FR 2688899 A1 19930924 FR 9212374 A 19921009 PROCEDE DE MESURE DU TEMPS POUR FORMER UN RESEAU D'INDICES DE REFRACTION D'UN MILIEU PHOTO-NON LINEAIRE L'invention se rapporte à un procédé à mixage de quatre ondes afin de générer une onde à conjugaison de phase en utilisant un effet photoréfractif d'un milieu photo-non linéaire En particulier, elle se rapporte à un procédé pour mesurer le temps pour former un réseau d'indices de réfraction dans un milieu photo-non linéaire, suivant un procédé de mixage à quatre ondes. Comme on le voit sur la figure 5, un dispositif de mixage à quatre ondes comprend un milieu photo-non linéaire 1 constitué d'un cristal photoréfractif Les deux surfaces opposées du milieu photo-non linéaire 1 forment les surfaces incidentes la, lb pour la lumière Sur les deux surfaces opposées, selon une direction orthogonale à la direction normale des surfaces incidentes la et lb est située une paire d'électrodes externes lc, id Les références 2, 3 représentent des premier et deuxième faisceaux de pompage respectivement, la référence 4 un faisceau sonde et la référence 5 une onde à conjugaison de phase générée en mixant les quatre ondes Le faisceau sonde 4 et le premier faisceau de pompage 2 forment entre eux un angle donné incident à la surface la du milieu photo-non linéaire 1; le deuxième faisceau de pompage 3 chemine selon un même trajet optique et en direction opposée au premier moyen de pompage 2 et tombe sur la surface lb. Le premier faisceau de pompage 2 et le faisceau sonde 4 tombent sur la surface la du milieu photo-non linéaire 1 et produisent des franges d'interférences lumineuses dans une direction normale à la surface incidente. Les franges d'interférences lumineuses forment un réseau 6 d'indices de réfraction. Un procédé pour former le réseau 6 d'indices de réfraction est expliqué ci-après Dans le cristal photo- réfractif, il y a un niveau à partir duquel une impureté ou autre agit comme donneur ou comme accepteur portant chacun des charges électriques Comme représenté sur la figure 6 (a), si l'interférence lumineuse entre le premier faisceau de pompage 2 et le faisceau sonde 4 conduit à un motif de contraste lumineux, c'est-à-dire à des franges d'interférences dans le cristal, alors les charges électriques, par exemple, des électrons sur une partie claire, sont excitées vers une bande conductrice Quand un champ électrique externe n'est pas appliqué sur le cristal, les électrons diffusent dans la bande conductrice s représentée à la figure 6 (b) et sont piégés à l'autre niveau, ce qui réduit la distribution des charges d'espace comme illustré à la figure 6 (c) Dans ce cas, on applique un champ électrique externe par l'intermédiaire des électrodes lc et ld sur le cristal Les électrons ainsi excités doivent se mouvoir afin d'obtenir une distance de déplacement plus grande. Dans l'arrangement précédent, la distribution des charges d'espace produite dans le cristal selon la direction x induit un champ électrique partiel d'espace E, là o se produit un changement d'indices de réfraction par effet Pockels causé par un tel champ électrique La charge p satisfait l'équation suivante d E/dx = p ( 1) Dans le cas o les électrons sont diffusés et se déplacent, le réseau 6 d'indices de réfraction formé par les changements d'indices de réfraction est déplacé en phase de 1/2 par rapport à la distribution de l'intensité lumineuse (contraste lumineux) D'autre part, à partir du mouvement dû au champ électrique externe, le réseau 6 d'indices de réfraction et la distribution des intensités lumineuses viennent en phase l'un avec l'autre Un tel phénomène o si Il e l'indice de réfraction est modifié par irradiation lumineuse du cristal est appelé effet photo-réfractif. Dans le cas o les fréquences optiques W du faisceau sonde 4 et des faisceaux de pompage 2 et 3 sont égales et qu'un autre second faisceau de pompage cohérent 3 tombe sur le réseau 6 d'indices de réfraction à travers la surface lb, alors le deuxième faisceau de pompage 3 est diffracté par le réseau 6 d'indices de réfraction, le faisceau diffracté 5 chemine en direction opposée par rapport au trajet optique incident du faisceau sonde 4 Un tel faisceau diffracté 5 est une onde à conjugaison de phase qui a la même fréquence optique W (phase) que celle des trois ondes constituant le faisceau sonde 4 et les faisceaux de pompage 2 et 3, et qui est en relation de conjugaison complexe avec l'amplitude du champ électrique du faisceau sonde 4. L'onde à conjugaison de phase 5 chemine à l'inverse exactement le long du trajet optique suivi par le faisceau sonde 4 De la sorte, en utilisant une telle caractéristique, on peut envisager diverses utilisations par exemple pour les hologrammes en temps réel et la récupération d'images Cependant, dans un procédé à mixage de quatre ondes utilisant l'effet photo-réfractif, le facteur de réélection de l'onde à conjugaison de phase est relativement petit Pour augmenter le facteur de réflection de l'onde à conjugaison de phase dans les dispositifs à mixage de quatre ondes de ce genre, il a été proposé un procédé consistant à déplacer le réseau 6 d'indices de réfraction et les, franges d'interférences respectivement dans le cristal photo- réfractif, tel que décrit dans les documents suivants: 1 J P Huignard, et al, Optics Communications 38,249 ( 1981), 2 N Nuktarev, et al, Ferroelectrics 22,949 ( 1979), 3 H Rajbenback, et al, Optics Letters, 9, 558 ( 1984), l r 4 J P Huignard,-et al, Appl Optics 24, 4285 ( 1985). La figure 7 est un exemple d'un dispositif à mixage de quatre ondes basé sur le procédé de déplacement du réseau Dans la figure 7, les parties identiques ou correspondant à celles de la figure 5 sont désignées par les mêmes références et symboles Sur le trajet optique du premier faisceau de pompage 2 est placé un miroir réfléchissant 8 monté sur un oscillateur piézoélectrique 7. Un signal de tension en dents de scie est appliqué à l'oscillateur piézoélectrique 7 pour piloter le miroir réfléchissant 8, le premier faisceau de pompage 2 étant alors déplacé (déplacement Doppler) à une fréquence déterminée, dépendante de la forme de l'onde en dents de scie. Dans ce dispositif, les électrons excités en réponse à la distribution d'intensité des franges d'interférences produites par le premier faisceau de pompage 2 et le faisceau sonde 4, sont obligés de se mouvoir sous l'action du champ électrique à courant continu appliqué sur les électrodes lc et id du milieu photo-non linéaire 1 Ces électrons forment un réseau d'indices de réfraction dans le cristal du milieu photo-non linéaire 1, à travers le champ électrique d'espace, et contribuent à générer une onde 5 à conjugaison de phase Quand la fréquence du premier faisceau de pompage 2 est modulée légèrement (déplacement Doppler) au moyen du miroir réfléchissant 8, les franges d'interférences peuvent être déplacées à vitesse constante. Ces franges d'interférences nécessitent un temps de réponse constant entre le début de leur formation dans le cristal et le début de la production de la distribution d'indices de réfraction Par exemple, dans un arrangement d'un milieu photo-non linéaire Bi L 2 Si O 2 o (ci-après désigné plus simplement comme "BSO"), un tel temps de réponse va de plusieurs dizaines de microsecondes à plusieurs centaines de microsecondes De la sorte, avec des franges d'interférences qui se déplacent à une vitesse constante, il en résulte une différence de phase puisque les franges d'interférences qui ont formé le réseau d'indices de réfraction ont été déplacées au moment o le réseau d'indices de réfraction a été créé La vitesse de déplacement des franges d'interférences dépend de la modulation d'une fréquence optique On peut ainsi obtenir une différence de phase optimum en faisant varier le degré de la modulation Ceci a pour résultat d'augmenter le facteur de réflection dans l'onde à conjugaison de phase. D'autre part, le temps nécessaire pour former le réseau d'indices de réfraction par les franges d'interférences du milieu photo-non linéaire est une propriété importante fondamentale de la matière, comme la densité de charge, la mobilité, le coefficient de diffusion, la densité de piégeage et la densité donneur-accepteur du cristal photo-réfractif Par exemple, pour appliquer le milieu photo-non linéaire à la formation d'un hologramme en temps réel en utilisant le procédé de mixage à quatre ondes et autres, le temps nécessaire pour former le réseau d'indices de réfraction est un paramètre hautement significatif dans la détermination du temps nécessaire pour le fonctionnement du processus de l'hologramme en temps réel et de la vitesse du dispositif photo-non linéaire. De façon conventionnelle, le temps de formation du réseau d'indices de réfraction est mesuré par une méthode de biréfringence en utilisant les méthodes Senaramonte, etc Une telle mesure cependant requiert beaucoup de temps à cause d'un système optique compliqué De plus, on ne peut utiliser la méthode de biréfringence pour un milieu photo-non linéaire ayant une isotropie, telle que celle du système cubique de BSO, qui n'est pas biréfringent En fait une méthode de mesure du temps pour former un réseau d'indices de réfraction reste à créer. Un premier objet de l'invention est de fournir un procédé pour mesurer de façon générale, précise et rapide, le temps pour former un réseau d'indices de réfraction dans un milieu photo-non linéaire formé par un cristal photo- réfractif, y compris les cristaux du système cubique tels que BSO (Bi 2 Si Om 20 o)X Le procédé selon l'invention de mesure du temps pour former un réseau d'indices de réfraction dans un milieu photo-non linéaire est mis en oeuvre suivant un procédé de mixage à quatre ondes tel que représenté à la figure 1 Le procédé de mixage à quatre ondes est un procédé o un faisceau laser ayant une longueur d'onde A, émis par une source laser 10, est divisé entre un premier et deuxième faisceaux de pompage 2 et 3 et un faisceau sonde 4; les premier et deuxième faisceaux de pompage 2 et 3 tombent sur les surfaces la et lb, à partir de directions opposées, selon le même trajet optique, les surfaces la et lb étant formées des deux surfaces opposées l'une à l'autre d'un milieu photo- non linéaire 1; simultanément, en plus du premier faisceau de pompage 2, le faisceau sonde 4 tombant sur la surface la en formant un angle O avec le faisceau de pompage 2 génère des franges d'interférences dans une direction normale à la surface la, formant ainsi un réseau 6 d'indices de réfraction Par irradiation du deuxième faisceau de pompage 3 sur le réseau 6 d'indices de réfraction, une onde 5 à conjugaison de phase est émise depuis le milieu photo-non linéaire 1 dans la direction inverse au trajet optique incident du faisceau sonde 4. Le procédé selon l'invention de mesure du temps pour former un réseau d'indices de réfraction dans un milieu photo-non linéaire est caractérisé en ce qu'on détermine le vecteur d'onde K des franges d'interférences par substitution de chaque valeur de la longueur d'onde X et de l'angle O dans l'équation suivante K = ( 4 i sin ( O /2))/ À; en appliquant un champ électrique à courant continu sur une paire d'électrodes externes ic et id pour venir en coïncidence avec le vecteur d'onde K des franges d'interférences, la paire des électrodes externes lc et id étant placée sur les deux surfaces opposées du milieu photo- non linéaire 1 selon une direction orthogonale à la direction normale des surfaces incidentes la et lb, en déplaçant les franges d'interférences par modulation de la fréquence du premier faisceau de pompage 2, avantageusement à l'aide d'un oscillateur piézoélectrique 7, en déterminant la vitesse de déplacement v des franges d'interférences quand l'intensité lumineuse de l'onde 5 à conjugaison de phase est maximale; et en obtenant le temps de formation T du réseau 6 d'indices de réfraction par substitution de chaque valeur du vecteur d'onde K et de la vitesse de déplacement v des franges d'interférences dans l'équation suivante T = 1/(K v). L'invention sera mieux comprise en référence à la description qui suit et aux dessins qui l'accompagnent, donnés à titre d'exemples non limitatifs Dans les dessins: la figure 1 est une vue d'un dispositif de mesure caractéristique pour mesurer un milieu photo-non linéaire en utilisant un dispositif de mixage à quatre ondes dans une forme d'exécution selon l'invention; la figure 2 est une vue en perspective du milieu photo-non linéaire; la figure 3 est une courbe caractéristique de l'intensité d'un faisceau diffracté en relation avec la vitesse de déplacement des franges d'interférences; la figure 4 est une courbe caractéristique de l'intensité d'un faisceau diffracté en relation avec le rapport d'intensité (El/E 3) d'une lumière incidente; la figure 5 est une vue du principe de la génération d'une onde à conjugaison de phase par un cristal photo-réfractif dans un dispositif de mixage à quatre ondes; la figure 6 est une vue d'un procédé pour former à partir de franges d'interférences produites par un milieu photo-non linéaire un réseau d'indices de réfraction; la figure 7 est une vue du principe de la génération d'une onde à conjugaison de phase sur la base du déplacement du réseau dans un dispositif de mixage à quatre ondes; et la figure 8 est un diagramme logique d'un programme d'ordinateur effectuant certains calculs en relation avec la présente invention. Comme milieu photo-non linéaire selon l'invention, on peut citer des cristaux ayant des effets photo-réfractifs tels que ceux des Li Nb O 3, Li Ta O 3, Ba Ti O 3, Ba 2 Na Nb 5 s O 5 ou BSO, BGO (Bi 2 Ge O 20), BTO (Bi,,Ti O 20) et analogues. Comme sources d'alimentation lumineuse pour les faisceaux de pompage 2 et 3 et le faisceau sonde 4, on peut utiliser une source laser 10 telle qu'un laser à argon (longueur d'onde X = 514,5 nm), un laser au krypton (longueur d'onde X = 568 nm, 647,1 nm), un laser à rubis (longueur d'onde X = 694,3 nm) ou analogues. Un signal de tension en dents de scie est admis sur un oscillateur piézoélectrique 7 afin de piloter un miroir réfléchissant 8; le premier faisceau de pompage 2 est alors modulé (déplacement Doppler) dans les mêmes proportions que la fréquence déterminée en fonction de la forme en dents de scie, les franges d'interférences étant ainsi déplacées à vitesse constante L'intensité lumineuse de l'onde à conjugaison de phase 5 produite à partir de la lumière incidente du deuxième faisceau de pompage 3 est détectée par un détecteur de photo intensité 15 afin d'obtenir la vitesse de déplacement des franges d'interférences capable de produire une intensité lumineuse maximum, le temps nécessaire pour former le réseau 6 d'indices de réfraction étant ainsi déterminé La vitesse de déplacement vp de l'oscillateur piézoélectrique satisfait l'équation suivante, vp = x f V ( 2) o V et f représentent l'amplitude et la fréquence des tensions appliquées sur l'oscillateur piézoélectrique respectivement et x représente un coefficient de déplacement. L'équation de la vitesse de déplacement v des franges d'interférences s'établit comme suit: v = vp cos p/( 2 sin ( 0/2) ( 3) o p représente l'angle formé par la lumière incidente sur le miroir réfléchissant par rapport à la normale et l'angle 9 est théoriquement à l'intérieur du domaine O Un vecteur d'onde K des franges d'interférences se produit selon l'équation suivante, K = ( 4 Isin ( O/2))/ À ( 4) o représente l'angle formé par le faisceau sonde avec le premier faisceau de pompage et Xreprésente les longueurs d'onde du faisceau sonde et du deuxième faisceau de pompage respectivement. D'autre part, la vitesse de déplacement v et le vecteur d'onde K de chacune des franges d'interférences, et le temps de formation T du réseau d'indices de réfraction, sont dans la relation suivante, K v T= 1 ( 5) et donc le temps de formation r du réseau d'indices de réfraction s'exprime par l'équation suivante, T = 1/ (K v) ( 6) la vitesse de déplacement optimum des franges d'interférences (vélocité des franges) obtenue à partir de l'équation ( 3) est substituée à v et la valeur obtenue de l'équation ( 4) est substituée à K respectivement, ce qui permet d'obtenir le temps de formation T du réseau d'indices de réfraction. Un exemple selon l'invention va être maintenant être décrit en référence aux dessins. Exemple Dans les figures 1 et 2, les parties identiques ou correspondant à celles de la figure 7 sont désignées par les mêmes références-ou symboles La source laser 10 est un laser à argon avec une longueur d'onde x de 514,5 nm capable d'osciller en continu Le milieu photo-non linéaire 1 est un cube de BSO (Bi 12 Si O 20) de 1 centimètre de côté Comme on le voit sur la figure 2, on forme deux électrodes externes la et lb en appliquant une pâte thermique Ag sur les deux surfaces ayant des indices de Miller ( 110) et un système cubique Les surfaces ( 110) sont les surfaces incidentes la et lb Les références 11, 12 et 13 représentent des diviseurs de faisceaux, 14 ' un miroir réfléchissant et 15 un détecteur de photo intensité destiné à détecter la photo intensité de l'onde à conjugaison de phase 5 émise à partir du milieu photo-non linéaire 1 Le miroir réfléchissant 8 muni de son oscillateur piézoélectrique 7 est illustré en position oblique sur le dessin, mais en fonctionnement réel, le miroir réfléchissant 8 est disposé avec sa surface réfléchissante en position horizontale pour avoir un fonctionnement stable par rapport au miroir réfléchissant 8 On applique un signal de tension en dents de scie à l'oscillateur piézoélectrique 7 à partir d'un oscillateur 16, un champ électrique à courant continu de 5 k V/cm est appliqué aux électrodes externes lc et ld du milieu photo-non linéaire 1 pour venir en coïncidence avec le vecteur d'onde K des franges d'interférences. Une lumière émise par la source laser 10 tombe sur la surface incidente la en tant que faisceau de pompage 2 à travers le séparateur de faisceaux 12 et le miroir réfléchissant 8 De plus, la lumière émise de la source laser tombe sur la surface incidente lb en tant que moyen de pompage 3 à travers le miroir réfléchissant 14 Des moyens de pompage 2 et 3 tombent sur les surfaces incidentes la et lb selon le même trajet optique mais à partir de directions opposées, respectivement De plus, la lumière émise de la source laser 10 tombe sur la surface incidente la comme Lrt t faisceau sonde 4 à travers les séparateurs de faisceaux il et 13 L'angle O formé entre le faisceau de pompage 2 et le faisceau sonde 4 est fixé à 5 degrés. Chacun des premier moyen de pompage 2 et second moyen de pompage 3 peuvent avoir le même trajet optique, avec une longueur égale mais le faisceau sonde 4 peut avoir un trajet optique différent par rapport au précédent trajet optique; de cette façon, en utilisant le fait que la distance capable de créer des interférences dans un laser à argon est courte (environ 10 cm), seul le premier faisceau de pompage 2 et le faisceau sonde 4 viennent en interférence l'un avec l'autre Le faisceau 5, diffracté depuis le faisceau de pompage 3 par le réseau 6 d'indices de réfraction, chemine selon une direction inverse par rapport au trajet optique incident du faisceau sonde 4, en tant qu'onde à conjugaison de phase Dans cet exemple, l'équation du rapport d'intensité lumineuse se présente comme suit E 1: E 2: E 3 = 2: 1: 1 o E 1, E 2 et E 3 représentent des intensités lumineuses du premier faisceau de pompage 2, du second faisceau de pompage 3 et du faisceau sonde 4, respectivement La densité en puissance du faisceau de pompage 2, avant de tomber sur le milieu photo-non linéaire 1, est égale à 11,8 m W/cm 2. Dans le dispositif de mixage à quatre ondes suivant la construction décrite ci-dessus, le temps de montée de la tension en dents de scie appliquée à l'oscillateur piézoélectrique 7 est fixé à une valeur suffisamment plus grande que le temps de formation du réseau d'indices de réfraction du milieu photo-non linéaire 1, et son temps de descente est fixé à une valeur suffisamment plus petite que le temps de formation du réseau d'indices de réfraction précédemment cité Le miroir réfléchissant 8 est déplacé proportionnellement à la tension en dents de scie pour fournir une modulation en fréquence au premier moyen de pompage 2 Ainsi, les franges d'interférences situées à cs l'intérieur du milieu photo-non linéaire 1 se déplacent à une vitesse constante Le faisceau diffracté 5 voit sa densité changer en dépendance avec la vitesse de déplacement des franges d'interférences. La figure 3 montre les résultats de mesure d'intensité du faisceau diffracté relativement à la vitesse de déplacement des franges d'interférences Comme il apparaît de la figure 3, la vitesse de déplacement des franges d'interférences v qui rend maximale l'intensité du faisceau diffracté est égale à 16 micromètres/seconde. Les nombres algébriques X et O dans l'équation ( 4) sont remplacés par 514,5 nm et par 5 degrés respectivement, le vecteur d'onde K étant alors d'environ 1 x 106 l 1/ml Cette valeur de K et de v= 16 micromètres/seconde sont entrées dans l'équation ( 6), le temps de formation Tdu réseau d'indices de réfraction obtenu étant de 60 millisecondes. Dans le rapport de l'intensité de la lumière incidente tel que Em:E 2:E 3 = 2:1:1 (E 1/E 3 = 2), seul Es du faisceau sonde est affaibli jusqu'à environ EL/E 3 = 200; alors comme illustré sur la figure 4, l'intensité du faisceau diffracté est augmentée considérablement de 1 à 2 % (point A) à environ 65 % (point B), conduisant à un coefficient de réflection jusqu'à 30 à 60 fois le coefficient d'origine. La figure 8 illustre sous forme de blocs une approche généralisée pour accomplir les calculs nécessaires à la présente invention, au moyen d'un ordinateur CPU 17 convenablement programmé Les paramètres nécessaires pour déterminer la vitesse de déplacement v des franges d'interférences sont fournis au CPU 17, à partir d'un amplificateur 18, du milieu photo-non linéaire 1 et du détecteur de photo intensité 15 Sont fournis également au CPU 17 la longueur d'onde A et l'angle O afin de calculer le vecteur d'onde K qui est stocké en mémoire On calcule à partir de v et K le temps de formation T et on le stocke. Les valeurs des longueurs d'onde ( X) et de l'angle O peuvent être entrées à la main ou comme données d'ordinateur programmées La valeur de la vitesse de déplacement (v) des franges d'interférences, quand l'intensité lumineuse de l'onde à conjugaison de phase est maximale, peut être déterminée à partir des données de l'ordinateur en fonction des tensions appliquées du milieu photo-non linéaire 1 et de l'oscillateur piézoélectrique 7, et de la sortie du détecteur de photo intensité 15. L'amplificateur 18 est contrôlé par le CPU de façon à déplacer les franges d'interférences à l'intérieur du milieu photo-non linéaire à vitesse constante. Comme décrit en détail plus haut, à la différence des exemples conventionnels o le temps de formation du réseau d'indices de réfraction a été mesuré par une méthode statique de biréfringence, selon l'invention, le temps requis pour former le réseau d'indices de réfraction, en général, peut être mesuré de façon précise et rapide à partir de la vitesse de déplacement optimum des franges d'interférences permettant d'obtenir l'intensité maximale, en déplaçant ces franges d'interférences dans le cristal à une vitesse optimum, en modulant dans une certaine mesure la fréquence d'un premier faisceau de pompage en utilisant un miroir réfléchissant avec un oscillateur piézoélectrique. Selon l'invention, on peut obtenir aussi la mesure de formation du temps du réseau d'indices de réfraction d'un milieu photo-non linéaire d'un système cubique, ce qui n'était pas possible par la méthode conventionnelle de biréfringence. Le temps de formation du réseau d'indices de réfraction pour toute sorte de milieu photo-non linéaire peut être mesuré en utilisant de façon optionnelle les valeurs de l'amplitude et de la fréquence de la tension en dents de scie appliquée à l'oscillateur piézoélectrique. REVENDICATIONS 1 Procédé de mixage à quatre ondes de mesure du temps pour former un réseau d'indices de réfraction dans un milieu photo non-linéaire comprenant les étapes consistant à diviser un faisceau laser d'une longueur d'onde (X) émis depuis une source laser entre un premier et deuxième faisceaux de pompage et un faisceau sonde; permettre aux premier et deuxième faisceaux de pompage ( 2) et ( 3) de tomber en correspondance sur les première et deuxième surfaces incidentes (la) et (lb) à partir de directions opposées, selon le même trajet optique, les première et deuxième surfaces incidentes (la) et (lb) étant formées des deux surfaces opposées l'une à l'autre d'un milieu photo-non linéaire ( 1); en plus du premier faisceau de pompage ( 2), permettre au faisceau sonde ( 4) tombant sur la surface (la) en formant un angle (e) avec le faisceau sonde ( 2) de générer des franges d'interférences dans une direction normale à la surface incidente (la), formant ainsi un réseau ( 6) d'indices de réfraction; émettre, par irradiation du deuxième faisceau de pompage ( 3) sur le réseau ( 6) d'indices de réfraction, une onde ( 5) à conjugaison de phase depuis le milieu photo-non linéaire ( 1) dans la direction inverse au trajet optique incident du faisceau sonde ( 4); déterminer le vecteur d'onde (K) des franges d'interférences par substitution de chaque valeur de la longueur d'onde (x) et de l'angle ( e) dans l'équation suivante K = ( 4 J sin ( O /2))/; appliquer un champ électrique à courant continu sur une paire d'électrodes externes (lc) et ( 1 d) pour venir en coïncidence avec le vecteur d'onde (K) des franges d'interférences, la paire des électrodes externes (lc) et (ld) étant placée sur les deux surfaces opposées du milieu photo-non linéaire ( 1) selon une direction orthogonale à la direction normale des surfaces incidentes (la) et (lb); déplacer les franges d'interférences par modulation de la fréquence du premier faisceau de pompage ( 2); déterminer la vitesse de déplacement (v) des franges d'interférences quand l'intensité lumineuse de l'onde ( 5) à conjugaison de phase est maximale; déterminer le temps de formation (T) du réseau ( 6) d'indices de réfraction par substitution de chaque valeur du vecteur d'onde (K) et de la vitesse de déplacement (v) des franges d'interférences dans l'équation suivante T = 1/(K v). 2 Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'on module la fréquence du premier faisceau de pompage ( 2) à l'aide d'un oscillateur piézoélectrique ( 7); 3 Dispositif pour la mise en oeuvre du procédé selon la revendication 1, comprenant des moyens pour diviser un faisceau laser d'une longueur d'onde ( l) émis depuis une source laser entre un premier et deuxième faisceaux de pompage et un faisceau sonde, des moyens pour diriger les premier et deuxième faisceaux de pompage ( 2) et ( 3) et les faire tomber sur les première et deuxième surfaces incidentes (la) et (lb) à partir de directions opposées, selon le même trajet optique, les première et deuxième surfaces incidentes (la) et (lb) étant formées des deux surfaces opposées l'une à l'autre d'un milieu photo-non linéaire ( 1), des moyens pour diriger le faisceau sonde ( 4) et le faire tomber sur la surface (la) en formant un angle (O) avec le faisceau de pompage ( 2) afin de générer des franges d'interférences dans une direction normale à la surface incidente (la), formant ainsi un réseau ( 6) d'indices de réfraction, le milieu photo- non linéaire ( 1) émettant une onde à conjugaison de phase dans la direction inverse au trajet optique du faisceau sonde ( 4) par irradiation du deuxième faisceau de pompage ( 3) sur le réseau ( 6) d'indices de réfraction, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens pour déterminer le vecteur d'onde (K) des franges d'interférences par substitution de chaque valeur de la longueur d'onde ( X) et de l'angle ( '= 1/(K v). 4 Dispositif selon la revendication 3, caractérisé en ce que les moyens pour déplacer les franges d'interférences comprennent un oscillateur piézoélectrique ( 7) destiné à appliquer une modulation de fréquence au premier moyen de pompage ( 2) en déplaçant un miroir réfléchissant ( 8) sur le trajet du faisceau. Dispositif selon la revendication 5, caractérisé en ce qu'on applique une tension en dents de scie à l'oscillateur piézoélectrique ( 7), cet oscillateur ( 7) ayant un temps de montée plus long que le temps de formation du ê réseau ( 6) d'indices de réfraction et un temps de descente plus court que le temps de formation du réseau ( 6) d'indices de réfraction. 6 Dispositif selon la revendication 3, caractérisé en ce que les moyens pour déplacer les franges d'interférences se déplacent à une vitesse constante.