FR 2617975 A1 19890113 FR 8709744 A 19870709 SYSTEME AUTOMATIQUE DE TESTS D'ENDURANCE D'UNE PLURALITE D'ELEMENTS ELECTRIQUES CONDUCTEURS DESCRIPTION La présente invention concerne un système automatique de tests d'endurance d'une pluralité d'éléments électriques conducteurs. Elle s'applique notamment à des tests d'endurance d'éléments électriques résistifs pour lesquels il est nécessaire de connaître les durées des périodes à la fin desquelles ces éléments sont détruits. La destruction de chaque élément est repérée par la variation brusque de la valeur du courant qui circule dans cet élément. De façon avantageuse pour accélérer les tests d'endurance des éléments à tester, on fait subir auxdits éléments des contraintes en température et on leur applique une densité de courant supérieure à celle qu'ils peuvent supporter. On sait actuellement réaliser des tests d'endurance d'éléments électriques conducteurs, notamment en faisant circuler un courant continu dans chacun de ces éléments, en le reliant à un générateur de courant continu; on mesure la tension ou le courant appliqué à cet élément de manière à déterminer la durée de la période qui s'écoule entre le début du passage du courant dans cet élément, et l'instant pour lequel le courant qui lui est appliqué chute; cette chute indique la destruction de cet élément. On sait aussi effectuer un test d'endurance d'un groupe d'éléments électriques conducteurs reliés en série ou en parallèle, en faisant circuler un courant continu de valeur prédéterminée dans ces éléments groupés. On mesure le courant total circulant dans ces éléments. Le changement de la valeur du courant mesuré indique la destruction d'un ou plusieurs des éléments du groupe. Lorsque les éléments sont reliés en série, pour assurer la continuité du circuit alimenté par le générateur de courant, on relie en parallèle avec chaque élément, par 2 6 17975 exemple une diode de Zener qui permet d'assurer la continuité de circulation du courant lorsque l'un des éléments du groupe est détruit. Dans l'état actuel de la technique, chaque élément ou chaque groupe d'éléments à tester doit être alimenté par un générateur et les mesures de courants ou de tension ainsi que le réglage des valeurs des courants fournis par les générateurs aux différents éléments ou différents groupes ne sont pas réalisés automatiquement, les tests sont donc très longs et par conséquent très coûteux. De plus, il peut être utile pour des tests d'endurance, d'alimenter des éléments ou des groupes d'éléments par des créneaux de courant présentant des fréquences et des rapports cycliques sélectionnés en fonction de chaque élément ou chaque groupe d'éléments. En effet, certains éléments étant destinés à fonctionner en courant alternatif, il est plus avantageux de tester ces éléments avec des créneaux de courant. Il peut être également utile d'automatiser les tests de plusieurs éléments ou de plusieurs groupes d'éléments, en réglant pour chacun d'eux des valeurs différentes de fréquences ou des rapports cycliques des créneaux de courant qui leur sont appliqués. Malheureusement, on ne sait pas actuellement effectuer des tests automatisés d'endurance d'une pluralité d'éléments ou de groupes d'éléments alimentés respectivement par différents générateurs leur appliquant des créneaux de courant dont on peut régler les fréquences et les rapports cycliques séparément et automatiquement. L'invention a pour but de remédier à ces inconvénients et notamment d'automatiser les tests d'endurance d'une pluralité d'éléments électriques conducteurs ou d'une pluralité de groupes de ces éléments, en utilisant des générateurs réglables appliquant à ces éléments ou ces groupes d'éléments des courants continus de valeurs réglables ou des créneaux de courants ayant des fréquences des rapports cycliques et des valeurs réglables; les courants continus ou en créneaux peuvent être appliqués indépendamment à chaque élément ou groupe d'éléments. L'invention a pour objet un système automatique de tests d'endurance d'une pluralité d'éléments électriques conducteurs, ces éléments pouvant être séparés les uns des autres ou connectés entre eux pour former un ou plusieurs groupes séparés d'éléments de ladite pluralité, comportant pour chaque élément ou chaque groupe un générateur réglable de courant relié à cet élément ou à ce groupe pour lui appliquer à partir d'un instant prédéterminé de départ, un courant de valeur prédéterminée réglable et, pour ces éléments ou ces groupes d'éléments, des moyens de mesure des valeurs des courants et/ou des valeurs de tensions appliqués à ces éléments ou ces groupes d'éléments pour déterminer les évolutions respectives de ces valeurs au cours du temps, à partir des instants respectifs prédéterminés jusqu'à des instants respectifs caractéristiques auxquels se produisent respectivement des variations de ces valeurs, caractérisé en ce qu'il comporte un processeur relié à une mémoire,.aux moyens de mesure et aux générateurs correspondant respectivement aux éléments ou aux groupes d'éléments, la mémoire contenant des données de réglage des valeurs des courants fournis par les générateurs, des informations d'adressage de ces générateurs et de commande des moyens de mesure pour permettre la mesure et l'enregistrement dans la mémoire de valeurs évolutives des courants et/ou des tension mesurés respectivement pour ces éléments ou groupes d'éléments depuis les instants prédéterminés jusqu'auxdits instants caractéristiques respectifs, les courants appliqués aux éléments ou groupes d'éléments pouvant être continus ou en créneau. Les mesures de courant et/ou de tension sont effectuées de préférence uniquement en courant continu pour des raisons de fiabilité des mesures et de coût des appareils de mesure. Selon une autre caractéristique de l'invention, l'ensemble des générateurs comporte - au moins un générateur réglable de créneaux relié au processeur pour recevoir des informations d'adressage et des données de réglage de la fréquence et du rapport cyclique des créneaux sélectionnés, et chaque générateur comprend: - une mémoire de courant contenant des données correspondant à la valeur de courant prédéterminée que l'on souhaite appliquer à l'élément ou au groupe correspondant, cette mémoire étant reliée au processeur pour recevoir des informations d'adressage et des données correspondant à la valeur de courant, - un circuit logique ayant des entrées respectivement reliées à des sorties de -la mémoire de courant pour recevoir lesdites données correspondant à la valeur du courant continu souhaité et relié à une sortie du générateur de créneaux pour recevoir les créneaux sélectionnés, ce circuit logique fournissant sur des sorties les données correspondant à la valeur du courant, soit en continu, soit en créneau, suivant l'état des sorties du générateur de créneau, - un convertisseur numérique-analogique relié à des sorties du circuit logique pour fournir sur une sortie, soit un courant continu de valeur souhaitée, soit des créneaux sélectionnés de courant de valeur souhaitée, - un adaptateur d'impédance relié par une entrée à la sortie du convertisseur et relié par une sortie à l'élément ou au groupe correspondant pour lui appliquer le courant continu de valeur souhaitée ou les créneaux sélectionnés de valeur souhaitée. Selon les tests d'endurance appliqués à des éléments électriques, le système peut comporter un seul générateur de créneaux pour l'ensemble des générateurs de courants ou bien il peut comporter des générateurs de créneaux pour chaque générateur de courant. Lorsqu'un seul générateur de créneaux est utilisé, les fréquences et les rapports cycliques des créneaux générés sont les mêmes pour tous les éléments ou groupe d'éléments testés mais les óourants de crête peuvent être différents puisqu'ils dépendent des valeurs mémorisées dans les mémoires de courants. Selon une autre caractéristique, chaque élément ou groupe d'éléments est relié à la sortie de l'adaptateur d'impédance par un commutateur de sécurité qui, dans une première position, relie la sortie de l'adaptateur à une source de haute tension, pendant la mise en place de l'élément ou groupe d'éléments qui doit être relié à la source de haute tension et à la sortie de l'adaptateur pour un test, ce commutateur de sécurité reliant, dans une deuxième position, la sortie de l'adaptateur avec l'élément ou groupe d'éléments, au moment du test, et étant lui-même relié à une sortie de commande du processeur pour recevoir des signaux de commande le plaçant dans la première ou la deuxième position, ces signaux correspondant à des informations enregistrées dans la mémoire du processeur. Selon une autre caractéristique, l'adaptateur d'impédance comprend un amplificateur relié à la sortie du convertisseur numérique-analogique et à la base d'un transistor dont une première électrode est reliée au commutateur de sécurité et constitue la sortie de l'adaptateur d'impédance, une deuxième électrode de ce transistor étant reliée à une masse de référence par des moyens de calibrage du courant circulant dans le transistor et dans l'élément ou groupe d'éléments correspondant. Selon une autre caractéristique, les moyens de calibrage comportent un commutateur de sélection de calibre dont une première borne est reliée à la première électrode, ce commutateur ayant deux autres bornes de calibrage reliées respectivement à des résistances de calibrage ellesmêmes reliées à la tension de référence, le commutateur de sélection étant relié par une entrée de commande à une sortie du processeur pour recevoir un signal de commande de sélection de l'une des résistances de calibrage, ce signal de commande de sélection correspondant à des informations enregistrées dans la mémoire du processeur. De façon avantageuse, le système comprend des moyens de lecture de courant à entrées de mesures analogiques reliées respectivement aux premières bornes des moyens de calibrage correspondant aux éléments ou groupes d'éléments, ces moyens ayant une sortie numérique et une entrée de commande reliées au processeur, cette entrée de commande recevant des signaux de sélection pour mesurer successivement les valeurs des courants respectifs cycliques aux éléments ou groupes d'éléments. Selon une autre caractéristique les moyens de mesures de tension comportent un voltmètre à entrées de mesure analogiques, relié à chaque élément par l'intermédiaire d'un commutateur à balayage ayant une entrée de commande reliée au processeur, cette entrée recevant des signaux de sélection d'un élément pour relier le voltmètre successivement aux bornes des différents éléments, ledit voltmètre comporte une sortie numérique reliée au processeur, pour enregistrer successivement les vateurs de tension mesurées aux bornes de chaque élément, une horloge interne du processeur permettant d'enregistrer ledit instant prédéterminé de départ et des instants de mesure de tension pour chaque élémen+ afin de permettre au processeur de déterminer l'instant prédéterminé caractéristique pour chaque élément. Les caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront mieux de la description qui va suivre, donnée en référence aux dessins annexés dans lesquels: - les figures 1A et lB représentent schématiquement un système automatique de tests d'endurance d'une pluralité d'éléments électriques conducteurs, conforme à l'invention, ! - la figure 2 représente schématiquement en exemple un groupe d'éléments conducteurs reliés en série, qu'il est possible de tester grâce au système de l'invention, - la figure 3 représente schématiquement en exemple un groupe d'éléments conducteurs reliés en parallèle, qu'il est possible de tester grâce au système de l'invention, la figure 4 représente schématiqyement un générateur de courant utilisé dans te système de l'invention, - la figure 5 est un chronogramme représentant des courants de tests fournis par le système de l'invention. Les figures 1A et lB représentent schématiquement un système automatique de tests d'endurance d'une pluralité- d'éléments électriques conducteurs, conforme à l'invention. Ces éléments référencés 1, 2, 3 sur la figure et dont le nombre a été limité à 3 pour des commodités de représentation peuvent être, soit séparés les uns des autres, soit connectés entre eux pour former un ou plusieurs groupes séparés d'éléments, comme on Le verra plus loin en détail. Il est évident que le nombre d'éléments ou de groupes d'éléments 1, 2, 3 qu'il est possible de tester à l'aide du système peut être plus élevé. Le système comporte pour chaque élément ou chaque groupe d'éléments tel que 1, un générateur de courant réglable 4, relié à cet élément ou à ce groupe, pour lui appliquer, à partir d'un instant prédéterminé de départ, un courant de valeur prédéterminée réglable. Les générateurs qui permettent d'alimenter les autres éléments 2, 3 sont respectivement représentés en 5, 6, de manière schématique. Le système peut aussi comporter de façon avantageuse, pour l'ensemble des éléments ou groupe d'éléments, des moyens de lecture 7 de valeurs de courants. Les moyens de lecture 7 permettent de vérifier les valeurs de courants appliqués aux différents éléments. Le système comprend en outre des moyens de mesure de tension aux bornes de chaque élément et/ou de courant appliqués à chaque élément. Les mesures de tension étant plus intéressantes, e5 on a aussi représenté sur la figure 1 à titre indicatif des moyens de mesure de tension. Ces moyens de mesure de tension comprennent un voltmètre relié à chaque élément dont on veut mesurer la tension par un commutateur à balayage C. Ces moyens de mesure permettent de déterminer lesévolutions respectives des valeurs de tension aux bornes des différents éléments. Le commutateur C et le voltmètre T sont commandés par des signaux de commande provenant du processeur 13. Les valeurs de tension mesurées sont enregistrées dans la mémoire 14 du processeur 13. Les courants ou tensions sont mesurés au cours du temps, à partir d'instants respectifs prédéterminés auxquels débute la circulation des courants dans ces éléments ou groupe d'éléments. Pour chaque élément, la mesure de la tension et ses bornes, ou du courant appliqué est arrêtée à un instant caractéristique qui correspond à une variation de la valeur mesurée, indiquant que cet élément se détériore, cette détérioration ne pouvant aller jusqu'à la rupture de la conduction. Les moyens de lecture 7 sont reliés, comme on le verra plus loin en détail, à un adaptateur d'impédance de sortie de chaque générateur, lui-même relié à l'élément testé. La liaison entre les moyens de lecture 7 et la sortie de chaque adaptateur d'impédance peut être réalisée par l'intermédiaire d'un amplificateur. Ces amplificateurs sont représentés en 8, 9, 10. Les moyens de lecture de courant 7 sont de type analogique; ils sont respectivement reliés par des entrées aux sorties des amplificateurs 8, 9, 10. Ces;moyens analogiques de lecture comportent une sortie numérique 11, ainsi qu'une entrée de commande 12. Le système de l'invention comporte aussi un processeur 13 relié à une mémoire 14. Ce processeur est aussi relié par l'intermédiaire d'une interface 15, à l'entrée de commande 12 des moyens de lecture 7, à une entrée de commande du commutateur à balayage C, à une entrée de commande du voltmètre T, et aux générateurs de courants 4, 5, 6, qui correspondent respectivement aux éléments ou groupe d'éléments à tester 1, 2, 3. Le processeur 13 peut être, de façon connue, muni d'un écran de visualisation et il peut être également relié à une imprimante 16 pour afficher par exemple les résultats de lecture de courants et/ou de mesure de tension. La mémoire 14 contient des données de réglage des valeurs de courants fournis par les générateurs, des informations d'adressage de ces générateurs et de commande des moyens de mesures de tension T, du commutateur C, et des moyens de lecture 7, ainsi que d'autres informations de commande qui seront décrites plus loin en détail. Les informations de commande du voltmètre T permettent notamment de commander l'enregistrement dans la mémoire, des valeurs évolutives des tensions continues mesurées respectivement pour les éléments ou groupe d'éléments reliés aux générateurs. Ces mesures sont effectuées à partir des instants respectifs o ces tensions sont appLiquées à ces éléments, jusqu'aux instants caractéristiques auxquels ces éléments ou groupe d'éléments se détériorent ou sont détruites. Les courants qui sont fournis par chacun des générateurs peuvent être des courants continus ou des créneaux de courants. Selon l'invention, les lectures de courants et/ou les mesures de tension sont effectuées de préférence uniquement en courant et en tension continus. On décrira plus loin la structure et le fonctionnement de chaque générateur de courant. La figure 2 représente schématiquement un exemple d'un groupe 20 d'éléments 21, 22, 23, dont le nombre a été limité à 3 pour des commodités de représentation sur la figure, et qui peuvent être testés par le système de l'invention. Ces éléments sont ici reliés en série et le groupe qu'ils forment est relié entre la haute tension d'alimentation + V et une borne 24 d'un commutateur 25-de positions, dont le rôle sera expliqué plus loin en détail. Une borne d'alimentation 26 de ce commutateur est reliée à la sortie du générateur de courant correspondant. Dans ce type de montage o les éléments sont disposés en série, des dicdes de Zener 27, 28, 29 sont respectivement connectées en parallelè aux bornes des éléments 21, 22, 23. Dans ce cas et, de manière connue, lorsque l'un des éléments du groupe est détruit au cours du test d'endurance, le courant fourni par le générateur correspondant continue à circuler dans les autres éléments, grâce à la diode de Zener reliée en parallèle avec l'élément détruit. La figure 3 représente un autre type de montage dans lequel les éléments 30, 31, 32 à tester sont reliés en parallèle pour former un groupe. Ces éléments sont reliés d'une part à une borne de haute tension +V et, d'autre part, au commutateur 25 décrit plus haut. Dans ce type de montage, la valeur du courant circulant dans l'ensemble des éléments du groupe subit une chute lorsque l'un des éléments est détruit lors du test d'endurance. Dans ce cas, les moyens de mesure sont de façon avantageuse, des moyens de lecture de courant traversant chaque élément. En se référant à nouveau à la figure 1, on va décrire maintenant de manière un peu plus détaillée l'un des générateurs de courant 4 utilisé dans le système de l'invention. Les autres générateurs étant identiques, on ne les a représentés que très schématiquement sur la figure. Le générateur de courant 4 comprend une mémoire de courant 41 dans laquelle sont enregistrées les données correspondant à la valeur de courant prédéterminée, que l'on souhaite appliquer à l'élément ou au groupe d'éléments 1 correspondant. Cette mémoire est reliée au processeur 13, par l'intermédiaire d'un bus 42 et de l'interface 15, pour recevoir des informations d'adressage sur une entrée 61, et les données de valeur du courant provenant du bus 42. Ces informations et ces données permettent d'une part de sélectionner la mémoire 41 du générateur 4 et, d'autre part, d'enregistrer les données correspondant à la valeur du courant souhaité d'alimentation de l'élément 1 à tester. Il est évident que d'autres informations d'adressage correspondent à chacune des mémoires des autres générateurs 5, 6. Le générateur 4 représenté figure 1 comporte aussi un générateur réglable de créneaux 43, relié au processeur 13 par des lignes du bus 42 et par l'interface 15. Ce générateur reçoit du processeur, sur une entrée 62, des informations d'adressage qui permettent de le sélectionner parmi les autres générateurs de créneaux. Ce générateur reçoit également sur une entrée 63, des données de réglage de la fréquence et du rapport cyclique des créneaux sélectionnés, dans le cas o on souhaite alimenter l'élément à tester 1, par des créneaux de courant. Le générateur de créneaux 43 ne sera pas décrit ici en détail, car il est d'un type connu dans l'état de la technique. Le générateur de courant 4 comporte aussi un circuit logique 44 qui est relié par des entrées 45 à des sorties numériques 46 de la mémoire de courant 41. Ce circuit logique reçoit les données correspondant à la valeur du courant souhaité. IL est aussi relié à une sortie 47 du générateur de créneaux 43 pour recevoir les créneaux de fréquence et de rapport cyclique sélectionnés. Le circuit logique 44 permet, comme on le verra plus loin en détail de fournir sur des sorties 48, Lés données provenant de la mémoire 48, correspondant à la valeur du courant souhaité, soit en continu, soit sous forme de créneaux dont la fréquence et le rapport cyclique sont fixés par le générateur de créneaux 47. Comme on le décrira plus loin, ce sont des données correspondant à un courant continu qui sont sélectionnées par le processeur pour être présentes à la sortie du circuit logique 44, pour toute lecture et/ou mesure de courant et/ou de tension. En effet, selon l'invention, tout test peut être effectué soit en appliquant un courant continu à l'élément ou au groupe d'éléments testés, soit en appliquant des créneaux de courant. Toutefois, dans le cas de créneaux de courant, les courants et/ou les tensions mesurés sont des courants et des tensions continus. Le système de l'invention comprend aussi un convertisseur numériqueanalogique 49 relié à des sorties 48 du circuit logique, pour fournir sur une sortie 5Q, soit un courant continu ayant la valeur souhaitée, déterminée par les données fournies par la mémoire 41, soit des créneaux de courant ayant une fréquence et un rapport cyclique fixés par les informations appliquées au générateur 43 par le processeur 13 et ayant un courant crête déterminé par les données de la mémoire 49. Enfin, le système comporte un adaptateur d'impédance 51 qui est relié par une entrée à la sortie 50 du convertisseur 49. Cet adaptateur est aussi relié par une sortie 52 à l'élément ou groupe d'éléments I pour lui appliquer le courant continu de valeur souhaitée, ou Les créneaux sélectionnés. L'adaptateur 51 comprend aussi des moyens de calibrage qui seront décrits plus loin en détail, sélectionnés par des informations de commande appliquées sur une entrée 53 et provenant du processeur 13. En fait, chaque élément ou groupe d'élément-1 est relié à la sortie 52 de l'adaptateur, par un commutateur de sécurité 54 mentionné plus haut. Dans une première position 55, ce commutateur relie la sortie de l'adaptateur à la source de haute tension +V; dans une deuxième position 56, il relie la sortie de l'adaptateur à une borne de l'élément ou groupe d'éléments à tester 1, dont une autre borne est reliée à la source de tension +V. Dans la position 55, l'élément 1 à tester est court-circuité et cette position est choisie lorsque l'on met en place l'élément 1 à tester, entre la borne 56 et la haute tension +V, pour éviter tout pic de tension au moment de cette mise en place. En effet, ce pic de tension pourrait endommager l'élément 1. Lorsque l'élément 1 doit être testé, le commutateur de sécurité 54 est dans la deuxième position 56. Le commutateur 54 est relié par une entrée de commande à une sortie de commande du processeur pour recevoir des signaux de commande le plaçant dans la première ou dans la deuxième position. Ces signaux de commande correspondent bien entendu à des informations enregistrées dans la mémoire du processeur 13. De la même façon, les sorties 57 et 58 des générateurs 5, 6 sont respectivement reliées aux éléments ou groupe d'éléments 2, 3 à tester, par l'intermédiaire de commutateurs 59, 60. La figure 4 représente de manière encore plus détaillée le générateur 4 de la figure précédente. Les mêmes éléments portent les mêmes références sur cette figure et sur la figure 3. On a représenté sur cette figure la mémoire 41 de courant reliée au bus 42 pour recevoir les données correspondant aux valeurs numériques du courant que l'on souhaite appliquer à l'élément ou groupe d'éléments 1. On a aussi représenté l'entrée d'adressage 61 qui permet de sélectionner la.mémoire 41 parmi les mémoires des autres générateurs. Les sorties 46 de cette mémoire sont reliées aux entrées 45 du circuit logique 44 qui sera décrit plus loin en détail. Les sorties 48 du circuit logique sont respectivement reliées aux entrées du convertisseur numérique- analogique 49 dont la sortie est reliée à l'adaptateur d'impédance 51. On a également représenté sur cette figure l'élément ou groupe d'éléments à tester 1 relié à la source de haute tension +V ainsi qu'à la deuxième borne 56 du commutateur 54, ce commutateur étant positionné en 55 pendant la mise en place de l'élément 1. On a aussi représenté sur cette figure l'amplificateur 8 relié à la sortie de l'adaptateur 51 ainsi qu'aux moyens 7 de lecture de courants. Enfin, on a aussi représenté le générateur de créneaux 43 qui fournit ces créneaux sur sa sortie 47. Ce générateur de courant est adressé comme indiqué plus haut, par des informations appliquées sur son entrée 62 et provenant du processeur 13. L'entrée 63 de ce générateur reçoit les informations de réglage de la fréquence et du rapport cyclique des créneaux fournis. Le circuit logique 44 dont les sorties 48 sont reliées au- convertisseur numérique-analogique 49, comportent une pluralité de portes de type "NON-ET" 64, 65, 66 à deux entrées. L'une des entrées telles que 67 de cette porte est reliée à une sortie correspondante de la mémoire 41 pour recevoir la valeur numérique mentionnée plus haut, tandis que l'autre entrée, telle que 68 de cette porte est reliée à la sortie 47 du générateur 43 de créneaux. Lorsque l'on souhaite appliquer un courant continu à l'élément à tester 1, la sortie 47 du générateur de créneaux 43 ne fournit aucun signal. Il en résulte que toutes les entrées, telles que 68, des portes "NON-ET" du circuit 44 sont à l'état logique 1. La mémoire 41 de courant fournit sur ses sorties des signaux numériques d'état logique O ou 1, selon la veleur du courant continu souhaité. Il en résulte que les sorties des portes "NON-ET" du circuit 44 fournissent des valeurs numériques sur les sorties 48. Ces valeurs sont appliquées au convertisseur numérique-analogique 49 qui sur sa sortie 50, fournit un courant continu de valeur correspondante. Au contraire, lorsque l'on souhaite appliquer des créneaux de courant à l'élément 1 à tester, les entrées telles que 6? des portes "NON-ET" du circuit 44 ont des niveaux logiques correspondant à ceux des sorties de la mémoire 41 qui dépendent dela valeur de courant crête souhaitée, tandis que les créneaux sont appliqués sur les autres entrées, telles que 68, de ces portes. Il en résulte que les sorties 48 du circuit logique 44fournissent des créneaux de courant oscillant entre la valeur de courant crête et la valeur 0. Ces créneaux sont présents sur la sortie 50 du convertisseur numérique-analogique 49. La sortie 50 du convertisseur numérique-analogique 49 est reliée à l'entrée de l'adaptateur d'impédance 51. Cet adaptateur comprend un amplificateur inverseur 70 dont la sortie est reliée à la base d'un transistor 71; une première électrode, telle que le collecteur 72 par exemple de ce transistor, est reliée au commutateur de sécurité 54. Ce collecteur constitue la sortie 52 de l'adaptateur d'impédance 51. Une deuxième électrode 73, telle que l'émetteur par exemple est reliée à une tension de référence M par des moyens 74 de calibrage du courant circulant dans le transistor 71 et dans l'élément ou groupe d'éléments 1 correspondant. Les moyens de lecture 7 sont reliés à la deuxième électrode 73 par l'intermédiaire de l'amplificateur 8. Les moyens de calibrage 74 comportent un commutateur 75 de sélection de calibre de courant. Ce commutateur comprend une première borne commune 76 qui est reliée à la première électrode 73 du transistor 71. Il comprend aussi deux autres bornes 77, 78 respectivement reliées à des résistances de calibrage 79, 80, elles-mêmes reliées à la tension de référence M. Le commutateur de sélection 75 est relié par une entrée de commande 53 à une sortie du processeur 13, par l'intermédiaire de l'interface 15; cette entrée de commande reçoit un signal de commande de sélection de l'une des résistances 79 ou 80 de calibrage. Ce signal de commande de sélection correspond bien entendu à des informations enregistrées dans la mémoire 14 du processeur 13. Cette sélection permet en fait de déterminer le calibre de lecture de courant souhaité. En se référant à nouveau à la figure 1, on va maintenant décrire de manière plus détaillée les moyens de lecture 7. Ces moyens de lecture comportent un ampèremètre à entrée de mesures analogiques. Ces entrées sont respectivement reliées aux premières bornes 73 des moyens de calibrage 74 des courants circulant dans les différents éléments ou groupe d'éléments testés 1, 2, 3,... Cet ampèremétre comporte une sortie numérique 11 et une entrée de commande 12 qui sont reliées au processeur 13. L'entrée de commande 12 reçoit des signaux de sélection pour permettre de mesurer successivement les valeurs des courants respectifs circulant dans les éléments ou groupe d'éléments à tester; lorsque les tests consistent à appliquer des créneaux de courants à certains des éléments à tester, pour les lectures ou mesures de courant et/ou de tension, on inhibe le -générateur de créneaux 43 qui présente alors en sortie un signal de niveau logique 1. Pour ces lectures ou mesures, comme on le verra plus loin, on applique aux éléments, des courants continus. Une horloge interne du processeur 13 permet d'enregistrer pour chaque élément testé, les différents instants de mesure. Cette horloge permet aussi d'enregistrer l'instant caractéristique qui, pour cet élément ou groupe d'éléments correspond à une variation du courant et/ou de tension mesuré et donc à la détérioration de cet élément. La figure 5 est un chronogramme qui représente en exemple, l'intensité I en fonction du temps t du courant appliqué à l'élément ou au groupe d'éléments à tester. Dans cet exemple, on suppose que le courant appliqué à l'élément 1 est un courant en créneaux, d'amplitude-crête I, de période T, de fréquence F et de rapport cyclique 1/2. Ces créneaux de courant sont appliqués en permanence depuis l'instant prédéterminé 0- par exemple, jusqu'à un instant tl auquel l'élément cesse de conduire par suite de sa destruction. Les mesures de tension et/ou de courant en forme de créneaux de fréquence et de rapport cyclique réglables étant difficiles, on mesure périodiquement la valeur d'un courant continu tel que I2 circulant dans l'élément testé et/ou d'une tension continue correspondant à ce courant; pour cela La mémoire 41 fournit sur ses sorties, entre des instants t et t3, des valeurs numériques correspondant à ce courant continu de mesure, tandis que la sortie 47 du générateur 43 cesse de fournir des créneaux. Lors de la destruction de l'élément 1 ou de l'un des éléments du groupe 1, le courant I2 chute, indiquant ainsi cette destruction. Après chaque mesure avec un courant continu, on applique de nouveau des créneaux de courant à l'élément testé. REVENDICATIONS 1. Système automatique de tests d'endurance d'une pluralité d'éléments électriques conducteurs (1, 2, 3,...), ces éléments pouvant être séparés les uns des autres ou connectés entre eux pour former un ou plusieurs groupes séparés d'éléments de ladite pluralité, comportant pour chaque élément ou chaque groupe (1) un générateur (4) réglable de courant relié à cet élément ou à ce groupe pour lui appliquer à partir d'un instant prédéterminé de départ, un courant de valeur prédéterminée réglable et, pour ces éléments ou ces groupes d'éléments, des moyens de lecture (7) des valeurs des courants et/ou de mesure des tensions appliqués à ces éléments ou ces groupes d'éléments pour déterminer les évolutions respectives de ces valeurs au cours du temps, à partir des instants respectifs prédéterminés jusqu'à des instants respectifs caractéristiques auxquels se produisent respectivement des variations de ces valeurs, caractérisé en ce qu'il comporte un processeur (13) relié à une mémoire (14), aux moyens de lecture et/ou de mesure (7) et aux générateurs (4, 5, 6,...) correspondant respectivement aux éléments ou aux groupes d'éléments, la mémoire (14) contenant des données de réglage des valeurs de courants fournis par les générateurs (4, 5, 6), des informations d'adressage de ces générateurs et de commande des moyens de lecture et/ou de mesure (7) pour permettre la mesure et l'enregistrement dans la mémoire de valeurs évolutives des courants et/ou des tensions mesurés respectivement pour ces éléments ou groupes d'éléments depuis les instants prédéterminés jusqu'auxdits instants caractéristiques respectifs, les courants appliqués aux éléments ou groupes d'éléments pouvant être continus ou en créneau. 2. Système selon la revendication 1, caractérisé en ce que chaque générateur (4) comporte: - au moins un générateur réglable de créneaux (43) relié au processeur (13) pour recevoir des informations d'adressage et des données de réglage de la fréquence et du rapport cyclique des créneaux sélectionnés, chaque générateur comprenant: - une mémoire de courant (41) contenant des données correspondant respectivement à la valeur de courant continu prédéterminée que l'on souhaite appliquer à l'étément ou au groupe (1) correspondant, cette mémoire étant reliée au processeur (13) pour recevoir des informations d'adressage et des données correspondant à la valeur de courant souhaité, - un circuit logique (44) ayant des entrées respectivement reliées à des sorties de la mémoire de courant (41) pour recevoir lesdites données correspondant à la valeur du courant souhaité et relié à une sortie du générateur de créneaux (43) pour recevoir les créneaux sélectionnés, ce circuit logique (4) fournissant sur des sorties les aonnéts correspondant à la valeur du courant, soit en contin, soit en créneau- suivant l'état des sorties du générateur de créneaux, - un convertisseur numérique-analogique (49) relié à des sorties du circuit logique (44) pour fournir sur une sortie (50), soit un courant continu de valeur souhaitée, soit des créneaux sélectionnés de courant de valeur souhaitée, - un adaptateur (51) d'impédance relié par une entrée à la sortie du convertisseur (49) et relié par une sortie à l'élément (1) ou au groupe correspondant pour lui appliquer le courant continu de valeur souhaitée ou les créneaux sélectionnés de valeur souhaitées. 3. Système selon la revendication 2, caractérisé en ce que chaque éLément ou groupe d'éléments (1) est relié à la sortie de l'adaptateur d'impédance (51) par un commutateur de sécurité (54) qui, dans une première position (55), relie la sortie de l'adaptateur (51) à une source de haute tension (+V), pendant la mise en place de L'élément ou groupe d'éléments qui doit être relié à la source de haute tension et à la sortie de l'adaptateur pour un test, ce commutateur de sécurité reliant, dans une deuxième position (54), la sortie de l'adaptateur avec l'élément ou groupe d'éléments, au moment du test, et étant lui-même relié B 9404 DC à une sortie de commande du processeur (13) pour recevoir des signaux de commande le plaçant dans la première ou la deuxième position, ces signaux correspondant à des informations enregistrées dans la mémoire (14) du processeur (13). 4. Système selon la revendication 2, caractérisé en ce que l'adaptateur d'impédance (51) comprend un amplificateur (70) relié à la sortie du convertisseur numérique-analogique (49) et à la base d'un transistor (71) dont une première électrode (72) est reliée au commutateur de sécurité (54) et constitue la sortie de l'adaptateur d'impédance, une deuxième électrode (73) de ce transistor étant reliée à une tension de référence (M) par des moyens de calibrage (74) du courant circulant dans le transistor et dans l'élément ou groupe d'éléments (1) correspondant. 5. Système selon la revendication 4, caractérisé en ce que les moyens de calibrage comportent un commutateur de sélection de calibres dont une première borne est reliée à la première électrode, ce commutateur ayant deux autres bornes de calibrage reliées respectivement à des résistances de calibrage elles-mêmes reliées à la tension de référence, le commutateur de sélection étant relié par une entrée de commande à une sortie du processeur pour recevoir un signal de commande de sélection de l'une des résistances de calibrage, ce signal de commande de sélection correspondant à des informations enregistrées dans la mémoire du processeur. 6. Système selon la revendication 2, caractérisé en ce qu'il comporte des moyens de lecture de courant à entrées de mesures analogiques reliées respectivement aux premières bornes des moyens de calibrage correspondant aux éléments ou groupes d'éléments, ces moyens de lecture ayant une sortie numérique et une entrée de commande reliées au processeur, cette entrée de commande recevant des signaux de sélection pour mesurer successivement les valeurs des courants respectifs appliqués aux éléments ou groupes d'éléments. 7. Système selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens de mesure de tension comportent un voltmètre (T) à entrées de mesure analogiques relié à chaque élément ou groupe d'éléments par un commutateur (C) à balayage ayant une entrée de commande reliée au processeur (13), cette entrée recevant des signaux de sélection d'un élément ou groupe d'éléments pour relier le voltmètre successivement aux bornes des différents éLémentb ou groupes d'éléments, le voltmètre comportant une sortie numérique reliée au processeur (13) pour enregistrer successivement dans la mémoire les valeurs des tensions mesurées respectivement aux bornes des éléments ou groupes d'éléments, une horloge interne du processeur (13) permettant d'enregistrer ledit instant prédéterminé de départ, et des instants de mesure de tensions pour chaque élément, ce processeur enregistrant l'instant prédéterminé caractéristique pour chaque élément ou groupe d'éléments. B 9404 DC B 9404 DC