FR 2783323 A1 20000317 FR 9811311 A 19980910 La présente invention est relative à l'acquisition d'images par tomographie optique par laquelle il est possible d'obtenir des images formées par les intensités de rayons lumineux provenant d'un objet à étudier, ces intensités étant fonction de la profondeur dans celui- ci. Ces intensités optiques peuvent être obtenues, soit par réflexion des rayons sur ou dans l'objet, soit par transmission de lumière à travers cet objet. Plus précisément, l'invention concerne le domaine de l'interférométrie dite "à basse cohérence" et utilise le principe de l'interféromètre de Michelson. La figure 1 des dessins annexés représente un tel interféromètre. Il comporte une source de lumière S à large bande spectrale ayant par conséquent une faible longueur de cohérence. Le faisceau issu de cette source est conduit sur un séparateur de faisceau SF qui divise le faisceau de la source en un faisceau éclairant un objet O à étudier et un faisceau frappant un miroir M dit de référence. Dans le cas de cette figure, le faisceau frappant l'objet O et le faisceau tombant sur le miroir M sont respectivement réfléchis et conduits à travers le séparateur SF pour se recombiner et illuminer un photocapteur PC. Ce faisant, ces faisceaux réfléchis interfèrent entre eux constructivement et destructivement en formant une frange d'interférence dans la mesure o la différence des distances optiques parcourues est inférieure à la longueur de cohérence de la source. Ce dispositif interférométrique permet ainsi d'obtenir une indication par exemple sur la nature de la surface de l'objet. Cependant, tel qu'il vient d'être décrit, cet interféromètre ne permet pas d'obtenir une information tomographique de l'objet, c'est-à-dire une information due à la réflexion provenant de plusieurs points internes à l'objet situés en profondeur. Pour obtenir une telle information en profondeur, il est déjà connu de procéder à un balayage en profondeur (voir par exemple à cet égard l'article de E.A. Swanson et al. dans la revue OPTICS LETTERS/Vol. 18, No. 21/november 1,1993). Dans ce cas, l'interféromètre est réalisé à l'aide de fibres optiques et de coupleurs, ce qui ne change pas fondamentalement le principe de la mesure. Cependant, pour obtenir une information à partir de différentes profondeurs de l'objet, on procède à des prises de mesure successives en changeant à chaque fois la position du miroir de référence de manière à modifier la longueur du trajet optique dans le bras du dispositif contenant ce miroir (appelé ci- après bras de référence). Sur la figure 1, ce mouvement est symbolisé par la flèche B. On obtient ainsi un graphe d'interférence tel que représenté sur la figure 2 lorsque l'objet O correspond à une interface o l'intensité lumineuse I frappant le photocapteur PC est portée en ordonnées et la position longitudinale du miroir de référence M en abscisses (appelée par convention position en z qui reflète aussi la position en profondeur du point de l'objet ayant donné lieu à la frange d'interférence considérée). Il est à noter que la résolution de la mesure dépend de la longueur de cohérence de la source S indiquée par la flèche Lc. Un tel processus de mesure par balayage impliquant plusieurs mesures espacées dans le temps, présente certains inconvénients, car outre le fait que la mesure est nécessairement relativement longue, elle se trouve sérieusement perturbée si l'objet est sujet à des mouvements. Ceci peut être le cas, par exemple dans le domaine médical, qui s'est révélé être une application particulièrement prometteuse, et notamment, lorsque des mesures sont effectuées sur certains constituants de l'oeil, comme la cornée ou la rétine. En outre, pour déplacer le miroir, il faut utiliser un élément mécanique en mouvement ce dont il peut résulter des vibrations et éventuellement une baisse des performances au cours du temps. Un autre inconvénient de ce processus consiste en ce que la mesure ne porte que sur des points alignés les uns aux autres sur un axe s'étendant en profondeur et définissant la direction du faisceau de lumière réfléchi par l'objet (profil de réflexion en profondeur). Ainsi, pour obtenir l'image d'une tranche en profondeur de l'objet, il faut effectuer successivement des séries de mesures comme décrites ci-dessus, que l'on peut qualifier d'unidimensionnelles mais déplacées latéralement l'une par rapport à l'autre, pour obtenir des groupes de valeurs d'intensité qu'il faut ensuite traiter pour transformer ces séries de mesures unidimensionnelles en un résultat bidimensionnel représentatif du profil d'une tranche de l'objet. Il est clair que cette procédure aggrave les inconvénients de la mesure unidimensionnelle en termes de durée de mesure et de susceptibilité aux mouvements de l'objet. L'invention a pour objectif de fournir un dispositif de mesure du genre brièvement décrit ci-dessus qui permette d'obtenir instantanément la totalité du résultat de la mesure que celle-ci porte sur un alignement de points en profondeur, sur une tranche en profondeur de l'objet, voire sur une partie tridimensionnelle de celui-ci. L'invention a donc pour objet un dispositif interférométrique pour relever les caractéristiques de réflexion et/ou de transmission optiques en profondeur d'un objet par interférométrie, comprenant: - une source de lumière émettant sur une bande spectrale prédéterminée de part et d'autre d'une longueur d'onde nominale et éclairant ledit objet de manière à créer un faisceau objet provenant de celui-ci, - des moyens de référence également exposés à ladite source pour créer un faisceau de référence, des moyens pour faire interférer lesdits faisceaux objet et de référence; et - des moyens photocapteurs agencés pour recevoir la lumière due à l'interférence desdits faisceaux objet et de référence, et des moyens d'analyse (MA) pour exploiter les signaux fournis par lesdits moyens photocapteurs, caractérisé en ce que lesdits moyens de référence sont agencés pour décomposer ledit faisceau de référence en une pluralité de faisceaux élémentaires de référence ayant chacun une longueur de trajet différente, en ce que lesdits moyens photocapteurs comprennent une pluralité d'éléments photocapteurs, et en ce qu'il comprend également des moyens de recombinaison optique pour diriger sur chacun desdits éléments photocapteurs la lumière résultant de l'interférence de l'un desdits faisceaux élémentaires de référence et dudit faisceau objet. Il résulte de ces caractéristiques que, lors d'une mesure unidimensionnelle, les photocapteurs fournissent ensemble instantanément toutes les informations d'intensité des franges d'interférence provenant de différentes profondeurs de l'objet, autrement dit, on peut par une analyse électronique des signaux de sortie des photocapteurs reconstituer un graphe du type de celui de la figure 2 et ce sans animer d'aucune manière les moyens de référence. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront au cours de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple et faite en se référant aux dessins annexés sur lesquels: - la figure 1, déjà décrite, est une représentation schématique d'un interféromètre de Michelson classique pouvant être utilisé pour la tomographie optique; - la figure 2, également déjà décrite, montre un graphe illustrant le fonctionnement de l'interféromètre classique de la figure 1; - la figure 3 est un schéma montrant les composants formant un interféromètre tomographique unidimensionnel selon l'invention; - la figure 3A est un schéma montrant les trajets des faisceaux réfléchis par l'objet O et les moyens de référence M dans l'interféromètre de la figure 3; - la figure 3B est un schéma analogue à celui de la figure 3A, mais montrant l'illumination de l'objet O et des moyens de référence M par la source S; - la figure 4 est un schéma dessiné en perspective d'un interféromètre tomographique selon l'invention permettant d'effectuer des mesures bidimensionnelles pour obtenir des informations optiques sur une "tranche" de l'objet; - les figures 4A et 4B montrent schématiquement deux variantes de réalisation possibles de la source de lumière; - les figures 5A et 5B sont des vues schématiques, respectivement en vue en élévation et en vue en plan de la figure 4 et selon une représentation alignée des axes concernés, qui ne sert qu'à clarifier la structure du dispositif, des bras de mesure et de source du dispositif interférométrique selon l'invention, afin de mettre en évidence les trajets des rayons lumineux dans ces bras; - les figures 6A et 6B sont des vues schématiques analogues à celles des figures 5A et 5B, montrant alignés le bras de référence et le bras de source; - les figures 7A et 7B sont des vues analogues aux précédentes et représentant alignés les bras de mesure et de détection; - les figures 8A et 8B sont des vues analogues aux précédentes, mais montrant le bras de référence aligné sur le bras de détection; - la figure 9 est une représentation schématique d'un exemple de disposition de moyens photocapteurs utilisés pour réaliser un dispositif interférométrique tridimensionnel selon l'invention; - les figures 10A à 10F montrent plusieurs variantes possibles des moyens de référence du dispositif interférométrique selon l'invention; - la figure 11 montre un schéma de principe d'un dispositif interférométrique travaillant en transmission et - la figure 12 est un graphe de l'intensité I en fonction de la profondeur dans un objet, pour illustrer une méthode d'analyse particulière pouvant être utilisée pour la mise en oeuvre du dispositif interférométrique selon l'invention. On va maintenant se référer aux figures 3, 3A et 3B, qui représentent un exemple de réalisation d'un système interférométrique selon l'invention permettant de relever les caractéristiques de réflexion en profondeur d'un objet O. Dans cet exemple, le système est dit unidimensionnel car il est capable de ne relever des données de mesure que selon un seul axe Z supposé traverser l'objet. C'est-à-dire dans l'exemple, les données de mesure sont relevées en cinq points z0 à z4, le point z0 étant situé par exemple sur la face avant, et le point z4 sur la face arrière de l'objet. Les points intermédiaires zl, z2 et z3 peuvent être représentatifs d'autres endroits de l'objet o les caractéristiques de réflexion peuvent traduire ses propriétés de structure par exemple. Le relevé des mesures effectuées peut ainsi renseigner l'observateur sur des caractéristiques typiques de l'objet. Le nombre de points de mesure n'est qu'indicatif, le système pouvant relever simultanément bien davantage de points à la fois par exemple les points zO à zn. Le nombre cinq a donc été choisi uniquement pour simplifier les dessins. Le dispositif interférométrique comporte également une source de lumière S à large bande et donc à faible longueur de cohérence. A titre d'exemple, cette source SC comprend une diode superluminescente émettant sur une longueur d'onde de 850 nm avec une largeur de bande de 20 nm. La source peut également comprendre une fibre optique monomode à 850 nm (non représentée), afin de garantir que le faisceau soit émis dans un seul mode spatial. Le dispositif comprend également un séparateur de faisceau SF, des moyens de référence M et des moyens photocapteurs PC. Ces composants sont agencé5 de la même façon que sur la figure 1, selon la disposition interférométrique de Michelson. Pour la commodité de la description, on appellera - bras de mesure BM, la partie du dispositif s'étendant entre le séparateur SF et l'objet O; - bras de référence BR, la partie située entre le séparateur SF et les moyens de référence M; - bras de source BS, la partie située entre le séparateur SF et la source S; et - bras de détection BD, la partie située entre le séparateur SF et les moyens photocapteurs PC. Les bras BM et BD sont alignés sur l'axe Z et les bras BR et BS sont alignés sur un axe Y perpendiculaire à l'axe Z et situé dans le même plan que celui-ci (qui est supposé être le plan du dessin de la figure 3). Les axes Y et Z se croisent en le point central OC du système. Un axe X est défini perpendiculairement à ce plan. Selon l'invention, les moyens de référence M comprennent un miroir présentant une pluralité de miroirs élémentaires M0 à M4, ici au nombre de cinq, et agencés sur un bloc optique unique présentant des échelons dont les faces actives sont disposées perpendiculairement à l'axe Y et parallèlement à l'axe X. Généralement, les moyens de référence M comprennent autant d'échelons que de points de mesure que l'on souhaite obtenir selon l'axe Z dans l'objet O. Les échelons définissent ainsi dans le bras de référence BR autant de faisceaux de référence élémentaires FR0 à FR4 dont les longueurs de trajet sont différentes. Selon l'invention également, les moyens photocapteurs PC comprennent une rangée d'éléments photocapteurs PC0 à PC4, ici également au nombre de cinq, le nombre dépendant du nombre de points de mesure que l'on veut définir en profondeur dans l'objet O. On notera que les éléments photocapteurs PC0 à PC4 sont agencés côte-à-côte dans leur rangée parallèlement à l'axe Y. Par ailleurs, toujours selon l'invention, le système interférométrique comprend un jeu de lentilles Ll à L4 (voir notamment les figures 3A et 3B). Une première Ll de ces lentilles est collimatrice et prévue dans le bras de source BS. Elle est placée devant la source S et destinée à former une image de celle-ci sur la face de l'objet O à l'aide de la lentille L3 et sur tous les échelons M0 à M4 des moyens de référence M à l'aide de la lentille L2. La distance de la lentille Ll par rapport à la source S est de préférence inférieure à sa distance focale afin de défocaliser le spot lumineux sur l'objet O et sur les moyens de référence M, dans le but d'éclairer l'objet O et l'ensemble des moyens de référence M. De plus, les lentilles L2, L3 et L4 forment, avec le séparateur SF, des moyens de recombinaison optique. Ils sont déterminés de telle façon qu'à la fois chaque élément photocapteur PC0 à PC4 reçoive de la lumière d'une position (xi, yi) de l'objet O par l'intermédiaire du faisceau objet FO et qu'en outre chaque élément photocapteur PC0 à PC4 ne reçoive de la lumière que d'un seul échelon M0 à M4 des moyens de référence M. En d'autres termes, le couple de lentilles L2, L4 situées respectivement dans le bras de référence BR et dans le bras de détection BD, projette une image des moyens de référence M sur les éléments photocapteurs PCO à PC4 à raison d'un échelon par élément photocapteur. De son côté, le couple de lentilles L3, L4, situées respectivement dans le bras de mesure BM et le bras de détection BD projette une image de l'objet O sur l'ensemble des photocapteurs PCO à PC4. Les focales des lentilles L3 et L4 seront de préférence choisies de manière que f3 " f4, ce qui permettra d'obtenir une résolution favorable dans le sens de l'axe X et de l'axe Y. Les faisceaux de référence élémentaires FRO à FR4 et le faisceau FO ainsi projetés interfèrent les uns avec les autres, de manière à former une image d'interférence qui est reçue par les photocapteurs (PC0 à PC4). L'obtention de ce résultat apparaît clairement aux spécialistes qui sauront déterminer selon ces règles les caractéristiques des lentilles à utiliser. Pour fixer les idées, les lentilles L1 à L4 peuvent être des lentilles sphériques, de préférence achromatiques. Il est à noter que selon une variante, les lentilles pourraient être remplacées par des guides de lumière appropriés. Le système interférométrique selon l'invention que l'on vient de décrire permet, avec une seule rangée d'éléments photocapteurs, d'obtenir par une seule mesure instantanée une donnée par point en profondeur de l'objet (point zO à z4) respectivement à raison d'une donnée par élément photocapteur. Les signaux recueillis sur les éléments photocapteurs PO à P4 peuvent être exploités en les traitant dans le dispositif d'exploitation MA, selon les résultats que l'on souhaite finalement obtenir, certaines façons de les traiter étant décrites par la suite. La figure 4 représente un esquisse d'un second exemple de réalisation de l'invention dans lequel le système interférométrique est de type bidimensionnel. Dans le cadre de l'invention, cela veut dire qu'il est capable de fournir des données optiques relatives, non seulement à des points de l'objet situés en profondeur (le long de l'axe Z) mais également selon une autre direction qui, dans l'exemple représenté, est la direction X. En d'autres termes, il devient possible de relever des données sur une "tranche" de l'objet indiquée par des traits obliques sur la figure 4 afin de dégager des données optiques selon un profil. Le système de mesure de la figure 4 diffère essentiellement de celui de la figure 3 sur trois points (étant entendu que de nouveau, pour simplifier, on a limité le nombre de points relevés à cinq en profondeur et cinq selon la direction X): - les moyens de référence M s'étendent dans la direction de l'axe X sur une hauteur telle que des faisceaux de référence élémentaires provenant des échelons M0 à M4 puissent être dirigés sur les cinq zones en X des moyens photocapteurs PC; - les moyens photocapteurs PC comprennent une matrice d'éléments photocapteurs s'étendant selon les directions X et Y (ici naturellement à raison de cinq éléments par direction); - les moyens de recombinaison comprennent, à la place de la lentille L3 de la figure 3, deux lentilles distinctes L3' et L3'' de forme cylindrique et dont les axes sont respectivement parallèles à la direction X et à la direction Y. Les faces convexes de ces lentilles L3' et L3'' sont tournées vers le séparateur SF. Comme dans le cas de la figure 3, les focales L3' et L4 seront de préférence choisies de manière que f3'"f4, ce qui permettra d'obtenir une résolution favorable dans la direction Y. Les figures 5A à 8B permettent d'analyser selon une représentation alignées les bras du dispositif interférométrique respectivement vu en élévation et en plan, selon la figure 4. Les figures montrent les longueurs focales des lentilles Li à L4 et leurs formes générales ainsi que le cheminement général des faisceaux. Pour ce qui concerne les figures 7A à 8B, on n'a représenté que quelques faisceaux pour ne pas trop charger les figures. Ces figures montrent également qu'un diaphragme D peut être placé dans le bras de détection BD à côté du séparateur SF. L'ouverture de ce diaphragme est choisie de telle manière que le spot de lumière qui arrive sur la surface d'un photocapteur reste à l'intérieur d'un seul cône de diffraction. Cette condition garantit une détection optimale des franges d'interférence. Un tel diaphragme peut également être utilisé dans l'interféromètre de la figure 3, comme représenté. Les figures 5A à 8B montrent également des repères identifiant les points d'objet et les photocapteurs correspondants avec l'identification des échelons Z0 à Z4 des moyens de référence M. On notera également que le nombre de points de mesure en profondeur peut être très supérieur à cinq (de z0 à zn), de même que le nombre de points en hauteur selon la direction X (de x0 à xm). La figure 9 est une représentation schématique d'un exemple de disposition de moyens photocapteurs PC tournés vers le séparateur SF, selon un mode de réalisation particulièrement intéressant de l'invention. En effet, selon une caractéristique particulièrement avantageuse de l'invention, il est possible d'étendre le dispositif interférométrique bidimensionnel à un dispositif tridimensionnel moyennant deux adjonctions extrêmement simples. D'une part, au lieu d'une seule matrice de x0z0 à xmzn d'éléments photocapteurs, on prévoit ici une pluralité de matrices identifiées par les références y0 à yp et de placer ces matrices côte-à-côte selon l'axe Y du dispositif. D'autre part, on prévoit une pluralité de moyens de référence placés côte-à-côte selon l'axe Z du dispositif. Dans ces conditions, chacune des matrices d'éléments photocapteurs recevra l'image d'un plan de réflexion de l'objet, les plans étant agencés parallèlement les uns derrière les autres le long de l'axe Z. On peut ainsi recueillir sur les moyens photocapteurs PC des données optiques dans un volume de l'objet O et ce, instantanément sans qu'aucune manipulation mécanique étalée dans le temps ne soit nécessaire. Le temps de mesure ne sera déterminé que par la rapidité de fonctionnement des moyens électroniques d'analyse MA. Cependant, ceux-ci peuvent incorporer sans aucune difficulté majeure, des moyens de mémoire pour enregistrer les données fournies par les moyens photocapteurs PC avant que l'on n'en entreprenne l'analyse électronique. Peu importe donc que l'objet soit sujet à des mouvements, le temps d'acquisition des moyens photocapteurs et la mise en mémoire étant quasi instantanés. Ceci vaut d'ailleurs tout autant pour les modes de réalisation unidimensionnel et bidimensionnel. La figure 10A montre une première variante possible des moyens de référence M dans laquelle ceux-ci sont formés par une pluralité de miroirs la à In superposés et décalés, le pas Az entre deux points adjacents mesurables en profondeur étant déterminé par l'épaisseur hi des miroirs élémentaires la à in. La figure 10B montre une seconde variante dans laquelle les moyens de référence M comprennent un réseau de diffraction à encoches 2 (appelé "blazed grating") dans la littérature anglo-saxonne) dont l'angle y1 définit l'angle ("blazed angle") et dont la dimension h2 des encoches 2a à 2n définit le pas Az qui est la distance optique entre deux points adjacents mesurables en profondeur dans l'objet O. Selon la figure 10C, les moyens de référence comprennent une matrice 3 de rétroréflecteurs 3a à 3n, (appelés "corner cubes" dans la littérature anglo-saxonne) en forme de pyramides à base rectangulaire. L'angle y2 définit l'inclinaison du plan des bases des rétroréflecteurs par rapport à la direction perpendiculaire aux faisceaux élémentaires. La dimension h3 désigne le pas Az. La figure 10D montre une autre forme sous laquelle peuvent être réalisés les moyens de référence. Dans ce cas, un bloc 4 en un milieu transparent est taillé en "escalier" à sa face arrière, des dépôts réfléchissants tournés vers la face opposée du bloc 4 étant faits sur les échelons 4a à 4n ainsi obtenus. Ces échelons forment de la lumière provenant de la source S autant de faisceaux de référence élémentaires. Le pas est obtenu ici grâce à la relation Az=h4In-nol, o h4 est la hauteur d'un échelon, n est l'indice de réfraction du milieu du bloc 4 et no est l'indice de réfraction du milieu dans lequel se trouve le dispositif interférométrique. L'avantage de cette variante est qu'elle permet, en choisissant un matériau d'indice de réfraction n proche de celui de l'objet O, de diminuer la perte en résolution due à la dispersion de la lumière dans les bras de référence et de mesure de l'interféromètre. La variante de la figure 10E reprend la forme de celle de la figure 0lB. Elle comprend un bloc 5 dont les échelons sont revêtus de dépôts réfléchissants 5a à 5n. Les coefficients de réflexion Ra à Rn de ces dépôts sont choisis en fonction de la nature locale des points en profondeur de l'objet à examiner. Un exemple d'application de tels moyens de référence se rencontre par exemple, pour l'examen en profondeur de l'oeil dont la rétine et la cornée ont des coefficients de réflexion très dissemblables, différences que ces moyens de référence permettent de compenser en choisissant des coefficients de réflexion déterminés pour les dépôts. La figure 10F représente une variante de moyens de référence qui opèrent par transparence. Dans ce cas, un bloc 6 en un milieu transparent est taillé en escalier pour former des marches 6a à 6n. Ce bloc est placé en alignement de la source S et derrière sa face opposée est disposée une surface plane réfléchissante 7. Dans ce cas, le pas de profondeur Az est égal à celui de la variante de la figure D. Le bloc 6 peut également être utilisé dans un mode de réalisation du dispositif interférométrique selon l'invention dans lequel les moyens de référence M et l'objet sont traversés par les faisceaux de lumière. Une variante d'un tel dispositif est représentée sur la figure 11il qui ne nécessite pas d'autres commentaires si ce n'est que les résultats obtenus sont semblables à ceux décrits en référence aux figures 3, 4 et 9, respectivement. Il s'agit ici d'interféromètres du type Mach- Zehnder, bien connu des spécialistes. Il comporte deux séparateurs de faisceaux SF1 et SF2 et deux miroirs de renvoi M1 et M2. Le pas Az correspondant à une frange d'interférence est lié à la longueur d'onde de la source et vaut k/2. L'information utile dans le signal perçu par les éléments photocapteurs est le maximum de l'intensité d'une frange d'interférence. La figure 12 illustre une analyse directe des signaux obtenus qui peut être exécutée par les moyens d'analyse MA. Or, il convient de noter que lors de la mesure, un tel maximum peut ne pas coincider avec un élément photodétecteur de la matrice. Cependant, en disposant d'un nombre d'éléments capteurs par franges supérieur à 1, on peut effectuer par le calcul une interpolation par exemple sur trois points. Il est ainsi possible de calculer l'amplitude d'une frange d'interférence donnée et donc de connaître l'intensité optique maximale réfléchie par l'objet O en une profondeur dont on n'a pas relevé de donnée de mesure. Cette méthode a l'avantage de la simplicité, mais nécessite beaucoup d'éléments photocapteurs. Une méthode différentielle permet d'en utiliser moins. Pour mettre en oeuvre cette méthode, il convient de prévoir un déphaseur ou un modulateur de phase soit dans le bras de mesure BM, soit dans le bras de référence BR. Ce déphaseur ou modulateur de phase peut être une cellule à cristaux liquides par exemple commandé par une tension électrique. Il est schématisé en pointillés en DPH sur la figure 4, mais il peut également être prévu dans l'interféromètre de la figure 3. Il faut alors opérer en deux étapes. Une image est acquise sur la matrice d'éléments photocapteurs PC. Puis, un déphasage est produit en appliquant la tension électrique au déphaseur ou modulateur de phase DPH. Une nouvelle image est acquise sur la matrice de photocapteurs PC. Puis, les moyens d'analyse MA effectuent une soustraction sélective des signaux obtenus à partir des deux images successives. Il en résulte que les moyens d'analyse fournissent un signal non nul seulement aux emplacements Z o il y a interférence. Cette méthode permet de visualiser les franges d'interférence, mais pas d'obtenir forcément le maximum d'intensité d'une frange. Afin d'être certain d'observer au moins une frange d'interférence, la différence entre la longueur optique pendant la première mesure et celle résultant du déphasage doivent être choisies différentes d'un multiple de 2X. Cette méthode permet d'utiliser seulement 2 à 3 détecteurs par groupe de franges d'interférence, étant entendu que la longueur (étalement spatial) d'un groupe de franges est déterminée par la longueur de cohérence Lc de la source S. Cependant, elle nécessite deux mesures successives, il estvrai très rapprochées dans le temps. On peut également détecter l'amplitude d'une frange d'interférence par échantillonnage temporel. On prévoit également le déphaseur ou modulateur de phase DPH, soit dans le bras de référence BR soit dans le bras de mesure BM. On relève pour chaque détecteur trois intensités lumineuses I-, I2 et I3 correspondant à trois déphasages différents successifs par exemple à 0 , à 120 et à 240 . La valeur de la phase est prise par rapport à la longueur d'onde moyenne de la source S. L'intensité atteignant un élément photocapteur donné est donnée par Ii(+) = I^^y + Iocos(+%0), o $,:, est une constante qui dépend de tous les déphasages introduits par les éléments du dispositif, Iy-=(1/3)Yi(Ii) est la moyenne arithmétique des intensités, et Io est l'amplitude de la frange d'interférence. Cette dernière est donnée par Io=[,(-(Imo)]Z. Les trois méthodes d'analyse qui viennent d'être évoquées ont l'avantage de permettre l'utilisation de matrices de photocapteurs standard, telles qu'une caméra CCD, des matrices actives APS etc. Le déphaseur ou modulateur de phase DPH peut être utilisé pour moduler la phase de la lumière soit dans le bras de mesure, soit dans le bras de référence d'une manière périodique, par exemple sinusoïdale. En combinaison avec des photocapteurs permettant d'appliquer une synchronisation avec la fréquence de modulation (technique lock-in), on peut réaliser une détection hétérodyne, ce qui permet de diminuer le niveau de bruit jusqu'au niveau de bruit de grenaille (shot-noise) et donc d'améliorer sensiblement la performance du dispositif. Dans ce cas, les moyens d'analyse sont avantageusement réalisés selon la méthode décrite dans l'article de Swanson et al. paru dans "Optics Letters" Jan. 15, 1992, Vol 17, n 2. La source S peut être unique comme décrit jusqu'ici. Cependant, il est également possible d'utiliser une ligne de sources, voire une matrice. Il en résulte que davantage d'énergie lumineuse devient disponible par élément photocapteur, ce qui permet d'obtenir un meilleur rapport signal/bruit. Dans le cas d'une colonne de m sources (illustrée sur la figure 4A, si m=5), chaque faisceau illumine une position le long de l'axe X de l'échantillon et éclaire tous les miroirs élémentaires zO à zn des moyens de référence. Chaque faisceau du bras de mesure BM est recombiné avec sa série de faisceaux du bras de référence BR. Si on prévoit une matrice de mxn sources (illustrée, en face arrière, sur la figure 4B, si m et n=5), chaque ligne de n faisceaux de sources illumine une position selon l'axe X de l'objet O et éclaire toutes les positions zO à zn (selon l'axe Z) des moyens de référence, à raison d'une source élémentaire par position. Chaque faisceau du bras de mesure BM est recombiné avec son faisceau de référence associé. Des sources de lumière appropriées sont des diodes électroluminescentes à émission latérale, des diodes laser, des empilements de matrices de diodes laser ou des diodes ou matrices de diodes laser à cavité verticale. Des diodes électroluminescentes ou d'autres sources émettant de la lumière non cohérente (filament de tungstène) peuvent également être utilisées avec des diaphragmes circulaires ou rectangulaires. REVENDICATIONS 1. Dispositif interférométrique pour relever les caractéristiques de réflexion et/ou de transmission optiques en profondeur d'un objet par interférométrie, comprenant - une source de lumière (S) émettant sur une bande spectrale prédéterminée de part et d'autre d'une longueur d'onde nominale et éclairant ledit objet (O) de manière à créer un faisceau objet (FO) provenant de celui-ci, - des moyens de référence (M) également exposés à ladite source (S) pour créer un faisceau de lumière de référence (FR0 à FR4), - des moyens (SF) pour faire interférer lesdits faisceaux objet (F0) et de référence (FR0 à FR4); - des moyens photocapteurs (PC) agencés pour recevoir la lumière due à l'interférence du faisceau objet (FO) et du faisceau de référence (FR0 à FR4), et - des moyens d'analyse (MA) pour exploiter les signaux fournis par lesdits moyens photocapteurs (PC), - caractérisé en ce que lesdits moyens de référence (M) sont agencés pour décomposer ledit faisceau de référence en une pluralité de faisceaux de référence élémentaires (FR0 à FR4) ayant chacun une longueur de trajet différente, - en ce que lesdits moyens photocapteurs (PC) comprennent une pluralité d'éléments photocapteurs (PC0 à PC4; x0z0 à xmzn), et - en ce qu'il comprend également des moyens de recombinaison optique (L2, L3, L4; L3', L3") pour diriger sur chacun desdits éléments photocapteurs (PC0 à PC4; x0z0 à xmzn), la lumière résultant de l'interférence de l'un desdits faisceaux élémentaires de référence (F0 à F4) et dudit faisceau objet (FO). 2. Dispositif interférométrique selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens de référence (M) comprennent, au moins, un bloc optique présentant des échelons (la à ln; 2a à 2n; 4a à 4n; 5a à n) revêtus d'un dépôt réfléchissant situé en regard de ladite source (S). 3. Dispositif interférométrique selon la revendication 2, caractérisé en ce que ledit bloc optique comprend une pluralité de lames réfléchissantes superposées (la à in) dont les bords sont décalés pour former lesdits échelons. 4. Dispositif interférométrique selon la revendication 2, caractérisé en ce que le bloc comprend des échelons ménagés dans sa masse (2a à 2n). 5. Dispositif interférométrique selon la revendication 4, caractérisé en ce que les échelons sont disposés sur la face du bloc tournée vers ladite source (S). 6. Dispositif interférométrique selon la revendication 4, caractérisé en ce que le bloc est transparent et en ce que les échelons (4a à 4n) sont prévus à la face du bloc située du côté opposé à celle tournée vers ladite source (S). 7. Dispositif interférométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 6, caractérisé en ce que le coefficient de réflexion des dépôts réfléchissants varie d'un échelon à l'autre (5a à 5n). 8. Dispositif interférométrique selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens de référence comprennent, au moins, un bloc optique (3) dont la face tournée vers ladite source (S) présente des aspérités en forme de pyramide (3a à 3n). 9. Dispositif interférométrique selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens de référence comprennent, au moins, un bloc optique transparent (6) sur lequel sont ménagés des échelons (6a à 6n) et en ce que du côté de ce bloc opposé à ladite face est prévue une surface réfléchissante (7) tournée vers ladite source (S). 10. Dispositif interférométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, caractérisé en ce que, pour effectuer une mesure unidimensionnelle se limitant à relever un jeu de points de mesure alignés en profondeur dans l'objet (O), lesdits éléments photocapteurs (PC0 à PC4) sont agencés en une rangée. 11. Dispositif interférométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, caractérisé en ce que, pour effectuer une mesure bidimensionnelle destinée à relever un jeu de points de mesure alignés à la fois en profondeur dans l'objet (O) et selon un axe (X) perpendiculaire à cet alignement (axe Z), lesdits éléments photocapteurs (xOzO à x4z4) sont agencés selon une matrice. 12. Dispositif interférométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, caractérisé en ce que, pour effectuer une mesure tridimensionnelle destinée à relever un jeu de points de mesure alignés à la fois en profondeur dans l'objet (O) et selon deux axes perpendiculaires entre eux et audit alignement (Z), lesdits éléments photocapteurs [yO(xOzO à xmzn) à yp(xOzO à xmzn)] sont agencés selon une pluralité de matrices placées côte- à-côte (yO à yp) et lesdits moyens de référence sont agencés selon une pluralité de moyens de référence placés côte-à-côte. 13. Dispositif interférométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 12, caractérisé en ce que lesdits moyens de recombinaison optique comprennent un premier jeu de lentilles (L2, L4) placées entre ledit séparateur de faisceaux (SF) et lesdits moyens photocapteurs (PC) d'une part et lesdits moyens de référence (M) d'autre part, pour projeter une image desdits moyens de référence (M) sur lesdits éléments photocapteurs (PC0 à PC4; xOzO à xmzn) à raison d'un faisceau de référence élémentaire par élément photocapteur, et en ce qu'il comporte en outre un deuxième jeu de lentilles (L3, L4; L3', L3", L4) placées entre ledit séparateur de faisceaux (SF) et ledit objet (O) d'une part et lesdits moyens photocapteurs (PC) d'autre part, pour projeter une image de l'objet (O) sur les éléments photocapteurs et en ce que les lentilles placées devant lesdits moyens photocapteurs (PC) de chacun des premier et deuxième jeux sont confondues. 14. Dispositif interférométrique selon la revendication 13, lorsqu'elle dépend de la revendication , caractérisé en ce que les lentilles des premier et deuxième jeu de lentilles sont convergentes et sphériques. 15. Dispositif interférométrique selon la revendication 13, lorsqu'elle dépend de l'une quelconque des revendications 11 et 12, caractérisé en ce que les lentilles (L2, L4) du premier jeu sont de type sphérique et en ce que le second jeu comprend, placées entre ledit séparateur de faisceau (SF) et ledit objet (O) deux lentilles (L3'; L3") convergentes et de forme cylindrique dont les axes sont perpendiculaires entre eux 16. Dispositif interférométrique selon l'une quelconque des revendications 1 à 15, caractérisé en ce que ladite source (S), lesdits moyens de référence (M), lesdits moyens photocapteurs (PC) et ledit objet (O) sont agencés conformément à l'interféromètre de Michelson, et en ce que l'interférence entre lesdits faisceaux de référence élémentaires (FR0 à FR4) et ledit faisceau objet (FO) est obtenue par un séparateur de faisceau (SF) placé au centre (OC) de cet agencement. 17. Dispositif interférométrique selon la revendication 16, caractérisé en ce qu'un diaphragme (D) est placé entre ledit séparateur de faisceaux (SF) du côté de celui-ci tourné vers lesdits éléments photocapteurs (PC0 à PC4; xOzO à xmzn). 18. Dispositif interférométrique selon l'une quelconque des revendications 10 à 13, 16 et 17, caractérisé en ce qu'un déphaseur ou un modulateur de phase (DPH) est disposé du côté du séparateur de faisceaux (SF) tourné vers ledit objet (O), ou vers lesdits moyens de référence (M). 19. Dispositif interférométrique selon l'une quelconque des revendications 13 à 18, caractérisé en ce que les lentilles dudit deuxième jeu de lentilles (L3, L4) ont des distances focales telles que f3"f4, dans laquelle f3 est la distance focale de la lentille (L3) placée près de l'objet (O) et f4 est la distance focale de la lentille (L4) placée près desdits éléments photocapteurs (PC0 à PC4; xOzO à xmzn). 20. Dispositif interférométrique selon la revendication 1, caractérisé en ce que ladite source (S), lesdits moyens de référence (M), lesdits moyens photocapteurs (PC) et ledit objet (O) sont agencés conformément à l'interféromètre de Mach- Zehnder, et en ce que ledit objet (O) et lesdits moyens de référence (M) sont traversés par les faisceaux objet (O) et de référence (FR0 à FR4). 21. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications 1 à 20, caractérisé en ce que ladite source (S) comprend un agencement de plusieurs sources élémentaires, de préférence agencées selon une ligne ou une matrice. 22. Dispositif suivant l'une quelconque des revendications 18 à 21, caractérisé en ce que ledit déphaseur (DPH) ou ledit modulateur de phase est utilisé pour permettre une détection hétérodyne sur le signal de sortie desdits moyens photocapteurs (PC).