FR 3017475 A1 20150814 FR 1451085 A 20140212 PROCEDE DE DETERMINATION D'UN MOTIF D'AUTO-ASSEMBLAGE D'UN COPOLYMERE A BLOCS L'invention porte sur un procédé mis en oeuvre par ordinateur de détermination d'un motif d'auto-assemblage d'un copolymère à blocs 5 confiné à l'intérieur d'un contour fermé. L'auto-assemblage dirigé de copolymères à blocs (DSA, de l'anglais « Direct Self-Assembly ») attire une attention croissante en tant que technologie pouvant permettre la réalisation de motifs de surface à l'échelle nanométrique, en surmontant les limites de résolution de la lithographie. En 10 particulier, cette technique semble bien adaptée à la réalisation de motifs de lignes (pistes conductrices) et trous (VIAs) dans les circuits intégrés de la prochaine génération. La séparation des phases des copolymères à blocs (BCP, de l'anglais « Block Co-Polymers ») forme, par auto-assemblage, des nano- 15 domaines en forme de cylindres, sphères ou lamelles dont l'échelle spatiale varie de quelques nanomètres à plusieurs dizaines de nanomètres. Parmi ces différentes structures, les domaines cylindriques s'avèrent particulièrement adaptés à la réalisation de trous d'interconnexion dans les circuits intégrés. Selon une approche connue sous le nom de graphoépitaxie, l'auto- 20 assemblage d'un BCP se fait à l'intérieur d'un contour de guidage préalablement réalisé sur une surface. Le fort confinement latéral induit par les parois de ce contour de guidage modifie de manière prévisible l'agencement « naturel » en surface libre des nano-domaines (un motif hexagonal dans le cas de domaines cylindriques perpendiculaires au 25 substrat). Ainsi, il a été prouvé que l'utilisation d'un contour de guidage approprié permet la réalisation d'un agencement arbitraire de nano-cylindres, qui peut correspondre à un motif de trous d'interconnexion dans un circuit intégré. Les contours de guidage pour graphoépitaxie sont 3 0 typiquement réalisés par lithographie, et présentent une forme qui présente inévitablement des écarts par rapport à celle désirée et définie par le masque de lithographie. Il est donc nécessaire de vérifier que le motif d'auto- assemblage dirigé obtenu à partir d'un contour de guidage « réel » - visualisé, par exemple, par microscopie électronique à balayage - sera suffisamment proche du motif attendu, en fonction de l'application visée. Pour cela, on peut avoir recours à des simulations numériques basées sur des modèles physiques du processus d'auto-assemblage. Ces modèles physiques peuvent être séparés en deux grandes familles : les modèles particulaires et ceux basés sur des champs d'énergie. On peut citer, à titre d'exemples non limitatifs, les publications suivantes : - Pour les modèles particulaires: - « Dissipative particle dynamics study on directed self-assembly in hales » T. Nakano ; M. Matsukuma ; K. Matsuzaki ; M. Muramatsu ; T. Tomita ; T. Kitano Proc. SPIE 8680, Alternative Lithographic Technologies V, 86801J (March 26, 2013) - « Molecular Dynamics Study of the Role of the Free Surface on Block Copolymer Thin Film Morphology and Alignment Christopher Forrey » , Kevin G. Yager , and Samuel P. Broadaway ACS Nano, 2011, 5 (4), pp 2895-2907 - Pour les modèles basés sur des champs d'énergie : - « Computational simulation of block copolymer directed self-assembly in small topographical guiding templates » He Yi ; Azat Latypov ; H.-S. Philip Wong Proc. SPIE 8680, Alternative Lithographic Technologies V, 86801 L (March 26, 2013) - « Large-scale dynamics of directed self-assembly defects on chemically pre-patterned surface » Kenji Yoshimoto ; Takashi Taniguchi Proc. SPIE 8680, Alternative Lithographic Technologies V, 868011 (March 26, 2013); Toutes ces méthodes mettent en oeuvre des algorithmes itératifs ; ils sont donc beaucoup trop lents pour être utilisés en phase de production. L'invention vise à remédier à cet inconvénient de l'art antérieur en procurant un procédé de détermination d'un motif d'auto-assemblage d'un copolymère à blocs confiné à l'intérieur d'un contour fermé qui soit plus rapide que les méthodes connues tout en étant suffisamment précis et prédictif. Plus particulièrement, l'invention vise à procurer un procédé suffisamment rapide pour pouvoir être utilisé pour déterminer de tels motifs d'auto-assemblage sur toute la surface d'un circuit intégré. Conformément à l'invention, ce but est atteint à l'aide d'un procédé basé sur une transformation géométrique simple d'un contour « de référence », repéré au sein d'une base de données stockée dans la mémoire d'un ordinateur et identifié comme étant le plus proche du profil de guidage considéré. Ainsi, un objet de l'invention permettant d'atteindre ce but est un procédé de détermination d'un motif d'auto-assemblage d'un copolymère à blocs confiné à l'intérieur d'un contour fermé, dit contour de guidage, comportant les étapes suivantes, mises en oeuvre par ordinateur : a) choisir dans une base de données un contour fermé dit de 15 référence approchant ledit contour de guidage, un motif d'auto-assemblage dudit copolymère à blocs dit motif de référence étant associé audit contour de référence ; b) appliquer une transformation géométrique à une pluralité de points dudit motif de référence pour les convertir en des points respectifs, 20 dits points images, du motif d'auto-assemblage à déterminer, ladite transformation géométrique étant fonction d'une transformation géométrique permettant de passer dudit contour de référence audit contour de guidage. Selon différents modes de réalisation particuliers d'un tel procédé : 25 - Ledit motif de référence peut comprendre au moins une première phase et une deuxième phase, lesdits points dudit motif de référence étant choisis de manière à échantillonner une frontière entre ladite première phase et ladite deuxième phase. - Ladite base de données peut contenir une pluralité de 30 contours fermés échantillonnés selon un procédé d'échantillonnage; le procédé comprenant une étape préliminaire d'échantillonnage dudit contour de guidage selon le même procédé d'échantillonnage et avec un même nombre de points d'échantillonnage qu'au moins certains des contours fermés contenus dans ladite base de données. - La distance curviligne entre deux dits points d'échantillonnage peut être, pour tous les contours fermés contenus dans 5 ladite base de données et pour ledit contour de guidage, comprise entre la moitié et le double d'une longueur prédéfinie so. - Ladite longueur prédéfinie so peut être telle que 143/5sceLo, de préférence 1_0/2scaLo et de manière encore plus préférée L0/2so Lo, où Lo est une période naturelle dudit copolymère à blocs. 10 - Ladite étape a) peut comprendre : al) la sélection des contours fermés de ladite base comportant autant de points d'échantillonnage que ledit contour de guidage ; et a2) le choix, parmi les contours fermés ainsi sélectionnés, de 15 celui qui minimise un critère de distance fonction des coordonnées des points d'échantillonnage dudit contour fermé et dudit contour de guidage. - Ledit critère de distance peut être une distance quadratique entre les coefficients complexes obtenus par transformée de Fourier discrète de deux vecteurs de nombres complexes représentant, 20 respectivement, les coordonnées des points d'échantillonnage dudit contour fermé et dudit contour de guidage. - Ladite base de données peut contenir, pour chaque dit contour fermé, un ensemble de données définissant une triangulation d'une surface délimitée par ledit contour, et ladite étape b) peut comprendre : 25 b1) la détermination d'une triangulation d'une surface délimitée par ledit contour de guidage, chaque triangle et chaque sommet de ladite triangulation étant associés à un triangle et à un sommet respectifs de ladite triangulation de la surface délimitée par le contour de référence ; et b2) pour une pluralité de points dudit motif de référence, dont 30 chacun est contenu dans un triangle de ladite triangulation de la surface délimitée par contour de référence, la détermination d'un point image contenu dans le triangle associé de ladite triangulation de la surface délimitée par ledit contour de guidage. - Chaque dit point dudit motif de référence et son point image peuvent présenter, par rapport aux triangles dans lesquels ils sont 5 respectivement contenus, les mêmes coordonnées barycentriques. - Ladite étape b2) peut comprendre également : b2') pour chacun ou au moins un desdits points dudit motif de référence, la construction d'au moins un triangle additionnel contenant ledit point et dont les sommets sont situés sur ledit contour de référence ; 10 le point image dudit ou de chaque dit point du motif de référence présentant, par rapport au triangle dont il est contenu, des coordonnées barycentriques obtenues par combinaison linéaire des coordonnées barycentriques dudit point du motif de référence par rapport aux triangles dans lesquels il est contenu. 15 - Les triangulations desdits contours peuvent être effectuées en prenant, en tant que sommets, au moins une partie desdits points d'échantillonnages. - Un tel procédé peut comporter également l'étape suivante : 20 c) utiliser un modèle d'auto-assemblage dudit copolymère à blocs pour déterminer ledit motif d'auto-assemblage, en prenant lesdits points image en tant que données d'initialisation. Un autre objet de l'invention est un produit programme d'ordinateur comprenant des instructions de code de programme pour 25 l'exécution des étapes d'un tel procédé lorsque ledit programme est exécuté sur un ordinateur. D'autres caractéristiques, détails et avantages de l'invention ressortiront à la lecture de la description faite en référence aux dessins annexés donnés à titre d'exemple dans lesquels : 30 - La figure 'I A est l'image en microscopie électronique à balayage d'un contour de guidage et du motif d'auto-assemblage associé ; - La figure 1B montre le même contour échantillonné avec sa triangulation ; - Les figures 2A - 2G représentent des profils de référence respectifs pouvant être stockés dans une base de données ; - La figure 3 illustrent l'utilisation de triangles additionnels dans un procédé selon un mode de réalisation particulier de l'invention ; et - La figure 4 illustre le résultat technique de l'invention. L'invention sera décrite à l'aide d'exemples dans lesquels le copolymère à blocs considéré est du type PS-b-PMMA cylindrique (c'est-à- dire formant par auto-assemblage des nano-cylindres). Cependant l'invention peut s'appliquer à d'autres types de copolymères à blocs (di-blocs, tri-blocs en étoile ou de structure linéaire...) et à des mélanges de tels copolymères. Il n'y a pas non plus de restriction sur le type de procédé de graphoépitaxie utilisé (« solvent annealing », c'est-à-dire « recuit en vapeur de solvant » ; « grafting layer », c'est-à-dire « couche de greffage » etc...). La figure 1A illustre une image de microscopie électronique à balayage d'un motif d'auto-assemblage MAA d'un copolymère à blocs (PS-bPMMA) confiné par un contour fermé de guidage CG de forme trilobée. Ce motif comprend une première phase continue (référence PH1 sur la figure 1 B) et une seconde phase discrète (référence PH2 sur la figure 1B) formée par trois cylindres (C1, C2 et C3 sur la figure 1 B). L'image est numérisée et acquise par un ordinateur. Ensuite, comme le montre la figure 1B, le contour CG est échantillonné. Dans le cas présent, l'échantillonnage est régulier, c'est-à-dire avec des points d'échantillonnage PE agencés sensiblement à équidistance les uns des autres le long du contour. Pour des raisons d'efficacité de calcul qui seront expliquées par la suite, il est préférable que le nombre de points d'échantillonnage soit une puissance de 2 - ici 16=24. Les points sont ordonnés en parcourant le contour dans le sens trigonométrique. La référence CG' correspond au polygone, dont les sommets coïncident avec les points d'échantillonnage, qui approche le contour de guidage (contour discrétisé). Les frontières des domaines cylindriques C1, C2 et C3 sont également échantillonnées, bien que cela ne soit pas représenté sur la figure. Ensuite, une triangulation de la surface délimitée par le contour CG (ou, plus exactement, par le contour discrétisé CG') est définie en prenant les points d'échantillonnage E comme sommets des triangles. La référence Tm sur la figure 1B identifie l'un de ces triangles. Une pluralité d'images discrétisées du type de la figure 1 B, correspondant à des contours différents guidant l'auto-assemblage d'un même copolymère à blocs, sont stockées dans la mémoire de l'ordinateur pour former une base de données, ou librairie. Ces images peuvent correspondre à des échantillons réels ou être obtenues à partir de modèles physiques de grande précision. Les figures 2A à 2G montrent les images d'une telle base de données. Dans la base de données, chaque image peut être représentée par : - Les coordonnées des points d'échantillonnage PE du 15 contour de guidage ; en particulier, chaque point d'échantillonnage peut être représenté par un nombre complexe z=x+jy, où « j » est l'unité imaginaire et (x, y) les coordonnées cartésiennes du point d'échantillonnage. - Des données identifiant la triangulation ; par exemple, chaque triangle peut être identifié par trois nombres entiers identifiant les 20 points d'échantillonnage lui servant de sommets. - Les coordonnées des points d'échantillonnage P (voir la figure 2A) des frontières des domaines cylindriques (plus généralement, des frontières entre phases distinctes du motif d'auto-assemblage). Plus particulièrement, chacun de ces points peut être identifié par ses coordonnées 25 barycentriques dans le triangle le contenant, ainsi que par un identifiant de ce triangle. Comme cela sera expliqué plus loin, à l'aide de la figure 3, un même point P peut se trouver à l'intérieur de plusieurs triangles, auquel cas plusieurs jeux de coordonnées barycentriques peuvent être stockés dans la base de données. On rappelle que les coordonnées barycentriques d'un point par 30 rapport à un triangle sont les poids (éventuellement négatifs, si le point en question est à l'extérieur du triangle) qu'il faut donner aux sommets dudit triangle pour que ledit point en soit le barycentre. - La transformée de Fourier du contour échantillonné peut également être stockée dans la base de données, ce qui évite d'avoir à la calculer ultérieurement. Comme expliqué plus haut, chaque point d'échantillonnage peut être identifié par un nombre complexe ; ainsi le contour discrétisé CG' est représenté par un vecteur complexe, dont la transformée de Fourier peut être calculée. La raison pour laquelle on choisit de préférence un nombre de points d'échantillonnage égal à une puissance de deux est que cela permet d'utiliser l'algorithme de transformée de Fourier rapide (FFT). Avantageusement, la distance curviligne entre deux points d'échantillonnage est approximativement la même pour toutes les images de la base de données, et plus précisément est comprise entre la moitié et le double d'une longueur de référence so. Plus particulièrement, on peut imposer que la distance « s » entre une paire arbitraire de points d'échantillonnage adjacents satisfasse l'inégalité Is-se0,4.so. La longueur de référence est de préférence du même ordre de grandeur de la période naturelle Lo du copolymère, c'est-à-dire de la distance entre domaines (par exemple cylindriques) en cas d'auto-assemblage libre, non contraint par un contour de guidage, du copolymère. Par exemple on peut avoir 143/5sceLo, plus particulièrement 1_0/2scaLo et plus particulièrement encore L0/2so Lo, et à titre d'exemple particulier so=Lo. Le nombre de points d'échantillonnage d'un contour de longueur L peut alors être donné par : log - so log(2) N = 2 où « E » est la fonction « partie entière ». Pour la mise en oeuvre d'un procédé selon l'invention, il est préférable, pour des raisons qui deviendront apparentes par la suite, que la numérotation des points d'échantillonnage ne soit pas arbitraire. E 0,5+ Pour cela, un contour de guidage particulier est préalablement centré de façon à ce que son centre de gravité « g » soit placé à l'origine d'un repère cartésien. Ensuite, le contour est échantillonné dans le sens trigonométrique. Comme cela a été expliqué plus haut, l'ensemble des points d'échantillonnage résultant est alors constitué de nombres complexes s = (C> `Ci tels que la distance curvilinéaire les séparant soit égale à = égal à 2 , où )1KN sont les valeurs de la `Ci )1 Une difficulté vient du fait que l'échelle de longueur caractéristique de la triangulation qui sert de base à la transformation géométrique est généralement plus petite que la longueur de paroi du contour de guidage influençant le positionnement des domaines cylindriques formés par l'auto-assemblage du copolymère. Le présent inventeur s'est donc rendu compte qu'il est avantageux d'utiliser également des triangles additionnels avec des longueurs de base plus grandes (n'ayant pas deux sommets constitués par des points d'échantillonnage adjacents) lors de la transformation géométrique. En particulier, il a été trouvé qu'un nombre de triangle nbTri = 3 est généralement satisfaisant. Les triangles additionnels associés au triangle Tm de la triangulation peuvent être en nombre paire et être définis comme suit : Si m = 2i+1 est impair (« i » étant un entier) : Le triangle additionnel Tm,2k a pour sommet les points P m,2k = C i+2-k g m,2k = C i+2+k et m'2k r = C N-i Le triangle additionnel Tm,2k+' a pour sommet les points Pm,2k+1 = C1+2 m,2k = C N-i-k et rm,2k - CN-i+1+k Si m = 2i est pair : Le triangle additionnel Tm,2k a pour sommet les points P m,2k = C i+l-k gm,2k = C i+2+ket rm 2k = C N-i+1 2k+1 Le triangle additionnel Tm, a pour sommet les points P m,2k+1 = C i+1 m,2k = C N-i+l-k et rm,2k = C N-i+1+k avec k compris entre 1 et (nbTri - 1)/2. Dans les formules ci-dessus, il se peut que les indices des points c ne soient pas compris entre 1 10 et N. Dans ce cas, le triangle ne peut pas être construit et on utilisera un jeu de coordonnées barycentriques restreint. La figure 3 montre un point Pm situé à l'intérieur d'un triangle Tm faisant partie de la triangulation du contour de référence CR, ainsi que de deux triangles additionnels Tm,2 et Tm,3. Dans ce cas, nbTri=3. 15 Si on utilise des triangles additionnels, la transformation géométrique doit être redéfinie. Si on considère un point P du motif de référence MR contenu dans nbTri triangles (un triangle Tm appartenant à la triangulation et nbTri-1 triangles additionnels), le point image se trouvera dans le triangle de la triangulation du contour à caractériser associé à Tm et ses 20 coordonnées barycentriques par rapport à ce triangle seront données par une moyenne pondérées des coordonnées barycentriques dans les différents triangles du contour de référence. Les coefficients de pondération seront typiquement choisis de telle sorte que l'image d'un point situé sur le contour de référence se trouve sur le contour à caractériser. 25 Un point P quelconque du guide se situant dans le triangle Tn41 a pour image le point PIM tel que : nbTri flkqk rkrk) k=1 PIM nbTri k=1 OÙ : - Ppim est le nombre complexe représentant les 5 coordonnées cartésiennes du point image PIM ; - L'indice « k » identifie les nbTri triangles Tk contenant le point P - typiquement un triangle appartenant à la triangulation de la surface délimitée par le contour de référence et (nbTri-1) triangles additionnels ; - Pk, qk et rk sont les nombres complexes représentant les 10 coordonnées cartésiennes des sommets du triangle Tk ; - Ctk, 13k, 7k et ai, Ri, y sont respectivement les coordonnées barycentriques du point P dans les triangles Tk et TI. Dans le cas nbTri=1 (ce qui signifie qu'il n'y a pas de triangles additionnels) l'équation ci-dessus se simplifie de la manière suivante : 15 PPIM al) + q 2/r. La partie droite et la partie gauche de la figure 4 montrent, respectivement, un contour de guidage CG à caractériser et le contour de référence correspondant CR, avec le motif de référence MR associé. Les frontières des deux domaines cylindriques contenus dans ce motif de 20 référence MR sont échantillonnées ; l'un des points d'échantillonnage est identifié par la référence P. Une transformation géométrique telle que décrite ci-dessus, avec nbTri=3, a été appliquée pour trouver les points images de ces points d'échantillonnage à l'intérieur du contour CG à caractériser ; par exemple, la référence PIM identifie le point image du point P précité. Sur la 25 partie de droite de la figure, la référence MAAc identifie le motif d'auto-assemblage calculé, formé par tous les points images des points d'échantillonnage des frontières des domaines cylindriques du motif de référence. On peut vérifier que ce motif calculé est très proche du « vrai » motif d'auto-assemblage MAA, déterminé ici expérimentalement (mais on aurait pu avoir recours également à une modélisation physique). Optionnellement, il est possible d'utiliser le motif d'auto-assemblage calculé MAAc pour initialiser un algorithme de modélisation de l'auto-assemblage ; dans ce cas, on peut s'attendre à ce que ce dernier converge en quelques itérations seulement. Il peut s'agir par exemple d'un algorithme de modélisation physique. Plusieurs variantes du procédé qui vient d'être décrit peuvent être envisagées sans sortir du cadre de la présente invention. Par exemple, d'autres critères de similitude que la distance quadratique entre les coefficients de Fourier des contours. Egalement, on peut envisager l'utilisation de deux échantillonnages différents de chaque contour, l'un destiné à la mesure de la similitude entre contours et l'autre à la triangulation. Au niveau de l'échantillonnage proprement dit, différents procédés peuvent être utilisés dans la mesure où un même procédé est utilisé pour les contours de référence et le contour à étudier. Un tel procédé d'échantillonnage doit en particulier permettre d'identifier N points sur le contour et de fixer la position du premier point sur ce contour ainsi qu'un sens de circulation sur le contour Par ailleurs, la relation entre un point du motif de référence et son point image dans le motif d'auto-assemblage calculé peut ne pas être basée sur les 2 0 coordonnées barycentriques des points. Il peut s'agir, plus généralement, de toute relation issue d'une transformation géométrique fonction de la transformation géométrique permettant de passer du contour de référence au contour de guidage considéré. REVENDICATIONS1. Procédé de détermination d'un motif d'auto-assemblage (MAA) d'un copolymère à blocs confiné à l'intérieur d'un contour fermé, dit 5 contour de guidage (CG), comportant les étapes suivantes, mises en oeuvre par ordinateur : a) choisir dans une base de données un contour fermé dit de référence (CR) approchant ledit contour de guidage, un motif d'auto-assemblage dudit copolymère à blocs dit motif de référence (MR) étant 10 associé audit contour de référence ; b) appliquer une transformation géométrique à une pluralité de points (P, Pm) dudit motif de référence pour les convertir en des points respectifs, dits points images (PIM), du motif d'auto-assemblage à déterminer, ladite transformation géométrique étant fonction d'une transformation 15 géométrique permettant de passer dudit contour de référence audit contour de guidage. 2. Procédé selon la revendication 1 dans lequel ledit motif de référence comprend au moins une première phase (PH1) et une deuxième 20 phase (PH2), lesdits points dudit motif de référence étant choisis de manière à échantillonner une frontière entre ladite première phase et ladite deuxième phase. 3. Procédé selon l'une des revendications précédentes dans 25 lequel ladite base de données contient une pluralité de contours fermés échantillonnés selon un procédé d'échantillonnage; le procédé comprenant une étape préliminaire d'échantillonnage dudit contour de guidage selon le même procédé d'échantillonnage et avec un même nombre de points d'échantillonnage (PE) qu'au moins certains des contours fermés contenus 3 0 dans ladite base de données. 4. Procédé selon la revendication 3 dans lequel la distance curviligne entre deux dits points d'échantillonnage est, pour tous les contours fermés contenus dans ladite base de données et pour ledit contour de guidage, comprise entre la moitié et le double d'une longueur prédéfinie so. 5. Procédé selon la revendication 4 dans lequel ladite longueur prédéfinie so est telle que 1_0/5s05Lo, de préférence 1_0/2scaLo et de manière encore plus préférée L0/2so Lo, où Lo est une période naturelle dudit copolymère à blocs. 6. Procédé selon l'une des revendications 3 à 5 dans lequel ladite étape a) comprend : a1) la sélection des contours fermés de ladite base comportant autant de points d'échantillonnage que ledit contour de guidage ; 15 et a2) le choix, parmi les contours fermés ainsi sélectionnés, de celui qui minimise un critère de distance fonction des coordonnées des points d'échantillonnage dudit contour fermé et dudit contour de guidage. 20 7. Procédé selon la revendication 6 dans lequel ledit critère de distance est une distance quadratique entre les coefficients complexes obtenus par transformée de Fourier discrète de deux vecteurs de nombres complexes représentant, respectivement, les coordonnées des points d'échantillonnage dudit contour fermé et dudit contour de guidage. 25 8. Procédé selon l'une des revendications précédentes dans lequel ladite base de données contient, pour chaque dit contour fermé, un ensemble de données définissant une triangulation d'une surface délimitée par ledit contour, et dans lequel ladite étape b) comprend : 3 0 b1) la détermination d'une triangulation d'une surface délimitée par ledit contour de guidage, chaque triangle (Tm) et chaque sommetde ladite triangulation étant associés à un triangle et à un sommet respectifs de ladite triangulation de la surface délimitée par le contour de référence ; et b2) pour une pluralité de points dudit motif de référence, dont chacun est contenu dans un triangle de ladite triangulation de la surface 5 délimitée par contour de référence, la détermination d'un point image contenu dans le triangle associé de ladite triangulation de la surface délimitée par ledit contour de guidage. 9. Procédé selon la revendication 8 dans lequel chaque dit 10 point dudit motif de référence et son point image présentent, par rapport aux triangles dans lesquels ils sont respectivement contenus, les mêmes coordonnées barycentriques. 10. Procédé selon la revendication 8 dans lequel ladite étape 15 b2) comprend également : b2')pour chacun ou au moins un desdits points dudit motif de référence, la construction d'au moins un triangle additionnel (Tm,2 ;Tm,3) contenant ledit point (Pm) et dont les sommets sont situés sur ledit contour de référence ; 20 le point image dudit ou de chaque dit point du motif de référence présentant, par rapport au triangle dont il est contenu, des coordonnées barycentriques obtenues par combinaison linéaire des coordonnées barycentriques dudit point du motif de référence par rapport aux triangles dans lesquels il est contenu. 25 11. Procédé selon l'une des revendications 8 à 10 lorsqu'elle dépend de la revendication 3 dans lequel les triangulations desdits contours sont effectuées en prenant, en tant que sommets, au moins une partie desdits points d'échantillonnages. 30 12. Procédé selon l'une des revendications précédentes comportant également l'étape suivante :c) utiliser un modèle d'auto-assemblage dudit copolymère à blocs pour déterminer ledit motif d'auto-assemblage, en prenant lesdits points image en tant que données d'initialisation. 13. Produit programme d'ordinateur comprenant des instructions de code de programme pour l'exécution des étapes d'un procédé selon l'une des revendications précédentes lorsque ledit programme est exécuté sur un ordinateur.10