FR 2711820 A1 19950505 FR 9412826 A 19941026 La présente invention concerne des systèmes de détection de défauts utilisés dans la production de cartes de circuits imprimés. ou PCB, et plus particulièrement un système qui crée une base de données de transition, ou TDB, contenant une information de tolérance de configurations de cartes de circuits imprimés, utilisée pour l'inspection de défauts de cartes de circuits imprimés fabriqués dans lesquelles des signaux de pixels sont pondérés par type de transition. Des cartes de circuits imprimés sont fabriquées de nos jours par un processus qui est presque totalement automatisé. Les circuits d'une carte particulière de circuit imprimé sont engendrés en utilisant une machine de conception assistée par ordinateur, ou CAO. qui non seulement engendre un schéma de la carte de circuit imprimé mais qui fournit également l'implantation de la carte pour la totalité des dispositifs qu'elle comporte. L'information d'implantation des cartes de circuits imprimés est fournie à un dispositif, par exemple un traceur à laser qui expose le dessin-modèle nécessaire pour fabriquer la carte de circuit imprimé. Le dessin-modèle comprend, comme particularités correspondant à des dispositifs de la carte de circuit imprimé, une série de zones transparentes et opaques. Cependant. des défauts qui rendraient inutile la carte de circuit imprimé peuvent étre présents dans la carte de circuit imprimé ou dans le dessin-modèle de celle-ci. Ces défauts peuvent résulter de diverses causes. y compris un rétrécissement du dessin-modèle ou des défaillances du processus de fabrication. Un grand nombre de systèmes connus de détection de défauts dans les cartes de circuits imprimés ont souvent comparé simplement une carte donnée de circuit imprimé à une carte de circuit imprimé de référence exempte de défauts, que l'on appelle la carte d'or afin de détecter des erreurs créées pendant le processus de fabrication. Un système à carte d'or ne détecte pas. dans des cartes ultérieures, les défauts qui étaient également présents dans la carte d'or. En outre, certains des systèmes connus d'inspection optique de cartes de circuits imprimés sont configurés de manière à examiner des marques d'inspection qui ont été placées dans le dessin-modèle à l'écart des particularités. Les dimensions et les emplacement des marques d'alignement sur la carte de circuit imprimé sont comparés à une référence pour déterminer l'ampleur d'un rétrécissement. Si le rétrécissement dépasse certaines valeurs, la carte est considérée comme défectueuse par ces systèmes. Afin de créer une image des particularités de la carte de circuit imprimé, les données de conception assistée par ordinateur doivent être traduites en un format de réseau et être envoyées à un dispositif d'imagerie directe par laser, ou LDI. par exemple le LDI 9720 ou 9725 commercialisé par Gerber Systems Corporation, le cessionnaire de la présente invention. La comparaison de dispositifs existant sur la carte de circuit imprimé et de particularités de l'image de référence est effectuée par un dispositif comme le système de détection de défauts model 1850 qui est également commercialisé par Gerber Systems Corporation. Une technique de génération d'une base de données transitionnelle. ou TDB. à trois états est décrite et revendiquée dans le brevet des Etats Unis possédé en commun N' 5 157 762 intitulé "A Method and Apparatus for Providing a Three State Database for use vwith Automatic Optical Inspection Systems". c'est-à-dire Procédé et appareil de réalisation d'une base de données à trois états à utiliser avec des systémes d'inspection optique automatique, qui est incorporé ici par référence. Cette technique est caractérisée par un algorithme qui crée à partir d'une base de données à deux états. une base de données transitionnelle à trois états. le noir. le blanc et le gris, la tolérance de chaque particularité étant uniforme et unique. Un autre procédé et un autre appareil utilisés dans la détection de défauts de cartes de circuits imprimés sont décrits et revendiqués dans le brevet des Etats Unis N' 5 163 128 et sont incorporés ici par référence. Le systéme du brevet 5 163 128 engendre une image de base de données de référence de la carte de circuit imprimé qui comporte des tolérances pour chaque particularité individuelle de la carte de circuit imprimé et il est caractérisé par une base de données transitionnelle à trois états. le noir. le blanc et le gris. qui correspondent à des zones dans lesquelles les particularités de la carte de circuit imprimé, soit doivent apparaitre. soit ne doivent pas apparaître, soit peuvent apparaître ou ne pas apparaître, respectivement. Ces systèmes sont limités du fait que certains défauts ne sont pas détectés. Par exemple. si des particularités adjacentes sont séparées par une distance inférieure à la somme des tolérances des particularités correspondantes, un court-circuit entre elles n'est pas détecté par des systèmes connus de données de base de transition à trois états puisque le court-circuit est en coextension avec les tolérances des particularités. Il serait avantageux de disposer d'un procédé et d'un appareil qui offriraient. lors de la création d'une base de données fondée sur des données d'origine de la conception assistée par ordinateur du réseau à utiliser dans la détection de défauts de cartes de circuits imprimés, la possibilité d'engendrer une base de données de transition pondérée, qui permette une détection plus précise des défauts. C'est le but de la présente invention que de fournir un tel procédé et un tel appareil. C'est donc un but de la présente invention que fournir un procédé et un appareil à utiliser avec des systèmes automatiques d'inspection optique de cartes de circuits imprimés qui offrent la capacité d'engendrer une base de données de tolérances dans laquelle chaque état d'une base de données de transition qui possède au moins trois états est pondéré, et o des pixels adjacents sont groupés d'une manière telle qu'un défaut est indiqué lorsque la somme des pondérations de transition d'un groupe dépasse une valeur de seuil. C'est un autre but de la présente invention que de fournir un système du type mentionné ci-dessus dans lequel chaque signal de pixel exploré est comparé à un signal correspondant de base de données et reçoit une pondération des défauts en fonction des valeurs préétablies d'un état de pixel donné. C'est un autre but encore de la présente invention que de réaliser un système du type précédent dans lequel des pixels sont désignés comme étant dans l'un de quatre états. un premier état. un premier état de transition, un deuxième état de transition. et un deuxième état. C'est un autre but encore de la présente invention que de réaliser un système du type mentionné ci-dessus dans lequel des pixels sont groupés en réseau de N par N qui donnent une pondération totale de défauts et o des signaux de défauts sont engendrés si la pondération totale des défauts dépasse une valeur de seuil. C'est un autre but de la présente invention que de fournir un système du type précédent qui effectue une comparaison des signaux pixel par pixel sous une forme de signaux de données comprimées. C'est un autre but encore de la présente invention que de réaliser un système du type précédent dans lequel des pixels de transition de chaque particularité sont utilisés directement dans la détection de défauts. C'est un autre but de la présente invention que de réaliser un système du type mentionné ci-dessus dans lequel des caméras multiples sont utilisées sans alignement possible et dans lequel une série de marques situées sur un substrat de référence dont les séparations sont connues sont explorées et une valeur de compensation de séparation des caméras est obtenue. Selon un premier aspect de la présente invention ces buts sont atteints au moyen d'un procéde de génération d'une base de données de tolérance à partir d'une base de données nominale de signaux indicative d'une image de particularités du dessin modèle d'une carte de circuit imprimé, ou PCB. lesdites bases de données comprenant un réseau de pixels qui sont soit dans un premier état. l'état noir, soit dans un deuxième état. l'état blanc, lesdites pixels d'état noir correspondants aux particularités du dessin modèle, incluant les étapes consistant à: engendrer une base de données qui inclut des signaux correspondants à au moins un ensemble de valeurs de tolérances de minima et de maxima pour au moins une particularité choisie parmi lesdites particularités de la carte de circuit imprimé; réaliser à partir desdites bases de données. de valeur nominale et de valeur de tolérance, une base de données de minima telle que lesdites dimensions nominales des particularités choisies de la carte de circuit imprimé soient réduites de ladite valeur de tolérance de minima: réaliser à partir desdites bases de données, de valeur nominale et de valeur de tolérance. une base de données de maxima telle que lesdites dimensions nominales choisies de particularités de carte de circuit imprimé soient augmentées de ladite valeur de tolérance de maxima: comparer l'état de chacun des pixels de ladite base de données de minima avec ledit état nominal de pixels: comparer l'état de chacun des pixels de ladite base de données de maxima avec ledit état nominal de pixels: fournir à une base de données de transition de tolérance un pixel d'état noir si les deux états de pixel, minimum et maximum, sont noirs; fournir à ladite base de données de transition de tolérance un pixel d'état blanc si les deux états de pLxel. minimum et maximum, sont blancs; fournir à ladite base de données de transition de tolérance un pixel d'état de transition noir si lesdits états de pixel, minimum et nominal sont différents; fournir à ladite donnée de base de transition de tolérance un pixel d'état de transition blanc si lesdits états de pixel, maximum et nominal, sont différents: caractérisé par les étapes consistant à: assigner à chaque pixel une pondération numérique en fonction de son état; configurer ladite donnée de base de transition de tolérance en réseaux de pixels adjacents; sommer chacune desdites pondérations de pixels dans un premier desdits réseaux de pixels; et établir comme seuil de défaut une valeur de pondération sommée de pLxels de réseau. Selon un deuxième aspect. l'invention réalise un système de génération d'une base de données de tolérance à utiliser dans la fabrication d'un dessin-modèle de carte de circuit imprimé, incluant: une platine pour recevoir un substrat: un chariot mobile par rapport audit substrat; un moyen de déplacement dudit chariot par rapport audit substrat en réponse à des signaux reçus d'un dispositif de commande; une source optique de production d'un faisceau optique d'éclairage: un sous- ensemble optique configuré avec ledit chariot pour diriger ledit faisceau optique d'éclairage sur ledit substrat; une caméra positionnée avec ledit sous-ensemble optique de manière à recevoir une partie dudit faisceau optique d'éclairage réfléchie à partir dudit substrat et à produire des signaux électriques qui en sont des équivalents; un moyen de traitement de signaux pour traiter lesdits signaux de caméra pour former une base de données d'exploration de signaux de pixels, l'état desdits pixels étant, soit noir. soit blanc, en fonction de la présence ou de l'absence, respectivement, d'une particularité détectée du substrat: caractérisé par: Slax!CI p lEU!LUOU 1E12 1!Pal DâAe EWIUIW ap Sauuop ap aseq l!Pl elp slax!ic sap unDuqDa p lel,lJa iduEdwoD V lueAJs uXoLu un :eLw!xtew op aDueJmOl op Jnale, âl!PI ap Sâ1luwtunE lug!os otu!dw!i lDJ!3D op ol p s.l!-ielnD!ped op s!s!otlD Sâlu!wOU suo!isuwtu!p sl!ps$l og Dnb lll EWtuxEuw ap so.uuop op aseq aun 3DuEJilo1 op inâleA op 1 DIEU!tUOU nale,,x p Souuop ap Saseq s1l!psDp -!l3d E - ias!lqi e jUeAl S ueúowu un :uw!u!w op gDu.aolo op inDle^A Dl!pel gp sDl!np-a lua[os wiudwi l!nDJ!D p a E l p sliseD l P s E!s!ot t S. l!tIn!ljd sap sDleuwou suo!suotu!p sol!psâI onb Dll eu!u!tuw p sDuuop ap aseq Dun 'aDuujlol ap jnalel, op l IleU!IUOU 9cj Jnoal,E p 'sâ.uuop op saseq sl!psop!lJed e OslLa E jUAlUs uXowt un tu.dtu! l!nDJ!D opD0L]D El op s.aluelnD!lJed sal!psa[!wud!s!otqo âalul:)1!1ElLEd Dun su!otu ne inod ELuixtu ap la EWLUILU ap SaaUEID1O wp SJnl?^A ap alqtuasua un su!ow ne e sluepuodsaJJoD xneuu!s sap lnlu!i!nb saDuuop ap aseq aun jajpuaua E lueuas uaoow un Oz :auudtu l!nDa!D ap a-iaD El ap Saluelna!iped sal!px-ne sluepuodsa.oD -!ou lEla,p slaXid sl!psal 'Duelq lE1a no 11ua atua!xnap un]!os -.!ou ll3 no El1a a!tuadcl un I!os ala lnad 1ela, lUop slax!d ap nessaJ un lueuazdtuoD saauuop ap sasEq sal!psal SaleUiwou suo!suau!p sap lucpassod sal!-lInDaliEd Sap aunelqD 'aDd no 'Lu!idw! 1!nDi!D ap al->D aun,p alapow-u!ssap ap SalUeIlnD!liud ap aewi aunp AleDI!pu! 91 xneu!s ap aleUiLuou saDuuop ap aseq aun,p uo!1Eauau ap uaXow un :aDzuarjad ap 'arno ua puaidwoDa a wlss aD ÀIn,jap ap l!nas ap nea^!u 1!pal l!eassedap UO!lEOldXa,p saDuuop ap aesq ap naesaJ ap slax!d ap aamwwos uo!lEiapuod al!pel no sie3 nE lnEJp un,p J!luD!pu! leu3!S un, p uo!leujauâ ap uauow un 01 la:uo!lEjoldxa,p sauuop ap oseq ap naEsal np slax-id ap aatuuos uo.laapuod al!PEl ap 'lnejp pa s p e!nas ap nleA al!Pel 'uos!ieJedwoD ap uaow un uolEJoldxa,p sauuop ap aseq ap slaxid ap xnEasa sl!psap uo!l.EJapuod aun iauwoj inod uo!leoldxa,p saauuop ap aseq ap slaxid ap suo!iuapuod Sal!psap aunDEqLD ap uo! oS ap uaXouw un g :sIuaaezfpE slâxid ap x-neszaJ ua uo!ileoldXa,p sa.uuop ap aseq a.tpel ap uo!lEi2n!JuoD ap uDauot un :lEl. uos attwojuoa nnb!.atunu uolleiapuod aunp 'uo!iaoldxa,p saauuop ap aseq ap slax!d sl!psap unDLeqD 'uo!leu!SSe,p uaowtu un un moyen servant à comparer l'état de chacun des pixels de ladite base de données de maxima avec ledit état nominal de pixels; un moyen servant à fournir à une base de données de transition de tolérance un pixel d'état noir si les deux états de pixel, minimum et maximum, sont noirs: un moyen servant à fournir à ladite base de données de transition de tolérance un pixel d'état blanc si les deux états de pixel, minimum et maximum, sont blancs: un moyen servant à fournir à ladite base de données de transition de tolérance un pixel d'état de transition noir si lesdits états de pixel, minimum et nominal sont différents; et un moyen servant à fournir à ladite donnée de base de transition de tolérance un pixel d'état de transition blanc si lesdits états de pixel. maximum et nominal, sont différents; ledit moyen de traitement de signaux de ce système préféré pouvant de plus comprendre. de façon avantageuse: un moyen de classement desdits signaux de pixels en comparant en premier lieu lesdits signaux de pixels à un niveau médian de seuil afin de diviser ladite base de données de pixels en classes d'amplitudes supérieures et inférieures de la valeur du signal de pixel, et en comparant ensuite ladite classe d'amplitudes supérieures à un niveau supérieur de seuil et ladite classe d'amplitudes inférieures à un niveau inférieur de seuil afin de classer chaque pixel dans l'un de quatre états. Le système peut comprendre en outre: un moyen servant à convertir, en un format comprimé, ladite base de données de transition de tolérance et ladite base de données d'exploration: et un moyen servant à comparer ladite base de données comprimée d'exploration avec ladite base de données de transition comprimée de tolérance et à engendrer un signal de défaut à partir de cette comparaison. ladite donnée de base de transition de tolérance et ladite donnée de base d'exploration étant alors. de préférence comprimées sous un format encodé de longueur de lot. Ledit sous-ensemble optique du système peut comprendre en outre une lentille télécentrique pour envoyer audit substrat ledit faisceau optique d'éclairage. Ledit dispositif de commande du système peut comprendre en outre un moyen de déplacement dudit chariot par rapport audit substrat dans une séquence de positions disposées en un trajet sinueux. ladite caméra engendrant des ensembles correspondants de signaux de pixels à entrer dans ladite base de données d'exploration. Ledit sous-système optique du système peut comprendre: une première et une deuxième caméras espacées l'une de l'autre de façon fixe en travers d'une ligne d'exploration sur ledit substrat dans des bandes respectives de substrat d'une manière telle que lesdites deux caméras forment toutes deux des images d'une zone de recouvrement du substrat: un moyen d'identification servant à déterminer des signaux de pixels. venant desdites deux caméras, qui correspondent à ladite zone de recouvrement: un moyen de compensation pour enlever, de ladite base de données d'exploration. des signaux redondants de pixels venant de ladite zone de recouvrement. Dans ce cas, ledit moyen d'identification peut comprendre: un moyen de génération de signaux de correction en comparant l'emplacement des marques explorées de référence situées à l'intérieur de ladite zone de recouvrement avec leurs emplacements correspondants connus. ledit moyen de compensation identifiant comme redondants des signaux de pixels de ladite base de données explorée par comparaison avec lesdits signaux de correction: ledit moyen d'identification pouvant éventuellement comprendre alors: un moyen de génération de signaux de correction en calculant la différence entre une position d'un point de référence dans une première bande de caméra et une position correspondante de point de référence dans une deuxième bande, ledit moyen de compensation ajoutant un signal de correction correspondant à la position de chaque signal de pLxel. Ledit sous-système optique du système peut comprendre en outre: un moyen d'éclairage adaptatif servant à maintenir une brillance constante du faisceau d'éclairage et incluant un moyen d'envoi de signaux de commande de brillance à ladite source optique; un moyen de génération d'un histogramme d'intensités de signaux de pixels à une brillance de référence de faisceau d'éclairage; un moyen de détermination du nombre total de pixels dudit histogramme; un moyen de calcul de seuil pour calculer le nombre de pixels d'histogramme qui constituent un pourcentage choisi des intensités maximales de signaux de pLxels et une valeur d'échelle des gris d'intensité de pixel au-dessus de laquelle sont situées des intensités maximales de signaux de pixels; un moyen de calcul de moyenne pour déterminer l'intensité moyenne dudit pourcentage choisi des intensités maximales de signaux de pixels; un moyen de comparaison de ladite brillance de référence du faisceau d'éclairage avec une brillance actuelle du faisceau d'éclairage et de calcul d'un signal de correction de brillance à partir de cette comparaison: et un moyen de génération d'un nouveau signal de commande de brillance à partir dudit signal actuel de commande de brillance et dudit signal de correction de brillance. Dans ce cas, ledit moyen de calcul de seuil du système peut comprendre un moyen de calcul dudit seuil selon l'équation suivante: Seuil = (int) (fraction * (double(n); o la fraction est égale à 0.05 et n est égale à la somme de tous les intervalles d'histogramme. et/ou ledit moyen de calcul de moyenne peut comprendre: un moyen de calcul de ladite intensité moyenne supérieure à la valeur choisie de pourcentage. selon les équations suivantes: cumm = O moy = 0: pour (i = 255. i≥ 0; --i) cumm += hislt[il; moy += (long)hisLt[il* (long)i; Si (cumm ≥ seuil) break: mamoyenne = (in)(moy/(long)cumm) maxmoyenne = (int)(moy/(long)cumm); nalE^,% al!pel L? puocdsJioD âl!SUalU!,p JnlE^A Ul luop 'sioldxD slDxid ap Dl!ecl al!Pel aJluD âuuo!l!so(l '!e!p.tU.lilu! lIx!d op lEU!S un,p InDlf D op uXomuw un la sluDefrl)e soJoldxâ slxid ap xneu'!s OE ap s$!ed sil!psap. sl!sualU!,p Duu otu -noleA aun,p InDleD ap uXow un :SlauDerpe sDoldxa slx!d op xneuô!s ap s$ogecl sap inod.l!UsulU!,p JnleA aunp uo!leu!iu.lp ap uaoUow un :nlDun!nb uoll!luetLD.,p uo!llodglu!,p uâ otu un DipuaJdtuoD lnod wtUals$s np xneup!s ap lUiwLUl!e.Jl op uaotu l!Ppa SZ leJlsqns np uo!sJols!p el!su!e lueu!w!l. ua xne.p! sluDtuoDeldtua sJnIl 1 Slax!dc sap lutLuuuo!l!sod al gJluo saDuoJJJ!p s$1nol Ju!tU!il, p u!je oa.ooldx saauuo p OSp seq Op xneup!s sl!psâl DA^e lilsqns ap uo!sJols!p el V aa!l UOileSUaCtwuoz ap S.alnDle xneup!s sl!psap uos!eu!qLuoo op uaâotw un l:uos!enedtuo al!Pel ap uo!lDuoj ua slax!dc sp luatwuuo!l!sod ap leJlsqns oz ap uo!sJols!p el e aa!l 'uo!lesuadwoD ap xneu!s ap InDleD op uaotuow un :salep! sax!lela suo!l!sod sap aaae lUaaWU'eIj,p sanbJetu sap sa.alnIDt salela.i- suo!!isod sap uosieJedwuoD ap uaow un :sa.lne xne ploddej wed saun sOl ljlsqns ap 1uLUtu'a!le,p saaJoldxa sanbJeuw sal!psap uo!l!sod el op InDlea ap uaotu un 91 :le. lsqns l!pal ins aaLUaoJ lsa atUw!,l luop luatUaUlle,p sanbrnw sap luapuodsaUoD!nb uo!leJoldxa,p saauuop ap aseq aun,p slax!d ap xnLeup!s ap UoleD!Jiluap!,p uaotow un :InlDU!!nb 'leJlsqns np UO!iSJOsl!p el e aaIl Uo!leSuadwoD aun,p Uo!leS!leaJ ap uaXotu un 01 aoipuaJdcwoD lnad atUalS S np xneuu!s ap lUDwâl!e- l ap uaúow l!Pa1 luowanbudwua a. u!iuualap alUElsuoz aun lso, la azuell!iq ap uo!lDamoD ap leUl!s np inaleA el e puodsioa,,uolao,,'l luelsu! un aDuelljq ap apuetuwoD ap leuu!s np allanle JnalelA el, puodsaDooD I,, 13o I À (I-) + 1 À UO!lO. uo:), >* = 1+91 :alUeA!ns uo!lenba,I uolas auelluq ap apuEtutuoa ap IeU!iS nEaanou 1!pnp InDle3 ap uaXow un :aJpuaidwuoD lnad auialss al no/la :auuaXow.1uu,, osulu,,l a s.uP sap all1atta,p -naleAl sa, wunD,, no moyenne d'intensité, en accroissant ainsi la densité de pixels de la base de données explorée. Ledit moyen de traitement de signaux du système peut comprendre un moyen de réalisation d'une compensation liée à une erreur répétitive de commande de mouvement, qui inclut: un moyen de création d'une base de données de pixels explorée d'un substrat d'alignement qui contient une séquence de marques d'alignement: un moyen de mesure des positions relatives desdites marques d'alignement dans ledit substrat d'alignement: un moyen de comparaison desdites positions mesurées relatives des marques d'alignement avec des positions relatives idéales: un moyen de calcul de signaux de compensation. liée à la commande du mouvement, de positionnement de pixels en fonction de ladite comparaison: et un moyen de combinaison desdits signaux calculés de compensation liée à la commande de mouvement avec des signaux de base de données explorés à partir d'un substrat. en éliminant ainsi une erreur répétitive de commande de mouvement. Ledit moyen de traitement de signaux du système peut comprendre un moyen de réalisation d'une compensation liée à des défauts du sous-systLéme optique, qui inclut: un moyen de création d'une base de données de pixels d'un dessin-modèle de calibrage dont l'image est formée par le sous-système optique: un moyen de mesure des positions relatives de marques d'alignement dans ladite base de données de pixels du dessin-modèle de calibrage: un moyen de comparaison desdites positions mesurées relatives de marques d'alignement avec des positions relatives idéales: un moyen de calcul de signaux de compensation liée à un défaut optique en fonction de ladite comparaison; un moyen de réalisation d'une compensation liée à la distorsion du substrat, qui inclut: un moyen d'identification de signaux de pixels d'une base de données d'exploration qui correspondent à des marques d'alignement dont l'image est formée sur ledit substrat: o0p!A aDetla!JJe,p sluepuoclsaiJoD xnpuE!$s sap!.D-xnaD ap!lIctl e IaJpuaDua e la eL.aDL ap xneu!s sl!psaI J!oAaaDaJ oicle op!,x I!nas un,p luaLauss!lqelg,p uaow un 0C aipuajdwoD lnad awals s aq au!leld pl!Pel e. uodclej]ed anb!ldo atw.alss l!pal la loetla l!pal aaDeldDp nlloCl puetwuwoD ap xneuu!s sap -aipuaDua inod inaelnd!uewoJ!tw ap uaotu un aJpuaJdtuoD lnad a)uwlsús al À!J!luap! 1flneJP anbetiD gZ ap soad anbeuu aul JaSileaJ inod lOHutD 1!pal p ns.axlIJ JnanbJeLU uaotU Un aJpuJdwoD Inoad aLualss al- atuâls s ap in.uâa aun isu!e luu!tu!la ua 'xnegp! sluatuaDeldwta sap Daae uos!eJectuoD Jed slaxid op luatuauuoil!sod al suerp saDuaJJJ!p Salnol Jauttu!l,p u!Je oagoldxa aseq ap suuop suuop Lxneu!s s1!psal Daae, snoI 'leJlsqns np oz uo!sJols!p un l o9!1 uo!lesucltUOD ap sflnDleD xtLeu!is Sl.psal Daae 'anb!ldo lneJp un ? ag!l uo!lesuadtuoD op s91nDleD xneu'!s sl!psal Daae luawUaAnotu ap apueLutuoD el ? a!l uo!lesuDdtuoD ap s1nDleaD xneuo!s sl!psap uos!eu!qwUoD ap uaXow un la:uosieJEdwouoD al!pel ap uo!lDuoj ua slaxid ap luawauuo!l!sod ap 'luauaAnow np âpuewwoD el e? o9!l uo!lesuadwoD ap xneuo!s ap InDleD ap ua,(ow un 91 :saILep! sA^!lelaJ suo!l!sod sap za,e luaLauup!le,p sanbJetu sap saajnsow sa!elzlj suo!l!isod sal!psap uosieJedLuoD ap uaow un :luawaui. le,p leisqns 1!Pol suep luaLuauu!le,p sanbJetw sal!psp sa.!lelaJ suo!l!sod sap aJnsatu ap uaXow un :lutuuP!le,p sanbJetu ap oauanbos aun luluoD!nrib lutuzau!le,p leJlsqns Ol un,p DDioldxa slax!d op saauuop ap aseq aun,p uo!leaJD ap uâXow un :lnlu!!nb 'luwaanowu ap apueLwwoD ap DA!l!ada1 Jfna0 Dun e ail uo!lEsuadwoD aaul,p uo!ls!leSaJ ap uaXow un :uos!eJeduwoa al!Pel ap uo!lDuoj ua slax.d sap luauauuo!l!sod ap 'lejlsqns ap UO!iSJOsl!p el e a!l 'uoilesuadtuoa ap xn-eu'!s ap InlfeD ap uaow un g SOlIeap saA!lelaI suo!i!sod sap Zaae luatuau!le,p sanbetu sap SaalnDleD sam!lelaJ suo!lisod sap uos!e.eduwoa op uaXow un :sa.nqn xnLe poddeJ ied saun sal lelsqns ap lUatUau3!Iep sDDioldxa sonbemw sl!psap uo!l!sod el ap InDleD ap uaXotu un 08T T Z un affichage vidéo apte présenter visuellement à un opérateur lesdits signaux ajustés d'affichage vidéo et à recevoir de l'opérateur des signaux d'ordre pour ajuster l'amplitude des signaux d'affichage vidéo, en ajustant ainsi le seuil d'affichage de pixels. Le système peut comprendre un moyen de convolution de la somme des pondérations de défauts pour un réseau avec les pondérations de défauts de chaque réseau adjacent lorsque les pixels desdits réseaux sont spéciaux. Le système peut comprendre un moyen de regroupement de la pondération de défaut de cellules adjacentes afin de former une grande cellule unique à pondération globale de défaut. Ces buts, particularités et avantages de la présente invention ainsi que d'autres ressortiront mieux de la description qui suit d'un mode de réalisation préféré de la présente invention et des dessins annexés dans lesquels: la Fig. 1 est un schéma simplifié illustrant plusieurs dispositifs utilisés dans la fabrication d'une carte de circuit imprimé, ou PCB. La Fig. 2 est une illustration simplifiée du fonctionnement d'une partie d'un système d'inspection optique automatique réalisé conformément à la présente invention. La Fig. 3 est une illustration schématique détaillée d'un algorithme exécuté par le système de détection de défauts selon la présente invention. La Fig. 4 est une illustration simplifiée d'une séquence de lignes d'exploration qui comporte une particularité d'élément de carte de circuit imprimé représentée sous la fomle de pixels d'une méme couleur. La Fig. 5 est une illustration d'une image de la particularité de carte de circuit imprimé de la Fig. 4 dans laquelle ont été ajoutés des pixels noirs. blancs, et des pixels de transition. La Fig. 6 est une illustration schématique en perspective d'une partie d'un système d'inspection optique automatique réalisé conformément à la présente invention. La Fig. 7 est une vue de face d'une partie du système de la Fig. 6. La Fig. 8 est une première vue en élévation du système de la Fig. 6. La Fig. 9 est une deuxième vue en élévation clu système de la Fig. 6. La Fig. 10 est une illustration simplifiée d'un agencement de lentille télécentrique utilisé avec le système de la Fig. 2. La Fig. 11 est une illustration schématique simplifiée d'un dispositif de commande 168 de système utilisé avec le système d'inspection optique automatique de la Fig. 6. La Fig. 12 est une illustration schématique représentant la mise en oeuvre d'un algorithme exécutée par l'appareil d'éclairage adaptatif réalisé selon la présente invention. La Fig. 13 est une illustration simplifiée d'une partie d'une variante de mode de réalisation d'un système d'inspection optique automatique réalisé selon la présente invention. La Fig. 14 est une illustration schématique d'un algorithme de commande d'un faisceau d'illumination exécuté par le système de la Fig. 6. En se référant maintenant à la Fig. 1. il est représenté sous forme schématique simplifiée une série de dispositifs représentatifs d'un système global 10 utilisé dans la fabrication d'une carte de circuit imprimé ou PCB. Typiquement, les circuits à fabriquer sur la carte de circuit imprimé sont engendrés en utilisant un appareil de conception et de fabrication assistées par ordinateur, ou système de CAO/FAO. représenté par la case 12. qui engendre un fichier de données qui contient un schéma de l'implantation des circuits de la carte de circuit imprimé. Les circuits sont configurés sous la fome de particularités géométriques dans le fichier de données de conception et de fabrication assistées par ordinateur. Ces particularités comprennent une série de primitives, par exemple des cercles. des triangles. des rectangles. etc. Chaque particularité est créée à partir de la donnée d'origine de conception assistée par ordinateur en interprétant les commandes de données de la conception assistée par ordinateur pour projeter et tracer. ou "flash" et "draxv" respectivement selon les termes anglo-saxons. en liaison avec les ouvertures de données de conception assistée par ordinateur. Un ordre de projeter place une ouverture à un emplacement unique. tandis qu'un ordre de tracer déplace une ouverture depuis une position de départ jusqu'à une position d'arrèt en remplissant sur le parcours. La donnée de conception assistée par ordinateur est ainsi engendrée d'une manière vectorielle. A la case 14, ce fichier de données est entré dans un processeur qui engendre l'implantation physique de la carte de circuit imprimé. Les dimensions du fichier correspondant de données sont très importantes. de sorte que la majeure partie des systémes utilisent l'une des nombreuses techniques connues de compression de données. Ces techniques utilisent divers formats à encodage de longueur de lot, ou RLE, ou des formats équivalents. Ce fichier de données est ensuite amené à une série de dispositifs, y compris un dispositif appelé phototraceur 16 utilisé pour fabriquer le dessin-modèle nécessaire pour produire la carte de circuit imprimé. Le phototraceur est typiquement un dispositif d'imagerie directe par laser ou LDI. Le dispositif d'imagerie directe par laser déplace la tache de balayage du faisceau laser d'exposition par rapport à une platine d'écriture et module le faisceau pour le mettre hors service ou en service selon les ordres de la donnée d'entrée. Quand la ligne a été tracée, la platine est déplacée d'une quantité égale à la résolution. c'est-à-dire 12.7 microns ou 1/2 mil. et la ligne suivante est tracée. Le processus se poursuit jusqu'à ce que toute l'image soit exposée sur le film. Pour une image de carte de circuit imprimé en grandeur nature, il se produit 52.000 balayages qui consistent chacun en 40.800 bits. 5.000 octets. ou 2.500 mots de 16 bits. Enfin. à la case 18. la carte de circuit imprimé est fabriquée en utilisant un équipement connu. Afin d'essayer la carte de circuit imprimé quant à des défauts, une version de tolérances de la donnée de conception assistée par ordinateur, sous forme d'un fichier de données comprimées, est également fourni à un système de détection 20 de défauts de cartes de circuits imprimés. par exemple le système de détection de défauts model 1850 cité ci-dessus. Comme décrit de façon détaillée ci- après. le model 1850 décomprime la donnée pour lui rendre le format de réseau afin d'engendrer une image de référence de la carte de circuit imprimé. L'image est utilisée avec le présent système pour éLre comparée à une image explorée de la carte cde circuit imprimé afin de situer des défauts qui peuvent ensuite étre vérifiés à une station de vérification 22. En se référant maintenant à la Fig. 2. il y est représenté une illustration simplifiée du fonctionnement d'un système de détection 23 de défauts réalisé selon la présente invention. En résumé, le système reçoit des données de conception assistée par ordinateur qui correspondant à la conception d'origine de particularités dimensionnées nominalement de la carte de circuit imprimé, case 24. A partir de ces données sont crées deux bases de données qui correspondent à des particularités de la carte de circuit imprimé et présentent les dimensions maximales et minimales admissibles, respectivement, aux cases 26, 28. Ces bases de données sont comparées. à la case 30. et une base de données de tolérances, à états multiples, est engendrée à la case 32. La Fig. 3 est une illustration schématique détaillée d'un algorithme 34 exécuté par une partie du système de détection 23 de défauts utilisé pour situer des erreurs dans une carte de circuit imprimé ou dans un dessin-modèle du carte de circuit imprimé. Selon le mode de réalisation préféré, le système engendre, d'une manière qui sera détaillée dans ce qui suit, à partir de données RLE à deux états, le noir et le blanc, une base de données de transition, ou TDB, à données RLE à quatre états: le noir, la transition de noir, la transition de blanc, le blanc. L'homme de l'art notera que la présente invention peut également être mise en oeuvre avec des systèmes dans lesquels la base de transition comprend trois états ainsi qu'avec des systèmes dans lesquels le nombre des états dépasse quatre. A la case 36, une donnée qui correspond aux particularités nominales d'une carte de circuit imprimé sont fournies par un système de conception assistée par ordinateur dans un format équivalent à la base de données Gerber, ou GDB. Les particularités de la carte de circuit imprimé sont représentées sous former de primitives géométriques, comme décrit ci-dessous. Deux bases de données de tracé de réseau, ou RPD, sont créées aux cases 38. 40 en utilisant des données de tolérances de particularités fournies par un fichier de données de tolérances, à la case 42, en plus d'une base de données RPD contenant les particularités nominales à la case 44. A volonté, la présente invention produit des tolérances différentes non seulement pour des particularités différentes. mais aussi pour des exemples individuels cde particularités spécifiques. Le fichier de données de tolérance contient des valeurs minimales et maximales de tolérance pour les particularités de la carte de circuit imprimé. Les données sont ensuite décomprimée sous une forme de réseau, à la case 48. pour chacune des valeurs de tolérances et des valeurs nominales. La majeure partie des ordinateurs n'offre pas la possibilité de tenir dans la mémoire principale une grande image de réseau. Par exemple. une image cde carte de circuit imprimé de 457.,2 sur 609,6 mm, ou 18" x 24" à une résolution de 12,7 p. c'est-à-dire 0.5 mil, exige plus de MB de mémoire. Par conséquent, le système convertit l'image RLE à un format hybride de réseau en blocs de lignes d'exploration d'une manière qui est détaillée dans le brevet des Etats Unis N' 5 163 128 cité plus haut. Chaque bloc de lignes d'exploration est ensuite décrit par une liste de courses et un bloc de données de réseau. L'appareil d'établissement des tolérances de données reçoit les bases de données RLE en format hybride et les compare les unes aux autres. pixel par pixel. Une nouvelle base de données de tolérances de réseau, à quatre états, c'est-à-dire quatre couleurs, est engendrée. à la case 50. à partir des pixels comparés. Les pixels comparés et les pixels de la base de données sont chacun de l'une des quatre couleurs suivantes: noir. transition de noir. transition de blanc et blanc. Dans la base de données de réseau de tolérances. en supposant une polarité positive du substrat. circuit = noir: N tolérances intérieures = transition de noir: NT tolérances extérieures = transition de blanc: BT arrière plan = blanc: B. Dans les données explorées, trois seuils sont appliqués. En premier lieu, un seuil médian est appliqué. Ensuite, des seuils sont appliqués sur chaque côté du seuil médian pour caractériser des "pixels de transition". Ici aussi. en supposant une polariné positive. au-dessous du seuil bas = noir entre seuils bas et médian = transition de noir entre seuils médian et haut = transition de blanc au-dessus du seuil haut = blanc. Ensuite, la base de données de tolérances de réseau est recomprimée. à la case 52. de préférence en format RLE. pour donner à la case 53 une base de données comprimée, incluant des tolérances, à utiliser par le système pour détecter des défauts de la carte de circuit imprimé. L'effet de ce processus d'établissement de tolérances est vu au mieux en se référant aux Fig. 4 et 5. En se référant en premier lieu à la Fig. 4. il y est représenté une vue de dessus d'une partie d'une particularité 54 d'un dcssin-modèle d'une carte de circuit imprimé qui représente un dispositif sur une carte de circuit imprimé. Des lignes d'exploration 55 à 63 doivent être écrites sur le dessin-modèle de la carte de circuit imprimé. Chaque ligne d'exploration comprend un réseau linéaire de pixels. La ligne d'exploration 55 et 56 est à l'extérieur de la particularité, et ses pixels sont donc tous "clairs" à la figure. ou des pixels "blancs" dans l'image de base de données. Des lignes d'exploration 57 à 61 incluent la particularité de carte de circuit imprimé et chacune comprend des pixels "blancs" 64 suivis par des pixels "noirs" 65. suivis par des pixels "blancs" 66. Les lignes d'exploration 62. 63 ne comprennent que des pixels "blancs" puisqu'elles sont à l'extérieur de la particularité de carte de circuit imprimé. Comme noté ci-dessus, la présente invention réalise une base de données transitionnelle dans laquelle des particularités d'un dessin- modèle d'une carte de circuit imprimé, existant dans une base de données de référence. sont modifiées pour inclure des tolérances dimensionnelles correspondantes. Pour le systime 23, une tolérance globale de particularités intérieure/extérieure peut ètre prédéfinie en amplitude. En revanche, une différence importante entre la présente invention et l'art antérieur est l'aptitude à réaliser des tolérances différentes pour des particularités différentes. La Fig. 5 contient la particularité de carte de circuit imprimé, représentée à la Fig. 4, après le traitement par la présente invention en utilisant une valeur choisie au préalable d'un pixel pour une tolérance. Des pixels noirs représentent des zones d'images dans lesquelles la configuration doit apparaitre. des pixels blancs représentent des zones de l'image dans laquelle la configuration ne doit pas apparaitre. Aux bords de la particularité se trouvent deux pixels "gris" qui correspondent à des tolérances intérieures/extérieures ou à des variantes acceptables de la configuration. A la Fig. 5. la région 67 correspond à la partie de particularité qui doit apparaitre. La région 68 est une zone nominale de cette particularité tandis que la région 69 représente la plus grande superficie sur laquelle la particularité peut apparaitre. Les régions 68 et 69 correspondent aux régions de transition de noir et de blanc. respectivement. Comme noté ci-dessus, la présente invention offre la possibilité d'établir des tolérances individuelles pour chaque particularité. Par conséquent. la particularité rectangulaire 54 peut recevoir une tolérance de un pixel pour chaque transition. comme représenté à la Fig. 5. tandis qu'une autre particularité, par exemple un cercle, peut être pourvue d'un nombre plus grand de pixels de tolérances. De plus. chaque fois que la particularité est répétée dans le dessin-modèle de la carte de circuit imprimé, elle peut être engendrée avec un nombre de pixels de tolérance au choix de l'utilisateur. Cette particularité de la présente invention est réalisée en accédant à la donnée de tolérance trouvée dans le fichier de données. 42 à la Fig. 3, pour chaque particularité. Dans le mode de réalisation préféré. l'accès au fichier de données de tolérances est effectué pendant la génération des bases de données de tracé de réseau à dimensions excessives ou insuffisantes. Dans le mode de réalisation préféré, la valeur de tolérance pour chaque particularité est exprimée en pourcentage d'une dimension. X ou Y sous forme d'une table à consulter, appelée plus simplement table dans ce qui suit. Par exemple. la particularité 54 doit présenter une tolérance uniforme d'un pourcentage fixe dans les deux dimensions X. Y. L'algorithme préféré accède au fichier de données de tolérances, pendant la génération des bases de données de tracé de réseau à dimensions excessives ou insuffisantes. Lorsqu'une particularité est rencontrée pendant le processus de génération. la base de données de tolérances est interrogée pour voir quelles sont les valeurs de tolérances correspondantes. Par conséquent. les dimensions de cette particularité sont modifiées du pourcentage ou des pourcentages choisis. Le même processus est exécuté pour la particularité suivante ou pour une particularité ultérieure. les quantités étant indiquées dans le fichier de données de tolérances. Comme exposé ci-dessus. l'image est traitée en blocs de lignes d'exploration. L'homme de l'art comprend qu'une attention spéciale doit être apportée aux frontières entre blocs et que ces conditions de frontières sont traitées d'une manière connue. Pendant le fonctionnement. chaque pixel exploré est comparé à un pixel de base de données et reçoit une pondération de défauts sur la base du tableau suivant: E BASE DE DONNEES X N NT BT B P N 0 0 1 200 L NT 50 0 0 50 O BT 50 0 0 50 R B 200 1 0 0 E Les pondérations de ce tableau sont configurables par l'utilisateur. Les pondérations réelles sont sélectionnées afin d'améliorer la détection de défauts et de minimiser les "fausses alarmes" là o des signaux de défauts sont engendrés lors de l'exploration de substrats acceptables. Afin de minimiser le volume de données. des pondérations de défauts sont sommées à l'intérieur de réseaux formes par N x N cellules ou "casiers", traduction littérale du terme anglo-saxon "bins". de pLxels. Un algorithme de convolution est exécuté par le dispositif de commande de manière que la pondération d'une cellule donnée soit affectée par les pondérations de ses voisines. Un "seuil de défaut" est appliqué pour déterminer si la pondération d'une cellule donnée est suffisamment haute pour étre considérée comme contenant un défaut réel. Des cellules qui dépassent le "seuil de défaut" sont rassemblées avec des cellules adjacentes en défauts "réels". Avec le présent systéme. il existe une étape de regroupement qui suit la comparaison des données d'exploration et des données basées sur la conception assistée par ordinateur. Les pixels sont groupés en régions sur la surface de substrat. Selon le mode de réalisation préféré les pixels sont groupés en réseaux. ou "casiers" de 32 par 32 pixels, chaque couleur recevant une certaine pondération. Quand l'étape de regroupement est achevée, le présent systéme détermine si la somme des pondérations de ce casier particulier de pixels dépasse une certaine valeur de seuil indicative de la présence d'un défaut dans ce casier. L'addition de l'étape de regroupement et de l'agencement de pixels marque un point important de différence de la présente invention vis-à-vis de l'art antérieur. Dans la forme de réalisation préférée, le présent système execute la comparaison de données CAD- SCAN, additionne les pondérations de pixels et compare ceux-ci avec un seuil de défaut seulement après lue les modèles RLE des données CAD et d'exploration sont disponibles. L'homme du métier observera que l'affectation d'une pondération à chaque pixel et l'addition des pondérations de pixels peuvent, dans d'autres formes de réalisation. étre executees à d'autres moments et dans d'autres séquences que ceux prévus dans le mode de réalisation préféré. Avec les systèmes de l'art antérieur à trois états, il est concevable qu'un court-circuit entre des particularités adjacentes ne soit pas détecté si l'espacement entre les particularités est inférieur à la largeur de la région de tolérance. Ce problème est évité avec la présente invention. Les données CAD sont comparées aux données explorées pour engendrer une base de données transitionnelle à quatre couleurs ayant deux couleurs de "gris". Contrairement aux systèmes antérieurs tels que celui décrit dans le brevet US-A-5 163 128. les parties de tolérance de la particularité ne sont plus considérees c omme constituant des régions "indifférentes" o les pixels peuvent étre soit noirs. soit blancs. Des pondérations sont associées aux défauts de pixels dans les zones de transition, et donc des défauts peuvent être trouvés dans les régions de transition. La présente invention réalise une comparaison complète de réseau et une base de pixel par pixel. bien que leur comparaison soit effectuée dans un format comprimé. La base de données de conception assistée par ordinateur se fie à une génération vectorielle de particularités, d'un type connu dans l'art. Ultérieurement. les valeurs de tolérances des deux couleurs additionnelles liées aux tolérances. c'est-à-dire le gris léger et le gris sombre, sont ajoutées comme décrit ci-dessus. La donnée de conception assistée par ordinateur est ensuite convertie en un format encodé de longueur de lot en utilisant un processus de conversion de vecteur à réseau dans lequel la séquence de lignes d'exploration est engendrée sous une forme comprimee. de préférence un format de donnée à encodé de longueur de lot. Par suite de ce qui précède, les tolérances peuvent étre différentes pour des particularités différentes. On peut donner par exemple une tolérance plus fine pour une ligne de 127 microns, ou 5 mil. que pour une ligne de 1,270 mmin. ou 50 mil. La différence des tolérances est automatiquement incorporée dans la séquence à encodage de longueur de lot qui crée, essentiellement, une "mer de pixels". La donnée d'exploration dérivée est également recléduite à un format die longueur de lot. Le système actuel effectue la comparaison entre la donnée de conception assistée par ordinateur et la donnée d'exploration toutes deux en format comprimé, à la différence de tous les systèmes de l'art antérieur qui se fient à une implantation de bits de pixels dans une comparaison de pixel par pixel. La technique de comparaison de la présente invention marque une différence importante entre la présente invention et l'art antérieur. L'utilisation d'une donnée comprimée permet une réponse très rapide et réduit les exigences concernant le microprocesseur et la mémoire du présent système au point que le présent système peut utiliser des stations de travail plus petites, et d'un coût moindre, et des ordinateur personnels. ou PC. à la différence du matériel spécialisé nécessaire pour l'art antérieur. L'homme de l'art note que des dispositifs de l'art antérieur manipulent des images d'implantation de bits du substrat et emploient un matériel spécialisé pour réaliser une détection de défauts. Dans certains systèmes connus. des signaux vidéo venant d'une caméra sont amenés dans un bus vidéo à une série de cartes, explorées chacune pour un type unique de défaut, par exemple une encoche de ligne, etc. Les cartes du processeur envoient des signaux de défauts en vue d'un traitement ultérieur à l'ordinateur serveur. Ces systèmes de l'art antérieur souffrent de ce qu'il faut configurer de nouveau le matériel et le logiciel pour chaque carte si la configuration du substrat varie. Puisque ce sont des données vidéo non comprimées qui sont traitées. des systèmes de l'art antérieur exigent, afin de compléter le processus de détection de défauts dans un temps raisonnable, des quantités importantes de mémoire et des processeurs rapides que l'on trouve sur des matériels spécialisés. En se référant maintenant aux Fig. 6 et 7. il y est représenté une illustration en perspective d'une partie du système 23 réalisé selon la présente invention. Il existe dans le mode de réalisation préféré, un sous-systLème de transport qui est basé sur un système photo-traceur GSC 44. commercialisé par le titulaire de la présente invention. Le système comprend une base (non représentée) sur laquelle est fixé un chariot 70 à cadre 72 comportant des éléments horizontal et vertical 73. Le chariot se déplace sur la table le long d'une poutre stationnaire 71. Une table 75 de substrat se déplace le long de rails en acier, non représentés, perpendiculaires au chariot. Des servomoteurs en X et en Y commandent indépendamment le positionnement de la table et du chariot. Les servomoteurs sont commandés par uin dispositif de commande (non représenté) du système qui reçoit des impulsions pas-à-pas venant d'une carte de commande d'entrée/ sortie. ou E/S associée au dispositif de commande. Des encodeurs linéaires de table de chariot réalisent une rétroaction de position à la carte de commande d'entrée/ sortie. Un micromanipulateur est en interface avec la carte de commande d'entrée/ sortie pour le positionnement de table et de chariot. La direction préférée d'exploration est un grand axe 88 perpendiculaire au chariot. L'exploration du substrat est effectuée selon un mouvement sinueux. La table et le chariot s'étendent de façon à permettre une zone d'inspection de 558,8 x 711,2 mmin, ou 22" x 28" et une dimension de substrat de 609,6 x 762.0 rm. c'est-à-dire 24" x 30". La table inclut un système de brochage Lenkite qui inclut une combinaison de broches fixes et de coulisseaux. Un système de vide puissant est employé pour retenir des milieux de substrats dont l'épaisseur peut aller de 101.6 microns à 6,35 mm, c'est- à-dire de 4 mils à 0.25 " Sur la surface horizontale du cadre de chariot se trouve un ensemble 76 de sources lumineuses décrites ci-après, qui incluent deux sources lumineuses. Sur la surface verticale du cadre de chariot est fixé un sous-ensemble optique 78 comprenant une série de lentilles de Fresnel 80, 82 et d'une ouverture 84 (mieux visible sur les Fig. 8 et 9) pour l'éclairage d'un substrat 86 situé sur la platine ou table. Dans l'élément vertical sont ménagés des fentes qui reçoivent des pinces de hauteur 94 qui commandent le décalage du sous-ensemble optique par rapport au substrat assuré par un mécanisme tournant d'ajustement de hauteur. Le décalage réel est indiqué sur une jauge à cadran 96 dans le mode de réalisation préféré. L'homme de l'art comprend que d'autres configurations peuvent atre substituées de façon équivalente. Les Fig. 8 et 9 représentent des vues en élévation du côté gauche et du côté droit du système 23. Le coffret de sources lumineuses comprend deux sources optiques séparées, de préférence des ampoules à halogène qui ne sont pas représentées. Une ampoule réalise un éclairage diffus pour des substrats commne un film qui exige cet éclairage. tandis que l'autre réalise un éclairage spéculaire pour des substrats hautement réfléchissants comme du cuivre. Chaque source optique présente sa lumière à la tète de lumière spéculaire 98 et aux leètes à fibres optiques de diffusion 100, 102, au moyen de coupleurs séparés 104, 106. à fibres optiques. La lentille de Fresnel 80 est apte à présenter la lumière à une ouverture de lumière diffuse 108 avant la présentation finale aux tltes optiques à fibres à lumière diffuse. La lumière est colmatée et envoyée sur le substrat à l'aide de deux lentilles biconvexes de condensation. Un axe optique 110 définit le trajet le long duquel la lumière se déplace vers le substrat lorsqu'elle est mise en oeuvre en mode d'éclairage spéculaire et à partir du substrat dans les deux modes d'éclairage, diffus et spéculaire. Le long de l'axe optique se trouve une caméra 112 qui reçoit une lumière réfléchie qui vient de la surface et traverse la lentille de Fresnel 82 et la lentille d'exploration 114. Un éclairage spéculaire le long de l'axe optique est réalisé à l'aide du coupleur spéculaire à fibre optique qui est, dans le présent mode de réalisation. configuré avec la caméra qui est de préférence une caméra EG&G du type 1912 CCD. Sur la tète d'exposition optique est de plus monté un ensemble d'orientation 116 de lumière qui est déplacé à une distance choisie au préalable tant du substrat que de l'intersection de l'axe optique avec la surface du substrat. L'ensemble d'orientation de lumière contient une diode électroluminescente ou une autre source lumineuse exigée pour éclairer une partie du substrat pendant le processus d'alignement et d'initialisation, d'une manière détaillée ci-après. Le mecanisme de marqueur à l'encre, non représenté. peut lui aussi étre monté sur la tète optique. La carte de commande d'entree/ sortie commande le fonctionnement de ce dernier par un port de sortie à 1 bit. Une pellicule 118 est utilisée comme séparateur de faisceaux pour les applications dans lesquelles les faisceaux réfléchis et les faisceaux d'éclairage doivent eétre divisés. La pellicule est fixée de façon mobile sur un ensemble 120 d'enlèvement de pellicule qui inclut un électroaimant 122. La lentille d'exploration 114 est de préférence un ensemble otique télécentrique. D'une manière bien connue dans l'art, une lentille télécentrique est une lentille dans laquelle l'arrét d'ouverture est situé au foyer avant. de sorte que les rayons principaux sont parallèles à l'axe optique dans un espace d'image. ou à la pupille de sortie à l'infini. L'ensemble optique est prévu téléecentrique est prévue dans la présente invention pour assurer que des variations d'épaisseur de la région du substrat en cours d'analyse ne provoquent pas de variation du foyer. Un exemple de l'ensemble optique télécentrique préféré 142 est représenté en liaison avec la Fig. 10. Il y est représenté des lentilles 144 à 150. qui sont rectifiees de façon à assurer que des rayons 152. qui sortent des points 154, 156 de l'objet 158 qui sont décalés par rapport à l'à-xe optique 160. coupent le plan de l'image 162 selon le même angle, 164. quel que soit le décalage 166 par rapport à l'axe optique. La Fig. 11 est une illustration schématique simplifiée d'un dispositif de commande 168 de système utilisé avec le système d'inspection optique automatique de la Fig. 6. Un ordinateur serveur 170 communique avec une unité centrale de traitement, ou UCT. 172. par l'intemrmédiaire d'une liaison sérielle nomlalisée RS 232. qui est la ligne 174. L'unité centrale de traitement. qui est de préférence un processeur de marque INTEL 80386 ou de génération ultérieure. communique par l'intemlédiaire d'un bus classique 176 de signaux adresse et type, ou AT. avec d'autres composants électriques associés au dispositif de commande. Ceux-ci incluent une alimentation en énergie 178 ainsi qu'un encodeur de donnée et une mémoire 180. L'encodeur de donnée et la mémoire communiquent aussi par l'intermédiaire d'un canal de données à interface pour petits systèmes d'ordinateur. ou SCSI. avec l'ordinateur serveur. Un processeur 184 d'exploration de ligne est également inclus avec le dispositif de commande du système et il communique avec les autres composants électrique par le bus AT ainsi qu'avec l'encodeur de données et la mémoire par l'intermédiaire d'une connexion directe d'accès direct en mémoire 186. Le processeur d'exploration de ligne agit comme dispositif de commande de caméra. La sortie est commandée par un dispositif de commande E/S 187 dont les sorties incluent un signal de synchronisation d'exploration sur la ligne 188 allant vers l'encodeur de données et la mémoire ainsi que des signaux de commande pour l'excitateur de marqueur à l'encre 189 et le dispositif de commande 190 de lampe. Des signaux d'entrée vers le dispositif de commande E/S sont reçus d'un dispositif de commande 192 d'asservissement et d'un micromanipulateur 194. Le dispositif de commande de lampe, détaillé ci-dessous, reçoit des signaux d'une alimentation en énergie 196 afin d'alimenter la lampe en signaux de tension et il reçoit aussi des signaux de commande venant du dispositif de commande E/S afin de maintenir un niveau préétabli d'éclairage. Le processeur d'exploration de ligne reçoit aussi les signaux de la caméra à dispositifs de transfert de charge 197 alimentée via des signaux provenant de l'alimentation 199. Le dispositif de commande d'asservissement alimenté par l'alimentation 201 envoie et reçoit des signaux vers et à partir des unités asservies X et Y 198. 200, qui sont classiques et sont connues dans l'art, pour réaliser le déplacement en X et en Y sur la surface de table. Les signaux de sortie venant de l'encodeur de données qui comprennent la donnée d'exploration sont reçus sur la ligne 182. Des signaux de sortie venant du présent système d'inspection optique automatique sont présentés dans un réseau Ethernet pour être reçus à la fois par les deus stations, de fabrication assistée par ordinateur et de vérification. Des signaux venant de la station de fabrication assistée par ordinateur peuvent aussi être présentés au traceur afin de tracer l'image de la carte inspectée. Comme noté ci-dessus, le présent système est également caractérisé par un système d'éclairage adaptatif. Le but de l'éclairage adaptatif est de compenser des variations de processus. par exemple des différences de réflectivi-iLé du substrat, ainsi que toute variation de l'éclairage due à la dégradation de l'ampoule. La tension appliquée à la lampe est commandée par le système d'inspection de manière à maintenir un éclairage préétabli. Le système d'éclairage adaptatif est prévu pour maintenir un niveau constant de brillance de signal vu par la caméra d'exploration de ligne. Une illustration schématique de l'algorithme 204 exécuté par le système d'éclairage adaptatif est représentée à la Fig. 12. Lorsque les niveaux de seuil sont fixes, à la case 206, un balayage de ligne de référence de la donnée d'échelle des gris est effectué à la case 208. Les seuils se référent à cette condition initiale. Aussi bien avant une opération d'inspection que pendant le processus d'inspection. une donnée d'échelle des gris est obtenue et comparée à la donnée cde référence, case 210. L'éclairage est ajusté à la case 212, de manière à annuler toute différence entre les deux valeurs. Ceci adapte le signal par rapport aux seuils fixes et est équivalent à une adaptation des seuils à un signal variable. sauf que l'adaptation d'éclairage maintient une meilleure utilisation de la plage de signaux dynamiques analogiques/ numériques, ou A/D, de la carte d'acquisition d'exploration de ligne. L'adaptation d'éclairage simplifie également la structure de matériel en ce qu'il n'est pas nécessaire d'ajuster les seuils pendant le processus d'exploration. Une donnée d'échelle de gris est restituée à partir d'une ou plusieurs lignes d'exploration, à la case 214, aussi bien pour le balayage initial qlue pour le balayage ultérieur d'inspection. Un histogramme de cette donnée est formé à la case 216. En d'autres termes, des casiers 256 d'histogrammnies sont accumulés afin de caractériser la répartition d'intensité. Le but est de déterminer la partie la plus brillante du signal, par exemple une réflexion directe du cuivre. tout en restant non affecté par une variabilité normale. Les 5 pour-cent supérieurs de l'histogramme sont trouvés, à la case 218. et la moyenne numérique de cette partie de l'histogramme est déterminée, à la case 220. Cette valeur est utilisée pour représenter la caractéristique actuelle d'éclairage/de réflexion. On trouve que la réponse d'éclairage el/ou de caméra n'est pas linéaire de sorte qu'un calcul statique d'un nouveau réglage d'éclairage n'est pas suffisamment précis. Des applications répétées de ce calcul provoquent des oscillations d'éclairage. Par conséquent, on met en oeuvre. selon le mode de réalisation préféré une commande simple proportionnelle à rétroaction en boucle fermée en utilisant un réglage itératif de l'éclairage, et ceci réalise une compensation cohérente. De bons résultats sont obtenus lors de modifications de la matière. et de sa réflectivité, ainsi que de modification des points de consigne d'éclairage. Le présent système ramène de façon cohérente l'éclairage au niveau nominal correct, ce qui est nécessaire pour une utilisation avec un seuil fixe. En fonctionnement, un "échantillon" éclairé est formé en accumulant un histogranmme d'intensité sur de nombreuses lignes d'exploration. L'accumulation sur de multiples lignes d'exploration évite l'éventualité d'un ajustement de l'éclairage sur la base d'une exploration unique qui observe une région sombre d'un substrat. Dans le mode de réalisation préféré une donnée est accumnulée à partir de lectures multiples du flux de données d'échelle des gris selon une configuration en "z" sur un ensemble de lignes multiples d'exploration. L'histogrammne est analysé de la manière suivante: 1) Les valeurs de l'histogrammne sont sommées pour déterminer le nombre total de pixels sur lequel l'histogramme a été accumulé. 2) On calcule un seuil qui correspond au nombre cde pixels qui constituent les 5 pour-cent supérieurs de l'histogramnlme. c'est-a-dire seuil = (int)(fraction*(double)n); o la fraction est 0.05 et n est la somme de tous les casiers d'histogranlmme comparés à l'étape 1. 3) La valeur d'échelle des gris au-dessus de laquelle sont situés les 5 pour-cent supérieurs des valeurs d'intensité est ensuite déterminée et l'intensité moyenne au-dessus de ce point est calculée (maxmoyennle). Par exemple: cumm = 0 moy = O; pour(i = 255, i≥ O: --i) { cumm += hist[i]; moy += (long)hist[i]l (long)i: Si (cumm ≥ seuil) break: maxmoyenne = (int)(moy/(long)cumnm): o "cumnm" est la valeur d'échelle des gris et "moy" est l'intensité moyenne. Le calcul ci-dessus est effectué aussi bien pour la condition de référence que pendant l'opération d'inspection. Ces moyennes des 5 pour- cent supérieurs de l'intensité sont utilisées dans les calculs en boucle femlée détaillés à la Fig. 14. A la case 222. l'éclairage de référence est réglé et la pointe d'histogramme est détemlinée. à la case 224. A la case 226 est calculée une correction dans laquelle un rapport entre le signal de référence et le signal actuel est calculé. Des signaux proportionnels de commande pour l'alimentation de la lampe sont engendrés à la case 228. Le point de consigne de la lampe est ajusté à la case 230 et les signaux correspondants de commande de lampe sont engendrés à la case 232 pour étre présentés à la source lumineuse, c'est-à-dire à la lampe, à la case 234. Une rétroaction à partir de la caméra 237 sous forme d'une détection ultérieure de pointes est ensuite détemlinée à la case 236. Les étapes de "détection de pointe d'hlistogramnme" représentées à la Fig. 14 représentent les calculs indiqués ci-dessus. La case "commande proportionnelle" forme un nouveau réglage de lumière de la façon suivante: [t+J = K * correction * IL +(1-K) * I o "It" correspond à la valeur actuelle du signal de commande de brillance à l'instant t. "correction" correspond à la valeur du signal de correction de brillance et "ti" est une constante déterminée empiriquement. La femleture de la boucle de signal de commande est réalisée sur une séquence d'explorations de référence. Pour chaque groupe d'explorations de référence, un histogramme cumulatif est formé, à la case 238. et il est ensuite appliqué selon l'algorithme en boucle fermée cidessus. Comme noté précédemment, le présent système est un outil de production destiné à l'inspection de photo-outils et de couches inLérieures/extérieures de cartes de càblage imprimés (ou PWB) à des étapes critiques de la fabrication. Le système utilise des signaux de conception assistée par ordinateur comme base d'inspection. Une donnée acquise qui vient d'un panneau exploré est comparée directement à la donnée de conception assistée par ordinateur utilisée pour créer le photo-outil d'origine. De plus. une donnée d'exploration est "caoutchoutée" ou compensée par rapport à la base de données d'inspection afin de tenir compte d'une distorsion globale ou d'un défaut d'alignement du panneau en cours d'essais. La compensation de distorsion facilite une comparaison directe ou pixel par pixel et elle est accomplie d'une manière exposée dans les brevets des Etats Unis N' 4 783 826 et 4 859 199 qui sont incorporés ici par référence. Des différences régionales de comparaison de pixels sont réunies en défauts et il en est rendu compte à l'opérateur. Les buts principaux de conception atteints par le présent système consistent à réaliser un systéme intuitif, totalement fonctionnel, tout en minimisant les coûts récurrents. Le débit est un but important mais secondaire. Selon le mode de réalisation préféré, le système réalise un débit modéré pour un faible coût. Par comparaison avec des systèmes connus. un système réalisé selon la présente invention inspecte un substrat de carte de circuit imprimé plus lentement qu'un système connu, à une vitesse qui est à peu près les trois quarts de celle de ce dernier. mais il le fait pour un tiers du prix. Un débit accru pourrait également étre atteint en augmentant la puissance de traitement de la partie de traitement à l'aide d'un matériel plus rapide et/ou d'un traitement en parallèle. Une deuxième caméra et un canal de données facultatifs peuvent ètre configurés en vue d'un traitement parallèle additionnel. Un exemple de matérinel utilisé dans le mode de réalisation préféré est exposé ci-après. Les composants de "façade" consistent en une station d'inspection et des coprocesseurs facultatifs d'inspection. Dans un système à deux caméras. un coprocesseur d'inspection est classique. La station d'inspection est le point central de communication pour le reste des composants exposés en liaison avec la Fig. 1. Elle interagit directement avec l'interface d'utilisateur. Dans le matériel d'une station d'inspection sont inclus. mais non spécifiquement représentés suir les Figures, une station de travail. un moniteur à haute résolution, un clavier, une souris, un disque dur, une liaison de réseau, et des options de mémorisation hors ligne, qui sont tous illustrés schématiquement par l'ordinateur 170 sur la Fig. 11. L'ordinateur peut éLre un ordinateur personnel de haut niveau ou un micro-ordinateur de station de travail àjeu d'instructions réduit, ou RISC, de bas ou de haut niveau. De plus, pour accroitre le débit, la station d'inspection peut consister en deux stations physiques de travail. Une tâche à exécuter pourrait être installée sur l'une des stations tandis que des inspections de panneaux seraient effectuées sur l'autre. La station de travail inclut un disque dur pour une mémorisation en ligne * des programmes systèmes d'inspection optique automatique et de l'environnement. des fichiers de tâches et des fichiers de défauts. Une interface ELthlernet est prévue pour une liaison en réseau à la station de fabrication assistée par ordinateur, à la station de vérification hors ligne, etc. Un lecteur de bandes DAT de 4 mm est proposé en option pour la mémorisation de fichiers hors ligne. La station d'inspection comprend une liaison sérielle RS-232 pour des signaux d'ordres et de commandes et comprend un deuxième bus d'interface pour petits systèmes d'ordinateurs. ou bus SCSI. pour charger des données d'exploration qui viennent de la carte d'encodeur de données. Afin cde réduire le trafic sur le bus d'interface pour petits systèmes d'ordinateurs. le bus principal d'interface pour petits systèmes d'ordinateurs est utilisé pour l'unité de disque et le mécanisme d'entrainement de bande magnétique. Des coprocesseurs facultatifs d'inspection peuvent éLre reliés en réseau à la station d'inspection en vrue d'un traitement d'inspection en parallèle. Dans une variante à deux caméras de ce système, le sous- systLème de caméra et de lentille, le sous-systLènime d'éclairage et de projection. le processeur d'exploration en ligne et la carte d'encodeur de données sont doublés pour un deuxième canal de données. Une caméra d'exploration en ligne locale Fairchild modèle 15005 est préférée et comprend une caméra à dispositifs de transfert de charges à 2048 éléments au pas de 13 microns. Sa fréquence vidéo maximale est de 20 MHz et sa fréquence maximale d'exploration est de 9700 lignes par seconde. A la caméra est associée une alimentation linéaire pour fournir une énergie en courant continu à + 12V et + 5 V. Tous les signaux cde commande de la caméra sont fournis par le processeur d'exploration en ligne. Dans d'autres formes de réalisation. un ensemble "d'arreéts" d'éclairage est prévu pour commander l'angle d'incidence cde la lumière sur le panneau. Ces "arréts" produisent selon les besoins un éclairage spéculaire. un QUOi Dl l!LU i 0 no 'i ú'ZI, sl$x!ci al) âeuuoll!I1ueqDD-snos un jecl a1!npoJct OiJl llacd l!tU gZ' 0 'Ti g'ú9 e A,!lIllEDUJ aouuop Dun 'I! S'0 J!iP-p-lSDD 'SUoJD!tU LZ'T e suoJ3!tiu ú1 op s[ox!d ap suo!isuw!p sop j!.npe.Jl.nod lo onb!ldo uo!Jiols!p aLun 0ú j.SuoclwoD.inod ',L'n no 'Luo!sJols!p p Dlqel Dun J.ed ssecl uoleJoldxcxp aouuop 1el.JpJpJd UolPes!lePO. op apow al suecI 'sso1!A olneq e o0p.LA snq un,p oE.!pptwalu!,l Je1d oluoI u uo!leJol(Idxaz,p JnssaoJd np UDUUD.IA!nb loxdct Jed sl!q 8 e S!J' op sauuop sap oldoDDze OlJeD eq 'o!lnioS/oJluD,p opueuwwoD op oJe- el ap J!lECt e SgJlUo lUOS UoileJoldxo,p uo!leESiuoiJDus op xneuUis sag -ZHIN OZ J-pu!olle lueALnod SZ oDuonb.ij aun e uo!l0clsu!,p UO!lel 1s e!oAui la Itu!JdtuwoD el 1 Uo!ie-ilcix,p oouuop el Jns [!nos op lpjjD Wun aDj.x sauuop oap.JnpoDuo, p J.l$ssDo.Jd a1 ZHA Oz aJpuallt, lueAnodi sâssa!,x sap e Iâ.,J sdwal ua sDDialDâjjo luos suoileJgclo sOl slnoL Ewetu eal aop onb!tu-Jtl,x!..p aun JisuDdwod op U!Je 'uouil DUô!l nu!luoD lUjnoD uD lUDalSn * 11 lU IJIDwUeD el ap u!ei op ap lJodâp op uolDJJoD o0 aun lnD.xD la saauuop ap Jnp0oDua,l e lauuoD/.CI lpod un JeCd lox!d Jeci sl!q l!nq e s!y op aouuop Dun l!npoid la astuwu el 'EJ.uDu el op lUeUo onb!iolEue ooptA auuop aun 1ldâae 9ggS-ICl JnissDoJd a' u'oU!l op uo!leJoldxD,p eJtuUeD el op luLuuuo!lDoUOj np Ol.?lduo âpuemuoD Dun ooJfxl la., oldwu lsa 99gg; -LaC saouuop ap UO!lelSUeJl e ou!Il op UO!leJOldxâ,p inossDooid o '0putewwoD op o[L.lUoD l1un,l l91 suep lup!is.J papumwwoD op.JodJoDu! lâ!!D'ol un l s$ld!llntu soqtil e uo!lnoDxâ,p aU.wlsa S op n Eou un suo!xouuoD op sJ!ssEd oJi!aJe xneauued e uo!lenI!iJuoD aun suUp ILV-Dd DdCll VSI snq no J!lDeJglU! lel.,p Jn1osXlEU,p snq np aI!e!puawp lu!I,l ed otuls,(s np opueLUwoD ap J!l!sods!p np sluesodwoD saJflne,p Doae onb!unwuwoD Dpueutu0oD op DleJlUOO.l!unql '!DJos/oo.quo,p âpueuJwoD op j!l!sods!p np ID 'lu!l ua 01 uo!leJoldxo,p JnissaDoJd np s'ouuop op Jnopoiuo,l op luâwzuuo!iouoj al opuewuUoD 989ú08 olUl.P aseq e? opuewuwoD op oleJlluaD!unl, Silssop-!p.loU LwwoD Sl!q 8 e. o.0luâ,p liod un,p 0ie!p.Lu-ilu!,l ed O!lJOS/OJ.lua,p opUeLUWto Op âl.e E I op:lueuoA uo!suol op sJnDleA, sop oldDDze Uo!lelnl.J ap;1-IeD a11ID -3! S.ll!elp smawtlloJle xne luEu.Lwuaojuoa D.lnpotw 1so 9 odwuel ap ?al!suzlu!," '?!doJdde Iso!aoD onbsJol anb!ldo ox-e, op 'uol Dl sluawuol? sD lutU)tllanuetu Duuol!sod tu.alsXs np Jnalei.do,- sle.lsqns op so.!lewu sou!eliD nod âoewi,p lSeJ.luo3 l J.Jo.!l.awte inod nA^.d lso sJnos!.elod op lp xneJu.Dds saillJ ap olqmasuja un snjj!p pa J!elnDads $au!qLuo3 oe!elDa un no snjj!p aâ!eJ.lDa Iú Le processeur d'exploration de ligne fonctionne en mode de niveau de gris ou en mode de seuil. En mode de niveau de gris. des signaux de données d'exploration à 8 bits par pixel sont envoyés à la station d'inspection sans étre soumis à une effet de seuil. Dans le mode de seuil. les données d'exploration sont amenées à une table de consultation de seuils (LUT), pour produire. après l'effet de seuil, une donnée à trois bits par pixel qui est ensuite comprimée en utilisant un schéma d'encodage de longueur de lot. Chaque "lot" de pixels est représenté par un mot à 16 bits, qui inclut 13 bits pour la position et 3 bits pour la couleur. La donnée est entrée en tampon dans une mémoire vive dynamique ou DRAM. qui réside physiquement sur une carte fille, non représentée. à configuration minimale de 32 MB et à capacités d'expansion. Une donnée est transféree à la station d'inspection en bloc par l'intermédiaire d'un bus d'interface pour petits systèmes d'ordinateurs ou SCSI. Une architecture de mémoire à deux ports, à mode premier entré/premier sorti ou FIFO. transfère la donnée dès que des blocs de mémoire sont pleins. Le logiciel qui réside dans l'unité centrale de traitement fournit à l'encodeur de donnée des données d'installation. des tables. et une commande de SCSI de temps de lot. Pour permettre la commande adaptative d'éclairage, l'encodeur de données mémorise la valeur de gris de pixels périodiques dans un registre disponible à l'unité centrale de traitement sur le bus PC-AT. La carte GAT-2, commercialisée par le cessionnaire de la présente invention. est le dispositif de commande d'entrée/sortie préféré. Cette carte commande le mouvement de la table du substrat et du chariot. ainsi que le fonctionnement du micromanipulateur. l'intensité de la lampe et le fonctionnement du marqueur à l'encre. La carte envoie des impulsions de type pas-a-pas à la carte d'asservissement GTP-3 10 pour le positionnement de la table et du chariot. Elle reçoit des signaux de rétroaction de position de la carte GTP-310 et envoie des signaux de synchronisation d'exploration à l'encodeur de données et au processeur d'exploration de ligne. Des capteurs d'entrée surveillent les conditions de limites et de fin de course et de mouvement du micromanipulateur. Un port de sortie à 8 bits interface avec une carte de régulateur de tension GTP-367. Un port de sortie à I bit commande le fonctionnement du marqueur à l'encre. Le logiciel des composants dits de façade avant. ou die contrôle. est écrit en langages de programmation C++ et ANSI-C. Les systèmes dl'exécution sont à base de UNIX. Les interfaces graphiques d'utilisateur. ou GUI sont à base de fenêtres X et incluent un dispositif d'observation et détection, ou look and feel selon le terme anglo-saxon, de motifs. Il existe. pour l'installation initiale de la tâche, un programme à base de GUI selon lequel un opérateur entre des données de conception assistée par ordinateur et de perçage pour une tâche, ainsi que pour d'autres fonctions. par exemple la constitution de panneaux. l'entrée de paramètres d'inspection et le lancement de la génération de bases de données d'inspection. Pour réaliser l'entrée de données de conception assistée par ordinateur et les fonctions de réalisation de panneaux. le système actuel utilise un logiciel Gerber Plotter Control. ou GPC. littéralement Commande de traceur Gerber., qui est amélioré par des fonctions additionnelles pour l'inspection optique automatique et auquel on se réfère dans le mode de réalisation préféré par la marque commerciale Gerber Inspection Control. ou GIC, littéralement Commande d'inspection Gerber. Le logiciel amélioré de la présente invention assure une entrée de paramètres pour des tolérances d'ouverture. des dimension de trous finis et des tolérances. des points d'alignement, une région d'inspection, et des régions qui ne sont pas à inspecter. Il accepte aussi des données de perçage comme signaux d'entrée et engendre une génération de la base de données d'inspection. Un programme de logiciel d'arrière plan engendre la base de données d'inspection. Le GIC commande la génération de la base de données d'inspection et produit l'information d'implantation de panneaux, les tolérances d'ouverture. etc. Un autre algorithme associé au dispositif de commandle du système identifie automatiquement des points d'alignement. dans les données de conception assistée par ordinateur, et les explore pour retrouver des points appropriés à utiliser pour une compensation de "caoutchoutage" détaillée ci-après. Le système inclut aussi un deuxième alimentation à base de GUI pour effectuer des opérations liées à l'inspection et un marquage à l'encre ainsi que des programmes utilitaires pour la gestion des fichiers, le calibrage du matériel. etc. Cet algorithme peut être lancé par l'opérateur au moyen d'un bouton dans le GIC. comme les schémas semblables de GUI pour la commande de traceur dans d'autres systèmes. Des algorithmes d'ordres/de commandes des diverses fonctions. y comprins un protocole de communications par l'intemiédiaire d'une liaison sérielle RS-232, fonctionnent dans l'arrière plan du dispositif de commande de système. Un programme de "comparaison" réside dans le présent système et dans chaque co-processeur d'inspection pour comparer des fichiers de base de données d'inspection avec des fichiers explorés d'image et engendrer une liste de défauts de substrat. Un programme appelé "programmateur" est inclus pour comparer des programmes de la bande ou région de substrat explorée précédemment sur un processeur disponible. Un noyau de système d'exploitation à taches multiples et un logiciel de commande incorporé résident également dans l'unité centrale de traitement. Le logiciel et le système d'exploitation peuvent étre mémorisés dans une mémoire morte, ou ROM. ou étre charges dans une mémoire vive, ou RAM. selon l'application et le choix de composants. Le noyau préféré est compatible DOS. Un autre logiciel du dispositif de commande du système inclut une donnée d'installation et des tables, ainsi qu'un dispositif de commande de SCSI de temps de lot pour le transfert de données d'exploration. Un autre logiciel de dispositif de commande de système fournit, à la carte de commande d'entrée/ sortie. des demandes concernant le déplacement des tables et des chariots. des variations de tension de lampe. et une activation de marqueur d'encre. La position de la table et du chariot et le fonctionnement du micromnanipulateur sont également surveillés comne détaillé sur la Fig. 12. Le processeur d'exploration en ligne transfSére périodiquement. à l'encodeur de données. des signaux de données d'exploration qui viennent d'un registre associé de données. analyse l'intensité des signaux et module la tension de lampe de façon correspondante. On va maintenant décrire les étapes de base effectuées par un opérateur pendant une inspection. Des fichiers de conception assistée par ordinateur et de perçage pour le substrat (par exemple un panneau) sont importés de la station de fabrication assistée par ordinateur. Si la station de fabrication assistée par ordinateur met en oeuvre le GPC. des fichiers d'installation. des fichiers d'ouverture etc. sont également importés par au moyen d'une bande magnétique, ou d'un disque souple, ou en utilisant le protocole de contrôle de transmission / protocole Internetl. ou TCP/IP par l'intemrédiaire d'un réseau Ethernet. L'opérateur crée des tables d'ouverture pour chaque fichier de conception assistée par ordinateur et de perçage utilisé pour le panneau. La table d'ouverture de fichier de perçage contient des dimensions de trous finis plutôt que des dimensions d'outils. L'opérateur crée des tables de tolérances pour chaque ouverture et pour chaque dimension de trou fini utilisée dans les fichiers de conception assistée par ordinateur et de perçage du panneau. Une tolérance intérieure et extérieure est entrée pour chaque élément. L'opérateur entre directement ces valeurs dans le GUI GIC. comme pour une entrée courante de table d'ouverture dans le logiciel GPC. De plus. les tables peuvent étre crées automatiquement sur la base de règles prEéétablies de dimensions d'ouvertures en fonction de tolérances. L'opérateur charge les fichiers de conception assistée par ordinateur et de perçage qui concernent le panneau dans l'espace de travail du logiciel GIC. Si le GPC est utilisé à la station de fabrication assistée par ordinateur et qu'un fichier d'installation est créé, c'est au contraire ce fichier qui est lu pour installer automatiquement le panneau. L'implantation de panneau est spécifiée en utilisant des fonctions de formation de panneau du GIC Ceci organise les données de conception assistée par ordinateur et de perçage afin de représenter précisément le panneau à inspecter. Ultérieurement l'opérateur utilise un ordre dit de "rubber-band box", c'est-a-dire littéralement de boite en bande de caoutchouc, pour identifier la région du panneau à inspecter. La même technique est utilisée pour identifier des régions à ne pas inspecter" facultatives à l'intérieur de la région d'inspection. Ces régions qui ne sont pas à inspecter sont typiquement utilisées pour éliminer une inspection de lettrage. des coupons. etc.. qui sont non-fonctionnels dans le circuit. Trois points d'alignements, à utiliser pour la mise en place et la correction des distorsions au cours de l'inspection, sont identifiés clans les coins du panneau. Trois modes de mise en oeuvre du présent systémes sont prévus dans le mode de réalisation préféré. Le premier permet de choisir automatiquement ces points pendant une génération de base de données, le deuxième permet à l'opérateur de définir explicitement les points par un choix manuel dans le GUI. La troisième inspection permet à l'opérateur d'inclure, avec une définition de panneau. un gabarit de points d'alignement. Afin d'utiliser la troisième option. l'opérateur aura créé plusieurs gabarits. par exemple un gabarit pour chaque dimension normalisée de panneau. qui incluent des points prédéfinis d'alignement. Quand il utilise cette option, l'opérateurplace, à l'extérieur du circuit. des marquages d'alignement d'inspection qui se conforment à des exigences de points d'alignement. Cette tlàche d'arrière plan est lancée après l'entrée des paramètres d'installation par l'opérateur. La donnée de conception assistée par ordinateur et de perçage est convertie en une base de données de tolérance pour l'inspection. SI l'opérateur a choisi "autofinding", c'est-à-dire "détection automatique" pour les points d'alignement. ces points sont identifiés ici. Les étapes de base suivantes sont utilisées pour inspecter un ensemble de substrats de panneaux pour la même tlclche. Initialement, I'opérateur choisit une base de données d'inspection de tâche dans la liste des bases disponibles et place les paramètres nécessaires pour l'inspection du lot actuel de panneaux. par exemple type de matériau de panneau. polarité. marquage d'encre en service ou hors service. blocage en service ou hors service. Le premier panneau du lot est placé sur la table et l'opérateur utilise le micromanipulateur pour déplacer la table de façon que le pointeur lumineux soit situé au-dessus du premier point d'alignement identifié dans la base de données. Le niveau initial de lumière est automatiquement ajusté, immédiatement au- dessous du niveau de saturation. L'opérateur règle le seuil d'inspection en utilisant un outil interactif commandé par souris. Cet outil affiche les effets de différents seuils sur une vue de l'image explorée. Le niveau de lumière peut ètre modifié "à la volée" pendant l'exploration d'inspection si les caractéristiques d'intensité d'image varient fortement. Le système détermine l'emplacement précis des panneaux par une correlation du point d'alignement exploré avec la zone du point d'alignement identifiée dans la base de données. Généralement, cette étape n'est exécutée que sur le premier substrat d'un lot. Dans le cas o des substrats ne sont pas bloqués et o un positionnement de panneaux n'est pas cohérent. l'opérateur positionne le premier point d'alignement pour chaque panneau. Ensuite, le système explore automatiquement les autres points d'alignement et effectue la même corrélation pour déterminer des valeurs de compensation de "caoutchoutage" de la manière exposée ci-dessus. Le système explore le panneau et charge l'image explorée dans la station d'inspection. une bande à la fois. La comparaison d'inspection est effectuée à la station d'inspection ou par des coprocesseurs d'inspection, au fur et à mesure que les données de bandes sont reçues. Des localisations de défauts sont regroupées et sont mémorisées dans un fichier sur disque. Si un marquage à l'encre a été choisi, la table se déplace pour chaque défaut et place une marque d'encre au défaut. L'opérateur décharge le panneau. Si une vérification hors ligne est nécessaire. le panneau est amené à la station de vérification. Les ensembles de données primaires produits dans le présent système sont la base de données d'inspection. la donnée d'exploration et la donnée de défauts. Une base de données d'inspection est associée à chaque substrat à inspecter. C'est le même logiciel, de données d'origine de conception assistée par ordinateur et de restitution, qui est utilisé aussi bien pour la base de données du traceur que pour la base de données d'inspection. La donnée de perçage utilisée pour la base de données d'inspection est la méme que celle qui est utilisée pour commander la machine de perçage afin d'assurer l'exactitude de la base de données d'inspection. La base de données d'inspection est créée par le dispositif de commande du système pendant l'installation sous forme d'une représentation, à encodage de longueur de lot. du panneau à inspecter. Des zones de circuit, des zones d'arrière plan et des bandes de tolérances sont représentées par des couleurs différentes. Un fichier individuel de bases de données est créé sur le disque pour chaque bande d'une largeur de 25,4 mm, ou 1", de la donnée de panneaux. L'encodeur de donnée exerce un effet de seuil sur les signaux d'exploration de la caméra et les comprime, et les charge à la station d'inspection par l'intermédiaire du bus de SCSI. Comme pour la base de données d'inspection, la donnée d'exploration est encodée en longueur de lot. Des zones de circuit, des zones d'arrière plan et des zones de transition sont représentées par des couleurs différentes. Des données d'exploration concernant chaque bande de substrat d'une largeur de 25,4 mm, ou 1", sont traitées comme des entités séparées. Pendant la comparaison de l'inspection, des "défauts" sont identifiés. A chaque défaut est associé un emplacement. un type et des dimensions. Un fichier de défauts est créé sur le disque dur pour chaque panneau inspecté. Ce dossier contient une information d'en-tltLe de tlàche et la liste des défauts. Il est utilisé pour une vérification en ligne, ou il est transféré à une station de vérification hors ligne. Comme noté ci-dessus, chaque image explorée est "caoutchoutée". à la base de données d'instructions correspondante, afin de permettre l'exécution d'une comparaison précise de pixels. Lorsqu'une base de données d'inspection est crée. des lignes additionnelles de base de données sont crées pour une petite région qui entoure chaque point d'alignement. Avant chaque inspection de panneau, le système explore chaque point d'alignement successivement. Une donnée de caméra. soumise à effet de seuil et comprimée, pour chaque région de point d'alignement est chargée dans la station d'inspection par l'intermédiaire du bus de signaux SCSI. Le présent système comprend en outre un algorithme de corrélation pour rechercher à l'intérieur de la région explorée le point d'alignement de la base de données. La région explorée est plus grande que la région de la base de données. Les images bidimensionnelles sont projetées aussi bien verticalement qu'horizontalement de façon que des corrélations unidimensionnelles puissent être exécutées pour obtenir un debit plus élevé. Les projections horizontales et verticales de conception assistée par ordinateur sont comparées à leur contrepartie explorée pour produire un "ajustement optimal". Le programme polyvalent travaille avec une configuration quelconque de points d'alignement, suffisamment isolés et bien définis. Les déports en X et en Y entre la base de données et les points explorés d'alignement sont utilisés pour calculer les valeurs de compensation de "caoutchoutage". Il faut trois points d'alignement pour tenir compte de la translation, de la rotation. et de la dilatation ou du rétrécissement global du panneau. Les positions de début et de fin d'exploration d'image sont modifiées pour tenir compte de l'erreur de translation. Le déplacement de table et de chariot est modifié pour explorer des bandes le long d'une pente pour tenir compte d'une rotation. Les positions de début de bande sont ajustées pour tenir compte de la dilatation ou du rétrécissement en direction X, tandis que les lignes d'exploration sont doublées ou sautées pour tenir compte d'une dilatation ou d'un rétrécissement en direction Y. Le mode de réalisation préféré est caractérisé par des résolutions de 12.7 t ou 0,5 mil, c'est-à-dire 2000 points par longueur de 25.4 mm.n, donc par pouce, ou dpi. et 6.35 t ou 0.5 mil, c'est-à-dire 4000 dpi. L'encodeur de donnée permet aussi de créer un sous-échantillon de pixels de 12,7 t, ou 0.5 mil le long d'une ligne d'exploration pour atteindre des pixels de 6.35p, ou 0.25 mil. en doublant ainsi la résolution. Des moyennes sont calculées pour des valeurs de gris à 8 bits de pixels adjacents de 12,7 t ou 0.5 mil, pour calculer une valeur de gris à 8 bits de chaque pixel échantillonné de 6.35.u, ou 0.25 mil. La présente invention est de plus caractérisée par un appareil d'interprétation de pixels qui permet d'obtenir un sous- échlantillonnage qui donne une résolution de 4000 points par longueur de 25,4 mm. donc par pouce, à partir d'une caméra à 2000 points par longueur de 25.4 mm. donc par pouce, en interpolant des valeurs adjacentes de pixels. De façon connue, des particularités sur un substrat passent d'un état unique noir ou blanc à un état opposé par quanta discrets. Cependant, selon l'enregistrement d'une caméra, il apparait une partition gaussienne de l'intensité sur des pixels adjacents sur le bord d'une particularité. Du fait qu'à cause des effets de diffraction de lentille, un bord engendre une transition recouvrant plusieurs pixels, le présent système préféré à quatre couleurs emploie un appareil de calcul de moyenne de valeurs adjacentes de pixels pour créer un pixel intermédiaire en réalisant effectivement huit couleurs et en donnant un doublement de la résolution. On va maintenant exposer des exemples. Matériaux inspectés - dessin-modéle - Diazo - halogénure d'argent couches intérieures - cuivre nu - résine photosensible développée sur du cuivre - couches extérieures - cuivre nu - cuivre nu avec trous Résolution d'inspection 12,7 u ou 6.35 pl. au choix. par inspection Nombre de caméra 1 ou 2. à configurer en usine Dimensions max de milieu 609.6 x 762.0 mm. ou 24" x 30" Dimensions max d'inspection 558.8 x 711.2 mm. ou 22" x 28" Plage d'épaisseurs des panneaux 101.6 pg à 6.35 mmin. ou 0.004" à 0.25" Dimensions min de défauts délectables 12.7 p 0,5 mil pour résolution de 6.35 gi ou 0.25 mil ,4 pi ou I mil pour résolution de 12,7 pt ou 0.5 mil Temps d'inspection: 457.2 x 609.6 min.m, ou 18" x 24") des caméras d'exploration. A la Fig. 13 est représentée une partie du système d'inspection optique automatique 239 caractérisé par les caméras multiples. Deux caméras 240 et 242 y sont illustrees, positionnées au-dessus du substrat de référence 244. Les caméras d'exploration sont montées de manière à assurer que les bandes adjacentes d'exploration 246, 248 se recouvrent affirmativement. Des marques périodiques 250 sont placées sur le substrat de référence à explorer et comprennent, par exemple. une ou plusieurs rangées de points de référence situees le long de l'axe central du milieu. L'emplacement des points dans les parties des données d'exploration qui se recouvrent sont ensuite comparés de manière à engendrer un facteur de correction pour la bande adjacente. S'il n'existait qu'un décalage axial, le facteur de correction serait simplement additif pour les positions de pixels de la bande ultérieure. Si un nombre de caméras supérieur à 2 est utilisé, les facteurs de correction sont additifs de façon cumnulative pour des caméras successives. Par exemple, on suppose que les pixels explorés dans la première bande par la première caméra sont aux positions correctes. Le facteur de correction X.I, calcule pour la deuxième caméra est simplement la différence entre la position axiale d'un point de référence de la première bande et la position du mème point de référence de la deuxième bande. Le facteur de correction X1 est additionné à la position X d'un point de référence de la deuxième bande et à sa position correspondante dans la troisième bande. Le facteur de correction pour une troisième caméra est alors X1 et X2, et il est ajouté à la position X de chaque pixel à la troisième bande. Le facteur de correction pour une ctquatriènme caméra serait égal à X1 + X2 + X3, etc. Des corrections semblables sont directement engendrées dans la direction Y et des corrections peuvent ètre executées pour un défaut d'alignement angulaire. Les corrections pourraient être exécutées dans la donnée après l'exploration, et il ne serait donc pas nécessaire de les exécuter en temps réel. Le débit du présent système est accru en raison de l'addition d'un plus grand nombre de caméras d'exploration sans exiger de procédures élaborées d'alignement lors de la fabrication et pendant le fonctionnement ultérieur. Le système pourrait engendrer des facteurs de correction. soit chaque fois qu'une pièce à usiner est explorée. soit périodiquement. selon l'environnement dans lequel la machine fonctionne. Le présent système est de plus caractérisé par un appareil de compensation d'erreurs répétitives de commandes de mouvement. D'une manière connue dans l'art. les composants mécaniques de chaque système sont caractérisés par une valeur d'exactitude qui est répétitive et qui est dérivée de la somme des variations et de l'exactitude des divers composants mécaniques. par exemple des chemins. des guides. etc. La présente invention permet une compensation au moyen d'une table de valeurs de compensation engendrée pendant le calibrage initial. Un substrat de référence qui contient des particularités espacées à une distance connue l'une de l'autre est exploré par le présent système. Le dispositif de commande calcule les distances et compare aux valeurs correctes les séparations mesurées respectives entre particularités et il détemline une table de corrections à appliquer aux valeurs ordonnées pour des particularités réelles de substrat. cde manière à assurer une mise en place correcte. Le présent appareil de compensation peut également être employé avec un dessin-modèle ou avec des panneaux soumis à distorsions. o la distorsion est répétitive, et si les substrats sont alignés (par une broche ou par son équivalent). d'une manière telle que l'orientation du substrat soit unique et sans ambiguïté. Pour ces situations, la distorsion régulière est déterminée comme ci-dessus. les marques de référence comprenant, par exemple. une grille. Ensuite, le système applique une correction spécifique pour ces substrats, produits par exemple par le méme dispositif d'imagerie. en plus de toute autre compensation qui a été engendrée. De même, bien que l'invention ait été représentée et décrite en liaison avec un mode de réalisation préféré de celle-ci. l'homme tie l'art doit comprendre que diverses autres variations, omissions et additions peuvent y être apportées sans s'écarter de l'esprit du cadre de la présente invention. REVENDICATIONS 1. Procédé (34) de génération d'une base de données de tolérance à partir d'une base de données nominale (36) de signaux indicative d'une image de particularités du dessin modèle d'une carte de circuit imprimé, ou PCB. (86) lesdites bases de données comprenant un réseau de pixels qui sont soit dans un premier état, l'état noir, soit dans un deuxième état, l'état blanc, lesdites pixels d'état noir correspondants aux particularités du dessin modèle, incluant les étapes consistant à: engendrer une base de données (42) qui inclut des signaux correspondants à au moins un ensemble de valeurs de tolérances de minima et de maxima pour au moins une particularité choisie parmi lesdites particularités de la carte de circuit imprimé; réaliser à partir desdites bases de données, de valeur nominale et de valeur de tolérance, une base de données (38) de minima telle que lesdites dimensions nominales des particularités choisies de la carte de circuit imprimé soient réduites de ladite valeur de tolérance de minima; réaliser à partir desdites bases de données, de valeur nominale et de valeur de tolérance, une base de données (40) de maxima telle que lesdites dimensions nominales choisies de particularités de carte de circuit imprimé soient augmentées de ladite valeur de tolérance de maxima; comparer l'état de chacun des pixels de ladite base de données de minima avec ledit état nominal de pixels; comparer l'état de chacun des pixels de ladite base de données de maxima avec ledit état nominal de pixels; fournir à une base de données de transition de tolérance un pixel d'état noir si les deux états de pixel, minimum et maximum, sont noirs; fournir à ladite base de données de transition de tolérance un pixel d'état blanc si les deux états de pixel, minimum et maximum, sont blancs; fournir à ladite base de données de transition de tolérance un pixel d'état de transition noir si lesdits états de pixel, minimum et nominal sont différents; fournir à ladite donnée de base de transition de tolérance un pixel d'état de transition blanc si lesdits états de pixel, maximum et nominal, sont différents; caractérisé par les étapes consistant à: assigner à chaque pixel une pondération numérique en fonction de son état; configurer ladite donnée de base de transition de tolérance en réseaux de pixels adjacents; sommer chacune desdites pondérations de pixels dans un premier desdits réseaux de pixels; et établir comme seuil de défaut une valeur de pondération sommée de pixels de réseau. 2. Système (23) de génération d'une base de données de tolérance à utiliser dans la fabrication d'un dessin-modèle de carte de circuit imprimé, incluant: une platine (75) pour recevoir un substrat (86); un chariot (70) mobile par rapport audit substrat; un moyen (198, 200) de déplacement dudit chariot par rapport audit substrat en réponse à des signaux reçus d'un dispositif de commande (168); une source optique (76) de production d'un faisceau optique d'éclairage; un sous- ensemble optique (78) configuré avec ledit chariot pour diriger ledit faisceau optique d'éclairage sur ledit substrat; une caméra (112) positionnée avec ledit sous-ensemble optique de manière à recevoir une partie dudit faisceau optique d'éclairage réfléchie à partir dudit substrat et à produire des signaux électriques qui en sont des équivalents; un moyen de traitement (184) de signaux pour traiter lesdits signaux de caméra pour former une base de données d'exploration de signaux de pixels, l'état desdits pixels étant, soit noir, soit blanc, en fonction de la présence ou de l'absence. respectivement, d'une particularité détectée du substrat; caractérisé par: un moyen d'assignation, à chacun desdits pixels de base de données d'exploration, d'une pondération numérique conforme à son état; un moyen de configuration de ladite base de données d'exploration en réseaux de pixels adjacents; un moyen de sommation de chacune desdites pondérations de pixels de base de données d'exploration pour former une pondération desdits réseaux de pixels de base de données d'exploration; un moyen de comparaison, à ladite valeur de seuil de défaut, de ladite pondération sommée de pixels du réseau de base de données d'exploration; et un moyen de génération d'un signal indicatif d'un défaut au cas o ladite pondération sommée de pixels de réseau de base de données d'exploration dépasserait ledit niveau de seuil de défaut. 3. Système selon la revendication 2, caractérisé en outre par: un moyen de génération d'une base de données nominale de signaux indicative d'une image de particularités de dessin-modèle d'une carte de circuit imprimé, ou PCB, chacune des particularités possédant des dimensions nominales, lesdites bases de données comprenant un réseau de pixels dont l'état peut être soit un premier état ou état noir, soit un deuxième état ou état blanc, lesdits pixels d'état noir correspondants auxdites particularités de la carte de circuit imprimé; un moyen servant à engendrer une base de données (42) qui inclut des signaux correspondants à au moins un ensemble de valeurs de tolérances de minima et de maxima pour au moins une particularité choisie parmi lesdites particularités de la carte de circuit imprimé; un moyen servant à réaliser à partir desdites bases de données, de valeur nominale et de valeur de tolérance, une base de données (38) de minima telle que lesdites dimensions nominales des particularités choisies de la carte de circuit imprimé soient réduites de ladite valeur de tolérance de minima; un moyen servant à réaliser à partir desdites bases de données, de valeur nominale et de valeur de tolérance, une base de données (40) de maxima telle que lesdites dimensions nominales choisies de particularités de carte de circuit imprimé soient augmentées de ladite valeur de tolérance de maxima; un moyen servant à comparer l'état de chacun des pixels de ladite base de données de minima avec ledit état nominal de pixels; un moyen servant à comparer l'état de chacun des pixels de ladite base de données de maxima avec ledit état nominal de pixels; un moyen servant à fournir à une base de données de transition de tolérance un pixel d'état noir si les deux états de pixel, minimum et maximum, sont noirs; un moyen servant à fournir a ladite base de données de transition de tolérance un pixel d'état blanc si les deux états de pixel, minimum et maximum, sont blancs; un moyen servant à fournir à ladite base de données de transition de tolérance un pixel d'état de transition noir si lesdits états de pixel, minimum et nominal sont différents; et un moyen servant à fournir à ladite donnée de base de transition de tolérance un pixel d'état de transition blanc si lesdits états de pixel, maximum et nominal, sont différents. 4. Système selon la revendication 2, caractérisé en outre par: un moyen (53) servant à convertir, en un format comprimé, ladite base de données de transition de tolérance et ladite base de données d'exploration; et un moyen servant à comparer ladite base de données comprimée d'exploration avec ladite base de données de transition comprimée de tolérance et à engendrer un signal de défaut à partir de cette comparaison. 5. Procédé selon la revendication 4, caractérisé en outre en ce que: ladite donnée de base de transition de tolérance et ladite donnée de base d'exploration sont comprimées (52) sous un format encodé de longueur de lot. 6. Système selon la revendication 2. caractérisé en outre en ce que: ledit sous-ensemble optique comprend en outre une lentille télécentrique (114) pour envoyer audit substrat ledit faisceau optique d'éclairage. 7. Système selon la revendication 2, caractérisé en ce que: ledit dispositif de commande comprend en outre un moyen de déplacement dudit chariot par rapport audit substrat dans une séquence de positions disposées en un trajet sinueux, ladite caméra engendrant des ensembles correspondants de signaux de pixels à entrer dans ladite base de données d'exploration. 8. Système selon la revendication 2, dans lequel ledit sous-système optique est en outre caractérisé par: une première et une deuxième caméras (240, 242) espacées l'une de l'autre de façon fixe en travers d'une ligne de balayage sur ledit substrat dans des bandes respectives de substrat d'une manière telle que lesdites deux caméras forment toutes deux des images d'une zone de recouvrement du substrat; un moyen d'identification servant à déterminer des signaux de pixels, venant desdites deux caméras, qui correspondent à ladite zone de recouvrement: un moyen de compensation pour enlever, de ladite base de données d'exploration, des signaux redondants de pixels venant de ladite zone de recouvrement. 9. Système selon la revendication 8, dans lequel ledit moyen d'identification est en outre caractérisé par: un moyen de génération de signaux de correction en comparant l'emplacement des marques explorées de référence situées à l'intérieur de ladite zone de recouvrement avec leurs emplacements correspondants connus, et en ce que ledit moyen de compensation identifie comme redondants des signaux de pixels de ladite base de données explorée par comparaison avec lesdits signaux de correction. 10. Système selon la revendication 9, dans lequel ledit moyen d'identification est en outre caractérisé par un moyen de génération de signaux de correction en calculant la différence entre une position d'un point de référence (250) dans une première bande de caméra et une position correspondante de point de référence dans une deuxième bande, et en ce que ledit moyen de compensation ajoute un signal de correction correspondant à la position de chaque signal de pixel. 11. Système selon la revendication 2, dans lequel ledit sous-système optique est en outre caractérisé par un moyen (109) d'éclairage adaptatif servant à maintenir une brillance constante du faisceau d'éclairage et incluant un moyen d'envoi de signaux de commande (212) de brillance à ladite source optique; un moyen de génération d'un histogramme (216) d'intensités de signaux de pixels à une brillance de référence de faisceau d'éclairage; un moyen de détermination du nombre total de pixels dudit histogramme; un moyen de calcul (218) de seuil pour calculer le nombre de pixels d'histogramme qui constituent un pourcentage choisi des intensités maximales de signaux de pixels et une valeur d'échelle des gris d'intensité de pixel au-dessus de laquelle sont situées des intensités maximales de signaux de pixels; un moyen de calcul de moyenne (220) pour déterminer l'intensité moyenne dudit pourcentage choisi des intensités maximales de signaux de pixels: un moyen de comparaison (210) de ladite brillance de référence du faisceau d'éclairage avec une brillance actuelle du faisceau d'éclairage et de calcul d'un signal de correction de brillance à partir de cette comparaison; et un moyen (212) de génération d'un nouveau signal de commande de brillance à partir dudit signal actuel de commande de brillance et dudit signal de correction de brillance. 12. Système selon la revendication 11, dans lequel ledit moyen de calcul de seuil est en outre caractérisé par un moyen de calcul dudit seuil selon l'équation suivante: Seuil = (int) (fraction * (double(n); o la fraction est égale à 0,05 et n est égale à la somme de tous les intervalles d'histogramme. 13. Système selon la revendication 11, dans lequel ledit moyen de calcul de moyenne est en outre caractérisé par: un moyen de calcul de ladite intensité moyenne supérieure à la valeur choisie de pourcentage, selon les équations suivantes: cumm = 0 moy = 0: pour(i = 255, i≥ 0; --i) { cumm += hist[il; moy += (long)hist[il* (long)i: Si (cumm ≥ seuil) break: ] maxmoyenne = (int)(moy/(long)cumm); o "cumm" est la valeur d'échelle des gris et "moy" est l'intensité moyenne. 14. Système selon la revendication 11 caractérisé en outre par un moyen de calcul dudit nouveau signal de commande de brillance selon l'équation suivante: It+l = K * correction * It + (l-K) * It o "It" correspond à la valeur actuelle du signal de commande de brillance à un instant t, "correction" correspond à la valeur du signal de correction de brillance et "K" est une constante déterminée empiriquement. 15. Système selon la revendication 2, dans lequel ledit moyen de traitement (172) de signaux est en outre caractérisé par un moyen de réalisation d'une compensation liée à la distorsion du substrat, qui inclut: un moyen d'identification de signaux de pixels d'une base de données d'exploration qui correspondent à des marques d'alignement dont l'image est formée sur ledit substrat; un moyen de calcul de la position desdites marques explorées d'alignement de substrat les unes par rapport aux autres; un moyen de comparaison des positions relatives calculées des marques d'alignement avec des positions relatives idéales; un moyen de calcul de signaux de compensation, liée à la distorsion de substrat, de positionnement des pixels en fonction de ladite comparaison; et un moyen de combinaison desdits signaux calculés de compensation liée à la distorsion de substrat avec lesdits signaux de base de données explorée afin d'éliminer toutes différences entre le positionnement des pixels et leurs emplacements idéaux, en éliminant ainsi la distorsion du substrat. 16. Système selon la revendication 2, dans lequel ledit moyen de traitement (172) de signaux est en outre caractérisé par un moyen d'interpolation d'échantillon qui inclut: un moyen de détermination d'une valeur d'intensité pour des paires de signaux de pixels explorés adjacents; un moyen de calcul d'une valeur moyenne d'intensité desdites paires de signaux de pixels explorés adjacents et un moyen de calcul d'un signal de pixel intermédiaire, positionné entre ladite paire de pixels explorés, dont la valeur d'intensité correspond à ladite valeur moyenne d'intensité, en accroissant ainsi la densité de pixels de la base de données explorée. 17. Système selon la revendication 2, dans lequel ledit moyen de traitement (172) de signaux est en outre caractérisé par un moyen de réalisation d'une compensation liée à une erreur répétitive de commande de mouvement, qui inclut: un moyen de création d'une base de données de pixels explorée d'un substrat d'alignement qui contient une séquence de marques d'alignement; un moyen de mesure des positions relatives desdites marques d'alignement dans ledit substrat d'alignement; un moyen de comparaison desdites positions mesurées relatives des marques d'alignement avec des positions relatives idéales; un moyen de calcul de signaux de compensation, liée à la commande du mouvement, de positionnement de pixels en fonction de ladite comparaison; et un moyen de combinaison desdits signaux calculés de compensation liée à la commande de mouvement avec des signaux de base de données explorés à partir d'un substrat, en éliminant ainsi une erreur répétitive de commande de mouvement. 18. Système selon la revendication 2, dans lequel ledit moyen de traitement (172) de signaux est en outre caractérisé par un moyen de réalisation d'une compensation liée à des défauts du sous-système optique, qui inclut: un moyen de création d'une base de données de pixels d'un dessin-modèle de calibrage dont l'image est formée par le sous-système optique; un moyen de mesure des positions relatives de marques d'alignement dans ladite base de données de pixels du dessin-modèle de calibrage; un moyen de comparaison desdites positions mesurées relatives de marques d'alignement avec des positions relatives idéales; un moyen de calcul de signaux de compensation liée à un défaut optique en fonction de ladite comparaison; un moyen de réalisation d'une compensation liée à la distorsion du substrat, qui inclut: un moyen d'identification de signaux de pixels d'une base de données d'exploration qui correspondent à des marques d'alignement dont l'image est formée sur ledit substrat; un moyen de calcul de la position desdites marques explorées d'alignement de substrat les unes par rapport aux autres; un moyen de comparaison des positions relatives calculées des marques d'alignement avec des positions relatives idéales; un moyen de calcul de signaux de compensation, liée à la distorsion de substrat, de positionnement des pixels en fonction de ladite comparaison; un moyen de réalisation d'une compensation liée à une erreur répétitive de commande de mouvement, qui inclut: un moyen de création d'une base de données de pixels explorée d'un substrat d'alignement qui contient une séquence de marques d'alignement; un moyen de mesure des positions relatives desdites marques d'alignement dans ledit substrat d'alignement; un moyen de comparaison desdites positions relatives mesurées des marques d'alignement avec des positions relatives idéales; un moyen de calcul de signaux de compensation, liée à la commande du mouvement, de positionnement de pixels en fonction de ladite comparaison; et un moyen de combinaison desdits signatux calculés de compensation liée à la commande de mouvement avec lesdits signaux calculés de compensation liée à un défaut optique, avec lesdits signaux calculés de compensation liée à un distorsion du substrat, tous avec lesdits signaux de données de base explorée afin d'éliminer toutes différences dans le positionnement de pixels par comparaison avec des emplacements idéaux, en éliminant ainsi une erreur de système. 19. Système selon la revendication 2, caractérisé en outre par un moyen marqueur (189) fixé sur ledit chariot pour réaliser une marque près de chaque défaut identifié. 20. Système selon la revendication 2, caractérisé en outre par un moyen de micromanipulateur pour engendrer des signaux de commande (194) pour déplacer ledit chariot et ledit système optique par rapport à ladite platine. 21. Système selon la revendication 2, caractérisé par un moyen d'établissement d'un seuil vidéo apte à recevoir lesdits signaux de caméra et à engendrer à partir de ceux-ci des signaux correspondants d'affichage vidéo; un affichage vidéo apte présenter visuellement à un opérateur lesdits signaux ajustés d'affichage vidéo et à recevoir de l'opérateur des signaux d'ordre pour ajuster l'amplitude des signaux d'affichage videéo, en ajustant ainsi le seuil d'affichage de pixels. 22. Système selon la revendication 2, caractérisé en outre par un moyen de convolution de la somme des pondérations de défauts pour un réseau avec les pondérations de défauts de chaque réseau adjacent lorsque les pixels desdits réseaux sont spéciaux. 23. Système selon la revendication 2, caractérisé par un moyen de regroupement de la pondération de défaut de cellules adjacentes afin de former une grande cellule unique à pondération globale de défaut. 24. Système selon la revendication 3, dans lequel ledit moyen de traitement (172) de signaux est en outre caractérisé par un moyen de classement desdits signaux de pixels en comparant en premier lieu lesdits signaux de pixels à un niveau médian de seuil afin de diviser ladite base de données de pixels en classes d'amplitudes supérieures et inférieures de la valeur du signal de pixel, et en comparant ensuite ladite classe d'amplitudes supérieures à un niveau supérieur de seuil et ladite classe d'amplitudes inférieures à un niveau inférieur de seuil afin de classer chaque pixel dans l'un de quatre états.