FR 2885714 A1 20061117 FR 0504837 A 20050513 Procédé et système d'évaluation d'une contrainte d'une cellule séquentielle. L'invention concerne la caractérisation d'une cellule séquentielle, et plus particulièrement la caractérisation de contraintes de la cellule que sont le temps d'établissement et le temps de maintien des données. Chaque cellule se caractérise par sa topologie et par un ensemble de contraintes c'est-à-dire un ensemble de conditions que doit remplir la cellule. Ces cellules et leurs contraintes sont contenues dans un fichier de caractérisation de librairie standard de caractérisation. Les cellules séquentielles ne concernent que 15% de la librairie totale, mais demandent un de temps de simulation trois fois plus important que les cellules combinatoires qui repré;entent pourtant 85% de la librairie, lors de la détermination des valeur; de contraintes les concernant. Cette durée de simulation est d'autant plus conséquente que chaque caractérisation dépend d'une condition extérieure dite PVT ( Process, Voltage, Temperature en langue anglaise gour procédé, tension, température ). Il est alors nécessaire de déterminer une valeur de contrainte pour chaque valeur de condition extérieure. I1 s'avère donc très difficile de caractériser une cellule séquentielle par des simulations exhaustives, étant donné qu'une dizaine d'heures de simulation est nécessaire pour déterminer la valeur d'une contrainte d'une unique cellule et pour une Par ailleurs, les nouvelles technologies utilisées 90 nm et en deçà, sont très sensibles à la valeur des rampes des signaux d'entrée de la cellule séquentielle, si bien que pour deux valeurs différentes de 30 rampe, la valeur de la contrainte sera différente. Par cDnséquent pour avoir une valeur exacte de la contrainte, il est nécessaire de tenir compte de la valeur des rampes des signaux d'entrée de la cellule séquentielle, ce qui multiplie d'autant plus le nombre de simulations à effectuer. Il existe donc une forte demande pour réduire cette durée de simulation. La demande de brevet américain US 2004/0199888 propose de diminuer le nombre d'itérations nécessaires pour chaque valeur de contrainte. Ces simulations sont effectuées à l'aide d''ine méthode de dichotomie qui consiste à optimiser un intervalle à l'intérieur duquel se trouve ladite valeur de contrainte jusqu'à ce que cet intervalle atteigne une valeur suffisamment petite, pour que l'on puisse assimiler sa valeur médiane à la valeur de contrainte en ne con- mettant qu'une erreur minime. De façon à limiter le nombre d'itérations effectuées pour atteindre la valeur de la contrainte, la demande de b -evet américain présente une méthode permettant de mesurer approximativement la valeur de la contrainte à l'aide d'un temps de propagation choisi, pour en déduire un intervalle de simulation restreint autour de cette valeur approximative. Ainsi, le nombre d'itérations nécessaire:; pour atteindre la valeur de la contrainte est moindre étant donné que l'intervalle est préalablement optimisé. Cependant, même si cette méthode permet de réduire le nombre d'itérations, elle reste très complexe et particulièrement lourde à mettre en oeuvre. En effet, elle nécessite, pour calculer le temps de contrainte, de déterminer des délais de propagation point par point pour chaque porte de la cellule séquentielle à caractériser. Le temps de caractérisation de la cellule est obtenu ensuite à l'aide d'une formule classique, bien connue de l'homme du métier. Par conséquent, cette méthode nécessite une connaissance très précise de la structure de la cellule séquentielle à caractériser. L'invention vise à apporter une solution plus satisfaisante aux problèmes de la caractérisation des cellules séquentielles. Selon un premier aspect de l'invention, il est proposé un procédé d'évaluation d'une contrainte d'une cellule séquentielle apte à échantillonner une donnée d'entrée cadencée par un signal d'horloge, ladite contrainte étant fonction de la rampe d'un premier signal et de la rampe d'un deuxième signal, ces deux signaux étant délivrés à la cellule séquentielle et comportant ledit signal d'horloge. En outre, ladite contrainte appartient au groupe formé par le temps d'établissement et le temps de maintien de la donnée. La cellule séquentielle peut être par exemple une bascule ( flip-flop en langue anglaise) à un ou plusieurs étages. Le temps d'établissement de la donnée ( set-up time en langue anglaise) représente la durée minimale pendant laquelle les données doivent être stables avant le front actif de l'horloge. Le temps de maintien de la donnée ( hold ti ne en langue anglaise) est le temps minimal pendant lequel la donnée présente sur l'entrée doit rester stable après le front actif de l'horloge pour que cette donnée soit reconnue. Selon une caractéristique générale de cet aspect de l'invention, le procédé comporte une phase de caractérisation comprenant: une première étape de détermination dans laquelle on fixe une valeur de la deuxième rampe, on fait varier la valeur de la première rampe pour déterminer par simulation en utilisant un modèle de la cellule, un premier ensemble de valeurs de la contrainte, - une deuxième étape de détermination dans laquelle on fixe 30 la valeur de la première rampe à l'une de ses valeurs prise lors de la première étape de détermination, Dn fait varier la valeur de la deuxième rampe pour déterminer pour chaque valeur de la deuxième rampe un écart par rapport à la valeur de la contrainte appartenant audit premier ensemble et correspondant à ladite valeur fixée de la première rampe, - une troisième étape de calcul dans laquelle on calcule les valeurs de la contrainte pour toutes les valeurs de la première rampe et de la deuxième rampe, en ajoutant les différents écarts obtenus aux valeurs dudit premier ensemble de valeurs. En d'autres termes, au lieu d'effectuer une série d'itérations pour l'ensemble des valeurs de contraintes à déterminer, le premier aspect de l'invention propose de calculer les valeurs des contraintes pour une première série de valeurs en faisant varier la rampe d'un signal. Puis, en faisant varier les valeurs de la rampe du deuxième signal pour une valeur fixée de la rampe du premier si final, on calcule l'écart séparant la valeur de contrainte commune aux deux étapes et les valeurs de contraintes correspondant à chaque valeur de rampe du deuxième signal. Finalement, on reporte cet écart sur les valeurs de contraintes de la première série de façon à déterminer l'ensemble des valeurs de contraintes par une simple translation. En effet, les inventeurs ont observé que quelles que soient les valeurs de la rampe du premier signal, l'écart entre cieux valeurs de contraintes pour deux valeurs de rampe du deuxiime signal est constant. Cette propriété découle de plusieurs observations. Tout d'abord, à partir d'équations, les inventeurs sont arrivés à la conclusion que seuls les inverseurs d'entrée d'une celli:le séquentielle, présents dans toutes les cellules séquentielles, de la plus simple à la plus complexe, influent sur la variation de la valeur de la contrainte. Par conséquent, en s'attachant uniquement aux signaux délivrés à ces 10 deux inverseurs, on peut déterminer très précisément la valeur de la contrainte. Il n'est donc pas nécessaire de mesurer les temps de propagation pour chaque porte logique interne de la cellule séquentielle. Le procédé selon ce premier aspect de l'invention permet donc de limiter le nombre de simulations. En outre, ce procédé permet de considérer la cellule séquentielle à caractériser comme une boîte noire , c'est-à-dire qu'il n'est plus nécessaire de considérer chacun de ses composants. La première étape de détermination du procédé peut comporter une simulation par dichotomie. Le procédé selon le premier aspect de l'invention est alors particulièrement avantageux. Il peut notamment être appliqué à tout type de cellule séquentielle. Selon un premier mode de réalisation, la détermination d'un écart peut comporter la détermination par simulation d'une valeur de contrainte correspondant à une autre valeur de la deuxième rampe, et la différence entre ladite valeur de contrainte associé: à cette autre valeur de la deuxième rampe et la valeur de la contrainte associée à ladite valeur de la deuxième rampe fixée dans la première étape de détermination. En d'autres termes, on procède dans cette deuxième étape de détermination comme dans la première étape de simulation, c'est-à-dire que l'on détermine un ensemble de valeurs de contraintes tout en faisant varier la valeur de la deuxième rampe, et en ayant fixé la valeur de la première rampe à l'une des valeurs prise di.ns la première étape de détermination. Selon un autre mode de mise en oeuvre, la détermination des écarts comporte les mesures respectives des valeurs J'une variable temporelle de ladite cellule dépendant de la nature du deuxième signal, obtenues à partir dudit modèle de cellule pour les valeurs respectives de la deuxième rampe. En d'autres termes, en mesurant une variable:emporelle bien choisie, on obtient directement les écarts utilisés pour déterminer l'ensemble des valeurs de contraintes. Par exemple, lorsque le deuxième signal est le signal d'horloge, la variable temporelle peut correspondre la différence, entre deux délais pour deux valeurs de rampe du signal d'horloge, chaque délai correspondant au temps écoulé entre le Front d'horloge suivant immédiatement le front d'une donnée délivrée en entrée, et le front de ladite donnée générée en sortie. Par contre, lorsque le deuxième signal est diff rent du signal d'horloge, la variable temporelle peut correspondre a la moitié du produit entre un paramètre caractéristique de la technologie et la rampe du deuxième signal délivrée à la deuxième cellule séquentielle. Le deuxième signal peut appartenir à un ensemble de signaux comprenant le signal de validation ainsi que les signaux de mise à zéro et de mise à un de la cellule séquentielle. Selon un mode de mise en oeuvre de l'invention, pour chaque simulation de la phase de caractérisation, on mesure un temps de propagation de référence correspondant au temps écoulé entre le front d'horloge suivant immédiatement le front d'une donnée délivrée en entrée et le front de ladite donnée générée en sortie. Puis, on détermine par dichotomie un intervalle dont le milieu correspond à la valeur de la contrainte. La détermination dudit intervalle comprend: - la détermination de l'amplitude de l'intervalle de simulation, - la fixation de la valeur de la contrainte à la valeur médiane de ladite amplitude de l'intervalle de simulation, une phase de simulation dans laquelle on mesure la valeur du temps de propagation pour lesdites bornes de l'intervalle de simulation fixées, et dans laquelle on restreint de l'intervalle de simulation en augmentant sa borne inférieure si le temps de propagation déterminé est égal au temps (le propagation de référence, ou en diminuant sa borne inférieure sinon, la réitération de la phase de simulation tant que ledit intervalle est inférieur à une valeur de précision donnée. De préférence, ladite valeur de précision e:t de l'ordre de quelques dizaines de ps. Selon un mode de mise en oeuvre de l'invention, à l'issue de la phase de caractérisation, on réévalue par simulation à l'aide d'une méthode de dichotomie, les valeurs de contraintes calculées lors de la troisième étape de calcul, en redéfinissant une nouvelle valeur de l'intervalle de simulation qui est alors centré pour chaque simulation sur la valeur de la contrainte obtenue lors de ladite troisième étape de calcul. La réitération de la phase de caractérisation a pour avantage d'optimiser la valeur de la contrainte avec peu d'itération pour chaque simulation, étant donné qu'on choisit dès le départ un intervalle de simulation restreint centré autour d'une première valeur- de la contrainte déterminée au cours d'une première étape de caractérisation. De préférence, la nouvelle amplitude de l'intervalle de simulation est de l'ordre de quelques dizaines de ps. Selon un autre aspect de l'invention, il est proposé un système d'évaluation d'une contrainte d'une cellule séquentielle apte à échantillonner une donnée d'entrée cadencée par un signal d'horloge, ladite contrainte étant fonction de la rampe d'un premier signal et de la rampe d'un deuxième signal, ces deux signaux étar.t délivrés à la cellule séquentielle et comportant ledit signal d'horloge. Ladite contrainte appartient au groupe formé par le temps d'établissement et le temps de maintien de la donnée. Selon une caractéristique générale de cet autre aspect de l'invention, ledit système comporte des moyens de caractérisation comprenant: un modèle de ladite cellule séquentielle, des moyens de mémoire aptes à mémoriser,les valeurs de la première rampe et de la deuxième rampe, des premiers moyens de simulation aptes pour une valeur fixée de la deuxième rampe à l'une des valeurs mémorisée, à déterminer, un premier ensemble de valeurs de la contrainte par simulation pour lesdites valeurs me morisées de la première rampe à l'aide dudit modèle de la cellule séquentielle, des deuxièmes moyens de détermination apte; pour une valeur de la première rampe fixée à l'une des valeurs mémorisée, à déterminer pour chaque valeur mémorisée de la deuxième rampe un écart par rapport à la valeur de la contrainte appartenant audit premier ensemble et corre; pondant à ladite valeur fixée de la première rampe, des moyens de calcul aptes à calculer les valeurs de la contrainte pour toutes les valeurs mémorisés de la première rampe et de la deuxième rampe, en ajoutant les différents écarts obtenus aux valeurs dudit premier ensemble de valeurs. De préférence, les premiers moyens de simulation effectuent une simulation par dichotomie. Selon un mode de réalisation de l'invention, les deuxièmes moyens de détermination des écarts comprennent des deuxièmes moyens de simulation aptes pour chaque écart à déterminer une valeur de contrainte correspondant à une autre valeur de la deuxième rampe, et à effectuer la différence entre ladite valeur de contrainte associée à cette autre valeur de la deuxième rampe et la valeur de la contrainte 20 25 associée à ladite valeur fixée de la deuxième rampe utilisée par les premiers moyens de détermination, de façon à obtenir 1 édit écart. Selon un autre mode de réalisation de l'in'rention, lesdits deuxièmes moyens de détermination comportent des moyens de mesure des valeurs d'une variable temporelle de ladite cellule. Cette variable temporelle dépend de la nature du deuxième signal, et ces valeurs sont obtenues à partir dudit modèle de cellule pour les valeurs respectives mémorisées de la deuxième rampe. Par exemple, lorsque le deuxième signal est le signal d'horloge, la variable temporelle correspond à la différence, entre deux délais pour deux valeurs de rampe du signal d'horloge, chaque délai correspondant au temps écoulé entre le front d' zorloge suivant immédiatement le front d'une donnée délivrée en entrée, et le front de ladite donnée générée en sortie. Par contre, lorsque le deuxième signal est différent du signal d'horloge, la variable temporelle peut correspondre 3 la moitié du produit entre un paramètre caractéristique de la technologie et la rampe du deuxième signal délivrée à la cellule séquentielle. Le deuxième signal peut par exemple appartenir à un ensemble de signaux comprenant le signal de validation ainsi que les signaux de mise à zéro et de mise à un de la cellule séquentielle. Selon un mode de réalisation de l'invention, les moyens de simulation peuvent avantageusement comprendre des moyens de mesure d'un temps de propagation de référence correspondant au temps écoulé entre le front d'horloge suivant immédiatement le front d'une donnée délivrée en entrée et le front de ladite donnée générée en sortie. Les moyens de simulation sont alors aptes à déterminer par dichotomie un intervalle dont le milieu correspond à a valeur de la contrainte. Les moyens de simulation comprennent pour la détermination dudit intervalle: - des premiers moyens de détermination de l'amplitude de l'intervalle de simulation, - des deuxièmes moyens de fixation de la valeur de la contrainte à la valeur médiane de ladite amplitude de l'intervalle de 5 simulation. Lesdits moyens de simulation sont aptes à mesurer la valeur du temps de propagation avec ladite amplitude de l'intervalle de simulation fixée, et sont aptes à restreindre l'intervalle de simulation en augmentant sa borne inférieure si le temps de propagation déterminé est égal au temps de propagation de référence, ou en diminuant sa borne inférieure sinon. En outre, lesdits moyens de simulation comprennent une boucle de rétroaction connectée entre leur sortie et leur entrée comprenant des moyens de comparaison de l'amplitude dudit intervalle de simulation avec une valeur d'arrêt des moyens de simulation, correspondant à une valeur de précision donnée. Ladite valeur de précision est avantageusement de l'ordre de quelques dizaines de ps. Selon un mode de réalisation, le système peul comprendre des moyens d'évaluation aptes à réévaluer par simulation à l'aide d'une méthode de dichotomie, les valeurs de contraintes calculées par les moyens de calcul, lesdits moyens d'évaluation comprenant des moyens aptes à redéfinir une nouvelle valeur de l'intervalle de;;imulation qui est alors centré pour chaque simulation sur la valeur de la contrainte obtenue par les moyens de calcul. La nouvelle valeur de l'intervalle peut avantageusement être de l'ordre de quelques dizaines de ps. L'invention propose également une unité c e calcul, par exemple un ordinateur, comprenant un système d'évaluation d'une 30 contrainte des cellules séquentielles tel que défini précédemment. D'autres avantages et caractéristiques de l'invention apparaîtront à l'examen de la description détaillée des procédés et des modes de réalisation de l'invention nullement limitatifs, et des dessins annexés, sur lesquels: -la figure 1 représente très schématiquemen.: un mode de réalisation d'un système de caractérisation d'une cellule séquentielle selon l'invention; - la figure 2 représente un exemple de cellule séquentielle à caractériser, -la figure 3 représente un graphe décrivant un mode de mise en oeuvre de l'invention; - les figures 4 et 5 représentent deux courbes de résultats du calcul de valeur de contrainte selon l'invention; -la figure 6 illustre plus en détail une étape d'un procédé selon un mode de mise en oeuvre de l'invention; et -la figure 7 illustre plus en détail une autre étape du procédé selon un mode de mise en oeuvre de l'invention, - les figures 8 et 9 représentent les contraintes et des valeurs temporelles caractéristiques associées aux signaux d'entrée et de sortie d'une cellule séquentielle. On se réfère à la figure 1, où la référence UC désigne une unité de calcul, par exemple un ordinateur. L'unité de calcul UC comprend un système SYS de caractérisation d'une cellule séquentielle selon un mode de réalisation de l'invention. Le système SYS comprend des moyens de caractérisation MCA aptes à déterminer un ensemble de valeurs de contraintes en fonction de la rampe d'un premier et d'un deuxième signal d'entrée de la cellule séquentielle à caractériser. Les moyens de caractérisation MCA comprennent des moyens de mémorisation MM pour mémoriser un ensemble de valeurs de la rampe du premier signal et un ensemble de valeurs de la rampe du deuxième signal. Les moyens de mémorisation MM sont connectés à des premiers moyens de simulation MSIMI et des deuxièmes moyens de détermination MDET2. Les premiers moyens de simulation MSIMI sont aptes à déterminer un premier ensemble de valeurs de contraintes ensl pour une valeur de la deuxième rampe fixée et pour l'ensemble des valeurs de la première rampe mémorisées par les moyens de mémorisation MM. Cet ensemble de valeurs de contraintes ensl est déterminé par simulation à l'aide d'un modèle de la cellule séquentielle MOD connecté au premier moyen de simulation MSIM1. Un mode de mise en oeuvre de la simulation sera décrit plus en détail ci-après;. Les moyens de caractérisation MCA comprennent également des deuxièmes moyens de détermination MDET2 connectés aux premiers moyens de simulation MSIMI. Pour une valeur fixée de la première rampe, mémorisée par les moyens de mémorisation MM, les moyens MDET2 calculent les écarts ensô séparant la valeur de la contrainte appartenant au premier ensemble ensl, prise pour la valeur de la première rampe fixée, et chaque valeur de la contrainte prise pour chaque valeur mémorisée de la deuxième rampe. Différents modes de mise en oeuvre des moyens MDET2 seront décrits plus en détail ci-après. Par ailleurs, les moyens de caractérisation MCA comprennent des moyens de calcul MC, qui reçoivent le premier ensemble ensl de valeurs de contraintes déterminées par les premiers moyens de simulation MSIM1 et l'ensemble d'écarts ensb déterminé par les deuxièmes moyens de détermination MDET2. Les moyens de calcul MC reportent les écarts ensb calculés sur les valeurs de contraintes du premier ensemble ensl four en déduire l'ensemble des valeurs de contraintes prises pour toutes les combinaisons possibles et valeurs de la première rampe et de la deuxième rampe. La figure 2 représente un exemple de cellule séquentielle CEL à caractériser. La cellule CEL est ici une bascule simple recevi.nt des données d'entrée D et délivrant des données de sortie Q. Chaque valeur de sortie correspond à la valeur du signal d'entrée au f -ont actif d'un signal de commande, ici le signal C. La cellule CEL comprend un inverseur d'entrée Dl 15 commandable et apte à recevoir des données d'entrée D. L'inverseur d'entrée Dl est connecté à un premier circuit-verrou formé de deux inverseurs D2 et D2F qui est commandable. Le premier circuit-verrou est connecté à un in\ erseur D3 lui-même relié à un transistor de transfert TG commandable. Le transistor de transfert TG est connecté à d'une part à un deuxième circuit-verrou formé de deux inverseurs D4 t D4F qui est commandable, et d'autre part à un inverseur D5 apte à délivrer le signal de sortie Q. Les inverseurs commandables de la bascule CEL sont 25 commandés par le signal de commande C et son complémentaire C élaboré par exemple par une horloge HL. L'horloge HL reçoit un premier signal CLIC délivré par exemple par un quartz à un premier inverseur Cl de l'horloge HL. L'inverseur Cl génère en sortie le signal En outre il est connecté à un deuxième inverseur C2 qui délivre en sortie le signal de commande C. On se réfère à présent à la figure 3, qui décrit plus précisément le fonctionnement des moyens de caractérisation MCA. Le fonctionnement des moyens MCA est décrit pour deux signaux, qui sont ici le signal d'horloge correspondait au deuxième signal, et le signal de données d'entrée de la cellule séquentielle qui correspond au premier signal. Bien entendu, le rôle de ces deux signaux peut être échangé, et le signal de données d'entrée peut être remplacé par tout autre signal délivré en entrée de la cellule séquentielle, par exemple le signal de remise à zéro ( reset , en langue anglaise), le signal de mise à un ( set , en langue anglaise) ou encore le signal de validation de données ( enable , en langue anglaise). Lors d'une première étape 1, on détermine tout d'abord le premier ensemble de valeurs de contraintes ensl. Le premier ensemble ensl est obtenu ici en fixant la valeur de la rampe du deuxième signal, c'est-à- dire le signal d'horloge TinC. Puis, la rampe du premier signal, c'est-à- dire le signal de données d'entrée TinD, prend successivement une série de valeurs pour lesquelles on détermine la valeur de la contrainte selon une méthode qui sera décrite plus Drécisément ci-après. Par exemple, comme on peut le voir sur la figure 4, dans le cas où la contrainte à déterminer est le temps d'établissement de la donnée, on obtient au bout de la première étape de détermination la courbe référencée 1, qui comprend ici six valeurs de rampe de données, (m dans le cas général). De même, sur la figure 5, dans le cas où a contrainte à déterminer est le temps de maintien de la donnée, on obtient la courbe référencée A pour six autres valeurs (m dans le cas général). On se reporte à nouveau à la figure 3, où, ii l'issue de la détermination du premier ensemble de valeurs de contraintes ens 1, on détermine lors d'une étape 2 l'ensemble d'écarts ensô qui va permettre de déterminer les valeurs de contraintes pour toutes les combinaisons possibles de valeurs de rampe du premier et du deuxième signal ((m-1)*(n-1) dans le cas général), n étant le nombre de val;ur prise par le deuxième signal. Par conséquent, la méthode d'évaluation des contraintes selon l'invention consiste à déterminer par simulation une partie des valeurs de contraintes (cases gris-foncé du tableau ci-dessous) de façon à pouvoir en déduire les valeurs de contraintes restantes i:cases blanches du tableau ci-dessous), Si et S2 étant les deux signaux délivrés à la cellule séquentielle, considérés (par exemple le signi,l d'horloge le signal de donnée) : Tableau des Rampes du second signal S2 contraintes R20 R21 R22... R2i R2 entre Si & S2 Rampes R10,Contreinte,,1-Contrainte,, ,2 Contrainte;, Contrainte,,,n du -Gontrainte,, Contraintel,2 premier Rh Contraiiitë,, , Contraintes,l signal Si ContraintesContraintes, ,, R12 Contrainte2 Contrainte2,1 Contrainte2,2 Contrainte2Contrainte2,,, R1; Contrainte;Contrainte;,1 Contrainte;,2 Contrainte,,; Contrainte;,,, Rlm Contraintcm,p' Contraintem,1 Contraintem,2 Contraintes,; _ Contraintem, Pour ce faire, plusieurs modes de mise en oeuvre sont possibles. Une première solution consiste à mesurer à l'aide du modèle de la cellule séquentielle, une variable temporelle pour chaque valeur prise par la deuxième rampe, dont la valeur corresponc directement à la valeur de l'écart recherchée. Par exemple, dans le cas de la détermination du temps d'établissement de la donnée, on cherche à mesure: le temps de propagation par rapport à l'horloge (couramment appelé temps C to Q par l'homme du métier) qui correspond au temps écoulé entre le front d'horloge suivant immédiatement le front d'une donnée délivrée en entrée de la cellule séquentielle, et le front de ladite donnée générée en sortie. Ainsi, pour une valeur fixée de la rampe du signal de donnée, on fait varier la rampe du signal d'horloge et on mesure pour chacune de ces valeurs la différence entre deux délais pour deux valeurs de rampe du signal d'horloge, dont une de référence, chaque délai correspondant au temps de propagation ( CtoQ ), tel que défini ci-avant. En effet, les inventeurs ont observé qu'on pou1iait déterminer la valeur de la contrainte en utilisant les écarts existants entre les différents temps de propagation. Les délais sont déterminés par simulation par exemple, la valeur de référence peut être indifféremment une des valeurs de rampe du signal d'horloge. Comme on le voit dans le tableau ci-dessous, où la valeur de la rampe du signal d'horloge référence est 7 ps: Valeurs de set-up rée les Valeurs prises par et mesurées ( ctoQ ) la rampe du signal A set-up A CtoQ d'horloge réel (ps) (ps) TinC =7 ps 0 0 TinC = 120 ps 30 27 TinC = 320 ps 70 71 TinC = 670 ps 130 134 TinC = 1000 ps 225 212 le temps de propagation mesuré à l'aide du modèle de la cellule séquentielle correspond à une erreur près au temps d'établissement de la donnée ( setup ). Pour cette première solution, lorsque le premier signal est le signal d'horloge, les inventeurs ont observé que la variable temporelle mesurée est proportionnelle à : VT.TIND/2, où : VT représente la tension de seuil caractéristique de la technologie (en Volt). Dans ce cas, le tableau obtenu pour l'ensemble des valeurs de rampe du signal d'horloge TinC est: Valeurs de hold réelles et Valeurs prises par mesurées VT.T,ND/2 ) la rampe du signal d'horloge A hold A v,. T,ND/2 réel (ps) (ps) TinC = 7 ps 0 0 TinC = 120 ps 35 29 TinC = 320 ps 80 68 TinC = 670 ps 120 111 TinC = 1000 ps 140 135 A l'issue de ces différentes mesures, il suffit d'ajouter l'écart obtenu à la valeur de référence (pour une valeur de rampe du signal d'horloge de 7 ps dans cet exemple) obtenue ici par simulation pour connaître la valeur de la contrainte. Cependant, cette méthode de mesure, bien que très rapide, peut 20 être peu précise. Une deuxième solution pour déterminer l'ensemble d'écarts ensô, est représentée sur la figure 6. Elle consiste à procéder de la même façon que pour le premier ensemble de valeur de contrainte. Ainsi, dans une première étape 21, on détermine pour une valeur fixée de la rampe du signal de donnée d'entrée TinD, un deuxième ensemble de valeurs de contraintes en faisant varier la valeur de la rampe du signal d'horloge TinC pour une valeur fixée de la rampe du signal de donnée TinD. On obtient alors les ensembles des valeurs réfé -encés ens2 sur le figures 4 et 5. À l'issue de l'étape 21, on obtient donc deux courbes ayant un point d'intersection. Ensuite, lors d'une étape 22, on détermine les écarts en effectuant la différence entre chaque valeur de contrainte de l'ensemble ens2 et la valeur de la contrainte commune aux deux ensembles ensl et ens2. On obtient alors une série d'Écarts ô comme on peut le voir sur les figures 4 et 5. On se reporte à nouveau à la figure 3, où, à riss le de l'étape 2, on peut calculer l'ensemble des contraintes poli- toutes les combinaisons possibles entre les valeurs des ramies du signal d'horloge TinC et du signal de donnée TinD lors d'une étape 3. Pour ce faire, on additionne à chaque valeur dk contrainte du premier ensemble ensl, les écarts ô obtenus lors de l'étape précédente. On obtient alors les autres courbes 2, 3 et 4 sur la figure 4 et B, C et D sur la figure 5, respectivement pour le temps d'établissement et le temps de maintien des données. Bien entendu, le rôle des différentes courbes respectivement 1, 2, 3, 4 et A, B, C, et D peut être échangé. Il est possible par exemple pour la figure 4 de déterminer lors de l'étape 1:es valeurs de contraintes de la courbe référencée 2 puis de calculer l'ensemble d'écarts ensS à partir de l'une des valeurs appartenant à cette courbe. La figure 7 illustre plus précisément un mode de réalisation de l'étape 1. Selon ce mode de réalisation, la détermination du premier ensl et du deuxième ensemble ens2 de valeurs de contrainte peut s'effectuer en utilisant notamment une méthode de dichotomie, bier que tout autre méthode soit envisageable. Sur les figures 8 et 9 sont représentes les temps d'établissement Tsetup et de maintien Thold des données tel que défini précédemment. Ces temps de contrainte sont ceux d'une cellule séquentielle, par exemple celle représentée sur la f. gure 2. Cette cellule reçoit deux signaux d'entrée Si et S2 respectivement le signal d'horloge (C) et le signal de données (D) dans cet exemple, et délivre un signal de sortie (Q). Pour chaque couple de rampes (R1j; R2i) des deux signaux, respectivement Si (m valeurs de rampe) et S2 (n valeurs de rampe), on détermine une valeur de contrainte (m*n valeurs), comme illustré sur le tableau ci-dessous Tableau des Rampes signal contraintes du second S2 entre Si & S2 R2o R21 R22 R2i R2 Rampes Rlo Contrainteo,o Contrainteo,l Contrainteo,2 Contrainteot, Contrainteo,,, du premier signal Si Rll Contraintel,o Contraintel,l Contraintel,2 Contraintes, Contraintes,,, R12 Contrainte2,o Contrainte2,s Contrainte2,2 Contrainte2, Contrainte2, Rl; Contrainte;,o Contrainte;,1 Contrainte; 2 Contrainte;, Contrainte;,,, Rlm Contraintem,o Contraintem,s Contraintem,2 Contraintem,; Contraintem,,, En outre, sur chacune des deux figures 8 et 9, est représenté le temps de propagation de la donnée (Tpd) tel que défini r récédemment. On se réfère à nouveau à la figure 7. L'étape de détermination des valeurs d: contraintes représentées sur cette figure s'applique tout aus5.i bien à la détermination du temps d'établissement qu'à la détermination du temps de maintien des données. Le principe de la méthode consiste à délimiter l'intervalle de simulation auquel appartient la valeur de la contrainte, puis à fixer la valeur de la contrainte à déterminer à une valeur donnée appartenant à cet intervalle de simulation. Ensuite on fait successivement varier la valeur lle la contrainte de façon que la valeur du temps de propagation de la donnée pour cette valeur fixée de la contrainte, corresponde au temps de propagation de référence de la cellule séquentielle, ce qui signifie que la valeur affectée à la contrainte est exacte. Plus précisément, dans une première étape 100, 1)n fixe chacune des bornes de l'intervalle de simulation appelées respectivement Imin et Imax, à une valeur donnée. La valeur de la contrainte doit appartenir à cet intervalle de simulation, qui a typiquement une amplitude de 1 ns, mais qui peut prendre tout autre valeur. Lors d'une phase initiale 101, on fixe la valeur de contrainte Tsi-s2, à trois valeurs différentes respectivement à Imin, (Imin+Imax)/2, et Imax. On mesure alors de temps de propagation de la donnée Tpd pour chacune des valeurs fixées de la donnée. En outre, durant cette phase initiale 101, on détermine par simulation le temps de propagation de référence de la donnée Tpdréf. Puis on procède à un premier test 102, où on compare le temps de propagation de la donnée Tpd avec la valeur de la contrainte fixée à la bande supérieure de l'intervalle Imax au temps de propagation de référence Tpdréf avec une tolérance Pl sur la valeur du temps de propagation Tpd, qui correspond par exemple à 10% ce la valeur du temps de propagation de référence TpdréfÉ Si la comparaison est vraie, on se retrouve alors dans le cas A, c'est-à-dire que la valeur de la contrainte à déterminer est supérieure à la valeur maximale de l'intervalle de simulation de départ. Dans ce cas, on passe à l'étape 103 où on affecte à la valeur de la borne minimale de l'intervalle de simulation Imin, la valeur précédente de Imax. La nouvelle valeur de Imax esi alors égale à l'ancienne valeur de Imax à laquelle on ajoute l'amplitude du nouvel intervalle V1, typiquement lns, c'est-à-dire la même amplitude que l'intervalle de départ. On passe alors à l'étape 104 où on effectue une nouvelle simulation en fixant arbitrairement la valeur de la contrainte à déterminer Ts,_s2 à la borne maximale du nouvel intervalle, Imax. On mesure à nouveau le temps de propagation de la donnée Tpd. On effectue à nouveau un test 105 où on compare de même que pour le test 102, le nouveau temps de propagation de la donnée, au temps de propagation de référence Tpdréf à la tolérance Pl. Les étapes 103, 104 et 105 sont répétées tant que ce test 105 est vrai. Si le test 105 est faux, on se retrouve alors dans la phase C, c'est-àdire qu'à cet instant, la valeur arbitraire à laquelle on a fixé la contrainte Ts,_s2, est effectivement comprise dans l'intervalle de simulation. Par conséquent, on effectue une nouvelle simulation en fixant la valeur de la contrainte à déterminer à (Imin+Imax)/2 lors d'une étape 106. Durant cette étape, on mesure à nouveau le temps de propagation de la donnée. On réalise alors un test 107. On compare le temps de propagation de la donnée Tpd mesuré avec la contrainte Ts,-s2 fixée à (Imin+Imax)/2 au temps de propagation de référence Tpdréf à la tolérance Pl. Si le résultat de la comparaison est faux, alors, on modifie 108 la valeur de la borne inférieure de l'intervalle de simulation telle que Imin = (Imin+ Imax)/2. Sinon, on procède à l'étape 109, c'est-à-dire qu'on ne modifie pas la borne inférieure de l'intervalle de simulation Imin mais que l'on remplace la valeur de la borne supérieure Imax par (Imin+Imax)/2. A l'issue de l'étape 108 ou de l'étape 109, on effectue le test 110 c'està-dire qu'on compare l'amplitude de 'intervalle de simulation Imax-Imin à une précision P2 désirée pour la valeur de la contrainte. Cette précision P2 constitue un test d'arrêt 3e l'algorithme de dichotomie comprenant ces étapes 106 à 110. Tant que le test 110 est faux, on réitère les étapes 106 à 110. Lorsque que le test 110 devient vrai, alors la valeur de la contrainte pour le couple de rampes (R1;, R2j est égal à (Imin+Imax)/2. Si le test 102 est faux, alors on effectue une autre comparaison du temps de propagation de données Tpd mesuré avec une contrainte fixée à (Imin+ Imax)/2 avec le temps de propagation de référence Tpdréf à la tolérance P1. Si le test 111 est vrai, alors on modifie 112 la valeur de la borne inférieure de l'intervalle de simulation, tel que Imin = (Imin+Imax) /2. Puis on passe à l'algorithme de dichotorie comprenant les étapes 106 à 110 telles que décrites ci-dessus. Si le résultat du test 111 est faux, alors on réal se un nouveau test 113 où on compare le temps de propagation de la donnée Tpd mesuré avec la contrainte fixée à la borne inférieure de l'intervalle de simulation Imin, avec le temps de propagation de référence Tpdréf à une tolérance Pl. Si le test 113 est vrai, alors on modifie lors d'une étape 114 la borne inférieure Imax de l'intervalle de simulation tel que Imax = (Imin+ Imax) /2. On se retrouve alors dans la phase C où on exécute l'algorithme de dichotomie comprenant les étapes 106 à 110 telles qu'expliquées ci-dessus. Si le résultat du test 113 est faux, on se retrouve alors dans la phase B c'est-à-dire que h valeur de la contrainte à déterminer est inférieure à la borne inférieure de l'intervalle de simulation en cours. Dans ce cas, on change les valeurs des bornes de l'intervalle de simulation 115. Imax prend alors la valeur Imin de l'intervalle de simulation précédent, et Imin est égal à la valeur de la borne inférieure de l'intervalle de simulation précédent à laquelle on soustrait l'amplitude V1 définie ci-avant. Puis on effectue une nouvelle simulation en ayant fixé la valeur de contrainte TS1_S2 à la valeur minimale Imin du nouvel intervalle de simulation et on mesure 116 la valeur du temps de propagation des données Tpd. On réalise alors un nouveau test 117 où l'on compare le temps de propagation des données Tpd mesuré avec la contrainte fixée Imin avec le temps de propagation de référence à une toléran:,e T 1. Si la comparaison est juste, on se retrouve dans la phase C et on exécute à l'algorithme de dichotomie comprenant los étapes 106 à 110. Sinon, tant que le test 117 est faux, on réitère 1,s étapes 115 à 117. Pour améliorer la précision des valeurs Je contraintes déterminées à partir de l'ensemble des écarts ens8, il est possible d'appliquer la méthode illustrée par la figure 7. Or, élabore alors l'intervalle de simulation à partir de la valeur de contrainte déjà calculée, avec une faible amplitude par exemple 21) ps autour de cette valeur. On limite le nombre d'itérations (par exemple deux ou trois au lieu de neuf) puisqu'on a déterminé au départ un intervalle très précis qui contient de part sa définition la valeur de contrainte. On obtient donc un résultat beaucoup plus précis; que lors de la première phase de caractérisation. Le modèle de cellule utilisé pour les simulations peut être du type BSIM3 disponible sur le site Internet de l'université de Berkeley (Etats-Unis) ou bien un modèle de type SPICE disponible auprès de l'université de Floride (Etats-Unis). Par ailleurs, les simulations peuvent être effectuées par des moyens de simulation logiciels mettant en oeuvre par exemple un logiciel de simulation connu sous la dénomination ELDO et commercialisé par la société MENTOR GRAPHICS. Le procédé selon l'invention permet de réaliser un gain en temps de simulation relativement important. En tecrnologie 90nm, pour une cellule séquentielle simple nécessitant la détermination de 4 valeurs de contrainte, le temps de simulation est diminué d'au moins 25% par rapport aux méthodes existantes. Cette diminution est d'au moins 20% pour une cellule plus complexe nécessitant la détermination de 24 valeurs de contrainte. Ces diminutions représentent une économie de plusieurs heures en temps de simulation pour la caractérisation d'une cellule séquentielle. REVENDICATIONS 1. Procédé d'évaluation d'une contrainte d'une cellule séquentielle apte à échantillonner une donnée d'entrée cadencée par un signal d'horloge, ladite contrainte étant fonction de la rampe d'un premier signal et de la rampe d'un deuxième signal, ces deux signaux étant délivrés à la cellule séquentielle et comportant ledit signal d'horloge, ladite contrainte appartenant au groupe formé par le temps d'établissement et le temps de maintien de la donnée, caractérisé par le fait que ledit procédé comporte une phase de caractérisation comprenant: -une première étape (étape 1) de détermination dans laquelle on fixe une valeur de la deuxième rampe, on fait varier la valeur de la première rampe pour déterminer par simulation en utili;ant un modèle de la cellule, un premier ensemble de valeurs de la contrainte, - une deuxième étape (étape 2) de détermination dans laquelle on fixe la valeur de la première rampe à l'une de ses valeurs prise lors de la première étape de détermination, on fait varier la valeur de la deuxième rampe pour déterminer pour chaque valeur ce la deuxième rampe un écart par rapport à la valeur de la contrainte appartenant audit premier ensemble et correspondant à ladite valeur fixée de la première rampe, une troisième étape de calcul (étape 3) dans laquelle on calcule les valeurs de la contrainte pour toutes les valeurs de la première rampe et de la deuxième rampe, en ajoutant les différents écarts obtenus aux valeurs dudit premier ensemble de vaeurs. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé par le fait que la première étape de détermination comporte une simulation par dichotomie. 3. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé par le fait que dans la deuxième étape, la détermination d'un écart comporte la détermination par simulation d'une valeur de contrainte correspondant à une autre valeur de la deuxième rampe, et la différence entre ladite valeur de contrainte associée à cette autre valeur de la deuxième rampe et la valeur de la contrainte associée à ladite valeur de la deuxième rampe fixée dans la première étape de détermination. 4. Procédé selon la revendication 1 ou 2, caractérisé par le fait que la détermination des écarts comporte les mesures respectives des valeurs d'une variable temporelle de ladite cellule cUpendant de la nature du deuxième signal, obtenues à partir dudit modèle de cellule pour les valeurs respectives de la deuxième rampe. 5. Procédé selon la revendication 4, caractérisé par le fait que, lorsque le deuxième signal est le signal d'horloge, la variable temporelle correspond à la différence, entre deux dé ais pour deux valeurs de rampe du signal d'horloge, chaque délai correspondant au temps écoulé entre le front d'horloge suivant immédiai:ement le front d'une donnée délivrée en entrée, et le front de ladite donnée générée en sortie. 6. Procédé selon la revendication 4, caractérisé par le fait que, lorsque le deuxième signal est différent du signal d'horloge, la variable temporelle correspond à la moitié du produit entre un paramètre caractéristique de la technologie et la rampe du deuxième signal délivré à la cellule séquentielle. 7. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes caractérisé par le fait que le deuxième signal appartient à un ensemble de signaux comprenant le signal de validition ainsi que les signaux de mise à zéro et de mise à un de la cellule séquentielle. 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé par le fait que pour chaque s.mulation de la phase de caractérisation, on mesure un temps de propagation de référence correspondant au temps écoulé entre le front d'horloge suivant immédiatement le front d'une donnée délivrée en entrée et le front de ladite donnée générée en sortie, on détermine par dichotomie un intervalle dont le milieu correspond à la valeur de la contrainte, la détermination dudit intervalle comprenant: - la détermination de l'amplitude de l'intervalle de simulation, 10 - la fixation de la valeur de la contrainte à la valeur médiane de ladite amplitude de l'intervalle de simulation, une phase de simulation dans laquelle on mesure la valeur du temps de propagation avec ladite amplitude de 'intervalle de simulation fixée, et dans laquelle on restreint de l'intervalle de simulation en augmentant sa borne inférieure si le temps de propagation déterminé est égal au temps de propagation de référence, ou en diminuant sa borne inférieure sinon, - la réitération de la phase de simulation tant que ledit intervalle est inférieur à une valeur de précision donnée 9. Procédé selon la revendication 8, caractérisé par le fait que ladite valeur de précision est de l'ordre de quelques dizaines de ps. 10. Procédé selon la revendication 8 ou 9, caractérisé par le fait qu'à l'issue de la phase de caractérisation, on réévalue par simulation à l'aide d'une méthode de dichotomie, les valeurs de contraintes calculées lors de la troisième étape pie calcul, en redéfinissant une nouvelle valeur de l'intervalle de simulation qui est alors centré pour chaque simulation sur la valeur de la contrainte obtenue lors de ladite troisième étape de calcul. 11. Procédé selon la revendication 10, caractérisé par le fait que la nouvelle amplitude de l'intervalle de simulation est de l'ordre de quelques dizaines de ps. 12. Système d'évaluation d'une contrainte d'une cellule séquentielle apte à échantillonner une donnée d'entrée cadencée par un signal d'horloge, ladite contrainte étant fonction de la rampe d'un premier signal et de la rampe d'un deuxième signal, cers deux signaux étant délivrés à la cellule séquentielle et comportant ledit signal d'horloge, ladite contrainte appartenant au groupe formé par le temps d'établissement et le temps de maintien de la donnée, caractérisé par le fait que ledit système comporte des moyens de caractérisation comprenant: - un modèle (MOD) de ladite cellule séquentielle:, - des moyens de mémoire (MM) aptes à mémoriser des valeurs 15 de la première rampe et de la deuxième rampe, - des premiers moyens de simulation (MSIM1) aptes pour une valeur fixée de la deuxième rampe à l'une des valeurs mémorisées, à déterminer, un premier ensemble de valeurs de la contrainte par simulation pour lesdites valeurs mémorisées de la première rampe à l'aide dudit modèle de la cellule séquentielle, des deuxièmes moyens de détermination (MDET2) aptes pour une valeur de la première rampe fixée à l'une des valeurs mémorisées, à déterminer pour chaque valeur mémorisée de la deuxième rampe un écart par rapport à la valeur de la contrainte appartenant au premier ensemble et correspondant à ladite valeur fixée de la première rampe, - des moyens de calcul (MC) aptes à calculer les valeurs de la contrainte pour toutes les valeurs mémorisées de la première rampe et de la deuxième rampe, en ajoutant les différents écarts obtenus aux valeurs dudit premier ensemble de valeurs. 13. Système selon la revendication 12, caractérisé par le fait que les premiers moyens de simulation (MSIM1) effectuent une simulation par dichotomie. 14. Système selon les revendications 12 ou 13, caractérisé par le fait que les deuxièmes moyens de détermination (MDET2) des écarts comprennent des deuxièmes moyens de simulation apt,;s pour chaque écart, à déterminer une valeur de contrainte correspondant à une autre valeur de la deuxième rampe, et à effectuer la différer ce entre ladite valeur de contrainte associée à cette autre valeur de la deuxième rampe et la valeur de la contrainte associée à ladite valeur fixée de la deuxième rampe utilisée par les premiers moyens de dé:ermination, de façon à obtenir ledit écart. 15. Système selon les revendications 12 ou 13, caractérisé par le fait que lesdits deuxièmes moyens de détermination (MDET2) comportent des moyens de mesure des valeurs c 'une variable temporelle de ladite cellule dépendant de la nature du deuxième signal, obtenues à partir dudit modèle de cellule pour les valeurs respectives mémorisées de la deuxième rampe. 16. Système selon la revendication 15, caractérisé par le fait que, lorsque le deuxième signal est le signal d'horloge, la variable temporelle correspond à la différence, entre deux délais pour deux valeurs de rampe du signal d'horloge, chaque délai correspondant au temps écoulé entre le front d'horloge suivant immédiatement le front d'une donnée délivrée en entrée, et le front de ladite donnée générée en sortie. 17. Système selon la revendication 15, caractérisé par le fait que, lorsque le deuxième signal est différent du signal d'horloge, la variable temporelle correspond à la moitié du produit entre un paramètre caractéristique de la technologie et la rampe. du deuxième signal délivré à la cellule séquentielle. 18. Système selon l'une quelconque des revendications 12 à 17 caractérisé par le fait que le deuxième signal appartient à un ensemble de signaux comprenant le signal de validation ainsi que les signaux de mise à zéro et de mise à un de la cellule séquentielle. 19. Système selon l'une quelconque des revendi rations 12 à 18, caractérisé par le fait que les moyens de simulation comprennent des moyens de mesure d'un temps de propagation de référence correspondant au temps écoulé entre le front d'horloge suivant immédiatement le front d'une donnée délivrée en entrée et le front de ladite donnée générée en sortie, par le fait que es moyens de simulation sont aptes à déterminer par dichotomie un intervalle dont le milieu correspond à la valeur de la contrainte, les moyens de simulation comprenant pour la détermination dudit intervalle: - des premiers moyens de détermination de l'amplitude de l'intervalle de simulation, - des deuxièmes moyens de fixation de la valeur de la contrainte à la valeur médiane de ladite amplitude de l'intervalle de simulation, lesdits moyens de simulation étant aptes à mesurer la valeur du temps de propagation avec ladite amplitude de l'intervalle de simulation fixée, et à restreindre l'intervalle de simulation en augmentant sa borne inférieure si le temps de propagation déterminé est égal au temps de propagation de référence, ou en diminuant sa borne inférieure sinon, et par le fait que lesdits moyens de simulation comprennent une boucle de rétroaction connectée entre leur sortie et leur entrée comprenant des moyens de comparaison de l'amplitude ludit intervalle de simulation avec une valeur d'arrêt des moyens de simulation, correspondant à une valeur de précision donnée. 20. Système selon la revendication 19, caractérisé par le fait que ladite valeur de précision est de l'ordre de quelques dizaines de ps. 21. Système selon la revendication 19 ou 20, caractérisé par le fait qu'il comprend des moyens d'évaluation aptes réévaluer par simulation à l'aide d'une méthode de dichotomie, les valeurs de contraintes calculées par les moyens de calcul, lesdits moyens d'évaluation comprenant des moyens aptes à redéfinir une nouvelle valeur de l'intervalle de simulation qui est alors centré pour chaque simulation sur la valeur de la contrainte obtenue par les moyens de calcul. 22. Système selon la revendication 19, caractérisé par le fait que la nouvelle valeur de l'intervalle est de l'ordre de quelques dizaines de ps. 23. Unité de calcul, par exemple un ordinateur, comprenant un système d'évaluation d'une contrainte d'une cellule sécuentielle selon l'une quelconque des revendications 12 à 22.