FR 3044215 A1 20170602 FR 1561496 A 20151127 1 FANTÔME D'ÉTALONNAGE POUR LA MESURE D'UN PARAMÈTRE DE TEXTURE Domaine technique L'invention se situe dans le domaine du traitement d'images et, plus particulièrement, dans le domaine de la caractérisation des propriétés d'un objet à partir de la caractérisation de la texture d'une image bidimensionnelle de cet objet. Elle s'applique notamment au calibrage d'un appareil d'imagerie médicale reposant sur l'émission d'un rayonnement ionisant. Plus précisément, l'invention concerne un dispositif d'étalonnage d'un appareil d'imagerie agencé pour quantifier un paramètre de texture d'un tissu osseux. Le dispositif d'étalonnage est également appelé "fantôme d'étalonnage" ou "fantôme de calibrage". L'invention concerne également un procédé de fabrication de ce dispositif d'étalonnage, ainsi qu'un procédé d'étalonnage d'un appareil d'imagerie médicale à partir du dispositif d'étalonnage. État de la technique antérieure Différents types d'appareils d'imagerie médicale permettent de réaliser des images d'un tissu osseux, par exemple situé à l'intérieur d'un corps humain ou animal. Il existe notamment des appareils d'imagerie comprenant une source de rayonnement apte à émettre un rayonnement de particules électriquement neutres, et un capteur apte à fournir une image bidimensionnelle en niveau de gris, le niveau de gris en chaque point de l'image dépendant de la quantité de particules ayant frappé le capteur en ce point. En positionnant le tissu osseux entre la source de rayonnement et le capteur, il est possible d'obtenir une image projetée de la structure interne de ce tissu osseux. À partir de cette image, un ou plusieurs paramètres caractérisant la texture du tissu osseux peuvent être déterminés. Ces paramètres, dits paramètres de texture, peuvent notamment être le paramètre de Hurst, également appelé paramètre de texture H, et le paramètre TBS, où TBS est le sigle de l'expression anglo-saxonne "Trabecular Bone Score". En 3044215 2 particulier, le paramètre TBS reflète l'état structurel de la microarchitecture du tissu osseux. Il est fortement corrélé au nombre de travées présentes dans le tissu osseux, à leur connectivité, et à l'espace les séparant. Une forte valeur du paramètre TBS indique une microarchitecture osseuse dense et très 5 connectée, avec de faibles espaces entre les travées. À l'inverse, une faible valeur du paramètre TBS indique une microarchitecture osseuse lacunaire et peu connectée, avec de grands espaces entre les travées. Certains paramètres de texture présentent l'avantage de fournir une 10 information qualitative et quantitative sur la microarchitecture osseuse, indépendamment de l'échelle d'observation. Ils peuvent donc permettre une analyse objective de la qualité du tissu osseux. Or il s'avère en pratique que la détermination d'un paramètre de texture est dépendante de l'appareil d'imagerie utilisé, et des conditions de la mesure. En particulier, le paramètre 15 de texture est influencé par l'énergie des photons utilisés, par la sensibilité du détecteur, par le mode de balayage et par le bruit de mesure. Un étalonnage, ou un calibrage, de chaque appareil d'imagerie médicale est ainsi indispensable pour obtenir une valeur du paramètre de texture qui soit comparable à un référentiel donné. 20 L'étalonnage d'un appareil d'imagerie médicale implique généralement l'utilisation d'un fantôme d'étalonnage. Une mesure d'un paramètre de texture est prise pour ce fantôme d'étalonnage, et cette mesure est comparée à une valeur de référence. En fonction du résultat de la 25 comparaison, le calcul effectué sur l'image est ajusté afin de parvenir à une valeur de référence. Plusieurs mesures peuvent être prises avec différents fantômes d'étalonnage, ou avec un même fantôme d'étalonnage présentant des propriétés structurelles différentes en différentes zones, en termes de matériaux, de formes et/ou de dimensions. Les mesures sont alors comparées 30 à différentes valeurs de référence, afin d'étalonner l'appareil d'imagerie médicale selon divers paramètres. Il est à noter que la ou les valeurs de référence peuvent être issues de mesures effectuées sur un appareil d'imagerie médicale de référence, avec un même fantôme d'étalonnage, ou 3044215 3 différents fantômes d'étalonnage présentant une structure identique. L'étalonnage est dans ce cas qualifié d'étalonnage croisé. Les fantômes d'étalonnage actuellement utilisés présentent 5 généralement une structure composée d'une couche dite osseuse, et d'une ou plusieurs couches dites de tissu, empilées les unes sur les autres de manière à pouvoir être traversées successivement par un rayonnement électromagnétique émis par l'appareil d'imagerie médicale. Chaque couche de tissu peut être réalisée en polyméthacrylate de méthyle, dont les propriétés 10 d'absorption d'un rayonnement électromagnétique ionisant sont voisines de celles d'un tissu mou. Par tissu mou, on entend toute partie d'un corps humain ou animal composée en majorité d'eau, notamment la peau et les organes. La couche osseuse est par exemple réalisée en hydroxyapatite, dont les propriétés d'absorption d'un rayonnement électromagnétique ionisant sont 15 voisines de celles de l'os. La couche osseuse prend généralement la forme d'une plaque pleine ou d'un bloc plein. Une telle structure est appropriée pour la mesure de la densité minérale osseuse. En revanche, l'homogénéité de sa composition la rend inappropriée pour la mesure et l'étalonnage d'un paramètre de texture. Des fantômes d'étalonnage présentant une forme externe 20 anthropomorphique ont aussi été proposés, par exemple par la société Hologic. Si l'enveloppe extérieure d'un tel fantôme d'étalonnage présente une forme irrégulière, sa composition interne reste homogène, ce qui ne permet pas un étalonnage pour la mesure d'un paramètre de texture. 25 Il est également possible d'utiliser des os d'humains ou d'animaux comme étalons. De tels étalons présentent bien entendu une microarchitecture adaptée à l'étalonnage de la mesure d'un paramètre de texture. Cependant, ces étalons ne peuvent être conservés avec les tissus qui les entouraient. En outre, par nature, ils existent de manière unique, et ne permettent donc pas 30 d'étalonner simplement et régulièrement différents appareils d'imagerie. En outre, l'intégrité de ces os étalons peut être compromise du fait de leur manipulation et de leur transport entre les différents sites où sont implantés les appareils d'imagerie. 3044215 4 Il existe ainsi un besoin de fournir des fantômes d'étalonnage adaptés à l'étalonnage d'appareils d'imagerie destinés à la mesure d'un paramètre de texture. 5 Exposé de l'invention Un but de l'invention est notamment de remédier à tout ou partie des inconvénients précités. L'invention vise notamment à proposer un dispositif d'étalonnage, également appelé "fantôme d'étalonnage", permettant de fournir 10 une mesure reproductible d'un paramètre de texture. Un autre objectif de l'invention est de fournir un fantôme d'étalonnage qui puisse être fabriqué en un nombre quelconque d'exemplaires, avec des propriétés identiques pour tous les exemplaires. Encore un autre but de l'invention est de fournir un fantôme d'étalonnage qui soit de conception simple et peu coûteuse. 15 Une idée à la base de l'invention repose sur la propriété selon laquelle la structure trabéculaire d'un tissu osseux peut être considérée, en première approximation, comme une figure fractale. Une figure fractale, également appelée "motif fractal" ou plus simplement "fractale", est un motif qui 20 présente la particularité de se répéter de manière identique ou similaire à différentes échelles. Autrement dit, une figure fractale est un motif constitué de différentes parties qui chacune, une fois mises à l'échelle du motif, sont identiques ou similaires à ce motif. L'invention propose ainsi d'utiliser un fantôme d'étalonnage présentant une figure fractale. Du fait de la propriété 25 d'autosimilarité d'une figure fractale, le fantôme d'étalonnage peut être réalisé avec un niveau de détail dont l'échelle diffère de celle d'un tissu osseux. En particulier, la dimension des détails les plus fins sur le fantôme d'étalonnage peut être supérieure à la dimension des détails les plus fins d'un tissu osseux aptes à être considérés par l'appareil d'imagerie. 30 Plus précisément, l'invention a pour objet un dispositif d'étalonnage d'un appareil d'imagerie agencé pour quantifier un paramètre de texture d'un tissu osseux. Le dispositif d'étalonnage comprend une couche dite trabéculaire 3044215 5 comportant un ensemble d'orifices formant une figure fractale dans un plan, dit de projection, par projection selon un axe de projection perpendiculaire au plan de projection. 5 La couche trabéculaire est ainsi apte à simuler une structure trabéculaire d'un tissu osseux du point de vue du paramètre de texture. Le dispositif d'étalonnage est destiné à être traversé par un rayonnement électromagnétique émis par l'appareil d'imagerie et se 10 propageant selon un axe de rayonnement parallèle à l'axe de projection. Le rayonnement électromagnétique peut en particulier être un rayonnement ionisant, par exemple un rayonnement X. L'appareil d'imagerie repose par exemple sur la méthode d'absorption biphotonique à rayons X (DXA). Dans la mesure où le rayonnement électromagnétique traverse toute l'épaisseur du 15 dispositif d'étalonnage, les différents orifices de l'ensemble peuvent être indifféremment situés à différents niveaux le long de l'axe de projection. En outre, chaque orifice peut éventuellement être composé de plusieurs orifices se combinant par projection selon l'axe de projection pour former globalement un unique orifice sur le plan de projection. Le plan de projection est également 20 appelé "plan du motif". La couche trabéculaire peut être formée par usinage, ou par un procédé de fabrication additive. Dans le cas d'une fabrication par usinage d'une pièce, les orifices débouchent tous de préférence sur une même surface de la 25 pièce, ou sur deux surfaces opposées de cette pièce, dans un but de faciliter l'usinage. Dans le cas d'un procédé de fabrication additive, par exemple dans le cas de l'impression tridimensionnelle, les orifices peuvent être réalisés sans déboucher sur l'une des surfaces de la pièce. 30 Selon une forme particulière de réalisation, la couche trabéculaire comporte plusieurs ensembles d'orifices. Chaque ensemble d'orifices est formé dans une région de la couche trabéculaire distincte des autres régions et forme une figure fractale dans le plan de projection, par projection selon l'axe de 3044215 6 projection. Chaque ensemble d'orifices est formé dans une région de la couche trabéculaire, sans recouvrement avec une autre région de la couche trabéculaire, de manière à ce qu'un paramètre de texture puisse être déterminé individuellement pour chacune des régions. 5 La couche trabéculaire comporte par exemple deux, quatre, six ou huit ensembles d'orifices formés dans autant de régions de la couche trabéculaire. 10 Les différents ensembles d'orifices peuvent former une même figure fractale, c'est-à-dire avec les mêmes formes et les mêmes dimensions dans le plan du motif. La détermination d'un paramètre de texture sur deux régions présentant une figure fractale identique permet de tester l'influence d'autres paramètres, comme par exemple l'épaisseur de la couche trabéculaire, la 15 profondeur des orifices, et/ou la présence de tissus mous d'épaisseurs distinctes, comme indiqué ci-dessous. Les différents ensembles d'orifices peuvent aussi former au moins deux figures fractales distinctes. Les figures fractales peuvent différer par leurs dimensions, par leur forme, ou par une combinaison de leurs dimensions et de leur forme. La détermination d'un 20 paramètre de texture sur deux régions présentant une même figure fractale à deux échelles différentes, ou des figures fractales de formes différentes, permet par exemple de contrôler la robustesse de l'algorithme utilisé pour la détermination du paramètre de texture, ou d'obtenir une plage de mesures plus large pour l'étalonnage. 25 Chaque orifice peut s'étendre au travers de la couche trabéculaire selon un axe de référence parallèle à l'axe de projection. Il est à noter que la couche trabéculaire peut être réalisée à partir 30 d'une seule pièce, ou de plusieurs pièces assemblées. La couche trabéculaire comporte par exemple une plaque pour chaque ensemble d'orifices, chaque orifice d'un ensemble donné étant formé dans la plaque associée à cet ensemble. Chaque orifice peut déboucher sur deux surfaces opposées de la 3044215 7 plaque associée à l'ensemble auquel il appartient. Les orifices peuvent également déboucher sur une seule surface de la plaque, ou former des cavités non débouchantes, notamment dans le cas d'un procédé de fabrication additive. Les différentes plaques peuvent être assemblées entre elles de 5 manière amovible, par exemple par des moyens de fixation adéquats, ou être assemblées par collage ou par soudage. Les plaques peuvent également former un ensemble monobloc. Les orifices d'un ensemble donné présentent de préférence une 10 profondeur égale. La profondeur d'un orifice est déterminée le long de son axe de référence. Lorsque les orifices d'un ensemble sont formés dans une plaque en débouchant de part et d'autre de cette plaque, l'égalité de profondeur des orifices peut être simplement obtenue par la constance de l'épaisseur de la plaque. Lorsque la couche trabéculaire comporte une plaque, et que les 15 orifices d'un ensemble donné s'étendent au travers de cette plaque en présentant tous une même profondeur, la figure fractale peut être qualifiée de binaire. En effet, un rayonnement traversant la couche trabéculaire présentera uniquement deux niveaux d'intensité, selon qu'il traverse ou non un orifice. 20 Les différents orifices peuvent présenter des profondeurs différentes selon l'ensemble auquel ils appartiennent. Autrement dit, chaque ensemble d'orifices peut présenter une profondeur prédéterminée, différente de la profondeur du ou des autres ensembles d'orifices. Au moins deux ensembles d'orifices peuvent présenter des profondeurs différentes. 25 Les orifices peuvent prendre différentes formes dans le plan du motif. De préférence, ils présentent une même forme dans tout plan perpendiculaire à leur axe de référence. Autrement dit, ils forment chacun un cylindre dans la couche trabéculaire. Selon une forme particulière de 30 réalisation, chaque orifice forme un cylindre de révolution. Chaque orifice peut alors être défini par un disque dans le plan du motif. Les orifices peuvent également être définis par d'autres formes géométriques telles qu'un polygone ou un carré. 3044215 8 Les différents paramètres de la couche trabéculaire, en termes d'épaisseur, de forme et de dimensions de la figure fractale, et de forme et de profondeurs des orifices, peuvent varier selon les différents ensembles 5 d'orifices. À titre d'exemple, la couche trabéculaire comporte quatre plaques d'épaisseurs distinctes les unes des autres. Une première et une deuxième plaque peuvent présenter un premier motif fractal, et une troisième et une quatrième plaque peuvent présenter un deuxième motif fractal. Avantageusement, le premier et le deuxième motif fractal présentent des 10 dimensions globales identiques dans le plan du motif. Chaque orifice peut former un cylindre de révolution dans l'une des plaques. La couche trabéculaire peut être formée dans différents matériaux. Elle est de préférence formée dans un matériau présentant des propriétés 15 d'absorption similaires à celles d'un tissu osseux pour un rayonnement électromagnétique apte à être émis par l'appareil d'imagerie. La couche trabéculaire peut notamment comprendre l'un des matériaux suivants : l'aluminium, l'hydroxyapatite, et le polytétrafluoroéthylène. Elle peut comporter une composition de ces différents matériaux. 20 Par nature, une figure fractale peut être définie par un processus itératif consistant à reproduire à différentes échelles un motif donné, appelé motif de base. Selon une forme particulière de réalisation, chaque ensemble d'orifices est défini de manière itérative à partir d'un motif de base présentant 25 des dimensions prédéterminées Ro dans un plan parallèle au plan de projection (soit un plan perpendiculaire aux axes de référence), d'un rapport de réduction RR, d'un facteur d'espacement SR, d'un facteur de multiplicité P, et d'une profondeur fractale FD. Le rapport de réduction RR peut prendre pour valeur tout nombre réel strictement inférieur à un (RR 0), le facteur de multiplicité P peut prendre pour valeur tout nombre entier supérieur ou égal à deux (P > 2), et la profondeur fractale FD peut prendre pour valeur tout 3044215 9 nombre entier supérieur ou égal à un (FD > 1). Les valeurs du rapport de réduction RR, du facteur d'espacement SR, du facteur de multiplicité P et de la profondeur fractale FD sont constantes pour toutes les itérations. La profondeur fractale FD détermine le nombre d'itérations permettant de définir l'ensemble 5 des orifices d'un ensemble. Le ou les orifices définis par une itération n donnée, sont appelés orifices d'ordre n. La variable n est un entier compris entre zéro et FD - 1 (n E [0 ; FD - 1]). Pour l'ordre zéro (n = 0), un unique orifice est défini dont les dimensions sont celles du motif de base, c'est-à-dire Ro. Pour chaque ordre n compris entre I et FD - 1 (n E [1; FD - 1]), P orifices 10 sont définis pour chaque orifice d'ordre n - 1. Chaque orifice d'ordre n présente des dimensions Rn définies par la relation Rn = R0 x RRn . Le positionnement des P orifices est déterminé de sorte qu'ils soient répartis angulairement autour de l'orifice d'ordre n - 1 considéré en étant séparés les uns des autres d'une distance Ln définie par la relation Ln = Rn x SR. 15 Dans le cas d'un motif de base de forme carrée, les dimensions Ro consistent par exemple en une longueur du côté du carré. Dans le cas d'un motif de base en forme de disque, les dimensions Ro consistent par exemple en un rayon du disque. Le rayon Ro du motif de base en forme de disque est 20 par exemple compris entre 5 millimètres (mm) et 20 mm. Il peut notamment être de 6 mm ou de 8 mm. Selon une forme particulière de réalisation, au moins un ensemble d'orifices est défini à partir de premières dimensions R0,1, et au moins un ensemble d'orifices est défini à partir de deuxièmes dimensions RO ,2. 25 Le rapport de réduction RR est par exemple choisi comme étant égal à 0,5. Le rapport de réduction RR peut être identique pour les différents ensembles d'orifices. 30 Le facteur d'espacement SR définit la distance séparant les différents orifices d'un ordre n donné, pour le facteur d'échelle correspondant. Le facteur d'échelle d'un ordre n est par exemple défini comme étant égal au rapport de 3044215 10 réduction RR porté à la puissance n ( RRn). Le facteur d'espacement SR est par exemple compris entre 5 et 30. Il peut notamment être égal à 7,5 ou 8. Selon une forme particulière de réalisation, au moins un ensemble d'orifices est défini à partir d'un premier facteur d'espacement SR,i, et au moins un ensemble 5 d'orifices est défini à partir d'un deuxième facteur d'espacement SR,2. Le facteur de multiplicité P détermine le nombre d'orifices d'ordre n définis directement à partir d'un orifice d'ordre n - 1. Le facteur de multiplicité P est par exemple compris entre 2 et 10. Il peut notamment être égal à trois, 10 quatre, cinq, ou huit (P = 3 ; P = 4 ; P = 5 ; P = 8). Les P orifices associés à chaque orifice d'ordre inférieur sont répartis angulairement autour de cet orifice. Ainsi, dans le cas d'un facteur de multiplicité P égal à deux, deux orifices d'ordre n sont positionnés de part et d'autre de chaque orifice d'ordre n - 1. Dans le cas d'un facteur de multiplicité P égal à trois, trois orifices 15 d'ordre n sont positionnés à 120 degrés autour de chaque orifice d'ordre n - 1. Dans le cas d'un facteur de multiplicité P égal à quatre, quatre orifices d'ordre n sont positionnés autour de chaque orifice d'ordre n - 1, leurs centres formant un carré centré sur cet orifice. Un facteur de multiplicité P égal à quatre a pour avantage de faire bénéficier la couche trabéculaire de deux plans de symétrie. 20 Ces plans de symétrie sont perpendiculaires entre eux et au plan du motif. La couche trabéculaire peut comporter des orifices supplémentaires. Selon une forme particulière de réalisation, chaque ensemble d'orifices comprend, pour chaque ordre n compris entre 1 et FD - 2, un orifice 25 supplémentaire défini au milieu de chaque couple d'orifices adjacents d'ordre n, chaque orifice supplémentaire présentant des dimensions R.;' définies par la relation : Rn = Ro x x (RRn RRn+1). 30 Chaque ensemble d'orifices peut être défini sur une région prédéterminée. En particulier, les orifices de chaque ensemble peuvent être définis de manière à s'inscrire tous intégralement sur une surface délimitée du 3044215 11 plan du motif. La surface délimitée de chaque ensemble correspond par exemple à une surface de la plaque associée à cet ensemble. Les orifices qui seraient partiellement formés en dehors de cette surface délimitée peuvent alors être ignorés, c'est-à-dire non formés. Par ailleurs, il est possible de ne 5 pas former les orifices qui recouvriraient au moins l'un des orifices d'une itération précédente. En plus de la couche trabéculaire, le dispositif d'étalonnage peut comporter une couche dite osseuse comportant une pièce osseuse formée 10 dans un matériau présentant des propriétés d'absorption similaires à celles d'un tissu osseux pour un rayonnement électromagnétique apte à être émis par l'appareil d'imagerie. La pièce osseuse peut notamment être une pièce pleine, par exemple un parallélépipède rectangle. 15 Lorsque la couche trabéculaire comporte plusieurs ensembles d'orifices, la couche osseuse peut comporter une pièce osseuse pour chaque ensemble d'orifices, une pièce osseuse étant associée à chaque ensemble d'orifices. Au moins deux pièces osseuses peuvent présenter des propriétés de forme et/ou de matériau distinctes. Les propriétés peuvent ainsi différer 20 relativement aux propriétés d'absorption du rayonnement électromagnétique pouvant être émis par l'appareil d'imagerie à étalonner. Au moins deux pièces osseuses présentent par exemple des épaisseurs distinctes. Chaque pièce osseuse de la couche osseuse peut notamment 25 présenter une épaisseur constante le long de l'axe de projection, ou une épaisseur variant continument relativement à l'axe de projection entre l'un des côtés de la pièce, et un côté opposé. Le dispositif d'étalonnage peut par ailleurs comporter une couche 30 dite de tissu comportant une pièce formée dans un matériau présentant des propriétés d'absorption similaires à celles d'un tissu mou ou d'un organe de corps humain ou animal pour un rayonnement électromagnétique apte à être émis par l'appareil d'imagerie. La pièce peut notamment être une pièce pleine, 3044215 12 par exemple un parallélépipède rectangle. Elle peut être formée par plusieurs plaques empilées les unes sur les autres selon l'axe de projection. Selon une forme particulière de réalisation, la pièce de la couche de tissu présente une épaisseur constante pour les différents ensembles d'orifices. 5 L'invention a également pour objet un procédé de fabrication d'un dispositif d'étalonnage tel que décrit précédemment. Le procédé comprend par exemple : ^ une étape de définition d'un orifice d'ordre zéro dans une couche dite 10 trabéculaire du dispositif d'étalonnage, l'orifice d'ordre zéro étant destiné à s'étendre au travers de la couche trabéculaire selon un premier axe de référence, et présentant des dimensions Ro dans un plan perpendiculaire au premier axe de référence, ^ une étape d'initialisation à la valeur 1 d'un compteur entier, et 15 ^ une itération des étapes suivantes tant que la valeur n du compteur entier n'a pas atteint une valeur FD, où FD est un entier supérieur ou égal à 1 : - définition de P orifices d'ordre n pour chaque orifice d'ordre n - 1, où P est un entier supérieur ou égal à deux, chaque orifice d'ordre n étant 20 destiné à s'étendre dans la couche trabéculaire selon un axe de référence parallèle au premier axe de référence et présentant, dans le plan perpendiculaire au premier axe de référence, des dimensions R, définies par la relation Rn = Ro x RRn , où RR désigne un rapport de réduction dont la valeur est un nombre réel positif strictement inférieur à 1, les P orifices associés à un 25 orifice d'ordre n - 1 étant répartis angulairement autour de cet orifice en étant séparés les uns des autres d'une distance Ln définie par la relation Ln = Rn x SR, où SR désigne un facteur d'espacement dont la valeur est un nombre réel strictement positif, - incrémentation d'une unité de la valeur du compteur entier, 30 ^ une étape de formation des orifices d'ordre zéro à FD dans la couche trabéculaire. 3044215 13 L'invention a encore pour objet un procédé d'étalonnage d'un appareil d'imagerie à partir du dispositif d'étalonnage décrit précédemment. Le procédé d'étalonnage comprend par exemple : ^ une étape de positionnement, sur l'appareil d'imagerie, du dispositif 5 d'étalonnage, de sorte que ledit dispositif d'étalonnage soit apte à être traversé par un rayonnement électromagnétique émis par l'appareil d'imagerie selon un axe parallèle à l'axe de projection, ^ une étape de détermination d'une valeur dite mesurée du paramètre de texture pour un ensemble d'orifices du dispositif d'étalonnage, 10 ^ une étape de détermination d'un paramètre de correction en fonction de la valeur mesurée du paramètre de texture, et d'une valeur de référence associée audit ensemble d'orifices du dispositif d'étalonnage, et ^ une étape d'application du paramètre de correction à l'appareil d'imagerie. 15 Lorsque le dispositif d'étalonnage comporte plusieurs ensembles d'orifices, l'étape de détermination d'une valeur mesurée du paramètre de texture peut comprendre la détermination d'une valeur mesurée du paramètre de texture pour chaque ensemble d'orifices. L'étape de détermination d'un 20 paramètre de correction comprend alors la détermination d'un ou plusieurs paramètres de correction en fonction des valeurs mesurées du paramètre de texture, et de valeurs de référence associées aux ensembles d'orifices du dispositif d'étalonnage, et l'étape d'application du paramètre de correction comprend l'application du ou des paramètres de correction à l'appareil 25 d'imagerie. Description des figures D'autres avantages et particularités de l'invention apparaîtront à la lecture de la description détaillée de mises en oeuvre et de modes de 30 réalisation nullement limitatifs, au regard de dessins annexés sur lesquels : - la figure 1 représente schématiquement, dans une vue en perspective explosée, un premier exemple de dispositif d'étalonnage selon l'invention ; 3044215 14 - la figure 2 représente un premier exemple de figure fractale ; - la figure 3 représente un deuxième exemple de figure fractale ; - la figure 4 représente, dans une vue en perspective, un deuxième exemple de dispositif d'étalonnage selon l'invention ; 5 - les figures 5A et 5B représentent un exemple de pièce trabéculaire du dispositif d'étalonnage de la figure 4. Description de modes de réalisation Les modes de réalisation décrits ci-après n'étant nullement limitatifs, 10 on pourra notamment considérer des variantes de l'invention ne comprenant qu'une sélection de caractéristiques décrites, par la suite isolées des autres caractéristiques décrites, dès lors que cette sélection de caractéristiques est suffisante pour conférer un avantage technique ou pour différencier l'invention par rapport à l'état de la technique antérieure. Cette sélection comprend au 15 moins une caractéristique, de préférence fonctionnelle sans détails structurels, ou avec seulement une partie des détails structurels si cette partie uniquement est suffisante pour conférer un avantage technique ou pour différencier l'invention par rapport à l'état de la technique antérieure. 20 La figure 1 représente schématiquement, dans une vue en perspective explosée, un premier exemple de dispositif d'étalonnage selon l'invention. Le dispositif d'étalonnage 10 comporte une première couche de tissu 11, une couche trabéculaire 12, une couche osseuse 13, et une deuxième couche de tissu 14. Les différentes couches 11-14 sont empilées les unes sur 25 les autres selon un axe d'empilement. La couche trabéculaire 12 vient en appui sur une surface supérieure 11A de la couche de tissu 11, également appelée couche inférieure de tissu ; la couche osseuse 13 vient en appui sur une surface supérieure 12A de la couche trabéculaire 12, et la couche de tissu 14, également appelée couche supérieure de tissu, vient en appui sur une surface 30 supérieure 13A de la couche osseuse 13. D'autres agencements d'empilement peuvent être envisagés. En particulier, le dispositif d'étalonnage pourrait comporter une unique couche de tissu dont l'épaisseur serait égale aux épaisseurs additionnées des deux couches de tissu 11 et 14. 3044215 15 Chaque couche 11-14 présente des propriétés d'absorption distinctes selon le type de tissu ou d'organe humain ou animal qu'il est censé simulé. Les propriétés d'absorption sont analysées au regard du rayonnement 5 électromagnétique utilisé par l'appareil d'imagerie à étalonner. Les couches de tissu 11, 14 sont réalisées dans un matériau simulant des organes ou des tissus mous d'un corps humain ou animal ; et les couches trabéculaire 12 et osseuse 13 sont réalisées dans un matériau simulant un tissu osseux. À titre d'exemple, les couches de tissu 11, 14 sont réalisées dans un matériau 10 comprenant de l'eau, du polyéthylène haute densité (PEND), et/ou du polyméthacrylate de méthyle (PMMA). Les couches trabéculaire 12 et osseuse 13 sont par exemple réalisées dans un matériau comprenant de l'aluminium, de l'hydroxyapatite (HA), et/ou du polytétrafluoroéthylène (PTFE). 15 Chaque couche de tissu 11, 14 est ici formée d'une pièce pleine parallélépipédique, d'épaisseur constante le long de l'axe d'empilement. La couche trabéculaire 12 est formée par six pièces 121-126 agencées côte à côte dans un plan perpendiculaire à l'axe d'empilement, de 20 sorte qu'elles forment deux rangées de trois pièces chacune. Chaque pièce 121-126 définit une région de la couche trabéculaire 12, les régions étant délimitées par des plans de coupe parallèles à l'axe d'empilement. Par souci de simplification, les mêmes références 121-126 sont utilisées pour désigner à la fois les pièces de la couche trabéculaire 12, et leurs régions associées. Par 25 prolongement selon l'axe d'empilement, chaque pièce 121-126 définit en outre une région du dispositif d'étalonnage. Ces régions sont désignées par les références R1 à R6, correspondant respectivement avec les régions 121-126 de la couche trabéculaire 12. Dans l'exemple de la figure 1, chaque pièce 121126 est formée par une plaque parallélépipédique. Chaque pièce 121-126 30 présente un ensemble d'orifices s'étendant selon des axes de référence parallèles à l'axe d'empilement. Ces orifices seront définis ci-dessous en référence aux figures 2 et 3. 3044215 16 La couche osseuse 13 est formée par trois pièces 131-133. Une première pièce 131 s'inscrit dans la région R1, au-dessus de la pièce 121. Une deuxième pièce 132 s'inscrit dans les régions R2, R4 et R6, au-dessus des pièces 122, 124 et 126. Une troisième pièce 133 s'inscrit dans la région R3, au- 5 dessus de la pièce 123. Les pièces 131 et 133 sont chacune formées par une plaque parallélépipédique pleine. La pièce 132 forme un coin dont l'épaisseur augmente continument entre un bord contigu aux régions R1, R3 et R5, et un bord opposé. 10 Chaque région R1-R6 présente, dans un plan perpendiculaire à l'axe d'empilement, une forme carrée de côté égal à 54 mm. La figure 2 représente un premier exemple de figure fractale. La figure fractale 20 est formée d'un ensemble d'orifices définis selon un ordre n. 15 Elle comporte un orifice 200 d'ordre zéro présentant un diamètre de 16 mm, placé au centre de la région. Elle comporte également quatre orifices 201 d'ordre un, présentant un diamètre de 8 mm, répartis aux quatre coins d'un carré centré sur l'orifice 200 et de longueur de côté égale à 30 mm. Chaque orifice 201 est ainsi espacé d'un deuxième orifice 201 d'une distance de 30 mm 20 selon un premier axe perpendiculaire à l'axe d'empilement (par exemple un axe horizontal sur la figure 2), et d'un troisième orifice 201 d'une distance de 30 mm selon un deuxième axe perpendiculaire au premier axe et à l'axe d'empilement (axe vertical sur la figure 2). Toute distance entre deux orifices est considérée relativement à leur centre. La figure fractale 20 comporte en outre quatre 25 orifices 202 d'ordre deux, présentant un diamètre de 4 mm, répartis aux quatre coins d'un carré centré sur l'orifice 200 et de longueur de côté égale à 15 mm. La figure fractale 20 comporte aussi quatre orifices 203 d'ordre trois, présentant un diamètre de 6 mm, chaque orifice 203 étant placé au milieu de deux orifices 201. La figure fractale 20 comporte de plus, autour de chaque 30 orifice 202 et 203, quatre orifices 204 d'ordre quatre, répartis aux quatre coins d'un carré centré sur l'orifice 202 ou 203 considéré, et de longueur de côté égale à 7,5 mm. Chaque orifice 204 présente un diamètre de 2 mm. La figure fractale 20 comporte enfin, pour chaque couple d'orifices adjacents 201 et 203, 3044215 17 un orifice 205 d'ordre cinq. Chaque orifice 205 présente un diamètre de 3 mm et est placé au milieu du couple d'orifices considéré. Les orifices 200-205 forment ainsi une figure fractale dans un plan de projection, par projection selon un axe de projection perpendiculaire à ce plan. L'axe de projection est 5 confondu avec l'axe d'empilement. La figure fractale 20 se retrouve également dans tout plan de coupe perpendiculaire à l'axe de projection, ainsi que sur les surfaces inférieure et supérieure de la couche trabéculaire. La figure 3 représente un deuxième exemple de figure fractale. La 10 figure fractale 30 est formée d'un ensemble d'orifices définis selon un ordre n. Elle comporte un orifice 300 d'ordre zéro présentant un diamètre de 12 mm, placé au centre de la région. Elle comporte également quatre orifices 301 d'ordre un, présentant un diamètre de 6 mm, répartis aux quatre coins d'un carré centré sur l'orifice 300 et de longueur de côté égale à 24 mm. La figure 15 fractale 30 comporte de plus, pour chaque couple d'orifices 301 adjacents, un orifice 302 d'ordre deux présentant un diamètre de 4,5 mm et placé au milieu du couples d'orifices considéré. La figure fractale 30 comporte également, autour de chaque orifice 301, quatre orifices 303 d'ordre trois, répartis aux quatre coins d'un carré centré sur l'orifice 301 considéré, et de longueur de 20 côté égale à 12 mm. Est également défini, pour chaque couple d'orifices 303 adjacents, un orifice 304 d'ordre quatre, présentant un diamètre de 2,5 mm, placé au milieu des orifices du couple considéré. La figure fractale 30 comporte enfin, autour de chaque orifice 302 et 303, quatre orifices 305 d'ordre cinq, répartis aux quatre coins d'un carré centré sur l'orifice 302 ou 303 considéré, et 25 de longueur de côté égale à 6 mm. Chaque orifice 305 présente un diamètre de 1,5 mm. Le tableau suivant donne des exemples de dimensions pour le dispositif d'étalonnage 10. 30 3044215 18 R1 R2 R3 R4 R5 R6 Épaisseur couche osseuse (g/cm2 HA) 1,5 0,75 1,0 0,75 0,0 0,75 Variation couche osseuse (g/cm2 HA) 0,0 0,5 0,0 0,5 0,0 0,5 Épaisseur couche de tissu (cm eau) 13,3 13,3 13,3 13,3 13,3 13,3 Épaisseur couche trabéculaire (mm Al) 11,7 9,7 11,7 9,7 9,7 5,8 Motif de la région P2 P2 P2 P1 P1 P1 La première ligne du tableau indique l'épaisseur moyenne de la couche osseuse 13 pour chaque région R1-R6 en grammes par centimètre carré d'hydroxyapatite. La deuxième ligne indique la variation d'épaisseur de la 5 couche osseuse 13 autour de l'épaisseur moyenne, en grammes par centimètre carré d'hydroxyapatite. La troisième ligne indique l'épaisseur totale des couches de tissu 11 et 14, en centimètres d'eau. La quatrième ligne indique l'épaisseur de la couche trabéculaire 12, en millimètres d'aluminium. La dernière ligne indique le motif appliqué sur chaque région, à savoir un premier 10 motif P1 correspondant à la figure fractale 20 de la figure 2, et un deuxième motif P2 correspondant à la figure fractale 30 de la figure 3. La figure 4 représente, dans une vue en perspective, un deuxième exemple de dispositif d'étalonnage selon l'invention. Le dispositif d'étalonnage 15 40 comporte une base 41, un couvercle 42, une première plaque d'attache 43, une deuxième plaque d'attache 44, une pièce trabéculaire 45, une première pièce osseuse 46, et une deuxième pièce osseuse 47. La base 41 et le couvercle 42 comprennent chacun un évidement de manière à former un logement à l'intérieur duquel peuvent être disposés la pièce trabéculaire 45, et 20 les pièces osseuses 46, 47. La base 41 et le couvercle 42 forment une couche de tissu. Ils sont par exemple formés en polyéthylène haute densité. La pièce trabéculaire 45 forme une couche trabéculaire placée dans le fond du 3044215 19 logement. Elle est décrite ci-dessous en référence aux figures 5A et 5B. Les pièces osseuses 46 et 47 forment une couche osseuse. Elles sont par exemple réalisées en aluminium. La pièce osseuse 46 présente une forme de parallélépipède rectangle. Elle est apte à venir se positionner au-dessus de 5 l'une des régions de la couche trabéculaire. La pièce osseuse 47 présente une forme en coin. Elle est apte à venir se positionner au-dessus de deux régions de la couche trabéculaire. La plaque d'attache 43 vient simultanément en appui sur une face avant de la base 41 et sur une face avant du couvercle 42 ; et la plaque d'attache 44 vient simultanément en appui sur une face arrière de la 10 base 41 et sur une face arrière du couvercle 42. Chaque plaque d'attache 43, 44 peut être fixée par des moyens de fixation amovibles à la base 41 et au couvercle 42, de manière à les maintenir dans une configuration fermée. Les moyens de fixation amovibles sont par exemple des vis en polyéthylène haute densité. 15 Les figures 5A et 5B représentent la pièce trabéculaire 45, dans une vue en perspective et dans une vue de dessus, respectivement. La pièce trabéculaire 45 est par exemple réalisée en aluminium. Elle comprend quatre régions R1, R2, R3 et R4. Ces régions R1-R4 correspondent aux régions R1, 20 R2, R5 et R6 de la couche trabéculaire 12 décrite en référence à la figure 1. En particulier, les régions R1 et R2 comportent la figure fractale 20 décrite à la figure 2, et les régions R3 et R4 comportent la figure fractale 30 décrite à la figure 3. 25 Bien sûr, l'invention n'est pas limitée aux exemples qui viennent d'être décrits et de nombreux aménagements peuvent être apportés à ces exemples sans sortir du cadre de l'invention. En particulier, le dispositif d'étalonnage peut comporter un nombre quelconque de régions distinctes, et les dimensions indiquées dans la description peuvent être ajustées en fonction 30 des propriétés recherchées pour le dispositif d'étalonnage. De plus, les différentes caractéristiques, formes, variantes et modes de réalisation de l'invention peuvent être associés les uns avec les autres selon diverses REVENDICATIONS1. Dispositif d'étalonnage d'un appareil d'imagerie agencé pour quantifier un paramètre de texture d'un tissu osseux, le dispositif d'étalonnage comprenant une couche dite trabéculaire (12) comportant un ensemble d'orifices (200-205 ; 300-305) formant une figure fractale dans un plan, dit de projection, par projection selon un axe de projection perpendiculaire au plan de projection. 2. Dispositif d'étalonnage selon la revendication 1, dans lequel la couche trabéculaire (12) comporte plusieurs ensembles d'orifices, chaque ensemble d'orifices étant formé dans une région (R1-R6) de la couche trabéculaire distincte des autres régions et formant une figure fractale dans le plan de projection, par projection selon l'axe de projection. 3. Dispositif d'étalonnage selon la revendication 2, dans lequel les différents ensembles d'orifices (200-205 ; 300-305) forment au moins deux figures fractales distinctes. 4. Dispositif d'étalonnage selon l'une des revendications précédentes, dans lequel chaque orifice s'étend au travers de la couche trabéculaire (12) selon un axe de référence parallèle à l'axe de projection. 5. Dispositif d'étalonnage selon la revendication 4, dans lequel la couche trabéculaire (12) comporte une plaque (121-126) pour chaque ensemble d'orifices, chaque orifice d'un ensemble étant formé dans une plaque et débouchant sur deux surfaces opposées de cette plaque. 6. Dispositif d'étalonnage selon l'une des revendications précédentes, dans lequel chaque orifice forme un cylindre de révolution. 25 3044215 22 7. Dispositif d'étalonnage selon l'une des revendications précédentes, dans lequel la couche trabéculaire (12) comprend au moins l'un des matériaux suivants : l'aluminium, l'hydroxyapatite, et le polytétrafluoroéthylène. 5 8. Dispositif d'étalonnage selon l'une des revendications précédentes, dans lequel chaque ensemble d'orifices est défini de manière itérative à partir d'un motif de base présentant des dimensions prédéterminées Ro dans un plan parallèle au plan de projection, d'un rapport de réduction RR dont la valeur est un nombre réel strictement inférieur à un, d'un facteur d'espacement SR dont la 10 valeur est un nombre réel strictement positif, d'un facteur de multiplicité P dont la valeur est un nombre entier supérieur ou égal à deux, et d'une profondeur fractale FD dont la valeur est un entier supérieur ou égal à un : ^ pour l'ordre zéro, un unique orifice est défini dont les dimensions Ro sont celles du motif de base, 15 ^ pour chaque ordre n, où n est un entier compris entre 1 et FD - 1, P orifices sont définis pour chaque orifice d'ordre n - 1 : - chaque orifice présente des dimensions Rn définies par la relation : Rn = Ro x RRn, - le positionnement des P orifices est déterminé de sorte qu'ils 20 soient répartis angulairement autour de l'orifice d'ordre n - 1 en étant séparés les uns des autres d'une distance Ln définie par la relation : Ln = Rn x SR. 9. Dispositif d'étalonnage selon la revendication 8, dans lequel P est égal à quatre, les P orifices répartis autour de chaque orifice d'ordre n - 1 définissant un carré de côté Ln centré sur un orifice d'ordre n - 1. 10. Dispositif d'étalonnage selon l'une des revendications 8 et 9, dans lequel chaque ensemble d'orifices comprend en outre, pour chaque ordre n compris entre 1 et FD - 2, un orifice supplémentaire défini au milieu de chaque couple d'orifices adjacents d'ordre n, chaque orifice supplémentaire présentant des dimensions Rn définies par la relation : 1 = Ro X -2 x(RR+ RRn+1). 3044215 23 11. Dispositif d'étalonnage selon l'une des revendications précédentes, comprenant en outre une couche dite osseuse (13) comportant une pièce osseuse (131-133) formée dans un matériau présentant des propriétés 5 d'absorption similaires à celles d'un tissu osseux pour un rayonnement électromagnétique apte à être émis par l'appareil d'imagerie. 12. Dispositif d'étalonnage selon les revendications 2 et 11, dans lequel la couche osseuse (13) comporte une pièce osseuse pour chaque ensemble 10 d'orifices, une pièce étant associée à chaque ensemble d'orifices, au moins deux pièces osseuses présentant des propriétés de forme et/ou de matériau distinctes. 13. Dispositif d'étalonnage selon l'une des revendications 11 et 12, dans lequel 15 chaque pièce osseuse présente une épaisseur constante le long des axes de référence, ou une épaisseur variant continument relativement aux axes de référence entre l'un des côtés de la pièce osseuse, et un côté opposé. 14. Dispositif d'étalonnage selon l'une des revendications précédentes, 20 comprenant en outre une couche dite de tissu comportant une pièce formée dans un matériau présentant des propriétés d'absorption similaires à celles d'un tissu mou ou d'un organe de corps humain ou animal pour un rayonnement électromagnétique apte à être émis par l'appareil d'imagerie. 25 15. Procédé de fabrication d'un dispositif d'étalonnage pour un appareil d'imagerie agencé pour quantifier un paramètre de texture d'un tissu osseux, le procédé comprenant : ^ une étape de définition d'un orifice d'ordre zéro dans une couche dite trabéculaire du dispositif d'étalonnage, l'orifice d'ordre zéro étant destiné 30 à s'étendre au travers de la couche trabéculaire selon un premier axe de référence, et présentant des dimensions Ro dans un plan perpendiculaire au premier axe de référence, ^ une étape d'initialisation à la valeur 1 d'un compteur entier, et 3044215 24 ^ une itération des étapes suivantes tant que la valeur n du compteur entier n'a pas atteint une valeur FD, où FD est un entier supérieur ou égal à 1 : - définition de P orifices d'ordre n pour chaque orifice d'ordre n - 1, 5 où P est un entier supérieur ou égal à deux, chaque orifice d'ordre n étant destiné à s'étendre dans la couche trabéculaire selon un axe de référence parallèle au premier axe de référence et présentant, dans le plan perpendiculaire au premier axe de référence, des dimensions R, définies par la relation Rn = Ro x RRn, où RR désigne un rapport de réduction dont la valeur 10 est un nombre réel positif strictement inférieur à 1, les P orifices associés à un orifice d'ordre n - 1 étant répartis angulairement autour de cet orifice en étant séparés les uns des autres d'une distance Ln définie par la relation Ln = Rn x SR, où SR désigne un facteur d'espacement dont la valeur est un nombre réel strictement positif, 15 - incrémentation d'une unité de la valeur du compteur entier, ^ une étape de formation des orifices d'ordre zéro à FD dans la couche trabéculaire. 16. Procédé d'étalonnage d'un appareil d'imagerie agencé pour quantifier un 20 paramètre de texture d'un tissu osseux, le procédé d'étalonnage comprenant : ^ une étape de positionnement, sur l'appareil d'imagerie, du dispositif d'étalonnage (10, 40) selon l'une des revendications 1 à 14, de sorte que le dispositif d'étalonnage soit apte à être traversé par un rayonnement électromagnétique émis par l'appareil d'imagerie selon un 25 axe parallèle à l'axe de projection, ^ une étape de détermination d'une valeur dite mesurée du paramètre de texture pour un ensemble d'orifices du dispositif d'étalonnage, ^ une étape de détermination d'un paramètre de correction en fonction de la valeur mesurée du paramètre de texture, et d'une valeur de référence 30 associée audit ensemble d'orifices du dispositif d'étalonnage, et ^ une étape d'application du paramètre de correction à l'appareil d'imagerie. 3044215 25 17. Procédé d'étalonnage selon la revendication 16, dans lequel le dispositif d'étalonnage (10, 40) comporte plusieurs ensembles d'orifices (200-205 ; 300305), l'étape de détermination d'une valeur mesurée du paramètre de texture 5 comprenant la détermination d'une valeur mesurée du paramètre de texture pour chaque ensemble d'orifices, l'étape de détermination d'un paramètre de correction comprenant la détermination d'un ou plusieurs paramètres de correction en fonction des valeurs mesurées du paramètre de texture, et de valeurs de référence associées aux ensembles d'orifices du dispositif 10 d'étalonnage, l'étape d'application du paramètre de correction comprenant l'application du ou des paramètres de correction à l'appareil d'imagerie.