FR 2735929 A1 19961227 FR 9507514 A 19950622 Composant micro-électronique pour carte sans contact passive, carte sans contact passive supportant un tel composant, station destinée à être électromaqnétiquement couplée avec une telle carte sans contact passive, et procédé de fabrica- tion dudit composant micro-électronique La présente invention a pour objet un composant micro-élec- tronique pour carte sans contact passive, une carte sans contact passive supportant un tel composant, une station destinée à être électromagnétiquement couplée avec une telle carte sans contact passive et un procédé de fabrication dudit composant micro-électronique. Elle trouve une application générale dans le transfert uni- ou bi-directionnel de données entre une carte sans contact passive et une station distante. D'une manière générale, une carte sans contact contient ou non une source d'énergie interne. Dans le premier cas, il s'agit d'une carte active, tandis que dans le second cas, il s'agit d'une carte passive. La carte sans contact passive reçoit, par couplage électroma- gnétique, l'énergie dont elle a besoin, de la station distan- te. Elle est dite de proximité dans la mesure o sa distance de fonctionnement avec la station est généralement inférieure ou égale à quelques millimètres. En pratique, une carte sans contact passive supporte un composant microélectronique comprenant une bobine (appelée encore antenne ou self inductance) pour l'alimentation par induction du composant et pour le transfert inductif avec la station d'un signal représentatif de données, et des moyens de traitement alimentés par ladite bobine et propres à traiter ledit signal ainsi transféré ou à transférer. Du point de vue technologique, on distingue deux catégories distinctes de cartes sans contact passives. Dans la première catégorie, le couplage électromagnétique est assuré par une antenne (ou plusieurs), réalisée sur un substrat différent de celui du composant micro-électronique. Plus précisément, l'antenne est gravée sur un substrat choisi, lui-même placé dans le matériau constitutif de la carte (PVC, ABS, polycarbonate, etc). Le composant micro-é- lectronique est, quant à lui, assemblé à l'antenne par des fils soudés. Cette première catégorie est appelée, ci-après carte sans contact passive à bobine assemblée. Le procédé de fabrication de cette carte est onéreux à cause des opérations d'assemblage par fils. Dans la seconde catégorie, la bobine est gravée directement sur le composant micro-électronique, le plus souvent en matériau silicium. Cette seconde catégorie est appelée, ci- après, carte sans contact passive à bobine intégrée, ou "coil on chip". Le procédé de fabrication de cette carte intégrée est sensiblement simplifié par rapport à celle assemblée, puisque différentes opérations d'assemblage sont supprimées, en particulier la connexion du composant micro-électrique à l'antenne. Toutefois, la surface de la bobine intégrée est généralement plus faible que celle d'une antenne assemblée dans la mesure o la surface de la bobine intégrée est limitée par la surface du composant que l'on souhaite la plus petite possible pour réduire les coûts de fabrication et par la surface qu'occupe nécessairement les moyens de traitement du composant, ce qui limite d'autant l'énergie transmise à la carte sans contact passive. De plus, la configuration tridimensionnelle des spires conductrices d'une bobine intégrée apporte un certain nombre de difficultés, notamment la création de composants parasi- tes, par exemple la formation d'un condensateur dont la capacité peut être non négligeable, ce qui conduit à une réduction de la puissance électrique disponible sur ledit composant. Le Demandeur s'est posé le problème de réaliser un composant micro-électronique à bobine intégrée, pour carte sans contact passive, permettant de conférer une énergie suffisamment élevée pour alimenter les moyens de traitement du composant, tout en évitant la création de composants parasites, et cela avec des coûts de fabrication sensiblement inférieurs à ceux d'une carte à contacts ou d'une carte sans contact passive à bobine assemblée. Ce but est atteint par un composant micro-électronique du type à bobine intégrée décrit ci-avant, qui se caractérise par le fait que la bobine intégrée occupe au moins 50% de la surface totale du composant. En pratique, le nombre de spires de la bobine intégrée, ainsi que leur largeur sont choisis selon une loi prédéterminée qui dépend du rendement de l'alimentation par induction en présence d'un champ magnétique, de la surface totale du composant, de la surface nécessaire pour réaliser les moyens de traitement, et de la variation de la tension aux bornes des moyens de traitement lors du transfert de données. Par exemple, la surface du composant est un carré de 8 mm2 et la bobine intégrée est réalisée sur au moins un niveau de métallisation, ce qui permet à la bobine intégrée d'occuper sensiblement 60% de la surface totale du composant. Selon un autre mode de réalisation préféré de l'invention, la réalisation de la bobine intégrée fait appel à une filière micro- électronique dite à 0,5 microns permettant de réaliser la métallisation de la bobine intégrée sur plusieurs niveaux, ce qui permet d'obtenir une réduction correspondante de la surface de la bobine intégrée et minimise d'autant les coûts de fabrication. Dans ce mode de réalisation de l'invention, la surface du composant est, par exemple, un carré de 4 mm2 et la bobine intégrée est réalisée sur 3 niveaux de métalli- sation, ce qui permet à la bobine d'occuper sensiblement 87% de la surface totale du composant. En pratique, les spires de la bobine intégrée sont réalisées sur le pourtour du composant. Selon un autre aspect de l'invention, les moyens de traite- ment comprennent des moyens de redressement du signal alternatif, haute fréquence, transféré par induction par la station, en présence d'un champ magnétique, en un signal continu, modulé en fonction des données transmises par la station, et des moyens de démodulation du signal continu modulé ainsi redressé pour récupérer les données transmises par la station. Par exemple, les moyens de démodulation sont du type à démodulation d'amplitude, ce qui permet de simplifier les moyens de traitement, et de réduire la puissance nécessaire à ces moyens de traitement. Selon encore un autre aspect de l'invention, les moyens de traitement comprennent des moyens de modulation du signal alternatif, haute fréquence, aux bornes de la bobine, en présence d'un champ magnétique, pour la transmission de données du composant vers la station. En pratique, les moyens de modulation sont du type à modula- tion d'amplitude, obtenue par modulation de charge sur la tension d'alimentation. Selon une caractéristique importante de l'invention, les moyens de traitement comprennent en outre: - des moyens de récupération d'un signal d'horloge à partir du signal alternatif haute fréquence transféré par induction par la station distante, en présence d'un champ magnétique, des moyens de mémorisation de données, cadencés selon ledit signal d'horloge ainsi récupéré, et - des moyens de lecture/écriture de données dans lesdits moyens de mémorisation, cadencés selon ledit signal d'horloge ainsi récupéré. La présente invention a également pour objet une carte sans contact passive, comprenant le composant décrit ci-avant. La présente invention a également pour objet une station destinée à être électromagnétiquement couplée avec une telle carte sans contact passive. Enfin, la présente invention a également pour objet un procédé d'obtention d'un composant micro-électronique pour carte sans contact passive, destiné à être électromagnétique- ment couplé à une station distante pour le transfert de données entre le composant et la station et/ou réciproque- ment. De façon connue, le procédé comprend les étapes suivantes: - a) réaliser en technologie intégrée plane sur la surface du composant les spires d'une bobine pour l'alimentation par induction du composant et pour le transfert inductif avec la station d'un signal représentatif de données, et - b) réaliser en technologie intégrée sur le substrat du composant des moyens de traitement alimentés par ladite bobine, et propres à traiter ledit signal ainsi transféré ou à transférer. Selon une caractéristique essentielle de l'invention, l'étape a) prévoit que la bobine intégrée occupe au moins 50% de la surface totale du composant. Avantageusement, le procédé comprend une étape initiale dans laquelle il est prévu de choisir le nombre de spires de la bobine intégrée, ainsi que leur largeur selon une loi prédéterminée qui est fonction du rendement de l'alimentation par induction du composant, de la surface totale du compo- sant, de la surface nécessaire pour réaliser les moyens de traitement, et/ou de la variation de la tension aux bornes des moyens de traitement lors du transfert de données. Selon un autre aspect de l'invention, la bobine est réalisée sur au moins un niveau de métallisation, par exemple sur trois niveaux de métallisation selon une filière micro- électronique à 0,5 microns. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lumière de la description détaillée ci- après et des dessins annexés dans lesquels: - la figure 1 est une vue schématique du couplage inductif d'une station distante et d'une carte sans contact passive; - la figure 2 est un synoptique des moyens essentiels de la station destinée à être couplée électromagnétiquement avec le composant de la carte sans contact selon l'invention; - la figure 3 est un schéma équivalent d'une partie des moyens essentiels du composant selon l'invention; - la figure 4 est une vue de dessus d'un circuit intégré selon l'invention, comprenant les spires d'une self induc- tance plane imprimée ou réalisée par photolithographie; et - la figure 5 est une représentation schématique du tracé des spires du circuit intégré de la figure 4; - la figure 6 est une vue en coupe transversale du composant à trois niveaux de métallisation selon l'invention; et - la figure 7 est un organigramme illustrant le choix de la largeur des spires de la bobine intégrée et de leur nombre selon l'invention. En référence à la figure 1, l'antenne L1 de la station distante SD, est couplée électromagnétiquement à l'inductance (ou bobine) L2 de la carte sans contact passive CSC. L'an- tenne L1 est réalisée sous la forme d'un bâtonnet, ou d'un tore avec entrefer, en matériau magnétique sur lequel sont enroulées plusieurs spires parcourues par un courant Il. L'inductance L2 est constituée d'un ensemble de spires, gravées dans le composant de la carte, comme on le décrira plus en détail ci-après. Le courant I2 parcourt les spires de la bobine intégrée L2. Le couplage inductif se définit par la mutuelle inductance, M, entre les circuits L1 et L2. Le couplage est matérialisé par les deux générateurs de tension jMwI2, côté station, délivrée aux bornes de l'antenne L1, et jMwIl, côté carte, délivrant la tension V2 aux bornes de l'inductance L2. Le circuit de la carte est caractérisé par l'inductance L2, le condensateur de l'antenne C2 et la résistance de perte R2. La tension induite V2 dans l'inductance L2 est redressée par un pont redresseur D2, puis est filtrée par un condensateur de lissage CL. La résistance RU, montée en parallèle avec le condensateur de lissage CL, représente ici la résistance de charge équivalen- te, c'est à dire l'ensemble des circuits électroniques du composant dont la consommation serait équivalente à celle de RU. La résistance RM représente la résistance de modulation de charge que l'on décrira plus en détail ci-après. Le transistor T2 est ou n'est pas passant au rythme des données envoyées par le composant vers la station distante. Comme on le verra plus en détail ci-après, les valeurs numériques des éléments du composant sont choisies selon une loi prédéterminée selon l'invention. En pratique, la résis- tance RU est de l'ordre de 9 KOhms, la tension continue V2 est de l'ordre de 3 Volts, et la puissance disponible sur le composant est de l'ordre de 1 mWatts. Sur la figure 2, la carte sans contact passive CSC est couplée électromagnétiquement à la station distante SD, à travers un champ magnétique CM par exemple de l'ordre de Gauss ou plus. La station distante assure les fonctions d'alimentation et d'échange de données avec la carte sans contact passive. En fonctionnement, la carte sans contact est espacée d'une distance de l'ordre 2 mm du solénoïde L1 de la station, et dans l'axe de celui-ci. Un oscillateur 10 délivre un signal alternatif, haute fré- quence F1 au solénoïde L1, à travers des moyens d'amplifica- tion 8. Par exemple, la fréquence F1 de l'oscillateur est de 4,9152 - Mhz. En pratique, le solénoïde L1 est réalisé sur un mandrin, avec un noyau magnétique. Il est constitué de 16 spires d'une longueur respective de 9 mm et d'un diamètre respectif de 9 mm. Il est à remarquer que le signal haute fréquence F1 permet de transmettre simultanément l'énergie, l'horloge et les données au composant CSC. Un réseau atténuateur-déphaseur 14 est prévu pour recevoir le signal transmis par la carte. Ce réseau atténuateur-déphaseur 14 adapte le niveau d'entrée, voisin de 120 V, crête à crête, aux bornes du solénoïde L1, à une quarantaine de millivolts crête à crête, ce qui correspond à une atténuation de 70 dB. Par exemple, le réseau atténuateur-déphaseur 14 comprend un réseau capacitif diviseur par 100, puis un réseau LRC atténuateur et déphaseur de façon à présenter le signal en phase avec le signal émanant de l'oscillateur 10 à la fréquence F1, à savoir 4,9152 Mhz. Un mélangeur 20 comprend une entrée 16, pour recevoir le signal issu de l'atténuateur 14, et une entrée 18, pour recevoir le signal issu de l'oscillateur 10. Le mélangeur 20 présente un gain de conversion de l'ordre de 16 dB. Un amplificateur 26 est placé à la sortie du mélangeur 20. Cet amplificateur 26 a un gain de 80 dB et une bande passante de 50 Khz. Il est constitué de trois cellules, la première est un filtre passif RC adapté en impédance par rapport à la sortie du mélangeur. Les deux cellules suivantes sont constituées d'un amplificateur opérationnel de 40 dB chacune avec une bande passante de 50 Khz. Le premier amplificateur opérationnel est monté en montage inverseur, tandis que le second est monté en non-inverseur pour des raisons de stabilité. Des moyens de remise en forme (non représentés) sont connec- tés à la sortie des moyens amplificateurs pour remettre en forme les données ainsi reçues, en données binaires. Nous faisons de nouveau référence à la figure 1. La transmission des données du composant vers la station met en oeuvre le principe de la modulation de charge. En bref, il s'agit de faire varier la charge présente aux bornes de l'alimentation. La résistance de charge varie entre RU (transistor non passant) et RU.RM/RU+RM (transistor passant). Le coefficient de surtension du solénoïde L1 varie en fonction de la puissance dissipée par le composant. La tension Vl présente aux bornes du solénoïde présente alors une légère variation. La modulation de charge se traduit, aux bornes du solénoïde L1, par une modulation d'amplitude. En pratique, pour une résistance de modulation égale à 16 Kohms, l'indice de modulation est, ici, de l'ordre de 0,2%. La transmission de données dans le sens composant vers station est de l'ordre de 9,6 Kbits/s. Par ailleurs, la tension de forme sinusoïdale, disponible aux bornes de l'inductance L2, permet avec des moyens de récupé- ration d'horloge, de générer plusieurs horloges, elles-mêmes nécessaires au fonctionnement des circuits logiques du composant. En référence à la figure 3, des moyens de récupération d'horloge RCK sont disposés à la sortie de l'inductance L2 pour remettre en forme la tension alternative, sinusoïdale, présente aux bornes de l'inductance L2. Les moyens RCK génèrent alors un signal logique de fréquence 4,9152 Mhz. Des moyens diviseurs DIV sont reliés aux moyens de récupé- ration d'horloge RCK pour diviser le signal logique à une fréquence appropriée. Par exemple, les moyens diviseurs divisent la fréquence ainsi récupérée par 32, pour obtenir une fréquence à 153,6 Khz, destinée à cadencer un séquenceur SEQ. Les moyens diviseur DIV divisent aussi le signal logique ainsi récupéré, par 512, pour obtenir une fréquence de 9600 Hz, destinée à cadencer des moyens de codage COD et de décodage DEC que l'on décrira plus en détail ci-après. La transmission des données de la station vers le composant est basée sur la modulation d'amplitude du signal. Au niveau du composant, la démodulation est réalisée par le pont redresseur D2 et l'ensemble constitué par la résistance de charge RU et le condensateur de lissage CL. Avantageusement, après suppression de la composante continue, le signal démodulé d'amplitude, par exemple 0,3 Volts avec un taux de démodulation de 10% et une tension d'alimentation de 3 Volts, est amplifié par des moyens amplificateurs AP2 de façon à générer un signal aux niveaux logiques. Ces moyens amplificateurs AP2 suppriment en outre la composante continue du signal égal à V2, avant amplification, pour n'amplifier que le signal, avantageusement codé de type Manchester. Le codage d'information, est de préférence de type Manches- ter, c'est-à-dire que l'état logique O est codé en ligne par la succession de deux éléments binaires, 1 suivi de 0, tandis que l'état logique 1 est codé par le doublet 01. Le débit binaire est ici deux fois plus élevé que le débit d'informa- tions. Ce codage d'information a l'avantage d'améliorer la transmission des informations par la suppression de la composante continue. Les données binaires sont mémorisées dans des registres MEM. Les données transmises par la station sont décodées par des moyens de décodage Manchester DCC avant mémorisation. Au contraire, les données à transmettre vers la station, sont codées par des moyens de codage COD avant envoi via le transistor T2. Une fonction de RESET est également disponible pour initialiser correctement les éléments logiques du composant. En référence aux figures 4 et 5, la self inductance L2 est réalisée par métallisation sur le pourtour du composant. Cette inductance constitue un dipôle magnétique formé de plusieurs spires juxtaposées et enroulées conformément au tracé représenté en figure 5. Les spires sont non jointives. La distance i entre deux spires adjacentes est appelée isolement. Le pas des spires e est égal à la somme de l'isolement i et de la largeur d'une spire e'. Par exemple, le pas e est égal à 8 pm avec e' = 6 pm et i = 2 pm. Le nombre de spires, ainsi que leur largeur sont définis selon plusieurs critères. L'un des critères principaux est le rendement de la télé-alimentation. Un autre correspond à la surface disponible sur le composant ainsi que la variation de la tension lors du transfert des données. En premier lieu, le rendement de la télé-alimentation doit permettre l'obtention d'une tension induite V2 ayant une valeur suffisante pour alimenter les éléments logiques du composant. En second lieu, la variation de la tension AV2 lors de la modulation de charge (c'est-à- dire lors de la transmission des données du composant vers la station ou réciproquement) doit être faible, de façon à ne pas perturber le fonctionne- ment des circuits logiques du composant. En troisième lieu, la surface S disponible pour la gravure des spires de l'inductance L2 sur le composant doit être suffisamment grande pour générer la tension induite V2 choisie et suffisamment petite pour réduire les coûts de production du composant. L'optimisation du choix de ces paramètres s'effectue selon le procédé décrit en référence à la figure 7. Tout d'abord, on choisit les paramètres physiques du compo- sant, c'est-à-dire sa surface et le nombre de niveaux de métallisation des spires. Par exemple, le composant présente une surface de 8 mm2, de forme carrée, avec a = 2,83 mm, 1 = 1,7 mm, et d = 0,565 mm. Le nombre de métallisations est ici égal à 1. Ensuite, on fait varier, selon une boucle, la largeur des spires, jusqu'à l'obtention d'une tension V2 optimale, c'est- à-dire la plus élevée possible, et d'une variation AV2 optimale, c'est-à-dire la plus petite possible (étape 1). Pour cela, on détermine tout d'abord, la valeur des paramè- tres R2, C2 et S (étape 2). La résistance R2 est donnée par l'équation (I) en annexe. La surface S est donnée par l'équation (II) en annexe. A partir de R2 et S, on calcule la valeur de (jMt I1)crête qui est proportionnelle à la somme des surfaces des spires (étape 3). Il convient alors de déterminer la valeur du condensateur C2, par exemple par l'utilisation d'un logiciel de simulation électrique. La connaissance de C2 permet de calculer les valeurs de E (équation III en annexe) et Z (équation IV en annexe) (étape 3). Ces deux valeur E et Z sont ensuite reportées dans l'équation V en annexe (étape 4). Enfin, la connaissance de l'angle 01 permet de calculer la tension V2 selon l'équation VI en annexe. Cette démarche est faite pour différentes largeurs de spires, afin de déterminer la valeur maximale de V2. Dans un premier mode de réalisation dans lequel le composant est de forme carrée avec une surface égale à 8 mm2, o la longueur a est égale à 2,83 mm et la largeur interne 1 est égale à 1,7 mm avec une largeur totale d des spires de l'ordre de 0,565 mm, la bobine et la self inductance occupent une surface sensiblement égale à 60% de la surface totale du composant. Dans ce cas de figure, la bobine est réalisée sur un seul niveau de métallisation. Les Demandeurs ont observé que les valeurs optimales corres- pondent à un composant présentant une tension V2 égale à 2,7 V, un angle 01 égal à 52,4 , une surface S égale à 367 mm2, une résistance R2 égale à 3,46 KOhms, un nombre de spires n égal à 69, une largeur e' égale à 6 pm et une induction égale à 5,6 Gauss. Dans un autre mode de réalisation (figure 6), les Demandeurs ont réalisé les spires de la self inductance sur trois niveaux de métallisation selon la filière 0,5 p. Le composant comprend une surface carrée de 4 mm2. Dans ces conditions, la self inductance occupe une surface égale à 3,5 mm2 ce qui correspond à une occupation de l'ordre de 87% de la surface totale du composant. Sur la figure 6, les niveaux de métallisation sont indivi- dualisés en M1 à M3, et les spires sont individualisées en Smj avec m nombre entier variant de 1 à 3, j nombre entier variant de 1 à R et m x j = n. En présence de plusieurs niveaux de métallisation, les spires sont superposées les unes sur les autres avec un espace d'une épaisseur déterminée entre les unes et les autres. Sur chaque niveau, les spires sont enroulées conformément sensiblement au tracé décrit en référence à la figure 5. Les spires du niveau M1 peuvent être connectées en série à celles du niveau M2, ces dernières pouvant être connectées aux spires de niveau M3. Toutefois, dans un montage en série, la capacité entre spires réduit de façon très significative le rendement de la téléalimentation. Selon l'invention, en référence à la figure 6, les spires sont avantageusement court-circuitées entre elles. L'enroule- ment en parallèle des spires réduit ici la valeur de la capacité de l'antenne. En effet, la capacité entre spires est annulée et seule la capacité entre les spires du niveau M1 et le substrat subsiste. Cette réduction assure une nette augmentation du rendement de la téléalimentation. Par exemple, les courts-circuits entre spires sont réalisés par des vias métallisés V individualisés par exemple en Vll pour le via disposé entre la première spire de niveau M1 individualisée en Sll et la première spire de niveau M2 individualisée en S21. ANNEXE (I).R2 4 n + 4 n (n+1) e] x Rcarrée R2 =[ n e' e avec n = nombre de spires e'= largeur des spires e = pas des spires e' + i Rcarrée = résistance carrée de la métallisation. Q = longueur du côté de la spire intérieure de forme carrée (II) S = nl2 + 2 le x n (n+1) + 4e2 x n(n+1) (2n+1) (III) E = (jMoaIl) crête ( +jR2C2) 1+jR2C2w (IV) zI R2 1 + (R2C2cô) 2 (V) -Vp = IElcrête x [2sinO1 x RU cosOl (281 x RU +1)] IrIZI V XZ- (VI) V = IE X cos8l - Vp Revendications 1. Composant micro-électronique pour carte sans contact passive, destiné à être électromagnétiquement couplé à une station distante (SD) pour le transfert de données entre la carte (CSC) et la station et/ou réciproquement, ledit composant comprenant: - une bobine (L2) pour l'alimentation par induction du composant et pour le transfert inductif avec la station (SD) d'un signal représentatif de données, - des moyens de traitement alimentés par ladite bobine (L2), réalisés en technologie intégrée sur le substrat du composant et propres à traiter ledit signal ainsi transféré, ou à transférer, les spires de la bobine (L2) étant réalisées en technologie intégrée plane sur la surface du composant, caractérisé en ce que la bobine intégrée occupe au moins 50% de la surface totale du composant. 2. Composant selon la revendication 1, caractérisé en ce que le nombre (n) de spires de la bobine (L2) ainsi que leur largeur (e') sont choisis selon une loi prédéterminée qui dépend du rendement de l'alimentation par induction du composant, de la surface totale du composant, de la surface nécessaire pour réaliser les moyens de traitement, et de la variation de la tension (AV2) aux bornes des moyens de traitement lors du transfert de données. 3. Composant selon l'une des revendications 1 et 2, caracté- risé en ce que la surface totale du composant est de 8mm2, en ce que la bobine est réalisée sur au moins un niveau de métallisation et en ce que la bobine intégrée occupe sensi- blement 60% de la surface totale du composant. 4. Composant selon l'une des revendications 1 et 2, caracté- risé en ce que la surface totale du composant est de 4mm2, en ce que la bobine est réalisée sur trois niveaux de métallisa- tion et en ce que la bobine intégrée occupe sensiblement 87% de la surface totale du composant. 5. Composant selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les spires de la bobine sont réalisées sur le pourtour du composant. 6. Composant selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens de traitement comprennent: - des moyens de redressement (D2) du signal alternatif haute fréquence, transféré par induction par la station, en un signal continu, modulé en fonction des données transmises par la station, et - des moyens de démodulation (CL, AP2) du signal continu modulé ainsi redressé pour récupérer les données transmises par la station. 7. Composant selon la revendication 6, caractérisé en ce que les moyens de démodulation (CL, AP2) sont du type démodula- tion d'amplitude. 8. Composant selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens de transmission de données du composant vers la station comprennent des moyens de modulation (T2, RM) du signal alternatif haute fréquence aux bornes de la bobine (L2). 9. Composant selon la revendication 8, caractérisé en ce que les moyens de modulation (T2, RM) sont du type modulation d'amplitude, obtenue par modulation de charge sur la tension d'alimentation. 10. Composant selon l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les moyens de traitement comprennent en outre: - des moyens de récupération d'un signal d'horloge (RCK) à partir du signal alternatif, haute fréquence, transféré par induction par la station distante, - des moyens de mémorisation de données (MEM), cadencés selon ledit signal d'horloge ainsi récupéré, - des moyens de lecture/écriture de données (SEQ), cadencés selon ledit signal d'horloge ainsi récupéré. 11. Composant selon la revendication 4, caractérisé en ce que les spires de l'inductance (L2) sont superposées les unes sur les autres avec un espace déterminé entre chaque niveau, chaque spire d'un niveau prédéterminé étant court-circuitée avec une spire d'un niveau adjacent. 12. Carte sans contact passive, caractérisée en ce qu'elle comprend un composant selon l'une des revendications précé- dentes. 13. Station destinée à être électromagnétiquement couplée avec une carte selon la revendication 12. 14. Procédé d'obtention d'un composant micro-électronique pour carte sans contact passive, destiné à être électromagné- tiquement couplé à une station distante pour le transfert de données entre le composant et la station et/ou réciproque- ment, ledit procédé comprenant les étapes suivantes: - a) réaliser en technologie intégrée plane sur la surface du composant les spires d'une bobine pour l'alimentation par induction du composant et pour le transfert inductif avec la station d'un signal représentatif de données, - b) réaliser en technologie intégrée sur le substrat du composant des moyens de traitement alimentés par ladite bobine, et propres à traiter ledit signal ainsi transféré, ou à transférer, caractérisé en ce que l'étape a) prévoit de réaliser la bobine intégrée de telle sorte quelle occupe au moins 50% de la surface totale du composant. 15. Procédé selon la revendication 14, caractérisé en ce qu'il comprend une étape initiale dans laquelle il est prévu de choisir le nombre des spires ainsi que leur largeur selon une loi prédéterminée qui est fonction du rendement de l'alimentation par induction du composant, de la surface totale du composant, de la surface nécessaire pour réaliser les moyens de traitement, et/ou de la variation de la tension aux bornes des moyens de traitement lors du transfert de données. 16. Procédé selon l'une des revendications 14 et 15, caracté- risé en ce que la bobine est réalisée sur au moins un niveau de métallisation. 17. Procédé selon l'une des revendications 14 à 16, caracté- risé en ce que la bobine est réalisée sur trois niveaux de métallisation, selon la filière à 0,5 p.