FR 2719123 A1 19951027 FR 9404875 A 19940422 DISPOSITIF DE DETECTION DE LA VARIATION NON TRANSITOIRE D'UNE TENSION D'ALIMENTATION La présente invention concerne un dispositif de détection de la variation, non transitoire, d'une tension d'alimentation électrique. Dans les systèmes informatiques ou électroniques actuels, la notion d'autonomie de ces systèmes est primor- diale. Indépendamment de l'autonomie effective de ces derniers, en particulier lorsqu'ils sont mis en oeuvre sous forme de matériels embarqués portables voire implantés, il est de la plus haute importance de pouvoir contrôler et surveiller l'évolution de la tension d'alimentation électri- que de ces appareils, lorsque notamment ceux-ci sont alimen- tés à partir de batteries d'accumulateurs rechargeables par exemple. De manière classique, l'homme de l'art sait comparer la valeur d'une tension à surveiller, telle que la valeur de la tension d'une batterie d'accumulateurs, à une valeur de seuil, de manière à engendrer un signal lors du franchisse- ment de cette valeur de seuil par la tension à surveiller. Ce mode opératoire à partir d'un comparateur permet cepen- dant au plus de détecter le seul franchissement de la valeur de seuil, sans donner d'information relativement à la nature transitoire ou non de ce franchissement, sauf à prévoir des circuits de filtrage des perturbations transitoires de cette tension à surveiller. En outre, en général le déclenchement de ces comparateurs implique un déclenchement soit par valeurs supérieures, soit par valeurs inférieures, la mise en oeuvre de dispositifs de surveillance utilisables tant à l'initia- lisation ou mise en route de ces appareils qu'en fin de durée de vie de leur batterie d'accumulateurs d'alimentation impliquant en fait le doublement de ces dispositifs par mise en parallèle de ce type de comparateurs, l'un déclenchant sur dépassement par valeurs supérieures, l'autre par valeurs inférieures. La présente invention a pour objet de remédier aux inconvénients précités des dispositifs de l'art antérieur par la mise en oeuvre d'un dispositif de détection de la variation non transitoire d'une tension d'alimentation permettant de délivrer un signal détecté de valeur constan- te, tant que la tension d'alimentation est supérieure à une valeur de seuil déterminée, et un signal détecté dont la valeur est égale à celle de la tension d'alimentation, tant que cette dernière est inférieure à ladite valeur de seuil. Un autre objet de la présente invention est la mise en oeuvre d'un dispositif de détection de la variation non transitoire d'une tension d'alimentation électrique permet- tant d'effectuer un contrôle et une surveillance du niveau de la tension d'alimentation d'appareils électroniques, micro-électroniques ou informatiques, au prix d'une très faible consommation de l'énergie électrique de cette source d'alimentation. Le dispositif de détection de la variation non transitoire d'une tension d'alimentation par rapport à une tension de référence, objet de la présente invention, est remarquable en ce qu'il comprend un circuit détecteur à seuil asymétrique d'une variation de tension comprenant une entrée de référence connectée à la tension de référence, et une entrée de détection alimentée par la tension d'alimenta- tion par l'intermédiaire d'un premier diviseur potentiomé- trique. Le circuit détecteur à seuil permet de délivrer une tension variable à partir de la tension de référence copie des variations, avec la même pente, de la tension d'alimen- tation. Un circuit comparateur de niveau est prévu, ce circuit comportant une entrée de comparaison négative et une entrée de comparaison positive. L'entrée de comparaison négative est connectée au circuit détecteur à seuil et reçoit la tension variable et l'entrée de comparaison positive est reliée à la tension d'alimentation par l'inter- médiaire d'un deuxième diviseur potentiométrique, ajustable, commandé par la sortie du circuit comparateur de niveau. Le circuit comparateur de niveau engendre sur sa sortie un signal dont la valeur est égale soit à la valeur de la tension d'alimentation, lorsque cette dernière est infé- rieure ou égale à une valeur de seuil, soit à la valeur de la tension de référence lorsque la tension d'alimentation est supérieure à cette valeur de seuil. Le dispositif de détection objet de l'invention trouve application dans l'industrie électronique ou micro- électronique pour la mise en oeuvre de circuits de contrôle ou de surveillance de la tension d'alimentation de matériels informatiques ou micro-électroniques, portables, implantés ou d'électronique automobile. Il sera mieux compris à la lecture de la description et à l'observation des dessins ci-après dans lesquels: - la figure 1 représente, sous forme de blocs fonctionnels, un schéma synoptique du dispositif objet de la présente invention, - les figures 2a, 2b montrent un chronogramme des variations de tension lors de l'établissement et de la coupure, par exemple, de la tension d'alimentation, - la figure 3a représente un détail de réalisation du premier pont diviseur permettant de supprimer les variations transitoires de la tension d'alimentation transmises à l'entrée du détecteur à seuil, - la figure 3b représente un mode de réalisation particulier, non limitatif, du détecteur à seuil en techno- logie CMOS, - les figures 4a et 4b représentent différents chronogrammes de signaux aux points de test de la figure 1. Le dispositif de détection de la variation non transitoire d'une tension d'alimentation électrique, objet de la présente invention, sera maintenant décrit en liaison avec les figures 1 et suivantes. Selon la figure 1 précitée, on indique que le dispositif objet de la présente invention comprend un circuit 1 détecteur à seuil asymétrique d'une variation de tension, ce circuit permettant, à partir de la tension de référence, notée V=F, de délivrer une tension variable, laquelle est une copie des variations, avec la même pente, de la tension d'alimentation notée Vcc. La fonction de transfert du circuit détecteur 1 est représentée en figures 2a et 2b, lesquelles seront explici- tées ultérieurement dans la description. Le circuit détec- teur à seuil 1 comprend une entrée de référence connectée à la tension de référence V.F, et une entrée de détection. L'entrée de détection est alimentée par la tension d'alimen- tation Vcc par l'intermédiaire d'un premier diviseur poten- tiométrique. On indique d'une manière générale que le premier diviseur potentiométrique, ainsi que représenté en figure 2a, délivre à partir de la tension d'alimentation Vcc lorsque celle-ci est soumise à des variations, un signal représenté, correspondant au point de test A de la figure 1, cette variation étant représentée entre la tension de référence VR, et la tension d'alimentation Vcc avec une pente k1 lors par exemple de la mise sous tension de l'ensemble du dispositif de détection représenté en figure 1, le premier dispositif diviseur potentiométrique délivrant à l'entrée du circuit détecteur 1 une tension correspondante avec une pente de valeur k'1, ainsi que représenté pour le point de test B de la figure 1 en trait mixte sur la figure 2a. Le circuit détecteur à seuil 1 permet de délivrer, ainsi que représenté en figure 2a, le signal tel que repré- senté au point de test C de la figure 1, ce signal corres- pondant à la tension variable, avec la même pente k1 que celle de la variation de la tension d'alimentation avec un retard dû à l'asymétrie du seuil du détecteur, ce retard étant noté At sur la figure 2a. En outre, le dispositif de détection objet de la présente invention comprend un circuit comparateur de niveau 2, comportant une entrée de comparaison négative et une entrée de comparaison positive. L'entrée de comparaison négative est connectée en sortie du circuit détecteur à seuil 1 et reçoit la tension variable, tel que représentée en figure 2, alors que l'entrée de comparaison positive du circuit comparateur 2 est reliée à la tension d'alimentation par l'intermédiaire d'un deuxième diviseur potentiométrique ajustable, commandé par la sortie du circuit comparateur de niveau 2. Le fonctionnement du dispositif de détection représenté en figure 1 est le suivant: pour une variation de la tension d'alimentation Vî à partir d'une valeur de tension de départ sensiblement stable, lors de la mise sous tension à un instant to de l'ensemble par exemple à partir d'une valeur zéro correspondant à la tension de référence V,,F, la tension délivrée au point de test D de la figure 1 correspondant à l'entrée positive du circuit comparateur de niveau 2, évolue avec une pente k2, ainsi que représenté en figure 2a, inférieure à la pente k1 de la tension variable délivrée par le circuit détecteur à seuil 1. En raison du retard At de la tension variable précitée, mais compte tenu de la pente k1 supérieure à la pente k2 de la tension variable par rapport à la pente du signal délivré par le deuxième diviseur potentiométrique, le signal de sortie Vs délivré par le circuit comparateur de niveau 2 n'est autre que la tension d'alimentation V, tant que la tension variable délivrée par le circuit détecteur à seuil 1 est inférieure au signal délivré par le deuxième diviseur potentiométrique à l'entrée de comparaison positive du circuit comparateur de niveau 2. Sur dépassement de cette dernière, ainsi que représenté en figure 2, le circuit comparateur de niveau 2 provoque une commutation et la tension de sortie Vs précédemment égale à la tension variable précitée et délivre, sur commutation, une tension constante égale à la tension de référence V,.. La commuta- tion se produit pour une valeur de la tension d'alimentation égale à V.uil. Cette variation de la tension de sortie Vs provoque alors une commutation de la valeur du deuxième diviseur potentiométrique précédemment cité, par augmenta- tion de l'impédance totale du deuxième diviseur potentiomé- trique précité, ce qui permet d'abaisser la valeur de la tension d'entrée appliquée à l'entrée de comparaison positive du circuit comparateur de niveau 2 à une valeur basse, le circuit comparateur de niveau 2 délivrant alors en sortie la tension de sortie Vs dont la valeur est égale à la tension de référence V,. tant que la tension d'alimentation Vcc reste supérieure à la nouvelle valeur de seuil, définie par la commutation de la valeur du deuxième diviseur potentiométrique. D'une manière générale, on indique que lors d'une variation de la tension d'alimentation à partir d'une valeur d'alimentation maximale Vcc par exemple, ainsi que repré- senté en figure 2a, le processus est sensiblement symétri- que, le deuxième diviseur potentiométrique ayant été ramené à sa valeur initiale. Sur la figure 2a, on a représenté également une variation de la tension d'alimentation à partir de la valeur maximale Vc. avec une pente opposée -kl. En l'absence de retour à la valeur initiale du deuxième diviseur potentiomé- trique, la valeur de la tension au point de test D est par exemple égale à VD, fixée par la valeur commutée du deuxième potentiomètre. En présence d'un retour à la valeur initiale du deuxième diviseur potentiométrique, la valeur de la tension au point de test D est par exemple égale à VD, fixée par la valeur non commutée du deuxième potentiomètre. Sur variation de la tension d'alimentation Vcc à partir de la valeur maximale VcC, à un instant t1 quelconque, la varia- tion étant une diminution avec une pente -k. pour fixer les idées, la tension variable au point C évolue avec la même pente -k1 à partir de la valeur initiale Vc. La tension au point D évolue en outre à partir de la valeur initiale V. ou Vc en présence ou non d'un retour à la valeur initiale, avec une pente -k2 respectivement -k3 en fonction de la valeur non commutée ou commutée du deuxième diviseur potentiométrique. Ainsi, l'intersection des valeurs de tension Vc au point C et VD ou VDC au point D intervient pour une valeur de seuil V..uil2 respectivement V,.uil2c de la tension d'alimentation. Dans le cas général, les tensions V..uil et Vu,l12 sont différentes, car dépendant des valeurs initiales VD, VDC. Ainsi qu'on l'a en outre représenté en figure 3a, on indique que le premier diviseur potentiométrique peut comprendre, connecté en cascade entre la tension d'alimenta- tion Vcc et la tension de référence V,, un circuit 3 de type à courant constant permettant d'atténuer les variations transitoires de la tension d'alimentation Vcc à l'entrée du circuit comparateur de niveau 1. On indique que ce circuit 3 peut être constitué par un générateur de courant, lequel, en raison du courant imposé par ce dernier, impose sensible- ment au point de test A de la figure 1 une tension continue sensiblement égale à la tension d'alimentation Vcc en ce point. Au générateur de courant 30 est connecté un réseau de résistances Z1, Z2, le point commun de ces résistances étant relié à l'entrée du circuit détecteur de niveau 1. En ce qui concerne le deuxième diviseur potentiomé- trique, on indique que celui-ci peut être formé par, successivement connectées entre la tension d'alimentation VCC et la tension de référence VR,, une impédance ajustable programmable Z3, une résistance Z4 et une résistance Z5, les impédances ou résistances Z3 à Z5 étant connectées entre la tension d'alimentation et la tension de référence V.F, le point commun entre la résistance Z4 et la résistance Z5 étant relié à l'entrée de comparaison positive du circuit comparateur de niveau 2. En ce qui concerne la valeur des résistances Z3, Z4, Z5 du deuxième diviseur potentiométrique, on indique que ces valeurs sont choisies de façon à constituer, pour la tension appliquée au point de test D de la figure 1 une valeur de seuil, notée V.,uil, correspondant à l'initialisation à une valeur arbitraire fraction de la tension d'alimentation maximale Vcc précédemment indiquée dans la description. On indique que pour une tension d'alimentation Vcc, égale à 5 volts, la valeur de seuil ainsi constituée initialement peut être prise égale à V,,uil = 2 volts. Lors de la commutation par l'intermédiaire de la tension de sortie Vs, on indique que l'impédance Z3 est amenée à une valeur plus importante que la valeur initiale précitée, cette valeur de Z3 étant choisie de façon que, après commutation par l'intermédiaire de la tension de sortie Vs, la tension au point de test D délivrée par le deuxième diviseur potentiométrique soit inférieure à la tension délivrée sur l'entrée de comparaison négative du circuit comparateur de niveau 2, soit à la valeur d'inter- section des courbes de pente kl et k2 sur la figure 2. La figure 2b montre le chronogramme correspondant de la tension de sortie Vs délivrée par la sortie du compara- teur de niveau 2. Une description plus détaillée du circuit détecteur à seuil 1 sera maintenant donnée en liaison avec la figure 3b. Dans le mode de réalisation précité, on indique que le circuit détecteur à seuil 1 peut comprendre avantageuse- ment un premier, un deuxième, un troisième et un quatrième transistor MOS, référencés 11, 12, 13, 14 respectivement, connectés en série entre la tension d'alimentation Vcc et la tension de référence V^,. Les premier et deuxième transis- tors MOS 11 et 12 sont d'un même premier type de conduction, type P dans le cas de la représentation de la figure 3b, et les troisième et quatrième transistors MOS 13 et 14 sont d'un deuxième type de conduction, opposé au premier type, et donc de type N dans le cas de la représentation de la figure 3b. Le premier pont diviseur, tel que représenté par exemple en figure 3a, est alors connecté en parallèle à partir du point commun entre les impédances Zl et Z2 à la grille du premier, deuxième, troisième et quatrième transis- tors MOS 11, 12, 13 et 14. En outre, un cinquième transistor MOS, noté 15, de même type de conduction que le premier type de conduction, de type P. est prévu, l'électrode de grille du cinquième transistor MOS 15 étant reliée au point commun entre le deuxième et le troisième transistor MOS 12, 13 précédemment mentionnés. Les électrodes de source et de drain du cin- quième transistor MOS 15 sont connectées entre le point commun du premier et du deuxième transistor MOS 11, 12 et la tension de référence VEF. On indique que, à l'état de conduction, le cinquième transistor MOS 15 présente une résistance très supérieure à celle du premier transistor MOS 11 dans un rapport 1 000 environ. Enfin, un sixième transistor MOS 16, de même type de conduction que le deuxième type de conduction précédemment cité, soit un sixième transistor MOS 16 de type N, est prévu, l'électrode de grille de ce transistor étant reliée au point commun entre le deuxième et le troisième transistor MOS 12, 13. Les électrodes de drain et de source du sixième transistor MOS 16 sont connectées entre la tension d'alimen- tation Vcc et le point commun entre le troisième et le quatrième transistor MOS 13, 14 précédemment mentionnés. Sur la figure 3b, on a indiqué la présence de points de test E, lesquels correspondent respectivement aux points de test B de la figure 1, au point commun entre le deuxième et le troisième transistor MOS 12, 13, c'est-à-dire à la grille du cinquième transistor MOS 15, et au point commun entre le premier et le deuxième transistor MOS 11, 12 ainsi qu'aux points de test C de la figure 1, c'est-à-dire en sortie du circuit détecteur à seuil 1 de la figure 1. Le fonctionnement de ce dernier circuit tel que représenté en figure 3b est le suivant, dans le cas o, lors de l'initialisation, la tension d'alimentation est portée de la valeur zéro à la valeur Vcc avec une constante de temps déterminée, la constante de temps correspondant à la pente k1 sur la figure 1. Les points de test E et F sont tout d'abord à la valeur zéro. Pendant la montée de la tension d'alimentation vers la valeur Vc^^ avec la pente kl, la tension au point de test G, c'est-à-dire en sortie du circuit détecteur à seuil, se maintient à la valeur de la tension de référence Vu,. Il en est de même pour le point de test F en raison de l'ab- sence de conduction des premier, deuxième, troisième et quatrième transistors MOS 11 à 14. La tension d'alimentation augmentant avec la pente k1, la tension au point de test E augmente également et les premier, deuxième, troisième transistors MOS 11, 12 et 13 se mettent alors à conduire, la tension au point de test G, c'est-à-dire en sortie du circuit détecteur à seuil 1 prenant la valeur: V- ZT5 Vcc Vcc ZT5 + ZT1 En raison du rapport des impédances de 1 à 1000 entre les premier et cinquième transistor MOS 11 et 15, on comprend que la tension délivrée par le point G, c'est-à- dire par la sortie du circuit détecteur à seuil, suit ainsi la pente de la valeur de la tension d'alimentation Vcc avec la valeur de seuil ou de retard At précédemment mentionnée dans la description. On comprend également que pour une variation négative de la tension à partir d'une valeur finale corres- pondant à la tension d'alimentation Vc,,, la tension variable délivrée par le circuit détecteur à seuil 1 suit également la pente de cette tension d'alimentation variable en raison de la valeur des impédances précitées. On comprend ainsi que lors de la conduction des cinquième et premier transistors MOS 15 et 11, le point commun des premier et deuxième transistors MOS 11 et 12 permet de délivrer une tension proportionnelle à la tension d'alimentation, laquelle constitue la tension variable délivrée par le circuit détecteur 1. ill D'une manière générale, dans un mode préférentiel de réalisation, on indique que le circuit d'atténuation des variations transitoires de la tension d'alimentation Vcc, le circuit 3, et plus spécifiquement le générateur de courant 30, peuvent être réalisés en technologie CMOS, ce qui permet bien sur, à partir d'une réalisation telle que représentée en figure 3b pour le circuit détecteur à seuil 1 et pour le circuit comparateur de niveau 2, d'envisager la réalisation du dispositif de détection objet de la présente invention sous forme de circuit intégré. On indique d'autre part que les impédances Zl à Z5 peuvent également être réalisées au moyen de transistors de type MOS, lesquels peuvent permettre la réalisation de résistances de bonne précision. En ce qui concerne plus particulièrement l'impédance ajustable Z3, on indique que celle-ci peut être réalisée sous forme d'impé- dances programmables au moyen de circuits MOS afin de permettre également l'intégration de l'ensemble. Les valeurs finales VD, VDC et de seuil V.,,,ln, Vui,12, V.,uil2c peuvent ainsi être ajustées. Ainsi qu'on l'a également représenté en figure 1, le dispositif de détection objet de la présente invention, peut comprendre avantageusement un circuit 4 de commande permet- tant de délivrer un signal de mise en service ou de blocage, ce signal étant noté SCFB sur la figure 1 précitée. Ce signal de mise en fonctionnement ou de blocage permet par exemple d'assurer la mise en service ou le blocage du générateur de courant 3 et du comparateur de niveau 2, ce qui permet de commander le fonctionnement ou l'arrêt de l'ensemble du dispositif de détection par blocage ou mise en fonctionnement des circuits détecteur à seuil 1, comparateur de niveau 2 et générateur de courant 3. D'une manière générale, on indique que le circuit de commande 4 peut simplement délivrer un signal bloquant ou autorisant l'alimentation du circuit de filtrage 3 et du circuit comparateur de niveau 2, par exemple. Dans un mode de réalisation plus avantageux, on indique que le circuit de commande 4 peut délivrer un signal périodique, lequel permet d'effectuer une commande échantil- lonnée du fonctionnement du dispositif, afin d'obtenir une réduction de la consommation globale d'énergie du dispositif représenté en figure 1. D'une manière générale, on indique que la période et la durée d'échantillonnage sont programmables et modulables en fonction de l'application considérée. Ainsi, lorsque le dispositif de détection objet de la présente invention, est utilisé pour contrôler et surveiller la tension d'alimenta- tion d'un micro-ordinateur portable par exemple, la période d'échantillonnage peut être fixée par exemple à une valeur de dix minutes, la durée d'échantillonnage elle-même étant par exemple de quelques centaines de ms. Lorsque, au contraire, le dispositif de détection objet de la présente invention est appliqué au contrôle et à la surveillance de la tension d'alimentation d'un véhicule automobile par exemple, la période d'échantillonnage peut être portée à une durée beaucoup plus grande, une à plu- sieurs heures par exemple. Enfin, dans le cas de matériels électroniques implantés, tels que des simulateurs cardiaques, on indique que la période d'échantillonnage peut être ramenée si nécessaire à quelques minutes afin d'assurer une surveil- lance constante de la tension d'alimentation de ces simula- teurs. Les figures 4a et 4b représentent l'allure des variations de tension au point de test C et D de la figure 1 respectivement d'une tension d'alimentation variable et de la tension de sortie Vs correspondante. On a ainsi décrit un dispositif de détection de la variation non transitoire d'une tension d'alimentation particulièrement performant dans la mesure o ce dispositif permet de délivrer soit une tension égale à la tension d'alimentation lorsque celle-ci est inférieure à une valeur de seuil et une tension constante égale à la tension de référence ou masse lorsqu'au contraire, la tension d'alimen- tation est supérieure à la valeur de seuil précitée. Ce dispositif présente une très grande souplesse d'utilisation dans la mesure o le fonctionnement de ce dernier peut être commandé soit manuellement, soit de manière automatique selon un mode échantillonné. REVENDICATIONS 1. Dispositif de détection de la variation non transitoire d'une tension d'alimentation, par rapport à une tension de référence, caractérisé en ce qu'il comprend: - un circuit détecteur à seuil asymétrique d'une variation de tension, ce circuit détecteur comportant une entrée de référence connectée à la tension de référence et une entrée de détection alimentée par ladite tension d'alimentation par l'intermédiaire d'un premier diviseur potentiométrique, ce circuit détecteur à seuil permettant, à partir de la tension de référence, de délivrer une tension variable, copie des variations, avec la même pente, de la tension d'alimentation, - un circuit comparateur de niveau comportant une entrée de comparaison négative et une entrée de comparaison positive, ladite entrée de comparaison négative étant connectée audit circuit détecteur à seuil et recevant ladite tension variable et ladite entrée de comparaison positive étant reliée à ladite tension d'alimentation par l'intermé- diaire d'un deuxième diviseur potentiométrique, ajustable, commandé par la sortie dudit circuit comparateur de niveau, ce qui permet d'engendrer en sortie dudit comparateur de niveau un signal dont la valeur est égale soit à la valeur de la tension d'alimentation lorsque ladite tension d'ali- mentation est inférieure ou égale à une valeur de seuil, soit à la valeur de la tension de référence lorsque ladite tension d'alimentation est supérieure à ladite valeur de seuil. 2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que ledit premier diviseur potentiométrique comprend, connectés en cascade entre la tension d'alimentation et la tension de référence: - un générateur de courant, - un réseau de résistances, le point milieu des résistances étant relié à l'entrée dudit circuit détecteur à seuil, ce qui permet d'atténuer les variations de tensions transitoires de ladite tension d'alimentation à l'entrée dudit circuit détecteur à seuil. 3. Dispositif selon la revendication 1 ou 2, caractérisé en ce que ledit circuit détecteur à seuil comprend: - un premier, deuxième, troisième et quatrième transistors MOS connectés en série entre ladite tension d'alimentation et ladite tension de référence, lesdits premier et deuxième transistors MOS étant d'un même premier type de conduction et lesdits troisième et quatrième transistors MOS étant d'un même deuxième type de conduction, opposé au premier type, ledit premier pont diviseur étant connecté en parallèle à la grille du premier, deuxième, troisième et quatrième transistors MOS, - un cinquième transistor MOS de même type de conduction que le premier type de conduction dont l'élec- trode de grille est reliée au point commun entre le deuxième et le troisième transistor MOS et dont les électrodes de source et de drain sont connectées entre le point commun du premier et du deuxième transistor MOS et la tension de référence, ledit cinquième transistor MOS présentant en conduction une résistance très supérieure à celle du premier transistor MOS, - un sixième transistor MOS de même type de conduc- tion que le deuxième type de conduction dont l'électrode de grille est reliée au point commun entre le deuxième et le troisième transistor MOS et dont les électrodes de drain et de source sont connectées entre la tension d'alimentation et le point commun entre le troisième et le quatrième transis- tor MOS, ce qui permet lors de la conduction des cinquième et premier transistors MOS de délivrer au point commun des premier et deuxième transistors MOS une tension proportion- nelle à la tension d'alimentation, cette tension proportion- nelle constituant ladite tension variable délivrée par le circuit déclencheur. 4. Dispositif selon l'une des revendications précé- dentes, caractérisé en ce que ledit deuxième pont diviseur comprend une résistance ajustable de valeur programmable ce qui permet d'ajuster ladite valeur de seuil déterminant la valeur du signal par ledit circuit comparateur de niveau. 5. Dispositif selon l'une des revendications 2 à 4, caractérisé en ce que celui-ci comporte en outre un circuit de commande permettant de délivrer un signal de mise en service ou de blocage du générateur de courant et du comparateur de niveau, ce qui permet de commander le fonctionnement ou l'arrêt dudit dispositif de détection. 6. Dispositif selon la revendication 5, caractérisé en ce que ledit circuit de commande délivre un signal périodique, ce qui permet d'effectuer une commande échantil- lonnée du fonctionnement du dispositif et d'obtenir une réduction de la consommation globale d'énergie. 7. Dispositif selon la revendication 5, caractérisé en ce que ladite période et la durée d'échantillonnage sont programmables et modulables en fonction de l'application considérée. 8. Utilisation d'un dispositif de détection de la variation non transitoire d'une tension d'alimentation, selon l'une des revendications précédentes, à la surveil- lance et au contrôle de la valeur de la tension de la batterie d'accumulateurs d'un véhicule automobile, d'un micro-ordinateur portable, d'un stimulateur cardiaque ou de batteries d'alimentation électrique d'installations de sécurité.