FR 2667718 A1 19920410 FR 9012419 A 19901009 DESCRIPTION CIRCUIT DE COMMANDE DES COLONNES D'UN ECRAN D'AFFICHAGE, COMPRENANT DES MOYENS DE TEST A SORTIE UNIQUE La présente invention a pour objet un circuit de commande des colonnes d'un écran d'affichage, compre- nant des moyens de test à sortie unique Elle trouve une application privilégiée dans la commande des écrans d'affichage notamment à cristal liquide. Un écran d'affichage à cristal liquide se présente généralement sous la forme illustrée sur la figure 1 L'écran proprement dit ECR est constitué de lignes L et de colonnes C d'adressage, d'une matrice de pixels P, chacun relié à un transistor TFT dont l'état est commandé par la ligne L et la colonne C associées. Un tel écran est commandé par un circuit de commande de lignes CCL, qui applique séquentiellement aux lignes une tension d'adressage (par exemple quelques dizaines de volts) et par un circuit de commande colon- nes CCC, qui applique, à la totalité des colonnes, des tensions reflétant l'intensité lumineuse des points à afficher sur la ligne adressée L'image globale est ainsi affichée ligne par ligne. Le circuit de commande de colonnes CCC reçoit un signal vidéo SV délivré par un circuit vidéo CV. Ce signal est en général constitué de trois composantes correspondant aux trois composantes primaires d'une * O image en couleur. Si l'écran ECR possède 162 colonnes, le cir- cuit CCC comprend 162 circuits élémentaires de commande de colonne, disposés en parallèle, et 162 sorties re- liées aux différentes colonnes Chaque circuit élémen- -5 taire de commande de colonne (appelé encore "driver colonne" dans la littérature technique) comprend un circuit échantillonneur- bloqueur dont la fonction est d'échantillonner le signal vidéo à un instant déterminé, correspondant à La colonne à commander, et de maintenir cet échantillon sur la colonne pendant toute la durée d'adressage d'une ligne (fonction "sample-and-hold" en terminologie anglo-saxonne). Pour vérifier le bon fonctionnement d'un tel circuit de commande de colonnes, au moment de sa fabrication, on effectue des mesures de tensions à l'aide de pointes qui sont mises en contact avec divers points du circuit intégré. Cette technique traditionnelle de tests sous pointes présente l'inconvénient d'être d'autant plus difficile à mettre en oeuvre que le nombre de points à tester est grand. La présente invention a pour but de remédier à cet inconvénient A cette fin, l'invention propose un circuit de commande muni de ses propres moyens de test, le résultat des tests apparaissant sur une sortie unique Ainsi, s'il y a 162 circuits échantillonneurs-bloqueurs, le circuit de l'invention n'aura qu'une seule sortie de test (et non pas 162), sur laquelle apparaîtront successivement les 162 signaux de test des 162 échantillonneurs- bloqueurs et ceci sous la commande d'un signal de commande unique. A cette fin, le circuit de commande de l'invention comprend: une première ligne générale de sortie de test reliée à un plot de sortie de test, une seconde ligne générale de commande de test reliée à un plot de commande de test, à la sortie de chaque circuit échantillon- neur-bloqueur, un circuit de test comprenant un interrupteur disposé entre la sortie de l'échantillonneur-bloqueur et la ligne de sortie de test, une porte logique dont une entrée est reliée à la ligne de commande de test et dont l'autre entrée reçoit le signal d'échantillonnage correspondant au circuit échantillonneur-bloqueur, la sortie de cette porte commandant l'état de l'interrupteur électronique. De toute façon, les caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront mieux à la lumière de la description qui va suivre Cette description porte sur des exemples de réalisation donnés à titre explicatif et nullement limitatif et elle se réfère à des dessins annexes, sur lesquels: la figure 1, déjà décrite, montre un écran d'affichage à matrice active selon l'art antérieur, la figure 2 montre un circuit de commande conforme à l'invention, la figure 3 illustre un exemple de réalisa- tion d'un circuit de commande de 162 co Lon- nes. Le circuit représenté sur la figure 2 comprend des échantillonneursbloqueurs référencés CEB avec un indice j (respectivement j-1 et j+ 1), cet indice représentant le rang de l'échantillonneur-bloqueur dans le circuit global. Un circuit échantillonneur-bloqueur CE Bj comprend, de manière schématique, un transistor Tj commandé par un signal d'échantillonnage EC Hj, un * 5 condensateur d'échantillonnage Cej et un amplificateur Aj L'entrée de l'échantillonneur-bloqueur est reliée à un bus vidéo BV. A la sortie de l'ensemble d'échantillonneur- bloqueur on trouve: une première ligne générale de sortie de test LST reliée à un plot de sortie de test ST, une seconde ligne générale de commande de test LCT reliée à un plot de commande de test CT, à la sortie de chaque circuit échantillon- neur-bloqueur CE Bj, un circuit de test comprenant un interrupteur électronique Ij disposé entre la sortie de l'échantillon- neur-bloqueur CE Bj et la ligne générale de sortie de test LST, une porte logique Pj dont une entrée est reliée à la ligne générale de commande de test LCT et dont l'autre entrée reçoit le signal d'échantil- lonnage EC Hj correspondant au circuit échantillonneur-bloqueur CE Bj, la sortie de cette porte Pj commandant l'état de l'interrupteur électronique Ij. L'entrée de la porte Pj qui est destinée à recevoir l'impulsion de commande de test est par ailleurs reliée à la masse par une résistance Rj. Le fonctionnement de ce circuit est le sui- vant Lorsqu'on désire tester le fonctionnement des circuits échantillonneurs-bloqueurs, une impulsion de test est appliquée sur le plot CT de commande de test Toutes les portes logiques (quel que soit j) reçoivent donc ce signal sur l'une de leurs entrées. Lorsque la porte Pj associée à l-échantillonneur-blo- queur CE Bj reçoit en outre, sur sa seconde entrée, le signal d'échantillonnage EC Hj propre au circuit CE Bj, la sortie de cette porte change d'état et commande la fermeture de l'interrupteur Ij La sortie de l'échan- tillonneur-bloqueur CE Bj (et de celui-ci seulement) est alors reliée à la ligne générale de test LST. La tension de sortie de l'échantillonneur-bloqueur apparaît donc sur le plot de sortie de test ST. Ainsi, lorsque le signal de commande de test est applique, à chaque impulsion d'échantillonnage apparait, sur le plot ST, une tension qui est celle de la sortie de l'échantillonneur-bloqueur commandé par cette impulsion d'échantillonnage La vérification du bon fonctionnement de l'ensemble du circuit est donc immédiate. En l'absence du signal de commande de test appliqué sur le plot CT, toutes les portes Pj sont fermées et les interrupteurs Ij sont tous ouverts. La sortie des échantillonneurs-bloqueurs est donc diri- gée uniquement sur les plots de sortie Sj. La figure 3 illustre un mode de réalisation d'un circuit de commande des 162 colonnes d'un écran d'affichage, qui met en oeuvre l'invention Ce circuit CCC comprend un registre à décalage R DEC à 162 cel- lules, délivrant successivement 162 impulsions d'échantillonnage à 162 circuits e 5 échantillonneurs-bloqueurs CEB 1, CEB 2,, CEB 162. Ces échantillonneurs-bloqueurs sont reliés à trois bus vidéo BV 1, BV 2 et BV 3, eux-mêmes reliés à un circuit vidéo CV Un circuit de polarisation POL assure les polarisations des différents composants, notamment des amplificateurs des échantillonneurs-bloqueurs. Le circuit comprend 162 plots de sortie 51, 52,, 5162 destinés à être reliés aux 162 colonnes C 1, C 2, , C 162. Conformément à l'invention, le circuit com- prend un plot de commande de test CT, un plot de sortie de test ST et deux lignes généra Les qui traversent l'ensemble du circuit dans sa partie inférieure, à savoir la ligne de commande de test LCT et la ligne de sortie de test LST.5 Il faut noter que dans d'autres types de réalisation l'interrupteur Ij et la porte à deux entrées Pj peuvent être technologiquement réalisés en un seul composant interrupteur électronique à deux entrées (transistor MOS dit "à double gate" dans la littérature technique), tout en obéissant au même fonctionnement que celui décrit précédemment. REVENDICATIONS 1 Circuit de commande des colonnes (CCC) d'un écran d'affichage (ECR), cet écran comprenant des lignes (L) et des colonnes (C) d'adressage, ce 5 circuit de commande comprenant autant de circuits échan- tillonneurbloqueurs (CE Bj) que l'écran comprend de colonnes (Cj), chaque échantillonneur étant commandé par un signal d'échantillonnage qui lui est propre (EC Hj), ce circuit de commande étant caractérisé par le fait qu'il comprend, en outre, des moyens de test comprenant: une première ligne générale de sortie de test (LST) reliée à un plot de sortie de test (ST), une seconde ligne générale de commande de test (LCT) reliée à un plot de commande de test (CT), à la sortie de chaque circuit échantillon- neur-bloqueur (CE Bj), un circuit de test comprenant un interrupteur électronique (Ij) disposé entre la sortie de l'échantil- lonneur-bloqueur (CE Bj) et la ligne générale de sortie de test (LST), une porte logique (Pj) dont une entrée est reliée à la ligne générale de commande de test (LCT) et dont l'autre entrée reçoit le signal d'échantil- lonnage (EC Hj) correspondant au circuit échantillonneur-bloqueur (CE Bj), la sortie de cette porte (Pj) commandant l'état de l'interrupteur électronique (Ij). 2 Circuit de commande selon la revendication 1, caractérisé par le fait que, dans chaque circuit de test, l'interrupteur électronique (Ij) et la porte logique (Pj) sont réalisés en un seul composant à deux entrées.