FR 2868156 A1 20050930 FR 0403096 A 20040325 DOMAINE TECHNIQUE La présente invention concerne un système de contrôle non destructif de structure, et plus particulièrement un système de caractérisation des endommagements de structure à partir de l'observation de déformations sur la surface de ladite structure. ETAT DE LA TECHNIQUE ANTERIEURE L'évaluation des endommagements de structure, c'est à dire toute anormalité de la structure susceptible de nuire à son intégralité, peut se révéler critique lors d'utilisations dans des environnements sévères. Dans le domaine de l'aéronautique par exemple, les impacts d'objets divers sur la structure d'un avion peuvent en diminuer les caractéristiques mécaniques, particulièrement lors d'un impact sur un point sensible. De même, dans le cas d'une déformation apparue lors des phases de fabrication ou d'assemblage de la pièce, le repérage de ces défauts est nécessaire. Lorsque les déformations sont importantes, leur caractérisation peut se faire directement par un opérateur de contrôle qui prend une décision sur la suite à donner à l'endommagement. Ladite décision correspond généralement à un choix entre la validation, la réparation ou, dans les cas les moins favorables, le changement de la pièce défectueuse. Lorsqu'il s'agit de déformations de petite taille, la visualisation à ('oeil nu montre ses limites et nécessite généralement que l'opérateur de contrôle soit très entraîné. Repousser ces limites est encore plus important lorsqu'il s'agit de déformations de surfaces faibles alors que la dégradation interne de la structure peut être importante. De façon traditionnelle, pour remédier à ce problème, on teste les surfaces à l'aide de palpeurs mécaniques qui permettent de mesurer une déformation par rapport à un profil théorique. Cependant, ces moyens mécaniques sont très difficiles à mettre en oeuvre dès lors qu'on cherche à contrôler des pièces en opération. En effet, ces moyens sont souvent peu pratiques et fragiles et sont donc incompatibles avec des milieux non protégés. Ajouté à cela, il faut considérer le risque d'endommagement lors du transport de ces moyens de contrôle, sans compter que ces palpeurs nécessitent une mise en oeuvre fastidieuse et ont un coût d'utilisation élevé. 2868156 -2-- En outre, pour des raisons de qualité, on peut vouloir aboutir à des résultats plus précis que ceux obtenus par les palpeurs classiques. En effet, pour un défaut de faible diamètre mais de profondeur importante, le contrôleur pourrait mal évaluer l'endommagement alors que les risques de fatigue structurelle seraient bien présents et pourraient se révéler importants selon la position du défaut sur la structure. Pour améliorer l'observation de déformations, on peut également utiliser des principes optiques. Dans le brevet EP 0 674 151, la visualisation des défauts de surface est ef- fectuée au moyen d'un moiré d'ombre sur la surface observée. L'invention brevetée permet de mettre en évidence l'existence d'une déformation de la surface en observant à travers une grille rigide l'ombre du réseau de cette grille sur la surface, projeté au moyen d'une source d'éclairement. Un tel dispositif muni d'une grille rigide ne s'utilise que surélevé par rapport à la surface et en outre, ne donne aucune information quantitative sur l'ampleur de la déformée. Le brevet WO 00/39523 essaye d'apporter une réponse à ce dernier problème. Ce brevet requiert également que la grille soit surélevée par rapport à la surface de la structure observée et propose de mesurer l'étendue de la déformation du motif, généré par la projection de l'image de la grille sur la surface. Cette solution nécessite ensuite de comparer l'étendue de la déformation avec les résultats de mesures effectuées sur des échantillons pour lesquels la déformation est connue. Pour obtenir des résultats comparables à ceux obtenus sur les éprouvettes calibrées, le réglage de l'inclinaison de la grille est primordial. Un problème de ces dispositifs réside dans le fait que la grille soit surélevée. En pratique, surélever de tels dispositifs est difficile et parcourir la surface avec ceux-ci devient pratiquement impossible en particulier lorsqu'il faut utiliser un instrument de mesure précis, comme un micromètre, pour incliner la grille d'un certain angle pour chaque mesure. Une autre difficulté soulevée par le brevet WO 00/39523 repose sur le fait que tous les types de déformations doivent être connus puisqu'on les compare ensuite à des éprouvettes calibrées pour permettre de caractériser les anomalies de surface. Dans le cadre de l'évaluation de la compression à froid d'un métal telle que celle présentée dans le brevet en question, le dispositif semble adapté mais dès lors que l'on sort d'une application spécifique et que l'on cherche à évaluer toute sorte de déformations de surface, le dispositif n'est pas d'une grande utilité. La présente invention a pour objectif de pallier de tels inconvénients. EXPOSE DE L'INVENTION La présente invention concerne un procédé de caractérisation d'un endommagement de structure comportant les étapes d'appliquer sur la surface de ladite structure une grille, diriger une source de lumière vers ladite grille de manière à créer une ombre de ladite grille sur ladite structure, ledit procédé étant caractérisé en ce qu'il comporte en outre les étapes: d'enregistrer, grâce à un moyen d'acquisition, une image du motif observé à travers la grille suivant une direction d'observation différente de celle de la source de lumière, de reconstituer une représentation graphique de ladite image enregistrée aux moyens d'algorithmes de traitement de ladite image, de caractériser l'endommagement à partir de ladite représentation. Avantageusement, selon le procédé, ladite grille peut être directement apposée sur la surface à analyser pour éviter des réglages longs et contraignants. Dans un mode particulier de l'invention, le procédé comporte les étapes de parcourir la surface, contrôler visuellement, par le biais dudit moyen d'acquisition ou non, l'existence ou non de déformation dudit motif, arrêter le parcours de la surface, par exemple lorsqu'une déformation apparaît, enregistrer une image grâce au moyen d'acquisition et caractériser l'endommagement. Dans un mode particulier, l'utilisateur peut transférer une ou plusieurs images enregistrées non traitées vers des moyens de traitement déportés pour caractériser en temps différé les endommagements. Lesdits moyens de traitement de ladite image, selon l'invention, comportent une étape de normalisation des franges d'interférences apparaissant sur ladite image. Cette étape permet d'éliminer l'arrière plan du motif qui ne serait pas utile à la caractérisation d'un endommagement et de normaliser le champ de phase observé. Une autre étape desdits moyens de traitement de ladite image permet d'obtenir la modulation de phase pour déterminer la position spatiale de chaque point de ladite image, à partir des caractéristiques du montage et de l'intensité observée. 2868156 -4- Avantageusement, le résultat desdits moyens de traitement est transformé en une représentation graphique selon une échelle de couleur. Cette échelle peut avantageusement être représentative de la profondeur de l'endommage-ment, le point de l'endommagement le plus profond pouvant par exemple être représenté par une couleur foncée alors que le reste de l'endommagement pourrait être coloré de manière dégradée depuis la hauteur nulle de la surface où la couleur serait plus claire. La représentation graphique peut être une vue en deux ou plusieurs dimensions de l'endommagement. L'invention concerne également un dispositif pour la mise en oeuvre du 10 procédé qui comporte: un support, de préférence un boîtier opaque pour éviter les lumières parasites, une grille de moiré, un moyen d'éclairement, un moyen d'acquisition d'image dont l'axe d'observation est décalé par rapport à celui du moyen d'éclairement, un moyen de traitement d'image, un moyen d'affichage du résultat dudit traitement. Avantageusement, ladite grille est flexible pour augmenter la surface de 20 contact entre ladite grille et ladite structure observée, en particulier lorsque celle-ci est non-plane. Selon un mode de l'invention, ladite grille subit préalablement à son utilisation un traitement antireflet. Avantageusement, ledit moyen d'acquisition est fixé audit boîtier pour permettre d'observer en permanence depuis un même axe d'observation, assurant ainsi à l'utilisateur mettant en oeuvre le procédé l'invariabilité des caractéristiques du montage quel que soit l'axe d'observation de l'utilisateur lui-même. En outre, l'enregistrement de ladite image se fait par un moyen d'acquisi30 tion numérique. De façon avantageuse, ledit enregistrement est traité par des moyens de traitement, tel qu'un ordinateur programmé, appliquant les algorithmes de traitement dudit procédé de l'invention. Le résultat desdits moyens de traitement, déterminant la position des points de ladite image dans l'espace, est ensuite transformé graphiquement, représenté globalement ou non sur un écran, d'ordinateur par exemple, en couleur ou en noir et blanc par des vues en deux ou trois dimensions. BREVE DESCRIPTION DES DESSINS Pour mieux faire ressortir les avantages liés à l'invention, la description d'un mode particulier de réalisation qui va suivre s'appuie sur des dessins annexés: - La figure 1 est une coupe schématique du dispositif selon l'invention. - La figure 2 représente une perspective d'une grille de moiré. La figure 3 illustre la mise en oeuvre du procédé sur une surface non plane. La figure 4 représente une image pouvant être observée et enregistrée à l'aide du moyen d'acquisition de l'image. La figure 5 est une représentation en deux dimensions de l'endommage-ment à partir de l'image prise à travers la grille. La figure 6 est une autre représentation, en trois dimensions cette fois, de 15 l'endommagement à partir de l'image prise à travers la grille. DESCRIPTION DETAILLE D'UN MODE DE REALISATION Sur la figure 1, on a représenté une vue schématique de dessus du dispositif comprenant en premier lieu une grille de moiré (1) qui vient se fixer sur un support (2) tel qu'un boîtier, avantageusement opaque pour éviter les pollutions lumineuses. Dans un mode de réalisation, la grille coulisse le long des parois du boîtier jusqu'à une position maximale de manière à ce qu'elle ne bouge plus une fois positionnée sur le support (2) . Un système par vissage est également envisageable pour fixer la grille (1) sur le support (2). On voit également sur cette figure une représentation d'une source lumineuse (3), telle qu'une diode, orientée entre 40 et 50 et de préférence à 45 (4) par rapport au plan de la grille de moiré (1). Dans un mode de réalisation, le support (2) peut disposer d'un emplacement (5) permettant de rendre le dispositif autonome, cet emplace- ment pouvant par exemple contenir une pile électrique. Le séparateur (6) permet d'empêcher la lumière provenant directement de la diode d'atteindre l'objectif du moyen d'acquisition de l'image et donc de ne pas perturber les mesures d'intensité lors des calculs de phase. Le support (2) est pourvu d'une ouverture (7) sur laquelle vient se fixer le moyen d'acquisition de l'image (8), ici schématiquement représenté, mais pouvant par exemple correspondre à un 2868156 -6- appareil photographique numérique. Le moyen de fixation du moyen d'acquisition représenté ici est un pas de vis (9) mais toute sorte de moyen de fixation pourrait être utilisé. Dans cet exemple de mode de réalisation, les caractéristiques du montage, c'est à dire les axes d'observation (10) et d'éclairage (4), sont reproductibles très facilement, sans risque d'obtenir une information différente pour un même endommagement qu'entraînerait un changement de celles-ci. De préférence l'angle entre ces deux axes est de 45 . Concernant la grille, si l'on se réfère maintenant à la figure 2, on pourra en apprécier toutes les caractéristiques techniques. D'abord, le pas de la grille (1) est défini par l'alternance sur la face supérieure d'un support transparent (11) entre des bandes transparentes (12) et des bandes sombres (13). Les bandes sombres (13) peuvent par exemple être sérigraphiées sur la surface supérieure du support {11). Nécessairement, l'épaisseur de ce support n'est pas nulle. Cette observation constitue un point important de l'invention puisqu'en maintenant le plan de la grille au-dessus du plan d'appui du support sur la surface à analyser, cette caractéristique permet d'observer des franges sans surélever le dispositif, même lorsque aucun endommagement n'est présent. Toujours concernant la grille, on peut également traiter la surface supérieure de la grille pour minimiser les reflets. Le contraste du motif observé en sera augmenté. Pour permettre l'observation des franges de moiré, la grille (1) est orientée de telle sorte que les bandes longitudinales (12, 13) de ladite grille ne forment pas un angle nul avec l'alignement entre le moyen d'acquisition de l'image (8) et le moyen d'éclairement (3). De préférence, on choisira un angle de 90 pour observer les franges de manière plus contrastée. Sur la figure 3, on voit comment appliquer la grille de moiré (1) du dispositif sur une surface (14) à contrôler qui n'est pas nécessairement plane. Avant de parcourir la surface, les paramètres du moyen d'acquisition doivent être réglés convenablement pour obtenir des résultats optimums. Contrairement à ce que l'on pourrait croire, un bon réglage du moyen d'acquisition de l'image ne correspond pas forcément à un réglage maximal de la résolution. Par exemple, pour un défaut de l'ordre du millimètre, une résolution moindre suffira à caractériser l'endommagement par rapport à la résolution nécessaire pour caractériser des défauts de l'ordre de 10 micromètres. L'analyse sera également plus rapide avec une résolution moindre. Ces réglages dépendent du dispositif utilisé et des structures testées et sont généralement déterminés par essais. La figure 4 donne un exemple de l'image du motif des franges de moiré que le moyen d'acquisition de l'image pourrait enregistrer lors du passage sur un endommagement de surface. Les franges sombres de faible intensité (15) et les franges claires d'intensité supérieure (16) ne sont plus parallèles comme elles le sont lorsque aucun endommagement n'est présent. Sur la figure, elles forment des motifs circonfériques autour du centre de l'endommagement (17). Lorsque l'utilisateur de l'invention est confronté à de telles observations, plusieurs options s'offrent à lui. Il peut enregistrer ou non l'image du motif dans la mémoire du moyen d'acquisition pour chaque endommagement. Il peut analyser directe-ment le défaut à travers le moyen d'acquisition ou sur un écran dont le moyen d'acquisition pourrait disposer. Il peut parcourir l'ensemble de la structure à analyser et enregistrer toutes les images en une seule fois et les traiter ensemble par la suite grâce aux moyens de traitement. Il peut aussi procéder au traitement à chaque acquisition d'une image. L'image est ensuite analysée par des moyens de traitement qui appliqueront les algorithmes de l'invention nécessaires à la représentation de l'endommagement à partir du motif des franges de moiré. Le modèle mathématique standard qui donne l'intensité observée à une 20 position (x,y) est définie par: I(x, y) = a(x, y) + b(x, y)cos[O(x, y)], où a(x, y) et b(x,y) représentent respectivement l'intensité du fond et l'amplitude, et 0(x, y) la phase contenant l'information qui nous intéresse. Dans le cas du moiré d'ombre, 0(x,y)= i (tan a+tan ss)z, p où p correspond au pas de la grille, a et ss correspondent aux angles d'illumination et d'observation, et z à la hauteur par rapport au plan de référence. Dans un premier mode de réalisation de l'invention, on peut considérer l'intensité des franges comme localement monochromatique, donc l'intensité peut être représentée par une fonction sinusoïdale modulée par un plan p(.). D'où, en minimisant une fonction coût qui prend en compte la différence entre 2868156 -8- l'intensité mesurée et le modèle proposé, on pourra obtenir la démodulation de phase 0(x, y) à partir de l'intensité I(x, y). Dans ce mode particulier de l'invention, la fonction coût à minimiser pour chaque point (x, y) est: U(x,y)= {[I'(,17)-cosp(x,y, ,11)j2 +ssO0(ss,i1)-p(x, y, , 11)J2m(,i)} (,i7)e(Nx,r S) avec, p(x, y, ,77) = A (x, y) + wx (x, y)(x ) + wy (x, y)(y 77), où S correspond à la région d'intérêt où des données valides sont présentes; N(x, y) est la région avoisinant le point (x, y) où l'on cherche à obtenir la phase; m(x, y) est un champs indicateur qui est égal à un si la phase au point (x, y) a déjà été obtenue, à zéro autrement; I'(x, y) correspond à une version filtrée haute fréquence et normalisée de l'intensité I(x,y), ce qui permet d'éliminer avantageusement les basses fréquences du fond a(x, y) et de rendre l'amplitude b(x, y) 1. Les champs wx (x, y) et wy (x, y) sont des estimations de fréquences locales le long des axes x et y. Ces champs représentent également les pentes du plan de phase. Finalement, le paramètre ss est une constante qui contrôle la régularité de la phase O0 (x, y) . Pour obtenir la démodulation de phase, il faut minimiser la fonction coût U(x, y) pour chaque point en fonction des variables O0 (x, y) , wx (x, y) et wy (x, y). Cependant, cette fonction n'est pas linéaire donc on ne peut pas utiliser de techniques d'optimisation rapides. Une méthode connue pour résoudre ce problème consiste à évaluer les composantes de phase et de fréquence de r(x,y) = ((0,wx,wy)T pour chaque point à partir de la récursion rx+1 = rk _,uOrU(x,Y), où correspond à l'étape de descente du gradient. Le symbole Vr dénote le 25 gradient de U(x, y) en fonction des trois composantes de r. Cette méthode nécessite une condition initiale r . Quand le vecteur racine r(x0,y0) est maximisé, la constante de régularité ss n'est pas prise en compte puisque le point de départ est le premier à subir la démodulation et par conséquent, la fonction indicateur m(x,y) est égale à zéro sur S. Une fois que le 2868156 -9- vecteur racine r(xo, yo) a été calculé, il est possible de poursuivre avec le reste des points sur S. Cet algorithme doit suivre une trajectoire séquentielle et continue, point par point, à partir du point racine. Comme mentionné précédemment, cet algorithme démodule séquen- tiellement le motif dessiné par les franges de moiré, en partant d'un point de départ et en se propageant ensuite jusqu'à ce que l'ensemble de la zone à analyser ait été parcouru. La manière de parcourir le motif est une phase critique de la démodulation. Le but, lors du parcours du motif des franges de moiré, est de guider l'algorithme de sorte que les zones de meilleure qualité soit traitée en priorité et les zones de moindre qualité en dernier. Cette technique a pour effet de limiter les erreurs possibles aux seules zones où la qualité est moindre. Pour obtenir une carte de qualité satisfaisante, on peut par exemple utiliser le paramètre d'amplitude b(x,y). Dans le cas de décalage de phases, on peut obtenir facilement la modulation de ce paramètre. Cependant, lorsqu'on utilise 15 un seul motif de franges, comme dans l'invention, la modulation est en général plus difficile à obtenir. La technique utilisée par l'algorithme de l'invention est de suivre le tracé des franges du motif, c'est à dire de parcourir le motif le long des lignes isophases. Cette stratégie a été décrite par Servin et Quiroga dans leur publication "Isochromatics demodulation from a single image using a regularized phase tracking technique" (M. servin, J. A. Quiroga, Journal of Modern Optics, Volume 48, Number 3, 521-531, 2001). Le principe consiste à affecter un niveau de "qualité" pour un niveau de gris de l'image. Par exemple, dans une image à 256 niveaux de gris, on peut arbitrairement choisir que les zones de "meilleure qualité" correspondent à des niveaux de gris supérieurs à 128, et les zones de "faible qualité" à des niveaux inférieurs à 128. En utilisant ce principe, on divise l'image en deux zones. La démodulation se fera alors en priorité sur les zones de "meilleure qualité" puis sur les zones de "faible qualité", ce qui signifie que la qualité telle qu'elle est définie à travers cette technique, ne correspond pas à un rapport signal-bruit élevé. A partir de l'intensité des motifs de frange, on peut donc construire une carte de qualité à deux niveaux et démoduler en priorité les zones de "meilleure qualité" auxquelles on peut par exemple affecter une valeur de 1 et les zones de "faible qualité" une valeur de 0. Dans un deuxième mode de réalisation de l'invention, la modulation de phase est obtenue différemment. Dans ce mode de réalisation, l'algorithme recherche le signal en quadrature du motif des franges. Si le motif peut être décrit par I(x, y) = b(x, y)cos[O(x, y)], où on évalue a(x, y) 1, le signal en quadrature est donné par Q n {I (x, y)} = b(x, y)sin[O(x, y)], où Q,,{ } est l'opérateur quadratique. A partir de ce signal en quadrature, on peut déterminer la phase non dépliée W{O(x, y)} sur l'ensemble de la région à analyser en utilisant la fonction arctan: W{O(x, y)}= arctan/ Qn{I(x,y)}l I (x, y) où W{ } est l'opérateur non déplié modulo 27r. Sachant que dans la plupart des situations pratiques, la modulation b(x, y) correspond à un signal basse fréquence, une approximation du gradient de I(x, y) peut être obtenue par 1, DI (x, y) = b(x, y) sin[O(x, y)1 V 0(x, y). En multipliant par V0(x,y) et en réarrangeant, on obtient Qn { 1(r)} = V0(r) W(r) = no (r) DI(r)y b(r)sin[ç(r)] Ivsb(r)l l 9(0 l o(r)l D'après cette équation, on voit que l'opérateur quadratique Q { } est composé de deux termes, un premier terme d'orientation no, et un second correspondant à une généralisation isotrope en n-dimension de la transformée de l'espace de Hilbert Hn{I(x,y)}= 9. Ce second terme est un opérateur linéaire dont la transformée de Fourier correspond au n ième filtre de Reisz en une dimension le long des coordonnées 25 spectrales, c'est à dire que Hn{} peut être calculée par Fin{ I(r)}= FT-1 i (ql FT{ I(r)} , où FT{ .} correspond à l'opérateur de Fourier et q = (u,v) est la position du 2868156 -11- vecteur dans le domaine spectral, ce qui correspond physiquement aux fréquences spatiales. Le premier terme n0(r)= V0(r) est un vecteur unitaire normal aux isophao( I ses correspondantes, dirigé dans la direction du terme d'orientation des franges 5 VO(r). Ce terme lié à la direction des franges ne peut être calculé directement parce que l'on n'accède à la phase que par le biais de l'intensité, et les angles d'orientation des franges calculés par le gradient d'intensité ne correspondent pas aux angles calculés par le gradient de phase. Il faut donc développer la phase pour obtenir le terme d'orientation des franges. Pour développer l'orientation des franges, l'invention fait appel à un algorithme similaire à celui décrit dans le premier mode de réalisation de l'invention. Une fois la carte du développement de l'orientation des franges obtenues, il est possible d'obtenir directement la phase non dépliée W{q(x, y)} sur l'ensemble de la région à analyser. La dernière étape de ce mode de réalisation consiste donc 15 à développer la phase non dépliée W{0(x, y)}. Pour ces deux modes de réalisations, la modulation et les variations du fond sont indésirables parce que la fonction coût compare les valeurs mesurées avec le modèle du motif des franges: aucun fond et une modulation sinusoïdale constante. Il faut donc préalablement traité les images du motif des franges pour éliminer le fond et normaliser la modulation. L'algorithme utilisé par l'invention pour parvenir à l'élimination du fond et à la normalisation du motif est basé sur l'opérateur quadratique décrit précédemment. Comme décrit plus haut, on ne peut pas obtenir le champs orientation 25 directement à partir du gradient de phase. Par contre, on peut calculer une pseudo-orientation du champ directement par le gradient d'intensité n0 (r) = VI = sign[sin(0)] n0 (r) D'après cette équation, n0 et no ont la même orientation mais des directions différentes chaque fois que sin(0) change de signe. En utilisant n0 plutôt que no, ce changement de signe donne lieu à un nouvel opérateur appelé opérateur quasi-quadratique: Qn{IHP}=n(r)Hf{IHP} où IHP est l'intensité haute fréquence du motif des franges, c'est à dire sans le fond pour lequel on suppose qu'il ne contient que des basses fréquences. En remplaçant à partir de l'équation précédente, on obtient Qn {IHP (r)} = sign[sin 0] m(r)sin O(r). Finalement, on peut calculer la modulation de phase à partir de ce terme quasi-quadratique W{ 01= arctan Qn{IHP}\ I HP / = sign[sin 0] W{ 0}, où W{ }est l'opérateur de repli. D'après cette équation, on voit que les cartes de phase 4 1 et W{{} ne diffèrent que par leur signe, chaque fois que sin(0) change de signe. Par conséquent, on peut calculer la version normalisée de l'intensité I(r) à partir de W{}: IN (r) = cos [W{ 0 (r)}] = cos 0(r). D'un point de vue pratique, par rapport à l'invention, le calcul du champ d'orientation n0 n'est pas nécessaire pour la normalisation puisque l'opérateur quasi-quadratique est défini par Q DIVI_IVII n{I}= vII Ivoi Ivoi, donc, finalement, l'expression générale utilisée pour calculer l'opérateur quasi-20 quadratique est Qn{IHP}= IH { IHP où, comme jusqu'à présent, Hn{} est l'opérateur de Hilbert en n-dimension. L'utilisation du premier ou du second mode de réalisation dépend de l'utilisateur du système. Le second mode est plus rapide et suffit généralement à représenter la déformation correspondant au motif. Le premier mode est quant à lui plus robuste et est utilisé lorsque les résultats du second mode sont peu concluants. Après avoir sélectionné l'algorithme à utiliser et l'analyse du motif effectuée, l'utilisateur doit préciser au système un point de l'image correspondant à 2868156 -13- une hauteur nulle, ce qui permet d'obtenir une représentation complète de la déformation représentée sur l'image par le motif des franges. Pour chaque point de l'image, défini par exemple par sa position (x,y) sur ladite image, les algorithmes déterminent la hauteur z de la surface correspon-5 dont à cette position. Les figures 5 et 6 présentent deux des différentes vues susceptibles d'être obtenues par le biais des algorithmes de l'invention. Dans la figure 5, on a représenté une vue en deux dimensions d'un endommagement (18) obtenue par les algorithmes de l'invention. Des échelles (19, 20) de dimensions de l'ordre de la dizaine de micromètres permettent à l'utilisateur de caractériser l'endommagement représenté en fonction des différentes positions spatiales de la surface (18) en terme de largeur et de profondeur, dans une direction donnée. Ce type de vue en deux dimensions correspond à une coupe de l'endommagement. Dans la figure 6, on a représenté une vue en trois dimensions de l'endommagement (21) obtenue par les algorithmes de l'invention. Les échelles (22, 23, 24) dont l'unité est la dizaine de micromètres, permettent de représenter précisément l'endommagement (21). Pour caractériser l'endommagement on peut ensuite se servir de différents critères. Les critères de caractérisation dépendent de l'application mais à partir de la géométrie complète, l'homme du métier peut déterminer parexemple si certaines limites maximums prédéterminées dans une des directions ont été atteintes. 2868156 -14- REVENDICATIONS 1. Procédé de caractérisation d'un endommagement de structure comportant les étapes d'appliquer sur la surface (14) de ladite structure une grille (1), diriger une source de lumière (3) vers ladite grille (1) de manière à créer une ombre de ladite grille sur ladite structure, ledit procédé étant caractérisé en ce qu'il comporte en outre les étapes: d'enregistrer, grâce à un moyen d'acquisition (8), une image du motif observé à travers la grille suivant une direction d'observation différente de celle de la source de lumière (3), de reconstituer une représentation graphique de ladite image enregistrée aux moyens d'algorithmes de traitement de ladite image, de caractériser l'endommagement à partir de ladite représentation. 2. Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce que ladite grille (1) peut être directement apposée sur la surface (14) à analyser. 3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, comportant les étapes de parcourir la surface, contrôler visuellement l'existence ou non de déformation dudit motif, arrêter le parcours de la surface, enregistrer une image grâce au moyen d'acquisition et caractériser l'endommagement. 4. Procédé selon la revendication 3, comportant les étapes de transférer 20 une ou plusieurs images enregistrées non traitées vers des moyens de traitement déportés pour caractériser en temps différé les endommagements. 5. Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que lesdits moyens de traitement de ladite image comportent une étape de normalisation des franges d'interférences apparaissant sur ladite image. 6. Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que lesdits moyens de traitement de ladite image permettent d'obtenir la modulation de phase pour déterminer la position spatiale de chaque point de ladite image, à partir des caractéristiques du montage et de l'intensité observée. 7. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, ca-30 ractérisé en ce que le résultat desdits moyens de traitement est transformé en une représentation graphique selon une échelle de couleur. 8. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le résultat desdits moyens de traitement est transformé en une représentation graphique en deux dimensions de l'endommagement (18). 2868156 -15-- 9. Procédé selon l'une quelconque des revendications précédentes, caractérisé en ce que le résultat desdits moyens de traitement est transformé en une représentation graphique en plusieurs dimensions de l'endommagement (21)É 10. Dispositif de caractérisation d'un endommagement de structure caractérisé en ce qu'il comporte: un support (2), une grille de moiré (1), un moyen d'éclairement (3), un moyen d'acquisition d'image (8) dont l'axe d'observation (10) est décalé par rapport à celui du moyen d'éclairement (4), un moyen de traitement d'image, - un moyen d'affichage du résultat dudit traitement. 11. Dispositif selon la revendication 10, caractérisé en ce que ladite grille 15 (1) est flexible. 12. Dispositif selon la revendication 1 0 ou 1 l, caractérisé en ce que ladite grille (1) subit préalablement à son utilisation un traitement antireflet. 13. Dispositif selon la revendication 10, 11 ou 12, caractérisé en ce que le-dit möyen d'acquisition (8) est fixé audit boîtier. 14. Dispositif selon l'une quelconque des revendications de 10 à 13, caractérisé en ce qu'un enregistrement de ladite image se fait par un moyen d'acquisition numérique. 15. Dispositif selon la revendication 14, caractérisé en ce que ledit enregistrement est traité par des moyens de traitement appliquant les algorithmes de 25 traitement dudit procédé de l'invention. 16. Dispositif selon l'une quelconque des revendications de 10 à 15, caractérisé en ce que le résultat desdits moyens de traitement est ensuite transformé graphiquement, représenté globalement sur un écran, selon une échelle de couleur, par des vues en deux ou trois dimensions (18, 21).