FR 2823901 A1 20021025 FR 0204923 A 20020419 isolée de la (n+1)-ième ligne. Procédé pour tester des modules de mémoire à semiconducteur L'invention concerne un procédé pour tester des modules de mémoire à semiconducteur, dans lesquels des données sont mémorisées dans des banques à structure en matrice adressable contenant des lignes et s des colonnes, dans lequel on transmet de fausses adresses de points défectueux dans les banques sous forme comprimée à un dispositif extérieur de test. En raison de leur procédé de fabrication, on n'a pas pu empécher jusqu'ici, qu'il y ait des points détectueux dans les parties de o mémoire de modules de mémoire à semiconducteur. Ces points défectueux sont localisés dans des banques de mémoire organisées en fausses adresses de type à matrice en lignes et colonnes. Avant de libérer un module de mémoire, on effectue après sa fabrication un test, ce que l'on appelle un autotest. Cet autotest prévoit un dispositif extérieur de test, qui est relié à un s module de mémoire par une ligne de transmission de données et qui est alimenté au cours de l'autotest par les fausses adresses trouvées. Pour maintenir à une valeur aussi faible que possible la dépense en appareil de test, on s'efforce d'utiliser pour le test aussi peu de canaux de test que possible, c'est-à-dire d'avoir un nombre aussi petit que possible de liaisons o par conducteur entre le module de mémoire à tester et le dispositif extérieur de test. Dans le procédé d'autotest dont il est question, on transmet donc de fausses adresses trouvées sous forme comprimée au dispositif de test. Le problème est que si la compression est très poussée, il se perd beaucoup d'informations et que l'on ne peut plus tirer de conclusion sur la nature du s défaut, par exemple des défauts de cluster. En raison de ce manque de conclusion, une réparation de fausses adresses devient problématique. Dans le cadre de cette réparation, il est prévu de remplacer les fausses adresses par des adresses de remplacement. On a résolu jusqu'ici cette problématique, en utilisant une compression moins poussée ou en transmettant l'ensemble 2 2823901 des données au dispositif de test dans lequel elles sont rassemblées en un catalogue d'erreurs de bits, ce que l'on appelle un Bitfail-Map. Une autre possibilité pour résoudre le problème mentionné consiste à collecter lors du test d'une ligne ou d'une colonne, les adresses défectueuses qui se produisent, jusqu'àun nombre que 1'on peut régler. Dès que ce nombre de fausses adresses est dépassé' le dispositif de test donne un ordre de réparation obligatoire, ce qu'on appelle un Must-Repair. Si le nombre de fausses adresses n'est pas dépassé, les fausses adresses accumulées sont transmises en série au dispositif de test. La transmission au dispositif de test o s'effectue pendant que l'on teste déjà les lignes et colonnes suivantes. L'invention vise un procédé d'autotest de modules de mémoire à semiconducteur du type mentionné ci-dessus, qui opère d'une manière fiable en utilisant aussi peu que possible de canaux du dispositif de test et qui utilise bien la largeur de bande des canaux du dispositif de test. Suivant l'invention, on subdivise les lignes et les colonnes en parties, I'on compte ligne par ligne ou colonne par colonne les défauts se produisant dans chaque partie, I'on compare le nombre des défauts de chaque partie, ligne par ligne ou colonne par colonne, à une valeur de seuil et l'on transmet les résultats de la comparaison, à titre d'information o supplémentaire, ligne par ligne ou colonne par colonne, en même temps que les fausses adresses au dispositif de test. De préférence: - la valeur de seuil est supérieure à 1 et de préférence à 2; - I'on transmet l'information supplémentaire de préférence sous la forme d'un octet; - I'on produit de l'information supplémentaire lorsque les résultats de la comparaison sont supérieurs ou égaux à la valeur de seuil; - I'on qualifie l'information supplémentaire selon que les points o défectueux sont contenus dans une partie ou dans plusieurs parties; - I'on transmet l'information supplémentaire qualifiée de préférence sous la forme d'un octet. Le mode opératoire pratiqué jusqu'ici a toutefois l'inconvénient que lorsque que 1'on ne dispose pour le test que de peu de canaux de test, il faut transmettre dans le cas d'un Must-Repair, les fausses adresses sous forme très comprimée au dispositif de test et que l'on court le danger de perdre de l'information et que l'on ne peut plus tirer de conclusion sur la nature du défaut. s Par le US 6 145 092, on conna^t un procédé pour tester des modules de mémoire à semiconducteur, dans lequel on peut mémoriser des données dans des banques d'une structure de matrice qui comportent des lignes et les colonnes adressables, puisque lorsqu'il se produit une erreur, on compte les erreurs ligne par ligne ou colonne par colonne et on compare le o nombre d'erreurs ligne par ligne ou colonne par colonne à une valeur de seuil, puis on transmet le résultat de la comparaison à un dispositif de test. On conna^'t en outre par l'US 5 909 448, un procédé pour tester des modules à semiconducteur, dans lequel on transmet de fausses adresses de points défectueux dans des banques sous forme comprimée à un dispositif extérieur s de test. L'invention, en d'autres termes, procure un procédé d'autotest de modules de mémoire à semiconducteur, en mettant les fausses adresses à disposition, sous forme comprimée, de la transmission au dispositif de test, en ayant un degré de compression relativement petit par rapport à l'état de la o technique et qui est obtenu par le fait que l'on subdivise les lignes et les colonnes en parties, que l'on compte ligne par ligne ou colonne par colonne les défauts se produisant dans chaque partie, que l'on compare le nombre des défauts de chaque partie, ligne par ligne ou colonne par colonne à une valeur de seuil et en ce que l'on transmet les résultats de la comparaison, à titre d'information su pplémenta ire, ligne pa r lig ne ou colon ne par colonne, en même temps que les fausses adresses au dispositif de test. Un avantage du procédé suivant l'invention réside dans le fait que l'on ne disposait pas jusqu'ici dans le dispositif de test pour analyser les erreurs, de données sous la forme d'informations supplémentaires. Il est en outre avantageux que, pour la mise en _uvre du procédé suivant l'invention, I'on n'ait besoin que d'un coût supplémentaire relativement petit. Ce coût supplémentaire provient de verrous supplémentaires pour l'information supplémentaire, ainsi que d'un comparateur et d'un compteur. Enfin, un autre avantage de l'invention réside dans le fait que, lors de sa mise en _uvre, il ne se produit pas d'Overhead de données ou il ne s'en produit que très peu, parce que dans le cas d'un Must-Repair la largeur de bande de canal de test dont on dispose n'est pas utilisée entièrement. La largeur de bande restante est utilisoe pour l'information supplémentaire suivant l'invention. Suivant un perfectionnement avantageux de l'invention, I'information supplémentaire sous la forme des résultats de la comparaison est transmise sous la forme d'un octet. Cet octet supplémentaire peut être transmis le cas échéant aussi seulement pour un Must-Repair, ce qui procure l'avantage que la largeur maximum de bande n'est pas dépassée. o Suivant un autre mode de réalisation avantageux du procédé suivant l'invention, il est prévu de produire de l'information supplémentaire lorsque les résultats de la comparaison sont supérieurs ou égaux à la valeur de seuil. Suivant un autre mode de réalisation avantageux de l'invention, s il est prévu de qualifier l'information supplémentaire selon que les points défectueux sont contenus dans une partie ou dans plusieurs parties, en lesquelles les lignes ou les colonnes sont subdivisées. Cette information supplémentaire qualifiée est transmise aussi de préférence sous la forme d'un octet. o Le nombre des parties en lesquelles les lignes ou les colonnes sont subdivisées suivant l'invention, pour obtenir de l'information supplémentaire sous la forme de résultat de comparaison entre la valeur de seuil et le nombre de défauts est dans le cas de l'invention aussi peu limité que la valeur de seuil. Un nombre typique pour les parties à la valeur de seuil est par exemple de 2, 4, 8... On peut utiliser aussi un nombre impair de parties, comme par exemple trois parties. L'invention sera explicitée d'une manière plus précise dans ce qui suit, au moyen du dessin dont la figure 1 représente schématiquement une banque de données d'un module de mémoire à semiconducteur. so Comme il est représenté à la figure, une banque de mémoire, qui n'est pas repérée d'une manière précise, est subdivisée à la manière d'une matrice en neuf lignes et en onze colon; les points d'intersection des lignes et des colonnes fixent des adresses. De fausses adresses ou des adresses défectueuses sont représentées par des cercles. Il y a en s conséquence une fausse adresse , c'est-à-dire au point d'intersection s de la deuxième ligne et de la deuxième colonne. Il y a d'autres fausses adresses aux quatrième, cinquième et neuvième lignes. Dans la quatrième ligne, il y a trois fausses adresses côte à côte , , . Dans la cinquième ligne, il y a quatre fausses adresses , , , . s Enfin dans la neuvième ligne, il y a six fausses adresses , , 7>, , , . Il est désigné en outre à la figure par MSB le Most Significant Bit ou bit le plus significatif et par LSB le Least Significant Bit ou le bit le moins significatif. o Suivant l'invention, les lignes sont subdivisées en parties. Dans le cas présent, en trois parties, une partie 0, une partie 1 et une partie 2. La partie 0 comprend les colonnes à . La partie 1 comprend les colonnes et et la partie 2 comprend les colonnes à . Suivant l'invention, les lignes sont comparées dans chaque s partie 0, 1 et 0, 1, 2, à une valeur de seuil qui dans le cas présent est égale à 3 et les résultats de la comparaison sont envoyés comme information supplémentaire, de préférence en codage hexadécimal, ligne par ligne, ensemble avec les fausses adresses à un dispositif de test qui n'est pas représenté et qui effectue l'autotest du module de mémoire à semiconducteur. o Le déroulement du procédé est le suivant: dans la ligne , il n'y a pas de fausses adresses. La comparaison avec la valeu r de seu il 3 don ne donc l'information supplémentaire 0. Il en va de même pour la ligne . Dans ce cas aussi l'information supplémentaire est 0. Dans la ligne , il y a la fausse adresse mentionnée précédemment. Il n'y a pas d'autres fausses adresses dans cette ligne et c'est pou rquoi u ne comparaison de cette u ne fausse ad resse à la valeur de seu il 3 donne à nouveau l'information supplémentaire 0. Dans la ligne , il n'y a pas de fausses adresses et on obtient ainsi à nouveau l'information supplémentaire 0. so Dans les lignes à , il y a respectivement plusieurs fausses adresses. Dans la ligne , il y a les trois fausses adresses mentionnées précédemment. Une comparaison avec la valeur de seuil donne l'information supplémentaire 2 en code exact décimal. On obtient le même résultat pour la ligne dans laquelle il y a les quatre fausses adresses mentionnées précédemment, c'est-à-dire que dans ce cas aussi, le résultat de la comparaison pour l'information supplémentaire est de 2. Dans la ligne , il y a les trois fausses adresses mentionnées précédemment ce qui donne à nouveau l'information supplémentaire 2. Les informations supplémentaires 2, 2, 2 dans les colonnes à se trouvent respectivement dans la partie 1 et ne représentent pas une erreur de cluster. Il s'agit d'une information supplémentaire qualifiée, qui est transmise ensemble avec les fausses adresses au dispositif de test. Dans la ligne , il y a en tout les quatre six fausses adresses mentionnées précédemment, qui se répartissent respectivement en groupe de o trois dans les parties 1 et 2. Une comparaison par partie à l'élément de seuil donne dans l'ensemble l'information supplémentaire 3 en codage hexadécimal. L'information sous la forme supplémentaire des octets 0, 2 et 3, com me mention né précéd emment est transm ise ensemble avec les fausses adresses trouvées au dispositif de test. Cela est notamment avantageux lorsqu'il est annoncé un Must-Repair, parce que, lorsqu'il se produit un Must- Repair, la largeur de bande du canal d'essai disponible n'est pas utilisée entièrement. La largeur de bande restante est disponible pour l'information supplémentaire. o L'exemple expliqué ci-dessus prévoit une subdivision des lignes en trois parties. Suivant une autre possibilité, on peut aussi subdiviser les colonnes en plusieurs parties, par exemple en trois parties et effectuer la transmission octet par octet d'information supplémentaire colonne par colonne. REVENDICATIONS 1. Procédé pour tester des modules de mémoire à s semiconducteur, dans lesquels des données sont mémorisées dans des banques à structure en matrice adressable contenant des lignes et des colonnes, dans lequel on transmet de fausses adresses de points défectueux dans les banques sous forme comprimée à un dispositif extérieur de test, caractérisé en ce qu'on su bd ivise l es l ig nes et l es colon n es en o parties, en ce que l'on compte ligne par ligne ou colonne par colonne les délauts se produisant dans chaque partie, en ce que l'on compare le nombre des défauts de chaque partie, ligne par ligne ou colonne par colonne, à une valeur de seuil et en ce que l'on transmet les résultats de la comparaison, à titre d'information su pplémentaire, ligne par ligne ou colon ne par colon ne, en s même temps que les fausses adresses au dispositif de test. 2. Procédé suivant la revendication 1, caractérisé en ce que la valeur de seuil est supérieure à 1 et de préférence à 2. 3. Procédé suivant la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que l'on transmet l'information supplémentaire de préférence sous la forme d'un octet. 4. Procédé suivant la revendication 1, 2 ou 3, caractérisé en ce que l'on produit de l'information supplémentaire lorsque les résultats de la comparaison sont supérieurs ou égaux à la valeur de seuil. 5. Procédé suivant l'une des revendications 1 à 4, caractérisé en s ce que l'on qualifie l'information supplémentaire selon que les points défectueux sont contenus dans une partie ou dans plusieurs parties. 6. Procédé suivant la revendication 5, caractérisé en ce que l'on transmet l'information supplémentaire qualifiée de préférence sous la forme