FR 3032807 A1 20160819 FR 1551271 A 20150216 MESURE PAR INTERFEROMETRIE ATOMIQUE AVEC PLUSIEURS ESPECES D'ATOMES La présente invention concerne un procédé de mesure par interférométrie atomique, ainsi qu'un appareil pour mettre en oeuvre ce procédé. Il est connu de mesurer une grandeur inertielle par interférométrie atomique. La grandeur inertielle peut être une coordonnée de champ gravitationnel ou une coordonnée d'une accélération qui est subie par des atomes utilisés pour la mesure. Pour réaliser une telle mesure, un ensemble d'atomes est refroidi jusqu'à une température de quelques microkelvins, puis subit une séquence d'interactions avec des photons pour former une interférence atomique. Une mesure est alors effectuée, d'un déphasage qui est apparu lors de la formation de l'interférence atomique dans la fonction d'onde atomique («matter-wave» en anglais) résultante pour l'ensemble d'atomes. De façon connue, lorsque l'ensemble d'atomes est soumis à une accélération pendant la formation de l'interférence, le déphasage est Aetot = k - a x T2 + A(Dop, où k est le vecteur d'onde qui correspond à une impulsion («momentum» en anglais) reçue ou cédée par un des atomes lors de chaque interaction entre les atomes et les photons, a est le vecteur de l'accélération subie par les atomes, - désigne l'opération de produit scalaire entre les vecteurs k et a, T est un temps de base qui sépare des impulsions («pulse» en anglais) laser successives dans la séquence d'interactions entre les atomes et les photons qui forme l'interférence, et A(Dop est un déphasage constant qui dépend de la façon de produire les conditions d'interférence. Plus précisément, le déphasage constant Ae^op dépend de conditions opératoires qui sont subies de façon reproductible et de paramètres opératoires qui sont contrôlés. En fait, le résultat de la mesure, noté P, n'est pas directement le déphasage Aetot, mais une valeur qui dépend de ce déphasage par l'intermédiaire d'une fonction périodique, selon la formule P = Po - [1 C x cos(Ae^tot)], où Po et C sont deux nombres non nuls. A cause de la forme 3032807 - 2 - des variations de la fonction P(Ae^tot), la valeur du déphasage Ae^tot ne peut être déduite avec une précision satisfaisante à partir de la valeur du résultat de mesure P que lorsque cette valeur du déphasage Aetot appartient à des intervalles limités et séparés. Entre ces intervalles, c'est-à-dire lorsque le 5 déphasage Ae^t0t est proche de l'une des valeurs n x H, n étant un nombre entier, les valeurs de dérivée de la fonction P(Aetot) sont faibles, en valeurs absolues, de sorte que la valeur du déphasage Ae^tot ne peut plus être déduite avec une précision satisfaisante. Or l'ensemble des valeurs du déphasage Aetot qui ne sont pas obtenues avec précision est suffisamment important pour 10 réduire l'intérêt du procédé de mesure par interférométrie atomique. Par ailleurs, il est connu notamment de l'article intitulé «Simultaneous Dual-Species Matter-Wave Accelerometer», de A. Bonnin, N. Zahzam, Y. Bidel et A. Bresson, Phys. Rev. A 88, 043615 (2013), de réaliser des interférences atomiques avec deux ensembles d'atomes d'espèces différentes, à un même 15 endroit et à un même instant. Chaque ensemble d'atomes fournit alors un résultat de mesure indépendamment de l'autre ensemble d'atomes. Enfin, l'article intitulé «Simultaneous measurement of gravity acceleration and gravity gradient with an atom interferometer», de F. Sorrentino et al., Appl. Phys. Lett. 101, 114106 (2012), décrit un gradiomètre à 20 interférences atomiques. Avec le type d'appareil de ce document, deux mesures sont effectuées simultanément en utilisant deux ensembles d'atomes d'une même espèce, mais qui sont situés à deux endroits de mesures distants l'un de l'autre. A partir de cette situation, un but de la présente invention consiste à 25 améliorer la précision avec laquelle une valeur d'accélération quelconque peut être mesurée en utilisant un appareil de mesure par interférométrie atomique. Un but complémentaire de l'invention est d'obtenir une telle amélioration de précision sans accroître significativement la complexité, le poids, l'encombrement ni le prix de l'appareil de mesure par interférométrie 30 atomique. Pour cela, un premier aspect de l'invention propose un procédé de 3032807 - 3 - mesure par interférométrie atomique, dans lequel chaque session de mesures est exécutée avec au moins deux ensembles d'atomes qui sont soumis chacun à des conditions de formation d'une interférence atomique. Les atomes de chaque ensemble d'atomes sont d'une espèce qui est dédiée à cet ensemble 5 d'atomes et qui est différente de l'espèce des atomes de chaque autre ensemble d'atomes. Pour chaque session de mesures, les conditions de formation de l'interférence atomique sont produites pour chaque ensemble d'atomes dans tout un volume qui est associé à cet ensemble d'atomes et qui contient au 10 moins un point commun avec le volume associé à chaque autre ensemble d'atomes. Autrement dit, les interférences atomiques sont produites à un même endroit pour tous les ensembles d'atomes, de sorte que les résultats des mesures qui sont obtenus pour les différents ensembles d'atomes sont tous relatifs à ce même endroit. 15 En outre, les conditions de formation de l'interférence atomique sont produites pour chaque ensemble d'atomes entre un instant de début et un instant de fin respectivement avant et après un instant intermédiaire qui est commun pour tous les ensembles d'atomes. Autrement dit, les interférences atomiques sont produites simultanément pour tous les ensembles d'atomes, de 20 sorte que les résultats des mesures qui sont obtenus pour les différents ensembles d'atomes sont tous relatifs à l'instant intermédiaire. Un résultat de mesure est alors obtenu à chaque session de mesures indépendamment pour chaque ensemble d'atomes, chaque résultat de mesure variant selon une première fonction d'un déphasage total qui est apparu pour 25 l'ensemble d'atomes lors de la formation de l'interférence atomique. Ce déphasage total comprend lui-même une somme d'une seconde fonction d'un paramètre externe dont une valeur est recherchée et d'un déphasage constant qui est subi par l'ensemble d'atomes correspondant pendant la formation de l'interférence atomique correspondante. Dans ces conditions, le procédé de l'invention comprend les étapes suivantes : /1/ lors d'une session de mesures, appliquer une valeur pour au moins un paramètre opératoire, appelé paramètre interne et permettant de 3032807 - 4 - contrôler une différence entre les déphasages constants qui sont subis respectivement par les deux ensembles d'atomes, la (les) valeur(s) appliquée(s) pour le (les) paramètre(s) interne(s) étant telle(s) qu'une différence entre les déphasages totaux qui sont subis respectivement 5 par les deux ensembles d'atomes, soit comprise entre H/4 et 3H/4, en valeur absolue et modulo II ; /2/ pour chaque résultat de mesure qui est obtenu pour l'un des ensembles d'atomes à la session de mesures, déterminer une valeur de dérivée de ce résultat de mesure par rapport au paramètre externe, 10 cette dérivée étant évaluée pour le résultat de mesure ; /3/ sélectionner celui des ensembles d'atomes pour lequel la valeur de dérivée qui a été déterminée à l'étape /2/ est la plus grande en valeur absolue ; et /4/ calculer la valeur du paramètre externe à partir de celui des résultats 15 de mesures qui a été obtenu à l'étape /2/ pour l'ensemble d'atomes sélectionné à l'étape /3/. Ainsi, selon l'invention, la multiplicité des ensembles d'atomes qui sont utilisés pour une même session de mesures fournit une redondance de résultats. Cette redondance est combinée avec un contrôle des conditions 20 opératoires pour les mesures qui appartiennent à une même session. De cette façon, une mauvaise précision qui peut affecter le calcul de la valeur du paramètre externe à partir de l'un des résultats de mesure, obtenu pour l'un des ensembles d'atomes, peut être palliée par un autre résultat de mesure qui est obtenu à la même session pour un autre ensemble d'atomes. De façon 25 générale, la présente invention met donc en oeuvre des mesures multiples qui sont réalisées simultanément et au même endroit, mais avec des conditions opératoires et une valeur d'au moins un paramètre interne qui sont différentes pour chaque mesure de façon qu'une des mesures fournisse toujours une valeur pour le paramètre externe avec une précision satisfaisante. La sélection 30 selon l'invention de la valeur du paramètre interne peut être effectuée initialement lors de la conception de l'appareil de mesure par interférométrie 303 2 80 7 - 5 - atomique, ou être actualisée périodiquement, ou actualisée avant d'effectuer une nouvelle session de mesures. Dans le cas où deux ensembles d'atomes aboutissent individuellement à une précision satisfaisante pour la valeur du paramètre externe, la précision 5 globale peut aussi être améliorée par l'invention, par effet de mesures multiples. Dans différentes mises en oeuvre de l'invention, le (les) paramètre(s) interne(s) qui est (sont) utilisé(s) pour ajuster la différence entre les déphasages totaux, peut (peuvent) comprendre : 10 - au moins une amplitude d'un saut de phase introduit entre deux impulsions de rayonnement laser qui sont utilisées pour former l'interférence atomique pour l'un des ensembles d'atomes ; - au moins une vitesse de variation d'une fréquence d'un rayonnement laser qui est utilisé pour former l'interférence atomique pour l'un des ensembles 15 d'atomes ; - une intensité et un gradient d'un champ magnétique qui est appliqué aux ensembles d'atomes pendant la formation des interférences atomiques ; ou - une combinaison de plusieurs des paramètres internes précédents. 20 Avantageusement, la (les) valeur(s) qui est (sont) appliquée(s) pour le (les) paramètre(s) interne(s) peut (peuvent) être telle(s) que la différence entre les déphasages totaux qui sont subis respectivement par les deux ensembles d'atomes, soit comprise entre 3H18 et 511/8, préférentiellement 711/16 et 9H/16, en valeur absolue et modulo II. 25 De façon encore plus avantageuse, cette différence entre les déphasages totaux peut être comprise entre 1511/32 et 17H/32, en valeur absolue et modulo II. Dans ce cas, pour celui des ensembles d'atomes qui est sélectionné à l'étape /3/, la première fonction peut être remplacée par une fonction affine du déphasage total qui est apparu lors de la formation de 30 l'interférence atomique pour l'ensemble d'atomes sélectionné, dans tout un intervalle de valeurs qui possède une longueur d'intervalle supérieure ou égale 3032807 - 6 - à 311/8 et qui contient le déphasage total apparu lors de la formation de l'interférence atomique. La première fonction peut avoir pour expression P = Po - [1 - C x cos(A(Dtot)] pour chaque ensemble d'atomes, où P désigne le résultat de 5 mesure, Aetot est le déphasage total qui est apparu lors de la formation de l'interférence atomique pour cet ensemble d'atomes, et Po et C sont deux nombres non nuls. Le déphasage total peut être directement la somme de la seconde fonction et du déphasage constant : Ae^tot = A(I)(a) + A(Do, où a désigne le 10 paramètre externe, A(I)(a) est la seconde fonction de ce paramètre externe pour l'ensemble d'atomes considéré, et A(Dop est le déphasage constant pour le même ensemble d'atomes. Pour chaque ensemble d'atomes, la seconde fonction peut être du type fonction affine. Dans ce cas, et si le champ magnétique est nul ou si son 15 gradient est nul, un coefficient directeur de cette fonction affine peut être égal à k x T2, où T est un temps de base pour une séquence d'interactions entre les atomes et des photons, qui est mise en oeuvre pour former l'interférence atomique, et k est le module d'une impulsion reçue ou cédée par un des atomes lors de chaque interaction entre les atomes et les photons, divisé par 20 h/(211) = h où h est la constante de Planck. Lorsque le paramètre interne comprend une amplitude d'un saut de phase introduit entre deux impulsions de rayonnement laser qui sont utilisées pour former l'interférence atomique pour l'un des ensembles d'atomes, le déphasage constant qui est subi par cet ensemble d'atomes peut comprendre 25 un terme proportionnel à l'amplitude du saut de phase. Lorsque le paramètre interne comprend une vitesse de variation de fréquence d'un rayonnement laser qui est utilisé pour former l'interférence atomique pour l'un des ensembles d'atomes, le déphasage constant qui est subi par cet ensemble d'atomes peut comprendre le terme -211 x a x T2, où T 30 est encore le temps de base pour la séquence d'interactions entre les atomes et des photons, qui est mise en oeuvre pour former l'interférence atomique de 3032807 - 7 - l'ensemble d'atomes concerné, et a est la vitesse de variation de la fréquence du rayonnement laser. Lorsque le paramètre interne comprend une intensité et un gradient d'un champ magnétique qui est appliqué aux ensembles d'atomes pendant la 5 formation des interférences atomiques, le déphasage constant qui est subi par chaque ensemble d'atomes peut comprendre le terme (Aat/Mat) x Bo x B1 x h x k x T2, où Bo et B1 sont respectivement l'intensité et le gradient du champ magnétique, T est encore le temps de base pour la séquence d'interactions entre les atomes et des photons, qui est mise en 10 oeuvre pour former l'interférence atomique pour l'ensemble d'atomes, k est encore le module de l'impulsion reçue ou cédée par un des atomes lors de chaque interaction entre les atomes et les photons, divisé par h = h/(21I) où h est la constante de Planck, et Aat/Mat est un coefficient qui dépend de l'espèce des atomes. 15 Dans divers modes de mise en oeuvre de l'invention, deux des espèces d'atomes, qui sont dédiées à des ensembles différents d'atomes utilisés dans une même session de mesures, peuvent être les isotopes 85 et 87 du rubidium. Alternativement, ce peut être des isotopes respectifs du rubidium et du césium, ou encore du rubidium et du potassium. 20 De façon générale, le paramètre externe peut être une coordonnée d'un champ gravitationnel, ou une coordonnée d'une accélération subie par les atomes. Un second aspect de l'invention propose un appareil de mesure par interférométrie atomique qui comprend : 25 - une source d'atomes, adaptée pour produire au moins deux ensembles d'atomes, avec les atomes de chaque ensemble d'atomes qui sont d'une espèce dédiée à cet ensemble d'atomes et différente de l'espèce des atomes de chaque autre ensemble d'atomes ; - des moyens adaptés pour produire des conditions d'interférence 30 atomique pour chaque ensemble d'atomes, de sorte que ces conditions soient produites pour chaque ensemble d'atomes dans tout un volume 3032807 - 8 - qui est associé à l'ensemble d'atomes et qui contient au moins un point commun avec le volume associé à chaque autre ensemble d'atomes, et soient produites entre un instant de début et un instant de fin respectivement avant et après un instant intermédiaire qui est commun 5 pour tous les ensembles d'atomes, de façon à constituer une session de mesures ; - un dispositif de détection, qui est agencé pour fournir des résultats de mesure respectivement et indépendamment pour tous les ensembles d'atomes de chaque session de mesures ; et 10 - une unité d'analyse, qui est adaptée pour calculer au moins une valeur d'un paramètre externe à partir de chaque résultat de mesure. Selon l'invention, l'appareil est adapté pour mettre en oeuvre un procédé qui est conforme au premier aspect de l'invention tel que décrit précédemment, y compris ses variantes et ses perfectionnements. 15 Avantageusement, pour chaque session de mesures, les conditions d'interférences atomiques peuvent être produites pour tous les ensembles d'atomes en utilisant un ensemble laser unique, qui est commun à ces ensembles d'atomes. Un tel appareil peut former notamment un accéléromètre, un 20 gravimètre ou un gyromètre. D'autres particularités et avantages de la présente invention apparaîtront dans la description ci-après d'exemples de réalisation non limitatifs, en référence aux dessins annexés, dans lesquels : - la figure 1 est un schéma de principe d'un appareil de mesure par 25 interférométrie atomique conforme à la présente invention ; - la figure 2 illustre des étapes d'une session de mesures réalisée en utilisant un appareil conforme à la figure 1 ; - la figure 3 illustre une séquence particulière d'interactions pour créer une interférence atomique, qui peut être utilisée pour mettre en oeuvre 30 l'invention ; 3032807 - 9 - - la figure 4a est un diagramme illustrant l'obtention d'une valeur pour un paramètre externe en utilisant un procédé conforme à l'invention ; et - la figure 4b est une version simplifiée du diagramme de la figure 4a, proposée pour certaines mises en oeuvre de l'invention. 5 Pour raison de clarté, les dimensions des éléments qui sont représentés dans ces figures ne correspondent ni à des dimensions réelles ni à des rapports de dimensions réels. En outre, des références identiques qui sont indiquées dans des figures différentes désignent des éléments identiques ou qui ont des fonctions identiques. 10 Comme illustré par les figures 1 et 2, un appareil conforme à l'invention comprend une source d'atomes 100 qui est utilisée pour produire deux ensembles d'atomes froids 11 et 12, correspondant à l'étape 1 de la figure 2. De façon préférée, les atomes de l'ensemble 11 peuvent être des atomes 85Rb, et ceux de l'ensemble 12 peuvent être des atomes 87Rb. La source 100 a pour 15 fonction de piéger les atomes de chaque ensemble 11, 12 et de les refroidir jusqu'à une température déterminée. Elle peut avoir l'une des structures connues de l'Homme du métier, telle qu'un piège magnéto-optique. Un tel piège comprend une paire de bobines (non représentées) en configuration antiHelmholtz, qui sont alimentées en courant électrique pendant une première 20 phase de fonctionnement du piège pour créer un gradient de champ magnétique à l'endroit auquel chaque ensemble d'atomes est maintenu. Trois paires de faisceaux laser se croisent à cet endroit, en se propageant dans des sens opposés pour deux faisceaux d'une même paire. Ainsi, les faisceaux F1 et F2 se propagent en sens opposés selon l'axe z, les faisceaux F3 et F4 selon 25 l'axe x et les faisceaux F5 et F6 selon l'axe y. Différentes méthodes de formation des faisceaux F1-F6, notamment en utilisant des miroirs de renvoi tel que le miroir 101 pour réduire le nombre de sources laser qui sont nécessaires, sont connues si bien qu'il n'est pas nécessaire de les répéter. Dans une seconde phase de fonctionnement du piège magnéto-optique, le gradient de 30 champ magnétique est supprimé et les fréquences de rayonnement des faisceaux laser sont désaccordées pour obtenir les ensembles d'atomes froids 11 et 12, appelés mélasses. 3032807 -10- En fait, la source 100 peut comprendre deux injecteurs d'atomes, respectivement de 85Rb et de 87Rb, et le piège magnéto-optique est contrôlé pour produire deux structures de piégeage enchevêtrées, qui sont respectivement destinées aux atomes 85Rb et aux atomes 87Rb. La source 100 5 est adaptée pour que les deux ensembles 11 et 12 soient disponibles en même temps et au même endroit, pour subir chacun une séquence d'interactions avec des photons indépendamment de l'autre ensemble d'atomes. Les séquences d'interactions avec les photons sont alors produites simultanément pour les deux ensembles d'atomes 11 et 12, correspondant aux 10 étapes 21 et 22, pour produire une interférence atomique pour chacun de ces ensembles indépendamment de l'autre ensemble. Chaque séquence peut comprendre une série d'impulsions laser pour provoquer des transitions stimulées entre deux états des atomes de l'ensemble 11 ou 12 auquel la séquence est dédiée. Plusieurs séquences d'impulsions peuvent être utilisées 15 alternativement, dont celle qui est dite usuellement de Mach-Zehnder et décrite dans l'article intitulé «Atomic interferometry using stimulated Raman transitions», de M. Kasevitch et al., Phys. Rev. Lett. 67, pp. 181-184 (1991) et qui est rappelée maintenant : - une première impulsion, dite impulsion 7/2 et ayant une fonction de 20 séparatrice pour la fonction d'onde de l'ensemble d'atomes initial, afin de produire deux paquets d'onde atomique ; - une seconde impulsion, dite 7 et ayant une fonction de miroir atomique pour chaque paquet d'onde atomique ; puis - une troisième impulsion, de nouveau 7/2 et ayant une fonction de 25 recombinaison des paquets d'onde atomique. Cette séquence d'interactions est illustrée par la figure 3, dans laquelle t désigne le temps, et A, B, C et D désignent les interactions que subissent à chaque fois une partie de l'ensemble d'atomes concerné. k désigne alternativement les modules des vecteurs d'onde k11 et k12 qui sont définis juste 30 après respectivement pour les ensembles d'atomes 11 ou 12, et de même pour T qui désigne alternativement les temps de base T11 et T12. Chaque interaction d'une des impulsions laser avec un atome de l'un 3032807 des ensembles 11/12 est en général du type multi-photonique, et met en oeuvre les deux faisceaux laser F1 et F2 qui se propagent en sens inverses parallèlement à une direction commune (voir figure 1). Le module de vecteur d'onde k11112 correspond alors à l'impulsion («momentum» en anglais) totale ptot 5 qui est transférée à l'atome - c'est-à-dire reçue ou cédé par l'atome - lors d'une telle interaction multi-photonique : k11/12 = 2H ptot/h = N11112 x klaser = N11/12 x 2Inlaser, où h est la constante de Planck, klaser et Àiaser sont respectivement le module du vecteur d'onde et la longueur d'onde du - et - rayonnement laser qui constitue les faisceaux F1 et F2 (klaser = 2nnt 1 et N11 10 et N12 désignent les nombres de photons qui interviennent dans chaque interaction multi-photonique, respectivement pour un atome de l'ensemble 11 ou pour un atome de l'ensemble 12. Les deux nombres N11 et N12 peuvent être sélectionnés indépendamment l'un de l'autre, par les conditions de formation de l'interférence atomique pour l'ensemble d'atomes concerné. Ainsi, ces 15 conditions déterminent les types des interactions multi-photoniques qui sont provoquées et le nombre N11112 des photons qui sont impliqués dans chaque interaction. Par exemple, chaque interaction multi-photonique peut être une diffraction des atomes par des réseaux optiques qui sont formés avec les faisceaux F1 et F2, en régime de Bragg ou bien en régime d'oscillations de 20 Bloch avec transitions atomiques sans changement d'état interne pour les atomes. L'article intitulé «102hk Large Area Atom Interferometers» de S-w. Chio, T. Kovachy, H-C. Chien et M.A. Kasevitch, Phys. Rev. Lett. 107, 130403 (2011), décrit de mettre en oeuvre des interactions de Bragg multiphotoniques en produisant chaque impulsion («pulse» en anglais) de 25 rayonnement de la séquence qui forme l'interférence atomique, sous forme d'une série de sous-impulsions élémentaires. Alternativement, chaque interaction multi-photonique peut être une transition Raman, ou une double diffraction par un réseau optique, c'est-à-dire des transitions atomiques qui sont accompagnées de changements de l'état interne de l'atome. 30 T11/12 est le temps de base qui sépare des impulsions («pulse» en anglais) laser successives dans la séquence d'interactions entre les atomes de l'ensemble 11/12 et les photons. Dans la séquence d'impulsions de MachZehnder décrite plus haut, T11/12 est la durée qui sépare la première impulsion 3032 80 7 -12- à fonction de séparatrice de la deuxième impulsion à fonction de miroir, et qui sépare aussi cette deuxième impulsion de la troisième impulsion à fonction de recombinaison. T11 concerne ainsi la séquence d'impulsions qui est utilisée pour former l'interférence atomique de l'ensemble d'atomes 11, et T12 concerne 5 la séquence d'impulsions qui est utilisée pour former l'interférence atomique de l'ensemble d'atomes 12. Par exemple, les temps de base T11 et T12 peuvent être compris entre 50 ms (milliseconde) et 150 ms. De façon générale, les deux séquences d'interactions, les types des interactions entre les atomes et le rayonnement laser et les temps de base qui 10 sont utilisés séparément les deux ensembles d'atomes, peuvent être identiques ou différents. En particulier, la configuration d'appareil qui est décrite dans l'article «A cold atom pyramidal gravimeter with a single laser beam», de Q. Bodart et al., Appl. Phys. Lett. 96, 134101 (2010), peut être reprise. Le piège magnéto- 15 optique et les moyens de production des conditions d'interférence atomique sont réalisés en utilisant un ensemble unique de source laser, comprenant la source laser 102 et l'unité de commande 103. Une telle configuration d'appareil est simple, économique et très compacte. En outre, le même ensemble de source laser peut être utilisé pour les deux ensembles d'atomes 11 et 12, 20 comme décrit dans l'article intitulé «Simultaneous Dual-Species Matter-Wave Accelerometer», de A. Bonnin, N. Zahzam, Y. Bidel et A. Bresson, Phys. Rev. A 88, 043615 (2013), si bien qu'il possède les quatre fonctions suivantes : - le piégeage et le refroidissement des atomes de l'ensemble 11 ; - le piégeage et le refroidissement des atomes de l'ensemble 12 ; 25 - la production des impulsions pour créer les interférences d'onde atomique pour l'ensemble d'atomes 11 ; et - la production des impulsions pour créer les interférences d'onde atomique pour l'ensemble d'atomes 12. Chaque mesure interférométrique procède ensuite par détection de la 30 proportion des atomes de l'ensemble correspondant qui se trouvent dans un état déterminé, par exemple l'un de deux états hyperfins fondamentaux. 3032807 -13- Plusieurs techniques différentes sont connues de l'Homme du métier pour réaliser une telle détection. Par exemple, ce peut être une mesure d'absorption lumineuse, avec des impulsions d'un rayonnement dont la longueur d'onde est sélectionnée pour provoquer une absorption à partir d'un seul des états 5 atomiques hyperfins. De telles détections sont réalisées indépendamment pour les deux ensembles d'atomes 11 et 12, conformément aux étapes 31 et 32 de la figure 2. Des dispositifs de détection qui sont appropriés sont aussi supposés connus, et n'ont pas été représentés sur la figure 1 pour raison de clarté. Un premier résultat de mesure, noté P11, est ainsi obtenu pour 10 l'ensemble d'atomes 11, et un second résultat de mesure, noté P12, est aussi obtenu pour l'ensemble d'atomes 12. L'ensemble des étapes formé par la production des deux ensembles d'atomes 11 et 12 (étape 1), la production des séquences simultanées d'interactions avec des photons, respectivement pour les deux ensembles d'atomes (étapes 21 et 22), et les deux détections des 15 proportions d'atomes qui se trouvent finalement dans un état déterminé pour obtenir les résultats de mesures P11 et P12 (étapes 31 et 32), constituent une session de mesures. Une telle session est caractérisée par la simultanéité des séquences d'interactions qui produisent les interférences atomiques, et la colocalisation des ensembles d'atomes pendant ces séquences, alors que les 20 atomes des deux ensembles sont d'espèces différentes. Dans ces conditions, le résultat de mesure P11 est relié à la composante a selon l'axe z de l'accélération a qui est subie par les atomes de l'ensemble 11, par les deux relations suivantes : = Po . [1 - C X COS(Ae'totlii)] 25 A(Dtotlii = A(Dii(a) A.:1)0phi où Po et C sont deux nombres non nuls connus ; D ttotl11 est le déphasage total subi par les atomes de l'ensemble 11 pendant la formation de l'interférence atomique qui leur est destinée ; Ae^ii(a) est la partie du déphasage total Aetotlii qui est provoquée par la 30 composante d'accélération a. En particulier, lorsque le champ magnétique est nul ou uniforme pendant la formation de l'interférence atomique pour 3032807 -14- l'ensemble d'atomes 11 : Ae^ii(a) = k11 x T112 x a ; et Ae^oplii est le déphasage constant qui dépend de la façon de produire les conditions d'interférence pour l'ensemble d'atomes 11. Le déphasage constant Ae^oplii dépend de conditions opératoires qui sont subies de façon 5 reproductible, et de paramètres internes à l'appareil d'interférométrie atomique qui sont contrôlés pour chaque mesure effectuée avec l'ensemble d'atomes 11. De la même façon, pour les atomes de l'ensemble 12, le résultat de mesure P12 est relié à la même valeur de la composante a selon l'axe z de l'accélération a par les deux autres relations suivantes : 10 P12 = PO' - [1 - C' x COS(A(Dtot112)1 Ae^totl12 = 0(1)12(a) A(Dop112 où Po' et C' sont deux nombres non nuls connus, pouvant être différents de Po et C ou non ; Aetotli2 est le déphasage total subi par les atomes de l'ensemble 12 pendant la 15 formation de l'interférence atomique qui leur est destinée, A(1)12(a) est la partie du déphasage total A(Dtotli2 qui est provoquée par la composante d'accélération a. En particulier encore, lorsque le champ magnétique est nul ou uniforme pendant la formation de l'interférence atomique pour l'ensemble d'atomes 12 : A(1)12(a) = k12 x T122 x a ; et 20 Ae^opl12 est le déphasage constant qui dépend de la façon de produire les conditions d'interférence pour l'ensemble d'atomes 12. Il dépend aussi des conditions opératoires qui sont subies de façon reproductible, et de paramètres internes qui sont contrôlés pour chaque mesure effectuée avec l'ensemble d'atomes 12. 25 En liaison avec le vocable qui a été utilisé dans la partie générale de la présente description : P11 en tant que fonction de Ae.totlii, a été appelé première fonction, effective pour l'ensemble d'atomes 11 ; 0(1)11 en tant que fonction de a, a été appelé seconde fonction, effective 3032807 - 15 - pour l'ensemble d'atomes 11 ; P12 en tant que fonction de Ae.tot112, a été aussi appelé première fonction, mais effective pour l'ensemble d'atomes 12 ; 0(1)12 en tant que fonction de a, a été aussi appelé seconde fonction, mais 5 effective pour l'ensemble d'atomes 12 ; et a est le paramètre externe dont la valeur est recherchée. Le paramètre externe a qui est mesuré peut être une composante d'une accélération, par exemple due à un mouvement en translation ou en rotation d'un engin porteur de l'appareil de mesure par interférométrie 10 atomique, ou peut être une composante d'un champ gravitationnel dans lequel se trouve l'appareil. Les premières fonctions Pii(A(Dtotlii) et Pi2(A(Dtotli2) ne sont pas nécessairement identiques pour mettre en oeuvre l'invention, mais on les supposera identiques dans la suite de la présente description, pour raison de 15 simplicité. De même, les secondes fonctions Aeii(a) et 0(I)12(a) ne sont pas nécessairement identiques, notamment lorsque les types d'interactions des atomes avec les rayonnements laser, et/ou les séquences d'interactions sont différentes pour les deux ensembles d'atomes 11 et 12, et/ou qu'un gradient de 20 champ magnétique est appliqué aux ensembles d'atomes 11 et 12 pendant la formation des interférences atomiques. Selon l'invention, les conditions de formation des interférences atomiques pour les ensembles d'atomes 11 et 12 sont sélectionnées pour que la différence entre les déphasages totaux A(Dtotlii et A(Dtotli2 soit de l'ordre de 25 II/2 en valeur absolue et modulo II, par exemple égale à II/2. Une telle relation de quadrature assure que les deux cosinus des fonctions Pii(Ae^totlii) et Piee'totli2) ne soient pas simultanément égaux à +1 ou -1, si bien que l'un des deux ensembles d'atomes 11 et 12, pour lequel la valeur du cosinus est suffisamment différente de +1 et -1, permet de déterminer la composante 30 d'accélération a avec une précision qui est satisfaisante. Toutefois, celui des ensembles d'atomes 11 ou 12 qui fournit la valeur de la composante 3032807 -16- d'accélération a avec la meilleure précision peut changer en fonction de la valeur de a qui est finalement obtenue. Mais l'invention assure que l'un ou l'autre des deux ensembles d'atomes procure la valeur de a avec une précision satisfaisante. 5 Par ailleurs, la différence entre les déphasages totaux A(I)totlii et A(I)totli2 peut n'être ajustée à la valeur II/2 ou près de cette valeur, en valeur absolue et modulo II, que dans un intervalle restreint autour de la valeur réelle de la composante d'accélération a. En effet, comme indiqué plus haut, les deux termes Act^ii(a) et A(I)12(a) des déphasages totaux A(I)totlii et A(I)totli2 peuvent 10 être différents, si bien qu'une relation de quadrature qui existe pour une valeur de la composante d'accélération a n'existe plus pour une autre valeur possible de la composante d'accélération a. La relation de quadrature, exacte ou dans une mesure approchée, est donc nécessaire pour la valeur de la composante d'accélération a qui est finalement déduite de chaque session de mesures. 15 Une première mise en oeuvre de l'invention utilise au moins un saut de phase entre deux impulsions de rayonnement laser de la séquence qui est utilisée pour l'ensemble d'atomes 11. On peut supposer à titre d'exemple que cette séquence est du type Mach-Zehnder qui a été décrit plus haut, et on compare les phases respectives des rayonnements laser des impulsions 20 lorsqu'elles sont ramenées à un même instant et un même point de l'espace. L'écart qui apparaît dans ces conditions entre les phases des rayonnements laser de deux impulsions de la séquence est appelée saut de phase. De façon connue, un tel saut de phase peut être facilement ajusté à une valeur quelconque, entre 0 et 2II, la valeur 0 étant possible, en utilisant des sources 25 micro-ondes, en particulier pour des rayonnements laser de sources Raman. Alors le déphasage constant Ae^oplii qui est présent dans la fonction d'onde des atomes de l'ensemble 11 à l'issue de l'interférence atomique est : A(Dopli = (1)1 - 2 x (1)2 + t3, où (D1, (1)2 et (1)3 désignent les phases respectives des rayonnements laser des trois impulsions successives de la séquence de 30 Mach-Zehnder, lorsque ces phases sont ramenées au même instant et au même point. Par exemple, lorsqu'un saut de phase d'amplitude 8(1) est introduit entre la première impulsion à fonction de séparatrice et la seconde impulsion à 3032807 -17- fonction de miroir, et qu'aucun saut de phase n'est introduit entre cette seconde impulsion et la troisième impulsion à fonction de recombinaison, alors : (D2 = = (1)1 + 15(1) et ._.(DA I opi 1 1 = -15a) 0(Dinvill, Où A(Dinvill est un déphasage d'interférence atomique qui peut être présent involontairement, par 5 exemple du fait de l'appareil utilisé. Par principe, le déphasage involontaire est constant et reproductible pour des sessions de mesures successives. De façon générale pour une séquence de Mach-Zehnder : Ae^oplii = A(1)2-3111- 0(1)1-2111, où (1)1-2111 est l'amplitude du saut de phase entre la première impulsion et la seconde pour l'ensemble d'atomes 11, et (I)2_3111 est 10 l'amplitude du saut de phase entre la seconde impulsion et la troisième pour le même ensemble d'atomes. En contrôlant les amplitudes des sauts de phase pour les deux ensembles d'atomes 11 et 12 séparément, chacun de la façon qui vient d'être décrite pour l'ensemble d'atomes 11, alors la différence entre les déphasages totaux A(I)totlii et A(1)totli2 peut être ajustée à II/2 modulo II, 15 quelques soient les déphasages involontaires Aulb I et - invi A W I l2 qui peuvent exister respectivement pour les deux ensembles d'atomes 11 et 12. La figure 4a illustre une telle mise en oeuvre de l'invention. Pour les besoins d'illustration, les valeurs suivantes ont été adoptées pour les nombres constants : Po = Po' = 0,5 et C = C' = 1,0. Dans le diagramme, l'axe horizontal 20 repère les valeurs du paramètre externe a en unité arbitraire, et l'axe vertical, noté génériquement P, repère les valeurs des résultats de mesure P11 et P12. Les deux courbes notées Pii(a) et P12(a) correspondent aux formules qui ont été données plus haut. Elles ont donc une période commune, égale à 2II/(k x T2), et sont décalées entre elles de II/(2 x k x T2), où k est le module du 25 vecteur d'onde qui correspond à l'impulsion («momentum» en anglais) transférée à chaque interaction entre un atome et le rayonnement laser d'une impulsion («pulse» en anglais), et T le temps de base des séquences d'impulsions. Les valeurs de k et T sont supposées communes aux deux ensembles d'atomes 11 et 12, de sorte que la seconde fonction de la 30 composante d'accélération a, ainsi commune aux deux ensembles d'atomes, est Ae^ii(a) = 0(I)12(a) = k x T2 x a. Pour une valeur réelle de la composante d'accélération a, le diagramme montre les deux résultats de mesures qui sont 3032807 -18- obtenus à une même session de mesures : P 1 1 mes(a) pour l'ensemble d'atomes 11 et P 12mes(a) pour l'ensemble d'atomes 12. La valeur du paramètre externe a qui est déduite de chaque session de mesures est donc la valeur commune d'abscisse dans le diagramme de la figure 4a, qui résout simultanément les 5 deux équations P11(a) = P - 1 1 mes et P12(a) = P12mes. Dans l'exemple représenté, le résultat de mesure P 12mes est situé à proximité d'un extremum (minimum ici) de la courbe P12(a). La dérivée de P12(a) par rapport à la composante d'accélération a, à cet endroit de la courbe est faible en valeur absolue, si bien que la déduction de la valeur de la composante d'accélération a à partir de ce 10 résultat de mesure P 12mes ne possède pas une bonne précision. Par contre, la dérivée de P11(a) par rapport à la composante d'accélération a, pour la même valeur de la composante d'accélération a, est supérieure à celle de P12(a), en valeurs absolues. Pour cette raison, la valeur de résultat de mesure P limes permet de déduire la valeur de la composante d'accélération a avec une 15 précision qui est meilleure que celle procurée par la valeur de résultat de mesure P12mes. Cette analyse des résultats de mesures P - limes et P12mes pour parvenir à la valeur du paramètre externe a, correspond aux étapes 4 et 5 de la figure 2 et peut être exécutée par une unité d'analyse (non représentée) mettant en oeuvre un programme dédié. Sur la figure 4a, la valeur pour la 20 composante d'accélération a qui est ainsi obtenue à partir de l'une des deux courbes P11(a) ou P12(a), ici P11(a) dans l'exemple représenté, est notée aobt. A partir de ces considérations, le diagramme de la figure 4b est déduit de celui de la figure 4a, en ne conservant pour chaque valeur réelle de la composante d'accélération a, que la portion de celle des deux courbes P11(a) 25 et P12(a) qui procure la meilleure précision. La relation entre les résultats de mesures P11 et P12 d'une part, et la valeur de la composante d'accélération a d'autre part, est alors constituée de segments qui appartiennent alternativement à l'une ou l'autre des deux courbes P11(a) et P12(a), en changeant de courbe à chaque intersection entre celles-ci. En outre, les 30 inventeurs ont trouvé que chaque segment de courbe ainsi identifié pouvait être remplacé par un segment rectiligne reliant les deux points d'intersection des courbes P11(a) et P12(a), qui définissent les extrémités du segment concerné. Chaque segment rectiligne a alors une longueur égale à 3 03 2 807 - 1 9 -1-11(2 x k x T2) en projection sur l'axe horizontal, correspondant à une longueur égale à II/2 lorsqu'elle est exprimée par rapport aux déphasages totaux. Une seconde mise en oeuvre de l'invention utilise au moins l'une des vitesses de variation de fréquence des rayonnements laser qui sont utilisés 5 pour former les interférences atomiques pour les ensembles d'atomes 11 et 12. Si a11 et a12 désignent ces vitesses de variation de fréquence de rayonnement laser, respectivement pour les deux ensembles d'atomes 11 et 12, alors Ae^opli = -211 x a x T112 et A(1),p112 = -211 x a 2 x T122. Sous réserve des mêmes hypothèses d'identité des interactions entre atomes et rayonnement, 10 d'identité des séquences d'impulsions entre les deux ensembles d'atomes 11 et 12, et d'identité des temps de base, les diagrammes des figures 4a et 4b s'appliquent aussi à cette deuxième mise en oeuvre de l'invention. Une troisième mise en oeuvre de l'invention utilise un gradient de champ magnétique auquel les deux ensembles d'atomes 11 et 12 sont soumis 15 pendant la formation des interférences atomiques respectives. Pour cela, une composante du champ magnétique B selon l'axe z peut varier linéairement en fonction de la coordonnée z (figure 1) de la façon suivante : B(z) = Bo + B1 x z, où Bo est l'intensité moyenne et B1 est le gradient du champ magnétique. Avantageusement, le champ magnétique B(z) peut être produit par les bobines 20 en configuration anti-Helmholtz du piège magnéto-optique. Alors, la seconde fonction de la composante d'accélération a possède un terme supplémentaire, conformément à la relation suivante pour l'ensemble d'atomes 11 : Ae^ii(a) = k11 x T112 x a + 2Aatlii x Box B1 x T113 x a OU Aatlii = -2 p B202 at 111)1 PB désignant le magnéton de Bohr, Gatlii désignant 25 l'écart énergétique entre les deux états hyperfins de la transition Raman des atomes de l'ensemble 11, lorsqu'une telle interaction entre atomes et rayonnement est utilisée, et h étant égal à h/(21I) où h est la constante de Planck. Simultanément, le déphasage constant devient : A(Doplii = Aatl11 X Bo X B1 x h X k11 X T112/Mati1 + A(Dinvli 30 où Matlii désigne la masse de chaque atome de l'ensemble 11. De façon similaire, la seconde fonction de la composante 3032807 - 20 - d'accélération a pour l'ensemble d'atomes 12, devient en présence du gradient de champ magnétique B : 0(I)12(a) = k12 x T122 x a + 2Aatl12 x Box B1 x T123 x a et pour le déphasage constant : 5 A(Dopli2 = AatI12 X Bo X B1 X h x k12 x T122/Matl12 Ae'inv12 Où AatI12 = -2p32/(h2Gat112), GatI12 désignant l'écart énergétique entre les deux états hyperfins de la transition Raman des atomes de l'ensemble 12, et MatI12 désignant la masse de chaque atome de l'ensemble 12. Par exemple, lorsque les atomes de l'ensemble 11 sont l'isotope 85Rb : Aatill = 211 x 1290 x 108 Hz/T2 et Matlii = 1,41 0.1 0-25 kg, et lorsque les atomes de l'ensemble 12 sont l'isotope 87Rb : AatI12 = x 573 x 108 Hz/T2 et MatI12 = 1,443.10-25 kg. Ainsi, il est possible de sélectionner des valeurs appropriées pour l'intensité Bo et le gradient B1 du champ magnétique, pour que la différence entre les déphasages totaux A(Dtotlii et Ae,totli2 soit encore 15 égale à II/2 modulo II. En fonction de la méthode utilisée pour produire le champ magnétique, son intensité Bo et son gradient B1 peuvent être proportionnels l'un à l'autre. Toutefois, à cause de la différence de valeur entre les deux coefficients Aath11 et AatI12, les périodes des deux courbes P11(a) et P12(a) ne sont plus identiques même lorsque k11 = k12 et T11 = T12, de sorte que 20 la relation de quadrature n'est ajustée par l'invention que localement, autour de la valeur aobt de la composante d'accélération a. Il est entendu que l'invention peut être modifiée ou adaptée par rapport à la description détaillée qui vient d'en être donnée. En particulier, la séquence des impulsions qui forme chaque interférence atomique n'est pas 25 nécessairement du type Mach-Zehnder, mais peut être remplacée par l'une des autres séquences connues de l'Homme du métier pour former une interférence atomique. Les trois mises en oeuvre qui ont été décrites, en utilisant les sauts de phase entre impulsions successives du rayonnement laser, la vitesse de 30 variation de la fréquence du rayonnement laser, et le champ magnétique, peuvent être combinées. Les contributions aux déphasages qui sont 3032807 -21- accumulés pendant la formation de chaque interférence atomique, s'ajoutent alors. Enfin, le type de chaque interaction entre atomes et photons qui est provoquée dans chaque séquence, peut être varié dans la mesure où la 5 combinaison des interactions de la séquence forme encore une interférence atomique, et où les vecteurs d'onde associés aux impulsions totales qui sont transférées aux atomes lors de ces interactions satisfont la présente invention. REVENDICATIONS1. Procédé de mesure par interférométrie atomique, dans lequel chaque session de mesures est exécutée avec au moins deux ensembles d'atomes (11, 12) chacun soumis à des conditions de formation d'une interférence atomique, les atomes de chaque ensemble d'atomes (11, 12) étant d'une espèce dédiée audit ensemble d'atomes et différente de l'espèce des atomes de chaque autre ensemble d'atomes, procédé dans lequel pour chaque session de mesures, lesdites conditions sont 10 produites pour chaque ensemble d'atomes (11, 12) dans tout un volume qui est associé audit ensemble d'atomes et qui contient au moins un point commun avec le volume associé à chaque autre ensemble d'atomes, et sont produites entre un instant de début et un instant de fin respectivement avant et après un instant intermédiaire commun à tous les ensembles d'atomes, 15 et dans lequel un résultat de mesure (P11, P12) est obtenu à chaque session de mesures indépendamment pour chaque ensemble d'atomes (11, 12), chaque résultat de mesure variant selon une première fonction d'un déphasage total apparu pour l'ensemble d'atomes correspondant lors de la formation de l'interférence atomique, ledit déphasage total comprenant une somme d'une 20 seconde fonction d'un paramètre externe (a) dont une valeur est recherchée et d'un déphasage constant qui est subi par l'ensemble d'atomes correspondant pendant ladite formation de l'interférence atomique, le procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes : /1/ lors d'une session de mesures, appliquer une valeur pour au moins un 25 paramètre opératoire, appelé paramètre interne et permettant de contrôler une différence entre les déphasages constants qui sont subis respectivement par les deux ensembles d'atomes, la valeur appliquée pour ledit au moins un paramètre interne étant telle qu'une différence entre les déphasages totaux qui sont subis respectivement par les 3032807 - 23 - deux ensembles d'atomes (11, 12), soit comprise entre H/4 et 3H/4, en valeur absolue et modulo II ; /2/ pour chaque résultat de mesure (P11, P12) obtenu pour l'un des ensembles d'atomes (11, 12) à ladite session de mesures, déterminer une valeur de dérivée dudit résultat de mesure par rapport au paramètre externe (a), ladite dérivée étant évaluée pour ledit résultat de mesure ; /3/ sélectionner celui des ensembles d'atomes (11, 12) pour lequel la valeur de dérivée déterminée à l'étape /2/ est la plus grande en valeur absolue ; et /4/ calculer la valeur du paramètre externe (a) à partir du résultat de mesure (P11, P12) obtenu à l'étape /2/ pour l'ensemble d'atomes sélectionné à l'étape /3/. 2. Procédé selon la revendication 1, suivant lequel ledit au moins un paramètre interne comprend au moins une amplitude d'un saut de phase introduit entre deux impulsions de rayonnement laser qui sont utilisées pour former l'interférence atomique pour l'un des ensembles d'atomes (11, 12), au moins une vitesse de variation d'une fréquence d'un rayonnement laser qui est utilisé pour former l'interférence atomique pour l'un des ensembles d'atomes, ou une intensité et un gradient d'un champ magnétique qui est appliqué aux ensembles d'atomes pendant la formation des interférences atomiques, ou une combinaison de plusieurs parmi ladite au moins une amplitude de saut de phase, ladite au moins une vitesse de variation de fréquence de rayonnement laser et lesdits intensité et gradient de champ magnétique. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, suivant lequel la valeur appliquée pour ledit au moins un paramètre interne est telle que la différence entre les déphasages totaux qui sont subis respectivement par les deux ensembles d'atomes (11, 12), soit comprise entre 15H/32 et 17H/32, en valeur absolue et modulo II, et suivant lequel, pour celui des ensembles d'atomes (11, 12) qui est sélectionné à l'étape /3/, la première fonction est remplacée par une fonction 3032 80 7 -24- affine du déphasage total apparu lors de la formation de l'interférence atomique pour l'ensemble d'atomes sélectionné, dans tout un intervalle de valeurs ayant une longueur d'intervalle supérieure ou égale à 3H18, et qui contient ledit déphasage total apparu lors de la formation de l'interférence atomique. 5 4. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, suivant lequel la première fonction a pour expression P = Po - [1 C x cos(Ae^tot)] pour chaque ensemble d'atomes (11, 12), où P désigne le résultat de mesure, Dimtot est le déphasage total apparu lors de la formation de l'interférence atomique pour ledit ensemble d'atomes, et Po et C sont deux 10 nombres non nuls. 5. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, suivant lequel ledit au moins un paramètre interne comprend une amplitude d'un saut de phase introduit entre deux impulsions de rayonnement laser qui sont utilisées pour former l'interférence atomique pour l'un des ensembles 15 d'atomes (11, 12), et le déphasage constant qui est subi par ledit ensemble d'atomes comprend un terme proportionnel à l'amplitude du saut de phase. 6. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, suivant lequel ledit au moins un paramètre interne comprend une vitesse de variation de fréquence d'un rayonnement laser qui est utilisé pour former 20 l'interférence atomique pour l'un des ensembles d'atomes (11, 12), et le déphasage constant qui est subi par ledit ensemble d'atomes comprend le terme -2H x a x T2, où T est un temps de base pour une séquence d'interactions entre les atomes et des photons, qui est mise en oeuvre pour former l'interférence atomique dudit ensemble d'atomes, et a est la vitesse de 25 variation de fréquence du rayonnement laser. 7. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, suivant lequel ledit au moins un paramètre interne comprend une intensité et un gradient d'un champ magnétique qui est appliqué aux ensembles d'atomes (11, 12) pendant la formation des interférences atomiques, et le déphasage 30 constant qui est subi par chaque ensemble d'atomes comprend le terme (Aat/Mat) x Bo x B1 x h x k x T2, où Bo et B1 sont respectivement l'intensité et le 3032 80 7 - 25 - gradient du champ magnétique, T est un temps de base pour une séquence d'interactions entre les atomes et des photons, qui est mise en oeuvre pour former l'interférence atomique pour ledit l'ensemble d'atomes, k est un module d'une impulsion reçue ou cédée par un des atomes lors de chaque interaction 5 entre les atomes et les photons, divisé par h = h/(21I) où h est la constante de Planck, et Aat/Mat est un coefficient qui dépend de l'espèce des atomes. 8. Appareil de mesure par interférométrie atomique comprenant : - une source d'atomes (100) adaptée pour produire au moins deux ensembles d'atomes (11, 12), avec les atomes de chaque ensemble 10 d'atomes qui sont d'une espèce dédiée audit ensemble d'atomes et différente de l'espèce des atomes de chaque autre ensemble d'atomes ; - des moyens (101-103) adaptés pour produire des conditions d'interférence atomique pour chaque ensemble d'atomes (11, 12), de 15 sorte que lesdites conditions soient produites pour chaque ensemble d'atomes dans tout un volume qui est associé audit ensemble d'atomes et qui contient au moins un point commun avec le volume associé à chaque autre ensemble d'atomes, et produites entre un instant de début et un instant de fin respectivement avant et après un instant 20 intermédiaire qui est commun pour tous les ensembles d'atomes, de façon à constituer une session de mesures ; - un dispositif de détection agencé pour fournir des résultats de mesure (P11, P12) respectivement et indépendamment pour tous les ensembles d'atomes (11, 12) de chaque session de mesures ; et 25 - une unité d'analyse adaptée pour calculer au moins une valeur d'un paramètre externe (a) à partir de chaque résultat de mesure (P11, P12), dans lequel chaque résultat de mesure (P11, P12) varie selon une première fonction d'un déphasage total apparu pour l'ensemble d'atomes correspondant lors de la formation de l'interférence atomique, ledit déphasage total 30 comprenant une somme d'une seconde fonction du paramètre externe (a) dont la valeur est recherchée et d'un déphasage constant qui est subi par 3032807 -26- l'ensemble d'atomes correspondant pendant ladite formation de l'interférence atomique, l'appareil étant caractérisé en ce qu'il est adapté pour appliquer, lors de chaque session de mesures, une valeur pour au moins un paramètre opératoire, 5 appelé paramètre interne et permettant de contrôler une différence entre les déphasages constants qui sont subis respectivement par les deux ensembles d'atomes (11, 12), de sorte qu'une différence entre les déphasages totaux qui sont subis respectivement par les deux ensembles d'atomes, soit comprise entre 11/4 et 311/4, en valeur absolue et modulo H ; 10 et l'unité d'analyse étant adaptée pour exécuter les étapes /2/ à /4/ d'un procédé de mesure par interférométrie atomique conforme à l'une quelconque des revendications 1 à 8. 9. Appareil selon la revendication 8, dans lequel pour chaque session de mesures, les conditions d'interférences atomiques sont produites pour tous 15 les ensembles d'atomes (11, 12) en utilisant un ensemble de source laser (102, 103) unique, commun auxdits ensembles d'atomes. 10. Appareil selon la revendication 8 ou 9, formant un accéléromètre, un gravimètre ou un gyromètre.