FR 2858876 A1 20050218 FR 0350425 A 20030812 PROCÉDÉ DE FORMATION SOUS UNE COUCHE MINCE D'UN PREMIER MATÉRIAU DE PORTIONS D'UN AUTRE MATÉRIAU ET/OU DE ZONES DE VIDE La présente invention concerne les procédés de fabrication de circuits intégrés. Le procédé de la présente invention vise plus particulièrement à former sous une couche d'un premier matériau des 5 zones de vide et/ou des portions d'un autre matériau. Des techniques connues d'implantation ionique permettent de former des couches enterrées dans un substrat en faisant réagir des ions implantés avec le substrat. Un exemple d'implantation ionique est l'implantation d'oxygène 02 dans un substrat de silicium afin de former des couches enterrées d'oxyde de silicium SiO2. Cette technique d'implantation est néanmoins relativement destructrice pour la partie supérieure du substrat. De plus, elle ne permet pas de former une couche enterrée de n'importe quel type de matériau. En outre, l'épaisseur de la couche enterrée est difficilement contrôlable. Une autre technique connue de formation de couches enterrées est celle mise en oeuvre par exemple lors de la formation de dispositifs de type "silicium sur rien", ou SON (de l'anglais Silicon On Nothing). Après croissance épitaxiale d'une couche de silicium/germanium puis d'une couche de silicium, on grave une ou plusieurs portions de la couche de silicium afin de pouvoir éliminer par gravure la couche de silicium/germanium sous-jacente. On dépose ensuite une couche diélectrique ou conductrice sous la couche de silicium en remplissant l'espace précédemment occupé par la couche de silicium/germanium. Une fois la couche déposée, aucune technique connue ne permet d'éliminer des portions choisies de la couche diélectrique ou conductrice. Un inconvénient de cette technique est donc que la couche déposée a nécessairement une forme identique à la couche de silicium/germanium. Un objet de la présente invention est de prévoir un procédé de formation sous une couche d'un matériau donné de portions d'un autre matériau et/ou de zones de vide ayant des formes quelconque. Un autre objet de la présente invention est de prévoir un tel procédé qui soit non destructeur pour la couche d'un matériau donné. Un autre objet de la présente invention est de prévoir un tel procédé qui permette de former des portions d'un autre 20 matériau quelconque. Pour atteindre ces objets, la présente invention pré-voit un procédé de formation d'une zone de vide sous une couche d'un matériau donné comprenant les étapes suivantes: former sur un substrat un empilement d'une couche photosensible et d'une couche du matériau donné ; insoler une portion de la couche photosensible ou son complément selon que la couche photo-sensible est positive ou négative par un faisceau d'électrons passant à travers la couche du matériau donné ; et éliminer ladite portion de la couche photosensible. Selon un mode de mise en oeuvre du procédé susmentionné, au moins une ouverture de ladite couche du matériau donné débouchant dans ladite portion est formée préalablement à l'élimination de ladite portion de la couche photosensible. Selon un mode de mise en oeuvre du procédé susmen- tionné, le procédé comprend en outre une étape consistant à remplir d'un second matériau l'espace précédemment occupé par la portion de la couche photosensible éliminée. Selon un mode de mise en oeuvre du procédé susmentionné, le procédé comprend en outre une étape d'élimination des 5 portions restantes de la couche photosensible. Selon un mode de mise en oeuvre du procédé susmentionné, le procédé comprend préalablement à l'élimination desdites portions restantes de la couche photosensible, une étape de formation d'au moins une ouverture de ladite couche du matériau donné débouchant dans une desdites portions restantes et comprenant en outre une étape consistant à remplir avec un troisième matériau différent du second matériau l'espace précédemment occupé par les portions restantes de la couche photosensible. Selon un mode de mise en oeuvre du procédé susmentionné, l'élimination de ladite portion de la couche photosensible est effectuée au moyen d'un plasma, ladite portion se volatilisant après transformation en passant à travers ladite couche du matériau donné. Selon un mode de mise en oeuvre du procédé susmen- tionné, l'élimination des portions restantes de la couche photo-sensible est effectuée au moyen d'un plasma oxygène, les portions restantes se volatilisant après transformation en passant à travers ladite couche du matériau donné. Selon un mode de mise en oeuvre du procédé susmen- tionné, le procédé comprend en outre, lors de l'étape de formation d'un empilement d'une couche photosensible et d'une couche du matériau donné, la formation d'une seconde couche photo-sensible sur l'empilement, et dans lequel l'étape d'insolation est réalisée de façon à insoler les deux couches photosensibles simultanément, d'où il résulte que les portions insolées des deux couches sont superposées. La présente invention prévoit aussi un procédé de formation d'un réseau d'interconnexions comprenant les étapes suivantes: recouvrir un substrat d'un empilement d'une première couche isolante, d'une première couche photosensible, et d'une seconde couche isolante; former des ouvertures dans l'empilement; remplir les ouvertures d'un matériau conducteur pour former des contacts; recouvrir la seconde couche isolante et les contacts d'une seconde couche photosensible; insoler plusieurs paires de portions de la couche photosensible ou leurs compléments selon que la couche photosensible est positive ou négative, les portions d'une même paire étant superposées et placées au-dessus et au-dessous de la seconde couche isolante; éliminer les paires de portions de la couche photosensible; remplir d'un matériau conducteur l'espace précédemment occupé par les portions de chacune des paires situées au-dessus de la seconde couche isolante. La présente invention prévoit aussi un procédé de formation d'un transistor à grille entourante comprenant les étapes suivantes: former un pont en silicium monocristallin passant par-dessus une zone active d'un substrat semiconducteur, le pont étant posé sur une zone d'isolement entourant la zone active; former une fine couche d'oxyde de silicium autour du pont et sur la zone active; recouvrir la structure d'une couche photosensible ainsi que l'espace vide situé entre la zone active et le pont; insoler deux premières portions de la couche photosensible, ou leurs conpléments selon que la couche photosensible est positive ou négative, les deux premières portions de la couche photosensible étant superposées et placées au-dessus et au-dessous de la portion centrale du pont; éliminer les deux premières et secondes portions de la couche photosensible; remplir d'un matériau conducteur l'espace précédemment occupé par les deux premières et secondes portions pour former une grille; éliminer les portions restantes de la couche photosensible; recouvrir la structure d'une couche de nitrure ainsi que les espaces vides situés sous le pont de part et d'autre de la grille; et effectuer une gravure anisotrope du nitrure de façon à former des espaceurs sur les flancs de la portion de grille située au-dessus du pont. Ces objets, caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres de la présente invention seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non-limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles: les figures 1A à 1D sont des vues en coupe de 5 structures obtenues après des étapes successives du procédé de la présente invention; la figure 2 est une vue en perspective d'une structure intermédiaire obtenue lors d'un procédé classique de formation de dispositifs de type SON; les figures 3A à 3F sont des vues en coupe de structures obtenues après des étapes successives d'un exemple de mise en oeuvre du procédé de la présente invention; et les figures 4A à 4F sont des vues en coupe de structures obtenues après des étapes successives d'un autre exemple de mise en oeuvre du procédé de la présente invention. Par souci de clarté, les mêmes éléments ont été désignés par les mêmes références aux différentes figures et, de plus, conne cela est habituel dans la représentation des circuits intégrés, les figures ne sont pas tracées à l'échelle. Les aspects généraux du procédé de la présente invention sont décrits en relation aux figures 1A à 1D. Des exemples de mise en oeuvre du procédé sont décrits ensuite pour la réalisation d'un transistor de type SON et pour la réalisation d'un réseau d'interconnexions permettant de relier les composants d'un circuit les uns aux autres. Dans une étape initiale, illustrée en figure 1A, on forme sur un substrat 1 un empilement d'une couche photosensible 2 et d'une couche mince 3 d'un matériau donné. Le substrat 1 peut être n'importe quelle structure obtenue après une étape d'un procédé standard de formation de circuits intégrés. L'empilement de la couche photosensible 2 et de la couche mince 3 peut être obtenu selon divers procédés comme cela apparaîtra dans les exemples de mise en oeuvre du procédé de la présente invention décrits ci- après. La couche mince 3 peut être composée d'un matériau diélectrique, semiconducteur ou conducteur. Selon la présente invention, on effectue une insolation d'une ou de plusieurs portions de la couche photosensible 2 avec un faisceau d'électrons passant à travers la couche mince 3. La profondeur de pénétration du faisceau d'électrons à travers la couche mince 3, la couche photosensible 2 et éventuellement le substrat 1 dépend de l'énergie d'accélération des électrons, de l'épaisseur respective des couches et de leurs natures. L'homme de l'art saura définir les épaisseurs des couches 2 et 3 ainsi que l'énergie d'accélération du faisceau d'électrons permettant d'insoler la couche photosensible 2 tout en assurant que le faisceau d'électrons reste cohérent en traversant la couche mince 3 afin d'avoir une bonne définition des portions insolées. A titre d'exemple, avec une couche mince 3 de silicium d'épaisseur 100 nm et une énergie d'accélération de 50 keV, les portions insolées de la couche photosensible peuvent être définies avec une précision inférieure à 10 nm. En figure 1A, on a représenté cinq portions 5, 6, 7, 8 et 9 de gauche à droite. Dans le cas où la couche photosensible est positive, on insole les portions 6 et 8. Dans le cas où la couche photosensible est négative, on insole les portions 5, 7 et 9. Après insolation, on élimine les portions insolées (ou non insolées selon le cas), ici les portions 6 et 8. Divers procédés peuvent être mise en oeuvre. Dans le cas où le type de couche photosensible choisi le permet, on pourra éliminer les portions 6 et 8 par un procédé "d'évaporation". Ce procédé consiste à placer la structure dans un plasma qui a pour effet de modifier la structure des portions 6 et 8 sans modifier celle des portions 5, 7 et 9. Le plasma utilisé peut être un plasma d'oxygène (02), d'hydrogène (H2) ou d'azote (N2). Après modification de la structure des portions de la couche photosensible 6 et 8, la couche photosensible s'élimine en passant à travers la couche mince 3. Un autre procédé d'élimination des portions de la 35 couche photosensible 6 et 8 est illustré en figure 1B. On forme des ouvertures 01 et 02 dans la couche mince 3 au-dessus des portions 6 et 8. Dans cet exemple, l'ouverture 01 est formée au-dessus de la partie de gauche de la portion 6 et se prolonge au-dessus de la partie de droite de la portion 5. L'ouverture 02 est formée au-dessus de la partie centrale de la portion 8. On élimine ensuite les portions 6 et 8 de la couche photosensible par un développement sélectif. Dans l'exemple représenté en figure 1B, des ouvertures de la couche mince 3 ont été réalisées au-dessus de chacune des portions de la couche photosensible 2 que l'on souhaite éliminer. Cependant, dans certaines structures telles que celle décrite ci-après en relation aux figures 3A à 3F, il est possible que les portions de la couche photosensible que l'on souhaite supprimer soient accessibles "de côté". Dans ce cas il n'est pas indispensable de former des ouvertures préalablement à l'élimination de certaines portions de la couche photosensible. Dans le cas où l'on a formé des ouvertures 01 et 02, on pourra prévoir une étape supplémentaire, illustrée en figure 1C, consistant à remplir l'espace précédemment occupé par les portions 6 et 8 d'un deuxième matériau différent de celui de la couche mince 3. On a ainsi formé des portions 10 et 11 du deuxième matériau sous la couche mince 3. Dans le cas où les évidements sous la couche mince 3 ont été formés par un développement chimique sélectif et où ces évidements ont été remplis d'un deuxième matériau, on pourra prévoir une étape supplémentaire, illustrée en figure 1D, consistant à éliminer les portions restantes de la couche photosensible 6, 7 et 9. Pour éliminer les portions restantes de la couche photosensible on pourra, comme précédemment, former des ouvertures, dans cet exemple 03 et 04, dans la couche mince 3 au-dessus des portions à éliminer, les portions 5 et 9 dans cet exemple. Dans le cas où le type de couche photosensible choisi le permet, on pourra aussi prévoir de placer la structure dans un plasma (02, H2, N2) susceptible de modifier la structure des portions 5, 7 et 9 de la couche photosensible de façon que la couche photosensible s'élimine en passant à travers la couche mince 3. Dans cet exemple, la portion 7 est éliminée au travers de la couche mince 3. Dans le cas où l'on a formé des ouvertures 03 et 04, on pourra prévoir une étape supplémentaire, consistant à remplir l'espace précédemment occupé par les portions 5, 7 et 9 d'un troisième matériau différent du deuxième matériau. Un avantage du procédé de la présente invention est qu'il permet de former sous une couche d'un matériau donné des zones de vide et/ou des portions d'un autre matériau de toutes les formes souhaitées. De plus, l'insolation par un faisceau d'électrons étant une technique très précise, les formes des portions peuvent être définies avec une grande précision. Un autre avantage du procédé de la présente invention est qu'il n'endommage pas les portions ou couches définitives des structures réalisées. Un mode de mise en oeuvre particulier du procédé de la présente invention est décrit ci-après dans un exemple de réalisation d'un transistor à grille entourante ou GAA (de l'anglais Gate All Around). La figure 2 est une vue en perspective d'une structure intermédiaire obtenue après une étape d'un procédé classique de formation de transistors à grilles entourantes. Une zone active 100 d'un substrat semiconducteur 101 est délimitée par une région d'isolement 102 formée en surface du substrat 101. La zone active 100 a dans cet exemple une forme sensiblement rectangulaire en vue de dessus. Une couche de silicium forme un pont 103 passant par-dessus la zone active 100 et s'appuyant sur la région d'isolement 102 de part et d'autre de la zone active 100. La portion du pont 103 située au-dessus de la zone active 100 est monocristalline, la portion située au-dessus de la région d'isolement 102 est polycristalline. La zone active 100 et le pont 103 sont séparés par une zone de vide. La zone active 100 est visible en vue de dessus de chaque côté du pont 103. La structure représentée en figure 2 est classiquement obtenue par croissance épitaxiale d'une couche de silicium/germanium au-dessus de la zone active 100 et croissance épitaxiale d'une couche de silicium monocristallin au-dessus de la couche de silicium germanium. Le bicouche est ensuite gravé de façon à former une bande transversale à la zone active 100. La portion restante de la couche de silicium germanium est éliminée par gravure et l'on obtient ainsi le pont de silicium 103. Les figures 3A à 3F sont des vues en coupe des structures obtenues après des étapes successives d'un exemple de mise en oeuvre du procédé de la présente invention effectué à partir de la structure représentée en figure 2. Les vues en coupe sont réalisées selon un plan coupant le pont 103 longitudinalement. Dans une première étape, illustrée en figure 3A, on fait croître par oxydation thermique une fine couche d'oxyde de silicium SiO2 tout autour du pont de silicium 103 et sur la zone active 100. On dépose ensuite une couche photosensible 111 au dessus de la structure et dans l'espace vide situé entre le pont 103 et la zone active 100. A l'étape suivante, illustrée en figure 3B, on insole la couche photosensible 111 en utilisant un faisceau d'électrons capable de traverser la couche photosensible située au dessus du pont 103, le pont 103 recouvert d'une fine couche d'oxyde de silicium et la couche photosensible placée sous le pont 103. Dans le cas où la couche photosensible est positive, on insole une portion 120 de la couche photosensible 111 située au-dessus de la partie centrale du pont 103 ainsi qu'une portion 121 de la couche photosensible 111 située à l'aplomb de la portion 120 sous le pont 103. On insole en outre des portions, non repré- sentées, de la couche photosensible situées dans le prolongement des portions 120 et 121 de chaque côté du pont 103. Dans le cas où la couche photosensible est négative, on insole des portions 122 et 123 de la couche photosensible situées respectivement au- dessus des parties de gauche et de droite du pont 103 ainsi que des portions 124 et 125 situées respectivement au-dessous des parties de gauche et de droite du pont 103. On insole aussi des portions de la couche photosensible, non représentées, situées dans le prolongement des portions 122 à 125 de chaque côté du pont 123. A l'étape suivante, illustrée en figure 3C, on élimine les portions 120 et 121 ainsi que les portions situées dans le prolongement des portions 120 et 121 de chaque côté du pont 103. A l'étape suivante, illustrée en figure 3D, on dépose un matériau conducteur, par exemple du silicium polycristallin, dans l'espace précédemment occupé par les portions 120 et 121 et les portions placées dans le prolongement des portions 120 et 121 de chaque côté du pont 103. On obtient alors des portions de grille 130 et 131 respectivement audessus et au-dessous du pont 103 ainsi que des portions de grille, non représentées, de chaque côté du pont 103 dans le prolongement des portions 130 et 131. L'ensemble de ces portions constituent une même et unique grille entourant le pont 103. A l'étape suivante, illustrée en figure 3E, on élimine les portions restantes de la couche photosensible, c'est à dire les portions 122 à 125 ainsi que les portions placées dans le prolongement des portions 122 à 125 de chaque côté du pont 103. A l'étape suivante, illustrée en figure 3F, on effectue un dépôt de nitrure de façon à recouvrir entièrement la structure précédemment obtenue et à remplir les espaces vides situés sous le pont 103 de part et d'autre de la portion 131. On effectue ensuite une gravure anisotrope du nitrure jusqu'à découvrir la surface supérieure de la portion de grille 130, de la fine couche d'oxyde 110 placée sur le pont 103 et de la zone active 100 de part et d'autre du pont 103. Après cette gravure de nitrure, on a formé des espaceurs 140 et 141 sur les flancs de la portion 130 et des portions 142 et 143 de nitrure sous le pont 103 de part et d'autre de la portion de grille 131. La portion du pont 103 située entre les portions de silicium polycristallin 130 et 131 constitue le canal du transistor. Les portions du pont 103 situées de part et d'autre du canal 144 constituent des zones de source/drain 145 et 146. Un avantage du procédé précédemment décrit est qu'il permet de réaliser un transistor à grille entourante tel que les portions de grille placées au-dessus et en dessous du pont de silicium soient alignées. Un autre mode de mise en oeuvre du procédé de la pré-sente invention est décrit ci-après dans un exemple de réalisation d'un réseau d'interconnections d'un circuit intégré. Dans une étape initiale, illustrée en figure 4A, on forme sur un substrat 200 un empilement d'une couche isolante 201, d'une couche photosensible 202 et d'une couche isolante 203. Le substrat 200 peut être n'importe quelle structure obtenue après une étape d'un procédé standard de formation d'un circuit intégré. A titre d'exemple, trois zones conductrices 205, 206 et 207 sont représentées en surface du substrat 200. Les zones conductrices 205, 206 et 207 sont par exemple des bornes d'accès à des composants du circuit intégré formés dans le substrat 200. Les couches isolantes 201 et 203 peuvent être de fines couches d'oxyde de silicium ou des couches d'un isolant présentant de préférence une faible constante diélectrique. A l'étape suivante, illustrée en figure 4B, on forme des ouvertures 010, 011 et 012 dans l'empilement des couches 201 à 203 au dessus des zones conductrices 205, 206 et 207. Les ouvertures 010, 011 et 012 peuvent être formées selon un procédé comprenant les étapes suivantes. On dépose une couche de nitrure puis une couche photosensible sur la couche isolante 203. On insole et élimine des portions de la couche photosensible audessus des zones conductrices 205, 206 et 207. On grave les portions non protégées de la couche de nitrure. On grave successivement la couche isolante 203, la couche photosensible 202 et la couche isolante 201 selon un procédé de gravure anisotrope permettant de former des ouvertures ayant des parois sensiblement verticales. On élimine enfin les portions restantes de la couche de nitrure. A l'étape suivante, illustrée en figure 4C, on remplit les ouvertures 010, 011 et 012 d'un matériau conducteur tel que du cuivre afin de former des contacts Cl, C2 et C3 au-dessus des zones conductrices 205, 206 et 207. Le remplissage des ouvertures 010, 011 et 012 pourra consister à effectuer un dépôt de cuivre sur l'ensemble de la structure puis à effectuer un polissage mécano-chimique jusqu'à découvrir la couche isolante 203. On recouvre ensuite la couche isolante 203 et les contacts Cl, C2 et C3 d'une couche photosensible 210. A l'étape suivante, illustrée en figure 4D, on insole les deux couches de la couche photosensible 202 et 210 avec un faisceau d'électrons passant à travers la couche photosensible 210, la couche isolante 203 et la couche photo-sensible 202. Dans cet exemple, on définit dans la couche photosensible 210 cinq portions 220, 221, 222, 223 et 224 de gauche à droite et on définit dans la couche photosensible 202 également cinq portions 230, 231, 232, 233 et 234 à l'aplomb respectivement des portions 220 à 224. La portion 221 s'étend au-dessus des contacts Cl et C2, la portion 223 est placée au- dessus du contact C3. Dans le cas où la couche photosensible est positive, on insole les portions 221, 223, 231 et 233. Dans le cas où la couche photosensible est négative, on insole les portions 220, 222, 224, 230, 232 et 234. A l'étape suivante, illustrée en figure 4E, on élimine les portions 221 et 223 de la couche photosensible 210 selon un procédé de développement classique. On élimine ensuite les portions 231 et 233 en plaçant la structure dans un plasma de façon à ce que la couche photosensible se volatilise après transformation en passant à travers la couche isolante 203. Les portions éliminées de la couche photosensible sont alors remplacées par des zones de vide 240 et 241. Une autre façon d'éliminer les portions 231 et 233 consiste à former de petites ouvertures dans la couche isolante 203 au-dessus de ces portions, puis à les éliminer par gravure humide. A l'étape suivante, illustrée en figure 4F, on remplit l'espace précédemment occupé par les portions 221 et 223 de la couche photosensible d'un matériau conducteur tel que du cuivre afin de former des lignes conductrices 250 et 251. La formation des lignes conductrices peut être effectuée en déposant du cuivre sur l'ensemble de la structure et en effectuant un polis-sage mécano-chimique jusqu'à découvrir la surface supérieure des portions 220, 222 et 224 de la couche photosensible. Les zones conductrices 205 et 206 sont alors reliées par l'intermédiaire des contacts Cl et C2 et de la ligne conductrice 250. La suite d'étapes décrite précédemment consistant à former des contacts puis des lignes conductrices peut être répétée plusieurs fois afin de former plusieurs niveaux de lignes conductrices. Un avantage du mode de mise en oeuvre particulier de la présente invention est qu'il permet de former un réseau d'interconnexions tel que chaque ligne conductrice soit isolée des autres lignes conductrices par deux très fines portions d'une couche isolante et par une zone de vide constituant le meilleur isolant possible. De plus, l'isolement entre deux lignes placées sur deux niveaux successifs étant très bon, il est possible de diminuer la hauteur des contacts ce qui permet de réduire significativement leur résistance. Bien entendu, la présente invention est susceptible de diverses variantes et modifications qui apparaîtront à l'homme de l'art. En particulier, on pourra prévoir de former sur un substrat un empilement de plusieurs couches photosensibles et de couches d'un ou de plusieurs matériaux donnés avant de procéder à une insolation de l'ensemble des couches photosensibles au moyen d'un faisceau d'électrons passant à travers l'ensemble des couches. En outre, divers procédés peuvent être mis en oeuvre pour former un empilement de couches photosensibles et de couches d'un ou de plusieurs matériaux. REVENDICATIONS 1. Procédé de formation d'une zone de vide sous une couche d'un matériau donné comprenant les étapes suivantes: former sur un substrat un empilement d'une couche photosensible et d'une couche du matériau donné ; insoler une portion de la couche photosensible ou son complément selon que la couche photosensible est positive ou négative par un faisceau d'électrons passant à travers la couche du matériau donné ; et éliminer ladite portion de la couche photosensible. 2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel au moins une ouverture de ladite couche du matériau donné débouchant dans ladite portion est formée préalablement à l'élimination de ladite portion de la couche photosensible. 3. Procédé selon la revendication 2, comprenant en outre une étape consistant à remplir d'un second matériau l'espace précédemment occupé par la portion de la couche photosensible éliminée. 4. Procédé selon la revendication 3, comprenant en outre une étape d'élimination des portions restantes de la 20 couche photosensible. 5. Procédé selon la revendication 4, comprenant préalablement à l'élimination desdites portions restantes de la couche photosensible, une étape de formation d'au moins une ouverture de ladite couche du matériau donné débouchant dans une desdites portions restantes et comprenant en outre une étape consistant à remplir avec un troisième matériau différent du second matériau l'espace précédemment occupé par les portions restantes de la couche photosensible. 6. Procédé selon la revendication 1, dans lequel l'élimination de ladite portion de la couche photosensible est effectuée au moyen d'un plasma, ladite portion se volatilisant après transformation en passant à travers ladite couche du matériau donné. 2858876 15 7. Procédé selon la revendication 4, dans lequel l'élimination des portions restantes de la couche photosensible est effectuée au moyen d'un plasma, les portions restantes se volatilisant après transformation en passant à travers ladite couche du matériau donné. 8. Procédé selon la revendication 1, comprenant en outre, lors de l'étape de formation d'un empilement d'une couche photosensible et d'une couche du matériau donné, la formation d'une seconde couche photosensible sur l'empilement, et dans lequel l'étape d'insolation est réalisée de façon à insoler les deux couches photosensibles simultanément, d'où il résulte que les portions insolées des deux couches sont superposées. 9. Procédé selon la revendication 8, destiné à former un réseau d'interconnexions, dans lequel l'étape de formation d'un empilement comprend les étapes suivantes: recouvrir un substrat d'un empilement d'une première couche isolante, d'une première couche photosensible, et d'une seconde couche isolante; former des ouvertures dans l'empilement; remplir les ouvertures d'un matériau conducteur pour former des contacts; recouvrir la seconde couche isolante et les contacts d'une seconde couche photosensible, dans lequel l'étape d'insolation consiste à insoler plusieurs paires de portions des première et seconde couches photosensibles ou leurs compléments selon que les couches photo-sensibles sont positives ou négatives, les portions d'une même paire étant superposées et placées au-dessus et au-dessous de la seconde couche isolante, et dans lequel l'étape d'élimination consiste à éliminer les paires de portions des couches photosensibles; et comprenant en outre une étape consistant à remplir d'un matériau conducteur l'espace précédemment occupé par les portions de chacune des paires situées au-dessus de la seconde couche isolante. 2858876 16 10. Procédé selon la revendication 8, destiné à former un transistor à grille entourante, dans lequel l'étape de formation d'un empilement comprend les étapes suivantes: former un pont en silicium monocristallin passant par- dessus une zone active d'un substrat semiconducteur, le pont étant posé sur une zone d'isolement entourant la zone active; former une fine couche d'oxyde de silicium autour du pont et sur la zone active; recouvrir la structure d'une couche photosensible ainsi que l'espace vide situé entre la zone active et le pont, dans lequel l'étape d'insolation consiste à insoler deux portions de la couche photosensible, ou leurs compléments selon que la couche photosensible est positive ou négative, les deux portions de la couche photosensible étant superposées et placées au- dessus et au-dessous de la portion centrale du pont, et dans lequel l'étape d'élimination consiste à éliminer les deux portions de la couche photosensible, et comprenant en outre les étapes suivantes: remplir d'un matériau conducteur l'espace précédemment occupé par les deux portions pour former une grille; éliminer les portions restantes de la couche photosensible; recouvrir la structure d'une couche de nitrure ainsi 25 que les espaces vides situés sous le pont de part et d'autre de la grille; et effectuer une gravure anisotrope du nitrure de façon à former des espaceurs sur les flancs de la portion de grille située au-dessus du pont.