FR 2789180 A1 20000804 FR 9901151 A 19990202 PROCEDE DE MESURE DE L'EPAISSEUR D'UN REVETEMENT DEPOSE SUR UN MEIELANGE VULCANISE La présente invention a pour objet un procédé de mesure de l'épaisseur d'un revêtement déposé sur un mélange vulcanisé. Il existe actuellement des procédés de mesure de l'épaisseur d'un revêtement, mais ces procédés ne pem'ettent pas de réaliser de manière satisfaisante des mesures en continu sur une ligne de fabrication. Un but de l'invention est de permettre de mesurer en continu l'épaisseur d'un revêtement, tel qu'un vemrnis, déposé sur un mélange vulcanisé. Un autre but de l'invention est de permettre de mesurer l'épaisseur d'un revêtement, tel qu'un vemrnis, déposé sur un mélange vulcanisé, sans connaître la composition du revêtement. Un autre but de l'invention est de permettre de mesurer l'épaisseur de différents types de revêtements, par exemple de vemrnis, susceptibles d'être déposés sur un mélange vulcanisé. Au moins un des buts précités est atteint par un procédé de mesure de l'épaisseur d'un revêtement de composition donnée déposé sur un mélange vulcanisé, caractérisé en ce que ledit mélange vulcanisé contient au moins un élément détectable par analyse d'un rayonnement secondaire émis en réponse à une exposition à un rayonnement X et en ce qu'il comporte: a) un calibrage par la mesure du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire pour une pluralité d'échantillons témoins pourvus d'un dit revêtement ayant une épaisseur connue b) au moins une mesure d'épaisseur sur un échantillon à mesurer, par détection du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire. Pour une application à une ligne de fabrication en continu, au cours de laquelle un produit à base d'un mélange vulcanisé est revêtu d'une couche par exemple de vemrnis, le procédé comporte une pluralité de mesures espacées dans le temps, ce qui permet de suivre les variations éventuelles de l'épaisseur de la couche déposée en cours de fabrication. Le procédé peut alors comporter un asservissement de l'épaisseur du revêtement appliqué au cours de ladite fabrication en continu, en fonction desdites mesures espacées dans le temps. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée à titre d'exemple non limitatif. Dans le domaine de la chimie analytique, l'identification des éléments par rayonnement X a fait ses preuves depuis des années. Le principe d'une telle mesure est d'exposer un échantillon à un rayonnement X primaire, d'o il résulte, par fluorescence X, l'émission de rayonnements secondaires spécifiques de chaque élément. Cette technique est généralement utilisée pour déterminer la teneur d'un échantillon en un ou plusieurs éléments donnés. Selon l'invention, on mesure le rayonnement secondaire correspondant à un élément donné d'un mélange vulcanisé, en général un élément de la classification périodique des éléments, et de préférence le soufre. Le signal ainsi obtenu peut servir de signal de référence. Lorsqu'un vernis est déposé en surface, le signal émis est proportionnellement atténué en fonction de l'épaisseur du revêtement, notamment un vernis d'épaisseur comprise entre 2 Fi et 10 l. Le niveau ou l'atténuation dudit signal est calibrée à partir d'une pluralité, de préférence 10 ou plus, témoins de calibration. Les témoins présentent différentes épaisseurs d'un même vernis, ces épaisseurs étant mesurées au microscope électronique. Le niveau ou facteur d'atténuation étant connu, il est possible de procéder ensuite à des mesures d'épaisseurs pour un vernis du même type. Pour un procédé de fabrication en continu, qui met en oeuvre l'application d'un revêtement, on réalise des mesures espacées dans le temps, par exemple à raison de 5 par minute. Ceci est en général suffisant, car les variations d'épaisseur constatées en cours de fabrication sont dues à des dérives lentes du procédé. Le procédé peut éventuellement mettre un oeuvre un asservissement permettant de corriger les variations d'épaisseur constatées. En général, on pourra se contenter d'une seule mesure de niveau effectuée sur le produit revêtu. Au cas o cependant la teneur de l'élément serait susceptible de varier, on pourra mesurer le niveau dans une zone non encore revêtue du produit, puis dans cette même zone une fois revêtue, par exemple au cours d'un procédé de fabrication en continu. On déduit le facteur d'atténuation qui permet de déterminer l'épaisseur à partir de la calibration précédemment réalisée. Un appareil particulièrement adapté dans le cadre de l'invention est l'analyseur de fluorescence X de type LAB-X 3000 de la Société OXFORD SENSOR TECHNOLOGY LTD (OXFORD, Grande-Bretagne). REVENDICATIONS 1. Procédé de mesure de l'épaisseur d'un revêtement de composition donnée déposé sur un mélange vulcanisé, caractérisé en ce que ledit mélange vulcanisé contient au moins un élément détectable par analyse d'un rayonnement secondaire émis en réponse à une exposition à un rayonnement X et en ce qu'il comporte: a) un calibrage par la mesure du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire pour une pluralité d'échantillons témoins pourvus d'un dit revêtement ayant une épaisseur connue b) au moins une mesure d'épaisseur sur un échantillon à mesurer, par détection du niveau ou de l'atténuation du rayonnement secondaire. 2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comporte une pluralité de mesures espacées dans le temps, réalisées sur une ligne de fabrication en continu. 3. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comporte un asservissement de l'épaisseur du revêtement appliqué au cours de ladite fabrication en continu, en fonction desdites mesures espacées dans le temps. 4. Procédé selon une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que ledit élément est le soufre. 5. Procédé selon une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que ledit revêtement est un vernis.