FR 2652465 A1 19910329 FR 8912646 A 19890927 La présente invention a pour objet un photo- récepteur pour signaux optiques modulés en fréquence. Elle trouve une application en télécommunications optiques et notamment dans la réalisation de réseaux multiplexés en longueur d'onde et à haute densité. Elle peut s'appliquer également, en laboratoire, à aes mesures de modulation de fréquence et à la caracté- risation des lasers à semi-conducteur. Parmi les divers types de modulation employés pour les signaux optiques, la modulation dite FSK (pour "Frequency Shift Keying") occupe une place privi- Légiée. Elle consiste à aéplacer la fréquence du signal optique émis en fonction de l'information à transmet- tre. Cette modulation s'obtient aisément avec un laser à semi-conducteur monofréquence en modulant le courant de polarisation. Contrairement à la modulation d'intensité, la totalité des photons émis par le laser se trouve modulée en fréquence, quelle que soit la profondeur de moaulation. En d'autres termes, elle équivaut à une modulation à 100%. La détection de signaux optiques modulés en FSK s'effectue généralement, soit par détection cohérente, soit par conversion directe en modulation d'intensité par étalon Fabry-Pérot. La première méthode nécessite un oscillateur local (généralement constitué par un laser monofréquence accordable en longueur d'onde), un photodétecteur rapide, un mélangeur de signaux et des circuits électroniques complexes (discriminateur de fréquence intermédiaire, circuit de décision, circuit de stabilisation de la fréquence intermédiaire, etc...); si elle conduit à de bonnes performances, elle reste aonc difficile --à wie-cre en oeuvre. La seconde méthode ne l'est guère moins, néces- sitant un circuit d'asservissement pour accorder L'une des fréquences de résonance de L'étalon avec celle du signal à démoduler. De plus, elle ne permet pas d'accorder la fréquence sur une grande plage, ce qui est incompatible avec le multiplexage en longueur d'onde à haute densité de canaux. Sur ces problèmes de modulation et de démodu- lation en télécommunications optiques, on pourra consulter l'article de Yoshihisa YAMAMOTO et al., intitulé "Coherent Optical Fiber Transmission Systems", publié dans IEEE Journal of Quantum Electronics, vol. QE-17, N 6, June 1981, pp. 919 à 935. On connaît par ailleurs des photorécepteurs assez simples de mise en oeuvre, qui utilisent un laser à semi-conducteur dans lequel on injecte le faisceau lumineux à traiter. Ces dispositifs ne fonctionnent pas à proprement parler en démodulateurs mais plutôt en moyens de commande automatique de fréquence. Un tel dispositif est d-écrit, par exemple, dans l'article de Soichi KOBAYASHI et al., intitulé "Automatic Frequency Control in a Semiconductor Laser and an Optical Amplifier", publié dans "Journal of Lightwave Technology", vol. LT-1, N 2, June 1983, pp. 394401 et dans l'article de Soichi KOBAYASHI et al., intitulé "Injection Locking Characteristics of an AlGaAs Semiconductor Laser", publié dans IEEE Journal of Quantum Electronics, vol. QE-16, N 9, September 1980, pp. 915 à 917. Comme l'invention qui va être décrite reprend certains éléments de cette technique connue, il n'est pas inutile d'en rappeler les caractéristiques essentielles. La technique décrite dans les articles cités utilise un laser à semi-conducteur dans lequel on injecte le faisceau Lumineux à traiter (technique dite "Optical-Injection-Locking"). Le laser est alimen- té en courant au voisinage du seuil (c'est-à-dire pratiquement entre 0,7 fois et 1,3 fois le courant de seuil). Le laser fonctionne alors en régime a'ampli- ficateur. On parle d'"injection-locked amplifier" (ILA) ou de "resonant-type amplifier" (RTA). Le laser émettant le rayonnement est dit laser "maître" et le laser dans lequel le rayonnement est injecté est dit laser "esclave". Le laser esclave fonctionne dans une certaine bande de fréquence. Le faisceau injecté subit, à la traversée de la couche active de l'amplificateur, une amplification qui est plus ou moins importante selon la place occupée par la fréquence au faisceau dans la bande d'amplification. Cette amplification est maximale au centre de la bande et décroît de part et d'autre. L'injection de photons dans la couche active a pour effet a'augmenter sensiblement la densité de photons, et corrélativement, la puissance optique produite. Il en résulte que la tension aux bornes du laser diminue légèrement. Comme l'indique la courbe de la figure 1 annexée (qui reproduit sensiblement l'une des courbes de la figure 6 du premier article de KOBAYASHI cité), la diminution de tension V présen- te une forme résonnante (c'est-à-dire en cloche inver- sée) avec un minimum (ou, si l'on veut, un maximum d'écart de tension) lorsque la fréquence F du signal optique injecté provenant du laser maître est égale à la fréquence centrale Fo de la banae d'amplification du laser esclave. Cet écartde tension diminue lorsque la fréquence F s'éloigne de Fo pour s'annuler lorsque la fréquence F sort de la zone dite d'accrochage ("Lo- cking"). Naturellement, ce phénomène est lié à la valeur du courant de polarisation du laser esclave. La figure 2 (qui reproduit sensiblement l'une des courbes de la figure 4 du document précité) montre la variation de tension AV en fonction du rapport I/Io. Cette variation est d'autant plus grande que le courant de polarisation est proche du courant de seuil (I/Is=1). La variation de tension devient quasi- ment nulle lorsque le laser esclave est polarisé par un courant supérieur à 1,3 ou 1,4 fois le courant de seuil. (On notera l'échelle logarithmique en ordon- nées). En extrapolant à deux fois le seuil, on trouve- rait une variation de tension d'environ 1/100 de milli- volt, qui serait inexploitable. C'est la raison pour laquelle, dans cette technique, on se place toujours au voisinage du seuil (la plupart des mesures rappor- tées dans l'article visé correspondent à un courant de polarisation égal à 1,1 fois le courant de seuil). On conçoit qu'une variation de tension comme celle de la figure 1 puisse permettre un asservissement de fréquence: si la fréquence F du laser maître est prise comme référence, en prenant la variation de la tension aux bornes du laser esclave comme signal d'erreur, on pourra ramener la fréquence centrale Fo du laser esclave à la fréquence F, par exemple en modifiant la température du laser esclave. Si, inversement, on voulait connaîitre les variations de la fréquence du signal injecté par rap- port à la fréquence Fo, il faudrait dériver la varia- tion de tension représentée sur la figure 1. On obtiendrait alors une courbe telle que celle de la figure 3, qui correspond sensiblement à l'une des courbes de la figure 12 du document cité. Cette opération supplémentaire de dérivation est une complication. On s'en dispense en fait puisque cette méthode reste un moyen de stabilisation de fré- quence d'un laser esclave par rapport à un laser maître et non un dispositif de démodulation de fréquence. On retiendra que, dans cette technique con- nue, le Laser à semi-conducteur esclave fonctionne en amplificateur, au voisinage du seuil et que la tension prélevée à ses bornes subit toujours une varia- tion négative en forme de cloche, la variation de tension mesurée ne donnant que l'amplitude de l'écart de fréquence mais non son signe. La présente invention reprend, à certains égards, cette technique, mais en la mettant en oeuvre de manière originale de telle manière que la tension prélevée aux bornes du laser esclave représente l'écart de fréquence non seulement en grandeur mais aussi en signe. Il n'est donc plus besoin d'effectuer une dérivation du signal prélevé. De manière surprenante et très avantageusement, la modulation de fréquence du signal incident se traduit directement par une modulation de tension. Ce résultat est obtenu en faisant fonctionner le laser photorécepteur (ou esclave) très nettement au-dessus du seuil, c'est-à-dire, en pratique, à plus de deux fois le seuil. Dans ces conditions, le laser ne fonctionne plus en amplificateur, comme dans l'art antérieur, mais en oscillateur. Il possède alors une fréquence propre d'oscillation Fo (ou une longueur d'onde propre Xo). L'introduction d'un faisceau lumi- neux dans la couche active de cet oscillateur ne modi- fie pas sensiblement la densité de photons, laquelle est déjà très grande du fait du régime de fonctionne- ment en oscillation largement au-dessus du seuil. Le phénomène décrit plus haut à propos de l'art anté- rieur, s'il existe, est insignifiant. D'ailleurs, comme indiqué, la courbe de la figure 2 montre qu'en se plaçant deux fois au-dessus du seuil, le phénomène en question disparaît quasiment. Un autre mécanisme apparaît, qui met en jeu des phénomènes tout autres: sous L'effet de l'in- jection du faisceau à la fréquence F différente de Fo, l'oscillateur va voir sa fréquence glisser; ce glissement de fréquence est rendu possible par une variation de l'indice de réfraction de la couche active. Cette variation A F = F- Fo est positive ou négative selon la place de F par rapport à Fo. Si F est inférieur à Fo, (autrement dit si la longueur d'onde X est supérieure à Xo), l'indice de réfraction augmente et la fréquence de l'oscillateur va se caler sur F). Cette augmentation d'indice est obtenue par une diminution de densité de porteurs dans la couche active. Si l'indice diminue, la densité de porteurs va augmenter car le rapport variation d'indice par unité de variation de densité de porteur (dn) est - dN négatif, et inversement. Mais la densité de porteurs détermine par ailleurs la séparation des quasi-niveaux de Fermi dans la couche active et cette dernière cor- respond à la tension aux bornes de la jonction pn du laser. Cette tension va donc diminuer lorsque F sera inférieur à Fo et augmenter si F est supérieur à Fo. Elle restera inchangée si F=Fo. On obtient ainsi une variation de tension qui, en grandeur et en signe, correspond à l'écart entre la fréquence F du faisceau incident et la fréquence propre Fo de l'oscillateur laser de référence. On aura noté les différences essentielles avec le phénomène mis en jeu dans l'art antérieur: alors que dans celui-ci la variation de tension était toujours négative et maximale pour F=Fo, dans l'inven- tion la variation est tantôt positive, tantôt négative et est nulle pour F=Fo. Dans l'invention, le photorécepteur détecte directement l'écart de fréquence, sans qu'il soit besoin de recourir à un circuit de dérivation auxiliaire. Les performances de ce nouveau photorécepteur sont donc très intéressantes. A titre explicatif, le Demandeur a obtenu les résultats suivants: - sélectivité en longueur d'onde: 0,04 nm pour une puissance optique de -30dBm, - bande passante électrique supérieure à 2GHz, sensibilité: -30dBm, - facteur de conversion de fréquence en tension (dV/dF): 50 iV/GHz environ à 750 MHz, - accord en longueur d'onde par changement de température: U,065 nm/ C et par change- ment de courant de polarisation: 0,013 nm/mA, - dimensions: 0,4 x 0,1 x 0,3 mm3. De façon plus précise, l'invention a pour objet un photorécepteur pour signaux optiques modulés en fréquence, comprenant un laser à semiconducteur monofréquence avec une couche active, un courant de seuil et une fréquence propre, une source de courant de polarisation alimentant le laser au-dessus du seuil, des moyens optiques pour injecter un faisceau lumineux modulé en fréquence dans la couche active du laser, un moyen pour prélever la tension électrique aux bornes du laser, ce photorécepteur étant caractérisé par le fait que le courant d'alimentation produit par la source de courant est réglé à une valeur très supé- rieure au seuil laser, le laser fonctionnant alors en oscillateur, le moyen pour prélever la tension délivrant alors une tension présentant, par rapport à La tension propre prélevée en L'absence de faisceau injecté, une variation dont L'amplitude est proportion- neLLe à L'écart entre La fréquence du faisceau injecté et La fréquence propre du Laser et un signe qui est celui dudit écart de fréquence, la modulation de fréquence du faisceau lumineux injecté étant ainsi traduite directement en modulation d'amplitude de la tension prélevée aux bornes du laser. De préférence, le courant d'alimentation du laser est supérieur à deux fois le courant de seuil. De toute façon, les caractéristiques et avantages de l'invention apparaîitront mieux à la lumiè- re de la description qui va suivre. Cette description se réfère à des dessins annexés sur lesquels: - la figure 1, déjà décrite, montre la varia- tion de tension obtenue selon l'art anté- rieur en fonction de La fréquence, - la figure 2, déjà décrite, montre la varia- tion de tension obtenue selon l'art anté- rieur en fonction du courant de polarisa- tion, - la figure 3, déjà décrite, montre la déri- vée de la tension obtenue selon l'art antérieur, - la figure 4 illustre le principe de fonctionnement du photorécepteur de l'invention, - la figure 5 montre un montage expérimental utilisant le photorécepteur de l'invention, - la figure 6 illustre les variations de la tension prélevée aux bornes du laser en fonction de l'écart de fréquence, - la figure 7 montre deux cas particuliers de cette variation de tension à deux puis- sances optiques différentes, - la figure 8 montre un dispositif de multi- plexage démultiplexage utilisant une plura- lité de photorécepteurs selon l'invention. On voit sur la figure 4 un Laser 10, par exemple du type à réaction distribuée ("Distributed Feedback"). Un tel laser est constitué classiquement d'un empilement de couches semi-conductrices, avec notamment une couche active encadrée par deux couches de confinement et un réseau distribué. Le semi-conducteur peut appartenir à la famille des compo- sés de III-V, de type binaire, ternaire ou quaternaire, comme par exemple InGaAsP sur InP. Le laser est alimen- té par une source de courant 12 et il est équipé d'un moyen 14 apte à mesurer la tension à ses bornes. Le courant I injecté est supérieur à deux fois le courant de seuil Is du laser. Le laser est ainsi placé dans son régime de fonctionnement en oscil- lateur. Il émet un rayonnement lumineux 16, 18 de longueur d'onde o (ou de fréquence Fo). Les intensités relatives des rayonnements 16 et 18 dépendent des coefficients de réflexion des faces du laser. Il n'est pas utile de préciser ces conditions, qui n'ont pas de rapport direct avec l'in- vention. Un faisceau lumineux 20, de fréquence F, (ou de longueur d'onde X) est injecté dans le laser 10. Sa fréquence est censée être modulée. A titre explicatif est représenté, sur la gauche du dessin, un diagramme montrant que la fréquence peut prendre deux valeurs F1 et F2 (F1 peut correspondre à un O logique et F2 à un 1 Logique, dans un système d'infor- mation binaire). La tension V, prélevée aux bornes du laser par l'appareil 14, prend alors deux valeurs V1 et V2 représentées sur La partie droite et correspondant aux deux fréquences F1 et F2. Dans cet exemple, on a supposé que les fréquences F1 et F2 encadraient la fréquence propre Fo du Laser, F2 étant supérieure à Fo. Dans cette hypothèse et conformément aux explications données plus haut, la fréquence de fonctionnement du laser récepteur va glisser vers F1 ou vers F2 sous l'effet de l'injection du faisceau 20, ce qui va décaler la tension de fonctionnement vers le bas ou vers le haut. La différence avec l'art antérieur apparait donc clairement puisque dans ce dernier, la variation de tension était toujours-négative. Avec deux fréquences également écartées de La fréquence propre du laser, on obtiendrait, dans l'art antérieur, sensiblement à la même tension aux bornes du Laser, ce qui entraînerait une sérieuse difficulté pour les discriminer. La figure 5 montre un montage expérimental permettant d'étudier le photorécepteur de l'invention. On y retrouve le laser 10 alimenté par la source 12. Est représenté en outre un Laser 30 jouant le rôle d'émetteur, ce laser étant alimenté par une source de courant 32 à travers un "T" 34 comprenant une induc- tance et un condensateur, celui-ci étant relié à un oscillateur haute fréquence 36. Le courant injecté dans le laser 30 est ainsi moduLé en intensité. Il en résulte que Le faisceau lumineux émis est modulé en fréquence autour d'une fréquence moyenne. Des moyens optiques sont en outre prévus pour injecter le faisceau modulé dans le laser 10 jouant le rôle de photorécepteur. Ces moyens compren- nent une première lentille L1, un atténuateur A, un polariseur P, une lame demi-onde LD et une seconde lentille L2 pouvant être un objectif de microscope. Les moyens A, P et LD remplissent la fonction d'isola- teur optique. Quant aux moyens de mesure de La tension aux bornes du laser, ils comprennent, après un "T" 40 constitué d'une inductance et d'un condensateur, un amplificateur 42 et un analyseur de spectre 44. Cet analyseur donne l'intensité de La composante de tension à La fréquence de modulation du générateur 36. Le montage comprend encore des moyens de stabilisation en température des lasers, représentés schématiquement par les rectangles en tirets 50 et 52. Un tel montage a permis au Demandeur de mesurer un certain nombre de grandeurs, représentées sur les figures 6 et 7. Dans ces mesures, le courant de polarisation des lasers émetteur et récepteur était respectivement de 35 et 49 mA, soit 2,2 fois le courant de seuil. La température des lasers était stabilisée à 20 C. La fréquence optique du laser émetteur (ou du laser récepteur) pouvait être déplacée par variation de température. La modulation du laser émetteur était obtenue par modulation du courant de polarisation. Sur la figure 6, tout d'abord, est représen- tée la variation de tension AV exprimée en microvolts et portée en ordonnées, en fonction de l'écart de fréquence AF exprimée en gigahertz, écart entre la fréquence F du laser émetteur 30 et la fréquence propre Fo du laser récepteur 10. La courbe représentée correspond à une puis- sance injectée de -30dBm. La zone marquée ZA correspond à la plage d'accrochage, c'est-à-dire la plage o le photorécep- teur est forcé à la fréquence du faisceau injecté. Dans cette plage, la relation tension-fréquence est linéaire. En dehors de cette plage, l'écart F-Fo est trop important pour que l'oscillateur puisse s'ac- crocher sur la fréquence de l'onde injectée. Il reprend ses conditions naturelles d'oscillation à la fréquence Fo et la tension reprend sa valeur nominale. La figure 7 donne des courbes semblables pour une fréquence de modulation égale à 750MHz. La courbe Cl correspond à une puissance optique injectée de -30dBm soit lp W et la courbe C2 à -40dBm, soit 0,1,W. Le taux de conversion est d'environ 52 V/GHz. En modifiant la température du photorécepteur ou son courant de polarisation, il est possible de déplacer la fréquence propre Fo et, par conséquent, la zone d'accrochage. On peut ainsi utiliser le même type de photorécepteur mais sur diverses longueurs d'onde, ce qui est utile dans un système multiplexé. C'est ce qui est représenté sur la figure 8 o l'on voit une pluralité de N fibres optiques F01,..., FOi,... FON transportant des signaux optiques respec- tivement à la longueur d'onde X1,..., Mi,...XN et, côté réception, une même pluralité de N photorécepteurs PH1,..., PHi,..., PHN stabilisés à des températures T1,..., Ti,..., TN pour fonctionner aux longueurs d'onde Xl,..., Xi,..., XN.. Naturellement, dans la description qui précède, ce n'est qu'à titre explicatif qu'on a mentionné les lasers DFB. Tout autre laser peut être utilisé, y compris les lasers à couche activepuits quantiques, à électrodes multiples (la puce laser est alimentée par plusieurs électrodes séparées, et à multi-sections (composés des sections amplificatrice, guide et réflectrice). REVENDICATIONS 1. Photorécepteur pour signaux optiques modulés en fréquence, comprenant un laser à semi-conducteur (10) monofréquence avec une couche active, un courant de seuil et une fréquence propre (Fo), une source de courant de polarisation (12) alimentant le laser (10) au-dessus du seuil, des moyens optiques (L1, A, P, LD, L2) pour injecter un faisceau lumineux (20) modulé en fréquence dans la couche active du laser, un moyen (14) pour prélever la tension électrique aux bornes du laser (10), ce photorécepteur étant caractérisé par le fait que le courant d'alimentation (I) produit par la source de courant (12) est réglé à une valeur très supérieure au seuil laser, le laser (10) fonctionnant alors en oscillateur, le moyen (14) pour prélever la tension délivrant alors une tension (V) présentant, par rapport à la tension propre (Vo) prélevée en l'absence de faisceau injecté, une variation (AV) dont l'amplitude est proportionnelle à l'écart entre la fréquence (F) du faisceau injecté et la fréquence propre (Fo) du laser (10) et un signe qui est celui dudit écart de fréquence, la modulation de fréquence du faisceau lumineux injecté (20) étant ainsi traduite directement en modulation d'amplitude (AV) de la tension prélevée aux bornes du laser (10). 2. Photorécepteur selon la revendication 1, caractérisé par le fait que le courant d'alimenta- tion du laser est supérieur à deux fois le courant ae seuil. 3. Photorécepteur selon la revendication 1, caractérisé par le fait qu'il comprend des moyens (12, 50) pour régler la fréquence propre du laser à une valeur déterminée. 4. Photorécepteur selon la revendication 3, caractérisé par le fait que les moyens pour régler la fréquence propre du Laser sont des moyens (50) de régulation de la température. 5. Photorécepteur, caractérisé en ce qu'il comprend une pluralité de photorécepteurs (PH1,..., PHi,..., PHN) selon La revendication 3, chacun associé à un laser réglé sur une fréquence propre particulière. 6. Photorécepteur selon La revendication 1, caractérisé par le fait que Le laser est du type à réaction distribuée (DFB). 7. Photorécepteur selon la revendication 1, caractérisé par le fait que le laser est du type à puits quantiques. 8. Photorécepteur selon la revendication 1, caractérisé par le fait que le laser est du type à électrodes multiples. 9. Photorécepteur selon la revendication 1, caractérisé pr le fait que le laser est du type à multisections.