FR 2998968 A1 20140606 FR 1261500 A 20121130 Méthode et dispositif de mesure dynamique et in situ d'au moins une propriété d'un substrat polymérique solide Description L'invention concerne une méthode et un dispositif de mesure dynamique et in situ d'au moins une propriété d'un substrat polymérique solide pour lesquels un support et un échantillon du substrat sont placés entre une source de rayonnement et un outil de mesure. Lors de leur usage et notamment lorsqu'ils sont exposés à la lumière, les polymères ou les molécules, en particulier les polymères ou molécules organiques, subissent des modifications ou des détériorations. Les couches externes ou les emballages, en tant que barrières externes, préparés à partir de ces polymères ou molécules, sont particulièrement sensibles à ces modifications ou détériorations. Il en est de même pour ces substrats en tant que tels lorsqu'ils sont mis en oeuvre sous d'autres formes. Les facteurs extérieurs peuvent notamment entraîner des réactions chimiques au sein de ces substrats. Ces réactions peuvent entraîner des modifications voire des détériorations des propriétés fonctionnelles de ces substrats, en particulier, de leurs propriétés mécaniques, optiques, magnétiques, électriques ou électroniques. L'étude de ces substrats nécessite donc de pouvoir reproduire ces facteurs extérieurs lors de mesures de paramètres ou de caractéristiques, par exemple pour étudier les mécanismes de photovieillissement ou de photoréticulation, ou encore lors d'études cinétiques à partir de ces substrats. En particulier, l'étude de l'influence de rayonnements, par exemple de rayonnements de haute énergie, sur ces substrats peut permettre d'étudier ces mécanismes. Il existe des techniques d'étude de ces mécanismes qui mettent en oeuvre un photovieillissement accéléré de substrats. En général, ces techniques, par exemple de microscopie, mettent en oeuvre des outils d'irradiation d'un substrat ainsi que des outils d'analyse, par exemple des outils d'analyse spectroscopique IR, UV-visible, RMN, de masse, grâce auxquels on sonde la structure chimique du substrat. Des techniques peuvent aussi permettre d'étudier la traction ou la flexion de ces substrats ou bien permettre d'étudier leur durcissement, par exemple par microscopie à force atomique (AFM). La combinaison ou le couplage de plusieurs de ces techniques peut également permettre de caractériser certaines propriétés de ces substrats. Toutefois, la mise en oeuvre de ces techniques et de l'irradiation d'un échantillon de substrat entraîne généralement des modifications du substrat liées à l'irradiation. De telles modifications conduisent donc à des perturbations des mesures qui sont mises en oeuvre. Les résultats de ces mesures peuvent donc localement être modifiés ou faussés. Ainsi la technique de mesure mise en oeuvre peut quelquefois entraîner des modifications des propriétés du substrat et donc conduire à des mesures qui manquent de fiabilité ou qui ne peuvent pas être reproduites. Par ailleurs, un autre problème rencontré lors de la mise en oeuvre de ces techniques concerne la fiabilité des mesures du fait du manque d'homogénéité locale de la surface d'un substrat, en particulier pour les substrats polymériques. On connaît également des techniques de mesure de microscopie qui permettent de 20 coupler des images de topographie avec des images des propriétés d'absorption ou d'émission optiques. Toutefois, ces techniques sont particulièrement onéreuses, en particulier lorsqu'il s'agit de combiner un microscope en champ proche et un dispositif de détection de fluorescence. 25 Ces techniques de l'état de la technique conduisent généralement à l'utilisation de dispositifs particulièrement encombrants, en particulier pour permettre une irradiation mono ou polychromatique ou encore pour permettre une irradiance variable. De plus, ces techniques ne permettent pas de réaliser des mesures dynamiques in situ, en particulier pour l'étude de la photoréticulation ou du photovieillissement de 30 composés organiques, notamment par irradiation à longueur d'onde et à irradiance adaptables. Généralement, les techniques de mesure de l'état de la technique ne permettent pas de réaliser de mesures dans de nombreux domaines d'application, en particulier pour des mesures chimiques ou photochimiques, pour des mesures biologiques ou photobiologiques, pour des mesures de microscopie en réflexion (MEB, Raman, FTIR, optique) ou de microscopie en champ proche (AFM). Il existe donc un besoin d'améliorer les techniques de mesure de propriétés de substrats et qui permettent d'apporter une solution à tout ou partie des problèmes des techniques de l'état de la technique. Ainsi, l'invention fournit une méthode et un dispositif de mesure dynamique et in situ d'au moins une propriété d'un substrat polymérique solide pour lesquels un support 10 et un échantillon du substrat sont placés entre une source de rayonnement et un outil de mesure. Selon l'invention, la méthode de mesure dynamique et in situ d'au moins une propriété électrique, magnétique, mécanique, thermique, spectroscopique ou 15 d'imagerie d'un substrat polymérique solide, comprend - la préparation du substrat sous une forme comprenant deux surfaces planes et parallèles ; - le placement de l'échantillon de substrat sur un support permettant la transmission d'un rayonnement émis par une source de rayonnement 20 comprenant au moins un rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR ; - l'irradiation du substrat au moyen d'au moins une source de rayonnement comprenant au moins un rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR ; 25 - la mesure d'une caractéristique de luminescence, de photovieillissement ou de réticulation du substrat au moyen d'au moins un outil de mesure de la surface de ce substrat ; au cours de laquelle le support et l'échantillon sont placés entre la source de rayonnement et l'outil de mesure. 30 La méthode de mesure selon l'invention est particulièrement avantageuse pour la mesure de la luminescence, du photovieillissement ou de la photoréticulation de l'échantillon de substrat polymérique solide. Lors de la mesure de la luminescence du substrat, il est possible d'agir par photodétection et de mesurer la fluorescence ou la phosphorescence. De manière avantageuse, la méthode selon l'invention est mise en oeuvre pour un substrat choisi parmi un substrat composé uniquement de substances organiques ou 5 composé d'un mélange de substances organiques et inorganiques. Lors de la mise en oeuvre du substrat au sein de la méthode selon l'invention, la préparation sous une forme comprenant deux surfaces planes et parallèles peut être réalisée de nombreuses manières, en particulier sous la forme d'un film. De manière préférée, cette mise sous une forme comprenant deux surfaces planes 10 et parallèles est réalisée par la préparation d'un film du substrat à partir d'une solution. Pour la méthode de mesure selon l'invention, le rayonnement peut être obtenu directement par la source. 15 De manière avantageuse, le rayonnement peut être monochromatique ou polychromatique. Il peut être choisi parmi au moins un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible ou IR. De manière particulièrement avantageuse, la méthode selon l'invention peut donc également combiner un rayonnement UV A et un rayonnement visible. 20 De manière également avantageuse, la méthode selon l'invention permet de contrôler l'irradiance du rayonnement mis en oeuvre. L'irradiance va préférentiellement de 0,1 à 1 000 mW/cm2, plus préférentiellement de 0,1 à 100 m W/cm 2. 25 La méthode selon l'invention met en oeuvre une ou plusieurs sources de rayonnement. Ces sources de rayonnement sont préférentiellement choisies parmi une LED, une LED enrobée, une LED laser. La source de rayonnement préférée pour la méthode selon l'invention est une LED. 30 De manière avantageuse, le rayonnement de la source peut être modifié par le support. Ainsi, la source peut émettre un rayonnement UV A, UV B ou UV C et le support peut permettre de le modifier en un rayonnement visible. De manière analogue, la source peut émettre un rayonnement UV A, UV B ou UV C et le support peut permettre de le modifier en un rayonnement IR ou bien la source peut émettre un rayonnement UV A, UV B ou UV C et le support peut permettre de le modifier en un rayonnement UV différent. Les modifications inverses du rayonnement de la source par le support sont également possibles. La méthode de mesure selon l'invention met en oeuvre un support du substrat polymérique solide analysé. De préférence, le support est choisi parmi les matériaux solides transparents au rayonnement incident de la source. Il peut être choisi parmi de nombreux matériaux, en particulier du verre ou du quartz. Le support peut être dopé afin d'en modifier les propriétés. Par exemple, le support peut être dopé par incorporation d'au moins un composé luminophore organique ou inorganique. De manière avantageuse, le support dopé peut alors modifier la dispersion spectrale et l'irradiance du rayonnement émis par la source. De manière particulièrement avantageuse, la méthode selon l'invention peut être mise en oeuvre pour réaliser des mesures de nature variée sur le substrat polymérique solide. L'outil de mesure peut donc être choisi en fonction de la nature des mesures à effectuer sur le substrat. De préférence, l'outil de mesure est choisi parmi une sonde AFM ou de microscopie à champ proche, une sonde MEB, une sonde UV A, une sonde UV B, une sonde UV C, une sonde IR, une sonde de rayonnement visible. Lors de la mise en oeuvre de la méthode de mesure selon l'invention, il peut être utile ou avantageux de contrôler la chaleur subie par le substrat, en particulier la chaleur issue de la source de rayonnement. Ainsi, la méthode selon l'invention peut avantageusement comprendre la mise en oeuvre d'un dispositif de dissipation thermique ou dispositif à effet Pelletier. L'invention concerne également un dispositif pour la mise en oeuvre de la méthode de mesure. Le dispositif selon l'invention est donc un dispositif de mesure dynamique et in situ d'au moins une propriété électrique, magnétique, mécanique, thermique, 2 99896 8 6 spectroscopique ou d'imagerie d'un substrat polymérique solide. De manière préférée, le dispositif selon l'invention comprend - au moins une source de rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR; 5 - un support susceptible de recevoir un échantillon de substrat solide et permettant la transmission d'un rayonnement émis par une source de rayonnement comprenant au moins un rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR; - au moins un outil de mesure de surface et séparé de la source de 10 rayonnement par le support. La configuration du dispositif selon l'invention le rend particulièrement bien adapté pour des mesures en microscopies en réflexion mais également pour d'autres techniques de microscopies. 15 De manière avantageuse, le dispositif selon l'invention comprend au moins une source de rayonnement choisie parmi une LED, une LED enrobée, une LED laser. Pour le dispositif selon l'invention, la source de rayonnement peut être monochromatique ou polychromatique. Elle est, de préférence, choisie parmi au moins une source de rayonnement UV (A, B ou C), visible, IR ou proche IR. 20 La source de rayonnement du dispositif selon l'invention peut donc être choisie en fonction du type de rayonnement et de la longueur d'onde, en particulier pour les longueurs d'onde allant de 254 à 1 000 nm. La mise en oeuvre d'une alimentation variable de la source de rayonnement permet avantageusement d'obtenir une irradiance variable, par exemple une irradiance 25 allant de 0,1 à 1 000 mW/cm2. Le rayonnement du dispositif selon l'invention peut être adapté pour obtenir un spectre d'émission adaptable, par exemple par le choix de la longueur d'onde et du type d'irradiation monochromatique ou polychromatique. 30 Le dispositif selon l'invention peut être mis en oeuvre pour la mesure de nombreuses propriétés d'un substrat polymérique solide. En particulier, le dispositif selon l'invention peut comprendre un outil de mesure choisi parmi une sonde AFM ou de microscopie à champ proche, une sonde MEB, une sonde UV A, une sonde UV B, une sonde UV C, une sonde IR, une sonde de rayonnement visible. Le dispositif selon l'invention est donc particulièrement avantageux pour réaliser des mesures de luminescence, de photovieillissement ou de réticulation d'un substrat polymérique solide, en particulier pour un substrat composé uniquement de substances organiques ou composé d'un mélange de substances organiques et inorganiques. Pour le dispositif selon l'invention, il est essentiel que le substrat soit supporté. Le support du dispositif selon l'invention doit être positionné entre la source de rayonnement et l'outil de mesure. Lors de la mise en oeuvre du dispositif, l'échantillon de substrat supporté est donc placé entre la source de rayonnement et le support, d'une part, et l'outil de mesure d'autre part. Le support du dispositif selon l'invention doit permettre la transmission d'un rayonnement émis par la source de rayonnement, en particulier d'au moins un rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR. De manière avantageuse, le support du dispositif selon l'invention permet la transmission du rayonnement émis par la source. De manière particulièrement avantageuse, le support est un support qui permet de modifier la fréquence du rayonnement ou de modifier l'intensité du rayonnement. Le matériau du support du dispositif selon l'invention peut être choisi parmi d'assez 20 nombreux matériaux, notamment des matériaux organiques ou minéraux. De préférence, le support du dispositif selon l'invention est choisi parmi un support en verre ou en quartz. De manière avantageuse, le support du dispositif selon l'invention peut être en un matériau dopé, de préférence en un matériau dopé par au moins un composé 25 luminophore organique ou inorganique. De manière particulièrement avantageuse, le support du dispositif selon l'invention est donc adaptable aux différentes techniques de mesure. Le dispositif selon l'invention peut comprendre un ou plusieurs supports ou bien il peut être formé d'un support multicouches. D'un point de vue pratique, le support du 30 dispositif selon l'invention peut être formé de plusieurs pastilles formant plusieurs couches, par exemple d'une pastille transparente en verre et d'une pastille de KBr comprenant une substance luminophore ou absorbant dans l'UV, par exemple du 2+ SrA1204 dopé à l'Eu et au Dy3+. De manière préférée, le dispositif selon l'invention combine - au moins une source de rayonnement choisie parmi une LED, une LED enrobée, une LED laser ; - une source de rayonnement dont l'irradiance va de 0,1 à 1 000 mW/cm2; - une source de rayonnement monochromatique ou polychromatique choisie parmi au moins un rayonnement UV (A, B ou C), visible, IR ou proche IR; - un outil de mesure choisi parmi une sonde AFM ou de microscopie à champ proche, une sonde MEB, une sonde UV A, une sonde UV B, une sonde UV C, une sonde IR, une sonde de rayonnement visible ; - un support permettant la transmission du rayonnement émis par la source ou un support susceptible de modifier la fréquence du rayonnement ou de modifier l'intensité du rayonnement ; - un support choisi parmi un support en verre, en quartz ; - un support dopé par au moins un composé luminophore organique ou inorganique. De manière particulièrement préférée, le dispositif selon l'invention combine - une source de rayonnement dont l'irradiance va de 0,1 à 100 mW/cm2; - une source de rayonnement monochromatique ou polychromatique choisie parmi au moins un rayonnement UV (A, B ou C), visible, IR ou proche IR; - un outil de mesure choisi parmi une sonde AFM, une sonde IR, une sonde de rayonnement visible ou une sonde UV (A, B ou C) ; - un support choisi parmi un support en verre, en quartz ; - un support dopé par au moins un composé luminophore organique ou inorganique. Selon les conditions de mise en oeuvre de la méthode de mesure, le dispositif selon l'invention peut être adapté, par exemple en fonction du substrat analysé, de la source de rayonnement, du support ou de l'outil de mesure. Il peut notamment être de taille réduite en fonction des conditions de mise en oeuvre requise. Le dispositif selon l'invention peut être de taille réduite ou miniaturisée. Des dimensions allant de 0,4 à 2 cm pour chacune de ses trois dimensions sont possibles ou également des dimensions d'environ 0,5 à 1 cm. Le dispositif selon l'invention peut également comprendre un dispositif de contrôle de la châleur émise par la source de rayonnement ou un dispositif de dissipation thermique. La figure 1 représente un dispositif particulier selon l'invention. Dans ce dispositif, une source LED plate émettant à 365 nm (2) est fixée sur une pastille métallique (1). Au dessus de cette LED (2), une pastille (3) au KBr comprenant du SrA1204 dopé à l'Eu2+ et au Dy3+, comme composé luminophore, est positionnée et a pour fonction de modifier le rayonnement de la source en irradiance et en dispersion spectrale. Au dessus se situe le support solide (4) susceptible de recevoir le substrat (5). Le support solide (4) est transparent au rayonnement émis par la source. Le substrat (5) a été mis en forme préalablement pour définir deux surfaces planes et parallèles. Enfin, un outil de mesure de surface du substrat (6) est placé au dessus. Enfin, la chaleur émise par la LED est dissipée par le dispositif à effet Pelletier (8). La figure 1 représente donc un mode de réalisation particulier du dispositif selon l'invention. La figure 2 représente l'évolution de la taille des empreintes d'un échantillon après nano-indentation en fonction du temps d'irradiation à 365 nm. La figure 3 (a) représente la répartition spectrale du rayonnement émis par le dispositif en fonction de l'alimentation électrique de la source, sans modification du spectre d'émission. La figure 3 (b) représente la répartition spectrale du rayonnement émis par le dispositif en fonction de l'alimentation électrique de la source, avec utilisation d'une pastille de KBr contenant 30% en masse de composés luminophores. La figure 4 (a) représente une image AFM de phase d'un film de TMPC contenant 30% de composés luminophores, sans irradiation de l'échantillon. La figure 4 (b) représente des images AFM de phase d'un film de TMPC contenant 30% de composés luminophores, sous irradiation de l'échantillon avec mise en évidence d'une zone particulière. La figure 5 (a) représente une image obtenue en microscopie optique d'un film de 30 TMPC contenant 30% en masse de composés luminophores, sans irradiation de l'échantillon. La figure 5 (b) représente une image obtenue en microscopie optique d'un film de TMPC contenant 30% en masse de composés luminophores, sous irradiation de l'échantillon avec mise en évidence des particules de composés luminophores. Les exemples qui suivent sont donnés à titre d'illustration des différents aspects de l'invention. Exemple 1 : étude dynamique et in situ du photovieillissement du polyvinylcarbazole par Microscopie à Force Atomique Le dispositif de la figure 1 a été utilisé à l'exception de la pastille (3). Une solution de polyvinylcarbazole dans du tetrahydrofurane a été déposée sur une pastille de verre transparente en tant que support solide (4). Cette pastille de verre a été par la suite placée sur le dispositif représentée par la figure 1 et l'ensemble a été placé au sein de la cavité d'analyse d'un microscope à force atomique multimode Bruker Nanoscope 3A. Des indentations à différentes déflections comprises entre 20 nm et 120 nm ont été réalisées sur un échantillon de polymère non-vieilli et sur un échantillon de polymère vieilli. Les images de ces indentations sont représentées par la figure 2. Les valeurs de dureté en fonction du temps d'irradiation sont rassemblées dans le tableau 1. Temps d'irradiation (min) Nano-dureté (MPa) 0 150 ± 10 30 190 ± 20 60 235 ± 35 Tableau 1 : Évolution de la nano-dureté en fonction du temps d'irradiation à 365 nm Leur analyse a permis d'obtenir l'évolution de la nano-dureté en fonction du temps d'irradiation à 365 nm. Le matériau durcit en fonction du temps d'irradiation. Ceci est conforme à ce qui est décrit dans la littérature pour la dégradation du polyvinylcarbazole en enceinte de vieillissement accéléré. A l'aide du dispositif selon l'invention, nous avons donc pu étudier le photovieillissement d'une couche mince de polyvinylcarbazole. En utilisant le même dispositif, des variations dynamiques et in situ des propriétés électriques (EFM), magnétiques (KFM) et thermiques (nano-Tg, SThm) sont également réalisables. Exemple 2 : étude de variations d'irradiance du dispositif selon l'invention et de changements de répartition spectrale de l'émission (modification de la distribution spectrale, irradiance, versatilité) On utilise le dispositif selon l'invention qui est représenté par la figure 1 ainsi qu'un dispositif analogue dépourvu de pastille (3). A l'aide d'un radiospectromètre, l'émission de la source à travers le support, en présence ou en absence de pastille (3), a été mesurée. Les résultats sont représentés par la figure 3a. La variation de position du variateur correspond à une variation de puissance électrique de l'alimentation de la LED et donc une variation de l'irradiance de la LED. Dans un deuxième temps, une pastille (3) au KBr comprenant du SrA1204 dopé à l'Eu2+ et au Dy3+, comme composé luminophore, émettant dans le vert (520 nm), a été intercalée afin de modifier le spectre d'émission de la source. Les résultats des mesures d'irradiance par radiospectromètre de ce système sont représentés par la figure 3b. Outre la variation d'irradiance due à la variation de la puissance d'alimentation, l'émission du système a été décalée dans le vert grâce à la présence de ces composés luminophores dans la pastille de KBr (3). A l'aide de ce dispositif, il a donc été possible de délivrer des irradiances variables grâce à des modifications de l'alimentation électrique. Par ailleurs, l'utilisation de composés luminophores dans la pastille de KBr (3) a permis la modification de la répartition spectrale de l'émission. Exemple 3: photodétection et imageries de zones particulières de l'échantillon sous irradiation (photodétection, imagerie dynamique in situ) Le système d'irradiation utilisé est représenté par la figure 1. Le substrat analysé est 25 un film de tetramethylpolycarbonate (TMPC) contenant 30% en masse de SrA1204 dopé à l'Eu2+ et au Dy3+, comme composé luminophore. L'imagerie de la surface de l'échantillon a été réalisée par microscopie AFM au moyen d'un microscope à force atomique multimode Bruker Nanoscope 3A et par microscopie optique Leica en présence et en l'absence d'irradiation, afin de détecter 30 les particules de composés luminophores. Les images obtenues sont représentées par la figure 4 pour la microscopie à force atomique et par la figure 5 pour la microscopie optique. En microscopie à force atomique, des images de phase sont représentées du fait que la réponse en phase du microscope est sensible à la nature chimique des éléments à la surface de l'échantillon. L'imagerie sous irradiation exacerbe la visibilité des particules luminescentes en microscopie optique. Il a été possible de réaliser une image sous irradiation présentant une meilleure visibilité des particules de composés luminophores. Ce microscope optique a été couplé à un microscope à infrarouge afin de permettre une analyse infrarouge précise de la zone désirée. Ainsi, le dispositif a permis d'analyser par microscopie des zones d'intérêt particulier détectables du fait de l'interaction particulière de ces zones avec le rayonnement issu de la source d'irradiation. Exemple 4: études dynamiques et in situ de photoréticulation et de photodégradation de la couche active d'une cellule solaire organique à base de P3HT : PCBM Le système d'irradiation utilisé est représenté par la figure 1. Le substrat est une couche mince pouvant servir de couche active pour les cellules solaires organiques. Cette couche est obtenue par dépôt par spin-coating d'une solution constituée d'un mélange type : Poly 3 Hexyl Thiophène (P3HT), fullerènes (PCBM) et d'un amorceur radicalaire dérivé de benzophenone, en solution dans le dichlorobenzène. L'amorceur sert à réticuler la couche active. À l'aide de la nano-indentation de l'échantillon, l'évolution de la nano-dureté du mélange en fonction du temps d'irradiation de la LED à 365 nm a été suivie à l'aide d'un microscope AFM Multimode Bruker Nanoscope 3A. Cette évolution est représentée par le tableau 2. Temps d'irradiation (min) Nano-dureté (MPa) 0 90 ± 15 10 1000 ± 200 20 350 ± 90 30 85 ± 10 Tableau 2: Evolution de la nano-dureté de la couche mince P3HT:PCBM:X en fonction du temps d'irradiation de la LED La nano-dureté augmente fortement après 10 min d'irradiation. Ceci serait lié à une réticulation de la couche active. Dans un deuxième temps, la nano-dureté diminue avec l'augmentation du temps d'irradiation. Ceci serait révélateur de réactions de dégradation par coupures de chaînes au sein de la couche active. Ainsi, à l'aide de ce dispositif, il a été possible d'étudier la photoréticulation puis le photovieillissement du P3HT de façon dynamique et in situ par microscopie AFM.5 REVENDICATIONS1. Méthode de mesure dynamique et in situ d'au moins une propriété électrique, magnétique, mécanique, thermique, spectroscopique ou d'imagerie d'un substrat polymérique, solide comprenant - la préparation du substrat sous une forme comprenant deux surfaces planes et parallèles ; - le placement de l'échantillon de substrat sur un support permettant la transmission d'un rayonnement émis par une source de rayonnement comprenant au moins un rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR ; - l'irradiation du substrat au moyen d'au moins une source de rayonnement comprenant au moins un rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR ; - la mesure d'une caractéristique de luminescence, de photovieillissement ou de réticulation du substrat au moyen d'au moins un outil de mesure de la surface de ce substrat ; au cours de laquelle le support et l'échantillon sont placés entre la source de rayonnement et l'outil de mesure. 2. Méthode de mesure selon la revendication 1 pour laquelle le substrat est choisi parmi un substrat composé uniquement de substances organiques ou composé d'un mélange de substances organiques et inorganiques. 3. Méthode selon les revendications 1 ou 2 pour laquelle - le rayonnement est obtenu directement par la source ou bien est issu de la source et modifié par le support ; ou - le rayonnement est monochromatique ou polychromatique et choisi parmi au moins rayonnement UV A, UV B, UV C, visible ou IR ; ou - le rayonnement possède une irradiance allant de 0,1 à 1 000 mW/cm2 ; - au moins une source de rayonnement est choisie parmi une LED, une LED enrobée, une LED laser ; ou - le support est choisi parmi les matériaux solides transparents au rayonnementincident de la source; ou - le support est dopé par au moins un composé luminophore organique ou inorganique ; ou - l'outil de mesure est choisi parmi une sonde AFM ou de microscopie à champ proche, une sonde MEB, une sonde UV A, une sonde UV B, une sonde UV C, une sonde IR, une sonde de rayonnement visible. 4. Méthode selon les revendications 1 à 3 pour laquelle la chaleur émise par la source de rayonnement est contrôlée au moyen d'un dispositif de dissipation 10 thermique. 5. Méthode selon les revendications 1 à 4 pour la mesure de la luminescence, du photovieillissement ou de la réticulation de l'échantillon. 15 6. Dispositif de mesure dynamique et in situ d'au moins une propriété électrique, magnétique, mécanique, thermique, spectroscopique ou d'imagerie d'un substrat polymérique solide comprenant - au moins une source de rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR; 20 - un support susceptible de recevoir un échantillon de substrat et permettant la transmission d'un rayonnement émis par une source de rayonnement comprenant au moins un rayonnement choisi parmi un rayonnement UV A, UV B, UV C, visible, IR; - au moins un outil de mesure de surface et séparé de la source de 25 rayonnement par le support. 7. Dispositif selon la revendication 6 comprenant séparément ou simultanément tout ou partie des caractéristiques suivantes : - au moins une source de rayonnement choisie parmi une LED, une 30 LED enrobée, une LED laser ; ou - une source de rayonnement dont l'irradiance va de 0,1 à 1 000 mW/cm2 ; ou - une source de rayonnement monochromatique ou polychromatique choisie parmi au moins un rayonnement UV (A, B ou C), visible, IRou proche IR ; ou - un outil de mesure choisi parmi une sonde AFM ou de microscopie à champ proche, une sonde MEB, une sonde UV A, une sonde UV B, une sonde UV C, une sonde IR, une sonde de rayonnement visible ; ou - un support permettant la transmission du rayonnement émis par la source ou un support susceptible de modifier la fréquence du rayonnement ou de modifier l'intensité du rayonnement ; ou - un support choisi parmi un support en verre, en quartz ; ou - un support dopé par au moins un composé luminophore organique ou inorganique. 8. Dispositif selon les revendications 6 ou 7 comprenant également un dispositif de contrôle de la châleur émise par la source de rayonnement ou un dispositif de dissipation thermique. 9. Dispositif selon les revendications 6 à 8 pour la mesure de luminescence, du photovieillissement ou de la réticulation d'un substrat polymérique solide. 10. Dispositif selon les revendications 6 à 9 pour la mesure de luminescence, du photovieillissement ou de la réticulation d'un substrat choisi parmi un substrat composé uniquement de substances organiques ou composé d'un mélange de substances organiques et inorganiques.