FR 2828595 A1 20030214 FR 0207340 A 20020614 La présente invention concerne un dispositif source laser accordable employé dans l'évaluation ou la fabrication des systèmes ou dispositifs de télécommunications optiques. On va expliquer, en liaison avec la figure 6, la configuration du dispositif source laser accordable de la technique antérieure. Sur la figure 6, la lumière émise par la partie source laser accordable 11 est fournie à l'extérieur du dispositif source laser accordable via le coupleur optique 18a, au titre du signal de sortie optique. De plus, la lumière dérivée par le coupleur optique 18a est dérivée par le coupleur optique 18b. Un signal de sortie dérivé est envoyé au dispositif 16 de mesure de longueur d'onde, lequel mesure la longueur d'onde en utilisant la variation périodique de l'énergie d'interférence produite sur la base de l'écart entre les longueurs des trajets optiques dans l'étalon, etc. L'autre signai de sortie dérivé est envoyé à la cellule à gaz 15 faisant fonction de référence pour l'étalonnage de longueur d'onde. De plus, les signaux de sortie ainsi détectés de la cellule à gaz faisant fonction de référence pour l'étalonnage de longueur d'onde et du dispositif 16 de mesure de longueur d'onde sont convertis en des signaux électriques, puis sont envoyés au circuit de commande 14, lequel est constitué par une unité centrale de traitement, ou CPU. De plus, le circuit de commande 14 commande la longueur d'onde de la lumière, laquelle est délivrée hors de la partie source laser accordable 11 via le circuit 12 d'entranement de moteur et le circuit 13 d'excitation de courant de diode laser, ou LD, en réponse au signal fixé à partir de la partie 17 formant l'interface d'utilisateur. On va expliquer maintenant le détail de la partie source laser accordable 11 en se reportant à la figure 5. La figure 5 est une vue montrant la configuration détaillée de la partie source laser accordable 11. Cette configuration comporte le laser à semiconducteur (LD) 21, les lentilles 22a et 22b, le réseau de diffraction 23, le miroir 24 et le moteur 25. La lumière émise depuis le laser à semiconducteur 21 est conformée en un faisceau de lumière parallèle par la lentille 22a, puis entre dans le réseau de diffraction 23. Seule la lumière possédant la longueur d'onde qui a été imposée par la relation positionnelle entre le réseau de diffraction 23 et le miroir 24, dans la lumière arrivant dans le réseau de diffraction 23, peut étre renvoyée au laser à semiconducteur 21. De ce fait, une lumière qui possède la longueur d'onde particulière est délivrée par le laser à semiconducteur 21 via la lentille 22b. Si l'on fait varier la longueur de la cavité externe en amenant le moteur 25 à déplacer en rotation ia position du miroir 21 par rapport au centre O de rotation, on peut modifier la longueur d'onde de ce faisceau lumineux de sortie. Dans ce cas, si le moteur 25 est simplement réglé sur une 1 0 position prédéterminée, une erreur i nfi nitési male est parfois produite da ns la position de ce miroir 24. Par conséquent, comme représenté sur la figure 6, le signal de sortie déte*é venant du dispositif de mesure de longueur d'onde 16 est renvoyé au circuit de commande 14 de façon que la commande soit exercée par actionnement du moteur 25 et fasse ainsi toujours correspondre la longueur d'onde mesurée avec la longueur d'onde prédéterminée. De plus, la longueur d'onde de la lumière produite par le laser à semiconducteur peut étre commandée par ajustement du courant d'excitation du laser à semiconducteur. Par conséquent, on peut commander la longueur d'onde de la lumière en renvoyant en réaction le signal de sortie déte*é du dispositif de mesure de longueur d'onde au circuit d'excitation du laser à semiconducteur. Comme décrit ci-dessus, le dispositif de mesure de longueur d'onde qui mesure la longueur d'onde en utilisant la variation périodique de l'énergie d'interférence sur la base de l'écart entre les longueurs des trajets optiques dans l'étalon, etc., est employé au titre de l'appareil de mesure de longueur d'onde du dispositif source laser accordable de la figure 6. Par conséquent, pour compenser la variation apparaissant dans l'écart entre les longueurs des trajets optiques dû à la variation de la température amblante, il est prévu un dispositif de commande de température permettant de maintenir le dispositif de mesure de longueur d'onde à une température constante (commande de la température). De plus, la cellule à gaz 15 faisant fonction de référence pour l'étalonnage de longueur d'onde est placée dans le dispositif source laser accordable de la figure 6 et est utilisée pour étalonner le dispositif de mesure de longueur d'onde. On va maintenant expliquer, en liaison avec l'organigramme de la figure 4 ci-après, I'étalonnage classique du dispositif de mesure de longueur d'onde 16 du dispositif source laser accordable de la figure 6. Dans ce cas, la cellule à gaz 15 faisant fonction de référence pour l'étalonnage de longueur d'onde de la figure 6 recherche la longueur d'onde, qui est indiquée par une flèche en un point sur la figure 7, parmi des longueurs d'onde de raies absorbées déjà connues, au titre de la longueur d'onde de référence. Cette longueur d'onde déjà connue est prise comme longueur d'onde de référence pour le dispositif 16 de mesure de longueur d'onde, o, comme représenté sur la figure 7, la variation périodique de l'énergie d'interférence est présente. En premier lieu, lorsque le dispositif source laser accordable représenté sur la figure 6 est réalisé en usine, le dispositif de commande de température (non représenté) du dispositif de mesure de longueur d'onde 16 de la figure 6 est réglé sur la température de référence (étape S11). Ensuite, on formule la table de correction de linéarité de longueur d'onde au moyen de laquelle on corrige, sur la base de la longueur d'onde de référence, le signal de sortie du dispositif 16 de mesure de longueur d'onde dans lequel est présent le changement périodique de l'énergie d'interférence, après quoi on stocke cette table dans un moyen de mémorisation (non représenté) du circuit de commande 14 (étape Si2). Les étapes Sil et 512 sont effectuées lorsque le dispositif source laser accordable est réalisé en usine par le fabricant. Ensuite, lors de l'utilisation du dispositif source laser accordable, de la même façon, I 'utilisateu r règ le le dispositif de com ma n de de température (non représenté) du dispositif de mesure de longueur 16 sur la température de référence, comme à l'étape Sil (étape 513). Ensuite, un étalonnage de longueur d'onde est effectué par l'utilisateur afin que soit fixée la valeur détectée de la longueur d'onde de raie absorbée déjà connue de la cellule à gaz comme origine des signaux de sortie détectés du dispositif de mesure de longueur d'onde (étape 514) Dans cet état, la mesure de la lumière à mesurer délivrée par la partie 11 source laser accordable est effectuée par le dispositif de mesure de longueur d'onde 16 (étape S15). Ce résultat de mesure est traité arithmétiquement au moyen de la table de correction de linéarité de longueur d'onde, qui a été formulée à l'étape S12, de fason que soit calculée la longueur d'onde détectée (étape S16). La longueur d'onde mesurée qui est obtenue au moyen du procédé est alors délivrée (étape S17). On répète les étapes S15 à S17 autant de fois que nécessaire. Comme indiqué sur la figure 7, la cellule à gaz 15 possède une caractéristique selon laquelle elle absorbe la longueur d'onde au point particulier déjà connu. Les longueurs d'onde des raies absorbées de la cellule à gaz sont très stables vis-à-vis des variations du milieu amblant, comme par exemple la variation de la température ambiante, et autres. Au contraire, comme représenté sur la figure 3, le signal de sortie mesuré venant du dispositif 16 de mesure de longueur d'onde, qui utilise l'écart entre les longueurs des trajets optiques, varie de façon à présenter des crêtes et des creux de puissance périodiques. Toutefois, I'intervalle entre une crête (un creux) et une autre crête (un autre creux) a pour caractéristique de dépendre de la variation de la température amblante. Plus particulièrement, comme représenté sur la figure 7, même si la table de correction de la linéarité de la longueur d'onde a été formulée à une certaine température amblante tandis qu'on employait la longueur d'onde de la raie absorbée, qui est indiquée par une flèche, de la cellule à gaz 15 faisant fonction de référence pour l'étalonnage de longueur d'onde au titre de la valeur de référence du signal de sortie mesuré venant du dispositif de mesure de longueur d'onde 16, ce signal de sortie mesuré venant du dispositif de mesure de longueur d'onde 16 de la figure 7 se dilate et se contracte suivant la direction de l'axe latéral dans le cas o la température amblante varie. De ce fait, une erreur est produite dans la table de correction de linéarité de la longueur d'onde qui a été préparée au moment de la réalisation du dispositif en usine. Ainsi, le dispositif de commande de température qui maintient constante la température du dispositif de mesure de longueur d'onde 16 doit être activé lors de la formulation de la table de correction de linéarité de longueur d'onde au moment de la réalisation du dispositif en usine et lors de la mesure de la longueur d'onde par l'utilisateur. Par conséquent, dans le dispositif source laser accordable qui est présenté sur la figure 6 selon la technique antérieure, il existe le problème suivant. Alors qu'un contrôle de la température est appliqué au dispositif de mesure de longueur d'onde, une variation de température i nfin itésima le est provoquée da ns le dispositif si la tem pératu re am bia nte du dispositif lors de la formulation de la table de correction de linéarité de longueur d'onde, au moment de la réalisation du dispositif en usine, est différente de celle du dispositif dans les conditions d'emploi par l'utilisateur. Pour cette raison, la variation de la température n'exerce pas un petit effet sur la précision de la mesure de la longueur d'onde. Pour maintenir la précision de longueur d'onde obtenue au moment de la réalisation du dispositif en usine malgré les variations de la température atmosphérique, il faut placer le dispositif de mesure de longueur d'onde dans un mécanisme de commande de température très performant (bain thermostatique). Normalement, ces bains thermostatiques très performants sont de grande taille et de coût élevé. C'est un but de la présente invention de surmonter les problèmes du dispositif source laser accordable décrit sur la figure 6 en liaison avec la technique antérieure, plus particulièrement le problème selon lequel, lorsque la température amblante du dispositif dans les conditions d'emploi par 1'utilisateur devient différente de celle du dispositif lors de la préparation de la table de correction de linéarité de la longueur d'onde, au moment de la réalisation du dispositif en usine, une minuscule variation de température provoquée dans le dispositif aura un effet qui n'est pas petit sur la précision de mesure de la longueur d'onde. Pour surmonter les questions ci-dessus énoncées, il est proposé un dispositif source laser accordable permettant de dériver un signal de sortie lumineux d'une partie source laser accordable afin d'alimenter un dispositif de mesure de longueur d'onde et une cellule à gaz faisant fonction de référence pour l'étalonnage de la longueur d'onde, puis de commander la partie source laser accordable en fonction du signal de sortie du dispositif de mesure de longueur d'onde, o un dispositif de commande de température est fourni au dispositif de mesure de longueur d'onde afin de faire correspondre le résultat mesuré par le dispositif de mesure de longueur d'onde avec un intervalle d'une pluralité de longueurs d'onde de raies absorbées de la cellule à gaz faisant fonction de référen_ pour l'étalonnage de la longueur d'onde. Avec cette configuration, il est possible de surmonter le problème selon lequel, lorsque la température ambiante du dispositif, lors de l'emploi par l'utilisateur, devient différente de celle prévalant pour le dispositif lors de la préparation de la table de correction de linéarité de longueur d'onde au moment de la réalisation du dispositif en usine, la variation infinitésimale de température provoquée dans le dispositif a un effet sur la précision de la mesure de longueur d'onde (aspect 1). De plus, dans le cas o le dispositif de mesure de longueur d'onde qui mesure la longueur d'onde en utilisant la variation périodique de l'énergie d'interférence sur la base de l'écart entre les longueurs des trajets optiques, I'influence de la variation de la température ambiante peut étre réduite à un degré beaucoup plus important (aspect 2). De plus, le dispositif de mesure de longueur d'onde peut être formé d'un étalon (aspect 3). De plus, la longueur d'onde du signal optique délivré par la partie source laser accordable peut être maintenue constante par une commande du courant d'excitation de la diode laser constituant la partie source laser accordable en réponse au signal délivré par le dispositif de mesure de longueur d'onde (aspect 4). De plus, on peut maintenir constante la longueur d'onde du signal de sortie optique délivré par la partie source laser accordable en agissant sur le miroir constituant la partie source laser accordable en réponse à la sortie du dispositif de mesure de longueur d'onde, de façon à ajuster la longueur de la cavité externe (aspect 5). De plus, si la partie source laser accordable peut balayer de manière continue sa longueur d'onde, cette partie source laser accordable devient plus efficace (aspect 6). La description suivante, conçue à titre d'illustration de I'invention, vise à donner une meilleure compréhension de ses caractéristiques et avantages; elle s'appuie sur les dessins annexés, parmi lesquels: la figure est un organigramme servant à expliquer l'étalonnage du dispositif source laser accordable selon la présente invention; la figure 2 est une vue montrant la configuration du dispositif source laser accordable selon l'invention; la figure 3 est une vue montrant la relation qui existe entre les signaux de sortie du dispositif de mesure de longueur d'onde et de la cellule à gaz faisant fonction de référence pour 1'étalonnage de la longueur d'onde selon l'invention; la figure 4 est un organigramme servant à expliquer l'étalonnage du dispositif source laser accordable selon la technique antérieure; la figure 5 est une vue montrant la configuration d'une partie source laser accordable; la figure 6 est une vue montrant la configuration du dispositif source laser accordable de la technique antérieure; et la figure 7 est une vue montrant la relation qui existe entre les signaux de sortie du dispositif de mesure de longueur d'onde et de la cellule à gaz faisant fonction de référence pour l'étalonnage de la longueur d'onde de la technique antérieure. On va expliquer ci-dessous la configuration d'un dispositif source laser accordable selon l'invention, en se reportant à la figure 2. Ainsi que cela est représenté sur la figure 2, un faisceau lumineux émis par une partie source laser accordable 1 est envoyé à l'extérieur du dispositif source laser accordable via un coupleur optique 8a faisant fonction d'une sortie optique. En outre, la lumière dérivée par le coupleur optique 8a est dérivée par un coupleur optique 8b. L'un des signaux de sortie dérivés est fourni à un dispositif 6 de mesure de longueur d'onde qui mesure la longueur d'onde en utilisant la variation périodique de l'énergie d'interférence produite sur la base de l'écart entre les longueurs des trajets optiques dans l'étalon, ek. L'autre signal de sortie dérivé est fourni à une cellule à gaz 5 faisant fonction de référence pour 1'étalonnage de longueur d'onde. En outre, les signaux de sortie détectés de la cellule à gaz 5 faisant fonction de référence pour l'étalonnage de la longueur d'onde et du dispositif de mesure de longueur d'onde 6 sont convertis en signaux électriques, pu is sont fou rnis à u n circuit de com ma nde 4 qui est constitué d'une unité centrale de traitement, ou CPU. En outre, le circuit de commande 4 commande la longueur d'onde de la lumière qui est délivrée par la partie source laser accordable 1 via un circuit 2 d'entranement de moteur et un circuit 3 d'excitation de courant de diode laser en réponse à un signal fixé venant d'une partie interface d'utilisateur 7. De plus, puisque les détails de la partie source laser accordable ont été donnés avec la description de la figure 5 et sont semblables à ceux présentés dans la figure 6 de la technique antérieure, on omettra de donner d'autres explications. La particularité du dispositif source laser accordable, qui est présentée sur la figure 2 et à laquelle 1'invention s'applique, en ce qui concerne le matériel, est que plusieurs longueurs d'onde de raies absorbées déjà connues indiquées par des flèches sur la figure 3 (deux points sur la figure 3) existent dans la cellule à gaz 5 faisant fonction-de référence pour 1'étalonnage de la longueur d'onde. La figure est un organigramme illustrant un procédé d'étalonnage du dispositif source laser accordable selon l'invention. Les étapes S1 à S3 de la figure montrent le déroulement des opérations d'étalonnage de longueur d'onde par l'utilisateur. Tout d'abord, plusieurs longueurs d'onde déjà connues (au moins deux points) sont émises par la partie source laser accordable (1 sur la figure 2) par examen de la cellule à gaz (5 sur la figure 2) (étape Si). Ensuite, il est décidé si le résultat mesuré par le dispositif de mesure de longueur d'onde (6 sur la figure 2) concidait ou non avec la différence des longueurs d'onde déjà connues (étape S2). Si la décision prise à l'étape S2 est "non", on change la température fixée pour le dispositif de commande de température (commande de température) du dispositif de mesure de longueur d'onde (6 sur la figure 2) (étape S3). Si la décision prise à l'étape S2 est"oui", la lumière à mesurer est mesurée par le dispositif de mesure de longueur d'onde (étape S4). Ensuite, le résultat mesuré (longueur d'onde mesurée) est délivré (étape S5). Ensuite, il est décidé si la température ambiante a ou non été changée (étape S6). Etalonnage de longueur d'onde par l'utilisateur. La fonction d'auto-étalonnage agit si la température amblante a été changée. Si la décision de l'étape S6 est "oui", les mesures des étapes S4 et S5 sont répétées. Si la décision de l'étape S6 est "non", le processus revient à l'éta pe S i, pu is la fonction d'éta lon nage automatique de réalisation de l'étalonnage est eflectuée une fois de plus. On va maintenant expliquer de manière détaillée, en liaison avec la figure 3 ci-après, le contenu de 1'opération d'étalonnage effectué à l'étape Si, à l'étape S2 et à 1'étape S3. La figure 3 est une vue montrant la relation qui existe ente les signaux de sortie de la cellule à gaz faisant fonction de référence pour l'étalonnage de la longueur d'onde (5 sur la figure 2) et du dispositif de mesure de longueur d'onde (6 sur la figure 2), qui utilise la variation périodique de l'énergie d'interférence produite sur la base de l'écart entre les longueurs des trajets optiques dans l'étalon, et autres. Sur la figure 3, I'abscisse désigne la longueur d'onde et l'ordonnée désigne la puissance. Comme on peut le voir sur la figure 3, la cellule à gaz a pour caractéristique d'absorber une pluralité de longueurs d'onde déjà connues particulières (deux points sur la figure 3). Les longueurs d'onde des raies absorbées de la cellule à gaz sont très stables vis-à-vis des variations de l'environnement, comme la température amblante, et autres. Au contraire, comme représenté sur la figure 3, le signal de sortie mesuré du dispositif de mesure de longueur d'onde, qui utilise l'écart entre les longueurs des trajets optiques, varie de fason que sa puissance présente une crête et un creux périodiquement. Dans ce cas, I'intervalle entre une crête (un creux) et une autre crête (un autre creux) a pour caractéristique de dépendre de la variation de la température ambiante. En d'autres termes, bien que la longueur d'onde de la raie absorbée déjà connue de la cellule à gaz puisse correspondre à deux creux du signal de sortie mesuré du dispositif de mesure de longueur d'onde, qui utilise l'écart entre les longueurs des trajets optiques à une certaine température amblante, comme représenté sur la figure 3, le signal de sortie mesuré du dispositif de mesure de longueur d'onde qui utilise l'écart entre les longueurs des trajets optiques de la figure 3 se dilate et se contracte suivant la direction de l'axe latéral si la température amblante varie. Par conséquent, la longueur d'onde de la raie absorbée ne concide pas avec deux creux du signal de sortie mesuré. A l'étape S3, si le signal de sortie mesuré du dispositif de mesure de longueur d'onde ne concide pas avec la différence de longueur d'onde déjà connue qui est relative à la variation de la température amblante, on change la température fixée du dispositif de commande de température se trouvant dans le dispositif de mesure de longueur d'onde afin qu'il y ait correspondance du signal de sortie mesuré avec la différence de longueur d'onde déjà connue. En d'autres termes, dans la commande de température du dispositif de mesure de longueur d'onde de la technique antérieure, la commande s'effectue de façon à faire correspondre la température à la valeur prédéterminée. Au contraire, selon l'invention, si le signal de sortie mesuré du dispositif de mesure de longueur d'onde et la différence de longueur d'onde déjà connue ne concident pas entre eux du fait de la variation de la température ambiante, on les amène à concider mutuellement en changeant la température fixée du dispositif de commande de température du dispositif de mesure de longueur d'onde. Selon l'aspect de l'invention, il est proposé un dispositif source laser accordable servant à dériver la lumière délivrée en sortie par une partie source laser accordable afin de la fournir à un dispositif de mesure de longueur d'onde et à une cellule à gaz faisant fonction de référence pour l'étalonnage de la longueur d'onde, puis de commander la partie source laser accordable en réponse au signal de sortie du dispositif de mesure de longueur d'onde, o le dispositif de commande de température est fourni au dispositif de mesure de longueur d'onde afin de faire correspondre le résultat mesuré par le dispositif de mesure de longueur d'onde avec un intervalle d'une pluralité de longueurs d'onde de raies absorbées de la cellule à gaz faisant fonction de référence pour l'étalonnage de la longueur d'onde. Ainsi, il est possible de surmonter le problème selon lequel, lorsque la température amblante du dispositif, lors de l'emploi par l'utilisateur, devient différente de celle prévalant pour le dispositif lors de la préparation de la table de correction de linéarité de longueur d'onde au moment o le dispositif est réalisé en usine, la variation de température infinitésimale provoquée dans le dispositif a un effet sur la précision de la mesure de longueur d'onde. De plus, selon les aspects 2 et 3 de 1'invention, dans le cas d'un dispositif de mesure de longueur d'onde qui mesure la longueur d'onde en utilisant la variation périodique de l'énergie d'interférence sur la base de l'écart entre les longueurs des trajets optiques (par exemple étalon), on peut éliminer l'influence de la variation de la température ambiante à un degré beaucoup plus important. De cette manière, si l'on commande la température du dispositif de mesure de longueur d'onde de fason à faire correspondre la mesure d'intervalle des longueurs d'onde avec le résultat mesuré par le dispositif de mesure de longueur d'onde à deux ou plus de deux longueurs d'onde déjà connues sur la base des longueurs d'onde des raies absorbées de la cellule à gaz, on peut obtenir une linéarité de longueur d'onde très élevée pour la longueur d'onde qui est parmi les longueurs d'onde de raies absorbées de la cellule à gaz. De plus, selon l'aspect 4 de 1'invention, on peut maintenir constante la longueur d'onde du signal de sortie optique émis par la partie source laser accordable en commandant le courant d'entranement du laser à semiconducteur qui constitue la partie source laser accordable en réponse au signal de sortie du dispositif de mesure de longueur d'onde. De plus, selon l'aspect 5 de 1'invention, on peut maintenir constante la longueur d'onde du signal de sortie optique émis par la partie source laser accordable en agissant sur un miroir constituant la partie source laser accordable en réponse au signal de sortie du dispositif de mesure de longueur d'onde, de manière à ainsi commander la longueur de la cavité externe. De plus, selon l'aspect 6 de 1'invention, si, plus particulièrement, la partie source laser accordable posséJant une configuration qui est en mesure de modifier sa longueur d'onde fason continue, comme représenté sur la figure 5, est combinée, on peut augmenter 1'effet d'amélioration de la précision de la longueur d'onde dans le balayage continu de la longueur d'onde. Ces dispositifs sources laser accordables qui peuvent balayer la longueur d'onde de manière continue avec une précision élevée peuvent contribuer à un accroissement considérable de la précision de la mesure des caractéristiques des pièces optiques employées dans les télécom- munications optiques, et autres, en fonction de la longueur d'onde. Bien entendu, I'homme de l'art sera en mesure d'imaginer, à partir des dispositifs dont la description vient d'être donnée à titre simplement illustratif et nullement limitatif, diverses variantes et modifications ne sortant pas du cadre de l'invention. REVENDICATIONS l. Dispositif source laser accordable, caractérisé en ce qu'il comprend: un dispositif (6) de mesure de longueur d'onde, une partie () source laser accordable, une cellule à gaz (5) faisant fonction de référence pour l'étalonnage de longueur d'onde, ledit dispositif source laser accordable permettant de diviser un faisceau lumineux délivré par ladite partie () source laser accordable afin d'alimenter ledit dispositif de mesure de longueur d'onde (6) et ladite cellule à gaz (5) faisant fonction de référence pour 1'étalonnage de longueur d'onde, et de commander ladite partie () source laser accordable en réponse à un signal de sortie dudit dispositif de mesure de longueur d'onde (6), o ledit dispositif de mesure de longueur d'onde comporte un dispositif de commande de température de façon à faire correspondre le résultat mesuré par ledit dispositif de mesure de longueur d'onde avec un intervalle d'une pluralité de longueurs d'onde de raies absorbées de la cellule à gaz (5) faisant fonction de référence pour 1'étalonnage de la longueur d'onde. 2. Dispositif source laser accordable selon la revendication 1, caractérisé en ce que led it d ispositif (6) de mesu re de long ueu r d'onde est un dispositif de mesure de longueur d'onde permettant de mesurer la longueur d'onde grâce à 1'utilisation d'une variation périodique de 1'énergie d'interférence sur la base de l'écart entre les longueurs des trajets optiques. 3. Dispositif source laser accordable selon la revendication 2, caractérisé en ce que ledit dispositif de mesure de longueur d'onde est formé d'un étalon. 4. Dispositif source laser accordable selon la revendication 1, caractérisé en ce que le courant d'excitation de la diode laser constituant ladite partie source laser accordable () est commandé en fonction du signal de sortie dudit dispositif de mesure de longueur d'onde (6). 5. Dispositif source laser accordable selon la revendication 1, caractérisé en ce que la longueur d'une cavité externe est commandée par aionnement d'un mood (24) constituent ladRe patois source laser accordable (1) en response au signal de souffle dude dposlf de mesure de ngueur dandy I. 6. DposKif source laser accordable salon la revendication 1, carat en ce que ladies parole source laser accordable (1) est en