FR 2999726 A1 20140620 FR 1362771 A 20131217 Domaine de l'invention La présente invention se rapporte à un dispositif de me- sure pour une mesure optique de distance comprenant une première installation d'émission pour émettre un rayonnement de mesure op- tique vers un objet cible, une première installation de réception pour détecter le rayonnement renvoyé par l'objet cible, une seconde installation de réception pour détecter un rayonnement de référence interne au dispositif, la première installation de réception ayant une première unité de détecteur et une première unité de mesure de temps, la seconde installation de réception ayant une seconde unité de détecteur et une seconde unité de mesure de temps. L'invention se rapporte également à un procédé de mise en oeuvre d'un tel télémètre. Etat de la technique On connaît des appareils optiques de mesure de distance ou télémètres optiques qui déterminent la distance entre l'appareil de mesure de distance et un objet cible. Pour cela, les appareils de mesure de distance (télémètres) dirigent un rayon lumineux sur l'objet cible et détectent la lumière réfléchie par l'objet et revenant dans la direction du télémètre. La détermination de la distance peut se faire par un pro- cédé de temps de parcours. La mesure peut se faire dans le domaine du temps ou dans celui des fréquences. Dans le cas d'une mesure de temps, on envoie par exemple une brève impulsion laser à un instant tsrart vers l'objet cible qui le diffracte ou le réfléchit. Une partie du rayonnement de mesure arrive par exemple par l'intermédiaire d'une optique de réception sur un récepteur optique, à l'instant d'arrivée tstop. A partir du temps de parcours mesuré (tstop - start) et de la vitesse de la lumière, on calcule la distance (d) de l'objet cible. Pour améliorer la précision de la mesure, on peut tenir compte du rayonnement du fond. Pour cela, on utilise un chemin de mesure de référence interne à l'appareil de distance connu entre la source lumineuse et le dispositif récepteur. Une telle référence est par exemple connue selon le document US 2007/0 182 949. Or, même en tenant compte du rayonnement du fond, la précision de la mesure peut être détériorée par des erreurs de mesure liées au système (erreurs systématiques). Les erreurs de mesure systématiques peuvent être occasionnées par exemple par les temps de parcours du signal dépendant de la température, notamment dans le circuit d'exploitation intégré dans le télémètre. But de l'invention La présente invention a pour but de développer un dispo- sitif et un procédé de mesure permettant d'améliorer la précision et la fiabilité d'une mesure de distance. Exposé et avantages de l'invention A cet effet, l'invention a pour objet un dispositif de me- sure du type défini ci-dessus caractérisé en ce que la première unité de mesure de temps est reliée sélectivement à la première unité de détecteur et à la seconde unité de détecteur et la seconde unité de mesure de temps est reliée sélectivement à la première unité de détecteur et à la seconde unité de détecteur. Ainsi, selon un développement, l'invention a pour objet un dispositif de mesure pour une mesure optique de distance. Le dispositif de mesure comporte une première installation d'émission, une première installation de réception et une seconde installation de récep- tion. L'installation de mesure génère un rayonnement de mesure op- tique dirigé vers l'objet cible. La première installation de réception détecte le rayonnement en retour renvoyé par l'objet cible. La seconde installation de réception détecte le rayonnement de référence interne au dispositif. La première installation de réception comporte une première unité de détecteur et une première unité de mesure de temps. La se- conde installation de réception comporte une seconde unité de détecteur et une seconde unité de mesure de temps. La première unité de mesure de temps est reliée sélectivement à la première unité de détecteur et à la seconde unité de détecteur. La seconde unité de mesure de temps est reliée au choix à la première unité de détecteur et à la se- conde unité de détecteur. En d'autres termes, la présente invention repose sur la caractéristique selon laquelle deux circuits intégrés identiques et notamment deux unités de mesure de temps identiques et deux unités de détecteur identiques sont utilisés et sont reliés de façon croisée. Cela permet d'échanger les unités de mesure de temps des circuits de réception à la fois pour la mesure de distance et aussi pour la mesure de référence. On peut ainsi compenser de manière fiable les erreurs de mesure en formant par exemple des valeurs moyennes ou des diffé- rences entre les temps de parcours obtenus de cette manière. En particulier, la réalisation de l'appareil selon l'invention permet de compenser les différences de temps de parcours générées par la dérive en température à l'intérieur d'une diode laser de l'appareil de mesure et cela de façon efficace et économique. En outre, à l'aide de l'appareil de mesure, on peut compenser les différences de temps de parcours produites dans les circuits intégrés, c'est-à-dire à l'intérieur des circuits récepteurs. En outre, grâce aux circuits identiques pour la première et la seconde installation de réception, le coût reste à un niveau relativement faible. Le dispositif de mesure est ainsi un appareil de mesure de distance ou télémètre à main, numérique ou optoélectronique. En particulier, le dispositif de mesure est un télémètre laser à base de diode SPAD (diode avalanche monophoton). Le dispositif de mesure permet de déterminer des distances d'un objet considéré comme cible et qui se situe à une distance de quelques centimètres jusqu'à 100 m par rapport au dispositif de mesure. Le comportement de mesure du dispositif de mesure repose sur la modulation laser haute fréquence et l'analyse de temps de parcours de la lumière. Le dispositif de mesure comporte une première installa- tion d'émission. L'installation d'émission commande le signal d'une source lumineuse, par exemple d'une diode LED, d'un laser ou d'une diode laser. Le dispositif de mesure comporte une première et une seconde installation de réception. Les installations de réception détectent le rayonnement de mesure réfléchi par l'objet cible ou par la cible de référence qui, elle, est à une distance connue et déterminent ainsi le temps de parcours du rayonnement respectif. Les installations de réception et les installations d'émission peuvent faire partie d'un circuit intégré, notamment sous la forme d'un circuit ASIC (circuit dédié à une application). La première et la seconde installation de réception peuvent être dans deux circuits ASIC distincts ou dans le même circuit ASIC. De façon avantageuse, la première installation de réception fait partie d'un premier circuit ASIC et la seconde installation de réception fait partie d'un second circuit ASIC. Le premier et le second circuit ASIC peuvent être identiques. Dans le cas d'une réalisation identique des circuits ASIC, on économise car on évite de réaliser des circuits ASIC ayant des fonctions différentes. En particulier, si l'on utilise deux circuits ASIC séparés, mais identiques, on pourra prévoir des boîtiers séparés par les circuits ASIC assurant une bonne isolation optique entre le rayonnement de mesure et le rayonnement de référence. Les installations de réception ont chacune une unité de détecteur et une unité de mesure de temps. Chaque installation de réception peut comporter au moins deux et notamment plusieurs unités de mesure de temps et unités de détecteur. De façon préférentielle, chaque unité de mesure de temps a au moins une unité de détecteur. Les unités de détecteur fournissent un signal de sortie qui est appliqué à une unité de mesure de temps associée. Le signal de sortie correspond ainsi à une impulsion électrique qui est induite par absorption d'un photon et dont le flanc impulsionnel est en corrélation avec le temps de détection du photon. Les unités de détecteur peuvent être réalisées de préférence avec plusieurs éléments photosensibles, le cas échéant combinés. Les éléments photosensibles des unités de détecteur peu- vent être par exemple des dispositifs CCD (composants à couplage de charge), des composants CMOS-pixel (semi-conducteurs complémen- taires métal-oxyde pixel), des photodiodes avalanches (APD) ou des diodes PIN (diodes positives intrinsèques négatives). De façon préférentielle, les unités de détecteur utilisent comme éléments photosensibles des diodes SPAD. La mesure de temps se fait à l'aide de coupeurs cadencés dont les signaux de cadence (hor- loge) sont générés par un générateur de fréquence. Le générateur de fréquence est alimenté par un oscillateur. En même temps, le rayonnement d'émission ou de mesure est modulé de façon correspondante par l'installation d'émission. Le générateur haute fréquence et l'oscillateur peuvent faire partie de l'appareil de mesure. Les unités de mesure de temps déterminent le temps de parcours du rayonnement détecté par l'unité de détecteur en se fondant sur le signal de sortie de l'unité de détecteur respectivement associée. Par exemple, à l'aide d'un commutateur, chaque unité de mesure de temps peut recevoir les signaux de la première et de la seconde unité de détecteur. Cela permet de relier entre elles les entrées et sorties des unités de mesure de temps et des unités de détecteur par un ou par plusieurs commutateurs et cela de manière commutative. La mesure de distance à l'aide de l'appareil de mesure peut se faire dans le domaine des fréquences ou par le procédé de temps de parcours de phase. Le rayonnement optique d'une source lumineuse est ainsi modulé en intensité, par exemple suivant une forme sinusoïdale. Le rayonnement modulé est envoyé sur l'objet cible qui le diffracte ou le réfléchit. Une partie du rayonnement réfléchi arrive par exemple par une optique de réception dans un premier dispositif de ré- ception. En fonction de l'éloignement de l'objet cible, le rayonnement reçu, sinusoïdal, modulé en intensité, a un déphasage par rapport au signal émis, sinusoïdal, modulé en intensité. A partir de la différence de phase entre la phase du signal reçu et celle du signal émis, avec la fré- quence de modulation connue ainsi qu'avec la vitesse de la lumière, on pourra calculer la distance de l'objet cible. Le temps de parcours ou la différence de phase du rayonnement de mesure peut se déterminer par exemple séquentielle-ment tout d'abord à l'aide de la première unité de mesure de temps puis avec la seconde unité de mesure de temps. De même, la détermination du temps de parcours du rayonnement de référence se fait séquentiellement à l'aide de la première unité de mesure de temps et ensuite à l'aide de la seconde unité de mesure de temps. Les temps de parcours peuvent ensuite être comparés et le cas échéant, servir à former des va- leurs moyennes. Selon un développement de l'invention, le dispositif de mesure comporte une unité d'exploitation qui détermine un premier temps de parcours TA en utilisant la première unité de détecteur et la première unité de mesure de temps. Cette mesure est appelée me- sure A. L'unité d'exploitation reçoit également un second temps de par- cours TB en utilisant la seconde unité de détecteur et la seconde unité de mesure de temps. Cette mesure porte la référence B. En outre, l'unité d'exploitation peut déterminer un troi- sième temps de parcours Tc en utilisant la première unité de détecteur et la seconde unité de mesure de temps. Cette mesure porte la référence C. Enfin, l'unité d'exploitation peut déterminer un quatrième temps de parcours TD en utilisant la seconde unité de détecteur et la première unité de mesure de temps. Cette mesure porte la référence D. Le premier et le second temps de parcours peuvent se dé- terminer simultanément, c'est-à-dire en parallèle. En outre, la détermination du troisième et du quatrième temps de parcours peuvent également se faire simultanément. Grâce à la détermination simultanée des différents temps de parcours, on accélère l'opération de mesure de distance. Selon un autre développement de l'invention, l'unité d'exploitation, en formant une différence ou une valeur moyenne entre les temps de parcours, détermine une différence de temps de parcours AT ou une valeur moyenne de temps de parcours. L'unité d'exploitation compense les erreurs de temps de parcours du dispositif de mesure. Cette compensation se fait par exemple en dégageant par le calcul la différence de temps de parcours pour les mesures de distance suivantes et/ou en effectuant une régulation complémentaire des circuits intégrés. A titre d'exemple, en formant la différence suivante, on peut compenser la dérive de temps de parcours d'une diode laser qui émet un rayonnement de mesure et de référence : AT - TA -TB+Tc-TD 2 En formant cette différence, on peut également compen- ser la dérive entre la première unité de mesure de temps (par exemple un premier générateur de fréquence), associée à un premier circuit ASIC et une seconde unité de mesure de temps (par exemple un second générateur de fréquence) associée à un second circuit ASIC. Cela est parti- culièrement avantageux car les circuits peuvent fonctionner avec une fréquence plus élevée que celle du générateur de fréquence. Les deux unités de mesure de temps peuvent également être alimentées par un générateur de fréquence. La diaphonie de la première installation d'émission, en- core appelée pilote laser, sur les unités de mesure de temps et aussi la dérive dans les unités de mesure de temps, de manière générale, peuvent se compenser en formant la différence suivante : AT = TA - TD Les mesures A et D se font comme indiqué ci-dessus en utilisant la première unité de mesure de temps. En formant la différence entre le premier temps de parcours TA et le quatrième temps de parcours TD, on peut également compenser les dérives de temps de par- cours d'une diode laser ainsi que les dérives de temps de parcours entre les générateurs de fréquence. En formant la différence : AT = TA - TB on peut compenser en outre les dérives de temps de parcours de la diode laser et les dérives entre les lignes croisées des installations de réception. Selon un autre développement de l'invention, le dispositif de mesure comporte une seconde installation d'émission et un commu- tateur de pilote laser. Le commutateur de pilote laser relie sélectivement un laser à la première installation d'émission ou à la seconde installation d'émission. La seconde installation d'émission peut être installée avec la seconde installation d'exploitation dans un second circuit ASIC distinct. Par exemple, pour les mesures A et D, en utilisant la première unité de mesure de temps du laser et avec la seconde installation d'émission, on pourra fonctionner pour éviter la diaphonie. Le commutateur de pilote laser peut alors être installé dans le chemin pilote entre la diode SPAD et le laser. En variante, le commutateur de laser pilote peut être intégré dans la diode SPAD. Selon un autre développement de l'invention, le dispositif de mesure comporte en outre un premier et un second multiplexeur ou commutateur. Le premier multiplexeur relie sélectivement la première unité de mesure à la première unité de détecteur et à la seconde unité de détecteur ; le second multiplexeur relie sélectivement la seconde uni- té de mesure de temps à la première unité de détecteur et à la seconde unité de détecteur. Le multiplexeur permet de compenser les différences de temps de parcours sans nécessiter d'entrée et de sortie supplémentaires pour les dispositifs de réception. Cela est notamment avantageux si l'on utilise par exemple deux circuits ASIC distincts. Selon un autre développement de l'invention, le dispositif de mesure comporte un oscillateur et une ligne de synchronisation haute fréquence. La ligne de synchronisation haute fréquence relie la première unité de mesure de temps à l'oscillateur. La ligne de synchro- nisation haute fréquence relie également la seconde unité de mesure de temps à l'oscillateur. Ainsi la première et la seconde unité de mesure de temps pourront être accordées, c'est-à-dire synchronisées pour que le temps de parcours déterminé par la première unité de mesure de temps puisse être comparé avec le temps de parcours déterminé par la se- conde unité de mesure de temps. En particulier, la synchronisation haute fréquence permet de relier l'oscillateur aux unités de mesure de temps par un ou plusieurs générateurs haute fréquence. Le générateur haute fréquence peut générer une fréquence supérieure, par exemple d'un coefficient 100 par rapport à la fréquence relativement plus basse de l'oscillateur. La synchronisation haute fréquence des unités de mesure de temps permet notamment de compenser la gigue détaillée ensuite. En outre, la synchronisation haute fréquence est avantageuse pour positionner la première et la seconde installation de réception sur un cir- cuit ASIC commun. En variante, la synchronisation peut se faire à l'aide d'une ligne de synchronisation basse fréquence. L'oscillateur est alors relié directement aux unités de mesure de temps. Une synchronisation basse fréquence pourrait être avantageuse si l'on utilise deux circuits ASIC distincts. Selon un autre développement de l'invention, le dispositif de mesure comporte en plus de la première et de la seconde installation d'émission, également deux diodes laser distinctes. La première installation d'émission commande sélectivement le premier laser lorsque la première unité de mesure de temps est reliée à la première unité de dé- tecteur ou à la seconde unité de détecteur. En outre, la seconde installation d'émission commande sélectivement le second laser si la seconde unité de mesure de temps est reliée à la première unité de détecteur ou à la seconde unité de détecteur. On évite ainsi un commutateur de pi- lote laser. Le premier laser ou la première diode laser est à la même dis- tance que le second laser ou la seconde diode laser par rapport à l'objet cible et par rapport à l'objet de référence. La mesure du premier, du second, du troisième et du quatrième temps de parcours de cet exemple de réalisation se fait de manière séquentielle. Selon un autre développement de l'invention, le dispositif de mesure comporte un coulisseau. Le coulisseau permet une première position pour les mesures A, B, C, D décrites ci-dessus. Le coulisseau peut également être mis dans une seconde position qui dévie le rayonnement de référence interne au dispositif vers la première installation de réception et le rayonnement renvoyé par l'objet cible vers la seconde installation de réception. Les mesures faites alors peuvent se désigner par A', B', C', D'. Les possibilités de combinaisons supplémentaires des mesures par le coulisseau permettent par exemple de compenser les dérives de temps de parcours entre les chemins de réception ou lignes croisées en appliquant le calcul suivant. En outre, par ce calcul, on peut également compenser toutes les autres dérives entre les unités de détecteur qui seront par exemple compensées directement dans les unités de détecteur : AT -1( T A -T B±T C-T D Selon un développement, l'invention a également pour objet un procédé de compensation d'erreur de mesure d'un dispositif de mesure comprenant les étapes suivantes consistant à: - déterminer un premier temps de parcours du rayonnement renvoyé par un objet cible en utilisant une première unité de détecteur et une première unité de mesure de temps, déterminer un second temps de parcours du rayonnement de référence interne au dispositif en utilisant une seconde unité de détecteur et une seconde unité de mesure de temps, déterminer un troisième temps de parcours du rayonnement ren- voyé par l'objet cible en utilisant la première unité de détecteur et la seconde unité de mesure de temps, déterminer un quatrième temps de parcours du rayonnement de référence interne au dispositif en utilisant la seconde unité de dé- tecteur et la première unité de mesure de temps, former la différence entre les temps de parcours pour compenser les temps de parcours à l'aide d'une unité d'exploitation. Dessins La présente invention sera décrite ci-après de manière plus détaillée à l'aide d'un dispositif de mesure optique de distance et d'un procédé de mise en oeuvre d'un tel dispositif représentés dans les dessins annexés dans lesquels les éléments identiques ou de même fonction portent les mêmes références. Ainsi : la figure 1 est un schéma par blocs d'un premier mode de réalisa- tion d'un dispositif de mesure selon l'invention, la figure 2 est un schéma par blocs d'un second mode de réalisation d'un dispositif de mesure selon l'invention, la figure 3 est un schéma par blocs d'un troisième mode de réalisa- tion d'un dispositif de mesure selon l'invention, la figure 4 est un schéma par blocs d'un quatrième mode de réalisation d'un dispositif de mesure selon l'invention, la figure 5 montre les parties d'un dispositif de mesure avec des positions différentes d'un coulisseau correspondant à un cin- quième mode de réalisation de l'invention. Description de modes de réalisation de l'invention Les figures 1 à 5 montrent des dispositifs de mesure 1 dont les composants tels que les installations d'émission 3, 5, les générateurs haute fréquence 37, 39 et les installations de réception 9, 11 sont sur deux circuits intégrés 25, 27 distincts. Mais tous les compo- sants peuvent également être dans un circuit intégré commun. Cette variante n'est pas représentée dans les figures. La figure 1 est un schéma par blocs fonctionnels d'un dispositif de mesure 1. Le dispositif de mesure 1 est un appareil de me- sure de distance ou télémètre, fondé sur un composant ASIC avec une diode SPAD, notamment un appareil de mesure de distance laser ou télémètre laser ; le dispositif comporte deux circuits intégrés identiques, à savoir le premier circuit ASIC 25 et le second circuit ASIC 27. Les éléments photosensibles des unités de détecteur 16, 17 sont réalisés sous la forme d'une diode SPAD. L'utilisation des unités de détecteur 16, 17 avec plusieurs pixels ou éléments photosensibles, qui se branchent différemment est avantageuse. A côté des autres composants qui seront décrits, l'appareil de mesure de distance ou télémètre comporte un boîtier logeant une unité d'exploitation pour déterminer la distance entre l'appareil de mesure et un objet cible externe dont on veut déter- miner la distance par rapport à l'appareil. Le boîtier peut en outre comporter une unité d'émission, par exemple sous la forme d'un afficheur ou d'un dispositif d'émission acoustique. Les deux circuits ASIC 25, 27 peuvent être logés dans des boîtiers distincts pour réaliser une bonne isolation optique entre le rayonnement de mesure 13 et le rayonnement de référence 15. Les circuits ASIC SPAD 25, 27 contenus dans le plan su- périeur ont chacun une installation d'émission 3, 5 et une installation de réception 9, 11. Le premier circuit ASIC 25 comporte la première ins- tallation d'émission 3 et la première installation de réception 9 ; le se- cond circuit ASIC 27 comporte la seconde installation d'émission 5 et la seconde installation de réception 9. L'expression « premier » concernent ci-après les composants du premier circuit ASIC 25 ; l'expression « second » concerne les composants du second circuit ASIC 27. La première installation de réception 9 se compose elle-même d'une première unité de détecteur 16 et d'une première unité de mesure de temps 20. La seconde installation de réception 11 se compose d'une seconde unité de détecteur 17 et d'une seconde unité de me- sure de temps 21. Les unités de détecteur 16, 17 sont fondées sur des diodes SPAD. Le signal de sortie d'une diode SPAD se compose d'une impulsion électrique induite par l'absorption d'un photon ; le flanc de l'impulsion est en corrélation avec l'instant de détection du photon. La mesure de temps se fait à l'aide de compteurs caden- cés recevant des signaux d'horloge d'un générateur de fréquence, no- tamment d'un générateur haute fréquence 37, 39; le générateur de fréquence est lui-même alimenté par un oscillateur 41. En même temps, le rayonnement d'émission ou de mesure 6 est modulé par la seconde installation d'émission 5. En variante, le rayonnement de mesure peut être modulé comme le montre par exemple la figure 3, en alternance par la première installation d'émission 3 et la seconde installation d'émission 5. Les circuits ASIC 25, 27des exemples de réalisation des figures sont synchronisés. La synchronisation est faite par un oscilla- teur 41 utilisé en commun. Pour cela, les circuits ASIC 25, 27 sont re- liés à l'oscillateur 41 par une ligne de synchronisation haute fréquence 49. Ainsi, la ligne de synchronisation haute fréquence 49 re- lie l'oscillateur 41 par l'intermédiaire d'un ou plusieurs générateurs haute fréquence 37, 39 aux unités de mesure de temps 20, 21. La syn- chronisation haute fréquence est avantageuse notamment pour compenser la gigue entre les générateurs haute fréquence 37, 39. La synchronisation haute fréquence peut se faire avantageusement en disposant la première et la seconde installation de réception 9, 11 dans un circuit ASIC commun (cette solution n'est pas présentée aux figures). En variante, la synchronisation peut se faire avec la fréquence intermédiaire générée directement par les circuits ASIC 25, 27. En outre, la synchronisation peut également se faire à l'aide d'une ligne de synchronisation basse fréquence 48. L'oscillateur 41 peut alors être relié directement aux unités de mesure de temps 20, 21. La synchroni- sation basse fréquence pourrait également se faire avantageusement en utilisant deux circuits ASIC distincts comme le montre la figure 1. Le premier circuit ASIC 25 est utilisé pour recevoir le rayonnement de mesure 13 renvoyé par l'objet cible 7. Le second circuit ASIC 27 reçoit le rayonnement de référence 15 diffracté en retour, reçu par un récepteur cible 65 (voir figure 5) situé à une distance connue. L'objet cible 7 et la cible de référence 65 sont éclairés par le rayonnement de mesure 6 du faisceau laser 43. Un premier commutateur 50 et un second commutateur 51 permettent de brancher chaque unité de mesure de temps 20, 21 pour appliquer les signaux de la puce de l'unité de détecteur interne ou les signaux de la puce externe. En d'autres termes, la première unité de mesure de temps 20 fournit les signaux à la première unité de détecteur 16 qui se trouve sur le même premier circuit ASIC 25. Les signaux de la seconde unité de détecteur 17 de la seconde installation de réception 11 qui se trouve par exemple sur une puce externe, sont envoyés à la première unité de mesure de temps 20. Le premier circuit ASIC 25 comporte à cet effet une première entrée 29 et une première sortie 31. Le second circuit ASIC 27 comporte une seconde entrée 33 et une seconde sortie 35. Les entrées et sorties 29, 31, 33, 35 des deux circuits ASIC 25, 27 sont reliées par des lignes de réception 47, croisées. Les circuits ASIC 25, 27 sont également reliés à une uni- té d'exploitation 59. Cette unité est par exemple intégrée à l'un des circuits ASIC 25, 27. En variante, l'unité d'exploitation 59 est distincte des circuits ASIC 25, 27. L'unité d'exploitation 59 détermine à partir des mesures des temps de parcours TA, TB, Tc, TD et sous les différentes combinaisons des unités de détecteur 16, 17 et des unités de mesure 20, 21 pour déterminer à partir de là, les différences de temps de parcours AT. A l'aide des différences de temps de parcours AT, on pourra compenser les erreurs de temps de parcours, par exemple occasionnées par la température, pour le dispositif de mesure 1. Comme le montre la figure 2, chaque circuit ASIC 25, 27 comporte plusieurs unités de détecteur 16, 17, 18, 19 et plusieurs unités de mesure de temps 20, 21, 22, 23. Chaque unité de mesure de temps est associée à au moins une unité de détecteur. Dans l'exemple de réalisation de la figure 2, on a un premier commutateur 50 et un troisième commutateur 52 dans le premier circuit ASIC 25 ainsi qu'un second commutateur 51 et un quatrième commutateur 53 dans le second circuit ASIC 27. En plus, le premier circuit ASIC 25 comporte un premier multiplexeur 55 et le second circuit ASIC 27 comporte un se- cond multiplexeur 57. A l'aide du premier multiplexeur 55, on sélectionne par exemple une unité de détecteur dont les signaux sont fournis à la sortie du premier circuit ASIC 25. Cela permet de relier des combinaisons différentes de temps de parcours et d'unités de détecteur. Les multiplexeurs 55, 57 rendent inutiles des entrées et sorties supplémen- taires pour les unités de détecteur. Dans les exemples de réalisation des figures 1 et 2, les générateurs haute fréquence 37, 39 sont synchronisés en phase. Suivant la qualité de la synchronisation, on peut avoir de la gigue entre les générateurs haute fréquence 37, 39. La gigue doit être réduite au mini- mum car la modulation du rayonnement de mesure 6 pour les mesures A et D est déduite de l'installation d'émission de chaque fois l'autre circuit ASIC. Cela signifie qu'en mesurant le temps de parcours TA à l'aide de la première unité de détecteur 16 et de la première unité de mesure de temps 20, on commande la modulation du rayonnement 6 par la se- conde installation de capteur 5. De même, on commande la mesure du temps de parcours TD en utilisant la première unité de mesure de temps 20 et la seconde unité de détecteur 17 pour moduler le rayonnement de mesure 6 par la seconde installation d'émission 5. La synchronisation entre les deux générateurs haute fré- quence peut se réaliser côté basse fréquence ou côté haute fréquence. Une synchronisation haute fréquence est avantageuse pour la gigue entre les deux générateurs de fréquence 37, 39. La figure 3 montre un autre exemple de réalisation du dispositif de mesure 1 pour lequel à la fois l'installation de réception et l'installation d'émission ont le même circuit ASIC, ce qui élimine l'influence de la gigue entre les générateurs haute fréquence 37, 39 sur la mesure. Cela signifie que l'alternative de l'exemple de réalisation de la figure 3 permet d'utiliser l'installation d'émission déduite par le généra- teur haute fréquence du chemin de réception actif. Inversement, l'exemple de réalisation permet également d'utiliser l'installation d'émission qui n'est pas déduite du générateur haute fréquence du chemin de réception actif. Dans cette combinaison, on élimine l'influence de la diaphonie entre l'installation d'émission et l'unité de mesure de temps. Ainsi, dans l'exemple de réalisation de la figure 3, on a deux possibilités de combinaisons. D'une part, on peut compenser la diaphonie et d'autre part, on élimine le problème de la gigue. Cela se réalise par l'utilisation d'un commutateur de pi- lote laser 61 supplémentaire dans le chemin du pilote entre les circuits ASIC 25, 27 et le laser 43. Le commutateur de pilote laser 61 permet de sélectionner les circuits ASIC moteurs 25, 27 de sorte que pour les mesures A et D, on peut également échanger les installations d'émission 3, 5. Les mesures A, B, C, D peuvent se faire dans ce cas de manière séquentielle. Le commutateur de pilote laser 61 peut également com- muter au choix l'un des circuits ASIC 25, 27 et la partie fortement ohmique dans le circuit pilote. La figure 4 montre un exemple de réalisation supprimant le commutateur de pilote laser 61 de la figure 3. A la place de ce com- mutateur de pilote laser 61, à la figure 4, à côté du premier laser 43, on a un second laser 45. Les lasers 43, 45 peuvent être par exemple des diodes laser. Les lasers 43, 45 sont équidistants de l'objet cible 7 et de la cible de référence 65 par réglage. Les lasers 43, 45 fonctionnent non pas simultanément mais successivement de sorte que les mesures A, B, C, D sont faites séquentiellement. L'utilisation de deux lasers 43, 45 supprime la gestion d'un unique laser avec les deux sorties de pilote, commandées, notamment aux fréquences élevées. On évite ainsi que les capacités de puissance, supplémentaires, ne se répercutent sur la caractéristique de transmission. La figure 5 montre dans ses parties 5A, 5B le dispositif de mesure 1 lorsqu'un coulisseau mécanique 63 est intégré dans le chemin optique. La figure 5A montre le coulisseau 63 dans une première position et la figure 5B le montre dans une seconde position. Dans les exemples de réalisation des figures 5A, 5B, les chemins de réception optiques peuvent être échangés en conservant les différences de temps de parcours optiques vis-à-vis des unités de détecteur 16, 17. Ces différences de temps de parcours peuvent être appelées par exemple -cz et 'ri. Dans la première position du coulisseau 63 représentée à la figure 5A, le rayonnement 13 renvoyé par l'objet cible 7 arrive sur la première unité de détecteur 16 du premier circuit ASIC 25 ou la première installation de réception 9 et le rayonnement 15 renvoyé par la cible de référence 65 arrive sur la seconde unité de détecteur 17 du second circuit ASIC 27 ou la seconde installation de réception 11. Dans la seconde position du coulisseau 63 représentée à la figure 5B, le passage des rayons est inversé. Cela signifie que le rayonnement 13 renvoyé par l'objet cible 7 arrive sur la seconde unité de détecteur et le rayonnement 15 renvoyé par la cible de référence 65 arrive sur la première unité de détecteur 16. Les mesures A, B, C, D décrites ci-dessus peuvent dans ce cas être répétées pour la seconde position A', B', C', D' pour la seconde position du coulisseau. Les possibilités de combinaisons supplémentaires pour former la différence compensent dans ce cas la dérive différentielle de temps de parcours entre les lignes de réception croisées 47 comme cela a été décrit ci-dessus.25 1 17 NOMENCLATURE DES ELEMENTS PRINCIPAUX Dispositif de mesure 3, 5 Installation d'émission 9, 11 Installation de réception 13 Rayonnement de mesure 15 Rayonnement de référence 16, 17, 18, 19 Unité de détecteur 20, 21 Unité de mesure de temps 25, 27 Circuit intégré 29, 33 Entrée 31, 35 Sortie 37, 39 Générateur haute fréquence 41 Oscillateur 43, 45 Laser 47 Lignes de réception croisées 48 Ligne de synchronisation basse fréquence 49 Ligne de synchronisation 50, 51 Commutateur 52 Commutateur 55, 57 Multiplexeur 61 Commutateur de pilote laser 63 Coulisseau mécanique25 REVENDICATIONS1°) Dispositif de mesure (1) pour une mesure optique de distance et comprenant : une première installation d'émission (3) pour émettre un rayonne- ment de mesure optique (6) vers un objet cible (7), une première installation de réception (9) pour détecter le rayonnement (13) renvoyé par l'objet cible (7), une seconde installation de réception (11) pour détecter un rayonnement de référence (15) interne au dispositif, la première installation de réception (9) ayant une première unité de détecteur (16) et une première unité de mesure de temps (20), la seconde installation de réception (11) ayant une seconde unité de détecteur (17) et une seconde unité de mesure de temps (21), dispositif caractérisé en ce que la première unité de mesure de temps (20) est reliée sélectivement à la première unité de détecteur (16) et à la seconde unité de détecteur (17), et la seconde unité de mesure de temps (21) est reliée sélectivement à la première unité de détecteur (16) et à la seconde unité de détec- teur (17). 2°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce que la première unité de détecteur (16) et la seconde unité de détecteur (17) ont des diodes (SPAD), les diodes (SPAD) sont notamment réalisées chacune pour détecter des photons séparés qui induisent une impulsion électrique. 3°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 2, caractérisé en ce que les unités de détecteur (16, 17) mettent en corrélation les impulsions électriques à l'instant de la détection des photons respectifs et les fournissent à une unité de mesure de temps (20, 21) correspondante, comme signaux d'entrée,- les unités de mesure de temps (20, 21) transforment les signaux d'entrée en temps de parcours (TA, TB, Tc, TD). 4°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, comportant en outre un premier multiplexeur (55) qui relie sélectivement la première unité de mesure de temps (20) à la première unité de détecteur (16) et à la seconde unité de détecteur (17). 5°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce qu' il comprend un second multiplexeur (57) qui relie sélectivement la seconde unité de mesure (21) à la première unité de détecteur (16) et à la seconde unité de détecteur (17). 6°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce que la première installation d'émission (3), la première installation de réception (9) et la seconde installation de réception (11) sont intégrées dans un premier circuit intégré (25). 7°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce que la première installation de réception (9) est intégrée dans un premier circuit intégré (25) et la seconde installation de réception (11) est inté- grée dans un second circuit intégré (27). 8°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 7, caractérisé en ce que le premier circuit intégré (25) est identique au second circuit intégré (27). 9°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 8, caractérisé en ce quele premier circuit intégré (25) comporte un premier boîtier, le second circuit intégré (27) un second boîtier, le premier boîtier étant séparé du second boîtier. 10°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce qu' il comporte un oscillateur (41), une ligne de synchronisation haute fréquence (49) reliant la première unité de mesure (20) à l'oscillateur (41), la ligne de synchronisation haute fréquence (49) reliant la seconde unité de mesure de temps (21) à l'oscillateur (41). 11°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce qu' il comporte en outre une unité d'exploitation (59) qui détermine un premier temps de parcours (TA) en utilisant la première unité de détecteur (16) et la première unité de mesure de temps (20), l'unité d'exploitation (59) déterminant un second temps de parcours (TB) en utilisant la seconde unité de détecteur (17) et la seconde unité de mesure de temps (21). 12°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 11, caractérisé en ce que l'unité d'exploitation (59) détermine un troisième temps de parcours (Tc) en utilisant la première unité de détecteur (16) et la se- conde unité de mesure de temps (21), l'unité d'exploitation (59) déterminant un quatrième temps de parcours (TB) en utilisant la seconde unité de détecteur (17) et la première unité de mesure de temps (20). 13°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 11, caractérisé en ce que la détermination du premier et du second temps de parcours (TA, TB) se fait en parallèle.3514°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 12, caractérisé en ce que la détermination du troisième et celle du quatrième temps de parcours (Tc, TD) se font en parallèle. 15°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 14, caractérisé en ce que l'unité d'exploitation (59) détermine une différence de temps de parcours (AT) en formant la différence entre les temps de parcours (TA, TB, Tc, TD). 16°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 15, caractérisé en ce que l'unité d'exploitation (59) compense les erreurs de temps de parcours du dispositif de mesure (1) en se fondant sur la différence de temps de par- cours déterminée (AT). 17°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce qu' il comporte en outre une seconde installation d'émission (5), un com- mutateur de pilote laser (61) qui relient sélectivement un laser (43) à la première installation d'émission (3) et à la seconde installation d'émission (5). 18°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce qu' il comporte en outre une seconde installation d'émission (5), un premier laser (43) et un second laser (45), la première installation d'émission (3) gérant le premier laser (43) lorsque la première ins- tallation de mesure de temps (20) est reliée à la première unité de détecteur (16) ou à la seconde unité de détecteur (17), la seconde installation d'émission (5) gérant le second laser (45) lorsque la seconde unité de mesure de temps (21) est reliée à la première unité de détecteur (16) ou à la seconde unité de détecteur (17).19°) Dispositif de mesure (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce qu' il comporte en outre un coulisseau (63) qui dévie le rayonnement de référence (15) interne au dispositif vers la première installation de récep- tion (9), le coulisseau (63) déviant le rayonnement (13) renvoyé par l'objet cible (7) vers la première installation de réception (11). 20°) Appareil de mesure de distance, notamment télémètre laser comportant un dispositif de mesure selon au moins l'une des revendications 1 à 19. 21°) Procédé de compensation d'erreur de mesure d'un dispositif de mesure (1) selon l'une des revendications 1 à 19 comprenant les étapes suivantes consistant à: déterminer un premier temps de parcours (TA) du rayonnement (13) renvoyé par un objet (7) cible en utilisant une première unité de détecteur (16) et une première unité de mesure de temps (20), déterminer un second temps de parcours (TB) du rayonnement de référence interne au dispositif (15) en utilisant une seconde unité de détecteur (17) et une seconde unité de mesure de temps (21), déterminer un troisième temps de parcours (Tc) du rayonnement (13) renvoyé par l'objet cible (7) en utilisant la première unité de détecteur (16) et la seconde unité de mesure de temps (21), déterminer un quatrième temps de parcours (TB) du rayonnement de référence (15) interne au dispositif en utilisant la seconde unité de détecteur (17) et la première unité de mesure de temps (20), former la différence entre les temps de parcours (TA, TB, Tc, TD, T'A, T's, T'c, T'D) pour compenser les temps de parcours à l'aide d'une unité d'exploitation (59).30