FR 2616552 A1 19881216 FR 8807650 A 19880608 PROCEDE ET DISPOSITIF POUR SUPPRIMER L'INFLUENCE DES REFLEXIONS PARASITES SUR UN OBJECTIF REPERE PAR REFLECTEURS L'invention se rapporte à un procédé pour supprimer l'influence des réflexions parasites sur un objectif repéré par réflecteurs. Lorsqu'on éclaire un objectif avec un rayonnement polarisé - donc par exemple avec une lumière à polarisation linéaire émise par des diodes laser - il se produit alors deux types de réflexion sur l'objectif éclairé: - d'une part la réflexion désirée produite par le (les) réflecteur(s) repérant l'objectif - d'autre part les réflexions parasites produit sur la surface restante - non repérée - de l'objectif. Si, au moyen d'un capteur - par exemple un capteur. optoélectronique - on veut mesurer la position exacte des repères de l'objectif, notamment des réflecteurs, la composante parasite de la réflexion devient gênante. L'objet de l'invention est, par conséquent, de neutraliser largement ces réflexions parasites par des moyens simples de manière qu'elles n'interfèrent pas dans la mesure. Avec un procédé pour supprimer l'influence des réflexions parasites sur un objectif repéré par réflecteurs, ce résultat est atteint selon l'invention par le fait qu'on éclaire l'objectif avec un rayonnement polarisé et que l'on sépare la composante désirée et la composante parasite de la réflexion en plaçant un élément à sélection de polarisation dans le trajet des rayons. L'invention vise, en outre, un dispositif pour la mise en oeuvre dudit procédé, ce dispositif étant caractérisé par le fait que pour séparer la composante désirée de la composante parasite de la réflexion, on dispose une plaquette X/4 devant le réflecteur et un filtre de polarisation devant le détecteur. - L'invention sera mieux comprise à l'aide de la description de modes de réalisation pris comme exemples, mais non limitatifs, et illustrés par le dessin annexé, sur lequel: la figure 1 représente à titre. d'exemple une géométrie pour une telle mesure; la figure 2 représente un réflecteur à plaquette V4. Le dispositif de mesure selon la figure 1 est destiné à mesurer la position exacte de rétroréflecteurs R sur l'objectif Z, par exemple un objet à rallier. Le capteur S se compose d'une optique O comprenant une matrice à transfert de charge ou un capteur de lignes à transfert de charge, d'une photodiode sensible à la position, d'une photodiode à quadrants, d'un dispositif détecteur équivalent D sensible à la position sur lequel les réflecteurs R sont reproduits. A partir de la position de l'image sur le détecteur D, on peut, au moyen de relations géométriques simples, déterminer également la position du réflecteur R et, par conséquent, de l'objectif Z et, en cas de plusieurs réflecteurs, également la position et l'orientation de l'objectif Z. Pour distinguer entre les réflexions parasites S' de l'objectif Z et les réflexions désirées S des réflecteurs R, on modifie, selon l'invention, le sens de la polarisation voulu pour les composantes désirées S de la réflexion. Conformément à la figure 2, ce résultat est atteint selon l'invention en disposant une plaquette /4 P devant le réflecteur R qui est en général un rétroréflecteur réalisé sous la forme d'un miroir triple. Ce réflecteur renvoie le rayon d'éclairage incident SB parallèlement sous la forme du rayon SR. Comme on le sait, le vecteur-champ électrique d'un rayonnement est tourné de 180 à la réflexion. Cela se produit aussi bien au niveau de la surface Z de l'objectif qu'à travers le réflecteur, et ce au total trois fois dans le cas d'un réflecteur angulaire cubique attendu qu'il s'y produit trois réflexions successives. Si, maintenant, on code le réflecteur R - ou l'emplacement de la réflexion désirée - avec une plaquette V4 P, celle-ci transforme la polirisation de la lumière la tranversant. A titre d'exemple, de la lumière à polarisation linéaire est transformée en lumière à polarisation circulaire. Après une ou trois ou un nombre impair de réflexions, le sens de rotation de la polarisation est inversé. Si maintenant ce rayonnement réfléchi traverse la plaquette k/4 - voir figure 2 - le sens de la polarisation est orthogonal par rapport à la polarisation incidente. Le procédé fonctionne de façon analogue pour une polarisation circulaire du rayon lumineux incident. En installant un élément à sélection de polarisation, notamment un filtre de polarisation F ou bien un diviseur de rayons polarisant ou analogue dans le trajet de réception des rayons du capteur, il est possible de n'interpréter que la réflexion désirée et par conséquent d'exclure de la mesure la composante parasite de la réflexion. Le procédé selon l'invention permet de séparer ces composantes parasites S' de la réflexion. Par conséquent, ceux-ci ne peuvent pas contribuer à la mesure de la position et fausser le résultat de la mesure. Le procédé permet la mesure précise de la position d'objets repérés par des réflecteurs, attendu qu'elle empêche les mesures erronées résultant d'autres réflexions parasites. REVENDICATIONS 1. Procédé pour supprimer l'influence des réflexions parasites sur un objectif repéré par réflecteurs, caractérisé par le fait qu'on éclaire l'objectif avec un rayonnement polarisé et que l'on sépare la composante désirée (S) et la composante parasite (S') de la réflexion en plaçant un élément à sélection de polarisation (P, F) dans le trajet des rayons. 2. Dispositif pour supprimer l'influence des réflexions parasites sur un objectif repéré par réflecteurs, caractérise par le fait que pour séparer la composante désirée de la composante parasite de la réflexion, on dispose une plaquette À/4 (P) devant le réflecteur (R) et un filtre de polarisation (F) devant le détecteur (D).