FR 3000346 A1 20140627 FR 1203559 A 20121221 PROCEDE ET DISPOSITIF DE CORRECTION DE REPONSE SPATIALE POUR SPECTROMETRES A TRANSFORMEE DE FOURIER IMAGEURS La présente invention concerne un procédé et un dispositif de correction spatiale, notamment pour des dispositifs d'observation de la terre, et plus particulièrement des spectromètres à transformée de Fourier imageurs. De tels dispositifs peuvent notamment être utilisés dans des satellites météorologiques d'observation. Un spectromètre à transformée de Fourier, communément désigné par le sigle « FTS » correspondant à la terminologie anglaise « Fourier Transform Spectrometer », est un instrument observant une scène avec une résolution spatiale - c'est-à-dire une taille de point de sondage - relativement basse et une résolution spectrale très fine, et est par conséquent typiquement couplé avec un dispositif dit « imageur », travaillant en bande large, dont la résolution spatiale est plus fine. Le couplage du FTS avec un imageur a pour but d'améliorer un alignement ou « registration » spatial de l'instrument FTS. A titre d'exemple, dans un satellite d'observation météorologique, le spectromètre à transformée de Fourier permet d'observer le spectre de la lumière dans le domaine infrarouge / proche infrarouge, et sa résolution spatiale peut être de l'ordre de 10 à 20 kilomètres. Le spectromètre à transformée de Fourier est couplé avec un imageur de résolution plus fine, de l'ordre du kilomètre, permettant une meilleure analyse physique de la scène observée. Des spectromètres à transformée de Fourier connus comprennent un détecteur analogique disposé dans un plan pupille. Des spectromètres à transformée de Fourier plus récents - appelés FTS imageurs - comprennent, en remplacement du détecteur analogique, un détecteur matriciel placé dans un plan image. La décomposition du champ d'un point de sondage - représentant la résolution finale de l'instrument - en pixels élémentaires permet notamment d'effectuer une compensation numérique de l'effet du champ ou « auto-apodisation », ou encore de disposer d'un mode image, c'est-à-dire d'un mode permettant d'imager le champ de vue d'un point de sondage avec une résolution spatiale fine. Ce mode image permet de remplacer l'imageur. Les pixels physiques formant une telle matrice sont typiquement réalisés par la technologie communément désignée par le sigle CMOS correspondant à la terminologie anglaise « Complementary Metal Oxide Semiconductor », ou la technologie CCD correspondant à la terminologie anglaise « Charge-Coupled Device ». Afin d'optimiser le rapport signal sur bruit, la lecture du détecteur s'effectuant avec des résolutions spatiales variables suivant le mode. Pour la suite, le terme « macro-pixel » désigne la résolution « numérique » du spectromètre à transformée de Fourier, et le terme « super-pixel » désigne la résolution « numérique » du mode image. Un super-pixel peut être formé par un pixel physique de la matrice détecteur, ou bien par un groupement de pixels physique, par exemple de 2x2 ou 3x3 pixels, suivant le besoin de résolution spatiale requise pour le mode image. Un macro-pixel définit la résolution spatiale du mode interférogramme, et est en pratique formé par une pluralité de pixels physiques de la matrice détecteur, par exemple disposée suivant un alignement en une ou plusieurs lignes ou en une ou plusieurs colonnes de pixels physiques de la matrice détecteur, suivant la direction des franges interférométriques afin de conserver un bon niveau de contraste au sein de chaque macro-pixel. Un inconvénient de tels spectromètres à transformée de Fourier est lié au fait que ceux-ci sont particulièrement sensibles aux non-uniformités de réponse dans le champ de vue. Les non-uniformités de réponse sont principalement dues au détecteur - appelé également PRNU, selon le sigle désignant la terminologie anglaise « Pixel Response Non Uniformity »- et aux optiques. Selon une technique connue, il est possible de procéder à une égalisation des données interférométriques en moyenne sur le macro-pixel interférométrique. Cette technique est décrite en détails ci-après en référence à la figure 1. Cette technique est particulièrement adaptée à des scènes observées de nature homogène. Un but de la présente invention est de pallier au moins les inconvénients précités, en proposant un dispositif et un procédé de 35 correction spatiale pour dispositif tel qu'un spectromètre à transformée de Fourier imageur, s'appuyant avantageusement sur le mode de fonctionnement en tant qu'imageur à la résolution super-pixel de cet équipement. A cet effet, la présente 'invention a pour objet un procédé de correction de réponse spatiale pour spectromètre à transformée de Fourier imageur ayant au moins un mode de fonctionnement dit mode interférométrique d'acquisition d'interférogrammes à la résolution spatiale d'un macro-pixel et un mode de fonctionnement dit mode image d'acquisition d'images à la résolution spatiale d'un super-pixel, le procédé comprenant au moins les étapes suivantes : - une étape préalable de calcul des paramètres d'égalisation pour tous les super-pixels i comprenant un gain et un offset à partir de données acquises sur des scènes d'étalonnage, - une étape de détermination de coefficients d'égalisation à un niveau dit pseudo super-pixel déterminant les gains et offsets au niveau du macro-pixel à partir d'une image acquise en mode image, et des gains et offsets déterminés à l'étape préalable, - une étape d'égalisation au niveau pseudo super-pixel, appliquant les coefficients d'égalisation à un macro-pixel d'une acquisition en mode interférogramme du spectromètre imageur pour restituer un interférogramme égalisé. Dans un mode de réalisation de l'invention, les scènes d'étalonnage peuvent être spatialement uniformes. Dans un mode de réalisation de l'invention, les scènes d'étalonnage 30 peuvent être des scènes de types respectivement corps noir et espace froid. Dans un mode de réalisation de l'invention, les coefficients d'égalisation peuvent être déterminés au moyen des relations (4) et (5) explicitées ci-après. Dans un mode de réalisation de l'invention, ladite étape préalable peut 35 être mise en oeuvre par des moyens disposés au sol, les étapes de détermination et d'égalisation pouvant être mises en oeuvre dans des moyens embarqués. La présente invention a également pour objet un dispositif de correction de réponse spatiale pour spectromètre à transformée de Fourier 5 imageur, configuré pour la mise en oeuvre d'un procédé selon l'un quelconque des modes de réalisation décrits ci-après, le dispositif de correction comprenant au moins un module de traitement de caractérisation au sol configuré pour la mise en oeuvre de ladite étape préalable et un module embarqué de traitement configuré pour la mise en oeuvre desdites 10 étapes de détermination et d'égalisation. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description, donnée à titre d'exemple, faite en regard des dessins annexés qui représentent : 15 la figure 1, un logigramme illustrant de manière synoptique un procédé connu de correction de réponse spatiale d'un spectromètre à transformée de Fourier ; la figure 2, un logigramme illustrant un procédé de correction 20 de réponse spatiale d'un spectromètre de Fourier, selon un exemple de réalisation de la présente invention ; la figure 3, un schéma illustrant de manière synoptique un procédé de correction de réponse spatiale selon un exemple de réalisation de l'invention ; 25 la figure 4, un diagramme temporel illustrant le fonctionnement d'un procédé ou un dispositif de correction selon un exemple de réalisation de l'invention. La figure 1 présente un logigramme illustrant de manière synoptique 30 un procédé connu de correction de réponse spatiale d'un spectromètre à transformée de Fourier. Selon une technique connue d'égalisation d'un macro-pixel, illustrée par la figure 1, des coefficients d'égalisation peuvent être stockés dans une 35 mémoire embarquée en tant que paramètres programmables en vol. Selon cette technique, même si la caractérisation au sol des coefficients d'égalisation est réalisée au niveau du super-pixel, les coefficients d'égalisation appliqués sont équivalents à une caractérisation qui serait faite au niveau du macro-pixel. Il s'agit là d'un inconvénient de la technique connue : l'égalisation est réalisée au niveau du macro-pixel, et n'utilise pas la caractérisation réalisée au niveau du super-pixel, ainsi que cela est le cas pour la présente invention. Ainsi, en référence à la figure 1, un procédé d'égalisation peut comprendre une étape de calcul des coefficients d'égalisation au niveau super-pixel 101, c'est-à-dire du gain et de la déviation ou « offset » suivant le terminologie anglaise communément utilisée dans le domaine technique, au niveau super-pixel, et une étape de calcul des coefficients d'égalisation au niveau macro-pixel 103, ces coefficients étant calculés à partir de scènes d'étalonnage, par exemple des vues dites « BB » et « CS » correspondant respectivement à la terminologie anglaise « Black Body » ou corps noir, et « Cold Space » ou espace froid. Les coefficients ainsi déterminés peuvent être stockés dans une mémoire 105. Les deux étapes de calcul 101, 103 précitées peuvent être mises en oeuvre au sein d'un module de calcul 10 disposé au sol. Les coefficients d'égalisation stockés dans la mémoire 105 peuvent être transmis à un module de calcul embarqué 11. Par exemple, les données stockées dans la mémoire 105 peuvent être téléchargées vers une mémoire embarquée 115 par des moyens appropriés de transfert de données. Le module de calcul embarqué 11 peut être configuré pour mettre en oeuvre une étape d'égalisation 111, appliquant les coefficients d'égalisation à chaque interférogramme acquis par le spectromètre à transformée de Fourier. Selon la présente invention, il est proposé que des coefficients d'égalisation relatifs au super-pixel, notamment des coefficients d'offset et des coefficients de gain, soient stockés dans une mémoire embarquée. Alors, des moyens de calcul embarqués, plus précisément un module de traitement d'image, peuvent permettre le calcul quasiment en temps réel des coefficients d'offset et de gain du macro-pixel. A la différence des techniques connues précitées, il est proposé par la présente invention que les coefficients d'égalisation du macro-pixel soient déterminés à partir de l'image brute, telle qu'acquise par le spectromètre en mode imageur. Pour chaque acquisition d'un interférogramme donné, les coefficients d'égalisation sont constants pour tous les échantillons de cet 5 interférogramme. Ainsi un procédé selon la présente invention présente l'avantage de ne pas produire des artefacts spectraux. Une spécificité de la présente invention réside dans le fait que les coefficients d'égalisation sont déterminés au niveau du super-pixel, l'égalisation étant appliquée au niveau du macro-pixel. 10 Maintenant en référence à la figure 2, un procédé de correction selon la présente invention peut comporter une étape préalable de calcul 201 des paramètres d'égalisation du super-pixel, soit un calcul de coefficients de gain et d'offset au niveau du super-pixel. L'étape préalable de calcul 201 peut être 15 mise en oeuvre dans un module de traitement de caractérisation au sol 20. L'étape préalable de calcul 201 constitue un traitement de caractérisation dit « hors-ligne », réalisé par des moyens physiquement disposés au sol. Ce traitement de caractérisation peut être réalisé de manière périodique suivant une fréquence déterminée. 20 Lors de l'étape préalable de calcul 201, le calcul des paramètres d'égalisation est réalisé à partir des données formant des scènes d'étalonnage, par exemple des scènes BB et CS. Pour la suite il est considéré que les scènes BB et CS sont spatialement uniformes. Il est également considéré que la matrice détecteur du spectromètre à transformée 25 de Fourier est éclairée en totalité, ce qui suppose que le détecteur constitue le diaphragme de champ. Si tel n'est pas le cas, un procédé selon la présente invention peut avantageusement comprendre des moyens additionnels de compensation prévus à cet effet. Les paramètres calculés lors de l'étape préalable de calcul 201 peuvent être stockés dans une 30 mémoire 203. L'acquisition de l'image peut être réalisée avant ou après l'acquisition de l'interférogramme. Il est pour la suite considéré qu'un interférogramme peut être stocké dans une mémoire tampon avant son traitement. Les données des scènes d'étalonnage BB et CS sont utilisées pour la 35 détermination des gains ai et des offsets bi de tous les super-pixels i. Une mesure se fonde sur une hypothèse de modèle linéaire de la forme : M = aX +b, où a et b sont respectivement les paramètres de gain et d'offset, M désignant un niveau de signal numérique, et X représente un niveau de luminance. La vue BB permet le recueil d'un ensemble de données image tm.., pour tous les super-pixels i d'un point de sondage donné. D'une manière similaire, la vue CS permet le recueil d'un ensemble de données image {Mcs,J pour tous les super-pixels i d'un point de sondage donné. Lors de l'étape préalable de calcul 201, pour tous les super-pixels i, des coefficients â, et 4 peuvent être estimés respectivement suivant les relations suivantes : :6; (1), M BB, -Ma) (2). Superpixel je Point de sondage La relation (2) ci-dessus figure une somme et une normalisation à l'échelle d'un point de sondage. Les paramètres calculés lors de l'étape préalable de calcul 201 et stockés dans la mémoire 203 peuvent être transmis vers un module embarqué de traitement 21 configuré pour mettre en oeuvre une étape de détermination 211 des coefficients d'égalisation à un niveau dit « pseudosuper pixel ». Le module embarqué de traitement 21 étant situé à bord du satellite, les données stockées dans la mémoire 203 peuvent être téléchargées vers une mémoire embarquée 213 par des moyens appropriés de transfert de données. L'étape de détermination 211 permet de déterminer les gains et offsets au niveau du macro-pixel à partir des données d'une image brute recueillies par le spectromètre imageur en mode image, acquises sur la même scène que le mode interférométrique du spectromètre imageur, et des gains et offsets au niveau du super-pixel déterminés par l'étape préalable de calcul 201. D'un point de vue opérationnel, les calculs réalisés lors de l'étape de détermination 211 peuvent se formuler de la manière suivante. (MB, mcs,)x i x Supeipixel je Point de sondage 1 Soit un ensemble de données image {Mi} pour tous les super-pixels i appartenant à un macro-pixel. Soit également un ensemble de données interférométriques {/k} pour tous les macro-pixels k appartenant à un point de sondage. Le gain recherché pour le macro-pixel est alors la solution d'équation exprimée par la relation suivante : âk x E(1/1, )=EXi (3), Superpixel ieMacroPixelk soit : z Superpixel ieMacroPixelk a k = ( (Mi - ) 4). Superpixel iEMacroPuelk Les modalités pratiques d'évaluation des termes numérateur et dénominateur dans la relation (4) ci-dessus sont explicitées ci-après en référence à la figure 3. L'offset recherché pour le macro-pixel peut se formuler suivant la relation suivante : Superpixel ie MacroPixel k Les paramètres de gain et d'offset ainsi déterminés à l'étape de détermination 211 peuvent alors être transmis à un module embarqué de traitement d'interférogramme 23, permettant la réalisation d'une étape d'égalisation 231 au niveau pseudo super-pixel. L'étape d'égalisation 231 applique les paramètres d'égalisation à un macro-pixel k d'une acquisition lk en mode interférogramme du spectromètre imageur pour restituer un interférogramme égalisé leq_k, d'une manière formulée par les relations suivantes : Pour chaque échantillon de paramètre x, désignant la différence de marche optique : /eq_ k (X) = âk X (1.k (X) ± flk (6), La relation (4) ci-dessus peut se reformuler de la manière suivante : (e; xM,)+ bk Supetpixel ieMacropixel k âk = (7), Supetpixel iEMacropixel k le terme bk désignant la déviation pour le macro-pixel k, et se formulant suivant la relation suivante : -;:i÷ (8). Supetpixel iEMacropixel k Ainsi pour tout pixel i le gain d'égalisation du super-pixel s'écrit : 1 a = - (9). â, Pour chaque macro-pixel k l'offset et la déviation peuvent ainsi s'écrire : 10 A = Ebi (5), Supetpixel ieMacropixel k 6. = E Supetpixel iEMacropixel k a. Les coefficients â1 et sont calculés lors de l'étape préalable de calcul 201 à partir des relations (1) et (2) ci-dessus. 15 Ces coefficients peuvent être pré-calculés dans le but de réduire la charge de travail du module de calcul embarqué. Ainsi, la présente invention permet d'exploiter les données du mode imageur d'un spectromètre à transformée de Fourier imageur dans le but de 20 corriger les non-uniformités au niveau du super-pixel. Le procédé d'égalisation permet une égalisation "intra-échantillon" dont le but est de : égaliser les variations de réponse du détecteur ou PRNU et 25 les variations de luminosité afin d'améliorer l'uniformité de la réponse de la fonction d'étalement du point de l'instrument, communément désignée par le sigle IPSF correspondant à la terminologie anglaise « Instrument Point Spread Function », (8). supprimer la ligne de base afin de supprimer l'effet de contraste ou « aliasing » suivant la terminologie anglaise, généré par la décimation de la fréquence zéro. Cet avantage est assuré par le fait que l'offset a un impact aux fréquences zéro, hors de la bande utile. Dans la mesure où l'égalisation est destinée, notamment, à corriger un effet de non-uniformité propre au détecteur, celle-ci doit préférablement être réalisée après une possible correction de non-linéarité du détecteur. Un autre avantage de la présente invention est que le mode image du spectromètre imageur peut être utilisé de manière permanente de manière à autoriser une correction en temps réel. La figure 3 présente un schéma illustrant de manière synoptique un procédé de correction de réponse spatiale selon un exemple de réalisation 15 de l'invention, l'offset n'y étant pas considéré pour des raisons de clarté de l'exposé. Au moins deux scènes d'étalonnage 301 supposées uniformes, une vue de type CS et une vue de type BB, permettent l'établissement d'une cartographie 303 du détecteur, comprenant les données de gain et d'offset 20 â; et 4 pour tous les super-pixels i du détecteur, ainsi que cela est décrit précédemment en référence à la figure 2, et plus précisément à l'étape préalable de calcul 201 en référence à la figure 2. Une scène observée définit une vue de scène 311 par exemple en deux définitions et définie dans un repère cartésien selon des coordonnées 25 (x ;y). La scène donne lieu à l'acquisition d'une vue en mode image 313a notée IM1 dans les relations (3), (4) et (7) précédentes par le mode imageur du spectromètre à transformée de Fourier imageur, et d'une collection de vues en mode interférométrique 313b notées Ik(x) dans la relation (6) précédente. Dans l'exemple non-limitatif de l'invention illustré par la figure 3, 30 les macro-pixels sont formés par des regroupements de pixels par lignes, dans l'alignement des franges interférométriques non représentées sur la figure. Ils pourraient dans d'autres exemple de réalisation être formés par des regroupements de pixels par colonnes. Le dénominateur dans la relation (4) ci-dessus, illustré par la 35 référence 315a sur la figure, dans laquelle chaque ligne correspond à un macropixel k, est évalué par un regroupement de pixels, ou « binning » selon la terminologie anglaise, réalisé sur la vue en mode image 313a, après égalisation au moyen des paramètres d'égalisation d'offset contenus dans la cartographie 303 du détecteur. Le numérateur dans la relation (4) ci-dessus, illustré par la référence 315b sur la figure, dans laquelle chaque ligne correspond à un macropixel k, est évalué par binning de la vue en mode image 313a, avantageusement après son égalisation au moyen des paramètres de gain et d'offset compris dans la cartographie 303. Une division terme à terme des termes numérateur et dénominateur dans la relation (4) permet d'obtenir les coefficients de gain âk d'égalisation du macro-pixel. L'application des coefficients de gain et d'offset du macro-pixel érsk , selon la relation (7) formulée précédemment mène à une image égalisée selon le procédé de l'invention, illustrée par la référence 316 sur la figure. La figure 4 présente un diagramme temporel illustrant le fonctionnement d'un procédé ou un dispositif de correction selon un exemple de réalisation de l'invention. Dans un premier temps, au sol, en préparation au fonctionnement opérationnel, ou « commissionning » selon la terminologie anglaise, les offsets et les gains au niveau des super-pixels sont estimés très précisément. Ensuite lors du fonctionnement opérationnel de l'instrument, en vol, avant le traitement de chaque interférogramme issu d'une visée k, les coefficients d'égalisation au niveau des super-pixels sont éstimés en utilisant les images issues du mode image de la même visée k. Un séquencement judicieux, illustré par la figure 4, peut consister en un traitement des données issues d'une visée k-1, lors de l'acquisition de la visée k. Ainsi lors de la visée k, le calculateur bord dispose de toute les entrées pour le traitement de la visée k-1, permettant d'éviter des problèmes de synchronisation entre acquisition et chaîne de calcul bord. REVENDICATIONS1- Procédé de correction de réponse spatiale pour spectromètre à transformée de Fourier imageur ayant au moins un mode de fonctionnement dit mode interférométrique d'acquisition d'interférogrammes à la résolution spatiale d'un macro-pixel et un mode de fonctionnement dit mode image d'acquisition d'images à la résolution spatiale d'un super-pixel, le procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend au moins les étapes suivantes : lo - une étape préalable (201) de calcul des paramètres d'égalisation (â1, ) pour tous les super-pixels i comprenant un gain et un offset à partir de données acquises sur des scènes d'étalonnage (301), - une étape de détermination (211) de coefficients 15 d'égalisation à un niveau dit pseudo super-pixel déterminant les gains et offsets au niveau du macro-pixel (âk , fik) à partir d'une image acquise en mode image, et des gains et offsets déterminés à l'étape préalable (201), - une étape d'égalisation (231) au niveau pseudo super-pixel, 20 appliquant les coefficients d'égalisation (âk ,fik ) à un macro- pixel (k) d'une acquisition (1k) en mode interférogramme du spectromètre imageur pour restituer un interférogramme égalisé (leq_k). 25 2- Procédé de correction suivant la revendication 1, caractérisé en ce que les scènes d'étalonnage sont spatialement uniformes. 3- Procédé de correction suivant la revendication 1, caractérisé en ce que les scènes d'étalonnage sont des scènes de types respectivement 30 corps noir (BB) et espace froid (CS). 4- Procédé de correction suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les coefficients d'égalisation (âk , A ) sont déterminés au moyen des relations suivantes :- Supemixel le MacroPixelk âi k = Supeipixel ieMacroPixelk A = E4 Superpixel ieMacropixel k dans lesquelles M1 désigne un niveau de signal associé au super-pixel i. 5- Procédé de correction suivant l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que ladite étape préalable (201) est mise en oeuvre par des moyens disposés au sol, les étapes de détermination (211) et d'égalisation (213) étant mises en oeuvre dans des moyens embarqués. 6- Dispositif de correction de réponse spatiale pour spectromètre à transformée de Fourier imageur, caractérisé en ce qu'il est configuré pour la mise en oeuvre d'un procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, le dispositif de correction comprenant au moins un module de traitement de caractérisation au sol (20) configuré pour la mise en oeuvre de ladite étape préalable (201) et un module embarqué de traitement (21) configuré pour la mise en oeuvre desdites étapes de détermination (211) et d'égalisation (213). z(Ad -î