FR 3035220 A1 20161021 FR 1553533 A 20150420 1 DOMAINE DE L'INVENTION L'invention est relative à un dispositif et à un procédé de mesure d'au moins une caractéristique électrique d'un objet. Elle s'adresse préférentiellement à la caractérisation d'objets de dimensions réduites, micrométriques voire nanométriques. Ces objets peuvent être notamment en partie constitués ou obtenus par de la matière biologique, en particulier de l'ADN, de protéines, des molécules organiques, des anticorps de l'ADN métallisé, des nanotubes.... Une caractérisation possible est la détermination de la contribution de l'objet au passage d'un courant au travers d'un circuit fermé par ledit objet. On peut ainsi étudier le transport électrique de l'objet. ETAT DE LA TECHNIQUE Il existe des dispositifs de caractérisation d'objets employant des électrodes utilisées pour servir de zones de contact avec l'objet pour la conduction électrique. Dans ce cadre, la publication d'Elizabeth W. PAUL et al parue dans « The Journal of Physical Chemistry », vol. 89, N°8 en 1985, intitulée « Resistance of Polyaniline films as a fonction of electrochemical potential and the fabrication of Polyaniline-based microelectronic devices » décrit une structure dotée d'une série d'électrodes parallèles, de même taille et indépendantes au niveau de la surface supérieure desquelles un objet en polyaniline peut être déposé. La grandeur du courant appliqué à un potentiel donné grâce aux électrodes dépend du potentiel électrochimique de la polyaniline et permet de caractériser l'objet en ce matériau. La mesure est simplement une mesure de courant entre deux électrodes. La précision de mesure offerte par cette structure antérieure est limitée. En particulier, elle ne tient pas compte des phénomènes électriques parasites qui se produisent à l'interface entre les électrodes et l'objet à caractériser. Elle n'apporte pas non plus la possibilité d'effectuer une mesure statistique du courant conduit par un ou plusieurs nano objets. De plus, le positionnement d'objets est difficile sur de telles structures. La présente invention permet de remédier en tout ou partie aux inconvénients techniques actuellement connus. 3035220 2 RESUME DE L'INVENTION Un aspect de modes de réalisation de l'invention concerne un dispositif électronique de mesure d'au moins une caractéristique électrique d'un objet, comportant un support pourvu d'au moins deux unités de mesure comportant 5 chacune au moins deux jeux d'électrodes avec i entier supérieure ou égal 2 , chaque jeu d'électrodes comprenant un nombre mi d'électrodes supérieur ou égal à un, les électrodes d'un jeu d'électrodes ayant une dimension en largeur, les électrodes des jeux d'électrodes d'une même unité de mesure étant interdigitées de sorte que chaque électrode de l'un des jeux d'électrodes Ji de 10 ladite unité de mesure soit espacée d'une distance inter-électrodes d'une électrode, de l'autre des jeux d'électrodes Ji+1 de ladite unité de mesure, qui lui est adjacente ; les électrodes des jeux d'électrodes d'une unité de mesure formant pour ladite unité de mesure, une zone d'accueil d'au moins un objet, chaque objet dans cette zone d'accueil définissant une zone de mise en contact 15 discontinue avec les électrodes de l'unité de mesures, ladite zone de mise en contact ayant une longueur déterminée suivant la dimension en largeur (W) des électrodes correspondant à la somme des largeurs des électrodes en contact avec cet objet, et chaque zone d'accueil comportant en outre une zone inter-électrodes discontinue ayant une longueur prédéterminée suivant la dimension 20 en largeur (W) des électrodes de ladite unité de mesure ; un circuit de mesures raccordé aux jeux d'électrodes de chaque unité de mesure configuré pour déterminer le courant traversant l'objet ; dispositif dans lequel au moins deux unités de mesure diffèrent entre elles par la longueur de leurs zones de mise en contact et/ou la longueur de leurs zones inter-électrodes. 25 Un autre aspect de modes de réalisation de l'invention s'adresse à un procédé de mesure d'au moins une caractéristique électrique d'un objet, comprenant : - l'utilisation d'un dispositif ; - une étape de placement d'un objet sur la zone de mise en contact 30 d'une unité de mesure et une étape de mesure du courant circulant entre les jeux d'électrodes de ladite unité ; - une étape de placement de l'objet ou d'un objet identique sur la zone de mise en contact d'une autre unité de mesure et une étape de mesure du courant circulant entre les jeux d'électrodes de ladite autre unité ; 3035220 3 - une évaluation du courant traversant l'objet. Un intérêt potentiel de l'invention est de permettre une mesure différentielle des courants passant au travers d'objets via les électrodes de sorte à maîtriser, voire annuler, les effets des phénomènes parasites tels que la 5 formation de courants parasites au niveau des contacts entre l'objet et les électrodes. Ces courants parasites, dus aux résistances de contact, sont pris en compte de manière différentielle en employant plusieurs unités de mesure différant par la résistance de contact qu'elles occasionnent. Un autre aspect de l'invention est un procédé de fabrication d'un dispositif 10 de mesure. Un autre aspect de l'invention est de pouvoir réaliser une mesure statistique de nano objets. Un grand nombre d'unités seront de préférence fabriquées sur un substrat et une étude statistique avec un grand nombre d'informations (W, G etc..) qui pourront être analysées 15 Un autre aspect de l'invention est de favoriser la déposition de petits outils tels des protéines. : Il est difficile de contrôler le positionnement exact, notamment par dépôt d'un liquide contenant les nano objets entre deux électrodes. L'invention est donc particulièrement intéressante car du fait d'un grand nombre de dispositifs potentiellement fabriqués sur un substrat, on 20 augmente la probabilité qu'au moins une protéine soit positionnée au mieux sur les électrodes. L'invention propose donc un aspect industriel par l'utilisation de ces électrodes sur un substrat (exemples : silicium avec des plaques 100 mm, 200 mm ou 300 mm) permettant d'obtenir un grand nombre de nano objets sur un 25 substrat conventionnel et utilisable par l'industrie. INTRODUCTION DES DESSINS Les dessins ci-joints sont donnés à titre d'exemples et ne sont pas limitatifs de l'invention. Ils représentent seulement un mode de réalisation de 30 l'invention et permettront de la comprendre aisément. - La figure 1 est une vue de dessus d'une face d'un support équipée de deux unités de mesure de l'invention dans un mode de réalisation de l'invention. - La figure 2 est une vue de dessus d'une face d'un support équipée 3035220 4 d'unités de mesure de l'invention dans un autre mode de réalisation. - La figure 3 est une vue de dessus d'une face d'un support intégrant une pluralité d'unités de mesure de différentes conceptions. - La figure 4 est une vue au microscope illustrant des électrodes 5 interdigitées de deux d'électrodes. - Les figures 5a et 5k schématisent des étapes successives d'une possibilité de procédé de fabrication d'un dispositif. Les figures 51 à 5m montrent deux variantes de résultat. - La figure 6a montre schématiquement de dessus un exemple de 10 réalisation d'électrodes pour une unité de mesure et la figure 6b en montre une vue en perspective coupée suivant la ligne AA de la figure 6a et schématise un circuit de mesure. DESCRIPTION DETAILLEE D'autres buts et avantages apparaîtront au cours de la description qui suit 15 qui présente un mode de réalisation de l'invention illustratif mais non limitatif. Suivant des variantes préférées mais non limitatives, l'invention est telle que : - le nombre d'électrodes de chaque jeu d'une même unité de mesure peut être égal ou différent. Ainsi, bien que les figures représentent le même 20 nombre d'électrodes pour chaque jeu, on pourrait avoir par exemple le jeu J1 (réf 2a fig. 2) avec un nombre ml d'électrodes inférieur au nombre m2 d'électrodes du jeu J2 (réf 1 fig. 2) (par exemple m2=m1 +1 ). - ladite longueur de la zone de mise en contact correspond de préférence 25 à la somme des largeurs (WJi) des parties des électrodes réellement en contact avec ledit objet. En particulier, les extrémités de l'objet ne recouvrant pas forcément toute la largeur d'une électrode, la largeur de celle-ci n'interviendra que partiellement. - la zone de mise en contact peut être inférieure à la somme des largeurs 30 de toutes les électrodes d'une unité de mesure lorsque l'objet ne recouvre pas toutes les électrodes de cette unité. Ainsi certaines des électrodes d'une unité peuvent ne pas entrer en compte dans cette zone de mise en contact ou que partiellement - dans chaque jeu d'électrodes de chaque unité de mesure, la dimension 3035220 5 en largeur des électrodes est identique. - la longueur de la zone de mise en contact d'au moins deux unités de mesure diffère par la largeur des électrodes d'au moins un jeu d'électrodes de chaque desdites au moins deux unités de mesure. 5 - la longueur de la zone de mise en contact d'au moins deux unités de mesure diffère par le nombre (m) d'électrodes de leurs jeux d'électrodes. - dans chaque jeu d'électrodes de chaque unité de mesure, la distance inter-électrodes est identique. 10 - les longueurs des zones inter-électrodes d'au moins deux unités de mesure diffèrent par leurs distances inter-électrodes ; - le circuit de mesure comporte des plots, les jeux d'électrodes d'une même unité de mesure étant reliés à des plots distincts ; - le circuit de mesure comporte au moins un plot relié à plusieurs jeux 15 d'électrodes appartenant chacune à une unité de mesure différente ; - au moins un plot est situé sur une face du support différent d'une face sur laquelle est située l'unité de mesure à laquelle ledit au moins un plot est relié, et en ce que le circuit de mesure comprend une partie de raccordement, traversant avantageusement le support, entre ledit au 20 moins un plot de l'unité de mesure ; - les électrodes des jeux d'électrodes de ladite au moins une unité de mesure sont affleurantes ; - les électrodes des jeux d'électrodes de ladite au moins une unité de mesure sont espacées par des portions non conductrices affleurant sur 25 la face du support ; - la dimension en largeur (W) des électrodes est inférieure à 10 pm, et de préférence inférieure à 1 pm ; - la distance inter-électrodes est comprise entre 1 nm et 10 pm, et de préférence inférieure entre 500 nm et 1 pm ; 30 - la longueur de la zone de mise en contact est inférieure à 1 nm ; - les électrodes des jeux d'électrodes d'au moins une unité de mesure comportent une couche supérieure en Ruthénium ; - le support comporte une première face pourvue d'au moins une unité de mesure et une deuxième face différente de la première face, 3035220 6 pourvue d'au moins une unité de mesure ; - le circuit de mesure comprend une alimentation électrique et une partie de mesure du courant circulant entre les jeux d'électrodes des unités de mesure en présence d'un objet sur la zone de contact des unités de 5 mesure. Les caractéristiques indiquées précédemment ne sont qu'optionnelles. Un autre aspect de l'invention est un procédé de fabrication d'un dispositif de mesure tel qu'il comporte au moins une des options suivantes : - on utilise un objet filiforme et on place l'objet sur la zone de mise en 10 contact d'une unité de mesure de sorte qu'une dimension en longueur de l'objet soit dirigée suivant la dimension en largeur des électrodes de ladite unité de mesure ; - on utilise un objet ayant une dimension en longueur inférieure à 1 mm, et de préférence inférieure à 100 pm ; 15 - on utilise un objet ayant une dimension en largeur inférieure à 10 pm. D'une manière générale, l'invention permet, au moyen d'unités de mesure, d'opérer une mesure de caractéristiques électriques d'un objet, une mesure électrique pouvant être en particulier déduite de la contribution d'un courant passant au travers de l'objet lorsque ce dernier est placé de sorte à fermer un 20 circuit entre deux jeux d'électrodes, le circuit comprenant alors une source électrique d'alimentation et des moyens de mesure de courant entre les électrodes. Un placement privilégié consiste à orienter l'objet transversalement à la dimension en largeur des électrodes. Cela est particulièrement préférable dans 25 le cas d'objets filiformes, s'entendant ici d'objets ayant un rapport de forme élevée, par exemple supérieure à 10 voire 50. Ces objets peuvent par ailleurs être des micro ou des nano objets, c'est-à-dire qu'au moins une de leurs dimensions est à l'échelle, respectivement du micron ou du nanomètre. Par exemple, la longueur de l'objet peut être comprise entre 1À et 1nm et plus 30 préférentiellement entre 100nm et 100pm. La largeur ou le diamètre de l'objet peut par exemple être compris entre 1nm et 10pm. L'objet peut être lui-même composé d'une ou plusieurs parties et donc être complexe tels des nano-objets bio inspirés issus de composants biologiques ou vivants. Plusieurs objets peuvent être mesurés simultanément. 3035220 7 L'aspect filiforme de l'objet n'est pas limitatif et l'invention s'applique notamment aussi à des objets sphériques. Le dispositif de l'invention est un dispositif électronique en ce sens qu'il comprend des parties électriques sur un support qui peut, de préférence, 5 comprendre un substrat par exemple en matériau semi-conducteur, notamment à base de silicium. Il peut donc s'agir d'un dispositif microélectronique. Dans la suite de la description, on utilise les termes suivants avec définition préférentielle qui y est associée ci-après : - électrodes : il s'agit d'organes électriquement conducteurs, de forme 10 avantageusement allongée et accessible pour une mise en contact d'une partie d'un objet à caractériser ; - jeu d'électrodes : s'entend d'une série d'au moins une électrode, les électrodes étant reliées à une connexion commune, notamment raccordée à une extrémité de chaque électrode. Une unité de mesure 15 sur laquelle un objet peut être placé, comprend typiquement deux jeux d'électrodes. Celles-ci sont alors interdigitées : chaque jeu d'électrodes forme une structure en peigne, les deux peignes s'enchevêtrant de sorte à alterner, suivant la dimension en largeur des électrodes, les électrodes du premier jeu et du deuxième jeu. Dans un cas limite, 20 l'interdigitation est limitée à la juxtaposition d'une électrode d'un premier jeu (qui ne comporte qu'une électrode) et d'une électrode d'un deuxième jeu (qui ne comporte qu'une électrode). En référence à la figure 1, un exemple représentant deux unités de mesure 20 est illustré. Les unités 20 sont ici des structures indépendantes 25 formées au niveau d'une première face 4 d'un support 3, par exemple issu d'un process de fabrication sur un substrat en silicium ou un autre matériau semi- conducteur. Chaque unité 20 comprend deux jeux d'électrodes. Les électrodes 11 appartiennent à un premier jeu. Elles sont électriquement conductrices et arrangées de manière parallèle suivant leur direction longitudinale, les 30 électrodes 11 étant avantageusement rectilignes. Elles forment une borne d'un circuit électrique, ouvert en absence d'objet à mesurer, et fermé lorsqu'un objet est placé sur l'unité de mesure. Pour la liaison du jeu d'électrodes 11 au reste du circuit, on peut relier les extrémités proximales des électrodes 11 à une barre de peigne 8 par exemple orientée transversalement aux électrodes 11 et 3035220 8 elle-même connectée électriquement à un plot 1 qui peut servir de zone de prise de contact pour une mesure par une partie de mesure du circuit électrique globalement construit. Le plot 1 peut être distant du jeu d'électrodes 11. A ce titre, une ligne d'interconnexion 6, de forme et de longueur variables, peut être 5 présente entre les électrodes 11 et le plot 1. Dans l'illustration de la figure 1, le plot 1 est accessible sur la première face 4 où se situent les électrodes 11. Une configuration alternative consiste à disposer le plot 1 sur une autre face du support 3, par exemple une face opposée (deuxième face 5 décrite plus loin en référence à la figure 5a par 10 exemple) à la première face 4. Dans ce cas, la ligne d'interconnexion 6 peut traverser le support 3, suivant son épaisseur. On peut utiliser des vias traversants, souvent appelés TSV (Through Silicon Via) pour les substrats à base de silicium. Le jeu d'électrodes 11 forme ainsi un premier peigne et leur surface 15 supérieure, c'est-à-dire parallèle à la surface de la première face 4, offre une zone de placement d'objets à caractériser, avec une conduction électrique possible. L'unité de mesure 20 comprend ensuite un autre jeu d'électrodes 12 complémentaire du jeu d'électrodes 11, en ce sens qu'elles forment une autre 20 borne de raccordement électrique d'un objet placé sur l'unité de mesure 20. Bien que cela ne soit pas absolument nécessaire, le jeu d'électrodes 12 peut être similaire au jeu d'électrodes 11. Le jeu d'électrodes 12 peut donc lui aussi notamment être relié à un plot 2a, par une ligne d'interconnexion 7a, une barre de peigne 9a servant de reprise électrique commune à une extrémité des 25 électrodesl2. Les électrodes 12 s'organisent de manière interdigitée avec les électrodes 11 de sorte que suivant une direction transversale à la longueur des électrodes 11, 12 (ce qui correspond à la dimension en largeur), les électrodes 11 et 12 sont alternées avec un espace inter-électrodes dans chaque cas. 30 L'interdigitation doit permettre de placer un objet, transversalement à la longueur des électrodes, et de former des contacts entre au moins une électrode 11 et une électrode 12, de sorte à fermer la partie du circuit électrique entre les deux jeux d'électrodes 11, 12. Avantageusement, au moins un des jeux d'électrodes comprend plus de 3035220 9 une électrode 11 ou 12, mais un cas extrême consiste à employer deux jeux de une électrode unique chacun. L'interdigitation est alors une juxtaposition des électrodes 11, 12 suivant une largeur W. De préférence, pour un jeu d'électrodes 11, 12 donné, la largeur W des 5 électrodes 11, 12 est fixe. Leur longueur l'est aussi avantageusement. La largeur W des électrodes 11, 12 peut être différente entre les deux jeux d'électrodes composant une unité de mesure 20. Dans le cas de la figure 1, deux unités 20 présentent deux jeux de deux électrodes 11, 12. 10 L'interdigitation produit un espace entre les électrodes d'une unité de mesure 20. De préférence, cet espace a une même longueur suivant la dimension en largeur W des électrodes. Il est aussi ici appelé distance inter-électrodes G. On comprend que, lorsqu'un objet est placé sur l'unité de mesure 20, 15 transversalement aux électrodes 11, 12, il entre en contact avec une pluralité d'électrodes 11, 12 si sa dimension est supérieure à la distance G. L'objet peut, de préférence, entrer en contact avec toutes les électrodes 11, 12 de l'unité de mesure 20. Un tel contact, en plusieurs zones de l'objet, suivant la dimension en largeur des électrodes 11, 12, produit une zone de mise en contact 20 discontinue à laquelle une partie de chaque électrode 11, 12 participe. La longueur de cette zone de mise en contact est donc définie par la somme des largeurs des électrodes 11, 12. La largeur de la zone de mise en contact dépend de la dimension de l'objet suivant la longueur des électrodes 11, 12. Cette combinaison de dimension de zones de contact définit une aire de 25 contact globale. Cette aire est d'autant plus grande que la largeur W des électrodes est importante ou/et que le nombre m d'électrodes des jeux est élevé. Cela est aussi vérifié, même si l'objet n'est pas strictement orienté perpendiculairement aux électrodes. 30 Lorsqu'un objet est placé sur l'unité de mesure 20, transversalement aux électrodes 11, 12, s'il entre en contact avec seulement une portion des électrodes, la zone de contact sera plus petite que la somme des largeurs des électrodes. Ce cas est particulièrement observé aux extrémités du nano-objet car le début et la fin du nano-objet n'est pas toujours en contact sur toute la 3035220 10 largeur de l'électrode mais seulement sur une partie de l'électrode. Il est particulièrement intéressant dans ce cas de procéder à une caractérisation morphologique, par imagerie exemple SEM (microscope à balayage électronique) ou TEM (microscope électronique en transmission) ou encore 5 AFM (microscope à force atomique) afin de déterminer précisément la valeur de la zone de contact. On peut noter que la diminution des valeurs G, W proposée dans l'invention permet de réduire l'incertitude sur ces zones spécifiques. Lorsqu'un objet est placé sur l'unité de mesure 20, une source de courant permet de faire passer un courant au travers de l'objet. On parle alors de 10 caractérisation électrique d'un nano objet. La caractérisation électrique est définie par exemple par les paramètres tels que le courant, flux d'électron à travers une section d'un nano objet, la conduction électrique ou la résistance. Cette caractérisation électrique peut aussi permettre d'étudier les propriétés de transport et le comportement du nano-objet. En plus de ces différents 15 paramètres, le courant traversant est influencé par un courant parasite dont une partie est due à la résistance des électrodes actives et à la résistance des autres parties intervenant dans le circuit de mesure telle que la résistance de ligne ou celle des pads ou plots. Cette partie de courant parasite peut être déterminée en effectuant une mesure électrique de l'unité en absence de 20 l'objet, par exemple une mesure dite « 4 pointes ». Une autre partie du courant parasite est due à la résistance de contact entre l'électrode et l'objet. Cette résistance est proportionnelle à l'aire de contact entre l'objet et les électrodes (donc proportionnelle à la longueur de la zone de mise en contact qui dépend du nombre d'électrodes m et de la largeur des électrodes. Rapporté 25 à la longueur de l'objet, il faut aussi tenir compte de la longueur de la zone inter-électrodes qui est la valeur complémentaire de celle de la zone de mise en contact. Ainsi, selon l'invention, on joue sur la valeur d'au moins un paramètre parmi le nombre d'électrodes m, la largeur des électrodes W et la distance qui sépare les électrodes pour faire varier, d'une unité de mesure à l'autre la valeur 30 de la résistance de contact et, portant la valeur du courant parasite. Ensuite, connaissant le courant parasite, on peut déterminer le courant traversant l'objet ou tout objet de même nature. Par conséquent, l'invention opère une mesure différentielle en employant au moins deux unités de mesure 20 différentes de sorte à présenter des valeurs 3035220 11 de courant parasite différentes. Dans un premier cas, on modifie uniquement la valeur de la largeur des électrodes entre deux unités équivalentes par ailleurs. La variation de courant mesurée correspond à une variation de courant parasite qui peut donc être 5 déterminée. Dans un autre cas, à même largeur d'électrode W des deux unités, on modifie leur espace inter-électrodes. La différence de courant mesurée est une différence de courant traversant les électrodes. Une autre possibilité consiste à changer le nombre d'électrodes avec le 10 même effet que dans le premier cas sur la modification de l'aire de contact. La représentation de la figure 1 montre le cas d'une modification de distance inter-électrodes G entre les unités 20 les autres paramètres étant identiques (même largeur W pour les électrodes 11, 12, 21, 22 et deux électrodes par jeu d'électrodes). Les unités 20 sont ici des structures distinctes. 15 Des conceptions plus complexes sont possibles telles qu'en figure 2 avec une pluralité d'unités 20 ayant chacune un jeu d'électrodes raccordé à un plot 1 comme les trois unités groupées ont ici des distances inter-électrodes différentes de sorte à mesurer l'objet sur plusieurs distances. Cela est particulièrement adapté aux nano-objets bio inspirés, hétérogènes comme une 20 protéine avec plusieurs fonctions sur sa longueur. On notera que l'on peut aussi y faire varier les paramètres W et m. La compacité de ce dispositif est aussi révélée par la présence de quatre plots 1, 2a, 2b, 2c seulement avec quatre lignes d'interconnexion 6, 7a, 7b, 7c et ce pour six jeux d'électrodes au total. 25 Les jeux d'électrodes étant rapprochés, les conditions de mesure sont proches (telles que quasi simultanéité, humidité, pression, luminosité) le tout sur un même matériau. Cette conception peut servir à des protéines de grande longueur de 100nm ou à un objet complexe formé de plusieurs objets élémentaires (tels des 30 nano-objets groupés). Avec un nombre d'électrodes m élevé, on peut caractériser de nombreux tronçons de l'objet et en tirer une valeur moyenne. Le nombre d'unités de mesure 20 n'est pas limité selon l'invention. Les multiplier permet d'opérer des mesures en parallèle sur plusieurs objets d'un même type (même matériau, même forme notamment). C'est ce qu'illustre la 3035220 12 figure 3 avec dix unités. Quatre d'entre elles sont similaires à celles de la figure 1, pour une mesure d'un premier type d'objet. Six autres sont du mode de la figure 2, à paramètres multiples, appliqué à un autre type d'objet. La figure 4 illustre une vue au microscope en détail de trois électrodes 11, 5 12 adjacentes. Suivant cet exemple, les paramètres suivants sont possibles : - largeur des motifs W des électrodes 11, 12 comprise entre 1 nm à 1 Opm, mais typiquement dans cet exemple la largeur est de 1.99pm. - Espace G entre deux électrodes 11, 12 entre 100 nm à 10 pm, mais typiquement entre 500 nm et 1 pm, dans cet exemple la largeur est de 0.86pm. 10 - Espace entre trois électrodes (entre deux électrodes d'un même jeu) entre 100 nm à 10 pm, mais typiquement dans cet exemple l'espacement est de 3.76 pm. Cette structure permet ici de caractériser un objet bio inspiré sur des distances de 3.76 pm et 0.86 pm en tenant compte d'une résistance de contact 15 d'électrodes de largeur 1.99 pm en utilisant le design de la figure 1. Un autre aspect de l'invention est un procédé de fabrication d'un dispositif de mesure à partir d'un substrat 50. Les figures 5a à 5h en montrent un exemple. La hauteur des électrodes sera ajustée en fonction de l'objet à 20 caractériser et des contraintes de résistance de contact objet/support. La hauteur d'électrode sera comprise de préférence entre 10 nm à plusieurs dizaines de micromètres. Typiquement, la hauteur sera de 200 nm mais peut varier par exemple entre 10 nm et 100 pm. La figure 5a présente une plaque de matériau semi-conducteur, tel du 25 silicium, pouvant former le substrat 50 de départ du procédé de fabrication. Il comporte une première face 51 par laquelle une unité de mesure va être fabriquée, et une face opposée qui va former la deuxième face 5 du dispositif. Une étape facultative présentée en figure 5b consiste à former une couche d'oxyde 52, en particulier de silicium, autour du substrat 50, pour 30 protéger les surfaces durant une étape ultérieure, facultative elle aussi, d'implantation ionique. L'oxydation est par exemple issue d'un traitement thermique tel un recuit en atmosphère d'oxygène ou être opérée par dépôt. L'implantation est schématisée en zone 53 en figure 5c. Elle peut permettre une prise de contact plus efficace par la face arrière 5. Elle peut être 3035220 13 effectuée par dopage de type p ou n, par exemple avec des concentrations de dopants entre 1016 à 1020 at/cm3 suivi d'un recuit d'activation. La couche d'oxyde 52 issue de la figure 5b peut être retirée, au moins en 5 partie, comme en figure 5d. Une gravure, sèche ou humide, peut convenir. Cette étape est aussi facultative. Ensuite, le ou les matériaux électriquement conducteurs qui vont servir à former les jeux d'électrodes et toute autre partie conductrice associée, sont déposés après mise en place d'une couche isolante 54 (tel du SiO2) si le 10 substrat est conducteur. La couche 54 peut être épitaxiée ou déposée notamment par une technique de dépôt classique en phase vapeur, de quelques nanomètres à plusieurs microns typiquement. Du SiH4 peut aussi être employé. Pour la partie conductrice, on dépose de préférence une couche 15 d'accroche 55 permettant de réaliser la couche conductrice. On peut utiliser par exemple une couche de titane déposée par la technique de PVD (dépôt physique en phase vapeur) ou électrolyse. L'épaisseur de la couche sera par exemple de l'ordre de quelques nanomètres à plusieurs microns d'épaisseur mais typiquement une couche de 10 nm de titane est suffisante. 20 En figure 5f, on dépose la couche conductrice 56 par différentes techniques bien connues de l'homme du métier typiquement par PVD, électrolyse ou évaporation. Les matériaux utilisés peuvent être du platine, or mais préférentiellement on utilisera une multi couche dont l'une est composée de Ruthénium. Les épaisseurs seront de l'ordre de quelques nanomètres à 25 quelques microns. Préférentiellement, on déposera deux couches composées d'or de 200 nm puis d'une couche de Ruthénium de 50 nm. Le Ruthénium permet d'obtenir des flancs parfaitement droits et donc de réduire l'espacement entre deux électrodes, du fait de l'anisotropie de sa gravure. Comme cela est visible en figure 5g, on réalise des motifs de masque 57 30 afin d'obtenir des électrodes de largeurs très petites (par exemple 100 nm à 10 pm mais typiquement 1 pm). La hauteur des électrodes sera ajustée en fonction du nano objet ou autre objet à caractériser et des contraintes de résistance de contact du l'objet ou du support. La hauteur d'électrode sera comprise entre 10 nm à plusieurs dizaines de micromètres. Typiquement, la 3035220 14 hauteur sera de 200 nm. En figures 5h et 5i, on réalise une gravure de la couche conductrice 55, 56 conformément aux motifs réalisés puis on réalise l'enlèvement de la résine déposée à l'étape de la figure 5g. 5 Ensuite, on remplit l'espace entre les électrodes par un oxyde. On peut par exemple déposer une couche isolante 58 d'au moins la hauteur des électrodes. Cette couche sera déposée par les techniques conventionnelles telles que PECVD (dépôt chimique en phase vapeur assisté par plasma), LPCVD (dépôt chimique en phase vapeur à basse pression) et autres 10 techniques bien connues de l'homme du métier. Par exemple, on déposera une couche d'oxyde de silicium sur un substrat silicium par PECVD d'une hauteur au moins égale à la hauteur des électrodes. Suivant un exemple, l'épaisseur d'oxyde entre les électrodes sera au moins de 200 nm équivalent à la hauteur des électrodes de 200 nm. Cela est visible en figure 5j. 15 Dans le cas d'un dépôt sur toute la surface (dépôt conforme), une couche isolante 58 peut être présente sur les électrodes. Une étape de retrait partiel, par polissage tel qu'un Chemical Mechanical Polishing (CMP) ou une gravure sèche et/ou humide sera réalisée afin de mettre à nu les électrodes. Par exemple, lors d'un dépôt de 500 nm d'oxyde par PECVD sur un substrat de 20 silicium comprenant une hauteur d'électrode de 200 nm, il sera réalisé un enlèvement de 300 nm d'oxyde. Le résultat est visible en figure 5k. Comme indiqué précédemment, la couche conductrice 58 peut être en plusieurs sous-couches de matériaux différents. Le résultat de la figure 5k montre des électrodes affleurant au niveau de la 25 première face 4 du dispositif ainsi construit. De même, des portions non conductrices 59 inter-électrodes sont en affleurement sur la première face 4. Cela offre un contact plan pour l'objet à mesurer, comme cela ressort de la figure 51. On notera aussi à cette figure qu'un grand nombre m d'électrodes procure 30 de multiples tronçons de mesure de l'objet. Dans une variante illustrée en figure 5m, les portions non conductrices 59 sont à un niveau de hauteur inférieur à celui des électrodes 11, 12 si bien que l'objet 10, particulièrement s'il est filiforme tel une protéine filiforme, est déformé suivant l'épaisseur du substrat, et non pas dans le plan de la face supérieure 3035220 15 des électrodes 11, 12. Ce cas est généralement moins favorable que celui de la figure 51. Le mode de réalisation en affleurement des électrodes 11, 12 relativement aux portions non conductrices, de sorte que l'ensemble est dans le plan de la face du support 3 est donc préféré. Cette caractéristique de formation 5 des électrodes 11, 12 en affleurement peut d'ailleurs être mise en oeuvre indépendamment des autres aspects de l'invention, par exemple ceux liés à la mesure différentielle avec plusieurs unités de mesure. Ainsi, l'invention concerne aussi un dispositif de mesure d'une caractéristique électrique d'un objet comprenant une unité de mesure au moins, avec deux jeux d'électrodes 10 dont la surface supérieure est en affleurement relativement à la partie de la face du support qui entoure les électrodes, dont des portions conductrices inter-électrodes. Ce principe d'affleurement est aussi illustré aux figures 6a et 6b où l'isolant entoure les électrodes 11, 12. La figure 6b montre aussi 15 schématiquement le circuit de mesure. Le circuit de mesure comprend typiquement une source d'alimentation électrique 30 et au moins un système de mesure 40 de grandeurs électriques, en particulier des courants, ces éléments étant reliés de façon fixe ou non aux électrodes, de préférence via des plots 1, 2a, 2b, 2c (non visibles en figure 6b). 20 On peut ainsi, avec une mesure du courant aux bornes des plots 1, 2a, 2b, 2c, évaluer la contribution électrique de l'objet aux courants mesurés, en tenant avantageusement compte des courants parasites. Les courants sont souvent faibles pour des nano-objets, par exemple entre 5-10-9A et 5.10-8A pour une protéine amyloïde. 25 Suivant un procédé de mesure de l'invention, on place au moins un objet sur une unité de mesure en s'arrangeant pour qu'il ait une orientation transversale à la longueur des électrodes. Le placement peut avoir lieu par dépôt de gouttes de solution dans laquelle le ou les objets à caractériser sont présents. Le dispositif lui-même peut aussi être plongé, au moins par une face 30 où se trouvent des unités de mesure, dans une solution contenant les objets. La présence de multiples unités de mesure permet d'accroître les probabilités d'un bon positionnement des objets sur les unités. Lorsque les objets placés sur les unités sont identiques (en particulier même matériau et mêmes dimensions) des mesures simultanées sont possibles. 3035220 16 REFERENCES 1. Plot 2a, 2b, 2c. Plot 5 3. Support 4. Première face 5. Deuxième face 6. Ligne d'interconnexion 7a, 7b, 7c. Ligne d'interconnexion 10 8. Barre de peigne 9a, 9b, 9c. Barre de peigne 10. Objet 11. Electrode 12. Electrode 15 20. Unité de mesure 21. Electrode 22. Electrode 30. Source 40. Circuit de mesure 20 31. Electrode 32. Electrode 50. Substrat 51. Première face du substrat 52. Couche d'oxyde 25 53. Zone d'implantation 54. Couche isolante 55. Couche d'accroche conductrice 56. Deuxième couche conductrice 57. Masque 30 58. Couche isolante 59. Portion non conductrice W. Direction en largeur G. Distance inter-électrodes Z : Zone d'accueil du nano objet REVENDICATIONS1. Dispositif électronique de mesure d'au moins une caractéristique électrique d'un objet (10), comportant : un support (3) pourvu d'au moins deux unités de mesure (20) comportant chacune au moins deux jeux d'électrodes Ji avec i entier supérieure ou égal 2, chaque jeu (Ji) d'électrodes comprenant un nombre mi d'électrodes supérieur ou égal à un, les électrodes d'un jeu Ji d'électrodes ayant une dimension en largeur WJi), les électrodes des jeux d'électrodes d'une même unité de mesure (20) étant interdigitées de sorte que chaque électrode de l'un des jeux d'électrodes Ji de ladite unité de mesure (20) soit espacée d'une distance inter-électrodes (G(JiJi+1)) d'une électrode, de l'autre des jeux d'électrodes Ji+1 de ladite unité de mesure (20), qui lui est adjacente ; les électrodes des jeux d'électrodes d'une unité de mesure formant pour ladite unité de mesure (20), une zone d'accueil (ZJ1J2) d'au moins un objet (10) , chaque objet dans cette zone d'accueil définissant une zone de mise en contact discontinue avec les électrodes de l'unité de mesures, ladite zone de mise en contact ayant une longueur déterminée suivant la dimension en largeur (W) des électrodes correspondant à la somme des largeurs (WJi) des électrodes en contact avec cet objet, et chaque zone d'accueil comportant en outre une zone inter-électrodes discontinue ayant une longueur prédéterminée suivant la dimension en largeur (W) des électrodes de ladite unité de mesure (20) ; un circuit de mesures raccordé aux jeux d'électrodes de chaque unité de mesure pour déterminer le courant traversant l'objet; dispositif dans lequel au moins deux unités de mesure (20) diffèrent 30 entre elles par la longueur de leurs zones de mise en contact et/ou la longueur de leurs zones inter-électrodes. 2. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel, dans chaque jeu d'électrodes de chaque unité de mesure (20), la dimension en largeur (W) des électrodes est identique. 3035220 18 3. Dispositif selon la revendication 2, dans lequel la longueur de la zone de mise en contact d'au moins deux unités de mesure diffère par la largeur (W) des électrodes d'au moins un jeu d'électrodes de chacune desdites au moins deux unités de mesure (20). 5 4. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel la longueur de la zone de mise en contact d'au moins deux unités de mesure (20) diffère par le nombre (m) d'électrodes de leurs jeux d'électrodes. 5. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel, dans chaque jeu d'électrodes de chaque unité de mesure (20), la distance inter- io électrodes est identique. 6. Dispositif selon la revendication 5, dans lequel les longueurs des zones inter-électrodes d'au moins deux unités de mesure (20) diffèrent par leurs distances inter-électrodes. 7. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel le 15 circuit de mesures comporte des plots (1, 2a, 2b, 2c), les jeux d'électrodes d'une même unité de mesure (20) étant reliés à des plots (1, 2a, 2b, 2c) distincts. 8. Dispositif selon la revendication 7, dans lequel dans le circuit de de mesures comporte au moins un plot relié (1) à plusieurs jeux d'électrodes 20 appartenant chacune à une unité de mesure (20) différente. 9. Dispositif selon l'une des revendications 7 ou 8, dans lequel au moins un plot est situé sur une face du support (3) différant d'une face (4) sur laquelle est située l'unité de mesure (20) à laquelle ledit au moins un plot (1, 2a, 2b, 2c) est relié, et en ce que le circuit de mesures comprend une partie de 25 raccordement entre ledit au moins un plot (1, 2a, 2b, 2c) de l'unité de mesure (20) avantageusement traversant le support. 10. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel les électrodes des jeux d'électrodes d'au moins une unité de mesure sont affleurantes sur une face du support (3). 11. Dispositif selon la revendication précédente dans lequel les électrodes des jeux d'électrodes de ladite au moins une unité de mesure (20) sont espacées par des portions non conductrices affleurant sur la face (4) du support (3). 3035220 19 12. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel la dimension en largeur (W) des électrodes est inférieure à 10 pm, et de préférence inférieure à 1 pm. 13. Dispositif selon l'une des revendications précédentes dans lequel la 5 distance inter-électrodes est comprise entre 1 nm et 10 pm, et de préférence entre 500 nm et 1 pm. 14. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel les électrodes des jeux d'électrodes d'au moins une unité de mesure (20) comportent une couche supérieure en Ruthénium. 10 15. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel le support (3) comporte une première face pourvue d'au moins une unité de mesure (20) et une deuxième face différente de la première face, pourvue d'au moins une unité de mesure (20). 16. Dispositif selon l'une des revendications précédentes, dans lequel le 15 circuit de mesures comprend une alimentation électrique et un dispositif de mesure du courant circulant entre les jeux d'électrodes des unités de mesure (20) en présence d'un objet (10) sur la zone d'accueil des unités de mesure (20). 17. Procédé de mesure d'au moins une caractéristique électrique d'un 20 objet, comprenant : - l'utilisation d'un dispositif selon l'une des revendications précédentes ; - une étape de placement d'un objet (10) sur la zone d'accueil d'une unité de mesure (20) et une étape de mesure du courant circulant entre les jeux 25 d'électrodes de ladite unité (20); - une étape de placement de l'objet (10) ou d'un objet identique sur la zone d'accueil d'une autre unité de mesure (20) et une étape de mesure du courant circulant entre les jeux d'électrodes de ladite autre unité ; - une évaluation du courant traversant l'objet à partir des mesures 30 de courant réalisées aux étapes précédentes 18. Procédé selon la revendication précédente, dans lequel on utilise un objet (10) filiforme et on place l'objet sur la zone d'accueil d'une unité de mesure (20) de sorte qu'une dimension en longueur de l'objet (10) soit dirigée suivant la dimension en largeur des électrodes de ladite unité de mesure (20). 3035220 20 19. Procédé selon la revendication précédente, dans lequel on utilise un objet (10) ayant une dimension en longueur inférieure à 1 mm, et de préférence inférieure à 100 pm.et/ou ayant une dimension en largeur inférieure à 10 pm.