moins un premier spectre acquis par au moins un pixel n'appartenant pas audit premier groupe. Selon un mode de réalisation : l'étape a) est mise en oeuvre dans une pluralité de configurations, à chaque configuration étant associée une position du détecteur et de la source par rapport à 15 l'objet, de façon à obtenir, à chaque configuration, et pour chaque pixel, un premier spectre, à chaque configuration étant également associé un premier groupe de pixel ; l'étape b) comporte, pour tout ou partie des pixels du premier groupe associé à une configuration, une détermination d'un deuxième spectre à partir d'un premier spectre obtenu selon une autre configuration. Ainsi, pour certains pixels du détecteur, le 20 premier spectre peut être obtenu selon une configuration, et le deuxième spectre peut être obtenu selon une autre configuration, cette dernière étant différente de celle selon laquelle ledit premier spectre est obtenu. Cela évite d'utiliser un masque amovible. On tire alors profit que des pixels appartiennent à un premier groupe de pixel selon une configuration, et n'appartiennent pas au premier groupe de 25 pixel associé à ladite autre configuration, et sont alors directement exposés à la source de rayonnement. Le rayonnement qu'ils reçoivent, selon cette autre configuration, est considéré comme représentatif du rayonnement qu'ils recevraient, dans ladite configuration, en l'absence du masque. Selon ce mode de réalisation, à chaque configuration est associé un paramètre, qu'au moins un 30 deuxième spectre selon une configuration associée à un premier paramètre est obtenu à partir d'un premier spectre obtenu selon une autre configuration associée à un deuxième paramètre, 3042285 5 différent du premier paramètre. Ce paramètre peut être angle d'inclinaison de la source et/ou du détecteur par rapport à l'objet. Selon un mode de réalisation, dit mode de réalisation tomographique, les étapes a) à e) sont mise en oeuvre selon une pluralité de configurations, à chaque configuration étant associée une 5 position du détecteur et de la source par rapport à l'objet, de façon à obtenir, dans chaque configuration, pour une pluralité de pixels, un spectre corrigé, les spectres corrigés de chaque configuration étant utilisés pour réaliser une reconstruction tomographique de l'objet. Cela permet d'appliquer l'invention à une reconstruction tomographique Quel que soit le mode de réalisation, les étapes a) et e) peuvent être complétées par les étapes 10 suivantes : f) sélection d'au moins une plage d'énergie ; g) réalisation d'une image, dont chaque pixel comprend une donnée obtenue à partir d'un spectre corrigé associé à un pixel du détecteur, dans ladite plage d'énergie. Lors de cette étape g), chaque pixel de l'image peut comporter une information relative à une 15 intégrale ou à une moyenne dudit spectre corrigé dans ladite plage d'énergie. Il peut également s'agir d'une médiane ou d'un autre indicateur statistique du spectre corrigé dans ladite plage d'énergie, exprimant, relatif à une quantité de photons détectés dans ladite plage d'énergie. Quel que soit le mode de réalisation, le procédé peut comprendre l'une des caractéristiques suivantes, prises isolément ou en combinaison : 20 lors de l'étape d), l'estimation dudit spectre primaire comprend le produit matriciel de ladite matrice de passage par chaque spectre de comparaison ; lors de l'étape c), le spectre de comparaison est obtenu, pour chaque pixel, en réalisant une soustraction du premier spectre et du deuxième spectre ; chaque élément absorbant est apte à absorber entre 5% et 80% du rayonnement auquel 25 il est exposé, et de préférence moins de 60%, voire 40%, voire 30% de ce rayonnement ; le masque définit un facteur de remplissage, correspondant à un ratio entre la surface occupée par l'ensemble des éléments absorbants constituant le masque sur la surface selon laquelle s'étend le masque, ainsi qu'une atténuation globale, correspondant à un produit dudit facteur de remplissage par un pourcentage de rayonnement incident 30 absorbé par le masque, l'atténuation globale du masque étant de préférence comprise entre 1 et 20%, et de préférence entre 1 et 10%; 3042285 6 - chaque élément absorbant du masque est distant d'un autre élément absorbant d'une distance inférieure à 1 cm, et est de préférence compris entre 1 mm et 5 mm ; - l'espacement entre deux éléments absorbants adjacents, projetés sur le détecteur, est compris entre 1 et 10 cm, et de préférence inférieur à 5 cm ou 3 cm ; 5 - le masque est interposé entre la source et l'objet ; - la matrice de passage est obtenue en réalisant une pluralité de mesures dites de calibration, chaque mesure de calibration étant effectuée en interposant un matériau de nature et d'épaisseur connue, dit matériau de calibration, entre la source d'irradiation et le détecteur. De préférence, la matrice de passage est obtenue en 10 utilisant différents matériaux de calibration, de nature ou d'épaisseur différentes ; - le détecteur est un détecteur matriciel bidimensionnel ; - le détecteur est un détecteur semi-conducteur. Un autre objet de l'invention est un support d'enregistrement d'informations, comportant des instructions pour l'exécution d'un procédé tel que décrit dans cette demande, ces instructions 15 étant aptes à être exécutées par un microprocesseur. Un autre objet de l'invention est un dispositif pour la réalisation d'images d'un objet comportant : une source d'irradiation, apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident, vers ledit objet ; 20 un détecteur comportant des pixels, chaque pixel étant apte à détecter un rayonnement transmis par l'objet vers le détecteur, et à en acquérir un spectre ; - un masque, apte à être interposé entre la source et l'objet, ledit masque comportant des éléments absorbants, aptes à absorber une partie dudit rayonnement incident, et dont une projection sur le détecteur définit un premier groupe de pixels ; 25 - un processeur, apte recevoir des spectres détectés par chaque pixel, et à mettre en oeuvre le procédé décrit dans cette demande. L'invention sera mieux comprise par les exemples de réalisation décrits ci-après, lesquels se basent sur les figures suivantes. FIGURES 30 Les figures 1A et 1B représentent un dispositif permettant la mise en oeuvre de l'invention. La figure 1C représente un masque équipant le dispositif, également dessiné sur la figure 1A. 3042285 7 La figure 2A représente une matrice de réponse du détecteur. Les figures 2B et 2C représentent respectivement une ligne et une colonne de cette matrice de réponse. La figure 3 représente les principales étapes d'un mode de réalisation de l'invention. La figure 4A représente une matrice de passage mise en oeuvre dans l'invention. La figure 4B 5 représente une colonne de cette matrice de passage. La figure 4C représente les étapes d'un procédé permettant l'obtention de cette matrice de passage. Les figures 5A et 5B représentent un mode de réalisation de l'invention adapté à une reconstruction tomographique d'un objet. Les figures 6A, 6B, et 6C représentent des résultats de modélisations simulant une image d'un 10 objet, chaque image étant basée sur des spectres mesurés par les pixels d'un détecteur, ces spectres représentant respectivement le rayonnement total, le rayonnement primaire et l'estimation du rayonnement primaire selon l'invention. La figure 6D représente un profil horizontal de chacune des figures 6A, 6B et 6C. Les figures 7A, 7B, 7C et 7D représentent des spectres du rayonnement total, du rayonnement primaire ainsi que du rayonnement primaire 15 estimé selon l'invention, mesurés par différents pixels du détecteur. Les figures 8A, 8B et 8C représentent des modélisations d'une reconstruction tomographique, dans différentes plages d'énergies, la reconstruction tomographique étant respectivement réalisée sur la base du rayonnement total, du rayonnement primaire et de l'estimation du rayonnement primaire selon l'invention. 20 EXPOSE DE MODES DE REALISATION PARTICULIERS La figure 1 représente un mode de réalisation d'un dispositif 1 mettant en oeuvre un procédé selon l'invention. Une source d'irradiation 11 émet un rayonnement électromagnétique ionisant /13, dit rayonnement incident, vers un objet 10. L'objet 10 est disposé entre la source d'irradiation 11 25 et un détecteur de rayonnement 20. Le détecteur de rayonnement est un détecteur comprenant des pixels 201,E agencés selon un plan, dit plan de détection P. Les indices i,j désignent les coordonnées de chaque pixel dans le plan de détection. Les pixels peuvent s'étendre selon une ligne mais en général, ils s'étendent selon une matrice régulière bidimensionnelle. L'objet 10 peut être un tissu biologique vivant, par exemple une partie du corps d'un animal ou 30 d'un être humain. Le dispositif est alors un dispositif d'imagerie médicale. L'objet peut également être une pièce industrielle ou un bagage, le dispositif étant alors utilisé à des fins de 3042285 8 contrôle non destructif. Dans cet exemple, l'objet est une partie d'un corps humain, comportant une matrice 100, deux poumons 101, 102, une colonne vertébrale 103, une vertèbre 104, des cotes 105 ainsi que des tumeurs, 107, 108 et 109 Le terme rayonnement électromagnétique ionisant désigne un rayonnement 5 électromagnétique constitué de photons d'énergie supérieure à 1 keV, et de préférence inférieure à 5 MeV. La plage d'énergie du rayonnement ionisant peut être comprise entre 1 keV et 2 MeV, mais elle s'étend le plus souvent entre 1 keV et 150 keV ou 300 keV. Le rayonnement ionisant peut être un rayonnement X ou y. De préférence, la source de rayonnement ionisant est poly-énergétique, le rayonnement incident étant émis selon une plage d'énergie s'étendant 10 généralement selon plusieurs dizaines voire centaines de keV. Il s'agit notamment d'un tube émetteur de rayons X. Une partie des photons, constituant le rayonnement incident /0, traversent l'objet et atteignent le détecteur 20, sans interagir avec l'objet. Ces photons forment une composante primaire, ou rayonnement primaire I. D'autres photons constituant le rayonnement incident /0 sont 15 absorbés dans l'objet, par exemple par effet photoélectrique. Enfin, certains photons subissent une interaction de diffusion dans l'échantillon, de type diffusion inélastique Compton ou diffusion élastique Rayleigh. La diffusion, qu'elle soit inélastique ou élastique, engendre un changement de la direction du photon. Ainsi, l'objet 10 irradié par la source 11 transmet au détecteur 20 un rayonnement I , dit 20 rayonnement transmis, comportant : une composante directe, ou rayonnement primaire, /P, n'ayant pas interagi avec l'objet, et dont la trajectoire depuis la source est rectiligne ; une composante de diffusion /diff, , ou rayonnement de diffusion, due à une diffusion du rayonnement incident dans l'objet. 25 Le rayonnement transmis I par l'objet atteint les pixels du détecteur 20, chaque pixel détectant une partie de ce rayonnement. Le rayonnement transmis par l'objet et détecté par un pixel 201,E est noté I. Comme évoqué en relation avec l'art antérieur, le rayonnement de diffusion /diff perturbe l'interprétation des mesures. En effet, contrairement au rayonnement primaire /P, le 30 rayonnement de diffusion se propage depuis l'objet vers le détecteur, selon une direction variable. Ainsi, une partie du rayonnement collecté par chaque pixel 201,i du détecteur ne 3042285 9 provient non pas directement de la source de rayonnement 11, mais résulte du phénomène de diffusion. Or, l'interprétation des images est basée sur l'atténuation du rayonnement incident par le détecteur, cette dernière étant obtenue par un ratio, sur une plage d'énergie donnée, entre l'intensité du rayonnement primaire /P sur l'intensité du rayonnement incident /13. Une 5 bonne interprétation des images suppose la connaissance de l'intensité du rayonnement primaire /P, alors que le rayonnement I transmis par l'objet, et mesuré par le détecteur, comporte une somme dudit rayonnement primaire /P et du rayonnement diffusé Idiff Chaque pixel 201,E constitue un détecteur de rayonnement, comportant : un matériau détecteur, apte à interagir avec les photons du rayonnement I transmis 10 par l'objet, ce matériau étant de type scintillateur ou, de préférence, un matériau semi- conducteur compatible avec une utilisation à la température ambiante, de type CdTe, CdZnTe ; un circuit électronique, apte à générer un signal dont l'amplitude dépend, et est de préférence proportionnelle, à l'énergie déposée par chaque photon interagissant dans 15 le matériau détecteur ; un circuit de spectrométrie, apte à établir un spectre, noté Sii en énergie des signaux détectés pendant une période temporelle, dite période d'acquisition. Ainsi, lorsque les pixels sont disposés régulièrement selon un agencement matriciel, chaque pixel est apte à produire un spectre Sii du rayonnement transmis par l'objet. Le détecteur est 20 alors apte à former plusieurs images, chaque image représentant un contenu de chaque spectre dans une plage d'énergie LE déterminée. Typiquement, chaque image comporte l'intégrale ou la valeur moyenne de chaque spectre SKI dans ladite bande d'énergie. On parle alors d'imagerie spectrale, puisque le détecteur est à la fois résolu spatialement et spectralement. Aussi, sous l'effet de l'irradiation par le rayonnement incident /0, l'objet 10 transmet un 25 rayonnement I , dit rayonnement transmis, vers un détecteur spectrométrique pixellisé 20, dont chaque pixel 2013 est apte détecter ledit rayonnement transmis I et à former un spectre en énergie Sii du rayonnement ILS ainsi détecté. Le terme spectre en énergie correspond à un histogramme de l'amplitude des signaux détectés au cours d'une période d'acquisition du spectre. Une relation entre l'amplitude A et l'énergie E 30 peut être obtenue par une fonction d'étalonnage en énergie g telle que E = g(A), selon des 3042285 10 principes connus de l'homme du métier. Un spectre d'énergie Sij est donc un vecteur, dont chaque terme SQ (n) représente une quantité de rayonnement détecté par le pixel 201,E dans une plage d'énergie E +-aE, avec dE étant la largeur spectrale de chaque canal. 2 Chaque spectre en énergie Sii peut être considéré comme une somme d'un spectre du 5P diff, rayonnement primaire, note Si et d'un spectre du rayonnement de diffusion Sij , à un terme de bruit près. Aussi, SijS.+ S. (1). Le signe signifie une égalité à un terme de bruit P diff près, ce bruit pouvant notamment résulter du détecteur ou d'effets dits d'empilement, se produisant lorsque deux photons incidents sont détectés simultanément. Un objectif de l'invention est de corriger le spectre mesuré par chaque pixel, de façon à réduire 10 la composante de diffusion Sidjiff et d'établir un spectre corrigé Sij tel que Sïj Autrement dit, le spectre corrigé S;1 correspond à une estimation Sii"jdu spectre du rayonnement primaire atteignant le pixel 201i : SKI = STJ. Le dispositif comporte également un masque 15, disposé entre la source 11 et le détecteur 20 et dans cet exemple, entre la source 11 et l'objet 10, ce qui constitue la configuration préférée. 15 Ce masque comporte des éléments absorbants 15, répartis spatialement selon une surface 15s selon laquelle s'étend le masque. Chaque élement absorbant est apte à absorber partiellement une partie du rayonnement incident P3 produit par la source d'irradiation. Les éléments absorbants sont répartis discrètement, de telle sorte que l'espace entre deux éléments absorbants adjacents est moins absorbant que lesdits éléments absorbants. Autrement dit, les 20 éléments absorbants définissent une répartition spatiale discrète de coefficients d'atténuation att15, att15 de telle sorte qu'entre deux éléments absorbants adjacents 15,, 15,' le coefficient d'atténuation att15 est inférieur au coefficient d'atténuation att15, att15 associé à chaque élément absorbant. Le terme coefficient d'atténuation est connu de l'homme du métier. Il peut être exprimé selon 25 l'expression att15(E) = I° (E) (E) où I°(E) désigne une intensité, à une énergie E, d'un rayonnement incident P3 à un l'élément absorbant 15, et lx(E) désigne une intensité, à ladite énergie E d'un rayonnement I' transmis par l'élément absorbant 15, D'une façon générale, l'interposition du masque entre la source et le détecteur ne doit pas modifier significativement le rayonnement de diffusion parvenant au détecteur, par rapport à 30 une configuration sans masque. Aussi, de préférence, chaque élément absorbant présente un 3042285 11 coefficient d'atténuation, tel que précédemment défini, compris entre 0.05 et 1.5, à une des énergies de la plage d'énergie selon laquelle est émis le rayonnement incident P3, ou à l'énergie moyenne de cette plage d'énergie. Ainsi, en négligeant la diffusion, chaque élément absorbant absorbe, de préférence, entre 5 % et 80% du rayonnement incident P3 produit par la source 5 et/ou traversant le masque dans l'espace s'étendant entre les éléments absorbants du masque. De préférence, le coefficient d'atténuation est inférieur à 1 voire inférieur à 0.5 et de préférence inférieur à 0.3. Ainsi, chaque élément absorbant absorbe respectivement moins de 60 %, ou moins de 40%, et de préférence moins de 30% du rayonnement produit par la source, ou du rayonnement passant entre les éléments absorbants du masque. En dessous d'un coefficient 10 d'atténuation égal à 0.05, correspondant à une atténuation de 5% du rayonnement produit par la source, les inventeurs considèrent que l'atténuation n'est pas suffisante. Autrement dit, le masque 15 permet donc établir un contraste d'atténuation, entre les éléments absorbants 15, et l'espace s'étendant entre lesdits éléments absorbant, ces derniers absorbant entre 5% et 30%, voire 40%, voire davantage du rayonnement traversant ledit espace. 15 En complément ou alternativement, on peut définir une atténuation globale du masque 15 sous la forme d'un produit d'un facteur de remplissage par le pourcentage du rayonnement incident absorbé par le masque, ce dernier étant déterminé à une énergie de la plage d'énergie du rayonnement incident P3 émis par la source d'irradiation 11, ou à une énergie moyenne de cette plage. Le facteur de remplissage correspond à un ratio entre la surface du masque occupée par 20 l'ensemble des éléments absorbants 15, et la surface totale du masque. L'atténuation globale du masque, ainsi définie, est de préférence supérieure à 1% et inférieure à 10%. Ainsi, un masque satisfaisant à cette condition peut avoir un facteur de remplissage égal à 0.08, chaque élément 15, du masque absorbant 10% du rayonnement incident, ce qui donne une atténuation globale du masque, telle que précédemment définie, égale à 0.08 (8%). 25 Chaque élément absorbant peut avoir une forme quelconque mais au moins une dimension, dans une direction de la surface 15s selon lequel il s'étend, est inférieure à 5 mm, et de préférence inférieure à 2 mm voire à 1 mm. Dans l'ensemble des modes de réalisation précédemment décrits, le masque s'étend de préférence selon un plan XY parallèle à un plan selon lequel s'étendent les pixels du détecteur. 30 L'espacement entre deux éléments absorbants adjacents, au niveau du masque, peut être inférieur à 5 mm, et est de préférence compris entre 1 mm et 5 mm. D'une façon générale, l'espacement entre deux éléments absorbants adjacents, après projection sur le détecteur (20), 3042285 12 est avantageusement compris entre 1 et 10 cm, et de préférence inférieur à 5 cm ou à 3 cm. Comme décrit par la suite, la projection de chaque élément absorbant 15, sur le détecteur définit une zone d'ombre élémentaire. Chaque zone d'ombre élémentaire s'étend autour d'un point central. Avantageusement, l'espacement entre les points centraux de deux zones d'ombre 5 élémentaires adjacentes est compris entre 1 et 10 cm, et de préférence compris entre 1cm et 5 cm. Par projection, on entend une projection selon la direction de propagation du rayonnement émis par la source. Un exemple de masque est représenté sur la figure 1C. Chaque élément absorbant 15, est un plot parallélépipédique, dont l'aire, selon la surface 15s selon laquelle s'étend le masque, est de 10 1 mm * 1 mm, l'espacement entre le centre de chaque élément 15, étant respectivement de 3 mm selon une première direction Y et 2.2 mm selon une deuxième direction X perpendiculaire à la première direction. Dans cet exemple, le matériau constituant le masque est de l'Aluminium, et son épaisseur est de 2 mm, ce qui correspond à un coefficient d'atténuation de 0.9 à 100 keV, ce qui conduit à atténuer 10% du rayonnement incident. L'épaisseur s'entend selon une 15 direction perpendiculaire à la surface selon laquelle s'étend le masque. D'une façon générale, le masque est réalisé selon un matériau suffisamment absorbant pour atténuer une portion suffisante du rayonnement primaire. On évite toutefois les matériaux trop denses, de type métaux lourds, par exemple le plomb, susceptibles de produire une diffusion significative du rayonnement incident avant que ce dernier n'atteigne l'objet. Parmi les matériaux préférés 20 composant le masque, on peut citer l'aluminium, le cuivre, le graphite, le bore. D'autres géométries sont envisageables, en considérant par exemple un espacement non régulier entre les différents éléments absorbants, ou une géométrie non régulière de chaque élément absorbant. Un masque en forme de grille, définissant des mailles, est également possible, les éléments absorbants étant disposés entre chaque maille. 25 La surface 15s selon laquelle s'étend le masque, entre chaque élément absorbant, est de préférence constituée d'un matériau considéré comme transparent à l'égard des photons, dans la plage d'énergie considérée. Il peut s'agir d'une fine épaisseur d'un plastique, d'un papier ou d'un métal léger, de type aluminium, fer, cuivre, ou un espace laissé libre et occupé par de l'air. Ainsi, entre chaque élément absorbant 15,, le coefficient d'atténuation, tel que précédemment 30 défini, est de préférence inférieur à 0.5, voire à 0.2 ou encore 0.1. De préférence, entre chaque élément absorbant, le coefficient d'atténuation est négligeable. 3042285 13 Le nombre d'éléments absorbants est dimensionné de façon à couvrir le champ d'observation du détecteur. Dans l'exemple décrit, les éléments absorbants sont répartis selon une matrice de 17 par 3 éléments, soit un total de 51 éléments. Le masque peut être amovible ou fixe. Le fait de disposer d'un masque amovible permet la 5 réalisation d'acquisitions de spectre sans le masque, comme cela est représenté sur la figure 1B. Lorsque le masque est interposé entre la source et le détecteur, sa projection, sur le détecteur, selon la direction de propagation du rayonnement incident P3, définit une zone d'ombre, rassemblant les pixels du détecteur 201 alignés par rapport à chaque élément absorbant 15,, selon ladite direction de propagation. Plus précisément, comme précédemment évoqué, la 10 projection de chaque élément absorbant 15,, selon la direction de propagation du rayonnement incident, forme une zone d'ombre élémentaire sur le détecteur. L'ensemble des zones d'ombre élémentaires constitue ladite zone d'ombre. Les pixels de la zone d'ombre constituent un premier groupe de pixel, noté G1. Ce premier groupe G1 peut être déterminé préalablement soit par calcul, soit expérimentalement, sans objet entre la source et le détecteur. Les pixels 20 jeG1 15 n'appartenant pas à ce premier groupe reçoivent un rayonnement non atténué par les éléments absorbants 15,, tandis que chaque pixel 20ijeG1 appartenant à ce premier groupe reçoit un rayonnement atténué par un élément absorbant 15,, ce dernier étant situé sur une ligne s'étendant entre ledit pixel et la source d'irradiation 11. Le dispositif comprend également une unité de calcul, ou processeur 21, par exemple un 20 microprocesseur, est apte à traiter chaque spectre S11 mesuré par les pixels du détecteur. En particulier, le processeur est un microprocesseur relié à une mémoire programmable 22 dans laquelle est stockée une séquence d'instructions pour effectuer les opérations de traitement de spectres et de calculs décrites dans cette description. Ces instructions peuvent être sauvegardées sur un support d'enregistrement, lisible par le processeur, de type disque dur, 25 CDROM ou autre type de mémoire. Le processeur peut être relié à une unité d'affichage 24, par exemple un écran. Le détecteur peut être caractérisé par une matrice de réponse D du détecteur, représentant les imperfections de la détection. Cette matrice, de taille N x N, N désignant le nombre de canaux de chaque spectre formé par le détecteur, est représentée sur la figure 2A. Dans cet exemple, 30 N = 150, mais de façon générale, le nombre de canaux est supérieur à 2, voire supérieur à 10, et peut atteindre plusieurs milliers. Chaque terme D(u, v) de cette matrice représente une 3042285 14 probabilité qu'un photon incident au détecteur, d'énergie v, soit considéré par le détecteur comme ayant une énergie u. Autrement dit, chaque ligne D(u,.) de la matrice, telle que celle représentée sur la figure 2B, correspond à une distribution de probabilité de l'énergie v d'un photon atteignant le détecteur 5 lorsqu'un photon d'énergie u est détecté. La figure 2B représente la ligne 70 de la matrice D.De façon analogue, chaque colonne D(., v) de la matrice, telle que celle représentée sur la figure 2C, représente une distribution de probabilité de l'énergie détectée u par le détecteur lorsque le photon atteignant le détecteur a une énergie v. La figure 2B représente la colonne 70 de la matrice D. Plus résolution en énergie du détecteur est fine, plus cette matrice tend vers une 10 matrice diagonale. Dans le cas d'un détecteur parfait, la matrice D est la matrice identité. On va à présent décrire les principales étapes d'un procédé selon un premier mode de réalisation de l'invention, en lien avec la figure 3. Étape 100 : acquisition d'un premier spectre. Le masque 15 est interposé entre la source 11 et le détecteur 20. Chaque pixel 20Q est exposé à un rayonnement /1, dit premier rayonnement, 15 transmis par l'objet en présence du masque, et en acquiert un spectre, dit premier spectre, ej. Les pixels 20i,j, G1, situés dans le prolongement des éléments absorbants 15,, appartiennent au premier groupe G1 et détectent un rayonnement atténué par rapport aux autres pixels 20Qe G1. Le premier spectre acquis par les pixels du premier groupe est noté Sb EGi. Le premier spectre acquis par les pixels n'appartenant pas au premier groupe est noté Sb e 20 Étape 110 : obtention, pour chaque pixel 20i,j, G1 du premier groupe G1, d'un deuxième spectre SÏJEG1 représentatif d'un deuxième rayonnement /2 transmis par l'objet sans masque interposé entre la source et l'objet. Ce deuxième spectre peut être obtenu expérimentalement, selon la configuration représentée sur la figure 1B, le masque 15 étant retiré. Ce deuxième spectre peut également être obtenu par une estimation, à partir des premiers spectres ej e G1 n'appartenant 25 pas au premier groupe G1, et recevant un rayonnement non atténué par les éléments absorbants. Cette estimation peut être réalisée par interpolation, par exemple une interpolation linéaire ou polynomiale. Elle permet d'estimer le deuxième spectre ej, Gireçu par les pixels du premier groupe, en l'absence de masque, sans avoir à réaliser une mesure expérimentale. Selon un autre mode de réalisation, détaillé ultérieurement, en lien avec les figures 5A et 5B, à 30 chaque mesure correspond une configuration de mesure C, représentative de la position du détecteur et/ou de la source vis-à-vis de l'objet. Cette configuration de mesure C évolue entre 3042285 15 deux mesures successives. Le deuxième spectre S'ic,Gtcreçu par un pixel du premier groupe le détecteur, selon une configuration C, peut être estimé à partir d'un premier spectre Sil-f e' 4 GLU' réalisé lors d'une autre configuration dans laquelle ledit pixel n'est pas dans le prolongement d'un élément absorbant et n'appartient pas, dans cette autre configuration, au premier groupe 5 Ce cas de figure est exposé plus en détail ultérieurement, lors de la description des figures 5A et 5B. Étape 120: pour chaque pixel 20i, j, G1 du premier groupe G1, détermination d'un spectre dit de comparaison ASii e Gy obtenu par une comparaison, pour le même pixel, entre le premier iS G (2). spectre S!-JEGi et le deuxième spectre S? 1j E G;J. Par exemple, la comparaison est une 10 soustraction, auquel cas ASiJe = Par soustraction de spectres, il est E Gi - entendu une soustraction du contenu de chaque canal, de type soustraction vectorielle. Étape 130: estimation d'un spectre dit primaire .§"i2jPe G1 pour chaque pixel du premier groupe, sans masque disposé entre ledit pixel et la source. Un tel spectre représente la composante primaire du deuxième spectre SÏJEGi atteignant un pixel du premier groupe G1. Cette 15 estimation est réalisée, pour chaque pixel de ce groupe, en considérant le spectre de comparaison ASiJE G1 déterminé lors de l'étape 120, par le biais du produit matriciel : .ei'79e G1 = M X ASiJE Gi (3) M est une matrice de passage, préalablement déterminée, établissant un lien entre le spectre de comparaison, déterminé lors de l'étape 120, et une estimation --S-26PE Gi de la composante 20 primaire du rayonnement j2 atteignant le pixel 20i,j, Gi du premier groupe en l'absence de masque. Cette estimation constitue un aspect important de l'invention. Elle trouve son origine en explicitant les spectres S!-JEGi, SÏJEGimesurés par un pixel 20i,j, Gi du premier groupe respectivement avec et sans masque. Elle se base sur une hypothèse selon laquelle l'évolution diff 25 spectre du rayonnement diffusé avec ou sans masque, est négligeable. Sa validité est donc conditionnée par l'utilisation d'un masque absorbant et peu diffusant tel que précédemment décrit. En se basant sur l'expression (1), S!-JEGi peut être exprimé selon la forme : 3042285 16 E 1,1 E = S jci« eifGf G1 (4), Silie G1 et Si l j d eifGf1 représentant respectivement les spectres directs et de diffusion du spectre ejEGi. e-attio-arris Si P = D x (s° ) (5) où : D désigne la matrice de réponse du détecteur, E Gl précédemment décrite, S° désigne le spectre du rayonnement incident 10, att10 et anis 5 désignent respectivement l'atténuation du rayonnement atteignant le pixel 20Q dans l'objet 10 et dans le masque 15 à chaque énergie du spectre. att10 = >q 1q 11q , et anis = itsxlitsx où /g désigne la longueur parcourue dans chaque élément 10q de l'objet 10, 1.4/ désigne un vecteur de coefficients d'atténuation linéaire, à chaque énergie du spectre, de chaque élément 10q, 115x désigne la longueur parcourue dans l'élément absorbant 15x conjugué au pixel 20Q et gis., 10 désigne un vecteur de coefficient d'atténuation linéaire à chaque énergie du spectre. x désigne le produit matriciel et o désigne le produit de Hadamard. Un coefficient d'atténuation linéaire /tg répond à la définition suivante : /q,uq(E) = -In[-11:q((EE))1, 1°4 et Ig désignant respectivement le rayonnement incident et transmis par un élément 10q de l'objet d'épaisseur /g. Un tel coefficient d'atténuation linéaire, connu de l'homme du métier, dépend de l'énergie et des 15 matériaux constituant l'élément 10q. c. = 2. p c2diff (6), attio^ '74j E E E (6), avec S2 P = D x (s° e- E ) (7) car le spectre SÏJEGi correspond à une acquisition sans écran atténuateur 15. Il vient donc :? attio) D x (s° AS G1 e-attio-arris) (g) - = S- - = D x (s° e- e t,j E E 2diff cldiff- 20 car par hypothèse, SiJE Gi - E Gl« Donc E = D x [(1 - e-attis) o (so o e-attio)1 (9), 1 est un vecteur ne comportant que des 1. d'où ASii E = D x [(1 - e-attls) 0 S P G1](10) donc ASi E G1 = D xwSi2PEGi (12) 25 avec w = _ e-attis) (13). On peut constituer une matrice, noté W-1 carrée, de dimension N par N, les termes de cette matrice n'étant pas situés sur la diagonale étant nuls, et chaque terme n de la diagonal ayant 3042285 17 pour valeur W-1(n, n) =(1_ e- attis(n)) (14) où att15(n) désigne l'atténuation de l'écran 15 à , l'énergie correspondant au canal de rang n. L'indice n désigne le rang d'un canal du spectre, ce qui peut être assimilé à une valeur d'énergie E. L'atténuation correspond à l'épaisseur d'un élément absorbant multipliée par le coefficient d'atténuation linéaire du matériau constituant 5 le matériau absorbant. Ainsi, selon les expressions (13) et (14), ayant déterminé, pour un pixel 20i jeG1, le spectre de comparaison 1Sl,jÉG1, on peut estimer le spectre primaire SgjpGi à l'aide de la matrice de réponse du détecteur D et de la matrice W-lpréalablement définie, selon l'expression : = D x W-1 x D-1 x ASi Je Gi (15) 10 Cette expression peut être réécrite de la façon suivante : 2 p M ASL4 E G1 ce qui correspond à l'expression (3) précédemment écrite. Où M est une matrice de passage, telle que M = D x W-1 x D-1 (17) La matrice de passage M, élaborée à partir de la matrice D de réponse du détecteur et d'une matrice prenant en compte l'atténuation du masque 15, permet d'estimer le spectre primaire i2,JPE G 15 d'un rayonnement atteignant, sans atténuation, un pixel 20i,j, Gidu premier groupe, à partir d'une comparaison (ASi Je Gi) entre les spectres respectivement déterminés avec (Sb E G1) entre ces deux spectres. L'utilisation de cette matrice de passage est un élément important de l'invention car elle permet de remonter analytiquement à une estimation du spectre primaire 20 sans atténuation à partir du spectre de comparaison ASij La matrice de passage M peut être déterminée analytiquement mais les inventeurs ont proposé une méthode permettant de l'estimer expérimentalement, décrite ci-après. Étape 140 : estimation du spectre diffusé SidifiGi pour chaque pixel 20i,j, G1 du premier groupe. Le spectre Si2jPe. G1 étant estimé pour chaque pixel 20i3, G1 du premier groupe, à partir de M et 25 de ASijE G1 , il est possible d'estimer le spectre de diffusion affectant chaque pixel 20i,j, G1 de 2 diffèldiff = diff = sï j E -Si j E 2 p ce groupe, en utilisant (6) : SiJEG1 - ij e G1 E G1 et sans atténuation (SÏJEG1). Dans cet exemple, la comparaison est une différence (18). 3042285 18 Étape 150 : estimation du spectre diffusé e.iff pour chaque pixel 20Q du détecteur. Ayant estimé le spectre de diffusion de chaque pixel 20i, je Gi du premier groupe, on se base sur une hypothèse selon laquelle l'évolution spatiale du rayonnement diffusé est de basse fréquence. Autrement dit, les fluctuations du spectre du rayonnement diffusé d'un pixel à un autre pixel 5 voisin n'évolue pas de façon brutale. On peut alors estimer le spectre de diffusion Sdkffde ^dif f l'ensemble des pixels du détecteur par interpolation des spectres diffusés Siie Gicles pixels du premier groupe Gi. Pour les pixels n'étant pas dans le premier groupe, le spectre de diffusion est naturellement le même avec et sans masque, puisque ces pixels ne subissent pas l'atténuation du masque. 10 Préalablement à l'interpolation, on peut effectuer certains prétraitements optionnels. Soient 20i, kles pixels disposés à l'ombre d'un même élément absorbant 15k. Ces pixels forment un noyau k dont un pixel 20k , dit pixel central du noyau k, constitue le centre. On peut estimer un iff spectre de diffusion S k d représentatif de ce noyau et l'attribuer au pixel central. Ce spectre représentatif du noyau k est tel que S kdiff = Ck E20 -ekSd~ff(19), où Ck désigne le nombre iff 15 de pixels du noyau k. Le spectre S k d représente une moyenne des estimations des spectres de diffusion des pixels du noyau k. L'interpolation peut être réalisée en considérant chaque spectre -diff S k représentatif de chaque noyau k. Un autre prétraitement optionnel consiste à une mise à l'échelle de chaque spectre ff di S k représentatif de chaque noyau k, en se basant sur une hypothèse selon laquelle le spectre 20 de diffusion atteignant l'ensemble des pixels du détecteur a la même forme, c'est-à-dire est similaire d'un pixel à un autre. Cette hypothèse se justifie d'autant plus que la surface du détecteur est petite, typiquement quelques cm2 ou moins. Cette mise à l'échelle consiste à iff appliquer un scalaire akm, à chaque canal n d'un spectre de diffusion S k d représentatif d'un noyau k, ce scalaire étant déterminé selon l'expression : 1 x-,k=K dif f (70) - g di" ( 2 (n) (20) 25 = argmin [a (-K 2,k=1 k a iff K représente le nombre de de noyaux k. On peut alors ajuster le spectre S k d représentatif de iff= la diffusion dans chaque noyau k selon de manière à obtenir un spectre ajusté, noté S k d avec, pour chaque canal n, S kiff (n) = ak,n Lk=1 vk=K kiff (n) (21). k 3042285 19 Les pixels du détecteur étant agencés selon deux dimensions XY, l'interpolation se fait, selon les dif f dif f variantes utilisées, sur la base des spectres Sii , S k ou S k dans une direction X, puis dans l'autre direction Y, ou, simultanément, dans les deux directions X et Y. L'interpolation est réalisée canal d'énergie par canal d'énergie. Elle peut être polynomiale. Dans l'exemple 5 considéré, le détecteur comprend 64 * 640 pixels. L'interpolation est réalisée selon un polynôme d'ordre 4 selon chaque ligne de 640 pixels, puis selon un polynôme d'ordre 2 selon chaque colonne de 64 pixels. Etape 160 : correction du deuxième spectre Sïj (ou du premier spectre S!-1, pour les pixels n'appartenant pas au premier groupe) pour tout ou partie des pixels 201i du détecteur, de façon 10 à obtenir un spectre corrigé Sil, représentatif du spectre du rayonnement primaire transmis par l'objet. Autrement dit, si SPii désigne le spectre d'un rayonnement primaire transmis par l'objet sur le pixel 201,1, S;1 = Cette étape se fait simplement, par une soustraction, pour chaque pixel 201,1, de l'estimation "d du spectre diffusé Siit" au deuxième spectre (ou au premier spectre pour les pixels 15 n'appartenant pas au premier groupe). Ainsi, pour les pixels 20i,1, G1 du premier groupe : =SP = Sil - "(22) et pour les pixels 201ie G1 n'appartenant pas au premier groupe : SÏ1 = = SÏJ - Seii" = s!-J - Sflii"(22') 20 On obtient alors, pour chaque pixel du détecteur, un spectre Si*j représentant une estimation du spectre du rayonnement primaire transmis par l'objet. On peut alors obtenir une image Im(E) représentant l'intensité du rayonnement primaire détecté par chaque pixel, et cela à une ou une pluralité de d'énergies (E), d'où la désignation d'image spectrale. C'est sur la base de cette image spectrale que la mesure est interprétée. 25 Dans le cas d'une reconstruction tomographique, le procédé est mis en oeuvre dans différentes configurations C, telles que précédemment décrites, à chaque configuration correspondant une ou une pluralité d'images spectrales Ire (E), sur la base desquelles la reconstruction tomographique est réalisée. 3042285 20 Quel que soit le mode de réalisation, différents canaux E peuvent être regroupés pour constituer des bandes spectrales AE. On peut alors obtenir une image Im(AE) pour chacune de ces bandes spectrales. Etablissement de la matrice de passage. 5 Un des éléments clefs de l'invention est la matrice de passage M utilisée lors de l'étape 130. Cette matrice peut être obtenue par calcul, selon l'expression (17). Cependant, les inventeurs ont estimé qu'il est préférable d'établir la matrice de passage de façon expérimentale. Chaque ligne M(c, n) de la matrice M peut être considérée comme une fonction induisant une déformation de part et d'autre du terme diagonal M(c, c), ce dernier étant tel que M(c, c) = i 10 (1- e-attism). (25) Ainsi, chaque terme de la ligne M(c, n) peut être explicité selon l'expression : M(c, n) - (1_ e-a1tti, ( 0) x f(c, n, ai ... ap)(26), où f est une fonction de déformation et cri...ap étant des paramètres de la fonction de déformation f. L'établissement de la matrice de passage nécessite la définition d'une expression analytique de 15 la fonction de déformation f. Pour cela, on effectue des simulations selon différentes configurations de calibration, chaque configuration de calibration Calib correspondant à un matériau de nature et d'épaisseur connue. Ces configurations constituent une base de calibrage. Pour chaque configuration de calibration Calib, on effectue les étapes suivantes, décrites en relation avec la figure 4C, en considérant une pluralité de pixels du détecteur appartenant au 20 premier groupe Gi. : Étape 90 sélection d'une forme analytique de la fonction f, paramétrée par un ensemble de paramètres (cri...ap) ; Étape 92 pour chaque configuration de calibration Calib, détermination, par simulation, Cal, . d'un spectre du rayonnement primaire S i ieibG p , 25 Étape 94 : pour chaque configuration, détermination, par simulation ou mesure, d'un spectre du rayonnement atteignant le détecteur avec et sans masque, et calcul d'un spectre de comparaison A.Si.121, représentant une différence entre ces deux spectres ; Étape 96 : En utilisant les spectres siciaEliGbf correspondant aux différentes configurations de calibration, détermination de l'ensemble de paramètres (cri...ap) selon l'expression : 3042285 21 Calib,p (a1 ap) = argmin tp( SiJE , SijEcl (ai.-ap) où S« alib p Calibp « « est une estimation du spectre primaire obtenue en mettant 1,1 E G S , 1,1 E en oeuvre la matrice de passage M, paramétrée par les paramètres (a1 ap) 5 selon l'expression : = M x OSA QÉ`Gl et tp est une fonction représentative d'une erreur, entre l'ensemble des Calib,p ^Calib,p spectres SiJeGi et leurs estimations SiJeGi respectives obtenues à l'aide de la matrice de passage M, cette dernière étant paramétrée par les paramètres (a1 ap). Il peut s'agir d'une fonction de type erreur 10 quadratique. Étape 98 : obtention de la matrice M en utilisant la fonction f dont les paramètres ont été déterminés lors de l'étape 96, et en utilisant l'expression (26). Autres modes de réalisation Selon un mode de réalisation, détaillé en lien avec les figures 5A et 5B, la position du détecteur 15 et/ou de la source vis-à-vis de l'objet évolue entre deux mesures consécutives. Aussi, à chaque mesure correspond une configuration C, chaque configuration étant caractérisée par une position relative du détecteur 20 et/ou de la source 11 par rapport à l'objet 10, comme précédemment défini. Chaque configuration est caractérisée par un paramètre Pc, ce dernier représentant la position du détecteur et/ou de la source par rapport à l'objet. Ce paramètre 20 peut être un scalaire ou un vecteur. Sur les exemples représentés sur les figures 5A et 5B, la source est fixe par rapport au détecteur et l'ensemble constitué par la source et le détecteur tourne autour de l'objet, selon un axe Y perpendiculaire au plan XZ, selon un angle 0 par rapport à une position initiale. Cet angle constitue le paramètre de chaque configuration de mesure Pc. Dans une première configuration C, représentée sur la figure 5A, 0 = O. Le pixel 201 est masqué 25 par un élément absorbant 15, du masque 15. Dans une deuxième configuration C', représentée sur la figure 5B, 0 = > O. Le pixel 201 n'est pas masqué par le masque 15. Dans un tel mode de réalisation, pour le pixel 1, le premier spectre Site est obtenu selon la configuration C représentée sur la figure 5A, tandis que le deuxième spectre S/2'ccorrespond au premier spectre Sil'ciobtenu selon la configuration C'. Autrement dit, S/2'c = Ce mode de réalisation 30 permet de conserver un masque fixe entre la source et l'objet, le deuxième spectre Si2j'c d'un 3042285 22 pixel 2013 étant obtenu lors de la mesure du premier spectre Ste,de la configuration C'. Lors de la première configuration C, le pixel 2013 appartient au premier groupe Gi,c, tandis que lors de la deuxième configuration C', ce pixel n'appartient pas au premier groupe Gi,c, De préférence, ces deux configurations sont suffisamment comparables pour que le spectre 5 mesuré par le pixel 201, dans la deuxième configuration, soit représentatif du rayonnement, sans masque, lors de la première configuration. Ainsi, de préférence, les paramètres P et P' respectivement associé aux configurations C et C' sont voisins. Par voisin, il est entendu que leur écart relatif n'excède pas un seuil prédéterminé, par exemple 10 ou 20%. Selon un mode de réalisation, le procédé est mis en oeuvre selon une pluralité de configurations 10 C, à chaque configuration étant associée une position du détecteur et de la source par rapport à l'objet, de façon à obtenir, dans chaque configuration, pour une pluralité de pixels, un spectre corrigé Si*f.Les spectres corrigés Si*J'c associés à chaque configuration Si*J'c sont utilisés pour réaliser une reconstruction tomographique de l'objet 10. Chaque configuration peut être paramétrée par un paramètre Pc = Oc , représentant un angle formé par l'ensemble source- 15 détecteur et l'objet. La reconstruction vise notamment à reconstruire la forme des éléments 10q constituant l'objet, ainsi que leur coefficient d'atténuation linéaire u.q ou tout autre coefficient exprimant une atténuation. Elle est réalisée en mettant en oeuvre des algorithmes d'inversion connus, sur la base des images spectrales //Tic (E) correspondant à chaque énergie E , chaque image 20 représentant une quantité de rayonnement à ladite d'énergie, cette quantité étant obtenue d'après les spectres corrigés Si*f. L'utilisation de ces spectres corrigés permet d'améliorer significativement la qualité de la reconstruction tomographique, comme décrit dans les exemples qui suivent. Préalablement à la reconstruction, on peut procéder à un regroupement de spectres dans des 25 bandes spectrales AE, typiquement de quelques dizaines de keV, afin de constituer des spectres SL (AE) dans chacune de ces bandes spectrales, et d'obtenir des images spectrales /mc (AE) correspondant à des bandes spectrales. Exemples On va à présent décrire des exemples de réalisations de l'invention, basés sur des simulations 30 réalisées par code de calcul, selon une application en radiographie et une application en 3042285 23 tomographie. Préalablement, on décrit un exemple d'établissement d'une matrice de passage M. Comme décrit en lien avec la figure 4C, une matrice de passage est déterminée à l'aide d'une base de calibrage, comportant un ou plusieurs matériaux. Dans cet exemple, on considère 2 5 matériaux (eau et aluminium), les épaisseurs considérées étant : pour l'aluminium, entre 0 et 0.2 cm selon un pas de 0.1 cm ; pour l'eau, entre 0 et 20 cm, selon un pas de 0.5 cm. La forme analytique de la fonction f est choisie de telle sorte que : (n- c) 2 pour n c, f (c, n, a1, a2) = 0.9e 24 + 0.1e -a2n (30) (n- c) 2 10 - pour n REVENDICATIONS1. Procédé de correction d'un spectre d'un rayonnement électromagnétique ionisant transmis par un objet (10), l'objet étant disposé entre une source d'irradiation (11) et un détecteur (20), la source d'irradiation étant apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident (I°), vers ledit objet ; le détecteur (20) comportant des pixels (20ii), chaque pixel étant apte à détecter un rayonnement transmis par l'objet (10) vers le détecteur, et à en acquérir un spectre (Sii), le rayonnement transmis comportant un rayonnement de diffusion (Idiff ), causé par la diffusion du rayonnement incident dans l'objet (10), et un rayonnement primaire (/P) ; le procédé comportant les étapes suivantes : a) interposition d'un masque (15) entre la source (11) et l'objet (10), et acquisition, par plusieurs pixel (20ii), d'un premier spectre (S!-1) d'un premier rayonnement (V-) transmis par l'objet, ledit masque comportant des éléments absorbants (15,), aptes à absorber une partie dudit rayonnement incident (I°), et dont une projection sur le détecteur définit un premier groupe de pixels (G1); b) obtention, pour chaque pixel du premier groupe de pixels (G1), d'un deuxième spectre (SÏJE Gi) d'un deuxième rayonnement (12) transmis par l'objet sur le détecteur, en l'absence dudit masque ; c) comparaison, pour chaque pixel dudit premier groupe de pixels (G1), du premier spectre (S!JE Gi) et du deuxième spectre (SÏJE Gi), de façon à obtenir un spectre de comparaison (ASij E G1); d) pour chaque pixel du premier groupe de pixels (G1), application d'une matrice de passage (M), préalablement établie, audit spectre de comparaison (ASiJE Gi), pour obtenir une estimation d'un spectre dit primaire jPE Gi) représentant le rayonnement primaire transmis par l'objet audit pixel, et estimation d'un spectre de - d diffusion (S..i ff ) représentatif du rayonnement de diffusion transmis par l'objet ; E e) pour tout ou partie des pixels (20Q) du détecteur (20), à partir de chaque spectre de diffusion (-diff ) estimé lors de l'étape d), correction du deuxième spectre (Si,J) ou du premier spectre (e1), de façon à obtenir un spectre corrigé (Si* j). 3042285 30 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel l'étape e) comporte, préalablement à ladite correction, une estimation d'un spectre de diffusion (.idij.") pour l'ensemble des pixels du détecteur. 3. Procédé selon la revendication 1 ou la revendication 2, dans lequel l'étape e) comporte, pour 5 chaque pixel, une soustraction dudit spectre de diffusion estimé (.dr. ) audit deuxième spectre (ej) ou audit premier spectre (Sb). 4. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel, lors de l'étape b), pour chaque pixel du premier groupe (G1), le deuxième spectre (eje G1) est obtenu : - soit par une acquisition dudit deuxième spectre par ledit pixel ; 10 - soit par une estimation sur la base d'au moins un premier spectre (Sb e G1) acquis par au moins un pixel n'appartenant pas audit premier groupe. 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel : - l'étape a) est mise en oeuvre dans une pluralité de configurations (C), à chaque configuration étant associée une position du détecteur et de la source par rapport à 15 l'objet, de façon à obtenir, à chaque configuration, et pour chaque pixel, un premier spectre (Silj'c), à chaque configuration étant également associé un premier groupe de pixel (Gf) ; - l'étape b) comporte, pour tout ou partie des pixels du premier groupe (Gf) associé à une configuration (C), une détermination d'un deuxième spectre (Sir) à partir d'un 20 premier spectre (Sil'ic') obtenu selon une autre configuration (C'). 6. Procédé selon la revendication 5, dans lequel à chaque configuration (C) est associé un paramètre (Pu), de telle sorte qu'au moins un deuxième spectre (Sil) selon une configuration (C) associée à un premier paramètre (Pu) est obtenu à partir d'un premier spectre (Sil'ic') obtenu selon une autre configuration (C') associée à un deuxième paramètre (Pu,), différent du premier 25 paramètre. 7. Procédé selon la revendication 6, dans lequel ledit paramètre (Pu) est un angle d'inclinaison (Oc) de la source (11) et/ou du détecteur (20) par rapport à l'objet (10). 3042285 31 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lors de l'étape d), l'estimation dudit spectre primaire comprend le produit matriciel de ladite matrice de passage (M) par chaque spectre de comparaison (ASiJe 9. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel chaque élément 5 absorbant (15,) est apte à absorber entre 5 % et 80 % du rayonnement auquel il est exposé. 10. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel, le masque (15) s'étendant selon une surface, chaque élément absorbant est distant d'un autre élément absorbant d'une distance inférieure à 1 cm. 11. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel les étapes a) à 10 e) sont mise en oeuvre selon une pluralité de configurations (C), à chaque configuration étant associée une position du détecteur et de la source par rapport à l'objet, de façon à obtenir, dans * c chaque configuration, pour une pluralité de pixels, un spectre corrigé (Sii' ), les spectres corrigés de chaque configuration étant utilisés pour réaliser une reconstruction tomographique de l'objet (10). 15 12. Procédé selon l'une quelconque 1 à 11, dans lequel les étapes a) à e) sont complétées par les étapes suivantes : f) sélection d'au moins une énergie (E) ou une plage d'énergie (iE); g) réalisation d'une image (Im(AE), Im(E)), dont chaque pixel comprend une donnée obtenue à partir d'un spectre corrigé (SKI), associé à un pixel (20i3) du détecteur, à 20 ladite énergie (E) ou dans ladite plage d'énergie (iE). 13. Procédé selon la revendication 12, dans lequel lors de l'étape g) chaque pixel de l'image comporte une information relative à une intégrale ou à une moyenne dudit spectre corrigé (Si*1) dans ladite plage d'énergie (iE). 14. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel le masque (15) 25 est interposé entre la source d'irradiation (11) et l'objet (10). 15. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, dans lequel la matrice de passage (M) est obtenue en réalisant une pluralité de mesures dites de calibration, chaque mesure de calibration étant effectuée en interposant un matériau de nature et d'épaisseur connue entre la source d'irradiation (11) et le détecteur (20). 3042285 32 16. Support d'enregistrement d'informations, comportant des instructions pour l'exécution d'un procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 15, ces instructions étant aptes à être exécutées par un microprocesseur. 17. Dispositif pour la réalisation d'images d'un objet (10) comportant : 5 une source d'irradiation (11), apte à émettre un rayonnement électromagnétique ionisant, dit rayonnement incident (I°), vers ledit objet (10); un détecteur (20) comportant des pixels (2013), chaque pixel étant apte à détecter un rayonnement (10) transmis par l'objet vers le détecteur, et à en acquérir un spectre (Sii) ; 10 un masque (15), apte à être interposé entre la source (11) et l'objet (10), ledit masque comportant des éléments absorbants (15,), aptes à absorber une partie dudit rayonnement incident (e), et dont une projection sur le détecteur définit un premier groupe de pixels (G1); un processeur (21), apte recevoir des spectres détectés par chaque pixel, et à mettre en 15 oeuvre le procédé objet de l'une quelconque des revendications 1 à 15.