FR 2870423 A1 20051118 FR 0450915 A 20040512 DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE CORRECTION DU BRUIT DE RÉINITIALISATION ET/OU DU BRUIT FIXE D'UN PIXEL ACTIF POUR CAPTEUR D'IMAGE La présente invention concerne un dispositif et un procédé de correction du bruit de réinitialisation et/ou du bruit fixe d'un pixel actif pour un capteur d'image. Un pixel actif classique comporte essentiellement un élément photosensible, tel qu'une photodiode, relié à un noeud, appelé noeud photosensible, dont le potentiel varie en fonction de la charge accumulée par l'élément photosensible. Le pixel comporte par ailleurs trois transistors, un transistor de sélection pour sélectionner le pixel, un transistor de réini- tialisation pour réinitialiser la charge électrique de l'élément photosensible et un transistor de lecture pour délivrer un signal représentatif du potentiel au noeud photosensible. Le fonctionnement d'un tel pixel comprend principalement les étapes suivantes: une étape de réinitialisation pendant laquelle le transistor de réinitialisation est passant. Le potentiel au noeud photosensible est alors amené à un potentiel constant déterminé ; une étape de charge pendant laquelle le transistor de 20 réinitialisation et le transistor de sélection sont bloqués. L'élément photosensible accumule des charges ce qui tend à faire varier le potentiel au noeud photosensible; et une étape de lecture pendant laquelle le transistor de réinitialisation est bloqué et le transistor de sélection est passant. Le potentiel au noeud photosensible est mesuré par un circuit de lecture non représenté. Une limitation des capteurs d'image à pixels actifs est la présence d'un bruit fixe (correspondant au terme anglais Fixed Pattern Noise) qui s'ajoute au potentiel constant déter- miné au noeud photosensible lors de l'étape de réinitialisation. Le bruit fixe correspond à un décalage (offset) aléatoire, dû par exemple au transistor de lecture du pixel, qui est constant pour un pixel donné mais qui varie pour chaque pixel du capteur. Un procédé connu pour supprimer le bruit fixe d'un pixel consiste à effectuer une mesure d'un premier signal représentatif du potentiel au noeud photosensible à la fin d'une étape de lecture et à effectuer une mesure d'un second signal représentatif du potentiel au noeud photosensible à la fin de l'étape de réinitialisation suivante. Le bruit fixe est alors supprimé en réalisant la différence des deux signaux mesurés. Une autre limitation des capteurs d'image à pixels actifs est la présence d'un bruit de réinitialisation aléatoire dans les signaux électriques produits par les pixels du capteur. En effet, à la fin de chaque étape de réinitialisation d'un pixel, lorsque le transistor de réinitialisation passe de l'état passant à l'état bloqué, le potentiel au noeud de lecture est fixé à un potentiel constant déterminé auquel s'ajoute un bruit de réinitialisation d'amplitude différente à chaque réinitialisation. Le bruit de réinitialisation se retrouve alors sur le noeud photosensible lors de l'étape de lecture suivante. Le bruit de réinitialisation est particulièrement gênant car il est prépondérant par rapport aux autres bruits dans la chaîne analogique d'acquisition du signal. Divers procédés existent pour limiter ou corriger le 35 bruit de réinitialisation. Un premier procédé est présenté dans le document intitulé "Analysis and enhancement of low-light-level performance of photodiode-type CMOS active pixel imagers operated with sub-threshold reset" de Pain, Yang, Ortiz, Wrigley, Hancock et Cunningham, IEEE Workshop on CCDs and AIS, Nagano (Japon), pp 140-142, Juin 1999. La technique présentée dans ce document, connue sous le nom de "hard then soft reset", consiste à utiliser un transistor de réinitialisation fonctionnant en dessous de son seuil de conduction. Toutefois, cette technique ne permet de réduire le bruit de réinitialisation que d'un facteur -\/i. Un deuxième procédé est présenté dans le document intitulé "Low Noise Readout using Active Reset for CMOS APS" de Fowler, Godfrey, Balicki et Canfield, Proceedings of SPIE, vol. 3965, pp 126-135, 2000. La technique présentée dans ce document consiste à réinitialiser la photodiode en utilisant un amplificateur pour contre-réactionner le bruit de réinitialisation. Cette technique présente certains inconvénients, notamment un nombre élevé de transistors par pixel (6 transistors), la nécessité d'une tension d'alimentation élevée car il y a plusieurs transistors montés en cascade, la nécessité d'une rampe de tension non bruitée, et une mise en oeuvre difficilement compatible avec une matrice de pixels. Un troisième procédé connu consiste à mémoriser successivement des signaux représentatifs du potentiel au noeud photo- sensible après l'étape de réinitialisation et à l'étape de lecture suivante. La différence entre les deux signaux mémorisés permet de supprimer le bruit de réinitialisation ajouté à la fin de l'étape de réinitialisation. Toutefois, la mise en oeuvre d'un tel procédé a un coût élevé puisqu'elle requiert, pour chaque pixel du capteur, la conservation en mémoire du signal représentatif du potentiel au noeud photosensible à la fin de l'étape de réinitialisation pendant toute l'étape de charge suivante. La présente invention vise à proposer un dispositif de correction du bruit de réinitialisation et/ou du bruit fixe d'un pixel actif pour capteur d'image permettant de supprimer prati- quement complètement le bruit de réinitialisation et/ou le bruit fixe, dont la structure est particulièrement simple et dont le coût de réalisation est réduit. La présente invention vise également à proposer un procédé de correction du bruit de réinitialisation et du bruit fixe d'un pixel actif pour capteur d'image permettant de supprimer pratiquement complètement le bruit de réinitialisation et le bruit fixe et dont la mise en oeuvre est particulièrement simple. Pour atteindre ces objets, la présente invention prévoit un dispositif de correction du bruit de réinitialisation et/ou du bruit fixe d'un pixel actif comportant un élément photosensible relié à un noeud de lecture, le potentiel du noeud de lecture étant représentatif de la charge de l'élément photosensible, la charge de l'élément photosensible étant réinitialisée lors d'une étape de réinitialisation. Le dispositif comprend un circuit de transmission reliant l'élément photo-sensible à un noeud de correction et étant adapté à fonctionner dans un premier état de fonctionnement dans lequel le gain de transmission entre le noeud de correction et le noeud de lecture est égal à un premier gain de transmission et dans un second état de fonctionnement dans lequel le gain de transmission entre le noeud de correction et le noeud de lecture est égal à un second gain de transmission; un circuit de mesure du potentiel au noeud de lecture après réinitialisation de la charge de l'élément photosensible, ledit potentiel comportant une composante de bruit de réinitialisation et/ou une composante de bruit fixe; un circuit de fourniture d'un potentiel de correction égal à la sonne d'un potentiel constant et d'une tension de correction, comportant la composante de bruit de réinitialisation et/ou la composante de bruit fixe multipliée par un gain d'amplification dont la valeur absolue est égale à la valeur absolue de l'inverse de la différence entre le premier gain de transmission et le second gain de transmission; et un circuit de correction adapté à amener le noeud de correction depuis le potentiel constant jusqu'au potentiel de correction, le circuit de transmission étant dans le premier état de fonctionnement, et à ramener le noeud de correction au potentiel constant, le circuit de transmission étant dans le second état de fonctionnement de façon à soustraire la composante de bruit de réinitialisation et/ou la composante de bruit fixe du potentiel au noeud de lecture. Selon un mode de réalisation de l'invention, le pixel est contenu dans une matrice de pixels identiques disposés en rangées et en colonnes, le circuit de mesure, le circuit de fourniture et le circuit de correction étant coitununs pour les pixels de la colonne dudit pixel, le circuit de mesure étant relié à une piste de lecture reliée à chaque noeud de lecture des pixels de la colonne dudit pixel et le circuit de correction étant relié à une piste de retour reliée à chaque noeud de correction des pixels de la colonne dudit pixel. Selon un mode de réalisation de l'invention, le circuit de transmission comprend un transistor et un condensateur montés en série entre le noeud de correction et l'élément photo- sensible, le transistor étant passant dans le premier état de fonctionnement du circuit de transmission et étant bloqué dans le second état de transmission du circuit de transmission. Selon un mode de réalisation de l'invention, le circuit de fourniture de la tension de correction comprend un amplificateur opérationnel dont une entrée est reliée au circuit de mesure par l'intermédiaire d'un condensateur de liaison. Selon un mode de réalisation de l'invention, l'amplificateur comprend en outre une entrée reliée à la sortie de l'amplificateur par l'intermédiaire d'un premier condensateur et reliée à un potentiel de référence par un second condensateur. Selon un mode de réalisation de l'invention, la valeur absolue du premier gain de transmission est supérieure à la valeur absolue du second gain de transmission. Selon un mode de réalisation de l'invention, le circuit 35 de correction est adapté à amener le potentiel au noeud de lecture à une valeur constante prédéterminée égale à la valeur moyenne des potentiels aux noeuds de lecture des pixels de la matrice de pixels après une étape de réinitialisation des pixels. La présente invention prévoit également un procédé de correction du bruit de réinitialisation et/ou du bruit fixe d'un pixel actif comportant un élément photosensible relié à un noeud de lecture, le potentiel du noeud de lecture étant représentatif de la charge de l'élément photosensible, la charge de l'élément photosensible étant réinitialisée lors d'une étape de réinitialisation, l'élément photosensible étant relié à un noeud de correction par l'intermédiaire d'un circuit de transmission adapté à fonctionner dans un premier état de fonctionnement dans lequel le gain de transmission entre le noeud de correction et le noeud de lecture est égal à un premier gain de transmission et dans un second état de fonctionnement dans lequel le gain de transmission entre le noeud de correction et le noeud de lecture est égal à un second gain de transmission. Le procédé comprend les étapes consistant à mesurer le potentiel au noeud de lecture après réinitialisation de la charge de l'élément photosensible, ledit potentiel colportant une composante de bruit de réinitialisation et/ou une composante de bruit fixe; à fournir un potentiel de correction égal à la somme d'un potentiel constant et d'une tension de correction, comportant la composante de bruit de réinitialisation et/ou la composante de bruit fixe multipliée par un gain d'amplification dont la valeur absolue est égale à la valeur absolue de l'inverse de la différence entre le premier gain de transmission et le second gain de transmission; à amener le noeud de correction depuis le poten- tiel constant jusqu'au potentiel de correction, le circuit de transmission étant dans le premier état de fonctionnement; à faire passer le circuit de transmission du premier état de fonctionnement au second état de fonctionnement; et à ramener le noeud de correction au potentiel constant de façon à soustraire la composante de bruit de réinitialisation et/ou la composante de bruit fixe du potentiel au noeud de lecture. Selon un mode de réalisation de l'invention, ledit pixel actif dont le potentiel au noeud de lecture est mesuré après réinitialisation de la charge de l'élément photosensible dudit pixel actif est dans une colonne de pixels actifs identiques, les noeuds de lecture de tous les pixels de la colonne étant reliés les uns aux autres et les noeuds de correction de tous les pixels de la colonne étant reliés les uns aux autres. Le circuit de transmission de chaque pixel actif de la colonne, autre que le pixel dont le potentiel au noeud de lecture est mesuré, est maintenu dans le second état de fonctionnement lorsque que le noeud de correction du pixel actif, dont le potentiel au noeud de lecture est mesuré, est amené depuis le potentiel constant jusqu'au potentiel de correction et ramené au potentiel constant. Selon un mode de réalisation de l'invention, il n'y a pas de lecture du potentiel au noeud de lecture après l'étape de réinitialisation. Ces objets, caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres de la présente invention seront exposés en détail dans la description suivante d'exemples de réalisation particuliers faite à titre non-limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles: la figure 1 représente schématiquement un exemple de réalisation du dispositif de correction selon l'invention; les figures 2A et 2B représentent respectivement un exemple de chronogramme de signaux représentatifs du fonctionnement du dispositif de la figure 1 pour un pixel sélec- tionné et un pixel non sélectionné d'un capteur d'images; la figure 3 représente schématiquement un exemple de réalisation plus détaillé d'un pixel selon l'invention du dispositif de la figure 1; la figure 4 représente schématiquement un premier exemple de réalisation plus détaillé du dispositif de correction de la figure 1; la figure 5 représente un exemple de chronogramme de 5 signaux représentatifs du fonctionnement du dispositif de la figure 4; et la figure 6 représente un second exemple de réalisation plus détaillé du dispositif de la figure 1. La figure 1 représente schématiquement deux pixels 10, 10' d'une même colonne de pixels capteur d'image. Chaque pixel 10, sensible 12, 12' colportant, de photosensible, un transistor de réinitialisation et un transistor réinitialisation est commandé par binaire RST1, RST1'. Chaque pixel transmission à double gain 14, 14' d'une matrice de pixels d'un 10' comprend un module photo-façon classique, un élément sélection, un transistor de de lecture. Le transistor de un signal de réinitialisation 10, 10' comprend un module de relié au module photosensible 12, 12' Le module photosensible 12, 12' est relié à un point de lecture D, D' d'une piste de lecture 16 à laquelle sont reliés tous les pixels de la colonne de pixels. Le pixel 10, 10' est adapté, lorsque le transistor de sélection associé au pixel est passant, à amener le point D, D' à un potentiel représentatif de la charge accumulée par l'élément photosensible du pixel 10, 10'. Le module de transmission 14, 14' est relié à un point de correction FBK, FBK' d'une piste de retour 18 à laquelle sont reliés tous les pixels de la colonne de pixels. Pour chaque pixel 10, 10', le module de transmission 14, 14' est commandé par un signal de commande binaire RST2, RST2' de sorte que lorsque le signal de commande RST2, RST2' est à un premier état, par exemple l'état haut, le gain de transmission en tension entre les points FBK et D (respectivement FBK' et D') est à une première valeur Gon et lorsque le signal de commande RST2, RST2' est à un second état, par exemple l'état bas, le gain de transmission en tension entre les points FBK et D (respectivement FBK' et D') est à une seconde valeur Goff. Pour chaque colonne de pixels, la piste de lecture 16 est reliée à un module de mesure 20 adapté à mesurer, par exemple de façon continue ou à un instant donné, le potentiel au point de lecture D, D' d'un pixel 10, 10' sélectionné de la colonne de pixels. Le module de mesure 20 est relié à un module d'amplification 22 qui fournit une tension de correction AV à partir du potentiel mesuré par le module de mesure 20. Le module d'amplification 22 est relié à un module de correction 24 qui est adapté à faire varier, pour chaque pixel 10, 10' de la colonne de pixels, le potentiel du point FBK, FBK' entre un potentiel de repos VCM et le potentiel de repos auquel est ajouté la tension de correction AV. Le procédé de correction selon l'invention consiste, pour chaque pixel 10, 10' de la colonne de pixels, à faire varier le potentiel au point FBK, FBK' successivement de +AV et de -AV. Pour le pixel 10 pour lequel on souhaite corriger le potentiel au point D, le gain de transmission entre les points FBK et D est fixé à Gon lorsque la variation de potentiels au point FBK est +AV, et le gain de transmission entre les points FBK et D est fixé à Goff lorsque la variation de potentiels au point FBK est -AV. Le potentiel au point de lecture D varie alors de AV* (Gon-Goff) . Conne cela sera expliqué plus en détail par la suite, en fixant de façon adaptée la tension de correction AV, on peut corriger le potentiel au point D de façon à supprimer le bruit de réinitialisation et le bruit fixe. Pour chaque autre pixel 10' non sélectionné de la colonne de pixels, le gain de transmission entre les points FBK' et D' est maintenu à Goff pendant les variations de potentiels au point FBK'. La variation résultante du potentiel au point de lecture D' d'un pixel 10' non sélectionné associé est alors globalement nulle. De façon plus détaillée, le procédé de correction selon l'invention comprend les étapes suivantes: sélectionner un pixel 10 de la colonne de pixels, les autres pixels 10' de la colonne n'étant pas sélectionnés; réinitialiser le potentiel VD au point D du pixel sélectionné 10 de façon classique en rendant passant le transistor de réinitialisation du pixel 10. Lorsque le transistor de réinitialisation passe à l'état bloqué à la fin de l'étape de réinitialisation, le potentiel au point D est fixé à une valeur VDINI qui est donnée par l'équation suivante: VDINI=VO+Vktc+ Voff (1) où V0 est une composante moyenne, Vktc est une composante de bruit de réinitialisation et Voff est une composante de bruit fixe; mesurer le potentiel VDINI par l'intermédiaire du module de mesure 20; amener le module d'amplification 22 à fournir un potentiel de correction, égal à la somme du potentiel de repos VCM et d'une tension de correction AV donnée par la relation suivante: AV=Ga*(VDINI-VREF) (2) où Ga est un gain d'amplification et VpF un potentiel de référence; et amener le module de correction 24 à faire varier le potentiel aux points FBK, FBK' de chaque pixel 10, 10' de la colonne de pixels successivement de +AV, le gain de transmission du module de transmission 14 du pixel sélectionné 10 étant égal à Gon, puis de -AV, le gain de transmission du module de transmission 14 du pixel sélectionné 10 étant égal à Goff. Pendant la dernière étape du procédé de correction selon l'invention, le gain de transmission du module de transmission 14' des pixels 10' non sélectionnés de la colonne reste constant et égal à Goff. Les figures 2A et 2B illustrent la dernière étape du procédé précédemment décrit respectivement pour un pixel sélectionné 10 et un pixel non sélectionné 10' d'une même colonne du capteur d'image. Pour le pixel sélectionné (figure 2A), le potentiel au point D atteint une nouvelle valeur VDFINAL donnée par la relation suivante: VDFINAL=VDINI+AV*(Gon-Goff) (3) Etant donné l'expression de AV, l'équation (3) devient: VDFINAL=VDINI-VREF+(VDINI-VpEF)*Ga*(Gon-Goff)+ VPEF VDFINAL=(VDINI-VREF)*(1+Ga*(Gon-Goff))+VREF (4) En réglant le gain d'amplification Ga de manière à 10 obtenir: Ga=-1/(Gon-Goff) (5) On obtient: VDFINAL=VREF (6) La composante de bruit de réinitialisation et la composante de bruit fixe sont alors supprimées. Il peut être souhaitable de prendre V EF proche de V0 de façon que la différence entre VDINI et VgEF corresponde sensiblement à la somme de la composante de bruit de réinitialisation et de la composante de bruit fixe. En pratique, le potentiel de référence VREF peut être égal à la valeur moyenne V0 des potentiels aux points de lecture D des pixels de la matrice de pixels après une étape de réinitialisation des pixels. Pour un pixel 10' non sélectionné (figure 2B) de la colonne de pixels, la variation du potentiel au point D' est globalement nulle lors des passages successifs du potentiel au point FBK' de VCM à VCM + AV et de à VCM + AV à VCM puisque le gain de transmission du module de transmission 14' associé au pixel 10' reste égal à Goff. La présente invention présente de nombreux avantages: Premièrement, elle permet, pour chaque pixel d'un capteur d'images, de corriger le potentiel au point de lecture du pixel après réinitialisation en supprimant la composante de bruit de réinitialisation et la composante de bruit fixe. Deuxièmement, elle permet, si cela est souhaitable, de s'affranchir des deux mesures successives du potentiel au point D, avant et après réinitialisation, habituellement réalisées pour supprimer la composante de bruit fixe. Troisièmement, le procédé de correction selon l'invention n'a pas d'influence sur les pixels de la colonne de pixels autres que le pixel pour lequel on souhaite corriger le potentiel au point D. La figure 3 représente un exemple de réalisation plus détaillé du module de transmission 14 d'un pixel 10 selon l'invention. Le présent exemple de réalisation est décrit pour un pixel 10 dont le module photosensible 12 est, de façon classique, de type suiveur. Il est clair que la présente invention peut s'appliquer à différents types de module photo-sensible, notamment un module photosensible ayant la structure d'un pixel amplificateur de type CTIA (de l'anglais "Capacitive Trans-Impedance Amplifier"). Le pixel 10 comprend une photodiode PH dont l'anode est reliée à un potentiel de référence bas, par exemple la masse GND, et dont la cathode est reliée à un point N appelé point photosensible. La photodiode PH a une capacité interne repré- sentée par un condensateur CpH de capacité Cph disposé aux bornes de la photodiode PH. Le point N est relié à la grille d'un transistor MOS de lecture 26 dont le drain est relié à un potentiel de référence haut VDD et dont la source est reliée au point de lecture D de la piste de lecture 16 par l'intermédiaire d'un transistor MOS de sélection 28. La grille du transistor de sélection 28 est commandée par un signal de sélection Selection. Le point N est également relié au potentiel VDD par l'intermédiaire d'un transistor MOS de réinitialisation 30 dont la grille est conauandée par le signal de réinitialisation RST1. La réinitialisation du pixel 10 est obtenue en rendant passant le transistor de réinitialisation 30, ce qui amène le potentiel du point N à une valeur fixe. A la fin de l'étape de réinitialisation, lorsque le transistor de réinitialisation 30 passe de l'état passant à l'état bloqué, le potentiel au point D est fixé à une valeur constante déterminée à laquelle s'ajoute le bruit de réinitialisation et le bruit fixe. Le pixel 10 est relié à la piste de retour 18 par l'intermédiaire d'un transistor MOS de correction 32 et d'un condensateur CA, de capacité Ca, montés en série. Plus précisément, le drain du transistor de correction 32 est relié au point N du pixel 10 et la source du transistor de correction 32 est reliée à une borne du condensateur CA dont l'autre borne est reliée à un point FBK de la piste de retour 18. La grille du transistor de correction 32 est commandée par le signal de commande RST2. Le présent exemple de réalisation prend en compte le fait que le transistor de retour 32 comprend une capacité interne de couplage non négligeable. On a représenté en traits pointillés en figure 3 un condensateur équivalent Cp de capacité Cp reliant les points FBK et N. Le gain de transmission en tension entre les points FBK et D varie donc selon que le transistor de correction 32 est passant ou bloqué. En effet, lorsque le transistor 32 est passant, le gain de transmission Gon entre les points FBK et D est sensiblement égal à : Gon = (Ca + Cp)/(Ca + Cp + Cph) (7) Lorsque le transistor 32 est bloqué, le gain de transmission Goff entre les points FBK et D est sensiblement égal à : Goff = Cp/( Cp + Cph) (8) La figure 4 représente un premier exemple de réalisation détaillé du dispositif de correction selon l'invention pour un pixel 10 tel que celui représenté en figure 3. Un seul pixel 10 de la matrice de pixels du capteur d'image est repré- senté en figure 4. La piste de lecture 16 est reliée à une borne d'une source de courant 34 dont l'autre borne est reliée à la masse GND. Pour chaque colonne de la matrice, le dispositif de correction selon l'invention comprend un interrupteur commandé 36 dont une borne est reliée à la piste de lecture 16 et dont l'autre borne est reliée à un point E. L'interrupteur 36 est commandé par un signal de commande binaire 01. Le dispositif de correction comprend un interrupteur 38, commandé par un signal binaire 02, disposé entre le point E et une source d'un potentiel de référence constant VPEF. Le point E est relié à une borne d'un condensateur Cj dont l'autre borne est reliée à l'entrée non inverseuse (+) d'un amplificateur opérationnel 40. Le circuit de correction comprend un interrupteur 41, commandé par le signal 01, reliant l'entrée non inverseuse (+) de l'amplificateur 40 à une source d'un potentiel constant VCM, appelé par la suite potentiel de repos. L'entrée inverseuse (-) de l'amplificateur 40 est reliée à la sortie de l'amplificateur 40 par l'intermédiaire d'un condensateur Cl de capacité C1. L'entrée inverseuse (-) est également reliée à la masse GND par l'intermédiaire d'un condensateur C2 de capacité C2. Un interrupteur 42, commandé par le signal 01, est placé aux bornes du condensateur Cl. Un interrupteur 44, commandé par le signal binaire 02, relie la piste de retour 18 à la sortie de l'amplificateur 40. Un interrupteur 46, commandé par le signal binaire 01, relie la piste de retour 18 à la source de potentiel de repos VCM. A titre d'exemple, le potentiel de repos VCM est égal à la moitié du potentiel VDD. Dans la suite de la description, on considérera que les interrupteurs 36, 38, 41, 42, 44, 46 sont fermés lorsque les signaux de commande correspon- dants sont à un état haut et sont ouverts lorsque les signaux de commande correspondants sont à un état bas. Les interrupteurs commandés 36, 38, 41, 42, 44 peuvent être réalisés par des transistors MOS. Le gain Ga est obtenu par l'intermédiaire de l'ampli- ficateur 40. En effet, dans le cas où l'interrupteur 42 est ouvert, le circuit constitué par l'amplificateur 40 et les condensateurs Cl et C2 correspond à un amplificateur dont le gain est égal au rapport (C1+C2)/C1. En prévoyant, par exemple pour le condensateur C2, un condensateur à capacité variable, le gain d'amplification Ga peut être adapté pour vérifier l'équation (5). La figure 5 représente un chronogramme de signaux représentatifs du fonctionnement du dispositif de la figure 4, obtenus par simulation. Des instants successifs tO à t8 délimitent les étapes du procédé de correction selon l'invention. Initialement, le signal 1)1 est à l'état haut et le signal Q)2 est à l'état bas. Les interrupteurs 36, 41 et 46 sont donc fermés et les interrupteurs 38, 42 et 44 sont ouverts. La piste de retour 32 est donc reliée au potentiel de repos VCM et le point E est relié au point D. Le potentiel de repos VCM est appliqué à l'entrée non inverseuse (+) de l'amplificateur 40 et reproduit à la sortie de l'amplificateur 40. Le signal RST1 est à l'état bas. Le transistor de réinitialisation 30 est donc bloqué. A l'instant tO, le signal Selection passe de l'état bas à l'état haut. Le transistor de sélection 28 devient alors passant et le potentiel au pointD est représentatif du potentiel au point N. Le potentiel au point D peut être alors lu par un circuit de lecture de façon classique. A l'instant tl, les signaux RST1 et RST2 passent de l'état bas à l'état haut. Le transistor de réinitialisation 30 et le transistor de correction 32 deviennent donc passants. Le potentiel au point D est fixé à un potentiel déterminé ainsi que le potentiel au point milieu entre le condensateur CA et le transistor 32. A l'instant t2, le signal RST2 passe à l'état bas. A l'instant t3, le signal RST1 passe à l'état bas. Le transistor 30 passe de l'état passant à l'état bloqué. Le transistor 30 induit un couplage négatif de sorte que le potentiel VD, qui suit le potentiel au point N, diminue. A l'instant t4, le signal RST2 passe à l'état haut et induit un couplage positif au point N de sorte que le potentiel VD augmente jusqu'à une valeur VDINI égale à la sol[une d'un terme constant V0 déterminé, de la composante de bruit de réinitialisation et de la composante de bruit fixe. Le couplage positif induit lorsque le transistor 32 est rendu passant compense le couplage négatif dû au transistor de réinitialisation 30. Une telle opération est nécessaire car lorsque le transistor 32 est bloqué, à une étape ultérieure, il induit un couplage négatif. Si les couplages négatifs dus aux transistors 30 et 32 étaient directement ajoutés, le pixel 10 risquerait d'être en saturation, c'est-à-dire avec un potentiel au point N trop bas, avant même que la photodiode n'ait commencé à accumuler des charges. En figure 5, on a représenté une portion de courbe centrale 47 du potentiel au point D correspondant respectivement à un bruit de réinitialisation nul et des portions de courbe supérieure 48 et inférieure 49 correspondant à un bruit de réinitialisation positif et négatif. Le potentiel au point D est reproduit au point E. La différence de tensions VCM-VDINI est donc appliquée aux bornes du condensateur CDC. A l'instant t5, lorsque le potentiel au point D est stabilisé, le signal 01 passe de l'état haut à l'état bas. A l'instant t6, le signal 02 passe de l'état bas à l'état haut. L'interrupteur 36 est alors ouvert. L'interrupteur 38 est fermé et relie donc le point E au potentiel VREF. Le signal 01 étant à l'état bas, l'interrupteur 41 est ouvert. Par l'intermédiaire du condensateur C1, une variation de tension égale à la différence entre VREF et VDINI est alors appliquée à l'entrée non inverseuse (+) de l'amplificateur 40. En outre, l'interrupteur 42 étant ouvert, la sortie de l'amplificateur 40 correspond à la somme du potentiel de repos VCM et de la tension de correction AV égale à la différence entre VDINI et VREF multipliée par un gain d'amplification Ga égal à -(C1+C2)/C1. L'interrupteur 44 relie le point FBK à la sortie de l'amplificateur 40. Le potentiel au point FBK varie donc depuis le potentiel de repos VCM jusqu'au potentiel égal à la somme du potentiel de repos VCM et de la tension de correction AV. En figure 5, on a représenté une portion de courbe centrale 52 du potentiel au point FBK correspondant à un bruit de réinitialisation nul et des portions de courbe supérieure 54 et inférieure 56 correspondant à un bruit de réinitialisation négatif et positif. A l'instant t7, le signal RST2 passe de l'état haut à l'état bas. Le transistor 32 est alors bloqué. A l'instant t8, le signal 01 passe de l'état bas à l'état haut. A l'instant t9, le signal 02 passe de l'état haut à l'état bas. L'interrupteur 44 est alors ouvert et l'interrupteur 46 est fermé. Le point FBK est donc relié au potentiel de repos VCM. Le potentiel au point D évolue donc pour se stabiliser au potentiel de référence VPEF, le bruit de réinitialisation et le bruit fixe étant supprimés. A l'instant t10, le signal Selection passe de l'état haut à l'état bas. Le transistor de sélection 28 devient alors bloqué. La désélection du pixel 10 étant réalisée dès que la réinitialisation est achevée, cela suppose qu'il n'est pas réalisé de mesure du potentiel au point D après l'étape de réinitialisation. Connue cela a été décrit précédemment, une telle mesure est généralement utilisée, avec une autre mesure réalisée après l'étape de charge, pour la correction du bruit fixe. Toutefois, si cela est souhaitable, le transistor de sélection 28 peut être maintenu passant pour permettre d'échantillonner le potentiel au point D.S La figure 6 représente un second exemple de réali- sation détaillé du dispositif de correction selon l'invention pour un pixel 10 dans lequel le module photosensible 14 correspond à un pixel CTIA. Seules les différences avec le premier exemple de réalisation seront décrites en détail. Le pixel 10 comprend une photodiode PH dont l'anode est reliée à la masse GND, et dont la cathode est reliée à un point N. Le point N est relié à la grille d'un transistor MOS de lecture 46, monté en amplificateur, dont la source est reliée à la masse GND. Le drain du transistor de lecture 46 est relié à un point de lecture F. Un condensateur CF, de capacité Cf, est placé entre les points N et F. Un transistor MOS de réinitialisation 48 est disposé aux bornes du condensateur CF. La source du transistor de réinitialisation 48 est reliée au point N et le drain du transistor de réinitialisation 48 est relié au point F. La grille du transistor de réinitialisation 48 est commandée par le signal de réinitialisation binaire RST1. Le point F est relié au point de lecture D de la piste de lecture 16 par l'intermédiaire d'un transistor MOS de sélection 50. La grille du transistor de sélection 50 est commandée par le signal de sélection binaire Selection. Une borne d'une source de courant 57 est reliée à la piste de lecture 16, l'autre borne de la source de courant 57 étant reliée au potentiel VDD. L'étape de réinitialisation d'un tel pixel 10 est obtenue en rendant passant le transistor de réinitialisation 48 ce qui court-circuite les points N et F. Le potentiel au point F est alors fixé par la tension grille-source du transistor de lecture 46 imposée par le courant délivré par la source de courant 57. Pour chaque colonne de la matrice, le dispositif de correction selon l'invention comprend un interrupteur commandé 58 dont une borne est reliée à la piste de lecture 16 et dont l'autre borne est reliée à une borne d'un condensateur d'échantil- lonnage CECH au point E. L'autre borne du condensateur CECH est reliée à la masse GND. L'interrupteur 58 est commandé par un signal de commande binaire 0'1. Le dispositif de correction comprend en outre un interrupteur 60 à deux positions fermées commandé par un signal binaire 0'2 adapté à relier une borne du condensateur C au point E ou à un potentiel de référence cons-tant VIF. Le circuit de correction comprend en outre un inter-rupteur 62 à deux positions fermées commandé par un signal binaire 0'3 et adapté à relier la piste de retour 18 à la sortie de l'amplificateur 40 ou à la piste de retour 18 au potentiel de repos VCM. Par rapport au premier mode de réalisation, le potentiel VDINI est échantillonné et mémorisé par l'intermédiaire du condensateur CECH. Ceci est nécessaire car étant donné le montage en amplificateur du transistor de lecture 46, le gain équivalent Gon-Goff est négatif. La mémorisation de VDINI permet d'appliquer à la borne du condensateur Cj non reliée à l'amplificateur 40 d'abord le potentiel de référence VREF puis le potentiel VDINI. Une variation de tension égale à la différence entre VDINI et VREF est alors appliquée à l'entrée non inverseuse (+) de l'amplificateur 40. La sortie de l'amplificateur 40 correspond alors à la somme du potentiel de repos VCM et de la tension de correction OV égale à la différence entre VDINI et VREF multipliée par un gain d'amplification Ga égal à (C1+C2)/C1, le gain vérifiant en outre l'équation (5). Bien entendu, la présente invention est susceptible de diverses variantes et modifications qui apparaîtront à l'homme de l'art. En particulier, l'amplificateur 40 peut être éteint lorsque la piste de retour 32 est reliée au potentiel de repos VCM à des fins d'économie d'énergie et n'être mis sous tension que peu de temps avant la commutation des signaux 01, 02 avant l'instant t5. En outre, la sortie de l'amplificateur 40 peut en permanence être reliée à la piste de retour 18, les inter-rupteurs 44, 46 du premier exemple de réalisation et l'inter-rupteur 62 du second mode de réalisation étant supprimés. Ceci nécessite d'alimenter en permanence l'amplificateur 40. REVENDICATIONS 1. Dispositif de correction du bruit de réinitialisation et/ou du bruit fixe d'un pixel actif (10) comportant un élément photosensible (PH) relié à un noeud de lecture (D), le potentiel du noeud de lecture (D) étant représentatif de la charge de l'élément photosensible, la charge de l'élément photosensible étant réinitialisée lors d'une étape de réinitialisation, le dispositif comprenant: un circuit de transmission (32, CA, Cp) reliant l'élément photosensible à un noeud de correction (FBK) et étant adapté à fonctionner dans un premier état de fonctionnement dans lequel le gain de transmission entre le noeud de correction et le noeud de lecture est égal à un premier gain de transmission (Gon) et dans un second état de fonctionnement dans lequel le gain de transmission entre le noeud de correction et le noeud de lecture est égal à un second gain de transmission (Goff) ; un circuit de mesure (36; CECH, 58) du potentiel (VD) au noeud de lecture après réinitialisation de la charge dé l'élément photosensible, ledit potentiel comportant une composante de bruit de réinitialisation et/ou une composante de bruit fixe; un circuit de fourniture (38, Cam, 40, Cl, C2, 41, 42; 60) d'un potentiel de correction égal à la somme d'un potentiel constant (VCM) et d'une tension de correction (LV), comportant la composante de bruit de réinitialisation et/ou la composante de bruit fixe multipliée par un gain d'amplification (Ga) dont la valeur absolue est égale à la valeur absolue de l'inverse de la différence entre le premier gain de transmission et le second gain de transmission; et un circuit de correction (44, 18) adapté à amener le noeud de correction depuis le potentiel constant (VCM) jusqu'au potentiel de correction, le circuit de transmission étant dans le premier état de fonctionnement, et à ramener le noeud de correction au potentiel constant, le circuit de transmission étant dans le second état de fonctionnement de façon à soustraire la composante de bruit de réinitialisation et/ou la composante de bruit fixe du potentiel au noeud de lecture. 2. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel le pixel (10, 20) est contenu dans une matrice de pixels identiques disposés en rangées et en colonnes, le circuit de mesure (36; CECH, 58), le circuit de fourniture (38, CDc, 40, Cl, C2, 41, 42) et le circuit de correction (44, 18) étant communs pour les pixels de la colonne dudit pixel, le circuit de mesure étant relié à une piste de lecture (16) reliée à chaque noeud de lecture des pixels de la colonne dudit pixel et le circuit de correction étant relié à une piste de retour {18) reliée à chaque noeud de correction (FBK) des pixels de la colonne dudit pixel. 3. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel le circuit de transmission {32, CA, Cp) comprend un transistor (32) et un condensateur (CA) montés en série entre le noeud de correction (FBK) et l'élément photosensible (PH), le transistor étant passant dans le premier état de fonctionnement du circuit de transmission et étant bloqué dans le second état de transmission du circuit de transmission. 4. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel le circuit de fourniture (38, C], 40, Cl, C2, 41, 42; 60) de la tension de correction {AV) comprend un amplificateur opérationnel (40) dont une entrée (+) est reliée au circuit de mesure (CECH, 36) par l'intermédiaire d'un condensateur de liaison (CDC). 5. Dispositif selon la revendication 4, dans lequel l'amplificateur (40) comprend en outre une entrée (-) reliée à la sortie de l'amplificateur (40) par l'intermédiaire d'un premier condensateur (Cl) et reliée à un potentiel de référence (GND) par un second condensateur (C2). 6. Dispositif selon la revendication 1, dans lequel la valeur absolue du premier gain de transmission (Gon) est supérieure à la valeur absolue du second gain de transmission (Goff). 7. Dispositif selon la revendication 2, dans lequel le circuit de correction (44, 18) est adapté à amener le potentiel au noeud de lecture à une valeur constante (VDFINAL) prédéterminée égale à la valeur moyenne des potentiels aux noeuds de lecture (D) des pixels de la matrice de pixels après une étape de réinitialisation des pixels. 8. Procédé de correction du bruit de réinitialisation et/ou du bruit fixe d'un pixel actif (10) comportant un élément photosensible (PH) relié à un noeud de lecture (D), le potentiel du noeud de lecture étant représentatif de la charge de l'élément photosensible, la charge de l'élément photosensible étant réinitialisée lors d'une étape de réinitialisation, l'élément photosensible étant relié à un noeud de correction (FBK) par l'intermédiaire d'un circuit de transmission (32, CA, Cp) adapté à fonctionner dans un premier état de fonctionnement dans lequel le gain de transmission entre le noeud de correction et le noeud de lecture est égal à un premier gain de transmission (Gon) et dans un second état de fonctionnement dans lequel le gain de transmission entre le noeud de correction et le noeud de lecture est égal à un second gain de transmission (Goff), le procédé comprenant les étapes suivantes: mesurer le potentiel (VDINI) au noeud de lecture après réinitialisation de la charge de l'élément photosensible, ledit potentiel comportant une composante de bruit de réinitialisation 25 et/ou une composante de bruit fixe; fournir un potentiel de correction égal à la somme d'un potentiel constant (VCM) et d'une tension de correction (LV), comportant la composante de bruit de réinitialisation et/ou la composante de bruit fixe multipliée par un gain 30 d'amplification (Ga) dont la valeur absolue est égale à la valeur absolue de l'inverse de la différence entre le premier gain de transmission et le second gain de transmission; amener le noeud de correction depuis le potentiel constant jusqu'au potentiel de correction, le circuit de 35 transmission étant dans le premier état de fonctionnement; faire passer le circuit de transmission du premier état de fonctionnement au second état de fonctionnement; et ramener le noeud de correction au potentiel constant de façon à soustraire la composante de bruit de réinitialisation et/ou la composante de bruit fixe du potentiel au noeud de lecture. 9. Procédé selon la revendication 8, dans lequel ledit pixel actif (10) dont le potentiel (VDINI) au noeud de lecture (D) est mesuré après réinitialisation de la charge de l'élément photosensible (PH) dudit pixel actif est dans une colonne de pixels actifs identiques, les noeuds de lecture (D, D') de tous les pixels de la colonne étant reliés et les noeuds de correction (FBK, FBK') de tous les pixels de la colonne étant reliés et dans lequel le circuit de transmission de chaque pixel actif de la colonne, autre que le pixel dont le potentiel (VD) au noeud de lecture est mesuré, est maintenu dans le second état de fonctionnement lorsque que le noeud de correction du pixel actif, dont le potentiel (VD) au noeud de lecture est mesuré, est amené depuis le potentiel constant jusqu'au potentiel de correction et ramené au potentiel constant. 10. Procédé selon la revendication 9, dans lequel il n'y a pas de lecture du potentiel au noeud de lecture (D) après l'étape de réinitialisation.