FR 3030778 A1 20160624 FR 1463093 A 20141222 PROCÉDÉ DE CALIBRATION D'UN DÉTECTEUR DE RAYONNEMENT IONISANT ET DISPOSITIF ASSOCIÉ DESCRIPTION DOMAINE TECHNIQUE L'invention concerne les détecteurs de rayonnement ionisant, en particulier de rayonnement photonique X ou gamma, pour des applications dans le domaine nucléaire, médical ou pour le contrôle non destructif. ÉTAT DE LA TECHNIQUE ANTÉRIEURE Certains dispositifs de détection de rayonnement ionisant mettent en oeuvre des matériaux détecteurs semi-conducteurs, de type CdTe, CdZnTe, polarisés par des électrodes. Généralement, une cathode et une anode, sont disposées sur deux faces opposées du matériau détecteur. Ces électrodes permettent la polarisation du matériau détecteur. Elles permettent également la collecte des porteurs de charges générés par les interactions d'un rayonnement ionisant dans le matériau détecteur. Chaque interaction, qu'il s'agisse d'une interaction photoélectrique ou d'une diffusion Compton, voire d'une création de paires, génère plusieurs centaines, voire milliers de paires d'électrons-trous. Les électrons migrent vers la ou les anodes, tandis que les trous migrent vers la ou les cathodes. Ainsi, une interaction est un évènement générant des porteurs de charges dans le matériau semi- conducteur, ces charges migrant vers les électrodes polarisant le détecteur. Du fait de propriétés de mobilité supérieures dans les matériaux semi-conducteurs actuellement mis en oeuvre, les électrons, collectés par l'anode, produisent un signal électronique, permettant d'estimer l'énergie perdue par le rayonnement ionisant lors de l'interaction, ou énergie de l'évènement. Des circuits électroniques connectés à l'anode permettent d'amplifier et de mettre en forme le signal, sous la forme d'une impulsion, dont la hauteur ou l'intégrale dépendent, souvent linéairement, de l'énergie de l'évènement. Chaque électrode, qu'il s'agisse de la cathode ou de l'anode, peut être segmentée en plusieurs électrodes élémentaires. Pour des applications liées à l'imagerie, l'anode est généralement divisée en une matrice d'anodes élémentaires, chaque anode élémentaire constituant un pixel du détecteur. Une difficulté liée à ce type de détecteur est que le signal collecté par une électrode dépend du lieu de l'évènement dans le détecteur. Par exemple, une interaction libérant la même énergie, donc un même nombre de porteurs de charge, ne produit pas le même signal si elle se produit à proximité de la cathode à proximité de l'anode. Par ailleurs, dans le cas où une électrode est segmentée en différentes électrodes élémentaires, le signal produit par une interaction dépend de la position de l'interaction par rapport aux électrodes élémentaires. Par exemple, si les électrodes élémentaires sont réparties selon une matrice, le signal produit par une interaction dépend du lieu de l'interaction dans le plan de la matrice. Ainsi, un signal collecté par une électrode dépend non seulement de l'énergie libérée par l'interaction ayant généré ce signal, mais également de la position de l'interaction dans le matériau détecteur. Autrement dit, la réponse du détecteur n'est pas spatialement homogène et dépend du lieu d'interaction. L'invention décrite dans cette demande répond à ce problème. EXPOSÉ DE L'INVENTION Un premier objet de l'invention est un procédé de calibration d'un détecteur de rayonnement ionisant, visant à déterminer un facteur de correction en fonction du lieu d'interaction dans le détecteur. Plus précisément, un premier objet de l'invention est un procédé de calibration d'un dispositif de détection d'un rayonnement ionisant, le détecteur comportant un matériau détecteur semiconducteur, s'étendant entre deux électrodes, au moins une électrode étant apte à générer un signal S d'amplitude A lors d'une interaction d'un rayonnement ionisant dans ledit matériau détecteur, le procédé comportant les étapes suivantes, : a) irradiation du détecteur à l'aide d'une source de référence connue, de façon à générer des interactions dans le détecteur, b) sélection d'une pluralité de coefficients de corrections j, et détermination d'une pluralité de spectres de références Spref,, chaque spectre de référence étant associé à un coefficient de correction j, chaque spectre de référence représentant une distribution de l'amplitude A du signal S généré lorsque le détecteur est irradié par ladite source de référence Sref, l'amplitude A du signal S étant pondérée par ledit coefficient de correction j, c) détection d'une pluralité d'interactions dans le détecteur lors de ladite irradiation et, pour chaque interaction, mesure de l'amplitude A d'un signal électronique S généré par au moins une électrode et détermination de la valeur k d'au moins un paramètre de position de l'interaction en fonction dudit signal S. d) pour une pluralité de valeurs k dudit paramètre de position, détermination d'une fonction de calibration Fk telle que: - chaque fonction de calibration Fk est associée à une desdites valeurs k dudit paramètre de position, - chaque fonction de calibration Fk est définie sur une pluralité de coefficients de correction j, - chaque terme Fk(j) de ladite fonction de calibration représente une probabilité associée audit coefficient de correction j lorsque le paramètre de position prend la valeur k, - chaque terme Fk(j) étant mis à jour, à chaque interaction dont le paramètre de position est égal à la valeur k à laquelle ladite fonction de calibration Fk est associée, en combinant ladite amplitude A mesurée au cours de cette interaction avec chaque spectre de référence Spred, e) détermination d'un facteur de correction jk associé à chaque valeur k du paramètre de position en identifiant un point remarquable de ladite fonction de calibration Fk On a ainsi établi une fonction de correction J associée audit paramètre de position, avec, pour chaque valeur k de ce paramètre de position, J(k) = jk. Le procédé de calibration consiste alors à associer, pour une pluralité de valeurs k dudit paramètre de position, un facteur de correction jk, chaque facteur étant associé à une valeur k. Ce facteur est destiné à être utilisé lors de la phase de fonctionnement du dispositif de détection, lorsque, sous étant exposé à un rayonnement ionisant, le détecteur génère des signaux sous l'effet des interactions se produisant dans le matériau détecteur. Chaque interaction est affectée d'une valeur k d'un paramètre de position, et l'amplitude du signal qu'elle génère est alors pondérée par le facteur de correction jk correspondant à ladite valeur k. Cette calibration peut être réalisée de façon automatisée, sans recours à un utilisateur, et cela lorsque le détecteur comprend une voie de mesure ou une multitude de voies de mesure. Elle peut également adresser simultanément plusieurs paramètres de position, en en particulier une position de l'interaction entre l'anode et la cathode et une position dans le plan de l'anode. Elle prend alors en compte la position en 3D de l'interaction. Par fonction de correction associée à un paramètre de position, on entend une fonction J dont la variable k est la valeur dudit paramètre de position, la fonction de correction J(k) indiquant, pour chaque valeur k dudit paramètre de position, le facteur de correction jk à appliquer. La valeur k du paramètre de position peut être comprise entre une valeur minimale kmin et une valeur maximale kmax, telles que kmin k kmax. kmin et kmax dépendent du paramètre de position considéré et peuvent être prédéterminées. La fonction de correction peut être définie sur quelques valeurs k discrètes, puis être interpolée entre ces différentes valeurs discrètes, de façon à être définie sur un intervalle [kmin - kmax]. Autrement dit, les facteurs de correction jk peuvent être déterminés pour quelques valeurs k discrètes, comprises entre la valeur minimale kmin et la valeur maximale kmax, le facteur de correction associé à une valeur comprise entre deux valeurs discrètes étant alors obtenu par interpolation, par exemple par une interpolation linéaire. L'étape b) peut comprendre : le chargement d'un spectre de référence initial Spref, préalablement enregistré dans une mémoire, correspondant à ladite source de référence Sref, ce spectre Spref représentant la distribution de l'amplitude du signal détecté lorsque le détecteur est irradié par ladite source de référence Sref, ii à partir du spectre de référence initial Spref, détermination d'une pluralité de spectres de références Sprefl, chaque spectre de référence Spref, étant obtenu à partir du spectre de référence initial Spref, chaque valeur Spref,() du spectre de référence étant obtenu à partir de la valeur Spref (i/j). Le terme coefficient de correction désigne un nombre strictement positif j, destiné à moduler le spectre de référence Spref correspondant à la source de référence, en normalisant la variable i, correspondant à l'amplitude (ou à l'énergie) de façon à établir un spectre de référence associé au coefficient de correction j Spref, tel que Spref,(i/j) = Spref (i) x Knorm(j) , le terme Knorm (j) étant un terme de normalisation pouvant être égal à 1 ou égal à 1/j. Les coefficients de correction j considérés peuvent être déterminés arbitrairement entre une valeur minimale jrn,,, et une valeur maximale Max.j Il s'agit de valeurs discrètes, strictement positives, réparties entre les valeurs j et Max.j De préférence, jr. L'étape d) peut comprendre les étapes suivantes : initialisation de chaque fonction de calibration Fk associée à chaque valeur k dudit paramètre de position, ii à chaque interaction détectée, détermination de la valeur k dudit paramètre de position et mise à jour de la fonction de calibration Fk correspondante, en additionnant, à chaque terme Fk(j) de cette fonction, la valeur du spectre de référence corrigé Spref; (A) à ladite amplitude A, iii répétition de l'étape ii jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt prédéfini. L'initialisation de la fonction de calibration Fk peut notamment être telle que Fk(j) = Fkc)(j), chaque valeur Fa) représentant la valeur initiale du terme Fk (j). L'ensemble des valeurs initiales Fk°(j) peuvent être égales à un même nombre, par exemple 0. Le critère d'arrêt prédéfini peut être un nombre de mise à jours prédéterminé pour chaque fonction de calibration Fk, ou une durée d'irradiation du détecteur prédéfinie, ou un nombre d'interactions détectées prédéfini, ou une valeur maximale atteinte par un ou plusieurs termes Fk(j) d'une ou plusieurs fonctions de calibration Fk Au cours de l'étape e), le facteur de correction jk associé à la valeur k du paramètre de position peut être déterminé en identifiant la valeur de j maximisant la valeur de la fonction de calibration Fk, auquel cas : jk = argmaxi [Fk (j)] Le procédé mis en oeuvre selon l'invention peut comporter l'une des caractéristiques décrites ci-dessous, prises isolément ou selon toutes les combinaisons techniquement réalisables. Parmi les électrodes reliées au matériau détecteur, on compte au moins une cathode et au moins une anode. Selon certains modes de réalisations : l'anode comporte une pluralité d'anodes élémentaires, notamment coplanaires, en particulier sous une forme matricielle, et/ou, la cathode comporte une pluralité de cathodes élémentaires, notamment coplanaires, en particulier sous forme matricielle. Le paramètre de position d'une interaction peut être déterminé en combinant des signaux résultant de ladite interaction, issus de différentes électrodes, et par exemple par une anode et par une cathode, ou par deux anodes élémentaires, les deux anodes élémentaires étant en particulier disposées dans le même plan, ou par deux cathodes élémentaires, les deux cathodes étant en particulier disposées dans le même plan. Le paramètre de position d'une interaction peut être déterminé en combinant les signaux : de l'anode élémentaire ayant collecté le signal d'amplitude maximal, dite anode gagnante, et de l'anode élémentaire adjacente de l'anode gagnante ayant collecté le signal d'amplitude maximal, dite anode secondaire, auquel cas la valeur du paramètre de position dépend de la position de l'interaction dans le plan de l'anode gagnante et de l'anode secondaire. Le paramètre de position d'une interaction peut en particulier être obtenu en effectuant un rapport de l'amplitude du signal mesuré par l'anode secondaire sur l'amplitude du signal mesuré par l'anode gagnante. Le paramètre de position d'une interaction peut être déterminé en combinant les signaux : de l'anode élémentaire ayant collecté le signal d'amplitude maximal, dite anode gagnante, et de la cathode ou si la cathode est répartie en différentes cathodes élémentaires, de la cathode élémentaire ayant collecté le signal d'amplitude maximal, auquel cas la valeur du paramètre de position dépend de la position de l'interaction entre l'anode gagnante et la cathode, dite profondeur de détection et fréquemment désignée par l'acronyme DOI (Depth of Interaction). Le paramètre de position d'une interaction peut en particulier être obtenu en effectuant un rapport de l'amplitude du signal mesuré par la cathode sur l'amplitude du signal mesuré par l'anode gagnante. Le spectre de référence initial Spref ou chaque spectre de référence Spref, comporte de préférence une ou une pluralité de pics significatifs isolés les uns des autres. De préférence, le nombre de pics Pi...Pn significatifs constituant le spectre de référence est compris entre 1 et 10. Par pic significatif, on entend un pic dont la hauteur est supérieure à 2 fois, de préférence 5 fois, le niveau du bruit de fond, de part et d'autre de ce pic. Selon un exemple, l'étape d) comprend une mise à jour itérative de la fonction de calibration Fk telle que Pour tout j compris entre kiwi et jmax, FkP (j)= Fk13-1 (j)+Sprefi(A) où : - Fk(j) est la valeur du terme Fk(j) précédent la perne itération, - FkP (j) est la valeur du terme Fk(j) après la perne itération, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à une interaction dont le paramètre de position est égal à pour valeur k. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0. - p est l'indice d'itération correspondant au rang de la mise à jour. Lors de la première mise à jour, p= 1. L'étape d) peut alors être réitérée pendant un nombre d'itérations prédéterminé, ou jusqu'à ce qu'entre deux mises à jour successives, la fonction de correction Fk (j) associée à la valeur k n'évolue plus de façon significative, ou atteigne, pour un coefficient de correction j, une valeur prédéterminée. D'une façon générale, l'étape d) est répétée jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt prédéterminé. Selon une variante : - les étapes c), d) et e) sont répétées de façon itérative pour une même valeur k du paramètre de position, chaque étape e) aboutissant à la détermination d'un facteur de correction partiel jkg, q désignant le rang de l'itération, - et, suite à la première itération, l'étape d) comprend la mise à jour de chaque terme Fki(j) -(/ en pondérant ladite amplitude A par le produit des facteurs de correction partiels jk jk, associés à la valeur k du paramètre de position de l'interaction, ces facteurs ayant déterminés au cours des q itérations précédentes. Le procédé comporte alors, lors de l'étape e) de la dernière itération, la détermination du facteur de correction jk associé à chaque valeur k du paramètre de position en fonction du produit des facteurs de correction partielsj ...gdéterminés lors des Q itérations successives. Ainsi, on effectue une première détermination de facteurs de correction jk associés à une pluralité de valeurs k d'un paramètre de position, en mettant en oeuvre les étapes a) à e) précédemment décrites, ces facteurs de corrections partiels étant notésj. Ensuite, on réitère les étapes c), d) et e), et, lors de la mise à jour de la fonction de calibration Fk associée à chaque valeur k du paramètre de position, l'amplitude A du signal S est pondérée par le facteur de correction partiel correspondant à ladite valeur k, préalablement déterminé. D'une façon générale, lors de chaque itération q, on réitère les étapes c), d) et e), de façon à obtenir un facteur de correction partiel jki et, lors de l'itération suivante, la mise à jour de la fonction de calibration Fk associée à chaque valeur k du paramètre de position est réalisée en pondérant -(/ l'amplitude A du signal S par les produits des facteurs de correction partiels jk ...jk correspondant à ladite valeur k, préalablement déterminés. Selon un mode de réalisation, chaque interaction peut être caractérisée par une pluralité de paramètres de position, chaque paramètre de position de rang i ayant pour valeur k,. Dans ce cas, le procédé met en oeuvre les étapes a) et b) sont analogues à celles décrites ci-dessus. L'étape c) comprend la détermination d'un ensemble de N paramètres de position de l'interaction en fonction du signal S, N étant un entier supérieur à 1, auquel cas l'étape d) comprend la sélection d'un paramètre de position i parmi les N paramètres de position, et, pour une pluralité de valeurs k, dudit je' paramètre de position, la détermination d'une fonction de calibration Fki telle que - chaque fonction de calibration Fki est associée à une desdites valeurs ki dudit paramètre de position, - chaque terme Fki(j) de ladite fonction de calibration représente une probabilité associée audit coefficient de correction j lorsque le paramètre de position prend la valeur ki, - chaque terme Fki(j) étant mis à jour, à chaque interaction dont le ième paramètre de position est égal à la valeur ki à laquelle ladite fonction de calibration Fki est associée, en pondérant l'amplitude A, mesurée au cours de cette interaction, par au moins un facteur de correction j, ledit facteur de correction j, étant déterminé en fonction de la valeur kr, d'un ni' paramètre de position caractérisant l'interaction, et en combinant l'amplitude A ainsi pondérée avec chaque spectre de référence Spred. Par ième et ni' paramètre de position, on entend les paramètres de position de rangs respectifs i et n dans l'ensemble constitué par les N paramètres de position caractérisant chaque interaction. Selon ce mode de réalisation, l'étape e) comprend la détermination du facteur de correction associé à chaque valeur k, du ième paramètre de position en fonction de ladite fonction de calibration Fki associée au ième paramètre de position, et notamment en fonction d'un point remarquable de cette fonction, par exemple son maximum. Les facteurs de correction jkr, sont soit déterminés préalablement, soit initialisés à une valeur initiale jkr,°. Par exemple, lors de l'étape e), le facteur de correction jk, associé à la valeur k, du ième paramètre de position est obtenu par la relation j'a, = argmaxi [Fia, (j)] . On a ainsi établi une fonction de correction Ji associée audit ième paramètre de position, avec, pour chaque valeur k, de ce paramètre de position, .1,(1q) = iki- Par fonction de correction associée à un ième paramètre de position, on entend une fonction J dont la variable k, est la valeur dudit ième paramètre de position, la fonction de correction .1,(1(,) indiquant, pour chaque valeur ki, le paramètre de position Selon ce mode de réalisation, l'étape d) peut comprendre : l'initialisation de chaque fonction de calibration Fki associée à chaque valeur k, du ième paramètre de position ki, ii à chaque interaction détectée : - détermination des valeurs (ki...k,...kN) des N paramètres de position caractérisant l'interaction, pondération de la valeur de l'amplitude A mesurée au cours de cette interaction par au moins un facteur de correction jkr, dépendant de la valeur kr, d'un n'e paramètre de position caractérisant l'interaction, addition, à chaque terme Fki(j) de ladite fonction de calibration, de la valeur du spectre de référence corrigé Spref, (A*), A* représentant la valeur de l'amplitude A pondérée, iii répétition de l'étape ii jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt. Par exemple, au cours de cette étape d), chaque fonction Fki, associée à la valeur ki d'un ième paramètre de position, est mise à jour de façon itérative selon l'expression suivante : Pour tout j compris entre jrnin et imax, F/( J) = Ffd 1 (i) Spre fj(fl1 j kn X A) où : - FJ-1(j) est la valeur du terme Fki (j) précédent la mise à jour, - FkiP (j) est la valeur du terme Fki (j) après la mise à jour, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à chaque interaction dont le je' paramètre de position a pour valeur k,. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0, -k correspondent aux facteurs de correction correspondant à un ou plusieurs paramètres de position caractérisant l'interaction, ces paramètres étant soit déterminés préalablement, soit initialisés à une valeur initiale, comme expliqué ci-dessous, - p est l'indice d'itération. Lors de la première mise à jour, p= 1. Selon ce mode de réalisation, lorsqu'un paramètre de correction jkr, n'a pas été préalablement déterminé, on attribue sa valeur à une valeur initiale, par exemple égale à 1. Ainsi, préalablement aux étapes décrites ci-dessus, le procédé comporte une phase d'initialisation lors de laquelle chaque paramètre de correction jkr, est affecté d'une valeur arbitraire initiale, par exemple égale à 1. Dans un mode de réalisation, les étapes c), d) et e) précédemment décrites, prenant en compte une pluralité de paramètres de position, sont réalisées successivement en sélectionnant chaque fois un je' paramètre de position différent. Autrement dit, on réalise ces trois étapes c), d) et e) : - pour un premier paramètre de position de manière à établir une fonction de correction Ji associée audit premier paramètre de position, avec, pour chaque valeur k1 de ce paramètre de position, Ji(ki) = jki, l'étape d) étant mise en oeuvre en considérant les facteurs de corrections jki...jkN égaux à une valeur initiale arbitraire jki...jkN°, par exemple égale à 1, - pour un nième paramètre de position, avec 1 Selon une variante : - les étapes c), d) et e) sont répétées de façon itérative, pour une même valeur ki du ième paramètre de position chaque étape e) aboutissant à la détermination d'un facteur de qi correction partiel jki, qi désignant le rang de l'itération, - et, suite à la première itération, l'étape d) comprend la mise à jour de chaque terme Fki(j) en pondérant ladite amplitude A par le produit des facteurs de correction partielsji...jk, associés à la valeur ki du ième paramètre de position de l'interaction, ces facteurs j1 qi ki...jki ayant déterminés au cours des ci; itérations précédentes. Le procédé comporte alors, lors de l'étape e) de la dernière itération, la détermination du facteur de correction jki associé à chaque valeur ki du ième paramètre de position en fonction du produit des -Qi facteurs de correction partiels jki jki determinés lors des O.; itérations successives. Q désignant le nombre d'itérations nécessaires. D'une façon générale, selon cette variante, lors de chaque itération qi, on réitère les étapes c), d) et e), de façon à obtenir un facteur de correction partiel jkqii et, lors de l'itération suivante, la mise à jour de la fonction de calibration Fki associée à ladite valeur Ici du ième paramètre de position est réalisée en pondérant l'amplitude A du signal S par le produit des facteurs de correction partiels .qi jki ...jki associé à la valeur ki du je' paramètre de position, préalablement déterminés. Le produit ...j correspond à un facteur de correction dit intermédiaire associé à la valeur ki du ième paramètre de position. De préférence, lors de l'étape d), la fonction de calibration Fki est mise à jour en pondérant aussi l'amplitude A par un facteur de pondération K, ce facteur étant obtenu à partir du produit des facteurs de correction j» ou des facteurs de correction jilin...jkg: partiels, associés aux valeurs kr, des autres paramètres de position de l'interaction. Un deuxième objet de l'invention est un dispositif de détection d'un rayonnement ionisant, permettant la mise en oeuvre du procédé précédemment décrit. Un tel dispositif se comprend notamment : a) un détecteur, comportant un matériau détecteur semi-conducteur, s'étendant entre deux électrodes, le détecteur étant apte à générer des porteurs de charges sous l'effet d'une interaction avec le rayonnement ionisant, b) un circuit électronique de traitement, apte à former un signal S à partir de porteurs de charges collectés par une électrode lors d'une interaction et d'en déterminer l'amplitude A, c) un circuit électronique de localisation, apte à déterminer la valeur d'au moins un paramètre de position à ladite interaction dans le matériau détecteur à partir de différentes électrodes, d) un circuit électronique de calibration, configuré pour mettre en oeuvre les étapes b), c) et d) et e) du procédé décrit ci-dessus. Un troisième objet de l'invention est un procédé de détection d'un rayonnement ionisant, à l'aide d'un détecteur, notamment un détecteur semi-conducteur s'étendant entre deux électrodes, le procédé comportant les étapes suivantes : a) irradiation d'un détecteur à l'aide d'une source de rayonnement ionisant, b) à chaque détection d'une interaction du rayonnement ionisant dans le détecteur, formation d'au moins un signal S, sous l'effet de ladite interaction, le signal S étant collecté par une électrode E, et détermination des valeurs ki...kN de N paramètre(s) de position de l'interaction, N 1, à partir dudit signal S, c) détermination d'au moins un facteur de correction jk, en fonction de la valeur ki...kN de chaque paramètre de correction, d) correction de l'amplitude A d'un signal détecté S en lui appliquant au moins un facteur de correction jk, ce dernier étant déterminé en fonction de la valeur k, de chaque paramètre de position caractérisant l'interaction. Chaque facteur de correction jk, associé à un paramètre de position donné est alors, de préférence, établi selon le procédé de calibration précédemment décrit. La correction de l'amplitude est notamment réalisée par une pondération de ladite amplitude par la chaque facteur de correction jk, correspondant à la valeur k, du je' paramètre de position. De préférence, l'ensemble des facteurs de correction, associés à chaque paramètre de position, sont préalablement stockés dans une table, dite table de correction, définissant, pour chaque paramètre de correction, une correspondance entre la valeur k, de ce paramètre et le facteur de correction jk, correspondant à cette valeur. Selon une variante, l'étape b) comprend la détermination, à chaque interaction détectée, de la valeur de N paramètres de position avec N 2, l'étape c) comprend la correction de l'amplitude du signal détecté S en lui appliquant une pluralité de facteurs de corrections jki....jkN, chaque facteur de correction étant déterminé en fonction des valeurs respectives k1 ...kN des paramètres de position, Selon un mode de réalisation, chaque facteur de correction jk, est un terme multiplicatif appliqué à l'amplitude A du signal produit par l'interaction. Autrement dit, l'étape c) comprend la multiplication de l'amplitude A du signal détecté par un ou plusieurs facteurs de correction jk,, chaque facteur de correction jk, dépendant de la valeur k, du paramètre de position considéré. On obtient alors une amplitude corrigée A* telle que A* = x A. Par exemple, les paramètres de position d'une interaction sont respectivement une coordonnée (XINT,YINT) dans le plan de l'anode et une coordonnée (ZINT) entre l'anode et la cathode, tels que précédemment évoqués. Dans ce cas, l'amplitude de chaque signal détecté est corrigée en fonction des facteurs de corrections jki et jk2 chaque facteur de correction jki et jk2 dépendant des valeurs respectives 1(1, k2 de chaque paramètre de position considérée. En particulier, l'amplitude corrigée A* est telle que A* = jkl X jk2 X A. Un quatrième objet de l'invention est un dispositif de détection d'un rayonnement ionisant comportant : a) un détecteur, comportant un matériau détecteur semi-conducteur, s'étendant entre deux électrodes E, le détecteur étant apte à générer des porteurs de charges sous l'effet d'une interaction avec le rayonnement ionisant, b) un circuit électronique de traitement, apte à former, un signal S à partir de porteurs de charges collectés par une électrode E lors d'une interaction et d'en déterminer l'amplitude A, c) un circuit électronique de localisation, apte à déterminer la valeur k d'au moins un paramètre de position de l'interaction dans le matériau détecteur à partir d'au moins un signal collecté par une électrode E, d) un circuit électronique de correction configuré pour appliquer, à un signal détecté S, un facteur de correction jk correspondant à ladite valeur k dudit paramètre de position, ledit facteur de correction étant préalablement stocké dans une mémoire. Le facteur de correction jk peut être déterminé par le procédé de calibration précédemment décrit. De préférence, le circuit électronique de correction applique le facteur de correction à un seul signal détecté S, par exemple à l'anode, ou, lorsque l'anode comporte une pluralité d'anodes élémentaires, à l'anode gagnante. Selon un mode de réalisation, l'étape c) comprend la détermination de la valeur d'au moins N paramètres de position, N étant un entier supérieur à 1, par exemple la profondeur d'interaction ZINT ainsi que la position de l'interaction (XINT, VINT) dans le plan de l'anode. Dans ce cas, lors de l'étape d), le signal détecté S est corrigé par N facteurs de correction ji jN, chaque facteur de correction dépendant de la valeur du paramètre de position auquel il est associé. En particulier, l'amplitude du signal détectée est pondérée par un produit des N facteurs de correction. DESCRIPTION DES FIGURES La figure 1 représente un schéma du dispositif de détection ; La figure 2A représente les différentes étapes du procédé de calibration selon un premier mode de réalisation de l'invention ; La figure 2B représente les différentes étapes du procédé de calibration selon une variante d'un premier mode de réalisation de l'invention ; La figure 3 représente un exemple de spectre de référence Spref ; La figure 4 représente une pluralité de spectres de référence corrigés Spref, ; La figure 5 représente une vue en 3 dimensions d'une pluralité de spectres de référence corrigés Spref; ; La figure 6 représente une fonction de calibration Fk, lorsque le paramètre de position k correspond à la position de l'interaction entre une cathode et une anode ; La figure 7 représente un exemple de l'évolution du facteur de correction jk en fonction des valeurs k du paramètre de position, lorsque ce dernier correspond à la position de l'interaction entre une cathode et une anode ; La figure 8 représente un exemple de l'évolution du facteur de correction jk en fonction des valeurs k du paramètre de position k, lorsque ce dernier correspond à la position de l'interaction dans le plan de l'anode, cette dernière étant segmentée en anodes élémentaires ; La figure 9 représente les différentes étapes du procédé de calibration selon un deuxième mode de réalisation de l'invention ; La figure 10 représente les différentes étapes du procédé de calibration selon un troisième mode de réalisation de l'invention. EXPOSÉ DETAILLÉ DE MODES DE RÉALISATION PARTICULIERS La figure 1 représente un dispositif de détection 1 d'un rayonnement ionisant selon l'invention. Il comprend un détecteur 10, réalisé dans un matériau semi-conducteur 11, apte à être polarisé par une cathode 12 et une matrice d'anodes élémentaires 13. Cette matrice d'anodes est constituée d'anodes élémentaires 131...13p. Le matériau semi-conducteur est, dans cet exemple, CdTe. Il peut s'agir d'un autre matériau semi-conducteur communément utilisé pour la détection de rayonnements ionisants (Si, CdZnTe...). L'épaisseur du matériau est de quelques millimètres, par exemple 5 mm. Dans un matériau de type CdTe, les électrons présentent des propriétés de mobilité de charges plus favorables. Aussi, les signaux donnant une information la plus précise sur l'énergie déposée par une interaction dans le détecteur sont ceux issus de ou des anodes élémentaires 131 13k...13p. Dans cet exemple, la cathode 12 est unique, mais de même que pour l'anode, une division en de multiples cathodes élémentaires serait envisageable. Chaque anode élémentaire 13k est réalisée en disposant un matériau conducteur à la surface du matériau semi-conducteur. La dimension de chaque anode élémentaire 13x est par exemple (à compléter), l'espacement entre chaque anode élémentaire étant de 50nm à 3 mm, de préférence entre 100 nm et 1 mm. De façon symétrique, la cathode 12 est réalisée en disposant un matériau conducteur à la surface du matériau semi-conducteur, généralement la surface opposée à la surface accueillant l'anode. Dans cet exemple, le matériau détecteur 11 est un parallélépipède de CdZnTe d'épaisseur 5 mm et de 20 mm de côtés. Le dispositif comprend également : un premier circuit électronique 23x d'amplification, associé à chaque anode élémentaire 13x de façon à produire un signal d'anode dont l'amplitude est proportionnelle au nombre de porteurs de charges collectés par l'anode élémentaire à la suite d'une interaction. Un tel circuit est connu et ne sera pas décrit dans le détail, un deuxième circuit électronique 22 d'amplification, associé à la cathode 12 de façon à produire un signal de cathode dont l'amplitude est proportionnelle au nombre de porteurs de charges collectés par la cathode à la suite d'une interaction. Un tel circuit est connu et ne sera pas décrit dans le détail. Un tel circuit est optionnel. Ainsi, d'une façon générale, chaque interaction dans le détecteur entraîne la collection de porteurs de charges par au moins une électrode E, (anode A ou cathode K) de façon à générer un signal électronique S dont l'amplitude est A. Le terme amplitude désigne la hauteur maximale d'un signal, lorsque ce dernier a la forme d'une impulsion. Il peut également s'agir de l'intégrale de ce signal, ou toute autre fonction de la hauteur maximale ou de l'intégrale. D'une façon générale, l'amplitude représente la quantité de charges collectées par l'électrode E lors d'une interaction. Une interaction entraîne fréquemment la collection de porteurs de charges par plusieurs électrodes E, E', E"... le circuit de d'amplification associé à chacune de ces électrodes produisant alors des signaux S, S', S"...d'amplitudes respectives A, A', A". On désigne par le terme d'électrode « gagnante» l'électrode E produisant le signal S d'amplitude A maximale. Chaque circuit d'amplification (23x, 22) peut comporter un amplificateur, affectant le signal électronique d'un gain G. Le gain de chaque circuit d'amplification est déterminé préalablement par l'homme du métier. Le dispositif de détection 1 comprend également un circuit électronique de localisation 30, apte à déterminer la valeur k d'un paramètre de position de l'interaction dans le détecteur 11. Par paramètre de position, on entend un paramètre, déterminé à l'aide d'au moins un signal S détecté une électrode, et dépendant de la position de l'interaction dans le détecteur 11. Cette position peut être : une position entre la cathode 12 et l'anode 13, c'est-à-dire une coordonnée ZINT de l'interaction selon un axe s'étendant entre la cathode et l'anode. Cette position, dite profondeur d'interaction, et dont l'acronyme est DOI (Depth of Interaction), traduit la distance ZINT entre l'interaction et l'anode (ou la cathode), ii une position dans le plan de l'anode 13, c'est-à-dire un couple de coordonnées (XINT,YINT) de l'interaction dans le plan de l'anode. Le circuit électronique de localisation 30 détermine la valeur k du paramètre de position d'une interaction en utilisant les signaux électroniques S, S', S" générés par une ou plusieurs électrodes E, E', E". La valeur de ce paramètre de position est généralement calculée au moins à l'aide du signal S de l'électrode touchée, en particulier de l'anode touchée, mais cela n'est pas impératif. Le paramètre de position k peut être défini à l'aide d'un seul signal électronique S : par exemple, si une seule anode AO, parmi les différentes anodes élémentaires 13x, collecte un signal S significatif, la valeur k du paramètre de position correspond à la position de l'anode AO. On considère alors que la position de l'interaction dans le plan de l'anode 13 correspond aux coordonnées (X0, Yo) du centre de l'anode AO, ces coordonnées (X0, Yo) constituant la valeur du paramètre de position. Par signal significatif, on entend un signal dont l'amplitude est supérieure à un certain seuil, ce dernier étant déterminé en fonction du bruit électronique, de manière à éviter les fausses détections. Cependant, lorsque les anodes sont suffisamment rapprochées les unes des autres, les porteurs de charges peuvent se répartir sur plusieurs anodes élémentaires 13x adjacentes. L'anode élémentaire collectant le signal dont l'amplitude est maximale est désignée par le terme anode gagnante (ou anode touchée), et notée AO. De même que dans le paragraphe précédent, la valeur du paramètre la position de l'interaction dans le plan de l'anode correspond à (X0, Yo). La valeur k d'un paramètre de position peut être déterminée en combinant au moins deux signaux S, S' respectivement détectés par des électrodes différentes E, E'. Il peut s'agir d'un ratio entre l'amplitude du signal de la cathode K, sur l'amplitude du signal de l'anode touchée AO. Le paramètre de position indique alors une position de l'interaction entre l'anode gagnante AO et la cathode K, ce qui correspond à la profondeur d'interaction ZINT précédemment définie. Il peut s'agir d'un ratio entre l'amplitude des signaux entre deux anodes adjacentes, et notamment le signal de l'anode secondaire Al et le signal de l'anode gagnante AO, l'anode secondaire correspondant à l'anode, adjacente de l'anode gagnante, dont le signal a l'amplitude la plus élevée. Plus le ratio AAJAAo est faible plus la position de l'interaction, dans le plan de l'anode 12, est proche du centre de l'anode gagnante AO. Plus ce ratio est élevé, plus la position de l'interaction s'éloigne du centre de l'anode ANI en direction du centre de l'anode Am. Lorsque le ratio est égal à 1, l'interaction est située entre l'anode gagnante et l'anode secondaire. Lorsque ce ratio est égal à 0, l'interaction est centrée par rapport à l'anode gagnante. Naturellement, plusieurs signaux S, S', S", S- issus d'électrodes adjacentes E, E', E", E" peuvent être combinés pour obtenir une détermination encore plus précise de la position de l'interaction dans le plan de l'anode. Le dispositif de détection 1 comprend également un circuit électronique de calibration 40, apte à mettre en oeuvre le procédé de calibration du détecteur. Ce circuit est un élément important de l'invention et sera décrit par la suite. Le dispositif de détection 1 comprend une mémoire 50, comportant les facteurs de correction déterminés par le procédé de calibration détaillé ci-dessous. Pour chaque paramètre de correction, on associe un facteur de correction jk pour différentes valeurs k dudit paramètre de correction. Le dispositif de détection 1 comprend également un circuit électronique de correction 60, apte à appliquer, à un signal d'électrode S, un facteur de correction jk dépendant de la valeur k d'au moins un paramètre de position de chaque interaction dans le matériau semi-conducteur 11. Ces facteurs peuvent notamment être issus de la mémoire 50. En général, on affecte un facteur de correction à l'amplitude A du signal S de l'anode gagnante AO (ou, le cas échéant, au signal de la cathode gagnante KO). Cette amplitude est alors corrigée en fonction de la valeur k dudit paramètre de position, comme expliqué par la suite. Le dispositif de détection est apte à détecter un rayonnement ionisant. Le terme rayonnement ionisant désigne un rayonnement apte à générer des porteurs de charges dans le détecteur 11. Il peut en particulier s'agir de rayonnement X, y, de particules chargées (notamment a ou p) ou de neutrons. Les circuits d'amplification 22, 23 et le circuit de localisation 30 sont connus et ne seront pas décrits dans le détail. Le procédé de calibration, mis en oeuvre par le circuit électronique de calibration 40, va à présent être décrit, en lien avec la figure 2A. Sa fonction est d'établir, pour différentes valeurs k d'un paramètre de position, un facteur de correction jk, ce facteur de correction étant destiné à être appliqué, par la suite, à l'amplitude d'un signal S collecté par une électrode, et plus particulièrement par l'anode gagnante, lorsque ce signal résulte d'une interaction dont la valeur du paramètre de position est égale à k. Ainsi, un objectif de l'invention est de permettre la pondération de l'amplitude d'un signal détecté par un facteur de correction déterminé en fonction de la position de l'interaction dans le détecteur, cela afin de tenir compte de l'hétérogénéité spatiale de la réponse du détecteur. Le circuit électronique de calibration 40 est configuré pour effectuer une calibration du dispositif de détection 1, de façon à corriger l'hétérogénéité spatiale de sa réponse. Ce circuit de calibration est mis en oeuvre lorsque le dispositif de détection 1 se trouve dans un mode de calibration. L'idée de base de la calibration est d'irradier le dispositif de détection 1 à l'aide d'une source de rayonnement ionisant connue, dite source de référence Sref, pour laquelle la réponse théorique du dispositif de détection est connue. Il s'agit alors d'analyser les signaux produits en réponse à cette irradiation, et de déterminer une correction appropriée, sur la base de la réponse théorique du détecteur face à cette source de référence, cette réponse théorique pouvant être qualifiée de réponse de référence. La figure 2 représente les étapes d'un premier mode de réalisation du procédé de calibration. Dans une première étape 100, on place une source de référence Sref face au dispositif de détection 1, sachant que la réponse Sp'f du dispositif, dans cette configuration, est connue. Dans cet exemple, la réponse du détecteur est un spectre en énergie, produit par le détecteur en réponse à la source. Par spectre en énergie, on entend la distribution en amplitude des signaux S issus d'une électrode E au cours de l'exposition du détecteur à une source de rayonnement. Un tel spectre se présente sous la forme d'un histogramme Sp, dont chaque terme Sp(i) représente le nombre de signaux détectés par l'électrode considérée, et dont l'amplitude est égale à i. Par amplitude égale à i ; on entend une amplitude comprise dans une plage d'amplitude Ai comprenant la valeur i, et par exemple centrée autour de la valeur i. Cette réponse peut être déterminée en modélisant le détecteur. Elle peut également être déterminée expérimentalement, en adoptant une durée d'acquisition suffisamment longue pour être statistiquement représentative. Les réponses obtenues sur chaque anode élémentaire 13x peuvent alors être moyennées pour former une réponse de référence Spref du détecteur face à la source. Alternativement, la réponse peut être déterminée en sélectionnant les interactions ayant un paramètre de position déterminé, et en réalisant le spectre d'amplitude des signaux collectés lors de ces interactions. Dans l'exemple considéré, la réponse de référence Spref est un spectre en énergie correspondant au spectre « théoriquement » produit par le détecteur 11 en réponse à la source de référence Sref. La figure 3 représente un tel spectre de référence Spref. Il comporte plusieurs pics Pl, P2, P3, P4 se distinguant du bruit de fond B. Il est préférable que le spectre de référence initial Spref comporte au moins un pic, et de préférence entre 1 et 20 pics. De préférence, la largeur à mi-hauteur d'un pic est inférieure au dixième, voire au vingtième ou au trentième de la dynamique du spectre, cette dernière correspondant à la plage d'amplitude selon laquelle est enregistrée le spectre. De préférence, chaque pic a une hauteur supérieure à au moins deux fois, mieux au moins cinq fois le niveau du bruit de fond de part et d'autre du pic. L'exemple de la figure 3 représente le spectre d'une source de 'Co. On distingue le pic photoélectrique, qui correspond à l'émission de photons gamma d'énergie 122 keV, ainsi que des pics de fluorescence X du matériau constituant le collimateur de la source, en l'occurrence du Tungstène. Un tel spectre Spref peut être assimilé à une distribution de probabilité de mesurer une amplitude donnée connaissant la source irradiant le détecteur. La première étape 100 du procédé de calibration est de charger un spectre de référence Spref, correspondant à une source de référence Sref. Ce spectre de référence est désigné spectre de référence initial. La deuxième étape 200 a pour objectif d'établir, à partir du spectre de référence initial Spref, une pluralité de spectres de référence Sprefl, chacun étant associé à un facteur de correction j. Chaque spectre Spref, correspond au spectre de référence initial Spref moyennant la prise en compte d'un facteur de correction égal à j. Un coefficient de correction j est un coefficient strictement positif, compris entre une valeur minimale jmir, et une valeur maximale jmax. kiwi et jmax sont définis arbitrairement. Dans cet exemple, 0.82. De préférence, l'intervalle jrnin 1. Les valeurs de j sont sélectionnées sont prédéterminées. Plus précisément, si Sore (i) désigne la valeur du spectre Sore correspondant au canal d'amplitude i, le spectre de référence associé au coefficient de correction j peut s'écrire Spref, (i) = Sore (i/j). Chaque, chaque canal d'un spectre Sore, représente le nombre de signaux collectés dont l'amplitude est située dans un intervalle -Ai centré autour de la valeur -. L'égalité précédente peut également comporter un terme de normalisation Knorm(j), pouvant être égal à 1 ou égal à 1/j, auquel cas] (i) = Spref (in) . Une telle normalisation permet de conserver l'intégrale du spectre Spref. Lorsque le coefficient de correction j est supérieur à 1, le spectre de référence Spref, correspond à une compression du spectre de référence initial Spref, dans la mesure où l'information du spectre est concentrée sur un nombre de canaux inférieurs au nombre de canaux constituant le spectre Spref. Inversement, lorsque le coefficient de correction j est inférieur à 1, le spectre de référence Spref, correspond à une dilatation du spectre de référence initial Spref, l'information du spectre étant dilatée selon un nombre de canaux supérieurs au nombre de canaux constituant le spectre de référence initial Spref. La figure 4 représente plusieurs spectres de référence Spref, associés à un coefficient de correction j compris entre 0.8 et 2. Il est précisé que sur la figure 4, l'échelle des abscisses n'est pas linéaire. Chaque colonne de la figure 4, correspondant à une abscisse j, représente un spectre de référence Spref,. Ainsi, à chaque point (j,i) est affectée un poids 131,, indiqué par l'échelle de niveaux de gris, ce poids représentant la valeur du spectre Sore, à l'amplitude i, de telle sorte que Pli = Sprefj(i). Ainsi, chaque colonne de la figure 4 représente une distribution de probabilité de l'amplitude mesurée par le détecteur, sachant le coefficient de correction j, lorsque le détecteur est irradié par la source de référence Sref, le coefficient de correction j étant l'abscisse de la colonne. Par ailleurs, chaque ligne de la figure 4, correspondant à une amplitude i, représente une distribution de probabilité du coefficient de correction j, lorsque cette amplitude est mesurée, le détecteur étant irradié par la source de référence Sref. Autrement dit, le détecteur étant irradié par la source de référence Sref, si on mesure un signal S d'amplitude A, la distribution formée par l'ensemble des valeurs Sprefj(A), pour j compris entre et jmax, correspond à une distribution de probabilité du facteur de correction j à appliquer, sachant la mesure de cette amplitude A. En construisant une pluralité de spectres de référence Spref,, chaque spectre de référence Spref, correspondant respectivement à une colonne d'abscisse j de la figure 4, on peut établir une pluralité de distributions de probabilité, d'un coefficient de correction j, connaissant une amplitude mesurée A. Ces distributions seront utilisées dans la prochaine étape. La figure 5 représente une représentation en 3 dimensions de la figure 4. Chaque profil, correspondant à une valeur de coefficient de correction j fixe, représente un spectre de référence Sprefp La troisième étape 300 consiste à irradier le détecteur en utilisant une source de rayonnement de référence Sref correspondant au spectre de référence Spref. Lors de chaque interaction, un signal électrique, ou une pluralité de signaux électriques (S, S', S"), sont collectés aux bornes d'une ou plusieurs électrodes (E, E', E"), et traité par le circuit d'amplification rattaché à chaque électrode. Comme précédemment décrit, on attribue, à chaque interaction détectée, la valeur k d'un paramètre de position en fonction du signal S ou des signaux S, S', S". Le paramètre de position peut correspondre une position de l'interaction dans le plan des anodes, auquel cas la valeur correspond à une coordonnée (XINT, VINT) de l'interaction dans la plan de l'anode. Le paramètre de position peut correspondre à une profondeur d'interaction ZINT, auquel cas plus une interaction est proche de l'anode, plus elle est dite profonde. Dans ce cas, la valeur du paramètre de position correspond à une coordonnée de l'interaction selon un axe perpendiculaire à l'anode et à la cathode. Dans un premier exemple, on considère que le paramètre de position représente une position (XINT,YINT) dans le plan de l'anode 13 lorsque cette dernière est divisée en anodes élémentaires 131...13p coplanaires. Lorsque ces anodes élémentaires sont suffisamment rapprochées les unes des autres, les électrons générés par une interaction sont collectés par plusieurs anodes élémentaires 13x, généralement adjacentes. La collection de ces signaux est simultanée, et chaque circuit de traitement 23', relié à une anode élémentaire 13' ayant collecté une quantité de charges significatives, délivre un signal S d'amplitude A. Ces signaux S sont adressés au circuit de localisation 30, lequel détermine l'anode AO ayant collecté le signal maximal, dite anode gagnante, et l'anode A1, dite anode secondaire, dont le signal SAi est celui dont l'amplitude Am est maximale parmi les différentes anodes adjacentes de l'anode gagnante AO. Le circuit de localisation 30 détermine un ratio entre l'amplitude du signal délivré par l'anode secondaire, notée Am et l'amplitude du signal délivré par l'anode gagnante, notée AA0. Le ratio Acd / AA0 correspond à un coefficient de partage de charges. Il est possible d'établir une fonction g, attribuant une valeur k du paramètre de position de l'interaction en fonction de ce ratio. Autrement dit, k = f(AA1/ AA0). Plus précisément, si les centres de l'anode gagnante AO et de l'anode secondaire A1 ont respectivement pour coordonnées (X0, Yo) et (X1, Y1), les coordonnées (XINT,YINT) de l'interaction INT sont situées sur la droite passant par (X0, Yo) et (Xi, Yi), la distance par rapport au centre (X0, Yo) de l'anode gagnante AO dépendant du paramètre de position k. Plus ce dernier est faible, plus la quantité de porteurs de charges collectée par l'anode gagnante AO est importante par rapport à l'anode secondaire A1, plus (XINT,YINT) est proche de (X0, Yo). Ainsi, la position de l'interaction est déterminée : d'une part par les coordonnées du centre (X0,110) de l'anode gagnante AO et du centre (X1,1(1) de l'anode secondaire A1, d'autre part par la valeur k du ratio A1/A0 : par exemple, lorsque A1/A0 = 0, (XINT, ,X0-FX1 YO+Y1\ VINT) = (X0Y0) et lorsque A1/A0 = 1, (X .--INT,YINT) = l 2 ' 2 )« Le circuit de localisation 30 calcule alors la valeur k du paramètre de position de l'interaction, en effectuant un ratio entre les amplitudes Am et AA0. La quatrième étape 400 consiste à établir une fonction de calibration Fk associée à différentes valeurs k du paramètre de position. Plus précisément, lors de cette étape, on met à jour la fonction de calibration Fk associée à la valeur k du paramètre de position de l'interaction détectée lors de l'étape précédente 300. Initialement, chaque fonction de calibration Fk est initialisée à une valeur prédéterminée, par exemple à une valeur nulle : quel que soit j, Fk(j) = 0. Cette quatrième étape du procédé consiste à mettre à jour chaque fonction Fk de telle sorte qu' à chaque fois qu'une interaction est détectée, dont le paramètre de position est égal à k, on additionne, à chaque terme Fk(j), la valeur du spectre de référence corrigé Spref, correspondant à l'amplitude A du signal mesuré à chaque interaction, et cela pour j compris entre jrj et jmax. Autrement dit, à chaque interaction détectée, on détermine la valeur k du paramètre de position de cette interaction, puis on met à jour la fonction de calibration Fk, associée au paramètre de position k, selon l'équation itérative : Pour tout j compris entre jr. et jmax, Fk P (j)= Fk13-1 (j)+Spref,(A) où : - FkP-1(j) est la valeur du terme Fk (j) précédent l'itération i, - FkP (j) est la valeur du terme Fk (j) après l'itération i, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à une interaction dont le paramètre de position est égal à k. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0. Cette mise à jour itérative est réalisée pour une pluralité d'interactions détectées, ayant un paramètre de position de même valeur k, jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt, par exemple un nombre prédéterminé d'itérations ou une valeur maximale atteinte par une ou plusieurs valeurs de la fonction Fk. La figure 6 représente une fonction Fk réalisée après un nombre de mises à jour égal à 1000, pour un paramètre de position dont la valeur k est égale à 0,35. L'axe des abscisses représente les coefficients de corrections j, compris entre jmin et jmax. L'axe des ordonnées représente les valeurs de la fonction de calibration Fk(j). Pour différentes valeurs k de ce paramètre de position, le circuit de calibration 40 établit une fonction de calibration, notée Fk, chaque fonction Fk représentant la distribution de probabilité du facteur de correction j à appliquer lorsque le paramètre de position d'une interaction est égal à k. Plus précisément, chaque terme Fk(j) est proportionnel à la probabilité que le facteur de correction, à appliquer à chaque interaction dont le paramètre de position est égal à k, soit égal à j. La cinquième étape 500 est la détermination du facteur de correction jk associé à chaque valeur k du paramètre de position, en fonction d'un point remarquable de la fonction de calibration Fk associée à cette valeur k, et par exemple en fonction du coefficient de correction j pour lequel la fonction Fk prend une valeur maximale. Dans cet exemple, jk = argmax [Fk(j)]. En se ramenant à l'exemple de la figure 6, cette fonction de calibration prend sa valeur maximale pour j = 1,08. Ainsi, selon cet exemple, jk =1,08. Cela signifie que lorsque le paramètre de position a pour valeur k=0,35, le facteur de correction à appliquer à l'amplitude AA0 du signal de l'anode gagnante est jk=o,35= 1,08. La figure 8 représente la fonction de correction J associée au paramètre de correction, chaque terme J(k) représentant le facteur de correction jk à adopter en fonction de la valeur k du paramètre de position, ce dernier représentant la position (XINT, VINT), par rapport à une anode élémentaire de position (X0,110) de l'interaction dans le plan des anodes comme précédemment expliqué. Chaque facteur de correction jk ainsi déterminé est stocké dans une mémoire 50, ce qui fait l'objet de la sixième étape 600. Le stockage peut être effectué sous la forme d'une table, dite table de calibration, effectuant une correspondance entre la valeur k du paramètre de position et le facteur de correction jk. Selon une variante de ce mode de réalisation, représentée sur la figure 2B, les étapes c) à e) peuvent être réalisées de façon itérative, pour une même valeur k du paramètre de position, le facteur de correction, correspondant à la valeur k du paramètre de position, déterminé lors de chaque itération de rang q étant qualifié de facteur de correction partiel et noté jkq. Au-delà de la première itération, lors de la mise à jour de la fonction de calibration Fk associée à chaque valeur k du paramètre de position, l'amplitude A du signal S est pondérée par le produit des facteurs de correction jkl...jkq correspondant à ladite valeur k, déterminés lors de l'itération précédente ou lors des q itérations précédentes, q désignant le rang de l'itération. Un tel produit jklx...x jkq correspond à un facteur de correction dit intermédiaire associé à la valeur k. Lors de l'étape e) de la dernière itération, q = Q, Q désignant le nombre d'itérations, le facteur de correction jk associé à la valeur k du paramètre de position est calculé en réalisant le produit des -Q facteurs de correction partiels jk....jk successivement acquis lors de chaque série. On constate qu'au fur et à mesure des itérations, les facteurs de correction partiels tendent progressivement vers la valeur 1. Ainsi, avant la première itération, le facteur de correction associé à la valeur k, noté j2, est initialisé à une valeur prédéterminée, par exemple égale à 1. Chaque itération q aboutit à la détermination d'un facteur de correction partiel jkg, chaque facteur de correction partiel composant le facteur de =1 q 1 , correction intermédiaire H/=1 jkutilise en tant que terme de pondération de l'amplitude mesurée lors de l'itération suivante, de rang q+1. Lors de l'étape e) de la dernière itération, on peut déterminer jk tel que : rE1=Q Jk - 111=1.1k Autrement dit, lors de l'étape e) de la dernière itération, le facteur de correction jk associé à la valeur k du paramètre de position est déterminé en fonction du produit des facteurs de corrections partiels correspondant à la même valeur k du paramètre de position, ces facteurs de correction partiels ayant été déterminés au cours des itérations précédentes. Par exemple, si une série désigne la détermination de facteurs de corrections partiels jkg en appliquant les étapes c) à e) précédemment décrites, lors de chaque série, l'étape d) comprend une mise à jour itérative de la fonction de calibration Fk telle que: Pour tout j compris entre in*, et imax, OÙ : F713,41 (j) = F13, 141 (j) + Sprerial(riiik x A) - FkP-1(j) est la valeur du terme Fk(j) précédent la 13' itération, lors la série de rang q (le terme série désigne ici l'itération q permettant la détermination du facteur de correction partiel jig,), - Fkm (j) est la valeur du terme Fk(j) après la perne itération, lors de la série de rang q, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à une interaction dont le paramètre de position est égal à k. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0, - p est l'indice d'itération correspondant à mise à jour de la fonction de calibration. Lors de la première mise à jour, p= 1, - jkest le facteur de correction partiel associé à la valeur k du paramètre de position, déterminé au cours de la série 1, avec IS Les étapes c) à e) sont alors renouvelées jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt : il peut s'agir d'un nombre de séries prédéterminé, d'un faible écart entre deux facteurs de correction partiels jkg et .q+1 jk successifs. Typiquement, selon cette variante, le nombre Q de séries est compris entre 2 et 10. Selon un deuxième exemple, le paramètre de position représente la profondeur d'interaction ZINT, déterminée en fonction du signal de l'anode gagnante et du signal de la cathode. Plus précisément, le circuit de localisation 30 détermine l'anode gagnante en comparant les différents signaux émis par les circuits électroniques 23x. Puis, il détermine le ratio entre l'amplitude AK du signal de la cathode, fournie par le circuit électronique de cathode 22, sur l'amplitude AA0 du signal de l'anode gagnante. Le circuit de localisation 30 calcule alors la valeur k du paramètre de position de l'interaction, en effectuant un ratio entre les amplitudes AK et AA0, comme décrit dans la oubli He, Zhong « 1-D position sensitive single carrier semiconductor detectors », Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, A 380 (1996) 228-231. Il est possible d'établir une fonction g, attribuant une profondeur de l'interaction dans le détecteur en fonction de ce ratio. Autrement dit, k = g(AK/AA0). Le paramètre de position peut prendre différentes valeurs k, comprises entre une valeur minimale kmin (interaction adjacente de l'anode) et une valeur maximale kmax (interaction adjacente de la cathode). Le procédé de calibration selon ce deuxième exemple reproduit les mêmes étapes que celui de l'exemple précédent : ere étape 100 : chargement d'un spectre de référence Spref, correspondant à une source de référence Sref. 2ierne étape 200 : établissement d'une pluralité de spectres de références corrigés Sprefi, ces spectres de références étant obtenus à partir du spectre de référence Spref, par la relation Spref; (i) = Spref (i/j). De préférence, on introduit un terme de normalisation de telle sorte que : Spref (i/j) Sprefj (i) = Ces deux premières étapes sont analogues à celles du premier exemple. 3' étape 300: irradiation du détecteur à l'aide de la source de référence Sref, et détermination, à chaque interaction, de la valeur k du paramètre de position et de l'Amplitude A du signal S mesuré par une électrode. Dans cet exemple, l'amplitude A est l'amplitude AA0 du signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, ainsi que l'amplitude AK du signal AK mesuré par la cathode. 4ième étape 400 : A chaque interaction détectée, mise à jour de la fonction de calibration Fk, k étant la valeur du paramètre de position. La mise à jour de la fonction Fk s'effectue selon les mêmes principes que dans l'exemple précédent, et par exemple selon l'expression itérative: Pour tout j compris entre kiwi et jmax, FkP (j)= Fk13-1 (j)+Sprefi(A) où : - FkP-1(j) est la valeur du terme Fk (j) précédent l'itération p, - Fk( j) est la valeur du terme Fk (j) après l'iteration p, -A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à une interaction se produisant à la coordonnée k. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0. De même que dans l'exemple précédent, chaque fonction de calibration Fk est initialisée à une valeur arbitraire, l'ensemble des valeurs de cette fonction pouvant être initialisées à 0. 5ieme étape 500 : détermination du facteur de correction jk associé à chaque valeur k du paramètre de position à partir de la fonction de calibration Fk. De façon similaire au premier exemple, chaque facteur jk peut être tel que : jk = argmax [Fk(j)]. La figure 7 représente, pour différentes valeurs k du paramètre de position considéré, la fonction de correction J associée à ce paramètre de position, chaque terme J(k) de cette fonction correspondant au facteur de correction jk à appliquer lorsque la valeur du paramètre de position considéré est égal à k. Sur cette figure, les paramètres de position sont normalisés et sont compris entre une valeur kmin=0 et une valeur kmax = 1. 6ieme étape 600 : mémorisation des facteurs de correction jk correspondant à chaque valeur k du paramètre de position considéré. Selon un troisième exemple, représenté sur la figure 9, on réalise successivement deux calibrations : i une première calibration, dite calibration en profondeur, en déterminant des premiers facteurs de correction jki en fonction de la valeur k1 d'un premier paramètre de correction correspondant à la profondeur d'interaction, c'est-à-dire de la distance de l'interaction par rapport à l'anode 13, ii Une deuxième calibration, dite calibration dans la plan de l'anode, en déterminant des deuxièmes facteurs de correction jk2 en fonction de la valeur k2 d'un deuxième paramètre de correction, dépendant de la position de l'interaction dans le plan de l'anode 13. L'avantage lié à ce troisième exemple est qu'on dispose d'un couple de facteurs de correction (jki, jk2) en fonction de la position de l'interaction respectivement selon la profondeur du détecteur et dans le plan de l'anode 13. Les facteurs de correction (jki, jk2) tiennent alors compte de la position, en 3 dimensions, de l'interaction dans le matériau détecteur 11. L'ordre dans lequel sont réalisées ces calibrations n'importe pas : la première calibration, selon la profondeur d'interaction, peut être réalisée avant ou après la deuxième calibration, selon la position dans le plan de l'anode 13. Cependant, une telle calibration peut encore être améliorée. En effet, lorsque deux calibrations successives sont réalisées selon deux paramètres de position (k1, k2) différents, ces deux calibrations sont effectuées indépendamment l'une de l'autre. Lors de la calibration en profondeur le paramètre de position, défini à partir du rapport K/AO est lui-même affecté par une erreur, liée à position de l'interaction dans le plan de l'anode 13, puisqu'il est déterminé à l'aide du signal de l'anode gagnante, ce dernier n'ayant subi aucune correction. De manière analogue, lors de la calibration dans le plan de l'anode, défini à partir du rapport A1/A0 est affecté par la profondeur d'interaction, puisqu'il est déterminé à l'aide du signal de l'anode gagnante, ce dernier n'ayant subi aucune correction. Afin d'aboutir à une calibration plus précise, on procède à une calibration itérative, comme décrit dans le quatrième exemple. Selon ce quatrième exemple, représenté sur la figure 10, on effectue les étapes 100 et 200 précédemment décrites, puis, alternativement, on considère un premier paramètre de position, par exemple la profondeur d'interaction, définie par le rapport Ak/AA0. Cela permet d'établir un jeu de premiers facteurs de correction jki, relativement au premier paramètre de correction k1, ii un deuxième paramètre de position par exemple la position de l'interaction dans la plan de l'anode, définie par le rapport AAJAAo. Cela permet de constituer un jeu de deuxième base de facteurs de correction jk2, relativement au deuxième paramètre de correction k2. Puis, de façon itérative, On effectue une étape 300', en considérant ledit premier paramètre de position, cette étape étant similaire à l'étape 300 précédemment définie. Cependant, lors de l'étape 300', à chaque interaction détectée, on détermine également la valeur k2 du deuxième paramètre de position. Lors de la mise à jour de la fonction de calibration Fu., chaque amplitude mesurée est pondérée par le facteur de correction jk2, associé à la valeur k2 deuxième paramètre de correction. Les facteurs de correction jki et jk2respectivement associés à l'ensemble des valeurs du premier et du deuxième facteur de correction sont préalablement initialisés à une valeur arbitraire, par exemple 1. Plus précisément, l'étape 300' comprend : - l'irradiation du détecteur à l'aide de la source de référence Sref, - à chaque interaction, détermination de la valeur 1(1 du premier paramètre de position et de la valeur k2 du deuxième paramètre de position, et mise à jour d'une fonction de calibration Fkl associée à ladite valeur k1 du premier paramètre de position, selon la formule : Pour tout j compris entre kiki et imax, Fk? (j)= Fk1134 (i)+Sprefj(jk2x A) où : - Fk113-1(j) est la valeur du terme Fu. (j) précédent l'itération p, - Fk?(j) est la valeur du terme Fu. (j) résultant de l'itération p, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à l'interaction. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0, - ik2 est le facteur de correction correspondant à la valeur k2 du deuxième paramètre de position, ce paramètre étant soit initialisé à une valeur arbitraire jk20 (par exemple 1) soit préalablement déterminé. De même que dans les exemples précédents, chaque fonction de calibration Fkl est initialisée à une valeur arbitraire, l'ensemble des valeurs de cette fonction pouvant être initialisées à 0. L'étape 400' suivante est similaire à l'étape 400 préalablement décrite. Elle comprend la mise à jour des facteurs de correction jki associés au paramètre de position k1, en fonction de la fonction de calibration Fkl associée à ce paramètre de position k1 : jki = argmax; [Fki(j)]. On détermine alors la fonction de correction Ji, telle que Ji(ki)= De façon symétrique, on effectue une étape 300", en considérant ledit deuxième paramètre de position, cette étape étant similaire à l'étape 300 précédemment définie. Cependant, lors de l'étape 300", on détermine également, à chaque interaction détectée, la valeur k1 le premier paramètre de position. Lors de la mise à jour de la fonction de calibration FK2, associée à la valeur k2 du deuxième paramètre, la valeur k1 du premier facteur de correction jki, associé au premier paramètre de correction, est utilisé en tant que terme de pondération. Plus précisément, l'étape 300" comprend : i l'irradiation du détecteur à l'aide de la source de référence Sref, ii A chaque interaction, détermination de la valeur k1 du premier paramètre de position et de la valeur k2 du deuxième paramètre de position, puis mise à jour d'une fonction de calibration associée à la valeur k2 du deuxième paramètre de position, selon la formule : Pour tout j compris entre jrj et jmax, Fk2Pi(j)Fk2P W+Sprefj(jki X A) où : - Fk2P-1(j) est la valeur du terme Fk2(j) précédent la mise à jour, - Fk2 P (j) est la valeur du terme Fk2(j) après la mise à jour, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à l'interaction. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0, - jki est le facteur de correction correspondant à la valeur k1 du premier paramètre de position 1(1, préalablement déterminé. De même que dans les exemples précédents, chaque fonction de calibration Fk2 est initialisée à une valeur arbitraire, l'ensemble des valeurs de cette fonction pouvant être initialisées à 0. L'étape 400" suivante est similaire à l'étape 400 préalablement décrite Elle comprend la mise à jour des facteurs de correction jk2 associés au paramètre de position k2, en fonction de la fonction de calibration Fk2 associée à la valeur k2 de ce deuxième paramètre de position, selon l'égalité jk2= argmax; [Fk2(j)]. On détermine alors la fonction de correction J2, telle que J2(k2)= jk2. Le procédé décrit selon ce mode de réalisation, peut être généralisé à la détermination de N paramètres de position, le procédé de calibration comprenant alors : - la détermination de N jeux de facteurs de correction, chaque jeu étant associé à un je' paramètre de position, avec et N 1, chaque jeu comprenant autant de facteurs de correction jk, que de valeurs ki pouvant être prises par chaque je' facteur de position ki. Autrement dit, selon ce mode de réalisation, on détermine N fonctions de corrections Jk,, chaque fonction de correction attribuant un facteur de correction jk, en fonction de la valeur ki prise par ledit je' paramètre de position, selon l'expression jk,= Jk,(ki). Cette détermination est effectuée, pour chaque paramètre de correction en répétant les étapes 100 à 600 précédemment décrites. - l'ajustement des valeurs d'un jeu de correction jk, par les étapes suivantes : irradiation du détecteur avec ladite source de référence, à chaque interaction, détermination des valeurs des différents de paramètres de position, et mise à jour d'une fonction de calibration Fki associée au paramètre ki, selon la formule : Pour tout j compris entre et imax, F/( J) = Ffd 1 (i) Spre fj Gel j kn X A) où : - Fk,P-1(j) est la valeur du terme Fk,(j) précédent la mise à jour, - Fk,P (j) est la valeur du terme Fk,(j) lors de la mise à jour, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à chaque interaction de paramètre de position k,. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = ASA°, -k correspondent aux facteurs de correction correspondant aux différentes valeurs prises par les paramètres de position de rang n, avec ces facteurs étant soient initialisés à une valeur arbitraire jkr,°, soit préalablement déterminés. Selon une variante, les étapes c), d) et e) sont répétées de façon itérative, pour une même valeur ki dudit je' paramètre de position, chaque étape e) aboutissant à la détermination d'un facteur de correction partiel jqi désignant le rang de l'itération associée à la valeur ki du je' paramètre de position. Suite à la première itération, l'étape d) comprend la mise à jour de chaque terme Fki(j) en pondérant ladite amplitude A par le produit des facteurs de correction partiels M...jkqi, associés à la valeur ki du je' paramètre de position de l'interaction, ces facteurs de correction partiels ayant déterminés au cours des q, itérations précédentes. On constate qu'au fur et à mesure des itérations, les facteurs de correction partiels tendent progressivement vers la valeur 1. Le procédé comporte alors, lors de l'étape e) de la dernière itération, la détermination du facteur de correction jk, associé à chaque valeur ki du je' paramètre de position en fonction du produit des -Qi facteurs de correction partiels jki...jki déterminés lors desdites itérations successives, Q désignant le nombre d'itérations nécessaires relativement à la valeur Ici du je' paramètre de position. Typiquement, selon cette variante, Qi est compris entre 2 et 10. Ainsi, avant la première itération, le facteur de correction associé à la valeur Ici, noté j2i, est initialisé à une valeur prédéterminée, par exemple égale à 1. Chaque itération qi aboutit à la détermination d'un facteur de correction partiel j, chaque facteur de correction partiel composant le facteur de correction intermédiaire 1-11/1qii j'a utilisé en tant que terme de pondération de l'amplitude mesurée lors de l'itération suivante, de rang cwi. Lors de l'étape e) de la dernière itération, on peut déterminer j'a tel que : 1-rt=Qi Jki _ - II1=1 Jki Autrement dit, lors de l'étape e) de la dernière itération, le facteur de correction jk, associé à la valeur Ici du ième paramètre de position est déterminé en fonction du produit des facteurs de corrections partiels correspondant à la même valeur Ici du ième paramètre de position, ces facteurs de correction partiels ayant été déterminés au cours des itérations précédentes. .qi Par exemple, si une série désigne la détermination de facteurs de corrections partiels jki en appliquant les étapes c) à e) précédemment décrites, lors de chaque série, l'étape d) comprend une mise à jour itérative de la fonction de calibration Fk telle que : Pour tout j compris entre kiwi et jrnak, où : Fft(J) = F," °(j) Spre f jar il jjci x K x A) - Fk,1)4(j) est la valeur du terme Fk,(j) précédent la perne itération, lors la série de rang q (chaque série représente ici une itération permettant la détermination d'un facteur de correction partiel ,qi\ ki - Fkr (j) est la valeur du terme Fki(j) après la pèrne itération, lors de la série de rang q, - A est l'amplitude du signal S mesuré par une électrode suite à une interaction dont le paramètre de position est égal à k,. Dans cet exemple, on considère le signal SAO mesuré par l'anode gagnante AO, donc A = AA0, - p est l'indice d'itération correspondant au rang de la mise à jour de la fonction de calibration. Lors de la première mise à jour, p= 1, - - h/aest le facteur de correction partiel associé à la valeur k du paramètre de position, déterminé au cours de la série /, avec IS - K est un facteur de pondération, obtenu à partir du produit des facteurs de correction j1, ou .qn du produit des facteurs de correction partiels I kn1.kn associés aux valeurs des autres paramètres de position de l'interaction. Plus précisément, la grandeur K comprend le produit de termes de pondération tr,, chaque terme de pondération étant associé à la valeur kr, de chaque ni' paramètre de position, avec n#i, chaque terme tr, étant égal à : - soit la valeur initiale du facteur j2nde correction j» par exemple fixée à 1, - soit une valeur intermédiaire du facteur de correction j» correspondant au produit de qn chaque facteur de correction partiel ./"1 kn x --- Jicn , ou il/==gin/ktn, qn désignant le rang de l'itération relativement à la valeur kn, - soit la valeur jkr, du facteur de correction associée à la valeur kr» si, pour cette valeur kn, 1=Qn ;1 un nombre suffisant d'itérations qn=Qn a été atteint, auquel cas jk,-, fIcn = III= Jkfl- La formule de mise à jour de la fonction de calibration, selon cet exemple, peut alors être : qi-1 qn ./ FPkfio) = Ffi l'qiu)+Sprefi(Flikii 11.11cn X A) 1=1 ni 1=1 qn désignant le nombre d'itérations atteints pour la détermination du facteur de correction Les étapes c) à e) sont alors renouvelées jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt : il peut s'agir d'un nombre de séries prédéterminé, d'un faible écart entre deux facteurs de correction partiels jkqi et jq+1 kt successifs. Typiquement, selon cette variante, le nombre Qi d'itérations est compris entre 2 et 10. Les facteurs de correction de chaque valeur k, de chaque paramètre de position sont ensuite stockés dans la mémoire 50. Quel que soit le mode de réalisation, chaque facteur de correction jk, jk, associé à la valeur k,k, d'un paramètre de position, peut être déterminé pour une pluralité de valeurs discrètes k,k, dudit paramètre de position. Par interpolation, on peut déterminer les facteurs de corrections associés à des valeurs comprises entre lesdites valeurs discrètes. Il peut notamment s'agit d'une interpolation linéaire. On va à présent décrire un exemple de fonctionnement d'un dispositif de détection tel que schématisé à la figure 1. Lorsqu'une interaction survient dans le matériau détecteur 11, elle engendre un signal sur la cathode 12 et sur une pluralité d'anodes élémentaires adjacentes 13x. Le circuit de localisation 30 détermine l'anode gagnante AO ainsi que l'anode secondaire Al en fonction des signaux électroniques transmis par chaque circuit de traitement 23x associé à une anode élémentaire 13x. Le circuit de localisation détermine le ratio A1/A0, en fonction de quoi il détermine un premier paramètre de position 1(1 = f (A1/A0), représentant les coordonnées (XINT, VINT) de l'interaction dans le plan des anodes élémentaires. Le circuit de localisation 30 détermine alors le ratio Ak/A0, correspondant à l'amplitude du signal de la cathode sur l'amplitude du signal de l'anode gagnante, en fonction de quoi il détermine un deuxième paramètre de position k2= g(K/A0), représentant la coordonnée ZINT de l'interaction entre les anodes élémentaires 13x et la cathode 12. Le circuit de correction 60 recherche, dans la mémoire 50, les paramètres de corrections jki et jk2 respectivement associés aux dites valeurs k1 et k2, puis corrige la valeur de l'amplitude de l'anode gagnante Ao en la pondérant par le produit jkix jk2. L'amplitude corrigée A* est alors telle que A*= jklx ik2 X AO. Durant la phase de fonctionnement du détecteur, le circuit de calibration 40 n'est pas mis en oeuvre. REVENDICATIONS1. Procédé de calibration d'un dispositif de détection (1) de rayonnement ionisant, le dispositif (1) comportant un détecteur (10), comportant un matériau détecteur semi- conducteur (11), s'étendant entre deux électrodes (E, E', E", 12, 13, 13x), au moins une électrode étant apte à générer un signal S d'amplitude A lors d'une interaction d'un rayonnement ionisant dans ledit matériau détecteur: a) irradiation du détecteur (10) à l'aide d'une source de référence (Sref) connue, de façon à générer des interactions dans le matériau détecteur (11), b) sélection d'une pluralité de coefficients de correction (j) et détermination de spectres de références (Spref,), chaque spectre de référence étant associé à un coefficient de correction (j), chaque spectre de référence représentant une distribution de l'amplitude (A) du signal (S) généré lorsque le détecteur est irradié par ladite source de référence (Sref), l'amplitude (A) du signal détecté étant pondérée par ledit coefficient de correction (j), c) détection d'une pluralité d'interactions dans le détecteur lors de ladite irradiation et, pour chaque interaction, mesure d'au moins une amplitude A d'un signal électronique S généré par une électrode E et détermination de la valeur k d'au moins un paramètre de position de l'interaction en fonction de ladite amplitude A, d) pour une pluralité de valeurs k dudit paramètre de position, détermination d'une fonction de calibration Fk telle que: - chaque fonction de calibration Fk est associée à une desdites valeurs k dudit paramètre de position, - chaque fonction de calibration Fk est définie sur une pluralité de coefficients de correction j, - chaque terme Fk(j) de ladite fonction de calibration représente une probabilité associée audit coefficient de correction j lorsque le paramètre de position prend la valeur k, - chaque terme Fk(j) étant mis à jour, à chaque interaction dont le paramètre de position est égal à la valeur k à laquelle ladite fonction de calibration Fk est associée, en combinant l'amplitude A mesurée au cours de cette interaction avec chaque spectre de référence Spred,e) Détermination d'un facteur de correction jk associé à chaque valeur k du paramètre de position en identifiant un point remarquable de ladite fonction de calibration Fk. 2. Procédé de calibration selon la revendication 1, dans lequel l'étape d) comprend : l'initialisation de chaque fonction de calibration Fk associée à chaque valeur k dudit paramètre de position, ii à chaque interaction détectée, détermination de la valeur k dudit paramètre de position et mise à jour de la fonction de calibration Fk correspondante, en additionnant, à chaque terme Fk(j) de cette fonction, la valeur du spectre de référence corrigé Spref; (A) à ladite amplitude A, iii la répétition de l'étape ii jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt prédéfini. 3. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, dans lequel l'étape e) comprend la détermination du facteur de correction jk associé à la valeur k du paramètre de position en identifiant la valeur de j maximisant la valeur de la fonction Fk, auquel cas : jk = argmaxi [Fk (j)] 4. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, dans lequel : - les étapes c), d) et e) sont répétées de façon itérative, pour une même valeur k dudit paramètre de position, chaque étape e) aboutissant à la détermination d'un facteur de correction partiel j, q désignant le rang de l'itération, - et dans lequel, suite à la première itération, l'étape d) comprend la mise à jour de chaque terme Fk(j) en pondérant ladite amplitude A par le produit des facteurs de correction partiels j-...jkq, associés à la valeur k du paramètre de position de l'interaction, ces facteurs ayant déterminés au cours des itérations précédentes, le procédé comportant alors, lors de l'étape e) de la dernière itération, la détermination du facteur de correction jk associé à chaque valeur k du paramètre de position en fonction du produit des facteurs de correction partiels déterminés lors desdites itérations successives, Q désignant le nombre d'itérations. 5. Procédé de calibration selon la revendication 1 comportant : à l'étape c), la détermination d'un ensemble de N paramètres de position de l'interaction en fonction du signal S, N étant un entier supérieur à 1,à l'étape d), la sélection d'un paramètre de position i parmi les N paramètres de position, et, pour une pluralité de valeurs Ici dudit ieme paramètre de position, la détermination d'une fonction de calibration Fki telle que: - chaque fonction de calibration Fki est associée à une desdites valeurs Ici dudit ieme paramètre de position, - chaque fonction de calibration Fki est définie sur une pluralité de coefficients de correction j, - chaque terme Fki(j) de ladite fonction de calibration représente une probabilité associée audit coefficient de correction j lorsque le paramètre de position prend la valeur ki, - chaque terme Fki(j) étant mis à jour, à chaque interaction dont le ieme paramètre de position est égal à la valeur ki à laquelle ladite fonction de calibration Fki est associée, en pondérant l'amplitude A, mesurée au cours de cette interaction, par au moins un facteur de correction j, ledit facteur de correction j, étant déterminé en fonction de la valeur kr, d'au moins un ni' paramètre de position caractérisant l'interaction, et en combinant l'amplitude A ainsi pondérée avec chaque spectre de référence Spred, à l'étape e), la détermination du facteur de correction jki associé à chaque valeur Ici du ieme paramètre de position en fonction de ladite fonction de calibration Fki associée au ieme paramètre de position, en identifiant un point remarquable de cette fonction. 6. Procédé de calibration selon la revendication 5, dans lequel l'étape d) comprend : l'initialisation de chaque fonction de calibration Fki associée à chaque valeur Ici du ième paramètre de position Ici, ii à chaque interaction détectée : la pondération de la valeur de l'amplitude A mesurée au cours de cette interaction par au moins un facteur de correction jkr, dépendant de la valeur kr, d'un nième paramètre de position caractérisant l'interaction, addition, à chaque terme Fki(j) de ladite fonction de calibration, de la valeur du spectre de référence corrigé Spref; (A*), A* représentant la valeur de l'amplitude A ainsi pondérée, iii la répétition de l'étape ii jusqu'à l'atteinte d'un critère d'arrêt. 7. Procédé de calibration selon l'une des revendications 5 ou 6, dans lequel l'étape e) comprend la détermination du facteur de correction jk, associé à chaque valeur k, du je' paramètre de position en identifiant la valeur de jk, maximisant la valeur de la fonction Fk,, auquel cas : ha = argmaxi [Fia (j)] 8. Procédé de calibration selon l'une des revendications 5 à 7 dans lequel - les étapes c), d) et e) sont répétées successivement pour chaque valeur ki de chacun des N paramètres de position caractérisant chaque interaction, - et dans lequel l'étape d) comprend la mise à jour de chaque terme Fki(j) en pondérant ladite amplitude A par le produit de facteurs de correction j1, chaque facteur de correction jkr, étant associé à la valeur kr, d'un ni' paramètre de position, chaque facteur de correction jkr, étant soit fixé à une valeur initiale prédéterminée, soit déterminé au cours d'une itération précédente. 9. Procédé de calibration selon l'une des revendications 5 à 8, dans lequel : - les étapes c), d) et e) sont répétées de façon itérative, pour une même valeur ki dudit je' paramètre de position, chaque étape e) aboutissant à la détermination d'un facteur de correction partiel jki, qi désignant le rang de l'itération, - et dans lequel, suite à la première itération, l'étape d) comprend la mise à jour de chaque terme Fk,(j) en pondérant ladite amplitude A par le produit des facteurs de correction partiels M...jkq associés à la valeur ki du je' paramètre de position de l'interaction, ces facteurs ayant déterminés au cours des q, itérations précédentes, le procédé comportant alors, lors de l'étape e) de la dernière itération, la détermination du facteur de correction jki associé à chaque valeur Ici du paramètre de position en fonction du produit des facteurs de correction partiels déterminés lors desdites itérations successives, C):, désignant le nombre des itérations. 10. Procédé de calibration selon la revendication 9, dans lequel lors de l'étape d), la fonction de calibration Fki est mise à jour en pondérant aussi l'amplitude A par un facteur de pondération K, ce facteur étant obtenu à partir du produit des facteurs de correction j1, ou des facteurs de correction / kn.". kn partiels, associés aux valeurs kr, des autres paramètres de position de l'interaction. 11. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, dans lequel l'étape b) comprend : le chargement d'un spectre de référence initial Sore, préalablement enregistré dans une mémoire, correspondant à ladite source de référence Sref, ce spectre Sp'f représentant la distribution de l'amplitude du signal détecté lorsque le détecteur est irradié par ladite source de référence Sref, ii à partir du spectre de référence initial Sore, la détermination d'une pluralité de spectres de références Sprefl, correspondant à un coefficient de correction j, chaque spectre de référence Sore, étant obtenu à partir du spectre de référence initial Sore, chaque valeur Spref,(i) du spectre de référence étant obtenu à partir de la valeur Spref(i/j). 12. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, dans lequel un paramètre de position k, k, d'une interaction est obtenu en combinant des signaux résultant de ladite interaction, issus de différentes électrodes (12, 13, 13x). 13. Procédé de calibration selon l'une des revendications précédentes, dans lequel l'anode (13) du détecteur étant divisée en une pluralité d'anodes élémentaires (13x) disposées selon un plan, la valeur (k,k,) d'un paramètre de position à d'une interaction est obtenu en combinant des signaux résultant de ladite interaction, lesdits signaux étant générés, - par une anode élémentaire (AO) et par une cathode (12), ou - par deux anodes élémentaires (AO, Al). 14. Procédé de calibration selon la revendication 13, dans lequel l'anode du détecteur étant divisée en une pluralité d'anodes élémentaires disposées selon un plan, la valeur (k,k,) d'un paramètre de position de chaque interaction est obtenu en combinant les signaux : de l'anode élémentaire ayant collecté le signal d'amplitude maximal, dite anode gagnante (AO), et de l'anode élémentaire adjacente de l'anode gagnante ayant collecté le signal d'amplitude maximal, dite anode secondaire (A1), auquel cas le paramètre de position détermine la position de ladite interaction dans le plan desdites anodes. 15. Procédé de calibration selon la revendication 13, dans lequel l'anode du détecteur étant divisée en une pluralité d'anodes élémentaires, et dans lequel la valeur (k,k,) d'un paramètre de position de chaque interaction est obtenu en combinant les signaux : de l'anode élémentaire ayant collecté le signal d'amplitude maximal, dite anode gagnante (AO), de la cathode (12, K), auquel cas le paramètre de position détermine la position de l'interaction entre l'anode gagnante et la cathode, ce paramètre de position correspondant alors à une profondeur de détection. 16. Dispositif de détection d'un rayonnement ionisant, comprenant : a) un détecteur (10), comportant un matériau détecteur semi-conducteur (11), s'étendant entre deux électrodes (12, 13, 13g), le détecteur étant apte à générer des porteurs de charges sous l'effet d'une interaction avec ledit rayonnement ionisant, b) un circuit électronique de traitement (22, 23g), apte à former un signal S à partir de porteurs de charges collectés par une électrode lors d'une interaction et d'en déterminer l'amplitude A, c) un circuit électronique de localisation (30), apte à déterminer la valeur (k, k,) d'au moins un paramètre de position à l'interaction dans le matériau détecteur à partir du signal d'au moins électrode, d) un circuit électronique de calibration (40), configuré pour mettre en oeuvre les étapes b), à e) de l'un des procédés objet des revendications 1 à 15.