FR 2838905 A1 20031024 FR 0303721 A 20030326 PROCEDE ET APPAREIL POUR FOURNIR DES AJUSTEMENTS DE DECALAGE ET DE GAIN DEPENDANTS DU SIGNAL POUR UN DETECTEUR DE RAYONS X A SOLIDE Certaines formes de realisation de la presente invention portent sur un systeme de radiodiagnostic qui mesure et forrne ['image de structures anatomiques. En particulier, certaine s forrne s de realis ation portent sur un pro cede et un appareil pour reduire un temps de conversion de signal pour un panneau a solide du systeme de radiographic ahm d'accro^rtre la frequence des frames. Dans le domaine de l'imagerie diagnostique par rayons X, des detecteurs de rayons X a solide et a grande superfcie ont ete mis au point dans l'art des rayons X. Un tel detecteur comprend typiquement une couche de scintillateur en contact avec une matrice ou panneau de photodiodes, chacune associee a un transistor a effet de champ (TEC) servant d'interrupteur electronique. Le s photo diodes vent initialement chargee s en etant reliees a une tension stable connue par deblocage des TEC. Les photodiodes vent ensuite isolees par blocage des TEC. Par exposition a des rayons X, le scintillateur genere de la lumiere qui decharge chaque photodiode proportionnellement a ['exposition aux rayons X au niveau de la position de la diode. Les diodes vent ensuite rechargees en etant de nouveau reliees a la tension stable connue. La charge utilisee pour ramener la diode a sa tension initiale est mesuree par un circuit de mesure, et la valeur est numerisee et memorisee. Dans un tel detecteur, les photodiodes et leurs TEC associes vent typiquement organisees en rangees et en colonnes. Les grilles des TEC le long d'une rangee vent reliees ensemble, et les electrodes de rangee vent reliees a des circuits electronique de 2s balayage. Durant une lecture du detecteur, des rangees de TEC vent sequentiellement debloquees, et une rangee entiere d' elements du detecteur est lue simultanement. En raison d'imperfections des TEC, un courant de fuite dependent du temps est genere lorsque les TEC vent debloques et bloques. Le resultat est un signal de decalage qui ntest pas lie a ['exposition aux rayons X. Le signal de decalage est typiquement appele retention de charge par commutation. Comme les rangees vent lues sequentiellement, une partie de la retention de charge par commutation est correlee a la rangee, c'est-a-dire que la retention de charge par commutation est grossierement la meme pour tous les elements s d'une rangee donnee, mais varie d'une rangee a l'autre. Pour rendre les choses plus compliquees, la retention de charge par commutation pour une rangee donnee varie en fonction de la frequence des frames du systeme d'imagerie. I1 existe aussi d'autres signaux de decalage qui vent generes en raison a la fois de la photo sensibilite des TEC et de la cap acite entre les photo diodes et les li gnes de o donnees. Lorsque de la lumiere frappe la matrice, les TEC ont tendance a conduire et, presque comme en fonctionnement normal, presentent une retention de charge a la fm de ['exposition aux rayons X. En outre, a mesure que les photodiodes se dechargent, la capacite entre la photodiode et la ligne de donnees subit aussi une variation de charge. En raison de la resistance de la ligne de donnees, l'effet peut mettre un certain temps a se stabiliser, ressemblant a une autre source de signal pendant que l'effet decrot. Le signal de decalage composite, du a une exposition, peut etre appele retention de charge par photo conduction. La retention de charge par commutation et la retention de charge par photo conduction composite se combinent p our creer un si gnal de decalage dans le s elements de la matrice, dont il faut tenir compte durant une lecture. En ['absence des decalages, les circuits de conversion requerraient seulement la gamme dynamique et la definition de signaux generes par une exposition aux rayons X normale. Toutefois, en pratique la gamme dynamique des signaux de decalage peut etre plus large que la gamme dynamique de signaux utiles pour l'imagerie. Pour des raisons pratiques, les circuits de 2s conversion ont des limitations en gamme dynamique, definition de conversion et vitesse de conversion du signal d'entree. En ['absence de compensation des decalages, il serait necessaire que les circuits de conversion acceptent une plus large gamme dynamique d'entree sans sacrifier la deEmition et la vitesse. Les efforts anterieurs pour resoudre le probleme de retention de charge tenaient seulement compte de la retention de charge par commutation et stappuyaient senlement sur un etalonnage anterieur de la retention de charge par commutation pour une frequence des frames constante, comme dans le brevet des Etats-Unis n 5.604.347 de Petrick et s coil. Initialement, un etalonnage est effectue pour mesurer le decalage moyen de chaque rangee. Une valeur de compensation de decalage pour chaque rangee est ensuite stockee dans la memoire d'un circuit de conversion. Les valeurs de compensation memorisees vent additionnees aux signaux entrants durant le fonctionnement du detecteur. Toutefois, ce procede ne compense par correctement la contribution de la retention de charge par lo photoconduction et n'est pas non plus adapte a un systeme d'imagerie dans lequel la frequence des frames est variable. I1 existe un besoin d'une approche a la reduction des temps de conversion de signal par compensation de variations d'une rangee a l'autre dues a la fois a la retention de charge par commutation en fonction de la frequence des frames et a la retention de charge par photoconduction en fonction du flux de photons de rayonnement X, afin d'accro^tre la frequence des frames d'imagerie. Des formes de realisation de la presente invention proposent un systeme de radiographic pour generer et presenter une pluralite de frames d'image correspondent a une structure interne a l'interieur d'un sujet de maniere telle que le temps de conversion du signal est reduit, ce qui accrot la frequence des frames. Le systeme de radiodiagnostic comprend un tube a rayons X pour generer des signaux de rayons X, un module detecteur a solide sensible aux signaux de rayons X et un module de traitement dtimage generant une pluralite de signaux de detecteur normalises pour une frame d'image courante. Les signaux de detecteur normalises pour la frame en cours vent ajustes dynamiquement pour 2s compenser des variations d'une rangee a l'autre de la retention de charge d'un panneau detecteur bidimensionnel du module detecteur a solide lorsque la frequence des frames varie, et lorsque le flux de photons de rayonnement X varie d'une frame a l'autre. Le systeme peut comprendre en outre un collimateur pour diriger les signaux de rayons X vers le module detecteur a solide, et/ou un module de commande de detecteur raccorde au module de traitement d'image et au module detecteur a solide pour fournir des signaux de commande au module de traitement d'image et au module detecteur a solide, et/ou un organe de commande de systeme raccorde au module de traitement d'image et au module de commande de detecteur pour fournir des signaux de commande de systeme au module de traitement diimage et au module de commande de detecteur; et/ou un ecran de controle raccorde au module de traitement d'image pour presenter les signaux de detecteur normalises a un utilisateur du systeme. lo La retention de charge peut comprendre une retention de charge par commutation provoquee par blocage et deblocage de transistors a effet de champ dans le panneau detecteur, et/ou une retention de charge par photoconduction provoquee par des signaux de photons frapp ant des photo diodes dans le panneau detecteur. I1 est aussi propose un appareil pour reduire le temps de conversion de signal d'un systeme de radiographic de maniere a accrotre la frequence des frames. Le systeme de radiographic comprend un scintillateur convertissant des photons de rayonnement X en photons de lumiere, une matrice de padres photodiode/transistor a effet de champ attenante au scintillateur et sensible aux photons de lumiere pour decharger la matrice, et des circuits electroniques de lecture pour fire une rangee courante de la matrice. Les circuits electroniques de lecture vent relies a des colonnes de la matrice et vent sensibles a une charge. Les circuits electroniques de lecture vent utilises pour generer un ensemble de signaux de detecteur normalises de maniere telle que ['ensemble de signaux de detecteur normali ses est aj uste pour compenser des variations d' intensite des si gnaux dues a de s variations temporelles de retention de charge dans la matrice, d'une rangee a l'autre et 2s d'une frame a l'autre. Les circuits electroniques de lecture peuvent comprendre un ensemble de circuits integrateurs/echantillonneurs de signal, sensibles a une valeur de signal et a des variations d'accumulation de charge le long de colonnes de la matrice pour generer un ensemble correspondent de signaux integres proportionnels aux variations de charge pour chacune des padres photo diode/transistor a effet de champ de la li gne courante lue, un compteur numerique sensible a un signal d'horloge et a une valeur de decalage variable par rangee pour generer une rampe de conversion de signal decalee pour la rangee courante lue, la rampe de conversion de signal decalee etant deduite d'une seule rampe de conversion de signal prealablement determinee qui est commune pour toutes les rangees a fire, un ensemble correspondent de comparateurs sensibles a ltensemble correspondent de signaux integres et a la rampe de conversion de signal decalee pour generer un ensemble correspondent de signaux de memorisation lorsque ltensemble correspondent de signaux o integres est superieur ou egal a un niveau courant de la rampe de conversion de signal pour la rangee courante lue, et un ensemble correspondent de registres de donnees sensibles a la rampe de conversion de signal decalee et a ['ensemble correspondent de signaux de memorisation pour retenir ['ensemble de signaux de detecteur normalises dans ltensemble correspondent de registres de donnees pour la ligne courante lue. L'appareil peut aussi comprendre un premier convertisseur numeriqueanalogique sensible a une version numerisee de la rampe de conversion de signal decalee pour generer une version analogique de la rampe de conversion de signal decalee pour la rangee courante lue; et/ou un second convertisseur numerique-analogique sensible a une version numerique de la valeur de signal pour generer une version analogique de la valeur de signal pour la rangee courante lue. La valeur de decalage variable par rangee peut decaler la rampe de conversion de signal prealablement determinee de sorte que ['ensemble correspondent de signaux integres tombe a l'interieur de la gamme dynamique de la rampe de conversion de signal decalee pour la rangee courante lue. La valeur de decalage variable pour la rangee courante lue peut etre generee par indexage dans au moins une table a consulter du systeme, memorisant un seul ensemble prealablement determine de valeurs de decalage variable par rangee en se basant sur une prise d'au moins une mesure fantome de la matrice avant une lecture normale de signaux de la matrice, et/ou etre calculee en se basant sur la prise de cette au moins une mesure fantOme. La valeur de decalage variable par rangee peut etre appliquee aux transistors a effet de champ d'au moins une rangee de la matrice, differente de la rangee courante lue, durant un segment temporel d'acquisition de la rangee courante lue durant une lecture de signaux normale. s I1 est aussi propose un procede pour minimiser le temps de conversion de signal pour un panne au detecteur a so lide d'un systeme de radio graphic de maniere a accro^tre la frequence des frames. Une mesure d'un ensemble de decalages de signal induits, crees par une retention de charge variable dans le temps et associee au panneau detecteur, est effectuee durant un segment temporel fantOme avant une lecture normale de signaux du o panneau detecteur pour une frame courante. Un ensemble de valeurs d'ajustement est genere en reponse a ltensemble de decalages de signal induits. En reponse a ['ensemble de valeurs d'ajustement, des soul- ensembles de valeurs de signaux du panneau detecteur vent detectes et normalises a une gamme dynamique de signal prealablement determinee en tent que partie d'une lecture normale de signaux du panneau detecteur, pour generer un ensemble de signaux de detecteur normalises. L' ensemble de valeurs d'aj ustement peut etre genere par indexage dans au moins une table a consulter et lecture des valeurs d'ajustement dans l'au moins une table a consulter avant une lecture normale de signaux du detecteur pour la frame courante, l'au moins une table a consulter etant generee prealablement en se basant au moins partiellement sur une caracterisation anterieure de la retention de charge du panneau en fonction des soul- ensembles et de la frequence des frames. L'ensemble de valeurs d'ajustement peut aussi etre calcule avant une lecture normale de signaux du panneau detecteur pour la frame courante, le calcul se basant au moins partiellement sur une caracterisation anterieure de la retention de charge du panneau en fonction des sous ensembles et de la frequence des frames. La lecture peut comprendre le fait d'ajuster une valeur de gain de signal et/ou de decaler une valeur de depart d'une rampe de conversion de signal, pour chaque sous ensemble de valeurs de signaux, en fonction des valeurs d'ajustement durant un segment temporel de conversion de signal de la lecture de signaux normale, de sorte que chaque signal de l t ensemble de signaux de detecteur normalises tomb e a l'interi eur de la gamme dynamique de signal prealablement determinee pour la frame courante. La lecture peut aussi comprendre le fait d'ajuster au moins un gain de signal et/ou valeur de decalage correspondent a un premier soul-ensemble de padres photodiode/transistor du panneau detecteur, ce premier soulensemble etant en cours de lecture durant un segment temporel d'acquisition de signal de la lecture de signaux normale et correspondent a l'un des sous ensembles de valeurs de signaux, et d'appliquer au moins une valeur d'ajustement a un second soul-ensemble de padres photodiode/transistor du panneau detecteur, le second o soul-ensemble n'etant pas en cours de lecture, de sorte que chaque signal de ['ensemble de signaux de detecteur normalises correspondent au premier soul-ensemble tombe a l'interieur de la gamme dynamique de signal prealablement determinee pour la frame courante. N'importe loquel des soul-ensembles de valeurs de signaux du panneau detecteur correspond a des charges accumulees sur au moins une rangee de padres photodiode/transistor du panneau detecteur. Certaines formes de realisation de la presente invention prop o sent une approche a la generation et la presentation d'une pluralite de frames d'image radiographique a une frequence des frames accrue par reduction du temps de conversion de signal pour un detecteur a solide d'un systeme de radiographic. La presente invention sera mieux comprise a ['etude de la description detaillee suivante de modes de realisation preferes illustree par les dessins annexes, dans lesquels: la figure 1 est un schema synoptique d'un systeme de radiodiagnostic illustrant les divers elements du systeme de radiographic selon une forme de realisation de la presente invention, 2s la figure 2 represente des elements de rangees et de colonnes d'un detecteur bidimensionnel du systeme de radiographic de la figure 1 selon une forme de realisation de la presente invention, la figure 3 represente le minutage associe a une prise de mesures fantomes du detecteur bidimensionnel de la figure 2 et a une lecture du detecteur bidimensionnel selon une forme de realisation de la presente invention; la figure 4 est une representation exemplaire d'un indexage dans une table a consulter pour extraire des valeurs d'ajustement selon une forme de realisation de la presente invention; la figure 5 represente le minutage associe a ['application de signaux d'ajustement aux grilles de kansistors correspondent a K rangees d'un panneau detecteur bidimensionnel du systeme de radio graphic de la figure 1 selon une forme de realisati on o de la presente invention; la figure 6 est un schema synoptique representant les circuits electroniques de lecture du systeme de radiographic de la figure 1 selon une forme de realisation de la presente invention; et la figure 7 represente une rampe de conversion de signal generee par les circuits electroniques de lecture de la figure 6 selon une forme de realisation de la presente invention. La figure 1 est un schema synoptique du systeme de radiodiagnostic 5 representant les elements principaux du systeme de radio graphic 5 selon une forme de realisati on preferee de la presente invention. Le systeme de radiographic 5 comprend un tube a rayons X 12, un module detecteur de rayons X 14 et un collimateur 16. Des rayons X vent emis par le tube a rayons X 12 vers le module detecteur de rayons X 14 via le collimateur 16. Pour obtenir une radiographic d'un patient 18, le patient 18 est place entre le collimateur 16 et le module detecteur de rayons X 14, un corps transmettant les rayons X est place du cote du patient 18 en regard du collimateur 16, et le patient 18 est expose a des rayons X pendant un certain laps de temps. Le systeme de radiographic S comprend en outre une alimentation 22 pour exciter le tube a rayons X 12. Comme represente sur la figure 2, le module detecteur de rayons X 14 comprend un detecteur bidimensionnel 24 de rangees 26 et de colonnes 28 d'elements photodetecteurs 30. Le module detecteur 14 comprend en outre un scintillateur 32 entre le detecteur bidimensionnel 24 et le patient 18 de sorte que le scintillateur 32 est attenant au detecteur bidimensionnel 24 afin de convertir des rayons X en lumiere. Le systeme de radiographic 5 comprend en outre un organe de traitement d'image 34 qui re,coit la sortie de la matrice 24 et traite ['image re, cue par la matrice 24. Le systeme de radiographic 5 comprend en outre un ecran de controle 36 relic a l'organe de traitement d'image 34 pour presenter ['image traitee, et comprend un dispositif de memorisation d'image 38 pour archiver ['image traitee si cela est souhaite. Le systeme de radiographic 5 comprend en outre un circuit de commande d'exposition 40 qui re,coit un signal de o luminosite de l'organe de traitement d'image 34 et regule l'alimentation 22 afin de reguler ['exposition aux rayons X. Le systeme de radiographic 5 comprend en outre une interface operateur 42 et un organe de commande de systeme 44 qui commande le fonctionnement du reste du systeme de radiographic 5 et re,coit des instructions envoyees par un operateur humain via ['interface operateur 42. Le detecteur bidimensionnel 24 est constitue de couches minces de materiaux comprenant une ou plusieurs couches de silicium amorphe. Comme represente sur la f1gure 2, chaque element photodetecteur 30 du detecteur bidimensionnel 24 comprend une photo dio de 46 qui convertit des photons en un signal electrique. Chaque photo diode 4 6 comprend une anode A et une cathode K, et est une photodiode a grande superficie occupant presque toute la superficie de chaque element 30 afin d'intercepter une grande partie de la lumiere frappant ['element 30. Chaque element 30 comprend en outre un transistor a couches minces 48. Dans la forme de realisation representee, chaque transistor 48 est un transistor a effet de champ (TEC) comportant une grille G. un drain D et une source S. La cathode K de la photodiode 46 de chaque element 30 est reliee a la source du transistor de ['element. Les anode s A de toutes les photo dio de s 4 6 du detecteur bidimensionnel 24 vent reliees ensemble et a une tension de polarisation negative -Vb. Les drains D des transistors places dans des colonnes respectives vent relies a des electrodes de colonne respectives COL(n), COL(n+l), COL(n+2). .., et les grilles des transistors places dans des rangees respectives vent reliees a des electrodes de rangee respectives RANGEE(n), RANGEE(n+l) Le systeme de radiographic 5 comprend en outre un organe de commande de detecteur 50 relic a l'organe de commande de systeme 44 et aux electrodes de rangee. Les electrodes de colonne vent reliees a ltorgane de traitement dtimage 34. Pour acquerTr une image par le detecteur bidimensionnel 24, ltorgane de commande de detecteur 50 relic les electrodes de colonne a une tension stable connue Vc delivree par les circuits electroniques de lecture, qui peut par exemple etre inferieure a deux volts par rapport a la masse. Pendant que les electrodes de colonne vent reliees a la tension Vc, l'organe de commande de detecteur 50 relic les electrodes de rangee a une tension Von qui est positive par rapport a Vc. Les photodiodes vent ainsi polarisees en inverse. Les transistors conduisent et une charge staccumule sur chacune de s cap acites associees aux photodiodes. Une fois que les photodiodes vent chargees, l'organe de commande de detecteur 50 relic les electrodes de rangee a une tension -Voff qui est negative a la fois par rapport et Vc et a -Vb pour bloquer les transistors et les empecher de conduire. La matrice est alors exposee a un rayonnement lumineux, tel que produit par le scintillateur 32 expose a des rayons X. Les photodiodes conduisent et la capacite associee a chaque photodiode se decharge partiellement. La quantite de charge retiree de la capacite associee a chaque photo diode depend de l'intensite et de la duree du rayonnement lumineux frappant cette photodiode particuliere. Comme la duree de ['exposition au rayonnement lumineux est la meme pour toute s les photo diodes, la quantite de charge retiree de la capacite as so ciee a chaque photodiode represente l'intensite du rayonnement lumineux frappant la photodiode, et elle est lue par mesure de la quantite de charge requise pour recharger la capacite de chaque photodiode. Les variations de la charge retiree des differentes photodiodes constituent une image de la lurniere frappant le detecteur. La quantite de charge retiree de la capacite associee a chaque photodiode est mesuree en demandant a ltorgane de commande de detecteur 50 de relier les rangees, une par une, a la tension Von et de mesurer respectivement la charge requise, au niveau de ['electrode de colonne associee a chaque diode dans la rangee, pour recharger la capacite s des diodes a la meme tension qu'avant ['exposition au rayonnement lumineux. Le module de traitement dtimage 34 comprend un circuit de detection, incluant un integrateur 52 dans une forme de realisation preferee, relic a chaque colonne de la matrice 24. L'integrateur 52 est de preference un integrateur a bruit faible sans courants de decalage ou de polarisation des entrees. L'organe de commande de detecteur SO ramene chaque o rangee a -Voff, et les circuits de detection vent tous purges (ctest-a-dire que les integrateurs vent remis a zero) une fois qu'une rangee a ete lue afin de preparer les circuits de detection a la lecture de la rangee suivante. Comme le signal de sortie du detecteur bidimensionnel 24 est tres falble, le circuit destine a mesurer la charge retiree des photodiodes est kes sensible. Les transistors 48 de la matrice 24 presentent une "retention de charge par commutation" selon laquelle toute la charge ne quitte pas les transistors en silicium amorphe de la matrice lorsqutune rangee est ramenee a-VOff, mais plutot fun' lentement au cours du temps. La charge retenue par les transistors dans une rangee lue a lteffet d'un decalage pour des elements lus dans cette rangee. Le decalage peut etre assez grand par rapport a la gamme dynamique des signaux o de sortie que l'on souhaite mesurer. La retention de charge par commutation varie aussi avec la frequence des frames. Le TEC peut aussi retenir une charge lorsqu'il est active par exposition au rayonnement lumineux. La charge retenue est appelee "retention de charge par photoconduction" et a aussi l'effet d'un decalage. La retention de charge totale est la combinaison de la retention de charge par commutation et la retention de charge par photoconduction, et donne un decalage composite. Le decalage composite, stil n'est pas compense d'une certaine maniere, impose que la gamme dynamique du circuit de detection soit tres large. Une large gamme dynamique signifie qu'il doit exister un grand nombre de niveaux de detection afin de discerner des niveaux de gris du signal avec une definition desiree. (::haque niveau de detection utilise un certain laps de temps TdeeC 8'il est necessaire de verifier de nombreux niveaux de detection pour une rangee donnee durant ['operation de detection, cela peut entraner une diminution de la frequence des s frames. Comme TdeeC est typiquement constant pour un module a detecteur bidimensionnel donne, il est souhaitable de reduire le nombre de niveaux de detection qui vent verifies afin d'accro^tre la frequence des frames sans perte de definition du signal. Le nombre de niveaux de detection a verifier peut etre reduit par compensation, rangee par rangee, du decalage du a la retention de charge totale. o Dans le brevet des Etats-Unis n 5.604347 de Petrick et coil., un detecteur de rayons X a solide utilise des decalages variables par rangee afin de reduire la plage lineaire de conversion du signal, pour ainsi reduire la duree requise pour la conversion du signal et accrotre la frequence des frames effective. Quand la duree entre frames est fixe, le decalage induit par la retention de charge par commutation peut etre caracterise au cours de ['operation de mise au point et retire durant le fonctionnement du systeme de radiographic par stipulation d'une courbe de decalage variable par rangee qui est basee sur la caracterisation. Le resultat est une rampe de conversion de signal qui comprend une partie lineaire ayant ete reduite. La partie lineaire de la rampe de conversion de signal est utilisee pour mesurer le decalage d'une "image d'obscurite" (pas d'exposition aux rayons X) qui est ensuite soustraite a une image contenant des informations de rayons X, pour retirer le decalage. La solution du brevet des Etats-Unis n 5.604.347 fonctionne bien pour des frequences des frames fixes, quand la duree entre frames est constante, ce qui signifie que la decroissance du decalage induit par la retention de charge est aussi constante d'une frame a l'autre. 2s Un defi supplementaire doit toutefois etre releve lorsqu'on souhaite que la duree entre frames soit variable. A ['extreme, aucune compensation de decalage variable par rangee n'est necessaire quand la duree entre frames est zero, car la contribution de la retention de charge est constante (la decroissance de rangees anterieures peut etre exactement remplacee par la rangee lue la plus recemment activee). I1 sufft que la partie lineaire de la rampe de conversion englobe simplement l'intervalle des decalages attendus depuis un pixel ou element individual du detecteur bidimensionnel 24 (dus par exemple a une faite des photodiodes), au lieu de l'intervalle supplementaire requis en raison de la s retention de charge. A l'autre extreme, la retention de charge s'etablit a partir de sa valeur la plus negative (duree infinie entre kames, ce qui signifie qu'il n'y a aucune contribution de rangees anterieures pour la premiere rangee) a une valeur stable (ou la contribution au decalage par retention de charge devient constante), et l'intervalle des decalages requis devient maximal. C'est au second extreme qu'une compensation de decalage variable par o rangee offre le plus d'avantages. En outre, meme avec une duree entre frames relativement course, un accroissement de gain du signal peut avoir un effet defavorable sur la dispersion du decalage. A mesure que le gain de signal augmente, la plage lineaire dediee a la conversion de decalage augmente aussi, ce qui a un effet defavorable sur la duree que prend la conversion du signal. 1S Dans des formes de realisation de la presente invention, le decalage du a la retention de charge totale est compense en effectuant d'abord des mesures fantOmes du detecteur bidimensionnel 24 pour une frame courante afire avant une lecture normale de signaux du detecteur bidimensionnel 24. Les mesures fantOmes peuvent ensuite etre utilisees pour generer des valeurs d'ajustement qui peuvent etre appliquees durant une lecture de signaux normale suivante afin de corriger les decalages dus a la retention de charge totale. En resultat, les valeurs d'ajustement vent mises a jour de maniere dynamique pour chaque frame et compensent des variations de retention de charge dues a des variations a la fois de la frequence des frames et de la retention de charge par photoconduction, ce qui a pour effet d'accro^tre la frequence des frames globale. Les s mesures fantOmes vent effectuees une seule fois avant la lecture de chaque frame, et pas pour chaque rangee a fire. La figure 3 represente la procedure d'execution de mesures fantOmes sur le detecteur bidimensionnel 24 puis de lecture des rangees du detecteur bidimensionnel 24. Sur la figure 3, deux mesures fantomes 101 et 102 vent effectuees durant une lecture fantdme 120 avant une lecture normale 115 du detecteur bidimensionnel 24. Lorsqu'une rangee du detecteur est lue normalement, une impulsion de selection de rangee 105 est appliquee aux grilles des transistors de cette rangee pendant un certain laps de temps. L'amplitude de l'impulsion de selection de rangee est Von comme indique plus haut. Chaque element de la rangee est lu simultanement par les circuits electroniques de lecture de l'organe de traitement d'image 34 le long de colonnes du detecteur bidimensionnel 24 comme indique plus haut. Toutefois, lorsque les mesures fantdmes (101 et 102) vent effectuees, les signaux de selection de rangee vent inactives. En resultat, les mesures o representent la retention de charge initiale associee a la frame courante. Si deux mesures fantomes vent effectuees, comme represente sur la fgure 3, les deux mesures peuvent etre moyennees pour donner une mesure fantome composite. Plus de deux mesures fantomes peuvent etre effectuees, si cela est soahaite, pour obtenir une representation plus precise de la retention de charge. Des valeurs d'ajustement vent ensuite generees durant un segment temporel de mesure/calcul 110 en reponse aux mesures fantomes. Une fois que les valeurs d'ajustement vent generees, elles peuvent etre appliquees durant ['operation de lecture normale 115 afin de compenser les decalages dus a la retention de charge totale pour chaque rangee, ce qui reduit le nombre des niveaux de detection qui vent requis pour une detection normale de signaux. Chaque rangee, ou ligne de balayage, est effectivement normalisee par rapport aux autres rangees de la frame courante a la fois pour ['image radiographique et pour la frame d'obscurite utilisee pour des mesures de decalages de pixels individuals avant d'effectuer ensuite une soustraction de frame d'obscurite apres la conversion. En resultat, il n'est pas necessaire que la gamme dynamique d' entree des circuits electroniques de lecture soit tres large, et la detection et la conversion des signaux peuvent se derouler en une plus course duree, ce qui accro^t la frequence des frames globale. Les mesures fantOmes peuvent etre utilisees pour calculer les valeurs d'ajustement ou peuvent etre utilisees comme index dans une table a consulter (LUT), comme represente sur la figure 4, dans laquelle les valeurs d'ajustement vent memorisees dans une memoire des circuits electroniques de lecture. En considerant que la retention de charge s'etablit generalement a une valeur stable, la generation des valeurs d'ajustement peut etre aussi simple qutun indexage dans la table a consulter, la retention de charge etant caracterisee dans la table a consulter avec une duree infinie entre frames. L'index determine la position dans la table a consulter de la valeur d'ajustement de la premiere rangee du detecteur bidimensionnel. Des valeurs d'ajustement suivantes pour des rangees o suivantes proviennent de rangs suivants de la table a consulter. Des techniques d'indexage plus sophistiquees peuvent utiliser la table a consulter pour compenser correctement la composante de retention de charge par photoconduction de la retention de charge totale. Les valeurs d'ajustement, qutelles soient calculees a la volee pour chaque frame ou extraites d'une table a consulter, vent une fonction de la retention de charge mesuree, de la gamme dynamique attendue des signaux, et d'autres decalages electroniques. Dans le systeme de radiographic, ltepaisseur de l'iodure de cesium est commandee et la gamme dynamique attendue des signaux est commandee en fonction d'une commande d'intensite des rayons X emis. En consequence, la valeur attendue de la retention de charge par photoconduction peut etre caracterisee et done anticipee. La figure 4 represente une forme de realisation de la table a consulter comme la table a consulter serait appliquee a quatre differentes durees entre frames (duree infinie, duree X, duree Y. et duree nulle, dans l'ordre decroissant). La table a consulter dans la moitie inferieure de la figure 4 represente comment une seule table a consulter, 2s caracterisee par une duree infinie entre kames, peut eke utilisee pour fournir les memes courbes d'ajustement. La courbe d'ajustement est simplement commencee en des positions differentes dans la table a consulter, en fonction des mesures fantOmes, qui vent largement influencees par la duree entre frames. Seules L valeurs vent representees, ou L cette valeur est simplement repetee pour toutes les rangees restantes a fire. Dans une premiere forme de realisation de la presente invention, les valeurs d'ajustement vent appliquees durant une periode de temps d'acquisition 125 d'une lecture normale 115. Si un decalage precis est induit par une retention de charge sur un signal qui est attendu hors de la gamme dynamique offerte par les circuits electroniques de lecture, le total (signal plus decalage) peut somber dans la gamme dynamique offerte par les lo circuits electroniques de lecture sans subir un accroissement du temps de conversion. Le temps de conversion est la duree requise pour convertir un signal integre d'une tension analogique en une valeur numerique. Dans une forme de realisation de la presente invention, chaque niveau de conversion correspond a un segment temporel TeeC de 64 nanosecondes. Pour obtenir une compensation d'un decalage negatif ou positif, selon ce qui est requis pour une rangee donnee du detecteur bidimensionnel 24, un certain nombre de rangees peuvent etre utilisees pour donner le decalage avec le minutage represente sur la figure 5. Dans un premier cas 130, une tension plus negative -VOffh2 est appliquee, aux grilles G de j rangees donnant un decalage (j etant superieur ou egal a un), durant une acquisition de signaux 125 d'une rangee donnee a fire (par exemple RANGEE(n)) et est supprimee durant une remise a zero 127 des circuits electroniques de lecture comme represente sur le chronogramme. Le cas 130 fournit un decalage positif pour compenser les effete d'un decalage negatif induit par retention de charge. Le cas contraire est represente par le chronogramme du cas 140 dans lequel une tension plus negative -VOffh2 est appliquee, aux grilles G de j rangees donnant un decalage, durant une remise a zero 127 des circuits electroniques de lecture pour une rangee donnee a fire (par exemple RANGEE(n)) et est supprimee durant une acquisition de signaux 125, ce qui fournit un decalage negatif pour compenser les effete d'un decalage positif induit par retention de charge. Les circuits electroniques de lecture vent bipolaires, permettant une compensation adequate de decalages induits aussi bien positifs que negatifs. Le nombre de rangees peut s etre modifie et/ou la difference entre -Voff et -VOffll2 peut etre modifiee pour obtenir effectivement la meme quantite de compensation de la retention de charge. Un effet similaire peut aussi etre induit si la tension appliquee pour induire le decalage est plus positive que -Voff. En resultat, -VOffh2 devient -Voff et -Voff devient -Vofn2' ou -Voffl,2 o plus large qui va au-dela de celle offerte par ltoperation de conversion utilisee. La valeur d'ajustement de gain et la valeur de decalage -VOffh2 vent les valeurs d'ajustement calculees et/ou valeurs d'ajustement extraites d'une table a consulter comme decrit plus haut. Plusieurs tables a consulter peuvent etre mises en ccuvre si cela est souhaite (par exemple une premiere table a consulter pour la valeur d'ajustement de gain et une seconde table a consulter pour -Voffn2). Les valeurs d'ajustement calculees et/ou obtenues par table a consulter compriment effectivement la gamme dynamique du signal d'entree par une quantite prealablement determinee. Dans une seconde forme de realisation de la presente invention, les valeurs d'ajustement vent appliquees durant une periode de temps de conversion 150 (voir la figure 7) durant une lecture normale. Dans ce cas, au lieu d'appliquer des valeurs d'ajustement a certaines rangees durant une acquisition, des valeurs d'ajustement vent appliquees durant une conversion de signal 150 pour effectivement decaler une rampe de conversion de signal 160 jusqu'a la gamme dynamique de signal appropriee. La figure 6 represente une forme de realisation des circuits electroniques de lecture de la presente invention qui realisent a la fois ['integration et la conversion des signaux. Les circuits electroniques de lecture comprennent un circuit io integrateur/echantillonneur 200, un circuit additionneur analogique 204, un comparateur 210, un registre de donnees 230, un compteur numerique 220, une table a consulter 240, une seconde table a consulter 310, un circuit additionneur numerique 314, un premier convertisseur numerique/analogique (N/A) 250 et un second N/A 260. Durant le temps d'integration de signal 125 pour une rangee donnee lue, le circuit integrateur/echantillonneur integre le signal present a ltentree 206 (pour chaque element dans la rangee) correspondent a la somme du signal de decharge durant une exposition aux rayons X pour la frame courante pour le pixel lu a ['entree 201 et d'une tension analogique generee par le N/A 250 et ajoutee sous forme analogique par l'additionneur 204. La sortie du N/A 255 est commandee par la sortie 245 de la table a consulter 240. La sortie du circuit integrateur/echantillonneur est appliquee a une premiere entree du comparateur 210. Une sortie du N/A 260 est appliquee a une seconde entree du comparateur 210. Lorsque la valeur de la seconde ente du comparateur 210 est superieure ou egale a la premiere entree du comparateur 210, un signal de memorisation est fourni en sortie du comparateur 210. Le signal de memorisation est une entree d'un registre de donnees 230 et declenche une memorisation d'une valeur fournie en sortie par un compteur numerique 220. Durant une conversion de signal, le compteur numerique 220 commence a compter et a fournir en sortie une rampe de conversion de signal en reponse a un signal d'horloge 270, la rampe de conversion de signal comportant un nombre fixe prealablement determine de niveaux discrete n 175 definissant une gamme dynamique fixe comme represente sur la f1gure 7. La rampe de conversion de signal comprend une region lineaire 170, une region quadratique 180, et un niveau de decalage variable par rangee 190 dont les valeurs numeriques vent contenues dans la table a consulter 310. Dans l'art anterieur, la table a consulter 240 contiendrait seulement les valeurs numeriques pour l'intervalle attendu des decalages dus a la retention de charge par commutation pour une frequence des frames et une duree entre frames fixes. L' entree 28 0 dans l'art anterieur aurait simplement ete une adresse de rangee. La table a consulter 240 lo additionne effectivement le decalage de retention de charge attendu (d'apres une caracterisation anterieure a des frequences des frames fixes) . Comme represente par le schema, le decalage peut etre ajoute sous forrne analogique par le circuit additionneur 204 durant ['acquisition du signal (premiere forme de realisation), ou sous forme numerique par le circuit additionneur 314 durant la conversion (seconde forme de realisation), ou par une combinaison des deux, eventuellement avec plus d'une seule table a consulter 240 pour alimenter independamment chacun des circuits additionneurs. Dans l'art anterieur, ['entree 280 de la table a consulter 240 aurait simplement ete une representation numerique de la rangee en cours de lecture (c'est-a-dire une "adresse" de rangee), et aurait ete une valeur f1xe d'une frame a l'autre pour une rangee donnee. Dans une forme de realisation de la presente invention, la table a consulter 240 contient un bien plus grand nombre de valeurs, tenant compte d'une caracterisation des decalages par retention de charge avec une duree entre frames variant de zero a la duree a ltexpiration de laquelle la retention de charge a decru a une valeur suffisamment proche de zero pour n'etre pas consequente. Dans une forme de realisation de la presente invention, ['entree 280 de la table a consulter 240 est variable d'une frame a l'autre pour une rangee donnee en fonction du signal mesure durant les "rangees fantomes". La premiere forme de realisation additionne les decalages sous forme analogique durant une acquisition de signal, au moyen du circuit additionneur 204. La seconde forme de reali sation additionne les decal ages durant une conversion, au mo yen du circuit additionneur 314. On remarquera qu'un troisieme N/A et une addition analogique effectuee apres le N/A 260 pourraient remplacer le circuit additionneur numerique 314 pour obtenir le meme effet. s La region lineaire 170 de la rampe de conversion de signal 160 definit la gamme dynamique des valeurs attendues d'une "frame d'obscurite", quand aucun signal du a une exposition aux rayons X ntest present dans le detecteur bidimensionnel. En consequence, si l'ajustement pour compenser la retention de charge est effectue correctement, tous les signaux integres convertis 300 sortant des circuits electroniques de lecture doivent aboutir 0 dans la region lineaire 170 de la rampe de conversion de signal 160 quand aucune exposition aux rayons X n'a ete effectuee. La region lineaire 170 est aussi significativement plus petite qu'elle ne devrait l'etre si l'ajustement pour compenser la retention de charge ntetait pas effectue. La region quadratique 180 est l'intervalle dans lequel peuvent somber des valeurs attendues de signaux de rayons X. La region est quadratique car le bruit quantique de rayons X est proportionnel a la racine carree de l'intensite du rayonnement X. En consequence, a mesure que l'intensite des rayons X augmente, il est justifie d'augmenter les valeurs de rampe d'une maniere quadratique, en faisant de plus grands sauts entre les niveaux de rampe, afin de ne pas perdre de temps a essayer de detecter des signaux de rayons X avec un plus grand nombre de plus petite echelons lineaires. La rampe de conversion de signal 160 est fixe pour tous les signaux a detecter dans le detecteur bidimensionnel, a ['exception du fait que le niveau de decalage variable par rangee 190 est ajuste en fonction des mesures fantomes decrites plus haut en se basant sur la caracterisation du panneau detecteur bidimensionnel par rapport a la retention de charge. De nouveau, la region lineaire 170 est significativement plus petite qu'elle ne devrait l'etre si un ajustement pour compenser la retention de charge n'etait pas effectue. Dans une "image de lumiere" (une exposition aux rayons X a ete effectuee), de fortes penetrations de rayons X dolvent aboutir dans la region la plus haute de la partie quadratique de la rampe de conversion de signal, de plus falbles penetrations de rayons X doivent aboutir dans la region inferieure de la partie quadratique de la rampe de conversion de signal, et une penetration nulle de rayons X doit aboutir dans la region lineaire de la rampe de conversion de signal. s Dans chaque forme de realisation de la presente invention, les valeurs d'ajustement peuvent etre generees a partir des mesures fantomes par indexage dans la table a consulter 240 au niveau de ['entree d'adresse de table a consulter 280. Pour une rangee donnee j, la table a consulter fournit en sortie une valeur de decalage de signal a ltentree 245 du N/A 250 et/ou une valeur de niveau de decalage au circuit additionneur numerique 314. La o valeur de niveau de decalage 245 correspond au decalage variable par rangee 190 represente sur la figure 7. Les valeurs d'ajustement font effectivement correspondre la gamme dynamique de la rampe de conversion de signal contenue dans la table a consulter 310 a l'intervalle attendu des signaux de sortie du circuit integrateur/echantillonneur 200. Le N/A 260 convertit le niveau de sortie de la table a consulter 310, pour un cycle dthorloge donne, additionne a celui de la table a consulter 240, pour une rangee donnee, en une valeur de rampe analogique. La valeur de rampe analogique est appliquee a ['entree du comparateur 210 avec le signal de sortie du circuit integrateur/echantillonneur correspondent a un element de la rangee j en cours de lecture. Le comparateur 210 fournit en sortie un signal de memorisation lorsque la valeur de rampe analogique est superieure ou egale au niveau du signal integre. Comme la sortie du compteur numerique 220 est aussi appliquee au registre de donnees 230, la valeur de rampe numerique correspondent a la valeur de rampe analogique est memorisee dans le registre de donnees 230 lorsque le comparateur 210 fournit en sortie le signal de memorisation. La valeur memorisee dans le registre de donnees represente la valeur ajustee ou normalisee par rangee du signal integre pour un element de la rangee j lue, qui compense le decalage induit par la retention de charge totale dans la rangee j. Une table a consulter (non representee) alimentee par le registre de donnees 230 dilate les valeurs numeriques comprimees (le compteur compte par "1" senlement pour chaque cycle d'horloge) jusqu'a celle couverte par le N/A 260. Dans la premiere forme de realisation de la presente invention, il existe un circuit additionneur analogique 204, un integrateur/echantillonneur 200, un comparateur 210, et s un registre de donnees 300 pour chaque colonne du detecteur bidimensionnel, car tous les elements d'une rangee vent lus simultanement et car une seule rangee est lue a la foist Il existe un senl N/A 250, un seul N/A 260, un senl compteur numerique 220 et une senle table a consulter 240 dans la forme de realisation, car la meme rampe de conversion de signal 160 est utilisee pour fire chaque rangee. Il n'existe aucun circuit additionneur lo numerique 314. La forme de realisation peut etre utilisee pour faire tenir la gamme dynamique du signal d'entree attendu 201 dans celle qui peut etre acquise par l'integrateur/echantillonneur 200 sans que ce circuit n'atteigne la saturation, en vertu de ['addition analogique avant ['acquisition de signal, un avantage que la premiere forme de realisation possede sur la seconde. La seconde forme de realisation n'emploie aucun circuit additionneur analogique 204 ou N/A 250, mais comprend un circuit additionneur numerique 314. La table a consulter 240 est configuree, d'apres une caracterisation anterieure de la retention de charge en fonction de la frequence des frames comme decrit plus haut, pour permettre de faire correspondre la gamme dynamique de la ranpe de conversion de signal 160 a la gamme dynamique attendue des signaux integres. En resultat, la retention de charge totale est ajustee de sorte qutil est possible d'utiliser un nombre fixe de niveaux de conversion n 175 pour la detection de tous les signaux provenant du module detecteur, et de sorte que les temps de conversion de signal vent reduits et les frequences des frames vent accrues. 2s De nouveau, selon une variante de la seconde forme de realisation, les valeurs d'ajustement peuvent etre calculees au lieu d'etre extraites d'une table a consulter. Il peut aussi exister une premiere table a consulter pour les valeurs d'ajustement analogique et une seconde table a consulter pour les valeurs d'ajustement numerique. En resume, une premiere forme de realisation de la presente invention applique, aux grilles de rangees de TEC qui ne vent pas en cours de lecture, des valeurs d'ajustement representant une addition analogique a ltentree des integrateurs de signal en vertu de la capacite parasite entre chaque rangee et chaque colonne du detecteur, durant un temps d'acquisition de la rangee lue, afin de compenser la retention de charge pour une frame donnee. Une seconde forme de realisation de la presente invention applique des valeurs d'ajustement a une rampe de conversion de signal pour faire correspondre la gamme dynamique de la rampe de conversion de signal a la gamme dynamique attendue des signaux integres pour une rangee lue, dePmissant effectivement une gamme o dynamique de signal prealablement determinee. Selon une variante, les deux formes de realisation decrites plus haut peuvent etre combinees, en appliquant des valeurs d'ajustement de decalage a certaines rangees durant une acquisition aDm de compenser une partie des decalages induits par retention de charge et en appliquant d'autres valeurs d'ajustement a la rampe de conversion de signal durant une conversion afn de compenser une autre partie des decalages induits par retention de charge. Un avantage des forrnes de realisation precedentes est que les valeurs d'ajustement vent appliquees dynamiquement en temps reel d'une maniere commandee et mesuree (en utilisant les mesures fantomes comme retroaction aux circuits electroniques de lecture), reduisant la gamme dynamique requise au lieu de simplement annuler l'effet indesirable d'un decalage attendu induit par retention de charge. Un autre avantage des formes de realisation precedentes est qu'elles ne souffrent pas de la remanence de premiere frame dans l'ajustement, typiquement induite par des algorithmes de commande automatique de luminosite et/ou de gain. Si le decalage par retention de charge etait mesure en utilisant les donnees dtimage de la frame precedente, les ajustements ne prendraient pas effet avant la frame qui suit la mesure, au plus tot. Bien que ['invention ait ete decrite a propos de certaines formes de realisation, les personnel competentes dans l'art comprendront que diverges modifications peuvent etre apportees et des Emplacements par des equivalents vent possibles saris sortir de la portee de ['invention. De plus, de nombreuses modifications peuvent etre apportees pour adapter une situation particuliere ou un materiel particulier aux enseignements de ['invention saris sortir de sa portee. En consequence, ['invention nest pas limitee aux formes de realisation s particulieres decrites. l REVENDICATIONS 1. Dans un systeme de radiodiagnostic (5) generant une pluralite de frames d'image a des frequences des frames variables, procede pour minimiser un temps de conversion de signal (150) pour un panneau detecteur a solide (24) audit systeme de radiographic (5), ledit procede etant caracterise en ce qu'il comprend les etapes consistent a: mesurer un ensemble de decalages de signal induits, positifs ou negatifs, dus a une retention de charge variable dans le temps associee audit panneau detecteur (24) durant un segment temporel fantOme (101 et 102) avant une lecture de signaux normale (115) audit 0 panneau detecteur (24) pour une frame courante; generer un ensemble de valeurs d'ajustement en reponse audit ensemble de decalages de signal induits; et fire des soul-ensembles de valeurs de signaux audit panneau detecteur (24) amenes dans une gamme dynamique de signal prealablement determinee en tent que partie de ladite lecture de signaux normale (115) audit panneau detecteur (24) en reponse audit ensemble de valeurs d'ajustement, pour generer un ensemble de signaux de detecteur normalses. 2. Procede selon la revendication 1, caracterise en ce que ladite generation audit ensemble de valeurs d'ajustement comprend le fait dtindexer dans au moins une table a consulter (LUT) (240) et de fire lesdites valeurs d'ajustement dans ladite au moins une table a consulter (240) avant ladite lecture de signaux normale (115) audit panneau detecteur (24) pour ladite frame courante, ladite au moins une table a consulter (240) etant prealablement generee en se basant sur, au moins partiellement, une-caracterisation anterieure de la retention de charge du panneau en fonction desdits soul- ensembles et de la frequence des frames. 3. Procede selon la revendication 1, caracterise en ce que ladite generation audit ensemble de valeurs d'ajustement comprend le fait de calculer ledit ensemble de valeurs d'ajustement avant ladite lecture de signaux normale (115) audit panneau detecteur (24) pour ladite frame courante, ledit calcul etant base sur, au moins partiellement, une caracterisation anterieure de la retention de charge du panneau en fonction desdits sous ensemble et de la frequence des frames. 4. Procede selon la revendication 1, caracterise en ce que ladite lecture comprend le fait d'ajuster une valeur de gain de signal et/ou de decaler une valeur de depart (190) d'une rampe de conversion de signal (160), pour chacun desdits soul-ensembles de valeurs de signaux en fonction desdites valeurs d'ajustement, durant un segment temporel de conversion de signal (150) de ladite lecture de signaux normale (115) de sorte que chaque signal audit ensemble de signaux de detecteur normalises tombe a l'interieur de ladite o gamme dynamique de signal prealablement determinee pour ladite frame courante. 5. Procede selon la revendication 1, caracterise en ce que ladite lecture comprend le fait d'ajuster au moins un gain de signal et/ou une valeur de decalage correspondent a un premier soul-ensemble de padres photodiode/transistor (30) audit panneau detecteur (24), ledit premier soul-ensemble etant en cours de lecture durant un segment temporel d'acquisition de signal (125) de ladite lecture de signaux normale (115) et correspondent a un soul-ensemble desdits soul-ensembles de valeurs de signaux, et le fait d'appliquer au moins une valeur d'ajustement a un second soul-ensemble de padres photodiode/transistor (30) audit panneau detecteur (24), ledit second soul-ensemble n'etant pas en cours de lecture, de sorte que chaque signal audit ensemble de signaux de detecteur normalises correspondent audit premier soul-ensemble tombe a l'interieur de ladite gamme dynamique de signal prealablement determinee pour ladite frame d'image courante. 6. Procede selon la revendication 1, caracterise en ce que n'importe loquel desdits soul-ensembles de valeurs de signaux audit panneau detecteur (24) correspond a des charges accumulees sur au moins une rangee (26) de padres photodiode/transistor (30) 2s audit panneau detecteur (24). 7. Procede selon la revendication 1, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend une retention de charge par commutation provoquee par blocage et deblocage de transistors a effet de champ (48) dans ledit panneau detecteur (24). 8. Procede selon la revendication 1, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend une retention de charge par photoconduction provoquee par des signaux de photons frappant des photodiodes (46) dans ledit panneau detecteur (24). 9. Procede selon la revendication 1, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend a la fois une retention de charge par commutation provoquee par blocage et deblocage de transistors a effet de champ (48) dans ledit panneau detecteur (24) et une retention de charge par photoconduction provoquee par des signaux de photons frappant des padres photodiode/transistor (30) dans ledit panneau detecteur (24). 10. Dans un systeme de radiodiagnostic (S) generant une pluralite de frames dtimage a lo des frequences des frames variables, appareil pour minimiser un temps de conversion de signal (150) audit systeme de radiographic (S), ledit appareil etant caracterise en ce qu'il comprend: un scintillateur (32) convertissant des signaux de rayons X en signaux de photons; une matrice de padres photodiode/transistor a effet de champ (24) attenante audit scintillateur (32) et sensible auxdits signaux de photons pour modifier une accumulation de charge dans ladite matrice (24); et des circuits electroniques de lecture (202) pour fire une rangee courante (26) de ladite matrice (24) a fire, lesdits circuits electroniques de lecture (202) etant relies a des colonnes (28) de ladite matrice (24) et etant sensibles a ladite accumulation de charge pour generer un ensemble de signaux de detecteur normalises de sorte que ledit ensemble de signaux de detecteur normalises est aj uste pour compenser des decal ages dt intensite des signaux, positifs ou negatifs, dus a des variations temporelles de retention de charge d'une rangee a l'autre dans ladite matrice (24). 11. Appareil selon la revendication 10, caracterise en ce que lesdits circuits 2s electroniques de lecture (202) comprennent: un ensemble de circuits integrateurs/echantillonneurs de signal (200) sensibles a une valeur de signal (255) et a des variations de ladite accumulation de charge le long de colonnes (28) de ladite matrice (24) pour generer un ensemble correspondent de signaux integres prop ortionnel s auxdites variations d' accumulati on de charge pour chacune desdites padres photodiode/transistor a effet de champ (30) dans ladite rangee courante (26) lue; un compteur numerique (220) sensible a un signal dthorloge (270) et a une valeur de decalage variable par rangee pour generer une rampe de conversion de signal decalee (160) pour ladite rangee courante (26) lue, ladite rampe de conversion de signal decalee (160) etant deduite d'une seule rampe de conversion de signal prealablement determinee qui est commune pour toutes les rangees (26) a fire; un ensemble correspondent de comparateurs (210) sensibles audit ensemble o correspondent de signaux integres et a ladite rampe de conversion de signal decalee (160) pour generer un ensemble correspondent de signaux de memorisation lorsque ledit ensemble correspondent de signaux integres est superieur ou egal a un niveau courant de ladite rampe de conversion de signal decalee (160) pour ladite rangee courante (26) lue; et un ensemble correspondent de registres de donnees (230) sensibles a ladite rampe de conversion de signal decalee (160) et audit ensemble correspondent de signaux de memorisation pour retenir ledit ensemble de signaux de detecteur normalises dans ledit ensemble correspondent de registres de donnees (230) pour ladite rangee courante (26) lue. 12. Appareil selon la revendication 11, caracterise en ce qu'il comprend en outre un premier convertisseur numerique-analogique (260) sensible a une version numerisee (316) de ladite rampe de conversion de signal decalee (160) pour generer une version analogique de ladite rampe de conversion de signal decalee pour ladite rangee courante (26) lue. 13. Appareil selon la revendication 11, caracterise en ce qu'il comprend en outre un second convertisseur numerique-analogique (250) sensible a une version numerique (245) de ladite valeur de signal (255) pour generer une version analogique de ladite valeur de signal (255) pour ladite rangee courante (26) lue. 14. Appareil selon la revendication 11, caracterise en ce que ladite valeur de decalage variable par rangee (190) decale ladite rampe de conversion de signal prealablement determinee de sorte que ledit ensemble correspondent de signaux integres tombe a l'interieur de ladite gamme dynamique de ladite rampe de conversion de signal decalee s (160) pour ladite rangee courante (26) lue. 15. Appareil selon la revendication 11, caracterise en ce qu'il comprend en outre au moins une table a consulter (LUT) (240) stockant dans une memoire un seul ensemble prealablement determine de valeurs de decalage variable par rangee, ladite valeur de decalage variable par rangee pour ladite rangee courante (26) lue etant generee par lo indexage dans ladite au moins une table a consulter (240) en se basant sur une prise d'au moins une mesure fantome (101) de ladite matrice (24) avant une lecture de signaux normale (115) de ladite matrice (24). 16. Appareil selon la revendication 10, caracterise en ce que au moins une valeur de decalage variable par rangee est calculee pour ladite rangee courante (26) a fire en se basant sur une prise d'au moins une mesure fantome (101) de ladite matrice (24) avant une lecture de signaux normale (115) de ladite matrice (24). 17. Appareil selon la revendication 10, caracterise en ce que au moins une valeur de decalage variable par rangee est appliquee aux transistors a effet de champ (48) d'au moins une rangee de ladite matrice (24) durant un segment temporel d'acquisition (125) de ladite rangee courante (26) lue durant une lecture de signaux normale (115), ladite au moins une rangee etant une rangee differente de ladite rangee courante (26) lue. 18. Appareil selon la revendication 10, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend une retention de charge par commutation provoquee par blocage et deblocage de transistors a effet de champ (48) dans ladite matrice (24). 2s 19. Appareil selon la revendication 10, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend une retention de charge par photoconduction provoquee par lesdits signaux de photons. 20. Appareil selon la revendication 10, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend a la fois une retention de charge par commutation provoquee par blocage et deblocage de transistors a effet de champ (48) dans ladite matrice (24) et une retention de charge par photoconduction provoquee par lesdits signaux de photons. s 21. Systeme de radiodiagnostic (5) pour generer et presenter une pluralite de frames dtimage correspondent a une structure interne d'un suj et, ledit systeme de radiodiagnostic (5) etant caracterise en ce qu'il comprend: un tube a rayons X (12) pour generer des signaux de rayons X; un module detecteur a solide (14) sensible auxdits signaux de rayons X pour o generer une pluralite de charges representatives d'une retention de charge et d'une intensite de rayons X, et un module de traitement diimage (34) sensible a ladite pluralite de charges pour generer une pluralite de signaux de detecteur normalises pour une frame courante, lesdits signaux de detecteur normalises etant ajustes dynamiquement pour compenser des variations de retention de charge, positives ou negatives, a mesure que la frequence des frames varie. 22. Systeme de radiodiagnostic (5) selon la revendication 21, caracterise en ce qu'il comprend en outre un collimateur (16) pour diriger lesdits signaux de rayons X vers ledit module detecteur a solide (14). 23. Systeme de radiodiagnostic (5) selon la revendication 21, caracterise en ce qu'il comprend en outre un module de.commande de detecteur (50) raccorde audit module de traitement d'image (34) et audit module detecteur a solide (14) pour fournir des signaux de commande audit module de traitement d'image (34) et audit module detecteur a solide (14). 2s 24. Systeme de radiodiagnostic (5) selon la revendication 21, caracterise en ce qu'il comprend en outre un organe de commande de systeme (44) raccorde audit module de traitement d'image (34) et a un module de commande de detecteur (50) pour fournir des signaux de commande de systeme audit module de traitement d'image (34) et audit module de cornmande de detecteur (50). 25. Systeme de radiodiagnostic (S) selon la revendication 21, caracterise en ce qu'il comprend en outre un ecran de controle (36) raccorde audit module de kaitement dtimage (34) pour presenter lesdits signaux de detecteur norrnalises a un utilisateur audit systeme (5) 26. Systeme de radiodiagnostic (S) selon la revendication 21, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend une retention de charge par commutation provoquee par blocage et deblocage de transistors a effet de champ (48) dans ledit panneau detecteur (24). 27. Systeme de radiodiagnostic (S) selon la revendication 21, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend une retention de charge par photoconduction provoquee par des signaux de photons frappant des photodiodes (46) dans ledit panneau detecteur (24). 28. Systeme de radiodiagnostic (S) selon la revendication 21, caracterise en ce que ladite retention de charge comprend a la fois une retention de charge par commutation provoquee par blocage et deblocage de transistors a effet de champ (48) dans ledit panneau detecteur (24) et une retention de charge par photoconduction provoquee par des