FR 2831004 A1 20030418 FR 0113103 A 20011011 d' information contiennent des erreurs. PROCEDE DE MESURE DU TAUX D'ERREUR D'UN SYSTEME DE TRANSMISSION OPTIQUE ET DISPOSITIF POUR LA MISE EN _UVRE DE CE PROCEDE La présente invention concerne un procédé de mesure du taux d'erreur d'un système de transmission optique, ainsi qu'un dispositif pour la mise en _uvre de ce procédé. Les réseaux optiques sont de plus en plus utilisés à l'heure actuelle au sein des systèmes de transmission à haut débit. Les réseaux optiques fournissent en effet des fonctionnalités, telles que la commutation, qui sont o transparentes, c'est-à-dire indépendantes du signal électrique transmis, et offrent donc la flexibilité requise au sein des réseaux de télécommunications actuels. Toutefois, cette transparence nécessite de vérifier que le signal transmis est bien conforme aux exigences en termes notamment de qualité de transmission. Il est donc essentiel de disposer de moyens également transparents pour déterminer la qualité du signal transmis indépendamment notamment du format du signal, du débit de transmission et du type de modulation, afin de permettre la mesure de la qualité d'une transmission optique sur n'importe quel type de réseau, de type Backbone, Metropolitan, LAN, etc..., quels que soient le format de données (SONET, SDH, IP sur WDM, Giga-Ethernet, etc...) et le déhit (622 Mbit/s, 2,5 Gbit/s, 10 Gbitis, etc...). En effet, il existe de nombreuses sources de dégradation du signal da ns les résea ux optiques. Parmi ces sources de dég radati on, on peut citer z5 notamment l'émission spontanée des amplificateurs (ou ASE pour Amplified Spontaneous Emission en anglais) , la dispersion chromatique générant des interférences entre symboles (ISI pour Inter-Symbols Interference en anglais), et la diaphonie, hors bande (liée à un canal voisin), ou dans la bande (due à une onde perturLatrice à la méme longueur d'onde que celle C:\lEMP\texte_dépôt.doc 2 2831004 sur laquelle on fait la mesure). A ces sources de dégradations s'ajoutent les effets non linéaires tels que les effets Kerr, Brillouin et Raman. Le principal critère de qualité d'un réseau optique numérique est le taux d'erreur (BER pour Bit Error Rate en anglais), détini comme la probabilité de détecter à la réception un bit erroné lors de la transmission. Le signal reçu au niveau du récepteur fluctue à cause du bruit autour d'une valeur moyenne I (si un a été transmis), ou Io (si un 0 a été transmis). On suppose les deux distributions gaussiennes. La distribution du niveau 1 a donc comme paramètres I et la variance c2l, et la distribution du niveau 0 a Jo comme paramètres Io et la variance c20. Pour décider si une valeur reSue au niveau du récepteur est correcte, il faut imposer un seuil de décision ID. Le bit émis à 1 est considéré comme correct si I>ID, et celui émis à 0 est considéré comme correct si I ID pour un bit émis à 0. Dans la pratique, ID est optimisé pour minimiser le BER. Ainsi, le BER est ainsi défini par l'équation: BER= exp(-Q2/2) Q.;i o Q. également appelé facteur de qualité, est donné par la relation: Q Ii - Io o + ", On conna^'t actuellement une méthode permettant de déterminer la qualité d'un signal optique indépendamment du format du signal par des mesures relatives de taux d'erreur. Cette méthode, décrite notamment dans le document " Field Trial over 750 km long transparent WDM link using an adaptative 10 Gb/s receiver with non-intrusive monitoring capability >>, S. HerUst et al., OFC 2001 (papier ML2-1) est fondée sur la mesure de l'amplitude du signal électrique détecté, par comparaison au moyen d'un OU exclusif entre les décisions de deux bascules, l'une fonctionnant au seuil optimal ID (amplitude optimale à partir C:\TEMP\leXte-déPÈtdOC 3 2831004 de laquelle le signal est considéré comme égal à 1), et l'autre fonctionnant avec un seuil d'amplitude variable. La différence entre les signaux issus des deux bascules, appelée pseuJo-erreur, est enregistrée à chaque fois que les deux mesures diffèrent. En supposant une distribution Gaussienne des niveaux, I'extrapolation des courbes de taux de pseudoerreur en fonction de la position du seuil d'amplitude variable fournit une évaluation du BER au seuil optimal. Cette méthode est intrinsèquement transparente au format du signal transmis. Cependant, elle nécessite l'utilisation d'un circuit de récupération Jo d'horloge ainsi que d'une ligne à retard variable pour l'ajustement de phase. Ces éléments entranent un coût non négligeable, et de plus, limitent la transparence de la méthode étant donné qu'ils ne sont pas accordables sur une large bande de débits de signal. Pour remédier à ce problème, on conna^'t une autre méthode, dite méthode de l'histogramme. Selon cette méthode, on applique un échantillonnage asynchrone, et donc indépendant du débit du signal, au signal transmis, puis l'on place tous les échantillons sur l'axe des amplitudes. On extrait a lors l'histogram me représentant le nom bre d'échanti l lons en fonction des-amplitudes. Ensuite, après avoir éliminé les points génants en utilisant une méthode heuristique, on effectue une estimation sur l'histogramme à l'aide de deux distributions gaussiennes pour déterminer le facteur Q puis le BER. Cette méthode n'est toujours pas satisfaisante. En effet, elle ne permet qu'une évaluation qualitative du taux d'erreur car les résuitats qu'elle fournit ne sont pas fiables. La présente invention a donc pour but de mettre au point un procédé de mesure du taux d'erreur d'un système de transmission optique transparent non seulement au format du signal transmis, mais également au débit de transmission de ce signal, et qui nécessite la mise en _uvre so d'éléments moins onéreux que la méthode connue. C:\TEMP\texte_dépôt.doc 4 2831004 La présente invention propose à cet effet un procédé de mesure du taux d'erreur d'un système de transmission optique transmettant un signal comprenant les opérations suivantes: détection dudit signal À échantillonnage asynchrone dudit signal, à une fréquence indépendante du débit dudit signal, pour obtenir K d'échantillons dudit signal, d'instants respectifs t à tK, K étant un entier supérieur ou égal à 2, calcul du diagramme de l'_il dudit signal, À calcul du taux d'erreur dudit signal, o ledit procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend, après l'écha nti l lonnage dud it signal, une opération de calcul d u tem ps bit dudit signal. Le procédé selon l'invention permet de résoudre les problèmes posés par les procédés de l'art antérieur utilisant un échantillonnage asynchrone, à savoir l'imprécision du résultat. En effet, selon le procédé de l'invention, le temps bit est calculé de sorte que l'on obtient les mémes avantages qu'avec un procédé synchrone utilisant un système physique de récupération d'horloge, mais que le système de récupération d'horloge n'est plus nécessaire. En outre, le procédé selon l'invention est transparent au débit de la transmission. Grâce à l'invention, on peut reconstruire le diagramme de l'_il sans connaissance du débit mis en jeu, c'est-à-dire sans connaissance du temps bit réel du signal optique, car on le calcule à partir du signal échantillonné de manière asynchrone. 2 En outre, I'échantillonnage asynchrone du signal optique après réception permet de garantir la transparence du procédé selon l'invention aux types de modulations. Cet échantillonnage asynchrone peut se faire à une fréquence très inférieure par rapport aux débits mis en jeu, ce qui signifie qu'il n'est pas synchronisé avec le signal. C:\TEMP\texte_dépôLdoc 2831004 Le calcul du temps bit du signal est une étape essentielle pour permettre la reconstitution du diagramme de l'_il lorsque l'échantillonnage est effectué de manière asynchrone. A noter que, sel on l 'invention, on pa rle de temps bit aussi bien pour le temps bit absolu que pour le temps bit relatif à la fréquence d'échantillonnage. Selon un premier mode de réalisation du procédé de l'invention, le temps bit absolu est calculé à partir d'une valeur approchée To connue au départ. o Pour cela, on effectue les opérations suivantes pour calculer simultanément le temps bit et le diagramme de l'_il: À on choisit un sous-échantillon de K/N échantillons dudit signal, N étant un entier puissance de 2, on sépare ce sous-échantillon en deux parties 1s À on calcule respectivement deux diagrammes de l'_il à partir de chacune des parties du sous-échantillon, en utilisant la valeur To pour le temps bit À on calcule deux histogrammes à partir des deux diagrammes de l'_il en discrétisant à la fois le temps et l'intensité o. on détermine la période temporelle séparant ces deux histogrammes on détermine le temps bit T par la formule: T. = To - 25- on réitère les opérations précédentes en remplaçant N par N/2, et ainsi de suite jusqu'à un sous-échantillon de K/2 échantillons. z Ce mode de réalisation est particulièrement simple et ne nécessite qu'une connaissance très approximative au départ du temps bit; en outre, elle permet un calcul très précis du temps bit réel, très différent du temps bit connu initialement notamment du fait de l'imprécision relative à l'horloge du C:\TEMP\texte_dépôt.doc 6 2831004 signal. Ce mode de réalisation permet également de reconstituer le diagramme de l'ccil. Selon un deuxième mode de réalisation du procédé de l'invention, le temps bit relatif à la fréquence d'échantillonnage est calculé sans aucune connaissance initiale du temps bit. Pour cela, on effectue les opérations suivantes: on applique une fonc*ion non linéaire à la série des échantillons du signal, pour obtenir une série de valeurs sensiblement périodique Yk pour k variant de à K o À on divise cette série en M sousséries de L éléments chacune (L et M étant des entiers) on calcule la transformée de Fourier discrète de chaque sous-série, qui fournit une fonction Yi pour i variant de à M on définit la fonction périodog ra m me com me étant le rapport entre la somme des carrés des modules des fonctions Yj pour i variant de à M, et M on détermine la fréquence f pour laquelle la fon*ion périodogramme est maximale. Pour calculer ensuite le diagramme de l'ceil, on effe*ue les opérations suivantes: on calcule la transformée de Fourier discrète à la fréquence f de la série Yk, qui fournit une fonction Zk pour k variant de à K Ie temps associé à chaque échantillon du signal est donné par la formule: arg(Zk) 2'r Selon un mode de réalisation avantageux, on calcule la transformée de Fourier sur une fenêtre glissante centrée sur Yk. Ceci permet d'éviter les erreurs dues à la gigue de phase cumulative de l'horloge d'échantillonnage ou du signal. C:\TEMP\texte_dépôt.doc 7 2831004 Dans ce deuxième mode de réalisation, on s'affranchit complètement de la connaissance du temps bit initiale, et on améliore la tolérance vis-à-vis de la gigue de l'horloge d'échantillonnage ou du signal. Selon l'invention, une fois le temps bit déterminé et le diagramme de I'_il reconstitué par l'une ou l'autre des méthodes ci-dessus, on calcule ie taux d'erreur en modélisant les distributions statistiques des niveaux dudit signal au moyen de P gaussiennes, P étant un entier supérieur ou égal à 2, et de préférence égal à 8. Ce choix permet de mieux prendre en compte les niveaux déterministes résultant de l'interférence inter-symboles. o Enfin, I'invention concerne également un dispositif pour la mise en _uvre du procédé précédent, qui comprend: des moyens de détection du signal À des moyens d'échantillonnage du signal détecté à une fréquence indépendante du débit du signal 15. des moyens de numérisation des échantillons obtenus en sortie des moyens d'échantillonnage des moyens logiciels de traitement des échantillons numérisés pour calculer le temps bit et le diagramme de l'_il. Les moyens logiciels peuvent en outre permettre de modéliser les distributions statistiques des niveaux afin de calculer le taux d'erreur du signal. D'autres caractéristiques et avantages de la présente invention appara^tront dans la description qui suit d'un mode de réalisation de l'invention, donné à titre illustratif et nullement limitatif. Dans les figures suivantes: - la figure 1 représente l'architecture d'un dispositif de mesure du taux d'erreur d'un système de transmission optique, mettant en _uvre le procédé selon l'invention, - la figure 2 représente un 8 2831004 On voit en figure 1 l'architecture d'un dispositif 1 de mesure du taux d'erreur d'un système de transmission optique mettant en _uvre le procédé selon l'invention, que l'on va maintenant décrire en regard de cette figure, dans ses deux modes de réalisation. Le signal optique S est resu au sein d'un récepteur 10. Ce récepteur comprend une photodiode PIN 11 qui transforme le flux optique en tension. Un module hyperfréquence 12 permet ensuite de supprimer la composante continue du signal électrique provenant de la photodiode 11. Le signal électrique issu du module 12 est ensuite amplifié au moyen de deux o amplificateurs 13, puis filtré au moyen d'un filtre 14. Le filtrage effectué par le filtre 14 doit être bien adapté au débit afin de garantir un bon rapport signal à bruit à l'entrée de l'échantillonneur 20. Le signal électrique amplifié et filtré S' est ensuite échantillonné de manière asynchrone au sein de l'échantillonneur 20. Ce dernier comprend une tête d'échantillonnage 21 qui échantillonne le signal d'entrée à une fréquence d'horloge donnée, par exemple de 50 kHz. En sortie de la tête d'échantiilonnage 21, on a donc un signal analogique qui peut être assimilé à une série de réponses impuisionneiles. Chaque réponse impuisionnelle a une amplitude qui dépend directement de l'amplitude du signal d'entrée dans la tête d'échantillonnage 21. Comme on le voit sur la figure 1, la tête d'échantillonnage 21 est reliée à des moyens 22 internes à l'échantillonneur 20 qui lui fournissent, via un câble (non représenté), l'alimentation nécessaire, ainsi que le signal de déclenchement T1 donnant l'ordre d'échantillonnage du signal d'entrée. Ce 2 signal T1 est généré par une base de temps interne 220 des moyens 22. Le signal analogique impuisionnel SE issu de la tête d'échantillonnage 21 est ensuite numérisé au sein d'un PC 30 par une carte de numérisation 31. La base de temps interne 220 fournit également le signal de déclenchement T2 à la carte de numérisation 31. C:\TEMP\texte_dépôLdoc 9 2831004 Les données numérisées sont ensuite enregistrées au sein du PC 30 puis traitées selon l1nvention par un logiciel 32. Ce traitement est effectué en trois parties: une première partie consiste à récupérer le temps bit, une deuxième pa rtie à reconstituer le diag ra mme de l'_i l et u ne troisième pa rtie à déterminer le taux d'erreur, et donc le facteur de qualité, à partir du diagramme de l'_il reconstitué. Ces trois étapes vont étre décrites en détail ci-après pour chacun des deux modes de réalisation du procédé selon l'invention. 1ER MODE DE REALISATION lère partie: Récupération du temps bit et calcul du diagramme de l'_il Cette étape revient en fait à effectuer une récupération d'horloge logicielle, ce qui évite l'utilisation d'un circuit de récupération d'horloge onéreux et non transparent en termes de débit de transmission. Dans ce premier mode de réalisation de l'invention, le temps bit absolu est calculé à partir d'une valeur approchée To connue au départ. Pour cela, on prend un sous-échantillon É parmi l'ensemble des échantillons Xk, k variant de à K, du signal échantillonné SE issu de la tête d'échantillonnage 21. Ce sous-échantillon comprend K/N éléments, N étant un entier puissance de 2 (typiquement 32 ou 64). On sépare ce sous-échantillon É en deux parties É et É2. On calcule le diagramme de l'_il de chacune de ces deux parties en utilisant la valeur To pour le temps bit, le diagramme de l'_il représentant l'amplitude en fonction du temps de chaque échantillon des parties respectives E et E2. A partir de ces deux diagrammes de l'_il, on construit deux histogrammes H3 et H2 en discrétisant à la fois le temps et l'intensité. Ces deux histogrammes sont identiques à une période temporelle près. C:\TEMP\Lexte_dépôtoc 2831004 Soient N et N2 les tailles communes de ces deux histogrammes sur les axes respectifs du temps et de l'intensité. On a, pour i variant de 0 à N: Nl N2 C(i) = |HI ((i + j) mod Nl k) - H2 (j, k)| /=1 k=l On détermine alors i0 tel que C(io) est la valeur maximale des C(i), et si i0 est supérieur à N/2, on a: i0 = io - N, et: = iO*TO/tK Ensuite, on détermine le temps bit T par la formule: T Tl = To - 23 0. tK Les opérations précédentes sont réitérées en remplasant N par N/2, 0 et ainsi de suite jusqu'à un sous-échantillon de K/2 échantillons. On obtient alors une estimation très précise du temps bit, qui permet de s'affranchir de l'incertitude sur la valeur initialement connue To. A noter que pour estimer de très faibles perturbations du temps bit, il est possible de n'appliquer les opérations précédentes qu'une seule fois, pour N = l. Grâce à cette méthode, on effectue simultanément la récupération du temps bit et la reconstitution du diagramme de l'_il. Il ne reste plus ensuite qu'à déterminer le taux d'erreur. La connaissance de l'information relative au temps bit permet la o détermination de la phase de chacun des échantillons et donc la reconstitution du diagramme de l'_il. On rappelle que le diagramme de l'_il correspond à une représentation de toutes les transitions possibles d'un signal optique (plus précisément du signal électrique obtenu en sortie de la diode PIN) et ce sur une période du signal, c'est-à-dire sur un temps bit. Le diagramme obtenu, qui donne l'amplitude du signal optique en fonction du temps modulo To, est représenté sur la figure 2. Il est qualifié de " diagramme de l'_il " du fait de la forme d'_il de la courbe obtenue. C:\TEMP\texte_dépôt.doc t 2831004 2ème partie: Détermination du taux d'erreur BER Le diagramme de l'_ii correspondant à une transmission optique en présence d'une dégradation du signal, par exemple d'émission spontanée amplifiée (ASE), mais sans interférence entre symboles (ISI), rend compte de l'élargissement des traces sur les niveaux " >> et " 0 ". On associe ainsi à chaque niveau une distribution des amplitudes: histogrammes d'amplitude pour chacune des distributions statistiques des deux niveaux. La figure 2 montre, en regard du diagramme de l'_il d'un tel signal, les histogrammes des fréquences d'amplitude associés. La fonction de densité de probabilité pour chacun des deux niveaux déterministes et 0 est gaussienne. Ainsi, à chacun des deux niveaux, on associe un écart type et une valeur moyenne. A partir de ces paramètres, on détermine le taux d'erreur BER, qui, comme on l'a vu plus haut, est directement lié au facteur de qualité Q par une relation connue. En présence du phénomène d'interférences entre symboles, les impuisions optiques, par élargissement temporel da par exemple à la dispersion chromatique, peuvent se superposer en amplitude. Dans ce cas, il est préféra ble de rem placer le modèle à deux ga ussiennes décrit ci-dessus par un modèle à huit gaussiennes pour la détermination du taux d'erreur et du facteur Q selon l'invention. En effet, on prend en compte des interférences entre le bit antérieur et le bit postérieur par rapport à un bit donné, ce qui conduit à 8 niveaux déterministes (4 pour le niveau et 4 pour le niveau 0), à chacun desquels on peut associer une gaussienne. On peut estimer les paramètres (moyenne et variance) de ces 8 gaussiennes en appliquant l'algorithme bien connu dit " Expectation- Maximization " (EM). Cet algortihme est décrit par exemple dans " Maximum Likelihood for Incomplete Data via the EM Algorithm (with discussion) >>, Dempster, A.P. Laird, N.M. and Rubin, D. B. (1977), Journal of the Royal Stati*ics Societv, B. 39, l-38, et ne sera pas décrit plus en détail ici. C:\TEMP\texte_dépôt.doc 12 2831004 En pratique, le diagramme de l'_ii est découpé en N intervalles. Pour chacun de ces intervalles, on calcule une approximation du facteur Q fondée sur les valeurs des intensités des échantillons du diagramme de l'_il. Si Y est l'ensemble des valeurs des intensités d'un intervalle donné, soit M une valeur médiane de l'ensemble Y. Y0+ est le sousensemble des valeurs supérieures à M,, et Y0- celui des valeurs inférieures à M. On calcule alors mO+, moyenne des Y0+, et mO, moyenne des Y0-. Ensuite, on définit Y+ comme le sous-ensemble de Y tel que: |Y - mO+ | |Y-mo | Enfin, on calcule m+ et cy+, la moyenne et l'écart-type de Y+, et m et c;, la moyenne et l'écart-type de Y. On obtient alors l'estimée du facteur Q pour l'intervalle donné par la formule: Q m±m cr+ +" Ce calcul conduit à un ensemble de valeurs Q(j) pour j variant de 0 à N. et l'on détermine j0 donnant la valeur maximale de Q(j). Ceci permet de déterminer la tranche centrale du diagramme de l'_il. Ensuite, on évalue le taux d'erreur par la modélisation à 8 gaussiennes sur chacune des tranches se trouvant de part et d'autre de la tranche centrale, les moyennes et variances étant toujours estimées selon l'algorithme EM mentionné ci-dessus. Le taux d'erreur minimum ainsi déterminé correspond au facteur Q optimum. Le facteur de qualité ou facteur Q est directement lié au taux d'erreur BER par la relation rappelée plus haut. En pratique, la méthode à 8 gaussiennes permet de calculer directement le taux d'erreur, et l'on déduit de ce taux d'erreur le facteur Q équivalent par la relation rappelée plus haut. C:\TEMP\texte_dépôt.doc 13 2831004 2EME MODE DE REALISATION lère partie: Récupération du temps bit et calcul du diagramme de l'_il Dans ce deuxième mode de réalisation de l'invention, le temps bit relatif à la fréquence d'échantillonnage est calculé sans aucune connaissance in itia le du temps bit. Ce temps bit relatif à la fréquence d'écha nti l lon nage est suffisant pour reconstituer le diagramme de l'_il. Pour cela, on applique tout d'abord une fonction non linéaire à la série des échantillons xk du signal, pour obtenir une série de vaieurs o sensiblement périodique (c'est-à-dire o l'élément périodique est renforcé) Yk pour k variant de à K. On a par exemple: K-! Yk lxk X|, OU X = K Xk - k=0 On divise la série ainsi obtenue en M sous-séries de L éléments chacune (L et M étant des entiers). Ensuite, on calcule la transformée de Fourier discrète de chaque soussérie, qui fournit une fonction Yj pour i variant de à M: Y. (e), Yi+k Àe k=0 On défi n it alors la fonction périodog ra m me P(ei) com me éta nt le rapport entre la somme des carrés des modules des fonctions Yi pour i o variant de à M, et M. On détermine la fréquence f comme étant celle pour laquelle la fonction périobog ra m me est maxi male. Cet algorithme selon l'invention pour la récupération du temps bit relatif à la fréquence d'échantillonnage permet, grâce à l'utilisation d'une 2 fenêtre glissante, d'éviter les erreurs dues à la gigue de phase cumulative de l'horloge d'échantillonnage ou du signal. On rappelle que la gigue de phase de l'horloge est l'incertitude quant aux instants d'échantillonnage, qui C:\TEMP\texte_dépôLdoc 4 2831004 entraine une accumulation de l'erreur temporelle sur chaque échantillon. Le gigue de phase du signal est inhérente au signal lui-méme. Ensuite, pour calculer le diagramme de l'_il, on calcule la transformée de Fourier discrète à la fréquence f de la série Yk, qui fournit une fonction Zk, pour k variant de 1 à K. Pour cela, on effectue la somme de Fourier sur 2F+1 points centrés sur l'échantillon Yk. On utilise donc une fenêtre glissante centrée sur yken fonction de l'échantillon. Le temps associé à chaque échantillon xk du signal est alors donné par la formule: 1 0 îk = 2 Le diagramme de l'_il est ensuite aisé à former: I'échantillon Xk se trouve à la position (Tk, xk). Cet algorithme selon l'invention pour la récupération du temps bit relatif à la fréquence d'échantillonnage et la reconstitution du diagramme de I'_il permet, grâce à l'utilisation d'une fenétre glissante, d'éviter les erreurs dues à la gigue de phase cumulative de l'horloge d'échantillonnage ou du signal. On rappelle que la gigue de phase de l'horloge est l'incertitude quant aux instants d'échantillonnage, qui entrane une accumulation de l'erreur temporelle sur chaque échantillon. Le gigue de phase du signal est inhérente au signal lui-méme. 2ème partie: Détermination du taux d'erreur BER On peut appliquer ici exactement la méme méthode que celle décrite en relation avec le premier mode de réalisation. Bien entendu, I'invention n'est pas limitée au mode de réalisation qui vient d'étre décrit. Ainsi, on peut réaliser un double échantillonnage avec un décalage temporel de l'ordre du temps bit entre les deux signaux échantillonnés au lieu d'un simple échantillonnage. C:\TEMP\Lexte_dépôt.doc Enfin, on pourra remplacer tout moyen par un moyen Equivalent sans sortir du cadre de l'invention. C:\TEMP\texte_dépôtdoc 16 2831004 REVENDICATIONS 1. Procédé de mesure du taux d'erreur d'un système de transmission optique transmettant un signal comprenant les opérations suivantes: détection dudit signal, À échantillonnage asynchrone dudit signal, à une fréquence indépendante du déhit dudit signal, pour obtenir K d'échantillons dudit signal, d'instants respectifs t à tK, K étant un entier supérieur ou égal à 2, À calcul du diagramme de l'_il dudit signal, 0. calcul du taux d'erreur dudit signal, ledit procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend, après l'échantillonnage dudit signal, une opération de calcul du temps bit dudit signal. 2. Procédé selon la revendication caractérisé en ce que le temps bit absolu est calculé à partir d'une valeur approchée To connue au départ. 3. Procédé selon la revendication 2 caractérisé en ce que le calcul simultané du temps bit et du diagramme de l'_il comporte les opérations suivantes: 20. on choisit un sous-échantillon de K/N échantillons dudit signal, N étant un entier puissance de 2, À on sépare ce sous-échantillon en deux parties on calcule respectivement deux diagrammes de l'_il à partir de chacune des parties du sous-échantillon, en utilisant la valeur T0 pour le temps bit on calcule deux histogrammes à partir des deux diagrammes de l'_il en discrétisant à la fois le temps et l'intensité on détermine la période temporelle séparant ces deux histogrammes C:\TEMP\texte_dépôt.doc À on détermine le temps bit T.! par la formule: T. = To - 25- À on réitère les opérations précédentes en remplaSant N par N/2, et ainsi de suite jusqu'à un sous-échantillon de K/2 échantillons. 4. Procédé selon la revendication caractérisé en ce que le calcul du temps bit relatif à la fréquence d'échantillonnage comporte les opérations suivantes: on applique une fonction non linéaire à la série des échantillons du signal, pour obtenir une série de valeurs sensiblement périodique Yk O pour k variant de à K À on divise cette série en M sous-séries de L éléments chacune (L et M étant des entiers) on calcule la transformée de Fourier discrète de chaque sous-série, qui fournit une fonction Yj pour i variant de à M 15. on définit la fonction périodogramme comme étant le rapport entre la somme des carrés des modules des fonctions Yj pour i variant de à M, et M on détermine la fréquence f pour laquelle la fonction périodogra m me est maxima le. 5. Procédé selon la revendication 4 caractérisé en ce que, pour calculer le diagramme de l'_il, on effectue les opérations suivantes: on calcule la transformée de Fourier discrète à la fréquence f de la série Yk, qui fournit une fonction Zk pour k variant de à K Ie temps associé à chaque échantillon du signal est donné par la formule: rk = g(Zk) 6. Procédé selon la revendication 5 caractérisé en ce que l'on calcule la transformée de Fourier sur une fenétre glissante centrée sur Yk. C:\TEMP\Lexte_dépôt.doc 7. Procédé selon l'une des revendications à 6 caractérisé en ce que l'on calcule le taux d'erreur en modélisant les distributions statistiques des niveaux dudit signal au moyen de P gaussiennes, P étant un entier supérieur ou égal à 2, et de préférence égal à 8. 8. Procédé selon la revendication 7 caractérisé en ce que, lorsque P est égal à 8, on estime les moyenne et variance des 8 gaussiennes en appliquant l'algorithme dit 9. Dispositif pour la mise en ceuvre du procédé selon l'une des revendications à 8 caractérisé en ce qu'il comprend: À des moyens (10) de détection d'un signal (S) ayant été transmis par système de transmission optique À des moyens (20) d'échantillonnage dudit signal détecté (S') à une fréquence indépendante du déUit dudit signal À des moyens de numérisation (31) des échantillons (SE) obtenus en sortie desdits moyens d'échantillonnage (20) des moyens logiciels (32) de traitement desdits échantillons numérisés pour calculer ledit temps bit, ledit diagramme de l'_il et le taux d'erreur dudit signal. 10. Dispositif selon la revendication 9 caractérisé en ce que lesdits moyens logiciels (32) permettent en outre de modéliser les distributions statistiques des niveaux du signal afin de calculer le taux d'erreur du signal.