FR 2693574 A1 19940114 FR 9208453 A 19920708 La présente invention concerne un procédé pour tester le fonctionnement d'un circuit intégré spécialisé, ainsi qu'un circuit intégré spécialisé conçu pour la mise en oeuvre de ce procédé. Les circuits intégrés spécialisés, ou ASIC (de l'anglais "Application Specific Integrated Circuit") sont des circuits intégrés réalisés sur une puce unique à la demande de l'utilisateur. Certains circuits intégrés spécialisés comprennent une unité centrale (par exemple un processeur de traitement de signal, ou DSP, dans le cas d'un circuit intégré dédié au traitement de signal) associée à un certain nombre de dispositifs dépendants de l'application du circuit: mémoires, interfaces L'utilisateur fournit au fabricant le programme d'application du circuit et des informations sur la configuration de circuit souhaitée telles que le type et le volume des mémoires utiles ou la nature des dispositifs d'interface du circuit Le circuit intégré est alors réalisé sur une puce en associant à l'unité centrale les dispositifs spécifiés, notamment une mémoire morte (ROM) contenant le programme d'application. Une fois que la puce de silicium formant le circuit spécialisé a été fabriquée, différents tests doivent lui être appliqués pour vérifier son bon fonctionnement Habituellement, le fabricant du circuit teste la constitution du circuit (caractéristiques des composants, connexions) et l'utilisateur teste son programme d'application ou la manière avec laquelle le circuit l'exécute. Pour le test du fabricant, il est connu de faire exécuter par l'unité centrale un programme de test automatique stocké dans la mémoire de programmes du circuit On peut tester ainsi la constitution de l'unité centrale On peut également tester ainsi la constitution de certains dispositifs associés à l'unité centrale, moyennant de connaître leurs caractéristiques: type, volume, format, forme d'onde des signaux Or, dans le cas d'un circuit intégré spécialisé, on ne connaît ces caractéristiques qu'après avoir reçu la commande de l'utilisateur Le nombre de configurations possibles du circuit étant très élevé, il n'est pas possible de prévoir un programme de test automatique pour chaque configuration demandée On souhaite au contraire qu'un programme puisse tester des circuits ayant différentes configurations. Pour tester des circuits intégrés, il est également connu, par exemple d'après le EP-A-0 358 376, d'utiliser un registre à décalage formé en reliant en série un ensemble de cellules élémentaires montées sur les lignes d'entrée/sortie du circuit intégré Chaque cellule peut injecter sur sa ligne respective une valeur introduite en série à travers le registre à décalage, et échantillonner la valeur du signal véhiculé par cette ligne en vue d'une lecture en série à travers le registre à décalage On peut ainsi injecter des signaux de test dans le circuit intégré et contrôler le comportement du circuit en réponse à ces signaux Comme les cellules élémentaires sont montées au niveau des accès extérieurs du circuit intégré, elles ne donnent pas accès directement aux bus internes du circuit servant aux communications entre l'unité centrale et les dispositifs dépendants de l'application dans le cas d'un circuit intégré spécialisé Cette méthode ne permet donc pas de tester distinctement l'unité centrale et les dispositifs dépendants de l'application, à moins d'augmenter considérablement le nombre de cellules élémentaires du registre à décalage, au détriment de la compacité du circuit intégré et de la rapidité du registre à décalage L'introduction et la lecture en série des données à travers le registre à décalage sont des opérations lentes de sorte qu'il n'est pas possible en pratique de tester systématiquement le bon fonctionnement des dispositifs associés à l'unité centrale, notamment des mémoires qui peuvent contenir typiquement plusieurs centaines de milliers de bits. Au vu de ce qui précède, un but de la présente invention est de proposer un procédé pour tester le fonctionnement d'un circuit intégré qui soit bien adapté au cas des circuits intégrés spécialisés et qui permette notamment au fabricant de tester à la fois la constitution de l'unité centrale et celle des dispositifs dépendants de l'application. Un autre but de l'invention est que le procédé procure des facilités pour tester le programme d'application du circuit intégré spécialisé. L'invention propose ainsi un procédé pour tester le fonctionnement d'un circuit intégré spécialisé comprenant une unité centrale et des dispositifs dépendants de l'application du circuit intégré reliés à l'unité centrale, dans lequel on forme au moins un registre à décalage en reliant en série un ensemble de cellules élémentaires montées chacune sur une ligne respective véhiculant un signal binaire du circuit intégré, chaque cellule pouvant injecter sur ladite ligne une valeur introduite en série à travers le registre à décalage et pouvant échantillonner la valeur du signal binaire véhiculé par ladite ligne en vue d'une lecture de cette valeur à travers le registre à décalage, caractérisé en ce que les cellules élémentaires du registre à décalage sont montées sur des lignes correspondant à des accès de l'unité centrale. On peut ainsi, grâce à un registre à décalage qui conserve une structure et une organisation relativement simples, tester à la fois l'unité centrale et les dispositifs associés Le registre peut réaliser ceci avec un nombre restreint de cellules élémentaires, certaines étant montées sur les bus internes du circuit reliant l'unité centrale aux dispositifs associés. On observera que la réalisation des circuits intégrés spécialisés tire des avantages substantiels de la mise en oeuvre du procédé selon l'invention En effet, pour rationaliser leur conception et leur fabrication, on souhaite habituellement que ces circuits soient conçus par assemblage d'unités quelque peu standardisées: unité centrale, unité(s) de mémoire, unité(s) d'interface, ces unités pouvant être choisies par l'utilisateur parmi des "bibliothèques" proposées par le fabricant Le montage classique de registre à décalage au niveau des bornes extérieures du circuit intégré global ne permet pas de standardiser la structure de ce registre qui dépendra toujours de la configuration particulière du circuit Grâce à l'invention, ce registre peut être inclus dans une unité centrale standardisée utilisable avec un grand nombre de configurations de dispositifs associés On évite donc, à chaque commande d'un circuit intégré spécialisé, une étape de conception et d'optimisation en surface du registre à décalage. Une version préférée du procédé selon l'invention inclut une procédure de test automatique de la constitution du circuit intégré comprenant les étapes suivantes: introduction à travers le registre à décalage de données caractéristiques des dispositifs dépendants de l'application reliés à l'unité centrale et mémorisation de ces données caractéristiques; exécution par l'unité centrale d'un programme de test stocké dans une mémoire de programmes du circuit intégré, ce programme de test comportant au moins une instruction de lecture desdites données caractéristiques et une instruction de mémorisation de résultats de test; et lecture des résultats de test mémorisés à travers le registre à décalage. On peut alors tester de façon rapide la constitution du circuit en exécutant un programme de test qui reçoit certains paramètres de configuration par l'intermédiaire du registre à décalage, les résultats de ce programme étant également lus par le registre à décalage. L'exécution proprement dite du programme de test n'est pas retardée par des échanges de données en série à travers le registre à décalage, de sorte que la procédure permet de tester à la fois la logique du circuit et la vitesse d'exécution des instructions. De préférence, le procédé selon l'invention inclut une procédure de test d'un programme d'application stocké dans une mémoire de programmes du circuit intégré, cette procédure comprenant les étapes suivantes: introduction à travers le registre à décalage d'une adresse de vérification, et mémorisation de cette adresse de vérification; exécution du programme d'application jusqu'à l'instruction mémorisée à ladite adresse de vérification dans la mémoire de programmes; et lecture à travers le registre à décalage de valeurs présentes sur des lignes d'accès de l'unité centrale. L'utilisateur du circuit intégré peut ainsi tester son programme d'application et détecter commodément d'éventuelles améliorations à lui apporter (mode d'émulation). L'adresse de vérification est avantageusement mémorisée dans des cellules élémentaires du registre à décalage montées sur des lignes d'un bus d'adresses d'instructions de l'unité centrale prévu pour repérer les emplacements de la mémoire de programmes contenant les instructions du programme d'application. Ceci évite de prévoir une zone de mémoire servant uniquement au stockage de l'adresse de vérification. Un second aspect de l'invention vise un circuit intégré spécialisé, comprenant une unité centrale, des dispositifs dépendants de l'application du circuit intégré reliés à l'unité centrale, et au moins un registre à décalage comportant un ensemble de cellules élémentaires reliées en série et montées chacune sur une ligne respective véhiculant un signal binaire du circuit intégré, chaque cellule pouvant injecter sur ladite ligne une valeur introduite en série à travers le registre à décalage et pouvant échantillonner la valeur du signal binaire véhiculé par ladite ligne en vue d'une lecture de cette valeur à travers le registre à décalage, caractérisé en ce que les cellules élémentaires du registre à décalage sont montées sur des lignes correspondant à des accès de l'unité centrale. Ce circuit est conçu pour la mise en oeuvre du procédé ci-dessus. D'autres particularités et avantages de l'invention apparaîtront dans la description ci-après d'un exemple de réalisation préféré et non limitatif, lue conjointement aux dessins annexés, dans lesquels: la figure 1 est un schéma d'un circuit intégré spécialisé selon l'invention; les figures 2 et 3 sont des schémas de cellules élémentaires d'un registre à décalage du circuit de la figure 1; et la figure 4 est un schéma d'une unité centrale du circuit de la figure 1. En référence à la figure 1, un circuit intégré 1 selon l'invention, réalisé sur une puce de silicium unique, comporte une unité centrale 2 et un certain nombre de dispositifs 3, 4, 5, 6 dépendants de l'application du circuit intégré Dans l'exemple décrit, le circuit intégré 1 est dédié au traitement de signaux, et l'unité centrale 2 comporte les éléments essentiels d'un processeur de traitement de signal (DSP) Les dispositifs associés à l'unité centrale 2 comprennent une mémoire de programmes 3 à lecture seule (ROM), une mémoire de coefficients 4 à lecture seule (ROM), une mémoire de données 5 à accès direct (RAM) et un ou plusieurs dispositifs d'interface schématisés par l'unité 6 à la figure 1 Ces dispositifs d'interface sont reliés à des accès primaires 11 du circuit 1 permettant d'échanger des signaux analogiques ou numériques avec l'environnement du circuit 1. Les connexions 7 entre l'unité centrale et la mémoire de programmes 3 comprennent de façon classique, un bus d'instructions à 32 bits 8, un bus d'adresses d'instructions à 16 bits 9 et des lignes d'un bus de sortie de commandes à 6 bits 10 (figure 4) permettant à l'unité centrale 2 de lire des instructions de programme dans la mémoire 3 en vue de leur exécution. De même, les connexions 12 entre l'unité centrale 2 et les dispositifs 4, 5, 6 comprennent un bus de données bidirectionnel à 16 bits 13, un bus d'adresses de données à 12 bits 14 et des lignes du bus de sortie de commandes à 6 bits 10 (figure 4) permettant à l'unité centrale 2 d'échanger des données (émission ou réception) avec les dispositifs 4, 5, 6. L'unité centrale 2 comporte en outre un bus d'entrée de commandes à 10 bits 15 lui permettant de recevoir des signaux de commande extérieurs. Comme représenté schématiquement à la figure 4, l'unité centrale 2 du circuit intégré spécialisé 1 comporte, de façon classique, une unité arithmétique 16, une unité de commande de programme 17 et quelques registres de mémoire à accès direct (RAM) 18 L'unité de commande de programme 17 comprend classiquement un séquenceur non représenté, des décodeurs non représentés recevant les instructions véhiculées sur le bus d'instructions 8 et les commandes reçues par l'unité centrale 2 sur le bus d'entrée de commandes 15 pour commander de façon appropriée l'unité arithmétique 16, un générateur d'adresses non représenté relié au bus d'adresses de données 14 pour produire des adresses repérant les emplacements de données dans la mémoire 18 ou les dispositifs associés 4, 5, 6, un générateur de commandes non représenté relié au bus de sortie de commande 10 et à la mémoire 18 pour commander des échanges de données avec les dispositifs associés 4, 5, 6 ou avec la mémoire 18, et un compteur de programme 19 relié au bus d'adresses d'instructions 9 pour produire des adresses repérant des instructions de programme dans la mémoire de programmes 3. Conformément à l'invention, l'unité centrale 2 est munie d'un registre à décalage 20 dont la structure et le fonctionnement sont exposés ci-après Ce registre à décalage 20, du type "boundary scan" (voir EP-A-0 358 376), comprend un ensemble de cellules élémentaires reliées en série et montées chacune sur une ligne respective véhiculant un signal binaire du circuit intégré 1 Plus précisément, les cellules élémentaires du registre à décalage sont montées sur des lignes correspondant à des accès de l'unité centrale 2: bus d'instructions 8, bus d'entrée de commandes 15, bus de données 13, bus de sortie de commandes 10, bus d'adresses de données 14, bus d'adresses d'instructions 9, et lignes d'entrée de trois signaux de sélection 21 (figure 4). Pour les lignes d'accès monodirectionnelles de l'unité centrale 2, on utilise des cellules élémentaires 24 du type représenté à la figure 2 Une telle cellule monodirectionnelle comprend une bascule à retard de type D 25, un circuit à verrouillage 26, un premier multiplexeur à deux entrées 27 et un second multiplexeur à deux entrées 28 Une entrée parallèle 29 de la cellule 24 reçoit le signal binaire SBI véhiculé par la ligne sur laquelle est montée la cellule 24 Cette entrée 29 est reliée à une entrée du premier multiplexeur 27 et à une entrée du second multiplexeur 28 Une entrée série 30 de la cellule 24 reçoit un signal binaire SCI issu de la cellule précédente 31 a du registre à décalage 20 Cette entrée 30 est reliée à l'autre entrée du second multiplexeur 28 La sortie du second multiplexeur 28 est reliée à l'entrée D de la bascule à retard 25 La sortie Q de la bascule à retard 25 produit un signal binaire SCO qui est adressé à la cellule suivante 31 b du registre à décalage par une sortie série 32 de la cellule La sortie Q de la bascule 25 est en outre reliée à l'entrée D du circuit à verrouillage 26 dont la sorite Q est reliée à l'autre entrée du premier multiplexeur 27 La sortie du premier multiplexeur 27 est reliée à une sortie parallèle 33 de la cellule 24 qui transmet un signal binaire SBO sur la ligne comportant la cellule 24. La cellule monodirectionnelle 24 reçoit quatre signaux de commande T, BOS, SCCLK, EOS La valeur du signal binaire T commande le premier multiplexeur 27: T = O correspond à la transmission sur la ligne du signal SBI (cellule transparente: SBO = SBI), tandis que T = 1 correspond à la transmission sur la ligne du signal mémorisé dans le circuit à verrouillage 26 La valeur du signal binaire BOS commande le second multiplexeur 28: BOS = O fait communiquer l'entrée D de la bascule à retard 25 avec l'entrée série 30 de la cellule, tandis que BOS = 1 fait communiquer l'entrée D de la bascule à retard 25 avec l'entrée parallèle 29 de la cellule Le signal binaire SCCLK est utilisé pour cadencer la bascule à retard 25 Le signal binaire EOS sert à verrouiller dans le circuit à verrouillage 26 la valeur présente à la sortie Q de la bascule D (verrouillage sur les fronts descendants de EOS par exemple). Lorsqu'une cellule monodirectionnelle 24 est montée sur une ligne d'entrée de l'unité centrale 2 (bus 8 ou 15), son entrée parallèle 29 est raccordée à la partie de cette ligne dirigée vers l'extérieur de l'unité centrale 2, et sa sortie parallèle 33 est raccordée à la partie de cette ligne dirigée vers l'intérieur de l'unité centrale 2. Inversement, lorsqu'une cellule monodirectionnelle 24 est montée sur une ligne de sortie de l'unité centrale 2 (bus , 14 ou 9), son entrée parallèle 29 est raccordée à la partie de cette ligne dirigée vers l'intérieur de l'unité centrale 2, et sa sortie parallèle 33 est raccordée à la partie de cette ligne dirigée vers l'extérieur de l'unité centrale 2 Les lignes d'entrée de signaux de sélection 21 n'étant dirigées que vers l'intérieur de l'unité centrale 2, les cellules monodirectionnelles correspondantes 24 ont seulement leur sortie parallèle raccordée à ces lignes. Pour les lignes d'accès bidirectionnelles de l'unité centrale 2, qui dans l'exemple représenté sont celles du bus de données 13, on utilise des cellules élémentaires 34 du type représenté à la figure 3 Une telle cellule bidirectionnelle comprend une bascule à retard de type D 35 cadencée par le signal d'horloge SCCLK, un circuit à verrouillage 36 commandé par le signal EOS, un premier multiplexeur à deux entrées 37 a commandé par le signal T, un second multiplexeur à deux entrées 37 b commandé par le signal T, et un troisième multiplexeur à quatre entrées 38 commandé par le signal BOS et par un autre signal binaire PARTI/2 Une entrée/sortie parallèle 39 de la cellule 34 reliée à la ligne du bus de données est reliée à une entrée du premier multiplexeur 37 a. Symétriquement, une entrée/sortie parallèle 43 de la cellule 34 reliée à la ligne du bus de données est reliée à une entrée du second multiplexeur 37 b Les deux autres entrées des premier et second multiplexeurs 37 a, 37 b sont reliées à la sortie Q du circuit à verrouillage 36 La sortie du premier multiplexeur 37 a est reliée à l'entrée/sortie parallèle 43 de la cellule 34 La sortie du second multiplexeur 37 b est reliée à l'entrée/sortie il parallèle 39 de la cellule 34 Le troisième multiplexeur 38 a sa sortie reliée à l'entrée D de la bascule à retard 35. La sortie Q de la bascule à retard 35, qui produit le signal SCO délivré à la cellule suivante 41 b du registre à décalage 20 par l'intermédiaire d'une sortie série 42 de la cellule, est en outre reliée à l'entrée D du circuit à verrouillage 36 Le troisième multiplexeur 38 a deux entrées reliées à une entrée série 40 de la cellule 34 recevant le signal binaire SCI issu de la cellule précédente 41 a du registre à décalage 20, une entrée reliée à l'entrée/sortie parallèle 39 de la cellule 34, et une entrée reliée à l'entrée/sortie parallèle 43 de la cellule 34 Lorsque BOS = 0, le multiplexeur 38 fait communiquer l'entrée D de la bascule à retard 35 avec l'entrée série 40 de la cellule Lorsque BOS = 1, le multiplexeur 38 fait communiquer l'entrée D de la bascule 35 avec l'entrée/sortie parallèle 39 si PART 1/2 = O ou avec l'entrée/sortie parallèle 43 si PAR Tl/2 = 1. L'organisation des cellules élémentaires dans le registre à décalage 20 est illustrée à la figure 4 Le registre 20 comporte au moins deux trajets de décalage de données 48, 49 Un premier trajet 48 est formé entre des cellules élémentaires d'un groupe de cellules comprenant, dans cet ordre, les cellules élémentaires montées sur les lignes du bus d'instructions 8, du bus d'entrée de commandes 15, du bus de données 13, du bus de sortie de commandes 10, du bus d'adresses de données 14 et du bus d'adresses d'instructions 9 ( 32 + 10 + 16 + 6 + 12 + 16 = 92 cellules) Un deuxième trajet 49 est formé entre des cellules élémentaires d'un groupe de cellules comportant dans cet ordre les cellules élémentaires montées sur les lignes du bus d'adresses d'instructions 9 et les lignes d'entrée de signaux de sélection 21 ( 16 + 3 = 19 cellules). Pour sélectionner le trajet de décalage de données utilisé, le registre à décalage 20 peut comporter deux commutateurs 50, 51 à deux positions Dans une première position (utilisation du trajet 48), le premier commutateur 50 fait communiquer l'entrée de données 52 du registre 20 avec l'entrée série 30 de la première cellule élémentaire du bus d'instructions 8, et le second commutateur 51 fait communiquer directement la sortie série 32 de la dernière cellule élémentaire du bus d'adresses d'instructions 9 avec la sortie de données 53 du registre 20 Dans une seconde position, (utilisation du trajet 49), le premier commutateur 50 fait communiquer l'entrée de données 52 du registre 20 avec l'entrée série 30 de la première cellule élémentaire du bus d'adresses d'instructions 9, et le second commutateur 51 fait communiquer la sortie série 32 de la dernière cellule élémentaire du bus d'adresses d'instructions avec l'entrée série 30 de la première cellule élémentaire montée sur les lignes d'entrée de signaux de sélection 21 La position des commutateurs 50, 51 est commandée par un signal de sélection de trajet SLT issu d'un unité de commande de test 60. Pour tester le circuit intégré 1, on le relie à un dispositif de test 61 (figures 1 et 4) Pour réaliser cette liaison, le circuit 1 comporte les bornes suivantes borne 52 qui correspond à l'entrée de données série du registre à décalage 20; borne 53 qui correspond à la sortie de données série du registre à décalage 20; bornes désignées collectivement par la référence 54 pour adresser à l'ensemble des cellules élémentaires du registre à décalage 20 leurs signaux de commande BOS, EOS et SCCLK; bornes désignées collectivement par la référence 55 pour adresser à l'unité de commande de test 60 trois signaux binaires de sélection MCO, MC 1 et MC 2; et borne de sortie 56 par laquelle l'unité de commande de test 60 peut adresser un signal de détection RDYS au dispositif de test 61. L'unité de commande de test 60 comporte un sélecteur de mode 62 qui reçoit les trois signaux de sélection MCO, MC 1, MC 2 reçus aux bornes 55 et les trois signaux de sélection BPO, BP 1, STE présents dans les cellules élémentaires montées sur les lignes 21, et qui établit, en fonction de ces six signaux de sélection, le signal de sélection de trajet SLT, le signal de commande PAR Tl/2 destiné aux cellules bidirectionnelles 34 montées sur le bus de données 13, et les signaux de commande T destinés aux différentes cellules élémentaires du registre à décalage 20 Par exemple, le sélecteur de mode 62 peut produire les signaux indiqués au tableau I en fonction des signaux de sélection MCO, MC 1, MC 2, BPO, BP 1, STE Dans le tableau I, le symbole "X" indique que la valeur du bit correspondant est indifférente, la valeur SLT = O correspond à la sélection du premier trajet de décalage de données 48, et la valeur SLT = 1 correspond à la sélection du second trajet de décalage de données 49, le bit TID correspond au signal de commande T des cellules montées sur les lignes du bus d'instructions 8, le bit TCI correspond au signal de commande T des cellules montées sur les lignes du bus d'entrée de commandes 15, le bit TDR correspond au signal de commande T des cellules montées sur les lignes du bus de données 13, le bit TCA correspond au signal de commande T des cellules montées sur les lignes du bus de sortie de commandes 10 ou du bus d'adresses de données 14, et le bit TIA correspond au signal de commande T des cellules montées sur les lignes du bus d'adresses d'instructions 9 Le signal de commande T des trois cellules montées sur les lignes d'entrée de signaux de sélection 21 peut être pris constamment égal à 1 car ces cellules ne peuvent pas être transparentes. TABLEAU I MODE MCO MC 1 MC 2BPO B Pl STE TID TCI TDR TCA TIA PART 1/2 SLT Echantillonnage de o o o o ooo Echantillonnage de O O O X X X O 0 0 O O O O l'unité centrale Echantillonnage des 1 o Echantillonnage des 1 O 0 X X X O O 0 O O 1 O dispositifs associés Contrôle de O O 1 O X X X 1 1 1 1 O O O l'unité centrale Contrôle des 1 1 O X X X 1 1 1 1 O 1 O dispositifs associés Fixation d'une Fixatiod'une 0 1 1 XX 0 0 0 0 0 0 1 adressede vérificationO X X X O O O O O Echantillonnagea Echantillonnage à 1 1 1 1 0 0 O O O O O f(WR) O l'adressedevérification Instantané 1 1 1 1 1 O O O O O O f(WR) O Pas à Pas 1 1 1 O 1 O O O O O O f(WR) O Test automatique 1 1 1 O O 1 O 1 O O O O O (O On "Il L'unité de commande de test 60 comprend en outre un comparateur 63 ayant deux entrées à 16 bits recevant respectivement l'adresse d'instruction générée par le compteur de programme 19 et le nombre de 16 bits correspondant aux 16 bits stockés dans les circuits à verrouillage 26 des cellules élémentaires montées sur les lignes du bus d'adresses d'instructions 9 (à cette fin, la sortie Q de chacun de ces 16 circuits à verrouillage est en outre reliée à l'entrée correspondante du comparateur 63). Le comparateur 63 active le signal de détection RDYS adressé au dispositif de test 61 par l'intermédiaire de la borne 56 lorsqu'il détecte une égalité entre ses deux entrées à 16 bits Après l'activation du signal de détection RDYS, le comparateur 63 active en outre un signal d'interruption HALT qui est adressé au séquenceur de l'unité de commande de programme 17 pour interrompre le compteur de programme 19 La transmission du signal d'interruption HALT peut en outre être commandée par un signal fourni par le sélecteur de mode 62 au comparateur 63. Les quatre premiers modes indiqués au tableau I correspondent à des modes de fonctionnement classiques d'un registre de type "boundary scan": a) Dans les deux modes d'échantillonnage, sélectionnés pour les valeurs indiquées des bits MCO, M Cl, MC 2, les cellules élémentaires du premier trajet 48 échantillonnent les valeurs des signaux binaires véhiculés par leurs lignes respectives, puis ces valeurs sont lues en série à travers le registre à décalage 20. L'échantillonnage est effectué en mettant le bit BOS au niveau 1 et en produisant un cycle d'horloge SCCLK, ce qui stocke la valeur échantillonnée dans la bascule 25, 35 (figures 2 et 3) Ensuite la lecture est effectuée en mettant le bit BOS au niveau O et en produisant des cycles d'horloge SCCLK, ce qui décale progressivement les valeurs stockées le long du trajet 48, de sorte que les données SCOUT parviennent en série à la sortie de données 53 du registre à décalage 20 et peuvent être lues par le dispositif de test 61 50 (= 16 + 12 + 6 + 16) cycles d'horloge SCCLK sont ainsi nécessaires pour lire toutes les valeurs issues de l'unité centrale 2 en mode d'échantillonnage de l'unité centrale (PART 1/2 = 0), tandis que 92 cycles d'horloge SCCLK sont nécessaires pour lire toutes les valeurs reçues par l'unité centrale 2 en mode d'échantillonnage des dispositifs associés (PART 1/2 = 1). Ces deux modes d'échantillonnage n'interfèrent pas avec le fonctionnement du circuit 1 (signal d'interruption HALT désactivé). b) Dans les deux modes de contrôle, sélectionnés par les valeurs indiquées des bits MCO, MC 1, MC 2, les cellules élémentaires du premier trajet 48 sont utilisées pour introduire des valeurs en série à travers le registre à décalage 20, puis pour injecter ces valeurs sur leurs lignes respectives La réponse du circuit à l'injection de ces valeurs peut ensuite être échantillonnée et lue comme dans les modes d'échantillonnage L'introduction est effectuée en mettant le bit BOS au niveau 0, en produisant des cycles d'horloge SCCLK, et en présentant les valeurs SCIN en série à la cadence de l'horloge SCCLK sur l'entrée de données 52 du registre à décalage 20 Une fois que les valeurs ont atteint les bascules 25, 35 des cellules appropriées, une impulsion du signal EOS verrouille ces données dans les circuits à verrouillage 26, 36. L'injection des valeurs résulte ensuite du passage au niveau 1 des signaux de commande T indiqués au tableau 1, qui commandent les multiplexeurs 27, 37 a ou 37 b pour faire communiquer la sortie Q des circuits à verrouillage 26, 36 avec les lignes respectives Dans le mode de contrôle de l'unité centrale, on peut ainsi injecter des instructions à exécuter sur le bus d'instructions 8 et des données utiles à l'exécution de ces instructions sur le bus de données 13: 58 (= 16 + 10 + 32) cycles d'horloge SCCLK sont utiles La réponse de l'unité centrale 2 aux instructions injectées est ensuite échantillonnée et lue comme dans le mode d'échantillonnage de l'unité centrale, vers l'intérieur de l'unité centrale 2 en ce qui concerne le bus de données 13 (PART 1/2 = 0) L'étape de lecture peut être effectuée en même temps que l'introduction en série d'autres valeurs par l'entrée de données 52 Le mode de contrôle des dispositifs associés diffère du mode de contrôle de l'unité centrale en ce que les réponses du circuit sont échantillonnées vers l'extérieur de l'unité centrale 2 pour les cellules bidirectionnelles montées sur le bus de données 13 (PART 1/2 = 1) Ce mode de contrôle des dispositifs associés sert lorsque les instructions de contrôle injectées sur le bus d'instructions 8 sont des instructions de lecture dans des dispositifs associés à l'unité centrale, une adresse à 12 bits devant simultanément être injectée sur le bus d'adresses de données 14: 76 (= 12 + 6 + 16 + 10 + 32) cycles d'horloge SCCLK sont nécessaires Dans ces deux modes de contrôle, le compteur de programme 19 est interrompu (signal d'interruption HALT activé par le sélecteur de mode 62). Le procédé selon l'invention inclut une procédure de test du programme d'application du circuit stocké dans la mémoire de programmes 3 Le programme d'application ayant été écrit par le fabricant du circuit intégré 1 dans la mémoire 3, le circuit 1 peut être livré à l'utilisateur avec un dispositif de test, ou outil d'émulation, 61 approprié pour effectuer la procédure de test du programme d'application. Cette procédure comprend une étape initiale d'introduction à travers le registre à décalage 20 d'une adresse de vérification et de mémorisation de cette adresse de vérification Cette étape initiale est effectuée en mode de fixation d'une adresse de vérification (tableau I) lorsque MCO = 0, MC 1 = MC 2 = 1, ce qui sélectionne le second trajet 49 du registre à décalage 20 et interrompt le compteur de programme 19 (activation du signal d'interruption HALT forcée par le sélecteur de mode 62). L'adresse de vérification est introduite en même temps que les valeurs des trois bits de sélection BPO, BP 1, STE en mettant le bit BOS au niveau 0, en produisant 19 cycles d'horloge SCCLK, et en présentant de façon synchrone sur l'entrée de données 52 du registre 20 les valeurs correspondant aux trois bits BPO, BP 1, STE et à l'adresse de vérification ( 16 bits) Ces valeurs sont ensuite mémorisées dans les circuits à verrouillage 26 des cellules du second trajet 49 en produisant une impulsion du signal EOS L'exécution du programme d'application est interrompue pendant cette étape du fait de l'interruption du compteur de programme 19. Une fois que l'adresse de vérification a été introduite et mémorisée, l'application des signaux de sélection MCO = MC 1 = MC 2 = 1 permet l'activation du mode de fonctionnement défini par les valeurs des bits BPO, BP 1, STE (tableau I) qui correspondent à des signaux de sélection de modes d'exécution de la procédure de test du programme d'application. La procédure de test du programme d'application comprend ensuite une exécution du programme d'application jusqu'à l'instruction mémorisée à l'adresse de vérification dans la mémoire de programme 3, puis une étape de lecture à travers le registre à décalage 20 de valeurs présentes sur des lignes d'accès de l'unité centrale 2 Ces deux étapes peuvent être effectuées soit en mode d'échantillonnage à l'adresse de vérification, soit en mode d'instantané (tableau I) Lorsque les signaux de sélection MCO, MC 1, MC 2 prennent la valeur 1, le sélecteur de mode 62 désactive le signal d'interruption HALT, de sorte que l'incrémentation du compteur de programme 19 reprend, et que les instructions du programme d'application sont exécutées successivement Lorsque le compteur de programme 19 atteint l'adresse de vérification, le comparateur 63 active le signal de détection RDYS adressé au dispositif de test 61, ce qui déclenche l'étape de lecture Cette étape de lecture est effectuée comme dans l'un des deux modes d'échantillonnage classiques du registre à décalage 20 les données sont d'abord échantillonnées en mettant le signal BOS au niveau 1 et en produisant un cycle d'horloge SCCLK, puis elles sont lues en série en mettant le signal BOS au niveau O et en produisant 92 cycles d'horloge SCCLK, ce qui permet de récupérer les données sur la sortie SCOUT du registre à décalage 20. Dans le tableau 1, la notation f (WR) signifie qu'en mode d'échantillonnage à l'adresse de vérification ou en mode d'instantané (ou en mode pas à pas qui sera décrit plus loin), l'échantillonnage des valeurs véhiculées par le bus de données 13, défini par le bit PART 1/2, est commandé par la valeur du signal de commande d'écriture WR résultant du décodage par l'unité de commande de programme 17 de l'instruction en cours et délivré sur le bus de sortie de commandes 10 Ceci permet l'observation de la donnée provenant de l'unité centrale 2 (PART 1/2 = 0) lorsqu'une instruction d'écriture vers l'un des dispositifs associés 4, 5, 6 est exécutée, et l'observation de la donnée provenant d'un des dispositifs associés 4, 5, 6 (PART 1/2 1) lorsqu'une instruction de lecture depuis ce dispositif est exécutée. En mode d'instantané, l'étape de lecture est effectuée sans interrompre l'exécution du programme d'application: le sélecteur de mode 62 empêche la transmission du signal d'interruption HALT à l'unité de commande 17. En mode d'échantillonnage à l'adresse de vérification, l'étape de lecture s'accompagne d'une interruption de l'exécution du programme d'application le sélecteur de mode 62 autorise la transmission du signal d'interruption HALT à l'unité de commande de programme 17 après l'activation du signal de détection RDYS Le signal HALT est activé avec un retard d'une période d'horloge de l'unité centrale 2 pour permettre à l'unité centrale 2 d'achever l'instruction en cours avant l'interruption. L'exécution du programme d'application restant interrompue, on peut ensuite lire le contenu des registres internes de l'unité centrale ou des emplacements des mémoires 4, 5, en plaçant le registre à décalage 20 en mode de contrôle de l'unité centrale ou en mode de contrôle des dispositifs associés Ceci permet à l'utilisateur de vérifier comme il le souhaite la réponse du circuit intégré 1 au programme d'application. Cette procédure de test du programme d'application, ou d'émulation, permet à l'utilisateur du circuit intégré spécialisé de détecter d'éventuelles erreurs de programmation ou des parties du programme pouvant être optimisées Les données résultant de l'exécution du programme et lues à travers le registre 20 peuvent être comparées à des données de référence que l'utilisateur connaît par des simulations antérieures. Lorsqu'une erreur a été détectée pour l'une des instructions du programme d'application, l'invention permet à l'utilisateur de continuer le test de son programme malgré l'existence de cette erreur: il fixe une adresse de vérification correspondant à l'adresse de l'instruction erronée, il poursuit la procédure de test du programme d'application en mode d'échantillonnage à l'adresse de vérification (avec interruption), il met le registre 20 en mode de contrôle de l'unité centrale ou en mode de -contrôle des dispositifs associés en introduisant une instruction appropriée pour corriger les effets produits par l'instruction erronée, et il reprend la procédure de test du programme d'application après avoir éventuellement défini une nouvelle adresse de vérification. L'utilisateur dispose donc d'une grande richesse fonctionnelle pour vérifier le bon fonctionnement de son programme d'application Après avoir ainsi testé un spécimen du circuit intégré spécialisé, il peut effectuer une nouvelle commande au fabricant avec un programme d'application modifié. L'invention permet également à l'utilisateur de tester son programme d'application en mode pas à pas (tableau I) Dans ce mode, les valeurs des signaux binaires véhiculés sur les lignes d'accès de l'unité centrale 2 sont échantillonnées et lues après chaque instruction du programme d'application Le sélecteur de mode 62 commande alors le comparateur 63 pour qu'il active le signal de détection RDYS et le signal d'interruption HALT après chaque changement de l'adresse délivrée par le compteur de programme 19 (l'interruption est nécessaire pour avoir le temps de lire les données en série à travers le registre à décalage 20). Le procédé selon l'invention inclut en outre une procédure de test automatique de la constitution du circuit intégré Cette procédure sera généralement appliquée par le fabricant du circuit intégré spécialisé 1 avant de le livrer à l'utilisateur au moyen d'un dispositif de test approprié 61 Cette procédure ne comprend aucune vérification du programme d'application de l'utilisateur. Elle comprend une exécution par l'unité centrale 2 d'un programme de test stocké à partir d'une adresse prédéterminée dans la mémoire de programmes 3 Ce programme de test n'est pas propre à la configuration des dispositifs associés à l'unité centrale, ce qui permet d'utiliser ce même programme dans toute une famille de circuits intégrés spécialisés construits autour d'un type d'unité centrale 2. Pour que ce programme de test puisse tester à la fois l'unité centrale 2 et les dispositifs associés dépendants de l'application 3, 4, 5, 6, la procédure de test de la constitution du circuit comprend une étape initiale d'introduction à travers le registre à décalage 20 de données caractéristiques des dispositifs associés 3, 4, 5, 6 et de mémorisation de ces données caractéristiques. Les données caractéristiques comprennent typiquement le nombre et la nature des dispositifs associés, la forme d'onde de leurs signaux de commande, la longueur des mots de données échangés, les temps d'accès, le nombre d'emplacements (volume) des mémoires 3, 4, 5, les adresses des premiers emplacements des mémoires 3, 4, 5 Cette étape d'introduction et de mémorisation des données caractéristiques est effectuée au moyen du registre à décalage 20 dans le mode de contrôle de l'unité centrale 2: on commande les cellules élémentaires du registre 20 de façon à injecter sur le bus de données 13 les données caractéristiques à mémoriser et à injecter sur le bus d'instructions 8 une instruction d'écriture des données présente sur le bus de données 13 à un emplacement de la mémoire interne 18 repérée par son adresse L'unité centrale 2 exécute ensuite cette instruction fournie sur le bus 8 Cette étape peut être répétée lorsque les données caractéristiques comportent plusieurs mots de 16 bits. Une fois que les données caractéristiques ont été mémorisées, le dispositif de test 61 commande le sélecteur de mode 62 pour sélectionner le mode de test automatique (tableau I) Cette sélection s'effectue en deux étapes On adresse d'abord des signaux de sélection MCO = 0, MC 1 = MC 2 = 1 pour passer en mode de fixation d'une adresse de vérification pour pouvoir introduire dans les cellules montées sur les lignes 21 les valeurs BPO = B Pl = 0, STE = 1 permettant de sélectionner ensuite le mode de test automatique Ensuite, le mode de test automatique est validé en produisant les signaux de sélection MCO = MC 1 = MC 2 = 1, ce qui désactive le signal d'interruption HALT, de sorte que l'exécution du programme de test peut démarrer. En mode de test automatique, le signal de commande TCI est mis au niveau 1 pour éviter que des commandes extérieures puissent interférer avec l'exécution du programme de test. Pendant que le registre 20 est en mode de fixation d'une adresse de vérification (compteur de programme 19 interrompu), on active un signal de réinitialisation adressé au circuit 1 par l'intermédiaire du bus d'entrée de commandes 15, ce qu'autorise le signal de commande TCI = 0. Lorsque le mode de test automatique est devenu actif (MCO = MC 1 = MC 2 = 1), l'unité de commande de test 60 commande le compteur de programme 19 de façon que l'impulsion de réinitialisation place le compteur de programme 19 à l'adresse de la première instruction du programme de test automatique dans la mémoire 3 (en fonctionnement normal du circuit 1 une telle impulsion d'activation du signal de réinitialisation a pour effet de réinitialiser le compteur de programme 19 à l'adresse correspondant, dans la mémoire de programmes 3, à la première instruction du programme d'application). Le programme de test comporte des instructions initiales de lecture des données caractéristiques stockées dans la mémoire interne 18, ce qui lui fournit les paramètres nécessaires pour effectuer des échanges de données avec les dispositifs associés Il est particulièrement avantageux que le programme de test comporte ensuite des instructions d'échange de données (lecture ou écriture) entre l'unité centrale 2 et les dispositifs associés 3, 4, 5, 6 Comme le programme de test est d'une exécution relativement rapide, à la cadence de l'unité centrale 2, on peut ainsi envisager de tester un par un les différents emplacements des mémoires associées 4, 5 ou de tester des échanges de données pratiquement en temps réel avec les dispositifs d'interface 6. Pour que l'exécution du programme de test soit rapide, on peut produire des résultats de test sous forme de signatures polynomiales calculées par un analyseur de signature non représenté monté sur un bus interne de l'unité centrale Un exemple d'un tel analyseur de signature est décrit dans l'ouvrage "LSI/VLSI Testability Design" par Frank F Tsui, Editions Mc Graw-Hill, 1988, Chapitre 7. Le programme de test comporte enfin une instruction de mémorisation de ces résultats de test, qui consiste en une instruction d'écriture des résultats de test à un emplacement prédéterminé de la mémoire interne 18. Après l'étape d'exécution du programme de test, la procédure de test automatique de la constitution du circuit intégré comprend une étape de lecture des résultats de test mémorisés à travers le registre à décalage 20. Cette étape de lecture des résultats est effectuée au moyen du registre 20 en mode de contrôle de l'unité centrale 2 on commande les cellules élémentaires du registre 20 de façon à injecter sur le bus d'instructions 8 une instruction de lecture des résultats de test à leur emplacement dans la mémoire de données interne 18 et de présentation de ces résultats sur le bus de données 13. L'unité centrale 2 exécute ensuite cette instruction fournie sur le bus 8 Puis on commande les cellules élémentaires du registre 20 pour échantillonner la valeur de 16 bits présente sur le bus de données 13 (PART 1/2 = 0) et pour lire cette valeur en série par la sortie de données 53 du registre 20. Une fois que les résultats ont été lus par le dispositif de test 61, ils peuvent être comparés à des valeurs de référence connues ou acquises par simulation. Ceci permet de détecter d'éventuels défauts physiques (hardware) du circuit intégré spécialisé 1. Bien qu'on ait décrit l'invention en référence à un exemple de réalisation préféré, on comprendra que cet exemple n'est pas limitatif et que diverses modifications peuvent lui être apportées sans sortir du cadre de l'invention. REVENDICATIONS 1 Procédé pour tester le fonctionnement d'un circuit intégré spécialisé ( 1) comprenant une unité centrale ( 2) et des dispositifs ( 3, 4, 5, 6) dépendants de l'application du circuit intégré reliés à l'unité centrale, dans lequel on forme au moins un registre à décalage ( 20) en reliant en série un ensemble de cellules élémentaires montées chacune sur une ligne respective véhiculant un signal binaire du circuit intégré, chaque cellule pouvant injecter sur ladite ligne une valeur introduite en série à travers le registre à décalage ( 20) et pouvant échantillonner la valeur du signal binaire véhiculé par ladite ligne en vue d'une lecture de cette valeur à travers le registre à décalage ( 20), caractérisé en ce que les cellules élémentaires du registre à décalage ( 20) sont montées sur des lignes correspondant à des accès de l'unité centrale ( 2). 2 Procédé conforme à la revendication 1, caractérisé en ce qu'il inclut une procédure de test automatique de la constitution du circuit intégré ( 1) comprenant les étapes suivantes: introduction à travers le registre à décalage ( 20) de données caractéristiques des dispositifs ( 3, 4, 5, 6) dépendants de l'application reliés à l'unité centrale ( 2) et mémorisation de ces données caractéristiques; exécution par l'unité centrale ( 2) d'un programme de test stocké dans une mémoire de programmes ( 3) du circuit intégré ( 2), ce programme de test comportant au moins une instruction de lecture desdites données caractéristiques et une instruction de mémorisation de résultats de test; et lecture des résultats de test mémorisés à travers le registre à décalage ( 20). 3 Procédé conforme à la revendication 2, caractérisé en ce que le programme de test comporte des instructions d'échange de données entre l'unité centrale ( 2) et les dispositifs ( 3, 4, 5, 6) dépendants de l'application. 4 Procédé conforme à l'une des revendications 2 ou 3, caractérisé en ce que lesdites données caractéristiques et lesdits résultats de test sont mémorisés dans une mémoire interne ( 18) de l'unité centrale ( 2). Procédé conforme à l'une des revendications 2 à 4, caractérisé en ce que le registre à décalage ( 20) comprend des cellules élémentaires respectivement montées sur des lignes d'un bus de données ( 13) et d'un bus d'instructions ( 8) de l'unité centrale ( 2), et en ce que l'étape d'introduction et de mémorisation des données caractéristiques est effectuée en commandant les cellules élémentaires du registre à décalage ( 20) de façon à injecter sur le bus de données ( 13) des données caractéristiques et à injecter sur le bus d'instructions ( 8) une instruction d'écriture des données présentes sur le bus de données ( 13) à un emplacement de mémoire, et en exécutant l'instruction présente sur le bus d'instructions ( 8). 6 Procédé conforme à la revendication 5, caractérisé en ce que l'étape de lecture des résultats de test mémorisés est effectuée en commandant les cellules élémentaires du registre à décalage ( 20) de façon à injecter sur le bus d'instructions ( 8) une instruction de lecture des résultats de test et de présentation de ces résultats de test sur le bus de données ( 13), en exécutant l'instruction présente sur le bus de données d'instructions ( 8), et en commandant les cellules élémentaires du registre à décalage ( 20) de façon à échantillonner la valeur présente sur le bus de données ( 13) et à lire la valeur échantillonnée à travers le registre à décalage ( 20). 7 Procédé conforme à l'une des revendications 1 à 6, caractérisé en ce qu'il inclut une procédure de test d'un programme d'application stocké dans une mémoire de programmes ( 3) du circuit intégré ( 1), cette procédure comprenant les étapes suivantes: introduction à travers le registre à décalage ( 20) d'une adresse de vérification, et mémorisation de cette adresse de vérification; exécution du programme d'application jusqu'à l'instruction mémorisée à ladite adresse de vérification dans la mémoire de programmes ( 3); et lecture à travers le registre à décalage ( 20) de valeurs présentes sur des lignes d'accès de l'unité centrale ( 2). 8 Procédé conforme à la revendication 7, caractérisé en ce que l'exécution du programme d'application est interrompue lorsqu'il atteint l'instruction mémorisée à l'adresse de vérification dans la mémoire de programmes ( 3). 9 Procédé conforme à l'une des revendications 7 ou 8, caractérisé en ce que l'adresse de vérification est mémorisée dans des cellules élémentaires du registre à décalage ( 20) montées sur des lignes d'un bus d'adresses d'instructions ( 9) de l'unité centrale ( 2) prévu pour repérer les emplacements de la mémoire de programmes ( 3 > contenant les instructions du programme d'application. Procédé conforme à la revendication 9, caractérisé en ce que les cellules élémentaires montées sur les lignes du bus d'adresses d'instructions ( 9) comportent une sortie reliée à l'entrée d'un comparateur ( 63) ayant une autre entrée reliée à un compteur de programme ( 19) de l'unité centrale ( 2), le comparateur ( 63) activant un signal de détection (RDYS) lorsque l'adresse fournie par le compteur de programme ( 19) est égale à l'adresse de vérification. 11 Procédé conforme à l'une des revendications 9 ou 10, caractérisé en ce que le registre à décalage ( 20) comporte au moins deux trajets de décalage de données ( 48, 49), un premier trajet de décalage de données ( 48) étant formé entre des cellules élémentaires d'un premier-groupe comprenant des cellules élémentaires montées respectivement sur des lignes d'un bus de données ( 13), d'un bus d'adresses de données ( 14), d'un bus d'instructions ( 8), du bus d'adresses d'instructions ( 9), d'un bus d'entrée de commandes ( 15) et d'un bus de sortie de commandes ( 10) de l'unité centrale ( 2), un second trajet de décalage de données ( 49) étant formé entre des cellules élémentaires d'un second groupe comprenant des cellules élémentaires montées sur des lignes du bus d'adresses d'instructions ( 9) de l'unité centrale ( 2), et en ce que l'étape d'introduction de l'adresse de vérification est effectuée en série suivant ledit second trajet de décalage de données ( 49). 12 Procédé conforme à la revendication 11, caractérisé en ce que le second trajet de décalage de données ( 49) comporte en outre des cellules élémentaires montées sur des lignes d'accès ( 21) de l'unité centrale ( 2) servant à véhiculer des signaux (BPO, BPI, STE) de sélection de modes d'exécution de la procédure de test du programme d'application. 13 Procédé conforme à l'une des revendications 11 ou 12, caractérisé en ce que l'étape d'introduction de l'adresse de vérification suivant le second trajet de décalage de données ( 49) est effectuée pendant une interruption de l'exécution du programme d'application. 14 Circuit intégré spécialisé ( 1), comprenant une unité centrale ( 2), des dispositifs ( 3, 4, 5, 6) dépendants de l'application du circuit intégré reliés à l'unité centrale, et au moins un registre à décalage ( 20) comportant un ensemble de cellules élémentaires reliées en série et montées chacune sur une ligne respective véhiculant un signal binaire du circuit intégré, chaque cellule pouvant injecter sur ladite ligne une valeur introduite en série à travers le registre à décalage ( 20) et pouvant échantillonner la valeur du signal binaire véhiculé par ladite ligne en vue d'une lecture de cette valeur à travers le registre à décalage ( 20), caractérisé en ce que les cellules élémentaires du registre à décalage ( 20) sont montées sur des lignes correspondant à des accès de l'unité centrale ( 2). Circuit intégré spécialisé conforme à la revendication 14, caractérisé en ce que le registre à décalage ( 20) comporte des cellules élémentaires montées sur des lignes d'un bus d'adresses d'instructions ( 9) de l'unité centrale ( 2) pour mémoriser une adresse de vérification pouvant être introduite en série à travers le registre à décalage ( 20), en ce que l'unité centrale ( 2) comprend un compteur de programme ( 19) pour délivrer sur le bus d'adresses d'instructions ( 9) des adresses d'emplacements d'une mémoire de programmes ( 3) contenant un programme d'application, et en ce que l'unité centrale ( 2) comprend en outre un comparateur ( 63) ayant une entrée reliée au compteur de programme ( 19) et une entrée reliée aux cellules élémentaires montées sur les lignes du bus d'adresses d'instructions ( 9), le comparateur ( 63) étant agencé pour activer un signal de détection (RDYS) lorsque l'adresse fournie par le compteur de programme ( 19) est égale à ladite adresse de vérification. 16 Circuit intégré spécialisé conforme à la revendication 15, caractérisé en ce que le comparateur ( 63) est en outre agencé pour activer un signal d'interruption (HALT) retardé par rapport au signal de détection (RDYS) pour interrompre l'exécution du programme d'application lorsqu'il atteint l'instruction mémorisée à l'adresse de vérification dans la mémoire de programmes ( 3). 17 Circuit intégré spécialisé conforme à l'une des revendications 15 ou 16, caractérisé en ce que le registre à décalage ( 20) comporte au moins deux trajets de décalage de données ( 48, 49), un premier trajet de décalage de données ( 48) étant formé entre des cellules élémentaires d'un premier groupe comprenant des cellules élémentaires montées respectivement sur des lignes d'un bus de données ( 13), d'un bus d'adresses de données ( 14), d'un bus d'instructions ( 8), du bus d'adresses d'instructions ( 9), d'un bus d'entrée de commandes ( 15) et d'un bus de sortie de commandes ( 10) de l'unité centrale ( 2), un second trajet de décalage de données ( 49) étant formé entre des cellules élémentaires d'un second groupe comprenant des cellules élémentaires montées sur des lignes du bus d'adresses d'instructions ( 9) de l'unité centrale ( 2).