FR 2853067 A1 20041001 FR 0403324 A 20040330 PROCEDE DE REGLAGE DE CAPTEUR MAGNETIQUE, DISPOSITIF DE REGLAGE DE CAPTEUR MAGNETIQUE ET CAPTEUR MAGNETIQUE La présente invention concerne un procédé de réglage de capteur magnétique, un dispositif de réglage de capteur magnétique et le capteur magnétique lui-même. Certains capteurs de rotation et capteurs de mesure de longueur utilisent des capteurs magnétiques. Parmi divers types de capteurs magnétiques, certains capteurs magnétiques utilisent un procédé dans lequel une cible de détection magnétique qui tourne ou se déplace conjointement 10 à un objet de détection est disposée dans un champ magnétique, une variation du champ magnétique, conformément au mouvement de la cible de détection magnétique, est détectée par un élément de détection de champ magnétique tel qu'un élément à effet de magnétorésistance (élément MR: JP-A-11-304 414 et JP-A-11-237 256) et un élément à effet Hall (JP-A-1015 103 145), et ensuite un angle de rotation ou une distance de déplacement de la cible de détection magnétique est calculé en utilisant les formes d'onde détectées. On utilise un tel capteur magnétique du fait qu'il a une structure relativement simple et une exactitude élevée. Par exemple, on connaît un capteur magnétique pour des automobiles qui détecte des an20 gles de vilebrequin, et autres, en disposant une roue dentée constituée d'un matériau magnétique doux qui a des parties concaves et convexes formées sur une surface circonférentielle extérieure, de façon qu'elle se trouve face à un aimant de génération de champ magnétique, de manière à créer un entrefer magnétique entre eux, en disposant un élément de dé25 tection de champ magnétique (on utilise souvent un élément MR du fait qu'il est peu coûteux et peut être miniaturisé aisément) dans l'entrefer magnétique, et en détectant ensuite une position de rotation de la roue dentée conformément à la forme d'onde de sortie de l'élément de détec- tion de champ magnétique (JP-A-11-304 414 et JP-A-11-237 256). Du fait que les parties concaves et convexes forment avec l'élément de détection de champ magnétique des longueurs respectives d'entrefer de détection respectives qui diffèrent les uns des autres, des fluctuations notables se 5 produisent dans le champ magnétique dans l'entrefer magnétique et, en particulier, lorsque les régions frontières entre les parties concaves et convexes passent à travers l'entrefer magnétique, ceci se manifeste par des variations du niveau de la forme d'onde détectée par l'élément de détection de champ magnétique. Dans des capteurs réels, cette forme 10 d'onde est convertie en binaire (transformée en une onde carrée) par un comparateur et autres, et la position de rotation est déterminée sur la base des fronts de transition de niveau. Ici, si les longueurs d'entrefer de détection formées entre la roue dentée et l'aimant sont inégales entre des capteurs, à cause de fac15 teurs tels que des erreurs dans la fixation, ou si les hauteurs des parties concaves et convexes dans une roue dentée sont inégales à cause de la précision de finition de la roue dentée et d'autres facteurs, il peut apparaître un problème consistant en ce que l'exactitude de détection d'angle est dégradée. En outre, une excentricité de l'axe de rotation de la roue 20 dentée peut également occasionner des fluctuations de la longueur d'entrefer de détection conformément à la phase angulaire. De façon plus spécifique, lorsque l'entrefer de détection devient plus grand, la transition du niveau de forme d'onde devient moins abrupte lorsque les régions frontières, entre les parties concaves et convexes de la roue dentée, pas25 sent à travers l'entrefer de détection et, inversement, lorsque l'entrefer de détection devient plus petit, la transition du niveau de forme d'onde devient plus abrupte. De ce fait, des positions des fronts de transition après conversion en binaire deviennent irrégulières en fonction de la longueur d'entrefer de détection, et par conséquent, l'exactitude dans la détection 30 de positions de rotation est dégradée. De tels problèmes se produisent non seulement dans les capteurs de rotation, mais également dans les capteurs de mesure de longueur et, en outre, dans des capteurs utilisant des cibles de détection autres que les parties concaves et convexes (par exemple, lorsque des ressorts magnétiques ou des échelles magnétiques 35 sont utilisés, des régions ayant des polarités mutuellement opposées qui sont disposées en alternance remplissent le rôle des parties concaves et convexes), d'une manière similaire. Le document JP-A-10-103 145 s'attaque à ce problème de la façon suivante. Même si la forme d'onde avant conversion en binaire fluc5 tue à cause de l'inégalité de la longueur d'entrefer de détection, en terme d'une paire des parties concaves et convexes, l'exactitude du cycle de forme d'onde peut être maintenue aussi longtemps que l'exactitude dimensionnelle, dans la formation des parties concaves et convexes, est garantie. Dans ce cas, dans la forme d'onde après la conversion en bi10 naire, la période de répétition entre un premier segment de niveau correspondant à la partie convexe et un second segment de niveau correspondant à la partie concave, est constante en elle-même. Par conséquent, parmi les fronts de transition (fronts convertis en binaire) entre le premier segment de niveau et le second segment de niveau, en adoptant seule15 ment l'un des fronts montant ou descendant comme le signal de détection, l'exactitude de détection d'angle peut être assurée par l'exactitude dimensionnelle dans la formation des parties concaves et convexes. La solution ci-dessus a cependant les problèmes suivants. (1) Dans la solution ci-dessus, bien que la période de répétition 20 de la forme d'onde soit constante par elle-même, la phase des positions de front converties en binaire est irrégulière en fonction de la forme de la forme d'onde et, par conséquent, ne correspond pas sans ambiguïté à la phase concave - convexe de la roue dentée. Un problème grave se manifeste lorsque la phase de fixation de la roue dentée sur l'objet de détec25 tion doit être maîtrisée. Par exemple, dans le cas d'un capteur d'angle pour détecter un angle de vilebrequin d'automobile, si la roue dentée est fixée en relation avec la phase concave - convexe, l'irrégularité de la phase des positions de front convertis en binaire, décrite ci-dessus, peut affecter défavorablement des opérations telles que la commande d'instant 30 d'allumage qui est effectuée en référence; et (2) du fait qu'un seul des fronts montant ou descendant formés dans la forme d'onde convertie en binaire peut être adopté, la résolution de la détection d'angle est notablement réduite en comparaison avec d'autres solutions utilisant les deux fronts. Inversement, pour obtenir la 35 résolution comparable à celle des autres solutions utilisant les deux fronts, le nombre des parties concaves et convexes doit être doublé mais il en résulte que le coût d'usinage de la roue dentée est augmenté, et il devient difficile de garantir l'exactitude. Un but de la présente invention est de procurer un procédé de 5 réglage de capteur magnétique qui résolve les problèmes ci-dessus, un dispositif de réglage de capteur magnétique utilisé pour le procédé, et le capteur magnétique. Un autre but de la présente invention est de procurer un procédé de réglage de capteur magnétique qui puisse toujours être précis dans 10 la détection d'une cible de détection de manière satisfaisante, indépendamment des fluctuations d'une longueur d'entrefer de détection qui peuvent se produire entre différents produits consistant en des capteurs magnétiques, ou dans un même produit consistant en un capteur magnétique, un dispositif de réglage de capteur magnétique utilisé pour le procé15 dé, et le capteur magnétique. Un autre but encore de la présente invention est de procurer un procédé de réglage de capteur magnétique qui empêche une irrégularité d'une phase d'un front de forme d'onde convertie en binaire, un dispositif de réglage de capteur magnétique utilisé pour le procédé, et le capteur 20 magnétique. Un autre but encore de la présente invention est de procurer un procédé de réglage de capteur magnétique qui puisse toujours être précis dans la détection d'une cible de détection de façon satisfaisante, indépendamment des fluctuations d'une longueur d'entrefer de détection qui 25 peuvent se produire entre différents produits consistant en des capteurs magnétiques, ou dans un seul produit consistant en un capteur magnétique, et qui empêche l'apparition d'une irrégularité d'une phase des fronts de forme d'onde convertie en binaire, un dispositif de réglage de capteur magnétique utilisé pour le procédé, et le capteur magnétique. Conformément à la présente invention, celle-ci concerne un procédé pour régler un capteur magnétique incluant: un aimant pour générer un champ magnétique; une unité de détection de cible dans laquelle une première partie détectée et une seconde partie détectée sont magnétiquement non 35 équivalentes l'une à l'autre, sont disposées le long d'un chemin de déplacernent passant par une position faisant face à l'aimant avec interposition d'un entrefer magnétique, et peuvent être déplacées intégralement le long du chemin de déplacement; une section de détection de champ magnétique pour détecter 5 des fluctuations de champ magnétique dans l'entrefer magnétique sur la base du fait que la première partie détectée et la seconde partie détectée traversent alternativement l'entrefer magnétique; une section de traitement de forme d'onde pour convertir en binaire une forme d'onde de détection détectée par la section de détection 10 de champ magnétique, sur la base d'un seuil prédéterminé; et une section de réglage et de fixation de seuil pour fixer le seuil de façon qu'il puisse être réglé de manière relative par rapport aux formes d'onde de détection, le procédé comprenant les étapes suivantes: on obtient des formes d'onde de détection pour une multiplicité 15 de valeurs fixées, au moyen des sections de détection de champ magnétique, tout en changeant des longueurs d'entrefer, qui sont formées entre la première partie détectée ou la seconde partie détectée et les sections de détection de champ magnétique dans l'entrefer magnétique, parmi la multiplicité de valeurs fixées; on calcule une valeur de niveau de point d'intersection indiquée par un point d'intersection entre une multiplicité de formes d'onde de détection détectées pour la multiplicité de valeurs fixées, lorsque la multiplicité de formes d'onde de détection sont superposées en phase; et on règle le seuil de façon qu'il concorde avec la valeur de ni25 veau de point d'intersection. En outre, conformément à la présente invention, celle-ci concerne un dispositif pour régler un capteur magnétique, comprenant un aimant pour générer un champ magnétique; une unité de détection de cible dans laquelle une première par30 tie détectée et une seconde partie détectée, qui sont magnétiquement non équivalentes l'une à l'autre, sont disposées le long d'un chemin de déplacement passant par une position faisant face à l'aimant avec interposition d'un entrefer magnétique, et peuvent être déplacées intégralement le long du chemin de déplacement; une section de détection de champ magnétique pour détecter des fluctuations de champ magnétique dans l'entrefer magnétique sur la base du fait que les premières parties détectées et les secondes parties détectées traversent alternativement lentrefer magnétique; une section de traitement de forme d'onde pour convertir en bi5 naire une forme d'onde de détection détectée par la section de détection de champ magnétique, sur la base d'un seuil prédéterminé; une section de réglage et de fixation de seuil pour fixer le seuil de façon qu'il puisse être réglé de manière relative par rapport aux formes d'onde de détection; une section de changement et de fixation de longueur d'entrefer de détection pour changer et fixer des longueurs d'entrefer, qui sont formées entre la première partie détectée ou la seconde partie détectée et la section de détection de champ magnétique dans l'entrefer magnétique, parmi une multiplicité de valeurs fixées; une section d'obtention de forme d'onde de détection pour obtenir des formes d'onde de détection pour la multiplicité de valeurs fixées par les sections de détection de champ magnétique; et une section de calcul de valeur de niveau de point d'intersection pour calculer une valeur de niveau de point d'intersection indiquée par un 20 point d'intersection entre une multiplicité de formes d'onde de détection détectées pour la multiplicité de valeurs fixées, lorsque la multiplicité de formes d'onde de détection sont superposées en phase. En outre, conformément à la présente invention, celle-ci concerne un capteur magnétique, comprenant: un aimant pour générer un champ magnétique; une unité de détection de cible dans laquelle une première partie détectée et une seconde partie détectée, qui sont magnétiquement non équivalentes l'une à l'autre, sont disposées le long d'un chemin de déplacement passant par une position faisant face à l'aimant avec interposition 30 d'un entrefer magnétique, et peuvent être déplacées intégralement le long du chemin de déplacement; une section de détection de champ magnétique pour détecter des fluctuations de champ magnétique dans l'entrefer magnétique sur la base du fait que les premières parties détectées et les secondes parties 35 détectées traversent alternativement l'entrefer magnétique; une section de traitement de forme d'onde pour convertir en binaire une forme d'onde de détection détectée par la section de détection de champ magnétique, sur la base d'un seuil prédéterminé; et une section de réglage et de fixation de seuil pour fixer le seuil 5 de façon qu'il puisse être réglé de manière relative par rapport aux formes d'onde de détection, dans lequel une première forme d'onde de détection est obtenue en changeant de force une longueur d'entrefer de détection, qui est définie comme étant une valeur spécifique prédéterminée entre les première 10 parties détectées ou les secondes parties détectées et les sections de détection de champ magnétique dans l'entrefer magnétique, à partir de la valeur spécifique; une seconde forme d'onde de détection est obtenue conformément à la longueur d'entrefer de détection qui est définie comme étant la 15 valeur spécifique, et le seuil est réglé de façon qu'il concorde avec une valeur de niveau de point d'intersection qui est indiquée par un point d'intersection entre la première forme d'onde de détection et la seconde forme d'onde de détection, lorsque la première forme d'onde de détection et la seconde 20 forme d'onde de détection sont superposées en phase. La présente invention décrite ci-dessus est appliquée à un capteur magnétique dans lequel une unité de détection de cible, dans laquelle des premières parties détectées et des secondes parties détectées sont magnétiquement non équivalentes les unes aux autres et sont dispo25 sées en alternance le long d'un chemin de déplacement prédéterminé, est disposée face à un aimant avec interposition d'un entrefer magnétique, des fluctuations de champ magnétique dans l'entrefer magnétique, lorsqu'un réseau des deux types des parties détectées est déplacé intégralement le long du chemin de déplacement ci-dessus, sont détectées par des 30 sections de détection de champ magnétique, et les formes d'onde de détection sont converties en binaire sur la base d'un seuil prédéterminé. Lorsqu'une longueur d'entrefer de détection entre les premières parties détectées ou les secondes parties détectées et les sections de détection de champ magnétique varie, une amplitude des formes d'onde de détec35 tion obtenues est changée, et des crêtes et des creux des formes d'onde sont élargis ou rétrécis de façon correspondante mais, d'après le résultat d'études, l'inventeur de la présente invention a trouvé que les formes d'onde de détection se coupent à un point d'intersection pratiquement fixe, indépendamment de la longueur d'entrefer de détection, lorsque les 5 formes d'onde qui sont changées par l'effet de la longueur de l'entrefer de détection sont superposées l'une sur l'autre de façon que les phases des formes d'onde concordent mutuellement (ou que les formes d'onde soient en phase). Par conséquent, dans la présente invention, un seuil pour con10 vertir en binaire les formes d'onde est fixé de façon qu'il concorde avec cette valeur de niveau de point d'intersection. Comme décrit ci-dessus, lorsqu'une multiplicité de formes d'onde obtenues en changeant la longueur d'entrefer de détection, qui se coupent mutuellement au point d'intersection décrit ci-dessus, sont converties en binaire en référence à la 15 valeur de seuil concordant avec la valeur de niveau de point d'intersection, la phase des fronts convertis en binaire est constante indépendamment des formes d'onde de détection, et donc des valeurs fixées de la longueur d'entrefer de détection. Par conséquent, lorsque la longueur d'entrefer de détection fluctue entre différents produits consistant en des 20 capteurs magnétiques, ou dans un seul produit consistant en un capteur magnétique, la précision dans la détection des parties détectées peut toujours être établie de façon satisfaisante, indépendamment des fluctuations. En outre, lorsque la longueur d'entrefer de détection fluctue, 25 bien que les formes d'onde de détection puissent varier conformément à la longueur d'entrefer de détection, la phase des positions de fronts convertis en binaire est toujours pratiquement constante. Une relation de phase entre les premières parties détectées et les secondes parties détectées dans l'unité de détection de cible peut être définie sans ambiguï30 té, indépendamment de la longueur d'entrefer de détection. Par conséquent, même lorsque la phase de fixation de l'unité de détection de cible doit être maîtrisée, la précision de la phase n'est pas dégradée par les fluctuations de la longueur d'entrefer de détection. En outre, lorsque la phase à la fois du front montant et du front 35 descendant apparaissant dans la forme d'onde convertie en binaire peut être garantie, les deux fronts peuvent être utilisés comme des signaux de détection, avec une exactitude élevée. Dans ce cas, on peut utiliser un front ou l'autre, ou bien on peut augmenter la résolution de la détection d'angle en utilisant les deux fronts. A titre d'exemple d'effets spécifiques de la présente invention, lorsqu'elle est appliquée à un capteur d'angle pour détecter un angle de vilebrequin d'automobile, la phase de la forme d'onde convertie en binaire n'est pas affectée par la longueur d'entrefer de détection, et est définie pratiquement sans ambiguïté en fixant l'unité de détection de cible sur un 10 axe de rotation en référence à la phase des premières parties détectées et des secondes parties détectées. Par conséquent, des opérations telles que la commande de l'instant d'allumage qui est effectuée en référence, peuvent être effectuées de façon plus exacte. Le capteur magnétique de la présente invention qui est obtenu 15 en réglant le seuil de conversion en binaire conformément au procédé de la présente invention, comme décrit ci-dessus, n'est pas susceptible d'occasionner l'inégalité de l'exactitude de détection entre différents produits consistant en des capteurs magnétiques, et n'est pas susceptible d'être affecté par l'inégalité de la longueur d'entrefer de détection dans le ré20 seau des premières parties détectées et des secondes parties détectées dans un même produit consistant en un capteur magnétique, par l'exactitude du montage de l'unité de détection de cible ou par des changements à long terme de la longueur d'entrefer de détection dans le capteur magnétique qui a été fixé. Dans ce cas, on peut contrôler aisément si le seuil 25 de conversion en binaire du capteur magnétique concorde ou non avec la valeur de niveau de point d'intersection des formes d'onde, comme décrit ci-dessus, par la procédure suivante. Ainsi, dans les produits consistant en des capteurs magnétiques, la longueur d'entrefer de détection est fixée à une valeur spécifique propre à chaque produit. Dans ces condi30 tions, l'aimant ou les premières et secondes parties détectées sont déplacés intentionnellement afin de changer la longueur d'entrefer de détection à partir de la valeur spécifiée, et ensuite des formes d'onde de détection avant et après le changement sont mesurées. Si le seuil est réglé conformément à la présente invention, comme décrit ci-dessus, la valeur de ni35 veau de point d'intersection obtenue en superposant les deux formes d'onde de détection en phase, concorde avec le seuil. Dans ces conditions, lorsque la longueur d'entrefer de détection est changée, le changement de l'ordre de 20% de la longueur d'entrefer de détection fixée comme la valeur spécifique propre à chaque produit, est suffisant pour estimer la valeur de niveau de point d'intersection. Dans la présente invention, la "non-équivalence magnétique" entre les première parties détectées et les secondes parties détectées dans l'unité de détection de cible signifie que les conditions de magnétisation dans le champ magnétique produit par l'aimant diffèrent entre les 10 premières parties détectées et les secondes parties détectées, lorsque chacune des première et seconde parties détectées atteint la position située face à l'aimant. Lorsque les premières et secondes parties détectées ont des conditions de magnétisation différentes, les champs magnétiques générés lorsque les premières parties détectées et les secondes parties 15 détectées sont magnétisées, sont distribués différemment et interagissent avec le champ magnétique de l'aimant de manière mutuellement différente (par exemple en ce qui concerne des orientations de champs magnétiques combinés). Par conséquent, la distribution de champ magnétique dans l'entrefer magnétique varie au moment de l'approche des premières par20 ties détectées ou des secondes parties détectées. Un exemple de la combinaison des premières parties détectées et des secondes parties détectées qui sont magnétiquement non équivalentes est celui de parties concaves et de parties convexes constituées d'un matériau ferromagnétique qui ont des hauteurs mutuellement diffé25 rentes dans la direction de l'entrefer magnétique. Dans ce cas, dans les parties concaves, la distance jusqu'à l'aimant ou la longueur d'entrefer magnétique est augmentée et le degré de magnétisation est diminué, mais dans les parties convexes, cette relation est inversée. Ces parties concaves et convexes sont avantageusement constituées d'un matériau 30 magnétique doux qui peut être magnétisé aisément (comme par exemple le Permalloy). En outre, les premières parties détectées et les secondes parties détectées peuvent être formées comme des régions polarisées d'un aimant permanent qui ont des polarités mutuellement opposées. De plus, il est possible d'utiliser une combinaison de matériaux ferromagnéti35 ques qui diffèrent mutuellement en termes de susceptibilité magnétique 1 1 ou d'aimantation de saturation, ou bien l'une des première et seconde parties détectées peut être formée d'un matériau ferromagnétique et l'autre peut être formée d'un matériau non magnétique (un matériau paramagnétique ou diamagnétique: par exemple des aciers inoxydables austéni5 tiques, des métaux non magnétiques tels que le cuivre ou l'aluminium et des matériaux polymériques tels que des matières plastiques). En outre, l'aimant pour générer le champ magnétique peut être un aimant permanent ou un électro-aimant. L'entrefer magnétique (et l'entrefer de détection) peut être formé par un espace vide, ou bien au moins 10 une partie de l'entrefer magnétique peut être remplie par un matériau non magnétique. De plus, les sections de détection de champ magnétique pour détecter des fluctuations de champ magnétique peuvent être des éléments MR bien connus, ou peuvent être sélectionnées parmi diverses variantes comme des éléments à effet Hall, des bobines de détection et 15 des têtes magnétiques. Lorsque la longueur d'entrefer de détection est changée pour calculer la valeur de niveau de point d'intersection, la plage de changement de la longueur d'entrefer de détection doit être de 20% à 200% de sa valeur médiane. Si la plage de changement de la longueur d'entrefer 20 de détection est inférieure à 20%, une différence entre les formes d'onde détectées obtenues en changeant la longueur d'entrefer de détection peut être trop petite pour lire la valeur de niveau de point d'intersection. Cependant, si la plage de changement de la longueur d'entrefer de détection dépasse 200%, la valeur de niveau de point d'intersection définie entre 25 les formes d'onde peut devenir non constante et perdre sa signification en tant que valeur cible pour la fixation de seuil. D'autre part, lorsque la plage de changement de la longueur d'entrefer de détection tombe entre 20 - 200%, les valeurs de niveau de point d'intersection lorsque les formes d'onde de détection sont obtenues 30 en ce qui concerne au moins trois niveaux des longueurs d'entrefer de détection dans cette plage, peuvent concorder pratiquement les unes avec les autres, dans une marge d'écart de 20%, et par conséquent, une exactitude suffisante dans la fixation du seuil peut être maintenue même si les longueurs d'entrefer de détection utilisées pour la mesure sont quelque 35 peu inégales. Par exemple, lorsque les formes d'onde de détection sont obtenues en utilisant trois niveaux, ou plus, des longueurs d'entrefer de détection, les niveaux de point d'intersection entre les formes d'onde de détection peuvent quelquefois ne pas concorder mutuellement. Cependant, tant que leur écart demeure à l'intérieur de la plage décrite ci5 dessus, on peut considérer que les niveaux de point d'intersection sont pratiquement en concordance sensiblement les uns avec les autres. Dans ce cas, il est possible de sélectionner n'importe lesquels des niveaux de point d'intersection pour le seuil avec lequel les niveaux de point d'intersection concordent, ou bien le seuil peut concorder avec une valeur 10 moyenne de ces niveaux de point d'intersection. En outre, dans la présente invention, également lorsqu'une multiplicité de niveaux de point d'intersection sont déterminés pour fixer le seuil, comme décrit ci-dessus, tant que l'écart entre le seuil et chaque niveau de point d'intersection demeure dans une marge de 20%, on peut considérer d'un point de vue 15 théorique que ces valeurs sont en concordance l'une avec l'autre. Par conséquent, de la manière la plus aisée, on peut prendre à titre d'exemple un procédé dans lequel la longueur d'entrefer de détection est changée entre deux niveaux et une valeur de point d'intersection de deux formes d'onde de détection obtenues conformément aux deux lon20 gueurs d'entrefer de détection est calculée comme une valeur cible avec laquelle le seuil doit concorder. Dans ce cas, afin d'obtenir de manière appropriée l'effet de la présente invention, il est souhaitable de fixer les deux niveaux des longueurs d'entrefer de détection de façon que la différence entre eux soit aussi grande que possible, à l'intérieur de la plage de 25 changement préférable décrite ci-dessus. Le capteur magnétique auquel la présente invention est appliquée peut être un capteur de rotation, dans lequel l'unité de détection de cible est uncorps de révolution, une trajectoire d'une surface latérale circonférentielle autour d'un axe de rotation du corps de révolution constitue 30 un chemin de déplacement, et les premières parties détectées et les secondes parties détectées sont disposées en alternance le long de la surface latérale circonférentielle. En adoptant la présente invention, il est possible d'augmenter notablement l'exactitude de détection de la phase angulaire de rotation. La présente invention n'est cependant pas limitée à 35 des capteurs de rotation, mais peut également être appliquée à des cap- teurs de mesure de longueur tels que par exemple des codeurs linéaires. Ensuite, dans la présente invention, afin de changer la longueur d'entrefer de détection du capteur magnétique, il est nécessaire de déplacer de manière relative les premières et secondes parties détectées et les 5 sections de détection de champ magnétique. Cependant, en terme de production en quantité des capteurs magnétiques, il est très malcommode, et par conséquent non pratique, de changer la position de montage des sections de détection de champ magnétique dans le processus de fabrication. Par conséquent, il est effectif d'adopter un procédé dans lequel 10 un réglage est effectué en remplaçant une unité de détection de cible normale par une unité de détection de cible dédiée au réglage, et de monter ensuite l'unité de détection normale de cible. Une fois que le réglage conforme à la présente invention est achevé, le capteur magnétique est difficilement affecté, même si la longueur d'entrefer de détection est 15 quelque peu inégale lorsque l'unité de détection de cible est montée. Dans ce"cas, bien que le réglage puisse être effectué en changeant successivement une multiplicité d'unités de détection de cible pour le réglage, qui sont préparées à l'avance de façon à avoir des longueurs d'entrefer de détection différentes d'une à l'autre, et en mesurant les for20 mes d'onde de détection correspondant individuellement aux unités de détection de cible de réglage respectives, il est malcommode de changer les unités de détection de cible de réglage, et le réglage peut être affecté par des erreurs dans le montage au moment auquel les unités de détection de cible de réglage sont changées. Par conséquent, dans la présente invention, on peut adopter le procédé de réglage décrit ci-dessous. Ainsi, à la place de l'unité de détection de cible normale ayant une longueur d'entrefer de détection constante, on monte sur le capteur magnétique une unité de détection de cible à entrefer variable pour le réglage, dans laquelle des segments ayant des 30 longueurs d'entrefer de détection différentes coexistent, tandis que l'aimant est monté à une position fixée, et ensuite des formes d'onde de détection conformes aux premières et secondes parties détectées sont obtenues pour chacun des segments de l'unité de détection de cible à entrefer variable, ayant différentes longueurs d'entrefer de détection. Dans ce cas, le dispositif de réglage de la présente invention peut être constitué de la façon suivante. Ainsi, un moyen de changement et de fixation d'entrefer de détection comprend une unité de détection de cible à entrefer variable pour le réglage, qui est montée sur un capteur magnétique de façon à permettre un réglage temporaire, à la place d'une 5 unité de détection de cible normale ayant une longueur d'entrefer de détection uniforme, et dans laquelle des segments ayant différentes longueurs d'entrefer de détection coexistent. Ensuite, un moyen d'obtention de forme d'onde de détection obtient des formes d'onde de détection conformes à des premières et secondes parties détectées pour chacun 10 des segments de l'unité de détection de cible à entrefer variable, ayant différentes longueurs d'entrefer de détection. Conformément au procédé et au dispositif de la présente invention, décrits ci-dessus, du fait que les segments ayant les différentes longueurs d'entrefer de détection coexistent dans une seule unité de détec15 tion de cible à entrefer variable, il est possible d'obtenir en même temps une multiplicité de formes d'onde de détection pour calculer une valeur de niveau de point d'intersection, sans changer des unités de détection de cible de réglage, et il en résulte qu'un processus de réglage peut être simplifié. En outre, du fait que le processus pour changer les unités de 20 détection de cible de réglage n'est pas nécessaire, il n'y a aucune possibilité que le réglage soit affecté par des erreurs dans le montage des unités de détection de cible de réglage. Par exemple, dans le cas d'un capteur de rotation, dans lequel une unité de détection de cible normale est un corps de révolution, une 25 trajectoire d'une surface latérale circonférentielle autour d'un axe de rotation du corps de révolution constitue un chemin de déplacement, et des premières parties détectées et des secondes parties détectées sont disposées en alternance le long de la surface latérale circonférentielle, il est possible d'utiliser une unité de détection de cible à entrefer variable, dans 30 laquelle une multiplicité de segments ayant des rayons de rotation différents les uns des autres sont disposés le long de la surface latérale circonférentielle d'un corps de révolution, et des premières parties détectées et des secondes parties détectées sont disposées dans chaque segment de façon que la multiplicité de segments aient des longueurs d'entrefer de 35 détection qui sont définies conformément aux rayons de rotation, et sont donc différentes les unes des autres. Dans ce cas, en divisant la surface latérale circonférentielle du corps de révolution en segments équiangulaires, de façon que les rayons de rotation soient différents entre les segments équiangulaires adjacents, ce qui fait que les longueurs d'entrefer 5 de détection sont changées à chaque période angulaire spécifiée (par exemple 1800), des formes d'onde de détection correspondant aux longueurs d'entrefer de détection qui sont changées à chaque période angulaire spécifiées, peuvent être obtenues, et des processus pour déterminer la valeur de niveau de point d'intersection, comme la division des formes 10 d'onde et la superposition de celles-ci en phase, peuvent être accomplis aisément et avec une grande précision. A cet égard, du fait que les formes d'onde de détection détectées par les sections de détection de champ magnétique varient souvent en fonction de caractéristiques de température des sections de détection 15 et des circuits de traitement de signal, même si le capteur magnétique est réglé de façon que le seuil concorde avec la valeur de niveau de point d'intersection à une température donnée, le seuil peut être écarté de la valeur de niveau de point d'intersection lorsque la température varie, et l'exactitude de détection peut être dégradée. Cependant, lorsque le ré20 glage est effectué initialement de façon que le seuil concorde avec la valeur de niveau de point d'intersection, mais après ceci, le seuil s'écarte à nouveau de la valeur de niveau de point d'intersection à cause des fluctuations de température, si on tente d'éliminer cette différence en changeant le seuil par rapport aux formes d'onde, le seuil s'écartera à nou25 veau de la valeur de niveau de point d'intersection à la température à laquelle le réglage a été effectué initialement, et en définitive, la condition de réglage ne peut pas être garantie sur toutes les plages de température, comme on le désire. En outre, bien qu'il ne soit pas impossible de corriger le seuil pour suivre le changement de température, cette solution 30 n'est pas pratique du fait qu'elle complique le système de capteur. Compte tenu du problème ci-dessus, dans le capteur magnétique auquel la présente invention est appliquée, il est souhaitable d'incorporer une section de correction de température pour corriger des fluctuations, dépendant de la température, des formes d'onde de détection dé35 tectées par les sections de détection de champ magnétique, et de fixer un coefficient de correction par la section de correction de température, de façon que le seuil de conversion en binaire des formes d'onde de détection concorde avec la valeur de niveau de point d'intersection sur toutes les plages de température prédéterminées. En d'autres termes, après que 5 le réglage a été effectué de manière que le seuil concorde initialement avec la valeur de niveau de point d'intersection à une température donnée, toute différence entre le seuil et la valeur de niveau de point d'intersection due aux fluctuations de température est éliminée en réglant le coefficient de correction de la section de correction de température. Il en 10 résulte que la condition de réglage du seuil peut être garantie sur toutes les plages de température nécessaires, comme on le désire. A titre de procédé spécifique, le coefficient de correction est fixé en obtenant deux formes d'onde de détection par les sections de détection de champ magnétique, et en faisant en sorte que le seuil concorde 15 avec une première valeur de niveau de point d'intersection, qui est déterminée par les deux formes d'onde de détection, au moyen de la section de réglage et de fixation de seuil, pendant qu'une température est fixée à une première température, et deux niveaux de longueurs d'entrefer de détection sont utilisés; et, dans cette condition, on obtient à nouveau deux 20 formes d'onde de détection par les sections de détection de champ magnétique, et on calcule une seconde valeur de niveau de point d'intersection déterminée par les deux formes d'onde de détection qui sont détectées à nouveau, tandis que le seuil fixé par la section de réglage et de fixation de seuil n'est pas changé, la température est changée en une se25 conde température qui est différente de la première température, et deux niveaux de longueur d'entrefer de détection sont utilisés; et on fixe le coefficient de correction de façon que la seconde valeur de niveau de point d'intersection concorde avec le seuil. Conformément à ce procédé, en fixant seulement deux niveaux 30 de températures mesurées, la concordance entre le seuil et la valeur de niveau de point d'intersection peut être obtenue aisément d'une manière compensée en température au voisinage des températures mesurées, et il en résulte qu'on peut obtenir le capteur magnétique qui est insensible non seulement à une inégalité de la longueur d'entrefer de détection, mais 35 également à des fluctuations de température. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention seront mieux compris à la lecture de la description qui va suivre de modes de réalisation préférés, donnés à titre d'exemples non limitatifs. La suite de la description se réfère aux dessins annexés, dans lesquels: La figure 1 est un schéma montrant un exemple d'une section de détection d'un capteur magnétique auquel la présente invention est appliquée; La figure 2 est un schéma pour décrire un principe pour donner des fronts plus raides à une forme d'onde détectée, en utilisant deux sec10 tions de détection de champ magnétique; La figure 3 est un schéma synoptique montrant un exemple d'un circuit de commande de capteur du capteur magnétique auquel la présente invention est appliquée; La figure 4 est un schéma de circuit montrant un exemple spéci15 fique du circuit de commande de capteur de la figure 3; La figure 5 est un schéma synoptique montrant une configuration électrique d'un dispositif de réglage du capteur magnétique de la présente invention; La figure 6 est un organigramme montrant un exemple d'une 20 procédure d'un procédé de réglage du capteur magnétique de la présente invention; La figure 7 est une vue en plan montrant un exemple d'une unité de détection de cible à entrefer variable; La figure 8 est une représentation explicative du fonctionnement 25 de l'unité de détection de cible à entrefer variable; La figure 9 est une représentation explicative de processus montrant un réglage utilisant l'unité de détection de cible à entrefer variable; et La figure 10 est un schéma pour décrire comment on peut faire en sorte qu'une valeur de niveau de point d'intersection concorde avec un 30 seuil, par un réglage de décalage. La figure 1 montre une section de détection 101 d'un capteur magnétique auquel la présente invention est appliquée. Dans ce mode de réalisation, le capteur magnétique est constitué comme un capteur de rotation. La section de détection 101 a un aimant 36 qui génère un champ 35 magnétique, une unité de détection de cible 30 qui est un corps de révolu- tion disposé face à l'aimant 36 de façon à former un entrefer magnétique entre eux, et des sections de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a et 40b qui détectent des fluctuations de champ magnétique dans l'entrefer magnétique. L'unité de détection de cible 30 est constituée globalement d'un disque en un matériau ferromagnétique (par exemple un matériau magnétique doux tel que le Permalloy), et sur sa surface latérale circonférentielle, des parties concaves 34 et des parties convexes 32 ayant des hauteurs différentes les unes des autres dans la direction de la longueur 10 d'entrefer magnétique sont formées en tant que premières parties détectées et secondes parties détectées qui sont mutuellement non équivalentes au point de vue magnétique. Dans ces conditions, un axe central O de l'unité de détection de cible 30 est disposé de façon à être concentrique à un axe de rotation qui est une cible de détection de rotation (non repré15 senté, par exemple un vilebrequin d'automobile ou d'autres éléments d'arbre qui tournent en étant accouplés au vilebrequin) et tourne intégralement autour de l'axe de rotation. Avec cette rotation, les parties concaves 34 et les parties convexes 32 qui sont les premières parties détectées et les secondes parties détectées tournent intégralement en suivant une tra20 jectoire de rotation correspondant à la surface latérale circonférentielle de l'unité de détection de cible 30. L'entrefer entre les sections de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a, 40b et les parties concaves 34 ou les parties convexes 32 remplit alors la fonction d'un entrefer de détection 39. L'aimant 36 est un aimant permanent et l'unité de détection de cible 30 est disposée de façon que sa surface latérale circonférentielle soit disposée face au centre du champ magnétique généré par l'aimant 36. Dans ce mode de réalisation, l'unité de détection de cible 30 est positionnée par rapport à l'aimant 36 de façon que l'axe central du champ 30 magnétique Ho soit orthogonal à l'axe de rotation de l'unité de détection de cible 30. De façon plus spécifique, l'aimant 36 a une forme semblable à un anneau avec une cavité 36c et il est polarisé dans la direction axiale de façon à avoir deux pôles magnétiques, et ensuite la surface latérale 35 circonférentielle de l'unité de détection de cible 30 est disposée de façon à faire face à une ouverture de l'aimant 36. Dans ce mode de réalisation, les quatre sections de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a et 40b sont disposées dans la direction du diamètre de l'ouverture, qui correspond à la surface latérale cir5 conférentielle de l'unité de détection de cible 30 de l'aimant 36, deux par deux d'une manière symétrique bilatérale par rapport au centre du champ magnétique Ho. Ici, la longueur d'entrefer de détection diffère entre les parties concaves 34 et les parties convexes 32 et en outre, en un sens strict, elle diffère en fonction des positions auxquelles les quatre sections 10 de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a et 40b sont montées. Dans ce mode de réalisation, si l'on considère un plan Q qui est orthogonal au centre du champ magnétique Ho et qui passe par le centre transversal M de la partie convexe 32 lorsque le centre M atteint le centre du champ magnétique Ho, la longueur d'entrefer de détection est définie 15 comme une valeur moyenne g des distances à partir du plan Q jusqu'à chacune des sections de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a et 40b. Parmi les sections de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a et 40b, la distance entre deux sections de détection de champ ma20 gnétique 38a et 38b positionnée à l'extérieur (qu'on appelle également ciaprès les premières sections de champ magnétique) est définie de façon que les sections de détection de champ magnétique gauche et droite 38a et 38b détectent toujours dans la même condition temporelle les fronts de transition de la partie concave 34 vers la partie convexe 32 et de la partie 25 convexe 32 vers la partie concave 34. Il en résulte que, comme représenté sur la figure 2, dans une forme d'onde détectée SIGA d'une section de détection de champ magnétique 38a et dans une forme d'onde détectée SIGB de l'autre section de détection de champ magnétique 38b, les fronts de transition de la partie concave 34 vers la partie convexe 32 et les 30 fronts de transition de la partie convexe 32 vers la partie convexe 34, dont les amplitudes sont inversées les unes des autres, apparaissent en phase. Par conséquent, en calculant le signal de différence entre les deux formes d'onde détectées (qu'on appelle ci-après le premier signal de différence), on peut faire en sorte que les pics de forme d'onde associés à 35 la détection des fronts de transition deviennent plus abrupts et que l'exac- titude de détection de rotation soit améliorée. D'autre part, deux sections de détection de champ magnétique 40a et 40b positionnées à l'intérieur (qu'on appelle également ci-après les secondes sections de détection de champ magnétique) sont placées pra5 tiquement au milieu de la distance d à partir du centre du champ magnétique Ho respectivement jusqu'à chacune des premières sections de détection de champ magnétique 38a et 38b. Le signal de différence obtenu à partir des formes d'onde détectées des secondes sections de détection de champ magnétique 40a et 40b (qu'on appelle ci-après le second signal de 10 différence) est également généré. Ensuite, le troisième signal de différence est généré entre le premier signal de différence et le second signal de différence décrits ci-dessus. En utilisant ce troisième signal de différence, on peut obtenir un effet consistant en ce qu'une valeur de niveau de point d'intersection, décrite ultérieurement, peut être maintenue cons15 tante même lorsque la largeur (la longueur latérale) de la partie convexe 32 ou de la partie concave 34 fluctue. Dans ce mode de réalisation, chacune des sections de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a et 40b est constituée d'un élément MR. L'élément MR est d'un type bien connu (constitué par exemple d'un 20 alliage de Ni, Fe et Co), et il est fréquemment utilisé comme la section de détection de champ magnétique du capteur magnétique, du fait qu'il peut détecter la variation du champ magnétique sous la forme de la variation notable de la résistance de l'élément. Comme représenté sur la figure 4, chacune des sections de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a et 25 40b prend la forme d'un pont de résistances, dans lequel des paires respectives de pellicules consistant en éléments MR sont connectées en série en tant qu'éléments résistifs 37a et 37b à une source d'énergie de détection Vcc. La configuration des pellicules et la disposition des deux éléments résistifs 37a et 37b sont déterminées de façon que ces éléments 30 représentent la variation de résistance de manière inverse l'une à l'autres lorsque le champ magnétique fluctue dans une direction inclinée sur les surfaces des pellicules, à partir du centre du champ magnétique de l'aimant 36. Il en résulte qu'un rapport de division de tension entre les deux éléments résistifs 37a et 37b varie notablement sous l'effet de la récep35 tion de la fluctuation de champ magnétique, et la variation de la tension divisée des deux éléments résistifs peut être obtenue comme une forme d'onde de sortie. Comme représenté sur la figure 1, dans ce mode de réalisation, les pellicules d'éléments MR constituant les éléments résistifs 37a et 37b 5 sont formées de manière linéaire et disposées avec une configuration en V sur des substrats qui sont positionnés, à leur tour, parallèlement au centre du champ magnétique Ho, de façon que la direction longitudinale de chaque pellicule d'élément MR fasse un angle de 450 avec le centre du champ magnétique Ho, et que la distance entre les éléments résistifs 37a 10 et 37b soit réduite du côté faisant face à l'unité de détection de cible 30. En outre, les premières sections de détection de champ magnétique 38a et 38b sont disposées de façon que le bord de transition de la partie concave 34 à la partie convexe 32 soit placé au centre de l'un des éléments résistifs 37a et 37b lorsque le bord de transition de la partie 15 convexe 32 à la partie concave 34 est placé au centre de l'autre. La figure 3 est un schéma synoptique montrant un exemple de configuration électrique d'un circuit de commande de capteur 29 utilisé pour la section de détection 101 de la figure 1. Le circuit de commande de capteur 29 comprend un premier pont MR 3 dans lequel les quatre élé20 ments résistifs (éléments MR) constituant les premières sections de détection de champ magnétique 38a et 38b sont disposés de chaque côté, et un second pont MR 5 dans lequel les quatre éléments résistifs (éléments MR) constituant les secondes sections de détection de champ magnétique 40a et 40b sont disposés de chaque côté, de façon que les tensions de 25 sortie Vs1, Vs2 et Vs3, Vs4 des points de division de tension par résistances des premières et secondes sections de détection de champ magnétique 38a, 38b et 40a, 40b soient respectivement appliquées à un premier préamplificateur 7 pour générer un premier signal de différence VD1, et à un second préamplificateur 9 pour générer un second signal de différence 30 VD2. Ensuite, les tensions de sortie de signaux de différence VD1 et VD2 des préamplificateurs 7 et 9 sont appliquées à un amplificateur principal 11 pour générer un troisième signal de différence VD3. En ce qui concerne la forme d'onde de signal du troisième signal de différence VD3 émis par le premier amplificateur principal 11, un réglage de niveau de 35 décalage est effectué par un circuit de correction de décalage 13, et une correction de température est effectuée par un circuit de correction de température 15. Ensuite, le troisième signal de différence VD3 est converti en binaire par un comparateur 17 (une section de traitement de forme d'onde) et traverse un circuit amplificateur- séparateur de sortie 19. En5 suite, le troisième signal de différence VD3 est émis par une borne de sortie 23 sur un substrat 2. Ici, le numéro de référence 21 désigne une borne d'alimentation pour appliquer une tension d'alimentation à chaque élément de circuit sur le substrat, et le numéro de référence 25 désigne une borne de masse. La figure 4 montre un exemple spécifique du circuit de commande de capteur 29 de la figure 3. Le premier pont MR 3 est constitué comme un pont complet en combinant deux demi-ponts des sections de détection de champ magnétique 38a et 38b, chacune d'elles consistant en une paire d'éléments résistifs (éléments MR) 37a et 37b connectés en sé15 rie. Chaque demi-pont est connecté à la tension d'alimentation Vcc à une extrémité, et à la masse à l'autre extrémité, et les tensions de sortie VS1 et Vs2 aux points de division de tension par résistances sont appliquées à deux amplificateurs opérationnels 7a et 7b constituant le premier préamplificateur 7. Le second pont MR 5 est également constitué comme un 20 pont complet similaire, et les tensions de sortie V.3 et Vs4 aux points de division de tension par résistances de chaque demi-pont sont appliquées à deux amplificateurs opérationnels 9a et 9b constituant le second préamplificateur 9. Le première préamplificateur 7 est un amplificateur différentiel 25 constitué des amplificateurs opérationnels 7a et 7b pour amplifier de façon différentielle les tensions de sortie VS1 et VS2 provenant du premier pont MR 3, dans une configuration dans laquelle des branches de sortie et des branches de rétroaction négative de chacun des amplificateurs opérationnels 7a et 7b sont connectées en parallèle par l'intermédiaire de 30 résistances 40, 42, 44 et 46. Les résistances 40, 42, 44 et 46 sont destinées à déterminer le gain et les résistances 40 et 46 sont fixées à la même valeur de résistance Rl, tandis que les résistances 42 et 44 sont fixées à la même valeur de résistance R2, de façon que le gain du premier signal de différence VD1 ou du signal de sortie de l'amplificateur dif35 férentiel soit donné par 1 + (Rl / R2). Le second amplificateur 9 est éga- lement un amplificateur différentiel constitué des amplificateurs opérationnels 9a et 9b et des résistances 48, 50, 52 et 54 pour la détermination du gain, d'une manière exactement similaire au premier préamplificateur 7, pour amplifier de façon différentielle les tensions de sortie Vs3 et Vs4 5 provenant du second pont MR 5 et pour fournir en sortie le second signal de différence VD2 ou le signal de sortie d'amplification différentielle. En outre, l'amplificateur principal 11 est également un amplificateur différentiel similaire constitué d'amplificateurs opérationnels lia et 11b et de résistances 56, 57, 58 et 59 pour la détermination du gain, pour amplifier de 10 façon différentielle le premier signal de différence VDl et le second signal de différence VD2 qui lui sont appliqués en entrée, et pour fournir en sortie le troisième signal de différence VD3 OU le signal de sortie d'amplification différentielle. Le troisième signal de différence VD3 est appliqué à un compa15 rateur 17 constitué d'amplificateurs opérationnels qui convertissent en binaire (convertissent en une onde carrée) le troisième signal de différence VD3 qui est un signal de forme d'onde de sortie du capteur, en utilisant en tant que tension de seuil VTH la tension divisée de résistances 68 et 69. Dans ce mode de réalisation, du fait que les deux résistances de 20 division de tension 68 et 69 pour déterminer la tension de seuil VTH sont des résistances fixes, la tension de seuil VTH est constante. A cet égard, le circuit amplificateur-séparateur de sortie 19 est constitué d'un suiveur de tension utilisant un amplificateur opérationnel. Ensuite, le circuit de correction de décalage 13 (une section de 25 réglage et de fixation de seuil) est un circuit destiné à générer une tension de réglage de décalage VOFF. Dans ce mode de réalisation, la tension de réglage de décalage VOFF est fixée en réglant la division de tension de la tension d'alimentation Vcc par les résistances de division de tension 60 et 61, et elle est fournie en sortie par l'intermédiaire d'un am30 plificateur opérationnel 13a fonctionnant comme un suiveur de tension, et est superposée sur le troisième signal de différence VD3. L'une des résistances de division de tension 60 et 61 est constituée d'une résistance variable 61, de façon que la tension de réglage de décalage VOFF puisse être changée ou réglée en réglant la valeur de résistance de la résistance 35 variable 61. Il en résulte que la forme d'onde de sortie de capteur basée sur le troisième signal de différence VD3 est décalée de manière uniforme vers le côté de tension supérieure ou inférieure conformément au niveau de la tension de réglage de décalage VOFF superposée. En outre, dans ce mode de réalisation, du fait que la fonctionde seuil VTH du comparateur 5 17 est fixée à une valeur constante, le niveau de valeur de seuil pour la conversion en binaire de la forme d'onde de sortie peut être changé ou réglé de manière relative en changeant la tension de réglage de décalage VOFF. En outre, le circuit de correction de température 15 (une section 10 de correction de température) a la configuration suivante. Premièrement, une tension de coefficient de correction VK provenant de la section de fixation variable (dans ce mode de réalisation, elle est constituée de résistances de division de tension 66 et 67, dont l'une est une résistance variable 67) est appliquée par l'intermédiaire d'un amplificateur opéra15 tionnel 15b fonctionnant comme un suiveur de tension, à la section de correction de température qui est constituée principalement d'un amplificateur opérationnel 15a. La section de correction de température comporte l'amplificateur opérationnel 15a, une résistance de référence 64 qui est incorporée dans un étage d'entrée de la tension de coefficient de cor20 rection VK, et une résistance de détection de température 65 qui est incorporée comme une résistance de rétroaction, et elle fournit en sortie une tension de correction de température VT destinée à être superposée sur le troisième signal de différence VD3. La résistance de détection de température 65 a un coefficient de température de résistance plus élevé, 25 mais le coefficient de température de résistance peut être positif ou négatif. Le gain de l'amplificateur opérationnel 15a varie automatiquement en suivant la variation de résistivité qui dépend de la température, pour fournir en sortie la tension de correction de température VT. Lorsque la tension de référence d'amplification de l'amplificateur opérationnel 15a 30 (donnée par la tension divisée des résistances 62 et 63) est désignée par VA, la valeur de résistance de la résistance de rétroaction 65 est considérée comme une fonction de la température R(T), et la valeur de résistance de la résistance de référence 64 est considérée comme une constante RO, on a l'équation suivante: VA = VK + (VT - VK).RO / (RO + R(T)) (1'1) et, par conséquent, on peut exprimer la tension de correction de température VT de la façon suivante: VT ((VA - VK) / Ro).R(T) + VA... (1) On peut voir que le premier terme de cette équation est le terme de cor5 rection de température, et que la contribution du terme de correction de température à la forme d'onde de sortie peut être réglée à volonté en réglant la tension de coefficient de correction VK. Par conséquent, dans le circuit de la figure 4, si on désigne par VF la tension de signal réglée devant être convertie finalement en binaire, 10 on a l'équation suivante: VF = VD3 + VOFF + VT = VD3 + (VA + VOFF) + ((VA - VK) / Ro).R(T) ... (2) Dans cette équation, le premier terme est la forme d'onde originale avant le réglage (le troisième signal de différence VD3), le second terme est la 15 valeur de décalage de forme d'onde (VOFF est une valeur de décalage variable, tandis que le second terme VA de l'équation (1) apporte une contribution consistant en une valeur de décalage fixée), et le troisième terme est le terme de correction de température. A cet égard, tous les amplificateurs opérationnels utilisés dans 20 le circuit de la figure 4 sont des amplificateurs à une seule alimentation et, comme il ressort de la configuration de carte de circuit de la figure 3, la tension d'alimentation Vcc est fournie seulement à partir d'une ligne (Dans ce mode de réalisation, l'énergie est fournie à partir d'une alimentation stabilisée externe, par l'intermédiaire de la borne 21). Par consé25 quent, les circuits d'amplification différentiels constituant les préamplificateurs 7 et 9 sont munis de circuits garantissant la polarité, respectivement 7c et 9c, pour empêcher que le signal de sortie d'amplification différentiel ne diminue au point de passer du côté des tensions négatives. Ces circuits garantissant la polarité 7c et 9c, sont connectés aux extrémités des 30 chaînes respectives de résistances de détermination de gain interconnectées en série, pour fournir une tension garantissant la polarité Vj (géné- rée en réglant la division de tension de la tension d'alimentation Vcc par les résistances de division de tension 70 et 71), par l'intermédiaire de circuits suiveurs de tension respectifs. Les deux circuits garantissant la polarité fonctionnent d'une manière similaire à celle employée dans le pré5 amplificateur 7 et, conformément à la théorie des circuits d'amplificateurs opérationnels, si la valeur de résistance R2 des résistances intermédiaires 42 et 44 est suffisamment grande en comparaison avec la valeur de résistance RI des résistances 40 et 46 aux deux extrémités, le signal de sortie d'amplification différentiel (le premier signal de différence) VD1 10 peut être exprimé par l'équation suivante: VD1 = (1 + RI / R2) (Vj + Vs1 - Vs2) ... (3) D'autre part, si les circuits garantissant la polarité 7c et 9c sont remplacés par des masses, par exemple, VD1 est donnée par la relation suivante VD1 = (1 + Ri / R2) (VS1 - Vs2) .. (4) Dans l'équation (4), lorsque VS1 En outre, dans l'amplificateur principal 11, le circuit de correction de décalage 13 et le circuit de correction de température 15 fonctionnent également comme un circuit garantissant la polarité. De plus, comme le montre l'équation (1), lorsque le circuit de correction de température 15 25 est configuré de façon que la tension de coefficient de correction VK soit donnée comme la différence par rapport à la tension de référence d'amplification VA, le passage du côté des tensions négatives du signal de sortie du circuit de correction de température 15 n'est pas susceptible de se produire aussi longtemps que VK ne dépasse pas VA. Ensuite, la figure 5 est un schéma synoptique montrant un exemple de configuration d'un dispositif de réglage d'un capteur maàgnéti- que utilisant le circuit de commande de capteur 29 de la figure 4. Le dispositif de réglage 100 est constitué principalement d'un microordinateur 110 comportant une unité centrale (UC) 111, une mémoire morte (ROM) 112, une mémoire vive (RAM) 113 et une interface d'entrée / sortie 114, 5 et un programme pour des opérations de commande et d'analyse est stocké dans la mémoire morte 112. Ensuite, l'unité centrale exécute le programme en utilisant la mémoire vive 113 comme une zone de travail pour mettre en oeuvre par des fonctions logicielles un moyen d'obtention de forme d'onde de détection et un moyen de calcul de valeur de niveau de 10 point d'intersection. A cet égard, on décrira ultérieurement des fonctions de chaque section de mémoire dans la mémoire vive 113. En outre, un moniteur 120 et une imprimante 121 pour fournir des données de sortie sont connectés à l'interface d'entrée! sortie 114. Les composants suivants du dispositif sont connectés au micro15 ordinateur 110 par l'intermédiaire de l'interface d'entrée / sortie 114: (1) un moteur 119: il est asservi par un dispositif de servocommande 115 qui reçoit des ordres d'entraînement provenant du microordinateur 110, pour faire tourner une unité de détection de cible à entrefer variable 130. L'angle de rotation du moteur 119, et donc de l'unité de 20 détection de cible à entrefer variable 130, est détecté par un générateur d'impulsions (qui est constitué par exemple d'un codeur angulaire optique) 118, et est transmis en rétroaction au dispositif de servocommande 115; (2) le circuit de commande de capteur 29: la forme d'onde de sortie du capteur est convertie en binaire par le circuit de la figure 3, et 25 est ensuite numérisée par un convertisseur A/N (analogique - numérique) 116 et est ensuite appliquée au micro-ordinateur 110; et (3) une base de données 117: elle est constituée d'une unité de disque dur (ou HDD) ou d'un dispositif similaire, qui stocke les données de forme d'onde capturées, le résultat de calcul de la valeur de niveau de 30 point d'intersection, et autres. La figure 7 montre un exemple de l'unité de détection de cible à entrefer variable 130. Dans les conditions normales, l'unité de détection de cible 30 représentée sur la figure 1 est montée sur le capteur magnétique, ce qui 35 fait qu'une longueur d'entrefer de détection g est constante. De façon plus spécifique, l'unité de détection de cible a un rayon constant, si on néglige la différence entre les parties concaves et convexes. D'autre part, l'unité de détection de cible à entrefer variable 130 est monté temporairement sur le capteur magnétique à régler, de façon qu'elle remplace 5 l'unité de détection de cible normale 30 décrite ci-dessus et, dans l'unité de détection de cible à entrefer variable 130, des segments ayant différentes longueurs d'entrefer de détection coexistent, comme représenté sur la figure 7. De façon plus spécifique, comme représenté sur la figure 8, l'unité de détection de cible à entrefer variable 130 a un segment qui 10 forme un entrefer de détection ayant une première valeur de longueur gi entre lui-même et la section de détection de champ magnétique 35 (qui correspond à 38a, 38b, 40a et 40b sur la figure 1) qui est positionnée de façon fixe, et l'autre segment qui forme un entrefer de détection ayant une seconde valeur de longueur g2 qui est plus grande que la première 15 valeur g9. Comme représenté sur la figure 7, chacun des segments cidessus occupe respectivement 1800 de la circonférence, ce qui fait que le rayon de l'unité de détection de cible est changé (dans ce qui suit, le segment mentionné en premier est appelé le segment de petit entrefer de détection, et le segment mentionné en dernier est appelé le segment de 20 grand entrefer de détection). Comme il ressort de ce qui précède, l'unité de détection de cible à entrefer variable 130 constitue un moyen de changement et de fixation de longueur d'entrefer de détection. A cet égard, bien qu'un arbre tournant d'un objet de détection de rotation sur lequel le capteur est monté (comme par exemple un vile25 brequin d'automobile ou d'autres éléments d'arbre qui tournent en étant accouplés au vilebrequin, dont la rotation doit être détectée) soit couplé à l'unité de détection de cible normale 30, lorsque cette dernière est remplacée par l'unité de détection de cible à entrefer variable 130, un arbre de sortie du moteur 119 de la figure 5 est fixé à elle. On décrira ci-après un procédé pour régler le capteur magnétique en utilisant le dispositif de réglage 100. Premièrement, dans le circuit de commande de capteur 29 de la figure 4 dans le capteur à régler, la tension de réglage de décalage VOFF et la tension de coefficient de correction de température VK sont fixées à 35 des valeurs temporaires appropriées. Ensuite, l'unité de détection de cible qui est normalement montée sur le capteur est remplacée par une unité de détection de cible à entrefer variable 130 de la figure 7. A ce moment, la phase de l'angle auquel le segment de grand entrefer de détection et le segment de petit entrefer de détection alternent mutuellement 5 est mesurée à l'avance en utilisant le signal de sortie du générateur d'impulsions 118. Le travail de préparation est ainsi achevé comme décrit cidessus, et on décrira ci-après une procédure de réglage en référence à la figure 6. Premièrement, on place la section de détection 101 dans une 10 chambre thermostatique (non représentée) et on fixe sa température à une première valeur (c'est-à-dire 250C (température ambiante) dans ce mode de réalisation) (SI). Après que la température est devenue stable, on fait tourner l'unité de détection de cible à entrefer variable 130 avec le moteur 119 (figure 5) (S2). En conséquence, comme représenté dans le 15 processus 1 de la figure 9, des formes d'onde détectées correspondant respectivement au segment de grand entrefer et au segment de petit entrefer, sont émises en alternance tous les 1800 par le circuit de commande de capteur 29 et sont soumises à une conversion A/N, et sont ensuite capturées dans le micro-ordinateur 110 de la figure 5 (S3 de la fi20 gure 6). A ce moment, la transition entre le segment de grand entrefer de détection et le segment de petit entrefer de détection est détectée en examinant la valeur de comptage du générateur d'impulsions 118, de façon que les formes d'onde détectées soient divisées en un signal de données de forme d'onde 202 du segment de grand entrefer de détection, qui 25 est stocké dans une mémoire de forme d'onde de capteur (I) 113a dans la mémoire vive 113, et en un signal de données de forme d'onde 201 du segment de petit entrefer de détection, qui est stocké dans une mémoire de forme d'onde de capteur (Il) 113b dans la mémoire vive 113 (voir la figure 5). Chaque signal de données de forme d'onde est défini sous la 30 forme d'un ensemble de coordonnées bidimensionnelles du niveau de tension et de la phase angulaire. Ensuite, on superpose les deux signaux de forme d'onde divisés 201 et 202, de façon qu'ils soient en phase, comme indiqué dans le processus 2 de la figure 9. Cette opération est effectuée dans une mémoire 35 de combinaison de formes d'onde 113c dans la mémoire vive 113, en su- perposant le signal de données de forme d'onde dans la mémoire de forme d'onde de capteur (I) 113a et le signal de données de forme d'onde dans la mémoire de forme d'onde de capteur (II) 113b, de façon qu'ils soient en phase. Ici, si le segment de grand entrefer de détection et le 5 segment de petit entrefer de détection sont configurés à l'avance de façon que les largeurs angulaires des parties concaves et convexes et l'écartement entre elles soient identiques, et si en outre la phase de départ du profil concave convexe coïncide entre les deux segments, les phases de sommet des signaux de données de forme d'onde divisés peuvent être 10 alignées mutuellement, et par conséquent l'opération de superposition peut être accomplie plus aisément. En retournant à la figure 9, on note qu'il apparaît un point d'intersection C entre les formes d'onde superposées 201 et 202, comme indiqué dans le processus 3 et d'une manière agrandie. Par conséquent, en 15 utilisant une mémoire de calcul d'AGO 113d de la figure 5, on extrait un point auquel les deux signaux de données de forme d'onde coïncident mutuellement, ou des données de coordonnées auxquelles le niveau de tension et la phase angulaire coïncident entre les deux signaux de données de forme d'onde, et on détermine qu'il s'agit des coordonnées du point 20 d'intersection C. En outre, on calcule la différence AV (= VTH - AGO) entre la tension de seuil VTH et la valeur de niveau de point d'intersection AGO, et on l'émet vers le moniteur 120 ou l'imprimante 121 de la figure 5 (S4 sur la figure 6). Ensuite, on règle la forme d'onde de sortie VF de façon que la 25 valeur de niveau de point d'intersection AGO déterminée comme décrit cidessus coïncide avec la tension de seuil VTH du comparateur 17 dans le circuit de commande de capteur de la figure 4. Comme représenté sur la figure 10, si la valeur AV ci-dessus est une valeur négative, ce qui signifie que AGO est décalée vers le côté o la tension de seuil VTH est trop 30 basse de AV, AGO peut être alignée avec VTH en augmentant de AV la tension de réglage de décalage V'OFF qui a été fixée initialement, pour qu'elle devienne la tension de réglage de décalage VOFF réglée, de façon que sa forme d'onde soit décalée vers le côté de la tension supérieure. Au contraire, si AV est une valeur positive, ce qui signifie que AGO est déca35 lée vers le côté o la tension de seuil VTH est trop élevée de AV, la ten- sion de réglage de décalage V'OFF doit être augmentée de AV de façon que sa forme d'onde soit décalée vers le côté de la tension inférieure. Concrètement, ce réglage est effectué en changeant la valeur de la résistance variable 61 de la figure 4. En retournant à la figure 6, on note qu'en S5, la température est fixée à une seconde valeur (qui est une température plus élevée correspondant à la limite supérieure des températures de fonctionnement du capteur (par exemple 150 ) dans ce mode de réalisation). Ensuite, en S6, S7 et S8, des opérations entièrement similaires à S2, S3 et S4 sont répé10 tées pour calculer la valeur de AGO et AV à la seconde température. Lorsque AGO est décalée à nouveau par rapport à VTH à cause de l'augmentation de température, en fonction de caractéristiques de température de la forme d'onde de sortie, AGO est réglée pour coïncider avec VTH en changeant la tension de correction de température VT. Il en résulte que 15 AGO peut être alignée avec VTH pratiquement sur la totalité de la plage des première et seconde températures. Concrètement, le réglage est effectué en changeant la valeur de la résistance variable 67 de la figure 4, et donc la tension de coefficient de correction VK. Ici, la valeur de réglage spécifique de la tension de coefficient 20 de correction VK peut être calculée en utilisant le terme de correction de température ((VA - VK) / Ro).R(T) dans l'équation (2). De façon plus spécifique, lorsque la première température est Tp et la seconde température est TS, la variation AVT du terme de correction de température due au changement de température, conformément à la tension VK qui est fixée 25 initialement, peut être exprimée de la façon suivante: AVT = ((VA - VK) / RO) R(Ts) - ((VA - VK) / R0) R(Tp) = ((VA - VK) / R0) (R(TS) R(Tp)) .. (5) D'autre part, en désignant par AAGO le décrément de AGO, sous l'effet de 30 l'augmentation de température lorsque la correction de température n'est pas effectuée, et en considérant le fait que le résultat de l'effet sur AAGO de la variation AVT ci-dessus du terme de correction de température, en tant que terme d'annulation, apparaît comme un décalage AV entre le terme AAG0 présent et VTH, on a l'équation suivante AAG0 - AVT = AV... (6) D'autre part, dans (5), en supposant que AVT devienne AVT' lorsqu'on change VK en VK', on a l'équation suivante AVT' = ((VA - VK') / R0) (R(Ts) - R(Tp)) ... (7) Ensuite, en supposant que AV deviennne égale à zéro après ce changement, on a l'équation suivante: AAG0 = AVT' = 0... (8) Ensuite, en éliminant AAG0 de (6) et (8), on a l'équation suivante AVT' - AVT = AV... (9) et, en substituant (5) et (7) dans cette équation, on peut obtenir l'équation suivante VK' - VK = AV. RO / (R(Ts) - R(Tp)) ... (10) Ici, VK' - VK représente la valeur de réglage de la tension de coefficient 15 de correction et peut être calculée en utilisant AV obtenu dans la mesure décrite ci-dessus, si R(Ts) et R(Tp) sont connues à l'avance. Après l'achèvement du réglage de la manière décrite ci-dessus, on peut obtenir le capteur magnétique dans lequel le seuil est réglé en enlevant l'unité de détection de cible à entrefer variable 130, et en mon20 tant l'unité de détection de cible normale 30 à la place de l'unité de détection de cible à entrefer variable 130. Un effet du réglage du capteur magnétique de façon que le seuil de conversion en binaire VTH coïncide avec la valeur de niveau de point d'intersection de la forme d'onde de sortie AG0, est celui représenté dans 25 le processus 3 de la figure 9. Ainsi, si le seuil VTH ne coïncide pas avec la valeur de niveau de point d'intersection AGO, lorsque la longueur d'entrefer de détection varie, chaque forme d'onde rencontre le seuil VTH à différentes phases (fa, fb) et, il en résulte qu'une variation notable apparaît dans la phase des fronts délimitant les niveaux après la conversion en 5 binaire. Cette variation conduit à une moindre exactitude dans la détection d'angles, du fait que la longueur d'entrefer de détection n'est pas uniforme. Cependant, si le seuil VTH coïncide avec la valeur de niveau de point d'intersection AGO, même lorsque la longueur d'entrefer de détection varie, chaque forme d'onde rencontre toujours le seuil VTH à la même 10 phase (#c) et les fronts délimitant les niveaux après la conversion en binaire restent invariants, et par conséquent l'exactitude dans la détection d'angles peut être augmentée. Cet effet se manifeste en ce qui concerne le défaut d'uniformité de la longueur d'entrefer de détection à cause du montage non uniforme des unités de détection de cible 30 entre différents 15 capteurs, ainsi que du défaut d'uniformité de la longueur d'entrefer de détection à cause de l'excentricité de l'axe de rotation de l'unité de détection de cible 30, de l'irrégularité des hauteurs des parties concaves et convexes, et autres, de l'unité de détection de cible 30 dans un même capteur. En outre, dans ce mode de réalisation, du fait que les secondes sections de détection de champ magnétique 40a et 40b sont incorporées en supplément, comme représenté sur la figure 1, de façon à utiliser le troisième signal de différence décrit ci-dessus, il y a un effet consistant en ce que la valeur de niveau de point d'intersection AGO peut être main25 tenue constante même si la largeur (la longueur latérale) de la partie convexe 32 ou de la partie concave 34 n'est pas uniforme. En outre, dans des capteurs magnétiques réels, dans lesquels diverses unités de détection de cible ayant les parties concaves et convexes de différentes largeurs sont utilisées conformément à leurs buts, lorsque les secondes sections 30 de détection de champ magnétique 40a et 40b ne sont pas utilisées, la valeur de niveau de point d'intersection AGO peut différer entre les unités de détection de cible ayant les parties concaves et convexes de différentes largeurs, même si les longueurs d'entrefer de détection sont identiques. Par conséquent, il est nécessaire de prévoir les unités de détec35 tion de cible à entrefer variable 130 de différents types pour le réglage des diverses unités de détection de cible. Cependant, si les secondes sections de détection de champ magnétique 40a et 40b sont ajoutées, les valeurs de niveau de point d'intersection AGO coïncident entre les unités de détection de cible ayant la partie convexe 32 ou la partie concave 34 5 de largeurs quelque peu différentes, à condition seulement que les longueurs d'entrefer de détection soient identiques, et par conséquent l'unité de détection de cible à entrefer variable 130 peut être utilisée en commun pour ces produits consistant en unités de détection de cible. A cet égard, on peut déterminer de la manière suivante si le 10 seuil de conversion en binaire VTH du capteur magnétique qui a déjà été réglé coïncide réellement ou non avec la valeur de niveau de point d'intersection AGO. Premièrement, lorsque la longueur d'entrefer de détection tend à fluctuer conformément à la phase de l'angle de rotation à cause de l'excentricité, de l'irrégularité des parties concaves et convexes, et au15 tres, de l'unité de détection de cible 30 installée elle-même, on peut trouver la valeur de niveau de point d'intersection AGO en échantillonnant les formes d'onde des segments de phase qui diffèrent mutuellement de façon notable et en les superposant les unes sur les autres. Cependant, même s'il est difficile de trouver les segments de phase ayant des diffé20 rences notables, on peut trouver aisément la valeur de niveau de point d'intersection AGO, par exemple en déplaçant les sections de détection de champ magnétique 38a, 38b, 40a et 40b qui ont déjà été montées, ou en remplaçant l'unité de détection de cible 30 par une autre ayant une longueur d'entrefer de détection différente, pour changer de force la Ion25 gueur d'entrefer de détection par rapport à la valeur spécifiée, et en mesurant ensuite les formes d'onde de détection avant et après le changement. Après ceci, il est possible de déterminer si le seuil VTH coïncide ou non avec la valeur de niveau de point d'intersection AGO qui a été trouvée comme décrit ci- dessus. REVENDICATIONS 1. Procédé pour régler un capteur magnétique incluant: un aimant (36) pour générer un champ magnétique; une unité de détection de cible (30) dans laquelle une première partie détectée (34) et une seconde 5 partie détectée (32) sont magnétiquement non équivalentes l'une à l'autre, sont disposées le long d'un chemin de déplacement passant par une position faisant face à l'aimant (36) avec interposition d'un entrefer magnétique (39), et peuvent être déplacées intégralment le long du chemin de déplacement; une section de détection de champ magnétique (3, 5, 10 38a, 38b, 39a, 39b) détectant des fluctuations de champ magnétique dans l'entrefer magnétique sur la base du fait que les premières parties détectées (34) et les secondes parties détectées (32) traversent alternativement l'entrefer magnétique; une section de traitement de forme d'onde (29) pour convertir en binaire une forme d'onde de détection détectée par 15 la section de détection de champ magnétique (3, 5, 38a, 38b, 39a, 39b), sur la base d'un seuil prédéterminé (VTH); et une section de réglage et de fixation de seuil (13) pour fixer le seuil (VTH) de façon qu'il puisse être réglé de manière relative par rapport aux formes d'onde de détection, le procédé comprenant les étapes suivant lesquelles: on obtient des formes 20 d'onde de détection (201, 202) pour une multiplicité de valeurs fixées, par les sections de détection de champ magnétique (3, 5, 38a, 38b, 39a, 39b), tout en changeant des longueurs d'entrefer de détection, qui sont formées entre la première partie détectée (34) ou la seconde partie détectée (32) et la section de détection de champ magnétique (3, 5, 38a, 38b, 25 39a, 39b) dans l'entrefer magnétique, parmi la multiplicité de valeurs fixées; on calcule une valeur de niveau de point d'intersection (AGO) indiquée par un point d'intersection (C) entre une multiplicité de formes d'onde de détection (201, 202) détectées pour la multiplicité de valeurs fixées lorsque la multiplicité de formes d'onde de détection (201, 202) sont superposées en phase; et on règle le seuil de façon qu'il coïncide avec ladite valeur de niveau de point d'intersection (AGO). 2. Procédé pour régler un capteur magnétique selon la revendication 1, dans lequel la multiplicité de valeurs fixées sont fixées à deux 5 niveaux; et l'étape de calcul comprend l'étape consistant à calculer une valeur de niveau de point d'intersection (AGO) qui est indiquée par un point d'intersection (C) entre deux formes d'onde de détection (201, 202). 3. Procédé pour régler un capteur magnétique selon les revendications 1 ou 2, dans lequel l'unité de détection de cible est une unité de 10 détection à entrefer variable (130) pour le réglage qui est monté sur le capteur magnétique à la place d'une unité de détection de cible normale (13) ayant une longueur d'entrefer de détection constante, et dans laquelle des segments ayant différentes longueurs d'entrefer de détection coexistent, et l'étape d'obtention de formes d'onde de détection comprend 15 l'étape consistant à obtenir les formes d'onde de détection conformément à la première partie détectée (34) et à la seconde partie détectée (32) pour chacun des segments de l'unité de détection de cible à entrefer variable (130) ayant lesdites longueurs d'entrefer de détection différentes. 4. Procédé pour régler un capteur magnétique selon la revendi20 cation 3, dans lequel l'unité de détection de cible normale (30) est un corps de révolution, une trajectoire d'une surface latérale circonférentielle autour d'un axe de rotation du corps de révolution constitue ledit chemin de déplacement, et la première partie détectée et la seconde partie détectée sont disposées en alternance le long de ladite surface latérale cir25 conférentielle, et l'unité de détection à entrefer variable (130) est un corps de révolution, une multiplicité de segments ayant des rayons de rotation mutuellement différents sont disposés le long d'une surface latérale circonférentielle autour d'un axe de rotation de ce corps de révolution, et la première partie détectée et la seconde partie détectée sont disposées 30 dans chaque segment de la multiplicité de segments, de façon que cette multiplicité de segments aient les longueurs d'entrefer de détection mutuellement différentes. 5. Procédé pour régler un capteur magnétique selon l'une quelconque des revendications 1 - 4, dans lequel: le capteur magnétique 35 comprend en outre une section de correction en température (15), pour corriger des fluctuations dépendant de la température dans les formes d'onde de détection (201, 202) détectées par la section de détection de champ magnétique (38a, 38b, 39a, 39b) et, le procédé comprenant en outre l'étape suivante: on fixe un coefficient de correction par la section de 5 correction en température (15), de façon que le seuil (VTH) coïncide avec la valeur de niveau de point d'intersection sur pratiquement toutes les plages de température prédéterminées. 6. Procédé pour régler un capteur magnétique selon la revendication 5, dans lequel l'étape de fixation du coefficient de correction com10 prend en outre les étapes suivantes: on obtient deux formes d'onde de détection par la section de détection de champ magnétique, et on permet au seuil de coïncider avec une première valeur de niveau de point d'intersection qui est déterminée par les deux formes d'onde de détection (201, 202), par la section de réglage et de fixation de seuil (13), pendant 15 qu'une température est fixée à une première température et deux niveaux des longueurs d'entrefer de détection sont utilisés; on obtient à nouveau deux formes d'onde de détection par la section de détection de champ magnétique, et on calcule une seconde valeur de niveau de point d'intersection déterminée par les deux formes d'onde de détection qui sont dé20 tectées à nouveau tandis que le seuil fixé par la section de réglage et de fixation de seuil (13) n'est pas changé, la température est changée pour devenir une seconde température qui est différente de la première température, et deux niveaux des longueurs d'entrefer de détection sont utilisés; et on fixe le coefficient de correction de façon que la seconde valeur 25 de niveau de point d'intersection coïncide avec le seuil. 7. Dispositif pour régler un capteur magnétique, comprenant: un aimant (36) pour générer un champ magnétique; une unité de détection de cible (30) dans laquelle une première partie détectée (34) et une seconde partie détectée (32) sont magnétiquement non équivalentes l'une à l'au30 tre, sont disposées le long d'un chemin de déplacement passant par une position faisant face à l'aimant (36) avec interposition d'un entrefer magnétique (39), et peuvent être déplacées intégralement le long du chemin de déplacement; une section de détection de champ magnétique (3, 5, 38a, 38b, 39a, 39b) pour détecter des fluctuations de champ magnétique 35 dans l'entrefer magnétique sur la base du fait que les premières parties détectées (34) et les secondes parties détectées (32) passent en alternance à travers l'entrefer magnétique; une section de traitement de forme d'onde (29) pour convertir en binaire une forme d'onde de détection (201, 202) détectée par la section de détection de champ magnétique (3, 5, 5 38a, 38b, 39a, 39b), sur la base d'un seuil prédéterminé; une section de réglage et de fixation de seuil (13) pour fixer le seuil de façon qu'il puisse être réglé de manière relative par rapport aux formes d'onde de détection (201, 202); une section de changement et de fixation de longueur d'entrefer de détection (130) pour changer et fixer des longueurs d'entrefer de 10 détection (gl, g2) qui sont formées entre la première partie détectée (34) ou la seconde partie détectée (32) et la section de détection de champ magnétique (3, 5, 38a, 38b, 39a, 39b) dans ledit entrefer magnétique, parmi une multiplicité de valeurs fixées; une section d'obtention de forme d'onde de détection (201, 202) pour obtenir des formes d'onde de détec15 tion (201, 202) pour la multiplicité de valeurs fixées, par la section de détection de champ magnétique (3, 5, 38a, 38b, 39a, 39b); et une section de calcul de valeur de niveau de point d'intersection (29) pour calculer une valeur de niveau de point d'intersection (AGO) indiquée par un point d'intersection (C) entre une multiplicité de formes d'onde de détection (201, 20 202) détectées pour la multiplicité de valeurs fixées, lorsque la multiplicité de formes d'onde (201, 202) de détection sont superposées en phase. 8. Dispositif pour régler un capteur magnétique selon la revendication 7, caractérisé en ce que la multiplicité de valeurs fixées sont fixées à deux niveaux; la section d'obtention de forme d'onde de détection 25 obtient deux formes d'onde de détection (201, 202); et la section de calcul de valeur de niveau de point d'intersection calcule une valeur de niveau de point d'intersection (AGO) à partir des deux formes d'onde de détection (201, 202), à titre de valeur cible avec laquelle le seuil doit coïncider. 9. Dispositif pour régler un capteur magnétique selon la reven30 dication 7 ou 8, dans lequel l'unité de détection de cible est une unité de détection à entrefer variable (130) pour le réglage, qui est montée sur le capteur magnétique à la place d'une unité de détection de cible normale (30) ayant une longueur d'entrefer de détection constante, et dans laquelle des segments ayant différentes longueurs d'entrefer de détection 35 coexistent, et la section d'obtention de formes d'onde de détection obtient les formes d'onde de détection conformément à la première partie détectée (34) et à la seconde partie détectée (32) pour chacun des segments de l'unité de détection de cible à entrefer variable ayant les longueurs d'entrefer de détection différentes, pendant que l'aimant (36) est monté en une position fixée. 10. Dispositif pour régler un capteur magnétique selon la revendication 9, dans lequel l'unité de détection de cible normale (30) est un corps de révolution, une trajectoire d'une surface latérale circonférentielle autour d'un axe de rotation de ce corps de révolution constitue le chemin 10 de déplacement, et la première partie détectée et la seconde partie détectée sont disposées en alternance le long de la surface latérale circonférentielle, et l'unité de détection à entrefer variable (130) est un corps de révolution, une multiplicité de segments ayant des rayons de rotation différents les uns des autres sont disposés le long d'une surface latérale 15 circonférentielle, autour d'un axe de rotation du corps de révolution, et la première partie détectée et la seconde partie détectée sont disposées dans chacun de la multiplicité de segments de façon que la multiplicité de segments aient les longueurs d'entrefer de détection mutuellement différentes. 11. Capteur magnétique, caractérisé en ce qu'il comprend: un aimant (36) pour générer un champ magnétique; une unité de détection de cible (30) dans laquelle une première partie détectée et une seconde partie détectée sont magnétiquement non équivalentes l'une à l'autre, sont disposées le long d'un chemin de déplacement passant par une position 25 située face à l'aimant (36) avec interposition d'un entrefer magnétique, et peuvent être déplacées intégralement le long du chemin de déplacement; une section de détection de champ magnétique (3, 5, 38a, 38b, 39a, 39b) pour détecter des fluctuations de champ magnétique dans l'entrefer magnétique sur la base du fait que les premières parties détectées (34) et 30 les secondes parties détectées (32) traversent en alternance l'entrefer magnétique; une section de traitement de forme d'onde (29) pour convertir en binaire une forme d'onde de détection détectée par la section de détection de champ magnétique, sur la base d'un seuil prédéterminé; et une section de réglage et de fixation de seuil (13) pour fixer le seuil de 35 façon qu'il puisse être réglé de manière relative par rapport aux formes d'onde de détection (201, 202); dans lequel une première forme d'onde de détection est obtenue en changeant de manière forcée une longueur d'entrefer de détection, qui est définie comme étant une valeur spécifique prédéterminée entre la première parties détectée (34) ou la seconde par5 tie détectée (32) et la section de détection de champ magnétique (3, 5, 38a, 38b, 39a, 39b) dans l'entrefer magnétique, à partir de la valeur spécifique; une seconde forme d'onde de détection est obtenue conformément à la longueur d'entrefer de détection qui est définie comme étant la valeur spécifique; et le seuil est réglé de façon qu'il coïncide avec une 10 valeur de niveau de point d'intersection (AGO) qui est indiquée par un point d'intersection (C) entre la première forme d'onde de détection et la seconde forme d'onde de détection, lorsque la première forme d'onde de détection et la seconde forme d'onde de détection sont superposées en phase.