FR 3030779 A1 20160624 FR 1463095 A 20141222 PROCÉDÉ DE CALIBRATION D'UN DÉTECTEUR DE RAYONNEMENT IONISANT ET DISPOSITIF ASSOCIÉ DESCRIPTION DOMAINE TECHNIQUE La présente invention se rapporte au domaine des détecteurs de rayonnement ionisant, en particulier pour des applications nucléaires, médicales ou en contrôle non destructif. ÉTAT DE LA TECHNIQUE ANTÉRIEURE La spectrométrie est une méthode communément utilisée dans le domaine de la détection de rayonnements ionisants. Elle consiste à exposer un détecteur face à une source de rayonnements ionisants, à détecter une pluralité d'interaction de rayonnements dans un matériau détecteur, à estimer l'énergie cédée, dans le matériau détecteur, par chaque interaction, afin d'obtenir un histogramme représentant le nombre d'interactions détectées pour différentes plages d'énergies données. Cet histogramme est appelé spectre d'énergie. D'une manière générale, un dispositif de spectrométrie comporte un matériau détecteur, apte à induire une interaction avec un rayonnement ionisant incident. Chaque interaction génère des porteurs de charges, lesquels sont collectés par une électrode. Un circuit électronique, raccordé à l'électrode, permet de générer un signal électrique à partir des porteurs de charges collectés. Le signal électrique prend généralement la forme d'une impulsion, dont l'amplitude dépend du nombre de porteurs de charges collectés. Une mémoire, disposée en aval du circuit électronique, permet de rassembler l'ensemble des impulsions formées, chaque impulsion correspondant à une interaction dans le matériau détecteur. Cette mémoire classe alors les impulsions en fonction de leur amplitude, pour fournir un histogramme comportant le nombre d'impulsions détectées en fonction de leur amplitude. Cet histogramme est appelé spectre en amplitude. L'amplitude de chaque impulsion détectée dépend de la quantité de charge collectée par les porteurs de charges suite à l'interaction, cette quantité dépendant de l'énergie perdue par le rayonnement incident au cours de son interaction dans le matériau détecteur, cette énergie étant également appelée énergie de l'interaction. Ainsi, l'amplitude de chaque impulsion dépend de l'énergie perdue par le rayonnement incident au cours de l'interaction ayant donné lieu à ladite impulsion. Dans les dispositifs de spectrométrie gamma, cette dépendance correspond généralement à une relation de proportionnalité. Autrement dit, l'amplitude d'une impulsion produite par le circuit électronique relié au matériau détecteur est proportionnelle à l'énergie perdue par le rayonnement ionisant au cours de son interaction. Lorsque le rayonnement est stoppé dans le matériau détecteur, par effet photoélectrique ou par de multiples diffusions inélastiques, il cède toute son énergie. L'amplitude de l'impulsion collectée est alors proportionnelle à l'énergie du rayonnement incident. La relation entre amplitude et énergie est réalisée en irradiant le détecteur à l'aide d'une source de référence, délivrant un rayonnement dont on connaît l'énergie. Cette opération est l'étalonnage en énergie. Par exemple, dans le cadre de la spectrométrie gamma, on expose le détecteur à une source de type 137Cs, produisant des photons dont l'énergie est de 661,6 keV. On peut également utiliser une source de 6°Co produisant des photons dont l'énergie 1173 keV et 1332 keV. On peut également utiliser une source de 'Co, produisant des photons dont l'énergie est de 122 keV. On effectue un spectre d'amplitude des signaux mesurés lorsque le détecteur est exposé à un tel rayonnement, puis on attribue manuellement les valeurs d'énergies connues aux principaux pics du spectre en énergie. Durant l'étalonnage en énergie, le détecteur acquiert un spectre, comportant des pics, et en particulier des pics dits photoélectriques, correspondant aux interactions au cours desquelles le rayonnement incident cède toute son énergie dans le matériau détecteur. Il est alors possible d'identifier ces pics et de leur faire correspondre, manuellement, une des énergies des photons produits par la source de référence. Avec une telle calibration, le spectre en amplitude devient un spectre en énergie, du fait de la relation amplitude énergie ainsi établie. Un tel étalonnage suppose tout d'abord une identification précise des pics. Sa précision dépend donc de la précision avec laquelle les pics sont identifiés. Par ailleurs, la correspondante amplitude du pic (généralement l'amplitude à laquelle le pic atteint son maximum) et l'énergie est réalisée manuellement, ce qui n'est pas envisageable lorsqu'on met en oeuvre un détecteur mettant en oeuvre un nombre de voies de mesure dépassant quelques unités, et en particulier lorsque le détecteur est un imageur, comportant plusieurs centaines voire milliers de voies de mesure. EXPOSÉ DE L'INVENTION L'invention propose une solution alternative à cet étalonnage en énergie, pouvant être mise en oeuvre automatiquement. Un premier objet de l'invention est un procédé de calibration d'un dispositif de détection de rayonnement ionisant, le dispositif comportant un détecteur apte à générer des charges électriques sous l'effet d'une interaction d'un rayonnement ionisant dans ledit détecteur, le procédé comportant les étapes suivantes : a) Irradiation du détecteur à l'aide d'une source de référence connue, ladite source produisant un rayonnement ionisant de façon à générer des interactions dans le détecteur, b) Sélection d'une pluralité de coefficients de corrections j, et détermination d'une pluralité de spectres de références Spref,, chaque spectre de référence étant associé à un coefficient de correction j, chaque spectre de référence représentant une distribution de l'amplitude A du signal S généré lorsque le détecteur est irradié par ladite source de référence Sref, l'amplitude A du signal S étant pondérée par ledit coefficient de correction j. c) Détection d'une pluralité d'interactions dans le détecteur lors de ladite irradiation et, pour chaque interaction, mesure de l'amplitude A d'un signal électronique S généré par une électrode, d) Pour chaque interaction détectée, détermination d'une fonction de calibration F telle que - chaque fonction de calibration F est définie sur une pluralité de coefficients de correction j, - chaque terme F(j) de ladite fonction de calibration représente une probabilité associée audit coefficient de correction j - chaque terme F(j) étant mis à jour, à chaque interaction détectée, en combinant l'amplitude A mesurée au cours de cette interaction avec chaque spectre de référence Sprefp e) Détermination d'un facteur de correction i ,corr en identifiant un point remarquable de ladite fonction de calibration Fk. Le facteur de correction i ,corr est ainsi défini lors d'une phase de calibration du détecteur, préalablement à une phase de détection. Durant la phase de détection, lors de chaque interaction, le signal S issu de cette interaction, et notamment son amplitude A, est alors modulé par le facteur de correction j ainsi établi. Ce procédé s'effectue automatiquement, sans mettre en oeuvre une identification de pics, et sans nécessiter d'une correspondance manuelle entre l'amplitude correspondant à un pic et une valeur d'énergie prédéterminée. L'étape b) peut comprendre : Le chargement d'un spectre de référence initial Spref, préalablement enregistré dans une mémoire, correspondant à ladite source de référence Sref, ce spectre Spref représentant la distribution de probabilité de l'amplitude du signal détecté lorsque le détecteur est irradié par ladite source de référence Sref. ii A partir du spectre de référence initial Spref, détermination d'une pluralité de spectres de références Sprefi, chaque spectre de référence Spref, étant obtenu à partir du spectre de référence initial Spref, chaque valeur Spref,() du spectre de référence étant obtenu à partir de la valeur Spref(i/j). Au cours de cette étape, les coefficients de correction j considérés peuvent être déterminés arbitrairement entre une valeur minimale et une valeur maximale Max.j Le terme coefficient de correction désigne un nombre strictement positif j, destiné à moduler le spectre de référence Spref correspondant à la source de référence, en normalisant la variable i, correspondant à l'amplitude (ou à l'énergie) de façon à établir un spectre de référence associé au coefficient de correction j Spref, tel que Spref,(i/j) = Spref (i) * Knorm(j) , le terme Knorm (j) étant un terme de normalisation pouvant être égal à 1 ou égal à 1/j. L'étape d) peut comprendre les étapes suivantes : Initialisation de la fonction de calibration F ii A chaque interaction détectée, mise à jour de la fonction de calibration, en additionnant, à chaque terme F(j) de cette fonction, la valeur du spectre de référence corrigé Spref; (A) à ladite amplitude A iii Répétition de l'étape ii jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt prédéfini L'initialisation de la fonction de calibration F peut notamment être telle que F (j) = P(j), chaque valeur P(j) représentant la valeur initiale du terme F (j). L'ensemble des valeurs initiales P(j) peuvent être égales à un même nombre, par exemple 0. Le critère d'arrêt prédéfini peut être un nombre de mise à jours prédéterminé pour chaque fonction de calibration F, ou une durée d'irradiation du détecteur prédéfinie, ou un nombre d'interactions détectées prédéfini, ou une valeur maximale atteinte par un ou plusieurs termes F(j) d'une ou plusieurs fonctions de calibration F Au cours de l'étape e), le facteur de correction i ,corr peut être déterminé en identifiant la valeur de j maximisant la valeur de la fonction de calibration Fk, auquel cas : jCOTT = argmaxi [F (j)] Le spectre de référence initial Spref ou chaque spectre de référence Spref, comporte de préférence une ou une pluralité de pics significatifs isolés les uns des autres. De préférence, le nombre de pics Pi...Pn significatifs constituant le spectre de référence est compris entre 1 et 10, et de préférence strictement supérieur à 1. Par pic significatif, on entend un pic dont la hauteur est supérieure à 2 fois, de préférence 5 fois, le niveau du bruit de fond, de part et d'autre de ce pic. Selon un exemple, l'étape d) comprend une mise à jour itérative de la fonction de calibration Fk telle que Pour tout j compris entre jmin et jmax, FP (j) = FP-1 (j)+Sprefi(A) où : - F1(j) est la valeur du terme F (j) précédent la perne itération, - F(j) est la valeur du terme F (j) après la pèrne itération, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à une interaction. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0. - p est l'indice d'itération correspondant au rang de la mise à jour. Lors de la première mise à jour, p= 1. Selon une variante : - les étapes c), d) et e) sont répétées de façon itérative, chaque étape e) aboutissant à la détermination d'un facteur de correction partiel fi, q désignant le rang de l'itération, - et, suite à la première itération, l'étape d) comprend la mise à jour de chaque terme F(j) en pondérant ladite amplitude A par le produit des facteurs de correction partiels _fi, ces facteurs de correction partiels ayant déterminés au cours des q itérations précédentes. Le procédé comporte alors, lors de l'étape e) de la dernière itération, la détermination du facteur de correction i ,corr en fonction du produit des facteurs de correction partiels ]1 ...fi déterminés lors des itérations successives, ce produit correspondant à un facteur de correction intermédiaire. Ainsi, on effectue une première détermination d'un premier facteur de correction partiel en mettant en oeuvre les étapes a) à e) précédemment décrites, ce facteur de correction partiel étant noté j1. Ensuite, on réitère les étapes c), d) et e), et, lors de la mise à jour de la fonction de calibration Fk, l'amplitude A du signal S est pondérée par le facteur de correction partiel déterminé lors de l'itération précédente. D'une façon générale, lors de chaque itération q, on réitère les étapes c), d) et e), de façon à obtenir un facteur de correction partiel]" et, lors de l'itération suivante, la mise à jour de la fonction de calibration Fk est réalisée en pondérant l'amplitude A du signal S considéré par le produit des facteurs de correction partiels ...fi déterminés lors des q itérations précédentes. Ce produit correspond à un facteur de correction intermédiaire. Le détecteur peut être : un détecteur de type scintillateur, comprenant un matériau détecteur scintillateur, apte à produire des photons de scintillation, notamment visibles, lors d'une interaction avec un rayonnement ionisant, ce matériau étant couplé à un photodétecteur, apte à produire des charges électriques en réponse auxdits photons de scintillation un détecteur de type semi-conducteur, comprenant un matériau détecteur semi-conducteur, disposé entre deux électrodes, ledit matériau détecteur semi- conducteur étant apte à générer des charges électriques lors d'une interaction avec un rayonnement ionisant. Un deuxième objet de l'invention est un dispositif de détection d'un rayonnement ionisant, permettant la mise en oeuvre du procédé précédemment décrit. Un tel dispositif comprend notamment : a) un détecteur, comportant un matériau détecteur semi-conducteur, s'étendant entre deux électrodes, le détecteur étant apte à générer des porteurs de charges sous l'effet d'une interaction avec le rayonnement ionisant b) un circuit électronique de traitement, apte à former un signal S à partir de porteurs de charges collectés par une électrode lors d'une interaction et d'en déterminer l'amplitude A. c) un circuit électronique de calibration, configuré pour mettre en oeuvre les étapes b), c) et d) et e) du procédé de calibration décrit ci-dessus. DESCRIPTION DES FIGURES La figure 1A représente un schéma du dispositif de détection ; La figure 1B représente un schéma du dispositif de détection selon un autre mode de réalisation ; La figure 2A représente les différentes étapes du procédé de calibration selon un premier mode de réalisation de l'invention ; La figure 2B représente les différentes étapes du procédé de calibration selon une variante d'un premier mode de réalisation de l'invention ; La figure 3 représente un exemple de spectre de référence Spref ; La figure 4 représente une pluralité de spectres de référence corrigés Sprefj; La figure 5 représente une vue en 3 dimensions d'une pluralité de spectres de référence corrigés Sprefj; La figure 6 représente une fonction de calibration F, de laquelle il est possible d'extraire un facteur de correction i ,corr. - EXPOSÉ DETAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS La figure 1 représente un dispositif de détection 1 d'un rayonnement ionisant selon l'invention. Il comprend un détecteur 10, réalisé dans un matériau semi-conducteur 11, apte à être polarisé par une cathode 12 et une anode 13. Le matériau semi-conducteur est, dans cet exemple, CdTe. II peut s'agir d'un autre matériau semi-conducteur communément utilisé pour la détection de rayonnements ionisants (Si, CdZnTe...). L'épaisseur du matériau est de quelques millimètres, par exemple 5 mm. Dans un matériau de type CdTe, les électrons présentent des propriétés de mobilité de charges plus favorables. Aussi, les signaux donnant une information la plus précise sur l'énergie déposée par une interaction dans le détecteur sont ceux issus de l'anode 13. Le dispositif comprend également un circuit électronique 23 d'amplification, associé à l'anode, de façon à produire un signal d'anode dont l'amplitude est proportionnelle au nombre de porteurs de charges collectés par l'anode à la suite d'une interaction. Un tel circuit est connu et ne sera pas décrit dans le détail. Le circuit électronique d'amplification peut également être connecté non pas à l'anode, mais à la cathode. Selon une variante, l'anode et la cathode disposent chacune de leur propre circuit d'amplification. Ainsi, d'une façon générale, chaque interaction dans le détecteur entraîne la collection de porteurs de charges par au moins une électrode E, (anode A ou cathode K) de façon à établir un signal électronique S dont l'amplitude est A. Le terme amplitude désigne la hauteur maximale d'un signal, lorsque ce dernier a la forme d'une impulsion. Il peut également s'agir de l'intégrale de ce signal, ou toute autre fonction de la hauteur maximale ou de l'intégrale. D'une façon générale, l'amplitude représente la quantité de charges collectées par l'électrode E lors d'une interaction. Le dispositif de détection 1 comprend également un circuit électronique de calibration 40, apte à mettre en oeuvre le procédé de calibration du détecteur. Ce circuit est un élément important de l'invention et sera décrit par la suite. Le dispositif de détection 1 comprend également un circuit électronique de correction 50, apte à appliquer, à un signal d'électrode S, un facteur de correction i ,corr - En général, on affecte ce facteur de correction à l'amplitude A du signal S de l'anode A (ou, le cas échéant, au signal de la cathode K). Le dispositif de détection est apte à détecter un rayonnement ionisant. Le terme rayonnement ionisant désigne un rayonnement apte à générer des porteurs de charges dans le détecteur 11. Il peut en particulier s'agir de rayonnement X, y, de particules chargées (notamment a ou p) ou de neutrons. Le circuit d'amplification 23 est connu et ne sera pas décrit dans le détail. Selon un autre mode de réalisation, l'anode 13 du détecteur est divisée en une pluralité d'anodes élémentaires 13i...13x, chaque anode élémentaire étant respectivement reliée à un circuit électronique d'amplification 23i...23x. Un circuit de localisation 30 est apte à déterminer l'anode élémentaire ayant collecté le signal issu de l'interaction et appliquer le procédé de calibration à cette anode. La cathode 12 peut également comporter un circuit électronique d'amplification 22. Le procédé de calibration, mis en oeuvre par le circuit électronique de calibration 40, va à présent être décrit, en lien avec la figure 2. Sa fonction est d'établir, un facteur de correction jcor, , ce facteur de correction étant destiné à être appliqué, par la suite, à l'amplitude d'un signal S collecté par une électrode, et plus particulièrement par l'anode. Ce circuit de calibration est mis en oeuvre lorsque le dispositif de détection 1 se trouve dans un mode de calibration. L'idée de base de la calibration est d'irradier le dispositif de détection 1 à l'aide d'une source de rayonnement ionisant connue, dite source de référence Sref, pour laquelle la réponse théorique du dispositif de détection est connue. Il s'agit alors d'analyser les signaux produits en réponse à cette irradiation, et de déterminer une correction appropriée, sur la base de la réponse théorique du détecteur face à cette source de référence, cette réponse théorique pouvant être qualifiée de réponse de référence. La figure 2 représente les étapes d'un premier mode de réalisation du procédé de calibration. Dans une première étape 100, on place une source de référence Sref face au dispositif de détection 1, sachant que la réponse Sp'f du dispositif, dans cette configuration, est connue. Dans cet exemple, la réponse du détecteur est un spectre en énergie, produit par le détecteur en réponse à la source. Par spectre en énergie, on entend la distribution en amplitude des signaux S issus d'une électrode E au cours de l'exposition du détecteur à une source de rayonnement. Un tel spectre se présente sous la forme d'un histogramme Sp, dont chaque terme Sp(i) représente le nombre de signaux détectés par l'électrode considérée, et dont l'amplitude est égale à i. Par amplitude égale à i ; on entend une amplitude comprise dans une plage d'amplitude Ai comprenant la valeur i, et par exemple centrée autour de la valeur i. Chaque canal d'amplitude i correspond à une énergie connue. Cette réponse peut être déterminée en modélisant le détecteur. Elle peut également être déterminée expérimentalement, en adoptant une durée d'acquisition suffisamment longue pour être statistiquement représentative. Dans l'exemple considéré, la réponse de référence Spref est un spectre en énergie correspondant au spectre « théoriquement » produit par le détecteur 11 en réponse à la source de référence Sref. La figure 3 représente un tel spectre de référence Sp'f. Il comporte plusieurs pics Pl, P2, P3, P4 se distinguant du bruit de fond B. Il est préférable que le spectre de référence initial Spref comporte au moins un pic, et de préférence une pluralité de pics, de préférence entre 1 et 20 pics. De préférence, la largeur à mi-hauteur d'un pic est inférieure au dixième, voire au vingtième ou au trentième de la dynamique du spectre, cette dernière correspondant à la plage d'amplitude selon laquelle est enregistrée le spectre. De préférence, chaque pic a une hauteur supérieure à au moins deux fois, mieux au moins cinq fois le niveau du bruit de fond de part et d'autre du pic. L'exemple de la figure 3 représente le spectre d'une source de 'Co. On distingue le pic photoélectrique, qui correspond à l'émission de photons gamma d'énergie 122 keV, ainsi que des pics de fluorescence X du matériau constituant le collimateur de la source, en l'occurrence du Tungstène. Un tel spectre Sp'f peut être assimilé à une distribution de probabilité de mesurer une amplitude donnée connaissant la source de référence irradiant le détecteur. La première étape 100 du procédé de calibration est de charger un spectre de référence Spref, correspondant à une source de référence Sref. Ce spectre de référence est désigné spectre de référence initial. La deuxième étape 200 a pour objectif d'établir, à partir du spectre de référence initial Spref, une pluralité de spectres de référence Sprefi, chacun étant associé à un coefficient de correction j. Chaque spectre Sprefi correspond au spectre de référence initial Spref moyennant la prise en compte d'un facteur de correction égal à j. Un coefficient de correction j est un coefficient strictement positif, compris entre une valeur minimale jrnin et une valeur maximale max- I ,min et Jrnax sont définis arbitrairement. Dans cet exemple, 0.82. De préférence, l'intervalle jrnin 1. Les valeurs de j sont sélectionnées sont prédéterminées. Plus précisément, si Spref (i) désigne la valeur du spectre Spref correspondant au canal d'amplitude i, le spectre de référence associé au coefficient de correction j peut s'écrire Spref, (i) = Spref (i/j). Chaque, chaque canal d'un spectre Spref, représente le nombre de signaux collectés dont l'amplitude est située dans un intervalle -Ai centré autour de la valeur -. L'égalité précédente peut également comporter un terme de normalisation Knorm(j), pouvant Spref (i/ j) être égal à 1 ou égal à 1/j, auquel cas Sprefj (i) = (1) L'utilisation de ce terme de normalisation permet alors de conserver l'intégrale du spectre constante. Lorsque le coefficient de correction j est supérieur à 1, le spectre de référence Spref, correspond à une compression du spectre de référence initial Spref, dans la mesure où l'information du spectre est concentrée sur un nombre de canaux inférieurs au nombre de canaux constituant le spectre Spref. Inversement, lorsque le coefficient de correction j est inférieur à 1, le spectre de référence Spref, correspond à une dilatation du spectre de référence initial Spref, l'information du spectre étant dilatée selon un nombre de canaux supérieurs au nombre de canaux constituant le spectre de référence initial Spref. La figure 4 représente plusieurs spectres de référence Spref, associés à un coefficient de correction j compris entre 0.8 et 2. Plus précisément, chaque colonne de la figure 4, correspondant à une abscisse j, représente un spectre de référence Spref,. Ainsi, à chaque point (j,i) est affectée un poids 131,, indiqué par l'échelle de niveaux de gris, ce poids représentant la valeur du spectre Spref, à l'amplitude i, de telle sorte que PJ, = Sprefj(i). L'échelle des abscisses de la figure 4 n'est pas linéaire. Ainsi, chaque colonne de la figure 4 représente une répartition de probabilité de l'amplitude mesurée par le détecteur, sachant le coefficient de correction j, lorsque le détecteur est irradié par la source de référence Sref, le coefficient de correction j étant l'abscisse de la colonne. Par ailleurs, chaque ligne de la figure 4, correspondant à une amplitude i, représente une distribution de probabilité du coefficient de correction j, lorsque cette amplitude est mesurée, le détecteur étant irradié par la source de référence Sref. Autrement dit, le détecteur étant irradié par la source de référence Sref, si on mesure un signal S d'amplitude A, la distribution formée par l'ensemble des valeurs Sprefj(A), pour j compris entre jrn,,, et jmax, correspond à une distribution de probabilité du facteur de correction j à appliquer, sachant la mesure de cette amplitude A. En construisant une pluralité de spectres de référence Spref,, correspondant à chaque colonne d'abscisse j de la figure 4, on peut établir une pluralité de distribution de probabilité, d'un facteur de correction j, connaissant une amplitude mesurée A. Ces distributions seront utilisées dans la prochaine étape. La figure 5 est une représentation en 3 dimensions de la figure 4. Chaque profil, correspondant à une valeur de coefficient de correction j fixe, représente un spectre de référence Sprefi. La troisième étape 300 consiste à irradier le détecteur en utilisant une source de rayonnement de référence Sref, correspondant au spectre de référence Spref. Lors de chaque interaction, un signal S est collecté aux bornes d'une électrode E (anode 13, anode élémentaire 13x ou cathode 12), ce signal étant alors traité par le circuit d'amplification 3 rattaché à l'électrode E. La quatrième étape 400 consiste à établir une fonction de calibration F. Plus précisément, lors de cette étape, on met à jour la fonction de calibration F en fonction du signal S collecté lors de l'étape 300, et en particulier en fonction de son amplitude. Initialement, chaque fonction de calibration F est initialisée à une valeur prédéterminée, par exemple à une valeur nulle : quel que soit j, F(j) = 0. Cette quatrième étape du procédé consiste à mettre à jour chaque fonction F de telle sorte qu'à chaque fois qu'une interaction est détectée, on additionne, à chaque terme F(j), la valeur du spectre de référence corrigé Spref, correspondant à l'amplitude A du signal mesuré à chaque interaction, et cela pour j compris entre jrnin et j max. Autrement dit, à chaque interaction détectée, on met à jour la fonction de calibration F selon l'équation itérative : Pour tout j compris entre kiwi et jmax, FP (j) = FP-1 (j)+Sprefi(A) où : - F1(j) est la valeur du terme F(j) précédent l'itération i - FP (j) est la valeur du terme F(j) après l'itération i -A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode, par exemple l'anode suite à chaque interaction. Cette mise à jour itérative est réalisée pour une pluralité d'interactions détectées, jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt, par exemple un nombre prédéterminé d'itérations ou une valeur maximale atteinte par une ou plusieurs valeurs de la fonction F. La figure 6 représente une fonction de calibration obtenue après 1000 mises à jour, ce nombre étant généralement compris entre quelques centaines et quelques milliers L'axe des abscisses représente les coefficients de corrections j, compris entre j,'r, et jmax. L'axe des ordonnées représente les valeurs de la fonction de calibration F(j). Chaque terme F(j) est proportionnel à la probabilité que le facteur de correction i ,corrr, à appliquer à chaque interaction, soit égal à j. La cinquième étape 500 est la détermination du facteur de correction i ,corr en fonction d'un point remarquable de la fonction de calibration F, et par exemple en fonction du coefficient de correction j pour lequel la fonction F prend une valeur maximale. Dans cet exemple, ,corr = argmax [F(j)]. En se ramenant à l'exemple de la figure 6, Cette fonction de calibration prend sa valeur maximale pour j = 1,03. Ainsi, selon cet exemple, jk =1,03. Cela signifie que le facteur de correction à appliquer au signal S de l'anode, et en particulier à son amplitude, est égal à jcorr = 1,03. Selon une variante de ce mode de réalisation, représentée sur la figure 2B, les étapes c) à e) peuvent être réalisées de façon itérative, le facteur de correction déterminé lors de l'étape e) de chaque itération q étant qualifié de facteur de correction partiel, et noté jq. Au-delà de la première itération, lors de la mise à jour de la fonction de calibration F, l'amplitude A du signal S est pondérée par le produit des facteurs de correction dits partiels déterminés lors de l'itération précédente ou lors des q-1 itérations précédentes, q désignant le rang de l'itération. Ce produit est à considérer comme un facteur de correction intermédiaire. Par exemple, l'étape d) comprend une mise à jour itérative de la fonction de calibration F telle que Pour tout j compris entre kiwi et jmak, où : FP'q(j) = FP 141 (j) + Spre f j(1-1(11_11- j1 x A) - FP4(j) est la valeur du terme F (j) précédent la 13' itération (itération de mise à jour de la fonction de calibration), lors de l'itération de rang q (itération de détermination d'un facteur de correction partiel) - FP (j) est la valeur du terme Fk(j) après la perne itération (itération de mise à jour de la fonction de calibration), lors de la série de rang q (itération de détermination d'un facteur de correction partiel) - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à une interaction. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0. - p est l'indice d'itération correspondant au rang de la mise à jour de la fonction de calibration. Lors de la première mise à jour, p= 1. ./ - j est le facteur de correction partiel avec IS /c1-1 Les étapes c) à e) sont alors renouvelées jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt : il peut s'agir d'un nombre d'itérations prédéterminé, ou d'un faible écart entre deux facteurs de correction partiels jg et jg+lsuccessifs .Typiquement, selon cette variante, le nombre Q d'itérations est compris entre 2 et 10. On constate qu'au fur et à mesure des itérations, les facteurs de correction partiels jg tendent vers la valeur 1. Lors de la dernière itération, l'étape e) comprend la détermination du le facteur de correction 1 - icorr en réalisant le produit des facteurs de corrections partiels j ....]Q successivement acquis lors de chaque série. Ainsi, selon lors de l'étape e) de la dernière itération, on peut déterminer i , COM" tel que : i - Flq=Q .q corr - q=1 _I Lors d'une étape 600, le facteur de correction i ,corr est stocké dans une mémoire 50. Lorsque le détecteur 1 comprend une pluralité d'anodes comme représenté sur la figure 1B, la calibration est effectuée pour chaque anode élémentaire, chacune d'entre elle étant affectée d'un facteur de correction jc.' qui lui est propre. Chaque facteur de correction, correspondant à une anode élémentaire, est alors stocké dans la mémoire 50. On va à présent décrire un exemple de fonctionnement d'un dispositif de détection tel que schématisé à la figure 1A. Lorsqu'une interaction survient dans le matériau détecteur 11, elle engendre un signal sur la cathode 12 et sur l'anode 13. Le circuit de correction 60 applique le paramètre de correction jc.' , stocké dans la mémoire 50, au signal émis par l'anode, et corrige l'amplitude A mesurée, de telle façon que A*= ,corr x i A, A* désignant l'amplitude corrigée. Durant ce mode de fonctionnement, le circuit de calibration 40 n'est pas utilisé. Selon le mode de réalisation représenté sur la figure 1B, lorsqu'une interaction survient dans le matériau détecteur 11, elle engendre un signal sur la cathode 12 et sur les anodes élémentaires 13i...13x. Le circuit de localisation 30 détermine l'anode élémentaire ayant collecté le signal maximal. Le circuit de correction 60 applique le paramètre de correction i ,corr associé à l'anode sélectionnée, stocké dans la mémoire 50, au signal émis par l'anode précédemment sélectionnée, et corrige l'amplitude A mesurée, de telle façon que A*i = ,corr x A, A* désignant l'amplitude corrigée. Durant ce mode de fonctionnement, le circuit de calibration 40 n'est pas utilisé. Dans les exemples décrits ci-dessus, le matériau détecteur 11 est un semi-conducteur. L'invention s'applique lorsque le détecteur 10 comprend un matériau scintillateur couplé à un photodétecteur, le photodétecteur comportant une électrode apte à générer un signal dont l'amplitude dépend de l'énergie perdue dans le matériau détecteur au cours de chaque interaction. REVENDICATIONS1. Procédé de calibration d'un dispositif de détection (1) de rayonnement ionisant, le dispositif (1) comportant un détecteur (10) apte à générer des charges électriques sous l'effet d'une interaction d'un rayonnement ionisant dans ledit détecteur, le procédé comportant les étapes suivantes : a) irradiation du détecteur (10) à l'aide d'une source de référence (Sref) connue, de façon à générer des interactions dans le détecteur ; b) sélection d'une pluralité de coefficients de correction (j) et détermination de spectres de références (Spref,), chaque spectre de référence étant associé à un facteur de correction (j), chaque spectre de référence représentant une distribution de l'amplitude (A) du signal (S) détecté lorsque le détecteur est irradié par ladite source de référence (Sref), l'amplitude (A) du signal détecté étant modulée par ledit facteur de correction (i) ; c) détection d'une pluralité d'interactions dans le détecteur lors de ladite irradiation et, pour chaque interaction, mesure de l'amplitude A d'un signal électronique S généré par ledit détecteur ; d) pour chaque interaction détectée, détermination d'une fonction de calibration F telle que : - chaque fonction de calibration F est définie sur une pluralité de coefficients de correction j, - chaque terme F(j) de ladite fonction de calibration représente une probabilité associée audit coefficient de correction j - chaque terme F(j) étant mis à jour, à chaque interaction détectée, en combinant l'amplitude A mesurée au cours de cette interaction avec chaque spectre de référence Spred, e) détermination d'un facteur de correction i ,corr en identifiant un point remarquable de ladite fonction de calibration F. 2. Procédé de calibration selon la revendication 1, dans lequel l'étape d) comprend : i l'initialisation de ladite fonction de calibration F;ii à chaque interaction détectée, mise à jour de la fonction de calibration F, en additionnant, à chaque terme F (j) de cette fonction, la valeur du spectre de référence corrigé Spref; (A) à ladite amplitude A; iii la répétition de l'étape ii jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt prédéfini. 3. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, dans lequel l'étape e) comprend la détermination du facteur de correction i ,corr en identifiant la valeur de j maximisant la valeur de la fonction F auquel cas : jCOTT = argmaxi [PU)] 4. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, dans lequel : - les étapes c), d) et e) sont répétées de façon itérative, chaque étape e) aboutissant à la détermination d'un facteur de correction partiel, q désignant le rang de l'itération, - et dans lequel, suite à la première itération, l'étape d) comprend la mise à jour de chaque terme F (j) en pondérant ladite amplitude A par le produit des facteurs de correction partiels ji...jq, ces facteurs ayant déterminés au cours des q itérations précédentes. le procédé comportant alors, lors de l'étape e) de la dernière itération, la détermination du facteur de correction i ,corr en fonction du produit des facteurs de correction partiels 11...1(2 déterminés lors desdites itérations successives, Q désignant le nombre d'itérations. 5. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, dans lequel l'étape b) comprend : le chargement d'un spectre de référence initial Spref, préalablement enregistré dans une mémoire, correspondant à ladite source de référence S'f, ce spectre Sp'f représentant la distribution de l'amplitude du signal détecté lorsque le détecteur est irradié par ladite source de référence Sref ii à partir du spectre de référence initial Spref, détermination d'une pluralité de spectres de références Sprefl, chaque spectre de référence Spref, étant obtenu à partir du spectrede référence initial Spref, chaque valeur Spref,(i) du spectre de référence étant obtenu à partir de la valeur Spref(i/j). 6. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, le détecteur (10) comprenant un matériau détecteur scintillateur ou un matériau détecteur(11) semi-conducteur. 7. Dispositif de détection d'un rayonnement ionisant, comprenant : a) un détecteur (10), le détecteur étant apte à générer des porteurs de charges sous l'effet d'une interaction avec ledit rayonnement ionisant ; b) un circuit électronique d'amplification (22, 23), apte à former un signal S à partir de porteurs de charges collectés par une électrode lors d'une interaction et d'en déterminer l'amplitude A; c) un circuit électronique de calibration (40), configuré pour mettre en oeuvre les étapes b) à e) de l'un des procédés objet des revendications 1 à 6.