FR 2990271 A1 20131108 FR 1254093 A 20120504 Contrôle par ultrasons laser de pièces à réflectivité spéculaire basé sur une détection à deux niveaux de sensibilité L'invention se rapporte au domaine général du contrôle de l'intégrité physique et mécanique d'une structure. Elle se rapporte en particulier au domaine du contrôle d'intégrité par Ultrasons Laser (Laser Ultrasonics ou Laser Based Ultrasounds selon la dénomination anglo-saxonne). Le principe du contrôle d'une structure par procédé ultrasons laser est un principe bien connu dont le détail n'est pas décrit ici. On rappelle simplement qu'il consiste à générer à la surface de la structure à mesurer une perturbation physique qui se traduit par la propagation dans la structure d'ondes ultrasonores qui ont pour effet de perturber temporairement l'état de surface de la structure analysée. Par suite, lorsque cette surface est éclairée par un signal lumineux de longueur d'onde donnée, la propagation jusqu'à la surface de la structure des ondes ultrasonore consécutives à la perturbation physique générée dans la structure, se traduit par un décalage (décalage doppler) entre la longueur d'onde du signal lumineux reçu par la surface de la structure et la longueur d'onde du signal lumineux réfléchi par cette même surface. Ce décalage doppler est ici utilisé pour déterminer, de manière connue, l'état interne de la structure à contrôler. La lumière réfléchie renseigne ainsi, de manière connue sur les déformations provoquées par la propagation dans le matériau des ultrasons générés pour les besoins de la mesure. La lumière collectée est ensuite dirigée, de manière connue également, vers un interféromètre dont la réponse est analysée par des photodétecteurs. Lors du contrôle d'une structure par procédé ultrasons laser, il est encore connu qu'un critère dimensionnant pour la qualité de la mesure réalisée est la réflectivité de la surface de la structure contrôlée. En effet un tel contrôle est réalisé avec des moyens de collection situés à une distance relativement importante de la pièce, de l'ordre de plusieurs dizaines de centimètres par exemple. Cette réflectivité se caractérise par un diagramme de directivité propre à la surface considérée, pour la longueur d'onde du laser utilisé pour réaliser cette mesure. La lumière émise par le système de mesure est réfléchie par la surface, de façon plus ou moins spéculaire selon la nature (matériau) et l'état (rugosité) de la surface. Par suite, pour réaliser la détection des ultrasons, il est nécessaire de collecter une quantité suffisante de cette lumière réfléchie. Cependant, dans le cas d'une réflexion essentiellement spéculaire, la quantité de lumière reçue par le système et transmise aux détecteurs par l'interféromètre peut provoquer une saturation de ces derniers, ce qui engendre des erreurs sur la mesure de l'intensité du signal lumineux fourni par l'interféromètre aux photodétecteurs, signal lumineux dont l'intensité est fonction de l'écart de longueur d'onde mentionné précédemment. Ainsi lorsque l'on réalise une cartographie de l'état de la structure complète, cartographie construite sur l'ensemble des mesures réalisées en différents endroits, celle-ci peut apparaître entachée d'erreurs de mesures en certains endroits, ce qui ne permet pas de délivrer un diagnostic fiable sur l'ensemble de la structure. C'est pourquoi on cherche à minimiser les erreurs de mesure consécutives à une saturation des photodétecteurs ou tout au moins à identifier les mesures erronées de façon à ne pas les prendre en compte dans le diagnostic global, diagnostic basé sur la cartographie réalisée point par point. Une solution connue pour résoudre ce problème de variation de l'intensité du signal reçu en fonction de l'endroit de la mesure, consiste à employer un laser de mesure dont la puissance d'émission est asservie sur une mesure d'intensité lumineuse réalisée à l'entrée de l'interféromètre. Cependant, dans le cas d'une surface très spéculaire, même à 30 puissance d'émission minimale, il peut arriver que, pour certaines positions, certains endroits de la surface de la structure contrôlée, les photodétecteurs soient néanmoins saturés, ce qui rend la mesure réalisée à l'endroit considéré difficilement exploitable voire complètement inexploitable. De plus, le temps de réaction du modulateur de puissance peut parfois provoquer des 35 perturbations (effet de retard) dans l'asservissement en puissance, le temps 2 9902 71 3 que la puissance passe de la valeur pour laquelle on a une saturation à une valeur appropriée plus faible. La demande de brevet français N°1159346 déposé le 17/10/2011 par la demanderesse décrit et revendique un dispositif comportant deux moyens 5 de collection distincts et orientés différemment ce qui permet, en cas de réflexion spéculaire sur un des moyens de collection d'exploiter le signal réfléchi sur l'autre moyen, ce signal étant par principe le résultat d'une réflexion non spéculaire. Ce type de dispositif présente cependant l'inconvénient que l'un au moins des deux moyens n'est pas placé dans l'axe 10 du faisceau incident. Les deux faisceaux collectés présentent donc un seul point d'intersection. Par suite, les deux moyens de collection réalisent des mesures pour des positions d'autant plus décalées que la distance de mesure est plus grande. 15 Un but de l'invention est de proposer une solution matérielle pour résoudre le problème lié à l'existence, lors d'une mesure par ultrasons laser, d'une variation de la réflectivité de la surface de la structure analysée, variation qui rend difficile l'optimisation de l'intensité du faisceau de mesure émis et qui peut conduire à la saturation du ou des détecteurs utilisés par le 20 système de contrôle par ultrasons laser mis en oeuvre pour l'analyse. Un autre but de l'invention est de proposer une méthode pour établir une cartographie de l'état physique et mécanique d'une structure donnée, méthode utilisant la solution matérielle proposée. 25 A cet effet l'invention a pour objet un système de mesure par ultrasons laser permettant de réaliser le contrôle d'intégrité d'une structure qui , comporte des moyens pour générer un faisceau laser incident, ledit faisceau étant dirigé sur une surface externe de la structure, des moyens pour capter et focaliser le signal lumineux réfléchi par l'élément de surface éclairé par le faisceau laser incident, des moyens pour générer, à partir du signal reçu, un signal lumineux filtré, de même longueur d'onde que le signal réfléchi, dont l'intensité est fonction du décalage de longueur d'onde entre le faisceau laser incident et le signal lumineux réfléchi par la structure, ainsi que des moyens pour réaliser la détection de ce signal filtré et produire un signal électrique dont l'amplitude est fonction de l'intensité du signal lumineux filtré. Selon l'invention, le système de mesure comporte en outre des moyens pour diviser le signal lumineux réfléchi reçu en deux signaux lumineux secondaires présentant des intensités différentes l'un des signaux lumineux produits ayant une intensité sensiblement plus faible que l'autre, chaque signal produit faisant l'objet d'une détection séparée. Selon une variante de réalisation avantageuse les moyens pour diviser le signal lumineux réfléchi par la surface de la structure ou le signal filtré produit par l'interféromètre sont constitués par une lame semi10 réfléchissante Selon une autre variante avantageuse, la lame semi-réfléchissante présente un rapport transmission/réflexion qui se situe, en pourcentage, dans la plage 10/90 à 25/75. 15 Selon une autre variante de réalisation avantageuse, les deux détecteurs constituant le système présentent des bandes passantes et des sensibilités sensiblement identiques. 20 Selon une autre variante de réalisation avantageuse, les signaux lumineux sont transmis d'un élément à l'autre du système par l'intermédiaire de fibres optiques. Selon une forme de réalisation particulière, dans lequel les moyens 25 pour diviser le signal lumineux reçu sont placés en amont des moyens de collection dudit signal, le système selon l'invention comporte deux chaines de mesures distinctes, chaque chaine de mesure comportant un interféromètre sur lequel est dirigé un des signaux lumineux secondaires produits et dont la sortie est reliée à un détecteur dédié qui délivre un signal électrique fonction 30 du signal lumineux filtré délivré par l'interféromètre. Selon une autre forme de réalisation, le système selon l'invention comporte un interféromètre unique placé juste en aval des moyens de collection du signal réfléchi et à la sortie duquel sont raccordés les moyens 35 pour diviser le signal lumineux filtré produit par l'interféromètre, chacun des signaux lumineux secondaires délivrés par ces moyens étant appliqué à l'entrée d'un détecteur dédié qui délivre un signal électrique fonction du signal lumineux secondaire considéré. L'invention a également pour objet un procédé pour réaliser un relevé cartographique de l'état d'intégrité d'une structure par technique d'ultrasons laser au moyen du système de contrôle selon l'invention. Le procédé, comporte à cet effet : - une première étape d'acquisition de données durant laquelle on 10 positionne le système de mesure en différents points de la surface extérieure de ladite structure et on mémorise pour chaque point de contrôle les signaux électriques de mesure fournis par les deux détecteurs Dl et D2 du système ; - une seconde étape d'établissement de la carte des relevés de mesures durant laquelle on détermine pour chaque point si la mesure 15 réalisée par le détecteur Dl correspond à une saturation dudit détecteur puis on affecte à ce point soit la mesure fournie par le détecteur Dl si aucune saturation n'est détectée, soit la mesure fournie par le détecteur D2 dans le cas le détecteur Dl apparait saturé pour le point considéré ; chaque point contrôlé étant ainsi associé à une mesure unique. 20 Les caractéristiques et avantages de l'invention seront mieux appréciés grâce à la description qui suit, description qui s'appuie sur les figures annexées qui présentent: 25 - la figurel , une représentation schématique du système de mesure selon l'invention dans une première forme de réalisation; - la figure 2, une représentation schématique du système de mesure selon l'invention dans une seconde forme de réalisation; - la figure 3, un organigramme de principe d'un procédé de 30 cartographie mettant en oeuvre le système de mesure selon l'invention. Il est à noter que, quelle que soit la figure, un même objet porte toujours le même repère alphabétique ou numérique. La description détaillée qui suit présente deux formes de réalisation du système selon l'invention. Ces deux formes de réalisation sont présentées ici de manière à faciliter la compréhension de l'invention. Elles ne doivent nullement être considérées comme étant de nature à limiter le champ ou la portée de l'invention de quelque façon que ce soit. Le système selon l'invention permet de réaliser simultanément une mesure en un point donné avec deux niveaux d'intensité de lumière réfléchie différents. Pour ce faire il comporte deux voies de mesure du signal lumineux 10 issu de la réflexion du signal de référence émis par le système vers la surface de la structure, chaque voie étant associée à un détecteur particulier. Selon l'invention, ces deux voies de mesure sont agencées de façon à recevoir des proportions différentes du signal lumineux réfléchi par la surface de la structure à analyser. A cet effet deux signaux lumineux secondaires, 15 d'intensités différentes, sont générés à partir du signal de mesure réfléchi par la surface de la structure au moyen d'un dispositif optique diviseur de puissance approprié. Un des signaux secondaires est transmis à une voie et l'autre à l'autre voie. On dispose ainsi d'une voie de mesure fonctionnant à intensité 20 maximale, qui reçoit la plus grande partie du signal lumineux réfléchi (i.e. le signal secondaire de plus forte intensité), et d'une voie de mesure fonctionnant à intensité atténuée, qui reçoit l'autre partie du signal lumineux réfléchi (i.e. le signal secondaire de plus faible intensité). De la sorte, si le signal réfléchi par la surface de la structure provient d'une réflexion 25 spéculaire, le signal secondaire traité par la voie de mesure à intensité maximale risque de saturer le détecteur associé à cette voie, alors que le signal secondaire traité par l'autre voie de mesure, à intensité atténuée, sera en dehors du domaine de saturation du détecteur de cette voie. On obtiendra ainsi au moins une mesure exploitable. 30 Chaque voie comporte en outre un dispositif optique discriminateur de longueur d'onde qui produit un signal lumineux dont l'intensité est fonction de la longueur d'onde du signal d'entrée. Chaque voie comporte également un dispositif détecteur dont le rôle est de transformer le signal lumineux produit par le dispositif discriminateur 2 9902 71 7 en un signal électrique dont l'amplitude est fonction de l'intensité de ce signal lumineux qui lui est appliqué. Les signaux électriques produits par les deux détecteurs associés à chacune des deux voies sont numérisés et stockés en mémoire. Les 5 données mémorisées sont notamment utilisées pour établir, point par point, une cartographie de la surface de la structure et déterminer si celle-ci présente des anomalies, et le cas échéant, à quel(s) endroit(s). La figure 1 illustre une première forme de réalisation. Selon cette forme de réalisation, le système selon l'invention comporte des moyens d'émission d'un faisceau lumineux et deux voies de mesure entièrement distinctes, alimentées par les signaux lumineux délivrés par un dispositif capable de diviser le signal lumineux qu'il reçoit, le signal réfléchi par la surface de la structure analysée ici, en deux signaux lumineux secondaires présentant des spectres identiques mais des intensités différentes. La voie d'émission est constituée par une source lumineuse 31, monochromatique, une source laser par exemple, émettant un faisceau lumineux (faisceau laser) 32 sur un point M de la surface de la structure analysée 41. Ce faisceau lumineux est réfléchi par la surface 41 ainsi éclairée suivant différentes directions matérialisées par les flèches 34 sur la figure 1. Ces directions sont fonction principalement de l'état de surface de la surface 41 au niveau du point éclairé par la source 31. Le dispositif optique diviseur est, par exemple, une lame semiréfléchissante 35. Selon un mode de réalisation préféré, cette lame est agencée de façon à intercepter le faisceau lumineux 33 réfléchi dans l'axe d'éclairement 36 et à transmettre une partie de l'intensité du signal lumineux intercepté vers une des voies de traitement, la voie 1 sur l'illustration de la figure 1, l'autre partie étant réfléchie vers l'autre voie, la voie 2 ici. Selon l'invention la lame semi-réfléchissante est conçue de façon à transmettre la plus grande part de l'intensité du faisceau intercepté 33 (i. e. le signal réfléchi dans la direction de l'axe d'éclairement 36) et à ne réfléchir 35 vers la voie 2 qu'une plus faible part de cette intensité. Selon une forme de réalisation préférée, le rapport de l'intensité réfléchie à l'intensité transmise est typiquement compris en pourcentage entre 10/90 et 25/75. Chacune des deux voies de mesure comporte, en aval du dispositif optique diviseur (35), un dispositif de collection et de collimation du faisceau lumineux (signal secondaire) correspondant à la portion du faisceau réfléchi, 33, qui lui est destinée. Ce dispositif est par exemple, comme illustré par la figure 1, une lentille convergente 11 ou 21. Il est à noter que les optiques de collection 11 et 21, bien que 10 spatialement décalées l'une de l'autre, reçoivent chacune avantageusement un signal provenant d'un même point de mesure M. Chaque voie comporte également un dispositif interféromètre 12 ou 22 qui joue le rôle de cavité optique résonante et dont le rôle consiste, de 15 manière connue à moduler sélectivement l'intensité du signal lumineux secondaire qui le traverse en fonction de la longueur d'onde de ce signal. Chacune des lentilles 11 et 21 transmet le signal lumineux collecté à l'interféromètre 12 ou 22 auquel elle est associée, par l'intermédiaire d'une fibre optique 14 ou 24 par exemple. 20 Chacun des interféromètres 12 et 22 utilisés ici est configure de façon à délivrer en sortie un signal lumineux dont l'intensité varie de manière linéaire autour d'une valeur nominale en fonction de la longueur d'onde du signal entrant, la valeur nominale étant par exemple obtenue lorsque la longueur d'onde du signal entrant est égale à celle du signal formant le 25 faisceau lumineux 32 émis par la source 31. Selon l'invention, les interféromètres utilisés pour chacune des voies présentent préférentiellement des caractéristiques fonctionnelles (courbes de réponse en fréquence) sensiblement identiques. 30 Chacune des voies de mesure comporte encore un dispositif photodétecteur 13 ou 23, dont la fonction consiste classiquement à convertir le signal lumineux appliqué sur son entrée, ici le signal lumineux délivré par l'interféromètre 12 ou 22 auquel il est connecté, par l'intermédiaire d'une fibre optique 15 ou 25 par exemple, en un signal électrique, dont la tension est 35 fonction de l'intensité du signal lumineux entrant par exemple. Chacun des deux détecteurs délivre ainsi un signal électrique de mesure (mesure 1 ou mesure 2) qui peut être numérisé et stocké classiquement dans une mémoire tampon non représentée sur la figure1. Selon l'invention, les détecteurs utilisés pour chacune des voies 5 présentent préférentiellement des caractéristiques fonctionnelles (bande passante et sensibilité notamment) sensiblement identiques. Cette première forme de réalisation, dans laquelle les deux voies de mesure sont complètement séparées permet de mettre en évidence 10 l'avantage présenté par l'invention, notamment par rapport au système à double collection évoqué précédemment. Ici le signal réfléchi collecté est le même signal pour les deux voies, de sorte que ces dernières observent systématiquement le même point de la surface. Cependant, la structure matérielle du système selon l'invention peut être simplifiée, notamment en 15 mutualisant certains des dispositifs entrant dans la composition de chacune des voies de mesure. La figure 2 présente une seconde forme de réalisation dans laquelle une telle mutualisation a été effectuée. 20 Dans la forme de réalisation illustrée par la figure 2, le système selon l'invention comporte des moyens d'émission constitués comme précédemment par une source lumineuse 31, monochromatique, une source laser par exemple, émettant un faisceau lumineux (faisceau laser) 32 sur un point M de la surface de la structure analysée 41. 25 Dans cette forme de réalisation, le système comporte également un dispositif unique de capture et de collimation du faisceau réfléchi 33 par la surface 41 de la structure. Ce dispositif est par exemple, comme précédemment, une lentille convergente 11 qui transmet le faisceau réfléchi 30 intercepté à un interféromètre unique 42, qui présente des caractéristiques fonctionnelles semblables à celles des interféromètres 12 et 22 du mode de réalisation précédent, illustré par la figure 1, par l'intermédiaire d'une liaison par fibre optique 14 par exemple. Dans cette forme de réalisation également, le signal produit par l'interféromètre 42, signal dont l'intensité est fonction de la longueur d'onde du signal réfléchi 33, est transmis à un dispositif diviseur constitué par une lame semi-réfléchissante 43 présentant des caractéristiques sensiblement identiques à celles de la lame semi-réfléchissante 35 de la forme de réalisation de la figure 1. Le signal lumineux transmis par cette lame semi-réfléchissante 43 (signal secondaire de plus forte intensité) est appliqué à l'entrée d'un premier détecteur photoélectrique 13, D1, par l'intermédiaire d'une fibre optique 15 par exemple, tandis que le signal réfléchi par cette même lame (signal secondaire de plus faible intensité) est appliqué à l'entrée d'un second détecteur photoélectrique 23, D2, par l'intermédiaire d'une fibre optique 25 par exemple. Ainsi, comme dans l'exemple de réalisation précédent, illustré par la 15 figure 1, chacun des deux détecteurs D1 et D2 délivre un signal électrique de mesure (mesure 1 ou mesure 2) qui peut être numérisé et stocké classiquement dans une mémoire tampon. Selon l'invention, les détecteurs utilisés ici pour chacune des voies présentent préférentiellement des caractéristiques fonctionnelles (bande 20 passante et sensibilité notamment) sensiblement identiques. Avantageusement, dans cette seconde forme de réalisation, la division en deux signaux secondaires du signal lumineux réfléchi par la surface de la structure 41 et capté par le système étant réalisée seulement en aval de 25 l'interféromètre 42, chacune des voies de mesure ne comporte donc en propre qu'un détecteur (D1 ou D2 respectivement), les autres éléments nécessaires à cette détection étant communs aux deux voies. Par conséquent une telle structure dans laquelle les deux voies de mesure mutualisent des ressources présente l'avantage, par rapport à la structure de 30 l'exemple de réalisation précédent, d'être d'une réalisation plus simple, et par suite moins coûteuse, tout en offrant des avantages semblables par rapport aux systèmes connus de l'art antérieur. En particulier le signal réfléchi collecté, 35, est, dans ce cas aussi, le même signal pour les deux voies, de sorte que ces dernières observent systématiquement le même point de la 35 surface. En revanche une telle structure implique que les voies de mesure soient nécessairement identiques de sorte qu'aucun réglage séparé des voies n'est possible. Le système de mesure selon l'invention présente donc pour avantage de permettre l'obtention simultanée pour chaque point de la surface de la structure analysée de deux mesures 17 et 27, à partir d'un même signal lumineux réfléchi 35 par la surface 41 au point considéré, pour deux niveaux d'intensité sensiblement distincts, de sorte que même si la mesure réalisée avec l'intensité la plus forte est erronée du fait de la saturation du détecteur ayant réalisé la mesure (Dl), la mesure réalisée avec l'intensité la plus faible à de grande chance d'être exploitable, le détecteur correspondant (D2) n'étant, dans la plupart des cas, pas saturé. Un tel système permet donc avantageusement de rendre plus fiable l'établissement, pour une structure dont l'intégrité ou la régularité est analysée par technique d'ultrasons laser, d'une cartographie des zones analysées. En effet, une telle cartographie est généralement réalisée en effectuant de manière systématique, point par point, des mesures en différents points de la surface de la structure et en mémorisant chacune des mesures effectuées, chaque mesure mémorisée étant dépouillée après acquisition complète de l'ensemble des mesures. Par suite, l'analyse étant généralement différée, lorsqu'on utilise un système de mesure classique, ne comportant par exemple qu'une voie de mesure, si certaines des mesures réalisées s'avèrent erronées du fait de la saturation du capteur ayant réalisé ces mesures, la cartographie réalisée ne rend compte qu'incomplètement de l'état d'intégrité de la structure, aucune mesure valable n'étant disponible pour les endroits de la structure correspondants. On obtient une cartographie « mitée ». En revanche si l'on utilise un système de mesure selon l'invention on dispose avantageusement, pour chaque point, de deux mesures distinctes réalisées pour des intensités de signal réfléchi sensiblement différentes de sorte que, si pour un point donné une des mesures apparait comme erronée, l'autre mesure est généralement bonne. On dispose ainsi toujours d'une mesure correcte pour chaque point de la surface de la structure analysée. La cartographie des intensités du signal mesuré, c'est-à-dire la cartographie des états de surface de la structure, obtenue est ainsi toujours complète. La figure 3 présente l'organigramme de principe d'un procédé pour établir une telle cartographie en utilisant le système de mesure selon l'invention. Comme l'illustre la figure 3, le procédé comporte les étapes suivantes : - Une première étape 51 d'acquisition de mesures en un point donné de la surface de la structure, cette étape mettant en oeuvre le système selon l'invention. Cette étape est répétée pour chaque mesure réalisée en un point de la surface, jusqu'à ce que l'ensemble de la surface à analyser ait été couverte ; le point éclairé par la source 31 étant différent d'une itération à l'autre. Les mesures obtenues pour chaque point de mesure (i.e. chaque itération) sont stockées dans les tables correspondantes 54 et 55. - une deuxième étape 52 durant laquelle on élabore la carte des valeurs mesurées. Cette deuxième étape est implémentée de manière itérative pour chaque point de mesure jusqu'à ce que l'ensemble des mesures mémorisées lors de l'étape précédente aient été exploitées. A chaque itération on effectue une analyse 521 de la mesure du signal électrique délivré par le détecteur D1 qui reçoit le signal lumineux de plus forte intensité et on effectue la comparaison 522 de cette valeur à une valeur limite au-delà de laquelle on considère que le détecteur est saturé, saturation qui rend la mesure incertaine. Par suite, si la valeur analysée est inférieure à ce seuil de saturation on considère que la mesure réalisée par D1 est bonne et on stocke cette mesure dans la table 53 prévue à cet effet, table qui à chaque point de mesure attribue une mesure d'intensité. En revanche si une saturation du détecteur D1 est détectée (atteinte du seuil) la mesure fournie par D1 est considérée comme erronée et on stocke dans la table 53 la mesure fournie par le détecteur D2 qui reçoit le signal lumineux de plus faible intensité. REVENDICATIONS1. Système de mesure par ultrasons laser, pour contrôle d'intégrité d'une structure, comportant des moyens pour générer un faisceau laser incident (31), ledit faisceau étant dirigé sur une surface externe (41) de la structure, des moyens (11, 21) pour capter et focaliser le signal lumineux réfléchi par l'élément de surface éclairé par le faisceau laser incident (32), des moyens (12, 22) pour générer, à partir du signal reçu, un signal lumineux filtré, de même longueur d'onde que le signal réfléchi, dont l'intensité est fonction du décalage de longueur d'onde entre le faisceau laser incident (32) et le signal lumineux (33) réfléchi par la structure, ainsi que des moyens (15, 25) pour réaliser la détection de ce signal filtré et produire un signal électrique (17, 27) dont l'amplitude est fonction de l'intensité du signal lumineux filtré ; caractérisé en ce qu'il comporte en outre des moyens (35) pour diviser le signal lumineux réfléchi (33) reçu en deux signaux lumineux secondaires présentant des intensités différentes l'un des signaux lumineux produits ayant une intensité sensiblement plus faible que l'autre, chacun des signaux secondaires produits faisant l'objet d'une détection séparée. 2. Système selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens (35) pour diviser le signal lumineux reçu (33) étant placé en amont des moyens de collection (11, 21) dudit signal, il comporte deux chaines de mesures distinctes, chaque chaine de mesure comportant un interféromètre (12, 22) sur lequel est dirigé un des signaux lumineux secondaires produits et dont la sortie est reliée à un détecteur dédié (15, 25) qui délivre un signal électrique fonction du signal lumineux filtré délivré par l'interféromètre (12, 22). 3. Système selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comporte un interféromètre unique (42) placé juste en aval des moyens de collection (11) du signal réfléchi et à la sortie duquel sont raccordés les moyens (43) pour diviser le signal lumineux filtré produit parl'interféromètre, chacun des signaux lumineux secondaires délivrés par ces moyens (43) étant appliqué à l'entrée d'un détecteur dédié (13, 23) qui délivre un signal électrique (17, 27) fonction du signal lumineux secondaire considéré. 4. Système selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que les moyens (35, 43) pour diviser en deux signaux secondaires le signal lumineux (33) réfléchi par la surface (41) de la structure, ou le signal filtré produit par l'interféromètre (42), sont constitués par une lame sem i-réfléchissante. 5. Système selon la revendication 4, caractérisé en ce que la lame sem i-réfléchissante (35, 43) présente un rapport transmission/réflexion qui se situe, en pourcentage, dans la plage 10/90 à 25/75. 6. Système selon l'une quelconque des revendications 2 à 5, caractérisé en ce que les deux détecteurs (13, 23) constituant le système présentent des bandes passantes et des sensibilités sensiblement identiques. 7. Système selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que les signaux lumineux sont transmis d'un élément à l'autre du système par l'intermédiaire de fibres optiques (14, 15, 25). 8. Procédé pour réaliser un relevé cartographique de l'état d'intégrité d'une structure par technique d'ultrasons laser au moyen du système de contrôle selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce qu'il comporte : - une première étape (51) d'acquisition de données durant laquelle on positionne le système de mesure en différents points de la surface extérieure de ladite structure et on mémorise (54, 55) pour chaque point de contrôle les signaux électriques de mesure fournis par les deux détecteurs Dl et D2 du système ;- une seconde étape (52) d'établissement de la carte des relevés de mesures durant laquelle on détermine pour chaque point si la mesure réalisée par le détecteur Dl correspond à une saturation dudit détecteur puis on affecte à ce point soit la mesure fournie par le détecteur Dl si aucune saturation n'est détectée, soit la mesure fournie par le détecteur D2 dans le cas le détecteur Dl apparait saturé pour le point considéré ; chaque point contrôlé étant ainsi associé à une mesure unique stockée dans une table (53).