FR 3042877 A1 20170428 FR 1560093 A 20151022 B13342 - DD15028ST 1 PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION DE LA PHASE D'UN SIGNAL PERIODIQUE Domaine La présente demande concerne un procédé et un dispositif d'acquisition d'une information représentative de la phase d'un signal analogique périodique. Exposé de l'art antérieur Il existe de nombreuses applications, en particulier dans le domaine de l'imagerie, dans lesquelles on cherche à enregistrer, à l'aide d'un capteur, la phase d'un signal analogique périodique (c'est-à-dire le déphasage de ce signal par rapport à un signal de référence de même périodicité), après réflexion ou transmission de ce signal par un objet. Les procédés et dispositifs existants permettant de mesurer la phase d'un signal analogique périodique présentent toutefois divers inconvénients, notamment en termes de complexité, de consommation énergétique et/ou de vitesse d'acquisition. Un objet des modes de réalisation décrits ci-après est de prévoir un procédé et un dispositif de mesure de phase palliant tout ou partie de ces inconvénients. 3042877 B13342 - DD15028ST 2 Résumé Ainsi, un mode de réalisation prévoit un procédé de mesure de la phase d'un signal analogique périodique, comprenant les étapes suivantes : a) acquérir, à une période d'échantil- 5 lonnage Tech différente de la période Tsig dudit signal et qui ne soit pas un multiple ou un sous-multiple de la période Tsig' une pluralité d'échantillons analogiques représentatifs de l'amplitude dudit signal ; et b) quantifier sur un bit chacun desdits échantillons pour fournir un signal binaire. 10 Selon un mode de réalisation, le procédé comporte en outre une étape c) de détermination d'une valeur de phase dudit signal à partir du signal binaire produit à l'étape b). Selon un mode de réalisation, l'étape c) comprend la comparaison dudit signal binaire avec des trains de bits stockés 15 dans une table de correspondance. Selon un mode de réalisation, l'étape c) comprend une étape de filtrage numérique dudit signal binaire, visant à détecter une aberration cyclique particulière dans ce signal. Selon un mode de réalisation, l'étape c) comprend 20 l'intégration numérique dudit signal binaire, et la fourniture d'une valeur numérique correspondant au résultat de cette intégration. Selon un mode de réalisation, l'étape a) comprend une étape de filtrage analogique. 25 Selon un mode de réalisation, l'étape a) comprend une étape d'intégration analogique. Selon un mode de réalisation, le signal analogique périodique est un signal lumineux dont l'intensité oscille de façon périodique. 30 Selon un mode de réalisation, le signal analogique périodique est un signal acoustique. Selon un mode de réalisation, Tech=Tsig/a, où a est un coefficient s'exprimant sous la forme a=p/q, où p et q sont des entiers strictement positifs tels que p/q soit une fraction 35 irréductible. 3042877 B13342 - DD15028ST 3 Un autre mode de réalisation prévoit un dispositif de mesure de la phase d'un signal analogique périodique, comportant : un étage d'échantillonnage adapté à acquérir, à une période d'échantillonnage Tech différente de la période Tsig 5 dudit signal et qui ne soit pas un multiple ou un sous-multiple de la période Tsig, une pluralité d'échantillons analogiques représentatifs de l'amplitude dudit signal ; et un étage de seuillage adapté à quantifier sur un bit chacun desdits échantillons pour fournir un signal binaire. 10 Selon un mode de réalisation, le dispositif comporte en outre un étage de détermination d'une valeur de phase dudit signal à partir du signal binaire produit par l'étage de seuillage. Selon un mode de réalisation, Tech=Tsig/a, où a est un 15 coefficient s'exprimant sous la forme a=p/q, où p et q sont des entiers strictement positifs tels que p/q soit une fraction irréductible. Un autre mode de réalisation prévoit un dispositif comportant une pluralité de détecteurs agencés matriciellement, chaque détecteur étant adapté à fournir un signal analogique périodique, et une pluralité de dispositifs de mesure de phase du type susmentionné, chaque détecteur étant couplé à l'un des dispositifs de mesure de phase. Brève description des dessins Ces caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres, seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles : la figure 1 illustre schématiquement un exemple d'un 30 système d'imagerie dans lequel on cherche à enregistrer la phase d'un signal analogique périodique ; les figures 2A et 2B sont des chronogrammes illustrant schématiquement un exemple d'un mode de réalisation d'un procédé d'acquisition d'un mot numérique ou train de bits représentatif 35 de la phase d'un signal analogique périodique ; 3042877 B13342 - DD15028ST 4 la figure 3 est un diagramme représentant schématiquement l'évolution d'un train de bits acquis par un procédé du type décrit en relation avec les figures 2A et 2B, en fonction de la phase du signal analogique périodique ; 5 la figure 4 illustre schématiquement, sous forme de blocs, un exemple d'une étape de traitement numérique d'un train de bits acquis par un procédé du type décrit en relation avec les figures 2A et 2B ; la figure 5 est un diagramme représentant schéma-10 tiquement l'évolution d'un mot numérique ou train de bits produit lors de l'étape de traitement de la figure 4, en fonction de la phase du signal analogique périodique ; la figure 6 illustre schématiquement, sous forme de blocs, un exemple d'un mode de réalisation d'un dispositif 15 d'acquisition d'un mot numérique ou train de bits représentatif de la phase d'un signal analogique périodique ; les figures 7A et 7B sont des chronogrammes illustrant schématiquement un autre exemple de réalisation d'un procédé d'acquisition d'une valeur numérique représentative de la phase 20 d'un signal analogique périodique ; la figure 8 est un diagramme représentant schématiquement l'évolution d'une valeur numérique acquise par un procédé du type décrit en relation avec les figures 7A et 7B, en fonction de la phase du signal analogique périodique ; et 25 la figure 9 illustre schématiquement, sous forme de blocs, un exemple d'un mode de réalisation d'un dispositif d'acquisition d'une valeur numérique représentative de la phase d'un signal analogique périodique. Description détaillée Par souci de clarté, de mêmes éléments ont été désignés par de mêmes références aux différentes figures et, de plus, les diverses figures ne sont pas tracées à l'échelle. Par ailleurs, seuls les éléments utiles à la compréhension des modes de réalisation décrits ont été détaillés. En particulier, les diverses utilisations qui peuvent être faites d'un procédé et 3042877 B13342 - DD15028ST 5 d'un dispositif d'acquisition d'une information numérique représentative de la phase d'un signal analogique périodique n'ont pas été détaillées, les modes de réalisation décrits étant compatibles avec toutes les applications connues comportant des 5 étapes de mesure de la phase d'un signal analogique périodique. La figure 1 illustre schématiquement un exemple d'un système d'imagerie dans lequel on cherche à enregistrer la phase d'un signal analogique périodique. Le système de la figure 1 comprend une source lumineuse 101 (L) adaptée à générer un 10 faisceau lumineux 103 dont l'intensité varie de façon périodique, par exemple de façon sinusoïdale, à une fréquence fsig- Le faisceau 103 peut être monochromatique ou polychromatique. Le faisceau 103 est par exemple un faisceau de lumière blanche. A titre d'exemple non limitatif, la fréquence 15 fsig des oscillations en intensité du faisceau 103 est comprise entre 1 Hz et 100 MHz. La source 101 est agencée de façon que le faisceau 103 illumine un objet 105 (OBJ) à examiner. Après réflexion ou transmission par l'objet 105, le faisceau 103 est redirigé vers un capteur 107, par exemple un capteur d'images 20 comportant une matrice de pixels photosensibles (non représentés). Lorsque le capteur 107 est éclairé par le faisceau 103, chaque pixel reçoit un faisceau lumineux dont l'intensité lumineuse évolue de façon périodique (par exemple de façon sinusoïdale) à la fréquence fsig, autour d'une valeur moyenne ou 25 composante continue a0, avec une amplitude de crête de valeur al. Les intensités lumineuses reçues par différents pixels du capteur 107 peuvent avoir des composantes continues a0 distinctes et/ou des amplitudes al distinctes, mais fluctuent toutes de façon périodique à la fréquence fsig, avec des 30 déphasages propres. Pour obtenir certaines informations à propos de l'objet 105, il peut être souhaitable de déterminer, pour chaque pixel du capteur 107, une information représentative de la phase du faisceau lumineux reçu par le pixel. Les figures 2A et 2B sont des chronogrammes illustrant 35 schématiquement un exemple d'un mode de réalisation d'un procédé 3042877 B13342 - DD15028ST 6 d'acquisition d'un mot numérique ou train de bits représentatif de la phase d'un signal analogique périodique 201. Les figures 2A et 2B représentent les mêmes signaux pour deux valeurs de phase distinctes du signal 201. 5 Le signal 201 correspond par exemple à l'intensité lumineuse reçue par un pixel du capteur 107 de la figure 1. Dans cet exemple, le signal 201 (en trait continu) est un signal sinusoïdal de fréquence fsig, évoluant autour d'une composante continue a0 avec une amplitude de crête al. Dans l'exemple 10 représenté, par souci de simplification, la composante continue a0 est nulle. Le procédé décrit fonctionne toutefois de façon similaire ou identique lorsque la composante continue a0 est non nulle. Le procédé illustré par les figures 2A et 2B comprend 15 l'acquisition, à une période d'échantillonnage Tech, d'une suite de N échantillons analogiques 203 (représentés par des cercles sur les figures 2A et 2B) représentatifs de l'amplitude du signal 201, où N est un entier supérieur à 1. Dans l'exemple représenté, chaque échantillon 203 correspond à l'amplitude du 20 signal 201 à l'instant d'échantillonnage. A titre de variante, chaque échantillon 203 peut correspondre à l'intégration du signal 201 pendant une période Tech (c'est-à-dire, dans l'exemple de la figure 1, à l'intégration de l'intensité lumineuse reçue par un pixel du capteur 107 pendant une période 25 Tech) Selon un aspect des modes de réalisation décrits, la période Tech est distincte de la période Tsig = l/fsig du signal 201, et n'est pas un multiple ou un sous-multiple de la période Tsig. Dans l'exemple illustratif représenté aux figures 2A et 30 2B, Tech = 4*Tsig/15, et N = 19. Les modes de réalisation décrits ne se limitent toutefois pas à ce cas particulier. Le procédé illustré par les figures 2A et 2B comprend en outre une étape de traitement analogique des échantillons 203, visant à filtrer la composante continue a0 du signal 201 35 (dans le cas où la composante a0 serait non nulle). Dans cet 3042877 B13342 - DD15028ST 7 exemple, le traitement analogique est essentiellement une opération de soustraction consistant, à chaque acquisition d'un échantillon 203 à fournir un signal intermédiaire 205 (en trait interrompu sur les figures 2A et 2B) de valeur égale ou 5 approximativement égale à la différence entre la valeur de l'échantillon 203 courant (qui vient d'être acquis) et la valeur de l'échantillon 203 de rang précédent (acquis à la période Tech précédente). Le procédé illustré par les figures 2A et 2B comprend 10 en outre une étape de quantification sur un bit ou seuillage des échantillons du signal analogique à temps discret 205, et de fourniture d'un signal numérique binaire 207 (en pointillés sur les figures 2A et 2B) correspondant au résultat de cette quantification. Dans cet exemple, la quantification consiste, à 15 chaque fois qu'un nouvel échantillon analogique du signal intermédiaire 205 est produit, à comparer la valeur de cet échantillon à zéro et, si la valeur de l'échantillon est positive, à mettre le signal 207 à l'état haut (valeur binaire 1), et, si la valeur de l'échantillon est négative, à mettre le 20 signal 207 à l'état bas (valeur binaire 0). Comme cela sera expliqué plus en détail ci-après, le mot numérique ou train de bits porté par le signal 207 est représentatif de la phase du signal analogique périodique 201. Ce mot ou train de bits peut être stocké dans une mémoire et/ou 25 transmis à un dispositif de traitement adapté à convertir et/ou exploiter l'information de phase correspondante. Dans l'exemple représenté, le mot numérique contenu dans le signal 207 contient N-1 = 18 bits. La figure 3 est un diagramme représentant l'évolution 30 du mot numérique ou train de bits produit par le procédé décrit en relation avec les figures 2A et 2B (porté par le signal 207 des figures 2A et 2B), en fonction de la phase du signal analogique périodique 201. Plus particulièrement, la figure 3 représente, pour 100 valeurs de phases successives du signal 201 35 régulièrement réparties de 0 à 2n (en ordonnée), les N-1 bits du 3042877 B13342 - DD15028ST 8 mot numérique produit par le procédé des figures 2A et 2B. L'axe des abscisses représente le rang des N-1 échantillons binaires du mot numérique de sortie. Comme cela apparaît, sur la figure 3 des valeurs de 5 phase voisines peuvent conduire à la génération d'un même mot numérique de sortie, mais des valeurs de phase éloignées conduisent à la génération de mots numériques de sortie distincts. Plus particulièrement, dans cet exemple (non limitatif), on observe que le mot numérique de sortie passe 10 successivement par 30 états distincts lorsque la phase du signal 201 varie de 0 à 2n. De plus, on observe que les changements de valeur du mot numérique de sortie sont régulièrement répartis de 0 à 2n (tous les 2n/30 dans cet exemple particulier). Ainsi, en utilisant une table de correspondance, il 15 est possible, à partir du mot numérique obtenu par le procédé des figures 2A et 2B, de déterminer une valeur de phase approximative du signal 201 (avec une marge d'erreur de 2n/30 dans cet exemple). On notera que l'utilisation d'une table de 20 correspondance pour exploiter l'information de phase contenue dans le mot numérique de sortie produit par le procédé des figures 2A et 2B est facultative. A titre de variante, un traitement numérique du mot porté par le signal 207 peut être effectué pour déterminer ou approximer une valeur de phase du 25 signal 201. La figure 4 illustre schématiquement, sous forme de blocs, un exemple d'un traitement numérique d'un train de bits acquis par le procédé des figures 2A et 2B, permettant d'exploiter l'information de phase contenue dans ce train de 30 bits. Dans cet exemple, le train de bits acquis par le procédé des figures 2A et 2B (correspondant au signal 207 des figures 2A et 2B) est reçu sur une entrée IN d'un dispositif de traitement numérique, et est traité en parallèle par deux étages 35 de filtrage 401 et 403 de ce dispositif. L'étage de filtrage 401 3042877 B13342 - DD15028ST 9 est adapté à détecter les occurrences du motif 101 (un niveau haut suivi d'un niveau bas suivi d'un niveau haut) dans le signal 207. L'étage 401 fournit un signal binaire OUT1 qui ne passe à l'état haut que lorsque le motif 101 est détecté dans le 5 signal 207. Plus particulièrement, lorsqu'il reçoit en entrée le train de N-1 bits acquis par le procédé des figures 2A et 2B, l'étage 401 fournit un train de N-1 bits dont chaque bit à l'état haut correspond à une occurrence du motif 101 dans le signal d'entrée. L'étage de filtrage 403 est adapté à détecter 10 les occurrences du motif 010 (un niveau bas suivi d'un niveau haut suivi d'un niveau bas) dans le signal 207. L'étage 403 fournit un signal binaire OUT2 qui ne passe à l'état haut que lorsque le motif 010 est détecté dans le signal 207. Plus particulièrement, lorsqu'il reçoit en entrée le train de N-1 15 bits acquis par le procédé des figures 2A et 2B, l'étage 403 fournit un train de N-1 bits dont chaque bit à l'état haut correspond à une occurrence du motif 010 dans le signal d'entrée. La figure 5 est un diagramme représentant schéma- 20 tiquement l'évolution, en fonction de la phase du signal analogique périodique 201, des trains de bits fournis en sortie des filtres 401 et 403 du dispositif de traitement de la figure 4. Comme dans l'exemple de la figure 3, l'axe des ordonnées représente 100 valeurs de phases successives du signal 201, 25 régulièrement réparties de 0 à 2n. L'axe des abscisses représente le rang des N-1 échantillons binaires des signaux OUT1 et OUT2. Les bits à l'état bas (0) sont représentés par des rectangles noirs, les bits à l'état haut (1) du signal OUT1 sont représentés par des rectangles blancs hachurés, et les bits à 30 l'état haut du signal OUT2 sont représentés par des rectangles blancs non hachurés. Comme cela apparait sur la figure 5, pour une valeur de phase donnée du signal 201, seul l'un des signaux OUT1 et OUT2 comprend un (et un seul) bit à l'état haut. En d'autres termes, pour une valeur de phase donnée du signal 201, 35 le signal binaire 207 comprend une seule occurrence du motif 101 3042877 B13342 - DD15028ST 10 ou une seule occurrence du motif 010. Connaissant la position du bit à l'état haut dans le signal de sortie OUT1 ou OUT2, il est possible de déterminer la valeur de la phase du signal 201 (avec une marge d'erreur de 2n/30 dans cet exemple particulier). 5 Les modes de réalisation décrits ne se limitent pas à l'exemple particulier de procédé de traitement numérique du signal binaire 207 décrit en relation avec les figures 4 et 5. Plus généralement, en fonction de l'application envisagée, l'homme du métier saura mettre en place d'autres traitements 10 numériques, éventuellement combinés avec l'utilisation de tables de correspondance, permettant d'exploiter une information de phase contenue dans un mot numérique acquis par un procédé du type décrit en relation avec les figures 2A et 2B. De plus, les modes de réalisation décrits ne se 15 limitent pas à l'exemple particulier de traitement analogique des échantillons 203 décrit en relation avec les figures 2A et 2B (soustraction de deux échantillons consécutifs). Plus généralement, en fonction de l'application considérée, d'autres types de traitement analogique peuvent être appliqués aux 20 échantillons 203, par exemple pour filtrer des composantes fréquentielles non continues du signal analogique 201. On pourra par exemple prévoir un filtre analogique reconfigurable dynamiquement, par exemple pour effectuer successivement des mesures de phase sur des signaux analogiques d'entrée 201 de 25 longueurs d'onde différentes. A titre de variante, l'étape de quantification ou seuillage peut être mise en oeuvre directement après l'acquisition des échantillons 203, sans passer par un traitement analogique intermédiaire. Par ailleurs, selon l'application considérée on pourra 30 choisir d'autres rapports entre les périodes Tech et Tsig, que celui de l'exemple des figures 2A et 2B. Dans l'exemple des figures 2A et 2B, on a vu que le procédé proposé permet de déterminer la valeur de la phase du signal 201 parmi 30 valeurs discrètes de phase régulièrement réparties de 0 à 2n. En 35 d'autres termes, ce procédé permet de déterminer une valeur 3042877 B13342 - DD15028ST 11 numérique de phase codée sur nbBits = 5 bits. Le choix du coefficient a tel que Tech = Tsig/a, et le choix du nombre N d'échantillons analogiques 203 acquis lors d'une mesure de phase, permettent d'obtenir un compromis entre le temps 5 nécessaire à l'acquisition d'une valeur de phase, la résolution nbBits de la valeur de phase mesurée, la redondance de l'information, et la vitesse d'échantillonnage du capteur. En particulier, en fonction de l'application envisagée, il peut être souhaitable que l'acquisition d'une valeur de phase soit 10 relativement rapide, par exemple de façon à s'affranchir d'éventuelles fluctuations de fréquence du signal 201. Dans ce cas, il est souhaitable que le nombre de périodes Tsig du signal 201 nécessaire à l'acquisition d'une valeur de phase soit relativement faible. Pour une résolution nbBits donnée de la 15 mesure de phase, on privilégiera alors une période d'échantillonnage Tech relativement brève. Toutefois, dans certains cas, il peut être souhaitable que la période d'échantillonnage Tech ne soit pas trop brève, pour limiter les contraintes de cadence pesant sur le capteur utilisé pour 20 acquérir les échantillons 203. Dans ce cas, on peut choisir d'allonger le temps d'acquisition pour permettre l'acquisition d'un nombre d'échantillons binaires suffisant pour obtenir la résolution nbBits recherchée. Dans un mode de réalisation préféré, pour une 25 résolution de mesure nbBits donnée, le coefficient a est tel que la période Tech soit strictement supérieure à Tsig/2nbBits et strictement inférieure à Tsig + Tsig/2nbBits, ce qui permet un compromis satisfaisant entre le temps de mesure d'une valeur de phase et la vitesse d'échantillonnage du capteur. 30 De préférence, le coefficient a s'exprime sous la forme a=p/q, où p et q sont des entiers strictement positifs tels que p/q soit une fraction irréductible. Si on pose a = 2k ± 1/q, avec k et q entiers non nuls, le signal 207 (figures 2A et 2B) peut être décrit comme un signal binaire dont la période 35 caractéristique est 2k (correspondant à l'oscillation de k bits 3042877 B13342 - DD15028ST 12 à l'état bas suivis de k bits à l'état 1). Tous les p échantillons, le signal subit une modification de sa structure cyclique ou aberration cyclique, qui se traduit par un décalage de 1 bit de son motif périodique (correspondant, dans l'exemple 5 des figures 2A et 2B, à une occurrence du motif 101 ou à une occurrence du motif 010). La détection de cette modification permet typiquement de définir la phase du signal 201 sur un nombre de bits nbBits approximativement égal à log2(2p). A titre de variante, cet exemple de réalisation peut être étendu au cas 10 a = k ± 1/q. L'aberration cyclique à détecter dans le signal 207 est alors de nature différente. De préférence, le ratio a sera choisi de façon à générer des aberrations cycliques aisément détectables par un système de filtrage numérique. La figure 6 illustre schématiquement, sous forme de 15 blocs, un exemple d'un mode de réalisation d'un dispositif 600 d'acquisition d'un mot numérique ou train de bits représentatif de la phase d'un signal analogique périodique. Dans cet exemple, le dispositif 600 est adapté à mettre en oeuvre un procédé du type décrit en relation avec les figures 2A et 2B. Il comprend 20 une entrée in adaptée à recevoir le signal analogique périodique 201, et une sortie out adaptée à fournir une donnée numérique représentative de la phase du signal 201. A titre d'exemple, l'entrée in peut être reliée à la sortie d'un détecteur d'une onde périodique, par exemple un détecteur photosensible dans le 25 cas d'un système d'imagerie du type décrit en relation avec la figure 1. Le circuit 600 comprend un étage d'échantillonnage 601 adapté à acquérir, à la période Tech, des échantillons analogiques 203 représentatifs de l'amplitude du signal 201. Le circuit 600 comprend de plus, dans cet exemple, un étage de 30 traitement analogique 603 (optionnel), recevant les échantillons 203 et fournissant des échantillons analogiques intermédiaires 205. Le circuit 600 comprend en outre un étage de seuillage 605 recevant les échantillons intermédiaires 205 et fournissant le signal binaire 207. Le circuit 600 peut en outre comporter un 35 étage ou circuit 607 de traitement numérique (optionnel) 3042877 B13342 - DD15028ST 13 recevant le signal binaire 207 et fournissant, sur la sortie out, une donnée numérique représentative de la phase du signal 201. Les figures 7A et 7B sont des chronogrammes illustrant 5 schématiquement un autre exemple d'un mode de réalisation d'un procédé d'acquisition d'un mot numérique ou train de bits représentatif de la phase d'un signal analogique périodique 201. Les figures 7A et 7B représentent les mêmes signaux pour deux valeurs de phase distinctes du signal 201. 10 Comme dans l'exemple des figures 2A et 2B, le signal 201 (en trait continu) est un signal sinusoïdal de fréquence fsig, évoluant autour d'une composante continue a0 avec une amplitude de crête al. Dans l'exemple représenté, par souci de simplification, la composante continue a0 est nulle. Le procédé 15 décrit fonctionne toutefois de façon similaire ou identique lorsque la composante continue a0 est non nulle. Le procédé illustré par les figures 7A et 7B comprend, comme dans l'exemple des figures 2A et 2B, l'acquisition, à une période d'échantillonnage Tech, d'une suite de N échantillons 20 analogiques 203 (représentés par des cercles) représentatifs de l'amplitude du signal 201. Comme dans l'exemple des figures 2A et 2B, la période Tech est distincte de la période Tsig du signal 201, et n'est pas un multiple ou un sous-multiple de la période Tsig. Le choix 25 de la période Tech peut par exemple être effectué comme indiqué ci-dessus, en fonction du compromis recherché en termes de temps d'acquisition d'une valeur de phase, de résolution de la phase mesurée, et de vitesse d'échantillonnage du capteur. Le procédé illustré par les figures 7A et 7B comprend 30 en outre une première étape de traitement analogique des échantillons 203, visant à filtrer la composante continue a0 du signal 201 (dans le cas où la composante a0 serait non nulle). Dans cet exemple, le traitement analogique est identique à celui décrit en relation avec les figures 2A et 2B, c'est-à-dire qu'il 35 consiste à chaque acquisition d'un échantillon 203 à fournir un 3042877 B13342 - DD15028ST 14 signal intermédiaire 205 (en trait interrompu sur les figures 7A et 7B) de valeur égale ou différence entre la valeur de valeur de l'échantillon 203 5 l'exemple des figures 2A et 2B, titre de variante, soit approximativement égale à la l'échantillon 203 courant et la de rang précédent. Comme dans ce traitement analogique peut, à être omis (les échantillons intermédiaires 205 et 203 étant alors identiques), soit être remplacé par un traitement analogique différent, visant par exemple à filtrer une composante fréquentielle non continue du 10 signal 201. Le procédé illustré par les figures 7A et 7B diffère du procédé des figures 2A et 2B en ce qu'il comprend en outre une étape d'intégration analogique des échantillons 205. Plus particulièrement, dans cet exemple, à chaque nouvelle 15 acquisition d'un échantillon 203, un signal analogique à temps discret 707 (en traits mixte) est mis à jour, la valeur du signal 707 correspondant à la somme des valeurs de tous les échantillons 205 précédemment acquis depuis le début de la mesure. 20 Le procédé illustré par les figures 7A et 7B comprend en outre une étape de quantification sur un bit ou seuillage des échantillons du signal analogique à temps discret 707, suivie d'une étape d'intégration numérique du résultat de ce seuillage. Plus particulièrement, dans cet exemple, à chaque nouvelle 25 acquisition d'un échantillon 203, le signal 707 est mis à jour puis quantifié sur un bit. Un signal numérique 709 (en pointillés) est alors mis à jour, la valeur du signal 709 correspondant à la somme de tous les échantillons binaires (non représentés) représentatifs du signal 707 générés depuis le 30 début de la mesure. Après un certain nombre d'acquisitions, la valeur numérique 709 est représentative de la phase du signal d'entrée 201. Cette valeur peut par exemple être stockée dans une mémoire et/ou transmise à un dispositif de traitement adapté à convertir 35 et/ou exploiter l'information de phase correspondante. A titre 3042877 B13342 - DD15028ST 15 illustratif, dans l'exemple des figures 7A. et 7B, à la fin d'une phase de mesure comportant l'acquisition de N = 19 échantillons analogiques du signal 201, la valeur du signal 709 est égale à 0 dans l'exemple de la figure 7A. (phase à l'origine du signal 201 5 nulle), et est égale à 13 dans l'exemple de la figure 7B (phase à l'origine du signal 201 non nulle). Les inventeurs ont constaté que, pour un nombre N donné d'échantillons acquis lors d'une mesure, la valeur numérique 709 à la fin de la mesure croit de façon sensiblement 10 linéaire avec la phase du signal 201 lorsque la phase du signal 201 varie de 0 à n, et décroit de façon sensiblement linaire (avec une pente opposée) avec la phase du signal 201 lorsque la phase du signal 201 varie de n à 2n. La figure 8 est un diagramme représentant de façon 15 schématique (courbe 801 en trait plein) l'évolution d'une valeur numérique 709 acquise par un procédé du type décrit en relation avec les figures 7A. et 7B, en fonction de la phase du signal analogique d'entrée 201. Dans cet exemple, la mesure est effectuée avec N = 1000 échantillons. L'axe des ordonnées 20 représente la valeur du signal 709 de sortie de l'intégrateur numérique, et l'axe des abscisses représente la valeur de la phase du signal 201. Comme cela apparait sur la figure, la valeur du mot numérique 709 croit de façon sensiblement linéaire (de 0 à 1000) en fonction de la phase du signal 201 lorsque la 25 phase du signal 201 varie de 0 à n, puis décroit de façon sensiblement linaire (de 1000 à 0) avec la phase du signal 201 lorsque la phase du signal 201 varie de n à 2n. Pour obtenir une mesure de phase sur une plage allant de 0 à 2n, on peut effectuer en parallèle deux mesures en 30 décalant le premier échantillon de la deuxième mesure de Tsig/4 par rapport au premier échantillon de la première mesure. Ceci permet de réaliser une acquisition en quadrature de phase, comme l'illustre la courbe 803 (en trait interrompu) de la figure 8. En combinant les sorties des deux acquisitions, on peut obtenir 3042877 B13342 - DD15028ST 16 une évaluation de la valeur de la phase du signal 201 entre 0 et 2n. La figure 9 illustre schématiquement, sous forme de blocs, un exemple d'un mode de réalisation d'un dispositif 900 5 d'acquisition d'une valeur numérique représentative de la phase d'un signal analogique périodique. Dans cet exemple, le dispositif 900 est adapté à mettre en oeuvre un procédé du type décrit en relation avec les figures 7A et 7B. Il comprend une entrée in adaptée à recevoir le signal 201, et une sortie out 10 adaptée à fournir une valeur numérique représentative de la phase du signal 201. A titre d'exemple, l'entrée in peut être reliée à la sortie d'un détecteur d'une onde périodique, par exemple un détecteur photosensible dans le cas d'un système d'imagerie du type décrit en relation avec la figure 1. Dans cet 15 exemple, le dispositif 900 comprend, entre l'entrée in et la sortie out, une première branche comportant : un étage d'échantillonnage 901 adapté à acquérir, à la période Tech, des échantillons analogiques 203 représentatifs de l'amplitude du signal 201 ; un étage de traitement analogique 903 (optionnel), 20 recevant les échantillons 203 et fournissant des échantillons analogiques intermédiaires 205 ; un étage d'intégration analogique 905, recevant les échantillons 205 et fournissant le signal analogique intégré 707 ; un étage de seuillage 907 recevant le signal analogique à temps discret 707, et 25 fournissant des échantillons binaires correspondant à la quantification sur 1 bit des échantillons du signal 707 ; et un étage d'intégration numérique 909 recevant les échantillons binaires fournis par l'étage de seuillage 907, et fournissant une valeur numérique 709 égale à la somme des échantillons 30 binaires de sortie de l'étage 907. Dans l'exemple représenté, le dispositif 900 comprend en outre, en parallèle de la première branche, une deuxième branche sensiblement identique à la première branche, recevant, en entrée de son étage d'échantillonnage 901, un signal 201' correspondant au signal 35 201 déphasé de n/2, et fournissant, en sortie de son intégrateur 3042877 B13342 - DD15028ST 17 numérique 909, un signal numérique 709'. Le dispositif 900 comprend en outre, dans cet exemple, un étage de traitement de sortie 911 adapté à combiner les valeurs numérique 709 et 709' acquises en quadrature de phase par l'intermédiaire des première 5 et deuxième branches du dispositif 900, et à fournir, sur la sortie out, une valeur numérique représentative de la phase du signal 201 entre 0 et 2n. Un avantage des modes de réalisation décrits est que leur mise en oeuvre est relativement peu contraignante notamment 10 en termes d'encombrement, de consommation énergétique, et de fréquence d'échantillonnage. Pour ces raisons, les modes de réalisation décrits sont particulièrement adaptés à une mise en oeuvre matricielle, par exemple dans le domaine de l'imagerie active. A titre 15 d'exemple, on peut prévoir un capteur comportant une pluralité de photo-détecteurs agencés de façon matricielle, chaque détecteur étant couplé à un dispositif de mesure de phase du type décrit ci-dessus. Les modes de réalisation décrits ne se limitent toutefois pas à une mise en oeuvre matricielle. 20 Des modes de réalisation particuliers ont été décrits. Diverses variantes et modifications apparaîtront à l'homme de l'art. En particulier, les modes de réalisation décrits ne se limitent pas à l'exemple applicatif décrit en relation avec la figure 1 dans lequel les signaux dont on souhaite mesurer la 25 phase sont des signaux lumineux. Plus généralement, les modes de réalisation décrits peuvent être adaptés pour mesurer la phase de signaux ondulatoires de diverses natures, par exemple des vibrations mécaniques, des signaux acoustiques, etc. REVENDICATIONS1. Procédé de mesure de la phase d'un signal analogique périodique (201), comprenant les étapes suivantes : a) acquérir, à une période d'échantillonnage Tech différente de la période Tsig dudit signal (201) et qui ne soit pas un multiple ou un sous-multiple de la période Tsig, une pluralité d'échantillons analogiques (203, 205 ; 707) représentatifs de l'amplitude dudit signal (201) ; et b) quantifier sur un bit chacun desdits échantillons (203, 205 ; 707) pour fournir un signal binaire (207). 2. Procédé selon la revendication 1, comportant en outre une étape c) de détermination d'une valeur de phase dudit signal (201) à partir du signal binaire (207) produit à l'étape b). 3. Procédé selon la revendication 2, dans lequel 15 l'étape c) comprend la comparaison dudit signal binaire (207) avec des trains de bits stockés dans une table de correspondance. 4. Procédé selon la revendication 2 ou 3, dans lequel l'étape c) comprend une étape de filtrage numérique dudit signal 20 binaire (207), visant à détecter une aberration cyclique particulière dans ce signal (207). 5. Procédé selon la revendication 2, dans lequel l'étape c) comprend l'intégration numérique dudit signal binaire, et la fourniture d'une valeur numérique (709) 25 correspondant au résultat de cette intégration. 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, dans lequel l'étape a) comprend une étape de filtrage analogique. 7. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 30 à 6, dans lequel l'étape a) comprend une étape d'intégration analogique. 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel ledit signal analogique périodique (201) est un signal lumineux dont l'intensité oscille de façon périodique. 3042877 B13342 - DD15028ST 19 9. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel ledit signal analogique périodique (201) est un signal acoustique. 10. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 5 à 9, dans lequel Tech=Tsig/a, où a est un coefficient s'exprimant sous la forme a=p/q, où p et q sont des entiers strictement positifs tels que p/q soit une fraction irréductible. 11. Dispositif (600 ; 900) de mesure de la phase d'un 10 signal analogique périodique (201), comportant : un étage d'échantillonnage (601 ; 901) adapté à acquérir, à une période d'échantillonnage Tech différente de la période Tsig dudit signal (201) et qui ne soit pas un multiple ou un sous-multiple de la période Tsig, une pluralité 15 d'échantillons analogiques (203, 205 ; 707) représentatifs de l'amplitude dudit signal (201) ; et un étage de seuillage (605 ; 907) adapté à quantifier sur un bit chacun desdits échantillons (203, 205 ; 707) pour fournir un signal binaire (207). 20 12. Dispositif (600 ; 900) selon la revendication 11, comportant en outre un étage de détermination d'une valeur de phase dudit signal (201) à partir du signal binaire (207) produit par l'étage de seuillage (605 ; 907). 13. Dispositif selon la revendication 11 ou 12, dans 25 lequel Tech=Tsig/a, où a est un coefficient s'exprimant sous la forme a=p/q, où p et q sont des entiers strictement positifs tels que p/q soit une fraction irréductible. 14. Dispositif comportant une pluralité de détecteurs agencés matriciellement, chaque détecteur étant adapté à fournir 30 un signal analogique périodique (201), et une pluralité de dispositifs de mesure de phase (600 ; 900) selon l'une quelconque des revendications 11 à 13, chaque détecteur étant couplé à l'un des dispositifs de mesure de phase.